JP2008145291A - Electron beam irradiation device - Google Patents

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Atsushi Murase
淳 村瀬
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Ushio Denki KK
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Ushio Denki KK
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron beam irradiation device for surely and easily irradiating an electron beam to an electron beam irradiating object without performing partial and excessive irradiation even if the object is tubular solid-shaped. <P>SOLUTION: This electron beam irradiation device is made by disposing an electron beam generator in its interior with a vacuum state formed therein. This beam irradiation device is equipped with an electron beam tube, comprising an electron beam exit window for emitting an electron beam generated in the beam generator and a casing having an electron beam tube housing space for housing the beam tube therein. This beam irradiation device is provided with an electron beam application nozzle that extends in the emission direction of the electron beam emitted from the exit window of the beam tube and used for therethrough guiding the electron beam emitted from the exit window. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子ビーム照射装置に関し、更に詳しくは、開口を有する有底筒状の形態の容器を滅菌処理するために用いられる電子ビーム照射装置に関する。   The present invention relates to an electron beam irradiation apparatus, and more particularly to an electron beam irradiation apparatus used for sterilizing a container having a bottomed cylindrical shape having an opening.

例えば医薬品、飲料水、化粧水などの人体に適用する物質を充填するための容器は、人体に有害な菌が繁殖することを回避するために滅菌処理を施すことが必要とされており、従来、この滅菌処理の方法としては、エチレンオキサイドガス(EOG)や過酸化水素(H2 2 )ガスを容器に対して吹き付ける手法、赤外線または紫外線を容器に対して照射する手法などが知られている。 For example, containers for filling substances that are applied to the human body, such as pharmaceuticals, drinking water, and lotions, need to be sterilized in order to avoid the growth of germs harmful to the human body. As the sterilization method, a method of blowing ethylene oxide gas (EOG) or hydrogen peroxide (H 2 O 2 ) gas to the container, a method of irradiating the container with infrared rays or ultraviolet rays, and the like are known. Yes.

しかしながら、エチレンオキサイドガスや過酸化水素ガスを用いた滅菌処理は、薬剤が容器に残留することが問題とされており、また、赤外線または紫外線を用いた滅菌処理は、容器が樹脂や紙などの熱に弱い材質のものである場合には、容器が変質してしまうおそれがあるために適用することができないという問題がある。
而して、近年、滅菌処理の方法として、容器に対して電子ビームを照射する手法が着目されており、この電子ビームを用いた滅菌処理によれば、薬剤が容器に残留することもなく、また容器が熱に弱い材質よりなるものであっても、当該容器が変質するおそれがなくなる、と期待されている。
However, the sterilization treatment using ethylene oxide gas or hydrogen peroxide gas has a problem that the drug remains in the container, and the sterilization treatment using infrared rays or ultraviolet rays is not suitable for the container such as resin or paper. In the case of a material that is weak against heat, there is a problem that the container cannot be applied because there is a possibility that the container may be altered.
Thus, in recent years, as a method of sterilization treatment, a technique of irradiating an electron beam to a container has been attracting attention. According to sterilization treatment using this electron beam, a drug does not remain in the container, Further, even if the container is made of a material that is weak against heat, it is expected that the container is not likely to be altered.

一方、電子ビーム照射装置の或る種のものは、図6に示すように、例えばガラスよりなる有底筒状のバルブ21を備え、このバルブ21の開口21Aが、電子ビーム出射窓23を有する円板状の蓋部22によって閉塞され、これにより密閉された内部が真空状態とされており、この真空状態が形成された内部に、カソード(図示せず)を備えた電子ビーム発生器24が配設され、電子ビーム発生器24において発生した電子ビームが電子ビーム出射窓23から放射される構成を有する電子ビーム管20を具備してなるものである。この電子ビーム管20は、例えばエポキシ樹脂によってモールド化されたケーシング62における、柱状であって当該ケーシング62の一面62Aに形成された開口62Bによって開放された状態の電子ビーム管収容空間63内に、電子ビーム出射窓23がケーシング62の開口62Bが形成されている一面62A側(図1において下側)に位置するよう挿入された状態で蓋部22がケーシング62の一面62Aに適宜の手法で固定されることによって固設されている。
ここに、電子ビーム管20の電子ビーム出射窓23は、蓋部22の中央部分に形成された電子ビーム出射孔22Aを閉塞するよう設けられており、例えばシリコン製の肉厚1〜3μmの薄膜よりなるものである。
図6において、16は、電子ビーム管20と電気的に絶縁した状態となるよう、モールド化されたケーシング62に埋設されている高圧トランスであり、19は、高圧トランス16に電気的に接続された制御ユニットであり、68は、ケーシング62の外部に設置されたガス供給手段(図示せず)から供給されるガスを電子ビーム管収容空間63内に流入させるためのガス流路であり、26は、電子ビーム発生器24のカソードに対して給電をするための給電端子であり、27は、複数の給電端子26を束ねるためのベースであり、18は、高圧トランス16に接続されている給電線17の先端に設けられたコネクタである。
On the other hand, as shown in FIG. 6, a certain type of electron beam irradiation apparatus includes a bottomed cylindrical bulb 21 made of glass, for example, and an opening 21 </ b> A of the bulb 21 has an electron beam exit window 23. The inside sealed by the disk-shaped lid portion 22 and thus sealed is in a vacuum state, and an electron beam generator 24 having a cathode (not shown) is provided in the inside where the vacuum state is formed. The electron beam tube 20 is provided and has a configuration in which the electron beam generated by the electron beam generator 24 is emitted from the electron beam emission window 23. The electron beam tube 20 has a columnar shape in a casing 62 molded with, for example, an epoxy resin, and the electron beam tube 20 is opened in an electron beam tube accommodating space 63 opened by an opening 62B formed on one surface 62A of the casing 62. The lid portion 22 is fixed to the one surface 62A of the casing 62 by an appropriate method in a state where the electron beam exit window 23 is inserted so as to be positioned on the one surface 62A side (lower side in FIG. 1) where the opening 62B of the casing 62 is formed. It is fixed by being done.
Here, the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 20 is provided so as to close the electron beam emission hole 22A formed in the center portion of the lid portion 22, and is a thin film made of silicon having a thickness of 1 to 3 μm, for example. It is made up of.
In FIG. 6, reference numeral 16 denotes a high voltage transformer embedded in a molded casing 62 so as to be electrically insulated from the electron beam tube 20, and 19 is electrically connected to the high voltage transformer 16. 68 is a gas flow path for allowing a gas supplied from a gas supply means (not shown) installed outside the casing 62 to flow into the electron beam tube accommodating space 63. Is a power supply terminal for supplying power to the cathode of the electron beam generator 24, 27 is a base for bundling a plurality of power supply terminals 26, and 18 is a power supply connected to the high-voltage transformer 16. A connector provided at the tip of the electric wire 17.

