JP2008238198A - Die set and die mounting method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明はダイセットおよびその金型実装方法に関する。さらに詳しくは、サブガイドを設けることなく加工精度を高精度に維持できるダイセットおよびその金型実装方法に関する。 The present invention relates to a die set and a mold mounting method thereof. More specifically, the present invention relates to a die set capable of maintaining high processing accuracy without providing a sub guide and a mold mounting method thereof.
従来より、プレス成形においては、型合わせおよびプレス機械への金型の取り付けを容易にするため、下型ホルダ、上型ホルダ、ガイドポストおよびガイドブッシュをユニット化してなるダイセットが用いられている。 Conventionally, in press molding, a die set comprising a lower mold holder, an upper mold holder, a guide post, and a guide bush as a unit has been used in order to facilitate mold matching and attachment of a mold to a press machine. .
このダイセットには、金型の位置決め精度をよくして成形精度を向上させるため、図20に示すように、ダイセット内の各金型にガイドポストおよびガイドブッシュからなるサブガイドSGを設けた、いわゆるサブガイド方式を採用してなるダイセットD‘が知られている。 In this die set, in order to improve the molding accuracy by improving the positioning accuracy of the die, as shown in FIG. 20, each die in the die set is provided with a sub guide SG including a guide post and a guide bush. A die set D ′ employing a so-called sub-guide method is known.
しかしながら、かかるサブガイド方式のダイセットD‘には、サブガイドSGを設けたために金型が大きくなり、ダイセットD‘の大型化および高コスト化を招来しているという問題がある。また、サブガイドSGが存在するため、金型の有効面積が限定されるとともに、金型の交換が煩雑になっているという問題もある。 However, such a sub-guide type die set D ′ has a problem that the die is increased due to the provision of the sub-guide SG, leading to an increase in size and cost of the die set D ′. Further, since the sub guide SG exists, there is a problem that the effective area of the mold is limited and the replacement of the mold is complicated.
本発明はかかる従来技術の課題に鑑みなされたものであって、サブガイドを設けることなく金型の位置決めを高精度になし得るダイセットおよびその金型実装方法を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and an object thereof is to provide a die set capable of positioning a mold with high accuracy without providing a sub guide and a mold mounting method thereof.
本発明のダイセットは、下型ホルダと、上型ホルダと、ガイドポストと、ガイドブッシュとを備えてなるダイセットであって、下型ホルダに位置調整基板を備えてなることを特徴とする。 The die set of the present invention is a die set including a lower mold holder, an upper mold holder, a guide post, and a guide bush, wherein the lower mold holder includes a position adjustment substrate. .
本発明のダイセットにおいては、下型ホルダが収納凹部を備え、該収納凹部に位置調整基板が面一に収納されてなるのが好ましい。 In the die set of the present invention, it is preferable that the lower mold holder includes a storage recess, and the position adjustment substrate is stored in the storage recess in a flush manner.
また、本発明のダイセットにおいては、位置調整後における位置調整基板のずれを防止するずれ防止ピンを備えてなるのが好ましい。 In the die set of the present invention, it is preferable to include a displacement prevention pin for preventing displacement of the position adjustment substrate after position adjustment.
さらに、本発明のダイセットにおいては、上型ホルダが、装置上側基板および/または上型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えているのが好ましい。 Furthermore, in the die set of the present invention, it is preferable that the upper mold holder includes an elevating positioning mechanism having elevating positioning pins for positioning the upper substrate and / or the upper mold.
さらに、本発明のダイセットにおいては、位置調整基板が、装置下側基板および/または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えていたり、下型ホルダが、装置下側基板および/または下型の位置決めをなす昇降式位置決めピンを有する昇降式位置決め機構を備えていたりするのが好ましい。 Further, in the die set of the present invention, the position adjustment substrate includes an elevating positioning mechanism having elevating positioning pins for positioning the lower substrate and / or the lower die, or the lower die holder is located under the device. It is preferable to provide an elevating positioning mechanism having elevating positioning pins for positioning the side substrate and / or the lower mold.
