JP2008099097A - Clock phase shift apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、複数個のPLL(Phase Locked Loop)回路を使用してクロックの位相をずらすクロック位相シフト装置に関するものであり、例えばクロック同期メモリなどのデバイスへのアクセスタイミング仕様を満足させるためにPLL回路を用いてクロックの位相をずらす必要がある装置において、PLLロック外れを発生しにくくしたい、あるいはロックするまでの間はシステム全体を動作させずに必要な期間のリセット信号を出力したい場合等に適用すれば至便なクロック位相シフト装置に関するものである。 The present invention relates to a clock phase shift device that shifts the phase of a clock by using a plurality of PLL (Phase Locked Loop) circuits. For example, the PLL is used to satisfy the access timing specifications for a device such as a clock synchronous memory. In a device that needs to shift the phase of the clock using a circuit, when you want to make it difficult for PLL lockout to occur, or to output a reset signal for the required period without operating the entire system until it is locked, etc. The present invention relates to a clock phase shift device that is convenient to apply.
従来のPLL回路を使用したクロック位相シフトに関しては様々な方式が案出されてきた。例えば、特開平10−56382号公報(特許文献1)のようにPLL回路を2個使用する方式である。
特開平10−56382号公報に記載の方式を図7に示す。図7に示すように、この方式では1個目のPLL回路を通常のようにフィードバックしたクロックを1個目のPLL回路に入れる使用方法で使用した直後に、2個目のPLL回路を同様にフィードバックしたクロックを2個目のPLL回路に入れる方式が採用されている。
この方式においては電圧低下時でも安定した周波数特性を得られるなどの利点があるが、PLLロック外れの発生しやすさに対しては対策は取られておらず、各々フィードバックループを有するPLL回路を2個使用したことによりフィードバックループが2箇所となり、PLLロック外れの可能性のある場所が2箇所になってしまっており、PLLロック外れの発生しやすさが2倍になってしまっていた。
Various systems have been devised for clock phase shift using a conventional PLL circuit. For example, there is a system using two PLL circuits as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-56382 (Patent Document 1).
The method described in Japanese Patent Laid-Open No. 10-56382 is shown in FIG. As shown in FIG. 7, in this method, the second PLL circuit is similarly used immediately after the first PLL circuit is used in a usage method in which the clock obtained by feeding back the usual PLL circuit is inserted into the first PLL circuit. A system is adopted in which the fed back clock is inserted into the second PLL circuit.
This method has an advantage that a stable frequency characteristic can be obtained even when the voltage drops. However, no countermeasure is taken against the ease of occurrence of PLL lock-off, and each PLL circuit having a feedback loop is provided. By using two, there are two feedback loops, and there are two places where there is a possibility of the PLL lock being released, and the likelihood of the PLL lock being released has doubled.
また、前記リセットの期間を延長させる回路に関しても、従来から様々な方式が案出されてきた。例えば特開平5−88785号公報(特許文献2)に記載のものがある。
特開平5−88785号公報に記載の方式を図8に示す。図8に示すように、この方式は、リセット信号発生部とパルス幅補償部と回路を分ける方式である。この方式は、クロックが安定していない場合の動作が不確実であり、またパルス幅補償部のリセットは何をもってするのかという点が考慮されていないなど現実的な方式ではなかった。
Also, various systems have been devised for the circuit for extending the reset period. For example, there exists a thing of Unexamined-Japanese-Patent No. 5-88785 (patent document 2).
The method described in Japanese Patent Laid-Open No. 5-88785 is shown in FIG. As shown in FIG. 8, this method is a method in which the reset signal generator, the pulse width compensator, and the circuit are separated. This method is not a realistic method because the operation when the clock is not stable is uncertain and the point of what the pulse width compensator is reset is not taken into consideration.
