JP2009032203A - Key scan circuit, electronic apparatus, and key scan method - Google Patents
Key scan circuit, electronic apparatus, and key scan method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009032203A JP2009032203A JP2007198097A JP2007198097A JP2009032203A JP 2009032203 A JP2009032203 A JP 2009032203A JP 2007198097 A JP2007198097 A JP 2007198097A JP 2007198097 A JP2007198097 A JP 2007198097A JP 2009032203 A JP2009032203 A JP 2009032203A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- key
- closed
- voltage value
- unit
- matrix
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、複数の操作可能キーを有するキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法に関する。 The present invention relates to a key scan circuit having a plurality of operable keys, an electronic apparatus, and a key scan method.
近年普及している携帯電話機や、PDA(Personal Digital Assistants)等、小型の電子機器類には、テンキー等、複数の操作可能なキーが設けられているものが多い。
このような電子機器類は、その機能の向上とともに操作が複雑化し、従来設けられていたキーを単独で使用するだけでは電子機器が有する複数の機能全てに対応することが困難になっていている。このため、電子機器に設けられた複数のキーの同時押しを検出できるようにすることにより、キーの数を増やさずにより複雑な操作を可能にすることが要求されている。
Many small electronic devices such as mobile phones and PDAs (Personal Digital Assistants) that have been widely used in recent years are provided with a plurality of operable keys such as numeric keys.
Such electronic devices are complicated in operation as their functions are improved, and it is difficult to handle all the functions of the electronic device only by using a conventionally provided key alone. . For this reason, it is required to enable more complex operations without increasing the number of keys by detecting simultaneous pressing of a plurality of keys provided in an electronic device.
しかし、複数の操作キーを有する従来の電子機器では、3個以上の同時押しを正確に検出できない。以下、従来の電子機器の操作キーのキー検出回路について、簡単に説明する。
図1は、複数の操作キーを有する従来の電子機器のキースキャン回路200を示した図である。
図1に示すように、キースキャン回路200は、5×5の合計25個のキーにより構成されるキーマトリクス201と、キーマトリクスをスキャンしてこれらのキーのオン/オフ状態を検出できる演算部202とを有する。
However, a conventional electronic device having a plurality of operation keys cannot accurately detect three or more simultaneous presses. Hereinafter, a key detection circuit for operation keys of a conventional electronic device will be briefly described.
FIG. 1 is a diagram showing a
As shown in FIG. 1, a
キーマトリクス201は、キースイッチK200〜K255の25個のキーがマトリクス状に配置された構成を有する。
演算部202の出力ポート21にはラインL21〜L25が、入力ポート22にはラインI21〜I25がそれぞれ接続され、ラインI21〜I25にはそれぞれプルアップ抵抗R21〜25が接続されている。
The
Lines L21 to L25 are connected to the
演算部202は、出力ポート21に接続されたラインL21〜L25に順次ローレベルのキースキャン信号S21を出力して、キーマトリクス201をスキャンすることにより、キースイッチK211〜K255の開閉状態を検出する。
The
以下、キースキャンの具体例について簡単に説明する。
例えば、キースキャン信号S21をラインL21に出力した場合に、ラインL21上のキースイッチK211、K221、K231、K241、K251がいずれも開いていれば、入力ポート22に接続されるラインI21〜I25のキーセンス信号S22は全てハイレベルとなる。
ここで、キースイッチK211が押下されていれば、入力ポート22にはラインI21にローレベルの、他のラインI22〜I25にはハイレベルのキーセンス信号S22が入力されるため、演算部202はキーマトリクス201上においてラインL21とラインI21の交点に位置するキースイッチK211が閉じられていることを検出できる。
A specific example of key scanning will be briefly described below.
