JP2008295714A - Table system, and x-ray ct apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To detect the degree of a warpage of a top board at a high detection resolving power by a simple structure while keeping a high supporting rigidity of the top board in a table system which is suitable for, e.g., an X-ray CT photographing, in which the top board for mounting an object is let out in the horizontal direction. <P>SOLUTION: A light receiving position specifying section 125 specifies the light receiving position of a laser beam 600 which changes in response to the warpage of a base 104 by a laser light source 122 being installed on the base 104 which supports the top board 102, and a light detector 124. From the light receiving position, the degree of the warpage of the top board 102 is indirectly detected. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、テーブルシステム(table system)およびX線CT装置に関し、特に、基台から水平方向に繰り出される天板を有するテーブルシステム、および、そのようなテーブルシステムを有するX線CT装置に関する。   The present invention relates to a table system and an X-ray CT apparatus, and more particularly to a table system having a top plate that is fed out from a base in a horizontal direction and an X-ray CT apparatus having such a table system.

X線CT装置では、撮影の対象すなわち患者を横たえて支持するテーブルシステムが用いられる。テーブルシステムは、天板を基台から水平方向に繰り出し、患者を撮影空間に搬入するようになっている(例えば、特許文献1の第3−4頁、図1参照)。   In the X-ray CT apparatus, a table system for supporting a subject to be imaged, that is, a patient, is used. In the table system, the top plate is extended from the base in the horizontal direction, and the patient is carried into the imaging space (see, for example, page 3-4 of Patent Document 1 and FIG. 1).

このようなテーブルシステムでは、天板の繰出し量が増すにつれて天板のオーバーハング(overhang)荷重が増大するため、搬送抵抗が大きくなる。予想される最大荷重の下での搬送抵抗に打ち勝って円滑な搬送が可能なように、搬送力を予め大きくしておくと、体重が軽い患者については搬送力の余裕があり過ぎて安全上の問題が生じる。   In such a table system, since the overhang load of the top plate increases as the feeding amount of the top plate increases, the transport resistance increases. If the transport force is increased in advance to overcome the transport resistance under the expected maximum load and smooth transport is possible, there is too much room for the transport force for patients with light weight. Problems arise.

この問題を解決するために、例えば、天板の撓みの程度を、天板の下面に接触可能な所定の部材を用いて回転モーメント(moment)に変換して検出し、その検出信号に基づいて天板の駆動ローラの回転力を制御するテーブルシステムが提案されている(例えば、特許文献2参照)。また、例えば、クレードル(cradle)のホームポジション(home
position)からの距離とクレードルの駆動ローラ(roller)に作用する圧力とを検出し、検出された距離と圧力に基づいて間接的に天板の撓みの程度を検出して、駆動モータ(motor)への供給電流を制御するクレードル装置が提案されている(例えば、特許文献3参照)。
In order to solve this problem, for example, the degree of bending of the top plate is detected by converting it into a rotational moment using a predetermined member that can contact the lower surface of the top plate, and based on the detection signal. A table system that controls the rotational force of the driving roller of the top plate has been proposed (see, for example, Patent Document 2). Also, for example, the home position (home) of the cradle
position) and the pressure acting on the driving roller of the cradle are detected, and the degree of bending of the top plate is indirectly detected based on the detected distance and pressure, and the driving motor (motor) is detected. There has been proposed a cradle device that controls the current supplied to the slab (see, for example, Patent Document 3).

特開平10−108861号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-108861 特開2005−245560号公報JP 2005-245560 A 実開平7−9310号公報Japanese Utility Model Publication No. 7-9310

しかしながら、天板の撓みの程度を回転モーメントに変換して検出する上記テーブルシステムでは、検出分解能を上げようとすると天板の支持剛性を上げることができず、少しでも撓みの少ないテーブルが欲しいという医師や技師の要求と相反するという問題がある。また、クレードルのホームポジションからの距離と駆動ローラに作用する圧力とを検出し、これらに基づいて間接的にクレードルの撓みの程度を検出するクレードル装置では、予想される最大荷重を保障するには駆動ローラに作用する圧力の検出可能範囲を比較的広くとる必要があり、構造が大掛かりになりコスト(cost)が増大するという問題がある。   However, in the above table system that detects the degree of bending of the top plate by converting it into a rotational moment, the support rigidity of the top plate cannot be increased when trying to increase the detection resolution, and a table with little deflection is desired. There is a problem that conflicts with the demands of doctors and engineers. In order to guarantee the maximum expected load, a cradle device that detects the distance from the home position of the cradle and the pressure acting on the driving roller and indirectly detects the degree of cradle deflection based on these distances. There is a problem that the detectable range of pressure acting on the drive roller needs to be relatively wide, and the structure becomes large and the cost increases.

本発明は、上記事情に鑑み、天板の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板の撓みの程度を高い検出分解能で検出することが可能なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するX線CT装置を提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, the present invention provides a table system capable of detecting the degree of bending of the top plate with a high detection resolution with a simple structure while keeping the support rigidity of the top plate high, and such a table system. An object of the present invention is to provide an X-ray CT apparatus having the same.

第1の観点では、本発明は、基台と、前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備するテーブルシステムを提供する。   In a first aspect, the present invention provides a base, a top plate supported so as to be able to be fed out in the horizontal direction from the base, and transporting the top plate in the top plate feeding direction by applying a transport force to the top plate. Conveying means, light generating means for generating a light beam provided on the base, and light detecting means for detecting the light beam on a light receiving surface, the light receiving position of which changes according to the bending of the base. There is provided a table system comprising: a light detecting means; and a bending detecting means for detecting the bending of the base by detecting the light receiving position.

第2の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、上記第1の観点のテーブルシステムを提供する。   In a second aspect, the present invention further includes a control unit that controls the transport unit based on the detected light receiving position so that the transport force increases as the degree of bending of the base increases. A table system according to the first aspect is provided.

第3の観点では、本発明は、前記基台が、垂直方向の傾きが調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の傾きが該部分の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、上記第1の観点のテーブルシステムを提供する。   In a third aspect, the present invention provides that the base is adjustable in tilt in the vertical direction, and the tilt of the portion located in the imaging space of the top plate is based on the detected light receiving position. The table system according to the first aspect is further provided with a control means for controlling the inclination of the base so as to be compensated for the deflection angle of the base.

第4の観点では、本発明は、前記基台が、高さ調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、上記第1の観点のテーブルシステムを提供する。   In a fourth aspect, the present invention provides that the height of the base is adjustable, and the height of a portion of the top plate located in the imaging space is bent based on the detected light receiving position. The table system according to the first aspect is further provided with control means for controlling the height of the base so as to be compensated by the amount.

第5の観点では、本発明は、前記制御手段が、天板繰出し前に検出された前記光束の受光位置と天板繰出し後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、上記第2の観点から第4の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a fifth aspect, the present invention relates to the magnitude of the difference between the light receiving position of the light beam detected before the top plate is extended and the light receiving position of the light beam detected after the top plate is extended. A table system according to any one of the second to fourth aspects, which is controlled based on the above, is provided.

第6の観点では、本発明は、前記制御手段が、対象を前記天板に載置する前に検出された前記光束の受光位置と前記対象を前記天板に載置した後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、上記第2の観点から第4の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a sixth aspect, the present invention provides the light-receiving position of the light beam detected before the object is placed on the top plate and the light detection position detected after the subject is placed on the top plate. Provided is a table system according to any one of the second to fourth aspects, which is controlled based on the magnitude of the difference between the light receiving position of the luminous flux.

第7の観点では、本発明は、前記光発生手段が、天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向の光束を発生し、前記光検出手段が、前記受光位置が前記基台の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられ、前記受光位置が反映された検出信号を出力し、前記撓み検出手段が、前記検出信号に基づいて前記受光位置を特定する受光位置特定手段を具備する、上記第1の観点から第6の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a seventh aspect, the present invention provides the light generating means that generates a light beam in a predetermined direction including a component in the same direction as the top plate feeding direction, and the light detecting means is configured such that the light receiving position is bent by the base. A light receiving position specifying means for outputting a detection signal reflecting the light receiving position, wherein the deflection detecting means specifies the light receiving position based on the detection signal. A table system according to any one of the first to sixth aspects is provided.

第8の観点では、本発明は、前記光束の光路が単直線状である、上記第1の観点から第7の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In an eighth aspect, the present invention provides the table system according to any one of the first to seventh aspects, wherein an optical path of the light beam is a single line.

第9の観点では、本発明は、前記光束を少なくとも1回反射させる光学系をさらに具備し、前記光束の光路が折れ線状である、上記第1の観点から第8の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a ninth aspect, the present invention further includes an optical system that reflects the light beam at least once, and an optical path of the light beam is a polygonal line, and any one of the first to eighth aspects is provided. Provide a table system of perspective.

第10の観点では、本発明は、前記光学系の光反射面が曲面である、上記第9の観点のテーブルシステムを提供する。   In a tenth aspect, the present invention provides the table system according to the ninth aspect, wherein the light reflecting surface of the optical system is a curved surface.

第11の観点では、本発明は、前記光発生手段が前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配され、前記光検出手段が前記基台の他端部側に配される、上記第8の観点から第10の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In an eleventh aspect, in the present invention, the light generation means is disposed on one end side in the top plate feeding direction of the base, and the light detection means is disposed on the other end side of the base. A table system according to any one of the eighth to tenth aspects is provided.

第12の観点では、本発明は、前記光発生手段と前記光検出手段が、共に前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配される、上記第9の観点または第10の観点のテーブルシステムを提供する。   In a twelfth aspect, the present invention relates to the ninth aspect or the tenth aspect, in which the light generating means and the light detecting means are both arranged on one end side in the top plate feeding direction of the base. Provide a table system.

第13の観点では、本発明は、前記基台が天板繰出し方向に伸びるパイプフレームを有し、前記光発生手段と前記光検出手段とが前記パイプフレーム内に設けられる、上記第1の観点から第12の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a thirteenth aspect, the present invention provides the first aspect, wherein the base includes a pipe frame extending in a top plate feeding direction, and the light generation means and the light detection means are provided in the pipe frame. To a table system according to any one of the twelfth aspects.

