JP2008257113A - Developing solution for solder resist and method for developing printed wiring board - Google Patents

Developing solution for solder resist and method for developing printed wiring board Download PDF

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弘恭 西山
Hiromitsu Nogiwa
浩充 野極
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent generation of sludge due to increase in the concentration of a solder resist, in a developing solution for a solder resist and to prevent re-deposition of sludge onto a substrate made of copper or the like or deposition on a developing tank. <P>SOLUTION: The developing solution for a solder resist contains (A) a diluted alkali aqueous solution, and (B) an ester of polyoxyalkylene fatty acid expressed by formula shown and having an average molecular weight of 1,000 to 10,000, by 0.001 to 2.0 wt.%. In the formula, R1CO represents a 10-22C acyl group; R2 represents a hydrogen atom or a 10-22C acyl group; EO represents an oxyethylene group; PO represents an oxypropylene group; each of X and Y, independently represents an integer of 5 to 200; and the oxyethylene group and the oxypropylene group may be in a form of random polymerization or block polymerization. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体集積回路素子等の製造工程でレジストパターンを形成する際や、カラー液晶表示装置等のカラーフィルターを形成する際に、光(可視光線、紫外線)、X線、電子線等により反応する感光性樹脂組成物で形成された塗膜を現像するために用いられるアルカリ現像液に係る。   In the present invention, when forming a resist pattern in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit element or the like, or when forming a color filter such as a color liquid crystal display device, light (visible light, ultraviolet ray), X-ray, electron beam, etc. The present invention relates to an alkaline developer used for developing a coating film formed of a photosensitive resin composition that reacts.

半導体集積回路素子や液晶表示素子の製造に際しては、基板上にレジストと称される感光性樹脂組成物を塗布してレジスト膜を形成し、次いで、このレジスト膜を回路設計に応じたパターンに放射線で露光し、その後に露光したレジスト膜をアルカリ現像液で現像し、不要部分のレジストを溶解除去してレジストパターンを形成することが行われている。   In the manufacture of semiconductor integrated circuit elements and liquid crystal display elements, a photosensitive resin composition called a resist is applied on a substrate to form a resist film, and then the resist film is irradiated in a pattern according to the circuit design. Then, the exposed resist film is developed with an alkaline developer, and unnecessary portions of the resist are dissolved and removed to form a resist pattern.

プリント配線板は、基板の上に導体回路のパターンを形成し、そのパターンのはんだ付けランドに電子部品をはんだ付けすることにより搭載するためのものであり、そのはんだ付けランドを除く回路部分は永久保護皮膜としてのソルダーレジスト膜で被覆される。これにより、プリント配線板に電子部品をはんだ付けする際にはんだが不必要な部分に付着するのを防止すると共に、回路導体が空気に直接曝されて酸化や湿度により腐食されるのを防止する。   A printed wiring board is for mounting a circuit pattern on a circuit board by soldering an electronic component to the soldering land of the pattern, and the circuit part excluding the soldering land is permanent. It is coated with a solder resist film as a protective film. This prevents solder from adhering to unnecessary parts when soldering electronic components to a printed wiring board, and prevents circuit conductors from being directly exposed to air and being corroded by oxidation or humidity. .

プリント配線基板の配線密度の向上(細密化)の要求にともない、ソルダーレジスト組成物も高解像性、高精度化が要求され、民生用基板、産業用基板を問わずスクリーン印刷法から、位置精度、導体エッジ部の被覆性に優れる液状フォトソルダーレジスト法(写真現像法)が提案されている。ソルダーレジスト組成物は、プリント配線板上に感光性樹脂組成物である液状組成物を全面塗布し、溶媒を揮発させた後、露光して未露光部分を有機溶剤を用いて除去し、現像するものである。   With the demand for higher wiring density (miniaturization) of printed wiring boards, solder resist compositions are also required to have high resolution and high precision. A liquid photo solder resist method (photographic development method) that is excellent in accuracy and coverage of conductor edge portions has been proposed. The solder resist composition is applied on the entire surface of a printed wiring board, a liquid composition, which is a photosensitive resin composition, volatilizes the solvent, exposed to light, and unexposed portions are removed using an organic solvent and developed. Is.

