JP2008149458A - Composition for polishing pad and polishing pad using this composition - Google Patents

Composition for polishing pad and polishing pad using this composition Download PDF

Info

Publication number
JP2008149458A
JP2008149458A JP2008052550A JP2008052550A JP2008149458A JP 2008149458 A JP2008149458 A JP 2008149458A JP 2008052550 A JP2008052550 A JP 2008052550A JP 2008052550 A JP2008052550 A JP 2008052550A JP 2008149458 A JP2008149458 A JP 2008149458A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
water
polishing pad
crosslinked
mass
uncrosslinked
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008052550A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Okamoto
隆浩 岡本
Toru Hasegawa
亨 長谷川
Nobuo Kawahashi
信夫 川橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2008052550A priority Critical patent/JP2008149458A/en
Publication of JP2008149458A publication Critical patent/JP2008149458A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a composition for a polishing pad superior in moldability and abrasion resistance, and the polishing pad using this composition. <P>SOLUTION: This polishing pad is provided by performing cross-linking processing on a kneading material including uncross-linked 1,2-poybutadiene, an uncross-linked ethylene-vinyl acetate copolymer, a β-cyclodextrin particle and organic peroxide in a metal mold. The provided polishing pad is composed of the composition for the polishing pad including a water insoluble matrix including 10 mass% or more of cross-linked 1,2-polybutadiene and a cross-linked ethylene-vinyl acetate copolymer, and water soluble particles dispersed in the water insoluble matrix and composed of β-cyclodextrin. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、研磨パッド用組成物及びこれを用いた研磨パッドに関する。更に詳しくは、成形性及び耐摩耗性に優れた研磨パッド用組成物及びこれを用いた研磨パッドに関する。本発明は、半導体装置の製造において広く利用される。特に半導体ウェハ等の表面の化学機械研磨等において好適である。   The present invention relates to a polishing pad composition and a polishing pad using the same. More specifically, the present invention relates to a polishing pad composition excellent in moldability and wear resistance, and a polishing pad using the same. The present invention is widely used in the manufacture of semiconductor devices. It is particularly suitable for chemical mechanical polishing of the surface of a semiconductor wafer or the like.

近年、平坦面を形成する方法としてChemical Mechanical Polishing(CMP)が注目されている。CMPでは研磨パッドと被研磨面とを摺動させながら、砥粒が分散された水系分散体であるスラリーを研磨パッド表面に供給し、研磨パッド表面に開口する穴(以下、「ポア」という)にスラリーを滞留させて研磨が行われる。   In recent years, chemical mechanical polishing (CMP) has attracted attention as a method for forming a flat surface. In CMP, a slurry, which is an aqueous dispersion in which abrasive grains are dispersed, is supplied to the polishing pad surface while sliding the polishing pad and the surface to be polished, and a hole (hereinafter referred to as “pore”) opened in the polishing pad surface. Polishing is performed by retaining the slurry.

本発明者らは、架橋重合体を含有する研磨パッド用組成物を用いた研磨パッドが優れた性能を発揮できることを見出した。この技術は特開2001−334455号公報にて開示されている。そのほか、従来より知られている研磨パッド等に関する技術として、特表平8−500622号公報、特開2000−34416号公報、特開2000−33552号公報及び特開2000−34416号公報等がある。しかし、各種性能の更なる向上を図る必要がある。   The present inventors have found that a polishing pad using a polishing pad composition containing a crosslinked polymer can exhibit excellent performance. This technique is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-334455. In addition, conventionally known techniques related to polishing pads and the like include JP-T-8-500622, JP-A No. 2000-34416, JP-A No. 2000-33552 and JP-A No. 2000-34416. . However, it is necessary to further improve various performances.

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、成形性及び耐摩耗性に優れた研磨パッド用組成物及びこれを用いた研磨パッドを提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of the said situation, and it aims at providing the composition for polishing pads excellent in the moldability and abrasion resistance, and a polishing pad using the same.

本発明は、下記(1)〜()の研磨パッド用組成物及びこれを用いた研磨パッドを提供する。
) 非水溶性マトリックスと該非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する研磨パッド用組成物において、
未架橋非水溶性マトリックスと該未架橋非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する未架橋研磨パッド用組成物を架橋処理して得られ、
上記未架橋非水溶性マトリックスは未架橋1,2−ポリブタジエンと未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体とを含有し、
上記未架橋1,2−ポリブタジエンは上記未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に10質量%以上であり、
上記未架橋1,2−ポリブタジエンは上記未架橋1,2−ポリブタジエンと上記未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体との合計を100質量%とした場合に50質量%以上であることを特徴とする研磨パッド用組成物。
) 上記非水溶性マトリックスは、更に、架橋1,2−ポリブタジエン及び架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体の両方を除く他の架橋重合体を含有する上記()に記載の研磨パッド用組成物。
) 上記他の架橋重合体は、架橋ポリエチレン重合体、架橋アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、及び架橋スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体のうちの少なくとも1種である上記()に記載の研磨パッド用組成物。
(4) 上記水溶性粒子の平均粒径は0.1〜500μmである(1)乃至(3)のうちのいずれかに記載の研磨パッド用組成物。
(5) 上記架橋処理は、有機過酸化物を用いたものである(1)乃至(4)のうちのいずれかに記載の研磨パッド用組成物。
) 上記(1)乃至上記()のうちのいずれかに記載の研磨パッド用組成物からなる研磨部を備えることを特徴とする研磨パッド。
The present invention provides the following polishing pad composition (1) to ( 6 ) and a polishing pad using the same.
( 1 ) In a polishing pad composition comprising a water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the water-insoluble matrix,
It is obtained by crosslinking a composition for an uncrosslinked polishing pad containing an uncrosslinked water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the uncrosslinked water-insoluble matrix,
The uncrosslinked water-insoluble matrix contains uncrosslinked 1,2-polybutadiene and an uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer,
The uncrosslinked 1,2-polybutadiene is 10% by mass or more when the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass,
The uncrosslinked 1,2-polybutadiene is 50% by mass or more when the total of the uncrosslinked 1,2-polybutadiene and the uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer is 100% by mass. Composition for polishing pad.
( 2 ) The composition for polishing pad according to ( 1 ), wherein the water-insoluble matrix further contains another crosslinked polymer excluding both the crosslinked 1,2-polybutadiene and the crosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer. object.
( 3 ) The other crosslinked polymer is at least one of a crosslinked polyethylene polymer, a crosslinked acrylonitrile-styrene-butadiene copolymer, and a crosslinked styrene-butadiene-styrene copolymer, as described in ( 2 ) above. Polishing pad composition.
(4) The polishing pad composition according to any one of (1) to (3), wherein the water-soluble particles have an average particle size of 0.1 to 500 μm.
(5) The composition for polishing pad according to any one of (1) to (4), wherein the crosslinking treatment uses an organic peroxide.
( 6 ) A polishing pad comprising a polishing portion comprising the polishing pad composition according to any one of (1) to ( 5 ).

本発明の研磨パッド用組成物によると、優れた研磨性能を有する研磨パッド及び複層型研磨パッドを効率よく、安定して得ることができる。また、耐摩耗性に優れた研磨パッド及び複層型研磨パッドを得ることができる。
他の架橋重合体が、架橋ポリエチレン重合体、架橋アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、及び架橋スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体のうちの少なくとも1種である場合は、特に優れた成形性及び耐摩耗性を得ることができる。
本発明の研磨パッドによると、耐摩耗性に優れ、安定した研磨性能を長期にわたって発揮させることができる。
According to the polishing pad composition of the present invention, a polishing pad and a multilayer polishing pad having excellent polishing performance can be obtained efficiently and stably. In addition, a polishing pad and a multilayer polishing pad having excellent wear resistance can be obtained.
When the other crosslinked polymer is at least one of a crosslinked polyethylene polymer, a crosslinked acrylonitrile-styrene-butadiene copolymer, and a crosslinked styrene-butadiene-styrene copolymer, particularly excellent moldability and resistance. Abrasion can be obtained.
According to the polishing pad of the present invention, it has excellent wear resistance and can exhibit stable polishing performance over a long period of time.

以下、本発明を詳しく説明する。
[1]架橋PBD及び他の架橋重合体を含有する研磨パッド用組成物(参考発明)
上記「非水溶性マトリックス」は、後述する研磨パッドの研磨部、更には研磨パッド全体(以下、併せて「研磨部及び研磨パッド」ともいう)を構成する母相である。この非水溶性マトリックスには後述する水溶性粒子が分散されて含有される。また、非水溶性マトリックスには架橋1,2−ポリブタジエン(以下、単に「架橋PBD」ともいう)が含有され、架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体(以下、単に「架橋EVA」ともいう)は含有されず、架橋PBD及び架橋EVAの両方を除く他の架橋重合体が含有される。
The present invention will be described in detail below.
[1] Polishing pad composition containing crosslinked PBD and other crosslinked polymer (reference invention)
The “water-insoluble matrix” is a parent phase constituting a polishing portion of a polishing pad, which will be described later, and further the entire polishing pad (hereinafter also referred to as “polishing portion and polishing pad”). This water-insoluble matrix contains dispersed water-soluble particles described later. The water-insoluble matrix contains a crosslinked 1,2-polybutadiene (hereinafter also simply referred to as “crosslinked PBD”) and a crosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer (hereinafter also simply referred to as “crosslinked EVA”). And other cross-linked polymers except both cross-linked PBD and cross-linked EVA are included.

上記「架橋1,2−ポリブタジエン」は、非水溶性マトリックスに弾性回復力を付与でき、研磨時に研磨部及び研磨パッドにかかるずり応力による変位を小さく抑えることができる。このため、研磨時及びドレッシング時に非水溶性マトリックスが過度に引き延ばされ塑性変形してポアが埋まることや毛羽立ちが短期間で潰れることを抑制できる。即ち、良好な研磨状態を長く維持でき、また、ドレッシング時にはポアを効率よく形成できる。また、ドレッシングによって研磨部及び研磨パッドの表面が過度に毛羽立つことも抑制でき、研磨平坦性が阻害されない。   The “crosslinked 1,2-polybutadiene” can impart an elastic recovery force to the water-insoluble matrix, and can suppress displacement due to shear stress applied to the polishing portion and the polishing pad during polishing. For this reason, it can suppress that a water-insoluble matrix is extended too much at the time of grinding | polishing and dressing, and plastic deformation is carried out, and it is suppressed that a fuzz is crushed in a short period of time. That is, a good polishing state can be maintained for a long time, and pores can be formed efficiently during dressing. Moreover, it can also suppress that the surface of a grinding | polishing part and a polishing pad fuzzs excessively by dressing, and polishing flatness is not inhibited.

架橋PBDの含有量は、非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に、10質量%以上であり、15質量%以上であることが好ましく、20質量%以上であることがより好ましく、30質量%以上であることが特に好ましい。但し、通常、95質量%以下である。架橋PBDの含有量が10質量%未満であると上記架橋PBDを含有する効果が十分に発揮され難い場合がある。
この架橋PBDは、どのような方法で架橋されたものであってもよい。即ち、例えば、有機過酸化物、硫黄、硫黄化合物等を用いて化学架橋されたものであってもよく、加熱により熱架橋されたものであってもよく、電子線照射等により放射線架橋されたものであってもよく、更にはこれらのうちの2種以上の架橋方法により架橋されたものであってもよい。
The content of the crosslinked PBD is 10% by mass or more, preferably 15% by mass or more, more preferably 20% by mass or more, when the entire water-insoluble matrix is 100% by mass, 30 It is particularly preferable that the content is at least mass%. However, it is usually 95% by mass or less. If the content of the crosslinked PBD is less than 10% by mass, the effect of containing the crosslinked PBD may not be sufficiently exhibited.
This crosslinked PBD may be crosslinked by any method. That is, for example, it may be chemically crosslinked using an organic peroxide, sulfur, sulfur compound, etc., may be thermally crosslinked by heating, or radiation crosslinked by electron beam irradiation or the like. It may be a thing, and also what was cross-linked by two or more kinds of these cross-linking methods may be used.

