JP2008186986A - Component built-in substrate, electronic equipment using the same, and manufacturing methods of component built-in substrate and electronic equipment - Google Patents

Component built-in substrate, electronic equipment using the same, and manufacturing methods of component built-in substrate and electronic equipment Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize low electronic equipment by solving the problem wherein the height of the electronic equipment is determined by high electronic components. <P>SOLUTION: In a process for burying electronic components 6 with a resin content flowing out of a resin layer 21 containing a resin base material, a resin inflow prevention body 15 is provided on a component mount land 17 to which the electronic component 3 is placed and the component placement region of the electronic component 3 while surrounding a gap 23 for preventing the resin content from flowing into the gap 23 and for forming the gap 23. Then, for placing the electronic component 3 at the component mount land 17, a component mount hole 24 connected to the gap 23 is provided at least at the upper portion of the component placement region of the electronic component 3, thus realizing a component built-in substrate 11 capable of placing the electronic component 3 at the component placement land at the bottom of the gap 23 and realizing the low electronic equipment 12. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子部品を内蔵した部品内蔵基板と、これを用いた電子機器、ならびにこれらに用いる製造方法に関するものである。   The present invention relates to a component-embedded substrate incorporating an electronic component, an electronic device using the same, and a manufacturing method used for the same.

以下、従来の部品内蔵基板1を用いた電子機器について図面を用いて説明する。図14は従来の部品内蔵基板1を用いた電子機器の断面図である。図14において、従来の電子機器2は、部品内蔵基板1の上面に電子部品3や電子部品4が実装されている。   Hereinafter, an electronic apparatus using the conventional component-embedded substrate 1 will be described with reference to the drawings. FIG. 14 is a cross-sectional view of an electronic apparatus using the conventional component-embedded substrate 1. In FIG. 14, the conventional electronic device 2 has an electronic component 3 and an electronic component 4 mounted on the upper surface of the component-embedded substrate 1.

ここで部品内蔵基板1は、配線基板5の上面に電子部品6が装着され、この電子部品6を覆うように部品内蔵層7が形成されている。なお、電子部品3の高さは、電子部品4の高さより高く、かつ部品内蔵層7の厚みより大きい。   Here, in the component-embedded substrate 1, an electronic component 6 is mounted on the upper surface of the wiring substrate 5, and a component-embedded layer 7 is formed so as to cover the electronic component 6. The height of the electronic component 3 is higher than the height of the electronic component 4 and larger than the thickness of the component built-in layer 7.

なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2005−158770号公報
As prior art document information related to the invention of this application, for example, Patent Document 1 is known.
JP 2005-158770 A

しかしながらこのような従来の部品内蔵基板1を用いた電子機器2において、電子部品3は部品内蔵層7の厚みより大きく、部品内蔵基板1内へ内蔵した場合に部品内蔵層7から突出するので、部品内蔵基板1へ内蔵することもできない。そこで、電子部品3を部品内蔵基板1の上に装着した場合、電子機器2の高さ8は、高さの高い電子部品3の高さによって決定付けられてしまう。従って電子機器2の高さ8を低くできないという課題を有していた。   However, in the electronic device 2 using the conventional component built-in substrate 1, the electronic component 3 is larger than the thickness of the component built-in layer 7 and protrudes from the component built-in layer 7 when incorporated in the component built-in substrate 1. It cannot be built in the component built-in substrate 1. Therefore, when the electronic component 3 is mounted on the component-embedded substrate 1, the height 8 of the electronic device 2 is determined by the height of the electronic component 3 having a high height. Therefore, the electronic device 2 has a problem that the height 8 cannot be reduced.

そこで本発明は、この問題を解決したもので、電子機器の高さを低くすることができる部品内蔵基板を提供することを目的としたものである。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves this problem and aims to provide a component-embedded substrate that can reduce the height of an electronic device.

この目的を達成するために本発明の部品内蔵基板は、第2の電子部品が装着される部品搭載ランドと前記第2の電子部品が装着される部品装着領域との上に設けられた空隙が樹脂で埋まることを阻止するために、空隙部と前記樹脂埋設部との間に樹脂流入阻止部を設ける。そして、部品搭載ランドに第2の電子部品を装着可能とするために、少なくとも前記部品装着領域の上方において前記空隙部と連結される部品装着孔を設けるものである。   In order to achieve this object, the component-embedded substrate of the present invention has a gap provided on a component mounting land on which the second electronic component is mounted and a component mounting area on which the second electronic component is mounted. In order to prevent the resin from being buried, a resin inflow prevention portion is provided between the gap portion and the resin buried portion. Then, in order to allow the second electronic component to be mounted on the component mounting land, a component mounting hole connected to the gap is provided at least above the component mounting area.

以上のように本発明によれば、配線基板と、この配線基板の一方面に接続部材を介して実装された第1の電子部品と、前記配線基板の一方面側において前記第1の電子部品が埋設された樹脂埋設部と、この樹脂埋設部の上に設けられた配線層とを備え、前記配線基板一方面側に設けられるとともに第2の電子部品が装着される部品搭載ランドと、この部品搭載ランドと前記第2の電子部品が装着される部品装着領域との上に設けられた空隙部と、この空隙部と前記樹脂埋設部との間に設けられた樹脂流入阻止部と、この樹脂流入阻止部の上方において前記空隙部と連結されるとともに、少なくとも前記部品装着領域の上方に開口部を形成させる部品装着孔とを有したものである。   As described above, according to the present invention, the wiring board, the first electronic component mounted on one surface of the wiring board via the connection member, and the first electronic component on the one surface side of the wiring board. And a wiring layer provided on the resin-buried part, provided on one side of the wiring board and mounted with a second electronic component, A gap provided on a component mounting land and a component mounting area on which the second electronic component is mounted; a resin inflow blocking portion provided between the gap and the resin buried portion; and It is connected to the gap portion above the resin inflow prevention portion, and has a component mounting hole for forming an opening at least above the component mounting region.

これにより、空隙部が形成された部品内蔵基板を実現できるので、空隙部の底の部品搭載ランドへ第2の電子部品を装着できる。そしてこの部品搭載ランドへ高さの高い第2の電子部品を装着しても、部品内蔵基板の上面から第2の電子部品の天面までの突出高さを低くできる。従って、電子機器の高さは高さの高い電子部品の高さにより決定付けられ難くなるので、電子機器の高さを低くできる。   As a result, a component-embedded substrate in which a gap is formed can be realized, so that the second electronic component can be mounted on the component mounting land at the bottom of the gap. Even when the second electronic component having a high height is mounted on the component mounting land, the protruding height from the upper surface of the component-embedded substrate to the top surface of the second electronic component can be reduced. Accordingly, the height of the electronic device becomes difficult to be determined by the height of the electronic component having a high height, so that the height of the electronic device can be reduced.

(実施の形態1)
以下、本実施の形態における部品内蔵基板11を用いた電子機器12について図面を用いて説明する。図1は本実施の形態における部品内蔵基板11を用いた電子機器12の断面図であり、図2は同、部品内蔵基板11の上面図である。なお、図1、図2において、図14と同じものについては同じ番号を用いており、それらについてはここでの説明を簡略化している。
(Embodiment 1)
Hereinafter, an electronic device 12 using the component-embedded substrate 11 in the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view of an electronic device 12 using a component built-in substrate 11 in the present embodiment, and FIG. 2 is a top view of the component built-in substrate 11. 1 and 2, the same reference numerals are used for the same components as those in FIG. 14, and the description thereof is simplified here.

図1において、配線基板13は多層基板であり、その上下面にはそれぞれ配線パターンが形成されている。この配線基板13の上面には、電子部品6が装着される部品ランド14、樹脂流入阻止体15が装着される接続ランド16や、電子部品3が装着される部品搭載ランド17が形成されている。なお、本実施の形態では、接続ランド16は配線基板13上においてグランドパターンと接続されている。   In FIG. 1, the wiring board 13 is a multilayer board, and wiring patterns are formed on the upper and lower surfaces thereof. On the upper surface of the wiring board 13, a component land 14 to which the electronic component 6 is mounted, a connection land 16 to which the resin inflow blocking body 15 is mounted, and a component mounting land 17 to which the electronic component 3 is mounted are formed. . In the present embodiment, the connection land 16 is connected to the ground pattern on the wiring board 13.