第14の観点では、本発明は、前記光検出手段の受光面が、多数の電荷結合素子(CCD)で構成される、上記第1の観点から第13の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a fourteenth aspect, the present invention provides the table according to any one of the first to thirteenth aspects, wherein the light receiving surface of the light detection means is configured by a large number of charge coupled devices (CCDs). Provide a system.

第15の観点では、本発明は、前記光発生手段がレーザ光源である、上記第1の観点から第14の観点のいずれか1つの観点のテーブルシステムを提供する。   In a fifteenth aspect, the present invention provides the table system according to any one of the first to fourteenth aspects, wherein the light generating means is a laser light source.

第16の観点では、本発明は、テーブルシステムに搭載されて撮影空間に搬入された対象をX線でスキャンして得られる複数ビューの投影データに基づいて画像を再構成するX線CT装置であって、前記テーブルシステムが、基台と、前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備する、X線CT装置を提供する。   In a sixteenth aspect, the present invention is an X-ray CT apparatus for reconstructing an image based on projection data of a plurality of views obtained by scanning an object carried in a radiographing space with an X-ray mounted on a table system. The table system is supported by a base, a top plate supported so as to be able to be fed out from the base in a horizontal direction, and transporting the top plate in the top plate feeding direction by applying a transport force to the top plate. Means, light generating means for generating a light beam provided on the base, and light detecting means for detecting the light beam on a light receiving surface, the light detection position of which varies depending on the deflection of the base And an X-ray CT apparatus comprising: a deflection detecting unit that detects the deflection of the base by detecting the light receiving position.

第17の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、上記第16の観点のX線CT装置を提供する。   In a seventeenth aspect, the present invention further includes a control unit that controls the transport unit based on the detected light receiving position so that the transport force increases as the degree of deflection of the base increases. An X-ray CT apparatus according to the sixteenth aspect is provided.

第18の観点では、本発明は、前記基台が、垂直方向の傾きが調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の傾きが該天板の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、上記第16の観点のX線CT装置を提供する。   In an eighteenth aspect, according to the present invention, the base is capable of adjusting a tilt in a vertical direction, and based on the detected light receiving position, a tilt of a portion of the top plate located in the photographing space is The X-ray CT apparatus according to the sixteenth aspect is further provided with control means for controlling the inclination of the base so as to compensate for the deflection angle of the top plate.

第19の観点では、本発明は、前記基台が、高さ調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、上記第16の観点のX線CT装置を提供する。   In a nineteenth aspect, according to the present invention, the height of the base is adjustable, and the height of the portion of the top plate located in the imaging space is based on the detected light receiving position. The X-ray CT apparatus according to the sixteenth aspect is further provided with control means for controlling the height of the base so that the amount of deflection is compensated.

第20の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記画像が、前記天板の前記撮影空間に位置する部分を該部分の撓み量および/または撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うデータ処理手段をさらに具備する、第16の観点のX線CT装置を提供する。   In a twentieth aspect, the present invention compensates, based on the detected light receiving position, a portion where the image is located in the imaging space of the top board by a deflection amount and / or a deflection angle of the portion. An X-ray CT apparatus according to a sixteenth aspect is further provided, further comprising data processing means for performing data processing so as to obtain an image obtained when scanned.

本発明によれば、天板を支持する基台に設けられた、光発生手段と光検出手段を用いて、天板の繰出しに伴う基台の撓みの程度に応じて変化する、光束の受光位置を検出して天板の撓みの程度を検出するので、テーブルの構造設計を大幅に変更することなく、基台の僅かな撓みを光束の受光位置の変化として検出することができ、天板の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板の撓みの程度を高い検出分解能で検出することが可能なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するX線CT装置を実現することができる。   According to the present invention, using the light generating means and the light detecting means provided on the base that supports the top board, the light receiving that changes according to the degree of bending of the base accompanying the extension of the top board. Since the position is detected and the degree of bending of the top plate is detected, a slight bending of the base can be detected as a change in the light receiving position of the light beam without significantly changing the table structural design. A table system capable of detecting the degree of bending of the top plate with a high detection resolution and a X-ray CT apparatus having such a table system can be realized with a simple structure while maintaining a high support rigidity. .

以下、図面を参照して発明を実施するための最良の形態を説明する。なお、本発明は、発明を実施するための最良の形態に限定されるものではない。   The best mode for carrying out the invention will be described below with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the best mode for carrying out the invention.

(第1の実施形態)
図1はX線CT装置のブロック図である。本装置は本発明を実施するための最良の形態の一例である。本装置の構成によって、X線CT装置に関する本発明を実施するための最良の形態の一例が示される。また、本装置の構成の一部によって、テーブルシステムに関する本発明を実施するための最良の形態の一例が示される。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus. This apparatus is an example of the best mode for carrying out the present invention. An example of the best mode for carrying out the present invention relating to an X-ray CT apparatus is shown by the configuration of the apparatus. An example of the best mode for carrying out the present invention relating to a table system is shown by a part of the configuration of the present apparatus.

図1に示すように、本装置は、走査ガントリ(gantry)2、テーブルシステム100および操作コンソール(console)6を備えている。走査ガントリ2はX線管20を有する。X線管20から放射された図示しないX線は、コリメータ(collimator)22により扇状のX線ビームすなわちファンビーム(fan
beam)X線となるように成形(コリメーション: collimation)され、X線検出器24に照射される。X線検出器24は、X線ビーム(beam)の広がりに合わせてアレイ(array)状に配列された多数のX線検出素子を有する。X線検出器24の構成については後にあらためて説明する。
As shown in FIG. 1, the apparatus includes a scanning gantry 2, a table system 100, and an operation console 6. The scanning gantry 2 has an X-ray tube 20. X-rays (not shown) emitted from the X-ray tube 20 are collimated by a collimator 22 to form a fan-shaped X-ray beam, ie, a fan beam (fan).
beam) The X-ray detector 24 is irradiated with the X-ray detector 24 after being shaped (collimation). The X-ray detector 24 has a large number of X-ray detection elements arranged in an array in accordance with the spread of the X-ray beam. The configuration of the X-ray detector 24 will be described later.

X線管20とX線検出器24の間の空間には、撮影の対象がテーブルシステム100に搭載されて搬入される。テーブルシステム100は、本発明におけるテーブルシステムの一例である。テーブルシステム100については後にあらためて説明する。X線管20、コリメータ22およびX線検出器24は、X線照射・検出装置を構成する。X線照射・検出装置については後にあらためて説明する。   In the space between the X-ray tube 20 and the X-ray detector 24, an object to be imaged is mounted on the table system 100 and is carried in. The table system 100 is an example of a table system in the present invention. The table system 100 will be described later. The X-ray tube 20, the collimator 22, and the X-ray detector 24 constitute an X-ray irradiation / detection device. The X-ray irradiation / detection apparatus will be described later.

X線検出器24にはデータ収集部26が接続されている。データ収集部26は、X線検出器24の個々のX線検出素子の検出信号をディジタルデータ(digital
data)として収集する。X線検出素子の検出信号は、X線による対象の投影を表す信号となる。以下、これを投影データあるいは単にデータともいう。
A data collection unit 26 is connected to the X-ray detector 24. The data collection unit 26 converts the detection signals of the individual X-ray detection elements of the X-ray detector 24 into digital data (digital).
data). The detection signal of the X-ray detection element is a signal representing the projection of the object by X-rays. Hereinafter, this is also referred to as projection data or simply data.

X線管20からのX線の照射は、X線コントローラ(controller)28によって制御される。なお、X線管20とX線コントローラ28との接続関係については図示を省略する。コリメータ22は、コリメータコントローラ30によって制御される。なお、コリメータ22とコリメータコントローラ30との接続関係については図示を省略する。   X-ray irradiation from the X-ray tube 20 is controlled by an X-ray controller 28. The connection relationship between the X-ray tube 20 and the X-ray controller 28 is not shown. The collimator 22 is controlled by a collimator controller 30. The connection relationship between the collimator 22 and the collimator controller 30 is not shown.

以上のX線管20からコリメータコントローラ30までのものが、走査ガントリ2の回転部34に搭載されている。回転部34の回転は、回転コントローラ36によって制御される。なお、回転部34と回転コントローラ36との接続関係については図示を省略する。   The components from the X-ray tube 20 to the collimator controller 30 described above are mounted on the rotating unit 34 of the scanning gantry 2. The rotation of the rotating unit 34 is controlled by the rotation controller 36. The connection relationship between the rotating unit 34 and the rotation controller 36 is not shown.

操作コンソール6はデータ処理装置60を有する。データ処理装置60は、例えばコンピュータ(computer)等によって構成される。データ処理装置60には、制御インタフェース(interface)62が接続されている。制御インタフェース62には、走査ガントリ2とテーブルシステム100が接続されている。データ処理装置60は制御インタフェース62を通じて走査ガントリ2およびテーブルシステム100を制御する。   The operation console 6 has a data processing device 60. The data processing device 60 is configured by, for example, a computer. A control interface (interface) 62 is connected to the data processing device 60. The scanning gantry 2 and the table system 100 are connected to the control interface 62. The data processing device 60 controls the scanning gantry 2 and the table system 100 through the control interface 62.

走査ガントリ2内のデータ収集部26、X線コントローラ28、コリメータコントローラ30および回転コントローラ36が、制御インタフェース62を通じて制御される。なお、それら各部と制御インタフェース62との個別の接続については図示を省略する。   The data acquisition unit 26, the X-ray controller 28, the collimator controller 30 and the rotation controller 36 in the scanning gantry 2 are controlled through the control interface 62. Note that illustration of individual connections between these units and the control interface 62 is omitted.

データ処理装置60には、データ収集バッファ(buffer)64が接続されている。データ収集バッファ64には、走査ガントリ2のデータ収集部26が接続されている。データ収集部26で収集されたデータがデータ収集バッファ64を通じてデータ処理装置60に入力される。   A data collection buffer 64 is connected to the data processing device 60. A data collection unit 26 of the scanning gantry 2 is connected to the data collection buffer 64. Data collected by the data collection unit 26 is input to the data processing device 60 through the data collection buffer 64.