PLL回路を使用した従来のクロック位相シフト装置では、PLLロック外れの発生しやすさに対する対策としてはPLL回路そのものの性能にのみ頼っており、PLLロック外れを発生しにくくすることについてはは特に考慮されていなかった。
例えば、100MHzを超える高速クロックを使用するデバイスやシステムでは、例えば、水晶発振器出力クロックのジッタ変動や電源ノイズなどにより出力電圧に変動が生じた場合、PLL回路ではその出力クロックを入力側の基準周波数としてフィードバックして位相制御しているので、前記ジッタ変動や電源ノイズなどが原因してPLLロック外れを起こすことがあり、もし、PLLロック外れが発生した場合には、PLL出力クロック周波数が過渡的に乱れ、PLL出力クロックを利用しているクロック同期メモリなどのクロック利用デバイスやシステムへのアクセスでパリティエラーなどのエラーが発生する可能性があるため、PLL回路を使用してクロックの位相をずらすクロック位相シフト装置においてはPLLロック外れを発生しにくくするの好ましい。
In a conventional clock phase shifter using a PLL circuit, as countermeasures against the ease of occurrence of PLL lock loss, only the performance of the PLL circuit itself is relied on, and it is particularly considered that the PLL lock loss is less likely to occur. Was not.
For example, in a device or system using a high-speed clock exceeding 100 MHz, for example, when the output voltage fluctuates due to jitter fluctuation or power supply noise of the crystal oscillator output clock, the PLL circuit uses the output clock as the reference frequency on the input side. Since the phase control is performed by feedback, the PLL lock may be lost due to the jitter fluctuation or the power supply noise. If the PLL lock is lost, the PLL output clock frequency is transient. May cause errors such as parity errors when accessing the clock-synchronized memory or other devices using the PLL output clock or accessing the system, so use the PLL circuit to shift the phase of the clock. PLL lock out occurs in clock phase shift device It preferred to Nikuku.
また、前記リセットの期間を延長させる従来のリセット延長回路では、クロックが安定していない期間での動作が不確定であったり、リセット延長回路そのもののリセットをどのようにするのかという点について考慮がされていないので、ロックが完了するまでの間、システムが動作し始めないように的確なリセット信号を出すようにすることが好ましい。 In addition, in the conventional reset extension circuit that extends the reset period, it is considered that the operation in the period where the clock is not stable is uncertain or how the reset extension circuit itself is reset. Therefore, it is preferable to issue an appropriate reset signal so that the system does not start to operate until the lock is completed.
この発明は、前述のような実情に鑑みてなされたもので、PLL回路を使用してクロックの位相をずらすクロック位相シフト装置において、PLLロック外れを発生しにくくし、またロックが完了するまでの間、PLL出力クロックを使用するシステムが動作し始めないようにリセット信号をシステム全体に必要な期間だけ出すことができるようにすることを目的とするものである。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances. In a clock phase shift device that shifts the phase of a clock using a PLL circuit, it is difficult to cause a PLL lock out and the lock is completed. In the meantime, an object of the present invention is to enable a reset signal to be issued to the entire system for a necessary period so that the system using the PLL output clock does not start to operate.
