JP2008134635A - マイクロミラーの簡略化された製造プロセス - Google Patents

マイクロミラーの簡略化された製造プロセス Download PDF

Info

Publication number
JP2008134635A
JP2008134635A JP2007300817A JP2007300817A JP2008134635A JP 2008134635 A JP2008134635 A JP 2008134635A JP 2007300817 A JP2007300817 A JP 2007300817A JP 2007300817 A JP2007300817 A JP 2007300817A JP 2008134635 A JP2008134635 A JP 2008134635A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hinge
layer
connection post
substrate
micromirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2007300817A
Other languages
English (en)
Inventor
Shaoher X Pan
シャオハー エックス. パン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Himax Display USA Inc
Original Assignee
Spatial Photonics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Spatial Photonics Inc filed Critical Spatial Photonics Inc
Publication of JP2008134635A publication Critical patent/JP2008134635A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0841Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C1/00Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
    • B81C1/00015Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems
    • B81C1/00134Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems comprising flexible or deformable structures
    • B81C1/00174See-saws
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2201/00Specific applications of microelectromechanical systems
    • B81B2201/04Optical MEMS
    • B81B2201/042Micromirrors, not used as optical switches

Abstract

【課題】マイクロミラーの簡略化された製造方法、ならびに簡略化された製造方法によって製造されたマイクロミラーを提供すること。
【解決手段】基板150によって支持されているヒンジ接続支柱122aであって、ヒンジ接続支柱は、底層312、およびヒンジ接続支柱の中央においてキャビティ125aを取り囲んでいる側面層315を含んでいる、ヒンジ接続支柱と、ヒンジ接続支柱の側面層に接続されたヒンジコンポーネント120aと、ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されたミラープレートとを備えている、マイクロミラー。
【選択図】図22