データ処理装置60には記憶装置66が接続されている。記憶装置66には、データ収集バッファ64および制御インタフェース62を通じてそれぞれデータ処理装置60に入力された投影データが記憶される。記憶装置66にはまたデータ処理装置60用のプログラム(program)が記憶される。データ処理装置60がそのプログラムを実行することにより、本装置の動作が遂行される。   A storage device 66 is connected to the data processing device 60. The storage device 66 stores projection data input to the data processing device 60 through the data collection buffer 64 and the control interface 62, respectively. The storage device 66 also stores a program for the data processing device 60. When the data processing device 60 executes the program, the operation of this device is performed.

データ処理装置60は、データ収集バッファ64を通じて記憶装置66に収集した投影データを用いて画像再構成を行う。画像再構成には、例えばフィルタード・バックプロジェクション(filtered
back projection)法等が用いられる。
The data processing device 60 performs image reconstruction using the projection data collected in the storage device 66 through the data collection buffer 64. For image reconstruction, for example, filtered back projection (filtered back projection)
back projection) method or the like is used.

データ処理装置60には、表示装置68および操作装置70が接続されている。表示装置68は、グラフィックディスプレー(graphic display)等で構成される。操作装置70はポインティングデバイス(pointing
device)を備えたキーボード(keyboard)等で構成される。
A display device 68 and an operation device 70 are connected to the data processing device 60. The display device 68 is configured by a graphic display or the like. The operation device 70 is a pointing device.
a keyboard having a device, and the like.

表示装置68は、データ処理装置60から出力される再構成画像やその他の情報を表示する。操作装置70は、使用者によって操作され、各種の指示や情報等をデータ処理装置60に入力する。使用者は表示装置68および操作装置70を使用してインタラクティブ(interactive)に本装置を操作する。   The display device 68 displays the reconstructed image and other information output from the data processing device 60. The operation device 70 is operated by a user and inputs various instructions and information to the data processing device 60. The user operates the present apparatus interactively using the display device 68 and the operation device 70.

図2は、X線検出器24の模式的構成を示す図である。同図に示すように、X線検出器24は、多数のX線検出素子24(ik)を2次元アレイ(array)状に配列した多チャンネルのX線検出器となっている。複数のX線検出素子24(ik)は、全体として、円筒凹面状に湾曲したX線検出面を形成する。   FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of the X-ray detector 24. As shown in the figure, the X-ray detector 24 is a multi-channel X-ray detector in which a large number of X-ray detection elements 24 (ik) are arranged in a two-dimensional array. The plurality of X-ray detection elements 24 (ik) form an X-ray detection surface curved in a cylindrical concave shape as a whole.

iはチャンネル(channel)番号であり例えばi=1,2,・・・,1024である。kは列番号であり例えばk=1,2,・・・,32である。X線検出素子24(ik)は、列番号kが同一なもの同士でそれぞれ検出素子列を構成する。なお、X線検出器24の検出素子列は32列に限るものではなく、適宜の複数あるいは単数であってもよい。   i is a channel number, for example, i = 1, 2,. k is a column number, for example, k = 1, 2,. The X-ray detection elements 24 (ik) each have the same column number k and constitute a detection element array. Note that the number of detection element rows of the X-ray detector 24 is not limited to 32, and may be an appropriate plural number or a single number.

X線検出素子24(ik)は、例えばシンチレータ(scintillator)とフォトダイオード(photo diode)の組み合わせによって構成される。なお、これに限るものではなく、例えばカドミウム・テルル(CdTe)等を利用した半導体X線検出素子、あるいは、キセノンガス(Xe
gas)を利用した電離箱型のX線検出素子であってもよい。
The X-ray detection element 24 (ik) is configured by a combination of, for example, a scintillator and a photodiode. However, the present invention is not limited to this. For example, a semiconductor X-ray detection element using cadmium tellurium (CdTe) or the like, or xenon gas (Xe
An ionization chamber type X-ray detection element using gas) may be used.

図3は、X線照射・検出装置におけるX線管20とコリメータ22とX線検出器24の相互関係を示す図である。なお、図3の(a)は走査ガントリ2の正面から見た状態を示す図、(b)は側面から見た状態を示す図である。同図に示すように、X線管20から放射されたX線は、コリメータ22によりファン(fan)状のX線ビーム500となるように成形されてX線検出器24に照射される。   FIG. 3 is a diagram showing the interrelationship among the X-ray tube 20, the collimator 22, and the X-ray detector 24 in the X-ray irradiation / detection apparatus. 3A is a diagram showing a state seen from the front of the scanning gantry 2, and FIG. 3B is a diagram showing a state seen from the side. As shown in the figure, the X-rays radiated from the X-ray tube 20 are shaped by the collimator 22 into a fan-shaped X-ray beam 500 and irradiated to the X-ray detector 24.

図3の(a)では、ファン状のX線ビーム500のひとつの方向の広がりを示す。以下、この方向を幅方向ともいう。X線ビーム500の幅方向は、X線検出器24におけるチャンネルの配列方向に一致する。(b)ではX線ビーム500の他の方向の広がりを示す。以下、この方向をX線ビーム500の厚み方向ともいう。X線ビーム500の厚み方向は、X線検出器24における複数の検出素子列の並設方向に一致する。X線ビーム500の2つの広がり方向は互いに垂直である。   FIG. 3A shows the spread of the fan-shaped X-ray beam 500 in one direction. Hereinafter, this direction is also referred to as a width direction. The width direction of the X-ray beam 500 coincides with the channel arrangement direction in the X-ray detector 24. (B) shows the expansion of the X-ray beam 500 in the other direction. Hereinafter, this direction is also referred to as a thickness direction of the X-ray beam 500. The thickness direction of the X-ray beam 500 coincides with the parallel arrangement direction of a plurality of detection element rows in the X-ray detector 24. The two spreading directions of the X-ray beam 500 are perpendicular to each other.

図4は、X線照射・検出装置と対象8との関係を示す図である。テーブルシステム100の天板102に載置された対象8は、例えば図4に示すように、上記のようなX線ビーム500に体軸を交差させてX線照射空間に搬入される。走査ガントリ2は、内部にX線照射・検出装置を包含する筒状の構造になっている。   FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the X-ray irradiation / detection apparatus and the object 8. The object 8 placed on the top plate 102 of the table system 100 is carried into the X-ray irradiation space with the body axis intersecting the X-ray beam 500 as described above, for example, as shown in FIG. The scanning gantry 2 has a cylindrical structure including an X-ray irradiation / detection device inside.

X線照射空間は走査ガントリ2の筒状構造の内側空間に形成される。X線ビーム500によってスライス(slice)された対象8の像がX線検出器24に投影される。X線検出器24によって、対象8を透過したX線が検出器列ごとに検出される。対象8に照射するX線ビーム500の厚みthは、コリメータ22のアパーチャ(aperture)の開度により調節される。   The X-ray irradiation space is formed in the inner space of the cylindrical structure of the scanning gantry 2. An image of the object 8 sliced by the X-ray beam 500 is projected onto the X-ray detector 24. The X-ray detector 24 detects X-rays transmitted through the object 8 for each detector row. The thickness th of the X-ray beam 500 applied to the object 8 is adjusted by the opening degree of the aperture of the collimator 22.

X線照射・検出装置の回転に並行して、矢印42で示すように天板102を対象8の体軸方向に連続的に移動させることにより、X線照射・検出装置は、対象8に関して相対的に、対象8を包囲する螺旋状の軌道に沿って旋回することになる。これによっていわゆるヘリカルスキャン(helical
scan)が行われる。天板102を停止させた状態でX線照射・検出装置の回転させればアキシャルスキャン(axial scan)が行われる。
In parallel with the rotation of the X-ray irradiation / detection device, the X-ray irradiation / detection device is moved relative to the target 8 by continuously moving the top plate 102 in the body axis direction of the target 8 as indicated by an arrow 42. Thus, the object 8 turns along a spiral trajectory surrounding the object 8. As a result, the so-called helical scan (helical scan)
scan) is performed. If the X-ray irradiation / detection device is rotated while the top plate 102 is stopped, an axial scan is performed.

スキャンの1回転当たり複数(例えば1000程度)のビューの投影データが収集される。投影データの収集は、X線検出器24−データ収集部26−データ収集バッファ64の系列によって行われる。このようにして収集された投影データに基づいて、データ処理装置60により画像再構成が行われる。   Projection data of a plurality of views (for example, about 1000) per scan rotation is collected. The projection data is collected by a series of X-ray detector 24 -data collection unit 26 -data collection buffer 64. Image reconstruction is performed by the data processing device 60 based on the projection data collected in this way.

ここで、テーブルシステム100について説明する。
図5は、テーブルシステム100の機械的な構造を概略的に示す図である。同図に示すように、テーブルシステム100は天板102を有する。天板102は基台104によって水平に支持されている。天板102は、対象8を搭載して基台104から水平方向への繰出し(右方向)および引戻し(左方向)が可能になっている。繰出し方向には走査ガントリ2(図略)が存在する。基台104は、水平なレール(rail)142を有し、その上を天板102が移動できるようになっている。天板102は、繰出し側とは反対側の端部に複数の車輪144を有し、これら車輪144でレール142を上下に挟むようして、レール142に装架されている。また、基台104は搬送部112を有する。搬送部112は、レール142の天板繰出し側の先端付近に天板102の下面に接するように設けられ、天板102に搬送力を与えて天板102を天板繰出し方向に搬送する。搬送部112は天板102の下面に接触して回転する送りローラ(roller)を有する。搬送部112の構成については後にあらためて説明する。
Here, the table system 100 will be described.
FIG. 5 is a diagram schematically showing the mechanical structure of the table system 100. As shown in the figure, the table system 100 has a top plate 102. The top plate 102 is supported horizontally by the base 104. The top plate 102 is mounted with the object 8 and can be extended (rightward) and retracted (leftward) in the horizontal direction from the base 104. A scanning gantry 2 (not shown) exists in the feeding direction. The base 104 has a horizontal rail 142 on which the top plate 102 can move. The top plate 102 has a plurality of wheels 144 at the end opposite to the feeding side, and is mounted on the rails 142 so that the rails 142 are vertically sandwiched by these wheels 144. In addition, the base 104 has a transport unit 112. The transport unit 112 is provided in the vicinity of the top end of the rail 142 on the top plate feeding side so as to be in contact with the lower surface of the top plate 102 and applies a transport force to the top plate 102 to transport the top plate 102 in the top plate feeding direction. The conveyance unit 112 includes a feed roller that rotates in contact with the lower surface of the top plate 102. The configuration of the transport unit 112 will be described later.

