JP2009068996A - Microarray device and microarray analysis method - Google Patents

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則夫 今井
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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microarray device specifying and measuring the position of a spot, even when the position of the spot is deviated from a prescribed position on a microarray substrate. <P>SOLUTION: This device includes: an imaging part 14 for imaging the microarray substrate having a plurality of spots, and outputting digital image data; a spot information storage part 16 for storing information on the spots; a spot position analysis part 15 for calculating a brightness distribution curve of each spot from the digital image data, and analyzing each spot position; a spot position specification part 17 for specifying each spot position from a peak coordinate on the brightness distribution curve of each spot outputted from the spot position analysis part 15, and the information on the spots read from the spot information storage part; and a measuring part 18 for performing measurement on a spot position outputted from the spot position specification part 17. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、サンプル検体をアレイ状に定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を測定するマイクロアレイ装置に関し、より詳細には、発光反応を利用するマイクロアレイの発光状態から試料中の生体分子の定性、定量を測定する際にスポット単位の位置を正確に検出し、スポットの測定誤りを防止する技術に関する。   The present invention relates to a microarray apparatus for measuring a microarray substrate having a plurality of spots in which sample specimens are fixed in an array, and more specifically, qualitative and quantitative determination of biomolecules in a sample from the luminescence state of the microarray using a luminescence reaction. The present invention relates to a technique for accurately detecting the position of a spot unit when measuring a spot and preventing a spot measurement error.

従来のマイクロアレイ基板は、生体分子の解析に利用され、生体分子として、主に遺伝子が広く利用されている。以下、遺伝子で例示するとマイクロアレイにより試料としての個々の細胞、組織あるいは個体での遺伝子の発現を網羅的に解析可能となっている。従来のマイクロアレイの製造方法として、1×3インチ大のガラス基板上にナノリットル単位の遺伝子溶液の液滴を点着させることによりマイクロメートル単位の微小なスポットを形成して、ガラス基板上に遺伝子断片を固定化する方法が開示されている(例えば、特許文献1参照)。   Conventional microarray substrates are used for analysis of biomolecules, and genes are mainly used widely as biomolecules. Hereinafter, when exemplified by genes, the expression of genes in individual cells, tissues or individuals as samples can be comprehensively analyzed by a microarray. As a conventional method for producing a microarray, a microscopic spot is formed on a glass substrate by forming droplets of a gene solution in nanoliter units on a 1 × 3 inch glass substrate. A method for immobilizing fragments has been disclosed (for example, see Patent Document 1).

このように製造されたマイクロアレイは、マイクロアレイ上の遺伝子を蛍光色素により標識した後、励起光により蛍光色素を励起し発生した蛍光をスキャナーやCCD(Charge Coupled Device)カメラで撮像することで画像を生成し、画像解析を行うマイクロアレイの測定装置が開示されている(例えば、特許文献2参照)。   The microarray manufactured in this way generates images by labeling the genes on the microarray with a fluorescent dye, and then exciting the fluorescent dye with excitation light and capturing the generated fluorescence with a scanner or a CCD (Charge Coupled Device) camera. However, a microarray measuring apparatus that performs image analysis is disclosed (for example, see Patent Document 2).

このような従来のマイクロアレイ装置では、マイクロアレイ上に形成されたスポット単位に測定を行うために、マイクロアレイ解析パラメータとして記憶している情報(行、列方向のスポット数、スポット半径、位置情報など)からスポット領域のテンプレート情報を生成し、撮像した画像上のスポット位置がテンプレート上のスポット位置に適合するように画像処理でスポット領域の位置補正を行い、テンプレート上のスポットの測定を行う方法が提案されている(例えば、特許文献3参照)。
特表平10−503841号公報 特開2002−181708号公報 特開2005−172840号公報
In such a conventional microarray apparatus, in order to perform measurement in units of spots formed on the microarray, information stored as microarray analysis parameters (number of spots in the row and column directions, spot radius, position information, etc.) is used. A method has been proposed in which template information for a spot area is generated, the position of the spot area is corrected by image processing so that the spot position on the captured image matches the spot position on the template, and the spot on the template is measured. (For example, refer to Patent Document 3).
Japanese National Patent Publication No. 10-503841 JP 2002-181708 A JP 2005-172840 A

しかしながら、前記従来の構成では、マイクロアレイ基板に遺伝子溶液の液滴を点着させるスポッタのばらつき等が原因で、マイクロアレイ基板上の一部のスポットのみ位置ズレした場合、テンプレート上のスポット位置から外れるため、位置ズレしたスポットの測定が出来ないという課題を有していた。   However, in the above-described conventional configuration, if only a part of the spot on the microarray substrate is misaligned due to spotter dispersion or the like for spotting a droplet of the gene solution on the microarray substrate, the spot position on the template is deviated. However, there was a problem that the position-shifted spot could not be measured.

本発明は、前記従来の課題を解決するもので、本来スポットされるべき所定位置からスポットが位置ズレした場合でもスポットの位置を特定し、測定することが出来るマイクロアレイ装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described conventional problems, and to provide a microarray apparatus capable of specifying and measuring a spot position even when the spot is displaced from a predetermined position where the spot should be originally spotted. To do.

前記従来の課題を解決するために、本発明のマイクロアレイ装置は、基板上にサンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を測定するマイクロアレイ装置において、前記マイクロアレイ基板を撮像して受光素子の各画素にて受光した輝度をデジタルで表したデジタル画像データを出力する撮像部と、前記スポットに関する情報を記憶したスポット情報記憶部と、前記デジタル画像データから前記スポット毎の輝度分布曲線を算出し前記スポットの位置を解析するスポット位置解析部と、前記スポット位置解析部が出力する前記スポット毎の輝度分布曲線のピークとなる座標と前記スポット情報記憶部から読み出した前記スポットに関する情報からスポット位置を特定するスポット位置特定部と、前記スポット位置特定部が出力するスポット位置において測定を行う測定部を含むことを特徴とするものである。   In order to solve the conventional problems, the microarray apparatus of the present invention is a microarray apparatus for measuring a microarray substrate having a plurality of spots in which a sample specimen is fixed on the substrate. An imaging unit that outputs digital image data that digitally represents the luminance received by the pixels, a spot information storage unit that stores information about the spot, and a luminance distribution curve for each spot calculated from the digital image data A spot position is identified from a spot position analysis unit that analyzes the position of the spot, coordinates that serve as a peak of the luminance distribution curve for each spot output by the spot position analysis unit, and information about the spot read from the spot information storage unit Spot position specifying unit to perform and spot position specifying There are those characterized by comprising a measurement unit for performing measurements in the spot position to be output.

さらにマイクロアレイ装置において、前記スポット位置解析部は、前記デジタル画像データからノイズ成分を除去するノイズ除去部と、前記ノイズ除去部で出力するノイズ除去画像データにおいて、スポットの所定位置から一定範囲をスポット検索領域として抽出する所定範囲抽出部と、前記所定範囲抽出部で出力するスポット検索領域において、X軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線を算出し、輝度分布曲線のピーク座標を検出する輝度分布解析部を含み、前記撮像部で出力する前記デジタル画像データから前記スポット毎に前記スポット検索領域を抽出し、輝度分布曲線をX軸方向及びY軸方向それぞれについて算出することを特徴とするものである。   Further, in the microarray apparatus, the spot position analysis unit performs spot search for a certain range from a predetermined spot position in a noise removal unit that removes a noise component from the digital image data and noise removal image data output by the noise removal unit. A luminance distribution analysis for calculating a luminance distribution curve in the X-axis direction and the Y-axis direction and detecting a peak coordinate of the luminance distribution curve in a predetermined range extraction unit that extracts as a region and a spot search region that is output by the predetermined range extraction unit A spot search area is extracted for each spot from the digital image data output from the imaging unit, and a luminance distribution curve is calculated for each of the X-axis direction and the Y-axis direction. .

さらにマイクロアレイ装置において、前記スポット位置特定部は、前記スポット位置解析部で出力する輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの配置状況を解析し測定可能なスポットかどうかを判定するスポット位置判定部と、前記スポット位置判定部で出力する前記スポット配置情報と前記スポット情報記憶部から読み出した前記スポットに関する情報から前記スポット位置を算出するスポット位置算出部を含み、前記スポット検索領域毎の輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの位置関係を判定し、その結果に応じてスポットの位置を算出することを特徴とするものである。   Furthermore, in the microarray apparatus, the spot position specifying unit determines whether the spot is a measurable spot by analyzing the arrangement state of the spot from the coordinates of the peak of the luminance distribution curve output from the spot position analyzing unit. And a spot position calculation unit for calculating the spot position from the spot arrangement information output from the spot position determination unit and the information regarding the spot read from the spot information storage unit, and a luminance distribution curve for each spot search area The positional relationship of the spot is determined from the coordinates of the peak, and the position of the spot is calculated according to the result.

さらにマイクロアレイ装置において、前記スポット位置判定部は、前記スポット位置解析部で出力する輝度分布曲線のピークとなる座標を前記スポットの中心点の座標と規定し、前記スポットの中心点と隣接するスポットの中心点との距離により、スポットが測定可能な位置にあるかどうかを判定することを特徴とするものである。   Furthermore, in the microarray apparatus, the spot position determination unit defines the coordinates of the peak of the luminance distribution curve output by the spot position analysis unit as the coordinates of the center point of the spot, and the spot adjacent to the center point of the spot. It is characterized by determining whether or not the spot is in a measurable position based on the distance from the center point.

さらにマイクロアレイ装置において、前記スポット位置算出部は、前記スポット位置判定部で出力する前記スポット配置情報において、スポットが測定可能な位置にある場合のみ、前記スポット位置を算出することを特徴とするものである。   Furthermore, in the microarray apparatus, the spot position calculation unit calculates the spot position only when the spot is in a measurable position in the spot arrangement information output from the spot position determination unit. is there.

さらに本発明のマイクロアレイ解析方法において、基板上にサンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を撮像する撮像ステップと、前記撮像ステップで得たデジタル画像データから前記スポット毎の輝度分布曲線を算出しピークとなる座標を検出するスポット位置解析ステップと、前記スポット位置解析ステップで得た前記スポット毎の輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの位置関係を判定するスポット位置判定ステップと、前記スポット位置判定ステップで判定されたスポットの輝度を測定する測定ステップを含むことを特徴とするものである。   Further, in the microarray analysis method of the present invention, an imaging step for imaging a microarray substrate having a plurality of spots on which a sample specimen is fixed, and a luminance distribution curve for each spot is calculated from the digital image data obtained in the imaging step. A spot position analyzing step for detecting coordinates that become peaks, a spot position determining step for determining a positional relationship of the spots from coordinates that become the peak of the luminance distribution curve for each spot obtained in the spot position analyzing step, It includes a measuring step for measuring the brightness of the spot determined in the spot position determining step.

本発明のマイクロアレイ装置によれば、本来スポットされるべき所定位置からスポットが位置ズレした場合でも、スポットの位置を特定し、測定することが出来る。   According to the microarray apparatus of the present invention, the spot position can be specified and measured even when the spot is displaced from a predetermined position where it should be spotted.

以下に、本発明のマイクロアレイ装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。   Embodiments of the microarray device of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

(実施の形態)
図1は、本発明の実施の形態におけるマイクロアレイ装置のブロック図を示す。図1においてマイクロアレイ装置は、サンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板11を設置して移動可能なステージ12と、ステージ12の移動方向と移動量を制御するステージ制御部13と、マイクロアレイ基板11の画像を撮像しデジタル画像データを出力する撮像部14と、マイクロアレイ基板上のスポットに関する情報(スポットの配列位置、スポット径など)を記憶したスポット情報記憶部16と、デジタル画像データからスポット毎の輝度分布曲線を算出しスポット位置を解析するスポット位置解析部15と、スポット位置解析部15が出力するスポット位置の解析結果とスポット情報記憶部16から読み出したスポットに関する情報からスポット位置を特定するスポット位置特定部17と、スポット位置特定部17が出力するスポット位置において測定を行う測定部18で構成される。以下、本発明の実施の形態において図1に示したマイクロアレイ装置の構成要素毎に詳細を説明する。
(Embodiment)
FIG. 1 shows a block diagram of a microarray apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the microarray apparatus includes a stage 12 on which a microarray substrate 11 having a plurality of spots on which a sample specimen is fixed can be placed and moved, a stage control unit 13 for controlling the moving direction and amount of movement of the stage 12, and a microarray substrate. An image pickup unit 14 that picks up 11 images and outputs digital image data; a spot information storage unit 16 that stores information (spot arrangement position, spot diameter, etc.) on spots on the microarray substrate; The spot position is determined from the spot position analysis unit 15 that calculates the luminance distribution curve of the spot and analyzes the spot position, the spot position analysis result output from the spot position analysis unit 15, and the information related to the spot read from the spot information storage unit 16. Spot position specifying unit 17 and spot And measurement unit 18 for measuring the spot position output by the location identifying unit 17. Details of each component of the microarray device shown in FIG. 1 in the embodiment of the present invention will be described below.

まず、ステージ12は、マイクロアレイ基板11を設置可能な形状となっており、マイクロアレイ基板11上のスポット領域を撮像部14の撮影視野へ移動させる制御信号をステージ制御部13により出力する。   First, the stage 12 has a shape in which the microarray substrate 11 can be installed, and the stage control unit 13 outputs a control signal for moving the spot area on the microarray substrate 11 to the imaging field of view of the imaging unit 14.