しかし、有機溶剤による未露光部分の除去(現像)は、有機溶剤を多量に使用するため、環境汚染や火災などの危険性があるのみならず、環境汚染の問題があり、特に人体に与える影響が最近大きくクローズアップされてきていることから、その対策が講ぜられている。   However, removal (development) of unexposed areas with organic solvents not only has environmental pollution and fire hazards, but also has environmental pollution problems due to the use of large amounts of organic solvents. Has been taken up in recent years, so measures are being taken.

これらの問題を解決するために、希アルカリ水溶液で現像可能なアルカリ現像型フォトソルダーレジスト組成物が提案されている。例えば特許文献1には、エポキシ樹脂に不飽和モノカルボン酸を反応させ、更に多塩基酸無水物を付加させた反応生成物をベースポリマーとする材料が開示されている。また、特許文献2には、ノボラック型エポキシ樹脂と不飽和モノカルボン酸との反応物と、飽和または不飽和多塩基酸無水物とを反応せしめて得られる活性エネルギー線硬化性樹脂と、光重合開始剤を含有する、希アルカリ水溶液により現像可能な光硬化性の液状レジストインキ組成物が開示されている。これらの液状ソルダーレジスト組成物は、エポキシアクリレートにカルボキシル基を導入することによって、光感光性や希アルカリ水溶液での現像性を付与させたものである。この組成物にはさらに、その塗膜を露光、現像処理して所望のレジストパターンを形成した後、通常、熱硬化させる。
特開昭49−5923号公報 特開昭61−243869号公報
In order to solve these problems, an alkali development type photo solder resist composition that can be developed with a dilute aqueous alkali solution has been proposed. For example, Patent Document 1 discloses a material based on a reaction product obtained by reacting an unsaturated monocarboxylic acid with an epoxy resin and further adding a polybasic acid anhydride. Patent Document 2 discloses an active energy ray-curable resin obtained by reacting a reaction product of a novolac type epoxy resin and an unsaturated monocarboxylic acid with a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride, and photopolymerization. A photocurable liquid resist ink composition containing an initiator and developable with a dilute alkaline aqueous solution is disclosed. These liquid solder resist compositions are provided with photosensitivity and developability in a dilute alkaline aqueous solution by introducing a carboxyl group into epoxy acrylate. The composition is further subjected to exposure and development to form a desired resist pattern, and then usually heat-cured.
JP 49-5923 A JP-A 61-243869

また、金属イオンを実質的に含まない有機アルカリ炭酸塩や炭酸水素塩と有機強アルカリとを含むアルカリ現像液が、特許文献3に記載されている。
特開2001−117240
Patent Document 3 discloses an alkali developer containing an organic alkali carbonate or hydrogen carbonate substantially free of metal ions and an organic strong alkali.
JP 2001-117240 A

ソルダーレジスト塗膜を現像する際に、現像を続けていくと、現像液中のソルダーレジスト濃度が高くなっていく。そして、現像工程中に、一度現像液に溶解したソルダーレジストがスラッジとして銅上に再付着することがあった。ソルダーレジストの再付着が銅上にあると、金メッキ未着やはんだ未着の原因となる。また、ソルダーレジストは現像槽内面にも付着し、現像槽を洗浄する際の効率を低下させる。   If development is continued when developing the solder resist coating film, the concentration of the solder resist in the developer increases. During the development process, the solder resist once dissolved in the developer may re-adhere on the copper as sludge. If the re-deposition of the solder resist is on the copper, it may cause the gold plating not to be deposited or the solder not to be deposited. Further, the solder resist also adheres to the inner surface of the developing tank, and reduces the efficiency when cleaning the developing tank.

本発明の課題は、ソルダーレジストの現像液において、ソルダーレジストの濃度上昇によるスラッジ生成と、スラッジの銅などの基材上への再付着や現像槽への付着を防止することである。   An object of the present invention is to prevent sludge generation due to an increase in the concentration of solder resist, re-adhesion of sludge on a substrate such as copper, and adhesion to a developing tank in a solder resist developer.

