JP2008159326A - Contact switching device - Google Patents
Contact switching device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008159326A JP2008159326A JP2006344863A JP2006344863A JP2008159326A JP 2008159326 A JP2008159326 A JP 2008159326A JP 2006344863 A JP2006344863 A JP 2006344863A JP 2006344863 A JP2006344863 A JP 2006344863A JP 2008159326 A JP2008159326 A JP 2008159326A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive fluid
- semiconductor substrate
- insulating substrate
- substrate
- storage chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Contacts (AREA)
Abstract
Description
本発明は、接点開閉装置に関する。 The present invention relates to a contact switching device.
従来から、圧電素子の駆動によって液体金属を動かすことで接点を開閉する接点開閉装置(液体金属スイッチ)が提供されており、例えば特許文献1に開示されているようなものがある。この接点開閉装置は、複数のコンタクトを外部に露出した状態で有する圧電基板層と、前記コンタクトと接続される複数の圧電素子及び各圧電素子間を分離する不活性の駆動流体を有する駆動装置流体槽層と、圧電素子によって押圧される薄膜層と、回路基板に接続される複数のスイッチ・コンタクト及び各スイッチ・コンタクト間を接続する液体金属及びスイッチング流体を有する液体金属チャネル層と、スイッチ・コンタクトと接続される回路を有する回路基板層とから成る。該接点開閉装置の動作を以下に説明する。圧電基板層の一対のコンタクト間に電圧を印加すると、該一対のコンタクトに接続された圧電素子が伸長し、該圧電素子の伸長に伴って薄膜層が押圧される。薄膜層が押圧されることによって液体金属チャネル層のスイッチング流体の圧力が上昇し、スイッチング流体の圧力の上昇によって液体金属によるスイッチ・コンタクト間の接続が切断され、而して回路基板層の回路上の接点を開放するようになっている。この接点開閉装置では、接点開閉装置の組立時に駆動流体を注入口から駆動装置流体槽層に注入し、その後注入口を封止することで駆動流体を駆動装置流体槽層に充填している。
ところで、上記のような接点開閉装置の他に、導電性流体が収納されるとともに一対の接点が露設される収納室を有する本体部と、本体部を部分的に変形させることで導電性流体を移動させ、一対の接点間の導通状態を切り換えるアクチュエータとを備えた接点開閉装置が知られている。しかしながら、このような接点開閉装置において、上記従来例の駆動流体の注入と同様に、導電性流体を注入口から収納室に注入した後に注入口を封止すると、導電性流体を注入してから注入口を封止するまでの間は注入口が開放されているので、収納室内の導電性流体が逆流して注入口から流出してしまう虞があった。 By the way, in addition to the contact switching device as described above, a conductive fluid is stored, and a main body having a storage chamber in which a pair of contacts are exposed, and a conductive fluid by partially deforming the main body. There is known a contact opening / closing device provided with an actuator that moves the switch and switches the conduction state between the pair of contacts. However, in such a contact switching device, as in the case of injecting the driving fluid in the conventional example, when the conductive fluid is injected from the inlet into the storage chamber and the inlet is sealed, the conductive fluid is injected. Since the injection port is open until the injection port is sealed, there is a possibility that the conductive fluid in the storage chamber flows backward and flows out of the injection port.
本発明は、上記の点に鑑みて為されたもので、注入口から導電性流体が流出するのを防止することができる接点開閉装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a contact switching apparatus capable of preventing a conductive fluid from flowing out from an inlet.