For example, when the key scan signal S21 is output to the line L21 and the key switches K211, K221, K231, K241, and K251 on the line L21 are all open, the lines I21 to I25 connected to the
Here, if the key switch K211 is pressed, a low level key sense signal S22 is input to the
2つのキースイッチ、例えば、K211及びK221が同時に閉じられた場合は、演算部202の入力ポート22にはラインI21及びI22にローレベルのキーセンス信号S22が入力されるため、演算部202はキーマトリクス201上でラインL21とラインI21の交点に位置するキースイッチK211、及び、ラインL21とラインI22に位置するキースイッチK221の2つが閉じられていることを検出できる。
また、2つのキースイッチ、例えば、K211及びK212が同時に閉じられた場合は、演算部202の出力ポート21からラインL21にキースキャン信号が出力された時に入力ポート22にはラインI21にローレベルのキーセンス信号が入力され、また、出力ポート21からラインL22にキースキャン信号が出力された時にも入力ポート22にはラインI21にローレベルのキーセンス信号が入力されるため、演算部202は、ラインL21とラインI21の交点に位置するキースイッチK211、及び、ラインL22とラインI21の交点に位置するキースイッチK212の2つが閉じられていることを検出できる。
When two key switches, for example, K211 and K221 are closed at the same time, the low-level key sense signal S22 is input to the lines I21 and I22 to the
In addition, when two key switches, for example, K211 and K212 are closed at the same time, when a key scan signal is output from the
次に、例えば、キースイッチK211、K212、K221に対応する3個のキーが同時に押された場合を考える。
この場合は、出力ポート21のラインL21にローレベルのキースキャン信号S21が出力された時、キースイッチK211及びK221は閉じているので、入力ポート22には、ラインI21及びI22にローレベル、ラインI23、I24及びI25にハイレベルのキーセンス信号S22が入力される。
Next, for example, consider a case where three keys corresponding to the key switches K211, K212, and K221 are pressed simultaneously.
In this case, when the low level key scan signal S21 is output to the line L21 of the
次に、ラインL22にキースキャン信号S21が出力された時には、キースイッチK211と221とにより短絡が発生し、入力ポート22のラインI22にローレベルのキーセンス信号が入力されてしまう。これにより、閉じられていないキースイッチK222が閉じられているようにキースキャン回路200が誤認識してしまう。
このような事態は、同一の出力ライン(ラインL21〜L25のいずれか)上の複数のキースイッチと、他の出力ライン上のキースイッチとが同時に閉じられた場合に生じうる。
Next, when the key scan signal S21 is output to the line L22, a short circuit occurs between the key switches K211 and 221 and a low level key sense signal is input to the line I22 of the
Such a situation may occur when a plurality of key switches on the same output line (any of lines L21 to L25) and key switches on other output lines are closed simultaneously.
すなわち、従来のキースキャン回路200においては、3個以上のキー同時押しがなされた場合に、キー押下によって閉じられたキースイッチをキースキャン回路が正確に検知できない場合があった。
このような事態を回避するために、例えば特許文献1及び2に開示された技術がある。
In order to avoid such a situation, there are techniques disclosed in
特許文献1には、各キースイッチにダイオードを設け、閉じられていないキースイッチのキーセンス信号を遮断することにより、3個以上の同時押しを正しく検出することができる技術が開示されている。
また、特許文献2には、同時押しが想定されるキーのキーマトリクスを複数用意することにより、同一のキーマトリクス内のキー同時押しが2つ以内であれば、3個以上の同時押しを検出可能な技術が開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228561 discloses a technique that can correctly detect three or more simultaneous pressings by providing a diode in each key switch and blocking a key sense signal of a key switch that is not closed.
Also, in
しかし、特許文献1に開示された技術では、キースイッチごとにダイオードを用意する必要があるためコストが嵩む、という不利益がある。また、小型の電子機器においては、ダイオードをキースイッチ内に用意するためのスペースが確保しにくい、という不利益がある。
また、特許文献2に開示された技術では、同一のキーマトリクス内での3個以上の同時押しは検出できない、という不利益がある。さらに、キースキャン回路の出力・入力ポート数が増大する、という不利益がある。
However, the technique disclosed in
In addition, the technique disclosed in
本発明は上記した不利益を解消するためになされたものであり、組み合わせの制限なく3個以上の同時押しを検出可能なキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above disadvantages, and an object of the present invention is to provide a key scan circuit, an electronic apparatus, and a key scan method capable of detecting three or more simultaneous presses without limitation of combinations. .
上記した課題を解決するために、第1の発明のキースキャン回路は、複数のキーに対応した複数のキースイッチをマトリクス状に配置したキーマトリクスと、前記キーマトリクスをスキャンして閉じられた前記キースイッチを検出する演算部と、前記キーマトリクスに電源を供給する電源部と、を有し、前記キースイッチはそれぞれオン抵抗値を有し、前記演算部は、前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する電圧測定部と、前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値を予め記憶する記憶部と、を有し、前記演算部は前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する。 In order to solve the above-described problem, a key scan circuit according to a first aspect of the present invention is a key matrix in which a plurality of key switches corresponding to a plurality of keys are arranged in a matrix, and the key matrix scanned by the key matrix is closed. A calculation unit that detects a key switch; and a power supply unit that supplies power to the key matrix, wherein each of the key switches has an on-resistance value, and the calculation unit includes the plurality of key switches. A voltage measuring unit that measures a voltage value in each of the key switches when any of the key switches is closed; a storage unit that stores in advance a voltage value when any of the plurality of key switches is closed; And the arithmetic unit detects the closed key switch by comparing the voltage value measured by the voltage measuring unit with the voltage value stored in the storage unit.
