JP2008234383A - パラメータ管理装置およびパラメータ管理方法 - Google Patents

Abstract

【課題】各種パラメータの管理を容易且つ信頼性の高いものとする。
【解決手段】所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を記憶する記憶手段と、ユーザによる入力を受け付ける入力手段と、所定のハッシュ関数を用いて、記憶手段に記憶された各パラメータ群を元に各ハッシュ値を算出するハッシュ値算出手段と、該算出されたハッシュ値の中で入力手段により入力された値と一致するものを判定する一致判定手段と、該一致すると判定されたハッシュ値に対応するパラメータ群を抽出する抽出手段とを備えたパラメータ管理装置を提供する。
【選択図】図５

Description

この発明は、所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を管理するパラメータ管理装置およびパラメータ管理方法に関する。

一般に、製品の製造工程には、製品や部品等の検査を実施するための検査工程が含まれる。このような検査工程には、例えば自動制御プログラムに従って動作する検査装置が備えられる。この自動制御プログラムは例えば汎用のプログラムであり、幾つかのパラメータ（例えば良否判定の閾値や他の検査条件等）を参照して検査処理を実行する。作業者は、検査対象の製品や部品に応じて上記パラメータを検査装置に入力する。そして、自動制御プログラムを実行させる。自動制御プログラムが上記パラメータを参照して製品や部品の検査処理を実行することにより、検査対象の製品や部品に応じた検査が実現される。

同一の検査装置を用いて様々な種類の製品や部品を検査する場合、上記の如き検査の形態、すなわち製品や部品に応じてパラメータを設定して検査を行う形態は、製品や部品毎に異なる実装の検査装置を用いる必要がない点で好適である。しかし、このようにパラメータを柔軟に設定変更できる場合、パラメータの誤設定が防止されるよう検査装置を十分な管理下に置く必要がある。これは、検査装置が十分な管理下に置かれていない場合、誤設定されたパラメータを用いて検査が実施され得るためである。誤設定のパラメータを用いて検査が実施された場合、製品や部品の歩留まりが不当に低下したり不良品が多数流出したりするといった問題が起こり得る。

例えば下記特許文献１に、検査条件等のパラメータをネットワーク上のデータベースで一元的に管理する管理システムが開示されている。この管理システムには、上記パラメータを蓄積するデータベースにアクセス可能な端末装置が複数備えられる。具体的には、管理側の端末装置が上記データベースを更新可能に構成される。また、工程側の端末装置が当該のデータベースの中から各工程に対応したレコードを検索して必要なパラメータの設定値を取得可能に構成される。工程側の端末装置に取得された各パラメータの設定値を用いることにより、各工程において、それぞれの設定値を用いた適切な検査が実施される。下記特許文献１によれば、各パラメータがデータベースで一元的に管理されるため、上記問題が略発生しないものと考えられる。
特開平６−３４８７１８号公報

しかし、上記特許文献１では、規模の大きなデータベースマネジメントシステムを構築する必要がある。このため莫大な費用や工期を要する。従って、費用も時間も限られた環境下では、上記パラメータの管理を人力に頼らざるを得ないことも多々ある。一例として、作業者が各パラメータを一つ一つ定期的に確認するといった管理形態がある。ところが、このような管理は、極めて煩雑であるため好ましくない。また、確認すべきパラメータが多い場合、その数に比例して確認ミスも起こり易くなり、信頼性のある管理が約束されないといった問題もある。

そこで、本発明は上記の事情に鑑みて、上記パラメータの管理を容易にし且つ信頼性の高いものとすることが可能なパラメータ管理装置およびパラメータ管理方法を提供することを課題としている。

上記の課題を解決する本発明の一態様に係るパラメータ管理装置は、所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を管理する装置である。パラメータ管理装置は、該少なくとも１つのパラメータ群を記憶する記憶手段と、ユーザによる入力を受け付ける入力手段と、所定のハッシュ関数を用いて、記憶手段に記憶された各パラメータ群を元に各ハッシュ値を算出するハッシュ値算出手段と、該算出されたハッシュ値の中で入力手段により入力された値と一致するものを判定する一致判定手段と、該一致すると判定されたハッシュ値に対応するパラメータ群を抽出する抽出手段とを備えたことを特徴とした装置である。

このように構成されたパラメータ管理装置によれば、例えば多数のパラメータで構成されるパラメータ群を単純な文字列で表現されるハッシュ値で管理することが可能となる。このため、パラメータ管理が容易となる。また、処理装置に対して設定すべきパラメータを１つ１つ確認する必要もないため、確認ミスが起こり難くなり、また改竄等を検知するのにも好適であるため、信頼性のある管理が提供されるようになる。

ここで、上記ハッシュ値算出手段は、例えば入力手段により値が入力されるとハッシュ値を算出する構成であっても良い。

また、上記パラメータ管理装置は、例えば抽出手段により抽出されたパラメータ群を用いて該処理装置に対するパラメータ設定を行うパラメータ設定手段を更に備えた構成であっても良い。