請求項1の発明は、上記目的を達成するために、導電性流体が収納される収納室及び導電性流体を収納室内に注入するための注入口を有する本体部と、少なくとも一部を収納室内に臨ませた状態で設けられる一乃至複数の接点と、本体部の厚み方向における収納室の壁部を変形させて導電性流体を移動させることによって接点の間を導電性流体を介して導通又は開放させる駆動手段とを備え、前記収納室は、他の部分よりも容積の大きい空洞部と、導電性流体の移動方向に直交する断面の面積が空洞部よりも狭く且つ一端側で空洞部と連結するとともに他端側に前記接点が露出する流路部とから成り、流路部の厚み方向における高さ寸法が空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さいことを特徴とする。 In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention provides a main body having a storage chamber for storing a conductive fluid and an inlet for injecting the conductive fluid into the storage chamber, and at least a part of the storage chamber. One or a plurality of contacts provided in a state of being exposed to each other, and the conductive fluid is moved by deforming the wall portion of the storage chamber in the thickness direction of the main body portion to move between the contacts through the conductive fluid. Drive means for opening, and the storage chamber has a cavity with a volume larger than that of the other part, a cross-sectional area perpendicular to the moving direction of the conductive fluid is narrower than the cavity, and a cavity on one end side. The channel portion is connected to the other end and the contact point is exposed to the other end, and the height dimension in the thickness direction of the channel portion is smaller than the height dimension in the thickness direction of the cavity portion.
請求項2の発明は、請求項1の発明において、本体部は、半導体基板と絶縁基板とから成り、前記収納室は、半導体基板側に形成された溝部を塞ぐようにして絶縁基板を接合して形成され、流路部において絶縁基板から半導体基板に向かう方向に突出した段部を絶縁基板に一体に形成したことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the main body portion includes a semiconductor substrate and an insulating substrate, and the storage chamber joins the insulating substrate so as to close a groove formed on the semiconductor substrate side. And a step portion protruding in the direction from the insulating substrate toward the semiconductor substrate in the flow path portion is formed integrally with the insulating substrate.
請求項3の発明は、請求項1の発明において、本体部は、半導体基板と絶縁基板とから成り、前記収納室は、半導体基板側に形成された溝部を塞ぐようにして絶縁基板を接合して形成され、流路部において半導体基板から絶縁基板に向かう方向に突出した段部を半導体基板に一体に形成したことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the main body portion includes a semiconductor substrate and an insulating substrate, and the storage chamber joins the insulating substrate so as to close a groove formed on the semiconductor substrate side. And a step portion protruding in the direction from the semiconductor substrate toward the insulating substrate in the flow path portion is formed integrally with the semiconductor substrate.
請求項4の発明は、請求項1の発明において、本体部は、半導体基板と絶縁基板とから成り、前記収納室は、半導体基板側に形成された溝部を塞ぐようにして絶縁基板を接合して形成され、流路部において半導体基板から絶縁基板に向かう方向に突出した第一の段部を半導体基板に一体に形成し且つ絶縁基板から半導体基板に向かう方向に突出した第二の段部を絶縁基板に一体に形成したことを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the main body portion includes a semiconductor substrate and an insulating substrate, and the storage chamber joins the insulating substrate so as to close a groove formed on the semiconductor substrate side. The first step portion formed in the flow path portion and projecting in the direction from the semiconductor substrate toward the insulating substrate is formed integrally with the semiconductor substrate, and the second step portion projecting in the direction from the insulating substrate toward the semiconductor substrate is formed. It is formed integrally with an insulating substrate.