Description

本開示は、マイクロミラーの製造に関する。
空間的光変調器(SLM)は、反射性の表面を有する傾斜可能ミラーを用いて構成され得る。各ミラープレートは、静電気力によって、軸回りで「オン」位置と「オフ」位置との間に傾斜され得る。静電気力は、ミラープレートとミラープレートの下の電極との間の電位差によって生成され得る。「オン」位置において、マイクロミラープレートは、入射光を反射し得、指定されたピクセルを表示画像内に形成する。「オフ」位置において、マイクロミラープレートは、入射光を表示画像から離れるように配向し得る。ミラープレートは、機械的停止部により、「オン」位置および「オフ」位置に保持され得る。
(概要)
1つの一般的な局面において、本発明は、マイクロミラーに関し、上記マイクロミラーは、基板によって支持されているヒンジ接続支柱であって、上記ヒンジ接続支柱は、ヒンジ支持支柱に接続された底層、およびヒンジ接続支柱の中央においてキャビティを取り囲んでいる側面層を含んでいる、ヒンジ支持支柱と、ヒンジ接続支柱の側面層に接続されたヒンジコンポーネントと、ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されたミラープレートとを含んでいる。
別の一般的な局面において、本発明は、基板の上にミラープレートを製造する方法に関する。上記方法は、基板上にヒンジ支持支柱を形成するステップと、ヒンジ支持支柱上のヒンジ接続支柱、およびヒンジ接続支柱に接続されたヒンジ層を、同時に形成するステップと、スペーサ層上に反射性の層を形成するステップと、反射性の層およびヒンジ層の一部分を選択的に除去することにより、ミラープレート、ならびにヒンジ接続支柱およびヒンジ層に接続されたヒンジコンポーネントを形成するステップであって、ミラープレートは、ヒンジコンポーネントの回りで傾斜可能である、ステップとを含んでいる。
別の一般的な局面において、本発明は、基板の上にミラープレートを製造する方法に関する。上記方法は、基板上にヒンジ支持支柱を形成するステップと、基板上およびヒンジ支持支柱上に犠牲材料を配置するステップと、犠牲材料にビアを形成することにより、ヒンジ支持支柱の上表面を露出させるステップと、導電性の材料を堆積させることにより、ビア内にヒンジ接続支柱を、および犠牲材料の上にヒンジ層を同時に形成するステップと、ヒンジ層における導電性の材料を選択的に除去することにより、ヒンジ層において開口部を形成し、ヒンジ層におけるヒンジ接続支柱の上のヒンジを規定するステップと、ヒンジ層およびヒンジ上にスペーサ層を形成するステップと、スペーサ層上に反射性の層を形成するステップと、反射性の層、スペーサ層、およびヒンジ層の一部分を除去することにより、犠牲材料を露出させるステップと、犠牲材料を除去することにより、ミラープレート、ならびにヒンジ接続支柱およびヒンジ層に接続されたヒンジコンポーネントを形成するステップであって、ミラープレートは、ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されている、ステップとを含んでいる。
システムの実装は、以下の1つ以上を含み得る。側面層は、円錐形であり得る。側面層および底層は、カップ状の構造を形成し得る。側面層、底層、およびヒンジコンポーネントは、一つにまとまった構造を形成し得る。側面層、底層、およびヒンジコンポーネントは、実質的に同じ材料から構成され得る。側面層は、基板に対して実質的に垂直であり得る。ミラープレートは、反射性の層およびヒンジ層を含み得る。ヒンジ接続支柱、ヒンジコンポーネント、およびヒンジ層は、一つにまとまった構造を形成し得る。ヒンジコンポーネントおよびヒンジ層は、同一平面上にある構造を形成し得る。ヒンジ接続支柱、ヒンジコンポーネント、およびヒンジ層は、実質的に同じ材料から構成され得る。ヒンジ接続支柱、ヒンジコンポーネント、およびヒンジ層は、導電性の材料を含み得る。
実装は、以下の利点の1つ以上を含み得る。開示されているシステムおよび方法は、基板上にマイクロミラーを製造するための簡略化されたプロセス、ならびにマイクロミラーの向上された機械的完全性および機械的強度を提供し得る。ミラープレートおよび支持構造のいくつかのコンポーネントは、単一のステップで、一つにまとまったコンポーネントに同時に形成され得る。
本発明は、複数の実施形態に関連して、特に示され、記載されているが、当業者は、本明細書の趣旨および範囲から逸れることなしに、形態および詳細に関する様々な変更が本明細書になされ得ることを理解し得る。
本発明はさらに、以下の手段を提供する。
(項目1)
基板によって支持されているヒンジ接続支柱であって、該ヒンジ接続支柱は、底層、および該ヒンジ接続支柱の中央においてキャビティを取り囲んでいる側面層を含んでいる、ヒンジ接続支柱と、
該ヒンジ接続支柱の該側面層に接続されたヒンジコンポーネントと、
該ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されたミラープレートと
を備えている、マイクロミラー。
(項目2)
上記側面層は、上記基板に対して傾いている、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目3)
上記側面層は、円錐形であり、該側面層および上記底層は、カップ状の構造を形成している、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目4)
上記側面層、上記底層、および上記ヒンジコンポーネントは、一つにまとまった構造を形成している、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目5)
