JP2008161427A - Electronic endoscope and electronic endoscope system - Google Patents

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Tadaaki Suda
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress voltage drop of a power source line by allowing overcurrent to be detected without providing a resistance for overcurrent detection. <P>SOLUTION: The electronic endoscope is provided with: an imaging device; a power source part for supplying the imaging device with power; a power source line for connecting the power source part and the imaging device; a noise removing part for removing noises in the power source line; a voltage drop measuring means for measuring voltage drop by the noise removing part; and a power source supply control means for controlling power source supply for the imaging device by the power source part in accordance with the measurement result by the voltage drop measuring means. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

この発明は、撮像素子を備えた電子内視鏡に関する。また、このような電子内視鏡と、当該電子内視鏡に接続され、撮像素子で撮像された映像をモニタ表示可能に処理する信号処理装置とを備えた電子内視鏡システムに関する。   The present invention relates to an electronic endoscope provided with an image sensor. The present invention also relates to an electronic endoscope system including such an electronic endoscope and a signal processing device that is connected to the electronic endoscope and that processes an image picked up by an image pickup device so that the image can be displayed on a monitor.

先端部に撮像素子を備えた電子内視鏡と、該撮像素子で取得された信号を処理してモニタに出力するプロセッサとを備えた電子内視鏡システムが広く知られ実用に供されている。   2. Description of the Related Art An electronic endoscope system including an electronic endoscope having an image pickup device at a distal end portion and a processor that processes a signal acquired by the image pickup device and outputs the processed signal to a monitor is widely known and put into practical use. .

このような電子内視鏡の先端部は、患者の負担を考慮して設計されており、小型化および細径化された構造を持つ。例えば撮像素子を駆動するための駆動回路は、先端部を小型化・細径化させるため、当該先端部でなく電子内視鏡の基端部に実装されている。この駆動回路と撮像素子は、電子内視鏡の可撓管内部に配線された信号ケーブルにより接続されている。この信号ケーブルと撮像素子(および駆動回路)は例えば半田で接続されている。   The tip portion of such an electronic endoscope is designed in consideration of the burden on the patient, and has a structure that is reduced in size and diameter. For example, a drive circuit for driving the imaging device is mounted not on the distal end portion but on the proximal end portion of the electronic endoscope in order to reduce the size and diameter of the distal end portion. The drive circuit and the image sensor are connected by a signal cable wired inside the flexible tube of the electronic endoscope. The signal cable and the image sensor (and the drive circuit) are connected by, for example, solder.

ここで、例えばユーザ・オペレーションにより可撓管が屈曲されたとき、それに伴ってその内部の信号ケーブルも屈曲する。このような動作が繰り返されたとき、撮像素子と信号ケーブルとの半田による接続部分に繰り返し応力が作用することになる。このような繰り返し応力が過度に掛かる場合、当該接続部分での信号ケーブルの断線が懸念される。また、可撓管に対して外部から衝撃が加わることにより、信号ケーブルが他の部品に衝突したり擦れたりすることがある。さらには、信号ケーブルがこのような衝突や擦れを受ける度にその被覆部が徐々に摩耗し、内部(つまり電線)が露出することが考えられる。   Here, for example, when the flexible tube is bent by a user operation, the signal cable inside thereof is bent accordingly. When such an operation is repeated, stress repeatedly acts on the soldered connection between the image sensor and the signal cable. When such repeated stress is excessively applied, there is a concern about disconnection of the signal cable at the connection portion. Further, when an impact is applied to the flexible tube from the outside, the signal cable may collide with or rub against other parts. Furthermore, every time the signal cable is subjected to such a collision or rubbing, it is considered that the covering portion gradually wears and the inside (that is, the electric wire) is exposed.

信号ケーブルの断線やその内部の露出は、撮像素子および駆動回路を含む電子内視鏡システム内の回路を短絡させ得る。このような短絡が発生した場合、例えば撮像素子等に過電流が流れて異常加熱することがある。   The disconnection of the signal cable and the exposure inside the signal cable can short-circuit a circuit in the electronic endoscope system including the image sensor and the drive circuit. When such a short circuit occurs, for example, an overcurrent may flow through the imaging element or the like, causing abnormal heating.

上記の如き短絡による過電流を防止する構成として、例えば下記特許文献1に、電源回路周辺に電源遮断用回路を実装した電源装置が開示されている。下記特許文献1に記載の電源装置によれば、当該装置内の回路の電源ラインに過電流が流れたとき、電源回路の入力側に設置されたヒューズ、或いはその出力側に設置された過電流検出回路が作動して電流が遮断される。電子内視鏡システムにおいてもこのような電源遮断用回路を採用し、上記の如き短絡等に起因した過電流を防止するよう構成することが考えられる。
特開2005−38281号公報
As a configuration for preventing an overcurrent due to a short circuit as described above, for example, Patent Document 1 below discloses a power supply device in which a power cutoff circuit is mounted around a power supply circuit. According to the power supply device described in Patent Document 1 below, when an overcurrent flows through a power supply line of a circuit in the device, a fuse installed on the input side of the power supply circuit, or an overcurrent installed on the output side thereof The detection circuit is activated and the current is cut off. In an electronic endoscope system, it is conceivable to employ such a power shut-off circuit so as to prevent an overcurrent caused by a short circuit as described above.
JP 2005-38281 A

上記特許文献1の過電流検出回路では、当該回路に設けられた抵抗の両端の電位差を監視することによって過電流を検出するようにしている。ここで、この抵抗(以下、「過電流検出用抵抗」と記す)は、信号整形等に寄与せず、過電流の発生を想定しなければ不要とされる素子である。これは、電源装置が過電流検出用抵抗なしでも本来の機能を発揮することを意味する。上記特許文献1に記載の電源装置は、このように不要とされ得る過電流検出用抵抗による、電源ラインの電圧降下があるため望ましくないといえる。   In the overcurrent detection circuit of Patent Document 1, overcurrent is detected by monitoring a potential difference between both ends of a resistor provided in the circuit. Here, this resistor (hereinafter referred to as “overcurrent detection resistor”) is an element that does not contribute to signal shaping or the like and is not required unless an overcurrent is assumed. This means that the power supply device exhibits its original function even without an overcurrent detection resistor. It can be said that the power supply device described in Patent Document 1 is not desirable because there is a voltage drop in the power supply line due to an overcurrent detection resistor that may be unnecessary in this way.