上記記憶手段は、例えば該処理装置がパラメータ設定手段により設定されたパラメータを用いて処理を行ったときに、該処理装置により得られた処理結果のデータを、対応するパラメータ群に関連付けて記憶する構成であっても良い。

また、上記記憶手段は、例えば抽出手段により抽出されたパラメータ群に対応するハッシュ値を当該パラメータ群に関連付けて記憶する構成であっても良い。

上記パラメータ管理装置は、例えば記憶手段に新たなパラメータ群が記憶され、ハッシュ値算出手段に該新たなパラメータ群を元にしたハッシュ値が算出されたとき、記憶手段に記憶されているハッシュ値の中に、ハッシュ値算出手段により新たに算出されたハッシュ値と一致するハッシュ値があるか否かを判定するハッシュ値判定手段を更に備えた構成であっても良く、この場合、ハッシュ値判定手段により一致するハッシュ値があると判定されたときに限り、ハッシュ値算出手段は、所定の調整データを用いてハッシュ値を再計算する。

また、上記パラメータ管理装置は、例えば抽出手段により何れのパラメータ群も抽出されない場合にエラー警告を行う警告手段を更に備えた構成であっても良い。

また、上記パラメータ管理装置において、該所定の処理が物品に対する検査であっても良く、また、該パラメータ群が当該の検査に用いる検査条件を表す検査条件データであっても良い。

また、上記の課題を解決する本発明の一態様に係るパラメータ管理方法は、所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を管理する方法である。パラメータ管理方法は、該少なくとも１つのパラメータ群を所定の記憶媒体に記憶する記憶ステップと、ユーザによる入力を受け付ける入力ステップと、所定のハッシュ関数を用いて、記憶ステップで記憶された各パラメータ群を元に各ハッシュ値を算出するハッシュ値算出ステップと、該算出されたハッシュ値の中で入力ステップで受け付けた値と一致するものを判定する一致判定ステップと、該一致すると判定されたハッシュ値に対応するパラメータ群を抽出する抽出ステップとを含む方法である。

このようなパラメータ管理方法によれば、例えば多数のパラメータで構成されるパラメータ群を単純な文字列で表現されるハッシュ値で管理することが可能となる。このため、パラメータ管理が容易となる。また、処理装置に対して設定すべきパラメータを１つ１つ確認する必要もないため、確認ミスが起こり難くなり、また改竄等を検知するのにも好適であるため、信頼性のある管理が提供されるようになる。

また、上記パラメータ管理方法は、例えば抽出ステップで抽出されたパラメータ群を用いて該処理装置に対するパラメータ設定を行うパラメータ設定ステップを更に含む方法であっても良い。

また、上記パラメータ管理方法は、例えば該処理装置がパラメータ設定ステップで設定されたパラメータを用いて処理を行ったとき、該処理装置により得られた処理結果のデータを、対応するパラメータ群に関連付けて該所定の記憶媒体に記憶する処理結果記憶ステップを更に含む方法であっても良い。

また、上記パラメータ管理方法は、例えば抽出ステップで抽出されたパラメータ群に対応するハッシュ値を当該パラメータ群に関連付けて所定の記憶媒体に記憶するハッシュ値記憶ステップを更に含む方法であっても良い。

また、上記パラメータ管理方法は、例えば新たなパラメータ群を該所定の記憶媒体に記憶する新規記憶ステップと、該新たなパラメータ群を元にハッシュ値を算出する新規ハッシュ値算出ステップと、ハッシュ値記憶ステップで記憶されているハッシュ値の中に、新規ハッシュ値算出ステップで算出されたハッシュ値と一致するハッシュ値があるか否かを判定するハッシュ値判定ステップと、ハッシュ値判定ステップで一致するハッシュ値があると判定されたときに限り、所定の調整データを用いて該新たなパラメータ群に対するハッシュ値を再計算する再計算ステップとを更に含む方法であっても良い。

また、上記パラメータ管理方法は、例えば抽出ステップで何れのパラメータ群も抽出されない場合にエラー警告を行う警告ステップを更に含む方法であっても良い。

また、上記パラメータ管理方法において、該所定の処理が物品に対する検査であっても良く、また、該パラメータ群が当該の検査に用いる検査条件を表す検査条件データであっても良い。

本発明のパラメータ管理装置およびパラメータ管理方法によれば、例えば多数のパラメータで構成されるパラメータ群を単純な文字列で表現されるハッシュ値で管理することが可能となる。このため、パラメータ管理が容易となる。また、処理装置に対して設定すべきパラメータを１つ１つ確認する必要もないため、確認ミスが起こり難くなり、また改竄等を検知するのにも好適であるため、信頼性のある管理が提供されるようになる。

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態の管理システムについて説明する。

本実施形態の管理システムは、管理サーバおよびクライアント装置を備える。管理サーバは、クライアント装置を管理するために例えば管理部門に設置されたＰＣ（Personal Computer）である。また、クライアント装置は、製品や部品を検査するための検査装置であり、当該の検査が実施される検査工程に対応して備えられる。なお、クライアント装置は、検査装置と別体の端末装置（例えばＰＣ）であっても良い。以下、便宜上、管理サーバを操作するユーザを「管理者」、クライアント装置を操作するユーザを「工程作業者」と記す。管理者と工程作業者は、典型的には別々のユーザである。