上記側面層、上記底層、および上記ヒンジコンポーネントは、実質的に同じ材料から構成されている、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目6)
上記側面層は、上記基板に対して実質的に垂直である、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目7)
上記ミラープレートは、反射性の層およびヒンジ層を含んでいる、項目1に記載のマイクロミラー。
(項目8)
上記ヒンジ接続支柱、上記ヒンジコンポーネント、および上記ヒンジ層は、一つにまとまった構造を形成している、項目7に記載のマイクロミラー。
(項目9)
上記ヒンジコンポーネントおよび上記ヒンジ層は、同一平面上にある、項目7に記載のマイクロミラー。
(項目10)
上記ヒンジ接続支柱、上記ヒンジコンポーネント、および上記ヒンジ層は、実質的に同じ材料から構成されている、項目7に記載のマイクロミラー。
(項目11)
上記ヒンジ接続支柱、上記ヒンジコンポーネント、および上記ヒンジ層は、導電性の材料を含んでいる、項目7に記載のマイクロミラー。
(項目12)
基板上にミラープレートを製造するための方法であって、
該基板上にヒンジ支持支柱を形成するステップと、
該ヒンジ支持支柱上のヒンジ接続支柱、および該ヒンジ接続支柱に接続されたヒンジ層を、同時に形成するステップと、
該ヒンジ層の上に反射性の層を形成するステップと、
該反射性の層および該ヒンジ層の一部分を選択的に除去することにより、該ミラープレート、ならびに該ヒンジ接続支柱および該ヒンジ層に接続されたヒンジコンポーネントを形成するステップであって、該ミラープレートは、該ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されている、ステップと
を包含する、方法。
(項目13)
上記ヒンジ接続支柱を形成するステップは、
上記基板上および上記ヒンジ支持支柱上に犠牲材料を配置するステップと、
該犠牲材料にビアを形成することにより、該ヒンジ支持支柱の上表面を露出させるステップと、
導電性の材料を堆積させることにより、該ビア内に該ヒンジ接続支柱を、および該犠牲材料の上に上記ヒンジ層を同時に形成するステップと
を含んでいる、項目12に記載の方法。
(項目14)
上記ビアは、上記基板に対して傾いている表面を含んでいる、項目13に記載の方法。
(項目15)
上記ビアは、上記基板に対して実質的に垂直な表面を含んでいる、項目13に記載の方法。
(項目16)
上記ヒンジ接続支柱は、底層および円錐形の側面層を含んでおり、該円錐形の側面層の下縁は、該底層に接続されて、キャビティを規定している、項目12に記載の方法。
(項目17)
上記ヒンジコンポーネントおよび上記ヒンジ層は、同一平面上にある、項目12に記載の方法。
(項目18)
上記ヒンジ接続支柱、上記ヒンジコンポーネント、および上記ヒンジ層は、導電性の材料を含んでいる、項目12に記載の方法。
(項目19)
上記基板上および上記ヒンジ支持支柱上に犠牲材料を堆積させるステップと、
該犠牲材料にビアを形成することにより、該ヒンジ支持支柱の上表面を露出させるステップであって、該ヒンジ接続支柱を形成する上記ステップは、導電性の材料を堆積させることにより、該ビア内に該ヒンジ接続支柱を、および該犠牲材料の上に上記ヒンジ層を同時に形成することを含んでいる、ステップと、
該ヒンジ層における該導電性の材料を選択的に除去することにより、該ヒンジ層において開口部を形成し、該ヒンジ層内にあり、かつ該ヒンジ接続支柱の上にあるヒンジコンポーネントを規定するステップと、
該ヒンジ層上および該ヒンジコンポーネント上に、スペーサ層を形成するステップであって、上記反射性の層の一部分を選択的に除去する上記ステップは、該犠牲材料を露出させ、該犠牲材料を除去することにより、上記ミラープレート、ならびに該ヒンジ接続支柱および該ヒンジ層に接続された該ヒンジコンポーネントを形成する、ステップと
をさらに包含する、項目12に記載の方法。
(摘要)
マイクロミラーは、基板上のヒンジ支持支柱と、ヒンジ支持支柱上のヒンジ接続支柱であって、ヒンジ接続支柱は、ヒンジ支持支柱に接続された底層、およびヒンジ接続支柱の中央においてキャビティを取り囲んでいる側面層を含んでいる、ヒンジ接続支柱と、ヒンジ接続支柱の側面層に接続されたヒンジコンポーネントと、ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されたミラープレートとを含んでいる。
(詳細な説明)
図1〜図3を参照すると、ミラープレート110は、反射性の層111、スペーサ層113、およびヒンジ層114を含み得る。一部の実施形態において、スペーサ層113は、一対の穴112aおよび112bと、一対の開口部108aおよび108bを含んでいる。一部の実施形態において、ヒンジ層114は、2つのヒンジコンポーネント120aおよび120bを含んでいる。各ヒンジコンポーネント120aまたは120bは、中央において、キャビティ125aまたは125bを含んでいる。ヒンジコンポーネント120aおよび120bは、それぞれ、細長いヒンジ163aおよび163bにより、ヒンジ層114の主要部分に接続されている。細長いヒンジ部分163aおよび163bは、ギャップ162aおよび162bによって、ヒンジ層114の主要部分から分離されている。ヒンジコンポーネント120aおよび120bは、ギャップ161によってヒンジ層114の主要部分から分離されている。ミラープレート110は、2つのヒンジコンポーネント120aおよび120bによって規定された軸の回りで傾斜し得る。一部の実施形態において、ヒンジ層114はまた、スペーサ層における穴112aおよび112bの下に、それぞれ、2対の穴109aおよび109bを含んでいる。穴109aまたは109bの各対は、ヒンジ層114において、橋107aまたは107bを規定している。橋107aまたは107bは、スペーサ層113における穴112aまたは112bの下に配置されている。図17〜図21に示されているように、各橋107aまたは107bは、基板上のランディングストップ140aまたは140bの上に配置されている。図2における直線A−A、直線B−B、および直線C−Cは、図5〜図20における断面図の切断部を示している。