そこで、本発明は上記の事情に鑑みて、過電流検出用抵抗を設けることなく過電流を検出できるようにして、電源ラインの電圧降下を抑えることを可能とする電子内視鏡および電子内視鏡システムを提供することを課題としている。   In view of the above circumstances, the present invention provides an electronic endoscope and an electronic endoscope that can detect an overcurrent without providing an overcurrent detection resistor and suppress a voltage drop in a power supply line. The problem is to provide a mirror system.

上記の課題を解決する本発明の一態様に係る、撮像素子を備えた電子内視鏡は、撮像素子に電源を供給する電源部と、電源部と撮像素子とを接続する電源ラインと、電源ラインにおけるノイズを除去するためのノイズ除去部と、ノイズ除去部による電圧降下を測定する電圧降下測定手段と、電圧降下測定手段による測定結果に応じて、電源部による撮像素子に対する電源供給を制御する電源供給制御手段とを具備したことを特徴としたものである。   According to an aspect of the present invention for solving the above problems, an electronic endoscope including an imaging device includes a power supply unit that supplies power to the imaging device, a power supply line that connects the power supply unit and the imaging device, and a power supply A noise removing unit for removing noise in the line, a voltage drop measuring unit for measuring a voltage drop by the noise removing unit, and controlling power supply to the image sensor by the power source unit according to a measurement result by the voltage drop measuring unit. And a power supply control means.

このように、電源ラインにおけるノイズ除去を目的とした、電子内視鏡に元々備えられているノイズ除去部の電圧降下を測定して電源供給の制御を行うよう電子内視鏡を構成することにより、付加的な素子である過電流検出用抵抗を設けることなく過電流を検出し、それに対処することが可能となる。過電流検出用抵抗による電圧降下がないため、電源ラインの電圧降下を抑えることが可能となる。   In this way, by configuring the electronic endoscope so as to control the power supply by measuring the voltage drop of the noise removing unit originally provided in the electronic endoscope for the purpose of removing noise in the power line. The overcurrent can be detected and dealt with without providing an overcurrent detection resistor as an additional element. Since there is no voltage drop due to the overcurrent detection resistor, the voltage drop of the power supply line can be suppressed.

なお、上記ノイズ除去部は、例えば電源ラインからの不要輻射ノイズを除去するためのフェライトビーズであっても良い。また、例えば電源ラインを流れるノイズを除去するノイズ除去フィルタであっても良い。   The noise removing unit may be a ferrite bead for removing unnecessary radiation noise from a power line, for example. Further, for example, a noise removal filter that removes noise flowing through the power supply line may be used.

また、上記電源供給制御手段は、例えば電圧降下測定手段により測定された電圧降下の値が所定値を下回る場合には該電源供給を継続して行い、該測定された電圧降下の値が該所定値以上の場合には該電源供給を遮断するよう動作するものであっても良い。   The power supply control means continues to supply power when the voltage drop value measured by the voltage drop measuring means falls below a predetermined value, for example, and the measured voltage drop value is the predetermined voltage drop value. If the value is greater than or equal to the value, the power supply may be cut off.

また、上記電子内視鏡は、例えば外部機器から入力される信号に基づいて撮像素子を駆動制御するための駆動制御信号を当該撮像素子に出力する駆動制御部と、電源供給制御手段により該電源供給が遮断されたときに、駆動制御部からの該駆動制御信号の出力を停止させる駆動制御停止手段とを更に具備したものであっても良い。   The electronic endoscope includes, for example, a drive control unit that outputs a drive control signal for driving and controlling the image pickup device based on a signal input from an external device, and the power supply control unit. Drive control stop means for stopping output of the drive control signal from the drive control unit when supply is interrupted may be further provided.

また、上記の課題を解決する本発明の別の態様に係る電子内視鏡システムは、上記電子内視鏡と、当該電子内視鏡に接続され、撮像素子で撮像された映像をモニタ表示可能に処理する信号処理装置とを備えたものである。この電子内視鏡システムにおいては、電源供給制御手段により該電源供給が遮断されたとき、駆動制御停止手段が該電源供給の遮断を報知する報知信号を信号処理装置に出力する。そして、信号処理装置が、受け取った報知信号に呼応して、モニタ上において該映像に所定のキャラクタを重畳して表示させる。   Further, an electronic endoscope system according to another aspect of the present invention that solves the above-described problems is capable of monitoring and displaying the electronic endoscope and an image captured by an imaging device connected to the electronic endoscope. And a signal processing device for processing. In this electronic endoscope system, when the power supply is cut off by the power supply control means, the drive control stop means outputs a notification signal for notifying the interruption of the power supply to the signal processing device. Then, in response to the received notification signal, the signal processing device displays a predetermined character superimposed on the video on the monitor.

本発明に係る電子内視鏡および電子内視鏡システムによれば、電源ラインにおけるノイズ除去を目的とした、電子内視鏡に元々備えられているノイズ除去部の電圧降下を測定して電源供給の制御を行うため、付加的な素子である過電流検出用抵抗を設けることなく過電流を検出し、それに対処することが可能となる。この結果、電源ラインの電圧降下を抑えることができ、例えば電子内視鏡の省電力化が実現される。また、部品点数が削減するため、電子内視鏡のコストダウンおよび小型化も実現可能となる。   According to the electronic endoscope and the electronic endoscope system according to the present invention, for the purpose of removing noise in the power supply line, the voltage drop of the noise removing unit originally provided in the electronic endoscope is measured to supply power. Therefore, overcurrent can be detected and dealt with without providing an overcurrent detection resistor as an additional element. As a result, the voltage drop of the power supply line can be suppressed, and for example, power saving of the electronic endoscope is realized. Further, since the number of parts is reduced, it is possible to reduce the cost and size of the electronic endoscope.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態の電子内視鏡システムの構成および作用について説明する。   Hereinafter, the configuration and operation of an electronic endoscope system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の実施の形態の電子内視鏡システム10の外観を概略的に示した図である。また、図2は、本発明の実施の形態の電子内視鏡システム10の構成を示したブロック図である。本実施形態の電子内視鏡システム10は、患者の体腔内を観察・診断するためのシステムであり、電子内視鏡100、プロセッサ200、およびモニタ300を有する。   FIG. 1 is a diagram schematically showing the appearance of an electronic endoscope system 10 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of the electronic endoscope system 10 according to the embodiment of the present invention. The electronic endoscope system 10 according to the present embodiment is a system for observing and diagnosing the inside of a body cavity of a patient, and includes an electronic endoscope 100, a processor 200, and a monitor 300.