なお、本実施形態では、管理者と工程作業者が別々に存在することから、管理者用の装置（管理サーバ）と工程作業者用の装置（クライアント装置）を備えた管理システムが構築されている。しかし、例えば管理者と工程作業者が同一人物である場合には、クライアント装置が自己と管理サーバの両方の機能を実現する構成であっても良い。すなわち本発明は、装置単体であっても構成可能である。

図１に、本実施形態の管理サーバ１００の構成をブロック図で示す。図１に示されるように、管理サーバ１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０２を有する。ＣＰＵ１０２は、管理サーバ１００の統括的な制御を実行するものであり、バス１１４を介して各構成要素に接続される。これらの構成要素には、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１０４、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０６、入力部１０８、表示部１１０、および外部記憶インタフェース１１２が含まれる。

ＨＤＤ１０４には、各種プログラムや各種データが格納される。ＨＤＤ１０４に格納されるプログラムやデータには、例えばクライアント装置を管理するための管理プログラムや管理データが含まれる。

ＲＡＭ１０６は、例えばＨＤＤ１０４に格納される各種プログラムの展開先である。また、入力部１０８は、例えばマウスやキーボード等の入力デバイスである。ＣＰＵ１０２は、例えば入力部１０８の操作に従って管理プログラムを読み出す。次いで、読み出された管理プログラムをＲＡＭ１０６の所定領域に展開する。これにより、管理プログラムが起動して実行可能な状態となる。ＣＰＵ１０２は、入力部１０８の操作に従って管理プログラムを実行し、種々の機能を実現する。また、ＲＡＭ１０６は、例えば入力部１０８によって入力されたデータを一時的に保持する機能も有する。

表示部１１０は、例えばＣＲＴ（Cathode Ray Tube）型ディスプレイや液晶ディスプレイであり、ＣＰＵ１０２の制御下で種々の情報を表示可能に構成される。ここで、例えば管理プログラムにはＧＵＩ（Graphical User Interface）機能が実装されている。このため、管理プログラム実行中は、ユーザ・オペレーションのための種々の情報が表示部１１０に表示される。従って、管理者は、例えばマウス等のポインティングデバイスを操作することにより、管理プログラムによって提供される機能を容易に実現させることができる。

外部記憶インタフェース１１２は、管理サーバ１００とリムーバブルドライブとを接続するためのインタフェースである。本実施形態では、図１に示されるように、外部記憶装置３００が外部記憶インタフェース１１２を介して管理サーバ１００と接続される。外部記憶装置３００は、例えばＣＤ−Ｒ等の書き込み可能なメディアに対応した外付けドライブである。

ここで、本実施形態では、検査工程での検査の対象を、ハード基板上に回路が実装された回路実装基板とする。図２および図３に、本実施形態の検査工程で検査対象となる回路実装基板１０、および当該の検査工程に対応して備えられたクライアント装置２００の概略構成図およびブロック図を示す。

図２に示されるように、回路実装基板１０には、回路Ｃ_１、Ｃ_２、およびＣ_３が実装されている。回路Ｃ_１には端子ＣＰ_１１、回路Ｃ_２には端子ＣＰ_２１、ＣＰ_２２、ＣＰ_２３、回路Ｃ_３には端子ＣＰ_３１がそれぞれ含まれる。また、クライアント装置２００は、治具回路２２０および接続機構２３０を有する。接続機構２３０は、回路実装基板１０と機械的に連結可能に構成される。また、例えば機械的に連結された状態で、回路実装基板１０の各端子と治具回路２２０とを電気的に接続させるよう構成される。

図３に示されるように、クライアント装置２００は、ＣＰＵ２０２を有する。ＣＰＵ２０２は、クライアント装置２００の統括的な制御を実行するものであり、バス２１２を介して各構成要素に接続される。これらの構成要素には、ＨＤＤ２０４、ＲＡＭ２０６、入力部２０８、表示部２１０、および治具回路２２０が含まれる。治具回路２２０は、測定部２２２および基板制御部２２４を有する。測定部２２２は、接続端子であるチャンネルｃｈ_１、ｃｈ_２、ｃｈ_３、ｃｈ_４、ｃｈ_５を有し、各チャンネルの接続先の電位を測定する機能を有する。端子ＣＰ_１１、ＣＰ_２１、ＣＰ_２２、ＣＰ_２３、ＣＰ_３１は、接続機構２３０を介して基板制御部２２４に接続される。また、端子ＣＰ_１１、ＣＰ_２１、ＣＰ_２２、ＣＰ_２３、ＣＰ_３１は、それぞれ、接続機構２３０を介してチャンネルｃｈ_１、ｃｈ_２、ｃｈ_３、ｃｈ_４、ｃｈ_５に接続される。

