JP2008157758A - Contact probe - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プリント基板などの検査対象物の電気的検査を行う際に用いられるコンタクトプローブに関するものである。 The present invention relates to a contact probe used for electrical inspection of an inspection object such as a printed circuit board.
例えば、プリント基板の導通検査を行う場合、検査個所に接触させてプリント基板との間で電気的接続を得るためのコンタクトプローブが使用される(例えば、特許文献1、2参照)。
For example, when conducting a continuity test of a printed circuit board, a contact probe is used to obtain electrical connection with the printed circuit board by contacting the inspection site (see, for example,
図2に、従来のコンタクトプローブの構造例を示す。
この種のコンタクトプローブは、図示するように、銅合金などからなる筒状のバレル1と、このバレル1に内蔵された金属製のコイルばね2と、コイルばね2によって付勢され、バレル1内で摺動可能な状態で収容された炭素鋼などからなるプランジャ3とから構成されている。プランジャ3の先端側はバレル1内から外方へ向かって所定の長さだけ突出され、その最先端部を検査個所に接触させるためのテーパー状の接触子4とされている。また、プランジャ3の後端側はバレル1から外方へ向かって突出され、コイルばね2の付勢力によってプランジャ3がバレル1内から飛び出すことを防止するための抜け止め部5とされている。
FIG. 2 shows an example of the structure of a conventional contact probe.
As shown in the figure, this type of contact probe includes a
上記コンタクトプローブは、図3に示すように、例えばプリント基板10の検査時、図示を略した3次元方向移動自在なプローブ保持機構に取り付けられる。また、プランジャ3の後端側の抜け止め部5の天頂にはリード線6が接続され、検査装置(テスター)へと接続される。3次元方向移動自在なプローブ保持機構に取り付けられたコンタクトプローブは、プリント基板10上の所定の検査個所11に接触子4の先端が接触するように位置決めされ、該検査個所へ向けて所定のストロークで押し付けられる。これによって、バレル1は内蔵されたコイルばね2のばね力に抗して下方へ向かって所定のストロークだけ移動する。
As shown in FIG. 3, the contact probe is attached to a probe holding mechanism that is movable in a three-dimensional direction (not shown), for example, when inspecting the printed
このバレル1の移動によってバレル1内のコイルばね2が圧縮され、プランジャ3には圧縮されたコイルばね2による下向きの力が作用する。この結果、プランジャ3の先端側の接触子4が検査個所11に所定の接触圧で押し付けられ、コンタクトプローブと検査個所との間の電気的な導通が実現されるとともに、この導通状態が安定に維持される。この状態で、リード線6を介してつながれた検査装置により、導通テストなどの必要な検査が行われる。
The movement of the
しかしながら、上記構造になる従来のコンタクトプローブの場合、プランジャ3とバレル1の摺動が繰り返されることにより、バレル内面の摩耗が進み、プランジャ3とバレル1の間の隙間には摩耗により発生した金属粉が溜まる。この金属粉が溜まることによる摩擦抵抗の増大は、プランジャ3のスムーズな摺動を妨げ、接触圧の増加を招き、最悪の場合にはプランジャ3が動かなくなったり、プリント基板などの検査対象物を破損することにもなりかねない。
However, in the case of the conventional contact probe having the above-described structure, wear of the inner surface of the barrel progresses due to repeated sliding of the
上記現象は、接触子4が押し付けられる検査個所が傾斜面である場合、プランジャ3に偏心荷重が働き、プランジャ3とバレル1との間の摩擦力が大きくなるため、特に著しい。
The above phenomenon is particularly remarkable because when the inspection point where the
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、摩耗による金属粉が発生しても、従来のようにプランジャの摺動を妨げることがないコンタクトプローブを提供することを目的とするものである。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a contact probe that does not hinder the sliding of the plunger as in the prior art even when metal powder due to wear is generated. It is.
上記課題を解決するため、本発明は、筒状のバレルと、該バレルに内蔵されたコイルばねと、該コイルばねによって付勢され、バレル軸芯方向に摺動可能な状態でバレル内に収容されたプランジャとを備えたコンタクトプローブにおいて、前記プランジャの外周面の前記バレルと摺動する面に、螺旋状の溝を一本以上形成したものである。なお、この螺旋状の溝のリード角は、コンタクトプローブの使用目的、使用対象物、動作条件などに応じて、10度以上、90度未満の範囲で設定すればよい。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides a cylindrical barrel, a coil spring built in the barrel, and a spring that is urged by the coil spring and is slidable in the barrel axial direction. In the contact probe including the plunger, one or more spiral grooves are formed on a surface of the outer peripheral surface of the plunger that slides with the barrel. The lead angle of the spiral groove may be set in the range of 10 degrees or more and less than 90 degrees according to the purpose of use of the contact probe, the object to be used, the operating conditions, and the like.
本発明によれば、プランジャの外周面のバレルと摺動する面に螺旋状の溝を一本以上形成したので、プランジャとバレルの摺動によって金属粉が発生しても、その大部分がプランジャ外周面に形成した螺旋状の溝内に落ち込んで溜められる。このため、従来のように発生した金属片がプランジャとバレルの間の隙間に溜まって摩擦抵抗が増大し、プランジャの摺動を妨げるというようなことが無くなり、良好な摺動性と、安定した接触圧を持ったコンタクトプローブを提供することができる。 According to the present invention, since one or more spiral grooves are formed on the surface of the plunger that slides with the barrel, even if metal powder is generated by sliding between the plunger and the barrel, the majority of the plunger is the plunger. It falls and accumulates in a spiral groove formed on the outer peripheral surface. For this reason, the metal piece generated as in the conventional case does not accumulate in the gap between the plunger and the barrel to increase the frictional resistance and prevent the plunger from sliding. A contact probe having a contact pressure can be provided.