本実施の形態における配線基板13には、内層パターンやスルーホール(図示せず)なども設けられている。なお、本実施の形態において電子部品4は配線基板13の上面のみに実装されているが、これは配線基板13の上下面の双方へ実装しても良い。   The wiring board 13 in the present embodiment is also provided with an inner layer pattern, a through hole (not shown), and the like. In the present embodiment, the electronic component 4 is mounted only on the upper surface of the wiring substrate 13, but it may be mounted on both the upper and lower surfaces of the wiring substrate 13.

部品ランド14上には電子部品6が装着され、接続ランド16上には樹脂流入阻止体15が装着され、部品搭載ランド17上には電子部品3が装着されている。そしてこれら部品ランド14と電子部品6との間は、ハンダ18(接続部材の一部として用いた)によって接続されている。本実施の形態において樹脂流入阻止体15は金属体であり、接続ランド16と樹脂流入阻止体15との間もハンダ18によって接続されている。一方部品搭載ランド17と電子部品3との間は、ハンダ19によって接続されている。ここで、ハンダ18の融点はハンダ19の融点より高いものを用いると良い。なお、本実施の形態においてハンダ18は融点が約220℃の鉛フリーはんだであり、ハンダ19は融点が約200℃の鉛フリーはんだである。以上のように本実施の形態における樹脂流入阻止体15は金属体であるので、別途接続ランド16と接続するための接続部を設ける必要がない。   The electronic component 6 is mounted on the component land 14, the resin inflow blocking body 15 is mounted on the connection land 16, and the electronic component 3 is mounted on the component mounting land 17. The component land 14 and the electronic component 6 are connected by solder 18 (used as a part of the connection member). In the present embodiment, the resin inflow blocking body 15 is a metal body, and the connection land 16 and the resin inflow blocking body 15 are also connected by solder 18. On the other hand, the component mounting land 17 and the electronic component 3 are connected by solder 19. Here, the melting point of the solder 18 may be higher than that of the solder 19. In this embodiment, the solder 18 is a lead-free solder having a melting point of about 220 ° C., and the solder 19 is a lead-free solder having a melting point of about 200 ° C. As described above, since the resin inflow blocking body 15 in the present embodiment is a metal body, it is not necessary to provide a connection portion for connecting to the connection land 16 separately.

配線基板13の上面側には、電子部品6や樹脂流入阻止体15が熱硬化性の樹脂中に埋設された樹脂埋設部20を有している。本実施の形態における配線基板13の上面には、樹脂埋設部20を囲むように基材入り樹脂層21が形成される。なお、本実施の形態における基材入り樹脂層21における基材はガラス織布であり、樹脂はエポキシ樹脂である。そして、これらの樹脂埋設部20と基材入り樹脂層21との上に配線層22が設けられている。この配線層22の上下面にはパターンが形成され、それらの間がスルーホール(図示無し)によって接続されている。なお、配線層22の上面には電子部品4が装着されるランドが形成されている。   On the upper surface side of the wiring board 13, the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15 have a resin embedded portion 20 embedded in a thermosetting resin. A base material-containing resin layer 21 is formed on the upper surface of the wiring board 13 in the present embodiment so as to surround the resin buried portion 20. In addition, the base material in the resin layer 21 with a base material in this Embodiment is a glass woven fabric, and resin is an epoxy resin. And the wiring layer 22 is provided on these resin embedding parts 20 and the resin layer 21 with a base material. Patterns are formed on the upper and lower surfaces of the wiring layer 22 and are connected by through holes (not shown). A land on which the electronic component 4 is mounted is formed on the upper surface of the wiring layer 22.

樹脂流入阻止体15は、天面とこの天面の周囲に立設された側面とから構成され、側面の端部が開口されている。そしてこの開口側が配線基板13と対向するように装着されることによって、配線基板13上に空隙部23が形成される。そしてこの側面の端部近傍と、側面の先端部(接続部の一例として用いた)とがハンダ18で接続ランド16へ接続される。これにより、空隙部23と樹脂埋設部20との間に樹脂流入阻止体15が設けられる構成となる。なお、樹脂流入阻止体15は金属体であり、しぼり加工によって形成されている。ここで空隙部23の大きさは、部品搭載ランド17と電子部品3が装着される可能性のある領域(以降、部品装着領域という)とを囲むような大きさとすることが重要である。   The resin inflow blocking body 15 is composed of a top surface and a side surface standing around the top surface, and an end portion of the side surface is opened. The opening 23 is mounted so as to face the wiring board 13, thereby forming a gap 23 on the wiring board 13. The vicinity of the end portion of the side surface and the front end portion (used as an example of the connection portion) of the side surface are connected to the connection land 16 by the solder 18. Thereby, it becomes the structure by which the resin inflow prevention body 15 is provided between the space | gap part 23 and the resin embedding part 20. FIG. The resin inflow blocking body 15 is a metal body and is formed by squeezing. Here, it is important that the size of the gap portion 23 surrounds the component mounting land 17 and a region where the electronic component 3 may be mounted (hereinafter referred to as a component mounting region).

なお本実施の形態における樹脂流入阻止体15には、金属体を用いたがこれは熱硬化性の樹脂を用いても良い。ただしこの場合には、樹脂流入阻止体15の開口側端部近傍や側面端部にめっきなどによる導体膜を設け、この導体膜を接続部として用いる。あるいは、樹脂流入阻止体15の内周もしくは外周面全体に金属めっきを施しても良い。   In addition, although the metal body was used for the resin inflow prevention body 15 in this Embodiment, you may use a thermosetting resin for this. However, in this case, a conductor film by plating or the like is provided in the vicinity of the opening side end of the resin inflow blocking body 15 or on the side end, and this conductor film is used as the connection portion. Alternatively, metal plating may be applied to the entire inner periphery or outer peripheral surface of the resin inflow blocking body 15.

そして、本実施の形態における樹脂流入阻止体15は金属体であるので、電子部品3の周囲が金属体によって囲まれることとなる。これにより電子部品3と配線基板13上の回路、あるいは配線基板13上に装着された電子部品6との間で干渉は発生し難くなる。また、接続ランド16は配線基板13上においてグランドパターンと接続されているので、電子部品3はさらにしっかりとシールドすることができる。なお、本実施の形態では樹脂流入阻止体15として金属体を用いたが、これは熱硬化性の樹脂の表面に金属めっきを施したものを用いても良い。   And since the resin inflow prevention body 15 in this Embodiment is a metal body, the circumference | surroundings of the electronic component 3 will be enclosed by a metal body. This makes it difficult for interference to occur between the electronic component 3 and the circuit on the wiring board 13 or the electronic component 6 mounted on the wiring board 13. Further, since the connection land 16 is connected to the ground pattern on the wiring board 13, the electronic component 3 can be more firmly shielded. In the present embodiment, a metal body is used as the resin inflow blocking body 15, but it is also possible to use a metal plate on the surface of a thermosetting resin.