上記「他の架橋重合体」は、非水溶性マトリックスに含有される架橋PBD及び架橋EVAを除く架橋重合体である。他の架橋重合体が含有されることにより、(1)成形性が向上される。この成形性とは、成形のし易さ及びハンドリング性等を含むものである。例えば、金型内に非水溶性マトリックスとなる未架橋物を充填し、架橋剤等を用いて金型内にて架橋させ、その後、得られた成形体(研磨パッド及び研磨層等)を脱型する工程を行う場合がある。この脱型を行う時に成形体が割れたり、欠けたりすることを確実に防止できる。また、(2)優れた耐摩耗性が付与される。このため、長寿命な研磨部及び研磨パッドを得ることができる。   The “other cross-linked polymer” is a cross-linked polymer excluding cross-linked PBD and cross-linked EVA contained in the water-insoluble matrix. By containing other cross-linked polymers, (1) moldability is improved. This moldability includes ease of molding and handling properties. For example, an uncrosslinked product that becomes a water-insoluble matrix is filled in a mold and crosslinked in a mold using a crosslinking agent or the like, and then the obtained molded body (such as a polishing pad and a polishing layer) is removed. There is a case where a molding process is performed. It is possible to reliably prevent the molded body from cracking or chipping when performing this demolding. Further, (2) excellent wear resistance is imparted. For this reason, a long-life polishing part and polishing pad can be obtained.

この他の架橋重合体の種類は特に限定されない。他の架橋重合体としては、熱可塑性樹脂、エラストマー、ゴム及び硬化性樹脂(熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂等、熱、光等により、硬化される樹脂)等の未架橋重合体のうちの1種が架橋されてなる架橋重合体や、これらの未架橋重合体のうちの2種以上が共架橋されてなる架橋重合体等を挙げることができる。これらは単独で又は組み合わせて用いることができる。
熱可塑性樹脂としては、ポリエチレン等のポリオレフィン系樹脂(EVAを除く)、アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体(ABS樹脂等)、ポリスチレン系樹脂、ポリアクリル系樹脂{(メタ)アクリレート系樹脂等}、ビニルエステル系樹脂(EVAを除く)、飽和ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、フッ素樹脂(ポリフッ化ビニリデン等)、ポリカーボネート系樹脂、ポリアセタール系樹脂等が挙げられる。
The kind of other crosslinked polymer is not particularly limited. Other cross-linked polymers include non-cross-linked polymers such as thermoplastic resins, elastomers, rubbers, and curable resins (thermosetting resins, photocurable resins, etc., resins cured by heat, light, etc.) And a crosslinked polymer formed by crosslinking two or more of these uncrosslinked polymers. These can be used alone or in combination.
As thermoplastic resins, polyolefin resins such as polyethylene (excluding EVA), acrylonitrile-styrene-butadiene copolymers (ABS resins, etc.), polystyrene resins, polyacrylic resins {(meth) acrylate resins, etc.], Examples include vinyl ester resins (except EVA), saturated polyester resins, polyamide resins, fluororesins (polyvinylidene fluoride, etc.), polycarbonate resins, polyacetal resins, and the like.

エラストマーとしては、ポリオレフィン系エラストマー(EVAを除く)、スチレン系エラストマー{スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体、その水素添加ブロック共重合体(SEBS)等}、熱可塑性ポリウレタン系エラストマー、熱可塑性ポリエステル系エラストマー、ポリアミド系エラストマー、シリコーン樹脂系エラストマー、フッ素樹脂系エラストマー等が挙げられる。   Elastomers include polyolefin elastomers (excluding EVA), styrene elastomers (styrene-butadiene-styrene copolymers, hydrogenated block copolymers (SEBS), etc.), thermoplastic polyurethane elastomers, thermoplastic polyester elastomers. , Polyamide elastomer, silicone resin elastomer, fluororesin elastomer and the like.

ゴムとしては、ブタジエン系ゴム(高シスブタジエンゴム、低シスブタジエンゴム等)、イソプレン系ゴム、スチレン−ブタジエン系ゴム、スチレン−イソプレン系ゴム等の共役ジエン系ゴム、アクロルニトリル−ブタジエン系ゴム等のニトリル系ゴム、アクリル系ゴム、エチレン−プロピレン系ゴム、エチレン−プロピレン−ジエン系ゴム等のエチレン−α−オレフィン系ゴム、及び、ブチルゴムやシリコーンゴムやフッ素ゴム等のその他のゴムが挙げられる。
硬化性樹脂としては、ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、(メタ)アクリル系樹脂、不飽和ポリエステル系樹脂、ポリウレタン−ウレア系樹脂、ウレア系樹脂、ケイ素系樹脂、フェノール系樹脂等が挙げられる。
Rubbers include butadiene rubber (high cis butadiene rubber, low cis butadiene rubber, etc.), isoprene rubber, styrene-butadiene rubber, conjugated diene rubber such as styrene-isoprene rubber, acrylonitrile-butadiene rubber, etc. Nitrile rubber, acrylic rubber, ethylene-propylene rubber, ethylene-α-olefin rubber such as ethylene-propylene-diene rubber, and other rubbers such as butyl rubber, silicone rubber, and fluorine rubber.
Examples of the curable resin include urethane resins, epoxy resins, (meth) acrylic resins, unsaturated polyester resins, polyurethane-urea resins, urea resins, silicon resins, phenol resins, and the like.

これら他の架橋重合体は、前記架橋PBDと同様にどのような方法で架橋されたものであってもよい。また、これらの他の架橋重合体は、架橋PBDと共架橋されていてもよく、共架橋されていなくてもよい。また、これらの他の架橋重合体は、酸無水物基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、エポキシ基、アミノ基等により変性された重合体であってもよい。変性により、架橋PBDや、後述する水溶性粒子や、スラリーとの親和性を調節することができる。   These other cross-linked polymers may be cross-linked by any method similar to the cross-linked PBD. Moreover, these other crosslinked polymers may be co-crosslinked with the crosslinked PBD, or may not be co-crosslinked. Further, these other crosslinked polymers may be polymers modified with an acid anhydride group, a carboxyl group, a hydroxyl group, an epoxy group, an amino group, or the like. By the modification, the affinity with crosslinked PBD, water-soluble particles described later, and slurry can be adjusted.

上記他の架橋重合体の中でも、ポリエチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリアクリル系樹脂、ビニルエステル系樹脂、飽和ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂及びポリアセタール系樹脂のうちの少なくとも1種が架橋又は共架橋された架橋重合体が好ましい。これらの架橋重合体は、成形性及び耐摩耗性を向上させる効果が大きい。また、吸水による軟化が少なく、スラリー中に含有される酸やアルカリに対して安定である。
これら他の架橋重合体の含有量は、非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に、5質量%以上であることが好ましく、10質量%以上であることがより好ましく、20質量%以上であることが特に好ましい。但し、他の架橋重合体は90質量%以下である。他の架橋重合体の含有量が5質量%未満であると前記(1)及び(2)の効果が十分に発揮されない場合がある。
Among the other cross-linked polymers, polyethylene resin, acrylonitrile-styrene-butadiene copolymer, styrene-butadiene-styrene copolymer, polyacrylic resin, vinyl ester resin, saturated polyester resin, polyamide resin, and polyacetal A crosslinked polymer in which at least one kind of the resin is crosslinked or co-crosslinked is preferable. These crosslinked polymers have a great effect of improving moldability and wear resistance. Moreover, there is little softening by water absorption and it is stable with respect to the acid and alkali contained in a slurry.
The content of these other crosslinked polymers is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and more preferably 20% by mass or more, based on 100% by mass of the entire water-insoluble matrix. It is particularly preferred that However, other crosslinked polymers are 90 mass% or less. When the content of the other crosslinked polymer is less than 5% by mass, the effects (1) and (2) may not be sufficiently exhibited.

上記架橋PBD及び他の架橋重合体の好ましい含有量は各々の組合せとすることができる。即ち、例えば、架橋PBDが10〜95質量%であり且つ他の架橋重合体が5〜90質量%であることが好ましく、架橋PBDが15〜95質量%であり且つ他の架橋重合体が5〜85質量%であることがより好ましく、架橋PBDが20〜90質量%であり且つ他の架橋重合体が10〜80質量%であることが特に好ましく、架橋PBDが30〜80質量%であり且つ他の架橋重合体が20〜70質量%であることがとりわけ好ましい。   The preferable content of the above-mentioned crosslinked PBD and other crosslinked polymers can be a combination of each. That is, for example, the cross-linked PBD is preferably 10 to 95% by mass and the other cross-linked polymer is preferably 5 to 90% by mass, the cross-linked PBD is 15 to 95% by mass and the other cross-linked polymer is 5%. It is more preferable that it is -85 mass%, it is especially preferable that crosslinked PBD is 20-90 mass% and another crosslinked polymer is 10-80 mass%, and crosslinked PBD is 30-80 mass%. And it is especially preferable that another crosslinked polymer is 20-70 mass%.

研磨パッド用組成物を構成する非水溶性マトリックスは、上記のように架橋PBDを非水溶性マトリックスに対して10質量%以上含有し、且つ他の架橋重合体を含有することにより、JIS K 6251に準じて非水溶性マトリックスからなる試験片を80℃において破断させた場合に、破断後に残留する伸び(以下、単に「破断残留伸び」という)を100%以下とすることができる。即ち、破断した後の標線間合計距離が破断前の標線間距離の2倍以下となる。この破断残留伸びは30%以下(更に好ましくは10%以下、とりわけ好ましくは5%以下、通常0%以上)であることがより好ましい。破断残留伸びが100%を超えると、研磨時及び面更新時に研磨部及び研磨パッドの表面から掻き取られた又は引き延ばされた微細片がポアを塞ぎ易くなる傾向にあり好ましくない。尚、この「破断残留伸び」とは、JIS K 6251「加硫ゴムの引張試験方法」に準じて、試験片形状ダンベル状3号形、引張速度500mm/分、試験温度80℃で引張試験を行い試験片を破断させた場合に、破断して分割された試験片の各々の標線から破断部までの合計距離から、試験前の標線間距離を差し引いた距離の伸び率である。また、実際の研磨においては摺動により発熱するため温度80℃における試験である。   The water-insoluble matrix constituting the polishing pad composition contains 10% by mass or more of the crosslinked PBD with respect to the water-insoluble matrix as described above, and contains other crosslinked polymer, whereby JIS K 6251. When a test piece made of a water-insoluble matrix is fractured at 80 ° C. according to the above, the elongation remaining after fracture (hereinafter simply referred to as “residual elongation at break”) can be 100% or less. That is, the total distance between the marked lines after the fracture is not more than twice the distance between the marked lines before the fracture. The residual elongation at break is more preferably 30% or less (more preferably 10% or less, particularly preferably 5% or less, usually 0% or more). If the residual elongation at break exceeds 100%, it is not preferable because fine pieces scraped or stretched from the surfaces of the polishing part and the polishing pad during polishing and surface renewal tend to block the pores. The “breaking residual elongation” means that a tensile test was performed at a test piece shape dumbbell shape No. 3 with a tensile speed of 500 mm / min and a test temperature of 80 ° C. according to JIS K 6251 “Tensile test method for vulcanized rubber”. When the test piece is ruptured, the elongation is the distance obtained by subtracting the distance between the marked lines before the test from the total distance from the marked line to the broken part of each of the broken and broken test pieces. In actual polishing, since heat is generated by sliding, the test is performed at a temperature of 80 ° C.

