JP2008219216A - Clock supply unit - Google Patents

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Narimasa Okada
成正 岡田
Hiroyoshi Yoda
博義 依田
Kenji Kazahaya
健児 風早
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Fujitsu Ltd
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To match clock phases between an active system and a standby system of a clock supply unit for supplying clocks being phase-coherent with a clock from an upper level. <P>SOLUTION: A clock supply unit includes: an active system clock supply unit 1a for outputting an active system clock being phase-coherent with a system clock; and a standby system clock supply unit 1b for outputting a standby system clock, and also includes: DPLL sections 2a, 2b for outputting clocks being phase-coherent with the system clock; variable delay circuits 4a, 4b for controlling the delay of the clocks from the above DPLL sections 2a, 2b; phase comparators 7a, 7b for comparing the phase of the active system clock for outputting via the above variable delay circuits 4a, 4b with the phase of the standby system clock; and phase comparison decision sections 5a, 5b for controlling the delay amount of the variable delay circuits 4a, 4b, based on the result of phase comparison between the active system and standby system clocks by means of the phase comparators 7a, 7b. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、現用系のシステムクロック供給装置と予備系のシステムクロック供給装置とを有するクロック供給装置に関する。   The present invention relates to a clock supply apparatus having an active system clock supply apparatus and a standby system clock supply apparatus.

ネットワークを介して通信を行う通信装置は、システムクロックに同期して送受信処理を実行するものである。その為に、上位装置からのシステムクロックを受信して、そのシステムクロックに位相同期したクロックを再生し、そのクロックを装置内各部に供給する為のシステムクロック供給装置を設けることになる。その場合、信頼性向上の為に、現用系と予備系との二重化構成を適用する場合が一般的である。   A communication device that performs communication via a network executes transmission / reception processing in synchronization with a system clock. For this purpose, a system clock supply device is provided for receiving the system clock from the host device, reproducing the clock phase-synchronized with the system clock, and supplying the clock to each part in the device. In that case, in order to improve the reliability, it is common to apply a duplex configuration of the active system and the standby system.

図12は、従来の二重化構成を適用したクロック供給装置を示し、101a、101bはN系(現用系)及びE系(予備系)とのシステムクロック供給装置、102a,102bはDPLL部(位相同期部)、103a,103bは位相合わせ部,104a,104bはCLK(クロック)分配部、105a,105b,106a,106b,107a,107bはバッファを示す。図示を省略した上位装置からのシステムクロックを現用系と予備系とのシステムクロック供給装置101a,102bに入力し、DPLL部102a,102bによりシステムクロックに位相同期化したクロックを再生し、CLK分配部104a,104bから分配出力する現用系と予備系とのクロックを、図示を省略した現用予備切替手段により切替えて、装置内各部の動作クロックとするものである。   FIG. 12 shows a conventional clock supply apparatus to which a duplex configuration is applied. 101a and 101b are system clock supply apparatuses for the N system (active system) and E system (standby system), and 102a and 102b are DPLL units (phase synchronization). ), 103a and 103b are phase matching units, 104a and 104b are CLK (clock) distribution units, and 105a, 105b, 106a, 106b, 107a and 107b are buffers. A system clock from a host device (not shown) is input to the system clock supply devices 101a and 102b for the active system and the standby system, and a clock whose phase is synchronized with the system clock is reproduced by the DPLL units 102a and 102b, and the CLK distribution unit The active and standby clocks distributed and output from 104a and 104b are switched by the active standby switching means (not shown) to be used as operation clocks for each part in the apparatus.

なお、バッファは、入力インピーダンスが出力特性に影響を与えないようにしたバッファアンプに相当する。又DPLL部102a,102bは、現用系と予備系との出力クロック位相が同一となるように、位相合わせ部103a,103bにより、上位装置からのシステムクロックと、バッファ106a,106b,107a,107bを介した他方のDPLL部からの出力クロックとの位相比較を行い、位相が一致するように出力クロックの位相を制御する構成を有するものであり、システムクロックと出力クロックとの周波数が同一でない場合、位相合わせ部103a,103bは、システムクロックの周波数と同一の周波数となるように出力クロックを分周して位相比較を行う構成を備えている。   The buffer corresponds to a buffer amplifier in which the input impedance does not affect the output characteristics. The DPLL units 102a and 102b receive the system clock from the host device and the buffers 106a, 106b, 107a and 107b by the phase matching units 103a and 103b so that the output clock phases of the active system and the standby system are the same. The phase of the output clock is controlled so that the phases match, and the frequency of the system clock and the output clock are not the same. The phase matching units 103a and 103b have a configuration for performing phase comparison by dividing the output clock so as to have the same frequency as the system clock.

又現用系と予備系とのクロックを切替える切替回路に於いて、予め現用系と予備系とのクロック位相を比較し、位相差と位相の進み遅れとを検出して、現用系と予備系とのクロックに対する遅延量を設定し、現用系と予備系とのクロックを切替えた場合のクロック位相の変化を防止する手段が提案されている(例えば、特許文献1参照)。又上位装置からのクロックを現用系と予備系とのクロック受信部に入力し、クロック受信部は2分岐して、一方は自系、他方は他系のそれぞれ現用系と予備系とのクロック分配部に入力し、現用系のクロックは、そのままセレクタに、予備系のクロックは遅延素子を介してセレクタにそれぞれ入力し、セレクタにより選択したクロックを位相制御発振器に入力し、遅延素子により、セレクタを介して位相制御発振器に入力される現用系と予備系とのクロックの位相を同一となるように処理する手段が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開平5−2438号公報 特開平5−244132号公報
In the switching circuit for switching the clock between the active system and the standby system, the clock phases of the active system and the standby system are compared in advance, the phase difference and the phase advance / delay are detected, and the active system and the standby system are detected. There has been proposed means for preventing a change in the clock phase when the clock amount between the active system and the standby system is switched by setting a delay amount with respect to each clock (see, for example, Patent Document 1). Also, the clock from the host device is input to the clock receiver of the active system and the standby system, and the clock receiver splits into two, one is the own system and the other is the clock distribution between the active system and the standby system. The active clock is input to the selector as it is, the standby clock is input to the selector via the delay element, the clock selected by the selector is input to the phase control oscillator, and the selector is Means has been proposed for processing so that the phases of the clocks of the active system and the standby system that are input to the phase-controlled oscillator are the same (see, for example, Patent Document 2).
Japanese Patent Laid-Open No. 5-2438 JP-A-5-244132

現用系と予備系との冗長構成を備えると共に、高精度の周波数安定度が要求されるクロック供給装置に於いては、冗長構成の何れか一方を運用系とした時に、クロック停止又は異常周波数出力発生となると、他方の待機系へ切替えるものであるが、その際に、切替える前のクロック位相と、切替えた後のクロック位相とが変化する場合が多いものである。例えば、携帯電話基地局に於いて、現用系と予備系とのクロック切替え等により、急激なクロック位相の変化が発生すると、音声通話の場合は一瞬の音声途切れが発生し、又データ通信の場合はデータ欠落が発生する。特に、データ通信の高速化に伴って、データ欠落量が大きくなる問題がある。又パケット通信に於けるデータ欠落時は、再送処理を行うことができるが、テレビ電話等のリアルタイム映像配信サービスに於けるデータ欠落は、表示画面上にモザイク状のブロックノイズが現れる異常状態となり、音声通話のみの場合に比較して、クロック位相の急激な変動の影響は大きくなる問題がある。   In a clock supply device that has a redundant configuration of the active system and the standby system and requires high-accuracy frequency stability, when either one of the redundant configurations is used as an active system, clock stop or abnormal frequency output When this occurs, the system is switched to the other standby system. At this time, the clock phase before switching and the clock phase after switching often change. For example, in a mobile phone base station, when a sudden clock phase change occurs due to a clock switch between the active system and the standby system, a voice interruption occurs in the case of a voice call, and in the case of data communication Data loss occurs. In particular, there is a problem that the amount of missing data increases with an increase in data communication speed. In addition, when data is lost in packet communication, retransmission processing can be performed, but data loss in videophone and other real-time video distribution services results in an abnormal state in which mosaic block noise appears on the display screen. There is a problem that the influence of a sudden change in the clock phase becomes larger than in the case of only voice call.