部品装着孔24は、配線層22と、樹脂流入阻止体15の天面と、樹脂流入阻止体15の天面と配線層22との間の樹脂埋設部20とを貫通するように設けられ、樹脂流入阻止体15の天面において空隙部23と連結されている。これによって、部品装着領域の上方に開口部が形成されることとなる。ここで電子部品3がこの部品装着孔24を通して配線基板13上に装着されるので、部品装着孔24の大きさは電子部品3が実装できるように電子部品3よりも大きくしておくことが重要である。つまり、部品装着孔24は電子部品3の部品装着領域より大きく、かつ部品内蔵基板11の上から見た場合にこの部品装着領域全てが見通せるようにする訳である。そのために、部品装着孔24と電子部品3との間には、この電子部品3の実装時に発生する装着ズレ寸法以上の隙間を設けておく。これによって、電子部品3がずれて実装された場合でも、実装することができる。   The component mounting hole 24 is provided so as to penetrate the wiring layer 22, the top surface of the resin inflow prevention body 15, and the resin embedding portion 20 between the top surface of the resin inflow prevention body 15 and the wiring layer 22. The top surface of the resin inflow blocking body 15 is connected to the gap 23. As a result, an opening is formed above the component mounting area. Here, since the electronic component 3 is mounted on the wiring board 13 through the component mounting hole 24, it is important that the size of the component mounting hole 24 is larger than the electronic component 3 so that the electronic component 3 can be mounted. It is. In other words, the component mounting hole 24 is larger than the component mounting region of the electronic component 3 and allows the entire component mounting region to be seen when viewed from above the component-embedded substrate 11. For this purpose, a gap larger than the mounting displacement dimension generated when the electronic component 3 is mounted is provided between the component mounting hole 24 and the electronic component 3. As a result, even when the electronic component 3 is mounted out of position, it can be mounted.

ここで、電子部品3は電子部品4の高さより高い。かつ電子部品3が配線基板13へ装着状態において、電子部品3の天面は配線層22の上面から突出する。つまり、電子部品3は電子部品6のように部品内蔵基板11内への内蔵はできない部品である。特にこれは、一般のチップ部品に比べて背が高く、かつ樹脂内に埋設すると大気との誘電率の差などにより電気的特性に影響が発生する恐れの有るような部品に対して有用である。つまり空隙部23を有しているので、配線層22上に実装された場合とほぼ同じ特性を得易くなる。   Here, the electronic component 3 is higher than the height of the electronic component 4. When the electronic component 3 is mounted on the wiring board 13, the top surface of the electronic component 3 protrudes from the upper surface of the wiring layer 22. That is, the electronic component 3 is a component that cannot be embedded in the component-embedded substrate 11 like the electronic component 6. In particular, this is useful for parts that are taller than general chip parts and that may affect electrical characteristics due to differences in the dielectric constant from the atmosphere when embedded in resin. . That is, since the gap 23 is provided, it becomes easy to obtain substantially the same characteristics as when mounted on the wiring layer 22.

以上の構成により、空隙部23が形成された部品内蔵基板11を実現できるので、空隙部23の底の部品搭載ランド17へ電子部品3を装着できる。これにより部品内蔵基板11の上面から第2の電子部品の天面までの突出高さを低くできる。従って、電子機器12の高さは、高さの高い電子部品3の高さにより決定付けられ難くなるので、電子機器12の高さを低くできる。   With the above configuration, the component-embedded substrate 11 in which the gap 23 is formed can be realized, so that the electronic component 3 can be mounted on the component mounting land 17 at the bottom of the gap 23. Thereby, the protrusion height from the upper surface of the component-embedded substrate 11 to the top surface of the second electronic component can be lowered. Accordingly, the height of the electronic device 12 is difficult to be determined by the height of the electronic component 3 having a high height, so that the height of the electronic device 12 can be reduced.

次に、本実施の形態における電子機器12の製造方法について図面を用いて説明する。では、最初に部品内蔵基板11の製造方法から説明する。図3は、本実施の形態における部品内蔵基板11の製造フローチャートである。なお図3及び以下の説明で使用する図4から図10において、図1、図2と同じものには同じ番号を用いており、その説明は簡略化している。以下本実施の形態における部品内蔵基板11の製造方法を、図3の製造フローチャートに示した工程の順に説明する。   Next, a method for manufacturing electronic device 12 in the present embodiment will be described with reference to the drawings. First, the manufacturing method of the component built-in substrate 11 will be described. FIG. 3 is a manufacturing flowchart of the component-embedded substrate 11 in the present embodiment. In FIG. 3 and FIGS. 4 to 10 used in the following description, the same reference numerals are used for the same components as those in FIGS. 1 and 2, and the description is simplified. Hereinafter, a method of manufacturing the component-embedded substrate 11 in the present embodiment will be described in the order of the steps shown in the manufacturing flowchart of FIG.

図4は、はんだ塗布工程31における配線基板13の断面図である。図3、図4において、配線基板13の上面には配線パターン(図示せず)や、部品ランド14、接続ランド16や部品搭載ランド17が形成されている。なお本実施の形態において、配線基板13の下面側には全面に銅箔が形成されているが、予め下面側にも配線パターンを形成しておいても良い。なお、接続ランド16は「ロ」の字形状であり、部品搭載ランド17の周囲を囲むように形成されている。   FIG. 4 is a cross-sectional view of the wiring board 13 in the solder application step 31. 3 and 4, a wiring pattern (not shown), a component land 14, a connection land 16, and a component mounting land 17 are formed on the upper surface of the wiring substrate 13. In the present embodiment, the copper foil is formed on the entire lower surface side of the wiring substrate 13, but a wiring pattern may be formed on the lower surface side in advance. The connection land 16 has a “B” shape and is formed so as to surround the periphery of the component mounting land 17.

実装工程32では、配線基板13の上面に電子部品6を実装する工程であり、はんだ塗布工程31、装着工程33と、リフロー工程34とからなる。この実装工程32では、最初に配線基板13の上面にメタルマスクなどを用いてクリーム状のハンダ18とハンダ19とが塗布される。なお、電子部品3は電子部品6に比べて背が高く、必要とされるハンダ量も多い。そこで、本実施の形態におけるはんだ塗布工程31ではまず厚みの薄いメタルマスクを用いて、接続ランド16と部品ランド14上にクリーム状のハンダ18を塗布する。次に厚みの厚いメタルマスクを用いて、部品搭載ランド17上へハンダ19を塗布する。なおこの厚みの厚いメタルマスクには、ハンダ18の塗布箇所に対応した位置に凹部が形成され、このメタルマスクはハンダ19を塗布するときに凹部がハンダ18と対向するように配線基板13上に載置される。本実施の形態では、部品搭載ランド17上にはハンダ19を供給したが、これはハンダ18を用いても良い。この場合には配線基板13上に1回ではんだを塗布できるので、効率的に生産することができる。また、ハンダ19の塗布には、ピンなどによる転写や、ディスペンサなどによる塗布を用いても良い。   The mounting process 32 is a process of mounting the electronic component 6 on the upper surface of the wiring board 13, and includes a solder application process 31, a mounting process 33, and a reflow process 34. In the mounting process 32, first, cream-like solder 18 and solder 19 are applied to the upper surface of the wiring board 13 using a metal mask or the like. The electronic component 3 is taller than the electronic component 6 and requires a large amount of solder. Therefore, in the solder application step 31 in the present embodiment, first, the cream-like solder 18 is applied on the connection lands 16 and the component lands 14 using a thin metal mask. Next, solder 19 is applied onto the component mounting land 17 using a thick metal mask. The thick metal mask has a recess formed at a position corresponding to the application location of the solder 18, and this metal mask is formed on the wiring substrate 13 so that the recess faces the solder 18 when the solder 19 is applied. Placed. In the present embodiment, the solder 19 is supplied on the component mounting land 17, but the solder 18 may be used. In this case, solder can be applied on the wiring board 13 at a time, so that it can be produced efficiently. Further, the solder 19 may be applied by transfer using a pin or the like, or application using a dispenser or the like.

図5は、実装工程32が完了した配線基板13の断面図である。図3、図5において装着工程33では、はんだ塗布工程31の後で電子部品6や樹脂流入阻止体15が配線基板13の上面に装着される。このとき部品ランド14上には電子部品6が装着され、接続ランド16上には樹脂流入阻止体15が装着される。なお、樹脂流入阻止体15は、天面とこの天面の周囲より立設した側面とを有しており、天面の単体側には開口を有している。そして、この樹脂流入阻止体15は開口側の側面の先端部が接続ランド16へ対向するように装着される。本実施の形態ではこのように電子部品6と樹脂流入阻止体15とを共にこの実装工程32で同時に実装可能であるので、非常に生産性が良好である。   FIG. 5 is a cross-sectional view of the wiring board 13 after the mounting process 32 is completed. 3 and 5, in the mounting step 33, the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15 are mounted on the upper surface of the wiring board 13 after the solder application step 31. At this time, the electronic component 6 is mounted on the component land 14, and the resin inflow blocking body 15 is mounted on the connection land 16. The resin inflow blocking body 15 has a top surface and a side surface erected from the periphery of the top surface, and has an opening on a single side of the top surface. The resin inflow blocking body 15 is mounted such that the tip of the side surface on the opening side faces the connection land 16. In this embodiment, since both the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15 can be simultaneously mounted in this mounting step 32, the productivity is very good.