図6は、テーブルシステム100の要部を示すブロック図である。同図に示すように、テーブルシステム100は、基台104に設けられ天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向のレーザ光線600を発生するレーザ(LASER)光源122を有する。また、テーブルシステム100は、レーザ光線600を受光面124aで受光して検出し、受光面124aにおけるレーザ光線600の受光位置が反映された検出信号を出力する光検出器であって、その受光位置が天板102の繰出しに伴う基台104の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられた光検出器124を有する。受光面124aは多数の光検出素子である電荷結合素子(CCD)で構成され、光検出器124はレーザ光線600の受光位置が反映された各光検出素子の検出信号を出力する。また、テーブルシステム100は、光検出器124の検出信号に基づいてレーザ光線600の受光位置を特定する受光位置特定部125と、特定された受光位置に基づいて、基台104の撓みの程度が大きくなると天板102の搬送力が大きくなるよう搬送部112を制御する制御部116を有する。   FIG. 6 is a block diagram showing a main part of the table system 100. As shown in the figure, the table system 100 includes a laser (LASER) light source 122 that is provided on a base 104 and generates a laser beam 600 in a predetermined direction including a component in the same direction as the top plate feeding direction. The table system 100 is a photodetector that receives and detects the laser beam 600 on the light receiving surface 124a and outputs a detection signal reflecting the light receiving position of the laser beam 600 on the light receiving surface 124a. Has a photodetector 124 provided at a position that changes according to the degree of bending of the base 104 as the top plate 102 is fed. The light receiving surface 124a is composed of a charge coupled device (CCD) which is a large number of light detecting elements, and the light detector 124 outputs a detection signal of each light detecting element in which the light receiving position of the laser beam 600 is reflected. The table system 100 also includes a light receiving position specifying unit 125 that specifies the light receiving position of the laser beam 600 based on the detection signal of the photodetector 124, and the degree of bending of the base 104 based on the specified light receiving position. A control unit 116 that controls the transport unit 112 is provided so that the transport force of the top plate 102 increases as the size increases.

光検出器124の検出信号はローパスフィルタ(LPF;Low Pass Filter)120により高周波成分抑制処理が施されて制御部116に入力され、この入力信号に基づく制御信号が制御部116から駆動部118に与えられ、この制御信号に基づき駆動部118によって送りローラが駆動される。このローパスフィルタ120は、天板102に載置された対象8の体動や天板102を繰り出す際の振動により天板102および基台104が揺れたときに、光検出器124の検出信号の強度が揺れるのを防ぎ、レーザ光線600の実質的な受光位置を特定できるようにするためのものである。なお、ローパスフィルタ120により抑制される検出信号の周波数域としては、例えば、数ヘルツ(Hz)以上を考えることができる。   The detection signal of the photodetector 124 is subjected to high-frequency component suppression processing by a low pass filter (LPF) 120 and input to the control unit 116, and a control signal based on this input signal is sent from the control unit 116 to the drive unit 118. The feed roller is driven by the drive unit 118 based on this control signal. This low-pass filter 120 detects the detection signal of the photodetector 124 when the top plate 102 and the base 104 are shaken by the body movement of the object 8 placed on the top plate 102 or the vibration when the top plate 102 is fed out. This is to prevent fluctuations in intensity and to identify the substantial light receiving position of the laser beam 600. In addition, as a frequency range of the detection signal suppressed by the low-pass filter 120, for example, several hertz (Hz) or more can be considered.

図7は、基台104とレーザ光源122および光検出器124との位置関係を示す図である。図7の(a)は基台104の側面から見た状態を示す図、(b)は、基台104の上面から見た状態を示す図である。同図に示すように、基台104は両側面部に、天板繰出し方向に平行に伸びる2つのパイプフレーム(pipe
flame)104aを有する。一方のパイプフレーム104aには、天板繰出し方向における一端部側にレーザ光源122が配され、他端部側に光検出器124が配されている。レーザ光源122から射出されたレーザ光線600は光検出器124で検出される。光検出器124は、レーザ光線600を検出してその受光位置が反映された検出信号を出力する。なお、レーザ光源122と光検出器124は基台104の外面に設けてもよいが、レーザ光源122から発生したレーザ光線600を遮ることがないように、また、光検出器124にて不要な光が検出されないようにするためにも、これらを基台104の内部に設けることが望ましい。
FIG. 7 is a diagram showing the positional relationship between the base 104, the laser light source 122, and the photodetector 124. FIG. 7A is a diagram showing a state seen from the side surface of the base 104, and FIG. 7B is a diagram showing a state seen from the upper surface of the base 104. As shown in the figure, the base 104 has two pipe frames (pipe) extending in parallel to the top plate feeding direction on both side portions.
frame) 104a. In one pipe frame 104a, a laser light source 122 is arranged on one end side in the top plate feeding direction, and a photodetector 124 is arranged on the other end side. The laser beam 600 emitted from the laser light source 122 is detected by the photodetector 124. The photodetector 124 detects the laser beam 600 and outputs a detection signal reflecting the light receiving position. The laser light source 122 and the light detector 124 may be provided on the outer surface of the base 104, but are unnecessary in the light detector 124 so as not to block the laser beam 600 generated from the laser light source 122. In order to prevent light from being detected, it is desirable to provide them inside the base 104.

図8は、光検出器124の模式的構成を示す図である。同図に示すように、光検出器124は、多数の光検出素子124(pq)を2次元アレイ状に配列した多ピクセル(pixel)の光検出器となっている。複数の光検出素子124(pq)は、全体として、平面状の受光面を形成する。個々の光検出素子124(pq)は、検出する光の強度に応じた検出信号を出力する。なお、これに限るものではなく、2値化した信号、すなわち、強度が所定のしきい値を超える光を検出したときにのみ所定の検出信号を出力するものであってもよい。   FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of the photodetector 124. As shown in the figure, the photodetector 124 is a multi-pixel photodetector in which a large number of photodetectors 124 (pq) are arranged in a two-dimensional array. The plurality of light detecting elements 124 (pq) form a planar light receiving surface as a whole. Each photodetecting element 124 (pq) outputs a detection signal corresponding to the intensity of light to be detected. Note that the present invention is not limited to this, and a predetermined detection signal may be output only when a binarized signal, that is, light whose intensity exceeds a predetermined threshold value is detected.

pは列番号であり例えばp=1,2,・・・,12である。qは行番号であり例えばq=1,2,・・・,16である。なお、光検出器124の光検出素子の行数および列数はこれらに限るものではなく、適宜の複数であってもよいし、行数と列数のいずれか一方は単数であってもよい。   p is a column number, for example, p = 1, 2,. q is a row number, for example, q = 1, 2,. Note that the number of rows and the number of columns of the photodetector elements of the photodetector 124 are not limited to these, and may be an appropriate plural number, or one of the number of rows and the number of columns may be singular. .

光検出素子124(pq)は、例えば電荷結合素子(CCD)によって構成される。なお、これに限るものではなく、例えばフォトダイオード等であってもよい。   The photodetecting element 124 (pq) is constituted by, for example, a charge coupled device (CCD). Note that the present invention is not limited to this, and may be, for example, a photodiode.

ここで、受光位置特定部125によるレーザ光線600の受光位置の特定方法について説明する。   Here, a method for specifying the light receiving position of the laser beam 600 by the light receiving position specifying unit 125 will be described.

図9は、天板102をホームポジションから所定の位置まで繰り出したことにより、レーザ光線600の受光領域が変化した様子を示す図である。同図に示すように、光検出器124の受光面124aは、例えば、12×16ピクセルで構成される。レーザ光線600の受光領域は、受光面124a上で、例えば、直径5ピクセル程度の円領域となる。天板繰出し前のレーザ光線600の受光領域R0は、例えば受光面124aの下方に位置している。天板102を徐々に繰り出すと天板102が徐々に撓み、これに伴って基台104も撓む。これにより、受光面124aがレーザ光線600に対して下方に下がり、レーザ光線600の受光領域は受光面124aの上方に移動する。受光領域R1は、天板102を所定の位置まで繰り出したときのレーザ光線600の受光領域である。なお、ここでは、説明を容易にするため受光面のピクセル数を少なくしているが、実際にはこれより多く、例えば120×160ピクセル程度等としてもよい。   FIG. 9 is a diagram illustrating a state in which the light receiving region of the laser beam 600 is changed by extending the top plate 102 from the home position to a predetermined position. As shown in the figure, the light receiving surface 124a of the photodetector 124 is composed of, for example, 12 × 16 pixels. The light receiving region of the laser beam 600 is, for example, a circular region having a diameter of about 5 pixels on the light receiving surface 124a. For example, the light receiving region R0 of the laser beam 600 before the top plate is extended is located below the light receiving surface 124a. When the top plate 102 is gradually fed out, the top plate 102 is gradually bent, and the base 104 is also bent accordingly. As a result, the light receiving surface 124a falls downward with respect to the laser beam 600, and the light receiving region of the laser beam 600 moves above the light receiving surface 124a. The light receiving region R1 is a light receiving region of the laser beam 600 when the top plate 102 is extended to a predetermined position. Here, for ease of explanation, the number of pixels on the light receiving surface is reduced. However, in actuality, the number of pixels may be larger, for example, about 120 × 160 pixels.

レーザ光線600の受光位置は、例えば、受光面124aを構成するすべての光検出素子の検出信号強度について重心を求めることで特定することができる。すなわち、行番号p,列番号qの光検出素子の座標をXpqとし、この光検出素子の検出信号強度をI(Xpq)とすると、受光位置を表す座標Z1は次式に従って算出することができる。   The light receiving position of the laser beam 600 can be specified, for example, by obtaining the center of gravity for the detection signal intensities of all the light detecting elements constituting the light receiving surface 124a. That is, if the coordinates of the photodetecting elements of row number p and column number q are Xpq and the detection signal intensity of this photodetecting element is I (Xpq), the coordinate Z1 representing the light receiving position can be calculated according to the following equation. .