さらに、本発明のダイセットにおいては、上型ホルダが、装置上側基板および/または上型のセットをガイドするガイド部を有するガイド部材を備えているのが好ましい。 Furthermore, in the die set of the present invention, it is preferable that the upper mold holder includes a guide member having a guide portion for guiding the apparatus upper substrate and / or the upper mold set.
本発明の金型実装方法は、位置調整基板を有するダイセットにおける金型実装方法であって、下型ホルダに位置調整基板を位置調整可能にセットする手順と、芯出し装置により装置下側基板と装置上側基板とのずれを計測する手順と、前記計測値に基づいて位置調整基板の位置調整をなす手順と、位置調整基板にずれ防止ピンを挿通して同位置調整基板のずれを防止する手順とを含んでいることを特徴とする。 The mold mounting method of the present invention is a mold mounting method in a die set having a position adjusting substrate, and a procedure for setting the position adjusting substrate in a lower mold holder so that the position can be adjusted, and a device lower substrate by a centering device The procedure for measuring the deviation between the position adjustment board and the upper substrate of the apparatus, the procedure for adjusting the position of the position adjustment board based on the measured value, and the position adjustment board are inserted with a deviation prevention pin to prevent the position adjustment board from being displaced. And a procedure.
本発明によれば、位置調整基板を下型が上型との芯ずれがないよう位置調整した後に、上型および下型のダイセットへのセットがなされるので、サブガイドを設けることなく高精度の成形がなし得るという優れた効果が得られる。 According to the present invention, after the position adjustment substrate is adjusted so that the lower mold is not misaligned with the upper mold, the upper die and the lower die are set on the die set. An excellent effect that precision molding can be achieved is obtained.
また、本発明によれば、サブガイドが設けられていないので、ダイセットの有効面積が増大するという優れた効果が得られる。 Further, according to the present invention, since the sub guide is not provided, an excellent effect of increasing the effective area of the die set can be obtained.
さらに、本発明によれば、サブガイドが設けられていないので、金型の交換が迅速にできるという優れた効果が得られる。 Furthermore, according to the present invention, since the sub guide is not provided, an excellent effect that the mold can be replaced quickly is obtained.
以下、添付図面を参照しながら本発明を実施形態に基づいて説明するが、本発明はかかる実施形態のみに限定されるものではない。 Hereinafter, although the present invention is explained based on an embodiment, referring to an accompanying drawing, the present invention is not limited only to this embodiment.
実施形態1
本発明の実施形態1に係るダイセットを図1および図2に概略図で示す。
A die set according to
ダイセットDは、図1および図2に示すように、下型ホルダ1と、上型ホルダ2と、ガイドポスト3とガイドブッシュ4とを主要構成要素として備えてなるものとされる。なお、図2中、符号Lはパスラインを示す。
As shown in FIGS. 1 and 2, the die set D includes a
また、下型ホルダ1と上型ホルダ2との各対向面を図3および図4にそれぞれ示す。下型ホルダ1は、図1〜図3に示すように、上面に位置調整基板5を備えてなるものとされる。
Moreover, each opposing surface of the lower mold |
まず、図5および図6も参照しながら下型ホルダ1および位置調整基板5について説明する。