本発明は、(A)希アルカリ水溶液、および
(B)平均分子量が1000〜10000 である下式のポリオキシアルキレン脂肪酸エステルを0.001 〜2.0重量%
含有する事を特徴とする、ソルダーレジスト用現像液に係るものである。
The present invention provides (A) a dilute alkaline aqueous solution and (B) a polyoxyalkylene fatty acid ester of the following formula having an average molecular weight of 1,000 to 10,000: 0.001 to 2.0% by weight
It is related with the developing solution for solder resist characterized by containing.

Figure 2008257113
(式中、R1COは、炭素数10〜22のアシル基であり、R2は、水素または炭素数10〜22のアシル基であり、EOはオキシエチレン基を表し、POはオキシプロピレン基を表し、XおよびYは、それぞれ独立に5〜200の整数であり、前記オキシエチレン基および前記オキシプロピレン基は、ランダム重合又はブロック重合していても良い。)
Figure 2008257113
(Wherein R1CO is an acyl group having 10 to 22 carbon atoms, R2 is hydrogen or an acyl group having 10 to 22 carbon atoms, EO represents an oxyethylene group, PO represents an oxypropylene group, X and Y are each independently an integer of 5 to 200, and the oxyethylene group and the oxypropylene group may be randomly polymerized or block polymerized.)

また、本発明は、前記現像液を使用し、プリント配線板上のソルダーレジストを現像することを特徴とする、プリント配線板の現像方法に係るものである。   The present invention also relates to a method for developing a printed wiring board, wherein the developer is used to develop a solder resist on the printed wiring board.

本発明によれば、ソルダーレジスト現像液に、ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルを添加することにより、消泡作用を得ると共に、ソルダーレジストのスラッジ生成を抑制し、スラッジの再付着を低減させることに成功した。   According to the present invention, by adding a polyoxyalkylene fatty acid ester to the solder resist developer, the defoaming action is obtained, and the sludge formation of the solder resist is suppressed, and the sludge reattachment is successfully reduced. .

本発明のソルダーレジスト用現像液は、(A)希アルカリ水溶液をベースとする。希アルカリ水溶液は、水と、水に溶解されたアルカリ性物質とからなる。アルカリ性物質は特に限定はされないが、以下を特に好ましいものとして例示できる。
(1) 無機アルカリ: 水酸化カリウム、水酸化ナトリウムなどのアルカリ水酸化物;炭酸ナトリウム、炭酸カリウムなどのアルカリ炭酸塩;燐酸ナトリウムなどのアルカリ燐酸塩、ケイ酸ナトリウムなどのアルカリケイ酸塩;アンモニア
(2) アミン類などの有機アルカリ
The solder resist developer of the present invention is based on (A) a dilute alkaline aqueous solution. The dilute alkaline aqueous solution is composed of water and an alkaline substance dissolved in water. Although an alkaline substance is not specifically limited, The following can be illustrated as a particularly preferable thing.
(1) Inorganic alkali: Alkali hydroxide such as potassium hydroxide and sodium hydroxide; Alkali carbonate such as sodium carbonate and potassium carbonate; Alkali phosphate such as sodium phosphate; Alkali silicate such as sodium silicate; Ammonia (2) Organic alkalis such as amines

希アルカリ水溶液のpHは、8. 0〜13. 0とすることが好ましい。現像性の観点から、希アルカリ水溶液のpHは、9.0以上とすることが更に好ましく、また、11.0以下とすることが更に好ましい。   The pH of the dilute alkaline aqueous solution is preferably 8.0 to 13.0. From the viewpoint of developability, the pH of the dilute alkaline aqueous solution is more preferably 9.0 or more, and further preferably 11.0 or less.

本発明では、(A)に、(B)平均分子量が1000〜10000 である下式のポリオキシアルキレン脂肪酸エステルを0.001 〜2.0重量%含有させる。   In the present invention, (A) contains (B) 0.001 to 2.0% by weight of a polyoxyalkylene fatty acid ester of the following formula having an average molecular weight of 1,000 to 10,000.

上記式中、R1COは、炭素数10〜22のアシル基である。このアシル基の炭素数は、15以上とすることが更に好ましく、また、20以下とすることが更に好ましい。   In the above formula, R1CO is an acyl group having 10 to 22 carbon atoms. The acyl group preferably has 15 or more carbon atoms, more preferably 20 or less.