本実施形態の電子内視鏡100の基端部にはコネクタユニット110が設けられている。このコネクタユニット110には2本のプラグp1、p2が設けられている。また、プロセッサ200のフロント面にはプロセッサ側コネクタ部210が設けられている。このプロセッサ側コネクタ部210には2本のジャックj1、j2が設けられている。ピンプラグp1とジャックj1とが接続されることにより、電子内視鏡100とプロセッサ200とが光学的に接続される。また、ピンプラグp2とジャックj2とが接続されることにより、電子内視鏡100とプロセッサ200とが電気的に接続される。   A connector unit 110 is provided at the proximal end portion of the electronic endoscope 100 of the present embodiment. The connector unit 110 is provided with two plugs p1 and p2. Further, a processor side connector section 210 is provided on the front surface of the processor 200. The processor-side connector section 210 is provided with two jacks j1 and j2. By connecting the pin plug p1 and the jack j1, the electronic endoscope 100 and the processor 200 are optically connected. Moreover, the electronic endoscope 100 and the processor 200 are electrically connected by connecting the pin plug p2 and the jack j2.

コネクタユニット110にはユニバーサルコード120の一端が結合している。ユニバーサルコード120は可撓性を有しており、もう一端が操作部130に結合している。すなわち、コネクタユニット110と操作部130がユニバーサルコード120を介して連結するよう構成されている。   One end of a universal cord 120 is coupled to the connector unit 110. The universal cord 120 has flexibility, and the other end is coupled to the operation unit 130. That is, the connector unit 110 and the operation unit 130 are configured to be connected via the universal cord 120.

操作部130は、電子内視鏡100を術者に操作させるための入力インターフェースである。操作部130の操作釦を操作することにより、例えば体腔内に送気したり洗浄液を噴射させたりすることができる。操作部130には挿入部可撓管140の一端が結合している。   The operation unit 130 is an input interface for causing the operator to operate the electronic endoscope 100. By operating the operation button of the operation unit 130, for example, air can be supplied into the body cavity or the cleaning liquid can be ejected. One end of the insertion portion flexible tube 140 is coupled to the operation portion 130.

挿入部可撓管140は患者の体腔内に挿入される管であり、可撓性を有している。挿入部可撓管140の先端には先端部150が設けられている。術者が操作部130のアングルノブを操作すると、その操作に応じて先端部150根元付近の挿入部可撓管140が屈曲する。これにより、先端部150のアングルが変化する。このアングルの変化によって先端部150の前面が正対する方向も変わり、これに伴って、術者が視認可能な観察領域も変わる。   The insertion portion flexible tube 140 is a tube that is inserted into a body cavity of a patient and has flexibility. A distal end portion 150 is provided at the distal end of the insertion portion flexible tube 140. When the surgeon operates the angle knob of the operation portion 130, the insertion portion flexible tube 140 near the base of the distal end portion 150 is bent according to the operation. Thereby, the angle of the front-end | tip part 150 changes. Due to this change in angle, the direction in which the front surface of the distal end portion 150 faces directly also changes, and accordingly, the observation region visible to the operator also changes.

先端部150は硬質性の素材(例えば樹脂)で形成されている。この先端部150には撮像処理に必要とされる各要素が設けられている。本実施形態における上記要素は、配光レンズ152、対物レンズ154、およびCCD(Charge Coupled Device)156である。配光レンズ152および対物レンズ154は、先端部150の前面に設置されたレンズである。CCD156は例えばベイヤー方式のカラーCCDである。受光面には多数の画素(受光素子)がマトリクス状に配列されている。受光面前面にはオンチップカラーフィルタが搭載されている。カラーフィルタは、R(Red)、G(Green)、B(Blue)の何れかのカラーチップが各画素に対応してマトリクス状に配列されたフィルタである。なお、ここで用いられるCCD156は原色フィルタを搭載したものに限定されず、例えば補色フィルタを搭載したものであっても良い。   The tip portion 150 is made of a hard material (for example, resin). The tip portion 150 is provided with each element required for the imaging process. The elements in this embodiment are a light distribution lens 152, an objective lens 154, and a CCD (Charge Coupled Device) 156. The light distribution lens 152 and the objective lens 154 are lenses installed on the front surface of the distal end portion 150. The CCD 156 is, for example, a Bayer type color CCD. A large number of pixels (light receiving elements) are arranged in a matrix on the light receiving surface. An on-chip color filter is mounted on the front surface of the light receiving surface. The color filter is a filter in which any one of R (Red), G (Green), and B (Blue) color chips is arranged in a matrix corresponding to each pixel. Note that the CCD 156 used here is not limited to the one equipped with the primary color filter, and may be one equipped with a complementary color filter, for example.

電子内視鏡100内部にはその長手方向に沿ってライトガイド160が設置されている。ライトガイド160は光ファイバ束である。ライトガイド160の一端はコネクタユニット110のピンプラグに接続されている。また、もう一端は配光レンズ152近傍に配置されている。   Inside the electronic endoscope 100, a light guide 160 is installed along its longitudinal direction. The light guide 160 is an optical fiber bundle. One end of the light guide 160 is connected to a pin plug of the connector unit 110. The other end is disposed in the vicinity of the light distribution lens 152.

コネクタユニット110内部には回路基板が設けられている。この回路基板上には、CCD156の駆動制御、およびCCD出力信号(後述)に対する処理を行うDSP(Digital Signal Processor)基板170が実装されている。   A circuit board is provided inside the connector unit 110. On this circuit board, a DSP (Digital Signal Processor) board 170 for controlling the driving of the CCD 156 and processing for a CCD output signal (described later) is mounted.

プロセッサ200には、商用電源をDC電源に変換するための電源回路270が備えられている。プロセッサ200が商用電源に接続されているときに電源スイッチ(不図示)がオンされると、電源回路270で変換されたDC電源がプロセッサ200の各構成要素に供給され、当該プロセッサ200が動作可能となる。なお、図面の簡略化のため、図1において電源回路270と各構成要素との結線を省略するものとする。   The processor 200 is provided with a power supply circuit 270 for converting commercial power into DC power. When a power switch (not shown) is turned on while the processor 200 is connected to a commercial power supply, the DC power converted by the power supply circuit 270 is supplied to each component of the processor 200 and the processor 200 can operate. It becomes. For simplification of the drawing, the connection between the power supply circuit 270 and each component is omitted in FIG.

プロセッサ200は、装置全体の制御を統括的に行うシステムコントロールユニット220を有している。このシステムコントロールユニット220の制御下で、各構成要素での処理が実行される。また、プロセッサ200は、光源装置として、ランプ230、ランプ制御回路232、および集光レンズ234を有している。   The processor 200 includes a system control unit 220 that performs overall control of the entire apparatus. Under the control of the system control unit 220, processing in each component is executed. The processor 200 includes a lamp 230, a lamp control circuit 232, and a condenser lens 234 as a light source device.