尚、研磨パッド用組成物には、架橋PBD及び他の架橋重合体以外に、未架橋重合体を含有してもよい。未架橋重合体としては、未架橋1,2−ポリブタジエン及び未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体の他、前記他の架橋重合体として挙げた熱可塑性樹脂、エラストマー、ゴム及び硬化性樹脂等の未架橋重合体を挙げることができる。   The polishing pad composition may contain an uncrosslinked polymer in addition to the crosslinked PBD and other crosslinked polymers. Examples of uncrosslinked polymers include uncrosslinked 1,2-polybutadiene and uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymers, as well as thermoplastic resins, elastomers, rubbers, curable resins, and the like mentioned as the other crosslinked polymers. Mention may be made of crosslinked polymers.

上記「水溶性粒子」は、水系分散体であるスラリーと接触することにより非水溶性マトリックスから脱離するものであり、非水溶性マトリックス中に分散されている。この水溶性粒子が脱離することにより非水溶性マトリックスにはポアが形成される。水溶性粒子の脱離は、スラリー中に含有される水等との接触により溶解することで生じてもよく、この水等を含有して膨潤し、ゲル状となることで生じるものであってもよい。更に、この溶解又は膨潤は水によるものばかりでなく、メタノール等のアルコール系溶剤を含有する水系混合媒体との接触によるものであってもよい。   The “water-soluble particles” are those that are detached from the water-insoluble matrix by contact with the slurry that is an aqueous dispersion, and are dispersed in the water-insoluble matrix. As the water-soluble particles are detached, pores are formed in the water-insoluble matrix. The desorption of water-soluble particles may be caused by dissolution by contact with water or the like contained in the slurry, and is caused by swelling and gelation containing this water or the like. Also good. Further, this dissolution or swelling may be caused not only by water but also by contact with an aqueous mixed medium containing an alcohol solvent such as methanol.

水溶性粒子は、ポアを形成する以外にも、研磨部及び研磨パッドの押し込み硬さを大きくし、押圧による被研磨体の押し込み量を小さくする効果を有する。即ち、例えば、水溶性粒子を含有することにより研磨部及び研磨パッドのショアD硬度は35以上(より好ましくは50〜90、更に好ましくは60〜85、通常100以下)にすることができる。ショアD硬度が35以上であると、被研磨体に負荷できる圧力を大きくでき、これに伴い研磨速度を向上させることができる。更に加えて、高い研磨平坦性が得られる。従って、この水溶性粒子は、研磨部及び研磨パッドの十分な押し込み硬さを確保できる中実体であることが特に好ましい。   In addition to forming pores, the water-soluble particles have the effect of increasing the indentation hardness of the polishing part and the polishing pad and reducing the amount of indentation of the object to be polished by the pressing. That is, for example, by containing water-soluble particles, the Shore D hardness of the polishing part and the polishing pad can be 35 or more (more preferably 50 to 90, still more preferably 60 to 85, usually 100 or less). When the Shore D hardness is 35 or more, the pressure that can be applied to the object to be polished can be increased, and the polishing rate can be improved accordingly. In addition, high polishing flatness can be obtained. Therefore, the water-soluble particles are particularly preferably solid bodies that can ensure sufficient indentation hardness of the polishing portion and the polishing pad.

水溶性粒子を構成する水溶性化合物の種類は特に限定されないが、例えば、有機系水溶性化合物及び無機系水溶性化合物を挙げることができる。有機系水溶性化合物としては、糖類(シクロデキストリン、デキストリン及びでんぷん等の多糖類、乳糖、マンニット等)、セルロース類(ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース等)、蛋白質、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、ポリアクリル酸、ポリアクリル酸塩、ポリエチレンオキサイド、水溶性の感光性樹脂、スルホン化ポリイソプレン、スルホン化ポリイソプレン共重合体等を挙げることができる。更に、無機系水溶性化合物としては、酢酸カリウム、硝酸カリウム、炭酸カリウム、炭酸水素カリウム、塩化カリウム、臭化カリウム、リン酸カリウム、硝酸マグネシウム等を挙げることができる。これらの水溶性化合物は単独又は2種以上を組み合わせて用いることができる。更に、水溶性粒子は、所定の水溶性化合物からなる1種の水溶性粒子であってもよく、異なる水溶性化合物からなる2種以上の水溶性粒子であってもよい。   Although the kind of water-soluble compound which comprises water-soluble particle | grains is not specifically limited, For example, an organic type water-soluble compound and an inorganic type water-soluble compound can be mentioned. Organic water-soluble compounds include sugars (polysaccharides such as cyclodextrin, dextrin and starch, lactose, mannitol, etc.), celluloses (hydroxypropylcellulose, methylcellulose, etc.), proteins, polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone, polyacrylic acid , Polyacrylate, polyethylene oxide, water-soluble photosensitive resin, sulfonated polyisoprene, sulfonated polyisoprene copolymer, and the like. Furthermore, examples of the inorganic water-soluble compound include potassium acetate, potassium nitrate, potassium carbonate, potassium hydrogen carbonate, potassium chloride, potassium bromide, potassium phosphate, and magnesium nitrate. These water-soluble compounds can be used alone or in combination of two or more. Further, the water-soluble particles may be one kind of water-soluble particles made of a predetermined water-soluble compound, or two or more kinds of water-soluble particles made of different water-soluble compounds.

また、水溶性粒子の平均粒径は0.1〜500μm(より好ましくは0.5〜100μm、更に好ましくは1〜50μm)とすることが好ましい。即ち、ポアの大きさは0.1〜500μm(より好ましくは0.5〜100μm、更に好ましくは1〜50μm)であることが好ましい。水溶性粒子の平均粒径が0.1μm未満であると、形成されるポアの大きさが使用する砥粒より小さくなるためスラリーを十分に保持できる研磨部及び研磨パッドが得難くなる傾向にある。一方、500μmを超えると、形成されるポアの大きさが過大となり、得られる研磨部及び研磨パッドの機械的強度及び研磨速度が低下する傾向にある。   The average particle diameter of the water-soluble particles is preferably 0.1 to 500 μm (more preferably 0.5 to 100 μm, still more preferably 1 to 50 μm). That is, the pore size is preferably 0.1 to 500 μm (more preferably 0.5 to 100 μm, still more preferably 1 to 50 μm). If the average particle size of the water-soluble particles is less than 0.1 μm, the size of the pores formed is smaller than the abrasive grains used, and therefore it tends to be difficult to obtain a polishing part and a polishing pad that can hold the slurry sufficiently. . On the other hand, if it exceeds 500 μm, the size of the pores formed becomes excessive, and the mechanical strength and polishing rate of the obtained polishing part and polishing pad tend to decrease.

この水溶性粒子の含有量は、非水溶性マトリックスと水溶性粒子との合計を100体積%とした場合に、水溶性粒子は10〜90体積%(より好ましくは12〜60体積%、更に好ましくは15〜45体積%)であることが好ましい。水溶性粒子の含有量が10体積%未満であると、得られる研磨部及び研磨パッドにおいてポアが十分に形成されない場合があり、研磨速度が低下する場合がある。一方、90体積%を超えて水溶性粒子を含有する場合は、得られる研磨部及び研磨パッドに内包された水溶性粒子が連鎖的に膨潤又は溶解することを十分に防止でき難くなる傾向にあり、研磨部及び研磨パッドの硬度及び機械的強度を適正な値に保持し難くなる。   The content of the water-soluble particles is 10 to 90% by volume (more preferably 12 to 60% by volume, still more preferably) when the total of the water-insoluble matrix and the water-soluble particles is 100% by volume. Is preferably 15 to 45% by volume. When the content of the water-soluble particles is less than 10% by volume, pores may not be sufficiently formed in the obtained polishing portion and polishing pad, and the polishing rate may be reduced. On the other hand, when it contains water-soluble particles in excess of 90% by volume, it tends to be difficult to sufficiently prevent the water-soluble particles contained in the obtained polishing part and polishing pad from being swollen or dissolved in a chain. Further, it becomes difficult to maintain the hardness and mechanical strength of the polishing portion and the polishing pad at appropriate values.

また、水溶性粒子は、研磨部及び研磨パッド内において表層に露出した場合にのみ水溶し、研磨部及び研磨パッドの内部では吸湿し、更には膨潤しないことが好ましい。このため水溶性粒子は最外部の少なくとも一部に吸湿を抑制する外殻を備えることができる。この外殻は水溶性粒子に物理的に吸着していても、水溶性粒子と化学結合していても、更にはこの両方により水溶性粒子に接していてもよい。このような外殻を形成する材料としては、エポキシ樹脂、ポリイミド、ポリアミド、ポリシリケート等を挙げることができる。尚、この外殻は水溶性粒子の表面の一部のみに形成されていても十分に上記効果を得ることができる。   Further, it is preferable that the water-soluble particles are water-soluble only when they are exposed on the surface layer in the polishing portion and the polishing pad, absorb moisture inside the polishing portion and the polishing pad, and do not swell. For this reason, water-soluble particle | grains can be equipped with the outer shell which suppresses moisture absorption in at least one part of the outermost part. The outer shell may be physically adsorbed on the water-soluble particles, may be chemically bonded to the water-soluble particles, or may be in contact with the water-soluble particles by both. Examples of the material for forming such an outer shell include epoxy resin, polyimide, polyamide, polysilicate, and the like. Even if the outer shell is formed only on a part of the surface of the water-soluble particles, the above-mentioned effect can be sufficiently obtained.

上記非水溶性マトリックスは、水溶性粒子との親和性並びに非水溶性マトリックス中における水溶性粒子の分散性を制御するため、相溶化剤を含有することができる。相溶化剤としては、酸無水物基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、エポキシ基、オキサゾリン基及びアミノ基等により変性された重合体、ブロック共重合体、並びにランダム共重合体、更に、種々のノニオン系界面活性剤、カップリング剤等を挙げることができる。   The water-insoluble matrix can contain a compatibilizing agent in order to control the affinity with the water-soluble particles and the dispersibility of the water-soluble particles in the water-insoluble matrix. Examples of compatibilizers include polymers modified with acid anhydride groups, carboxyl groups, hydroxyl groups, epoxy groups, oxazoline groups, amino groups, block copolymers, random copolymers, and various nonionic types. Surfactants, coupling agents and the like can be mentioned.

更に、非水溶性マトリックス及び/又は水溶性粒子中に、従来からスラリーに含有されている砥粒、酸化剤、アルカリ金属の水酸化物、酸、使用時に酸を発生する塩、pH調節剤、界面活性剤及びスクラッチ防止剤等の1種又は2種以上を含有することができる。これにより研磨時に水のみを供給して研磨を行うことも可能となる。
上記砥粒としては、シリカ、アルミナ、セリア、ジルコニア及びチタニア等からなる粒子を挙げることができる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
上記酸化剤としては、過酸化水素、過酢酸、過安息香酸、tert−ブチルハイドロパーオキサイド等の有機過酸化物、過マンガン酸カリウム等の過マンガン酸化合物、重クロム酸カリウム等の重クロム酸化合物、ヨウ素酸カリウム等のハロゲン酸化合物、硝酸及び硝酸鉄等の硝酸化合物、過塩素酸等の過ハロゲン酸化合物、過硫酸アンモニウム等の過硫酸塩、並びにヘテロポリ酸等が挙げられる。これらの酸化剤のうちでは、分解生成物が無害である過酸化水素及び有機過酸化物の他、過硫酸アンモニウム等の過硫酸塩が特に好ましい。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
Furthermore, in the water-insoluble matrix and / or water-soluble particles, abrasive grains, oxidizing agents, alkali metal hydroxides, acids, salts that generate acids when used, pH regulators, conventionally contained in the slurry, 1 type (s) or 2 or more types, such as surfactant and an anti-scratch agent, can be contained. As a result, polishing can be performed by supplying only water during polishing.
Examples of the abrasive grains include particles made of silica, alumina, ceria, zirconia, titania and the like. These can use 1 type (s) or 2 or more types.
Examples of the oxidizing agent include hydrogen peroxide, peracetic acid, perbenzoic acid, organic peroxides such as tert-butyl hydroperoxide, permanganic acid compounds such as potassium permanganate, and dichromic acids such as potassium dichromate. Examples thereof include compounds, halogen acid compounds such as potassium iodate, nitric acid compounds such as nitric acid and iron nitrate, perhalogen acid compounds such as perchloric acid, persulfates such as ammonium persulfate, and heteropolyacids. Of these oxidizing agents, persulfates such as ammonium persulfate are particularly preferred in addition to hydrogen peroxide and organic peroxide, which are harmless to decomposition products. These can use 1 type (s) or 2 or more types.