R2は、水素または炭素数10〜22のアシル基である。このアシル基の炭素数は、15以上とすることが更に好ましく、また、20以下とすることが更に好ましい。   R2 is hydrogen or an acyl group having 10 to 22 carbon atoms. The acyl group preferably has 15 or more carbon atoms, more preferably 20 or less.

EOはオキシエチレン基(―CH―CH―O−)を表し、POはオキシプロピレン基(―CH―CH(CH)―O−)を表す。重合体中におけるオキシエチレン基およびオキシプロピレン基の配列順序は特に限定されない。例えば、EOとPOとがランダム重合していてよい。あるいは、EOとPOとはブロック重合していても良い。XおよびYは、それぞれ独立に5〜200の整数であるが、10〜100が更に好ましい。 EO represents an oxyethylene group (—CH 2 —CH 2 —O—), and PO represents an oxypropylene group (—CH 2 —CH (CH 3 ) —O—). The arrangement order of oxyethylene groups and oxypropylene groups in the polymer is not particularly limited. For example, EO and PO may be randomly polymerized. Alternatively, EO and PO may be block polymerized. X and Y are each independently an integer of 5 to 200, more preferably 10 to 100.

(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの平均分子量(定義:重量平均分子量)は1000〜10000とする。この分子量が1000未満であると、消泡性が悪くなる。この分子量が10000を超えると,溶解度が悪くなる。   (B) The average molecular weight (definition: weight average molecular weight) of polyoxyalkylene fatty acid ester shall be 1000-10000. When the molecular weight is less than 1000, the defoaming property is deteriorated. If this molecular weight exceeds 10,000, the solubility will deteriorate.

(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの量は0.001〜2.0重量%とする。これを0.001重量%以上とすることによって、本発明の作用効果が一層顕著となる。この観点からは、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの量は、0.05重量%以上とすることが更に好ましい。また、この量が2.0重量%を超えると、現像液に溶解しにくくなる。となる。この観点からは、(B)の量は 0.5重量%以下とすることが更に好ましい。   (B) The quantity of polyoxyalkylene fatty acid ester shall be 0.001-2.0 weight%. By making this 0.001% by weight or more, the effect of the present invention becomes more remarkable. From this viewpoint, the amount of the (B) polyoxyalkylene fatty acid ester is more preferably 0.05% by weight or more. On the other hand, when this amount exceeds 2.0% by weight, it becomes difficult to dissolve in the developer. It becomes. From this viewpoint, the amount of (B) is more preferably 0.5% by weight or less.

現像液中に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルを複数種類含有していてよい。この場合には、複数種の(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの合計量を0.001〜2.0重量%とする。   The developer may contain a plurality of (B) polyoxyalkylene fatty acid esters. In this case, the total amount of the plural types of (B) polyoxyalkylene fatty acid esters is 0.001 to 2.0% by weight.

本発明の現像液は、(A)(B)成分から実質的になっていてよいが、不可避的不純物は許容される。また、他の添加成分を含有していてよい。こうした添加成分としては、実質的に金属イオンを含まない非イオン系界面活性剤を例示できる。この非イオン系界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアリルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエステル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンベンジルフェニルエーテル、プルロニック型非イオン性界面活性剤、ソルビタン高級脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンアルキルソルビトール脂肪酸エステル、アセチレングリコール・エチレンオキサイド付加物等を挙げることができる。これらは、その1種のみを単独で用いてもよいほか、2種以上の混合物として用いてもよい。   The developer of the present invention may consist essentially of the components (A) and (B), but inevitable impurities are allowed. Moreover, the other additive component may be contained. As such an additive component, a nonionic surfactant substantially free of metal ions can be exemplified. Examples of the nonionic surfactant include polyoxyethylene alkyl ether, polyoxyethylene allyl ether, polyoxyethylene alkyl ester, polyoxyethylene alkyl phenyl ether, polyoxyethylene benzyl phenyl ether, and pluronic-type nonionic interface. Examples include activators, higher sorbitan fatty acid esters, polyoxyethylene alkyl sorbitol fatty acid esters, acetylene glycol / ethylene oxide adducts, and the like. These may be used alone or as a mixture of two or more.