この発明に係るクロック位相シフト装置は、水晶発振器の出力クロックを入力する第1段のPLL回路、およびこの第1段のPLL回路の出力クロックを入力する第2段のPLL回路を備え、前記第2段のPLL回路の出力クロックが前記第1段のPLL回路に前記水晶発振器の出力クロックと比較する入力クロックとして入力され、前記第2段のPLL回路の出力クロックが外部への出力クロックとして取り出されるものである。 A clock phase shift device according to the present invention includes a first-stage PLL circuit that inputs an output clock of a crystal oscillator, and a second-stage PLL circuit that inputs an output clock of the first-stage PLL circuit. The output clock of the two-stage PLL circuit is input to the first-stage PLL circuit as an input clock for comparison with the output clock of the crystal oscillator, and the output clock of the second-stage PLL circuit is taken out as an output clock to the outside. It is what
この発明は、水晶発振器の出力クロックを入力する第1段のPLL回路、およびこの第1段のPLL回路の出力クロックを入力する第2段のPLL回路を備え、前記第2段のPLL回路の出力クロックが前記第1段のPLL回路に前記水晶発振器の出力クロックと比較する入力クロックとして入力され、前記第2段のPLL回路の出力クロックが外部への出力クロックとして取り出されるので、PLL回路を使用してクロックの位相をずらすクロック位相シフト装置において、PLLロック外れを発生しにくくできる効果がある。 The present invention includes a first-stage PLL circuit that inputs an output clock of a crystal oscillator, and a second-stage PLL circuit that inputs an output clock of the first-stage PLL circuit. The second-stage PLL circuit includes: The output clock is input to the first stage PLL circuit as an input clock for comparison with the output clock of the crystal oscillator, and the output clock of the second stage PLL circuit is taken out as an output clock to the outside. In the clock phase shift apparatus that uses and shifts the phase of the clock, there is an effect that it is difficult to cause the PLL lock out.
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1を、複数のPLL回路を使用したクロック位相シフト装置の事例を示すブロック図である図1に基づいて説明する。
Embodiment 1 FIG.
Hereinafter, Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIG. 1 which is a block diagram showing an example of a clock phase shift apparatus using a plurality of PLL circuits.
この発明の実施の形態1を図1に基づいて説明するに当たって、まず、従来の一般的なクロック位相シフト装置について図9より説明する。
図9において、水晶発振器100から生成されるクロックが、PLL回路201とフリップフロップ回路203とを含むFPGA(Field Programmable Gate Array)200に入力されており、PLL回路201から出力されるクロックとフリップフロップ回路203から出力されるその他の信号(アドレス信号/データ信号/制御信号等)が例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されている。FPGA200はデバイス300にアクセスするが、デバイス300にアクセスするためのタイミング仕様をFPGA200を通常に使用した場合では満足できない場合、クロックの位相をずらす必要がある。
In describing Embodiment 1 of the present invention with reference to FIG. 1, first, a conventional general clock phase shift device will be described with reference to FIG.
In FIG. 9, a clock generated from the
なおFPGAとは、周知のように、ユーザが希望する論理機能を何度でも書き換えできるデバイスであり、FPGA上に格子状に並んだCLB(Configurable Logic Block)により構成され、各CLBはCLB間の配線リソースによって接続可能となっており、また、各CLBは任意の論理関数を生成できるファンクションジェネレータとフリップフロップにより構成されている。 As is well known, the FPGA is a device that can rewrite the logic function desired by the user any number of times. The FPGA is composed of CLBs (Configurable Logic Blocks) arranged in a grid on the FPGA, and each CLB is between CLBs. Each CLB is configured by a function generator and a flip-flop capable of generating an arbitrary logical function.
次に、図9に示される従来の一般的なクロック位相シフト装置の動作について、クロックの位相をずらす必要がある場合について説明する。 Next, the operation of the conventional general clock phase shifter shown in FIG. 9 will be described in the case where the clock phase needs to be shifted.
