JP2008268008A - Appearance inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、円筒状の対象物の側面状態を検査する外観検査方法に関する。 The present invention relates to an appearance inspection method for inspecting a side surface state of a cylindrical object.
従来、円筒形状の製品を製造した際には、外観検査が行われており、その側面への打痕や傷の有無が検査されている。 Conventionally, when a cylindrical product is manufactured, an appearance inspection is performed, and the presence or absence of dents or scratches on the side surface is inspected.
この検査方法としては、製品の側面外周に照明を円筒軸方向から均等に当て、反射光があれば正常とする一方、凹凸など何らかの障害によって光がカメラ側に来ない場合には、異常として判断していた。 As this inspection method, illuminate the outer periphery of the product evenly from the cylindrical axis direction, and if there is reflected light, it will be normal, but if the light does not come to the camera due to some kind of obstacle such as irregularities, it will be judged as abnormal Was.
しかしながら、このような外観検査方法にあっては、側面での障害の有無を検査することは出来るが、その障害が凹状か凸状かを検査することができなかった。 However, in such an appearance inspection method, it is possible to inspect the presence or absence of a failure on the side surface, but it has not been possible to inspect whether the failure is concave or convex.
このため、打痕や傷によって形成された凹部は異常とする一方、装着されたシュリンク皺による凸部は正常とするといった判別を行うことが出来ないという問題があった。 For this reason, there is a problem that it is impossible to determine that the concave portion formed by a dent or a scratch is abnormal, while the convex portion by the attached shrink ridge is normal.
本発明は、このような従来の課題に鑑みてなされたものであり、側面の凹凸を判別することができる外観検査方法を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made in view of such a conventional problem, and an object of the present invention is to provide an appearance inspection method capable of discriminating unevenness on a side surface.
前記課題を解決するために本発明の請求項1の外観検査方法においては、円筒状の対象物の一端側から当該対象物の側面へ向けて光を照射するとともに、その反射光を前記対象物の他端側で検出して前記側面に設けられた凹凸の有無を検査する外観検査方法であって、前記側面に照射する光の角度を変化した際に前記反射光に生ずる明暗の変化に基づいて凹凸状態を判別する。 In order to solve the above problem, in the appearance inspection method according to claim 1 of the present invention, light is irradiated from one end side of a cylindrical object toward the side surface of the object, and the reflected light is emitted from the object. A visual inspection method for detecting the presence or absence of unevenness provided on the side surface by detecting at the other end of the light source, based on a change in brightness produced in the reflected light when the angle of light applied to the side surface is changed To determine the uneven state.
すなわち、対象物に対して浅い角度で光を照射した場合、側面に設けられた凹部分は、光を反射して白く見える。一方、深い角度で光を照射した場合には、凹部分が影になり黒く見える。 That is, when light is irradiated onto the object at a shallow angle, the concave portion provided on the side surface reflects the light and appears white. On the other hand, when light is irradiated at a deep angle, the concave portion becomes a shadow and appears black.
また、前記側面に設けられた凸部分においては、浅い角度で光を照射した際に、影となり黒く見える。一方、深い角度で光を照射した際には、白く見える。 In addition, the convex portion provided on the side surface becomes a shadow and appears black when irradiated with light at a shallow angle. On the other hand, it looks white when irradiated with light at a deep angle.
このように、前記側面に照射する光の角度を変化した際に、ある箇所が明から暗に変化したか、あるいは暗から明に変化したかによって、その箇所が凹部であるか凸部であるかが判別される。 As described above, when the angle of the light applied to the side surface is changed, the location is a concave portion or a convex portion depending on whether the location has changed from light to dark or from dark to light. Is determined.
また、請求項2の外観検査方法にあっては、照明を前記対象物から遠ざけて前記側面に浅い角度で光を照射する一方、前記照明を前記対象物に近づけて前記側面に深い角度で光を照射する。
In the appearance inspection method according to
このように、前記対象物に対して前記照明を移動することで、前記側面に照射する光の角度を変化することができる。 Thus, by moving the illumination with respect to the object, the angle of light applied to the side surface can be changed.