First, the
位置調整基板5は、直方体状のブロック体とされ、下型および芯出し装置100(図7参照)の下側基板(以下、装置下側基板という)101の位置決めをなす昇降式位置決め機構51、ならびに下型および装置下側基板101をボルト留めする適宜配置とされた4個の雌ねじ穴52を有する。また、位置調整基板5の下型ホルダ1への固定つまりセットは、位置調整基板5の四隅を下型ホルダ1へボルト留めすることによりなされ、固定後における位置調整基板5のずれ防止は、位置調整基板5の中心線上に設けられた2個のピン孔(ずれ防止ピン孔)53、および下型ホルダ1に前記ずれ防止ピン孔53に対応させて設けられたピン穴(ずれ防止ピン穴)にずれ防止ピンを挿通させることによりなされる。ずれ防止ピン孔53,53間の間隔は、各ずれ防止ピンが位置調整基板5に載置される下型および装置下側基板101の外側となるように調整されている。
The
位置調整基板5を下型ホルダ1へボルト留めするボルト孔54は、仮固定された状態で位置調整基板5の位置調整がなし得るよう所定の裕度が設けられている。また、ボルト孔54は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が位置調整基板5上面から突出しないよう段付孔とされている。
The
なお、位置調整基板5の下型ホルダ1への固定は、ボルト留めに限定されるものではなく、例えば油圧式クランプ機構によりなすこともできる。
Note that the fixing of the
昇降式位置決め機構51は、昇降式位置決めピン55と、昇降式位置決めピン55を昇降させる昇降手段56とを備えてなるものとされる。昇降式位置決めピン55は2個が、図3に示すように、対角線状に配設されたり、あるいは側端に沿って直線状に配設されたりする。
The elevating
対角線状に配設された昇降式位置決めピン55を昇降させる昇降手段56は、例えば図5に示すように、先端に昇降用突起57aを偏心させて有する操作ロッド57と、昇降式位置決めピン55の下部に形成され、昇降用突起57aと係合する係合溝55aとを備えてなるものとされる。なお、図5(a)中、2点鎖線からなる円Aで囲まれた部分は、同図中の矢視A−Aを示す。
As shown in FIG. 5, for example, as shown in FIG. 5, the raising / lowering means 56 for raising / lowering the raising / lowering
より具体的には、昇降式位置決めピン55は、係合溝55aを操作側端面に向けて位置決めピン孔に昇降自在に挿通され、操作ロッド57は、その昇降用突起57aを係合溝55aに係合させて位置調整基板5の操作側端面に開口を有し位置決めピン孔に連通しているロッド横穴に回転自在に挿通されている。ここで、操作端側(手前側)に位置する昇降式位置決めピン55を昇降させる操作ロッド57は短尺とされる一方、操作端とは反対側(奥側)に位置する昇降式位置決めピン55を昇降させる操作ロッド57は長尺とされる。また、各操作ロッド57の操作側端面から突出している部分には操作つまみ57bが設けられるとともに、各操作ロッド57の操作側端部には、操作ロッド57に設けられた抜け止め溝57cと、この抜け止め溝57cに係合する抜け止めボルト57dとを備えた公知の抜け止め防止機構57eが設けられている。
More specifically, the elevating
昇降式位置決め機構51がかかる構成とされているので、操作つまみ57bを回転させることにより昇降式位置決めピン55が昇降する。つまり、昇降式位置決めピン55の頭部が位置調整基板5の上面から突出したり引っ込んだりする。なお、図中の符号55bは、昇降式位置決めピン55の昇降をガイドするガイドブッシュを示す。
Since the lifting / lowering
直線状に配設された2個の昇降式位置決めピン55を昇降させる昇降手段56は、例えば図6に示すように、位置調整基板5の側端に沿って配設された2個の昇降式位置決めピン55のそれぞれの下部に形成されたラック55cと、各ラック55cに歯合するギア58aが所定間隔で形成された操作ロッド58とを備えてなるものとされる。なお、図6(a)中、2点鎖線からなる円Bで囲まれた部分は、同図中の矢視B−Bを示す。
As shown in FIG. 6, for example, as shown in FIG. 6, the
より具体的には、昇降式位置決めピン55は、ラック55cを他方の側面に向けて位置決めピン孔に昇降自在に挿通され、操作ロッド58は、そのギア58aをラック55cに歯合させて位置調整基板5の操作側端面に開口を有し位置決めピン孔に連通しているロッド横穴に回動自在に挿通されている。
More specifically, the
また、操作ロッド58の操作側端面から突出している部分には操作つまみ58bが設けられるとともに、操作ロッド58の操作側端部には、操作ロッド58に設けられた抜け止め溝58cと、この抜け止め溝58cに係合する抜け止めボルト58dとを備えた公知の抜け止め防止機構58eが設けられている。
In addition, an
昇降式位置決め機構51がかかる構成とされているので、操作つまみ58bを回動させることにより昇降式位置決めピン55が昇降する。つまり、昇降式位置決めピン55の頭部が位置調整基板5の上面から突出したり引っ込んだりする。
Since the elevating
上型ホルダ2は、図4に示すように、上型および芯出し装置100の上側基板(以下、装置上側基板という)102の位置決めをなす昇降式位置決め機構21、上型および装置上側基板102をボルト留めする適宜配置とされた4個の雌ねじ穴22、ならびに上型および装置上側基板102の落下を防止しながら上型および装置上側基板102のセットをガイドする対向配置されたL字状ガイド部を有するガイド部材23を有する。