そしてリフロー工程34では、装着工程33の後でクリーム状のハンダ18とハンダ19とを溶融させ、電子部品6や樹脂流入阻止体15を配線基板13上にはんだ付け接続する。このときリフロー工程34の温度は、ハンダ18の融点より高くする。これによりハンダ19の融点はハンダ18の融点より低いので、ハンダ19も溶融し、部品搭載ランド17上にハンダ19による保護層が形成される。   In the reflow process 34, after the mounting process 33, the creamy solder 18 and the solder 19 are melted, and the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15 are soldered and connected to the wiring board 13. At this time, the temperature of the reflow process 34 is set higher than the melting point of the solder 18. Accordingly, since the melting point of the solder 19 is lower than the melting point of the solder 18, the solder 19 is also melted, and a protective layer is formed by the solder 19 on the component mounting land 17.

次に、図6は本実施の形態における積層工程35における部品内蔵基板11の断面図であり、図7は積層工程35において配線層22積層前の部品内蔵基板11の上面図である。図3、図6、図7において、積層工程35は実装工程32の後で、配線基板13の電子部品6搭載面側に未硬化状態の熱可塑性の樹脂36を搭載する工程である。樹脂36は予め孔加工工程37によって電子部品6や樹脂流入阻止体15およびハンダ18に対応する位置に孔38が形成されている。そして積層工程35において樹脂36は、孔38が電子部品6に対応するように積層される。本実施の形態において樹脂36は、ガラス基材にエポキシ樹脂が含浸された未硬化状態のプリプレグである。   Next, FIG. 6 is a cross-sectional view of the component built-in substrate 11 in the lamination step 35 in the present embodiment, and FIG. 7 is a top view of the component built-in substrate 11 before the wiring layer 22 is laminated in the lamination step 35. 3, 6, and 7, the stacking step 35 is a step of mounting an uncured thermoplastic resin 36 on the electronic component 6 mounting surface side of the wiring board 13 after the mounting step 32. A hole 38 is formed in the resin 36 at a position corresponding to the electronic component 6, the resin inflow blocking body 15, and the solder 18 in advance by a hole processing step 37. In the lamination step 35, the resin 36 is laminated so that the holes 38 correspond to the electronic components 6. In the present embodiment, the resin 36 is an uncured prepreg in which a glass substrate is impregnated with an epoxy resin.

ここで積層する樹脂36は1層としているので、積層回数が少なくなり生産性が良好となる。逆に薄いプリプレグを複数層積層した場合、積層する枚数を調整すれば容易に部品内蔵基板11厚みを調整できる。そしてさらにこのプリプレグと配線済みであり上下面間での接続が完了した内層基板とを交互に積層すれば、配線基板13と配線層22との間にも内層導体層を形成できる。   Since the resin 36 to be laminated here is a single layer, the number of laminations is reduced and the productivity is improved. Conversely, when a plurality of thin prepregs are laminated, the thickness of the component built-in substrate 11 can be easily adjusted by adjusting the number of laminated layers. Further, if this prepreg and the inner layer substrate that has been wired and the connection between the upper and lower surfaces is alternately laminated, an inner layer conductor layer can also be formed between the wiring substrate 13 and the wiring layer 22.

ここで、孔38と電子部品6との間、孔38と樹脂流入阻止体15との間には隙間39が形成される。これは、樹脂36を配線基板13上に積層し易くするために設けられたものであり、そのために孔38と電子部品6との間の隙間39や、孔38と樹脂流入阻止体15との間の隙間39の寸法は、電子部品6や樹脂流入阻止体15の実装ズレ寸法と樹脂36を配線基板13上へ搭載時のズレ寸法との合算寸法以上としておくことが望ましい。   Here, a gap 39 is formed between the hole 38 and the electronic component 6 and between the hole 38 and the resin inflow blocking body 15. This is provided for facilitating the lamination of the resin 36 on the wiring board 13, and for this purpose, the gap 39 between the hole 38 and the electronic component 6, and the hole 38 and the resin inflow blocking body 15 are not provided. The size of the gap 39 is preferably equal to or greater than the sum of the mounting displacement size of the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15 and the displacement size when the resin 36 is mounted on the wiring board 13.

このように積層された樹脂36上に配線層22が積層され、配線層22によって孔38が塞がれる。このとき、隙間39は電子部品6や樹脂流入阻止体15と配線層22との間にも形成する。これは、後述する部品埋設工程における圧縮によって、樹脂36の厚みが減少する為である。   The wiring layer 22 is laminated on the resin 36 thus laminated, and the hole 38 is blocked by the wiring layer 22. At this time, the gap 39 is also formed between the electronic component 6 or the resin inflow blocking body 15 and the wiring layer 22. This is because the thickness of the resin 36 decreases due to compression in the component embedding process described later.

図8は本実施の形態の部品埋設工程40における部品内蔵基板11の断面図である。図3、図8において部品埋設工程40は、積層工程35の後で未硬化の樹脂36(図6に示す)を溶融させ、この溶融した樹脂36を流動させて隙間39(図6に示す)を樹脂36で充填する工程である。そのために部品埋設工程40では、配線基板13上に樹脂36と配線層22とが積層された状態で、上下方向から加熱すると共に圧縮する。これによって樹脂36から樹脂分だけが流れ出し、この流れ出た樹脂分によって隙間39が充満される。そして、この状態のままで樹脂36の硬化温度以上の温度まで上昇させて樹脂36を硬化させる。その後に冷却して部品埋設工程40が完了する。   FIG. 8 is a cross-sectional view of the component built-in substrate 11 in the component embedding process 40 of the present embodiment. 3 and 8, the component embedding process 40 melts an uncured resin 36 (shown in FIG. 6) after the laminating process 35, and flows the melted resin 36 to cause a gap 39 (shown in FIG. 6). Is filled with the resin 36. Therefore, in the component embedding process 40, the resin 36 and the wiring layer 22 are laminated on the wiring board 13 and heated and compressed in the vertical direction. As a result, only the resin component flows out from the resin 36, and the gap 39 is filled with the resin component that flows out. In this state, the resin 36 is cured by raising the temperature to a temperature equal to or higher than the curing temperature of the resin 36. Thereafter, cooling is performed to complete the component embedding process 40.

このようにすることによって、部品内蔵基板11内に電子部品6が内蔵され、電子部品6や樹脂流入阻止体15の周りに樹脂埋設部20が形成される。そしてこのとき樹脂36中の基材は隙間39へ流れ出さないので、樹脂埋設部20の周りに基材入り樹脂層21が形成されることとなる。なおこの工程によって、電子部品6と配線基板13との間や、はんだバンプなどによってフェイスダウンでフリップチップ実装された半導体素子と配線基板13との間に形成された間隙も樹脂36から流れ出た樹脂によって埋まる。従って、フリップチップ実装された半導体素子と配線基板5との間に樹脂(いわゆるアンダーフィル)などを充填する必要もなく、生産性も良好である。   By doing so, the electronic component 6 is built in the component built-in substrate 11, and the resin embedded portion 20 is formed around the electronic component 6 and the resin inflow blocking body 15. At this time, since the base material in the resin 36 does not flow out into the gap 39, the base material-containing resin layer 21 is formed around the resin embedding portion 20. By this process, the gap formed between the electronic component 6 and the wiring board 13 or between the semiconductor element flip-chip mounted face down by solder bumps and the wiring board 13 also flows out of the resin 36. Filled with. Therefore, it is not necessary to fill a resin (so-called underfill) between the semiconductor element mounted on the flip chip and the wiring substrate 5, and the productivity is also good.