第2の発明の電子機器は、複数のキーを有する入力部を備える電子機器であって、前記複数のキーのうちいずれが操作されたかを検出するキースキャン回路を有し、前記キースキャン回路は、前記複数のキーの操作に応じて開閉する複数のキースイッチをマトリクス状に配置したキーマトリクスと、前記キーマトリクスをスキャンして閉じられた前記キースイッチを検出する演算部と、前記キーマトリクスに電源を供給する電源部と、を有し、前記キースイッチはそれぞれオン抵抗値を有し、前記演算部は、前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する電圧測定部と、前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値を予め記憶する記憶部と、を有し、前記演算部は前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する。 An electronic apparatus according to a second aspect of the present invention is an electronic apparatus including an input unit having a plurality of keys, and includes a key scan circuit that detects which one of the plurality of keys is operated. A key matrix in which a plurality of key switches that open and close according to the operation of the plurality of keys are arranged in a matrix, a calculation unit that scans the key matrix and detects the closed key switches, and the key matrix A power supply unit for supplying power, wherein each of the key switches has an on-resistance value, and when the operation unit closes any one of the plurality of key switches, each of the key switches A voltage measuring unit that measures a voltage value in the memory, and a storage unit that stores in advance a voltage value when any of the plurality of key switches is closed, Calculation unit detects a key switch, which is closed by comparing the voltage value by the voltage measuring unit is measured, and a voltage value stored in the storage unit.
第3の発明のキースキャン方法は、複数のキーに対応し、オン抵抗値を有する複数のキースイッチをマトリクス状に配置したキーマトリクスと、前記キーマトリクスをスキャンして閉じられた前記キースイッチを検出する演算部と、前記キーマトリクスに電源を供給する電源部と、を有するキースキャン回路のキースキャン方法であって、前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する工程と、予め記憶された前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値と前記工程において測定された電圧値とを比較する工程と、前記工程の比較結果により閉じられたキースイッチを検出する工程と、を有することを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a key scanning method, comprising: a key matrix corresponding to a plurality of keys and having a plurality of key switches having on-resistance values arranged in a matrix; and the key switch closed by scanning the key matrix. A key scan method of a key scan circuit having a calculation unit to detect and a power supply unit that supplies power to the key matrix, and when each of the plurality of key switches is closed, A step of measuring a voltage value in the key switch, a step of comparing a voltage value when any of the plurality of key switches stored in advance is closed and the voltage value measured in the step, And a step of detecting a closed key switch based on a result of the process comparison.
本発明によれば、組み合わせの制限なく3個以上の同時押しを検出可能なキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a key scan circuit, an electronic device, and a key scan method capable of detecting three or more simultaneous presses without limitation on combinations.
以下、本発明の電子機器の一例として、携帯端末1000について説明する。
本実施形態の携帯端末1000は、例えば携帯電話機である。