ランプ230は、体腔内を照射するための白色光の光源である。ランプ230には例えばメタルハライドランプや、キセノンランプ、ハロゲンランプ等が想定される。ランプ230は、ランプ制御回路232の制御により白色光を放射する。ランプ230からの放射光は、ランプ230の前方に設置された集光レンズ234によって集光される。集光された光は、プロセッサ側コネクタ部210を介して電子内視鏡100内部(より正確にはライトガイド160を成す光ファイバ束のコア)に入射する。   The lamp 230 is a white light source for irradiating the body cavity. As the lamp 230, for example, a metal halide lamp, a xenon lamp, a halogen lamp, or the like is assumed. The lamp 230 emits white light under the control of the lamp control circuit 232. The emitted light from the lamp 230 is collected by a condenser lens 234 installed in front of the lamp 230. The condensed light is incident on the inside of the electronic endoscope 100 (more precisely, the core of the optical fiber bundle forming the light guide 160) via the processor-side connector unit 210.

ライトガイド160に入射した光はその内部を伝送して、先端部150側の端部から出射する。そして、この出射光は、配光レンズ152を介して外部に放射されて患者の体腔内を照明する。これにより、外部から光の届かない体腔内が明るく照らされる。   The light incident on the light guide 160 is transmitted through the light guide 160 and is emitted from the end on the distal end 150 side. The emitted light is emitted to the outside through the light distribution lens 152 to illuminate the body cavity of the patient. This brightly illuminates the inside of the body cavity where light does not reach from the outside.

配光レンズ152から放射された照明光は、体腔内の壁部等によって反射して対物レンズ154に入射する。ここで、CCD156は、その受光面が対物レンズ154の結像面と実質的に同位置となるように配置されている。従って、対物レンズ154に入射した光は、対物レンズ154のパワーによりCCD156の受光面上で体腔内の光学像として結像する。   The illumination light emitted from the light distribution lens 152 is reflected by a wall portion or the like in the body cavity and enters the objective lens 154. Here, the CCD 156 is arranged such that its light receiving surface is substantially at the same position as the image forming surface of the objective lens 154. Therefore, the light incident on the objective lens 154 is formed as an optical image in the body cavity on the light receiving surface of the CCD 156 by the power of the objective lens 154.

ここで、図3に、CCD156およびDSP基板170の構成を抽出したブロック図を示す。DSP基板170は、図3に示されるように、CCD電源回路171、チップフェライトビーズ172、FPGA(Field Programmable Gate Array)173、CCD駆動回路174、CCD信号処理回路175、および電圧検出回路176を有している。   Here, FIG. 3 shows a block diagram in which the configurations of the CCD 156 and the DSP substrate 170 are extracted. As shown in FIG. 3, the DSP substrate 170 has a CCD power supply circuit 171, a chip ferrite bead 172, an FPGA (Field Programmable Gate Array) 173, a CCD drive circuit 174, a CCD signal processing circuit 175, and a voltage detection circuit 176. is doing.

CCD電源回路171には、プロセッサ200の電源回路270からDC電源電圧が供給される。電子内視鏡100の電源スイッチ(不図示)がオンされると、CCD電源回路171は、この電源をDC/DC変換し、CCD用電源ラインLCCDを介してCCD156にDC電源電圧を供給する。なお、DSP基板170が有するCCD電源回路171以外の構成要素にも、電源回路270からDC電源電圧が供給される。これにより、電子内視鏡100が動作可能となる。 A DC power supply voltage is supplied from the power supply circuit 270 of the processor 200 to the CCD power supply circuit 171. When a power switch (not shown) of the electronic endoscope 100 is turned on, the CCD power supply circuit 171 performs DC / DC conversion on this power supply and supplies a DC power supply voltage to the CCD 156 via the CCD power supply line L CCD. . Note that the DC power supply voltage is also supplied from the power supply circuit 270 to components other than the CCD power supply circuit 171 included in the DSP substrate 170. Thereby, the electronic endoscope 100 can be operated.

電子内視鏡では、CCDとCCD駆動用基板とが離れて設置されているため、これらを接続するCCD用電源ラインからの不要輻射ノイズが、電子内視鏡内部の各部品やプロセッサ或いはモニタ等に影響を及ぼす可能性がある。また、所定のノイズ規格を満足する必要もある。従って、一般に、電子内視鏡には不要輻射ノイズを除去する構成要素が備えられている。本実施形態では、このような不要輻射ノイズを除去する構成要素として、チップフェライトビーズ172が備えられている。チップフェライトビーズ172は、周知の素子(例えばインターネット〈http://www.murata.co.jp/articles/ta0451.html〉等参照、なお、前記のURLは平成18年10月検索)であり、CCD用電源ラインLCCDからの不要輻射ノイズを除去する。このチップフェライトビーズ172は、例えば0.1乃至数Ω程度のDC抵抗成分を持つ。従って、CCD電源回路171からのDC電源電圧は、チップフェライトビーズ172により電圧降下して、CCD156に供給されることになる。 In an electronic endoscope, the CCD and the CCD driving substrate are installed apart from each other, so unnecessary radiation noise from the power supply line for the CCD connecting them is caused by components, processors, monitors, etc. in the electronic endoscope. May be affected. It is also necessary to satisfy a predetermined noise standard. Therefore, in general, an electronic endoscope is provided with a component for removing unnecessary radiation noise. In the present embodiment, a chip ferrite bead 172 is provided as a component for removing such unnecessary radiation noise. The chip ferrite beads 172 are well-known elements (for example, refer to the Internet <http://www.murata.co.jp/articles/ta0451.html>, etc., where the URL is searched in October 2006). CCD power line L Removes unwanted radiation noise from the CCD . The chip ferrite bead 172 has a DC resistance component of about 0.1 to several Ω, for example. Therefore, the DC power supply voltage from the CCD power supply circuit 171 is dropped by the chip ferrite beads 172 and supplied to the CCD 156.

電圧検出回路176は、チップフェライトビーズ172の入力および出力側の両端に接続されており、両接続部による電位差を測定する。そして、測定された電位差と予め保持した参照値とを比較して、その比較結果に応じた信号をFPGA173に所定のタイミング毎に出力する。なお、電圧検出回路176で測定される電位差は、CCD電源回路171からCCD156に供給される電流値に比例する。   The voltage detection circuit 176 is connected to both ends of the chip ferrite bead 172 on the input and output sides, and measures a potential difference between both connection portions. Then, the measured potential difference is compared with a reference value held in advance, and a signal corresponding to the comparison result is output to the FPGA 173 at every predetermined timing. The potential difference measured by the voltage detection circuit 176 is proportional to the current value supplied from the CCD power supply circuit 171 to the CCD 156.