ヒンジコンポーネント120a(または120b)は、ヒンジコンポーネント120aの下のヒンジ接続支柱122aに接続されている。図22においても示されているように、ヒンジ接続支柱122aは、底層312および側面層315を含んでおり、上記側面層および底層は、ヒンジ接続支柱122aの中央において、キャビティ125aを形成している。キャビティ125は、図1〜図3に示されているような円形の開口部、または長方形の開口部(例えば、正方形の開口部)を有し得る。一部の実施形態において、側面層315は、実質的に基板に対して垂直であり得る。一部の実施形態において、側面層315は、テーパされた(tapered)壁を有している。側面層315は、底層312と共に、カップ状の構造を形成し得る。円形の開口部を有するキャビティにおいて、側面層315は、円錐形の壁であり得るか、平行な壁を有している。長方形の開口部を有するキャビティにおいて、側面層315は、テーパされた壁または互いに平行な壁を有し得る。実施形態において、ヒンジ接続支柱は、ヒンジコンポーネントにおける開口部と同じ形状または断面を有している。
ヒンジ接続支柱122aの底面は、基板上のヒンジ支持支柱121aに接続されている。側面層315および底層312は、実質的に同じ材料から構成され得、一つにまとまった構造を形成している。側面層315およびヒンジ層114は、実質的に同じ厚さを有し得る。一部の実施形態において、側面層315は、底層312よりも薄いものである。ヒンジコンポーネント120aおよび120b、ならびにヒンジ層は、同じ平面状の層(ヒンジ層114)から形成され得る。ヒンジ支持支柱121aは、上部分123aおよび下部分124bを含み得、これらは、分離した堆積ステップで形成され得る。
図1、図4、および図5を参照すると、ヒンジ支持支柱121aおよび121b、ステップ電極130a、130b、131a、および131b、ならびにランディングストップ140aおよび140bが、基板150上に形成される(ステップ410〜435)。基板150は、ヒンジ支持支柱121aおよび121b、ステップ電極130a、130b、131a、および131b、ならびにランディングストップ140aおよび140bに接続している電気回路を含み得る。ヒンジ層114およびヒンジ接続支柱122aおよび122b、ならびに支持支柱121aおよび121bは、導電性の材料から形成されている。このようにして、ヒンジ層114は、ヒンジ接続支柱122aおよび122bを介することにより、ヒンジ支持支柱121aおよび121bに電気的に接続されている。ヒンジ層114ならびにステップ電極130a、130b、131a、および131bの電位は、ヒンジ層114とステップ電極130aおよび130bとの間、またはヒンジ層114とステップ131aおよび131bとの間に電位差を生成するように、制御され得る。結果として生じる静電気力は、2つのヒンジコンポーネント120aおよび120bによって規定された軸の回りで、ミラープレート110を傾斜させ得る。ステップ410〜435の詳細は、2006年5月10日に出願され、「Method for Fabricating a Micro Structure」と題された、米国特許出願第11/382,630号に開示されており、上記米国特許出願は、あらゆる目的のために参照により本明細書に援用される。
図6を参照すると、犠牲材料305が、例えばスピンコーティングによって、基板150、ヒンジ支持支柱121aおよび121b、ステップ電極130a、130b、131aおよび131b、ならびにランディングストップ140aおよび140bの上に配置される(ステップ440)。犠牲材料は、フォトレジスト材料、アモルファスカーボン、ポリアリーレン、ポリアリーレンエーテル(これは、SILKとも呼称され得る)、および水素シルセスキオキサン(HSQ)を含み得る。硬化した後、必要に応じて、犠牲材料305は、化学機械的研磨(CMP)によって、ミラープレート110におけるヒンジ層114の下表面と基板150との間の距離を規定する所定の高さにまで、平坦化され得る(図8〜図22参照)。ヒンジ支持支柱121aの上の犠牲材料305にビア310が形成され、ヒンジ支持支柱121aの上表面を露出させる(図7Aに示されている)。ビア310は、円形または長方形の開口部を有し得る。
ビア310は、主に、基板150に対して実質的に垂直な側壁316を含んでいる。基板150は、その後、ヒンジ支持支柱121a、121b、および犠牲材料305を有し、その後、フォトレジストのオーバーフローを引き起こすことによって、図7Bに示されているような、基板150に対して傾いている側壁317を形成するために、高温処理を受ける。一部の実施形態において、傾いた側壁317は、異方性エッチングによって、ビア310に形成され得る。
次に、図8に示されているように、導電性の材料が、例えば物理気相成長によって、犠牲材料305上およびヒンジ支持支柱121a上に堆積され、ヒンジ層114を形成する。堆積された導電性の材料はまた、同時に、ビア310において、1つ以上の側面層315および底層312を形成する(ステップ445)。側面層315および底層312は、キャビティ125aを規定している。ヒンジ接続支柱122aは、側面層315および底層312によって形成されている。導電性材料の例は、チタン、チタンアルミニウム合金、チタンニッケル合金、およびチタン銅合金を含む。ヒンジ層114、側面層315、および底層312の同時の形成は、その他のデバイスのいくつかの製造ステップを1つのステップに結合させるので、マイクロミラーの製造を簡略化する。ヒンジ層114、側面層315、および底層312は、一つにまとまった層に形成されるので、ミラープレート110の機械的完全性および機械的強度は、向上される。