図2は、携帯端末1000の構成の一例を示す図である。
図2に示すように、携帯端末1000は、通信部1、記憶部2、表示部3、入力部4、制御部5を有する。
Hereinafter, a
The
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the configuration of the
As illustrated in FIG. 2, the
通信部1は、図2に図示しない基地局等を介して、公衆ネットワークと通信を行い、データの送受信を行う無線通信ユニットである。通信部1が送受信を行うデータとしては、例えば、携帯端末1000の音声通話時の音声データや、ウェブブラウジング時のウェブページデータ等である。
記憶部2は、携帯端末1000の各種動作に必要なデータを記憶するメモリであり、例えば、SRAM(Static Random Access Memory)等により構成される。記憶部2に記憶されるデータは、例えば、携帯端末1000の各種動作を実行するためのプログラム、後述するウェブブラウジング時のプラグイン再生機能を実行するための、本発明の再生プログラムとしてのプラグインプログラム、音声通話やメール送受信用のアドレス帳データ、後述する音声読み上げ機能の実行に必要な音声データ等である。
The
The
表示部3は、携帯端末1000の各種動作にかかわる表示を行うための表示デバイスであり、例えば液晶ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Display)や有機EL(electro luminescence)パネル等により構成される。表示部3は、例えば音声発着信時の発着信画面、音声通話時の音声通話画面、ウェブブラウジング時のウェブブラウザ画面、メール作成画面やメール受信画面等である。
The
入力部4は、携帯端末1000に対する各種入力を受け付ける入力デバイスであり、例えば、十字キーやテンキー等により構成される。
入力部4は、キースキャン回路100を内包し、どのキーが押下されたかの検出を行う。キースキャン回路100についての詳細は後述する。
The input unit 4 is an input device that accepts various inputs to the
The input unit 4 includes the
制御部5は、携帯端末1000の各種構成を統括的に制御し、携帯端末1000の各種機能を実行するための制御デバイスであり、例えばCPU(Central Processing Unit)等により構成される。制御部5が実行する各種機能は、例えば、音声通話機能、メール送受信機能等である。制御部5は、後述するキースキャン回路100の演算部102から出力される入力信号(入力部4のどのキーが押下されたかを示す信号)を取得し、これに応じて各種機能の制御を行う。
The
以下、キースキャン回路100について説明する。
図3は、キースキャン回路100の構成を示す図である。
キースキャン回路100は、キーマトリクス101、演算部102及び、電源を供給する電源電圧(本発明の電源部に対応)VDDを有する。
Hereinafter, the
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of the
The
キーマトリクス101は、通常は開いており、入力部4の複数のキーが押下された場合に閉じるキースイッチK111〜K155と、プルアップ抵抗R11〜15(抵抗値は一律Rとする)とを有する。
キースイッチK111〜K155は、後述する演算部102の出力ポートに接続された出力ライン(本発明の第1の信号線群に対応)L11〜L15と、入力ポート12に接続されたラインI11〜I15(本発明の第2の信号線群に対応)との交点に設置されており、ラインI11〜I15にはそれぞれプルアップ抵抗R11〜15が接続されている。また、これらには電源電圧VDDが接続されている。なお、プルアップ抵抗Rは例えば100kΩから200kΩ程度の抵抗である。
これらキースイッチK111〜K155は、それぞれ同じ所定のON抵抗値Rsを有する。
The
The key switches K111 to K155 include output lines (corresponding to the first signal line group of the present invention) L11 to L15 connected to an output port of the
Each of these key switches K111 to K155 has the same predetermined ON resistance value Rs.
演算部102は、出力ポート11、入力ポート12、電圧測定部13、A/D変換部14、記憶部15、制御部16を有する。
出力ポート11及び入力ポート12は、演算部102の出力及び入力のためのポートである。
電圧測定部13は、入力ポート12に接続された各入力ラインI11〜I15のアナログ電圧値を測定する。ここで入力ラインI11〜I15のうちのいずれかの電圧値は、スキャン中の出力ラインとその入力ラインとの交点に位置するキースイッチの電位である。
A/D(Analog/Digital)変換部14は、電圧測定部13が測定した各入力ラインI11〜I15のアナログ電圧値をデジタル値へ変換して制御部16に出力する。
記憶部15は、閉じられたキースイッチの数に応じた、入力ライン(ラインI11〜I15)の電圧値Vtrueを記憶する。Vtrueについては詳しくは後述する。
The
The
The
The A / D (Analog / Digital)
The
制御部16は、演算部102全体を統括的に制御する。
また、制御部16は、出力ポート11に接続されたラインL11〜L15に順次ローレベルのキースキャン信号S11を出力して、その結果A/D変換部14から得られた電圧のデジタル値を基に、キースイッチK111〜K155の開閉状態を判断する。
The
Further, the
以下、キースキャン回路100におけるキースキャンの具体例について説明する。
まず、入力部4の複数のキーのうち1つが押下された場合、すなわち、キーマトリクス101内の1個のスイッチが閉じられた場合として、例えば図3に示すキーマトリクス101のキースイッチK111のみ閉じられた場合について説明する。