上記アルカリ金属の水酸化物としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化ルビジウム、及び水酸化セシウム等が挙げられる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
上記酸としては有機酸及び無機酸が挙げられる。このうち有機酸としては、パラトルエンスルホン酸、ドデシルベンゼンスルホン酸、イソプレンスルホン酸、グルコン酸、乳酸、クエン酸、酒石酸、リンゴ酸、グリコール酸、マロン酸、ギ酸、シユウ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸及びフタル酸等が挙げられる。また、無機酸としては、硝酸、塩酸及び硫酸等が挙げられる。これら酸は1種又は2種以上を用いることができる。
上記塩としては、上記酸のアンモニウム塩、ナトリウム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、カルシウム塩、マグネシウム塩等のアルカリ土類金属塩等が挙げられる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
Examples of the alkali metal hydroxide include sodium hydroxide, potassium hydroxide, rubidium hydroxide, and cesium hydroxide. These can use 1 type (s) or 2 or more types.
Examples of the acid include organic acids and inorganic acids. Among these, as the organic acid, p-toluenesulfonic acid, dodecylbenzenesulfonic acid, isoprenesulfonic acid, gluconic acid, lactic acid, citric acid, tartaric acid, malic acid, glycolic acid, malonic acid, formic acid, oxalic acid, succinic acid, fumaric acid , Maleic acid and phthalic acid. Moreover, as an inorganic acid, nitric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, etc. are mentioned. These acids can be used alone or in combination of two or more.
Examples of the salt include alkali metal salts such as ammonium salts, sodium salts and potassium salts of the above acids, and alkaline earth metal salts such as calcium salts and magnesium salts. These can use 1 type (s) or 2 or more types.

上記界面活性剤としては、カチオン系、アニオン系及びノニオン系を挙げることができる。このうちカチオン系界面活性剤としては、脂肪族アミン塩、脂肪族アンモニウム塩等が挙げられる。また、アニオン系界面活性剤としては、脂肪酸石鹸、アルキルエーテルカルボン酸塩等のカルボン酸塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩、α−オレフィンスルホン酸塩等のスルホン酸塩、高級アルコール硫酸エステル塩、アルキルエーテル硫酸塩、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル硫酸塩等の硫酸エステル塩、アルキルリン酸エステル塩等のリン酸エステル塩などが挙げられる。更に、ノニオン系界面活性剤としては、ポリオキシエチレンアルキルエーテル等のエーテル型、グリセリンエステルのポリオキシエチレンエーテル等のエーテルエステル型、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、グリセリンエステル、ソルビタンエステル等のエステル型などが挙げられる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。   Examples of the surfactant include cationic, anionic and nonionic. Among these, examples of the cationic surfactant include aliphatic amine salts and aliphatic ammonium salts. Examples of the anionic surfactant include fatty acid soaps, carboxylates such as alkyl ether carboxylates, sulfonates such as alkylbenzene sulfonates, alkylnaphthalene sulfonates, α-olefin sulfonates, and higher alcohol sulfates. Examples include ester salts, sulfate salts such as alkyl ether sulfates, polyoxyethylene alkylphenyl ether sulfates, and phosphate ester salts such as alkyl phosphate esters. Furthermore, examples of the nonionic surfactant include ether types such as polyoxyethylene alkyl ether, ether ester types such as glycerol ester polyoxyethylene ether, and ester types such as polyethylene glycol fatty acid ester, glycerol ester and sorbitan ester. It is done. These can use 1 type (s) or 2 or more types.

上記スクラッチ防止剤としては、ビフェノール、ビピリジル、2−ビニルピリジン及び4−ビニルピリジン、サリチルアルドキシム、o−フェニレンジアミン及びm−フェニレンジアミン、カテコール、o−アミノフェノール、チオ尿素、N−アルキル基含有(メタ)アクリルアミド、N−アミノアルキル基含有(メタ)アクリルアミド、7−ヒドロキシ−5−メチル−1,3,4−トリアザインドリジン、5−メチル−1H−ベンゾトリアゾール、フタラジン、メラミン及び3−アミノ−5,6−ジメチル−1,2,4−トリアジン等が挙げられる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。   As said anti-scratch agent, biphenol, bipyridyl, 2-vinylpyridine and 4-vinylpyridine, salicylaldoxime, o-phenylenediamine and m-phenylenediamine, catechol, o-aminophenol, thiourea, N-alkyl group contained (Meth) acrylamide, N-aminoalkyl group-containing (meth) acrylamide, 7-hydroxy-5-methyl-1,3,4-triazaindolizine, 5-methyl-1H-benzotriazole, phthalazine, melamine and 3- Examples include amino-5,6-dimethyl-1,2,4-triazine. These can use 1 type (s) or 2 or more types.

また、非水溶性マトリックスは、上記相溶化剤、上記従来からスラリーに含有されている各種材料以外に、充填剤、軟化剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、滑剤、可塑剤等の各種の添加剤を含有することができる。このうち充填剤としては炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、タルク、クレー等の剛性を向上させる材料、及びシリカ、アルミナ、セリア、チタニア、ジルコニア、二酸化マンガン、三酸化二マンガン、炭酸バリウム等の研磨効果を備える材料等を用いてもよい。   In addition, the water-insoluble matrix includes, in addition to the above-mentioned compatibilizer and various materials conventionally contained in the slurry, fillers, softeners, antioxidants, ultraviolet absorbers, antistatic agents, lubricants, plasticizers, etc. These various additives can be contained. Among these, as fillers, materials that improve rigidity such as calcium carbonate, magnesium carbonate, talc, clay, etc., and polishing effects such as silica, alumina, ceria, titania, zirconia, manganese dioxide, dimanganese trioxide, barium carbonate, etc. A material or the like may be used.

前述の研磨パッド用組成物は、未架橋非水溶性マトリックスと未架橋非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する未架橋研磨パッド用組成物を架橋処理して得ることができる。更に、この未架橋非水溶性マトリックスは未架橋1,2−ポリブタジエンと、未架橋1,2−ポリブタジエン及び未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体の両方を除く他の未架橋重合体を含有し、未架橋1,2−ポリブタジエンは未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に10質量%以上であり、架橋処理により未架橋1,2−ポリブタジエン及び他の未架橋重合体の各々の少なくとも一部が架橋されるものとすることができる。   The above-described polishing pad composition can be obtained by crosslinking an uncrosslinked polishing pad composition containing an uncrosslinked water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the uncrosslinked water-insoluble matrix. . Further, the uncrosslinked water-insoluble matrix contains uncrosslinked 1,2-polybutadiene and other uncrosslinked polymers except both uncrosslinked 1,2-polybutadiene and uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymers, The uncrosslinked 1,2-polybutadiene is 10% by mass or more when the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass, and each of the uncrosslinked 1,2-polybutadiene and other uncrosslinked polymers by the crosslinking treatment is used. It can be at least partially crosslinked.

未架橋非水溶性マトリックスは、架橋処理されて前記非水溶性マトリックスとなる。未架橋PBDは、架橋処理時に少なくとも一部が架橋される。架橋された部分は前記架橋PBDとなる。未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に未架橋PBDの含有量は、10質量%以上であり、15質量%以上であることが好ましく、20質量%以上であることがより好ましく、30質量%以上であることが特に好ましい。未架橋PBDの含有量が10質量%未満であると、架橋後の非水溶性マトリックス中に含有される架橋PBDの量が10質量%未満となる場合があり、架橋PBDが含有される効果が十分に得られ難くなる場合がある。   The non-crosslinked water-insoluble matrix is crosslinked to become the water-insoluble matrix. Uncrosslinked PBD is at least partially crosslinked during the crosslinking treatment. The cross-linked portion becomes the cross-linked PBD. When the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass, the content of uncrosslinked PBD is 10% by mass or more, preferably 15% by mass or more, and more preferably 20% by mass or more. 30% by mass or more is particularly preferable. When the content of uncrosslinked PBD is less than 10% by mass, the amount of crosslinked PBD contained in the water-insoluble matrix after crosslinking may be less than 10% by mass, and the effect of containing crosslinked PBD is obtained. It may be difficult to obtain enough.

架橋PBD及び架橋EVAを除く他の未架橋重合体は、架橋処理時に少なくとも一部が架橋され、前記他の架橋重合体となる。他の未架橋重合体としては、前述の熱可塑性樹脂、エラストマー、ゴム及び硬化性樹脂等の未架橋物を挙げることができる。更に、他の未架橋重合体は前記と同様に変性されていてもよい。これらは1種のみであってもよく、2種以上であってもよい。
これらの未架橋重合体の中でも、ポリエチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリアクリル系樹脂、ビニルエステル系樹脂、飽和ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂及びポリアセタール系樹脂の未架橋重合体のうちの少なくとも1種が好ましい。これらは1種のみであってもよく、2種以上であってもよい。これらが好ましい理由は前述の通りである。
他の未架橋重合体の含有量は、未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に、5質量%以上であることが好ましく、10質量%以上であることがより好ましく、20質量%以上であることが特に好ましい。但し、他の未架橋重合体は90質量%以下である。他の未架橋重合体の含有量が5質量%未満であると得られる研磨パッドにおいて前記(1)及び(2)の効果が十分に発揮されない場合がある。
Other uncrosslinked polymers other than crosslinked PBD and crosslinked EVA are at least partially crosslinked during the crosslinking treatment to become the other crosslinked polymers. Examples of other uncrosslinked polymers include uncrosslinked products such as the aforementioned thermoplastic resins, elastomers, rubbers, and curable resins. Furthermore, other uncrosslinked polymers may be modified in the same manner as described above. These may be one kind or two or more kinds.
Among these uncrosslinked polymers, polyethylene resins, acrylonitrile-styrene-butadiene copolymers, styrene-butadiene-styrene copolymers, polyacrylic resins, vinyl ester resins, saturated polyester resins, polyamide resins and polyacetals. At least one of the uncrosslinked polymers of the resin is preferable. These may be one kind or two or more kinds. The reason why these are preferable is as described above.
The content of other uncrosslinked polymer is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and more preferably 20% by mass when the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass. % Or more is particularly preferable. However, other uncrosslinked polymer is 90 mass% or less. In the polishing pad obtained when the content of the other uncrosslinked polymer is less than 5% by mass, the effects (1) and (2) may not be sufficiently exhibited.