このような構成を有する電子ビーム照射装置を用いて容器の滅菌処理を行う場合においては、電子ビーム照射対象体である容器が開口を有する有底筒状の形態の立体的なものであるため、開口を上方にして正立した状態の容器に対して開口側から電子ビームを照射(図6参照)したのでは、容器の線量分布が均一にならないことに起因して弊害が生じる、という問題がある。
すなわち、電子ビームの照射線量が電子ビームが放射される電子ビーム出射窓からの離間距離が大きくなるに従って小さくなるため、電子ビーム照射対象体である容器における線量が最も小さくなる部分(具体的には底部)において必要とされる線量を得ようとすれば、線量が最も大きくなる部分(具体的には開口部)においては電子ビームが過剰に照射されることとなることから、容器における線量が最も大きくなる部分が部分的に劣化してしまう、という問題がある。
In the case of performing sterilization of a container using an electron beam irradiation apparatus having such a configuration, since the container that is an electron beam irradiation target is a three-dimensional shape with a bottomed cylindrical shape having an opening, When an electron beam is irradiated from the opening side to an upright container with the opening facing upward (see FIG. 6), there is a problem in that the dose distribution of the container is not uniform, resulting in an adverse effect. is there.
That is, since the irradiation dose of the electron beam becomes smaller as the distance from the electron beam exit window from which the electron beam is emitted becomes larger, the portion where the dose in the container which is the electron beam irradiation target is the smallest (specifically, If the required dose at the bottom) is to be obtained, the electron beam is excessively irradiated at the portion where the dose is highest (specifically, the opening), so the dose in the container is the highest. There is a problem in that the enlarged portion is partially degraded.

而して、電子ビーム照射装置を用いて容器の滅菌処理を行う場合には、例えば図7に示すように、電子ビーム照射対象体である容器(図の例においては紙コップ)70に、当該容器70に関する線量分布に基づいて遮蔽構造体、具体的には、紙コップにおける例えば飲み食口および飲み口部分近辺の側面などの線量が大きくなる部分に電子ビームを部分的に遮蔽するための飲み口用遮蔽部71Aおよび側面用遮蔽部71Bよりなる遮蔽構造体71を設け、この遮蔽構造体71の上から電子ビームを照射することが行われている(例えば、特許文献1参照。)。
このような手法によれば、電子ビーム照射対象体である容器70に対して所定の線量を均一に照射することができることから、容器70に確実に滅菌処理を施すことができると共に、当該容器70自体が電子ビームが照射されることによって部分的に劣化することを回避することができる、と期待されている。
Thus, when performing sterilization of a container using an electron beam irradiation apparatus, for example, as shown in FIG. 7, the container (paper cup in the example of the figure) 70 is a target object. Based on the dose distribution with respect to the container 70, specifically, a drinking structure for partially shielding the electron beam on a portion of the paper cup where the dose becomes large, such as a drinking mouth and a side surface near the drinking mouth. A shielding structure 71 including a mouth shielding part 71A and a side shielding part 71B is provided, and an electron beam is irradiated from above the shielding structure 71 (see, for example, Patent Document 1).
According to such a method, since the predetermined dose can be uniformly irradiated to the container 70 that is the electron beam irradiation target object, the container 70 can be surely sterilized and the container 70 can be reliably treated. It is expected that the device itself can be partially degraded by being irradiated with an electron beam.

しかしながら、このように遮蔽構造体を用いて電子ビーム照射装置によって滅菌処理を行う手法においては、電子ビームの照射前には、電子ビーム照射対象体である容器に遮蔽構造体を取り付け、かつ電子ビームの照射後には容器から遮蔽構造体を除去して回収する必要があるため、作業工数が増加してしまう、という問題があり、また遮蔽構造体を容器に取り付けるため、遮蔽構造体によって容器が汚染されることのないよう、遮蔽構造体に対しても滅菌処理を施さなくてはならないため、新たに準備作業が必要となり、結果として作業工数が増加してしまう、という問題もある。   However, in the method of performing sterilization using an electron beam irradiation apparatus using the shielding structure in this way, before the electron beam irradiation, the shielding structure is attached to the container that is the electron beam irradiation object, and the electron beam After the irradiation, it is necessary to remove and collect the shielding structure from the container, resulting in an increase in work man-hours. Also, since the shielding structure is attached to the container, the container is contaminated by the shielding structure. Since the shielding structure must be sterilized so as not to occur, a new preparation work is required, resulting in an increase in the number of work steps.

特開平8−151021号公報JP-A-8-151021

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、電子ビーム照射対象体が筒状の立体的なものであっても、電子ビーム照射対象体に対して電子ビームの照射を、部分的に過剰に照射することなく、確実かつ容易に行うことのできる電子ビーム照射装置を提供することにある。   The present invention has been made based on the circumstances as described above, and the object thereof is to provide an electron beam to the electron beam irradiation object even if the electron beam irradiation object is a cylindrical three-dimensional object. An object of the present invention is to provide an electron beam irradiation apparatus capable of reliably and easily performing beam irradiation without partially irradiating excessively.

本発明の電子ビーム照射装置は、真空状態が形成された内部に電子ビーム発生器が配設されてなり、当該電子ビーム発生器において発生した電子ビームを放射するための電子ビーム出射窓を有する電子ビーム管と、当該電子ビーム管を収容するための電子ビーム管収容空間を有するケーシングとを備えた電子ビーム照射装置であって、
前記電子ビーム管の電子ビーム出射窓から放射される電子ビームの放射方向に伸び、電子ビーム出射窓から放射される電子ビームを導通するための電子ビーム照射ノズルが設けられていることを特徴とする。
The electron beam irradiation apparatus of the present invention includes an electron beam generator disposed inside a vacuum state, and an electron beam emitting window for emitting an electron beam generated by the electron beam generator. An electron beam irradiation apparatus comprising a beam tube and a casing having an electron beam tube housing space for housing the electron beam tube,
An electron beam irradiation nozzle that extends in the radiation direction of the electron beam emitted from the electron beam emission window of the electron beam tube and conducts the electron beam emitted from the electron beam emission window is provided. .

本発明の電子ビーム照射装置においては、電子ビーム管の電子ビーム出射窓が露出された状態となるよう形成されたガス流路が設けられていることが好ましい。
このような構成の電子ビーム照射装置においては、ガス流路が、ケーシングに形成された、電子ビーム管を冷却するための冷却ガスを流動させるための領域を有し、当該冷却ガスが不活性ガスであることが好ましい。
In the electron beam irradiation apparatus of the present invention, it is preferable to provide a gas flow path formed so that the electron beam exit window of the electron beam tube is exposed.
In the electron beam irradiation apparatus having such a configuration, the gas flow path has a region formed in the casing for flowing a cooling gas for cooling the electron beam tube, and the cooling gas is an inert gas. It is preferable that

本発明の電子ビーム照射装置においては、電子ビーム照射対象体が電子ビーム管に向かう方向に移動することを規制するための位置決めストッパが設けられていることが好ましい。   In the electron beam irradiation apparatus of the present invention, it is preferable that a positioning stopper for restricting movement of the electron beam irradiation object in the direction toward the electron beam tube is provided.

本発明の電子ビーム照射装置においては、電子ビーム管をケーシングにおける電子ビーム管収容空間内に固設するための電子ビーム管ホルダが設けられており、当該電子ビーム管ホルダに電子ビーム照射ノズルが設けられていることが好ましい。   In the electron beam irradiation apparatus of the present invention, an electron beam tube holder for fixing the electron beam tube in the electron beam tube housing space in the casing is provided, and the electron beam irradiation nozzle is provided in the electron beam tube holder. It is preferable that

本発明の電子ビーム照射装置は、電子ビーム照射ノズルが筒状の電子ビーム照射対象体の開口から挿入され、その状態において電子ビーム照射対象体に対して電子ビームが照射されることを特徴とする。   The electron beam irradiation apparatus of the present invention is characterized in that an electron beam irradiation nozzle is inserted from an opening of a cylindrical electron beam irradiation object, and in that state, the electron beam irradiation object is irradiated with the electron beam. .