制御部16は、まず、ラインL11をローレベルとしてキースイッチK111〜K151のスキャンを行う。このとき、電圧測定部13が測定するラインI11の電圧値は、プルアップ抵抗R11とキースイッチK111のON抵抗Rsにより、VDD/(Rs/(R+Rs))となる。一方、ラインI12〜I15の電圧値は、VDDである。すなわち、キースイッチが閉じられている入力ラインの電圧値と、閉じられていない入力ラインの電圧値とが異なる。制御部16は、これらの差異を検知することにより閉じられたキースイッチを検出する。
Hereinafter, a specific example of the key scan in the
First, when one of the plurality of keys of the input unit 4 is pressed, that is, when one switch in the
The
次に、キーが2つ同時に押下された場合、すなわち、キーマトリクス101内の2個のスイッチが閉じられた場合として、例えばキースイッチK111とK121とが閉じられた場合について説明する。
制御部16が、ラインL11をローレベルとしてキースイッチK111〜K151のスキャンを行った時、電圧測定部13が測定するラインI11の電圧値は、上記説明した1個押しの場合と同様、VDD/(Rs/(R+Rs))である。同様に、ラインI12の電圧値も、VDD/(Rs/(R+Rs))である。そして、ラインI13〜I15の電圧値は、VDDである。従って、キースイッチK111が閉じられている入力ラインI11及びキースイッチK121が閉じられている入力ラインI12の電圧値と、閉じられていない入力ラインI13〜I15の電圧値とが異なるため、キースイッチK111及びK121が閉じられていることが検出可能である。
Next, a case where two keys in the
When the
次に、キーが2つ同時に押下された場合、例えばキースイッチK111とK112とが閉じられた場合について説明する。
制御部16が、ラインL11をローレベルとしてキースイッチK111〜K151のスキャンを行った時、電圧測定部13が測定するラインI11の電圧値は、VDD/(Rs/(R+Rs))となり、ラインI12〜I15の電圧値はVDDとなる。同様に、ラインL12をローレベルとしてK112〜K152のスキャンを行ったとき、ラインI11の電圧値はVDD/(Rs/(R+Rs)となり、ラインI12〜I15の電圧値はVDDとなる。従って、キースイッチK111及びK112が閉じられていることが検出される。
Next, a case where two keys are pressed simultaneously, for example, a case where the key switches K111 and K112 are closed will be described.
When the
次に、キーが3つ同時押しされた場合について説明する。
例えば、従来のキースキャン回路で誤認識が発生した場合と同様の、K111、K121及びK112に対応するキーが同時押しされた場合について説明する。
まず、制御部16が、ラインL11をローレベルとしてキースイッチK111〜K151のスキャンを行った時には、ラインI11及びラインI12がVDD/(Rs/(R+Rs))となる。
Next, a case where three keys are pressed simultaneously will be described.
For example, a case where keys corresponding to K111, K121, and K112 are simultaneously pressed, which is similar to the case where erroneous recognition occurs in a conventional key scan circuit, will be described.
First, when the
次に、ラインL12をローレベルとしてキースイッチK121〜K125のスキャンを行った場合、キースイッチK111とキースイッチK121とによる短絡のために、ラインI11の電圧値がVDD*Rs/(R+3Rs)に、ラインI12の電圧値がVDD*3Rs/(R+3Rs)となる。
3個同時押しの場合に、ラインL12をローレベルとしてスキャンを行った時のキースキャン回路100の等価回路を図4に示す。
図4(a)は、キーマトリクス101の各構成のうち、電圧降下に寄与する構成のみを抽出したものであり、図4(b)はその等価回路を示している。
Next, when scanning of the key switches K121 to K125 is performed with the line L12 at a low level, the voltage value of the line I11 becomes VDD * Rs / (R + 3Rs) due to a short circuit between the key switch K111 and the key switch K121. The voltage value of the line I12 is VDD * 3Rs / (R + 3Rs).
FIG. 4 shows an equivalent circuit of the
FIG. 4A shows only the components that contribute to the voltage drop among the components of the
ここで、制御部16は、予めキースイッチが閉じられている場合の電圧値、すなわちVDD*Rs/(R+3Rs)を、記憶部15に記憶された電圧値Vtrueと一致したラインI11上のキースイッチK112が閉じられていると判断し、電圧値がVtrueと一致しなかったラインI12上のキースイッチK122は閉じられていない、と判断する。
Vtrueは、予め算出され記憶部15に記憶された、入力ライン上のキースイッチが閉じられている場合の入力ラインの電圧値の取り得る値である。すなわち、3個以上の同時押しを検出するために、VDD/(Rs/(R+Rs))とVDD*Rs/(R+3Rs)とが予めVtrueとして記憶部15に記憶されている。制御部16は、これを参照することにより、3個以上の同時押しの場合でも閉じられたキースイッチを検出することができる。
Here, the
Vtrue is a value that can be taken by the voltage value of the input line calculated in advance and stored in the