さらに、請求項3の外観検査方法では、前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一照明部を点灯して前記側面に浅い角度で光を照射する一方、前記第一照明部の外側に設けられたリング状の第二照明部を点灯して前記側面に深い角度で光を照射する。 Furthermore, in the appearance inspection method according to claim 3, the ring-shaped first illumination unit centering on the central axis of the object is turned on to irradiate the side surface with light at a shallow angle, while the first illumination unit A ring-shaped second illumination unit provided on the outside is turned on to irradiate the side surface with light at a deep angle.
すなわち、前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一照明部を点灯することで、前記側面に浅い角度で光を照射することができる。また、前記第一照明部の外側に設けられたリング状の第二照明部を点灯することで、前記側面に深い角度で光を照射することができる。 That is, by turning on the ring-shaped first illuminating unit with the central axis of the object as the center, the side surface can be irradiated with light at a shallow angle. Further, by lighting the ring-shaped second illumination part provided outside the first illumination part, the side surface can be irradiated with light at a deep angle.
加えて、請求項4の外観検査方法にあっては、前記対象物の一端側に設けられたモニタに前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一リング画像を描写して前記側面に浅い角度で光を照射する一方、前記第一リング画像の外側に形成されるリング状の第二リング画像を前記モニタに描写して前記側面に深い角度で光を照射する。 In addition, in the appearance inspection method according to claim 4, a ring-shaped first ring image about the central axis of the object is depicted on a monitor provided on one end side of the object, and the side surface is drawn. While the light is irradiated at a shallow angle, a ring-shaped second ring image formed outside the first ring image is depicted on the monitor, and the side surface is irradiated with light at a deep angle.
すなわち、前記対象物の一端側に設けられたモニタに前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一リング画像を描写することで、この第一リング画像によって前記側面に浅い角度で光を照射することができる。また、前記第一リング画像の外側に形成されるリング状の第二リング画像を前記モニタに描写することで、この第二リング画像によって前記側面に深い角度で光を照射することができる。 That is, a ring-shaped first ring image centered on the central axis of the object is depicted on a monitor provided on one end side of the object, so that light is emitted from the first ring image at a shallow angle on the side surface. Can be irradiated. In addition, by drawing a ring-shaped second ring image formed outside the first ring image on the monitor, the second ring image can irradiate light on the side surface at a deep angle.
以上説明したように本発明の請求項1の外観検査方法においては、対象物の側面に照射する光の角度を変化した際に、ある箇所が明から暗に変化したか、あるいは暗から明に変化したかによって、その箇所が凹部であるか凸部であるかを判別することができる。 As described above, in the appearance inspection method according to claim 1 of the present invention, when the angle of the light applied to the side surface of the object is changed, a certain portion changes from light to dark, or from dark to light. Whether the location is a concave portion or a convex portion can be determined depending on whether or not the change has occurred.
このため、検出箇所が凹部であると判別された場合、この箇所は、打痕や傷である可能性が高いので、異常とすることができる。一方、検出箇所が凸部であると判別された場合、この箇所は、装着されたシュリンクの皺であると考えられるため、正常とすることができる。 For this reason, when it is determined that the detected location is a recess, the location is likely to be a dent or a flaw, and can be made abnormal. On the other hand, when it is determined that the detected location is a convex portion, this location can be considered normal because it is considered to be a wrinkle of the attached shrink.
このように、検出箇所が凹部であるか凸部であるを判別することができるため、凸部の場合と凹部の場合とで異なる検査結果を出すことができる。 Thus, since it can discriminate | determine whether a detection location is a recessed part or a convex part, a different test result can be taken out in the case of a convex part and the case of a recessed part.
また、請求項2の外観検査方法にあっては、前記対象物に対して前記照明を移動することで、前記側面に照射する光の角度を変化させる構造を形成することができる。
In the appearance inspection method according to
さらに、請求項3の外観検査方法では、前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一照明部を点灯することで、前記側面に浅い角度で光を照射することができる。また、前記第一照明部の外側に設けられたリング状の第二照明部を点灯することで、前記側面に深い角度で光を照射することができる。 Furthermore, in the appearance inspection method according to the third aspect, the ring-shaped first illuminating unit centering on the central axis of the object can be lit to irradiate the side surface with light at a shallow angle. Further, by lighting the ring-shaped second illumination part provided outside the first illumination part, the side surface can be irradiated with light at a deep angle.