なお本実施の形態では樹脂36から流れ出た樹脂分が、部品埋設工程40における加圧によって樹脂流入阻止体15内部に入り込まないようにするために、樹脂流入阻止体15は絞り加工によって形成されており、天面と側面との間や、隣接する側面同士の間に切れ目がない。さらに、樹脂流入阻止体15における開口側の側面端部の全周で接続ランド16とハンダ18(封止材料の一例として用いた)で接続される。このようにすることにより、樹脂流入阻止体15は溶融した樹脂分が配線基板13と樹脂流入阻止体15との間から空隙部23へ流れ込むことを阻止できる。これによって、樹脂埋設部20内に樹脂流入阻止体15が埋設され、空隙部23と樹脂埋設部20との間を仕切るように樹脂流入阻止体15が設けられる。そして樹脂流入阻止体15が配線基板13上に装着されることによって樹脂流入阻止部が形成され、この樹脂流入阻止部内に空隙部23を形成することができる。また、ハンダ18を封止材料としても利用するので、別途封止のための材料が必要とならない。また別途封止処理を行う必要が無く生産性が良い。   In the present embodiment, the resin inflow blocking body 15 is formed by drawing so that the resin component flowing out from the resin 36 does not enter the resin inflow blocking body 15 by pressurization in the component embedding process 40. There is no break between the top surface and the side surface or between the adjacent side surfaces. Furthermore, the connection land 16 and the solder 18 (used as an example of a sealing material) are connected around the entire periphery of the side end on the opening side of the resin inflow blocking body 15. By doing so, the resin inflow prevention body 15 can prevent the molten resin component from flowing into the gap 23 from between the wiring board 13 and the resin inflow prevention body 15. As a result, the resin inflow prevention body 15 is embedded in the resin embedding part 20, and the resin inflow prevention body 15 is provided so as to partition the gap 23 and the resin embedding part 20. The resin inflow blocking body 15 is mounted on the wiring board 13 to form a resin inflow blocking portion, and the gap portion 23 can be formed in the resin inflow blocking portion. Further, since the solder 18 is also used as a sealing material, a separate sealing material is not required. Further, it is not necessary to perform a separate sealing process, and productivity is good.

そして配線処理工程41は部品埋設工程40の後で、部品内蔵基板11の上下面の配線処理や、上下面間を接続するスルーホールの加工が行われる。   In the wiring processing step 41, after the component embedding step 40, wiring processing of the upper and lower surfaces of the component-embedded substrate 11 and processing of through holes for connecting the upper and lower surfaces are performed.

図9は本実施の形態の部品装着孔形成工程42における部品内蔵基板11の断面図であり、図10は同、上面図である。図3、図9、図10において、部品装着孔形成工程42は配線処理工程41の後で、部品装着領域の上方に部品装着孔24を形成する工程である。そしてこの部品装着孔形成工程42で部品装着孔24が形成され、部品内蔵基板11は完成となる。ここで部品装着孔24は部品内蔵基板11の上方から加工され、配線層22、樹脂流入阻止体15の天面、およびこの天面と配線層22間の樹脂埋設部20とを貫通し、空隙部23と連結される。これによって、電子部品3の部品装着領域の上方に開口部を形成させることができる。   FIG. 9 is a cross-sectional view of the component built-in substrate 11 in the component mounting hole forming step 42 of the present embodiment, and FIG. 10 is a top view of the same. 3, 9, and 10, the component mounting hole forming step 42 is a step of forming the component mounting hole 24 above the component mounting region after the wiring processing step 41. In the component mounting hole forming step 42, the component mounting hole 24 is formed, and the component built-in substrate 11 is completed. Here, the component mounting hole 24 is processed from above the component-embedded substrate 11 and penetrates the wiring layer 22, the top surface of the resin inflow blocking body 15, and the resin embedded portion 20 between the top surface and the wiring layer 22, It is connected with the part 23. Thereby, an opening can be formed above the component mounting area of the electronic component 3.

ここで部品装着孔24は、部品装着孔24を通して電子部品3を実装するための孔である。従って、部品装着孔24は電子部品3(図1に示す)の部品装着領域を見通せ、かつ電子部品3よりも大きくすることが必要である。なお、部品装着孔24と電子部品3との間には、電子部品3の実装ズレ量以上の間隔を設けることが望ましい。   Here, the component mounting hole 24 is a hole for mounting the electronic component 3 through the component mounting hole 24. Therefore, the component mounting hole 24 needs to be able to see through the component mounting region of the electronic component 3 (shown in FIG. 1) and be larger than the electronic component 3. It should be noted that it is desirable to provide an interval larger than the mounting displacement amount of the electronic component 3 between the component mounting hole 24 and the electronic component 3.

本実施の形態では、部品搭載ランド17上には、予めハンダ19が設けられているので、後述する電子部品3の実装工程においてクリーム上のハンダを供給する必要はない。しかし、予めこのハンダ19を設けていない場合には、後の工程にて部品搭載ランド17上にハンダを供給する必要があるので、部品装着孔24は部品搭載ランド17を含む部品実装領域より大きくする。このようにすれば、容易に後の工程で部品搭載ランド17上へハンダ19を供給できる。また、部品装着孔24は、樹脂流入阻止体15の天面よりも大きくてもよい。この場合、部品装着孔形成工程42での部品装着孔24の孔加工の位置精度によらず、確実に部品装着領域の上方に開口部を形成できる。   In the present embodiment, since the solder 19 is provided in advance on the component mounting land 17, it is not necessary to supply solder on the cream in the mounting process of the electronic component 3 described later. However, when the solder 19 is not provided in advance, it is necessary to supply solder onto the component mounting land 17 in a later process, so that the component mounting hole 24 is larger than the component mounting area including the component mounting land 17. To do. In this way, the solder 19 can be easily supplied onto the component mounting land 17 in a later process. Further, the component mounting hole 24 may be larger than the top surface of the resin inflow blocking body 15. In this case, the opening can be reliably formed above the component mounting region regardless of the positional accuracy of the hole processing of the component mounting hole 24 in the component mounting hole forming step 42.

以上のような工程によって、部品実装領域上に空隙部23が形成された部品内蔵基板11を実現できる。従ってこの空隙部23の底に設けられた部品搭載ランド17へ、部品装着孔24を通して電子部品3を装着できる。従ってこの部品搭載ランド17へ高さの高い電子部品3を装着しても、部品内蔵基板11の上面から電子部品3の天面までの突出高さを低くできる。従って、電子機器12の高さは高さの高い電子部品3の高さにより決定付けられなくなり、その分電子機器12の高さを低くできる。   Through the steps as described above, the component built-in substrate 11 in which the gap 23 is formed on the component mounting region can be realized. Therefore, the electronic component 3 can be mounted through the component mounting hole 24 to the component mounting land 17 provided at the bottom of the gap 23. Therefore, even if the electronic component 3 having a high height is mounted on the component mounting land 17, the protruding height from the upper surface of the component-embedded substrate 11 to the top surface of the electronic component 3 can be reduced. Accordingly, the height of the electronic device 12 cannot be determined by the height of the electronic component 3 having a high height, and the height of the electronic device 12 can be reduced accordingly.

次に、このようにして製造された部品内蔵基板11を用いた電子機器12の製造方法について図面を用いて説明する。図11は、本実施の形態における部品内蔵基板11を用いた電子機器の製造フローチャートである。なおこの図11において図1と同じものには同じ番号を用いて、その説明は簡略化している。   Next, a method for manufacturing the electronic device 12 using the component-embedded substrate 11 manufactured as described above will be described with reference to the drawings. FIG. 11 is a manufacturing flowchart of an electronic device using the component built-in substrate 11 in the present embodiment. In FIG. 11, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified.