なお、同一の出力ライン(L11〜L15のいずれか)上の3個以上のキースイッチが同時に閉じられた場合や、同一の入力ライン(I11〜I15のいずれか)上の3個以上のキースイッチが同時に閉じられた場合は、上記説明した2個同時押しの場合と同様に、閉じられたキースイッチを含む入力ラインの電圧値が全て同一となるため、制御部16は容易に閉じたキースイッチを判断することができる。
制御部16は、以上のように3個以上の同時押しを検出可能である。
When three or more key switches on the same output line (any of L11 to L15) are closed at the same time, or three or more key switches on the same input line (any of I11 to I15) Since the voltage values of the input lines including the closed key switches are all the same as in the case of the two simultaneous pressing described above, the
As described above, the
次に、いずれかのキースイッチが閉じられた場合の制御部16の判断時の動作例について図5を参照して説明する。
図5は、いずれかのキースイッチが閉じられた場合の制御部16の動作例を示すフローチャートである。
Next, an operation example at the time of determination by the
FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation example of the
ステップST1:
制御部16は、出力ライン(L11〜L15)Li(iは11から15のいずれか)をローレベルにする。
ステップST2:
制御部16は、ステップST1の結果、電圧測定部13が測定した電圧値をA/D変換部14から取得する。
Step ST1:
The
Step ST2:
The
ステップST3:
制御部16は、ステップST2において取得したラインI11〜I15の電圧値のうち、電圧値がVDDであるものを除外する。何故なら、電圧値がVDDである入力ライン上のキースイッチは閉じられていないからである。
ステップST4:
制御部16は、ステップST2において取得したラインI11〜I15の電圧値を、記憶部15内のVtrueと電圧値と比較する。
Step ST3:
The
Step ST4:
The
ステップST5:
制御部16は、ステップST4においてVtrueと一致した電圧値の入力ライン上のキースイッチを閉じられていると判断する。
ステップST6:
制御部16は、全ての出力ラインのスキャンが終わるまで、i=i+1としてステップST1に戻る。
以上のようにすることにより、本実施形態のキースキャン回路100は、3個以上の同時押しを検出可能となる。
Step ST5:
In step ST4, the
Step ST6:
The
By doing so, the
以上説明したように、本実施形態のキースキャン回路100を有する携帯端末1000においては、キーマトリクス101の各キースイッチK111〜K155にそれぞれ同じON抵抗値Rsを持たせ、記憶部15に予め記憶された、入力ライン上のキースイッチが閉じられている場合の入力ラインの電圧値Vtrueを参照し、出力ラインをローレベルにした結果取得した各入力ラインの電圧値をVtrueと比較して、Vtrueと一致する電圧値の入力ライン上のキースイッチが閉じられていると検出するため、3個以上の同時押しが行われた場合でも、同時押しにより閉じられたキースイッチを正しく検出することができる。また、各キースイッチに持たせるON抵抗は、例えばダイオードよりも安価であるため、製造コストを比較的低く抑えることができる。
As described above, in the mobile terminal 1000 having the
なお、入力ラインの電圧値を互いに比較する際に、キースイッチが閉じられた入力ラインの電圧値(上述した例では例えばVDD*Rs/(R+3Rs))と、キースイッチが閉じられていない入力ラインの電圧値(上述した例では例えばVDD*3Rs/(R+3Rs))とが比較可能な程度に異なっている必要がある、このことから、ON抵抗Rsの値としては、プルアップ抵抗Rの10〜20%程度の抵抗値とすればよいことが経験的に分かっている。 When comparing the voltage values of the input lines with each other, the voltage value of the input line with the key switch closed (eg, VDD * Rs / (R + 3Rs) in the above example) and the input line with the key switch not closed. Voltage value (for example, VDD * 3Rs / (R + 3Rs) in the above-described example) needs to be different from each other to such a degree that it can be compared. Experience has shown that a resistance value of about 20% is sufficient.
本発明は上述した実施形態には限定されない。
すなわち、本発明の実施に際しては、本発明の技術的範囲またはその均等の範囲内において、上述した実施形態の構成要素に関し様々な変更、コンビネーション、サブコンビネーション、並びに代替を行ってもよい。
The present invention is not limited to the embodiment described above.
That is, when implementing the present invention, various modifications, combinations, sub-combinations, and alternatives may be made with respect to the components of the above-described embodiments within the technical scope of the present invention or an equivalent scope thereof.