このように、前記第一照明部又は前記第二照明部を選択的に点灯することで、前記対象物の側面に照射する光の角度を変化させることが出来るため、照明を移動する場合と比較して、側面に浅い角度で光を照射する場合であっても、当該側面に強い光を照射することができる。 In this way, by selectively turning on the first illumination unit or the second illumination unit, the angle of the light applied to the side surface of the object can be changed. Even when light is irradiated on the side surface at a shallow angle, strong light can be irradiated on the side surface.
加えて、請求項4の外観検査方法にあっては、前記対象物の一端側に設けられたモニタに前記対象物の中心軸を中心としたリング状の第一リング画像を描写することで、この第一リング画像によって前記側面に浅い角度で光を照射することができる。また、前記第一リング画像の外側に形成されるリング状の第二リング画像を前記モニタに描写することで、この第二リング画像によって前記側面に深い角度で光を照射することができる。 In addition, in the appearance inspection method according to claim 4, by drawing a ring-shaped first ring image centered on the central axis of the object on a monitor provided on one end side of the object, The first ring image can irradiate the side surface with a shallow angle. In addition, by drawing a ring-shaped second ring image formed outside the first ring image on the monitor, the side surface can be irradiated with light at a deep angle by the second ring image.
このように、前記モニタへの描写によって前記側面に照射される光の角度を調整することができるため、照明を移動する場合と比較して、移動機構が不要となり低コスト化を図ることができる。 As described above, since the angle of the light applied to the side surface can be adjusted by depiction on the monitor, a moving mechanism is not necessary and cost can be reduced compared to the case of moving the illumination. .
また、モニタに描写される画像の変更が容易な為、自由度が向上する。 Moreover, since the image drawn on the monitor can be easily changed, the degree of freedom is improved.
(第一の実施の形態) (First embodiment)
以下、本発明の第一の実施の形態を図に従って説明する。図1は、本実施の形態にかかる外観検査装置1を示す図であり、該外観検査装置1は、円筒状の対象物2としての例えば乾電池の外面の状態を検査する装置である。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an appearance inspection apparatus 1 according to the present embodiment. The appearance inspection apparatus 1 is an apparatus that inspects the state of the outer surface of, for example, a dry battery as a
この外観検査装置1は、図外の透明板等に支持された前記対象物2の下端側に配置された照明11を備えており、該照明11は、図外の移動機構によって上下移動自在に支持されている。この移動機構は、画像処理装置12からの信号に従って作動するように構成されており、該画像処理装置12からの信号によって前記照明11を前記対象物2に近づけた近接位置13と前記対象物2から遠ざけた離間位置14との間で移動できるように構成されている。
The appearance inspection apparatus 1 includes an illumination 11 disposed on the lower end side of the
この照明11は、前記対象物2の中心軸21上に中心を有した円形リング状に形成されており、その光源は、複数の発光ダイオード22,・・・によって構成されている。これにより、前記移動機構で前記照明11を前記近接位置13へ移動して前記対象物2に近づけた状態では、当該照明11からの光を前記対象物2の側面23に対して深い角度で照射できるように構成されている。また、前記移動機構で前記照明11を前記離間位置14へ移動して前記対象物2から遠ざけた状態では、当該照明11からの光を前記対象物2の側面23に対して浅い角度で照射できるように構成されている。
The illumination 11 is formed in a circular ring shape having a center on the
また、前記対象物2の上端側には、光学体31が設けられており、該光学体31の上部には、カメラ32が設けられている。これにより、前記対象物2の前記側面23で反射した反射光33を前記光学体31によって前記カメラ32のレンズに集め、当該カメラ32で撮像できるように構成されている。
Further, an