又クロック供給装置は、基準位相のクロックと、発生したクロックとの位相比較により、出力クロック位相を基準位相クロックに同期化するPLL回路を用いた構成が一般的であり、このPLL回路に於けるカットオフ周波数を低くすることにより、位相変動を低減することができるが、その場合に、位相同期引き込み時間が増加するから、運用開始時間が長くなる問題がある。又図12に示すような従来のクロック供給装置に於いては、システムクロックの入力側で、位相合わせを行うことになるが、出力側までの各種電子回路素子の遅延時間にバラツキがあり、温度変動、動作電圧変動及び経年変化等による素子特性の変動があるから、これらを考慮すると、変動要因の影響を受けないように回路設計を行うとしても、非常に複雑となって、回路設計が破綻する可能性が高くなり、又安価な回路素子を用いた回路設計は不可能に近いものとなる。又二乗平均包等の統計分布手法を適用した設計方法を用いることもできるが、大量に生産される民生用機器に対しては、不良率の増大により、実現性が乏しいものであった。   The clock supply device generally uses a PLL circuit that synchronizes the output clock phase with the reference phase clock by comparing the phase of the reference phase clock with the generated clock. Although the phase fluctuation can be reduced by lowering the cut-off frequency, in this case, there is a problem that the operation start time becomes longer because the phase synchronization pull-in time increases. In the conventional clock supply device as shown in FIG. 12, the phase adjustment is performed on the input side of the system clock, but the delay time of various electronic circuit elements to the output side varies, and the temperature Since there are fluctuations in device characteristics due to fluctuations, operating voltage fluctuations, aging, etc., considering these factors, even when designing a circuit so that it is not affected by fluctuation factors, it becomes very complicated and the circuit design fails. In addition, the circuit design using inexpensive circuit elements becomes almost impossible. Although a design method using a statistical distribution method such as a mean square hull can be used, it has poor feasibility due to an increase in the defect rate for mass-produced consumer devices.

又各種の通信装置に於いて、ユニット、パッケージ、ボード等の構成単位の各種の機能部を実装して構成する場合が一般的であり、クロック供給装置から複数の装置構成単位にクロックを分配するものであるから、現用、予備のクロック切替えに対する位相合わせの手段をそれぞれのクロック分配先の装置構成単位毎に設けることは、システムコストの上昇につながる問題がある。   Also, in various communication devices, it is common to configure by mounting various functional units of structural units such as units, packages, boards, etc., and a clock is distributed from a clock supply device to a plurality of device structural units. Therefore, providing a phase matching means for switching between the active and standby clocks for each device configuration unit of each clock distribution destination has a problem of increasing the system cost.

本発明は、前述の従来の問題点を解決するものであり、現用、予備の冗長構成によるクロックの発生手段に於いて、クロック出力端側で、現用、予備のクロック位相を一致させて、現用、予備の切替時の位相を一定に維持することを目的とする。   The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and in the clock generating means with the working and spare redundant configuration, the working and spare clock phases are made to coincide on the clock output end side, and the working is used. An object is to maintain a constant phase at the time of standby switching.

本発明のクロック供給装置は、上位装置からのシステムクロックに位相同期した現用系クロックを出力する現用系のシステムクロック供給装置と予備系クロックを出力する予備系のシステムクロック供給装置とを有し、現用系と予備系とのシステムクロック供給装置は、システムクロックに位相同期したクロックを出力するDPLL部と、該DPLL部からのクロックを遅延制御する可変遅延回路と、該可変遅延回路を介して出力する前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相を比較する位相比較部と、該位相比較部による前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相比較結果により前記可変遅延回路の遅延量を制御する位相比較判定部とをそれぞれ備えている。   The clock supply device of the present invention has an active system clock supply device that outputs an active clock that is phase-synchronized with a system clock from a host device, and a standby system clock supply device that outputs a standby clock, The system clock supply device for the active system and the standby system includes a DPLL unit that outputs a clock that is phase-synchronized with the system clock, a variable delay circuit that delay-controls the clock from the DPLL unit, and an output via the variable delay circuit. A phase comparator for comparing phases of the active clock and the standby clock, and a phase comparison result of the active clock and the standby clock by the phase comparator to control a delay amount of the variable delay circuit And a phase comparison / determination unit.

又前記位相比較部は、現用系クロックと予備系クロックとの位相差に対応し電圧値を出力する積分回路と、現用系クロックをデータ端子に、予備系クロックをクロック端子にそれぞれ入力して、予備系遅れ検出信号を出力するフリップフロップと、現用系クロックをクロック端子に、予備系クロックをデータ端子にそれぞれ入力して予備系進み検出信号を出力するフリップフロップとを備え、予備系進み検出信号を保持するラッチ回路と、予備系遅れ検出信号を保持するラッチ回路とにより、何れか一方の検出信号保持により他方をリセットする構成とすることができる。   The phase comparison unit inputs an integration circuit that outputs a voltage value corresponding to the phase difference between the active clock and the standby clock, and inputs the active clock to the data terminal and the standby clock to the clock terminal, A standby system advance detection signal is provided with a flip-flop that outputs a standby system delay detection signal, and a flip-flop that outputs the standby system advance detection signal by inputting the active system clock to the clock terminal and the standby system clock to the data terminal. And a latch circuit that holds a standby system delay detection signal, and the other can be reset by holding one of the detection signals.

又前記位相比較部は、現用系クロックと予備系クロックとの位相差を高速サンプリングクロックによりサンプリングして、位相差に対応するカウント値を求めるカウンタ回路を備え、位相差量をディジタル値として出力する。   The phase comparator includes a counter circuit that samples the phase difference between the active clock and the standby clock using a high-speed sampling clock to obtain a count value corresponding to the phase difference, and outputs the phase difference amount as a digital value. .

又前記可変遅延回路は、複数の異なる遅延量のディレイラインと、遅延量零のバイパスラインとをセレクタにより選択して直列に接続する構成を有し、ディレイラインの選択接続により、最小遅延量のディレイラインのステップ量で遅延量を制御する。   The variable delay circuit has a configuration in which a plurality of delay lines having different delay amounts and a bypass line having a delay amount of zero are selected by a selector and connected in series. The delay amount is controlled by the step amount of the delay line.

又前記可変遅延回路の遅延量を制御する前記位相比較判定部は、可変遅延回路の最小遅延量と最大遅延量との中間の遅延量を基準遅延量とし、この基準遅延量を、現用系クロックと予備系クロックとの位相差零の検出時に選択し、予備系クロックの進み位相検出時に、基準遅延量より予備系クロックに対する遅延量を増加し、予備系クロックの遅れ位相検出時に、基準遅延量より予備系クロックに対する遅延量を減少する制御構成を備えることができる。   The phase comparison / determination unit for controlling the delay amount of the variable delay circuit uses a delay amount intermediate between the minimum delay amount and the maximum delay amount of the variable delay circuit as a reference delay amount, and this reference delay amount is used as the active system clock. This is selected when the phase difference between the standby clock and the standby clock is zero. When the standby phase of the standby clock is detected, the delay with respect to the standby clock is increased from the reference delay amount. When the delayed phase of the standby clock is detected, the reference delay amount is detected. It is possible to provide a control configuration for further reducing the delay amount with respect to the standby system clock.