上述した実施形態では、3個以下の同時押しについて説明したが、本発明のキースキャン回路は4個以上の同時押しも検出可能である。短絡によりVDDと異なる複数種類の入力ラインの電圧値が検出されるような場合には、予め記憶部15にその場合のVtrueを記憶しておくことにより対応可能である。
また、上述した実施形態ではON抵抗値Rsを全て同一の値Rsとしたが、本発明はこれには限定されず、全て異なる抵抗値としてもよい。この場合、どのキースイッチが何個閉じられたかによって、入力ラインの電圧値が一意に決まるため、記憶部15に予め全てのキーの同時押しの組み合わせ時の電圧値Vtrueを記憶させることにより、容易に閉じられたキースイッチを検出することができる。
In the above-described embodiment, three or less simultaneous presses have been described. However, the key scan circuit of the present invention can detect four or more simultaneous presses. When voltage values of a plurality of types of input lines different from VDD are detected due to a short circuit, this can be dealt with by storing Vtrue in that case in the
In the above-described embodiments, the ON resistance values Rs are all set to the same value Rs. However, the present invention is not limited to this, and may be set to different resistance values. In this case, since the voltage value of the input line is uniquely determined by how many key switches are closed, it is easy to store the voltage value Vtrue when the keys are simultaneously pressed in the
また、上述した実施形態のキースキャン回路100は、携帯端末1000以外にも、例えばPDA等の複数のキーを有する携帯電子機器にも適用が可能である。
In addition to the
1000…携帯端末、1…通信部、2…記憶部、3…表示部、4…入力部、5…制御部、100…キースキャン回路、101…キーマトリクス、102…演算部、11…出力ポート、12…入力ポート、13…電圧測定部、14…変換部、15…記憶部、16…制御部、L11〜L15…出力ライン、I11〜I15…入力ライン、200…キースキャン回路、201…キーマトリクス、202…演算部、21…出力ポート、22…入力ポート、S11…キースキャン信号、S21…キースキャン信号、S22…キーセンス信号、R…プルアップ抵抗の抵抗値、Rs…キースイッチK111〜155の各々のON(オン)抵抗値、L21〜25出力ライン(第1の信号線群)、I21〜25入力ライン(第2の信号線群)
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記キーマトリクスをスキャンして閉じられた前記キースイッチを検出する演算部と、
前記キーマトリクスに電源を供給する電源部と、
を有し、
前記キースイッチはそれぞれオン抵抗値を有し、
前記演算部は、
前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する電圧測定部と、
前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値を予め記憶する記憶部と、
を有し、
前記演算部は前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する
ことを特徴とするキースキャン回路。 A key matrix in which a plurality of key switches corresponding to a plurality of keys are arranged in a matrix, and
An arithmetic unit that scans the key matrix and detects the closed key switch;
A power supply unit for supplying power to the key matrix;
Have
Each of the key switches has an on-resistance value,
The computing unit is
A voltage measuring unit that measures a voltage value in each key switch when any of the plurality of key switches is closed;
A storage unit for preliminarily storing a voltage value when any of the plurality of key switches is closed;
Have
The key scanning circuit, wherein the arithmetic unit detects a closed key switch by comparing a voltage value measured by the voltage measuring unit with a voltage value stored in the storage unit.
複数の第1の信号線群と、
複数の第2の信号線群と、
前記第1の信号線群と前記第2の信号線群の各交点に配置された複数のキースイッチと、
を有し、
前記電圧測定部は、前記第1の信号線群のうちのいずれかがローレベルになったときの前記第2の信号線群の電圧値を測定することにより、前記キースイッチにおける電圧値を測定する
ことを特徴とする請求項1に記載のキースキャン回路。 The key matrix is
A plurality of first signal line groups;
A plurality of second signal line groups;
A plurality of key switches arranged at each intersection of the first signal line group and the second signal line group;
Have
The voltage measurement unit measures a voltage value of the key switch by measuring a voltage value of the second signal line group when any one of the first signal line groups becomes a low level. The key scan circuit according to claim 1, wherein:
前記複数のキーのうちいずれが操作されたかを検出するキースキャン回路を有し、
前記キースキャン回路は、
前記複数のキーの操作に応じて開閉する複数のキースイッチをマトリクス状に配置したキーマトリクスと、
前記キーマトリクスをスキャンして閉じられた前記キースイッチを検出する演算部と、
前記キーマトリクスに電源を供給する電源部と、
を有し、
前記キースイッチはそれぞれオン抵抗値を有し、
前記演算部は、
前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する電圧測定部と、
前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値を予め記憶する記憶部と、
を有し、
前記演算部は前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する
ことを特徴とする電子機器。 An electronic device including an input unit having a plurality of keys,
A key scanning circuit for detecting which one of the plurality of keys is operated;
The key scan circuit includes:
A key matrix in which a plurality of key switches that open and close in response to operations of the plurality of keys are arranged in a matrix;
An arithmetic unit that scans the key matrix and detects the closed key switch;
A power supply unit for supplying power to the key matrix;
Have
Each of the key switches has an on-resistance value,
The computing unit is
A voltage measuring unit that measures a voltage value in each key switch when any of the plurality of key switches is closed;
A storage unit for preliminarily storing a voltage value when any of the plurality of key switches is closed;
Have
The electronic device is characterized in that the calculation unit detects a closed key switch by comparing the voltage value measured by the voltage measurement unit and the voltage value stored in the storage unit.