フラックス塗布工程51では、部品内蔵基板11の部品搭載ランド17上にフラックス52を塗布する。そしてはんだ塗布工程53は、フラックス塗布工程51の後で、メタルマスクなどを用いて、配線層22の上にクリーム状のハンダ19を供給する。この時点では配線層22上に凹凸が無いので、一般的なスクリーン印刷によって容易にハンダ19を塗布できる。   In the flux application step 51, the flux 52 is applied on the component mounting land 17 of the component built-in substrate 11. In the solder application process 53, after the flux application process 51, the cream-like solder 19 is supplied onto the wiring layer 22 using a metal mask or the like. At this time, since there is no unevenness on the wiring layer 22, the solder 19 can be easily applied by general screen printing.

このとき予め部品搭載ランド17上にはハンダ19が設けられるので、部品内蔵基板11の状態で電子部品3を実装する時に別途はんだを供給する必要がない。そしてこれにより、部品装着孔24は部品搭載ランド17を見通せる大きさとする必要がなく、部品装着孔24による開口を小さくできる。従って、配線層22において配線パターンが形成可能な領域や、電子部品4が実装可能な領域を大きくできる。なお本実施の形態においてハンダ19は、はんだ塗布工程31で供給したが、完成した部品内蔵基板11へ電子部品3を実装する前でピン転写などの方法によって塗布することもできる。   At this time, since the solder 19 is provided on the component mounting land 17 in advance, it is not necessary to separately supply solder when the electronic component 3 is mounted in the state of the component-embedded substrate 11. As a result, the component mounting hole 24 does not need to have a size allowing the component mounting land 17 to be seen, and the opening by the component mounting hole 24 can be reduced. Therefore, a region where the wiring pattern can be formed in the wiring layer 22 and a region where the electronic component 4 can be mounted can be increased. In this embodiment, the solder 19 is supplied in the solder application step 31. However, the solder 19 can be applied to the completed component-embedded substrate 11 by a method such as pin transfer before mounting the electronic component 3.

実装工程54ははんだ塗布工程53の後で、配線層22上に電子部品4を実装するとともに、部品搭載ランド17上に電子部品3を装着する。そしてリフロー工程55でハンダ19を溶融させることによって、電子部品3や電子部品4が部品内蔵基板11へ実装され、電子機器12が完成する。なお、このリフロー工程55の後で、部品内蔵基板11を子基板へと分割することや、子基板毎にカバーを装着したりしても良い。   In the mounting step 54, the electronic component 4 is mounted on the wiring layer 22 and the electronic component 3 is mounted on the component mounting land 17 after the solder application step 53. Then, by melting the solder 19 in the reflow process 55, the electronic component 3 and the electronic component 4 are mounted on the component built-in substrate 11, and the electronic device 12 is completed. After the reflow process 55, the component built-in board 11 may be divided into child boards, or a cover may be attached to each child board.

以上のように部品内蔵基板11には、部品実装領域上に空隙部23が形成されるので、この空隙部23の底に設けられた部品搭載ランド17へ部品装着孔24を通して電子部品3が装着される。これによって部品搭載ランド17に対して、高さの高い電子部品3を装着しても、部品内蔵基板11の上面から電子部品3の天面までの突出高さを低くできる。従って、電子機器12の高さは高さの高い電子部品3の高さにより決定付けられなくなり、その分電子機器12の高さを低くできる。   As described above, since the gap portion 23 is formed on the component mounting area in the component-embedded substrate 11, the electronic component 3 is mounted to the component mounting land 17 provided at the bottom of the gap portion 23 through the component mounting hole 24. Is done. Thereby, even if the electronic component 3 having a high height is mounted on the component mounting land 17, the protruding height from the upper surface of the component-embedded substrate 11 to the top surface of the electronic component 3 can be reduced. Accordingly, the height of the electronic device 12 cannot be determined by the height of the electronic component 3 having a high height, and the height of the electronic device 12 can be reduced accordingly.

なお、本実施の形態における樹脂流入阻止体15は金属体であるので、ハンダ18を用いて容易に接続ランド16へ固定することができる。さらに樹脂流入阻止体15を配線基板13のグランド端子へと接続している。これにより、電子部品3の側面が金属で覆われることとなり、電子部品3をシールドすることができる。これは電子機器12が高周波信号を扱う機器である場合に有用であり、特に電子部品3が高周波回路と干渉を発生し易い水晶発振子などである場合に特に有用となる。   In addition, since the resin inflow prevention body 15 in this Embodiment is a metal body, it can be easily fixed to the connection land 16 using the solder 18. Further, the resin inflow blocking body 15 is connected to the ground terminal of the wiring board 13. Thereby, the side surface of the electronic component 3 is covered with metal, and the electronic component 3 can be shielded. This is useful when the electronic device 12 is a device that handles high-frequency signals, and is particularly useful when the electronic component 3 is a crystal oscillator that easily interferes with the high-frequency circuit.

また、本実施の形態では、1個の電子部品6に対して1個の孔38を設けたが、これは複数個の電子部品6に対して1個の孔38としても良い。この場合、電子部品6間の間隔が狭いような場合に有用である。   In the present embodiment, one hole 38 is provided for one electronic component 6, but this may be one hole 38 for a plurality of electronic components 6. This is useful when the interval between the electronic components 6 is narrow.

さらに、本実施の形態では樹脂36から流れ出た樹脂分によって孔38内の電子部品6を埋設したが、これは積層工程35において配線基板13上に樹脂36を積層後に孔38内にペースト状の樹脂を供給しても良い。この場合においても樹脂流入阻止体15は溶融したペースト状樹脂の空隙部23への流れ込みを阻止できる。従って、部品搭載ランド17に電子部品3を装着することができる。   Further, in the present embodiment, the electronic component 6 in the hole 38 is embedded by the resin component flowing out from the resin 36. This is because the resin 36 is laminated on the wiring substrate 13 in the laminating step 35 and then pasted in the hole 38. Resin may be supplied. Even in this case, the resin inflow blocker 15 can block the molten paste resin from flowing into the gap 23. Therefore, the electronic component 3 can be mounted on the component mounting land 17.

このとき、プリプレグには予め設けたビアホール内に導電ペーストを充填したものを用い、積層工程35においてこのプリプレグと配線済みであり上下面間での接続が完了した内層基板とを交互に積層することで、内層導体間同士での接続も可能となる。   At this time, the prepreg is prepared by filling a conductive paste in a via hole provided in advance, and alternately laminating this prepreg and the inner layer substrate that has been wired and completed the connection between the upper and lower surfaces in the laminating step 35. Thus, connection between inner layer conductors is also possible.

なおこの場合、樹脂はスクリーン印刷で行うと良いが、この場合メタルマスクの開口は孔38より小さくする。そして樹脂36と配線層22との間に、プリプレグを挿入する。このようにすれば、孔38へ供給したペースト状樹脂が配線層22と基材入り樹脂層21との間に入り込み難くなる。従って、基板の内層導体、配線基板13と配線層22間での接続信頼性が良好である。   In this case, the resin may be screen printed. In this case, the opening of the metal mask is made smaller than the hole 38. Then, a prepreg is inserted between the resin 36 and the wiring layer 22. This makes it difficult for the paste-like resin supplied to the hole 38 to enter between the wiring layer 22 and the resin layer 21 with the base material. Therefore, the connection reliability between the inner layer conductor of the substrate, the wiring substrate 13 and the wiring layer 22 is good.

さらにまた本実施の形態における積層工程35では、基材に樹脂が含浸されたプリプレグに孔38を加工したものを積層したが、孔38を加工しない樹脂を電子部品6の上に積層しても良い。このときに、樹脂は電子部品6の上に載置され、電子部品6の側面と電子部品6と配線基板13との間に形成された隙間39は、部品埋設工程40においてゲル状樹脂が流れ出して樹脂埋設部が形成されることとなる。なおこの場合、樹脂にはゲル状の樹脂を用いれば、孔38の加工が不要となる。   Furthermore, in the laminating step 35 in the present embodiment, the prepreg whose base material is impregnated with the resin is laminated with the hole 38 processed, but the resin that does not process the hole 38 may be laminated on the electronic component 6. good. At this time, the resin is placed on the electronic component 6, and the gap 39 formed between the side surface of the electronic component 6 and the electronic component 6 and the wiring substrate 13 flows out in the component embedding process 40. Thus, a resin buried portion is formed. In this case, if a gel-like resin is used as the resin, the hole 38 need not be processed.