このカメラ32は、前記画像処理装置12に接続されており、撮像した画像を画像処理装置12に出力するように構成されている。この画像処理装置12では、入力した画像を処理することによって、撮像した対象物2の側面23に設けられた凹凸の有無を検査するように構成されている。
The
以上の構成にかかる本実施の形態において、図2の(a)に示すように、側面23に打痕や傷によって凹部51が形成された対象物2を検査する際には、前記移動機構によって前記照明11を前記離間位置14へ移動して前記対象物2から遠ざけ、この照明11からの光L1を前記対象物2の側面23に対して浅い角度で照射する。そして、この状態において、当該対象物2の側面23の画像を前記カメラ32で取得する。
In the present embodiment having the above configuration, as shown in FIG. 2A, when inspecting the
このとき、前記対象物2の側面23には、前記光L1が浅い角度で照射されており、当該側面23に設けられた凹部51は、その上側にて前記光L1を反射する。これにより、前記カメラ32で取得した画像では、前記凹部51の上側部分が白く撮影される。
At this time, the
次に、前記移動機構によって前記照明11を前記近接位置13へ移動して前記対象物2に近づけ、この照明11からの光L2を前記対象物2の側面23に対して深い角度で照射する。そして、この状態において、当該対象物2の側面23の画像を前記カメラ32で取得する。
Next, the illumination mechanism 11 is moved to the proximity position 13 by the moving mechanism so as to approach the
このとき、前記対象物2の側面23には、前記光L2が深い角度で照射されており、当該側面23に設けられた凹部51は、その部位が影になる。これにより、前記カメラ32で取得した画像では、前記凹部51の部位が黒く撮影される。
At this time, the
一方、図2の(b)に示すように、前記対象物2を覆うシュリンクに皺が寄り側面23に凸部61が形成された対象物2を検査する際には、前記移動機構によって前記照明11を前記離間位置14へ移動して前記対象物2から遠ざけ、この照明11からの光L1を前記対象物2の側面23に対して浅い角度で照射する。そして、この状態において、当該対象物2の側面23の画像を前記カメラ32で取得する。
On the other hand, as shown in FIG. 2B, when inspecting the
このとき、前記対象物2の側面23には、前記光L1が浅い角度で照射されており、当該側面23に設けられた凸部61が前記光L1を遮ることによって、その部位が影となる。これにより、前記カメラ32で取得した画像では、前記凸部61の部位が黒く撮影される。
At this time, the
次に、前記移動機構によって前記照明11を前記近接位置13へ移動して前記対象物2に近づけ、この照明11からの光L2を前記対象物2の側面23に対して深い角度で照射する。そして、この状態において、当該対象物2の側面23の画像を前記カメラ32で取得する。
Next, the illumination mechanism 11 is moved to the proximity position 13 by the moving mechanism so as to approach the
このとき、前記対象物2の側面23には、前記光L2が深い角度で照射されており、当該側面23に設けられた凸部61に相当する部位では、前記光L2が反射する。このため、前記カメラ32で取得した画像では、前記凸部61に相当する部位が白く撮影される。
At this time, the
このように、前記対象物2の側面23に照射する光の角度を変化した際に、ある箇所が明から暗に変化したか、あるいは暗から明に変化したかを前記画像処理装置12で解析することによって、その箇所が凹部51であるか凸部61であるかを判別することができる。
As described above, when the angle of the light applied to the
このため、検出箇所が凹部51であると判別された場合、この箇所は、打痕や傷である可能性が高いので、異常とした場合の処理を実行することができる。一方、検出箇所が凸部61であると判別された場合、この箇所は、装着されたシュリンクの皺であると考えられるため、正常とした場合の処理を実行することができる。
For this reason, when it is determined that the detected location is the
このように、検出箇所が凹部51であるか凸部61であるを判別することができるため、凸部61の場合と凹部51の場合とで異なる検査結果を出すとともに、それぞれに応じた適切な処理を行うことができる。
In this way, since it is possible to determine whether the detection location is the
そして、前記対象物2に対して前記照明11を移動する移動機構を設けることで、前記側面23に照射する光の角度を可変することができる。
And by providing the moving mechanism which moves the said illumination 11 with respect to the said
(第二の実施の形態) (Second embodiment)
図3は、本発明の第二の実施の形態にかかる外観検査装置101を示す図であり、第一の実施の形態と同一又は同等部分に付いては、同符号を付して説明を割愛するとともに、異なる部分についてのみ説明する。 FIG. 3 is a diagram showing an appearance inspection apparatus 101 according to the second embodiment of the present invention. The same or equivalent parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. In addition, only different parts will be described.