上位装置からのシステムクロックに位相同期した現用系クロックと予備系クロックとを発生して、正常時は、現用系クロックを装置内各部に供給するもので、現用系システムクロック供給装置1aの出力端のCLK分配部6aからの現用系クロックと、予備系システムクロック供給装置1bの出力端のCLK分配部6bからの予備系クロックとの位相を比較して、位相が一致するように、可変遅延回路4a,4bを制御するもので、システムクロック供給装置1aの出力端の現用系クロックと、システムクロック供給装置1bの出力端の予備系クロックとの位相を、各部を構成する回路素子特性の温度変化や経年変化に関係なく一致させることが可能となり、従って、現用系クロックと予備系クロックとを切替えた時に、位相変動が生じないから、装置内各部の動作を安定化することができる。   An active system clock and a standby system clock that are phase-synchronized with the system clock from the host apparatus are generated, and when active, the active system clock is supplied to each part in the apparatus. The output terminal of the active system clock supply apparatus 1a The variable delay circuit is configured so that the phases of the active clock from the CLK distribution unit 6a and the standby system clock from the CLK distribution unit 6b at the output end of the standby system clock supply device 1b are compared, and the phases match. 4a and 4b for controlling the phase of the active clock at the output end of the system clock supply device 1a and the standby clock at the output end of the system clock supply device 1b, and the temperature change of the characteristics of the circuit elements constituting each part It is possible to match regardless of the secular change and therefore no phase fluctuation occurs when the active clock and the standby clock are switched. Et al, it is possible to stabilize the operation of the apparatus in each section.

本発明のクロック供給装置は、図1を参照すると、上位装置からのシステムクロックに位相同期した現用系クロックを出力する現用系のシステムクロック供給装置1aと予備系クロックを出力する予備系のシステムクロック供給装置1bとを有し、現用系と予備系とのシステムクロック供給装置1a,1bは、システムクロックに位相同期したクロックを出力するDPLL部2a,2bと、このDPLL部2a,2bからのクロックを遅延制御する可変遅延回路4a,4bと、この可変遅延回路4a,4bを介して出力する現用系クロックと予備系クロックとの位相を比較する位相比較部7a,7bと、この位相比較部7a,7bによる現用系クロックと予備系クロックとの位相比較結果により、可変遅延回路4a,4bの遅延量を制御する位相比較判定部5a,5bとをそれぞれ備えている。   Referring to FIG. 1, the clock supply apparatus according to the present invention includes an active system clock supply apparatus 1a that outputs a working clock that is phase-synchronized with a system clock from a host apparatus, and a standby system clock that outputs a standby clock. The system clock supply devices 1a and 1b of the active system and the standby system include a DPLL unit 2a and 2b that outputs a clock that is phase-synchronized with the system clock, and a clock from the DPLL unit 2a and 2b. Variable delay circuits 4a and 4b for delay control, phase comparison units 7a and 7b for comparing the phases of the active clock and the standby clock output via the variable delay circuits 4a and 4b, and the phase comparison unit 7a , 7b controls the delay amount of the variable delay circuits 4a, 4b based on the phase comparison result between the active clock and the standby clock. It includes phase comparison determination unit 5a, and 5b, respectively.

図1は、本発明の実施例1の説明図であり、1aはN系(現用系)のシステムクロック供給装置、1bはE系(予備系)のシステムクロック供給装置、2a,2bはDPLL部(位相同期部)、3a,3bは位相合わせ部、4a,4bは可変遅延回路、5a,5bは位相判定部,6a,6bはクロックを装置内の各部に分配するCLK分配部、7a,7bは位相比較部、8a、8b,9a,9b,10a,10bは信号入力側のインピーダンスの影響を除く為のバッファ(Buffer)を示す。   FIG. 1 is an explanatory diagram of a first embodiment of the present invention, wherein 1a is an N-system (active system) system clock supply device, 1b is an E-system (standby system) system clock supply device, and 2a and 2b are DPLL units. (Phase synchronization unit), 3a and 3b are phase matching units, 4a and 4b are variable delay circuits, 5a and 5b are phase determination units, 6a and 6b are CLK distribution units that distribute the clock to each unit in the apparatus, 7a and 7b Denotes a phase comparison unit, and 8a, 8b, 9a, 9b, 10a, 10b denote buffers for removing the influence of impedance on the signal input side.

現用系と予備系とのシステムクロック供給装置1a,1bは、同一構成を有するものであり、図示を省略した上位システムからシステムクロックをDPLL部2a,2bに入力し、一方のDPLL部2aの出力クロックを、他方のDPLL部2bに入力し、この他方のDPLL部2bの出力クロックを一方のDPLL部2aに入力して、システムクロックに位相同期化したクロックを再生し、再生した出力クロックを可変遅延回路4a,4bを介してCLK分配部6a,6bに入力し、分配出力した現用系と予備系とのクロックを一方と他方との位相比較部7a,7bにそれぞれ入力し、現用系と予備系との分配出力したクロックの位相を比較し、位相比較判定部5a,5bにより位相差と位相進み遅れとを基に、可変遅延回路4a,4bを制御して、現用系と予備系とのクロック位相を常に一致させる。従って、現用系システムクロック供給装置1aのCLK分配部6aから分配出力する現用系クロックの位相と、予備系システムクロック供給装置1bのCLK分配部6bから分配出力する予備系クロックの位相とは、常に一致させることが可能となり、システムクロック入力端から、クロック分配部6a,6bまでの回路素子等による位相変動要因の影響を除くことができる。   The active and standby system clock supply devices 1a and 1b have the same configuration, and a system clock is input to the DPLL units 2a and 2b from a host system (not shown), and the output of one DPLL unit 2a. The clock is input to the other DPLL unit 2b, the output clock of this other DPLL unit 2b is input to one DPLL unit 2a, the clock synchronized in phase with the system clock is recovered, and the recovered output clock is variable The clocks of the active system and the standby system, which are input to the CLK distribution units 6a and 6b via the delay circuits 4a and 4b, and are distributed and output, are input to the phase comparison units 7a and 7b of one and the other, respectively. The phases of the clocks distributed and output to the system are compared, and the variable delay circuits 4a and 4b are compared by the phase comparison determination units 5a and 5b based on the phase difference and the phase advance / delay. And your, always match the clock phase of the working system and the protection system. Therefore, the phase of the active clock distributed and output from the CLK distribution unit 6a of the active system clock supply device 1a and the phase of the standby clock output from the CLK distribution unit 6b of the standby system clock supply device 1b are always set. It is possible to match, and it is possible to eliminate the influence of the phase variation factor due to the circuit elements and the like from the system clock input terminal to the clock distribution units 6a and 6b.

なお、バッファ8a〜10a,8b〜10bは、入力インピーダンスが出力特性に影響を与えないようにしたバッファアンプに相当し、又DPLL部2a,2bは、現用系と予備系との出力クロック位相が同一となるように、位相合わせ部3a,3bにより、上位装置からのシステムクロックと、バッファ6a,6b,7a,7bを介した他方のDPLL部からの出力クロックとの位相比較を行い、位相が一致するように出力クロックの位相を制御する構成を有するものであり、システムクロックと出力クロックとの周波数が同一でない場合、位相合わせ部3a,3bは、システムクロックの周波数と同一の周波数となるように出力クロックを分周して位相比較を行う構成を備えているものであり、DPLL部2a,2bは既に知られている各種の構成を適用することもできる。   The buffers 8a to 10a and 8b to 10b correspond to buffer amplifiers whose input impedance does not affect the output characteristics, and the DPLL units 2a and 2b have output clock phases of the active system and the standby system. The phase matching units 3a and 3b perform phase comparison between the system clock from the host device and the output clock from the other DPLL unit via the buffers 6a, 6b, 7a, and 7b so that the phase is the same. When the phase of the output clock is controlled so as to match, and the frequencies of the system clock and the output clock are not the same, the phase matching units 3a and 3b have the same frequency as the system clock. The output clock is divided to perform phase comparison, and the DPLL units 2a and 2b are already known. It is also possible to apply the type of arrangement.