本発明の電子ビーム照射装置によれば、電子ビーム管の電子ビーム出射窓から放射される電子ビームを導通するための電子ビーム照射ノズルが設けられており、電子ビーム照射対象体に対して電子ビームを、電子ビーム照射ノズルによって部分的に遮蔽した状態で照射することができるため、電子ビーム照射対象体が筒状の立体的なものであっても、電子ビーム照射対象体に対して電子ビームの照射を、部分的に過剰に照射することなく、確実かつ容易に行うことができる。
従って、電子ビーム照射対象体としての開口を有する有底筒状の形態の容器に対して確実かつ容易に滅菌処理を施すことができると共に、当該容器自体が電子ビームが照射されることによって部分的に劣化することを防止することができる。
According to the electron beam irradiation apparatus of the present invention, the electron beam irradiation nozzle for conducting the electron beam emitted from the electron beam emission window of the electron beam tube is provided, and the electron beam irradiation object is irradiated with the electron beam. Can be irradiated while being partially shielded by the electron beam irradiation nozzle, so that even if the electron beam irradiation target is a cylindrical three-dimensional object, the electron beam irradiation target Irradiation can be performed reliably and easily without partial excessive irradiation.
Therefore, the bottomed cylindrical container having an opening as an electron beam irradiation target can be sterilized reliably and easily, and the container itself is partially irradiated with the electron beam. It is possible to prevent deterioration.

また、本発明の電子ビーム照射装置においては、電子ビーム管の電子ビーム出射窓が露出された状態となるよう形成されたガス流路を設けることにより、当該ガス流路に適宜のガスを流動させることによって充填させ、これにより、電子ビーム出射窓および当該電子ビーム出射窓から放射される電子ビームが大気に曝されることを抑制することができると共に、当該電子ビーム出射窓から放射される電子ビームが通過する空間の酸素分圧を低下させることができるため、電子ビーム出射窓からの電子ビームの放射によってオゾンが発生することを防止することができ、その結果、電子ビーム出射窓がオゾンの発生に起因して酸化することを防止することができる。
このような構成の本発明の電子ビーム照射装置においては、ガス流路を、ケーシングに形成された、電子ビーム管を冷却するための冷却ガスを流動させるための領域を有するものとし、このガス流路に電子ビーム管を冷却するための不活性ガスよりなる冷却ガスを流動させることにより、上記の効果と共に、電子ビーム管に高い加速電圧が印加される場合においても、冷却ガスによる冷却作用によって電子ビーム管が高温になることに起因してケーシングが劣化することを抑制することができ、かつ冷却ガスが電子ビーム管の外表面に沿うよう流動されることによって当該電子ビーム管の外表面に発生した静電気が除去されることから、不要なアーク放電の発生を防止することができる。
Moreover, in the electron beam irradiation apparatus of the present invention, by providing a gas flow path formed so that the electron beam exit window of the electron beam tube is exposed, an appropriate gas flows in the gas flow path. Thus, the exposure of the electron beam exit window and the electron beam emitted from the electron beam exit window to the atmosphere can be suppressed, and the electron beam emitted from the electron beam exit window can be suppressed. Since the oxygen partial pressure in the space through which the gas passes can be reduced, it is possible to prevent the generation of ozone due to the emission of the electron beam from the electron beam exit window. As a result, the electron beam exit window generates ozone. Oxidation due to the above can be prevented.
In the electron beam irradiation apparatus of the present invention having such a configuration, the gas flow path has a region formed in the casing for flowing a cooling gas for cooling the electron beam tube. By flowing a cooling gas made of an inert gas for cooling the electron beam tube in the path, in addition to the above effect, even when a high acceleration voltage is applied to the electron beam tube, electrons are cooled by the cooling action of the cooling gas. The deterioration of the casing due to the high temperature of the beam tube can be suppressed, and the cooling gas is caused to flow along the outer surface of the electron beam tube, and is generated on the outer surface of the electron beam tube. Since the generated static electricity is removed, unnecessary arc discharge can be prevented.

また、本発明の電子ビーム照射装置においては、電子ビーム照射対象体が電子ビーム管に向かう方向に移動することを規制するための位置決めストッパを設けることにより、電子ビーム照射対象体を確実に所期の電子ビーム照射位置に配置することによって必要とされる線量の電子ビームを確実に照射することが容易にできると共に、電子ビーム照射対象体に対する電子ビーム照射の際に、当該電子ビーム照射対象体が移動して電子ビーム出射窓に接触することに起因して当該電子ビーム出射窓が破損することを防止することができる。   Further, in the electron beam irradiation apparatus of the present invention, by providing a positioning stopper for restricting the movement of the electron beam irradiation target object in the direction toward the electron beam tube, the electron beam irradiation target object is surely intended. When the electron beam irradiation target is irradiated with the electron beam, it is easy to reliably irradiate a required dose of the electron beam. It is possible to prevent the electron beam exit window from being damaged due to the movement and contact with the electron beam exit window.

以下、本発明について詳細に説明する。
図1は、本発明の電子ビーム照射装置の構成の一例を示す説明用概略図であり、図2は、図1の電子ビーム照射装置の要部を、電子ビーム照射対象体に電子ビームを照射している一状態で示す説明用部分拡大図であり、図3は、電子ビーム照射対象体に電子ビームを照射している他の状態を示す説明用部分拡大図である。
この電子ビーム照射装置10は、開口1Aを有する有底筒状の形態の容器(以下、「筒状容器」ともいう。)1を電子ビーム照射対象体として滅菌処理するためのものである。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining an example of the configuration of an electron beam irradiation apparatus according to the present invention, and FIG. 2 irradiates an electron beam irradiation target body with the main part of the electron beam irradiation apparatus of FIG. FIG. 3 is an explanatory partial enlarged view showing another state in which the electron beam irradiation target is irradiated with the electron beam.
The electron beam irradiation apparatus 10 is for sterilizing a bottomed cylindrical container (hereinafter also referred to as “cylindrical container”) 1 having an opening 1A as an electron beam irradiation target.

電子ビーム照射装置10は、例えばガラスよりなる有底筒状のバルブ21を備え、このバルブ21の開口21Aが、円板状の蓋部22によって閉塞され、これにより密閉された内部が真空状態とされており、この真空状態が形成された内部に、カソード(図示せず)を備えた電子ビーム発生器24が配設され、当該電子ビーム発生器24において発生した電子ビームが電子ビーム出射窓23から放射される構成を有する電子ビーム管20を具備してなるものである。この電子ビーム管20は、ケーシング12における、柱状であって当該ケーシング12の一面(以下、「開口形成面」ともいう。)12Aに形成された開口12Bによって開放された状態の電子ビーム管収容空間13内に、電子ビーム出射窓23がケーシング12の開口形成面12A側(図1において下側)に位置するよう挿入された状態で電子ビーム管ホルダ30によって固設されている。
ここに、電子ビーム管20の電子ビーム出射窓23は、蓋部22の中央部分に形成された電子ビーム出射孔22Aを閉塞するよう設けられており、例えばシリコン製の肉厚1〜3μmの薄膜よりなるものである。また、ケーシング12に形成されている電子ビーム管収容空間13は、電子ビーム管20の全長に適合した全長を有すると共に、電子ビーム管20における蓋部22の外径に適合した開口径を有し、開口形成面12A側に位置する、ケーシング12の開口12Bの開口径と同一の外径を有する蓋部固定空間と、当該蓋部固定空間の外径よりも小径かつ電子ビーム管20のバルブ21の外径よりも大径の外径を有するバルブ収容空間とよりなるものである。
The electron beam irradiation apparatus 10 includes a bottomed cylindrical bulb 21 made of glass, for example, and an opening 21A of the bulb 21 is closed by a disc-like lid portion 22 so that the sealed interior is in a vacuum state. An electron beam generator 24 having a cathode (not shown) is disposed inside the vacuum state, and the electron beam generated in the electron beam generator 24 is transmitted to the electron beam exit window 23. It comprises the electron beam tube 20 having a configuration radiated from. The electron beam tube 20 has a columnar shape in the casing 12 and is an electron beam tube housing space opened by an opening 12B formed on one surface (hereinafter also referred to as an “opening forming surface”) 12A of the casing 12. 13 is fixed by an electron beam tube holder 30 in a state where the electron beam exit window 23 is inserted so as to be positioned on the opening forming surface 12A side (lower side in FIG. 1) of the casing 12.
Here, the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 20 is provided so as to close the electron beam emission hole 22A formed in the central portion of the lid portion 22, and is a thin film made of silicon having a thickness of 1 to 3 μm, for example. It is made up of. The electron beam tube housing space 13 formed in the casing 12 has a total length that matches the total length of the electron beam tube 20 and an opening diameter that matches the outer diameter of the lid portion 22 of the electron beam tube 20. The lid fixing space having the same outer diameter as the opening diameter of the opening 12B of the casing 12 located on the opening forming surface 12A side, and the bulb 21 of the electron beam tube 20 having a smaller diameter than the outer diameter of the lid fixing space. And a valve housing space having an outer diameter larger than the outer diameter.