撮像部14は、マイクロアレイ基板11上の複数のスポットから発生する蛍光または発光を撮像し、デジタル画像データを出力する。撮像は露光によって行われ、露光時間は蛍光または発光が十分観察できる時間に制御される。ここで撮像部14は、各受光素子(画素)が受光した光の強度を積分し、その値を輝度値として全受光素子のデータを出力する。この時、全受光素子が出力する輝度値はアナログデジタル変換により離散デジタルデータに変換(量子化)される。即ち、アナログデジタル変換のサンプリング時間(ΔT)毎に撮像部14の全受光素子の輝度値がデジタル画像データとして出力される。本発明においては、撮像部14は上記の如く動作するモノクロCCD(Charge Coupled Device)カメラなどが用いられる。   The imaging unit 14 images fluorescence or luminescence generated from a plurality of spots on the microarray substrate 11 and outputs digital image data. Imaging is performed by exposure, and the exposure time is controlled so that fluorescence or luminescence can be sufficiently observed. Here, the imaging unit 14 integrates the intensity of light received by each light receiving element (pixel), and outputs data of all the light receiving elements using the value as a luminance value. At this time, the luminance values output from all the light receiving elements are converted (quantized) into discrete digital data by analog-digital conversion. That is, the luminance values of all the light receiving elements of the imaging unit 14 are output as digital image data at every sampling time (ΔT) of analog-digital conversion. In the present invention, the imaging unit 14 is a monochrome CCD (Charge Coupled Device) camera or the like that operates as described above.

撮像に供するマイクロアレイ基板11として、本発明の実施の形態で例示可能な構成を図2に示す。図2において、マイクロアレイ基板11は、縦横比1:3の無色透明なガラス基板であり、サンプル検体をアレイ状に定着した複数のスポット22がスポット領域21に配置されている。スポット領域21は、図3に例示した様なスポット22の配列がスポッタ等によりなされる。図3(a)は図2のスポット領域21を拡大した図であり、本発明の実施の形態を説明するため、6行6列でスポット22が配置された場合を例にして以後の説明を行う。図3(a)において、各スポット22を取り囲む正方形の領域は、撮像部14で出力したデジタル画像データからスポット22単位で位置を検出するためのデータ検索範囲であり、スポット検索領域32と呼ぶこととする。スポット検索領域32は、スポット22が本来配置されるべき所定位置を含む正方形の領域であり、スポット22が所定位置にある場合はその中心点37がスポット検索領域32の中心点と一致するように、スポット検索領域32の左上隅の座標であるスポット検索領域基準座標35とスポット検索領域幅36により規定する。また、図3(b)は図3(a)において隣接する任意の4つのスポット検索領域32を拡大した図である。図3(b)において、スポット22は、中心点37からスポット22の半径33の範囲の領域として規定し、隣接するスポット間の距離はスポット22の中心点37間の距離34により規定する。なお、図2において実線で示しているスポット領域21の外枠、及び図3において実線で示しているスポット検索領域32の外枠は説明のために明示したものであり、実際のマイクロアレイ基板11上では可視化しなくてもよい。   As a microarray substrate 11 used for imaging, a configuration that can be exemplified in the embodiment of the present invention is shown in FIG. In FIG. 2, the microarray substrate 11 is a colorless and transparent glass substrate having an aspect ratio of 1: 3, and a plurality of spots 22 on which sample specimens are fixed in an array are arranged in the spot region 21. In the spot region 21, the arrangement of the spots 22 as illustrated in FIG. 3 is made by a spotter or the like. FIG. 3 (a) is an enlarged view of the spot region 21 of FIG. 2. In order to explain the embodiment of the present invention, the following description will be given by taking the case where the spots 22 are arranged in 6 rows and 6 columns as an example. Do. In FIG. 3A, a square area surrounding each spot 22 is a data search range for detecting a position in units of spots 22 from the digital image data output from the imaging unit 14, and is referred to as a spot search area 32. And The spot search area 32 is a square area including a predetermined position where the spot 22 should be originally arranged. When the spot 22 is in the predetermined position, the center point 37 coincides with the center point of the spot search area 32. The spot search area reference coordinates 35 and the spot search area width 36 which are the coordinates of the upper left corner of the spot search area 32 are defined. FIG. 3B is an enlarged view of any four adjacent spot search areas 32 in FIG. In FIG. 3B, the spot 22 is defined as a region in the range of the radius 33 of the spot 22 from the center point 37, and the distance between adjacent spots is defined by the distance 34 between the center points 37 of the spots 22. Note that the outer frame of the spot area 21 indicated by the solid line in FIG. 2 and the outer frame of the spot search area 32 indicated by the solid line in FIG. Then it is not necessary to make it visible.

これらマイクロアレイ基板11上のスポット22に関連する情報は、スポット情報記憶部16に記憶しており、撮像部14で出力したデジタル画像データからスポット22の位置を検出するために、スポット位置解析部15及びスポット位置特定部17で利用される。本発明の実施の形態では、スポット情報記憶部16に含まれる情報は、スポット22の配列情報31(行方向及び列方向のスポット数)、スポット半径33、スポット間の距離34(スポット22の中心点37間の距離)、スポット検索領域基準座標35、スポット検索領域幅36である。   Information related to the spot 22 on the microarray substrate 11 is stored in the spot information storage unit 16, and in order to detect the position of the spot 22 from the digital image data output by the imaging unit 14, the spot position analysis unit 15. And used by the spot position specifying unit 17. In the embodiment of the present invention, the information included in the spot information storage unit 16 includes the arrangement information 31 of the spots 22 (the number of spots in the row direction and the column direction), the spot radius 33, and the distance 34 between the spots (the center of the spot 22). Distance between points 37), spot search area reference coordinates 35, and spot search area width 36.

図3(a)の場合で例示すると、スポット領域21に6行6列でスポット22が配置されている場合、スポット情報記憶部16のスポット配列情報31には、6行6列という情報を記憶する。また、図3のように、スポット検索領域32の間にスペースが無く、互いに接するように、スポット22及びスポット検索領域32を規定した場合は、スポット検索領域32毎にスポット検索領域基準座標35を指定する必要は無く、スポット領域21内で1つのスポット検索領域基準座標35(例えば、スポット領域21内の左上隅のスポット検索領域32の基準座標)を指定すればよい。本発明の実施の形態では、図3のように、スポット検索領域32間のスペースが無く、互いに接するようにスポット22及びスポット検索領域32を規定し、更にスポット検索領域幅36は、スポット半径33の4倍の長さであるものとして以下の説明を行う。なお、上記のようなスポット22及びスポット検索領域32の配置条件は本発明の実施の形態の説明するための1つの例であり、適宜変更可能である。   In the case of FIG. 3A, when the spots 22 are arranged in 6 rows and 6 columns in the spot area 21, information of 6 rows and 6 columns is stored in the spot arrangement information 31 of the spot information storage unit 16. To do. In addition, as shown in FIG. 3, when there is no space between the spot search areas 32 and the spot 22 and the spot search area 32 are defined so as to touch each other, the spot search area reference coordinates 35 are set for each spot search area 32. There is no need to specify one spot search area reference coordinate 35 within the spot area 21 (for example, the reference coordinates of the spot search area 32 at the upper left corner in the spot area 21). In the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 3, the spot 22 and the spot search area 32 are defined so that there is no space between the spot search areas 32 and contact each other, and the spot search area width 36 has a spot radius 33. The following description will be made on the assumption that the length is four times as long. Note that the arrangement conditions of the spot 22 and the spot search area 32 as described above are an example for explaining the embodiment of the present invention, and can be changed as appropriate.

撮像部14で撮像したマイクロアレイ基板11の蛍光あるいは発光のデジタル画像データはスポット位置解析部15に送られる。スポット位置解析部15は、前述のスポット情報記憶部16に記憶してある情報を元に、撮像部14で獲得したデジタル画像データからスポット22の位置を特定するための前処理として、スポット検索領域32毎に輝度分布曲線の算出を行い、輝度分布曲線のピークとなる座標を検出する。このスポット位置解析部15のデータ処理について図4から図17を用いて説明する。図4はスポット位置解析部15のブロック図であり、スポット位置解析部15はノイズ除去部41と所定範囲抽出部42と輝度分布解析部43で構成される。以下、ノイズ除去部41、所定範囲抽出部42、輝度分布解析部43の処理について詳細を説明する。   The digital image data of fluorescence or light emission of the microarray substrate 11 imaged by the imaging unit 14 is sent to the spot position analysis unit 15. The spot position analysis unit 15 performs a spot search area as preprocessing for specifying the position of the spot 22 from the digital image data acquired by the imaging unit 14 based on the information stored in the spot information storage unit 16 described above. The luminance distribution curve is calculated every 32, and the coordinates that become the peak of the luminance distribution curve are detected. Data processing of the spot position analysis unit 15 will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a block diagram of the spot position analysis unit 15. The spot position analysis unit 15 includes a noise removal unit 41, a predetermined range extraction unit 42, and a luminance distribution analysis unit 43. Hereinafter, details of the processing of the noise removing unit 41, the predetermined range extracting unit 42, and the luminance distribution analyzing unit 43 will be described.

まず、ノイズ除去部41の処理内容について図5を用いて説明する。マイクロアレイ基板11のスポット領域21を撮像部14で撮像し出力されるデジタル画像データ51には、図5(a)に示すように、不規則雑音52が含まれている。デジタル画像データ51に不規則雑音52が含まれている場合、後述する輝度分布解析部43の入力となるスポット検索領域32のデータに不規則雑音52が含まれ、輝度分布解析部43で算出される輝度分布曲線に、輝度値の変化が急峻な箇所が現れ、以降の処理に影響を及ぼす可能性があるため、ノイズ除去部41で予め不規則雑音52を除去しておく必要がある。本発明の実施の形態では、平滑化フィルタを適用することで、デジタル画像データ51から不規則雑音52を除去する。代表的な平滑化フィルタとしては、注目画素とその周辺8画素の平均値を注目画素の輝度値とする平均値フィルタや、領域内の輝度値の中央値を注目画素の輝度値とするメディアンフィルタがあるが、平均値フィルタはエッジ部分がぼけやすいため、メディアンフィルタを適用する方が望ましい。図5(a)のデジタル画像データ51に対して、ノイズ除去部41でメディアンフィルタを適用すると、図5(b)に示すような不規則雑音52が除去されたノイズ除去画像データ53が出力される。なお、ここでは2種類の平滑化フィルタを例示したが、その他の平滑化フィルタについても適用可能である。   First, the processing content of the noise removing unit 41 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5A, the random image 52 is included in the digital image data 51 output by imaging the spot area 21 of the microarray substrate 11 by the imaging unit 14. When the irregular noise 52 is included in the digital image data 51, the irregular noise 52 is included in the data of the spot search area 32 that is input to the luminance distribution analysis unit 43 described later, and is calculated by the luminance distribution analysis unit 43. In the luminance distribution curve, a portion with a sharp change in luminance value appears, which may affect the subsequent processing. Therefore, the noise removal unit 41 needs to remove the irregular noise 52 in advance. In the embodiment of the present invention, the irregular noise 52 is removed from the digital image data 51 by applying a smoothing filter. As a representative smoothing filter, an average value filter that uses the average value of the target pixel and its surrounding eight pixels as the luminance value of the target pixel, or a median filter that uses the central value of the luminance values in the region as the luminance value of the target pixel. However, it is preferable to apply the median filter because the edge portion of the average value filter is easily blurred. When the median filter is applied to the digital image data 51 of FIG. 5A by the noise removal unit 41, noise-removed image data 53 from which the random noise 52 is removed as shown in FIG. 5B is output. The In addition, although two types of smoothing filters were illustrated here, it is applicable also to another smoothing filter.

次に、ノイズ除去部41にて不規則雑音52を除去したノイズ除去画像データ53からスポット検索領域32を抽出する所定範囲抽出部42の処理内容について図6を用いて説明する。所定範囲抽出部42は、図5で示したノイズ除去画像データ53とスポット情報記憶部16に記憶しているスポット検索領域基準座標35、スポット検索領域幅36及びスポット配列情報31から、スポット22が配置されるべき所定位置から一定の範囲(スポット検索領域32)をスポット22毎に抽出する。例えば、図6のようにスポット領域21に複数のスポット22が配置されており、スポット領域21内のm行目n列目のスポット61を抽出すべき対象スポットとし、そのスポット61の検索領域62の基準座標63は、次の数1で算出可能である。   Next, the processing content of the predetermined range extraction unit 42 that extracts the spot search region 32 from the noise-removed image data 53 from which the irregular noise 52 has been removed by the noise removal unit 41 will be described with reference to FIG. The predetermined range extracting unit 42 uses the noise-removed image data 53 shown in FIG. 5 and the spot search area reference coordinates 35, the spot search area width 36, and the spot arrangement information 31 stored in the spot information storage unit 16 to determine the spot 22. A fixed range (spot search area 32) is extracted for each spot 22 from a predetermined position to be arranged. For example, as shown in FIG. 6, a plurality of spots 22 are arranged in the spot area 21, and the spot 61 in the m-th row and the n-th column in the spot area 21 is set as a target spot to be extracted, and a search area 62 for the spot 61. The reference coordinate 63 can be calculated by the following equation (1).

Figure 2009068996
Figure 2009068996

ここで、(Xb、Yb)はスポット検索領域基準座標35であり、Wはスポット検索領域幅36とする。図6の場合、抽出対象スポット61は、m=2、n=3であるため、(Xb、Yb)=(10、20)、W=50とすると、基準座標63(X、Y)=({10+50X(3−1)}、{20+50X(2−1)})=(110、70)となる。   Here, (Xb, Yb) is the spot search area reference coordinate 35 and W is the spot search area width 36. In the case of FIG. 6, since the extraction target spot 61 is m = 2 and n = 3, if (Xb, Yb) = (10, 20) and W = 50, the reference coordinates 63 (X, Y) = ( {10 + 50X (3-1)}, {20 + 50X (2-1)}) = (110, 70).

このように、上記の処理で対象スポットの検索領域基準座標63が特定できるため、次にスポット検索領域基準座標63から(スポット検索領域幅36×スポット検索領域幅36)の範囲をスポット検索領域62と規定し、ノイズ除去画像データ53からスポット検索領域62の範囲のデータを抽出する。   Thus, since the search area reference coordinates 63 of the target spot can be specified by the above processing, the range of (spot search area width 36 × spot search area width 36) from the spot search area reference coordinates 63 is set to the spot search area 62 next. And the data in the range of the spot search area 62 is extracted from the noise-removed image data 53.