FPGA200は、水晶発振器100から入力されたクロックC100を使用してフリップフロップ回路203からアドレス信号/データ信号等の出力O203を出す一方で、FPGA200の出力クロックO200の位相を水晶発振器100の出力クロックC100に対してずらすために、水晶発振器100の出力クロックC100をPLL回路201に入力する。
The
PLL回路201は、入力されたクロックC100を、PLL回路201内部の多少の遅延を伴って出力C201する。
PLL回路201から出力されたクロックC201は、FPGA200から出力されて、例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されるとともに、フィードバックされてPLL回路201にも入力される。
The
The clock C201 output from the
PLL回路201は、水晶発振器100から入力されたクロックC100と、フィードバックされて入力されたクロックC201とを比較する。当然、クロックが入力され始めた直後は、水晶発振器100から入力されたクロックC100と、フィードバックされて入力されたクロックC201との位相はずれているが、PLL回路201は水晶発振器100から入力されたクロックC100とフィードバックされて入力されたクロックC201との位相のずれをなくすよう、PLL回路201の出力クロックC201を調整してフィードバックされて入力されているクロックC201を水晶発振器100から入力されたクロックC100と位相を同じにする。
The
この調整を一般に「クロックの位相をずらす」と言い、またこの調整に成功している状態を一般に「PLLロックしている」と言い、逆に調整に失敗している状態を一般に「PLLロック外れ」と言う。 This adjustment is generally referred to as “shifting the clock phase”, and the state in which this adjustment has been successful is generally referred to as “PLL locked”, while the state in which the adjustment has failed is generally referred to as “PLL locked out”. "
なお、クロックが入力され始めてからPLLロックしている状態になるまでの時間は、例えば、クロック周波数で数サイクルである。 Note that the time from when the clock is input until the PLL is locked is, for example, several cycles at the clock frequency.
次に、前述の図9に示された従来の一般的なクロック位相シフト装置を踏まえて、この発明の実施の形態1のクロック位相シフト装置の事例を図1にとり説明する。なお、図1において、図9と同一又は相当部分には図9と同一符号を付してある。 Next, based on the conventional general clock phase shift device shown in FIG. 9, the example of the clock phase shift device according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 1, the same reference numerals as those in FIG.
図1において、水晶発振器100から生成されるクロックC100が、第1段のPLL回路A201と第2段のPLL回路B202とフリップフロップ回路203とバッファ204とを含むFPGA200に入力されており、バッファ204から出力されるクロックC204とフリップフロップ回路203から出力されるその他の信号(アドレス信号/データ信号/制御信号等)O203が、例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されている。
In FIG. 1, a clock C100 generated from the
FPGA200は、クロック同期メモリ300にアクセスするが、デバイス300にアクセスするためのタイミング仕様を、FPGA200を通常に使用した場合では満足できない場合、クロックC204の位相をずらす必要がある。
The
次に図1に例示されている実施の形態1の動作について、クロックの位相をずらす必要がある場合について説明する。 Next, the operation of the first embodiment illustrated in FIG. 1 will be described in the case where the clock phase needs to be shifted.
FPGA200は、水晶発振器100から入力されたクロックC100をクロックの位相をずらすためにPLL回路A201にクロックを入力する。
The
第1段のPLL回路A201は、水晶発振器100から入力されたクロックC100を、第1段のPLL回路A201の内部での多少の遅延を伴って出力C201する。
The first-stage PLL circuit A201 outputs the clock C100 input from the
第1段のPLL回路A201から出力されたクロックC201は、フリップフロップ回路203に入力されてアドレス信号/データ信号等の出力C203をFPGA200から出力する一方で、第2段のPLL回路B202に入力される。
The clock C201 output from the first-stage PLL circuit A201 is input to the flip-
第2段のPLL回路B202は入力されたクロックC201を第2段のPLL回路B202の内部での多少の遅延を伴って出力する。 The second-stage PLL circuit B202 outputs the input clock C201 with some delay inside the second-stage PLL circuit B202.