図9に示されているように、その後、フォトレジスト層318が、ヒンジ層114、側面層315、および底層312に導入される(ステップ450)。フォトレジスト層318は、2つの開口部320を形成してヒンジ層314を露出させるために、パターニングされる。フォトレジスト層318はまた、2つの穴109aおよび109bを形成するための窪みをも含んでいる(図9においては示されていない)。その後、ヒンジ層114は、図11に示されているように、ヒンジ層114において、開口部320の下に、ギャップ162aならびに2対の穴109aおよび109bを形成するために、エッチングされる。したがって、犠牲材料305は、穴109aおよび109bにおいて、露出される。その後、図12に示されているように、ヒンジ層114において、細長い接続部分163aを規定するために、フォトレジスト層318が除去される。
図13を参照すると、フォトレジストのような犠牲材料325が、キャビティ125aを充填するために堆積されている(ステップ455)。犠牲材料325は、その後のステップにおいて、スペーサ層113がキャビティ125a上およびヒンジ層114上に形成されることを可能にする。犠牲材料325はまた、穴109aおよび109bを介して犠牲材料305上に堆積され、穴109aおよび109bを充填する。犠牲材料325は、ヒンジ層およびビア310の上でスピンコートされ得る。その後、ヒンジ層114上の犠牲材料325は、除去される。単一のスピンコーティングは、キャビティ125aを充填するのに十分な程度には、犠牲材料325を堆積させ得ないので、犠牲材料325の数回のスピンコーティングが適用され得、数回のスピンコーティングの各々の後に、ヒンジ層114の表面からの犠牲材料325の除去が続き得る。犠牲材料325の上表面は、平坦な表面(すなわち、ヒンジ層114の上表面と実質的に同じ高さの表面)を形成するために平坦化される。
次に、図14に示されているように、スペーサ層113が、ヒンジ層114上に堆積される(ステップ460)。スペーサ層113は、例えば、アモルファスシリコン材料から形成され得る。次に、図15に示されているように、フォトレジスト材料127が、スペーサ層113の上にスピンコートされる(ステップ465)。その後、図16に示されているように、ランディングストップ140aおよび140bの上方に、窪み126aおよび126bを形成して、スペーサ層113の上表面を露出させるために、フォトレジスト層127が、パターニングされる。窪みはまた、ヒンジ113の上のフォトレジスト層127においても形成される。その後、図17Aに示されているように、スペーサ層113は、キャビティ112aおよび112bを形成するために、窪み126aおよび126bにおける露出領域において、エッチングされる。その後、図17Bに示されているように、スペーサ層113はまた、ヒンジコンポーネント120aの上方にキャビティ128を形成するために、エッチングされる。その後、キャビティ112aおよび112b、ならびに2対の穴109aおよび109bは、図18Aに示されているように、犠牲材料330によって充填される。図18Bに示されているように、キャビティ128もまた、犠牲材料330によって充填される。犠牲材料330は、穴109aおよび109bにおいて、ヒンジ層114と基板150との間に存在する犠牲材料305と接触する。
次に、図19Aおよび図19Bに示されているように、反射性の層111が、スペーサ層113および犠牲材料330上に堆積される(ステップ470)。反射性の層112に適切な材料は、金、アルミニウム、および金/アルミニウム合金を含み得る。
次に、図20Aおよび図20Bに示されているように、開口部340が、フォトレジストマスキングおよびエッチングを用いて、各ミラープレート110の境界を規定することにより、形成される(ステップ475)。すなわち、開口部340は、ミラープレート110を隣接するミラープレート110aおよび110bから分離し、犠牲材料305を露出させる。
図21および図22に示されているように、犠牲材料305、325、および330は、ミラープレート110を分離させるために、除去される(ステップ480)。ミラープレート110は、反射性の層111、スペーサ層113、およびヒンジ層114を含んでいる。ヒンジ接続支柱122aおよび122bは、その各々が、1つ以上の側面層315、底層312、ならびに中央のキャビティ125aまたは125bを含んでいる。ヒンジコンポーネント120aは、ヒンジ接続支柱122aの側面層315に接続されている。ヒンジ接続支柱122aはさらに、基板150上のヒンジ支持支柱121aにも接続されている。ヒンジ層114、ヒンジ接続支柱122aおよび122b、ならびにヒンジ支持支柱121aおよび121bは、ヒンジ層114の電位が、基板150における電気回路によって制御されることを可能にするために、導電性である。
ミラープレート110は、ヒンジ層114と基板150上の電極130a〜130bとの間の電位差によって生成される静電気的なトルクのもとで、ヒンジコンポーネント120aおよび120bによって規定される軸の回りで、傾斜し得る。ミラープレート110の傾斜運動は、橋107aまたは107bが、ランディングストップ140aおよび140bと接触するときに、停止され得る。ランディングストップ140aおよび140bは、ミラープレートを、反射性の層111が入射光を所定の方向に反射し得る正確な傾斜角に、規定し得る。静電気力は、橋107aまたは107bにおいて、ゆがみを生成し得る。静電気力が除去または反転されたときに、ランディングストップ107aまたは107bからのミラープレート110の分離を助けるために、蓄積された弾性エネルギーは、解放され得る。
一部の実施形態において、マイクロミラーの寸法は、以下の通りである。ヒンジコンポーネント120aおよび120bは、約2〜7μmの長さであり得、約0.2〜0.6μmの幅であり得、約0.04〜0.1μmの厚さであり得る。ヒンジ支持支柱121aおよび121bは、約0.5μm〜1.1μmの幅であり得、約1〜2μmの高さであり得る。ランディングストップ140aおよび140bは、0.5μm〜2.0μmの高さであり得、0.2〜0.6μmの幅であり得る。電極130aおよび130bは、0.2〜0.5μmの高さであり得る。ステップ電極131aおよび131bは、0.5〜1.0μmの高さであり得る。反射性の層111は、500オングストローム以下の厚さであり得る。
開示された方法は、マイクロミラーのその他の構成と適合することが、理解されるべきである。上述の様々な材料が、ミラープレート、ヒンジ接続支柱、ヒンジ支持支柱、電極、およびランディングステップの様々な層を形成するために、用いられ得る。電極は、図面に示されているような複数のステップ、あるいは単一の高さの上表面を含み得る。ミラープレートはまた、6角形、菱形、および8角形のような、様々な形状を有し得る。
図面は、詳細な説明と共に、本明細書の実施形態を例示し、本明細書の原理を説明する役目を担っている。
図1は、マイクロミラーの分解図を示している。 図2は、図1のマイクロミラーのミラープレートの底面図を示している。 図3は、図1のヒンジ、ヒンジ接続支柱、およびヒンジ支持支柱の詳細な図を示している。 図4は、マイクロミラーを製造するためのプロセスの流れ図を示している。 図5は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図6は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図7Aは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図7Bは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図8は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図9は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線B−Bに沿った断面図である。 図10は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線B−Bに沿った断面図である。 図11は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線B−Bに沿った断面図である。 図12は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線B−Bに沿った断面図である。 図13は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図14は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図15は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図16は、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図17Aは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図17Bは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図18Aは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図18Bは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図19Aは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図19Bは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図20Aは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図20Bは、基板上のマイクロミラーを製造するためのいくつかのステップを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。 図21は、基板上に形成されたマイクロミラーを示している、図2の直線C−Cに沿った断面図である。 図22は、基板上に形成されたマイクロミラーを示している、図2の直線A−Aに沿った断面図である。
符号の説明
110 ミラープレート
111 反射性の層
108a、108b 開口部
112a、112b 穴
113 スペーサ層
114 ヒンジ層
120a、120b ヒンジコンポーネント
121a、121b ヒンジ支持支柱
122a、122b ヒンジ接続支柱
123a ヒンジ支持支柱の上部分
124a ヒンジ支持支柱の下部分
125a、125b、128 キャビティ
130a、130b、131a、131b ステップ電極
140a、140b ランディングストップ
150 基板
312 底層
315 側面層

Claims (19)

  1. 基板によって支持されているヒンジ接続支柱であって、該ヒンジ接続支柱は、底層、および該ヒンジ接続支柱の中央においてキャビティを取り囲んでいる側面層を含んでいる、ヒンジ接続支柱と、
    該ヒンジ接続支柱の該側面層に接続されたヒンジコンポーネントと、
    該ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されたミラープレートと
    を備えている、マイクロミラー。
  2. 前記側面層は、前記基板に対して傾いている、請求項1に記載のマイクロミラー。
  3. 前記側面層は、円錐形であり、該側面層および前記底層は、カップ状の構造を形成している、請求項1に記載のマイクロミラー。
  4. 前記側面層、前記底層、および前記ヒンジコンポーネントは、一つにまとまった構造を形成している、請求項1に記載のマイクロミラー。
  5. 前記側面層、前記底層、および前記ヒンジコンポーネントは、実質的に同じ材料から構成されている、請求項1に記載のマイクロミラー。
  6. 前記側面層は、前記基板に対して実質的に垂直である、請求項1に記載のマイクロミラー。
  7. 前記ミラープレートは、反射性の層およびヒンジ層を含んでいる、請求項1に記載のマイクロミラー。
  8. 前記ヒンジ接続支柱、前記ヒンジコンポーネント、および前記ヒンジ層は、一つにまとまった構造を形成している、請求項7に記載のマイクロミラー。
  9. 前記ヒンジコンポーネントおよび前記ヒンジ層は、同一平面上にある、請求項7に記載のマイクロミラー。
  10. 前記ヒンジ接続支柱、前記ヒンジコンポーネント、および前記ヒンジ層は、実質的に同じ材料から構成されている、請求項7に記載のマイクロミラー。
  11. 前記ヒンジ接続支柱、前記ヒンジコンポーネント、および前記ヒンジ層は、導電性の材料を含んでいる、請求項7に記載のマイクロミラー。
  12. 基板上にミラープレートを製造するための方法であって、
    該基板上にヒンジ支持支柱を形成するステップと、
    該ヒンジ支持支柱上のヒンジ接続支柱、および該ヒンジ接続支柱に接続されたヒンジ層を、同時に形成するステップと、
    該ヒンジ層の上に反射性の層を形成するステップと、
    該反射性の層および該ヒンジ層の一部分を選択的に除去することにより、該ミラープレート、ならびに該ヒンジ接続支柱および該ヒンジ層に接続されたヒンジコンポーネントを形成するステップであって、該ミラープレートは、該ヒンジコンポーネントの回りで傾斜するように構成されている、ステップと
    を包含する、方法。
  13. 前記ヒンジ接続支柱を形成するステップは、
    前記基板上および前記ヒンジ支持支柱上に犠牲材料を配置するステップと、
    該犠牲材料にビアを形成することにより、該ヒンジ支持支柱の上表面を露出させるステップと、
    導電性の材料を堆積させることにより、該ビア内に該ヒンジ接続支柱を、および該犠牲材料の上に前記ヒンジ層を同時に形成するステップと
    を含んでいる、請求項12に記載の方法。
  14. 前記ビアは、前記基板に対して傾いている表面を含んでいる、請求項13に記載の方法。
  15. 前記ビアは、前記基板に対して実質的に垂直な表面を含んでいる、請求項13に記載の方法。
  16. 前記ヒンジ接続支柱は、底層および円錐形の側面層を含んでおり、該円錐形の側面層の下縁は、該底層に接続されて、キャビティを規定している、請求項12に記載の方法。
  17. 前記ヒンジコンポーネントおよび前記ヒンジ層は、同一平面上にある、請求項12に記載の方法。
  18. 前記ヒンジ接続支柱、前記ヒンジコンポーネント、および前記ヒンジ層は、導電性の材料を含んでいる、請求項12に記載の方法。
  19. 前記基板上および前記ヒンジ支持支柱上に犠牲材料を堆積させるステップと、
    該犠牲材料にビアを形成することにより、該ヒンジ支持支柱の上表面を露出させるステップであって、該ヒンジ接続支柱を形成する前記ステップは、導電性の材料を堆積させることにより、該ビア内に該ヒンジ接続支柱を、および該犠牲材料の上に前記ヒンジ層を同時に形成することを含んでいる、ステップと、
    該ヒンジ層における該導電性の材料を選択的に除去することにより、該ヒンジ層において開口部を形成し、該ヒンジ層内にあり、かつ該ヒンジ接続支柱の上にあるヒンジコンポーネントを規定するステップと、
    該ヒンジ層上および該ヒンジコンポーネント上に、スペーサ層を形成するステップであって、前記反射性の層の一部分を選択的に除去する前記ステップは、該犠牲材料を露出させ、該犠牲材料を除去することにより、前記ミラープレート、ならびに該ヒンジ接続支柱および該ヒンジ層に接続された該ヒンジコンポーネントを形成する、ステップと
    をさらに包含する、請求項12に記載の方法。
JP2007300817A 2006-11-28 2007-11-20 マイクロミラーの簡略化された製造プロセス Withdrawn JP2008134635A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/564,040 US20080123206A1 (en) 2006-11-28 2006-11-28 Simplified manufacturing process for micro mirrors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008134635A true JP2008134635A (ja) 2008-06-12