次に、輝度分布解析部43は、所定範囲抽出部42で抽出された全てのスポット検索領域32について、スポット検索領域32毎にX軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線を算出し、輝度分布曲線においてピークとなる座標を検出する。輝度分布解析部43の処理について、図7から図17を用いて説明する。図7は、スポット検索領域32内に配置されているスポット22を示しており、輝度分布解析部43では、まずスポット検索領域32のX軸方向に引いた走査線(図7の太線矢印)上の輝度分布曲線を算出する。輝度分布解析部43では、図7においてY座標がY0、Y1、…、Y9、Y10となる11本の走査線上の輝度分布曲線を順次算出する。以下、スポット検索領域32内でのスポット22の配置パターンについて例を挙げ、輝度分布解析部43で算出するX軸方向の輝度分布曲線を示す。   Next, the luminance distribution analysis unit 43 calculates a luminance distribution curve in the X-axis direction and the Y-axis direction for every spot search region 32 for all the spot search regions 32 extracted by the predetermined range extraction unit 42, and the luminance distribution Coordinates that are peaks in the curve are detected. The processing of the luminance distribution analysis unit 43 will be described with reference to FIGS. FIG. 7 shows the spots 22 arranged in the spot search area 32, and the luminance distribution analysis unit 43 first scans on the scanning line (thick line arrow in FIG. 7) drawn in the X-axis direction of the spot search area 32. The luminance distribution curve is calculated. The luminance distribution analysis unit 43 sequentially calculates luminance distribution curves on 11 scanning lines whose Y coordinates are Y0, Y1,..., Y9, Y10 in FIG. Hereinafter, an example of the arrangement pattern of the spots 22 in the spot search area 32 will be described, and a luminance distribution curve in the X-axis direction calculated by the luminance distribution analysis unit 43 will be shown.

まず、図8(a)に示すように、スポット22の位置ズレが小さく、スポット22の中心点37がスポット検索領域32内にある場合の輝度分布曲線を図8(b)に示す。図8(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、82はY座標がY6、83はY座標がY5及びY7、84はY座標がY4及びY8、85はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図8(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。   First, as shown in FIG. 8A, FIG. 8B shows a luminance distribution curve in the case where the positional deviation of the spot 22 is small and the center point 37 of the spot 22 is in the spot search area 32. FIG. 8B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction, 82 is Y coordinate Y6, 83 is Y coordinate Y5 and Y7, 84 is Y coordinate Y4 and Y8, 85 is Y The luminance distribution curves on the scanning line when the coordinates are other than the above are shown. In FIG. 8B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10.

このように、X軸方向の輝度分布曲線は、ノイズ除去部41で不規則雑音52が除去されているため、輝度値に急峻な変化が無く、輝度分布曲線は図8(b)に示すようにスポット22の中心点37でのみ、輝度分布曲線のピークが現れる。   Thus, since the random noise 52 is removed by the noise removing unit 41 in the luminance distribution curve in the X-axis direction, there is no sharp change in the luminance value, and the luminance distribution curve is as shown in FIG. The peak of the luminance distribution curve appears only at the center point 37 of the spot 22.

次に、図9(a)に示すように、スポット22の位置ズレが大きく、スポット22の中心点37がスポット検索領域32外にある場合の輝度分布曲線を図9(b)に示す。図9(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、91はY座標がY6、92はY座標がY5及びY7、93はY座標がY4及びY8、94はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図9(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図9(a)に示すように、スポット22の中心点37のX座標はスポット検索領域32のX座標(X0〜X10)外にあるため、図9(b)のX軸方向の輝度分布曲線には輝度分布曲線にピークが現れず、位置ズレしている方向(X0に近い)ほど輝度値が大きくなっている。   Next, as shown in FIG. 9A, a luminance distribution curve in the case where the positional deviation of the spot 22 is large and the center point 37 of the spot 22 is outside the spot search area 32 is shown in FIG. 9B. FIG. 9B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction. 91 is Y coordinate Y6, 92 is Y coordinate Y5 and Y7, 93 is Y coordinate Y4 and Y8, 94 is Y The luminance distribution curves on the scanning line when the coordinates are other than the above are shown. In FIG. 9B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. As shown in FIG. 9A, since the X coordinate of the center point 37 of the spot 22 is outside the X coordinates (X0 to X10) of the spot search area 32, the luminance distribution curve in the X-axis direction of FIG. No peak appears in the luminance distribution curve, and the luminance value increases as the position is shifted (closer to X0).

次に、図8及び図9のようにスポット22単体が位置ズレした場合ではなく、スポット領域21において、スポット22がまとまって位置ズレした場合の輝度分布曲線について説明する。図10は、スポット領域21において、行101に属するスポット22全体が左側に位置ズレした場合のスポット検索領域32を示しており、位置ズレした行101のスポット検索領域32には、複数のスポット22が含まれている。図10の例では、行101のスポット22が全体的に左側に位置ズレしているため、行101の左端のスポット検索領域102には2つのスポット22、右端のスポット検索領域103には1つのスポットが含まれている。   Next, the luminance distribution curve when the spots 22 are collectively misaligned in the spot region 21 instead of when the spot 22 alone is misaligned as shown in FIGS. 8 and 9 will be described. FIG. 10 shows a spot search region 32 when the entire spot 22 belonging to the row 101 is shifted to the left side in the spot region 21. The spot search region 32 of the shifted row 101 includes a plurality of spots 22. It is included. In the example of FIG. 10, the spot 22 in the row 101 is entirely shifted to the left side, so that two spots 22 are in the leftmost spot search area 102 and one spot in the rightmost spot search area 103. Contains spots.

また、図11は、スポット領域21全体が左上側へ位置ズレした場合のスポット検索領域32を示している。スポット領域21全体が位置ズレすると、多くのスポット検索領域32に複数のスポット22が含まれる可能性がある。図11の例では、スポット領域21全体が左上側へ位置ズレしているため、スポット検索領域32内のスポット22の数は4つまたは2つまたは1つの場合があり、スポット領域21の4隅のスポット検索領域(111、112、113、114)では、スポット22の配置状況が大きく異なっていることが分かる。以下、図10のようにスポット領域21の行101全体が位置ズレした場合のスポット検索領域(102、103)及び図11のようにスポット領域21全体が位置ズレした場合のスポット検索領域(111、112、113、114)の輝度分布曲線を示す。   FIG. 11 shows the spot search area 32 when the entire spot area 21 is shifted to the upper left. If the entire spot area 21 is misaligned, a plurality of spots 22 may be included in many spot search areas 32. In the example of FIG. 11, since the entire spot area 21 is shifted to the upper left side, the number of spots 22 in the spot search area 32 may be four, two, or one. It can be seen that in the spot search areas (111, 112, 113, 114) of FIG. Hereinafter, the spot search areas (102, 103) when the entire row 101 of the spot area 21 is displaced as shown in FIG. 10 and the spot search areas (111, 111) when the entire spot area 21 is displaced as shown in FIG. 112, 113, 114) are shown.

図12(a)は、図10において位置ズレした行101の左端のスポット検索領域102を拡大した図である。図12(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、121はY座標がY5、122はY座標がY4及びY6、123はY座標がY3及びY7、124はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図12(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図12(a)に示すように、スポット検索領域102の両端にスポット22が配置されているため、X軸方向の輝度分布曲線には両端に2つの山が現れる。左側のスポット22は中心点37がスポット検索領域102外にあるため輝度分布曲線にピークが現れないが、右側のスポット22は中心点37がスポット検索領域102内に含まれるため、輝度分布曲線にはピークが現れる。   FIG. 12A is an enlarged view of the spot search area 102 at the left end of the row 101 that is displaced in FIG. FIG. 12B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction, 121 is Y coordinate Y5, 122 is Y coordinate Y4 and Y6, 123 is Y coordinate Y3 and Y7, 124 is Y The luminance distribution curves on the scanning line when the coordinates are other than the above are shown. In FIG. 12B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. As shown in FIG. 12A, since the spots 22 are arranged at both ends of the spot search area 102, two peaks appear at both ends in the luminance distribution curve in the X-axis direction. The left spot 22 has a center point 37 outside the spot search area 102, so no peak appears in the brightness distribution curve. However, the right spot 22 has a center point 37 in the spot search area 102, so Shows a peak.

次に、図13(a)は、図10において位置ズレした行101の右端のスポット検索領域103を拡大した図である。図13(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、131はY座標がY5、132はY座標がY4及びY6、133はY座標がY3及びY7、134はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図13(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図13は、行全体が位置ズレした場合のスポット検索領域103であるが、X軸方向の輝度分布曲線にも山は1つずつしか現れず、図9で示したスポット22単体の位置ズレの場合と同様な輝度分布曲線となる。   Next, FIG. 13A is an enlarged view of the spot search area 103 at the right end of the row 101 that is displaced in FIG. FIG. 13B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction. 131 is Y coordinate Y5, 132 is Y coordinate Y4 and Y6, 133 is Y coordinate Y3 and Y7, 134 is Y The luminance distribution curves on the scanning line when the coordinates are other than the above are shown. In FIG. 13B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. FIG. 13 shows the spot search area 103 when the entire row is misaligned. However, only one peak appears in the luminance distribution curve in the X-axis direction, and the position misalignment of the spot 22 alone shown in FIG. The luminance distribution curve is the same as in the case.

次に、図14(a)は、図11においてスポット領域21全体が位置ズレした場合の左上隅のスポット検索領域111を拡大した図である。図14(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、141はY座標がY9、142はY座標がY0及びY8及びY10、143はY座標がY1及びY7、144はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図14(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図14(a)に示すように、スポット検索領域111の4隅にスポット22が配置されており、各スポット22はX軸方向及びY軸方向でそれぞれ重なっている。X軸方向の輝度分布曲線には2つの山が現れる。スポット検索領域111の右下のスポット22は中心点37が含まれるため、X軸方向の輝度分布曲線にはピークが現れる。   Next, FIG. 14A is an enlarged view of the spot search area 111 at the upper left corner when the entire spot area 21 is displaced in FIG. FIG. 14B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction. 141 is Y coordinate Y9, 142 is Y coordinate Y0 and Y8 and Y10, 143 is Y coordinate Y1 and Y7, 144. Indicates the luminance distribution curve on the scanning line when the Y coordinate is other than the above. In FIG. 14B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. As shown in FIG. 14A, spots 22 are arranged at the four corners of the spot search area 111, and the spots 22 overlap in the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively. Two peaks appear in the luminance distribution curve in the X-axis direction. Since the lower right spot 22 of the spot search area 111 includes the center point 37, a peak appears in the luminance distribution curve in the X-axis direction.

次に、図15(a)は、図11においてスポット領域21全体が位置ズレした場合の右上隅のスポット検索領域112を拡大した図である。図15(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、151はY座標がY9、152はY座標がY0及びY8及びY10、153はY座標がY1及びY7、154はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図15(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図15(a)に示すように、スポット検索領域112の左上と左下にスポット22が配置されているため、X軸方向の輝度分布曲線では山が1つしか現れない。これは、スポット検索領域112内の2つのスポット22で、X軸方向の位置ズレがないためである。   Next, FIG. 15A is an enlarged view of the spot search area 112 at the upper right corner when the entire spot area 21 is displaced in FIG. FIG. 15B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction, 151 is Y coordinate Y9, 152 is Y coordinate Y0 and Y8 and Y10, 153 is Y coordinate Y1 and Y7, 154. Indicates the luminance distribution curve on the scanning line when the Y coordinate is other than the above. In FIG. 15B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. As shown in FIG. 15A, since the spots 22 are arranged at the upper left and lower left of the spot search area 112, only one mountain appears in the luminance distribution curve in the X-axis direction. This is because there is no positional deviation in the X-axis direction between the two spots 22 in the spot search area 112.

次に、図16(a)は、図11においてスポット領域21全体が位置ズレした場合の左下隅のスポット検索領域113を拡大した図である。図16(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、161はY座標がY0、162はY座標がY1、163はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図16(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図16(a)に示すように、スポット検索領域113の左上と右上にスポット22が配置されているため、X軸方向の輝度分布曲線にはそれぞれ2つの山が現れる。スポット検索領域113の左上のスポット22の中心点37のX座標はスポット検索領域113に含まれないため、輝度分布曲線にはピークが現れないが、右上のスポット22は中心点37のX座標がスポット検索領域113に含まれるため、輝度分布曲線にはピークが現れる。   Next, FIG. 16A is an enlarged view of the spot search area 113 at the lower left corner when the entire spot area 21 is displaced in FIG. FIG. 16B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction. 161 is the Y coordinate Y0, 162 is the Y coordinate Y1, and 163 is the luminance on the scanning line when the Y coordinate is other than the above. Each distribution curve is shown. In FIG. 16B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. As shown in FIG. 16A, since the spots 22 are arranged on the upper left and upper right of the spot search area 113, two peaks appear in the luminance distribution curve in the X-axis direction. Since the X coordinate of the center point 37 of the upper left spot 22 in the spot search area 113 is not included in the spot search area 113, no peak appears in the luminance distribution curve, but the upper right spot 22 has the X coordinate of the center point 37. Since it is included in the spot search area 113, a peak appears in the luminance distribution curve.