この電子ビーム照射装置10を構成する電子ビーム発生器24には、カソードに対して給電をするための給電端子26が複数接続されている。
これらの複数の給電端子26が、当該電子ビーム管20のバルブ21から外方に突出し、ベース27に束ねられた状態でケーシング12内に埋設されている高圧トランス16に接続された給電線17の先端に設けられたコネクタ18に嵌入されて接続されており、このようにして、電子ビーム管20が高圧トランス16に対して電気的に接続されている。 この図の例において、ケーシング12は、電子ビーム管20と高圧トランス16とを電気的に絶縁するために、例えばエポキシ樹脂などの絶縁材料によってモールド化されてなるものであり、当該ケーシング12には、外部に設置されたガス供給手段(図示せず)から供給されるガスを電子ビーム管収容空間13内に流入させるためのガス流路用溝14Aが形成されている。また、高圧トランス16は、ケーシング12外部に設置された制御ユニット19に接続されている。
A plurality of power supply terminals 26 for supplying power to the cathode are connected to the electron beam generator 24 constituting the electron beam irradiation apparatus 10.
The plurality of power supply terminals 26 protrude outward from the bulb 21 of the electron beam tube 20 and are connected to the high-voltage transformer 16 embedded in the casing 12 in a state of being bundled with the base 27. The electron beam tube 20 is electrically connected to the high-voltage transformer 16 by being inserted into and connected to a connector 18 provided at the tip. In the example of this figure, the casing 12 is molded by an insulating material such as an epoxy resin in order to electrically insulate the electron beam tube 20 and the high voltage transformer 16 from each other. A gas flow path groove 14A is formed for allowing a gas supplied from an external gas supply means (not shown) to flow into the electron beam tube accommodating space 13. The high voltage transformer 16 is connected to a control unit 19 installed outside the casing 12.

そして、電子ビーム照射装置10においては、電子ビーム管ホルダ30に、電子ビーム管20の電子ビーム出射窓23から放射される電子ビームの放射方向(図1において下方向)に伸び、当該電子ビーム出射窓23から放射される電子ビームを導通するための電子ビーム照射ノズルが設けられている。
この電子ビーム照射ノズルは、電子ビーム照射対象体である筒状容器1の開口1Aから挿入されるものであることから、筒状容器1の開口1Aの開口径および電子ビーム照射ノズルが挿入されるべき開口部分の内径よりも小径の外径を有するものであることが必要とされる。
ここに、電子ビーム照射ノズルは、例えばSUSおよびアルミニウムなどの電子ビームに対して非透過性を示す材質のものである。
In the electron beam irradiation apparatus 10, the electron beam tube holder 30 extends in the radiation direction (downward in FIG. 1) of the electron beam emitted from the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 20, and emits the electron beam. An electron beam irradiation nozzle for conducting an electron beam emitted from the window 23 is provided.
Since this electron beam irradiation nozzle is inserted from the opening 1A of the cylindrical container 1 which is an electron beam irradiation object, the opening diameter of the opening 1A of the cylindrical container 1 and the electron beam irradiation nozzle are inserted. It is necessary to have an outer diameter smaller than the inner diameter of the power opening portion.
Here, the electron beam irradiation nozzle is made of a material that is impermeable to an electron beam such as SUS and aluminum.

また、電子ビーム管ホルダ30には、筒状容器1が電子ビーム管20に向かう方向(図1において上方向)に移動することを規制するための位置決めストッパが設けられている。   The electron beam tube holder 30 is provided with a positioning stopper for restricting the cylindrical container 1 from moving in the direction toward the electron beam tube 20 (upward in FIG. 1).

この図の例においては、電子ビーム管ホルダ30は、電子ビーム照射ノズルと位置決めストッパとが一体的に設けられてなる構成のものである。この電子ビーム管ホルダ30は、全体が円筒形を有する、電子ビーム管20を所定の位置に固定するための位置決め固定部31と、当該位置決め固定部31の外径に適合した外径の円板形態を有する、筒状容器1が電子ビーム管20に向かう方向に移動することを規制するための位置決めストッパ部33と、位置決め固定部31よりも小径の円筒形態を有する電子ビーム照射ノズル部35とを有し、その外観形状が、外径の異なる2つの円筒体が重ね合わせられてなる形態のものである。また、この電子ビーム管ホルダ30においては、その中心軸を含む軸方向に平行な断面における内表面側の形状は、位置決め固定部31に、電子ビーム管20の蓋部22に適合した形状を有する電子ビーム管組込み空間31Aと、当該電子ビーム管組込み空間31Aに連続し、電子ビーム管組込み空間31Aの外径よりも小さく、かつ電子ビーム出射窓23によって閉塞されている電子ビーム出射孔22Aの孔径よりも大きい外径を有する電子ビーム通過空間31Bとが形成されていることから、その内径が電子ビームの放射方向に向かうに従って中心軸に向かう方向に階段状に傾斜されなる形態とされている。 また、電子ビーム管ホルダ30には、位置決め固定部31側の端面と、当該位置決め固定部31における電子ビーム通過空間31Bを囲繞する内面との各々に開口を有するガス流路用溝37Aが形成されており、このガス流路用溝37Aは、ケーシング12に形成されている、電子ビーム管収容空間13のバルブ収容空間を囲繞する内面と、ケーシング12の開口形成面12Aとの各々に開口を有するガス流路用溝14Bに連通されている。
図2および図3において、36は、ガス抜き孔であり、このガス抜き孔36は、電子ビーム照射ノズル部35の外径と筒状容器1の開口1Aの開口径および開口部分の内径との差が小さい場合には、電子ビーム管収容空間13および電子ビーム管ホルダ30の内部にガス供給手段から供給されるガスが滞留することを抑制するために設けられていることが好ましく、その孔径は、電子ビーム照射ノズル部35を経由して筒状容器1内にガスが充填されることを阻害することがないよう、例えば2mmとされている。
In the example of this figure, the electron beam tube holder 30 has a configuration in which an electron beam irradiation nozzle and a positioning stopper are integrally provided. The electron beam tube holder 30 has a cylindrical shape as a whole, a positioning fixing portion 31 for fixing the electron beam tube 20 at a predetermined position, and an outer diameter disc adapted to the outer diameter of the positioning fixing portion 31. A positioning stopper portion 33 for restricting the cylindrical container 1 from moving in a direction toward the electron beam tube 20, and an electron beam irradiation nozzle portion 35 having a cylindrical shape smaller in diameter than the positioning fixing portion 31. And has an external shape of two cylindrical bodies having different outer diameters. Further, in the electron beam tube holder 30, the shape on the inner surface side in the cross section parallel to the axial direction including the central axis thereof has a shape suitable for the positioning fixing portion 31 and the lid portion 22 of the electron beam tube 20. The electron beam tube incorporation space 31A and the hole diameter of the electron beam emission hole 22A that is continuous with the electron beam tube incorporation space 31A, is smaller than the outer diameter of the electron beam tube incorporation space 31A, and is closed by the electron beam emission window 23. Since the electron beam passage space 31B having a larger outer diameter is formed, the inner diameter of the space 31B is inclined stepwise in the direction toward the central axis toward the radiation direction of the electron beam. Further, the electron beam tube holder 30 is formed with a gas flow channel groove 37A having an opening on each of an end surface on the positioning and fixing portion 31 side and an inner surface surrounding the electron beam passage space 31B in the positioning and fixing portion 31. The gas channel groove 37A has an opening on each of an inner surface formed in the casing 12 surrounding the valve housing space of the electron beam tube housing space 13 and an opening forming surface 12A of the casing 12. The gas passage groove 14B communicates with the gas passage groove 14B.
2 and 3, reference numeral 36 denotes a gas vent hole. The gas vent hole 36 is defined by the outer diameter of the electron beam irradiation nozzle portion 35, the opening diameter of the opening 1A of the cylindrical container 1, and the inner diameter of the opening portion. In the case where the difference is small, it is preferably provided to suppress the gas supplied from the gas supply means from staying in the electron beam tube accommodating space 13 and the electron beam tube holder 30, and the hole diameter thereof is preferably For example, the thickness is set to 2 mm so as not to obstruct the filling of the cylindrical container 1 with the gas via the electron beam irradiation nozzle portion 35.