請求項5の発明は、請求項4の発明において、第一の段部及び第二の段部は、導電性流体の移動方向における長さ寸法が互いに異なることを特徴とする。
The invention of claim 5 is characterized in that, in the invention of
請求項1の発明によれば、流路部の厚み方向における高さ寸法を空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さくしたので、流路部における表面張力の影響を大きくすることができ、したがって導電性流体を収納室内に注入した後に導電性流体が注入口側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体が注入口から本体部外部へと流出するのを防止することができる。
According to the invention of
請求項2の発明によれば、流路部において絶縁基板から半導体基板に向かう方向に突出した段部を絶縁基板に一体に形成したので、流路部の厚み方向における高さ寸法が空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さくなるために流路部における表面張力の影響を大きくすることができ、したがって導電性流体を収納室内に注入した後に導電性流体が注入口側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体が注入口から本体部外部へと流出するのを防止することができる。
According to the invention of
請求項3の発明によれば、流路部において半導体基板から絶縁基板に向かう方向に突出した段部を半導体基板に一体に形成したので、流路部の厚み方向における高さ寸法が空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さくなるために流路部における表面張力の影響を大きくすることができ、したがって導電性流体を収納室内に注入した後に導電性流体が注入口側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体が注入口から本体部外部へと流出するのを防止することができる。
According to the invention of
請求項4の発明によれば、流路部において半導体基板から絶縁基板に向かう方向に突出した第一の段部を半導体基板に一体に形成し且つ絶縁基板から半導体基板に向かう方向に突出した第二の段部を絶縁基板に一体に形成したので、流路部の厚み方向における高さ寸法が空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さくなるために流路部における表面張力の影響を大きくすることができ、したがって導電性流体を収納室内に注入した後に導電性流体が注入口側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体が注入口から本体部外部へと流出するのを防止することができる。
According to the invention of
請求項5の発明によれば、第一の段部及び第二の段部を導電性流体の移動方向における長さ寸法が互いに異なるように形成したので、流路部の厚み方向における高さ寸法が空洞部の厚み方向における高さ寸法よりも小さくなるために流路部における表面張力の影響を大きくすることができ、したがって導電性流体を収納室内に注入した後に導電性流体が注入口側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体が注入口から本体部外部へと流出するのを防止することができる。 According to the invention of claim 5, since the first step portion and the second step portion are formed so that the length dimension in the moving direction of the conductive fluid is different from each other, the height dimension in the thickness direction of the flow path portion. Is smaller than the height dimension in the thickness direction of the cavity portion, so that the influence of the surface tension in the flow path portion can be increased, so that after the conductive fluid is injected into the storage chamber, the conductive fluid moves to the inlet side. The return can be suppressed by the surface tension, and the conductive fluid can be prevented from flowing out of the main body from the inlet.
以下、本発明の接点開閉装置の実施形態について図面を用いて説明する。但し、以下の説明では図1(c)における上下を上下方向と定める。本実施形態は、図1(a),(b)に示すように、導電性流体Lが収納されるとともに一対の接点5a,6aが露設される収納室1d及び該収納室1dに導電性流体Lを注入するための注入口2fを有する本体部1と、注入口2fを閉塞する閉塞板4と、収納室1d内に収納された導電性流体Lを移動させ、一対の接点5a,6a間の導通状態を切り換える駆動手段であるアクチュエータ7とを備える。尚、本実施形態では、導電性流体Lとして常温常圧(25℃、1気圧)で液体の金属(例えば、水銀)を用いている。