Z1=Σ{Xpq×I(Xpq)}/ΣI(Xpq) (1)       Z1 = Σ {Xpq × I (Xpq)} / ΣI (Xpq) (1)

また例えば、レーザ光線600の受光位置は、受光領域のp方向における最大幅に対応した線分と受光領域のq方向における最大幅に対応した線分との交点として求めることができる。すなわち、検出信号強度が所定のしきい値を超えた光検出素子が最も長く連続する座標範囲を、p方向について[Xpa1,qa ,Xpa2,qa]とし、q方向について[Xpb,qb1 ,Xpb,qb2]とすると、受光位置を表す座標Z1は次式のようになる。   For example, the light receiving position of the laser beam 600 can be obtained as an intersection of a line segment corresponding to the maximum width in the p direction of the light receiving region and a line segment corresponding to the maximum width in the q direction of the light receiving region. That is, the coordinate range in which the photodetection elements whose detection signal intensity exceeds a predetermined threshold continues for the longest is [Xpa1, qa, Xpa2, qa] in the p direction and [Xpb, qb1, Xpb, qb2], the coordinate Z1 representing the light receiving position is as follows.

Z1=Xpb,qa (2)       Z1 = Xpb, qa (2)

なお、レーザ光線600の受光位置は、行方向および列方向のうち受光位置が主に変化するいずれか一方の所定方向の座標のみで表してもよい。   The light receiving position of the laser beam 600 may be represented only by coordinates in a predetermined direction in which the light receiving position mainly changes among the row direction and the column direction.

このように、レーザ光線600の受光位置を特定する方法は種々考えられるが、いずれの方法を採用してもよい。   As described above, various methods for specifying the light receiving position of the laser beam 600 are conceivable, but any method may be adopted.

図10は、搬送部112の構成を示す図である。同図に示すように、搬送部112は、送りローラ202、受けローラ204およびモータ(motor)206を有する。これらは基台104の上に回転軸が平行になるように取り付けられている。   FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of the transport unit 112. As shown in the figure, the transport unit 112 includes a feed roller 202, a receiving roller 204, and a motor 206. These are mounted on the base 104 so that the rotation axes thereof are parallel to each other.

送りローラ202は天板102の下面に接触し、摩擦を利用して天板102を水平方向に送るようになっている。受けローラ204は、送りローラ202に関して天板繰り出し側に取り付けられる。モータ206は、送りローラ202に関して天板引き戻し側に取り付けられる。   The feed roller 202 contacts the lower surface of the top plate 102 and feeds the top plate 102 in the horizontal direction by using friction. The receiving roller 204 is attached to the top feeding side with respect to the feeding roller 202. The motor 206 is attached to the top plate retracting side with respect to the feed roller 202.

送りローラ202とモータ206は、それぞれのプーリ(pulley)222,262同士がベルト(belt)264によって連結され、モータ206から送りローラ202回転力を与えるようになっている。なお、送りローラ202とモータ206の連結は、プーリとベルトの代わりに歯車等の適宜の回転伝達手段によって行うようにしてもよい。   The feed roller 202 and the motor 206 are configured such that the pulleys 222 and 262 are coupled to each other by a belt 264 so that the motor 206 applies a rotational force to the feed roller 202. The connection between the feed roller 202 and the motor 206 may be performed by an appropriate rotation transmission means such as a gear instead of the pulley and the belt.

モータ206は可逆的に回転可能なものである。したがって、天板102は送りローラ202によって水平方向に可逆的に送られ、繰り出し(右方向)および引き戻し(左方向)が行われる。このようなモータを有することにより、送りローラ202を適切に駆動することができる。   The motor 206 is reversibly rotatable. Therefore, the top plate 102 is fed reversibly in the horizontal direction by the feed roller 202, and is fed out (right direction) and pulled back (left direction). By having such a motor, the feed roller 202 can be appropriately driven.

送りローラ202の回転軸は、基台104に固定された軸受によって支えられている。このことを黒く塗りつぶした三角形で表す。送りローラ202の回転軸に、基台104に立てられた柱224が遊嵌している。送りローラ202の回転軸の位置が固定されているので、送りローラ202による天板102の支持剛性を高めることができる。   The rotation shaft of the feed roller 202 is supported by a bearing fixed to the base 104. This is represented by a black triangle. A column 224 erected on the base 104 is loosely fitted on the rotation shaft of the feed roller 202. Since the position of the rotation shaft of the feed roller 202 is fixed, the support rigidity of the top plate 102 by the feed roller 202 can be increased.

受けローラ204は、基台104上の柱244に取り付けられ、天板102の下面と対向するようになっている。   The receiving roller 204 is attached to a column 244 on the base 104 and is opposed to the lower surface of the top plate 102.

このような搬送部112によって天板102を繰り出すと、繰出し量すなわちオーバーハング量の増加とともに、天板102の自重と対象8の体重を合わせた荷重によって天板102に作用する曲げモーメントすなわちオーバーハング荷重が増加し天板102が下に撓む。これに伴い、基台104に作用する曲げモーメントも増加し基台104が下に撓む。基台104が下に撓むと、レーザ光源122から射出されたレーザ光線600の光検出器124に対する相対的な位置が変化する。これにより、基台104の僅かな撓みをレーザ光線600の受光位置の変化として検出することができる。   When the top plate 102 is fed out by such a transport unit 112, the bending amount acting on the top plate 102, that is, the overhang, is increased by the load that combines the weight of the top plate 102 and the weight of the subject 8 with the increase in the feed amount, ie, the overhang amount. The load increases and the top plate 102 bends downward. Along with this, the bending moment acting on the base 104 also increases and the base 104 bends downward. When the base 104 bends downward, the relative position of the laser beam 600 emitted from the laser light source 122 with respect to the photodetector 124 changes. Thereby, slight bending of the base 104 can be detected as a change in the light receiving position of the laser beam 600.

受光位置特定部125は、光検出部124を構成する個々の光検出素子124(pq)の検出信号を用いてレーザ光線600の受光位置を上述のような方法で特定し、制御部116は、特定された受光位置に基づいて、送りローラ202が天板102を搬送する力を制御する。   The light receiving position specifying unit 125 specifies the light receiving position of the laser beam 600 by using the detection signals of the individual light detecting elements 124 (pq) constituting the light detecting unit 124, and the control unit 116 Based on the specified light receiving position, the force with which the feed roller 202 conveys the top plate 102 is controlled.

搬送力の制御は、例えば、所定の基準位置とレーザ光線600の受光位置との差異の大きさに基づいて搬送力を変える制御である。より具体的には、例えば、天板102を繰り出す前の状態における光検出器124の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と天板102の繰出し後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータ(parameter)を算出し、そのパラメータが所定の閾値Mを超えない間は搬送力を200〔N〕(ニュートン;newton)とし、閾値Mを超えたときは300〔N〕に上げるような制御である。   The control of the transport force is a control for changing the transport force based on the magnitude of the difference between a predetermined reference position and the light receiving position of the laser beam 600, for example. More specifically, for example, the light receiving position specified by using the detection signal of the photodetector 124 in the state before the top plate 102 is fed out is used as the reference position, and the reference position and the top plate 102 are specified after feeding out. A predetermined parameter (parameter) such as a distance to the light receiving position or a length indicating a horizontal component or a vertical component of the distance is calculated, and the conveyance force is set to 200 while the parameter does not exceed the predetermined threshold M. The control is such that [N] (newton) is set and when the threshold value M is exceeded, the value is increased to 300 [N].

なお、搬送力の制御はこれに限らず、閾値を多段階に設定しそれら閾値に対するパラメータ値の大小に応じて搬送力を多段階に制御するようにしてもよく、あるいは、パラメータ値に応じて搬送力を連続的に制御するようにしてもよい。また、レーザ光線600の受光位置と適切な搬送力との対応関係を予め実験等により求め、この対応関係を参照して搬送力を制御するようにしてもよい。   In addition, the control of the conveyance force is not limited to this, and the threshold value may be set in multiple stages, and the conveyance force may be controlled in multiple stages according to the magnitude of the parameter value with respect to the threshold value, or depending on the parameter value The conveyance force may be continuously controlled. Further, a correspondence relationship between the light receiving position of the laser beam 600 and an appropriate conveyance force may be obtained in advance by experiments or the like, and the conveyance force may be controlled with reference to this correspondence relationship.

また例えば、天板102を繰り出す前の状態において、対象8を天板102に載置する前の状態における光検出器124の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象8を天板102に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板102の繰出し量と搬送力との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブル(look−up
table)を参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板102の繰出し量に基づいて搬送力を変化させるように制御してもよい。
Further, for example, in the state before the top plate 102 is extended, the light receiving position specified by using the detection signal of the light detector 124 in the state before the object 8 is placed on the top plate 102 is used as the reference position. And a predetermined parameter such as a distance between the light receiving position specified after placing the object 8 on the top plate 102 or a length indicating a horizontal component or a vertical component of the distance, and the like. Look-up table (look-up) that defines the correspondence between feed amount and transport force for each parameter range
(table), the conveyance force may be controlled to be changed based on the feeding amount of the top plate 102 in accordance with the correspondence relationship according to the calculated parameter value.

このような本実施形態によれば、受光位置特定部125が、天板102を支持する基台104に設けられたレーザ光源122と光検出器124とにより、天板102の繰出しに伴う基台104の撓みの程度に応じて変化するレーザ光線600の受光位置を特定し、制御部116がその受光位置に基づいて天板102に与える搬送力を制御するので、テーブルの構造設計を大幅に変更することなく、基台104の僅かな撓みをレーザ光線600の受光位置の変化として検出することで、天板102の曲げモーメントすなわちオーバーハング荷重を間接的に感度よく検出することができ、天板102の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板102の搬送力の余裕が適切なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するX線CT装置を実現することができる。   According to the present embodiment, the light receiving position specifying unit 125 is mounted on the base board accompanying the extension of the top board 102 by the laser light source 122 and the photodetector 124 provided on the base board 104 that supports the top board 102. The light receiving position of the laser beam 600 that changes in accordance with the degree of bending of the 104 is specified, and the control unit 116 controls the conveying force applied to the top plate 102 based on the light receiving position, so the structural design of the table is significantly changed. Without detecting the bending of the base plate 104 as a change in the light receiving position of the laser beam 600, the bending moment of the top plate 102, that is, the overhang load can be indirectly detected with high sensitivity. A table system having a simple structure and an appropriate margin of the conveying force of the top plate 102 while maintaining a high support rigidity of the 102, and an X-ray having such a table system It is possible to realize a T device.