電子ビーム管ホルダ30は、ケーシング12の電子ビーム管収容空間13内に電子ビーム管20が挿入され、当該電子ビーム管収容空間13の蓋部固定空間に、電子ビーム管20の蓋部22の後端部分が組み込まれた状態において、当該電子ビーム管ホルダ30の位置決め固定部31側の端面がケーシング12の開口形成面12Aに当接した状態で例えば螺子止めによりケーシング12に対して固定されている。このようにして、電子ビーム管ホルダ30は、位置決め固定部31の電子ビーム管組込み空間31Aに、電子ビーム管20の蓋部22の先端部分が組み込まれることによって当該電子ビーム管20をケーシング12の電子ビーム管収容空間13内の所定の位置に固定している。   In the electron beam tube holder 30, the electron beam tube 20 is inserted into the electron beam tube housing space 13 of the casing 12, and the lid portion fixing space of the electron beam tube housing space 13 is placed behind the lid portion 22 of the electron beam tube 20. In the state where the end portion is incorporated, the end surface on the positioning and fixing portion 31 side of the electron beam tube holder 30 is fixed to the casing 12 by, for example, screwing in a state where the end surface is in contact with the opening forming surface 12A of the casing 12. . In this way, the electron beam tube holder 30 is attached to the electron beam tube mounting space 31A of the positioning fixing portion 31 by incorporating the tip end portion of the lid portion 22 of the electron beam tube 20 so that the electron beam tube 20 is attached to the casing 12. It is fixed at a predetermined position in the electron beam tube accommodating space 13.

また、電子ビーム照射装置10には、ガス供給手段から供給されるガスを流動させるためのガス流路が形成されており、このガス流路によって電子ビーム管20の電子ビーム出射窓23が露出された状態とされている。
この図の例において、ガス流路は、ガス供給手段から供給されたガスが、ケーシング12に形成されたガス流路用溝14A、電子ビーム管20が配設された電子ビーム管収容空間13のバルブ収容空間、ケーシング12に形成されたガス流路用溝14B、電子ビーム管ホルダ30に形成されたガス流路用溝37Aおよび電子ビーム管ホルダ30に係る電子ビーム通過空間31Bをこの順に流動し、ガス抜き孔36または電子ビーム照射ノズル部35を介して電子ビーム照射装置10内から排出されるよう形成されており、このガス流路の電子ビーム通過空間31Bによって区画される領域において、電子ビーム出射窓23が露出されている。
Further, the electron beam irradiation apparatus 10 is formed with a gas flow path for flowing the gas supplied from the gas supply means, and the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 20 is exposed by this gas flow path. It is supposed to be in a state.
In the example of this figure, the gas flow path is a gas flow path of an electron beam tube housing space 13 in which a gas flow channel groove 14A formed in the casing 12 and an electron beam tube 20 are disposed. It flows through the valve housing space, the gas flow path groove 14B formed in the casing 12, the gas flow path groove 37A formed in the electron beam tube holder 30, and the electron beam passage space 31B related to the electron beam tube holder 30 in this order. In the region partitioned by the electron beam passage space 31B of the gas flow path, the electron beam is formed so as to be discharged from the electron beam irradiation device 10 through the gas vent hole 36 or the electron beam irradiation nozzle portion 35. The exit window 23 is exposed.

以下、本発明に係る電子ビーム照射装置10における電子ビーム照射ノズル部35および電子ビーム照射対象体である筒状容器1の一構成例を示す。
電子ビーム照射ノズル部35は、外径が8mm、内径が7mm、全長が8mmのものである。
筒状容器1は、開口径が9mm、開口部分の長さlが8mm、全長が33mmのものである。
Hereinafter, one structural example of the cylindrical container 1 which is an electron beam irradiation nozzle part 35 and the electron beam irradiation object in the electron beam irradiation apparatus 10 which concerns on this invention is shown.
The electron beam irradiation nozzle portion 35 has an outer diameter of 8 mm, an inner diameter of 7 mm, and an overall length of 8 mm.
The cylindrical container 1 has an opening diameter of 9 mm, an opening portion length l of 8 mm, and a total length of 33 mm.

このような構成を有する電子ビーム照射装置10によれば、以下のようにして電子ビーム照射対象体に対して滅菌処理を行うための電子ビームの照射が行われる。   According to the electron beam irradiation apparatus 10 having such a configuration, the electron beam irradiation for sterilizing the electron beam irradiation object is performed as follows.