上記未架橋PBD及び他の未架橋重合体の好ましい含有量は各々の組合せとすることができる。即ち、例えば、未架橋PBDが10〜95質量%であり且つ他の未架橋重合体が5〜90質量%であることが好ましく、未架橋PBDが15〜95質量%であり且つ他の未架橋重合体が5〜85質量%であることがより好ましく、未架橋PBDが20〜90質量%であり且つ他の未架橋重合体が10〜80質量%であることが特に好ましく、未架橋PBDが30〜80質量%であり且つ他の未架橋重合体が20〜70質量%であることがとりわけ好ましい。   The preferred contents of the uncrosslinked PBD and other uncrosslinked polymers can be combined with each other. That is, for example, the uncrosslinked PBD is preferably 10 to 95% by mass and the other uncrosslinked polymer is preferably 5 to 90% by mass, the uncrosslinked PBD is 15 to 95% by mass and other uncrosslinked The polymer is more preferably 5 to 85% by mass, the uncrosslinked PBD is 20 to 90% by mass, and the other uncrosslinked polymer is particularly preferably 10 to 80% by mass, and the uncrosslinked PBD is It is particularly preferred that it is 30 to 80% by mass and the other uncrosslinked polymer is 20 to 70% by mass.

架橋処理は、未架橋PBD及び他の未架橋重合体の少なくとも一部を架橋する処理である。この架橋処理においては、未架橋PBDと他の未架橋重合体とは共架橋されても、共架橋されなくてもよい。また、未架橋PBDの架橋と他の未架橋重合体の架橋とを同時に行ってもよく、いずれか一方を先に行い他方を後から行ってもよい。また、架橋を行う方法は特に限定されず、有機過酸化物、硫黄、硫黄化合物等を用いて化学架橋、加熱により熱架橋、及び電子線照射等により放射線架橋などにより行うことができる。これらの中でも、架橋効率が良好であるため有機過酸化物を用いた架橋を行うことが好ましい。
更に、この架橋処理は、架橋処理後の非水溶性マトリックス中の架橋PBDの量が10質量%以上となるものであり、未架橋PBDの架橋度が5%以上となるものであることが好ましく、10%以上となるものであることがより好ましく、15%以上となるものであることが特に好ましい。更には、架橋度が100%となってもよい。
The crosslinking treatment is a treatment for crosslinking at least a part of the uncrosslinked PBD and other uncrosslinked polymers. In this crosslinking treatment, the uncrosslinked PBD and other uncrosslinked polymer may or may not be co-crosslinked. Further, the crosslinking of the uncrosslinked PBD and the crosslinking of the other uncrosslinked polymer may be performed simultaneously, and either one may be performed first and the other may be performed later. The method for crosslinking is not particularly limited, and can be performed by chemical crosslinking using organic peroxide, sulfur, sulfur compounds, etc., thermal crosslinking by heating, radiation crosslinking by electron beam irradiation, or the like. Among these, since the crosslinking efficiency is good, it is preferable to perform crosslinking using an organic peroxide.
Furthermore, in this crosslinking treatment, the amount of crosslinked PBD in the water-insoluble matrix after crosslinking treatment is preferably 10% by mass or more, and the degree of crosslinking of uncrosslinked PBD is preferably 5% or more. It is more preferably 10% or more, and particularly preferably 15% or more. Furthermore, the degree of crosslinking may be 100%.

また、未架橋研磨パッド用組成物を得る方法は特に限定されないが、例えば、所定の有機材料等の必要な材料を混練機等により混練して得ることができる。混練機としては従来より公知のものを用いることができる。例えば、ロール、ニーダー、バンバリーミキサー、押出機(単軸、多軸)等の混練機を挙げることができる。但し、混練する際には、混練し易いように加熱して混練されるが、この時の温度において水溶性化合物が固体であることが好ましい。固体であることにより、未架橋非水溶性マトリックスとの相溶性の大きさに関わらず水溶性粒子を前記の好ましい平均粒径で分散させることができる。従って、使用する未架橋非水溶性マトリックスの加工温度により、水溶性粒子の種類を選択することが好ましい。   The method for obtaining the composition for an uncrosslinked polishing pad is not particularly limited. For example, a necessary material such as a predetermined organic material can be kneaded with a kneader or the like. A conventionally known kneader can be used. Examples thereof include kneaders such as rolls, kneaders, Banbury mixers, and extruders (single screw and multi screw). However, when kneading, it is kneaded by heating so that it can be easily kneaded, but it is preferable that the water-soluble compound is solid at this temperature. By being a solid, water-soluble particles can be dispersed at the preferred average particle diameter regardless of the compatibility with the uncrosslinked water-insoluble matrix. Therefore, it is preferable to select the type of water-soluble particles depending on the processing temperature of the uncrosslinked water-insoluble matrix used.

[2]本発明の研磨パッド用組成物
上記「非水溶性マトリックス」は、研磨パッドの研磨部、更には研磨パッド全体を構成する母相である。この非水溶性マトリックスには水溶性粒子が分散されて含有される。
[2] Composition for Polishing Pad of the Present Invention The “water-insoluble matrix” is a parent phase constituting the polishing portion of the polishing pad and further the entire polishing pad. The water-insoluble matrix contains water-soluble particles dispersed therein.

EVAの酢酸ビニル単位の含有量は特に限定されないが、通常、3質量%以上である。3質量%未満であると縦弾性率の温度依存性を低減する効果が十分に得られ難くなる場合がある。この酢酸ビニル単位の含有量は5〜50質量%であることが好ましく、5〜30質量%であることがより好ましく、10〜30質量%であることが特に好ましい。酢酸ビニル単位の含有量が50質量%を超えると、過架橋となり易く、十分な靭性を保持し難くなる場合がある。   Although the content of the vinyl acetate unit in EVA is not particularly limited, it is usually 3% by mass or more. If it is less than 3% by mass, it may be difficult to sufficiently obtain the effect of reducing the temperature dependence of the longitudinal elastic modulus. The vinyl acetate unit content is preferably 5 to 50% by mass, more preferably 5 to 30% by mass, and particularly preferably 10 to 30% by mass. When the content of the vinyl acetate unit exceeds 50% by mass, overcrosslinking tends to occur, and it may be difficult to maintain sufficient toughness.

本発明の研磨パッド用組成物を構成する非水溶性マトリックスは、前記[1]と同様に破断残留伸びを100%以下とすることができる。
更に、温度0〜80℃の間の縦弾性率の変化量を1000MPa以下(更には800MPa以下、特に600MPa以下)に抑えることができる。これにより、特に研磨時及びドレッシング時に摺動等による発熱によって研磨部及び研磨パッドが過度に軟化することが防止される。
また、温度20〜50℃の間では、温度差10℃の間における縦弾性率の変化量を500MPa以下(更には400MPa以下、特に200MPa以下)に抑えることができる。これにより、非水溶性マトリックスの温度依存性はより緩やかに変化することとなり、温度による軟化具合を予測し易く、研磨状態を制御し易くなる。
この縦弾性率は、引張りモードでの縦断性率を測定することができる粘弾性測定器等を用いて、初期負荷100g、最大ひずみ0.01%、周波数0.2Hzとして測定した場合の値である。
The water-insoluble matrix constituting the polishing pad composition of the present invention can have a residual elongation at break of 100% or less as in [1].
Furthermore, the amount of change in the longitudinal elastic modulus between the temperatures of 0 to 80 ° C. can be suppressed to 1000 MPa or less (further 800 MPa or less, particularly 600 MPa or less). Thereby, it is possible to prevent the polishing portion and the polishing pad from being excessively softened due to heat generated by sliding or the like particularly during polishing and dressing.
Further, when the temperature is 20 to 50 ° C., the amount of change in the longitudinal elastic modulus during the temperature difference of 10 ° C. can be suppressed to 500 MPa or less (further 400 MPa or less, particularly 200 MPa or less). As a result, the temperature dependence of the water-insoluble matrix changes more gradually, and it becomes easier to predict the degree of softening due to temperature and to control the polishing state.
This longitudinal elastic modulus is a value when measured with an initial load of 100 g, a maximum strain of 0.01%, and a frequency of 0.2 Hz, using a viscoelasticity measuring device or the like that can measure the longitudinal property ratio in the tensile mode. is there.

上記「水溶性粒子」は、前記[1]における水溶性粒子をそのまま適用できる。また、非水溶性マトリックスは前記[1]と同様に相溶化剤を含有できる。更に、非水溶性マトリックス及び/又は水溶性粒子中は前記[1]と同様に従来からスラリーに含有されている砥粒、酸化剤、アルカリ金属の水酸化物、酸、使用時に酸を発生する塩、pH調節剤、界面活性剤及びスクラッチ防止剤等の1種又は2種以上を含有できる。   As the “water-soluble particles”, the water-soluble particles in [1] can be applied as they are. Further, the water-insoluble matrix can contain a compatibilizing agent as in the above [1]. Further, in the water-insoluble matrix and / or the water-soluble particles, as in [1] above, abrasives, oxidizing agents, alkali metal hydroxides, acids, and acids that are conventionally contained in the slurry are generated. It can contain 1 type (s) or 2 or more types, such as a salt, a pH adjuster, surfactant, and an anti-scratch agent.

この[2]に記載の研磨パッド用組成物は、未架橋非水溶性マトリックスと未架橋非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する未架橋研磨パッド用組成物を架橋処理して得る。更に、この未架橋非水溶性マトリックスは未架橋PBDと未架橋EVAとを含有し、未架橋PBDは未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に10質量%以上であり、未架橋PBDは未架橋PBDと未架橋EVAとの合計を100質量%とした場合に50質量%以上であり、且つ、架橋処理により未架橋1,2−ポリブタジエン及び未架橋EVAの各々の少なくとも一部が架橋される。   The polishing pad composition according to [2] is obtained by crosslinking an uncrosslinked polishing pad composition containing an uncrosslinked water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the uncrosslinked water-insoluble matrix. Get. Further, the uncrosslinked water-insoluble matrix contains uncrosslinked PBD and uncrosslinked EVA, and the uncrosslinked PBD is 10% by mass or more when the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass. PBD is 50% by mass or more when the total of uncrosslinked PBD and uncrosslinked EVA is 100% by mass, and at least a part of each of uncrosslinked 1,2-polybutadiene and uncrosslinked EVA is obtained by the crosslinking treatment. Cross-linked.

未架橋非水溶性マトリックスは、架橋処理されて前記非水溶性マトリックスとなる。未架橋PBDは、架橋処理時に少なくとも一部が架橋される。架橋された部分は架橋PBDとなる。未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に未架橋PBDの含有量は、10質量%以上であり、15質量%以上であることが好ましく、20質量%以上であることがより好ましく、30質量%以上であることが特に好ましい。未架橋PBDの含有量が10質量%未満であると、架橋後の非水溶性マトリックス中に含有される架橋PBDの量が10質量%未満となる場合があり、架橋PBDが含有される効果が十分に得られ難くなる場合がある。   The non-crosslinked water-insoluble matrix is crosslinked to become the water-insoluble matrix. Uncrosslinked PBD is at least partially crosslinked during the crosslinking treatment. The crosslinked part becomes a crosslinked PBD. When the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass, the content of uncrosslinked PBD is 10% by mass or more, preferably 15% by mass or more, and more preferably 20% by mass or more. 30% by mass or more is particularly preferable. When the content of uncrosslinked PBD is less than 10% by mass, the amount of crosslinked PBD contained in the water-insoluble matrix after crosslinking may be less than 10% by mass, and the effect of containing crosslinked PBD is obtained. It may be difficult to obtain enough.