次に、図17(a)は、図11においてスポット領域21全体が位置ズレした場合の右下隅のスポット検索領域114を拡大した図である。図17(b)は、X軸方向に引いた走査線上の輝度分布曲線であり、171はY座標がY0、172はY座標がY1、173はY座標が上記以外の場合の走査線上の輝度分布曲線をそれぞれ示している。図17(b)の縦軸は輝度値、横軸はX軸座標を示し、左端の座標がX0、右端の座標がX10となる。図17は、スポット領域21全体が位置ズレした場合のスポット検索領域114であるが、図9で示したスポット22単体の位置ズレの場合と同様に、X軸方向の輝度分布曲線で山が1つとなる。   Next, FIG. 17A is an enlarged view of the spot search area 114 at the lower right corner when the entire spot area 21 is displaced in FIG. FIG. 17B is a luminance distribution curve on the scanning line drawn in the X-axis direction. 171 is the Y coordinate Y0, 172 is the Y coordinate Y1, and 173 is the luminance on the scanning line when the Y coordinate is other than the above. Each distribution curve is shown. In FIG. 17B, the vertical axis represents the luminance value, the horizontal axis represents the X axis coordinate, the left end coordinate is X0, and the right end coordinate is X10. FIG. 17 shows the spot search area 114 when the entire spot area 21 is misaligned. As in the case of the position misalignment of the spot 22 shown in FIG. 9, the peak is 1 in the luminance distribution curve in the X-axis direction. Become one.

なお、ここでは輝度分布曲線を算出する際のX軸方向の走査線の本数として11本の場合を例示したが、走査線の本数を増やすと算出した輝度分布曲線の精度が高くなり、スポット検索領域32全体の輝度分布を把握しやすくなるため、走査線の本数は多いほどよい。また、スポッタのばらつきが少なく、スポットの位置ズレ量が予め小さいと予測できる場合は、所定範囲抽出部42で抽出するスポット検索領域32の検索領域幅36を小さくすることで、輝度分布解析部43で処理するデータ量少なくなり処理速度を向上することが可能である。輝度分布解析部43では、上記のように処理することで、スポット検索領域32毎に、X軸方向の輝度分布曲線を算出することが可能となる。   In this example, the number of scanning lines in the X-axis direction when calculating the luminance distribution curve is exemplified as 11. However, when the number of scanning lines is increased, the accuracy of the calculated luminance distribution curve increases, and spot search is performed. Since it becomes easy to grasp the luminance distribution of the entire region 32, it is better that the number of scanning lines is larger. In addition, when it can be predicted that there is little spotter variation and the amount of positional deviation of the spot is small in advance, the luminance distribution analysis unit 43 is reduced by reducing the search region width 36 of the spot search region 32 extracted by the predetermined range extraction unit 42. It is possible to reduce the amount of data to be processed and improve the processing speed. The luminance distribution analysis unit 43 can calculate a luminance distribution curve in the X-axis direction for each spot search region 32 by performing the processing as described above.

次に、輝度分布解析部43では、算出したX軸方向の輝度分布曲線を加算する。輝度分布曲線を算出する際の走査線は、必ずしもスポット22上を通るとは限らない。スポット22上を通らない走査線上の輝度分布曲線は、ピーク及び傾斜が現れないため、1つの走査線上の輝度分布曲線だけでは、輝度分布曲線がピークとなる座標が検出できない可能性がある。本発明の実施の形態において、輝度分布解析部43では、スポット検索領域32全体の輝度分布を把握できるように、走査線を選択しているため、輝度分布解析部43で算出する輝度分布曲線には、スポット22上を通る走査線上の輝度分布曲線が必ず複数含まれおり、この輝度分布曲線を加算することで輝度分布曲線のピークが強調された輝度分布曲線を抽出でき、輝度分布曲線のピークの座標検出が容易になる。   Next, the luminance distribution analysis unit 43 adds the calculated luminance distribution curve in the X-axis direction. The scanning line for calculating the luminance distribution curve does not necessarily pass on the spot 22. Since the luminance distribution curve on the scanning line that does not pass on the spot 22 does not have a peak or inclination, the coordinates at which the luminance distribution curve reaches the peak may not be detected using only the luminance distribution curve on one scanning line. In the embodiment of the present invention, since the luminance distribution analysis unit 43 selects a scanning line so that the luminance distribution of the entire spot search region 32 can be grasped, the luminance distribution curve calculated by the luminance distribution analysis unit 43 is used. Always includes a plurality of luminance distribution curves on the scanning line passing on the spot 22, and by adding the luminance distribution curves, the luminance distribution curve in which the peak of the luminance distribution curve is emphasized can be extracted. The coordinate detection becomes easier.

次に、加算したX軸方向の輝度分布曲線において、ピークとなる座標を検出する。スポット22の位置ズレ具合によっては、スポット検索領域32において、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できないことがある。この場合は、スポット検索領域32において、輝度分布曲線の傾斜において、輝度値が最大となる座標を検出する。次に、X軸方向の輝度分布曲線のピークとなるX座標、若しくは傾斜において輝度値が最大値となるX座標について、Y軸方向の輝度分布曲線を算出する。Y軸方向の輝度分布曲線の算出については、X軸方向の輝度分布曲線のように複数の輝度分布曲線の算出は行わない。これは、X軸方向の輝度分布曲線において、既にピークとなる座標または傾斜において輝度値が最大値となる座標が分かっているためである。次に、Y軸方向の輝度分布曲線において、X軸方向の輝度分布曲線と同様にピークとなる座標を検出する。ここで、X軸方向またはY軸方向の輝度分布曲線において、ピークとなる座標が検出できなかった場合は、輝度分布曲線の傾斜からスポット22の位置ズレ方向を推定し、位置ズレ方向に隣接するスポット検索領域32について再度ピーク検出を実施する。   Next, in the added luminance distribution curve in the X-axis direction, a coordinate that becomes a peak is detected. Depending on how the spot 22 is misaligned, in the spot search area 32, the coordinates of the peak of the luminance distribution curve may not be detected. In this case, in the spot search area 32, the coordinate with the maximum luminance value is detected in the inclination of the luminance distribution curve. Next, the luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated for the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve in the X-axis direction or the X coordinate that has the maximum luminance value in the inclination. Regarding the calculation of the luminance distribution curve in the Y-axis direction, a plurality of luminance distribution curves are not calculated as in the case of the luminance distribution curve in the X-axis direction. This is because, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, the coordinates at which the peak is already reached or the coordinates at which the luminance value is maximum at the inclination are already known. Next, in the luminance distribution curve in the Y-axis direction, coordinates that have a peak are detected as in the luminance distribution curve in the X-axis direction. Here, in the case where a peak coordinate cannot be detected in the luminance distribution curve in the X-axis direction or the Y-axis direction, the positional deviation direction of the spot 22 is estimated from the inclination of the luminance distribution curve, and is adjacent to the positional deviation direction. The peak detection is performed again for the spot search area 32.

以下、輝度分布解析部43での輝度分布曲線の加算及びピーク検出について図8から図26を用いて説明する。   Hereinafter, addition of the luminance distribution curve and peak detection in the luminance distribution analysis unit 43 will be described with reference to FIGS.

まず、図8(a)に示すように、スポット22の中心点37がスポット検索領域32内にある場合、X軸方向の輝度分布曲線は、図18(a)の82、83、84、85で示した曲線である。これらX軸方向の輝度分布曲線を加算すると輝度分布曲線181のようになる。図18(a)において、輝度分布曲線181のピークとなるX座標はX4となり、スポット22の中心点37のX座標はX4と判定される。次に、X軸方向の輝度分布曲線がピークとなるX座標におけるY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図18(a)では、ピークとなるX座標がX4であるため、図8(a)において、X座標がX4上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、図18(b)の182のようになる。輝度分布曲線182において、ピークとなるY座標はY6となる。ここで、図8(a)のように、スポット22の中心点37が走査線上にある場合は、輝度分布曲線のピークとなる座標がスポット22の中心点37の座標と一致するが、必ずしもスポット22の中心点37が走査線上にあるとは限らない。そのため、走査線の本数が少ない場合は、輝度分布解析部43で算出した輝度分布曲線において、極大となる点と周辺の点を利用して近似曲線を算出し、近似曲線のピーク座標を算出することで、輝度分布曲線のピーク座標を算出するとよい。   First, as shown in FIG. 8A, when the center point 37 of the spot 22 is in the spot search area 32, the luminance distribution curve in the X-axis direction is 82, 83, 84, 85 in FIG. It is the curve shown by. When these luminance distribution curves in the X-axis direction are added, a luminance distribution curve 181 is obtained. In FIG. 18A, the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve 181 is X4, and the X coordinate of the center point 37 of the spot 22 is determined to be X4. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction at the X coordinate where the luminance distribution curve in the X-axis direction reaches a peak is calculated. In FIG. 18A, since the peak X coordinate is X4, when the luminance distribution curve in the Y-axis direction on X coordinate X4 in FIG. 8A is calculated, 182 in FIG. It becomes like this. In the luminance distribution curve 182, the peak Y coordinate is Y6. Here, as shown in FIG. 8A, when the center point 37 of the spot 22 is on the scanning line, the coordinates of the peak of the luminance distribution curve coincide with the coordinates of the center point 37 of the spot 22, but the spot is not necessarily spotted. The 22 center points 37 are not necessarily on the scanning line. Therefore, when the number of scanning lines is small, in the luminance distribution curve calculated by the luminance distribution analysis unit 43, an approximate curve is calculated using the local maximum point and surrounding points, and the peak coordinates of the approximate curve are calculated. Thus, the peak coordinates of the luminance distribution curve may be calculated.

次に、図9(a)に示すように、スポット22の中心点37がスポット検索領域32外にある場合、X軸方向の輝度分布曲線は、図19(a)の91、92、93、94で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線191のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線191は、図19(a)に示すように、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できない。このように、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できない場合、輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となる座標を検出し、スポット22の位置ズレ方向を判定する。図19(a)の場合、加算した輝度分布曲線191において、輝度値が最大となるX座標はX0となり、スポット22はX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。次に、X軸方向の輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図19(a)では、輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図9(a)において、X座標がX0上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、図19(b)の192のようになる。輝度分布曲線192において、ピークとなるY座標はY6となる。このように、X軸方向またはY軸方向の輝度分布曲線において、ピークとなる座標が検出できなかった場合、スポット22の位置ズレ方向に隣接するスポット検索領域32について、ピーク座標の検出を行う。図19(a)のように、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークが検出でき、X軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標が検出できない場合は、X軸の減少方向に隣接するスポット検索領域32において、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークとなるY座標上の輝度分布曲線を算出し、ピーク座標の検出を行う。   Next, as shown in FIG. 9A, when the center point 37 of the spot 22 is outside the spot search region 32, the luminance distribution curves in the X-axis direction are 91, 92, 93, 94, a luminance distribution curve 191 is obtained by adding these. In the added luminance distribution curve 191 in the X-axis direction, as shown in FIG. 19A, the coordinates that become the peak of the luminance distribution curve cannot be detected. As described above, when the coordinate that becomes the peak of the luminance distribution curve cannot be detected, the coordinate having the maximum luminance value in the inclination of the luminance distribution curve is detected, and the positional deviation direction of the spot 22 is determined. In the case of FIG. 19A, in the added luminance distribution curve 191, the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and it can be determined that the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction at the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve in the X-axis direction is calculated. In FIG. 19A, the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve is X0. Therefore, in FIG. 9A, when the luminance distribution curve in the Y-axis direction on the X coordinate X0 is calculated. 192 of FIG. 19B. In the luminance distribution curve 192, the peak Y coordinate is Y6. As described above, in the X-axis direction or Y-axis direction luminance distribution curve, when the peak coordinates cannot be detected, the peak coordinates are detected for the spot search region 32 adjacent to the spot 22 in the position shift direction. As shown in FIG. 19A, when the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction can be detected and the peak coordinate in the luminance distribution curve in the X-axis direction cannot be detected, the spot search area 32 adjacent in the decreasing direction of the X-axis. , The luminance distribution curve on the Y coordinate that is the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated, and the peak coordinate is detected.

図9(a)の場合を例に挙げ、隣接するスポット検索領域32においての輝度分布曲線のピーク検出について、図20を用いて説明する。図9(a)とその左側(X軸の減少方向)のスポット検索領域32の状況を図20(a)に示す。図20(a)において、隣接スポット22の検索領域32のX座標は(X0’、X1’、…、X9’、X10’)で表している。検出対象スポット201と隣接スポット22のスポット検索領域32は互いに接しているため、X10’とX0は同一座標であり、図中ではX0と表示している。   Taking the case of FIG. 9A as an example, peak detection of the luminance distribution curve in the adjacent spot search region 32 will be described with reference to FIG. FIG. 20A shows the situation of the spot search area 32 on the left side (X axis decreasing direction) of FIG. In FIG. 20A, the X coordinate of the search area 32 of the adjacent spot 22 is represented by (X0 ', X1', ..., X9 ', X10'). Since the spot search area 32 of the detection target spot 201 and the adjacent spot 22 is in contact with each other, X10 'and X0 have the same coordinates, and are indicated as X0 in the drawing.

図9(a)の場合、Y軸方向の輝度分布曲線のピークとなるY座標はY6であるため、Y6上のX軸方向の輝度分布曲線を算出すると、図20(b)の203のようになる。この例では、検出対象スポット201と隣接スポット22は、同等の発光を行うものとする。   In the case of FIG. 9A, the Y coordinate that is the peak of the luminance distribution curve in the Y-axis direction is Y6. Therefore, when the luminance distribution curve in the X-axis direction on Y6 is calculated, as indicated by 203 in FIG. 20B. become. In this example, the detection target spot 201 and the adjacent spot 22 emit the same light.