ＨＤＤ２０４には、各種プログラムや各種データが格納される。ＨＤＤ２０４に格納されるプログラムやデータには、例えば回路実装基板１０を検査するための検査プログラムや、当該の検査に用いる検査用パラメータに関するデータが含まれる。なお、ここでいう検査用パラメータに関するデータには、例えば検査に適用されるパラメータの種類および設定値の情報が含まれる。本実施形態では検査対象が回路実装基板であるため、検査用パラメータの種類として、例えば導電パターン幅や、回路上の各端子の電位、所定区間の抵抗値等がある。

ＲＡＭ２０６は、例えばＨＤＤ２０４に格納される各種プログラムの展開先である。また、入力部２０８は、例えばマウスやキーボード等の入力デバイスである。ＣＰＵ２０２は、例えば入力部２０８の操作に従って検査プログラムを読み出す。次いで、読み出された検査プログラムをＲＡＭ２０６の所定領域に展開する。これにより、検査プログラムが起動して実行可能な状態となる。

なお、クライアント装置２００では、基板制御部２２４が上記検査プログラムを実行する専用ＩＣ（Integrated Circuit）として実装されている。当該の専用ＩＣには、回路実装基板１０用の制御回路も含まれる。従って、基板制御部２２４は、入力部１０８の操作に従って、ＣＰＵ２０２と連携して動作して検査プログラムを実行する。そして、回路実装基板１０の各回路に制御信号を出力して各回路を制御すると共に、測定部２２２で測定される電位を参照して検査を行う。以下、説明の便宜上、回路Ｃ_１、Ｃ_２、Ｃ_３に出力する制御信号をそれぞれ「制御信号１」、「制御信号２」、「制御信号３」と記す。

表示部２１０は、例えば液晶ディスプレイであり、ＣＰＵ２０２の制御下で例えば種々の情報を表示可能に構成される。工程作業者は、表示部２１０を視認しながら入力部２０８を操作して、例えば検査プログラム等によって提供される機能を実現させることができる。

次に、検査工程において回路実装基板１０の検査が実施されるまでの一連の流れを説明する。

先ず、管理部門において回路実装基板１０についての検査条件が検討され決定する。本実施形態における検査条件は、以下の条件（１）〜（５）である。検査工程において、条件（１）〜（５）の全てを満たす回路実装基板は良品と判定され、条件（１）〜（５）の中で満たさない条件が１つでもある回路実装基板は不良品と判定される。
（１）端子ＣＰ_１１の電位が１０〜１５Ｖ
（２）端子ＣＰ_２１の電位が１０〜１５Ｖ
（３）端子ＣＰ_２２の電位が５０ｍＶ〜１００ｍＶ
（４）端子ＣＰ_２３の電位が４．５Ｖ〜５．５Ｖ
（５）端子ＣＰ_３１の電位が２．３Ｖ〜２．５Ｖ

検査条件が決定すると、管理者は、管理サーバ１００の入力部１０８を操作して管理プログラムを起動する。このとき表示部１１０には、回路実装基板の各端子に対応する設定値の入力を促す画面（以下、「設定値入力画面」という）が表示される。管理者は、設定値入力画面に従って条件（１）〜（５）に対応する各数値を入力する。具体的には、条件（１）に対応する数値として「１０〜１５」、条件（２）に対応する数値として「１０〜１５」、条件（３）に対応する数値として「０．０５〜０．１」、条件（４）に対応する数値として「４．５〜５．５」、条件（５）に対応する数値として「２．３〜２．５」を入力する。本実施形態では「各端子の電位」が検査用パラメータの種類に該当し、「各端子の電位の具体的数値」が検査用パラメータの設定値に該当する。

なお、管理サーバ１００には所定のパスワードでロックが掛けられており、管理者だけが管理サーバ１００にアクセスすることができる。従って、第三者によって検査条件が勝手に設定されることはない。

ＨＤＤ１０４の所定領域には、検査条件テーブルが格納されている。管理プログラムは、入力された検査条件に応じたレコードを検査条件テーブルに登録・更新する。図４に、検査条件テーブルを示す。検査条件テーブルは、「ハッシュ値」、「条件（１）」、「条件（２）」、「条件（３）」、「条件（４）」、「条件（５）」のフィールドを有する。

ここで、管理プログラムによるレコード登録処理について説明する。図５に、レコード登録処理のフローチャートを示す。

上記設定値入力画面において管理者が何れかの端子の設定値を入力すると、管理プログラムは、新たなレコードＲ_ｎを作成する（ステップ１、以下、明細書及び図面においてステップを「Ｓ」と略記する）。そして、上記の入力に対応する条件フィールドに入力値をエントリする。次いで、管理プログラムは、他の条件フィールドに対する入力を待機する（Ｓ２）。そして、他の条件フィールドに対する入力が成されると（Ｓ２：ＹＥＳ）、当該の入力に応じたフィールドに入力値をエントリする（Ｓ３）。