未架橋EVAは、架橋処理時に少なくとも一部が架橋される。架橋された部分は架橋EVAとなる。未架橋非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に未架橋EVAの含有量は5質量%以上であることが好ましく、10質量%以上であることがより好ましく、20質量%以上であることが特に好ましく、30質量%以上であることがとりわけ好ましい。但し、未架橋EVAは未架橋PBDとの合計を100質量%とした場合に未架橋PBDが50質量%以上となる範囲で含有される。未架橋EVAの含有量が5質量%未満であると架橋後の非水溶性マトリックス中に含有される架橋EVAが5質量%未満となる場合があり、架橋EVAが含有される効果が十分に得られ難くなる場合がある。
また、未架橋EVAの酢酸ビニル単位の含有量は特に限定されないが、前述の架橋EVAと同様な理由から前述の範囲とすることが好ましい。
Uncrosslinked EVA is at least partially crosslinked during the crosslinking treatment. The cross-linked portion becomes cross-linked EVA. When the entire uncrosslinked water-insoluble matrix is 100% by mass, the content of uncrosslinked EVA is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and 20% by mass or more. Is particularly preferable, and particularly preferably 30% by mass or more. However, uncrosslinked EVA is contained in a range where the uncrosslinked PBD is 50% by mass or more when the total with the uncrosslinked PBD is 100% by mass. If the content of uncrosslinked EVA is less than 5% by mass, the crosslinked EVA contained in the water-insoluble matrix after crosslinking may be less than 5% by mass, and the effect of containing the crosslinked EVA is sufficiently obtained. It may be difficult to get caught.
Further, the content of the vinyl acetate unit in the uncrosslinked EVA is not particularly limited, but is preferably within the above-mentioned range for the same reason as the above-mentioned crosslinked EVA.

また、非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に、未架橋PBDの含有量(X)と未架橋EVAの含有量(Y)との好ましい組合せとしては、例えば、Xが10質量%を超えYが5質量%以上であり且つ{X/(X+Y)×100}>50であることが好ましく、Xが20質量%を超えYが10質量%以上であり且つ{X/(X+Y)×100}>50であることがより好ましく、Xが30質量%を超えYが15質量%以上であり且つ{X/(X+Y)×100}>50であることが特に好ましく、Xが40質量%を超え、Yが20質量%以上であり且つ{X/(X+Y)×100}>50であることがとりわけ好ましい。 In addition, when the total amount of the water-insoluble matrix is 100% by mass, a preferable combination of the content of uncrosslinked PBD (X 2 ) and the content of uncrosslinked EVA (Y 2 ) is, for example, X 2 of 10 It is preferable that Y 2 exceeds 5% by mass and is 5% by mass or more and {X 2 / (X 2 + Y 2 ) × 100}> 50, X 2 exceeds 20% by mass and Y 2 is 10% by mass or more. And more preferably {X 2 / (X 2 + Y 2 ) × 100}> 50, X 2 exceeds 30 mass%, Y 2 is 15 mass% or more, and {X 2 / (X 2 + Y 2 ) × 100}> 50, X 2 is more than 40% by mass, Y 2 is 20% by mass or more and {X 2 / (X 2 + Y 2 ) × 100}> 50 It is particularly preferred that there is.

更に、未架橋非水溶性マトリックスには、未架橋PBD及び未架橋EVA以外にも他の重合体を含有することができる。他の重合体としては、前記[1]に挙げた熱可塑性樹脂、エラストマー、ゴム及び硬化性樹脂等の未架橋重合体や、これらの未架橋重合体のうちの1種が架橋されてなる架橋重合体や、これらの未架橋重合体のうちの2種以上が共架橋されてなる架橋重合体等を挙げることができる。中でも、ポリエチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体、ポリアクリル系樹脂、ビニルエステル系樹脂、飽和ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂及びポリアセタール系樹脂の未架橋物うちの少なくとも1種が好ましい。   Further, the uncrosslinked water-insoluble matrix can contain other polymers in addition to uncrosslinked PBD and uncrosslinked EVA. Other polymers include uncrosslinked polymers such as the thermoplastic resins, elastomers, rubbers, and curable resins listed in [1] above, and crosslinks obtained by crosslinking one of these uncrosslinked polymers. Examples thereof include a polymer and a crosslinked polymer obtained by co-crosslinking two or more of these uncrosslinked polymers. Among them, polyethylene resins, acrylonitrile-styrene-butadiene copolymers, styrene-butadiene-styrene copolymers, polyacrylic resins, vinyl ester resins, saturated polyester resins, polyamide resins and polyacetal resins At least one of these is preferred.

架橋処理は、未架橋PBD及び未架橋EVAの少なくとも一部を架橋する処理である。この架橋処理においては、未架橋PBDと未架橋EVAとは共架橋されても、共架橋されなくてもよい。また、未架橋PBDの架橋と未架橋EVAの架橋とを同時に行ってもよく、いずれか一方を先に行い他方を後から行ってもよい。また、架橋を行う方法は特に限定されず、有機過酸化物、硫黄、硫黄化合物等を用いて化学架橋、加熱により熱架橋、及び電子線照射等により放射線架橋などにより行うことができる。これらの中でも、架橋効率が良好であるため有機過酸化物を用いた架橋を行うことが好ましい。
更に、この架橋処理は、架橋処理後の非水溶性マトリックス中の架橋PBDの量が10質量%以上となるものであり、未架橋PBD及び未架橋EVAの架橋度が各々5%以上となるものであることが好ましく、10%以上となるものであることがより好ましく、15%以上となるものであることが特に好ましい。更には、各々の架橋度が100%となってもよい。
The crosslinking treatment is a treatment for crosslinking at least a part of uncrosslinked PBD and uncrosslinked EVA. In this crosslinking treatment, the uncrosslinked PBD and the uncrosslinked EVA may be co-crosslinked or may not be co-crosslinked. Further, the crosslinking of the uncrosslinked PBD and the crosslinking of the uncrosslinked EVA may be performed at the same time, either one may be performed first and the other may be performed later. The method for crosslinking is not particularly limited, and can be performed by chemical crosslinking using organic peroxide, sulfur, sulfur compounds, etc., thermal crosslinking by heating, radiation crosslinking by electron beam irradiation, or the like. Among these, since the crosslinking efficiency is good, it is preferable to perform crosslinking using an organic peroxide.
Further, in this crosslinking treatment, the amount of crosslinked PBD in the water-insoluble matrix after crosslinking treatment is 10% by mass or more, and the degree of crosslinking of uncrosslinked PBD and uncrosslinked EVA is 5% or more, respectively. Preferably, it is 10% or more, more preferably 15% or more. Furthermore, the degree of crosslinking of each may be 100%.

また、未架橋研磨パッド用組成物を得る方法は特に限定されず、前記[1]と同様にして得ることができる。更に、使用する未架橋非水溶性マトリックスの加工温度により、水溶性粒子の種類を選択することが好ましいことも前記[1]と同様である。   The method for obtaining the composition for an uncrosslinked polishing pad is not particularly limited, and can be obtained in the same manner as in the above [1]. Furthermore, as in the above [1], it is preferable to select the type of water-soluble particles depending on the processing temperature of the uncrosslinked water-insoluble matrix to be used.

[3]研磨パッド
本発明の研磨パッドは、本発明の研磨パッド用組成物からなる研磨部を備える。上記「研磨部」は、研磨パッドの全部又は一部であって、研磨パッドの研磨に供される側の面の全部又は一部を構成する。この研磨部はスラリーや水等の供給により被研磨体に対して研磨効果を発揮できる部分である。研磨パッドのうち研磨部により構成される大きさは特に限定されないが、研磨パッドの研磨に供される側の面の少なくとも50%以上(より好ましくは80%以上、更に好ましくは90%以上)であることが好ましい。研磨部により構成される部分が上記面の50%未満であるとこの研磨部を備える効果が十分に発揮され難い場合がある。
[3] Polishing pad The polishing pad of the present invention includes a polishing portion made of the polishing pad composition of the present invention. The “polishing part” is the whole or a part of the polishing pad and constitutes the whole or a part of the surface of the polishing pad used for polishing. This polishing portion is a portion that can exert a polishing effect on the object to be polished by supplying slurry, water, or the like. The size constituted by the polishing portion of the polishing pad is not particularly limited, but is at least 50% or more (more preferably 80% or more, more preferably 90% or more) of the surface of the polishing pad that is used for polishing. Preferably there is. If the portion constituted by the polishing portion is less than 50% of the surface, the effect of providing this polishing portion may not be sufficiently exhibited.

また、本発明の研磨パッドは、本発明の研磨パッド用組成物からなる研磨部以外に他の機能を有する部分を備えることができる。他の機能を有する部分としては、例えば、光学式終点検出装置を用いて終点を検出するための窓部等を挙げることができる。窓部としては、例えば、厚さ2mmにおいて、波長100〜300nmの間のいずれかの波長の光の透過率が0.1%以上(好ましくは2%以上)であるか、又は、波長100〜3000nmの間のいずれかの波長域における積算透過率が0.1%以上(好ましくは2%以上)である材料を用いることができる。
更に、本発明の研磨パッドは、本発明の研磨パッド用組成物からなる研磨部以外にも他の研磨パッド用組成物からなる研磨部を備えることもできる。
Moreover, the polishing pad of this invention can be provided with the part which has another function other than the grinding | polishing part which consists of a composition for polishing pads of this invention. Examples of the part having other functions include a window part for detecting an end point using an optical end point detection device. As a window part, for example, at a thickness of 2 mm, the transmittance of light of any wavelength between 100 and 300 nm is 0.1% or more (preferably 2% or more), or a wavelength of 100 to 300 nm. A material having an integrated transmittance of 0.1% or more (preferably 2% or more) in any wavelength region between 3000 nm can be used.
Furthermore, the polishing pad of this invention can also be equipped with the grinding | polishing part which consists of a composition for polishing pads other than the grinding | polishing part which consists of a composition for polishing pads of this invention.

この研磨パッドの形状は特に限定されないが、例えば、円盤状、ベルト状、ローラー状等とすることができ、研磨装置に応じて適宜選択することが好ましい。また、使用前における研磨パッドの大きさも特に限定されないが、円盤状の研磨パッドでは、例えば、直径0.5〜500cm(更に1.0〜250cm、特に20〜200cm)、厚さ0.1〜100mm(特に1〜10mm)とすることができる。また、本発明の研磨パッドの研磨面には、必要に応じて溝を設けることができる。溝を備えることによりスラリーを研磨面の隅々に行き渡らせ、また、一時的に滞留させる効果を発揮できる。更に、研磨時に生じる研磨屑等の廃棄物を効率よく排出する経路となる。溝の形状は特に限定されず、環状、螺旋状、格子状、ドットパターン状等とすることができる。
また、本発明の研磨パッドの製造方法は特に限定されないが、金型を用いて成形することができる。また、シート状に成形した後、所定の形状に打ち抜いて得ることができる。更に、ブロック状に成形した後、所定の形状にスライスして得ることができる。
Although the shape of this polishing pad is not particularly limited, it can be, for example, a disk shape, a belt shape, a roller shape, etc., and is preferably selected as appropriate according to the polishing apparatus. Further, the size of the polishing pad before use is not particularly limited, but for a disc-shaped polishing pad, for example, the diameter is 0.5 to 500 cm (further 1.0 to 250 cm, particularly 20 to 200 cm), and the thickness is 0.1 to 0.1 cm. It can be set to 100 mm (particularly 1 to 10 mm). Moreover, a groove | channel can be provided in the polishing surface of the polishing pad of this invention as needed. By providing the grooves, it is possible to exert the effect of spreading the slurry to every corner of the polishing surface and temporarily retaining the slurry. Furthermore, it becomes a path | route which discharges | emits wastes, such as grinding | polishing waste generated at the time of grinding | polishing efficiently. The shape of the groove is not particularly limited, and may be an annular shape, a spiral shape, a lattice shape, a dot pattern shape, or the like.
Moreover, the manufacturing method of the polishing pad of this invention is not specifically limited, It can shape | mold using a metal mold | die. Further, after forming into a sheet shape, it can be obtained by punching into a predetermined shape. Furthermore, after shaping into a block shape, it can be obtained by slicing into a predetermined shape.