すなわち、本実施の形態の照明111は、前記対象物2の前記中心軸21を中心とした円形リング状の第一照明部112と、該第一照明部112の外側に設けられた円形リング状の第二照明部113とを備えている。前記各照明部112,113は、複数の発光ダイオード22,・・・によって構成されており、前記画像処理装置12からの信号に基づいて、前記第一照明部112を構成する発光ダイオード22,・・・と、前記第二照明部113を構成する発光ダイオード22,・・・とを独立して点灯及び消灯できるように構成されている。
That is, the illumination 111 of the present embodiment includes a circular ring-shaped first illumination part 112 centered on the
これにより、前記第一照明部112を構成する発光ダイオード22,・・・を点灯することで、当該第一照明部112からの光L1を、前記対象物2の側面23に浅い角度で照射できるように構成されている。また、前記第二照明部113を構成する発光ダイオード22,・・・を点灯することで、当該第二照明部113からの光L2を、前記対象物2の側面23に深い角度で照射できるように構成されている。
Thereby, the light L1 from the first illumination unit 112 can be irradiated to the
以上の構成において、前記対象物2の中心軸21を中心としたリング状の第一照明部112を点灯することで、前記側面23に浅い角度で光L1を照射することができる。また、前記第一照明部112の外側に設けられたリング状の第二照明部113を点灯することで、前記側面23に深い角度で光L2を照射することができる。
In the above configuration, the
これにより、前記画像処理装置12で前述した第一の実施の形態と同様に処理を行うことで、該第一の実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。
Thus, the same effect as the first embodiment can be obtained by performing the same processing as that of the first embodiment described above on the
そして、前記照明111の前記第一照明部112又は前記第二照明部113を選択的に点灯することで、前記対象物2の側面23に照射する光の角度を変化させることが出来る。
And the angle of the light irradiated to the
このため、第一の実施の形態の照明11を移動する場合と比較して、前記側面23に浅い角度で光L1を照射する場合であっても、当該側面23に強い光を照射することができる。
For this reason, compared with the case where the illumination 11 of 1st Embodiment is moved, even when it is a case where the light L1 is irradiated to the said
(第三の実施の形態) (Third embodiment)
図4は、本発明の第三の実施の形態にかかる外観検査装置201を示す図であり、第一の実施の形態と同一又は同等部分に付いては、同符号を付して説明を割愛するとともに、異なる部分についてのみ説明する。 FIG. 4 is a diagram showing an appearance inspection apparatus 201 according to the third embodiment of the present invention. The same or equivalent parts as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. In addition, only different parts will be described.
すなわち、本実施の形態の照明は、液晶モニタ211で構成されており、該液晶モニタ211は、その画面212が前記対象物2側を向いた状態で該対象物2の下端側に配置されている。この液晶モニタ211は、前記画像処理装置12に接続されており、該画像処理装置12からの映像信号に基づいた画像を描写できるように構成されている。
That is, the illumination according to the present embodiment includes a liquid crystal monitor 211, which is arranged on the lower end side of the
これにより、前記液晶モニタ211には、前記画像処理装置12からの映像信号に基づいて、前記対象物2の中心軸21を中心とした円形リング状の第一リング画像221と、該第一リング画像221の外側に形成される円形リング状の第二リング画像222とを描写できるように構成されており、前記第一リング画像221を描写することによって、前記対象物2の側面23に対して浅い角度で光L1を照射できるように構成されている。また、前記第二リング画像222を前記液晶モニタ211に描写することによって、前記対象物2の側面23に対して深い角度で光L2を照射できるように構成されている。
Accordingly, the liquid crystal monitor 211 has a circular ring-shaped first ring image 221 centered on the
以上の構成において、前記対象物2の下端側に設けられた液晶モニタ211に前記対象物2の中心軸21を中心とした高輝度の第一リング画像221を描写することで、この第一リング画像221によって前記対象物2の側面23に浅い角度で光L2を照射することができる。また、前記第一リング画像221の外側に形成される高輝度の第二リング画像222を前記液晶モニタ211に描写することで、この第二リング画像222によって前記側面23に深い角度で光L2を照射することができる。
In the above configuration, the first ring image 221 centered on the
これにより、前記画像処理装置12で前述した第一の実施の形態と同様に処理を行うことで、該第一の実施の形態と同様の作用効果を得ることができる。
Thus, the same effect as the first embodiment can be obtained by performing the same processing as that of the first embodiment described above on the
そして、本実施の形態にあっては、前記液晶モニタ211への描写によって前記側面23に照射される光の角度を調整することができるため、第一の実施の形態のように照明11を移動する場合と比較して、移動機構が不要となり低コスト化を図ることができる。
In the present embodiment, the angle of the light irradiated on the
また、前記液晶モニタ211に描写される画像の変更が容易な為、自由度を向上することができる。 Further, since the image drawn on the liquid crystal monitor 211 can be easily changed, the degree of freedom can be improved.