この非イオン系界面活性剤を添加する場合の添加量については、通常0.01〜20重量%、好ましくは0.1〜10重量%である。この添加量が0.01重量%より少ないと、非イオン系界面活性剤を添加することによる効果が充分に発揮されず、また、20重量%を超えると現像液が発泡し易くなり、露光部と非露光部の溶解選択性が低下するという問題が生じる。   About the addition amount in the case of adding this nonionic surfactant, it is 0.01-20 weight% normally, Preferably it is 0.1-10 weight%. If this addition amount is less than 0.01% by weight, the effect of adding a nonionic surfactant will not be sufficiently exerted, and if it exceeds 20% by weight, the developer tends to foam and the exposed area As a result, there arises a problem that the dissolution selectivity of the non-exposed portion is lowered.

また、本発明の現像液には、陰イオン性界面活性剤、陽イオン性界面活性剤、両性イオン性界面活性剤等を添加することができる。   Moreover, an anionic surfactant, a cationic surfactant, an amphoteric surfactant, etc. can be added to the developing solution of this invention.

この陰イオン性界面活性剤としては、アルキル硫酸塩、高級アルコール硫酸エステル塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩、リン酸エステル塩、スルホコハク酸エステル塩、アルキルジフェニルエーテルスルホン酸アンモニウム塩等が挙げられる。また、陽イオン性界面活性剤としては、ラウリルトリメチルアンモニウムクロライド、ステアリルトリメチルアンモニウムクロライド、トリアミルメチルアンモニウムクロライド等の第四級アンモニウム塩等が挙げられる。両性イオン性界面活性剤としては、例えば、イミダゾリン誘導体、ベタイン型化合物等が挙げられる。   Examples of the anionic surfactant include alkyl sulfates, higher alcohol sulfates, alkylbenzene sulfonates, alkyl naphthalene sulfonates, phosphate esters, sulfosuccinate esters, alkyl diphenyl ether sulfonate ammonium salts, and the like. It is done. In addition, examples of the cationic surfactant include quaternary ammonium salts such as lauryltrimethylammonium chloride, stearyltrimethylammonium chloride, and triamylmethylammonium chloride. Examples of zwitterionic surfactants include imidazoline derivatives and betaine type compounds.

本発明の現像液を使用し、プリント配線板上のソルダーレジストを現像することができる。この実施形態について更に述べる。   The solder resist on the printed wiring board can be developed using the developer of the present invention. This embodiment will be further described.

例えば銅張り積層板の銅箔をエッチングして形成した回路のパターンを有するプリント配線板に、ソルダーレジストを、所望の厚さ、例えば5〜100μmの厚さで塗布する。塗工の手段としては、現在スクリーン印刷法による全面印刷が一般に多く用いられるが、これを含めて均一に塗工できる塗工手段であればどのような手段を用いてもよい。例えば、スプレーコーター、ホンメルトコーター、バーコータ、アプリケータ、ブレードコータ、ナイフコータ、エアナイフコータ、カーテンフローコータ、ロールコータ、グラビアコータ、オフセット印刷、ディップコータ、刷毛塗り、その他通常の方法は全て使用できる。   For example, a solder resist is applied in a desired thickness, for example, 5 to 100 μm, on a printed wiring board having a circuit pattern formed by etching a copper foil of a copper-clad laminate. As a coating means, full-scale printing by the screen printing method is generally used at present, but any means may be used as long as it can be applied uniformly including this. For example, spray coaters, phone melt coaters, bar coaters, applicators, blade coaters, knife coaters, air knife coaters, curtain flow coaters, roll coaters, gravure coaters, offset printing, dip coaters, brush coating, and other ordinary methods can be used.

塗工後、必要に応じて熱風炉あるいは遠赤外線炉等でプリベークし、すなわち仮乾燥が行われ、塗膜の表面をタックフリーの状態にする。プリベークの温度はおおむね50〜100℃程度が好ましい。   After coating, pre-baking is performed in a hot air furnace or a far-infrared furnace as necessary, that is, temporary drying is performed to bring the surface of the coating film into a tack-free state. The prebaking temperature is preferably about 50 to 100 ° C.