管理プログラムはＳ３の処理に次いで、レコードＲ_ｎの全ての条件フィールドに数値がエントリされたか否かを判定する（Ｓ４）。エントリのない条件フィールドが１つでもある場合には（Ｓ４：ＮＯ）、Ｓ２の入力待機状態に復帰してＳ２乃至４の処理を繰り返す。全ての条件フィールドにエントリがある場合には（Ｓ４：ＹＥＳ）、管理プログラムは、所定のアルゴリズム（ハッシュ関数）に基づいて、各条件フィールドのエントリを元にハッシュ値を求める（Ｓ５）。

ここで求められるハッシュ値は、回路実装基板１０に対する検査条件の情報を例えば８ビットのバイナリデータで表現したものである。以下、Ｓ５のハッシュ値を算出する処理について具体的に説明する。

回路Ｃ_１は、制御信号１で制御され、測定ポイント数が１（端子ＣＰ_１１）である。また、端子ＣＰ_１１は、測定部２２２のチャンネルｃｈ_１に接続され、検査規格の電位が１０〜１５Ｖに設定されている。管理プログラムは、制御信号１を「１」、１つの測定ポイント数を「１」、チャンネルｃｈ_１を「１」、１０〜１５Ｖを「１０、１５」と認識する。そして、管理プログラムは、認識した各数値をシリアルに並べたデータを作成する。このデータは、回路Ｃ_１に対する検査条件の情報を表現するデータであり、具体的には、「１、１、１、１０、１５」である。

管理プログラムは、回路Ｃ_２および回路Ｃ_３対する検査条件の情報も上記回路Ｃ_１の場合と同一形式のデータで表現する。具体的には、回路Ｃ_２は、制御信号２で制御され、測定ポイント数が３（端子ＣＰ_２１、ＣＰ_２２、ＣＰ_２３）である。また、端子ＣＰ_２１、ＣＰ_２２、ＣＰ_２３は、測定部２２２のチャンネルｃｈ_２、ｃｈ_３、ｃｈ_４にそれぞれ接続されている。また、検査規格の電位が１０〜１５Ｖ、５０ｍＶ〜１００ｍＶ、４．５Ｖ〜５．５Ｖにそれぞれ設定されている。管理プログラムは、制御信号２を「２」、３つの測定ポイント数を「３」、チャンネルｃｈ_２、ｃｈ_３、ｃｈ_４をそれぞれ「２」、「３」、「４」、１０〜１５Ｖ、５０ｍＶ〜１００ｍＶ、４．５Ｖ〜５．５Ｖをそれぞれ「１０、１５」、「０．０５、０．１」、「４．５、５．５」と認識する。また、回路Ｃ_３は、制御信号３で制御され、測定ポイント数が１（端子ＣＰ_３１）である。また、端子ＣＰ_３１は、測定部２２２のチャンネルｃｈ_５に接続され、検査規格の電位が２．３Ｖ〜２．５Ｖに設定されている。管理プログラムは、制御信号３を「３」、１つの測定ポイント数を「１」、チャンネルｃｈ_５を「５」、２．３Ｖ〜２．５Ｖを「２．３、２．５」と認識する。従って、回路Ｃ_２、回路Ｃ_３に対する検査条件の情報を表現するデータは、それぞれ「２、３、２、１０、１５、３、０．０５、０．１、４、４．５、５．５」、「３、１、５、２．３、２．５」となる。

管理プログラムは、各回路に対する上記データをシリアルに並べたデータ、すなわち回路実装基板１０に対する全ての検査条件の情報を表現するデータ（以下、「検査条件羅列データ」という）を更に作成する。ここでの検査条件羅列データは、具体的には、「１、１、１、１０、１５、２、３、２、１０、１５、３、０．０５、０．１、４、４．５、５．５、３、１、５、２．３、２．５」となる。管理プログラムは、検査条件羅列データを元に所定のハッシュ関数を用いて演算処理を行い、単一のハッシュ値（例えば図４に示される「ＸＸＸ」）を得る。

Ｓ５の処理により、回路実装基板１０に対する全ての検査条件の情報が８ビットのハッシュ値で表現される。このハッシュ値は、例えば検査用パラメータの数が幾ら増加しても８ビットの単一のデータで構成される。ハッシュ値は、検査条件羅列データのように幾つもの数字を羅列したものでなく「０」〜「２５５」の何れかの値であるため、管理者にとっても工程作業者にとっても極めて管理し易いと云える。

ここで、検査条件を一部でも変更すればハッシュ値は異なる値となる。また、本実施形態で設定され得る検査条件の数は、２５６（すなわち８ビットで表現可能な数）よりも遙かに少ない。従って、異なる検査条件のハッシュ値が同じ値となる確率は低い。しかし、その確率は０でないため、異なる検査条件のハッシュ値が同じ値になることもある。この場合、管理サーバ１００が各検査条件の情報をユニークな情報として管理できない不都合が生じる。本実施形態のレコード登録処理では、このような不都合を回避するためＳ６乃至８の処理が実行される。