As shown in FIG. 4, the
昇降式位置決め機構21は、昇降式位置決めピン25および昇降式位置決めピン25を昇降させる昇降手段26を有する。なお、それらの構成は、位置調整基板5の昇降式位置決め機構51と同様とされているので、その詳細な説明は省略する。
The lifting / lowering
次に、芯出しをなす芯出し装置100について説明する。
Next, the centering
芯出し装置(以下、単に装置という)100は、図7に示すように、上型ホルダ2に昇降式位置決め機構21により位置決めされかつボルト留めされる装置上側基板102を有する、芯ずれを計測する芯ずれ計測部(以下、単に計測部という)110と、位置調整基板5に昇降式位置決め機構51により位置決めされかつボルト留めされる装置下側基板101を有する、芯ずれが計測される芯ずれ被計測部(以下、単に被計測部という)120とを備えてなるものとされる。なお、計測部110と被計測部120との取り付け位置は、入れ替えられてもよい。つまり、計測部110を位置調整基板5にセットし、被計測部120を上型ホルダ2にセットするようにしてもよい。
As shown in FIG. 7, the centering device (hereinafter simply referred to as “device”) 100 has a device
計測部110は、前記装置上側基板102の他に、装置上側基板102に載置・固定される計測側載置台と、計測側載置台の計測基準線(例えば中心線)上に所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第1計測具および第2計測具とを備えてなるものとされる。
In addition to the apparatus
装置上側基板102は、昇降式位置決めピン25が挿通される昇降式位置決めピン孔、および装置上側基板102を上型ホルダ2にボルト留めするボルト孔を有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が装置上側基板102から突出しないよう段付孔とされている。
The apparatus
計測具は、計測側載置台に装着される側の端部つまり上端部近傍に鍔が形成された計測基準軸と、計測基準軸の他端部つまり下端部近傍に回転自在に装着された保持部材と、保持部材の外周部に探針を内側下方に向けて配設されたダイヤルゲージとを備えてなるものとされる。 The measuring tool has a measurement reference axis with a ridge formed near the end on the measurement side mounting table, that is, near the upper end, and a holder that is rotatably mounted on the other end of the measurement reference axis, that is, near the lower end. The member and a dial gauge disposed on the outer peripheral portion of the holding member with the probe facing inward and downward are provided.
被計測部120は、前記装置下側基板101の他に、装置下側基板101に載置・固定される被計測側載置台と、被計測側載置台の被計測基準線(例えば中心線)上に前記所定間隔を設けて配設される同一構造とされた第1被計測軸および第2被計測軸とを備えてなるものとされる。この被計測軸の下端部には鍔が形成されている。
In addition to the apparatus
装置下側基板101は、昇降式位置決めピン55が挿通される昇降式位置決めピン孔、および装置下側基板101を位置調整基板5にボルト留めするボルト孔を有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が装置下側基板101から突出しないよう段付孔とされている。
The apparatus
しかして、かかる構成とされた装置100を用いたダイセットDにおける芯出しは、以下のようにしてなされる。
Therefore, centering in the die set D using the
手順1:上型ホルダ2の昇降式位置決め機構21の昇降式位置決めピン25を装置上側基板102に設けられた位置決めピン孔に挿通して位置決めした後、装置上側基板102を上型ホルダ2にボルト留め(本固定)する。
Procedure 1: After positioning the
手順2:位置調整基板5を下型ホルダ1にボルト留め(仮固定)する。つまり、位置調整基板5を下型ホルダ1にスライド可能な状態でセットする。
Procedure 2: The
手順3:位置調整基板5の昇降式位置決め機構51の昇降式位置決めピン55を装置下側基板101に設けられたピン孔に挿通して位置決めした後、装置下側基板101を位置調整基板5にボルト留め(本固定)する。
Step 3: After positioning the liftable positioning pins 55 of the
手順4:計測部110の第1および2計測具で被計測部120の第1および2被計測軸の芯ずれを計測する。
Procedure 4: The first and second measuring tools of the measuring
手順5:計測値から芯ずれ量およびずれ方向を算出する。 Procedure 5: Calculate the misalignment amount and the misalignment direction from the measured values.