以下、本発明の第2の実施形態から第4の実施形態として、レーザ光源112と光検出器124とを用いて基台104の撓みを検知する機構を応用して天板102の撓みを補正するテーブルシステムおよびX線CT装置について説明する。   Hereinafter, as a second embodiment to a fourth embodiment of the present invention, a mechanism for detecting the deflection of the base 104 using the laser light source 112 and the photodetector 124 is applied to correct the deflection of the top plate 102. A table system and an X-ray CT apparatus will be described.

(第2の実施形態)
本発明の第2の実施形態によるテーブルシステムおよびX線CT装置について説明する。本実施形態によるテーブルシステム200の機械的な構造は、図5に示すように、第1の実施形態によるテーブルシステム100と略同じ構造であるが、基台104はアクチュエータ(actuator)等で構成される傾き調整機構113を有し、基台104の垂直方向の傾きが調整可能である。
(Second Embodiment)
A table system and an X-ray CT apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described. As shown in FIG. 5, the mechanical structure of the table system 200 according to the present embodiment is substantially the same as that of the table system 100 according to the first embodiment. However, the base 104 is configured by an actuator or the like. And the tilt of the base 104 in the vertical direction can be adjusted.

図11は、本実施形態によるテーブルシステム200の要部を示すブロック図である。テーブルシステム200は、基台104に設けられたレーザ光源122と光検出器124と、受光位置特定部125、撓み角算出部126、制御部116を有する。受光位置特定部125は、光検出器124の検出信号に基づいてレーザ光線600の受光位置を特定する。また、撓み角算出部126は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線600の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線600の受光位置との間の差異の大きさと、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係とに基づいて、撮影空間Sにおける天板102の撓み角を算出する。すなわち、撓み角算出部126は、基台104の撓みの程度に基づいて天板102の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板102の繰出し量等に基づいて、天板102の撮影空間Sに位置する部分の撓み角を算出する。撮影空間Sは、例えば図4に示すように、対象8の体軸上で厚さthとなるX線ビーム500を照射してスキャンする場合に、このスキャンで得られた投影データから断層像が再構成される厚さthの空間を意味する。制御部116は、天板102の撮影空間Sに位置する部分の傾きが上記算出された撓み角分補償されるよう傾き調整機構113を制御して基台104の傾きを制御する。上記した、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。   FIG. 11 is a block diagram showing a main part of the table system 200 according to the present embodiment. The table system 200 includes a laser light source 122 and a photodetector 124 provided on the base 104, a light receiving position specifying unit 125, a deflection angle calculating unit 126, and a control unit 116. The light receiving position specifying unit 125 specifies the light receiving position of the laser beam 600 based on the detection signal of the photodetector 124. Further, the deflection angle calculation unit 126 determines the magnitude of the difference between the light receiving position of the laser beam 600 specified before feeding the top plate and the light receiving position of the laser beam 600 specified after feeding the top plate, Based on the correspondence between the degree of bending and the degree of bending of the base 104, the bending angle of the top plate 102 in the imaging space S is calculated. That is, the bend angle calculation unit 126 calculates the bend amount and bend angle of the tip of the top plate 102 based on the degree of bend of the base 104, and shoots the top plate 102 based on the extension amount of the top plate 102 and the like. The deflection angle of the part located in the space S is calculated. For example, as shown in FIG. 4, when the imaging space S is scanned by irradiating an X-ray beam 500 having a thickness th on the body axis of the object 8, a tomographic image is obtained from the projection data obtained by this scan. It means a reconstructed space of thickness th. The control unit 116 controls the inclination of the base 104 by controlling the inclination adjusting mechanism 113 so that the inclination of the portion of the top plate 102 located in the imaging space S is compensated for the calculated deflection angle. The above-described correspondence relationship between the degree of bending of the top plate 102 and the degree of bending of the base 104 may be obtained in advance through experiments or the like, for example.

なお、基台104の傾きの制御については、レーザ光線600の受光位置と補償すべき撓み角との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線600の受光位置から直接、基台104の傾きを制御するようにしてもよい。   For the control of the tilt of the base 104, a correspondence relationship between the light receiving position of the laser beam 600 and the deflection angle to be compensated is obtained in advance by experiments or the like, and the laser beam 600 is received by referring to the correspondence relationship. You may make it control the inclination of the base 104 directly from a position.

また例えば、天板102を繰り出す前の状態において、対象8を天板102に載置する前の状態における光検出器124の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象8を天板102に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板102の繰出し量と天板102の補償すべき撓み角との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブルを参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板102の繰出し量に基づいて天板102の撓み角を補償するように制御してもよい。   Further, for example, in the state before the top plate 102 is extended, the light receiving position specified by using the detection signal of the light detector 124 in the state before the object 8 is placed on the top plate 102 is used as the reference position. And a predetermined parameter such as a distance between the light receiving position specified after placing the object 8 on the top plate 102 or a length indicating a horizontal component or a vertical component of the distance, and the like. With reference to a look-up table that defines the correspondence between the feed amount and the deflection angle to be compensated for the top plate 102 for each parameter range, the top plate 102 is in accordance with the correspondence relationship according to the calculated parameter value. Control may be performed so as to compensate for the deflection angle of the top plate 102 based on the amount of feed.

このような本実施形態によれば、天板102が撓んでもスライス面が対象8の体軸に対して垂直である断層像を得ることができる。   According to the present embodiment, a tomographic image in which the slice plane is perpendicular to the body axis of the target 8 can be obtained even if the top plate 102 is bent.

なお、このようなテーブルシステム200を有するX線CT装置も、本発明の実施形態の一例である。   An X-ray CT apparatus having such a table system 200 is also an example of an embodiment of the present invention.

(第3の実施形態)
本発明の第3の実施形態によるテーブルシステムおよびX線CT装置について説明する。本実施形態によるテーブルシステム300の機械的な構造は、図5に示すように、第1の実施形態によるテーブルシステム100と略同じ構造であるが、基台104は昇降機構114を有し、基台104の高さが調整可能である。
(Third embodiment)
A table system and an X-ray CT apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described. As shown in FIG. 5, the mechanical structure of the table system 300 according to the present embodiment is substantially the same as that of the table system 100 according to the first embodiment, but the base 104 has an elevating mechanism 114. The height of the table 104 can be adjusted.

図12は、本実施形態によるテーブルシステム300の要部を示すブロック図である。テーブルシステム300は、基台104に設けられたレーザ光源122と光検出器124と、受光位置特定部125、撓み量算出部127、制御部116を有する。受光位置特定部125は、光検出器124の検出信号に基づいてレーザ光線600の受光位置を特定する。また、撓み量算出部127は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線600の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線600の受光位置との間の差異の大きさと、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係とに基づいて、天板102の撮影空間Sに位置する部分の撓み量を算出する。すなわち、撓み量算出部126は、基台104の撓みの程度に基づいて天板102の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板102の繰出し量等に基づいて、天板102の撮影空間に位置する部分の撓み量を算出する。制御部116は、天板102の撮影空間Sに位置する部分の高さが上記算出された撓み量分補償されるよう昇降機構114を制御して基台104の高さを制御する。上記した、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。   FIG. 12 is a block diagram showing a main part of the table system 300 according to the present embodiment. The table system 300 includes a laser light source 122 and a photodetector 124 provided on the base 104, a light receiving position specifying unit 125, a deflection amount calculating unit 127, and a control unit 116. The light receiving position specifying unit 125 specifies the light receiving position of the laser beam 600 based on the detection signal of the photodetector 124. Further, the bending amount calculation unit 127 determines the difference between the light receiving position of the laser beam 600 specified before the top plate is extended and the light receiving position of the laser beam 600 specified after the top plate is extended, Based on the correspondence between the degree of bending and the degree of bending of the base 104, the amount of bending of the portion of the top plate 102 located in the imaging space S is calculated. That is, the bending amount calculation unit 126 calculates the bending amount and the bending angle of the tip of the top plate 102 based on the degree of bending of the base 104, and shoots the top plate 102 based on the feeding amount of the top plate 102 and the like. The amount of deflection of the portion located in the space is calculated. The control unit 116 controls the height of the base 104 by controlling the lifting mechanism 114 so that the height of the portion of the top plate 102 located in the imaging space S is compensated by the calculated amount of deflection. The above-described correspondence relationship between the degree of bending of the top plate 102 and the degree of bending of the base 104 may be obtained in advance through experiments or the like, for example.

なお、基台104の高さの制御については、レーザ光線600の受光位置と補償すべき撓み量との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線600の受光位置から直接、基台104の高さを制御するようにしてもよい。   As for the control of the height of the base 104, a correspondence relationship between the light receiving position of the laser beam 600 and the amount of deflection to be compensated is obtained in advance by experiments or the like, and the correspondence relationship is referred to by referring to the correspondence relationship. The height of the base 104 may be controlled directly from the light receiving position.

また例えば、天板102を繰り出す前の状態において、対象8を天板102に載置する前の状態における光検出器124の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象8を天板102に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板102の繰出し量と天板102の補償すべき撓み量との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブルを参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板102の繰出し量に基づいて天板102の撓み量を補償するように制御してもよい。   Further, for example, in the state before the top plate 102 is extended, the light receiving position specified by using the detection signal of the light detector 124 in the state before the object 8 is placed on the top plate 102 is used as the reference position. And a predetermined parameter such as a distance between the light receiving position specified after placing the object 8 on the top plate 102 or a length indicating a horizontal component or a vertical component of the distance, and the like. With reference to a look-up table that defines the correspondence relationship between the feed amount and the deflection amount to be compensated for the top plate 102 for each parameter range, the top plate 102 is in accordance with the correspondence relationship according to the calculated parameter value. Control may be made so as to compensate for the amount of deflection of the top plate 102 based on the amount of the feed.

このような本実施形態によれば、天板102が撓んでも撮影空間Sに対して対象8の体軸がぶれない断層像を得ることができる。   According to the present embodiment as described above, a tomographic image in which the body axis of the object 8 does not shake with respect to the imaging space S can be obtained even if the top plate 102 is bent.