Ｓ６の処理において管理プログラムは、Ｓ５の処理で算出したハッシュ値と「ハッシュ値」フィールドの全てのエントリとを比較して、同じ値があるか否かを判定する（Ｓ６）。

Ｓ５の処理で算出したハッシュ値と同じ値のエントリがない場合（Ｓ６：ＮＯ）、管理プログラムは、当該のハッシュ値をユニークであると判断する。次いで、当該のハッシュ値をレコードＲ_ｎの「ハッシュ値」フィールドにエントリして（Ｓ９）、本実施形態のレコード登録処理を終了する。

また、Ｓ５の処理で算出したハッシュ値と同じ値のエントリがある場合（Ｓ６：ＹＥＳ）、管理プログラムは、上記検査条件羅列データに調整用データＡＤを付加する（Ｓ７）。調整用データＡＤは、レコード登録処理開始時に「０」にリセットされるカウント値であり、Ｓ７の処理を実行する毎に１インクリメントされる。従って、レコード登録処理が開始してからＳ７の処理を初めて実行する場合、調整用データＡＤは、「１」で表現されるデータとなる。管理プログラムは、上記検査条件羅列データの最後に「１」を付加したデータ、すなわち「１、１、１、１０、１５、２、３、２、１０、１５、３、０．０５、０．１、４、４．５、５．５、３、１、５、２．３、２．５、１」を作成する。管理プログラムは、Ｓ７の処理で作成されたデータを元にハッシュ値を再び算出する（Ｓ８）。これにより、前回と異なるハッシュ値が求められる。管理プログラムは、Ｓ６の処理に復帰して、当該のハッシュ値が他のハッシュ値と同じ値か否かを再び判定する。ハッシュ値がユニークな値になるまでＳ６乃至８の処理が繰り返される。

図５のレコード登録処理で更新された検査条件テーブルは、例えば外部記憶装置３００を用いてＣＤ−Ｒ等のメディアに書き込まれる。そして、当該のメディアが工程作業者に手渡される。なお、管理サーバ１００とクライアント装置２００とが例えばインターネット等のネットワークで接続されている場合、検査条件テーブルを管理サーバ１００が電子メール等でクライアント装置２００に送信するようにしても良い。この場合、検査条件テーブルは、例えばメール文書中に貼り付けられたテキスト又はバイナリデータで表現されるものであっても良く、或いは電子メールに添付されたファイルに含まれるものであっても良い。

次に、クライアント装置２００側での処理について説明する。

工程作業者は、上記メディアをクライアント装置２００のドライブ（不図示）にセットして、検査条件テーブルをＨＤＤ２０４の所定領域にコピーする。また、上記電子メールの形態の場合、工程作業者は、電子メールやその添付ファイル等を開き、その中に含まれる検査条件テーブルをＨＤＤ２０４の所定領域にコピーする。これにより、クライアント装置２００にも管理サーバ１００と同一の検査条件のデータが保存されることになる。

工程作業者は、例えば回路実装基板１０の検査を行う場合、先ず、図２や３に示されるように、回路実装基板１０とクライアント装置２００とを接続する。そして、先に説明した検査プログラムを実行させる。ここで、検査プログラムは、回路実装基板１０の実際の検査に先立って検査条件取得処理を実行する。検査条件取得処理は、検査に用いるべき正しい検査条件を取得する処理である。図６に、検査条件取得処理のフローチャートを示す。

検査条件取得処理では、先ず、ハッシュ値入力を促す操作用画面が表示部２１０に表示される（Ｓ１１）。Ｓ１１の処理で入力を促されるハッシュ値は、これから実施する検査の検査条件に対応したハッシュ値であり、例えば検査前に管理者から通知される。ここでは回路実装基板１０の検査が行われるため、工程作業者は、図４のレコードＲ_ｎのハッシュ値「ＸＸＸ」を入力することになる。入力されたハッシュ値は、例えばＲＡＭ２０６に一時的に保持される。

次いで、Ｓ１１の処理で入力されたハッシュ値と、ＨＤＤ２０４の検査条件テーブルの「ハッシュ値」フィールドの各エントリとが比較される。そして、Ｓ１１の処理で入力されたハッシュ値と一致するハッシュ値のエントリがあるか否かが判定される（Ｓ１２）。一致するエントリがない場合（Ｓ１２：ＮＯ）、例えばハッシュ値の入力にミスがあるとして、表示部２１０にエラー警告が表示される（Ｓ１３）。そして、所定時間経過後、Ｓ１１の処理に復帰して、ハッシュ値入力を促す操作用画面が再び表示される。また、Ｓ１２の処理において一致するエントリがある場合（Ｓ１２：ＹＥＳ）、当該エントリのレコードに含まれる各検査条件が読み出されて、検査に用いる検査用パラメータとして例えばＲＡＭ２０６に一時的に保持される（Ｓ１４）。