先ず、図2に示すように、電子ビーム照射対象体である筒状容器1を、その開口1Aを上方とした正立状態で電子ビーム照射装置10の電子ビーム管ホルダ30における電子ビーム照射ノズル部35の真下に位置させ、上方(図1において上方)に移動させることによって当該筒状容器1の開口1Aから、この開口1Aが電子ビーム管ホルダ30の位置決めストッパ部33に当接する状態まで電子ビーム照射ノズル部35を挿入する。
このように電子ビーム照射ノズル部35が筒状容器1内に挿入された状態において、ガス供給手段から、例えば窒素ガス、アルゴンガス、ヘリウムガスなどの不活性ガスを供給してガス流路に流動させることにより、電子ビーム照射ノズル部35を介して筒状容器1内に不活性ガスを導入する。
そして、筒状容器1内および電子ビーム管ホルダ30内、並びに筒状容器1内に不活性ガスが充填された状態において、電子ビーム発生器24を駆動して電子ビームを発生させることにより、電子ビーム出射窓23から放射された電子ビームが、電子ビーム管ホルダ30における電子ビーム通過空間31Bを通過した後、電子ビーム照射ノズル部35によって筒状容器1の内部に導通され、これにより、電子ビーム照射ノズル部35が挿入されている開口1Aおよび開口部分を除く内表面に電子ビームを照射する(以下、「電子ビーム内表面照射工程」ともいう。)。
図2においては、筒状容器1を破線で示し、また、電子ビームの放射方向を破線の矢印で示し、不活性ガスの流動方向を実線の矢印で示す。
First, as shown in FIG. 2, the electron beam irradiation nozzle portion in the electron beam tube holder 30 of the electron beam irradiation apparatus 10 in an upright state with the opening 1A of the cylindrical container 1 as an electron beam irradiation object. The electron beam is moved from the opening 1A of the cylindrical container 1 to a state where the opening 1A comes into contact with the positioning stopper portion 33 of the electron beam tube holder 30 by being positioned directly below 35 and moved upward (upward in FIG. 1). The irradiation nozzle part 35 is inserted.
In such a state where the electron beam irradiation nozzle portion 35 is inserted into the cylindrical container 1, an inert gas such as nitrogen gas, argon gas or helium gas is supplied from the gas supply means and flows into the gas flow path. By doing so, an inert gas is introduced into the cylindrical container 1 through the electron beam irradiation nozzle part 35.
The electron beam generator 24 is driven to generate an electron beam in the cylindrical container 1, the electron beam tube holder 30, and the cylindrical container 1 filled with an inert gas, thereby generating an electron beam. The electron beam radiated from the beam exit window 23 passes through the electron beam passage space 31B in the electron beam tube holder 30, and is then conducted to the inside of the cylindrical container 1 by the electron beam irradiation nozzle portion 35. An electron beam is irradiated onto the inner surface excluding the opening 1A into which the irradiation nozzle portion 35 is inserted and the opening portion (hereinafter also referred to as “electron beam inner surface irradiation step”).
In FIG. 2, the cylindrical container 1 is indicated by a broken line, the radiation direction of the electron beam is indicated by a broken line arrow, and the flow direction of the inert gas is indicated by a solid line arrow.

次いで、図3に示すように、電子ビーム発生器24が駆動されて電子ビーム出射窓23から電子ビームが放射され、かつガス供給手段によってガス流路に不活性ガスが流動されて充填されている状態において、筒状容器1を下方(図2において下方)に移動させることによって当該筒状容器1の開口1Aから電子ビーム照射ノズル部35を引き抜き、更に、この筒状容器1を電子ビーム照射ノズル部35の真下における所定の位置まで移動させる。このようにして、電子ビーム内表面照射工程において電子ビーム照射ノズル部35が挿入されていた開口1Aおよび開口部分に対して筒状容器1を移動させながら電子ビームを照射する(以下、「電子ビーム開口部照射工程」ともいう。)。
図3においては、図2と同様に電子ビームの放射方向を破線の矢印で示し、不活性ガスの流動方向を実線の矢印で示す。また、容器の移動方向を一点鎖線の矢印で示す。
Next, as shown in FIG. 3, the electron beam generator 24 is driven to emit an electron beam from the electron beam exit window 23, and an inert gas is flowed and filled in the gas flow path by the gas supply means. In this state, by moving the cylindrical container 1 downward (downward in FIG. 2), the electron beam irradiation nozzle portion 35 is pulled out from the opening 1A of the cylindrical container 1, and this cylindrical container 1 is further moved to the electron beam irradiation nozzle. It is moved to a predetermined position directly below the portion 35. In this way, the electron beam is irradiated while moving the cylindrical container 1 to the opening 1A and the opening portion into which the electron beam irradiation nozzle portion 35 has been inserted in the electron beam inner surface irradiation step (hereinafter referred to as “electron beam”). It is also referred to as “aperture irradiation process”).
In FIG. 3, the radiation direction of the electron beam is indicated by a dashed arrow, and the flow direction of the inert gas is indicated by a solid arrow, as in FIG. Further, the moving direction of the container is indicated by a one-dot chain line arrow.

以上のような電子ビーム照射装置10によれば、電子ビーム管ホルダ30に電子ビーム照射ノズル部35が設けられていることから、電子ビーム照射対象体が、筒状容器1のような開口1Aを有する有底筒状の形態の立体的なものであっても、筒状容器1に対して電子ビームを、電子ビーム照射ノズル部35によって部分的に遮蔽した状態で照射することができるため、当該筒状容器1に対して所期の線量を均一に照射することができる。
すなわち、先ず、電子ビーム内表面照射工程において、筒状容器1の開口1Aおよび開口部分に電子ビーム照射ノズル部35を挿入することにより、この電子ビーム照射ノズル部35が挿入されている部分を完全に遮蔽した状態で当該筒状容器1に電子ビームを照射し、このようにして筒状容器1の開口1Aおよび開口部分を除く内表面に対して電子ビームを照射する。次いで、この電子ビーム内表面照射工程に連続する、電子ビーム開口部照射工程において、筒状容器1を、当該筒状容器1の開口1Aから電子ビーム照射ノズル部35を引き抜くよう下方に移動するという簡単な操作により、開口1Aおよび開口部分に対して電子ビーム出射窓23との離間距離を筒状容器1に関する線量分布に基づいて調整することによって照射線量を制御した状態で電子ビームを照射することができる。
従って、電子ビーム照射装置10によれば、筒状容器1に対して電子ビームの照射を、その開口1Aおよび開口部分に過剰に照射することなく、確実かつ容易に行うことができることから、当該筒状容器1に対して確実に滅菌処理を施すことができると共に、筒状容器1自体が電子ビームが照射されることによって部分的に劣化することを防止することができる。
According to the electron beam irradiation apparatus 10 as described above, since the electron beam irradiation nozzle portion 35 is provided in the electron beam tube holder 30, the electron beam irradiation target object has the opening 1 </ b> A like the cylindrical container 1. Even if it has a three-dimensional shape with a bottomed cylindrical shape, it can irradiate the cylindrical container 1 with an electron beam partially shielded by the electron beam irradiation nozzle portion 35, The intended dose can be uniformly applied to the cylindrical container 1.
That is, first, in the electron beam inner surface irradiation step, by inserting the electron beam irradiation nozzle portion 35 into the opening 1A and the opening portion of the cylindrical container 1, the portion where the electron beam irradiation nozzle portion 35 is inserted is completely formed. In this state, the cylindrical container 1 is irradiated with an electron beam, and the inner surface of the cylindrical container 1 excluding the opening 1A and the opening portion is irradiated with the electron beam. Next, in the electron beam opening irradiation step that is continuous with the electron beam inner surface irradiation step, the cylindrical container 1 is moved downward so as to pull out the electron beam irradiation nozzle portion 35 from the opening 1A of the cylindrical container 1. Irradiating the electron beam in a state in which the irradiation dose is controlled by adjusting the distance between the opening 1A and the opening portion with respect to the electron beam exit window 23 based on the dose distribution related to the cylindrical container 1 by a simple operation. Can do.
Therefore, according to the electron beam irradiation apparatus 10, the cylindrical container 1 can be reliably and easily irradiated with an electron beam without excessively irradiating the opening 1A and the opening portion. The cylindrical container 1 can be reliably sterilized, and the cylindrical container 1 itself can be prevented from being partially deteriorated by irradiation with an electron beam.