次に、図20(b)の輝度分布曲線203において、隣接するスポット22の範囲(X0’からX10’)では、輝度分布のピークとなるX座標が2箇所(X5’、X9’)検出できるため、検出対象スポット201のX軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標は、検出対象スポット201の検索領域32に近いX9’と判定する。ここでは、スポット22の位置ズレによってスポット検索領域32の領域内にてX軸方向の輝度分布曲線についてピークが検出できない場合を例示したが、Y軸方向の輝度分布曲線についてもピークが検出できない場合は同様に処理することで、Y軸方向の輝度分布のピークを検出が可能となる。   Next, in the luminance distribution curve 203 of FIG. 20B, two X coordinates (X5 ′, X9 ′) that are the peaks of the luminance distribution can be detected in the range of the adjacent spot 22 (X0 ′ to X10 ′). Therefore, the peak coordinate in the luminance distribution curve in the X-axis direction of the detection target spot 201 is determined as X9 ′ close to the search area 32 of the detection target spot 201. Here, the case where the peak cannot be detected for the luminance distribution curve in the X-axis direction in the spot search region 32 due to the positional deviation of the spot 22 is illustrated, but the peak cannot be detected also for the luminance distribution curve in the Y-axis direction. By processing in the same way, it is possible to detect the peak of the luminance distribution in the Y-axis direction.

本発明の実施の形態のように、スポット検索領域32間のスペースが無く、互いに接するようにスポット検索領域32を規定した場合は、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できなくても、上記のように、隣接するスポット22の検索領域32まで輝度分布のピーク検索範囲を広げて、ピーク位置の検出を行うことが可能である。しかし、検出対象スポット201の位置ズレ量が大きく、検出対象スポット201の中心点202と隣接するスポット22の中心点37の距離が近くなると、互いの輝度分布が干渉し、輝度分布のピーク位置が分離できない可能性がある。このような場合は、後述するスポット位置特定部17において測定対象外のスポットと判断する。   As in the embodiment of the present invention, when there is no space between the spot search areas 32 and the spot search areas 32 are defined so as to be in contact with each other, even if the coordinates at the peak of the luminance distribution curve cannot be detected, the above As described above, the peak position can be detected by expanding the peak search range of the luminance distribution to the search area 32 of the adjacent spot 22. However, if the amount of positional deviation of the detection target spot 201 is large and the distance between the center point 202 of the detection target spot 201 and the center point 37 of the adjacent spot 22 becomes short, the luminance distributions interfere with each other, and the peak position of the luminance distribution is There is a possibility that it cannot be separated. In such a case, the spot position specifying unit 17 described later determines that the spot is not a measurement target.

次に、図10のようにスポット領域21の行101全体が位置ズレした場合の輝度分布曲線(図12、図13)及び図11のようにスポット領域21全体が位置ズレした場合の輝度分布曲線(図14、図15、図16、図17)における輝度分布解析部43での輝度分布曲線の加算及びピーク検出について説明する。   Next, the luminance distribution curve when the entire row 101 of the spot area 21 is displaced as shown in FIG. 10 (FIGS. 12 and 13) and the luminance distribution curve when the entire spot area 21 is displaced as shown in FIG. The addition of the luminance distribution curve and the peak detection in the luminance distribution analysis unit 43 in (FIGS. 14, 15, 16, and 17) will be described.

まず、図12(a)に示すように、位置ズレした行101の左端のスポット検索領域102の輝度分布解析部43の処理について、図21を用いて説明する。図12(a)の場合、X軸方向の輝度分布曲線は、図21(a)の121、122、123、124で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線211のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線211においては、ピークとなるX座標X9.5(X9とX10の中間点)は検出できるが、左側にも輝度分布の傾斜が見られる。このように、X軸方向の輝度分布曲線において、ピークの座標が1箇所と別の輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域102には、X軸方向に位置ズレした位置に2つのスポット22があると判定できる。加算した輝度分布曲線211の左側にある輝度分布の傾斜において、輝度値が最大となるX座標はX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。   First, as shown in FIG. 12A, the processing of the luminance distribution analysis unit 43 in the spot search region 102 at the left end of the misaligned row 101 will be described with reference to FIG. In the case of FIG. 12A, the luminance distribution curves in the X-axis direction are curves indicated by 121, 122, 123, and 124 in FIG. 21A, and when these are added, a luminance distribution curve 211 is obtained. In the added luminance distribution curve 211 in the X-axis direction, the peak X coordinate X9.5 (an intermediate point between X9 and X10) can be detected, but the inclination of the luminance distribution is also seen on the left side. As described above, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, when the slope of the luminance distribution is different from that of one peak, the spot search area 102 has two positions shifted in the X-axis direction. It can be determined that there is a spot 22. In the gradient of the luminance distribution on the left side of the added luminance distribution curve 211, the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and it can be determined that the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis.

次に、X軸方向の輝度分布曲線のピークとなるX座標、及び傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図21(a)では、輝度分布曲線のピークとなるX座標がX9.5、傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図12(a)において、X座標がX0上とX9.5上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、どちらも図21(b)の212のようになる。輝度分布曲線212において、ピークとなるY座標はY5となる。ここで、X軸方向の輝度分布曲線211において左側の傾斜については、ピークとなる座標が検出できなかったため、X軸の減少方向に隣接するスポット検索領域32について、X軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。図21(a)のように、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークが検出でき、X軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標が検出できない場合は、X軸の減少方向に隣接するスポット検索領域32において、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークとなるY座標上の輝度分布曲線を算出し、ピーク座標の検出を行う。   Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated at the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve in the X-axis direction and the X coordinate that has the maximum luminance value in the inclination. In FIG. 21A, the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve is X9.5, and the X coordinate that maximizes the luminance value in the inclination is X0. Therefore, in FIG. When the luminance distribution curve in the Y-axis direction on X9.5 is calculated, both are as indicated by 212 in FIG. In the luminance distribution curve 212, the peak Y coordinate is Y5. Here, with respect to the slope on the left side in the luminance distribution curve 211 in the X-axis direction, the peak coordinates could not be detected, so the spot search region 32 adjacent in the X-axis decreasing direction is Detect peak coordinates. As shown in FIG. 21A, when the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction can be detected and the peak coordinate in the luminance distribution curve in the X-axis direction cannot be detected, the spot search area 32 adjacent in the decreasing direction of the X-axis. , The luminance distribution curve on the Y coordinate that is the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated, and the peak coordinate is detected.

次に、図13(a)に示すように、位置ズレした行101の右端のスポット検索領域103の輝度分布解析部43の処理について、図22を用いて説明する。図13(a)の場合、X軸方向の輝度分布曲線は、図22(a)の131、132、133、134で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線221ようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線221は、図22(a)に示すように、輝度分布のピークとなる座標が検出できない。このように、X軸方向の輝度分布曲線において、左側に輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域103には1つのスポット22が配置されていると判定できる。また、X軸方向の輝度分布曲線において、輝度値が最大となるX座標がX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。次に、X軸方向の輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図22(a)では、輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図13(a)において、X座標がX0上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、図22(b)の222のようになる。輝度分布曲線222において、ピークとなるY座標はY5となる。ここで、X軸方向の輝度分布曲線において、ピークとなる座標が検出できなかったため、X軸の減少方向に隣接するスポット検索領域32について、X軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。図22(a)のように、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークが検出でき、X軸方向の輝度分布曲線におけるピーク座標が検出できない場合は、X軸の減少方向に隣接するスポット検索領域32において、Y軸方向の輝度分布曲線におけるピークとなるY座標上の輝度分布曲線を算出し、ピーク座標の検出を行う。   Next, as shown in FIG. 13A, processing of the luminance distribution analysis unit 43 in the spot search region 103 at the right end of the misaligned row 101 will be described with reference to FIG. In the case of FIG. 13A, the luminance distribution curves in the X-axis direction are curves indicated by 131, 132, 133, 134 in FIG. 22A, and when these are added, a luminance distribution curve 221 is obtained. In the added luminance distribution curve 221 in the X-axis direction, as shown in FIG. Thus, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, when the inclination of the luminance distribution is detected on the left side, it can be determined that one spot 22 is arranged in the spot search area 103. In the luminance distribution curve in the X-axis direction, it can be determined that the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and the spot 22 is displaced in the X-axis decreasing direction. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction at the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve in the X-axis direction is calculated. In FIG. 22A, the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve is X0. Therefore, in FIG. 13A, when the luminance distribution curve in the Y-axis direction on the X coordinate X0 is calculated. 22 in FIG. 22B. In the luminance distribution curve 222, the peak Y coordinate is Y5. Here, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, since the coordinate that becomes the peak could not be detected, the peak coordinate in the luminance distribution curve in the X-axis direction is detected for the spot search region 32 adjacent in the decreasing direction of the X-axis. As shown in FIG. 22A, when the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction can be detected and the peak coordinate in the luminance distribution curve in the X-axis direction cannot be detected, the spot search region 32 adjacent in the decreasing direction of the X-axis. , The luminance distribution curve on the Y coordinate that is the peak in the luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated, and the peak coordinate is detected.

次に、図14(a)に示すように、スポット領域21全体が位置ズレした場合の左上隅のスポット検索領域111の輝度分布解析部43での輝度分布曲線の加算及びピーク検出について、図23を用いて説明する。図14(a)の場合、輝度分布算出部15で出力されるX軸方向輝度分布曲線は、図23(a)の141、142、143、144で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線231のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線231において、ピークとなるX座標X9.5(X9とX10の中間点)は検出できるが、左側にも輝度分布の傾斜が見られる。このように、X軸方向の輝度分布曲線において、ピークの座標が1箇所と別の輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域111には、X軸方向に位置ズレした位置に2つのスポット22があると判定できる。加算した輝度分布曲線231で検出した輝度分布の傾斜において、輝度値が最大となる座標はX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。   Next, as shown in FIG. 14A, the luminance distribution curve addition and peak detection in the luminance distribution analysis unit 43 of the spot search region 111 in the upper left corner when the entire spot region 21 is displaced are shown in FIG. Will be described. In the case of FIG. 14A, the X-axis direction luminance distribution curves output by the luminance distribution calculation unit 15 are curves indicated by 141, 142, 143, and 144 in FIG. The distribution curve 231 is obtained. In the added luminance distribution curve 231 in the X-axis direction, a peak X coordinate X9.5 (an intermediate point between X9 and X10) can be detected, but a slope of the luminance distribution is also seen on the left side. As described above, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, when the inclination of the luminance distribution is different from one peak coordinate, two spot search areas 111 are located at positions shifted in the X-axis direction. It can be determined that there is a spot 22. In the gradient of the luminance distribution detected by the added luminance distribution curve 231, the coordinate at which the luminance value becomes maximum is X0, and it can be determined that the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis.

次に、X軸方向の輝度分布曲線のピークとなるX座標、及び傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図23(a)では、輝度分布曲線のピークとなるX座標がX9.5、傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図14(a)において、X座標がX0上とX9.5上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、どちらも図23(b)の232のようになる。輝度分布曲線232において、ピークとなるY座標Y9は検出できるが、左側にも輝度分布の傾斜が見られる。このように、Y軸方向の輝度分布曲線においては、ピークの座標が1箇所と別の輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域111には、Y軸方向位置ズレした位置にそれぞれ2つのスポット22があると判定できる。輝度分布曲線232で検出した輝度分布曲線の傾斜において、輝度値が最大となる座標はY0であり、スポット22がY軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。図23のように、X軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線において、それぞれ2つのピーク及び傾斜が検出された場合、スポット検索領域111の4隅には1つずつスポット22があると判定できる。左上隅のスポット22はX軸及びY軸の減少方向に位置ズレしていると判定できるため、左斜め上方向に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。右上隅および左下隅のスポット22についても同様に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。   Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated at the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve in the X-axis direction and the X coordinate that has the maximum luminance value in the inclination. In FIG. 23 (a), the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve is X9.5, and the X coordinate that maximizes the luminance value in the inclination is X0. Therefore, in FIG. 14 (a), the X coordinate is on X0. When the luminance distribution curve in the Y-axis direction on X9.5 is calculated, both are as indicated by 232 in FIG. In the luminance distribution curve 232, the peak Y coordinate Y9 can be detected, but the inclination of the luminance distribution is also seen on the left side. As described above, in the luminance distribution curve in the Y-axis direction, when the inclination of the luminance distribution is different from that at one peak coordinate, the spot search area 111 has 2 in the position shifted in the Y-axis direction. It can be determined that there are two spots 22. In the inclination of the luminance distribution curve detected by the luminance distribution curve 232, the coordinate at which the luminance value becomes maximum is Y0, and it can be determined that the spot 22 is misaligned in the decreasing direction of the Y axis. As shown in FIG. 23, when two peaks and inclinations are detected in the luminance distribution curves in the X-axis direction and the Y-axis direction, it can be determined that there are one spot 22 at each of the four corners of the spot search area 111. . Since it can be determined that the spot 22 in the upper left corner is displaced in the decreasing direction of the X axis and the Y axis, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the spot search region 32 adjacent in the diagonally upper left direction. Similarly, for the spot 22 at the upper right corner and the lower left corner, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the adjacent spot search areas 32.