Hereinafter, embodiments of the contact switching device of the present invention will be described with reference to the drawings. However, in the following description, the vertical direction in FIG. In the present embodiment, as shown in FIGS. 1A and 1B, the
本体部1は、図1(c)〜(e)に示すように、基板2と絶縁基板3とを用いて構成される。基板2は、例えば単結晶のシリコン基板から成り、図1(c)に示すように、その前面には略矩形状の凹部2aが設けられている。この基板2の後面において凹部2aに対応する部位には、導電性流体Lを収納する空洞部1a用の凹所2bが設けられており、図1(b)に示すように、この凹所2bは略菱形に形成されている。また、基板2において凹部2aの底壁部は薄膜状のダイアフラム部2cとなっており、該ダイアフラム部2cの略中央部には、前方へ突出する角錘台形の突部2dが一体に突設されている(図1(c)参照)。
As shown in FIGS. 1C to 1E, the
基板2の後面において凹所2bの一端側(図1(b)における右端側)には、空洞部1a内に導電性流体Lを注入するための通路となる第1チャンネル1b用の第1溝部2eが形成されている。第1溝部2eは、略矩形状に形成されるとともに、略正方形状の注入口2fによって基板2の前面側と連通している(図1(c)参照)。注入口2fは、第1チャンネル1b内に導電性流体Lを注入するために設けられており、導電性流体Lを注入した後に略矩形状のガラス板から成る閉塞板4によって閉塞される(図1(a)参照)。
On the rear surface of the
一方、基板2の後面において凹所2bの他端側(図1(b)における左端側)には、導電性流体Lが移動する流路となる第2チャンネル1c用の略コ字状の第2溝部2gが形成されている。また、第2溝部2gには、図1(c)に示すように、その上面から下方に突出する段部20が基板2と一体に形成されている。
On the other hand, on the other end side of the
尚、上記の凹部2a、凹所2b、突部2d、各溝部2e,2g、注入口2f及び段部20は、ICP(Inductively Coupled Plasma)エッチング等の半導体製造プロセスを利用して基板2に形成してあるが、上記のような半導体製造プロセスは周知であるので、ここでは詳細な説明を省略する。また、基板2の代わりに、基板2と同様の形状に形成された絶縁性を有する樹脂基板等を用いるようにしても構わない。
The
絶縁基板3は、例えば基板2と略同一の外形寸法を有する透明なガラス基板から成り、基板2の後面に陽極接合等によって接合される。尚、絶縁基板3として、ガラス基板のほかに絶縁性を有する樹脂基板を用いるようにしても構わない。
The insulating
このように絶縁基板3を基板2の後面に接合することにより、凹所2b及び第1溝部2e並びに第2溝部2gの後面開口がそれぞれ閉塞される。そして、絶縁基板3により後面開口が閉塞された凹所2bが、導電性流体Lを収納する空洞部1aとして、絶縁基板3により後面開口が閉塞された第1溝部2eが、導電性流体Lを空洞部1aに注入するための第1チャンネル1bとして、絶縁基板3により後面開口が閉塞された第2溝部2gが、導電性流体Lの流路となる第2チャンネル1cとしてそれぞれ用いられ、これら空洞部1aと第1チャンネル1b及び第2チャンネル1cとによって導電性流体Lが移動自在に収納される収納室1dが構成される。
By thus bonding the insulating
ここで、第2溝部2gには前記段部20が基板2と一体に形成されているために、第2チャンネル1cの上下方向の高さ寸法は空洞部1aの上下方向の高さ寸法よりも小さくなっている(図1(c)参照)。
Here, since the
一方、絶縁基板3において、基板2の第2溝部2gに対向する部位、即ち、第2チャンネル1cの底面部となる部位には、貫設孔(スルーホール)3aが4つ貫設されている(図1(b),(d)参照)。これら4つの貫設孔3aのそれぞれの内周面及び前面開口には、ともに導電性金属材料を用いためっき層から成る接点5a,6aが交互に形成されており、これにより絶縁基板3を基板2に接合した際には、各一対の接点5a,6aが第2チャンネル1c内に露設されることになる。尚、各接点5a,6a用の導電性金属材料としては、導電性流体Lに対する濡れ性が良いもの(例えば、半田)を用いることが好ましい。
On the other hand, in the insulating
また、絶縁基板3の後面には、銅等の導電性金属材料を用いた一対の電極パッド5b,6bがそれぞれ形成されており、電極パッド5bは配線パターン5cによって一対の接点5aに、電極パッド6bは配線パターン6cによって一対の接点6aにそれぞれ接続されている。
A pair of
ところで、接点5aは上述したように2つ設けられているが、導電性流体Lが収納室1dに注入された後には、何れか1つのみが残されて他方の接点5aが電極パッド5bから電気的に切断される。この点は接点6aにおいても同様であり、これにより導電性流体Lの注入量のばらつきに対応できるようにしている。例えば、導電性流体Lの注入量が少なく導電性流体Lが何れの接点5a,6aとも接触していない場合と、導電性流体Lの注入量が多く導電性流体Lが接点5aとのみ接触している場合とでは、接点開閉の動作が異なってしまうため、前者の場合には、第2チャンネル1cの奥側となる他端側(図1(b)における右側)の接点5a,6aがそれぞれ電極パッド5b,6bから切断され、後者の場合には、第2チャンネル1cの手前側となる一端側(図1(b)における左側)の接点5aが電極パッド5bから切断されるとともに、第2チャンネル1cの奥側の接点6aが電極パッド6bから切断される。このようにすることで、導電性流体Lの注入量のばらつきに依らず安定した開閉性能を発揮することができる。