図2は、位相比較部の説明図であり、図1に於ける位相比較部7a,7bの構成の一例を示す。同図に於いて、11は位相比較器、12は積分回路、13,15はフリップフロップ(FF)、14,16はラッチ回路を示す。位相比較器11は、排他的論理和回路構成の場合を示し、位相比較器11は、排他的論理和構成の場合を示し、CLK分配部6a,6b(図1参照)から分配出力する現用系クロックと予備系クロックとの立上がりのタイミング差のパルス幅の出力信号を積分回路12に入力する。この積分回路12は、位相差に対応した位相比較出力信号を積分して、位相差電圧信号とする。   FIG. 2 is an explanatory diagram of the phase comparison unit, and shows an example of the configuration of the phase comparison units 7a and 7b in FIG. In the figure, 11 is a phase comparator, 12 is an integrating circuit, 13 and 15 are flip-flops (FF), and 14 and 16 are latch circuits. The phase comparator 11 shows a case of an exclusive OR circuit configuration, and the phase comparator 11 shows a case of an exclusive OR configuration, and is used for distribution output from the CLK distribution units 6a and 6b (see FIG. 1). An output signal having a pulse width corresponding to the rising timing difference between the clock and the standby clock is input to the integrating circuit 12. The integration circuit 12 integrates the phase comparison output signal corresponding to the phase difference to obtain a phase difference voltage signal.

又フリップフロップ13は、現用系クロックをデータ端子Dに、予備系クロックをクロック端子clkにそれぞれ入力し、現用系クロックの立上がりタイミングより予備系クロックの立上がりが遅れている場合に出力端子Qを“1”とし、ラッチ回路14によりラッチして、予備系遅れ検出信号とする。又フリップフロップ15は、予備系クロックをデータ端子Dに、現用系クロックをクロック端子clkにそれぞれ入力し、現用系クロックの立上がりタイミングより予備系クロックの立上がりタイミング進んでいる場合に出力端子Qを“1”とし、ラッチ回路16によりラッチして、予備系進み検出信号を出力する。又ラッチ回路14,16は、何れか一方のみがラッチする状態となるものであり、一方がラッチした場合は、他方をリセット信号によりリセットして、予備系遅れ検出信号と予備系進み検出信号との両方が同時に出力されないように構成する。又前述の位相差電圧信号と、予備系遅れ検出信号と、予備系進み検出信号とを、図1に於ける位相比較判定部5a,5bに入力する。   The flip-flop 13 inputs the active clock to the data terminal D and the standby clock to the clock terminal clk. When the standby clock rises behind the rising timing of the active clock, the flip-flop 13 sets the output terminal Q to “ 1 ", latched by the latch circuit 14, and used as a standby system delay detection signal. The flip-flop 15 inputs the standby system clock to the data terminal D and the active system clock to the clock terminal clk, respectively. When the rising timing of the standby system clock is advanced from the rising timing of the active system clock, the output terminal Q is set to “ 1 ", latched by the latch circuit 16, and outputs a standby system advance detection signal. In addition, only one of the latch circuits 14 and 16 is in a state of being latched. When one of the latch circuits is latched, the other is reset by a reset signal, and a standby system delay detection signal and a standby system advance detection signal are set. Both are configured so that they are not output simultaneously. The phase difference voltage signal, the standby system delay detection signal, and the standby system advance detection signal are input to the phase comparison determination units 5a and 5b in FIG.

位相比較判定部5a,5b(図1参照)は、位相比較部7a,7bからの前述の位相差電圧信号と、予備系遅れ検出信号と、予備系進み検出信号とにより、可変遅延回路4a,4bの遅延量を制御して、CLK分配部6a,6bに入力される現用系クロックと予備系クロックとの位相を一致させる。従って、CLK分配部6a,6bから分配出力する現用系クロックと予備系クロックとの位相は、内部回路素子の特性の影響を除いて、常に一致するように制御することができる。又現用系クロックに対する予備系クロックの遅れ、進みを検出する場合を示し、この検出結果により、予備系の可変遅延回路4b(図1参照)を制御するものであるが、現用系の可変遅延回路4a(図1参照)は、例えば、遅延量零の状態を維持することができる。又予備系のCLK分配部6bからのクロックを選択して運用する場合、前述の予備系と現用系との関係を反転して、分配出力するクロック位相を一致させる制御を行うことができる。   The phase comparison / determination units 5a and 5b (see FIG. 1) use the above-described phase difference voltage signal from the phase comparison units 7a and 7b, the standby system delay detection signal, and the standby system advance detection signal to change the variable delay circuit 4a, By controlling the delay amount of 4b, the phases of the active clock and the standby clock input to the CLK distributors 6a and 6b are matched. Therefore, the phases of the active clock and the standby clock distributed and output from the CLK distributors 6a and 6b can be controlled so as to always coincide with each other except for the influence of the characteristics of the internal circuit elements. Further, the case where the delay and advance of the standby system clock with respect to the working system clock are detected is shown. Based on the detection result, the standby system variable delay circuit 4b (see FIG. 1) is controlled. For example, 4a (see FIG. 1) can maintain a zero delay state. When the clock from the standby CLK distribution unit 6b is selected and operated, it is possible to invert the relationship between the standby system and the active system so as to match the clock phases to be distributed and output.

図3は、高速サンプリングによる位相差測定の説明図であり、(A)は動作説明図で、現用系クロックと予備系クロックと位相差と高速サンプリングクロックとのそれぞれ一例を示し、(B)は回路構成説明図である。現用系クロックと予備系クロックとの周波数をnMHzとし、高速サンプリングクロックをその10倍のn×10MHzとした場合を示す。回路構成は、現用系クロックと予備系クロックとを入力するゲート回路21と、このゲート回路の出力信号をデータ端子Dに、高速サンプリングクロックをクロック端子clkにそれぞれ入力するフリップフロップ(FF)22と、このフリップフロップ22の出力端子Qからの出力信号と高速サンプリングクロックとを入力するカウンタ回路23とを含む構成の場合を示す。   FIG. 3 is an explanatory diagram of phase difference measurement by high-speed sampling, (A) is an operation explanatory diagram, and shows an example of each of a working clock, a standby clock, a phase difference, and a high-speed sampling clock. It is circuit structure explanatory drawing. The case where the frequency of the active clock and the standby clock is n MHz and the high-speed sampling clock is 10 times that of n × 10 MHz is shown. The circuit configuration includes a gate circuit 21 for inputting an active clock and a standby clock, and a flip-flop (FF) 22 for inputting an output signal of the gate circuit to the data terminal D and a high-speed sampling clock to the clock terminal clk, respectively. The case of a configuration including a counter circuit 23 for inputting an output signal from the output terminal Q of the flip-flop 22 and a high-speed sampling clock is shown.