第2段のPLL回路B202から出力されたクロックC202は、バッファ204に入力されるとともにフィードバックされて第1段のPLL回路A201にも入力される。
The clock C202 output from the second-stage PLL circuit B202 is input to the
バッファ204から出力されたクロックC204は、FPGA200から出力されて例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されるとともに、フィードバックされて第2段のPLL回路B202に入力される。
The clock C204 output from the
第1段のPLL回路A201は、水晶発振器100から入力されたクロックC100と、第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202とを比較する。
The first-stage PLL circuit A201 compares the clock C100 input from the
第1段のPLL回路A201にクロックC100が入力され始めた直後は、水晶発振器100から入力されたクロックC100と第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202との位相は当然ずれているが、第1段のPLL回路A201は、
水晶発振器100から入力されたクロックC100と第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202との位相のずれをなくすように第1段のPLL回路A201の出力クロックC201を調整して、第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されているクロックC202と水晶発振器100から入力されたクロックC100とを同じ位相にする。
Immediately after the clock C100 starts to be input to the first-stage PLL circuit A201, the phase of the clock C100 input from the
The output clock C201 of the first-stage PLL circuit A201 is adjusted so as to eliminate the phase shift between the clock C100 input from the
第2段のPLL回路B202は、第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201と、バッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204とを比較する。
The second-stage PLL circuit B202 compares the clock C201 input from the first-stage PLL circuit A201 with the clock C204 input by feedback from the
第2段のPLL回路B202では、クロックが入力され始めた直後は、第1段のPLL回路201から入力されたクロックC201とバッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204との位相は当然ずれているが、第2段のPLL回路B202は、第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201とバッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204との位相のずれをなくすように第2段のPLL回路B202の出力クロックC202を調整して、バッファ204からフィードバックされて入力されているクロックC204と第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201とを同じ位相にする。実施の形態1では以上の方法でクロックの位相をずらす。
In the second-stage PLL circuit B202, immediately after the clock starts to be input, the phase of the clock C201 input from the first-
この実施の形態1に例示したクロック位相シフト装置では、クロックのフィードバックを2個のPLL回路(第1段のPLL回路201、第2段のPLL回路B202)にまたがらせることにより、クロックの位相ずらしのための調整が実施できる箇所を2箇所とした。
In the clock phase shift device illustrated in the first embodiment, the clock phase is shifted over two PLL circuits (the first-
クロックの位相ずらしのための調整が実施できる箇所を2箇所としたことにより、前述のPLLロック外れの発生しやすさは、前述の図7に示す従来のクロック位相シフト装置の場合の2分の1となっている。 Since the number of places where the adjustment for the phase shift of the clock can be performed is two, the above-described ease of occurrence of the PLL lock-off is two minutes that of the conventional clock phase shift device shown in FIG. It is 1.
また、前述のPLLロックに要する時間は、例えば、第1段のPLL回路A201、第2段のPLL回路B202の各々での時間がクロック周波数で3サイクルであるとすれば、この発明の実施の形態1では6サイクル(3サイクル+3サイクル)であるが、前述の図7に示す従来のクロック位相シフト装置においては、フィードバック回路を有する1個目の位相比較器(PLL回路)のPLLロックしてない状態の不確定な出力を、フィードバック回路を有する2個目の位相比較器(PLL回路)に取り込んでいるため、最終出力がPLLロックするまでの時間は6サイクルを数サイクル超え完全にPLLロックするまでに時間を要する。換言すれば、6サイクル経過時点では、前述の図7に示す従来のクロック位相シフト装置においてはPLLロック外れの状態となるが、この発明の実施の形態1では、確実にPLLロックの状態となる。 Further, the time required for the above-described PLL lock is, for example, when the time in each of the first-stage PLL circuit A201 and the second-stage PLL circuit B202 is 3 cycles in clock frequency. In the first mode, there are 6 cycles (3 cycles + 3 cycles). However, in the conventional clock phase shift device shown in FIG. 7, the PLL of the first phase comparator (PLL circuit) having the feedback circuit is locked. Since the uncertain output in the absence state is taken into the second phase comparator (PLL circuit) having a feedback circuit, the time until the final output is PLL-locked exceeds 6 cycles and is completely PLL-locked It takes time to do. In other words, at the time when 6 cycles have elapsed, in the conventional clock phase shift device shown in FIG. 7, the PLL lock is released, but in the first embodiment of the present invention, the PLL lock is surely achieved. .