電圧検出回路176は、測定された電位差が予め定められた所定の参照値を下回るときには、CCD電源回路171からのDC電源電圧が例えばCCD156の定格電圧を下回り、正常値であるとして、「L」信号をFPGA173に出力する。また、測定された電位差が予め定められた所定の参照値以上のときには、CCD電源回路171からのDC電源電圧が例えばCCD156の定格電圧以上であり、異常値であるとして、「H」信号をFPGA173に出力する。電圧検出回路176は、電子内視鏡100に不具合等が発生しない限り、「L」信号をFPGA173に出力することになる。   When the measured potential difference falls below a predetermined reference value, the voltage detection circuit 176 determines that the DC power supply voltage from the CCD power supply circuit 171 is lower than the rated voltage of the CCD 156, for example, and is “L”. The signal is output to the FPGA 173. When the measured potential difference is equal to or greater than a predetermined reference value, the DC power supply voltage from the CCD power supply circuit 171 is, for example, equal to or higher than the rated voltage of the CCD 156 and is an abnormal value. Output to. The voltage detection circuit 176 outputs an “L” signal to the FPGA 173 as long as there is no malfunction in the electronic endoscope 100.

FPGA173には、プロセッサ200のシステムコントロールユニット220から出力された同期パルス(後述)が入力する。FPGA173は、電圧検出回路176からの信号が「L」信号であるときには、CCD電源回路171が供給するDC電源電圧が正常なレベルであると判断する。次いで、システムコントロールユニット220からの同期パルスに基づいて、CCD156の駆動を制御するための制御信号を生成する。そして、生成された制御信号をCCD駆動回路174に出力する。CCD駆動回路174は、この制御信号に従ってCCD156に駆動信号を出力する。   A synchronization pulse (described later) output from the system control unit 220 of the processor 200 is input to the FPGA 173. When the signal from the voltage detection circuit 176 is the “L” signal, the FPGA 173 determines that the DC power supply voltage supplied from the CCD power supply circuit 171 is at a normal level. Next, a control signal for controlling the drive of the CCD 156 is generated based on the synchronization pulse from the system control unit 220. Then, the generated control signal is output to the CCD drive circuit 174. The CCD drive circuit 174 outputs a drive signal to the CCD 156 according to this control signal.

CCD156は、CCD駆動回路174からの駆動信号に従って駆動し、各画素において結像された光学像をその光量に応じた電荷として蓄積してCCD出力信号に変換する。次いで、この変換したCCD出力信号をDSP基板170に出力する。   The CCD 156 is driven in accordance with a drive signal from the CCD drive circuit 174, accumulates an optical image formed in each pixel as a charge corresponding to the amount of light, and converts it into a CCD output signal. Next, the converted CCD output signal is output to the DSP substrate 170.

CCD156から出力されたCCD出力信号は、CCD信号処理回路175に入力する。このCCD信号処理回路175は、周知の信号処理を実行し、入力される各画素のCCD出力信号を一つ一つ順次演算して、色成分(R成分、G成分、B成分の何れか)に関する信号(以下、「色成分信号」と記す)、および輝度信号を生成する。次いで、生成した信号をプロセッサ200に出力する。なお、説明の便宜上、この色成分信号および輝度信号を一括して表現するときは「画像信号」とする。   The CCD output signal output from the CCD 156 is input to the CCD signal processing circuit 175. The CCD signal processing circuit 175 performs well-known signal processing, sequentially calculates the CCD output signals of the input pixels one by one, and outputs color components (R component, G component, or B component). Signal (hereinafter referred to as “color component signal”) and a luminance signal are generated. Next, the generated signal is output to the processor 200. For convenience of explanation, when the color component signal and the luminance signal are expressed collectively, it is referred to as “image signal”.

次に、プロセッサ200で実行される信号処理について説明する。図2に示すように、プロセッサ200は、CCD出力信号の処理に関わる手段として、絶縁回路240、前段処理回路242、画像メモリ244、ビデオ信号処理回路246、キャラクタ重畳回路248、および出力回路250を有している。   Next, signal processing executed by the processor 200 will be described. As shown in FIG. 2, the processor 200 includes an insulation circuit 240, a pre-stage processing circuit 242, an image memory 244, a video signal processing circuit 246, a character superimposing circuit 248, and an output circuit 250 as means related to processing of the CCD output signal. Have.

電子内視鏡100から出力された画像信号は、プロセッサ側コネクタ部210および絶縁回路240を介して前段処理回路242に入力する。なお、絶縁回路240は、電子内視鏡100とプロセッサ200との間を伝送する信号を、例えばフォトカップラ等で別の媒体(ここでは光)に一時的に変換することにより、電子内視鏡100とプロセッサ200とを電気的に絶縁させている。   The image signal output from the electronic endoscope 100 is input to the pre-processing circuit 242 via the processor-side connector unit 210 and the insulating circuit 240. The insulating circuit 240 temporarily converts a signal transmitted between the electronic endoscope 100 and the processor 200 into another medium (here, light) using, for example, a photocoupler, so that the electronic endoscope 100 and the processor 200 are electrically insulated.

前段処理回路242は、入力した画像信号に対して増幅およびA/D変換等の処理を施して画像メモリ244に出力する。この画像メモリ244には画像信号がフレーム単位で格納される。格納されたフレーム単位の画像信号は所定のタイミング毎にビデオ信号処理回路246に出力される。この出力タイミングは、システムコントロールユニット220からの同期パルスに従って決定される。この同期パルスは上述したように、FPGA173にも実質的に同一のタイミングで出力される。つまり、この同期パルスにより、プロセッサ200側での信号処理のタイミングとCCD156の駆動タイミングとが同期する。   The pre-processing circuit 242 performs processing such as amplification and A / D conversion on the input image signal and outputs the processed image signal to the image memory 244. This image memory 244 stores image signals in units of frames. The stored frame-unit image signal is output to the video signal processing circuit 246 at every predetermined timing. This output timing is determined according to a synchronization pulse from the system control unit 220. As described above, this synchronization pulse is also output to the FPGA 173 at substantially the same timing. That is, the timing of signal processing on the processor 200 side and the drive timing of the CCD 156 are synchronized by this synchronization pulse.

ビデオ信号処理回路246は、画像メモリ244からの画像信号をモニタ300で表示可能な形態(カラー信号と輝度信号)に変換する。そして、変換して得られたカラー信号および輝度信号を出力回路250に出力する。   The video signal processing circuit 246 converts the image signal from the image memory 244 into a form (color signal and luminance signal) that can be displayed on the monitor 300. Then, the color signal and the luminance signal obtained by the conversion are output to the output circuit 250.