以下、本発明に係るコンタクトプローブの一実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明に係るコンタクトプローブの一実施の形態である。なお、従来のコンタクトプローブ(図2)と同一構造部分には同一の符号を付し、その部分の詳細な説明は省略する。 Hereinafter, an embodiment of a contact probe according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an embodiment of a contact probe according to the present invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same structure part as the conventional contact probe (FIG. 2), and the detailed description of the part is abbreviate | omitted.
図示例に係るコンタクトプローブは、従来のコンタクトプローブ(図2)と同様な構造において、プランジャ3の外周面のバレル1と摺動する面に、リード角θ=44度からなる1本の螺旋状の溝7を形成したものである。なお、溝形状としては、半円形溝、V字溝、矩形溝など、任意の形状を採用することができる。
The contact probe according to the illustrated example has a structure similar to that of the conventional contact probe (FIG. 2), and has a single spiral shape with a lead angle θ = 44 degrees on the surface of the outer peripheral surface of the
上記のようにプランジャ3の外周面に螺旋状の溝7を形成すると、プランジャ3とバレル1の摺動によって発生する金属粉は、その大部分がプランジャ外周面に形成した螺旋状の溝7内に落ち込んで溜められる。このため、従来のように金属片がプランジャ3とバレル1の間の隙間に溜まって摩擦抵抗が増大し、プランジャ3の摺動が妨げられるというようなことが無くなる。
When the spiral groove 7 is formed on the outer peripheral surface of the
(摺動耐久試験)
図1の構造からなる本発明のコンタクトプローブ(本発明品)を5本(No.1〜No.5)、また比較例として図2の構造からなる従来のコンタクトプローブ(従来品)を5本(No.1〜No.5)用意し、これらのコンタクトプローブについて摺動耐久試験を行った。その結果を表1に示す。なお、本発明品と従来品との違いは、プランジャ3の外周面に形成された螺旋状の溝7の有無だけであり、各部品の材質、寸法は同じである。
(Sliding durability test)
Five contact probes (invention product) of the present invention having the structure of FIG. 1 (No. 1 to No. 5), and five conventional contact probes (conventional product) having the structure of FIG. 2 as a comparative example. (No. 1 to No. 5) were prepared, and a sliding durability test was performed on these contact probes. The results are shown in Table 1. The only difference between the product of the present invention and the conventional product is the presence or absence of the spiral groove 7 formed on the outer peripheral surface of the
試験方法は、毎秒10回の往復速度で、ストローク3mmの摺動を繰り返し、200万回摺動させた後、プランジャ3を3mm押し込んだ時の荷重をロードセルにより測定した。
The test method was such that sliding at a stroke of 3 mm was repeated at a reciprocating speed of 10 times per second, and the load when the
試験後の試料を分解すると、本発明品、従来品双方に金属粉の発生が見られた。しかし、表1に示した200万回耐久試験前と後の荷重変化を見れば明らかなように、従来品がいずれも10%以上の荷重増加を示しているのに比べ、本発明品では僅かな荷重増加が見られたに過ぎない。これは、バレル1の摩耗により発生した金属粉が、従来品ではプランジャ3とバレル1の内面間の僅かな隙間に溜まって摩擦抵抗を増大させ、その結果として荷重が増加したのに対し、本発明品ではプランジャ3の外周面に形成した螺旋状の溝7内に金属粉が落ち込んで逃げたため、プランジャ3とバレル1の内面間には摩擦抵抗を増大させるほどの量の金属粉が存在しなかったことによるものである。
When the sample after the test was decomposed, generation of metal powder was observed in both the product of the present invention and the conventional product. However, as is apparent from the changes in the load before and after the 2 million times durability test shown in Table 1, the conventional product shows a slight increase in load of 10% or more, but the present invention product has a slight increase. Only a slight increase in load was observed. This is because the metal powder generated by the wear of the
なお、図1の実施の形態では、螺旋状の溝7を1本だけ形成した場合の例を示したが、必要ならば複数本形成してもよいし、さらには右巻きの螺旋状の溝と左巻きの螺旋状の溝を同時に形成してもよいものである。また、螺旋状の溝7のリード角θは、コンタクトプローブの使用目的、使用対象物、動作条件などに応じて、10度以上、90度未満の範囲で設定すればよい。10度未満では溝のピッチが小さ過ぎて摺動の妨げとなり、90度では螺旋状とすることができない。 In the embodiment shown in FIG. 1, an example in which only one spiral groove 7 is formed is shown. However, if necessary, a plurality of spiral grooves 7 may be formed. And a left-handed spiral groove may be formed simultaneously. Further, the lead angle θ of the spiral groove 7 may be set in the range of 10 degrees or more and less than 90 degrees according to the purpose of use of the contact probe, the object to be used, the operating conditions, and the like. If it is less than 10 degrees, the pitch of the grooves is too small and hinders sliding, and if it is 90 degrees, it cannot be spiral.
1 バレル
2 コイルばね
3 プランジャ
4 接触子
5 抜け止め部
6 リード線
7 螺旋状の溝
θ リード角
1
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006347085A JP2008157758A (en) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | Contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2006347085A Pending JP2008157758A (en) | 2006-12-25 | 2006-12-25 | Contact probe |
Country Status (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102226816A (en) * | 2009-07-24 | 2011-10-26 | 住友电气工业株式会社 | Sensing probe for measuring device performance |
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2006
- 2006-12-25 JP JP2006347085A patent/JP2008157758A/en active Pending
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