現用系クロックと予備系クロックとの位相差が、図3の(A)に示す場合、ゲート回路21の出力信号は、予備系クロックをゲート回路21のインヒビット端子に入力することにより、現用系クロックの立上がりから予備系クロックの立上がりまでの時間を位相差として示すものとなる。フリップフロップ22は、このゲート回路21の出力信号の時間長即ち位相差を高速サンプリングクロックにより保持し、出力保持期間内の高速サンプリングクロック数をカウンタ回路23によりカウントする。それにより、カウンタ回路23のカウント値は、現用系クロックと予備系クロックとの位相差分を示すものとなる。この場合、(A)に示すタイミング関係であると、予備系クロックは、現用系クロックの立上がりから、2パルス分の高速サンプリングクロック期間の遅れがあり、従って、t1、t2のタイミングの高速サンプリングクロックをカウンタ回路23によりカウントアップすることになる。なお、ゲート回路21のインヒビット端子に現用系クロックを入力する構成とすると、予備系クロックが進み位相の場合のカウント値を進み位相差分を示すものとなる。又高速サンプリングクロックを更に高速とすることにより、更に細かい分解能で位相差を検出することができる。   When the phase difference between the active clock and the standby clock is shown in FIG. 3A, the output signal of the gate circuit 21 is obtained by inputting the standby clock to the inhibit terminal of the gate circuit 21 to obtain the active clock. The time from the rising edge to the rising edge of the standby clock is shown as a phase difference. The flip-flop 22 holds the time length, that is, the phase difference of the output signal of the gate circuit 21 with the high-speed sampling clock, and the counter circuit 23 counts the number of high-speed sampling clocks within the output holding period. As a result, the count value of the counter circuit 23 indicates the phase difference between the active clock and the standby clock. In this case, in the timing relationship shown in (A), the standby clock has a delay of a high-speed sampling clock period of two pulses from the rise of the active clock, and therefore the high-speed sampling clock at the timings t1 and t2. Is counted up by the counter circuit 23. If the active clock is input to the inhibit terminal of the gate circuit 21, the count value when the standby clock is in the lead phase is advanced and the phase difference is indicated. Further, by making the high-speed sampling clock faster, the phase difference can be detected with a finer resolution.

図4は、(A)予備系位相遅れ検出時と、(B)予備系位相進み検出時とに於ける現用系クロック、予備系クロック、位相比較器出力の波形、予備系進み検出信号、予備系遅れ検出信号を示し、図2に示す構成を参照して説明すると、位相比較器11の出力信号は、予備系クロック位相の進み遅れに関係なく、現用系クロックと予備系クロックとの位相差の期間、“1”となる。即ち、図4の(A),(B)に示す現用系クロックと予備系クロックとの位相差があれば、その位相差の期間“1”となる。又現用系クロックに対して予備系クロックが遅れている場合、フリップフロップ13の出力信号は、現用系クロックが“1”となった後に、予備系クロックが“1”となるから、“1”となる。即ち、ラッチ回路14によりラッチして、予備系遅れ検出信号が出力される。又フリップフロップ15の出力信号は、現用系クロックが“1”となった時に、予備系クロックは“0”であるから、フリップフロップ15の出力信号は“0”の状態を継続する。反対に、予備系クロックが現用系クロックより進み位相の場合は、フリップフロップ13の出力信号は“0”を継続し、フリップフロップ15の出力信号は“1”となり、予備系進み検出信号が出力される。   FIG. 4 shows the waveforms of the active system clock, the standby system clock, the output of the phase comparator, the standby system advance detection signal, and the standby system when (A) the standby system phase lag is detected and (B) the standby system phase advance is detected. FIG. 2 shows a system delay detection signal, which will be described with reference to the configuration shown in FIG. 2. The output signal of the phase comparator 11 is the phase difference between the active clock and the standby clock regardless of the advance / delay of the standby clock phase. During this period, it becomes “1”. That is, if there is a phase difference between the active clock and the standby clock shown in FIGS. 4A and 4B, the phase difference period is “1”. When the standby clock is delayed with respect to the active clock, the output signal of the flip-flop 13 is “1” because the standby clock becomes “1” after the active clock becomes “1”. It becomes. That is, the latch circuit 14 latches and outputs a standby system delay detection signal. The output signal of the flip-flop 15 is “0” when the active clock is “1”, so the output signal of the flip-flop 15 continues to be “0”. On the other hand, when the standby system clock is ahead of the working system clock, the output signal of the flip-flop 13 continues “0”, the output signal of the flip-flop 15 becomes “1”, and the standby system advance detection signal is output. Is done.

図5は、位相比較部の出力特性の説明図であり、縦軸は電圧、横軸は位相差を示し、位相比較部7a,7b(図1参照)の積分回路12(図2参照)の出力特性の概要を示す。即ち、位相比較器11からの位相差信号を積分回路12により積分し、DPLL部2aから出力する現用系クロックと、DPLL部2bから出力する予備系クロックとの位相差に比例した位相差電圧として出力する場合を示す。実際には、図示の特性曲線のように、僅かではあるが、リプル成分を含むことを示している。   FIG. 5 is an explanatory diagram of output characteristics of the phase comparison unit. The vertical axis indicates voltage, the horizontal axis indicates phase difference, and the integration circuit 12 (see FIG. 2) of the phase comparison units 7a and 7b (see FIG. 1). An outline of the output characteristics is shown. That is, the phase difference signal from the phase comparator 11 is integrated by the integrating circuit 12, and the phase difference voltage is proportional to the phase difference between the active clock output from the DPLL unit 2a and the standby clock output from the DPLL unit 2b. Indicates the case of output. Actually, as shown in the characteristic curve in the figure, it is shown that a ripple component is included, although it is slight.

図6は、図1に示すDPLL部2a,2bのジッタ/ワンダが、位相比較部7a,7bの出力特性に影響を及ぼす例を示すものであり、瞬間的な誤差を含む位相差成分を電圧変換することにより、位相比較部7a,7bの出力特性には、図示のような位相誤差を含むものとなる。   FIG. 6 shows an example in which the jitter / wander of the DPLL units 2a and 2b shown in FIG. 1 affects the output characteristics of the phase comparison units 7a and 7b. A phase difference component including an instantaneous error is expressed as a voltage. By converting, the output characteristics of the phase comparison units 7a and 7b include a phase error as shown.

図7は、位相比較判定部の説明図であり、図1に於ける位相比較判定部5a,5bの構成を示し、31はA/D変換部、32はCPU(プロセッサ)、33はメモリ、34は変換テーブルを示す。又位相差電圧信号from位相比較部は、図2に示す位相比較部の積分回路12からの位相差電圧信号を示し、この位相差電圧をA/D変換部31に入力し、ラッチ回路14からの予備系遅れ検出信号と、ラッチ回路16からの予備系進み検出信号とをCPU32に入力し、又A/D変換部31により変換した位相差データをCPU32に入力する。CPU32は、例えば、入力された複数回の測定データをメモリ33に格納し、平均値を算出して、変換テーブル34により、可変遅延回路4a,4b(図1参照)に対する可変ステップ信号を求め、可変ステップ信号to可変遅延回路として示すように、可変ステップ信号を、可変遅延回路4a,4b(図1参照)に入力する。又CPU32により、位相差測定結果を複数回メモリ33に蓄積して平均値算出を行うことにより、図5に示すリプルを含む位相差電圧信号及び図6に示すジッタを含む位相差電圧信号のリプルやジッタ/ワンダの影響を除去することができる。   FIG. 7 is an explanatory diagram of the phase comparison / determination unit, showing the configuration of the phase comparison / determination units 5a and 5b in FIG. 1, wherein 31 is an A / D conversion unit, 32 is a CPU (processor), 33 is a memory, Reference numeral 34 denotes a conversion table. Further, the phase difference voltage signal from phase comparison unit indicates the phase difference voltage signal from the integration circuit 12 of the phase comparison unit shown in FIG. 2, and this phase difference voltage is input to the A / D conversion unit 31 and from the latch circuit 14. The standby system delay detection signal and the standby system advance detection signal from the latch circuit 16 are input to the CPU 32, and the phase difference data converted by the A / D converter 31 is input to the CPU 32. For example, the CPU 32 stores the input measurement data for a plurality of times in the memory 33, calculates an average value, obtains a variable step signal for the variable delay circuits 4a and 4b (see FIG. 1) by the conversion table 34, As shown as the variable step signal to variable delay circuit, the variable step signal is input to the variable delay circuits 4a and 4b (see FIG. 1). Further, the CPU 32 accumulates the phase difference measurement results in the memory 33 a plurality of times and calculates the average value, thereby ripples of the phase difference voltage signal including the ripple shown in FIG. 5 and the phase difference voltage signal including the jitter shown in FIG. And the influence of jitter / wander can be eliminated.