キャラクタ重畳回路248は、電子内視鏡100で撮像された体腔内の映像に所定のキャラクタを重畳表示させるための回路である。キャラクタ重畳回路248は、システムコントロールユニット220の制御に従って、所定のキャラクタが該映像に重畳表示されるようビデオ信号処理回路246と連携して動作する。   The character superimposing circuit 248 is a circuit for superimposing and displaying a predetermined character on the image in the body cavity imaged by the electronic endoscope 100. The character superimposing circuit 248 operates in cooperation with the video signal processing circuit 246 so that a predetermined character is superimposed and displayed on the video under the control of the system control unit 220.

出力回路250は、カラー信号および輝度信号を各形式のビデオ信号(例えばコンポジットビデオ信号やSビデオ信号或いはRGBビデオ信号等)に変換してモニタ300に出力する。これにより、モニタ300に、患者の体腔内の映像(又は、該映像に所定のキャラクタが重畳された画像)が表示される。   The output circuit 250 converts the color signal and the luminance signal into video signals of various formats (for example, a composite video signal, an S video signal, or an RGB video signal) and outputs them to the monitor 300. As a result, an image in the body cavity of the patient (or an image in which a predetermined character is superimposed on the image) is displayed on the monitor 300.

ここで、例えばCCD156とDSP基板170とを接続する信号ケーブルが断線或いはその内部が露出して、当該ケーブルに含まれる、CCD用電源ラインLCCDを成す信号線がグランドに短絡したとする。この場合、CCD電源回路171からCCD156に対して過電流が流れる。CCD用電源ラインLCCDに過電流が流れることにより、電圧検出回路176で測定される電位差が参照値以上となる。電圧検出回路176は、このような測定結果に従い、FPGA173に「H」信号を出力する。 Here, for example, it is assumed that the signal cable connecting the CCD 156 and the DSP board 170 is disconnected or the inside thereof is exposed, and the signal line included in the cable and forming the CCD power line L CCD is short-circuited to the ground. In this case, an overcurrent flows from the CCD power supply circuit 171 to the CCD 156. When an overcurrent flows through the CCD power supply line L CCD , the potential difference measured by the voltage detection circuit 176 becomes equal to or greater than the reference value. The voltage detection circuit 176 outputs an “H” signal to the FPGA 173 in accordance with such a measurement result.

FPGA173は、電圧検出回路176から「H」信号を受け取ると、CCD用電源ラインLCCDに過電流が流れ込んだと判定する。そして、DC電源電圧の供給を遮断するための制御信号をCCD電源回路171に出力する。CCD電源回路171は、FPGA173からの制御信号を受け取ると、DC電源電圧の供給を遮断する。これにより、CCD用電源ラインLCCDに電流が流れなくなり、過電流によるCCD156の故障が防止される。 When the FPGA 173 receives the “H” signal from the voltage detection circuit 176, the FPGA 173 determines that an overcurrent has flowed into the CCD power supply line L CCD . Then, a control signal for cutting off the supply of the DC power supply voltage is output to the CCD power supply circuit 171. When the CCD power supply circuit 171 receives the control signal from the FPGA 173, the CCD power supply circuit 171 cuts off the supply of the DC power supply voltage. As a result, no current flows through the CCD power supply line L CCD, and a failure of the CCD 156 due to overcurrent is prevented.

すなわち、本実施形態によれば、電子内視鏡に元々備えられているDC抵抗成分を持つ素子(ここでは、EMI(Electromagnetic Interference)対策用部品であるチップフェライトビーズ172)による電圧降下を測定することにより、CCD用電源ラインLCCDに対する過電流の検出を実現している。従って、例えば過電流検出用の素子(例えば抵抗等)を別途実装する必要がなくなる。本実施形態では、上記特許文献1の過電流検出用抵抗のような付加的な素子による電圧降下がなくなるため、CCD用電源ラインLCCDの電圧降下を最小限に抑えることが可能となる。これにより、例えば電子内視鏡100の省電力化が実現可能となる。また、部品点数が削減するため、電子内視鏡100のコストダウンや小型化等も実現可能となる。 That is, according to the present embodiment, a voltage drop due to an element having a DC resistance component originally provided in an electronic endoscope (here, a chip ferrite bead 172 that is a component for EMI (Electromagnetic Interference) countermeasures) is measured. As a result, overcurrent detection for the CCD power line L CCD is realized. Therefore, for example, it is not necessary to separately mount an overcurrent detection element (for example, a resistor). In the present embodiment, since a voltage drop due to an additional element such as the overcurrent detection resistor of Patent Document 1 is eliminated, it is possible to minimize the voltage drop of the CCD power supply line L CCD . Thereby, for example, power saving of the electronic endoscope 100 can be realized. Further, since the number of parts is reduced, it is possible to reduce the cost and size of the electronic endoscope 100.

また、FPGA173は、電圧検出回路176から「H」信号を受け取ったとき、CCD電源回路171に対する制御信号と共に、CCD駆動回路174に対しても制御信号を出力する。CCD駆動回路174に対する制御信号は、CCD156用の駆動信号の出力停止を指示する信号である。CCD駆動回路174は、FPGA173からの制御信号を受け取ると、CCD156に対する駆動信号の出力を停止する。すなわち、本実施形態では、CCD156への電源供給遮断と連動して当該CCD156への駆動信号の入力もなくなる。   Further, when receiving an “H” signal from the voltage detection circuit 176, the FPGA 173 outputs a control signal to the CCD drive circuit 174 together with a control signal to the CCD power supply circuit 171. The control signal for the CCD drive circuit 174 is a signal for instructing the output stop of the drive signal for the CCD 156. When the CCD drive circuit 174 receives the control signal from the FPGA 173, the CCD drive circuit 174 stops outputting the drive signal to the CCD 156. That is, in the present embodiment, the drive signal is not input to the CCD 156 in conjunction with the power supply cutoff to the CCD 156.

CCD156への電源供給遮断と共に駆動信号の出力停止も行うようにすることで、DC電源電圧(ここでは電源供給遮断時の0ボルトを意味する)よりも著しく高い電圧がCCD156に印加することがなくなり、CCD156のラッチアップ発生が防がれる。従って、本実施形態によれば、ラッチアップによりCCD156が過度に加熱することもなくなり、熱損傷によるCCD156の故障も防ぐことが可能になるという効果も得られる。   By stopping the power supply to the CCD 156 and stopping the output of the drive signal, a voltage significantly higher than the DC power supply voltage (here, meaning 0 volt when the power supply is cut off) is not applied to the CCD 156. The latch-up of the CCD 156 is prevented. Therefore, according to the present embodiment, the CCD 156 is not excessively heated by the latch-up, and an effect that the failure of the CCD 156 due to thermal damage can be prevented can be obtained.