なお、前述の実施の形態1では、クロック周波数を分周により下げることについては記載してないが、デバイスやシステムによって使用するクロック周波数は、水晶発振器の発振周波数より低い場合や高い場合など、様々であり、何れの場合にも前述の実施の形態1を適用することが可能である。
また、前述の出力クロックC204は、水晶発信器の出力クロックC100から、所定位相シフトされるが、そのシフト量は、必要に応じて調整できるように可調整としてもよい。
In the first embodiment described above, there is no description about lowering the clock frequency by frequency division. However, there are various cases where the clock frequency used by the device or system is lower or higher than the oscillation frequency of the crystal oscillator. In any case, the above-described first embodiment can be applied.
The output clock C204 is shifted by a predetermined phase from the output clock C100 of the crystal oscillator, but the shift amount may be adjustable so that it can be adjusted as necessary.
実施の形態2.
以下、この発明の実施の形態2を、複数のPLL回路を使用し且つリセット信号生成回路を有したクロック位相シフト装置の事例を示す図2に基づいて説明する。
Embodiment 2. FIG.
A second embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. 2 showing an example of a clock phase shift device using a plurality of PLL circuits and having a reset signal generation circuit.
図2において、水晶発振器100から生成されるクロックC100が、第1段のPLL回路A201と第2段のPLL回路B202とフリップフロップ回路203とバッファ204とを含むFPGA200に入力されており、FPGA200から出力されるクロックC204とその他の信号(アドレス信号/データ信号/制御信号等)O203とが、例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されている。
In FIG. 2, a clock C100 generated from the
第1段のPLL回路A201は、自己のPLLロック外れを自ら判定し当該PLLロック外れを通知するためのPLLロック外れ通知信号205を出力する。
The first-stage
第2段のPLL回路B202は、自己のPLLロック外れを自ら判定し当該PLLロック外れを通知するためのPLLロック外れ通知信号206を出力する。
The second-stage
FPGA200は、FPGA200の出力であるクロックC204やその他の信号(アドレス信号/データ信号/制御信号等)O203を利用するシステム(図示省略)をリセット(初期化)するリセット信号207を出力する。このリセット信号207は、PLLロック外れ通知信号205とPLLロック外れ通知信号206とを入力するOR論理要素等の論理要素207から、PLLロック外れ通知信号205およびPLLロック外れ通知信号206の少なくとも一が出力されると出力される。
The
FPGA200はデバイス300にアクセスするが、デバイス300にアクセスするためのタイミング仕様をFPGA200を通常に使用した場合では満足できない場合、クロックの位相をずらす必要がある。
The
次に実施の形態2の動作について説明する。実施の形態1及び2では、最初に一度ロックしてしまえばロック外れが発生しにくいという利点がある反面、最初のロックがしにくくなっている。最初にロックするまでの間は正常な動作が期待できないため、リセットをかけてFPGA200が例えばクロック同期メモリなどのデバイス300にアクセスしないようにする。
Next, the operation of the second embodiment will be described. In the first and second embodiments, there is an advantage that once the lock is first made, it is difficult for the lock to be released, but the first lock is difficult to perform. Since normal operation cannot be expected until the first lock, the reset is performed so that the
第1段のPLL回路A201から出力されるPLLロック外れ通知信号205は、ロック外れが発生した時に有意になるが、ロックする前も有意となっている。また同様に第2段のPLL回路B202から出力されるPLLロック外れ信号206は、ロック外れが発生した時に有意になるが、ロックする前も有意となっている。
The PLL unlock notification signal 205 output from the first-stage
これらロック外れ信号205、206の論理和を論理要素207で取った信号をFPGA200から出力されるリセット信号O207とし、前記システム全体とFPGA200自身をリセットする。これにより、ロックの状態になる前にFPGA200がデバイス300にアクセスしてしまい、FPGA200及びシステム全体が誤動作することを防げる。
A signal obtained by taking the logical sum of these unlock signals 205 and 206 by the
実施の形態3.