手順6:算出された芯ずれ量およびずれ方向に基づいて、位置調整基板5の位置を調整する。
Procedure 6: Adjust the position of the
手順7:位置調整基板5の位置調整が終了した後、位置調整基板5を下型ホルダ1に本固定する。つまり、位置調整基板5を下型ホルダ1にスライド不能な状態でセットする。
Procedure 7: After the position adjustment of the
手順8:位置調整基板5を本固定した後、再度、芯ずれを計測する。
Procedure 8: After the
手順9:計測値に問題がなければ、位置調整基板5のずれ防止ピン孔と下型ホルダ1のずれ防止ピン穴とをハンドリーマーにて共明けしてずれ防止ピンを挿通する。
Procedure 9: If there is no problem in the measured value, the misalignment prevention pin hole of the
手順10:再度、芯ずれを計測する。 Step 10: Measure misalignment again.
これにより、装置下側基板101と装置上側基板102との芯出し、つまり下型と上型との芯出しが完了する。
Thereby, the centering of the apparatus
このように、この実施形態1によれば、上型および下型の芯出しを高精度になし得るので、成形精度を向上させることができる。また、サブガイドを設けていないので、金型の交換が円滑になし得るとともに、ダイセットDの有効面積が増大する。 As described above, according to the first embodiment, the upper mold and the lower mold can be centered with high accuracy, so that the molding accuracy can be improved. Further, since the sub guide is not provided, the mold can be replaced smoothly and the effective area of the die set D is increased.
実施形態2
本発明の実施形態2に係るダイセットD1を図8および図9に概略図で示す。この実施形態2は実施形態1を改変してなるものであって、下型ホルダ1Aに位置調整基板5Aを収納する収納凹部11を設け、その収納凹部11に位置調整基板5Aを面一に収納してなるものとされる。また、収納凹部11底部に昇降式位置決め機構12を昇降式位置決めピン15をその頭部が位置調整基板5A上面から突出するように設けてなるものとされる。なお、実施形態2のその余の構成は実施形態1と同様とされている。
A die set D1 according to
以下、図10〜図13も参照しながら実施形態2の実施形態1と異なる点を主として説明する。 Hereinafter, the differences of the second embodiment from the first embodiment will be mainly described with reference to FIGS.