なお、このようなテーブルシステム300を有するX線CT装置も、本発明の実施形態の一例である。   An X-ray CT apparatus having such a table system 300 is also an example of an embodiment of the present invention.

(第4の実施形態)
本発明の第4の実施形態による、テーブルシステムを有するX線CT装置について説明する。本実施形態によるX線CT装置の構成は、図1に示すように、第1の実施形態による構成と基本的に同じである。また、本装置が有するテーブルシステム400の機械的な構造も、図5に示すように、第1の実施形態によるテーブルシステム100と略同じ構造である。
(Fourth embodiment)
An X-ray CT apparatus having a table system according to a fourth embodiment of the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus according to the present embodiment is basically the same as the configuration according to the first embodiment, as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 5, the mechanical structure of the table system 400 included in the present apparatus is substantially the same as that of the table system 100 according to the first embodiment.

図13は、本実施形態によるテーブルシステム400の要部を示すブロック図である。テーブルシステム400は、基台104に設けられたレーザ光源122と光検出器124と、受光位置特定部125、撓み算出部128を有する。受光位置特定部125は、光検出器124の検出信号に基づいてレーザ光線600の受光位置を特定する。また、撓み算出部128は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線600の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線600の受光位置との間の差異の大きさと、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係とに基づいて、天板102の撮影空間Sに位置する部分の撓み量および撓み角を算出する。すなわち、撓み算出部128は、基台104の撓みの程度に基づいて天板102の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板102の繰出し量等に基づいて、天板102の撮影空間Sに位置する部分の撓み量および撓み角を算出する。算出された撓み量および撓み角は、制御インタフェース62を介して、データ処理装置60に送られる。データ処理装置60は、投影データを再構成する際に、入力された天板102の撓み量および撓み角を用いて、再構成される画像が、天板102の撮影空間Sに位置する部分を上記算出された撓み量および撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行う。上記した、天板102の撓みの程度と基台104の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。   FIG. 13 is a block diagram showing a main part of the table system 400 according to the present embodiment. The table system 400 includes a laser light source 122 and a photodetector 124 provided on the base 104, a light receiving position specifying unit 125, and a deflection calculating unit 128. The light receiving position specifying unit 125 specifies the light receiving position of the laser beam 600 based on the detection signal of the photodetector 124. In addition, the bending calculation unit 128 determines the magnitude of the difference between the light receiving position of the laser beam 600 specified before feeding the top plate and the light receiving position of the laser beam 600 specified after feeding the top plate, and the bending of the top plate 102. Based on the correspondence relationship between the degree of the above and the degree of bending of the base 104, the bending amount and the bending angle of the portion of the top plate 102 located in the imaging space S are calculated. That is, the bending calculation unit 128 calculates the bending amount and the bending angle of the tip of the top plate 102 based on the degree of bending of the base 104, and the imaging space of the top plate 102 based on the feeding amount of the top plate 102 and the like. The amount of bending and the bending angle of the portion located at S are calculated. The calculated deflection amount and deflection angle are sent to the data processing device 60 via the control interface 62. When the data processing device 60 reconstructs the projection data, it uses the input deflection amount and deflection angle of the top plate 102 to select a portion where the reconstructed image is located in the imaging space S of the top plate 102. Data processing is performed so as to obtain an image obtained when scanning is performed by compensating the calculated deflection amount and deflection angle. The above-described correspondence relationship between the degree of bending of the top plate 102 and the degree of bending of the base 104 may be obtained in advance through experiments or the like, for example.

なお、データ処理については、レーザ光線600の受光位置と補償すべき撓み量および撓み角との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線600の受光位置を用いてデータ処理を行うようにしてもよい。   In the data processing, the correspondence relationship between the light receiving position of the laser beam 600 and the deflection amount and the deflection angle to be compensated is obtained in advance by experiments or the like, and the light receiving position of the laser beam 600 is determined by referring to the correspondence relationship. May be used to perform data processing.

また例えば、天板102を繰り出す前の状態において、対象8を天板102に載置する前の状態における光検出器124の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象8を天板102に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板102の繰出し量と天板102の撓み量および撓み角との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブル(look−up
table)を参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板102の繰出し量に基づいて撓み量および撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うようにしてもよい。
Further, for example, in the state before the top plate 102 is extended, the light receiving position specified by using the detection signal of the light detector 124 in the state before the object 8 is placed on the top plate 102 is used as the reference position. And a predetermined parameter such as a distance between the light receiving position specified after placing the object 8 on the top plate 102 or a length indicating a horizontal component or a vertical component of the distance, and the like. A look-up table (look-up) that defines the correspondence between the feed amount and the deflection amount and deflection angle of the top plate 102 for each parameter range.
data) so that an image is obtained when scanning is performed by compensating for the deflection amount and the deflection angle based on the feed amount of the top plate 102 in accordance with the correspondence relationship according to the calculated parameter value. Processing may be performed.

このような本実施形態によれば、天板102が撓んでもスライス面が対象8の体軸に対して垂直であり、撮影空間Sに対して対象8の体軸がぶれない断層像を得ることができる。   According to the present embodiment, a tomographic image is obtained in which the slice plane is perpendicular to the body axis of the target 8 even when the top plate 102 is bent, and the body axis of the target 8 is not blurred with respect to the imaging space S. be able to.

なおここでは、天板102の撓み量と撓み角の両方を算出し、再構成された画像がこれら両方を補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理をしているが、天板102の撓み量または撓み角のいずれか一方を算出し、再構成された画像がこのいずれか一方を補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理をするようにしてもよい。   Here, both the amount of deflection and the angle of deflection of the top plate 102 are calculated, and data processing is performed so that the reconstructed image becomes an image obtained by scanning both with compensation of these. Either one of the deflection amount or the deflection angle of the plate 102 may be calculated, and data processing may be performed so that the reconstructed image becomes an image obtained when scanning is performed by compensating either one of these.

上記第2から第4の実施形態によれば、特に、治療計画に使用されるCT装置、PET CT装置、およびNUC CT装置において、天板102の撓み補正が可能となる。これにより、大幅なコスト増大や大型化が必要となる、より剛性の高い天板102や基台104を用いずとも、天板102および基台104自体の撓みが断層像の位置精度に及ぼす影響を避けることができる。   According to the second to fourth embodiments, the deflection of the top plate 102 can be corrected particularly in the CT apparatus, the PET CT apparatus, and the NUC CT apparatus used for the treatment plan. As a result, the influence of the deflection of the top plate 102 and the base 104 itself on the positional accuracy of the tomographic image without using the more rigid top plate 102 and base 104, which requires a significant increase in cost and size. Can be avoided.

(その他の実施形態)
図14は、基台104内の要部の他の例を示す図であり、レーザ光源122と光検出器124とが基台104のパイプフレーム104aの一端部側に設けられ、光反射板123が他端部側に設けられた様子を示している。
(Other embodiments)
FIG. 14 is a diagram showing another example of the main part in the base 104, in which a laser light source 122 and a photodetector 124 are provided on one end side of the pipe frame 104 a of the base 104, and the light reflecting plate 123. Is shown on the other end side.

上記第1から第4の実施形態では、レーザ光線600の光路は単直線状であるが、同図に示すように、レーザ光源122により発生したレーザ光線600を少なくとも1回反射させる光反射板等の光学系をさらに設け、レーザ光線600の光路を折れ線状にしてもよい。このようにすれば、レーザ光線600の光路長をより長くして基台104の撓みの程度に対するレーザ光線600の受光位置の変化量を大きくすることができ、天板102の撓みの検出感度をより高くすることができる。   In the first to fourth embodiments, the optical path of the laser beam 600 is a single straight line. However, as shown in the figure, a light reflector or the like that reflects the laser beam 600 generated by the laser light source 122 at least once. This optical system may be further provided, and the optical path of the laser beam 600 may be a polygonal line. In this way, the optical path length of the laser beam 600 can be made longer, and the amount of change in the light receiving position of the laser beam 600 with respect to the degree of deflection of the base 104 can be increased, and the detection sensitivity of the deflection of the top plate 102 can be increased. Can be higher.

また、上記第1から第4の実施形態では、レーザ光源122は基台104の天板繰出し方向における一端部側に配され、光検出器124は基台104の他端部側に配されているが、同図に示すように、上記光学系をさらに設けて、レーザ光源122と光検出器124を、共に基台104の天板繰出し方向における一端部側に配するようにしてもよい。このようにすれば、レーザ光源122と光検出器124とを近接して配置することができ、レーザ光源122を制御する制御信号や光検出器124の検出信号を送信するための配線を短くすることが可能であり、テーブルシステムの構造をより簡素化できる。   In the first to fourth embodiments, the laser light source 122 is arranged on one end side in the top plate feeding direction of the base 104, and the photodetector 124 is arranged on the other end side of the base 104. However, as shown in the figure, the above optical system may be further provided so that the laser light source 122 and the photodetector 124 are both arranged on one end side in the top plate feeding direction of the base 104. In this way, the laser light source 122 and the photodetector 124 can be arranged close to each other, and the control signal for controlling the laser light source 122 and the wiring for transmitting the detection signal of the photodetector 124 are shortened. It is possible to simplify the structure of the table system.

なお、光反射板等の光学系を用いてレーザ光線を反射させる場合には、光反射面は曲面にしてもよい。このようにすれば、基台104の撓みの程度に対するレーザ光線600の受光位置の変化量をその曲面の曲率で調整することができ、天板102の撓みの検出感度を所望の感度に容易に調整することができる。   In addition, when reflecting a laser beam using optical systems, such as a light reflection board, you may make a light reflection surface into a curved surface. In this way, the amount of change in the light receiving position of the laser beam 600 with respect to the degree of bending of the base 104 can be adjusted by the curvature of the curved surface, and the detection sensitivity of the bending of the top plate 102 can be easily set to a desired sensitivity. Can be adjusted.

また、上記の第1から第4の実施形態では、レーザ光線を用いたが、指向性を有する電磁波であれば、可視、非可視を問わず用いることができる。   In the first to fourth embodiments, the laser beam is used. However, any electromagnetic wave having directivity can be used regardless of visible or invisible.