By the way, although the two
アクチュエータ7は、例えば扁平な棒状に形成された圧電振動子から成り、先端部を凹部2aと対向させると同時に突部2dの先端に当接させる形で基板2の前面に接合された片持ち梁構造を有している。而して、アクチュエータ7の厚み方向に電圧を印加すれば、固定されていないアクチュエータ7の先端部がダイアフラム部2cに近づく方向に撓んで突部2dを押圧し、これにより基板2のダイアフラム部2cが凹所2b側へ変形する(撓む)ことになる。そして、電圧の印加を停止すれば、アクチュエータ7が突部2を押圧しなくなり、これによりダイアフラム部2cが元の状態に復帰することになる。
The
次に、本実施形態の動作について説明する。まず、電圧が印加されていない状態では、アクチュエータ7が動作しないためにダイアフラム部2cが変形していない。この時、収納室1dに収納されている導電性流体Lは何れの接点5a,6aとも接触しておらず、接点5a,6a間は絶縁(開成)されている(オフ状態)。
Next, the operation of this embodiment will be described. First, in a state where no voltage is applied, the
このオフ状態から電圧を印加してアクチュエータ7を駆動すると、アクチュエータ7の先端部が突部2dを押圧し、これによりダイアフラム部2cが後方に押し下げられる。ダイアフラム部2cが押し下げられると、空洞部1aの容積が減少し、これにより空洞部1a内に収納されている導電性流体Lが第2チャンネル1c側へ移動させられ、一対の接点5a,6aが導電性流体Lによって短絡(閉成)される(オン状態)。
When a voltage is applied from this OFF state to drive the
そして、このオン状態から電圧の印加を停止すれば、アクチュエータ7によって変形させられていたダイアフラム部2cが元の状態に復帰する。これに伴って空洞部1aの容積が元に戻るため、第2チャンネル1c側に移動していた導電性流体Lが空洞部1a側に戻り、一対の接点5a,6aが開成される(オフ状態)。
When the application of voltage is stopped from this on state, the
以下、導電性流体Lを収納室1dに注入する方法について図面を用いて説明する。まず、導電性流体Lが蓄えられた流体槽8aを有する真空チャンバ8内に本体部1を配置し、真空チャンバ8内を真空ポンプ(図示せず)を用いて真空引きすることで、真空チャンバ8内及び本体部1の収納室1d内を所定の真空度まで減圧する(図2(a)参照)次に、本体部1を流体槽8aに浸し(図2(b)参照)、真空チャンバ8内の圧力を上昇させると、真空チャンバ8内の圧力が収納室1d内の圧力よりも大きくなるために、流体槽8aに蓄えられた導電性流体Lが注入口2fから収納室1d内に浸入する(図2(c)参照)。そして、収納室1dに所定の導電性流体Lが注入されるまで真空チャンバ8内の圧力を上昇させた後に(図2(d)参照)、本体部1を流体槽8aから取り出し、閉塞板4を基板2の前面に接合して注入口2fを閉塞することで、導電性流体Lの収納室1dへの注入工程が終了する。尚、流体槽8aに本体部1を浸す際に、凹部2aにも導電性流体Lが浸入するが、凹部2aに溜まった導電性流体Lは注入口2fを閉塞板4で閉塞した後に除去するため、ここでは凹部2aに溜まる導電性流体Lの図示を省略している。
Hereinafter, a method for injecting the conductive fluid L into the
ここで、本実施形態では、前述のように第2溝部2gに段部20を基板2と一体に形成することで第2チャンネル1cの上下方向の高さ寸法を空洞部1aの上下方向の高さ寸法よりも小さくしている。このため、空洞部1aと比較して第2チャンネル1cにおける表面張力の影響を大きくすることができるので、導電性流体Lを収納室1d内に注入した後に導電性流体Lが注入口2f側へ戻ろうとするのを表面張力によって抑えることができ、導電性流体Lが注入口2fから本体部1外部へと流出するのを防止することができる。
Here, in the present embodiment, as described above, the
また、第2チャンネル1cの上下方向の高さ寸法を小さくすることで、アクチュエータ7によってダイアフラム部2cを撓ませる際に、空洞部1aから押し出される導電性流体Lが高さ寸法を小さくしない場合と比べて第2チャンネル1c内を大きく移動することができる。
In addition, when the height of the
尚、上記のように段部20を基板2と一体に形成するのではなく、図3(a)に示すように、第2チャンネル1cにおいて絶縁基板3の上面から上方に突出する段部30を絶縁基板3と一体に形成してもよく、この場合でも上記段部20を設ける場合と同様に第2チャンネル1cの上下方向の高さ寸法を空洞部1aの上下方向の高さ寸法よりも小さくすることができるので、上記と同様の効果を奏することができる。また、図3(b)に示すように、第2チャンネル1cにおいて基板2及び絶縁基板3の何れにも段部20,30を設けてもよく、更には、図3(c)に示すように、第2チャンネル1cにおいて段部30の導電性流体Lの移動方向(図3(c)における左右方向)の長さ寸法を段部20の前記左右方向の長さ寸法よりも大きくしても構わない。これらの場合においても上記段部20を設ける場合と同様に第2チャンネル1cの上下方向の高さ寸法を空洞部1aの上下方向の高さ寸法よりも小さくすることができるので、上記と同様の効果を奏することができる。
Instead of forming the
1 本体部
1a 空洞部
1c 第2チャンネル(流路部)
1d 収納室
20 段部
2c ダイアフラム部(壁部)
2f 注入口
5a,6a 接点
7 アクチュエータ(駆動手段)
L 導電性流体
DESCRIPTION OF
L Conductive fluid