前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合に、前記各キースイッチにおける電圧値を測定する工程と、
予め記憶された前記複数のキースイッチのうちのいずれかが閉じられた場合の電圧値と前記工程において測定された電圧値とを比較する工程と、
前記工程の比較結果により閉じられたキースイッチを検出する工程と、
を有することを特徴とするキースキャン方法。 A key matrix in which a plurality of key switches corresponding to a plurality of keys and having an on-resistance value are arranged in a matrix, an arithmetic unit that scans the key matrix to detect the closed key switches, and the key matrix A key scanning method of a key scanning circuit having a power supply unit for supplying power,
A step of measuring a voltage value at each key switch when any of the plurality of key switches is closed;
Comparing a voltage value when any of the plurality of key switches stored in advance is closed with the voltage value measured in the step;
Detecting a closed key switch according to the comparison result of the step;
A key scanning method characterized by comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007198097A JP5583316B2 (en) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | Key scan circuit, electronic device, and key scan method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007198097A JP5583316B2 (en) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | Key scan circuit, electronic device, and key scan method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009032203A true JP2009032203A (en) | 2009-02-12 |
JP5583316B2 JP5583316B2 (en) | 2014-09-03 |
Family
ID=40402608
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007198097A Expired - Fee Related JP5583316B2 (en) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | Key scan circuit, electronic device, and key scan method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5583316B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103455148A (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-18 | 展讯通信(上海)有限公司 | Keyboard, key detecting method and mobile device |
JP2015192253A (en) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 株式会社富士通ゼネラル | key matrix circuit |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06131089A (en) * | 1991-08-02 | 1994-05-13 | Nec Corp | Keyboard |
JPH06332598A (en) * | 1993-05-21 | 1994-12-02 | Fujitsu Ltd | Membrane keyboard |
-
2007
- 2007-07-30 JP JP2007198097A patent/JP5583316B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06131089A (en) * | 1991-08-02 | 1994-05-13 | Nec Corp | Keyboard |
JPH06332598A (en) * | 1993-05-21 | 1994-12-02 | Fujitsu Ltd | Membrane keyboard |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103455148A (en) * | 2012-05-31 | 2013-12-18 | 展讯通信(上海)有限公司 | Keyboard, key detecting method and mobile device |
JP2015192253A (en) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 株式会社富士通ゼネラル | key matrix circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5583316B2 (en) | 2014-09-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20100105424A1 (en) | Mobile Communications Device User Interface | |
US20150363059A1 (en) | Mobile terminal apparatus and control method for mobile terminal apparatus | |
US8509851B2 (en) | Method for displaying speed dial information and device using the method | |
CN106973167B (en) | A kind of income prompting method and mobile terminal | |
JP5982689B2 (en) | Method and wireless handheld device for automatically switching handheld modes | |
US20120313872A1 (en) | Electronic equipment, pressure detecting method and pressure detecting device | |
TW201003466A (en) | Module, user interface, device and method for handling accidental key presses | |
KR100640505B1 (en) | Method for performing function concerning searched phone number | |
EP2884382B1 (en) | Dynamic application association with hand-written pattern | |
US20230328018A1 (en) | Sending method and apparatus, and electronic device | |
US10666783B2 (en) | Method and apparatus for storing telephone numbers in a portable terminal | |
US8421651B2 (en) | Mobile phone with improved keyboard scanning and component reduction and method | |
US20150006920A1 (en) | Keyboard circuit | |
JPWO2011093230A1 (en) | Portable information terminal and key arrangement changing method thereof | |
JP5583316B2 (en) | Key scan circuit, electronic device, and key scan method | |
CN102902751A (en) | Webpage input method and device in mobile terminal and mobile terminal | |
JP2011100261A (en) | Portable device, information display method, and program | |
JP2009245025A (en) | Key detection device and key detection method, and portable electronic equipment | |
JP2014135532A (en) | Portable information terminal, portable information terminal power-saving method, program, and storage medium | |
JP2010258647A (en) | Communication terminal and incoming call control method | |
US8947362B2 (en) | Key input device and mobile communication terminal using the key input device | |
US8125356B2 (en) | Electronic device providing a number input system | |
US10007357B2 (en) | Method for recognizing press of key on keyboard | |
JP5369892B2 (en) | Mobile device | |
CN107231466B (en) | Terminal communication method and device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110713 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120327 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120525 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130212 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130513 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130520 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20130712 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140603 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140716 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5583316 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |