JP2008134074A - タイヤ検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】タイヤの不良箇所を特定するまでの手間及び時間を大幅に減少することができるタイヤ検査方法を提供する。
【解決手段】先ず、Ｘ線カメラ１５によって撮影されたタイヤ１２の画像を用いて、不良箇所１６を検出する。次いで、タイヤ１２がｂ方向に回転することによって識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達したことを、識別部検出部１４によって検出する。次いで、不良箇所１６を検出してから識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達するまでの時間を計測し、時間を、角速度を用いて距離に変換する。このように角速度から距離を算出することによって、識別部１１を基準としてどの位置に不良箇所１６が存在するかを容易に特定することができ、不良箇所１６を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。
【選択図】図２
【解決手段】先ず、Ｘ線カメラ１５によって撮影されたタイヤ１２の画像を用いて、不良箇所１６を検出する。次いで、タイヤ１２がｂ方向に回転することによって識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達したことを、識別部検出部１４によって検出する。次いで、不良箇所１６を検出してから識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達するまでの時間を計測し、時間を、角速度を用いて距離に変換する。このように角速度から距離を算出することによって、識別部１１を基準としてどの位置に不良箇所１６が存在するかを容易に特定することができ、不良箇所１６を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。
【選択図】図２
Description
本発明は、識別部を有するタイヤを一定の角速度で回転させ、タイヤに電磁波放射線を照射する電磁波放射線源、識別部を検出する識別部検出手段、及びタイヤを撮影するカメラを用いて、タイヤの不良箇所を検査するタイヤ検査方法に関する。
従来、タイヤの不良箇所を特定するに際し、図１Ａに示すように、タイヤ１をａ方向に回転させ、タイヤ１にＸ線を照射するＸ線源２及びタイヤ１を撮影するＸ線カメラ３を用いて、タイヤの画像を取得し、検査者の目視によってタイヤ１の不良箇所を見つけるとその付近にタイヤ１に金属の治具３ａを貼り付け、タイヤ１の撮影を再開する。図１Ｂ及び１Ｃに示すように、タイヤ１の撮影及び治具の貼り付けを繰り返すことによって、不良箇所４の特定を行っている。
しかしながら、このような不良箇所の特定では、タイヤの撮影と治具の貼り付けを複数回繰り返すために、手間と時間がかかるという不都合がある。
本発明の目的は、タイヤの不良箇所を特定するまでの手間及び時間を大幅に減少することができるタイヤ検査方法を提供することである。
本発明によるタイヤ検査方法は、
識別部を有するタイヤを一定の角速度で回転させ、前記タイヤに電磁波放射線を照射する電磁波放射線源、前記識別部を検出する識別部検出手段、及び前記タイヤを撮影するカメラを用いて、前記タイヤの不良箇所を検査するタイヤ検査方法であって、
前記カメラによって撮影されたタイヤの画像を用いて、前記不良箇所を検出するステップと、
前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達したことを、前記識別部検出手段によって検出するステップと、
前記不良箇所を検出してから前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達するまでの時間を計測するステップと、
前記時間を、前記角速度を用いて距離に変換するステップとを具えることを特徴とする。
識別部を有するタイヤを一定の角速度で回転させ、前記タイヤに電磁波放射線を照射する電磁波放射線源、前記識別部を検出する識別部検出手段、及び前記タイヤを撮影するカメラを用いて、前記タイヤの不良箇所を検査するタイヤ検査方法であって、
前記カメラによって撮影されたタイヤの画像を用いて、前記不良箇所を検出するステップと、
前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達したことを、前記識別部検出手段によって検出するステップと、
前記不良箇所を検出してから前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達するまでの時間を計測するステップと、
前記時間を、前記角速度を用いて距離に変換するステップとを具えることを特徴とする。
本発明によるタイヤ検査方法によれば、先ず、カメラによって撮影されたタイヤの画像を用いて、不良箇所を検出する。不良箇所の検出は、検査者による目視によって行っても、機器によって自動的に行ってもよい。次いで、タイヤが回転することによって識別部が不良箇所の検出位置に到達したことを、識別部検出手段によって検出する。次いで、不良箇所を検出してから識別部が不良箇所の検出位置に到達するまでの時間を計測し、時間を、角速度を用いて距離に変換する。
このように角速度から距離を算出することによって、識別部を基準としてどの位置に不良箇所が存在するかを容易に特定することができるので、タイヤの不良箇所を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。タイヤの不良箇所を特定するに際し、前記識別部を基準とした前記不良箇所の角度を、前記距離及び識別部の位置から求めることもできる。また、前記識別部を、例えば、バーコード又はマーキングとする。
本発明によるタイヤ検査方法の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
図２は、本発明によるタイヤ検査方法の実施の形態による不良箇所の特定を説明するための図である。本実施の形態において、バーコードやマーキングのような識別部１１を有するタイヤ１２を一定の角速度でｂ方向に回転させ、タイヤ１２にＸ線を照射するＸ線源１３、タイヤ１２の同心円上に配置されて識別部１１を検出する識別部検出機１４、及びタイヤ１２を撮影するＸ線カメラ１５を用いて、タイヤ１２の不良箇所１６を検査する。
図２は、本発明によるタイヤ検査方法の実施の形態による不良箇所の特定を説明するための図である。本実施の形態において、バーコードやマーキングのような識別部１１を有するタイヤ１２を一定の角速度でｂ方向に回転させ、タイヤ１２にＸ線を照射するＸ線源１３、タイヤ１２の同心円上に配置されて識別部１１を検出する識別部検出機１４、及びタイヤ１２を撮影するＸ線カメラ１５を用いて、タイヤ１２の不良箇所１６を検査する。