また、電子ビーム照射装置10においては、電子ビーム管30の電子ビーム出射窓23が露出された状態となるよう形成されたガス流路が設けられていることから、電子ビーム内表面照射工程および電子ビーム開口部照射工程のいずれの工程においても、このガス流路に不活性ガスを流動させた状態において充填させ、これにより、電子ビーム出射窓23および当該電子ビーム出射窓23から放射される電子ビームが大気に曝されることを抑制することができる。また、電子ビーム出射窓23から放射される電子ビームが通過する空間、具体的には、電子ビーム管ホルダ30の電子ビーム通過空間31Bおよび電子ビーム照射ノズル部35の内部空間における酸素分圧を低下させることができるため、電子ビーム出射窓23からの電子ビームの放射によってオゾンが発生することを防止することができる。従って、電子ビーム出射窓23がオゾンの発生に起因して酸化することを防止することができる。
更に、電子ビーム照射装置10においては、ガス流路が、電子ビーム管20の収容されているケーシング12の電子ビーム管収容空間13内を流動するよう形成されてなるものであることから、電子ビーム管20に、例えば60kVもの高い加速電圧が印加される場合においても、冷却ガスによる冷却作用によって電子ビーム管20が高温になることに起因してケーシング12が劣化することを抑制することができ、かつ冷却ガスが電子ビーム管20の外表面に沿うよう流動されることによって当該電子ビーム管20の外表面に発生した静電気が除去されることから、不要なアーク放電の発生を防止することができる。
Further, since the electron beam irradiation apparatus 10 is provided with a gas flow path formed so that the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 30 is exposed, the electron beam inner surface irradiation process and the electron beam irradiation process are performed. In any step of the beam opening irradiation step, the gas flow path is filled with an inert gas in a flowing state, whereby the electron beam exit window 23 and the electron beam emitted from the electron beam exit window 23 are filled. Can be prevented from being exposed to the atmosphere. Further, the oxygen partial pressure in the space through which the electron beam emitted from the electron beam emission window 23 passes, specifically, the electron beam passage space 31B of the electron beam tube holder 30 and the internal space of the electron beam irradiation nozzle portion 35 is reduced. Therefore, it is possible to prevent ozone from being generated by the emission of the electron beam from the electron beam emission window 23. Therefore, it is possible to prevent the electron beam exit window 23 from being oxidized due to the generation of ozone.
Further, in the electron beam irradiation apparatus 10, the gas flow path is formed so as to flow in the electron beam tube housing space 13 of the casing 12 in which the electron beam tube 20 is housed. Even when an acceleration voltage as high as 60 kV, for example, is applied to the tube 20, it is possible to suppress deterioration of the casing 12 due to the electron beam tube 20 becoming high temperature due to the cooling action by the cooling gas, And since the static electricity which generate | occur | produced on the outer surface of the said electron beam tube 20 is removed when a cooling gas flows along the outer surface of the electron beam tube 20, generation | occurrence | production of an unnecessary arc discharge can be prevented. .

また、電子ビーム照射装置10においては、電子ビーム管ホルダ30に位置決めストッパ部33が設けられていることにより、電子ビーム内表面照射工程においては、筒状容器1の開口1Aを位置決めストッパ部33に当接させることによって当該筒状容器1を確実に所望の電子ビーム照射位置に配置することができるため、筒状容器1の内表面に対して必要とされる線量の電子ビームを確実に照射することが容易にできる。その上、電子ビーム内表面照射工程および電子ビーム開口部照射工程において、筒状容器1に電子ビームを照射している最中に、当該筒状容器1が電子ビーム管20に向かう方向に移動しても位置決めストッパ部33に阻まれて電子ビーム出射窓23に接触することがないため、筒状容器1が電子ビームの照射時に電子ビーム出射窓23に接触することに起因して当該電子ビーム出射窓23が破損することを防止することができる。   Further, in the electron beam irradiation apparatus 10, since the electron beam tube holder 30 is provided with the positioning stopper portion 33, the opening 1 </ b> A of the cylindrical container 1 is formed in the positioning stopper portion 33 in the electron beam inner surface irradiation step. Since the cylindrical container 1 can be reliably disposed at a desired electron beam irradiation position by the contact, the inner surface of the cylindrical container 1 is reliably irradiated with the required dose of electron beam. Can be easily done. In addition, in the electron beam inner surface irradiation process and the electron beam opening irradiation process, the cylindrical container 1 moves in the direction toward the electron beam tube 20 while the cylindrical container 1 is being irradiated with the electron beam. However, since the positioning stopper portion 33 prevents the electron beam emission window 23 from coming into contact with the electron beam emission window 23, the cylindrical container 1 comes into contact with the electron beam emission window 23 during the electron beam irradiation. It is possible to prevent the window 23 from being damaged.

このような電子ビーム照射装置10は、例えば医薬品、化粧水などの人体に適用する物質を容器に充填するための作業ライン上において、当該容器に必要とされる滅菌処理を行うためのものとして好適であり、例えば、電子ビーム照射装置10により滅菌処理が施された容器を、当該電子ビーム照射装置10に係る滅菌処理工程から、例えばベルトコンベアなどによって次工程である充填工程に搬送することにより、滅菌処理を容易にインラインで行うことができる。   Such an electron beam irradiation apparatus 10 is suitable for performing a sterilization treatment required for the container on a work line for filling the container with a substance to be applied to the human body such as pharmaceuticals and lotions. For example, by transporting a container that has been sterilized by the electron beam irradiation apparatus 10 from the sterilization process according to the electron beam irradiation apparatus 10 to a filling process that is the next process by, for example, a belt conveyor, Sterilization can be easily performed in-line.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、種々の変更を加えることができる。
例えば、電子ビーム照射装置は、電子ビーム管に、例えば60kVもの高い加速電圧が印加されるような場合には、冷却ガスが電子ビーム管収容空間内に流動されるよう形成されたガス流路が設けられてなるものであることが好ましいが、電子ビーム管に印加される加速電圧が比較的高くない場合には、図4に示すように、ガス流路が、ケーシング41に形成された領域を有さずに、ガス供給手段が電子ビーム管ホルダ45に形成されたガス流路用溝49に直接的に接続されるよう形成されてなる構成のものであってもよい。図4に示されているケーシング41は、ガス流路用溝14A、14Bが設けられていないこと以外は、図1の電子ビーム照射装置10に係るケーシング12と同様の構成を有するものであり、また電子ビーム管ホルダ45は、位置決め固定部31、ガス抜き孔36の形成された位置決めストッパ部33および電子ビーム照射ノズル部35を有するものであり、ガス流路用溝37Aに代えてガス流路用溝49が設けられていること以外は図1の電子ビーム照射装置10に係る電子ビーム管ホルダ30と同様の構成を有するものである。
また、電子ビーム照射ノズルは、電子ビーム管ホルダに一体的に設けられているものである必要はなく、例えば図5に示すように、ガス流路用溝59が形成されてなるリング状の電子ビーム管ホルダ51の下方(図5において下方)に設けられるものであって、位置決めストッパと一体的に設けられてなる構成のものであってもよい。図5において、55は、ガス抜き孔58が形成された円板状の位置決めストッパ部56と、この位置決めストッパ部56に連続し、電子ビーム管20の電子ビーム出射窓23から放射される電子ビームの放射方向に伸びるよう突出する円筒状の形態を有する電子ビーム照射ノズル部57とを有する電子ビーム照射ノズル構造体である。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to said embodiment, A various change can be added.
For example, when an acceleration voltage as high as 60 kV, for example, is applied to an electron beam tube, an electron beam irradiation device has a gas flow path formed so that a cooling gas flows into the electron beam tube housing space. However, when the acceleration voltage applied to the electron beam tube is not relatively high, as shown in FIG. 4, the gas flow path has a region formed in the casing 41. Instead, it may be configured such that the gas supply means is formed so as to be directly connected to the gas channel groove 49 formed in the electron beam tube holder 45. The casing 41 shown in FIG. 4 has the same configuration as the casing 12 according to the electron beam irradiation apparatus 10 of FIG. 1 except that the gas flow path grooves 14A and 14B are not provided. The electron beam tube holder 45 includes a positioning fixing portion 31, a positioning stopper portion 33 in which a gas vent hole 36 is formed, and an electron beam irradiation nozzle portion 35. A gas flow path is used instead of the gas flow path groove 37A. Except that the groove 49 is provided, it has the same configuration as the electron beam tube holder 30 according to the electron beam irradiation apparatus 10 of FIG.
Further, the electron beam irradiation nozzle need not be provided integrally with the electron beam tube holder. For example, as shown in FIG. 5, a ring-shaped electron having a gas flow channel groove 59 is formed. It may be provided below the beam tube holder 51 (downward in FIG. 5) and may be configured integrally with the positioning stopper. In FIG. 5, reference numeral 55 denotes a disk-shaped positioning stopper portion 56 in which a gas vent hole 58 is formed, and an electron beam emitted from the electron beam emission window 23 of the electron beam tube 20 that is continuous with the positioning stopper portion 56. This is an electron beam irradiation nozzle structure having an electron beam irradiation nozzle portion 57 having a cylindrical shape protruding so as to extend in the radial direction.