あるいは、積層工程35において、電子部品6を実装済みの配線基板13上にディスペンサやスクリーン印刷などによって、ペースト状の樹脂を積層しても良い。この場合、主に電子部品6と配線基板13との間に隙間39が形成される。そして部品埋設工程40においてペースト状樹脂が隙間39へ流れ込むことによって樹脂埋設部が形成される。   Alternatively, in the laminating step 35, a paste-like resin may be laminated on the wiring board 13 on which the electronic component 6 has been mounted by a dispenser, screen printing, or the like. In this case, a gap 39 is mainly formed between the electronic component 6 and the wiring board 13. In the component embedding process 40, the resin paste is formed by the paste resin flowing into the gap 39.

また、本実施の形態では接続部として側面の端部近傍と、側面の先端部を用いたが、先端部に接続ランド16と対向するようなフランジを形成し、このフランジ部分を接続部としても良い。この場合には、接続部と接続ランド16とが対向する面積が大きくできるので、空隙部23を確実に封止でき、樹脂の空隙部23への流入を阻止できる。   Further, in the present embodiment, the vicinity of the side edge and the front end of the side are used as the connection portion, but a flange that opposes the connection land 16 is formed at the front end, and this flange portion can be used as the connection portion. good. In this case, since the area where the connection portion and the connection land 16 face each other can be increased, the gap portion 23 can be reliably sealed, and the resin can be prevented from flowing into the gap portion 23.

図12は第2の例における部品内蔵基板の断面図である。図12において図1と同じものには、同じ番号を用いているので、ここではその説明を割愛している。この第2の例の部品内蔵基板61は部品内蔵基板11に対し、配線基板13と配線層62との間の間隔が樹脂流入阻止体15の高さより小さいものである。この場合、配線層62には積層前に予め樹脂流入阻止体15よりも大きな孔63を設けておく。これにより、部品内蔵基板11に比べて、厚みの薄い部品内蔵基板61を実現できる。   FIG. 12 is a cross-sectional view of the component-embedded substrate in the second example. In FIG. 12, the same reference numerals are used for the same components as those in FIG. 1, and the description thereof is omitted here. In the component-embedded substrate 61 of the second example, the distance between the wiring substrate 13 and the wiring layer 62 is smaller than the height of the resin inflow blocking body 15 with respect to the component-embedded substrate 11. In this case, the wiring layer 62 is previously provided with a hole 63 larger than the resin inflow blocking body 15 before lamination. As a result, the component-embedded substrate 61 that is thinner than the component-embedded substrate 11 can be realized.

図13は、積層工程35における第3の例の部品内蔵基板の上面図である。図13において図1と同じものには、同じ番号を用いているので、ここではその説明を割愛している。第3の例において、配線基板13上に積層される樹脂72には、複数個の電子部品6や樹脂流入阻止体15が実装された領域を囲むように孔73が形成される。このようにすれば、孔73を1箇所加工するだけで良いので、生産性が良好である。   FIG. 13 is a top view of the component-embedded substrate of the third example in the stacking step 35. In FIG. 13, the same reference numerals are used for the same components as those in FIG. 1, and the description thereof is omitted here. In the third example, a hole 73 is formed in the resin 72 laminated on the wiring board 13 so as to surround a region where the plurality of electronic components 6 and the resin inflow blocking body 15 are mounted. In this way, the productivity is good because only one hole 73 needs to be processed.

本発明にかかる部品内蔵基板は、電子機器の高さを低くできるという効果を有し、薄型化が要求される携帯機器等へ用いる部品内蔵基板として有用である。   The component-embedded substrate according to the present invention has an effect that the height of the electronic device can be reduced, and is useful as a component-embedded substrate used for portable devices and the like that are required to be thin.

本実施の形態における部品内蔵基板を用いた電子機器の断面図Sectional drawing of the electronic device using the component built-in board in this Embodiment 同、部品内蔵基板の上面図Same as above, top view of component built-in board 同、部品内蔵基板の製造フローチャートSame as above, manufacturing flowchart of component built-in board 同、はんだ塗布工程における配線基板の断面図Cross-sectional view of wiring board in solder application process 同、実装工程が完了した配線基板の断面図Cross-sectional view of the wiring board after the mounting process is completed 同、積層工程における部品内蔵基板の断面図Cross-sectional view of component built-in board in the same lamination process 同、積層工程において配線層積層前の部品内蔵基板の上面図Same as above, top view of component built-in board before wiring layer lamination in the lamination process 同、部品埋設工程における部品内蔵基板の断面図Same as above, sectional view of component-embedded substrate in component embedding process 同、部品装着孔形成工程における部品内蔵基板の断面図Same as above, sectional view of component built-in board in component mounting hole forming process 同、上面図Same top view 同、部品内蔵基板を用いた電子機器の製造フローチャートSame as above, manufacturing flowchart of electronic equipment using component-embedded substrate 同、第2の例による部品内蔵基板の断面図Sectional view of the component built-in board according to the second example 同、積層工程における第3の例の部品内蔵基板の上面図Same as above, top view of component built-in substrate of third example in lamination process 従来の部品内蔵基板を用いた電子機器の断面図Sectional view of a conventional electronic device using a component-embedded substrate

符号の説明Explanation of symbols

3 電子部品
6 電子部品
13 配線基板
15 樹脂流入阻止体
17 部品搭載ランド
18 ハンダ
20 樹脂埋設部
22 配線層
23 空隙部
24 部品装着孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 Electronic component 6 Electronic component 13 Wiring board 15 Resin inflow blocker 17 Component mounting land 18 Solder 20 Resin embedding part 22 Wiring layer 23 Cavity part 24 Component mounting hole

Claims (16)