検査プログラムは、Ｓ１４の処理が実行されると検査条件取得処理を終了させて、回路実装基板１０を検査可能な状態に移行する。制御信号１〜３を出力して回路実装基板１０の制御を行う共に各端子の電位を測定する。そして、その測定値がＳ１４の処理でＲＡＭ２０６に保持された検査条件（ここでは上記条件（１）〜（５））を満たすか否かを判定し、判定結果に基づいて回路実装基板１０の良否判定を行う。良品と判定された回路実装基板は、例えば他の業者に出荷、或いは製造工程内の次の工程に搬送される。また、不良品と判定された回路実装基板は、例えば工程作業者によって修理されたり破棄されたりする。なお、検査結果のデータは、クライアント装置２００を操作して何時でも参照できるよう、例えばＨＤＤ２０４の検査条件テーブルと関連付けられた、ＨＤＤ２０４内の別のテーブルに格納される。

図６の検査条件取得処理では、工程作業者は、単純な数値（８ビットのハッシュ値）を入力するだけで正しい検査条件を設定することができる。検査条件の各パラメータの設定値を１つ１つ入力する必要がないため、入力ミスのリスクがなくなる効果が期待される。この効果は、設定すべき検査用パラメータの数が多ければ多いほどより一層顕著となる。また、本実施形態において管理部門は、検査条件を一度設定してしまえば、後は各検査工程の工程作業者に適切なハッシュ値を通知するだけで良い。また、各検査工程の工程作業者は、検査条件の設定に関しては通知されたハッシュ値を入力するだけで良い。従って、本実施形態では、容易且つ信頼性の高い管理が実現されると云える。

また、本実施形態の管理システムによれば、例えばデータベースマネジメントシステムのような大規模なネットワークシステムを構築する必要がなく、費用や工期を抑えることが可能である。

また、本実施形態のように検査条件をハッシュ値と関連付けて管理した場合、例えば第三者による検査条件の改竄等を検知することが可能となる。例えば第三者がクライアント装置２００に不正アクセスして、検査条件テーブルの各条件フィールドのエントリを書き換えたとする。ここで、「ハッシュ値」フィールドにエントリされているハッシュ値は、各条件フィールドのエントリに基づいて算出されたものである。従って、各条件フィールドのエントリが書き換えられると、それに対応するハッシュ値も書き換わる。例えばハッシュ値「ＸＸＸ」が「ＸＡＡ」に変わる。この場合、検査条件取得処理において、工程作業者が本来正しいハッシュ値「ＸＸＸ」を入力してもエラー警告が表示されてしまう。この結果、工程作業者は、例えば検査条件の改竄等に気付き、管理部門に報告することができる。

また、本実施形態では、管理サーバ１００を用いて検査工程の検査条件を管理している。従って、検査工程が複数存在する場合であっても各検査工程で適用すべき検査条件を管理サーバ１００で一元的に管理することが可能である。

また、本実施形態では、ハッシュ値をキーとして検査条件テーブルを検索することにより、過去の検査条件を参照することが可能である。また、上述したように検査条件テーブルと検査結果のテーブルは互いに関連付けて管理されているため、検査条件と検査結果の履歴も参照することが可能である。管理者は、このような履歴を参照することにより、例えばより適切な検査条件を検討し決定することができる。

また、検査条件テーブルをネットワーク経由で管理サーバ１００からクライアント装置２００に送信する際に当該ネットワーク上で第三者が検査条件テーブルの改竄を行い、その改竄値がＨＤＤ２０４の所定領域にコピーされたとする。しかしながらこのような場合、工程作業者が管理部門から与えられたハッシュ値を入力すると、該入力ハッシュ値と改竄値に基づくハッシュ値とが異なる値となりエラー警告が出る。この結果、工程作業者は、例えば検査条件の改竄等に気付き、管理部門に報告することができる。

以上が本発明の実施形態である。本発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく様々な範囲で変形が可能である。例えば本実施形態の管理システムは、検査装置だけでなく、例えば組立、調整工程等に備えられた各種装置に対しても適用しても良い。

また、管理サーバ１００からクライアント装置２００に提供されるべき検査条件テーブルは、例えば「ハッシュ値」フィールドを削除したものであっても良い。この場合、クライアント装置２００は、図６のＳ１１の処理でハッシュ値が入力されると、検査条件テーブルの各レコードのエントリに基づいて、各レコードに対応するハッシュ値を算出する。そして、Ｓ１２の処理において、算出された各ハッシュ値の中から、Ｓ１１の処理で入力されたハッシュ値と一致するものを選択する。そして、選択されたハッシュ値に対応するレコードを参照して、検査条件を取得する。

本発明の実施の形態の管理サーバの構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態の回路実装基板およびクライアント装置の概略構成図である。 本発明の実施の形態の回路実装基板およびクライアント装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態の管理サーバのＨＤＤに格納された検査条件テーブルを示す図である。 本発明の実施の形態において実行されるレコード登録処理を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態において実行される検査条件取得処理を示すフローチャートである。

符号の説明

１０ 回路実装基板
１００ 管理サーバ
２００ クライアント装置
２２０ 治具回路
２２２ 測定部
２２４ 基板制御部

Claims (15)