本実施の形態の動作を説明する。先ず、Ｘ線カメラ１５によって撮影されたタイヤ１２の画像を用いて、不良箇所１６を検出する。不良箇所１６の検出は、検査者による目視によって行っても、図示しない機器によって自動的に行ってもよい。次いで、タイヤ１２が回転することによって識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達したことを、識別部検出機１４によって検出する。次いで、不良箇所１６を検出してから識別部１１が不良箇所１６の検出位置に到達するまでの時間を計測し、時間を、角速度を用いて距離に変換する。
このように角速度から距離を算出することによって、目視検査において、識別部１１を基準としてどの位置に不良箇所１６が存在するかを容易に特定することができるので、タイヤ１２の不良箇所１６を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。なお、自動検査を行う場合には、識別部１１を基準とした不良箇所１６の角度を、変換された距離及び識別部１１の位置から求める。
本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、幾多の変更及び変形が可能である。
例えば、上記実施の形態において、電磁波放射線源としてＸ線を用いたが、γ線のような他の電磁波放射線を用いることもできる。また、上記実施の形態では、不良箇所の特定を検査者の目視によって行う場合について説明したが、不良箇所を機器によって自動的に検出することもできる。
例えば、上記実施の形態において、電磁波放射線源としてＸ線を用いたが、γ線のような他の電磁波放射線を用いることもできる。また、上記実施の形態では、不良箇所の特定を検査者の目視によって行う場合について説明したが、不良箇所を機器によって自動的に検出することもできる。
１，１２ タイヤ
２，１３ Ｘ線源
３，１５ Ｘ線カメラ
３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ 治具
４，１６ 不良箇所
１１ 識別部
１４ 識別部検出機
２，１３ Ｘ線源
３，１５ Ｘ線カメラ
３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄ 治具
４，１６ 不良箇所
１１ 識別部
１４ 識別部検出機
Claims (3)
- 識別部を有するタイヤを一定の角速度で回転させ、前記タイヤに電磁波放射線を照射する電磁波放射線源、前記識別部を検出する識別部検出手段、及び前記タイヤを撮影するカメラを用いて、前記タイヤの不良箇所を検査するタイヤ検査方法であって、
前記カメラによって撮影されたタイヤの画像を用いて、前記不良箇所を検出するステップと、
前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達したことを、前記識別部検出手段によって検出するステップと、
前記不良箇所を検出してから前記識別部が前記不良箇所の検出位置に到達するまでの時間を計測するステップと、
前記時間を、前記角速度を用いて距離に変換するステップとを具えることを特徴とするタイヤ検査方法。 - 前記識別部を基準とした前記不良箇所の角度を、前記距離及び識別部の位置から求めるステップを更に具えることを特徴とする請求項１記載のタイヤ検査方法。
- 前記識別部をバーコード又はマーキングとすることを特徴とする請求項１又は２記載のタイヤ検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006318563A JP2008134074A (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | タイヤ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2006318563A JP2008134074A (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | タイヤ検査方法 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006318563A Pending JP2008134074A (ja) | 2006-11-27 | 2006-11-27 | タイヤ検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008134074A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012056376A (ja) * | 2010-09-07 | 2012-03-22 | Bridgestone Corp | マーク打点方法及びマーク打点装置 |
| CN107490588A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-12-19 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 轮胎缺陷定位的方法 |
| CN115219732A (zh) * | 2022-07-13 | 2022-10-21 | 上海发电设备成套设计研究院有限责任公司 | 一种回转式空气预热器可视化定位方法及系统 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3952194A (en) * | 1974-11-11 | 1976-04-20 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Device for identifying the location of defects in a tire being X-rayed |
-
2006
- 2006-11-27 JP JP2006318563A patent/JP2008134074A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3952194A (en) * | 1974-11-11 | 1976-04-20 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Device for identifying the location of defects in a tire being X-rayed |
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| CN107490588B (zh) * | 2017-08-24 | 2020-12-04 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 轮胎缺陷定位的方法 |
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