[4]複層型研磨パッド
本発明の研磨パッドと、この研磨パッドの裏面側(研磨に供される面の反対面側)に配された支持層とを備えることにより複層型研磨パッドを得ることができる。
支持層は、研磨パッドを裏面側で支える層である。この支持層の特性は特に限定されないが、研磨パッドに比べてより軟質であることが好ましい。より軟質な支持層を備えることにより、研磨パッドの厚さが薄い(例えば、0.5mm以下)場合であっても、研磨時に研磨パッドが浮き上がることや、研磨パッドの表面が湾曲すること等を防止でき、安定して研磨を行うことができる。この支持層の硬度は、研磨パッドの硬度の90%以下(更には80%以下、特に70%以下、通常10%以上)であることが好ましい。更には、ショアD硬度において70以下(より好ましくは60以下、更に好ましくは50以下、通常1以上)であることが好ましい。
[4] Multi-layer type polishing pad A multi-layer type polishing pad comprising the polishing pad of the present invention and a support layer disposed on the back side of this polishing pad (the side opposite to the surface used for polishing). Obtainable.
The support layer is a layer that supports the polishing pad on the back surface side. The characteristics of the support layer are not particularly limited, but are preferably softer than the polishing pad. By providing a softer support layer, even when the thickness of the polishing pad is thin (for example, 0.5 mm or less), the polishing pad is lifted during polishing or the surface of the polishing pad is curved. It can prevent and can polish stably. The hardness of the support layer is preferably 90% or less (more preferably 80% or less, particularly 70% or less, usually 10% or more) of the hardness of the polishing pad. Furthermore, the Shore D hardness is preferably 70 or less (more preferably 60 or less, still more preferably 50 or less, usually 1 or more).

また、支持層は、多孔質体(発泡体)であっても、非多孔質体であってもよい。更に、その平面形状は特に限定されず、研磨パッドと同じであっても異なっていてもよい。この支持層の平面形状としては、例えば、円形、多角形(四角形等)などとすることができる。また、その厚さも特に限定されないが、例えば、0.1〜5mm(更に好ましくは0.5〜2mm)とすることができる。但し、例えば、研磨パッドが光学式終点検出装置を用いて終点を検出するための窓部を備える場合には、この窓部を透過する光を遮らないように、研磨パッドと同様な窓部又は同じ窓部を備えることや、窓部を備えず光が通過する切り欠かれた形状とすることもできる。   The support layer may be a porous body (foam) or a non-porous body. Furthermore, the planar shape is not particularly limited, and may be the same as or different from the polishing pad. The planar shape of the support layer can be, for example, a circle or a polygon (such as a quadrangle). Moreover, although the thickness is not specifically limited, for example, it can be 0.1-5 mm (more preferably 0.5-2 mm). However, for example, when the polishing pad is provided with a window for detecting the end point using an optical end point detection device, a window portion similar to that of the polishing pad or the like so as not to block light transmitted through the window portion. The same window part can be provided, or it can also be set as the notched shape which does not have a window part but light passes.

支持層を構成する材料も特に限定されないが、所定の形状及び性状への成形が容易であり、適度な弾性等を付与できることなどから有機材料を用いることが好ましい。有機材料としては、前記研磨パッドにおける非水溶性マトリックスを構成する各種重合体を適用することができる。但し、支持層を構成する有機材料は架橋重合体であっても、未架橋重合体であってもよい。
また、支持層は1層のみを備えていてもよく、2層以上を備えていてもよい。また、この支持層と研磨パッドとは直接接して積層されていてもよく、他の層を介して積層されていてもよい。更に、支持層は、研磨パッド又は他の層に接着剤、接着材(接着テープ等)などにより接着されていてもよく、部分的に溶融されることにより一体的に接合されていてもよい。
The material constituting the support layer is not particularly limited, but it is preferable to use an organic material because it can be easily molded into a predetermined shape and properties and can be provided with appropriate elasticity. As the organic material, various polymers constituting the water-insoluble matrix in the polishing pad can be applied. However, the organic material constituting the support layer may be a crosslinked polymer or an uncrosslinked polymer.
In addition, the support layer may include only one layer or may include two or more layers. Moreover, this support layer and polishing pad may be laminated | stacked in direct contact, and may be laminated | stacked through another layer. Furthermore, the support layer may be bonded to the polishing pad or other layers with an adhesive, an adhesive (such as an adhesive tape) or the like, or may be integrally bonded by being partially melted.

これらの本発明の研磨パッドや、複層型研磨パッドは、前記架橋PBDを含有することにより弾性回復力が付与される。加えて、他の架橋重合体を含有することにより優れた成形性及び耐摩耗性が付与される。このため、CMPにおいても特に高い平坦性が要求されるSTI、Al及びCu等のメタル配線、Al、Cu及びW等を用いたビアプラグ、層間絶縁膜(酸化膜、Low−k及びBPSG等)、窒化膜(TaN及びTiN等)、ポリシリコン、ベアシリコン等の研磨に好適である。   These polishing pads and multilayer polishing pads of the present invention are provided with an elastic recovery force by containing the crosslinked PBD. In addition, excellent moldability and wear resistance are imparted by containing other cross-linked polymers. Therefore, even in CMP, metal wiring such as STI, Al and Cu, which requires particularly high flatness, via plugs using Al, Cu and W, interlayer insulating films (oxide film, Low-k, BPSG, etc.), It is suitable for polishing a nitride film (TaN, TiN, etc.), polysilicon, bare silicon, etc.

以下、実例により本発明を具体的に説明する。
[1]研磨パッドの製造
例1(実施例)
未架橋1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール株式会社製、品名「JSR RB830」)70質量部と、未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体(東ソー株式会社製、品名「ウルトラセン630」)30質量部と、水溶性粒子であるβ−サイクロデキストリン(横浜国際バイオ研究所株式会社製、品名「デキシパールβ−100」、平均粒径20μm)40質量部と、を160℃に調温された二軸押し出し機を用いて混練した。その後、有機過酸化物(日本油脂株式会社製、品名「パークミルD40」)1.0質量部を添加してさらに混練した。この混練物を170℃調温された金型内で18分間保持して架橋処理を行い、直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。得られた研磨パッドにおいて、熱分解ガスクロマトグラフ法(以下、単に「Py−GC」という)による非水溶性マトリックス中の1,2−ポリブタジエンの含有量は72質量%であった。更に、研磨パッド全体を100体積%とした場合の水溶性粒子の体積割合は約21体積%であった(非水溶性マトリックスと水溶性粒子との合計を100体積%とした場合も同じ)。
Hereinafter, the present invention will be described specifically by experiment examples.
[1] a polishing pad manufacturing Experiment Example 1 (Example)
70 parts by mass of uncrosslinked 1,2-polybutadiene (manufactured by JSR Corporation, product name “JSR RB830”) and 30 parts by mass of uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer (manufactured by Tosoh Corporation, product name “Ultrasen 630”) And 40 parts by mass of water-soluble particles β-cyclodextrin (Yokohama International Bio-Laboratory Co., Ltd., product name “Dexipal β-100”, average particle size 20 μm) are biaxially extruded at 160 ° C. It knead | mixed using the machine. Thereafter, 1.0 part by mass of an organic peroxide (Nippon Yushi Co., Ltd., product name “Park Mill D40”) was added and further kneaded. This kneaded product was held in a mold controlled at 170 ° C. for 18 minutes for crosslinking treatment to obtain a polishing pad having a diameter of 60 cm and a thickness of 3 mm. In the obtained polishing pad, the content of 1,2-polybutadiene in the water-insoluble matrix by pyrolysis gas chromatography (hereinafter simply referred to as “Py-GC”) was 72 mass%. Furthermore, the volume ratio of the water-soluble particles when the entire polishing pad was 100% by volume was about 21% by volume (the same applies when the total of the water-insoluble matrix and the water-soluble particles was 100% by volume).

例2(実施例)
未架橋1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール株式会社製、品名「JSR RB830」)を55質量部とし、未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体(東ソー株式会社製、品名「ウルトラセン630」)を45質量部とした以外は実施例1と同様にして直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。得られた研磨パッドにおいて、Py−GCによる非水溶性マトリックス中の1,2−ポリブタジエンの含有量は58質量%であった。更に、水溶性粒子の体積割合は実例1と同じように約21体積%であった。
Experimental Example 2 (Example)
55 parts by mass of uncrosslinked 1,2-polybutadiene (product name “JSR RB830” manufactured by JSR Corporation) and 45 units of uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer (product name “Ultrasen 630” manufactured by Tosoh Corporation) A polishing pad with a diameter of 60 cm and a thickness of 3 mm was obtained in the same manner as in Example 1 except that the mass part was changed. In the obtained polishing pad, the content of 1,2-polybutadiene in the water-insoluble matrix by Py-GC was 58% by mass. Furthermore, the volume ratio of the water-soluble particles was about 21% by volume in the same manner as Experiment Example 1.

例3(参考例)
未架橋1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール株式会社製、品名「JSR RB830」)を70質量部とし、未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体に換えて未架橋ポリエチレン(日本ポリケム株式会社製、品名「YF30」)を30質量部とした以外は、実例1と同様に二軸押し出し機により混練した。その後、有機過酸化物(日本油脂株式会社製、品名「パークミルD40」)の添加量を1.0質量部とした以外は実例1と同様にして直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。得られた研磨パッドにおいて、Py−GCによる非水溶性マトリックス中の1,2−ポリブタジエンの含有量は73質量%であった。更に、水溶性粒子の体積割合は実例1と同じように約21体積%であった。
Experimental Example 3 (Reference Example)
70 parts by mass of uncrosslinked 1,2-polybutadiene (product name “JSR RB830” manufactured by JSR Co., Ltd.) is used instead of an uncrosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer. YF30 ") except that the 30 parts by mass were kneaded by experiments the same manner as in example 1, a twin-screw extruder. Thereafter, an organic peroxide (NOF Corporation, product name "Percumyl D40") Similarly diameter 60cm a except for using 1.0 part by weight amount as Experiment Example 1, a polishing pad of thickness 3mm Obtained. In the obtained polishing pad, the content of 1,2-polybutadiene in the water-insoluble matrix by Py-GC was 73% by mass. Furthermore, the volume ratio of the water-soluble particles was about 21% by volume in the same manner as Experiment Example 1.

比較例1
未架橋1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール株式会社製、品名「JSR RB830」)100質量部と、水溶性粒子であるβ−サイクロデキストリン(横浜国際バイオ研究所株式会社製、品名「デキシパールβ−100」、平均粒径20μm)40質量部と、を160℃に調温された二軸押し出し機を用いて混練した。その後、有機過酸化物(日本油脂株式会社製、品名「パークミルD40」)を0.3質量部添加してさらに混練した。この混練物を170℃に調温された金型内で18分間保持して架橋処理を行い、直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。得られた研磨パッドにおいて、Py−GCによる非水溶性マトリックス中の1,2−ポリブタジエンの含有量は96質量%であった。更に、水溶性粒子の体積割合は実例1と同じように約21体積%であった。
Comparative Example 1
100 parts by mass of uncrosslinked 1,2-polybutadiene (product name “JSR RB830”, manufactured by JSR Corporation) and β-cyclodextrin (product of Yokohama International Bio-Laboratory Co., Ltd., product name “Dexipearl β-100” manufactured by JSR Corporation) And 40 parts by mass of an average particle diameter of 20 μm) were kneaded using a biaxial extruder adjusted to 160 ° C. Thereafter, 0.3 parts by mass of an organic peroxide (Nippon Yushi Co., Ltd., product name “Park Mill D40”) was added and further kneaded. This kneaded product was held in a mold adjusted to 170 ° C. for 18 minutes for crosslinking treatment to obtain a polishing pad having a diameter of 60 cm and a thickness of 3 mm. In the obtained polishing pad, the content of 1,2-polybutadiene in the water-insoluble matrix by Py-GC was 96% by mass. Furthermore, the volume ratio of the water-soluble particles was about 21% by volume in the same manner as Experiment Example 1.