配線基板と、この配線基板の一方面に接続部材を介して実装された第1の電子部品と、前記配線基板の一方面側において前記第1の電子部品が埋設された樹脂埋設部と、この樹脂埋設部の上に設けられた配線層とを備え、前記配線基板の一方面側に設けられるとともに第2の電子部品が装着される部品搭載ランドと、この部品搭載ランドと前記第2の電子部品が装着される部品装着領域との上に設けられた空隙部と、この空隙部と前記樹脂埋設部との間に設けられた樹脂流入阻止部と、この樹脂流入阻止部の上方において前記空隙部と連結されるとともに、少なくとも前記部品装着領域の上方に開口部を形成させる部品装着孔とを有した部品内蔵基板。 A wiring board, a first electronic component mounted on one side of the wiring board via a connecting member, a resin embedded part in which the first electronic component is embedded on one side of the wiring board, and A wiring layer provided on the resin-buried portion, provided on one side of the wiring board and mounted with a second electronic component, and the component mounting land and the second electronic A gap provided above a component mounting area on which a component is mounted; a resin inflow blocking portion provided between the gap and the resin buried portion; and the gap above the resin inflow blocking portion. A component-embedded substrate having a component mounting hole that is connected to the component and forms an opening at least above the component mounting region. 樹脂流入阻止部は、樹脂流入阻止体が配線基板の一方面上に実装されることによって形成された請求項1に記載の部品内蔵基板。 The component built-in board according to claim 1, wherein the resin inflow prevention portion is formed by mounting a resin inflow prevention body on one surface of the wiring board. 樹脂流入阻止体と配線基板との間には、封止部材が設けられた請求項2に記載の部品内蔵基板。 The component built-in board according to claim 2, wherein a sealing member is provided between the resin inflow blocking body and the wiring board. 樹脂流入阻止体は下方が開口されるとともに、封止部材は前記樹脂流入阻止体の前記開口された側の端部全周に設けられた請求項3に記載の部品内蔵基板。 The component built-in board according to claim 3, wherein the resin inflow blocking body is opened at a lower portion, and the sealing member is provided on the entire circumference of the end of the resin inflow blocking body on the opened side. 封止部材にははんだを用い、配線基板の一方面には、部品装着領域の周りを囲んで形成された接続ランドを設けるとともに、樹脂流入阻止体には接続部を設け、前記接続ランドと前記接続部との間が前記はんだで接続された請求項3に記載の部品内蔵基板。 Solder is used as the sealing member, and a connection land formed around the component mounting area is provided on one surface of the wiring board, and a connection portion is provided in the resin inflow blocking body, and the connection land and the The component built-in board according to claim 3, wherein a connection portion is connected with the solder. 請求項1に記載の部品内蔵基板と、この部品内蔵基板の配線層上に搭載された第3の電子部品と、部品搭載ランド上に装着された第2の電子部品とを有し、前記第2の電子部品の高さは前記第3の電子部品の高さより高い電子部品であるとともに、前記第2の電子部品の天面は前記配線層から突出した電子機器。 A component-embedded board according to claim 1, a third electronic component mounted on a wiring layer of the component-embedded substrate, and a second electronic component mounted on a component mounting land, An electronic device in which the height of the second electronic component is higher than the height of the third electronic component, and the top surface of the second electronic component protrudes from the wiring layer. 少なくとも樹脂流入阻止部の側面には金属部を有し、前記金属部は第2の電子部品の周囲を囲むように設けられた請求項6に記載の電子機器。 The electronic device according to claim 6, wherein at least a side surface of the resin inflow prevention portion has a metal portion, and the metal portion is provided so as to surround the second electronic component. 配線基板の一方の面にはグランド端子を形成し、前記金属部は前記グランド端子に接続された請求項7に記載の電子機器。 The electronic device according to claim 7, wherein a ground terminal is formed on one surface of the wiring board, and the metal portion is connected to the ground terminal. 配線基板の一方の面に接続部材によって第1の電子部品を実装する第1の実装工程と、この第1の実装工程の後で前記配線基板の一方の面側に、前記第1の電子部品の周囲に第1の隙間を設けるがごとく樹脂を載置するとともに、この樹脂の上に配線層を積層する積層工程と、この積層工程の後で前記未硬化の樹脂を溶融して前記隙間に前記樹脂を充填し、前記第1の電子部品を覆う樹脂埋設部を形成するとともにこの樹脂埋設部上に配線層を形成する部品埋設工程とを備え、少なくとも前記部品埋設工程より前で部品搭載ランドと部品装着領域との上に空隙部を形成すべく前記部品搭載ランドと部品装着領域とを囲むように樹脂流入阻止体を前記一方の面に装着する工程とを設け、前記部品埋設工程において前記樹脂が前記空隙部に流れ込むことを阻止し、前記部品埋設工程の後で少なくとも前記部品装着領域の上方に部品装着孔を形成する部品装着孔形成工程を設けた部品内蔵基板の製造方法。 A first mounting step of mounting a first electronic component on one surface of the wiring board by a connecting member, and the first electronic component on one surface side of the wiring substrate after the first mounting step A resin is placed as if a first gap is provided around the substrate, and a laminating step of laminating a wiring layer on the resin, and after the laminating step, the uncured resin is melted to the gap. A component embedding step of filling the resin and forming a resin embedding portion that covers the first electronic component and forming a wiring layer on the resin embedding portion, at least before the component embedding step, And mounting the resin inflow blocking body on the one surface so as to surround the component mounting land and the component mounting region so as to form a gap on the component mounting region, and in the component embedding step, Resin flows into the gap It prevents the, at least the part manufacturing process of the component-embedded substrate having a component mounting hole forming step of forming a component mounting hole above the attachment area after said component embedding step. 配線基板に樹脂流入阻止体を装着する工程は、第1の実装工程とした請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法。 The method for manufacturing a component built-in substrate according to claim 9, wherein the step of mounting the resin inflow blocking body on the wiring substrate is a first mounting step. 樹脂流入阻止体は金属体とすると共に、天面とこの天面の周囲に立設されて形成された側面とを有し、前記側面はしぼり加工によって形成された請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法。 The resin inflow blocking body is a metal body, and has a top surface and a side surface formed by standing around the top surface, and the side surface is formed by squeezing processing. A method for manufacturing a substrate. 積層工程では、第1の電子部品に対応する位置に予め孔が形成された板状樹脂を配線基板における一方の面上に積層し、第1の隙間は前記孔と前記第1の電子部品との間に設けられる請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法。 In the laminating step, a plate-like resin having holes formed in advance at positions corresponding to the first electronic components is laminated on one surface of the wiring board, and the first gap is formed between the holes and the first electronic components. The method for manufacturing a component-embedded substrate according to claim 9, which is provided between the components. 積層工程では、樹脂流入阻止体に対応する位置に予め孔が形成された板状樹脂を配線基板における一方の面上に積層し、第1の隙間は前記孔と前記樹脂流入阻止体との間に設けられる請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法。 In the laminating step, a plate-like resin having a hole formed in advance at a position corresponding to the resin inflow blocking body is stacked on one surface of the wiring board, and the first gap is between the hole and the resin inflow blocking body. The method for manufacturing a component-embedded substrate according to claim 9, wherein the component-embedded substrate is provided. 接続部材ははんだを用い、第1の実装工程には、第1の電子部品が搭載される部品ランドへクリーム状の第1のはんだを塗布する第1のはんだ塗布工程と、この第1のはんだ塗布工程の後で前記部品ランド上に第1の電子部品を装着する装着工程と、この装着工程の後で前記はんだを溶融させるリフロー工程とを有し、少なくとも前記リフロー工程の前で、部品搭載ランドへ前記リフロー工程の温度で溶融可能なはんだが塗布される請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法。 The connecting member uses solder, and in the first mounting step, a first solder application step of applying a cream-like first solder to a component land on which the first electronic component is mounted, and the first solder A mounting step of mounting the first electronic component on the component land after the coating step, and a reflow step of melting the solder after the mounting step, and at least before the reflow step, the component mounting The method for manufacturing a component-embedded board according to claim 9, wherein a solder that can be melted at a temperature of the reflow process is applied to the land. 請求項6に記載の電子部品の製造方法において、部品内蔵基板には請求項9に記載の部品内蔵基板の製造方法で製造された部品内蔵基板を用い、前記部品内蔵基板の配線層上に第3の電子部品を装着する第2の実装工程を有し、この第2の実装工程では、第3の電子部品の高さより高く、かつ樹脂埋設部の厚みより高さの高い第2の電子部品を部品搭載ランドへ装着する電子機器の製造方法。 The electronic component manufacturing method according to claim 6, wherein the component-embedded substrate is the component-embedded substrate manufactured by the component-embedded substrate manufacturing method according to claim 9, and is formed on the wiring layer of the component-embedded substrate. The second electronic component having a height higher than the height of the third electronic component and higher than the thickness of the resin-embedded portion in the second mounting step. Manufacturing method of electronic equipment that attaches to component mounting land. 請求項6に記載の電子部品の製造方法において、部品内蔵基板には請求項14に記載の部品内蔵基板の製造方法で製造された部品内蔵基板を用い、前記部品内蔵基板の配線層上にクリーム状の第2のはんだを塗布すると共に部品搭載ランド上に少なくともフラックスを塗布する第2のはんだ塗布工程と、この第2のはんだ塗布工程の後で、第3の電子部品を配線層上に装着するとともに前記第3の電子部品の高さより高い第2の電子部品を前記部品搭載ランドへ装着する第2の実装工程と、この第2の実装工程の後で前記第2のはんだと前記部品搭載ランド上に形成されたはんだとを溶融させて前記第2と第3の電子部品を前記部品内蔵基板へ接続する電子機器の製造方法。 The electronic component manufacturing method according to claim 6, wherein the component-embedded substrate is the component-embedded substrate manufactured by the component-embedded substrate manufacturing method according to claim 14, and the cream is formed on the wiring layer of the component-embedded substrate. A second solder application step of applying a second solder in the form of at least a flux on the component mounting land, and mounting the third electronic component on the wiring layer after the second solder application step And mounting a second electronic component higher than the third electronic component on the component mounting land, and mounting the second solder and the component after the second mounting step. A method of manufacturing an electronic device, wherein the second and third electronic components are connected to the component-embedded substrate by melting solder formed on the land.
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