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006344863A JP2008159326A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Contact switching device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006344863A JP2008159326A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Contact switching device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008159326A true JP2008159326A (en) | 2008-07-10 |
Family
ID=39660013
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006344863A Withdrawn JP2008159326A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Contact switching device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008159326A (en) |
-
2006
- 2006-12-21 JP JP2006344863A patent/JP2008159326A/en not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100755106B1 (en) | Microelectromechanical micro-relay with liquid metal contacts | |
US6323447B1 (en) | Electrical contact breaker switch, integrated electrical contact breaker switch, and electrical contact switching method | |
JP2008159322A (en) | Contact switching device | |
TWI313883B (en) | Relay device using conductive fluid | |
US6768068B1 (en) | Method and structure for a slug pusher-mode piezoelectrically actuated liquid metal switch | |
EP1179829B1 (en) | Electrical contact breaker switch, integrated electrical contact breaker switch, and electrical contact switching method | |
JP2008159326A (en) | Contact switching device | |
US20040201317A1 (en) | Method and structure for a pusher-mode piezoelectrically actuated liquid switch metal switch | |
JP2008159324A (en) | Contact-switching device | |
JP2008159327A (en) | Contact switching device | |
JP2008159325A (en) | Contact switching device | |
JP2008159323A (en) | Contact switching device | |
JP2010003573A (en) | Contact switching device | |
US6787719B2 (en) | Switch and method for producing the same | |
WO2000041198A1 (en) | Electrical contact breaker switch, integrated electrical contact breaker switch, and electrical contact switching method | |
JP2007299630A (en) | Contact switching device | |
US6818844B2 (en) | Method and structure for a slug assisted pusher-mode piezoelectrically actuated liquid metal optical switch | |
US6961487B2 (en) | Method and structure for a pusher-mode piezoelectrically actuated liquid metal optical switch | |
US6743990B1 (en) | Volume adjustment apparatus and method for use | |
JP2008159484A (en) | Relay device | |
JP6934070B2 (en) | Switch device | |
JP2008159471A (en) | Relay device | |
JP4386014B2 (en) | Contact switchgear | |
JP2007066734A (en) | Electric contact switching device | |
JP2007066727A (en) | Electric contact switching device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20100302 |