次に、LDI(Laser Direct
imaging)を用いたレーザー直描による露光が行われる。あるいは、活性エネルギー線を通さないようにしたネガマスクを用いて活性エネルギー線による露光が行われる。ネガマスクとしては活性エネルギー線が紫外線の場合にはネガフィルム、電子線の場合には金属性マスク、X線の場合には鉛性マスクがそれぞれ使用されるが、簡単なネガフィルムを使用できるためプリント配線板製造では活性エネルギー線として紫外線が多く用いられる。紫外線の照射量は約10〜1000mJ/cmとしてもよい。
Next, LDI (Laser Direct
exposure by laser direct drawing using imaging). Alternatively, exposure with active energy rays is performed using a negative mask that prevents the passage of active energy rays. As the negative mask, a negative film is used when the active energy ray is ultraviolet, a metal mask is used when it is an electron beam, and a lead mask is used when it is an X-ray, but it can be printed because a simple negative film can be used. In the production of wiring boards, ultraviolet rays are often used as active energy rays. The irradiation amount of ultraviolet rays may be about 10 to 1000 mJ / cm 2 .

露光は、プリント配線板製造の場合は、例えば回路のパターンのはんだ付けランド以外は透光性にしたパターンのネガフィルムを密着させ、その上から紫外線を照射させることにより行われる。このはんだ付けランドに対応する非露光領域を、本発明の希アルカリ水溶液で除去することにより、塗膜が現像される。   In the case of manufacturing a printed wiring board, for example, a negative film having a light-transmitting pattern other than a soldering land having a circuit pattern is brought into close contact, and ultraviolet rays are irradiated thereon. The coating film is developed by removing the non-exposed areas corresponding to the soldering lands with the dilute alkaline aqueous solution of the present invention.

次いで、ソルダーレジストに熱硬化性化合物を含有する場合には、例えば130〜170℃の熱風炉又は遠赤外線炉等の乾燥機等で例えば20〜80分間加熱、あるいは紫外線照射することによりポストキュアーを行ない、これによりソルダーレジスト皮膜を形成せしめることができる。   Next, when the solder resist contains a thermosetting compound, the post cure is performed by, for example, heating for 20 to 80 minutes with a dryer such as a hot air furnace or a far infrared furnace at 130 to 170 ° C. This makes it possible to form a solder resist film.

このようにしてソルダーレジスト膜で被覆したプリント配線板が得られ、これに電子部品が噴流はんだ付け方法や、リフローはんだ付け方法によりはんだ付けされることにより接続、固定されて搭載され、一つの電子回路ユニットが形成される。   In this way, a printed wiring board coated with a solder resist film is obtained, on which electronic components are connected, fixed and mounted by soldering by a jet soldering method or a reflow soldering method. A circuit unit is formed.

本発明においては、その電子部品搭載前のソルダーレジスト皮膜を被覆したプリント配線板、このプリント配線板に電子部品搭載した電子部品搭載後のプリント配線板のいずれをもその対象に含む。   In the present invention, the printed wiring board coated with the solder resist film before mounting the electronic component and the printed wiring board mounted with the electronic component mounted on the printed wiring board are included in the object.

(実施例1)
(A)1重量%炭酸ナトリウム水溶液に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステル(日鉄環境エンジニアリング株式会社製「ケーイーデフォマーTK-1000」)を0.01重量%添加し、現像液を得た。この製品では、R1COは炭素数17のアシル基であり、R2は炭素数17のアシル基であり、Xは10〜50であり、Yは30〜80である。(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの分子量は2000〜4000である。
Example 1
(A) 0.01% by weight of (B) polyoxyalkylene fatty acid ester (“KEI Deformer TK-1000” manufactured by Nippon Steel Environmental Engineering Co., Ltd.) is added to a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to obtain a developer. It was. In this product, R 1 CO is an acyl group having 17 carbon atoms, R 2 is an acyl group having 17 carbon atoms, X is 10-50, and Y is 30-80. (B) The molecular weight of the polyoxyalkylene fatty acid ester is 2000 to 4000.