本発明の電子ビーム照射装置の構成の一例を示す説明用概略図である。It is the schematic for description which shows an example of a structure of the electron beam irradiation apparatus of this invention. 図1の電子ビーム照射装置の要部を、電子ビーム照射対象体に電子ビームを照射している一状態で示す説明用部分拡大図である。FIG. 2 is a partial enlarged view for explanation showing a main part of the electron beam irradiation apparatus of FIG. 1 in a state in which an electron beam irradiation target is irradiated with an electron beam. 電子ビーム照射対象体に電子ビームを照射している他の状態を示す説明用部分拡大図である。It is a partial enlarged view for explanation showing another state in which an electron beam irradiation object is irradiated with an electron beam. 本発明の電子ビーム照射装置の構成の他の例における要部を示す説明用部分拡大図である。It is the elements on larger scale for explanation which show the principal part in other examples of the composition of the electron beam irradiation apparatus of the present invention. 本発明の電子ビーム照射装置の構成の更に他の例における要部を示す説明用部分拡大図である。It is the elements on larger scale for explanation which shows the important section in the further another example of composition of the electron beam irradiation apparatus of the present invention. 従来の電子ビーム照射装置の構成の一例を示す説明用概略図である。It is the explanatory schematic which shows an example of a structure of the conventional electron beam irradiation apparatus. 従来の電子ビーム照射装置を用いて容器に電子ビームを照射する際に用いられる遮蔽構造体の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the shielding structure used when irradiating an electron beam to a container using the conventional electron beam irradiation apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 容器
1A 開口
10 電子ビーム照射装置
12 ケーシング
12A 一面
12B 開口
13 電子ビーム管収容空間
14A、14B ガス流路用溝
16 高圧トランス
17 給電線
18 コネクタ
19 制御ユニット
20 電子ビーム管
21 バルブ
21A 開口
22 蓋部
22A 電子ビーム出射孔
23 電子ビーム出射窓
24 電子ビーム発生器
26 給電端子
27 ベース
30 電子ビーム管ホルダ
31 位置決め固定部
31A 電子ビーム管組込み空間
31B 電子ビーム通過空間
33 位置決めストッパ部
35 電子ビーム照射ノズル部
36 ガス抜き孔
37A ガス流路用溝
41 ケーシング
45 電子ビーム管ホルダ
49 ガス流路用溝
51 電子ビーム管ホルダ
55 電子ビーム照射ノズル構造体
56 位置決めストッパ部
57 電子ビーム照射ノズル部
58 ガス抜き孔
59 ガス流路用溝
62 ケーシング
62A 一面
62B 開口
63 電子ビーム管収容空間
68 ガス流路
70 容器
71 遮蔽構造体
71A 飲み口用遮蔽部
71B 側面用遮蔽部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Container 1A Opening 10 Electron beam irradiation apparatus 12 Casing 12A One side 12B Opening 13 Electron beam tube accommodating space 14A, 14B Gas channel groove 16 High voltage transformer 17 Feed line 18 Connector 19 Control unit 20 Electron beam tube 21 Valve 21A Opening 22 Lid Part 22A Electron beam exit hole 23 Electron beam exit window 24 Electron beam generator 26 Feed terminal 27 Base 30 Electron beam tube holder 31 Positioning fixing part 31A Electron beam tube installation space 31B Electron beam passage space 33 Positioning stopper part 35 Electron beam irradiation nozzle Portion 36 Gas vent 37A Gas channel groove 41 Casing 45 Electron beam tube holder 49 Gas channel groove 51 Electron beam tube holder 55 Electron beam irradiation nozzle structure 56 Positioning stopper unit 57 Electron beam irradiation Zur unit 58 the gas vent holes 59 the gas flow path groove 62 casing 62A one side 62B opening 63 the electron beam tube housing space 68 gas channel 70 container 71 shield structure 71A spout shielding portion 71B side shielding portion

Claims (6)

真空状態が形成された内部に電子ビーム発生器が配設されてなり、当該電子ビーム発生器において発生した電子ビームを放射するための電子ビーム出射窓を有する電子ビーム管と、当該電子ビーム管を収容するための電子ビーム管収容空間を有するケーシングとを備えた電子ビーム照射装置であって、
前記電子ビーム管の電子ビーム出射窓から放射される電子ビームの放射方向に伸び、電子ビーム出射窓から放射される電子ビームを導通するための電子ビーム照射ノズルが設けられていることを特徴とする電子ビーム照射装置。
An electron beam generator is disposed inside the vacuum state, and an electron beam tube having an electron beam exit window for emitting an electron beam generated in the electron beam generator, and the electron beam tube An electron beam irradiation apparatus comprising a casing having an electron beam tube accommodating space for accommodating,
An electron beam irradiation nozzle that extends in the radiation direction of the electron beam emitted from the electron beam emission window of the electron beam tube and conducts the electron beam emitted from the electron beam emission window is provided. Electron beam irradiation device.
電子ビーム管の電子ビーム出射窓が露出された状態となるよう形成されたガス流路が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電子ビーム照射装置。   The electron beam irradiation apparatus according to claim 1, further comprising a gas flow path formed so that an electron beam emission window of the electron beam tube is exposed. ガス流路が、ケーシングに形成された、電子ビーム管を冷却するための冷却ガスを流動させるための領域を有し、当該冷却ガスが不活性ガスであることを特徴とする請求項2に記載の電子ビーム照射装置。   The gas flow path has a region for flowing a cooling gas for cooling the electron beam tube formed in the casing, and the cooling gas is an inert gas. Electron beam irradiation device. 電子ビーム照射対象体が電子ビーム管に向かう方向に移動することを規制するための位置決めストッパが設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の電子ビーム照射装置。   The electron beam irradiation apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising a positioning stopper for restricting the electron beam irradiation object from moving in a direction toward the electron beam tube. . 電子ビーム管をケーシングにおける電子ビーム管収容空間内に固設するための電子ビーム管ホルダが設けられており、当該電子ビーム管ホルダに電子ビーム照射ノズルが設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の電子ビーム照射装置。   An electron beam tube holder for fixing the electron beam tube in an electron beam tube housing space in the casing is provided, and the electron beam tube holder is provided with an electron beam irradiation nozzle. The electron beam irradiation apparatus according to claim 1. 電子ビーム照射ノズルが筒状の電子ビーム照射対象体の開口から挿入され、その状態において当該電子ビーム照射対象体に対して電子ビームが照射されることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載の電子ビーム照射装置。   6. The electron beam irradiation nozzle is inserted from an opening of a cylindrical electron beam irradiation object, and in that state, the electron beam irradiation object is irradiated with the electron beam irradiation object. The electron beam irradiation apparatus in any one.
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