収納凹部11は、位置調整基板5Aの位置調整が可能なように内寸法に所定の裕度を有し、昇降式位置決めピン15が挿通される位置決めピン孔を底面に対角線状または直線状に2個有し、位置調整基板5Aをボルト留めする雌ねじ穴を底面に適宜配置で4個有し、位置調整基板5Aの位置ずれを防止するずれ防止ピンが挿通されるずれ防止ピン穴を底面中心線上に2個有している。
The
昇降式位置決め機構12は、昇降式位置決めピン15が位置調整基板5Aの上面から突出するよう長さが長くされている他は、操作ロッド17を含む昇降手段16等は実施形態1の昇降式位置決め機構51と同様とされている(図12および図13参照)。なお、図12中、2点鎖線からなる円Cで囲まれた部分は、同図中の矢視C−Cを示し、図13中、2点鎖線からなる円Dで囲まれた部分は、同図中の矢視D−Dを示す。
The lifting / lowering
位置調整基板5Aは、収納凹部11底面の昇降式位置決めピン孔、雌ねじ穴およびずれ防止ピン穴に対応させて昇降式位置決めピン孔、ボルト孔およびずれ防止ピン孔をそれぞれ有するとともに、装置下側基板101をボルト留めする雌ねじ穴4個を適宜配置で有している。ボルト孔は、明瞭には図示はされていないが、ボルト頭部が位置調整基板5Aから突出しないよう段付孔とされている。ここで、位置決めピン孔およびボルト孔は、位置調整基板5Aの位置調整が可能なように所定の裕度を有して設けられている。
The
次に、かかる構成とされた装置100を用いたダイセットD1における芯出しは、以下のようにしてなされる。
Next, centering in the die set D1 using the
手順1:上型ホルダ2の昇降式位置決め機構21の昇降式位置決めピン25を装置上側基板102に設けられたピン孔に挿通して位置決めした後、装置上側基板102を上型ホルダ2にボルト留め(本固定)する。
Procedure 1: After positioning the liftable positioning pins 25 of the
手順2:位置調整基板5Aを下型ホルダ1Aの収納凹部11に収納してボルト留め(仮固定)する。つまり、位置調整基板5Aを収納凹部11にスライド可能な状態でボルト留めする。
Procedure 2: The
手順3:下型ホルダ1Aの収納凹部11底部に昇降式位置決め機構12をセットする。つまり、昇降式位置決めピン15を位置調整基板5Aの位置決めピン孔から挿通し、操作ロッド横穴から挿通される操作ロッド17と係合させ、昇降式位置決めピン15を昇降可能とする。
Procedure 3: The elevating
手順4:昇降式位置決めピン15を装置下側基板101に設けられた昇降式位置決めピン孔に挿通して位置決めした後、装置下側基板101を位置調整基板5Aにボルト留め(本固定)する。
Procedure 4: After the elevating positioning pins 15 are inserted and positioned through elevating positioning pin holes provided in the apparatus
手順5:計測部110の第1および2計測具で被計測部120の第1および2被計測軸の芯ずれを計測する。
Procedure 5: The misalignment of the first and second measured axes of the measured
手順6:計測値から芯ずれ量およびずれ方向を算出する。 Procedure 6: Calculate the misalignment amount and misalignment direction from the measured values.
手順7:算出された芯ずれ量およびずれ方向に基づいて、位置調整基板5Aの位置を調整する。この位置調整は、例えば先端部が楔状に形成された位置調整治具Jを収納凹部11と位置調整基板5Aとの隙間に叩き込む(図14参照)ことによりなされる。
Procedure 7: Based on the calculated misalignment amount and misalignment direction, the position of the
手順8:位置調整基板5Aの位置調整が終了した後、位置調整基板5Aを下型ホルダ1Aの収納凹部11に本固定する。
Procedure 8: After the position adjustment of the
手順9:位置調整基板5Aを本固定した後、再度、芯ずれを計測する。
Procedure 9: After the
手順10:計測値に問題がなければ、位置調整基板5Aのずれ防止ピン孔と下型ホルダ1Aのずれ防止ピン穴とをハンドリーマーにて共明けしてずれ防止ピンを挿通する。
Step 10: If there is no problem in the measured value, the misalignment prevention pin hole of the
手順11:再度、芯ずれを計測する。 Procedure 11: Measure misalignment again.
これにより、装置下側基板101と装置上側基板102との芯出し、つまり下型と上型との芯出しが完了する。
Thereby, the centering of the apparatus
このように、この実施形態2によれば、下型ホルダ1Aに収納凹部11を設け、それに位置調整基板5Aを収納するようにしているので、ダイハイトを従来と同様にできるという実施形態1では得られない効果も得られる。
As described above, according to the second embodiment, since the
以下、より具体的な実施例により説明する。 Hereinafter, more specific examples will be described.