次に、図15(a)に示すように、スポット領域21全体が位置ズレした場合の右上隅のスポット検索領域112の輝度分布解析部43の処理について、図24を用いて説明する。図15(a)の場合、輝度分布算出部15で出力されるX軸方向の輝度分布曲線は、図24(a)の151、152、153、154で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線241のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線241においては、図24(a)に示すように、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できない。加算した輝度分布曲線241の左側にある輝度分布の傾斜において、輝度値が最大となるX座標がX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。次に、X軸方向の輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図24(a)では、輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図15(a)において、X座標がX0上上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、図24(b)の242のようになる。輝度分布曲線232において、ピークとなるY座標Y9は検出できるが、左側にも輝度分布の傾斜が見られる。このように、Y軸方向の輝度分布曲線において、ピークの座標が1箇所と別の輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域112には、Y軸方向で位置ズレした位置に2つのスポット22があり、それらのスポット22はX軸方向で重なっていると判定できる。図24では、スポット検索領域112の左上隅及び左下隅に1つずつスポット22があると判定できる。左上隅のスポット22はX軸及びY軸の減少方向に位置ズレしていると判定できるため、左斜め上方向に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。左下隅のスポット22についても同様に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。   Next, as shown in FIG. 15A, the processing of the luminance distribution analysis unit 43 in the spot search area 112 in the upper right corner when the entire spot area 21 is displaced will be described with reference to FIG. In the case of FIG. 15A, the luminance distribution curves in the X-axis direction output from the luminance distribution calculation unit 15 are curves indicated by 151, 152, 153, and 154 in FIG. A luminance distribution curve 241 is obtained. In the added luminance distribution curve 241 in the X-axis direction, as shown in FIG. 24A, the coordinates that are the peak of the luminance distribution curve cannot be detected. In the gradient of the luminance distribution on the left side of the added luminance distribution curve 241, it can be determined that the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction at the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve in the X-axis direction is calculated. In FIG. 24A, since the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve is X0, in FIG. 15A, the luminance distribution curve in the Y-axis direction on the X coordinate on X0 is calculated. Then, it becomes like 242 in FIG. In the luminance distribution curve 232, the peak Y coordinate Y9 can be detected, but the inclination of the luminance distribution is also seen on the left side. As described above, in the luminance distribution curve in the Y-axis direction, when the inclination of the luminance distribution is different from one peak, the spot search area 112 has two positions shifted in the Y-axis direction. It can be determined that there are spots 22 and these spots 22 overlap in the X-axis direction. In FIG. 24, it can be determined that there are one spot 22 at each of the upper left corner and the lower left corner of the spot search area 112. Since it can be determined that the spot 22 in the upper left corner is displaced in the decreasing direction of the X axis and the Y axis, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the spot search region 32 adjacent in the diagonally upper left direction. Similarly, for the spot 22 in the lower left corner, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the adjacent spot search area 32.

次に、図16(a)に示すように、スポット領域21全体が位置ズレした場合の左下隅のスポット検索領域113の輝度分布解析部43の処理について、図25を用いて説明する。図16(a)の場合、X軸方向の輝度分布曲線は、図25(a)の161、162、163で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線251のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線251においては、ピークとなるX座標X9.5(X9とX10の中間点)は検出できるが、左側にも輝度分布の傾斜が見られる。このように、X軸方向の輝度分布曲線において、ピークの座標が1箇所と別の輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域113には、X軸方向に位置ズレした位置に2つのスポット22があると判定できる。加算した輝度分布曲線251の左側にある輝度分布の傾斜において、輝度値が最大となるX座標がX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。次に、X軸方向の輝度分布曲線のピークとなるX座標、及び傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。   Next, as shown in FIG. 16A, the processing of the luminance distribution analysis unit 43 in the spot search area 113 in the lower left corner when the entire spot area 21 is displaced will be described with reference to FIG. In the case of FIG. 16A, the luminance distribution curves in the X-axis direction are curves indicated by 161, 162, and 163 in FIG. 25A, and when these are added, a luminance distribution curve 251 is obtained. In the added luminance distribution curve 251 in the X-axis direction, the peak X coordinate X9.5 (an intermediate point between X9 and X10) can be detected, but the inclination of the luminance distribution is also seen on the left side. As described above, in the luminance distribution curve in the X-axis direction, when the inclination of the luminance distribution is different from one peak, the spot search area 113 has two positions shifted in the X-axis direction. It can be determined that there is a spot 22. In the gradient of the luminance distribution on the left side of the added luminance distribution curve 251, it can be determined that the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction is calculated at the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve in the X-axis direction and the X coordinate that has the maximum luminance value in the inclination.

図25(a)では、輝度分布曲線のピークとなるX座標がX9.5、傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図16(a)において、X座標がX0上とX9.5上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、どちらも図25(b)の252のようになる。輝度分布曲線242において、ピークとなる座標は検出できないが、輝度分布の傾斜が見られる。このように、Y軸方向の輝度分布曲線において、輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域113には、X軸方向で位置ズレした位置に2つのスポット22があり、それらのスポット22はY軸方向で重なっていると判定できる。図25では、スポット検索領域32の左上隅及び右上隅に1つずつスポット22があると判定できる。左上隅のスポット22はX軸及びY軸の減少方向に位置ズレしていると判定できるため、左斜め上方向に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。右上隅のスポット22についても同様に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。   In FIG. 25A, the X coordinate that is the peak of the luminance distribution curve is X9.5, and the X coordinate that maximizes the luminance value in the inclination is X0. Therefore, in FIG. When the luminance distribution curve in the Y-axis direction on X9.5 is calculated, both are as indicated by 252 in FIG. In the luminance distribution curve 242, the coordinates at the peak cannot be detected, but the inclination of the luminance distribution is observed. As described above, when the slope of the luminance distribution is detected in the luminance distribution curve in the Y-axis direction, the spot search area 113 has two spots 22 at positions shifted in the X-axis direction. Can be determined to overlap in the Y-axis direction. In FIG. 25, it can be determined that there are one spot 22 at each of the upper left corner and the upper right corner of the spot search area 32. Since it can be determined that the spot 22 in the upper left corner is displaced in the decreasing direction of the X axis and the Y axis, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the spot search region 32 adjacent in the diagonally upper left direction. Similarly, for the spot 22 in the upper right corner, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the adjacent spot search area 32.

次に、図17(a)に示すように、スポット領域21全体が位置ズレした場合の右下隅のスポット検索領域114の輝度分布解析部43の処理について、図26を用いて説明する。図17(a)の場合、輝度分布算出部15で出力されるX軸方向の輝度分布曲線は、図26(a)の171、172、173で示した曲線であり、これらを加算すると輝度分布曲線251のようになる。加算したX軸方向の輝度分布曲線261において、図26(a)に示すように、輝度分布曲線のピークとなる座標が検出できない。加算した輝度分布曲線261の輝度分布の傾斜において、輝度値が最大となるX座標がX0であり、スポット22がX軸の減少方向へ位置ズレしていると判定できる。次に、X軸方向の輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標でのY軸方向の輝度分布曲線を算出する。図26(a)では、輝度分布曲線の傾斜において輝度値が最大となるX座標がX0であるため、図17(a)において、X座標がX0上のY軸方向の輝度分布曲線を算出すると、どちらも図26(b)の262のようになる。輝度分布曲線262において、ピークとなる座標は検出できないが、輝度分布の傾斜が見られる。このように、Y軸方向の輝度分布曲線において、輝度分布の傾斜が検出された場合、スポット検索領域114におけるスポット22はY軸の減少方向に位置ズレしていると判定できる。図26では、スポット22はX軸及びY軸の減少方向に位置ズレしていると判定できるため、左斜め上方向に隣接するスポット検索領域32について輝度分布曲線におけるピーク座標を検出する。   Next, as shown in FIG. 17A, the processing of the luminance distribution analysis unit 43 in the spot search area 114 in the lower right corner when the entire spot area 21 is displaced will be described with reference to FIG. In the case of FIG. 17A, the luminance distribution curves in the X-axis direction output from the luminance distribution calculation unit 15 are curves indicated by 171, 172, and 173 in FIG. A curve 251 is obtained. In the added luminance distribution curve 261 in the X-axis direction, as shown in FIG. 26A, the coordinates that are the peak of the luminance distribution curve cannot be detected. In the inclination of the luminance distribution of the added luminance distribution curve 261, it can be determined that the X coordinate at which the luminance value is maximum is X0, and the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis. Next, a luminance distribution curve in the Y-axis direction at the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve in the X-axis direction is calculated. In FIG. 26 (a), the X coordinate at which the luminance value becomes maximum at the inclination of the luminance distribution curve is X0. Therefore, in FIG. 17 (a), when calculating the luminance distribution curve in the Y-axis direction on the X coordinate X0. Both of them are as indicated by 262 in FIG. In the luminance distribution curve 262, the peak coordinates cannot be detected, but the inclination of the luminance distribution is observed. As described above, when the inclination of the luminance distribution is detected in the luminance distribution curve in the Y-axis direction, it can be determined that the spot 22 in the spot search region 114 is displaced in the decreasing direction of the Y-axis. In FIG. 26, since it can be determined that the spot 22 is displaced in the decreasing direction of the X axis and the Y axis, the peak coordinates in the luminance distribution curve are detected for the spot search region 32 adjacent in the diagonally upper left direction.

次に、スポット位置特定部17では、まずスポット位置解析部15で出力する輝度分布曲線のピークとなる座標をスポット22の中心点37と規定し、隣接するスポット22の中心点37間の距離を算出することで、スポット22が測定可能な位置にあるかどうかを判定する。その後、各スポット22の中心点37とスポット情報記憶部16の情報を参照し、各スポット22の位置を特定する。このスポット位置特定部17について、図8から図30を用いて説明する。図28はスポット位置特定部17のブロック図であり、スポット位置特定部17はスポット位置判定部271とスポット位置算出部272で構成される。これらスポット位置特定部17の各構成要素について詳細を説明する。   Next, the spot position specifying unit 17 first defines the coordinates of the peak of the luminance distribution curve output from the spot position analyzing unit 15 as the center point 37 of the spot 22, and determines the distance between the center points 37 of the adjacent spots 22. By calculating, it is determined whether or not the spot 22 is in a measurable position. Thereafter, the position of each spot 22 is specified by referring to the center point 37 of each spot 22 and the information in the spot information storage unit 16. The spot position specifying unit 17 will be described with reference to FIGS. FIG. 28 is a block diagram of the spot position specifying unit 17, and the spot position specifying unit 17 includes a spot position determining unit 271 and a spot position calculating unit 272. Details of each component of the spot position specifying unit 17 will be described.

まず、スポット位置判定部271は、スポット位置解析部15が出力するスポット検索領域32におけるX軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線のピーク座標をスポット22の中心点37と規定し、スポット22の中心点37間の距離から測定可能なスポットかどうかを判定する。   First, the spot position determination unit 271 defines the peak coordinates of the luminance distribution curve in the X-axis direction and the Y-axis direction in the spot search region 32 output from the spot position analysis unit 15 as the center point 37 of the spot 22. Whether the spot is measurable from the distance between the center points 37 is determined.

これは、図20(a)のようにスポット201が所定位置81から位置ズレしている場合、スポット位置解析部15で算出される検出対象スポット201とその左側の隣接スポット22のX軸方向の輝度分布曲線は図20(b)で示した曲線のようになり、輝度分布曲線が相互に干渉した形となる。そのため、位置ズレしたスポット201だけでなく、位置ズレしたスポットに隣接する所定位置にあるスポット22の測定結果にも影響を及ぼすことになる。よって、スポット位置判定部271は、スポット22と隣接するスポット22との位置関係を把握し、隣接するスポット22の発光の影響が測定結果にあるかどうかを判定する。   This is because when the spot 201 is displaced from the predetermined position 81 as shown in FIG. 20A, the detection target spot 201 calculated by the spot position analysis unit 15 and the adjacent spot 22 on the left side in the X-axis direction. The luminance distribution curve is like the curve shown in FIG. 20B, and the luminance distribution curves are in the form of interference with each other. Therefore, not only the misaligned spot 201 but also the measurement result of the spot 22 at a predetermined position adjacent to the misaligned spot is affected. Therefore, the spot position determination unit 271 grasps the positional relationship between the spot 22 and the adjacent spot 22 and determines whether the measurement result has an influence of light emission from the adjacent spot 22.

次に、スポット22が測定可能な位置かどうかの判定処理について図28を用いて説明する。判定対象のスポット22の中心点37と隣接するスポット22の中心点37間の距離から隣接するスポット22から影響を受けるかどうかの判定を行う。図28(a)は本来配置されるべき所定位置81から位置ズレしたスポット281とそれに隣接する8つのスポット282の様子を示している。まず、スポット位置解析部15が出力するスポット22の中心点283の座標と隣接スポット282の中心点37との距離を算出する。対象スポット281の中心点283の座標を(Xm、Ym)、隣接スポット282の中心点37の座標を(Xn、Yn)とすると、中心点間の距離dは次の数2で算出できる。   Next, the determination process of whether or not the spot 22 is a measurable position will be described with reference to FIG. It is determined whether or not the adjacent spot 22 is affected by the distance between the center point 37 of the spot 22 to be determined and the center point 37 of the adjacent spot 22. FIG. 28A shows a state of a spot 281 shifted from a predetermined position 81 to be originally arranged and eight spots 282 adjacent thereto. First, the distance between the coordinates of the center point 283 of the spot 22 output from the spot position analysis unit 15 and the center point 37 of the adjacent spot 282 is calculated. If the coordinates of the center point 283 of the target spot 281 are (Xm, Ym) and the coordinates of the center point 37 of the adjacent spot 282 are (Xn, Yn), the distance d between the center points can be calculated by the following equation (2).

Figure 2009068996
Figure 2009068996

本発明の実施の形態のように、スポット検索領域32間のスペースが無く、互いに接するようにスポット検索領域32を規定し、スポット検索領域幅36はスポット半径33の4倍の長さとした場合、スポット半径33をrとすると、スポット検索領域幅36は4rとなる。ここで、各スポット22が所定位置にある場合、スポット22の中心点間の距離dは上下左右方向のスポットについては4r、斜め方向のスポットについては4√2rとなるが、図28のように所定位置81から位置ズレした場合、このスポット22の中心点37間の距離が4r及び4√2rから変化する。   As in the embodiment of the present invention, when there is no space between the spot search areas 32 and the spot search areas 32 are defined so as to touch each other, and the spot search area width 36 is four times the spot radius 33, When the spot radius 33 is r, the spot search area width 36 is 4r. Here, when each spot 22 is at a predetermined position, the distance d between the center points of the spot 22 is 4r for a spot in the vertical and horizontal directions and 4√2r for a spot in the oblique direction, as shown in FIG. When the position is shifted from the predetermined position 81, the distance between the center points 37 of the spot 22 changes from 4r and 4√2r.