[2]成形性の評価
例1〜3及び比較例1と同様に研磨パッドを各々20枚製造した。但し、脱型を行う時、異なる2つの脱型方法を用いた。一方は、成形品の一端を治具で掴み、成形機横の戴置台までそのまま運搬した。他方は、成形品の下に薄い金属板を挿入し、成形品がたわまないように、この金属板を掴んで成形機横の戴置台までそのまま運搬した。各脱型方法を用いて各々10枚ずつの研磨パッドを製造した。この結果、得られた研磨パッドを観察し、割れ又は亀裂が目視により認められた研磨パッドを数え、製造した総数に対して割れ又は亀裂が認められた割合を算出した。この結果を表1に示した。
[2] was produced, respectively 20 pieces of the polishing pad in the same manner as the evaluation of moldability experiments Examples 1-3 and Comparative Example 1. However, two different demolding methods were used when demolding. On the other hand, one end of the molded product was grasped with a jig and transported as it was to the mounting table beside the molding machine. On the other hand, a thin metal plate was inserted under the molded product, and this metal plate was gripped and conveyed as it was to the mounting table beside the molding machine so that the molded product would not bend. Ten polishing pads were manufactured for each mold removal method. As a result, the obtained polishing pad was observed, the polishing pads in which cracks or cracks were visually recognized were counted, and the ratio of cracks or cracks to the total number produced was calculated. The results are shown in Table 1.

Figure 2008149458
Figure 2008149458

[3]耐摩耗性の評価
例1〜3及び比較例1で得られた研磨パッドから試験片を切り出し、JIS K 6264に従ってDIN摩耗試験機を用いた摩耗容積を測定した。この結果を表1に併記した。
[3] Test pieces were cut out from the polishing pad obtained in the abrasion resistance evaluation experiments Examples 1-3 and Comparative Example 1 were measured wear volume with DIN abrasion tester according to JIS K 6264. The results are also shown in Table 1.

[4]縦弾性率の温度依存性の評価
固体用の粘弾性測定器(レオメトリック・サイエンティフィック社製、形式「RSAII」)を使用し、2.5mm×1.0mmの短冊状の試験片を用いて、−20〜100℃、初期負荷100g、最大歪み0.01%、周波数0.2Hzの条件下において引張モードで縦弾性率を測定した。そして、0〜80℃の間の縦弾性率の変化量を算出し、表1に併記した。
[4] Evaluation of the temperature dependence of the longitudinal elastic modulus Using a solid viscoelasticity measuring device (Rheometric Scientific, model “RSAII”), a strip test of 2.5 mm × 1.0 mm Using the piece, the longitudinal elastic modulus was measured in the tensile mode under the conditions of -20 to 100 ° C., initial load 100 g, maximum strain 0.01%, frequency 0.2 Hz. And the variation | change_quantity of the longitudinal elastic modulus between 0-80 degreeC was computed, and it described together in Table 1.

表1の結果より、未架橋非水溶性マトリックスが未架橋PBDのみからなる比較例1では、脱型時に割れを30%の確率で生じており、補助板を使用することが好ましいことが分かる。また、得られた研磨パッドにおいては、縦弾性率の変化量及び摩耗容積が実施例に比べて大きいことが分かる。
これに対して、実例1〜3では、脱型時に補助板を使用しなくとも割れを全く生じておらず、比較例に比べると成形性に優れていることが分かる。また、縦弾性率の変化量も600〜800MPaと小さい。特に架橋EVAを含有する実例1及び実例2では、比較例1に比べると縦弾性率の変化量が25〜38%小さくなっていることが分かる。更に、摩耗容積は200〜350cmであり、比較例1に比べると30〜60%小さくなっていることが分かる。従って、架橋PBDに加えて他の架橋重合体を含有する研磨パッドでは、成形性及び耐摩耗性に優れていることが分かる。また、特に他の架橋重合体が架橋EVAである場合には縦弾性率の変化量が低減されることが分かる。
From the results of Table 1, it can be seen that in Comparative Example 1 in which the uncrosslinked water-insoluble matrix is composed only of uncrosslinked PBD, cracks occur with a probability of 30% during demolding, and it is preferable to use an auxiliary plate. Moreover, in the obtained polishing pad, it turns out that the variation | change_quantity and wear volume of a longitudinal elastic modulus are large compared with an Example.
In contrast, in Experiment Examples 1 to 3, not produce any cracking without using the auxiliary plate during demolding, it found to be excellent in moldability compared to the comparative example. Further, the amount of change in the longitudinal elastic modulus is as small as 600 to 800 MPa. In particular experiment example 1 and experiment example contains a crosslinking EVA 2, it can be seen that the variation of the longitudinal elastic modulus becomes 25 to 38% smaller than in Comparative Example 1. Further, the wear volume is 200 to 350 cm 3 , which is 30 to 60% smaller than that of Comparative Example 1. Therefore, it can be seen that the polishing pad containing another crosslinked polymer in addition to the crosslinked PBD is excellent in moldability and wear resistance. It can also be seen that the amount of change in the longitudinal elastic modulus is reduced particularly when the other crosslinked polymer is crosslinked EVA.

Claims (5)

非水溶性マトリックスと該非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する研磨パッド用組成物において、該非水溶性マトリックスは架橋1,2−ポリブタジエンと、架橋1,2−ポリブタジエン及び架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体の両方を除く他の架橋重合体とを含有し、該架橋1,2−ポリブタジエンは、該非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に10質量%以上であることを特徴とする研磨パッド用組成物。 In a polishing pad composition comprising a water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the water-insoluble matrix, the water-insoluble matrix comprises crosslinked 1,2-polybutadiene, crosslinked 1,2-polybutadiene and crosslinked ethylene. -Other cross-linked polymer excluding both vinyl acetate copolymer, and the cross-linked 1,2-polybutadiene is 10% by mass or more when the total amount of the water-insoluble matrix is 100% by mass. A polishing pad composition. 非水溶性マトリックスと該非水溶性マトリックス中に分散された水溶性粒子とを含有する研磨パッド用組成物において、該非水溶性マトリックスは架橋1,2−ポリブタジエンと架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体とを含有し、該架橋1,2−ポリブタジエンは該非水溶性マトリックス全体を100質量%とした場合に10質量%以上であり、且つ、該架橋1,2−ポリブタジエンは該架橋1,2−ポリブタジエンと該架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体との合計を100質量%とした場合に50質量%以上であることを特徴とする研磨パッド用組成物。 In a polishing pad composition comprising a water-insoluble matrix and water-soluble particles dispersed in the water-insoluble matrix, the water-insoluble matrix comprises a crosslinked 1,2-polybutadiene and a crosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer. The crosslinked 1,2-polybutadiene is 10% by mass or more when the total amount of the water-insoluble matrix is 100% by mass, and the crosslinked 1,2-polybutadiene comprises the crosslinked 1,2-polybutadiene and the crosslinked 1,2-polybutadiene. A polishing pad composition characterized by being 50% by mass or more when the total of the cross-linked ethylene-vinyl acetate copolymer is 100% by mass. 上記非水溶性マトリックスは、更に、架橋1,2−ポリブタジエン及び架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体の両方を除く他の架橋重合体を含有する請求項2記載の研磨パッド用組成物。 The polishing pad composition according to claim 2, wherein the water-insoluble matrix further contains another crosslinked polymer excluding both the crosslinked 1,2-polybutadiene and the crosslinked ethylene-vinyl acetate copolymer. 上記他の架橋重合体は、架橋ポリエチレン重合体、架橋アクリロニトリル−スチレン−ブタジエン共重合体、及び架橋スチレン−ブタジエン−スチレン共重合体のうちの少なくとも1種である請求項1又は3に記載の研磨パッド用組成物。 The polishing according to claim 1 or 3, wherein the other crosslinked polymer is at least one of a crosslinked polyethylene polymer, a crosslinked acrylonitrile-styrene-butadiene copolymer, and a crosslinked styrene-butadiene-styrene copolymer. Pad composition. 請求項1乃至4のうちのいずれか1項に記載の研磨パッド用組成物からなる研磨部を備えることを特徴とする研磨パッド。 A polishing pad comprising a polishing portion comprising the polishing pad composition according to any one of claims 1 to 4.
JP2008052550A 2008-03-03 2008-03-03 Composition for polishing pad and polishing pad using this composition Pending JP2008149458A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008052550A JP2008149458A (en) 2008-03-03 2008-03-03 Composition for polishing pad and polishing pad using this composition

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008052550A JP2008149458A (en) 2008-03-03 2008-03-03 Composition for polishing pad and polishing pad using this composition

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002245830A Division JP4259069B2 (en) 2002-08-26 2002-08-26 Polishing pad composition and polishing pad using the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008149458A true JP2008149458A (en) 2008-07-03

Family

ID=39652198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008052550A Pending JP2008149458A (en) 2008-03-03 2008-03-03 Composition for polishing pad and polishing pad using this composition

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008149458A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012056021A (en) * 2010-09-09 2012-03-22 Jsr Corp Chemical mechanical polishing pad and chemical mechanical polishing method using the same

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000034416A (en) * 1998-05-15 2000-02-02 Jsr Corp Polymer composition and abrasive pad
JP2002134445A (en) * 2000-10-24 2002-05-10 Jsr Corp Composition for polishing pads and polishing pad using the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000034416A (en) * 1998-05-15 2000-02-02 Jsr Corp Polymer composition and abrasive pad
JP2002134445A (en) * 2000-10-24 2002-05-10 Jsr Corp Composition for polishing pads and polishing pad using the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012056021A (en) * 2010-09-09 2012-03-22 Jsr Corp Chemical mechanical polishing pad and chemical mechanical polishing method using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100584050B1 (en) Composition for Polishing Pad and Polishing Pad Therewith
JP4039214B2 (en) Polishing pad
US7097550B2 (en) Chemical mechanical polishing pad
KR100792102B1 (en) Composition for Polishing Pad and Polishing Pad Using the Same
KR100890090B1 (en) Polishing Pad for Semiconductor Wafer and Polishing Process Using the Same
JP2004025407A (en) Polishing pad for chemicomechanical polishing
JP3849582B2 (en) Polishing pad and multilayer polishing pad
TWI280903B (en) Polishing pad
JP4798103B2 (en) Polishing pad
JP4259069B2 (en) Polishing pad composition and polishing pad using the same
JP2008149458A (en) Composition for polishing pad and polishing pad using this composition
JP2004146704A (en) Polishing pad for semiconductor wafer and working method therefor
JP2004083722A (en) Composition for polishing pad, and polishing pad using the same
JP3849594B2 (en) Polishing pad
JP4155790B2 (en) Chemical mechanical polishing method and polishing pad for element miniaturization separation
JP3849593B2 (en) Polishing pad and multilayer polishing pad
JP3867629B2 (en) Polishing pad and multilayer polishing pad
JP3938082B2 (en) Polishing pad
JP2005051237A (en) Chemical mechanical polishing method for pad
JP2009252891A (en) Chemical mechanical polishing pad, and chemical mechanical polishing method
JP2008073845A (en) Manufacturing method of chemical mechanical polishing pad
JP2005051234A (en) Pad and method for chemical mechanical polishing
JP2006237202A (en) Pad for chemical mechanical polishing and chemical mechanical polishing method

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080326

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080326

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100617

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019