図15に示す芯出し装置(図示例では、計測部が下側とされ、被計測部が上側とされている。)により、芯出しを行った。この芯出しにおいては、上型(装置上側基板)102下型(装置下側基板)101とのずれに応じて、図16に示すように、ダイヤルゲージの理想軌道からのすれが生ずる。なお、計測は、操作面側をゼロとし計測具を時計回りに回して行った。また、図中、プラスはダイヤルゲージの探針が押されていることを示し、マイナスはその逆を示す。 Centering was performed by a centering apparatus shown in FIG. 15 (in the example shown, the measuring unit is on the lower side and the measured part is on the upper side). In this centering, the dial gauge slips from the ideal trajectory as shown in FIG. 16 according to the deviation from the upper die (device upper substrate) 102 and the lower die (device lower substrate) 101. The measurement was performed by setting the operation surface side to zero and rotating the measuring tool clockwise. In the figure, plus indicates that the dial gauge probe is being pressed, and minus indicates the opposite.
例えば、上型が下型の奥にずれている場合(図16(a))、上型が下型の手前にずれている場合(図16(b))、上型が下型の斜め奥にずれている場合(図16(c))、上型が下型の斜め手前にずれている場合(図16(d))などである。 For example, when the upper mold is shifted to the back of the lower mold (FIG. 16 (a)), when the upper mold is shifted to the front of the lower mold (FIG. 16 (b)), the upper mold is obliquely behind the lower mold. Or when the upper die is displaced obliquely in front of the lower die (FIG. 16D).
図17に、計測結果を表で示し、図18にグラフで示す。また、下型(装置下側基板)101および上型(装置上側基板)102座標位置は、図19に示すように定め、ずれ量およびその方向を考慮しながら芯出しを行う。 FIG. 17 shows a measurement result in a table, and FIG. 18 shows a graph. Further, the coordinate positions of the lower die (device lower substrate) 101 and the upper die (device upper substrate) 102 are determined as shown in FIG. 19, and centering is performed in consideration of the shift amount and the direction thereof.
図17および図18から、芯出しが高精度になされているのがわかる。 It can be seen from FIGS. 17 and 18 that the centering is performed with high accuracy.
本発明は、ダイセットの製作およびダイセットにおける芯出しに適用できる。 The present invention can be applied to manufacture of a die set and centering in the die set.
1 下型ホルダ
11 収納凹部
12 昇降式位置決め機構
15 昇降式位置決めピン
16 昇降手段
17 操作ロッド
2 上型ホルダ
21 昇降式位置決め機構
23 ガイド部材
25 昇降式位置決めピン
3 ガイドポスト
4 ガイドブッシュ
5 位置調整基板
51 昇降式位置決め機構
55 昇降式位置決めピン
56 昇降手段
57 操作ロッド
100 芯出し装置
101 装置下側基板
102 装置上側基板
110 計測部
120 被計測部
D ダイセット
J 位置調整治具
DESCRIPTION OF
Claims (8)
下型ホルダに位置調整基板を備えてなることを特徴とするダイセット。 A die set comprising a lower mold holder, an upper mold holder, a guide post, and a guide bush,
A die set comprising a lower mold holder and a position adjusting substrate.
下型ホルダに位置調整基板を位置調整可能にセットする手順と、
芯出し装置により装置下側基板と装置上側基板とのずれを計測する手順と、
前記計測値に基づいて位置調整基板の位置調整をなす手順と、
位置調整基板にずれ防止ピンを挿通して同位置調整基板のずれを防止する手順
とを含んでいることを特徴とする金型実装方法。 A mold mounting method in a die set having a position adjustment substrate,
The procedure to set the position adjustment board to the lower mold holder so that the position can be adjusted
A procedure for measuring the deviation between the lower substrate and the upper substrate by the centering device;
A procedure for adjusting the position of the position adjustment board based on the measurement value;
A mold mounting method comprising: a step of inserting a displacement prevention pin through the position adjustment board to prevent the position adjustment board from being displaced.
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