以下、この発明の実施の形態3を図10、図3、図4に基づいて説明する。図10は従来のFPGA内部回路をリセットする回路構成を示すブロック図、図3は複数のPLL回路を有したFPGAの内部回路をリセットする回路構成の事例を示すブロック図、図4は図3における各部動作例と図10における各部動作とを比較してタイムチャートで示す図である。
Embodiment 3 FIG.
The third embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 10, 3, and 4. FIG. FIG. 10 is a block diagram showing a circuit configuration for resetting a conventional FPGA internal circuit, FIG. 3 is a block diagram showing an example of a circuit configuration for resetting an internal circuit of an FPGA having a plurality of PLL circuits, and FIG. 4 is a block diagram in FIG. It is a figure which compares each part operation example with each part operation | movement in FIG. 10, and shows with a time chart.
図10、図3において、水晶発振器100から生成されるクロックC100が、クロックロス検出回路400と、内部回路208を備えるFPGA200とに入力されている。
10 and 3, the clock C100 generated from the
クロックロス検出回路400は、入力されるクロックC100が供給されなくなってしばらくすると有意になり、クロックが供給されている間は無意になるクロックロス信号O400を常に出力している。
The clock
またリセット信号500がFPGA200に入力され、出力されている。リセット信号500の発生要因は、電源降下による自動リセットや、システムが備えているリセットボタンの人為の押下などである。図10は従来の方式である。図3は本実施の形態3の方式である。
A
まず従来の方式の動作について図4に基づいて説明する。
特殊なケースでない限り、電源、クロックC100、クロックロス信号O400、リセット信号500は、図4に図示の上から順番に有意になっていく。
即ち、電源を投入すると、まず電源そのものがゆっくりと供給されはじめ、やがて完全に供給されるようになる。
水晶発振器100は、電源供給を完全に受けてから初めてクロックC100の生成を開始する。電源が供給され始めた直後は動作が不確定である。不確定であるとは、具体的にはハイとローの中間の電位であったり、本来水晶発振器100が生成すべき周波数ではないクロックが出力されたりなどの状態である。
クロックロス検出回路400は、電源が供給されはじめてもクロックC100が生成されていない場合には、図示のように、クロックロス信号O400として有意を出力している。即ち、図示のように、クロックロス信号は、ロー有意である。従って、この「クロックロス信号O400有意」は、クロックC100が発生していないことを表す信号である。
クロックC100が不確定の動作中であっても、クロック信号C100がハイに変化するのを検出したり、異なった周波数のクロックを検出したりすると、図示のように、クロックロス信号O400は無意へと変化する。従って、この「クロックロス信号O400無意」は、クロックC100が発生していることを表す信号である。
リセット信号500は、図示のように、クロックC100が完全に供給されてしばらく経ってから有意から無意へと変わる。リセット信号500はロー有意である。この「リセット信号500有意」は、FPGA200内部の内部回路208のリセット、即ち初期化状態、スタンバイ状態、を意味し、FPGA200の内部回路208の出力O208(図2におけるフリップフロップ回路203の出力O203等)が出力されていないことを意味する。
図10に示す従来の方式、システムでは、このリセット信号500がFPGA200内部の内部回路208をリセットしていたため、正常なクロックC100が供給されていても、リセット信号500が無意になるまで内部回路208は動作することができなかった。FPGA200の出力を利用するデバイスやシステムも動作することができなかった。
First, the operation of the conventional method will be described with reference to FIG.
Unless it is a special case, the power supply, the clock C100, the clock loss signal O400, and the
In other words, when the power is turned on, the power itself begins to be supplied slowly and eventually is supplied completely.
The
The clock
Even if the clock C100 is indeterminate, if the clock signal C100 is detected to change to high, or if a clock with a different frequency is detected, the clock loss signal O400 will be involuntarily shown. And change. Therefore, this “clock loss signal O400 involuntary” is a signal indicating that the clock C100 is generated.