図8は、メモリ内容の説明図であり、例えば、CPU32に於いて、10回の位相差比較結果の平均値を求める場合、予備系進み検出信号と、予備系遅れ検出信号と、位相差変換データとを10回分格納する。図示の場合は、予備系進み検出信号が“1”、予備系遅れ検出信号が“0”が継続し、3ビット構成で示す位相差変換データが“110”,“111”,“110”,“101”・・・として保持する。なお、位相差変換データは、3ピット構成に限定されるものではなく、所望のビット構成とすることができる。又予備系進み検出信号と予備系遅れ検出信号との論理構成は、識別判定可能の論理構成とすることができる。   FIG. 8 is an explanatory diagram of the contents of the memory. For example, when the CPU 32 obtains an average value of 10 phase difference comparison results, the standby system advance detection signal, the standby system delay detection signal, and the phase difference conversion are illustrated. Data is stored 10 times. In the case shown in the figure, the standby system advance detection signal is “1”, the standby system delay detection signal is “0”, and the phase difference conversion data indicated by the 3-bit configuration is “110”, “111”, “110”, Hold as “101”. Note that the phase difference conversion data is not limited to the three-pit configuration, but can have a desired bit configuration. Further, the logical configuration of the standby system advance detection signal and the standby system delay detection signal can be a logical configuration capable of being discriminated.

図9の(A)は、可変遅延回路、(B)は変換テーブルの説明図であり、図1に於ける可変遅延回路4a,4bを、図9の(A)に示すように、複数のそれぞれ異なる遅延量のディレイラインと、遅延量零のバイパスラインとを、セレクタにより選択的に切替える4段構成とした場合を示し、D0〜D3により各段のセレクタが制御される。この場合の各段のディレイラインの遅延量を、100ps,200ps,400ps,800psとし、各段のセレクタにより全ディレイラインを選択接続すると、遅延量1500psの最大遅延量となり、又各段のセレクタにより全バイパスラインを選択接続すると、遅延量0となる。又1段目のディレイラインのみを選択接続すると、遅延量100ps、1段目と3段目とのディレイラインを選択接続すると、遅延量は500psとなる。従って、可変遅延回路は、更に多数の異なる遅延量のディレイラインを組み合わせることにより、多種類の遅延量とすることが可能であり、又更に遅延量の小さいディレイラインを選択すれば、遅延量の変化量を小さくして、比較的滑らかな遅延量の変更を可能とすることもできる。なお、クロック入力toDPLL側Bufferは、図1のバッファ9a,9bに対応し、クロック出力toCLK分配部は、図1のCLK分配部6a,6bに対応する。   9A is an explanatory diagram of a variable delay circuit, and FIG. 9B is an explanatory diagram of a conversion table. As shown in FIG. 9A, the variable delay circuits 4a and 4b in FIG. A case in which a delay line having different delay amounts and a bypass line having a delay amount of zero are selectively switched by a selector is shown as a four-stage configuration, and the selectors at each stage are controlled by D0 to D3. In this case, the delay amount of each stage delay line is set to 100 ps, 200 ps, 400 ps, and 800 ps, and if all the delay lines are selectively connected by the selector of each stage, the maximum delay amount is 1500 ps. When all bypass lines are selectively connected, the delay amount becomes zero. If only the first delay line is selectively connected, the delay amount is 100 ps. If the first and third delay lines are selectively connected, the delay amount is 500 ps. Therefore, the variable delay circuit can be combined with a plurality of delay lines having different delay amounts, so that a variety of delay amounts can be obtained. If a delay line having a smaller delay amount is selected, the delay amount can be reduced. It is also possible to reduce the amount of change and change the delay amount relatively smoothly. The clock input toDPLL side Buffer corresponds to the buffers 9a and 9b in FIG. 1, and the clock output toCLK distribution unit corresponds to the CLK distribution units 6a and 6b in FIG.

又図9の(B)に示す変換テーブルは、図7に於ける変換テーブル34に相当し、アドレスD0〜D3は、図9の(A)のそれぞれの1〜4段目のセレクタを指定するアドレスとし、“1”のアドレスD0〜D3対応のディレイラインをセレクタにより選択接続することを示す。又ステップ0〜15の16ステップにより、遅延量を選択制御することができる。例えば、ステップ10は、アドレスD1,D3が“1”であるから、2段目のセレクタによる200psのディレイラインと、4段目のセレクタによる800psのディレイラインとが選択接続されて、合計1000psの遅延量となる。   The conversion table shown in FIG. 9B corresponds to the conversion table 34 in FIG. 7, and the addresses D0 to D3 designate the selectors in the first to fourth stages in FIG. 9A, respectively. This indicates that the delay line corresponding to the addresses D0 to D3 of “1” is selectively connected by the selector. Further, the delay amount can be selected and controlled in 16 steps from 0 to 15. For example, in Step 10, since the addresses D1 and D3 are “1”, the 200 ps delay line by the second stage selector and the 800 ps delay line by the fourth stage selector are selectively connected, resulting in a total of 1000 ps. This is the amount of delay.

図10は、変換テーブルの説明図であり、図9の(A)に示す構成の可変遅延回路に対する場合、図9の(B)に示す変換テーブルであると、クロックの遅延制御のみとなり、予備系進み検出信号には対応できないので、その変換テーブルのステップ0〜15と遅延量との関係を変更し、ステップ1〜15の中間のステップ8を、現用系と予備系とのクロック位相差の平均結果が0の場合の基準ステップとする。即ち、図1に於ける可変遅延回路4a,4bによる現用系クロックと予備系クロックとに対して、予め800psの遅延をオフセット値とし、DPLL部2a,2bからのクロックを可変遅延回路4a,4bにより、オフセット値の800psの遅延を与えて、CLK分配部6a,6bにより分配する。   FIG. 10 is an explanatory diagram of the conversion table. In the case of the variable delay circuit having the configuration shown in FIG. 9A, the conversion table shown in FIG. Since the system advance detection signal cannot be dealt with, the relationship between steps 0 to 15 of the conversion table and the delay amount is changed, and step 8 in the middle of steps 1 to 15 is changed to the clock phase difference between the active system and the standby system. This is a reference step when the average result is zero. That is, with respect to the active clock and the standby clock by the variable delay circuits 4a and 4b in FIG. 1, a delay of 800 ps is set as an offset value in advance, and the clock from the DPLL units 2a and 2b is used as the variable delay circuits 4a and 4b. Thus, a delay of 800 ps of the offset value is given and distributed by the CLK distribution units 6a and 6b.