1. 所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を管理するパラメータ管理装置において、
   該少なくとも１つのパラメータ群を記憶する記憶手段と、
   ユーザによる入力を受け付ける入力手段と、
   所定のハッシュ関数を用いて、前記記憶手段に記憶された各パラメータ群を元に各ハッシュ値を算出するハッシュ値算出手段と、
   該算出されたハッシュ値の中で前記入力手段により入力された値と一致するものを判定する一致判定手段と、
   該一致すると判定されたハッシュ値に対応するパラメータ群を抽出する抽出手段と、を備えたこと、を特徴とするパラメータ管理装置。
2. 前記ハッシュ値算出手段は、前記入力手段により値が入力されるとハッシュ値を算出すること、を特徴とする請求項１に記載のパラメータ管理装置。
3. 前記抽出手段により抽出されたパラメータ群を用いて該処理装置に対するパラメータ設定を行うパラメータ設定手段を更に備えたこと、を特徴とする請求項１又は請求項２の何れかに記載のパラメータ管理装置。
4. 前記記憶手段は、該処理装置が前記パラメータ設定手段により設定されたパラメータを用いて処理を行ったときに、該処理装置により得られた処理結果のデータを、対応するパラメータ群に関連付けて記憶すること、を特徴とする請求項３に記載のパラメータ管理装置。
5. 前記記憶手段は、前記抽出手段により抽出されたパラメータ群に対応するハッシュ値を当該パラメータ群に関連付けて記憶すること、を特徴とする請求項１から請求項４の何れかに記載のパラメータ管理装置。
6. 前記記憶手段に新たなパラメータ群が記憶され、前記ハッシュ値算出手段に該新たなパラメータ群を元にしたハッシュ値が算出されたとき、前記記憶手段に記憶されているハッシュ値の中に、前記ハッシュ値算出手段により新たに算出されたハッシュ値と一致するハッシュ値があるか否かを判定するハッシュ値判定手段を更に備え、
   前記ハッシュ値判定手段により一致するハッシュ値があると判定されたときに限り、前記ハッシュ値算出手段は、所定の調整データを用いてハッシュ値を再計算すること、を特徴とする請求項５に記載のパラメータ管理装置。
7. 前記抽出手段により何れのパラメータ群も抽出されない場合にエラー警告を行う警告手段を更に備えたこと、を特徴とする請求項１から請求項６の何れかに記載のパラメータ管理装置。
8. 該所定の処理が物品に対する検査であり、該パラメータ群が当該の検査に用いる検査条件を表す検査条件であること、を特徴とする請求項１から請求項７の何れかに記載のパラメータ管理装置。
9. 所定の処理を行う処理装置に設定すべき少なくとも１つのパラメータ群を管理するパラメータ管理方法において、
   該少なくとも１つのパラメータ群を所定の記憶媒体に記憶する記憶ステップと、
   ユーザによる入力を受け付ける入力ステップと、
   所定のハッシュ関数を用いて、前記記憶ステップで記憶された各パラメータ群を元に各ハッシュ値を算出するハッシュ値算出ステップと、
   該算出されたハッシュ値の中で前記入力ステップで受け付けた値と一致するものを判定する一致判定ステップと、
   該一致すると判定されたハッシュ値に対応するパラメータ群を抽出する抽出ステップと、を含むパラメータ管理方法。
10. 前記抽出ステップで抽出されたパラメータ群を用いて該処理装置に対するパラメータ設定を行うパラメータ設定ステップを更に含む、請求項９に記載のパラメータ管理方法。
11. 該処理装置が前記パラメータ設定ステップで設定されたパラメータを用いて処理を行ったとき、該処理装置により得られた処理結果のデータを、対応するパラメータ群に関連付けて該所定の記憶媒体に記憶する処理結果記憶ステップを更に含む、請求項１０に記載のパラメータ管理方法。
12. 前記抽出ステップで抽出されたパラメータ群に対応するハッシュ値を当該パラメータ群に関連付けて所定の記憶媒体に記憶するハッシュ値記憶ステップを更に含む、請求項９から請求項１１の何れかに記載のパラメータ管理方法。
13. 新たなパラメータ群を該所定の記憶媒体に記憶する新規記憶ステップと、
    該新たなパラメータ群を元にハッシュ値を算出する新規ハッシュ値算出ステップと、
    前記ハッシュ値記憶ステップで記憶されているハッシュ値の中に、前記新規ハッシュ値算出ステップで算出されたハッシュ値と一致するハッシュ値があるか否かを判定するハッシュ値判定ステップと、
    前記ハッシュ値判定ステップで一致するハッシュ値があると判定されたときに限り、所定の調整データを用いて該新たなパラメータ群に対するハッシュ値を再計算する再計算ステップと、を更に含む、請求項１２に記載のパラメータ管理方法。
14. 前記抽出ステップで何れのパラメータ群も抽出されない場合にエラー警告を行う警告ステップを更に含む、請求項９から請求項１３の何れかに記載のパラメータ管理方法。
15. 該所定の処理が物品に対する検査であり、該パラメータ群が当該の検査に用いる検査条件を表す検査条件である、請求項９から請求項１４の何れかに記載のパラメータ管理方法。

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