(実施例2)
(A)1重量%炭酸ナトリウム水溶液に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステル(日鉄環境エンジニアリング株式会社製「ケーイーデフォマーTK-1000」)を0.1重量%添加し、現像液を得た。
(Example 2)
(A) 0.1% by weight of (B) polyoxyalkylene fatty acid ester (“KE Deformer TK-1000” manufactured by Nippon Steel Environmental Engineering Co., Ltd.) is added to a 1% by weight aqueous sodium carbonate solution to obtain a developer. It was.

(実施例3)
(A)1重量%炭酸ナトリウム水溶液に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステル(日鉄環境エンジニアリング株式会社製「ケーイーデフォマーTK-1000」)を1.0重量%添加し、現像液を得た。
(Example 3)
(A) 1.0% by weight of (B) polyoxyalkylene fatty acid ester (“KEI Deformer TK-1000” manufactured by Nippon Steel Environmental Engineering Co., Ltd.) is added to a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to obtain a developer. It was.

(実施例4)
(A)1重量%炭酸カリウム水溶液に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステル(日鉄環境エンジニアリング株式会社製「ケーイーデフォマーTK-1000」)を0.1重量%添加し、現像液を得た。
Example 4
(A) 0.1% by weight of (B) polyoxyalkylene fatty acid ester (manufactured by Nippon Steel Environmental Engineering Co., Ltd. “KE Deformer TK-1000”) is added to a 1% by weight aqueous potassium carbonate solution to obtain a developer. It was.

(実施例5)
(A)1重量%炭酸ナトリウム水溶液に、(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステル(多木化学株式会社製「シリカートンSN-500」を0.1重量%添加し、現像液を得た。この製品では、R1COは炭素数17のアシル基であり、R2は炭素数17のアシル基であり、Xは10〜50であり、Yは30〜80である。(B)ポリオキシアルキレン脂肪酸エステルの分子量は1000〜3000である。
(Example 5)
(A) 0.1% by weight of (B) polyoxyalkylene fatty acid ester (“Silicaton SN-500” manufactured by Taki Chemical Co., Ltd.) was added to a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to obtain a developer. In the formula, R1CO is an acyl group having 17 carbon atoms, R2 is an acyl group having 17 carbon atoms, X is 10 to 50, and Y is 30 to 80. (B) Molecular weight of polyoxyalkylene fatty acid ester Is 1000 to 3000.

(比較例1)
(A)1重量%炭酸ナトリウム水溶液に、(B)変性シリコーン(例:丸善薬品工業社製「アンチックス#100」)を0.1重量%添加し、現像液を得た。
(Comparative Example 1)
(A) 0.1% by weight of (B) modified silicone (eg, “Antix # 100” manufactured by Maruzen Pharmaceutical Co., Ltd.) was added to a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to obtain a developer.

(比較例2)
(A)1重量%炭酸カリウム水溶液に、(B)変性シリコーン(丸善薬品工業社製「アンチックス#100」)を0.1重量%添加し、現像液を得た。
(Comparative Example 2)
(A) 0.1 wt% of (B) modified silicone (“Antix # 100” manufactured by Maruzen Pharmaceutical Co., Ltd.) was added to a 1 wt% potassium carbonate aqueous solution to obtain a developer.

ソルダーレジストはタムラ化研株式会社製「DSR-2200P48」(2 液型)を使用した。主剤に硬化剤を混合後、テフロン(登録商標)板上、厚さ70μm にてバーコーター塗布した。80℃-20 分熱風循環式乾燥炉にて、溶剤を揮発させて予備乾燥した後、スパチュラーにて剥がした半固形状のものをソルダーレジスト試料とした。実施例1〜5、比較例1,2の現像液に、予備乾燥まで行なったソルダーレジスト試料を1重量%溶かし込ませた。   As the solder resist, “DSR-2200P48” (two-component type) manufactured by Tamura Kaken Co., Ltd. was used. After mixing a curing agent with the main agent, a bar coater was applied on a Teflon (registered trademark) plate at a thickness of 70 μm. A solder resist sample was obtained by evaporating the solvent in a hot-air circulating drying oven at 80 ° C. for 20 minutes and preliminarily drying it, and then removing it with a spatula. In the developers of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2, 1% by weight of the solder resist sample which had been pre-dried was dissolved.