又図9の(B)に示す変換テーブルのステップ9〜15を、図10に示すステップ7〜1にそれぞれ変更し、図9の(B)に示す変換テーブルのステップ1〜7を、図10に示すステップ15〜9にそれぞれ変更する。それにより、予備系遅れ検出信号が“1”、位相差平均結果が“011”の場合、予備系の位相差が300ps遅れを示すから、ステップ5(図9の(B)ではステップ11)とし、1段目と2段目と4段目とのディレイラインをセレクタにより選択接続することにより、合計1100psの遅延量とする。この場合、前述のように、遅延量800psをオフセット値としているから、300psの遅延を与えることに相当する。又予備系進み検出信号が“1”、位相差平均結果が“011”の場合、予備系の位相差が300ps進みを示し、ステップ11(図9の(B)ではステップ5)とし、1段目と3段目との100psと400psとのディレイラインをセレクタにより選択接続することにより、500psの遅延量とする。この場合、オフセット値を800psとしているから、800−(100+400)=300(ps)の進みとなり、現用系クロック位相に予備系クロック位相を一致させることができる。   Also, steps 9 to 15 of the conversion table shown in FIG. 9B are changed to steps 7-1 to FIG. 10 respectively, and steps 1 to 7 of the conversion table shown in FIG. Steps 15 to 9 shown in FIG. Accordingly, when the standby system delay detection signal is “1” and the phase difference average result is “011”, the standby system phase difference indicates a delay of 300 ps, so step 5 (step 11 in FIG. 9B) is performed. A delay amount of 1100 ps in total is obtained by selectively connecting the delay lines of the first, second, and fourth stages by a selector. In this case, as described above, the delay amount of 800 ps is used as the offset value, which corresponds to giving a delay of 300 ps. When the standby system advance detection signal is “1” and the phase difference average result is “011”, the standby system phase difference indicates 300 ps advance, and step 11 (step 5 in FIG. 9B) is performed. The delay amount of 500 ps is obtained by selectively connecting the 100 ps and 400 ps delay lines of the first and third stages by a selector. In this case, since the offset value is set to 800 ps, the advance is 800− (100 + 400) = 300 (ps), and the standby clock phase can be matched with the active clock phase.

図11は、クロック位相制御動作の説明図であり、(A)は予備系クロック位相遅れの場合の調整前と調整後とを示し、(B)は予備系クロック位相進みの場合の調整前と調整後とを示す。図11の(A)に於いては、調整前の予備系クロック遅れ検出信号により、予備系クロックに対する可変遅延回路のディレイラインによる遅延量を減らす調整により、現用系クロック位相に予備系クロック位相を合わせる。又図11の(B)に於いては、調整前の予備系クロック進み検出信号により、可変遅延回路のディレイラインによる遅延量を増やして、現用系クロック位相に予備系クロック位相を合わせる。従って、予備系クロック位相が現用系クロック位相に対して進み位相の場合も遅れ位相の場合も、クロック出力端側で一致させ、現用予備の切替えによるクロック位相の変動を防止することができる。   11A and 11B are explanatory diagrams of the clock phase control operation, in which FIG. 11A shows before and after adjustment when the standby clock phase is delayed, and FIG. 11B shows before and after adjustment when the standby clock phase is advanced. After adjustment. In FIG. 11A, the standby clock phase is set to the active clock phase by adjusting the delay amount of the delay line of the variable delay circuit with respect to the standby clock by the standby clock delay detection signal before adjustment. Match. In FIG. 11B, the amount of delay by the delay line of the variable delay circuit is increased by the standby clock advance detection signal before adjustment, and the standby clock phase is adjusted to the active clock phase. Therefore, even when the standby clock phase is a leading phase or a lagging phase with respect to the working clock phase, the clock phase can be matched on the clock output end side to prevent the clock phase from changing due to the switching of the working standby phase.

(付記1)上位装置からのシステムクロックに位相同期した現用系クロックを出力する現用系のシステムクロック供給装置と予備系クロックを出力する予備系のシステムクロック供給装置とを有するクロック供給装置に於いて、前記現用系と予備系とのシステムクロック供給装置は、前記システムクロックに位相同期したクロックを出力するDPLL部と、該DPLL部からのクロックを遅延制御する可変遅延回路と、該可変遅延回路を介して出力する前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相を比較する位相比較部と、該位相比較部による前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相比較結果により前記可変遅延回路の遅延量を制御する位相比較判定部とをそれぞれ備えたことを特徴とするクロック供給装置。
(付記2)前記位相比較部は、前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差に対応し電圧値を出力する積分回路と、前記現用系クロックをデータ端子に、前記予備系クロックをクロック端子にそれぞれ入力して、予備系遅れ検出信号を出力するフリップフロップと、前記現用系クロックをクロック端子に、前記予備系クロックをデータ端子にそれぞれ入力して予備系進み検出信号を出力するフリップフロップとを備えたことを特徴とする付記1記載のクロック供給装置。
(付記3)前記位相比較部は、前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差を高速サンプリングクロックによりサンプリングして、前記位相差に対応するカウント値を求めるカウンタ回路を備えたことを特徴とする付記1記載のクロック供給装置。
(Supplementary Note 1) In a clock supply device having an active system clock supply device that outputs an active clock that is phase-synchronized with a system clock from a host device, and a standby system clock supply device that outputs a standby clock The system clock supply device for the active system and the standby system includes a DPLL unit that outputs a clock phase-synchronized with the system clock, a variable delay circuit that delay-controls a clock from the DPLL unit, and the variable delay circuit. A phase comparison unit that compares the phases of the active clock and the standby clock output via the phase comparison unit, and a delay of the variable delay circuit according to a phase comparison result between the active clock and the standby clock by the phase comparison unit. A clock supply device comprising a phase comparison / determination unit for controlling the amount.
(Supplementary Note 2) The phase comparison unit includes an integration circuit that outputs a voltage value corresponding to a phase difference between the active clock and the standby clock, the active clock as a data terminal, and the standby clock as a clock. A flip-flop for inputting a standby system delay detection signal to each of the terminals, and a flip-flop for outputting the standby system advance detection signal by inputting the active system clock to the clock terminal and the standby system clock to the data terminal, respectively. The clock supply device according to appendix 1, wherein:
(Supplementary Note 3) The phase comparison unit includes a counter circuit that samples a phase difference between the active clock and the standby clock with a high-speed sampling clock to obtain a count value corresponding to the phase difference. The clock supply device according to appendix 1.