発明を実施するための最良の形態の一例であるX線CT装置のブロック図1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus which is an example of the best mode for carrying out the invention. X線検出器の構成を示す図Diagram showing the configuration of the X-ray detector X線照射・検出装置の構成を示す図Diagram showing the configuration of the X-ray irradiation / detection device X線照射・検出装置と対象との関係を示す図Diagram showing the relationship between X-ray irradiation / detection device and target テーブルシステムの機械的な構造を概略的に示す図Diagram showing the mechanical structure of the table system テーブルシステムの要部を示すブロック図。The block diagram which shows the principal part of a table system. 基台内の要部を示す図The figure which shows the principal part in the base 光検出器の模式的構成を示す図The figure which shows the typical structure of a photodetector レーザ光線の受光領域が変化した様子を示す図The figure which shows a mode that the acceptance area of the laser beam changed 搬送部の構成を示す図Diagram showing the configuration of the transport unit 他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図The block diagram which shows the principal part of the table system by other embodiment. また他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図The block diagram which shows the principal part of the table system by other embodiment. さらに他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図The block diagram which shows the principal part of the table system by other embodiment. 基台内の要部の他の例を示す図The figure which shows the other example of the principal part in a base

符号の説明Explanation of symbols

2 走査ガントリ
6 操作コンソール
20 X線管
22 コリメータ
24 X線検出器
26 データ収集部
28 X線コントローラ
30 コリメータコントローラ
34 回転部
36 回転コントローラ
60 データ処理装置
62 制御インタフェース
64 データ収集バッファ
66 記憶装置
68 表示装置
100,200,300,400 テーブルシステム
102 天板
104 基台
104a パイプフレーム
112 搬送部(搬送手段)
113 傾き調整機構
114 昇降機構
116 制御部(制御手段)
118 駆動部
120 ローパスフィルタ
122 レーザ光源(光発生手段)
123 光反射板(光学系)
124 光検出器(光検出手段)
124a 受光面
125 受光位置特定部(受光位置特定手段)
126 撓み角算出部
127 撓み量算出部
128 撓み算出部
144 車輪
202 送りローラ
204 受けローラ
206 モータ
222 プーリ
224 柱
262 プーリ
264 ベルト
500 X線ビーム
600 レーザ光線(光束)
2 Scanning gantry 6 Operation console 20 X-ray tube 22 Collimator 24 X-ray detector 26 Data acquisition unit 28 X-ray controller 30 Collimator controller 34 Rotation unit 36 Rotation controller 60 Data processing device 62 Control interface 64 Data acquisition buffer 66 Storage device 68 Display Apparatus 100, 200, 300, 400 Table system 102 Top plate 104 Base 104a Pipe frame 112 Conveying section (conveying means)
113 Inclination adjusting mechanism 114 Elevating mechanism 116 Control unit (control means)
118 Drive unit 120 Low-pass filter 122 Laser light source (light generating means)
123 Light reflector (optical system)
124 photodetector (light detection means)
124a Light receiving surface 125 Light receiving position specifying unit (light receiving position specifying means)
126 Deflection angle calculation unit 127 Deflection amount calculation unit 128 Deflection calculation unit 144 Wheel 202 Feed roller 204 Receiving roller 206 Motor 222 Pulley 224 Column 262 Pulley 264 Belt 500 X-ray beam 600 Laser beam (light beam)

Claims (20)

基台と、
前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、
前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、
前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備するテーブルシステム。
The base,
A top plate supported so as to be able to be fed out from the base in the horizontal direction;
Conveying means for applying a conveying force to the top plate to convey the top plate in the top plate feeding direction;
Light generating means for generating a light beam provided on the base, and light detecting means for detecting the light beam on a light receiving surface, the light detecting means for changing the light receiving position according to the deflection of the base. A table system comprising: a deflection detection unit configured to detect deflection of the base by detecting the light receiving position.
前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、請求項1に記載のテーブルシステム。   2. The table system according to claim 1, further comprising a control unit configured to control the transport unit based on the detected light receiving position so that the transport force increases as the degree of bending of the base increases. 前記基台は、垂直方向の傾きが調整可能であり、
前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の傾きが該部分の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、請求項1に記載のテーブルシステム。
The base is adjustable in vertical inclination,
The apparatus further comprises control means for controlling the inclination of the base so that the inclination of the portion of the top panel located in the imaging space is compensated by the deflection angle of the part based on the detected light receiving position. The table system according to 1.
前記基台は、高さ調整可能であり、
前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、請求項1に記載のテーブルシステム。
The base is adjustable in height,
Control means for controlling the height of the base so that the height of the portion located in the imaging space of the top plate is compensated by the amount of deflection of the portion based on the detected light receiving position, The table system according to claim 1.
前記制御手段は、天板繰出し前に検出された前記光束の受光位置と天板繰出し後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、請求項2から請求項4のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The control unit performs control based on a magnitude of a difference between a light receiving position of the light beam detected before the top plate is extended and a light receiving position of the light beam detected after the top plate is extended. Item 5. The table system according to any one of Items4. 前記制御手段は、対象を前記天板に載置する前に検出された前記光束の受光位置と前記対象を前記天板に載置した後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、請求項2から請求項4のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The control means determines the difference between the light receiving position of the light beam detected before placing the target on the top plate and the light receiving position of the light beam detected after placing the target on the top plate. The table system according to any one of claims 2 to 4, wherein the table system is controlled based on a size. 前記光発生手段は、天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向の光束を発生し、
前記光検出手段は、前記受光位置が前記基台の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられ、前記受光位置が反映された検出信号を出力し、
前記撓み検出手段は、前記検出信号に基づいて前記受光位置を特定する受光位置特定手段を具備する、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のテーブルシステム。
The light generating means generates a light beam in a predetermined direction including a component in the same direction as the top plate feeding direction,
The light detection means is provided at a position where the light receiving position changes according to the degree of bending of the base, and outputs a detection signal reflecting the light receiving position,
The table system according to any one of claims 1 to 6, wherein the deflection detection unit includes a light reception position specifying unit that specifies the light reception position based on the detection signal.
前記光束の光路は単直線状である、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The table system according to any one of claims 1 to 7, wherein an optical path of the light beam is a single straight line. 前記光束を少なくとも1回反射させる光学系をさらに具備し、
前記光束の光路は折れ線状である、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載のテーブルシステム。
An optical system that reflects the light beam at least once;
The table system according to any one of claims 1 to 8, wherein an optical path of the light beam is a polygonal line.
前記光学系の光反射面は曲面である、請求項9に記載のテーブルシステム。   The table system according to claim 9, wherein the light reflecting surface of the optical system is a curved surface. 前記光発生手段は前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配され、前記光検出手段は前記基台の他端部側に配される、請求項8から請求項10のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The said light generation means is distribute | arranged to the one end part side in the top-plate delivery direction of the said base, The said light detection means is distribute | arranged to the other end part side of the said base, The any one of Claims 8-10. The table system described in the section. 前記光発生手段と前記光検出手段は、共に前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配される、請求項9または請求項10に記載のテーブルシステム。   The table system according to claim 9 or 10, wherein both the light generation means and the light detection means are arranged on one end side in the top plate feeding direction of the base. 前記基台は天板繰出し方向に伸びるパイプフレームを有し、
前記光発生手段と前記光検出手段とは前記パイプフレーム内に設けられる、請求項1から請求項12のいずれか1項に記載のテーブルシステム。
The base has a pipe frame extending in the top plate feeding direction,
The table system according to any one of claims 1 to 12, wherein the light generation means and the light detection means are provided in the pipe frame.
前記光検出手段の受光面は、多数の電荷結合素子(CCD)で構成される、請求項1から請求項13のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The table system according to any one of claims 1 to 13, wherein a light receiving surface of the light detection means is configured by a large number of charge coupled devices (CCDs). 前記光発生手段はレーザ光源である、請求項1から請求項14のいずれか1項に記載のテーブルシステム。   The table system according to any one of claims 1 to 14, wherein the light generation means is a laser light source. テーブルシステムに搭載されて撮影空間に搬入された対象をX線でスキャンして得られる複数ビューの投影データに基づいて画像を再構成するX線CT装置であって、
前記テーブルシステムは、
基台と、
前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、
前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、
前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備する、X線CT装置。
An X-ray CT apparatus for reconstructing an image based on projection data of a plurality of views obtained by scanning with X-rays an object mounted on a table system and carried into an imaging space,
The table system
The base,
A top plate supported so as to be able to be fed out from the base in the horizontal direction;
Conveying means for applying a conveying force to the top plate to convey the top plate in the top plate feeding direction;
Light generating means for generating a light beam provided on the base, and light detecting means for detecting the light beam on a light receiving surface, the light detecting means for changing the light receiving position according to the deflection of the base. An X-ray CT apparatus comprising: a deflection detecting unit that detects deflection of the base by detecting the light receiving position.
前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、請求項16に記載のX線CT装置。   The X-ray CT apparatus according to claim 16, further comprising a control unit that controls the transport unit so that the transport force is increased when the degree of bending of the base is increased based on the detected light receiving position. . 前記基台は、垂直方向の傾きが調整可能であり、
前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の傾きが該天板の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、請求項16に記載のX線CT装置。
The base is adjustable in vertical inclination,
Control means for controlling the tilt of the base so that the tilt of the portion of the top plate located in the imaging space is compensated for the deflection angle of the top plate based on the detected light receiving position, The X-ray CT apparatus according to claim 16.
前記基台は、高さ調整可能であり、
前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、請求項16に記載のX線CT装置。
The base is adjustable in height,
Control means for controlling the height of the base so that the height of the portion of the top plate located in the imaging space is compensated by the amount of deflection of the portion based on the detected light receiving position. The X-ray CT apparatus according to claim 16.
前記検出された受光位置に基づいて、前記画像が、前記天板の前記撮影空間に位置する部分を該部分の撓み量および/または撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うデータ処理手段をさらに具備する、請求項16に記載のX線CT装置。   Based on the detected light receiving position, the image is an image obtained when a portion of the top plate located in the photographing space is scanned while compensating for the amount of deflection and / or the angle of deflection of the portion. The X-ray CT apparatus according to claim 16, further comprising data processing means for performing data processing.
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