Family

ID=39015879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007300817A Withdrawn JP2008134635A (ja) 2006-11-28 2007-11-20 マイクロミラーの簡略化された製造プロセス

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20080123206A1 (ja)
EP (1) EP1927878A1 (ja)
JP (1) JP2008134635A (ja)
CN (1) CN101276050A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7884021B2 (en) * 2007-02-27 2011-02-08 Spartial Photonics, Inc. Planarization of a layer over a cavity
US20090109515A1 (en) * 2007-10-30 2009-04-30 Spatial Photonics, Inc. Encapsulated spatial light modulator having large active area

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5142405A (en) * 1990-06-29 1992-08-25 Texas Instruments Incorporated Bistable dmd addressing circuit and method
US5650881A (en) * 1994-11-02 1997-07-22 Texas Instruments Incorporated Support post architecture for micromechanical devices
US5552924A (en) * 1994-11-14 1996-09-03 Texas Instruments Incorporated Micromechanical device having an improved beam
US5719695A (en) * 1995-03-31 1998-02-17 Texas Instruments Incorporated Spatial light modulator with superstructure light shield
US5942054A (en) * 1995-12-22 1999-08-24 Texas Instruments Incorporated Micromechanical device with reduced load relaxation
US5912758A (en) * 1996-09-11 1999-06-15 Texas Instruments Incorporated Bipolar reset for spatial light modulators
US6025951A (en) * 1996-11-27 2000-02-15 National Optics Institute Light modulating microdevice and method
US6147790A (en) * 1998-06-02 2000-11-14 Texas Instruments Incorporated Spring-ring micromechanical device
US6992810B2 (en) * 2002-06-19 2006-01-31 Miradia Inc. High fill ratio reflective spatial light modulator with hidden hinge
CA2414980A1 (en) * 2002-12-23 2004-06-23 Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee Deferred incremental integrity maintenance of base tables having contiguous data blocks
US6947196B2 (en) * 2003-04-22 2005-09-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Trench-embedded mirror structure for double substrate spatial light modulator
US7307777B2 (en) * 2003-10-23 2007-12-11 Spatial Photonics, Inc. High-resolution spatial light modulation
JP2007510174A (ja) * 2003-10-27 2007-04-19 スペイシャル フォトニックス, インコーポレイテッド 高コントラストの空間光変調器および方法
US7183618B2 (en) * 2004-08-14 2007-02-27 Fusao Ishii Hinge for micro-mirror devices
US7095545B2 (en) * 2004-04-02 2006-08-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Microelectromechanical device with reset electrode

Also Published As

Publication number Publication date
US20080123206A1 (en) 2008-05-29
EP1927878A1 (en) 2008-06-04
CN101276050A (zh) 2008-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6908778B2 (en) Surface micro-planarization for enhanced optical efficiency and pixel performance in SLM devices
JP3790285B2 (ja) マイクロメカニカルデバイス用支柱
US6528887B2 (en) Conductive equipotential landing pads formed on the underside of a MEMS device
US6794217B2 (en) Single crystal silicon micromirror and array
US6473221B2 (en) Galvano-mirror and method of making the same
US7742219B2 (en) Micromachine structure
TW200409980A (en) Fabrication of a reflective spatial light modulator
WO2002019011A2 (en) Micromechanical optical switch and method of manufacture
CA2752746C (en) Mems device with integrated via and spacer
JP2008134635A (ja) マイクロミラーの簡略化された製造プロセス
US20080043309A1 (en) Micro-device and electrode forming method for the same
JP2006526806A (ja) 隠れヒンジを備えた高充填率反射型空間光変調器の作製
JP2008209924A (ja) キャビティの上の層の平面化
US7354865B2 (en) Method for removal of pattern resist over patterned metal having an underlying spacer layer
US20050146770A1 (en) Via adhesion in multilayer MEMS structure
KR100404195B1 (ko) 마이크로 미러 및 그 제조방법
US20040212868A1 (en) Trench-embeded mirror structure for double substrate spatial light modulator
JP2010185931A (ja) Mems素子の製造方法およびmems素子
US7362495B2 (en) Electrostatic fins for a MEMS device
KR100426208B1 (ko) 광학 스위치 및 그 제조 방법
JP4339863B2 (ja) ミラー素子の製造方法
JP2008052218A (ja) 可動構造体の製造方法及び同構造体を備えた光学素子
JP2006201541A (ja) ミラー基板の形成方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20110201