(評価方法)
(消泡性):
ソルダーレジスト試料を溶解させた実施例1〜5、比較例1〜2の各現像液を、50ccのガラスビンに30cc入れ、30秒間シェイキングを行ない、その後、泡が消えるまでの時間を測定する。
(分散性):
上記評価液を恒温槽(30℃−48時間)に放置し、スラッジを沈降させた後、このスラッジの上澄みへの分散性を目視観察する。
(比重):
30℃−48時間放置後のスラッジを、上澄みを注意深く取り除くことで採取し、比重カップ計にて、重量を測定し、比重を求めた。
(平行板粘度):
上記のスラッジ(0.4ml )をJIS K5101 に基づいた平行板粘度計(上島製作所製 Model VR-5510 )にて30秒後の広がり径(mm)を測定した。
(Evaluation methods)
(Defoaming property):
30 cc of each developer of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2 in which the solder resist sample is dissolved is placed in a 50 cc glass bottle, shaken for 30 seconds, and then the time until the bubbles disappear is measured.
(Dispersibility):
The evaluation liquid is allowed to stand in a thermostatic bath (30 ° C.-48 hours) to settle the sludge, and then the dispersibility of the sludge in the supernatant is visually observed.
(specific gravity):
The sludge after standing at 30 ° C. for 48 hours was collected by carefully removing the supernatant, and the weight was measured with a specific gravity cup meter to determine the specific gravity.
(Parallel plate viscosity):
The spread diameter (mm) after 30 seconds of the above sludge (0.4 ml) was measured with a parallel plate viscometer (Model VR-5510, manufactured by Ueshima Seisakusho) based on JIS K5101.

Figure 2008257113
Figure 2008257113

表1の結果からわかるように、本発明では、実用上、充分な消泡作用が得られた。そして、ソルダーレジスト試料の分散性は良好であり、凝集は見られなかった。ソルダーレジスト試料を分散させた現像液からスラッジを採取したところ、採取されたスラッジの比重は著しく低く、また粘性も低い。これはスラッジが軽く、再付着を生じにくいことを示している。
As can be seen from the results in Table 1, in the present invention, a practically sufficient defoaming action was obtained. And the dispersibility of a soldering resist sample was favorable, and aggregation was not seen. When sludge is collected from the developer in which the solder resist sample is dispersed, the specific gravity of the collected sludge is remarkably low and the viscosity is low. This indicates that the sludge is light and less likely to reattach.

Claims (3)

(A)希アルカリ水溶液、および
(B)平均分子量が1000〜10000 である下式のポリオキシアルキレン脂肪酸エステルを0.001 〜2.0重量%
含有する事を特徴とする、ソルダーレジスト用現像液。
Figure 2008257113
(式中、R1COは、炭素数10〜22のアシル基であり、R2は、水素または炭素数10〜22のアシル基であり、EOはオキシエチレン基を表し、POはオキシプロピレン基を表し、XおよびYは、それぞれ独立に5〜200の整数であり、前記オキシエチレン基および前記オキシプロピレン基は、ランダム重合又はブロック重合していても良い。)
(A) a dilute alkaline aqueous solution, and (B) 0.001 to 2.0% by weight of a polyoxyalkylene fatty acid ester of the following formula having an average molecular weight of 1,000 to 10,000
A developer for a solder resist characterized by containing.
Figure 2008257113
(In the formula, R1CO is an acyl group having 10 to 22 carbon atoms, R2 is hydrogen or an acyl group having 10 to 22 carbon atoms, EO represents an oxyethylene group, PO represents an oxypropylene group, X and Y are each independently an integer of 5 to 200, and the oxyethylene group and the oxypropylene group may be randomly polymerized or block polymerized.)
前記希アルカリ水溶液のpH が8. 0〜13. 0であることを特徴とする、請求項1記載のソルダーレジスト用現像液。   The developer for a solder resist according to claim 1, wherein the pH of the dilute alkaline aqueous solution is 8.0 to 13.0. 請求項1または2に記載の現像液を使用し、プリント配線板上のソルダーレジストを現像することを特徴とする、プリント配線板の現像方法。   A developing method for a printed wiring board, comprising: developing a solder resist on the printed wiring board using the developer according to claim 1.
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