例えば、図28(b)に示すようにスポット281が所定位置81からスポット半径33の長さr分、X軸の減少方向に位置ズレした場合、隣接するスポット282と接する位置関係になり、スポットの中心点間の距離は2rとなる。この時、接している部分で互いの輝度分布が干渉し、このままそれぞれのスポットを測定しても、互いのスポットの影響が結果に含まれることになる。そこで、スポット22の中心点間の距離dが2r以下、つまりスポット22が接する位置よりも中心点間の距離が近くなった場合は測定対象外のスポットと判定し、それ以外は測定対象のスポットとして判定する。このように、スポット22の中心点37間の距離により、スポット22の位置関係を把握することで、測定対象のスポット22かどうかを判定でき、測定対象外のスポット22の測定を行う必要を排除する。   For example, as shown in FIG. 28 (b), when the spot 281 is displaced from the predetermined position 81 by the length r of the spot radius 33 in the decreasing direction of the X axis, the positional relationship comes into contact with the adjacent spot 282. The distance between the center points is 2r. At this time, the mutual luminance distributions interfere with each other in contact with each other, and even if each spot is measured as it is, the influence of each spot is included in the result. Therefore, when the distance d between the center points of the spots 22 is 2r or less, that is, when the distance between the center points is closer than the position where the spots 22 are in contact, it is determined as a spot that is not a measurement target. Judge as. Thus, by grasping the positional relationship of the spots 22 based on the distance between the center points 37 of the spots 22, it is possible to determine whether or not the spot 22 is a measurement target, eliminating the need to measure a spot 22 that is not a measurement target. To do.

次に、スポット位置算出部272では、スポット位置判定部271でのスポット位置判定結果で、測定可能なスポット22と判定された場合のみ、スポット22の中心点37の座標とスポット情報記憶部16から読み出したスポットに関する情報からスポット22の位置を算出する。スポット位置算出部272の処理について、図29を用いて説明する。まずスポット位置判定結果を参照し、スポット22が測定可能かどうかをチェックする。測定可能なスポット22の場合は、まずスポット位置解析部15が出力するスポット22の中心点37の座標を(Xp、Yp)を、図29(a)に示すように規定する。次に、図29(b)に示すようにスポット22の中心点37から、スポット半径33の範囲291(図29(b)の点線内)を対象スポットの領域として特定する。一方、測定対象外のスポット22の場合は、隣接するスポット22の発光の影響を受けているため、スポット22の領域特定は行わない。   Next, the spot position calculation unit 272 reads the coordinates of the center point 37 of the spot 22 and the spot information storage unit 16 only when the spot position determination result in the spot position determination unit 271 determines that the spot 22 is measurable. The position of the spot 22 is calculated from the information regarding the read spot. The process of the spot position calculation part 272 is demonstrated using FIG. First, referring to the spot position determination result, it is checked whether or not the spot 22 can be measured. In the case of the measurable spot 22, first, the coordinates (Xp, Yp) of the center point 37 of the spot 22 output from the spot position analyzing unit 15 are defined as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 29B, the range 291 (within the dotted line in FIG. 29B) of the spot radius 33 from the center point 37 of the spot 22 is specified as the target spot region. On the other hand, in the case of the spot 22 that is not the measurement target, the area of the spot 22 is not specified because it is affected by the light emission of the adjacent spot 22.

スポット位置特定部17では、上記のように処理することで、スポット検索領域32の輝度分布から各スポット22が測定可能か否かを判定し、測定対象のスポット22のみ位置を特定することが可能となる。   The spot position specifying unit 17 determines whether or not each spot 22 can be measured from the luminance distribution of the spot search area 32 by performing the processing as described above, and can specify the position of only the spot 22 to be measured. It becomes.

次に、測定部18では、スポット位置特定部17で出力するスポット検索領域32毎のスポット位置情報を利用して、デジタル画像データからスポットの光量を測定する。   Next, the measuring unit 18 uses the spot position information for each spot search area 32 output from the spot position specifying unit 17 to measure the light amount of the spot from the digital image data.

以上のようにマイクロアレイ装置を構成することにより、本来スポットされるべき所定位置からスポット22が位置ズレした場合でも、スポット22の位置を特定することができ、更に位置ズレを起こしたスポット22に隣接するスポット22を特定し測定誤りを防止することが可能となる。   By configuring the microarray device as described above, the position of the spot 22 can be specified even when the spot 22 is misaligned from a predetermined position where it should be spotted, and further adjacent to the spot 22 where the misalignment occurred. It is possible to identify the spot 22 to be measured and prevent measurement errors.

図1から図29において、本発明のマイクロアレイ装置の構成要素について説明したが、次に本発明の実施の形態におけるマイクロアレイ装置の測定手順を図30に示すフローチャートを用いて説明する。   1 to 29, the components of the microarray apparatus of the present invention have been described. Next, the measurement procedure of the microarray apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

まず、マイクロアレイ基板11をステージ12へ設置し、撮像部14の撮像視野にマイクロアレイ基板11のスポット領域21が入る位置へステージ12を移動するようにステージ制御部13から指示する。ステージ12の移動が完了すると、撮像部14によりマイクロアレイ基板11のスポット領域21の撮像を行う(ステップS101)。   First, the microarray substrate 11 is set on the stage 12, and the stage controller 13 instructs the stage 12 to move to a position where the spot area 21 of the microarray substrate 11 enters the imaging field of the imaging unit 14. When the movement of the stage 12 is completed, the imaging unit 14 images the spot area 21 of the microarray substrate 11 (step S101).

次に、図5(a)に示したように撮像部14で出力するデジタル画像データ51をスポット位置解析部15へ入力し、スポット位置解析部15ではノイズ除去部41で、図5(b)に示したように平滑化フィルタを適用し不規則雑音52を除去する(ステップS102)。   Next, as shown in FIG. 5A, the digital image data 51 output from the image pickup unit 14 is input to the spot position analysis unit 15, and the spot position analysis unit 15 uses the noise removal unit 41, and FIG. As shown in FIG. 5, the smoothing filter is applied to remove the irregular noise 52 (step S102).

次に、ノイズ除去部41で出力するノイズ除去画像データ53を所定範囲抽出部42へ入力し、所定範囲抽出部42は図6に示したように、スポット領域21内からスポット22毎の検索領域32を規定し抽出する。次に、所定範囲抽出部42で出力するスポット検索領域32を輝度分布解析部43へ入力し、まず図8に示したようにスポット検索領域32についてX軸方向の輝度分布曲線を算出し、ピークとなる座標を検出し、次にY軸方向の輝度分布を算出し、ピークとなる座標を検出する(ステップS103)。   Next, the noise-removed image data 53 output by the noise removing unit 41 is input to the predetermined range extracting unit 42, and the predetermined range extracting unit 42 searches the search area for each spot 22 from within the spot area 21 as shown in FIG. 32 is defined and extracted. Next, the spot search region 32 output by the predetermined range extraction unit 42 is input to the luminance distribution analysis unit 43. First, as shown in FIG. 8, a luminance distribution curve in the X-axis direction is calculated for the spot search region 32, and the peak Next, the Y coordinate in the Y-axis direction is calculated, and the peak coordinate is detected (step S103).

次に、スポット位置解析部15で出力するX軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線のピーク座標をスポット位置特定部17へ入力する。スポット位置特定部17ではまずスポット位置判定部271により、スポット位置解析部15で出力する輝度分布曲線のピーク座標をスポット22の中心点37の座標と規定し、図28で示したように判定対象のスポット281の中心点37と隣接スポット282の中心点37間の距離を算出し、スポット22の直径の長さ以下の場合は、スポット位置がNGと判定し測定対象外のスポットとする。一方、スポット22の中心点間の距離がスポット22の直径の長さより大きい場合は、スポット位置がOKと判定し測定対象のスポットとする(ステップS104)。   Next, the peak coordinates of the luminance distribution curve in the X-axis direction and the Y-axis direction output from the spot position analysis unit 15 are input to the spot position specifying unit 17. In the spot position specifying unit 17, first, the spot position determining unit 271 defines the peak coordinates of the luminance distribution curve output from the spot position analyzing unit 15 as the coordinates of the center point 37 of the spot 22, and as shown in FIG. The distance between the center point 37 of the spot 281 and the center point 37 of the adjacent spot 282 is calculated. If the distance is equal to or less than the length of the diameter of the spot 22, the spot position is determined to be NG and determined as a spot not to be measured. On the other hand, when the distance between the center points of the spot 22 is larger than the length of the diameter of the spot 22, the spot position is determined to be OK and set as a measurement target spot (step S104).

次に、スポット位置判定部271で出力するスポット位置判定結果をスポット位置算出部272に入力し、ステップS104でスポット22が測定対象のスポットと判定された場合、スポット位置解析部15で出力するスポット22の中心点37の座標とスポット情報記憶部16に記憶しているスポットに関する情報から図29で示したようにスポット22の中心点37を特定し、そこからスポット半径33の範囲291を対象スポットの領域として規定し、測定部18により測定を行う。一方、ステップS104でスポット22が測定対象外のスポットと判定された場合は測定部18による測定は行わない(ステップS105)。   Next, the spot position determination result output by the spot position determination unit 271 is input to the spot position calculation unit 272. When the spot 22 is determined to be a measurement target spot in step S104, the spot position analysis unit 15 outputs the spot. The center point 37 of the spot 22 is specified from the coordinates of the center point 37 of 22 and the information about the spot stored in the spot information storage unit 16 as shown in FIG. 29, and the range 291 of the spot radius 33 is determined from there. The measurement unit 18 performs measurement. On the other hand, when the spot 22 is determined to be a spot not to be measured in step S104, measurement by the measurement unit 18 is not performed (step S105).

以上のように、実施の形態においては、マイクロアレイ基板上のスポット毎にスポット検索領域を設定して輝度分布曲線を生成した後、スポットの中心点を検出しスポット位置を特定することにより、本来スポットされるべき所定位置からスポットが位置ズレした場合でも、スポットの位置を特定することができ、更に位置ズレしたスポットに隣接するスポットを特定し測定誤りを防止することができる。   As described above, in the embodiment, after a spot search area is set for each spot on the microarray substrate and a luminance distribution curve is generated, the center point of the spot is detected and the spot position is specified. Even when the spot is misaligned from the predetermined position, the spot position can be specified, and a spot adjacent to the misaligned spot can be specified to prevent measurement errors.

また、本発明のマイクロアレイ装置において、撮像部の素子としてモノクロCCDを例示したが、これに限定することなく、カラーCCD、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)、電荷注入素子(CID)、横型埋め込み式電荷蓄積部を有する増幅型撮像センサ(LBCAST)、フォトダイオードあるいは光電子倍増管等も適用可能である。また、撮像部にイメージインテンシファイアを導入することも可能である。   In the microarray device of the present invention, a monochrome CCD is exemplified as an element of the imaging unit. However, the color CCD, the complementary metal oxide semiconductor (CMOS), the charge injection element (CID), and the horizontal embedded are not limited thereto. An amplification type imaging sensor (LBCAST) having a charge storage unit, a photodiode, a photomultiplier tube, or the like is also applicable. It is also possible to introduce an image intensifier into the imaging unit.

また、本発明のマイクロアレイ装置において、マイクロアレイ基板として無色透明なガラス基板を例示したが、これに限定することなく、シリコン基板、有色で不透明な基板、あるいはプラスチック基板も適用可能である。さらに、本発明の実施の形態で示したマイクロアレイ基板の大きさやスポット領域のサイズも一例であり、適時変更可能である。   In the microarray apparatus of the present invention, a colorless and transparent glass substrate is exemplified as the microarray substrate. However, the present invention is not limited to this, and a silicon substrate, a colored and opaque substrate, or a plastic substrate is also applicable. Furthermore, the size of the microarray substrate and the size of the spot area shown in the embodiment of the present invention are examples, and can be changed as appropriate.

本発明にかかるマイクロアレイ装置は、マイクロアレイ基板上に本来スポットされるべき所定位置からスポットが位置ズレした場合でも、スポットの位置を特定することができ、更に位置ズレしたスポットに隣接するスポットを特定し測定誤りを防止することが可能であり、基板に定着したサンプルを撮像する撮像装置等として有用である。   The microarray apparatus according to the present invention can identify the position of a spot even when the spot is displaced from a predetermined position to be originally spotted on the microarray substrate, and further identifies a spot adjacent to the displaced spot. It is possible to prevent measurement errors and is useful as an imaging device for imaging a sample fixed on a substrate.