なお、本実施の形態では、前記液晶モニタ211を使用した場合に付いて説明したが、本願発明のモニタは、液晶モニタ211に限定されるものではない。 In the present embodiment, the case where the liquid crystal monitor 211 is used has been described. However, the monitor of the present invention is not limited to the liquid crystal monitor 211.
1 外観検査装置
2 対象物
11 照明
12 画像処理装置
13 近接位置
14 離間位置
23 側面
33 反射光
51 凹部
61 凸部
101 外観検査装置
111 照明
112 第一照明部
113 第二照明部
201 外観検査装置
211 液晶モニタ
221 第一リング画像
222 第二リング画像
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (4)
前記側面に照射する光の角度を変化した際に前記反射光に生ずる明暗の変化に基づいて凹凸状態を判別することを特徴とした外観検査方法。 While irradiating light from one end side of the cylindrical object toward the side surface of the object, the reflected light is detected at the other end side of the object to inspect for the presence or absence of unevenness provided on the side surface. An appearance inspection method,
An appearance inspection method, wherein an uneven state is determined based on a change in brightness produced in the reflected light when the angle of light applied to the side surface is changed.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014238279A (en) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | Imaging device and buckling inspection device |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03130607A (en) * | 1989-10-17 | 1991-06-04 | Asahi Glass Co Ltd | Method and apparatus for measuring surface shape |
JPH11211442A (en) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Matsushita Electric Works Ltd | Method and device for detecting defect of object surface |
JP2004219119A (en) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Defect inspection method and device |
JP2005037203A (en) * | 2003-07-18 | 2005-02-10 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | Inspection device and inspection method of bar-like object |
JP2005308517A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Nidec Tosok Corp | Outside surface inspection method and outside surface inspection device |
JP2005331302A (en) * | 2004-05-19 | 2005-12-02 | Nidec Tosok Corp | Outside surface inspection method and outside surface inspection device |
JP2006234725A (en) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method and device for inspecting side surface part of cylindrical article |
-
2007
- 2007-04-20 JP JP2007111920A patent/JP4995621B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03130607A (en) * | 1989-10-17 | 1991-06-04 | Asahi Glass Co Ltd | Method and apparatus for measuring surface shape |
JPH11211442A (en) * | 1998-01-27 | 1999-08-06 | Matsushita Electric Works Ltd | Method and device for detecting defect of object surface |
JP2004219119A (en) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Defect inspection method and device |
JP2005037203A (en) * | 2003-07-18 | 2005-02-10 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | Inspection device and inspection method of bar-like object |
JP2005308517A (en) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Nidec Tosok Corp | Outside surface inspection method and outside surface inspection device |
JP2005331302A (en) * | 2004-05-19 | 2005-12-02 | Nidec Tosok Corp | Outside surface inspection method and outside surface inspection device |
JP2006234725A (en) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method and device for inspecting side surface part of cylindrical article |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014238279A (en) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | Imaging device and buckling inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP4995621B2 (en) | 2012-08-08 |
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