また、FPGA173は、CCD電源回路171およびCCD駆動回路174に制御信号を出力した後、CCD156に過電流が流れてDC電源電圧の供給が遮断されたことを報知する信号をシステムコントロールユニット220に出力する。   The FPGA 173 outputs a control signal to the CCD power supply circuit 171 and the CCD drive circuit 174, and then outputs a signal notifying that the supply of the DC power supply voltage is cut off to the system control unit 220 due to an overcurrent flowing through the CCD 156. To do.

システムコントロールユニット220は、FPGA173からの報知信号に応答して、キャラクタ重畳回路248を制御する。このときキャラクタ重畳回路248は、電子内視鏡100で短絡等の故障が発生したことを報知するためのキャラクタが該映像に重畳表示されるようビデオ信号処理回路246と連携して動作する。術者は、モニタ300に写し出される上記キャラクタを視認することにより電子内視鏡100に不具合が出たことを知り、例えばメーカに修理を頼むことができる。   The system control unit 220 controls the character superimposing circuit 248 in response to the notification signal from the FPGA 173. At this time, the character superimposing circuit 248 operates in cooperation with the video signal processing circuit 246 so that a character for notifying that a failure such as a short circuit has occurred in the electronic endoscope 100 is superimposed on the video. The surgeon can know that a defect has occurred in the electronic endoscope 100 by visually recognizing the character projected on the monitor 300, and can request repair from a manufacturer, for example.

以上が本発明の実施の形態である。本発明はこれらの実施の形態に限定されるものではなく様々な範囲で変形が可能である。例えば本実施形態ではCCD信号処理回路175がDSP基板170内に備えられているが、別の実施の形態では、プロセッサ200側に備えられていても良い。この場合、CCD信号処理回路175は、例えば絶縁回路240と前段処理回路242との間に位置するよう実装される。   The above is the embodiment of the present invention. The present invention is not limited to these embodiments and can be modified in various ranges. For example, in this embodiment, the CCD signal processing circuit 175 is provided in the DSP board 170, but in another embodiment, it may be provided on the processor 200 side. In this case, the CCD signal processing circuit 175 is mounted so as to be positioned, for example, between the insulation circuit 240 and the pre-processing circuit 242.

また、別の実施の形態では、CCD用電源ラインLCCDの安全率を高めに設定しても良い。例えば電圧検出回路176で測定される電位差が参照値である場合には、CCD電源回路171からのDC電源電圧が、本実施形態ではCCD156の定格電圧と一致するレベルであったが、別の実施の形態では当該定格電圧の例えば50%のレベルとなるようにしても良い。このように安全率を高めに設定することにより、過電流検出の精度を向上させることが可能となる。 In another embodiment, the safety factor of the CCD power line L CCD may be set higher. For example, when the potential difference measured by the voltage detection circuit 176 is a reference value, the DC power supply voltage from the CCD power supply circuit 171 is at a level that matches the rated voltage of the CCD 156 in this embodiment. In this form, the level may be, for example, 50% of the rated voltage. Thus, by setting the safety factor high, it becomes possible to improve the accuracy of overcurrent detection.

また、更に別の実施の形態では、ローパスフィルタを用いて過電流の検出を行うようにしても良い。ここでいうローパスフィルタとは、CCD電源回路171とCCD156との間に実装された回路であり、CCD電源回路171で発生したノイズを除去する機能を有する。例えばこのようなローパスフィルタを構成するインダクタの両端に電圧検出回路176を接続し、その電位差を測定することにより、本実施形態と同様にCCD用電源ラインLCCDに過電流が流れたか否かを検出することができる。附言するに、過電流を検出するのに利用可能な素子や回路には、電子内視鏡に元々備えられており、かつDC電源電圧を降下させる、DC抵抗成分を持つ様々なものが想定される。 In still another embodiment, an overcurrent may be detected using a low-pass filter. The low pass filter here is a circuit mounted between the CCD power supply circuit 171 and the CCD 156 and has a function of removing noise generated in the CCD power supply circuit 171. For example, the voltage detection circuit 176 is connected to both ends of the inductor constituting such a low-pass filter, and the potential difference is measured to determine whether or not an overcurrent has flowed through the CCD power supply line L CCD as in the present embodiment. Can be detected. In addition, the elements and circuits that can be used to detect overcurrent are assumed to be various elements that are originally provided in electronic endoscopes and have a DC resistance component that lowers the DC power supply voltage. Is done.

本発明の実施の形態の電子内視鏡システムの外観を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the external appearance of the electronic endoscope system of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の電子内視鏡システムの構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the structure of the electronic endoscope system of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態のCCDおよびDSP基板の構成を抽出したブロック図を示す。The block diagram which extracted the structure of CCD and DSP board | substrate of embodiment of this invention is shown.

符号の説明Explanation of symbols

10 電子内視鏡システム
100 電子内視鏡
156 CCD
170 DSP基板
171 CCD電源回路
172 チップフェライトビーズ
173 FPGA
174 CCD駆動回路
175 CCD信号処理回路
176 電圧検出回路
200 プロセッサ
300 モニタ
10 Electronic Endoscope System 100 Electronic Endoscope 156 CCD
170 DSP board 171 CCD power supply circuit 172 Chip ferrite bead 173 FPGA
174 CCD drive circuit 175 CCD signal processing circuit 176 Voltage detection circuit 200 Processor 300 Monitor

Claims (6)