本発明におけるマイクロアレイ装置のブロック図Block diagram of a microarray device according to the present invention マイクロアレイ基板の構成図Microarray substrate configuration diagram スポット領域の構成図Configuration of spot area 本発明におけるスポット位置解析部のブロック図Block diagram of spot position analysis unit in the present invention ノイズ除去部の効果を説明する図The figure explaining the effect of a noise removal part スポット検索領域を説明する図Diagram explaining the spot search area 輝度分布解析部でのスポット検索領域の走査方法を説明する図The figure explaining the scanning method of the spot search area in a luminance distribution analysis part 輝度分布曲線の算出を説明する第1の図1st figure explaining calculation of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の算出を説明する第2の図The 2nd figure explaining calculation of a luminance distribution curve 行単位で位置ズレしたスポット領域を説明する図Diagram explaining spot area shifted in line units スポット領域全体が位置ズレした場合を説明する図The figure explaining the case where the whole spot area has shifted. 輝度分布曲線の算出を説明する第3の図3rd figure explaining calculation of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の算出を説明する第4の図FIG. 4 is a diagram for explaining calculation of a luminance distribution curve. 輝度分布曲線の算出を説明する第5の図5th figure explaining calculation of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の算出を説明する第6の図FIG. 6 is a diagram for explaining calculation of a luminance distribution curve. 輝度分布曲線の算出を説明する第7の図FIG. 7 illustrates the calculation of the luminance distribution curve. 輝度分布曲線の算出を説明する第8の図FIG. 8 illustrates the calculation of the luminance distribution curve. 輝度分布曲線の解析方法を説明する第1の図1st figure explaining the analysis method of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の解析方法を説明する第2の図The 2nd figure explaining the analysis method of a luminance distribution curve 位置ズレしたスポットの輝度分布曲線を説明する図The figure explaining the brightness distribution curve of the spot which shifted 輝度分布曲線の解析方法を説明する第3の図3rd figure explaining the analysis method of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の解析方法を説明する第4の図4th figure explaining the analysis method of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の解析方法を説明する第5の図The 5th figure explaining the analysis method of a luminance distribution curve 輝度分布曲線の解析方法を説明する第6の図FIG. 6 is a diagram for explaining a luminance distribution curve analysis method; 輝度分布曲線の解析方法を説明する第7の図FIG. 7 is a diagram for explaining a luminance distribution curve analysis method; 輝度分布曲線の解析方法を説明する第8の図FIG. 8 is a diagram for explaining a luminance distribution curve analysis method; 本発明におけるスポット位置特定部のブロック図Block diagram of spot position specifying unit in the present invention スポットの位置ズレを判定する方法を説明する図The figure explaining the method of determining the position shift of a spot スポットの位置を特定する方法を説明する図Diagram explaining how to identify the spot position マイクロアレイの測定処理のフローチャートFlow chart of microarray measurement process

符号の説明Explanation of symbols

11 マイクロアレイ基板
12 ステージ
13 ステージ制御部
14 撮像部
15 スポット位置解析部
16 スポット情報記憶部
17 スポット位置特定部
18 測定部
21 スポット領域
22 スポット
31 スポット配列情報
32 スポット検索領域
33 スポット半径
34 スポット間の距離
35 スポット検索領域基準座標
36 スポット検索領域幅
37 スポット中心点
41 ノイズ除去部
42 所定範囲抽出部
43 輝度分布解析部
51 デジタル画像データ
52 不規則雑音
53 ノイズ除去画像データ
61 対象スポット
62 対象スポットの検索領域
63 対象スポットの検索領域基準座標
81 スポットの所定位置
82、91 Y座標がY6の走査線上の輝度分布
83、92 Y座標がY5及びY7の走査線上の輝度分布
84、93 Y座標がY4及びY8の走査線上の輝度分布
85、94 Y座標がY0、Y1、Y2、Y3、Y9、Y10の走査線上の輝度分布
101 位置ズレした行
102 スポット検索領域の第1の状態
103 スポット検索領域の第2の状態
111 スポット検索領域の第3の状態
112 スポット検索領域の第4の状態
113 スポット検索領域の第5の状態
114 スポット検索領域の第6の状態
121、131 Y座標がY5の走査線上の輝度分布
122、132 Y座標がY4及びY6の走査線上の輝度分布
123、133 Y座標がY3及びY7の走査線上の輝度分布
124、134 Y座標がY0、Y1、Y2、Y8、Y9、Y10の走査線上の輝度分布
141、151 Y座標がY9の走査線上の輝度分布
142、152 Y座標がY0及びY8及びY10の走査線上の輝度分布
143、153 Y座標がY1及びY7の走査線上の輝度分布
144、154 Y座標がY2、Y3、Y4、Y5、Y6の走査線上の輝度分布
161、171 Y座標がY0の走査線上の輝度分布
162、172 Y座標がY1の走査線上の輝度分布
163、173 Y座標がY2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7、Y8、Y9、Y10の走査線上の輝度分布
181 X軸方向の輝度分布の加算曲線1
182 Y軸方向の輝度分布曲線1
191 X軸方向の輝度分布の加算曲線2
192 Y軸方向の輝度分布曲線2
201 位置ズレした対象スポット
202 位置ズレした対象スポットの中心点
203 Y座標がY6の走査線上の輝度分布曲線
211 X軸方向の輝度分布の加算曲線3
212 Y軸方向の輝度分布曲線3
221 X軸方向の輝度分布の加算曲線4
222 Y軸方向の輝度分布曲線4
231 X軸方向の輝度分布の加算曲線5
232 Y軸方向の輝度分布曲線5
241 X軸方向の輝度分布の加算曲線6
242 Y軸方向の輝度分布曲線6
251 X軸方向の輝度分布の加算曲線7
252 Y軸方向の輝度分布曲線7
261 X軸方向の輝度分布の加算曲線8
262 Y軸方向の輝度分布曲線8
271 スポット位置判定部
272 スポット位置算出部
281 位置ズレしたスポット
282 位置ズレしたスポットの隣接スポット
283 位置ズレしたスポットの中心点
291 スポット位置算出部で算出したスポット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Microarray substrate 12 Stage 13 Stage control part 14 Imaging part 15 Spot position analysis part 16 Spot information memory | storage part 17 Spot position specific | specification part 18 Measurement part 21 Spot area 22 Spot 31 Spot arrangement | positioning information 32 Spot search area 33 Spot radius 34 Between spots Distance 35 Spot search area reference coordinates 36 Spot search area width 37 Spot center point 41 Noise removal section 42 Predetermined range extraction section 43 Luminance distribution analysis section 51 Digital image data 52 Irregular noise 53 Noise removal image data 61 Target spot 62 Target spot 62 Search area 63 Search area reference coordinates of the target spot 81 Predetermined spot positions 82, 91 Luminance distribution on the scanning line with Y coordinate Y6 83, 92 Luminance distribution on the scanning line with Y coordinate Y5 and Y7 84, 93 Y position Luminance distribution on Y4 and Y8 scanning lines 85, 94 Luminance distribution on Y0, Y1, Y2, Y3, Y9, and Y10 scanning lines 101 Misaligned rows 102 First state of spot search area 103 Spot search The second state of the area 111 The third state of the spot search area 112 The fourth state of the spot search area 113 The fifth state of the spot search area 114 The sixth state of the spot search area 121, 131 The Y coordinate is Y5 Luminance distribution on the scanning line 122, 132 Luminance distribution on the scanning line whose Y coordinate is Y4 and Y6 123, 133 Luminance distribution on the scanning line whose Y coordinate is Y3 and Y7 124, 134 Y coordinate is Y0, Y1, Y2, Y8, Y9 , Y10 luminance distribution on the scanning line 141, 151 Y coordinate luminance distribution on the Y9 scanning line 142, 152 Y coordinate Y0 and Y8 Luminance distribution on Y10 scanning line 143, 153 Y-coordinate distribution on Y1 and Y7 scanning line 144, 154 Y-coordinate luminance distribution on Y2, Y3, Y4, Y5, Y6 scanning line 161, 171 Y-coordinate Y0 Luminance distribution on the scanning line 162, 172 Luminance distribution on the scanning line with Y coordinate Y1 163, 173 Luminance distribution on the scanning line with Y coordinate Y2, Y3, Y4, Y5, Y6, Y7, Y8, Y9, Y10 181 X Addition curve 1 of axial luminance distribution
182 Luminance distribution curve 1 in the Y-axis direction
191 Addition curve 2 of luminance distribution in the X-axis direction
192 Y-axis direction luminance distribution curve 2
201 Target spot shifted in position 202 Center point of target spot shifted in position 203 Luminance distribution curve on scanning line whose Y coordinate is Y6 211 Addition curve 3 of luminance distribution in X axis direction
212 Y-axis direction luminance distribution curve 3
221 Addition curve 4 of luminance distribution in the X-axis direction
222 Luminance distribution curve 4 in the Y-axis direction
231 Addition curve 5 of luminance distribution in the X-axis direction
232 Y-axis direction luminance distribution curve 5
241 Addition curve 6 of luminance distribution in the X-axis direction
242 Luminance distribution curve 6 in the Y-axis direction
251 X-axis direction luminance distribution addition curve 7
252 Y-axis luminance distribution curve 7
261 Addition curve 8 of luminance distribution in the X-axis direction
262 Y-axis luminance distribution curve 8
271 Spot position determining unit 272 Spot position calculating unit 281 Misaligned spot 282 Adjacent spot of misaligned spot 283 Center point of misaligned spot 291 Spot calculated by spot position calculating unit

Claims (6)

基板上にサンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を測定するマイクロアレイ装置において、
前記マイクロアレイ基板を撮像して受光素子の各画素にて受光した輝度をデジタルで表したデジタル画像データを出力する撮像部と、
前記スポットに関する情報を記憶したスポット情報記憶部と、
前記デジタル画像データから前記スポット毎の輝度分布曲線を算出し前記スポットの位置を解析するスポット位置解析部と、
前記スポット位置解析部が出力する前記スポット毎の輝度分布曲線のピークとなる座標と前記スポット情報記憶部から読み出した前記スポットに関する情報からスポット位置を特定するスポット位置特定部と、
前記スポット位置特定部が出力するスポット位置において測定を行う測定部を含む、
ことを特徴とするマイクロアレイ装置。
In a microarray apparatus for measuring a microarray substrate having a plurality of spots in which a sample specimen is fixed on the substrate,
An imaging unit that outputs the digital image data that digitally represents the luminance received by each pixel of the light receiving element by imaging the microarray substrate;
A spot information storage unit storing information about the spot;
A spot position analysis unit for calculating a luminance distribution curve for each spot from the digital image data and analyzing the position of the spot;
A spot position specifying unit for specifying a spot position from coordinates corresponding to the peak of the luminance distribution curve for each spot output by the spot position analyzing unit and information about the spot read from the spot information storage unit;
Including a measurement unit that performs measurement at the spot position output by the spot position specifying unit,
A microarray apparatus characterized by that.
前記スポット位置解析部は、
前記デジタル画像データからノイズ成分を除去するノイズ除去部と、
前記ノイズ除去部で出力するノイズ除去画像データにおいて、スポットの所定位置から一定範囲をスポット検索領域として抽出する所定範囲抽出部と、
前記所定範囲抽出部で出力するスポット検索領域において、X軸方向及びY軸方向の輝度分布曲線を算出し、輝度分布曲線のピーク座標を検出する輝度分布解析部を含み、
前記撮像部で出力する前記デジタル画像データから前記スポット毎に前記スポット検索領域を抽出し、輝度分布曲線をX軸方向及びY軸方向それぞれについて算出する、
ことを特徴とする請求項1に記載のマイクロアレイ装置。
The spot position analysis unit
A noise removing unit for removing a noise component from the digital image data;
In the noise-removed image data output by the noise removing unit, a predetermined range extracting unit that extracts a certain range as a spot search area from a predetermined position of the spot;
In the spot search area that is output by the predetermined range extraction unit, a luminance distribution analysis unit that calculates a luminance distribution curve in the X-axis direction and the Y-axis direction and detects peak coordinates of the luminance distribution curve,
Extracting the spot search area for each spot from the digital image data output by the imaging unit, and calculating a luminance distribution curve for each of the X-axis direction and the Y-axis direction;
The microarray apparatus according to claim 1, wherein:
前記スポット位置特定部は、
前記スポット位置解析部で出力する輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの配置状況を解析し測定可能なスポットかどうかを判定するスポット位置判定部と、
前記スポット位置判定部で出力する前記スポット配置情報と前記スポット情報記憶部から読み出した前記スポットに関する情報から前記スポット位置を算出するスポット位置算出部を含み、
前記スポット検索領域毎の輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの位置関係を判定し、その結果に応じてスポットの位置を算出する、
ことを特徴とする請求項2に記載のマイクロアレイ装置。
The spot position specifying unit
A spot position determination unit that determines whether or not the spot is measurable by analyzing the arrangement status of the spot from the coordinates of the peak of the luminance distribution curve output by the spot position analysis unit;
A spot position calculation unit that calculates the spot position from the spot arrangement information output by the spot position determination unit and information about the spot read from the spot information storage unit;
Determining the positional relationship of the spots from the coordinates of the peak of the luminance distribution curve for each spot search area, and calculating the position of the spot according to the result,
The microarray apparatus according to claim 2, wherein:
前記スポット位置判定部は、
前記スポット位置解析部で出力する輝度分布曲線のピークとなる座標を前記スポットの中心点の座標と規定し、前記スポットの中心点と隣接するスポットの中心点との距離により、スポットが測定可能な位置にあるかどうかを判定する、
ことを特徴とする請求項3に記載のマイクロアレイ装置。
The spot position determination unit
The coordinates of the peak of the luminance distribution curve output by the spot position analysis unit are defined as the coordinates of the center point of the spot, and the spot can be measured by the distance between the center point of the spot and the center point of the adjacent spot Determine if it is in position,
The microarray apparatus according to claim 3.
前記スポット位置算出部は、
前記スポット位置判定部で出力する前記スポット配置情報において、スポットが測定可能な位置にある場合のみ、前記スポット位置を算出する、
ことを特徴とする請求項3に記載のマイクロアレイ装置。
The spot position calculation unit
In the spot arrangement information output by the spot position determination unit, the spot position is calculated only when the spot is in a measurable position.
The microarray apparatus according to claim 3.
基板上にサンプル検体を定着した複数のスポットを有するマイクロアレイ基板を撮像する撮像ステップと、
前記撮像ステップで得たデジタル画像データから前記スポット毎の輝度分布曲線を算出しピークとなる座標を検出するスポット位置解析ステップと、
前記スポット位置解析ステップで得た前記スポット毎の輝度分布曲線のピークとなる座標から前記スポットの位置関係を判定するスポット位置判定ステップと、
前記スポット位置判定ステップで判定されたスポットの輝度を測定する測定ステップを含む、
ことを特徴とするマイクロアレイ解析方法。
An imaging step of imaging a microarray substrate having a plurality of spots in which a sample specimen is fixed on the substrate;
A spot position analyzing step of calculating a luminance distribution curve for each spot from the digital image data obtained in the imaging step and detecting coordinates that are peaks; and
A spot position determination step for determining the positional relationship of the spots from the coordinates of the peak of the luminance distribution curve for each spot obtained in the spot position analysis step;
Including a measurement step of measuring the brightness of the spot determined in the spot position determination step,
And a microarray analysis method.
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