(付記4)前記位相比較判定部は、前記位相比較部からの位相差電圧信号を平均化する手段を含み、前記位相差電圧信号を平均化した信号に基づいて前記可変遅延回路を制御する構成を備えたことを特徴とする付記1記載のクロック供給装置。
(付記5)前記可変遅延回路は、複数の異なる遅延量のディレイラインと、遅延量零のバイパスラインとをセレクタにより選択して直列に接続する構成を有することを特徴とする付記1記載のクロック供給装置。
(付記6)前記可変遅延回路の遅延量を制御する前記位相比較判定部は、前記可変遅延回路の最小遅延量と最大遅延量との中間の遅延量を基準遅延量とし、該基準遅延量を前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差零の検出時に選択し、前記予備系クロックの進み位相検出時に前記基準遅延量より前記予備系クロックに対する遅延量を増加し、前記予備系クロックの遅れ位相検出時に前記基準遅延量より前記予備系クロックに対する遅延量を減少する制御構成を備えていることを特徴とする付記1記載のクロック供給装置。
(付記7)前記位相比較判定部は、前記位相比較部からの位相差電圧信号をディジタル信号に変換し、前記位相比較部からの予備系遅れ検出信号と予備系進み検出信号とを複数回保持するメモリと、該メモリの保持内容を平均化処理する手段と、該手段により平均化した位相差と前記予備系遅れ検出信号又は前記予備系進み検出信号とに基づいた前記可変遅延回路の遅延量の増加、減少のステップを保持した変換テーブルとを備えたことを特徴とする付記1又は付記6記載のクロック供給装置。
(Additional remark 4) The said phase comparison determination part contains the means to average the phase difference voltage signal from the said phase comparison part, The structure which controls the said variable delay circuit based on the signal which averaged the said phase difference voltage signal The clock supply device according to appendix 1, characterized by comprising:
(Supplementary note 5) The clock according to Supplementary note 1, wherein the variable delay circuit has a configuration in which a plurality of delay lines having different delay amounts and a bypass line having zero delay amount are selected by a selector and connected in series. Feeding device.
(Appendix 6) The phase comparison / determination unit that controls the delay amount of the variable delay circuit uses a delay amount intermediate between the minimum delay amount and the maximum delay amount of the variable delay circuit as a reference delay amount, and the reference delay amount It is selected when a phase difference of zero between the active clock and the standby clock is detected, and when the advance phase of the standby clock is detected, a delay amount with respect to the standby clock is increased from the reference delay amount. 2. The clock supply apparatus according to claim 1, further comprising a control configuration for reducing a delay amount with respect to the standby system clock from the reference delay amount when a delay phase is detected.
(Additional remark 7) The said phase comparison determination part converts the phase difference voltage signal from the said phase comparison part into a digital signal, and hold | maintains the spare system delay detection signal and spare system advance detection signal from the said phase comparison part in multiple times A delay time of the variable delay circuit based on the phase difference averaged by the means and the standby system delay detection signal or the standby system advance detection signal The clock supply device according to appendix 1 or appendix 6, characterized in that it comprises a conversion table that holds the steps of increasing and decreasing.

本発明の実施例1の説明図である。It is explanatory drawing of Example 1 of this invention. 位相比較部の説明図である。It is explanatory drawing of a phase comparison part. 高速サンプリングによる位相差測定の説明図である。It is explanatory drawing of the phase difference measurement by high-speed sampling. 予備系位相遅れ検出時と予備系位相進み検出時との説明図である。It is explanatory drawing at the time of protection system phase delay detection, and the time of protection system phase advance detection. 位相比較部の出力特性の説明図である。It is explanatory drawing of the output characteristic of a phase comparison part. ジッタ/ワンダを含む位相比較部の出力特性説明図である。It is output characteristic explanatory drawing of the phase comparison part containing a jitter / wander. 位相比較判定部の説明図である。It is explanatory drawing of a phase comparison determination part. メモリ内容の説明図である。It is explanatory drawing of the memory content. 可変遅延回路と変換テーブルとの説明図である。It is explanatory drawing of a variable delay circuit and a conversion table. 変換テーブルの説明図である。It is explanatory drawing of a conversion table. クロック位相制御動作の説明図である。It is explanatory drawing of a clock phase control operation | movement. 従来例の説明図である。It is explanatory drawing of a prior art example.

符号の説明Explanation of symbols

1a N系(現用系)システムクロック供給装置
1b E系(予備系)システムクロック供給装置
2a,2b DPLL部
3a,3b 位相あわせ部
4a,4b 可変遅延回路
5a,5b 位相比較判定部
6a,6b CLK分配部
7a,7b 位相比較部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a N system (active system) system clock supply apparatus 1b E system (standby system) system clock supply apparatus 2a, 2b DPLL part 3a, 3b Phase adjustment part 4a, 4b Variable delay circuit 5a, 5b Phase comparison judgment part 6a, 6b CLK Distribution unit 7a, 7b Phase comparison unit

Claims (5)

上位装置からのシステムクロックに位相同期した現用系クロックを出力する現用系のシステムクロック供給装置と予備系クロックを出力する予備系のシステムクロック供給装置とを有するクロック供給装置に於いて、
前記現用系と予備系とのシステムクロック供給装置は、前記システムクロックに位相同期したクロックを出力するDPLL部と、
該DPLL部からのクロックを遅延制御する可変遅延回路と、
該可変遅延回路を介して出力する前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相を比較する位相比較部と、
該位相比較部による前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相比較結果により前記可変遅延回路の遅延量を制御する位相比較判定部とをそれぞれ備えた
ことを特徴とするクロック供給装置。
In a clock supply device having an active system clock supply device that outputs an active clock that is phase-synchronized with a system clock from a host device and a standby system clock supply device that outputs a standby clock,
The system clock supply device for the active system and the standby system includes a DPLL unit that outputs a clock phase-synchronized with the system clock;
A variable delay circuit for delay-controlling the clock from the DPLL unit;
A phase comparator for comparing the phases of the active clock and the standby clock output via the variable delay circuit;
A clock supply apparatus comprising: a phase comparison determination unit that controls a delay amount of the variable delay circuit based on a phase comparison result between the active clock and the standby clock by the phase comparison unit.
前記位相比較部は、前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差に対応し電圧値を出力する積分回路と、前記現用系クロックをデータ端子に、前記予備系クロックをクロック端子にそれぞれ入力して、予備系遅れ検出信号を出力するフリップフロップと、前記現用系クロックをクロック端子に、前記予備系クロックをデータ端子にそれぞれ入力して予備系進み検出信号を出力するフリップフロップとを備えたことを特徴とする請求項1記載のクロック供給装置。   The phase comparison unit inputs an integration circuit that outputs a voltage value corresponding to a phase difference between the active clock and the standby clock, and inputs the active clock to a data terminal and the standby clock to a clock terminal. And a flip-flop for outputting a standby system advance detection signal by inputting the active system clock to a clock terminal and the standby system clock to a data terminal. The clock supply apparatus according to claim 1, wherein: 前記位相比較部は、前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差を高速サンプリングクロックによりサンプリングして、前記位相差に対応するカウント値を求めるカウンタ回路を備えたことを特徴とする請求項1記載のクロック供給装置。   The phase comparison unit includes a counter circuit that samples a phase difference between the active clock and the standby clock with a high-speed sampling clock to obtain a count value corresponding to the phase difference. 1. The clock supply device according to 1. 前記可変遅延回路は、複数の異なる遅延量のディレイラインと、遅延量零のバイパスラインとをセレクタにより選択して直列に接続する構成を有することを特徴とする請求項1記載のクロック供給装置。   2. The clock supply device according to claim 1, wherein the variable delay circuit has a configuration in which a plurality of delay lines having different delay amounts and a bypass line having a zero delay amount are selected by a selector and connected in series. 前記可変遅延回路の遅延量を制御する前記位相比較判定部は、前記可変遅延回路の最小遅延量と最大遅延量との中間の遅延量を基準遅延量とし、該基準遅延量を前記現用系クロックと前記予備系クロックとの位相差零の検出時に選択し、前記予備系クロックの進み位相検出時に前記基準遅延量より前記予備系クロックに対する遅延量を増加し、前記予備系クロックの遅れ位相検出時に前記基準遅延量より前記予備系クロックに対する遅延量を減少する制御構成を備えていることを特徴とする請求項1記載のクロック供給装置。   The phase comparison / determination unit that controls the delay amount of the variable delay circuit uses a delay amount intermediate between the minimum delay amount and the maximum delay amount of the variable delay circuit as a reference delay amount, and the reference delay amount is used as the working system clock. Selected when the phase difference between the standby clock and the standby clock is detected, the delay amount relative to the standby clock is increased from the reference delay amount when the advance phase of the standby clock is detected, and the delayed phase of the standby clock is detected 2. The clock supply device according to claim 1, further comprising a control configuration for reducing a delay amount with respect to the standby clock from the reference delay amount.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010534962A (en) * 2007-07-26 2010-11-11 ローデ ウント シュワルツ ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー Method for synchronizing several channel measuring components and / or measuring devices and corresponding measuring device

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