撮像素子を備えた電子内視鏡において、
前記撮像素子に電源を供給する電源部と、
前記電源部と前記撮像素子とを接続する電源ラインと、
前記電源ラインにおけるノイズを除去するためのノイズ除去部と、
前記ノイズ除去部による電圧降下を測定する電圧降下測定手段と、
前記電圧降下測定手段による測定結果に応じて、前記電源部による前記撮像素子に対する電源供給を制御する電源供給制御手段と、を具備したこと、を特徴とする電子内視鏡。
In an electronic endoscope equipped with an image sensor,
A power supply for supplying power to the image sensor;
A power supply line connecting the power supply unit and the imaging device;
A noise removing unit for removing noise in the power line;
Voltage drop measuring means for measuring a voltage drop by the noise removing unit;
An electronic endoscope comprising: power supply control means for controlling power supply to the image pickup device by the power supply unit in accordance with a measurement result by the voltage drop measurement means.
前記ノイズ除去部は、前記電源ラインからの不要輻射ノイズを除去するためのフェライトビーズであること、を特徴とする請求項1に記載の電子内視鏡。   The electronic endoscope according to claim 1, wherein the noise removing unit is a ferrite bead for removing unnecessary radiation noise from the power supply line. 前記ノイズ除去部は、前記電源ラインを流れるノイズを除去するノイズ除去フィルタであること、を特徴とする請求項1に記載の電子内視鏡。   The electronic endoscope according to claim 1, wherein the noise removing unit is a noise removing filter that removes noise flowing through the power supply line. 前記電源供給制御手段は、前記電圧降下測定手段により測定された電圧降下の値が所定値を下回る場合には該電源供給を継続して行い、該測定された電圧降下の値が該所定値以上の場合には該電源供給を遮断すること、を特徴とする請求項1から請求項3の何れかに記載の電子内視鏡。   The power supply control means continues the power supply when the value of the voltage drop measured by the voltage drop measuring means is below a predetermined value, and the measured voltage drop value is equal to or greater than the predetermined value. The electronic endoscope according to any one of claims 1 to 3, wherein the power supply is cut off in the case of (1). 外部機器から入力される信号に基づいて前記撮像素子を駆動制御するための駆動制御信号を当該撮像素子に出力する駆動制御部と、
前記電源供給制御手段により該電源供給が遮断されたときに、前記駆動制御部からの該駆動制御信号の出力を停止させる駆動制御停止手段と、を更に具備したこと、を特徴とする請求項4に記載の電子内視鏡。
A drive control unit that outputs a drive control signal for driving and controlling the image sensor based on a signal input from an external device;
5. A drive control stop means for stopping output of the drive control signal from the drive control section when the power supply control means shuts off the power supply. An electronic endoscope according to 1.
請求項4又は請求項5の何れかに記載の電子内視鏡と、当該電子内視鏡に接続され、前記撮像素子で撮像された映像をモニタ表示可能に処理する信号処理装置とを備えた電子内視鏡システムであって、
前記電源供給制御手段により該電源供給が遮断されたとき、前記駆動制御停止手段が該電源供給の遮断を報知する報知信号を前記信号処理装置に出力し、
前記信号処理装置が、受け取った報知信号に呼応して、前記モニタ上において該映像に所定のキャラクタを重畳して表示させること、を特徴とする電子内視鏡システム。
6. An electronic endoscope according to claim 4, and a signal processing device that is connected to the electronic endoscope and that processes an image picked up by the image pickup device so that the image can be displayed on a monitor. An electronic endoscope system,
When the power supply is cut off by the power supply control means, the drive control stop means outputs a notification signal to notify the interruption of the power supply to the signal processing device,
An electronic endoscope system, wherein the signal processing device displays a predetermined character superimposed on the video on the monitor in response to the received notification signal.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013172904A (en) * 2012-02-27 2013-09-05 Olympus Medical Systems Corp Imaging apparatus and imaging system
JP2015192695A (en) * 2014-03-31 2015-11-05 Hoya株式会社 Load voltage controller, electronic endoscope and electronic endoscope system
WO2015190408A1 (en) * 2014-06-10 2015-12-17 オリンパス株式会社 Endoscope system
JP2016112118A (en) * 2014-12-12 2016-06-23 オリンパス株式会社 Optical scanning observation system
CN106451641A (en) * 2016-10-28 2017-02-22 珠海市魅族科技有限公司 Charging chip, terminal equipment and charging method
WO2021171427A1 (en) * 2020-02-26 2021-09-02 オリンパス株式会社 Control device, endoscope, and control method
WO2022064669A1 (en) * 2020-09-28 2022-03-31 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 Image capturing device and endoscopic system

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03207217A (en) * 1990-01-09 1991-09-10 Nec Corp Overcurrent detecting circuit
JPH05168588A (en) * 1991-12-20 1993-07-02 Toshiba Corp Electronic endoscope
JPH06254048A (en) * 1993-03-01 1994-09-13 Olympus Optical Co Ltd Endoscopic image pickup device
JPH07194530A (en) * 1993-12-28 1995-08-01 Olympus Optical Co Ltd Electronic endoscope system
JPH09179013A (en) * 1995-12-27 1997-07-11 Fuji Photo Optical Co Ltd Television lens
JP2001327073A (en) * 2000-05-15 2001-11-22 Nec Yonezawa Ltd Power supply unit and power control method thereof, information processing apparatus
JP2002186163A (en) * 2000-12-13 2002-06-28 Sumitomo Densetsu Corp Voltage monitor

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03207217A (en) * 1990-01-09 1991-09-10 Nec Corp Overcurrent detecting circuit
JPH05168588A (en) * 1991-12-20 1993-07-02 Toshiba Corp Electronic endoscope
JPH06254048A (en) * 1993-03-01 1994-09-13 Olympus Optical Co Ltd Endoscopic image pickup device
JPH07194530A (en) * 1993-12-28 1995-08-01 Olympus Optical Co Ltd Electronic endoscope system
JPH09179013A (en) * 1995-12-27 1997-07-11 Fuji Photo Optical Co Ltd Television lens
JP2001327073A (en) * 2000-05-15 2001-11-22 Nec Yonezawa Ltd Power supply unit and power control method thereof, information processing apparatus
JP2002186163A (en) * 2000-12-13 2002-06-28 Sumitomo Densetsu Corp Voltage monitor

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013172904A (en) * 2012-02-27 2013-09-05 Olympus Medical Systems Corp Imaging apparatus and imaging system
JP2015192695A (en) * 2014-03-31 2015-11-05 Hoya株式会社 Load voltage controller, electronic endoscope and electronic endoscope system
WO2015190408A1 (en) * 2014-06-10 2015-12-17 オリンパス株式会社 Endoscope system
JP5908191B1 (en) * 2014-06-10 2016-04-26 オリンパス株式会社 Endoscope system
CN105848560A (en) * 2014-06-10 2016-08-10 奥林巴斯株式会社 Endoscope system
US9749564B2 (en) 2014-06-10 2017-08-29 Olympus Corporation Endoscope system
JP2016112118A (en) * 2014-12-12 2016-06-23 オリンパス株式会社 Optical scanning observation system
CN106451641A (en) * 2016-10-28 2017-02-22 珠海市魅族科技有限公司 Charging chip, terminal equipment and charging method
WO2021171427A1 (en) * 2020-02-26 2021-09-02 オリンパス株式会社 Control device, endoscope, and control method
WO2022064669A1 (en) * 2020-09-28 2022-03-31 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 Image capturing device and endoscopic system

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