As shown in the figure, the reset signal 500 changes from significant to involuntary after a while after the clock C100 is completely supplied. The
In the conventional system and system shown in FIG. 10, the reset signal 500 resets the
次に実施の形態3の動作について図8に基づいて説明する。
特殊なケースでない限り、電源、クロックC100、クロックロス信号O400、リセット信号500は、図4に図示の上から順番に有意になっていく。
即ち、電源を投入すると、まず電源そのものがゆっくりと供給されはじめ、やがて完全に供給されるようになる。
水晶発振器100は、電源供給を完全に受けてから初めてクロックC100の生成を開始する。電源が供給され始めた直後は動作が不確定である。不確定であるとは、具体的にはハイとローの中間の電位であったり、本来水晶発振器100が生成すべき周波数ではないクロックが出力されたりなどの状態である。
クロックロス検出回路400は、電源が供給されはじめてもクロックC100が生成されていない場合には、図示のように、クロックロス信号O400として有意を出力している。即ち、図示のように、クロックロス信号は、ロー有意である。従って、この「クロックロス信号O400有意」は、クロックC100が発生していないことを表す信号である。
クロックC100が不確定の動作中であっても、クロック信号C100がハイに変化するのを検出したり、異なった周波数のクロックを検出したりすると、図示のように、クロックロス信号O400は無意へと変化する。従って、この「クロックロス信号O400無意」は、クロックC100が発生していることを表す信号である。
リセット信号500は、図示のように、クロックC100が完全に供給されてしばらく経ってから有意から無意へと変わる。リセット信号500はロー有意である。この「リセット信号500有意」は、FPGA200内部の内部回路208のリセット、即ち初期化状態、スタンバイ状態、を意味し、FPGA200の内部回路208の出力O208(図2におけるフリップフロップ回路203の出力O203等)が出力されていないことを意味する。
図3に例示する本実施の形態3の方式、システムでは、このリセット信号500は、図3に図示のように、FPGA200の内部回路208のリセットには使用されず、必要に応じて内部回路208以外のFPGA200内のリセットに使用されたり、必要に応じてそのままFPGA200から出力されてシステム全体のリセットに使用されたりするようにしてもよい。
FPGA200の内部回路208のリセットをするのは、クロックロス検出回路400の出力であるクロックロス信号O400である。そのため内部回路208が有意な出力信号を作り出せる時期は、図4に示すように、図10に示す従来方式、システムに較べて格段に早くなった。FPGA200の内部回路208の出力O208を利用するデバイス、システムの動作開始時期が図10に示す従来方式、システムに較べて格段に早くなった。
Next, the operation of the third embodiment will be described with reference to FIG.
Unless it is a special case, the power supply, the clock C100, the clock loss signal O400, and the
In other words, when the power is turned on, the power itself begins to be supplied slowly and eventually is supplied completely.
The
The clock
Even if the clock C100 is indeterminate, if the clock signal C100 is detected to change to high, or if a clock with a different frequency is detected, the clock loss signal O400 will be involuntarily shown. And change. Therefore, this “clock loss signal O400 involuntary” is a signal indicating that the clock C100 is generated.
As shown in the figure, the reset signal 500 changes from significant to involuntary after a while after the clock C100 is completely supplied. The
In the system and system of the third embodiment illustrated in FIG. 3, the
It is the clock loss signal O400 that is the output of the clock
実施の形態4.
以下、この発明の実施の形態4を、FPGAにおいてリセット信号を生成するリセット生成回路の具体的構成の事例を示すブロック図である図5に基づいて説明する。
Embodiment 4 FIG.
Embodiment 4 of the present invention will be described below with reference to FIG. 5 which is a block diagram showing an example of a specific configuration of a reset generation circuit for generating a reset signal in an FPGA.
図5において、水晶発振器100から生成されるクロックC100が、クロックロス検出回路400と、リセット生成回路211を備えるFPGA200に入力されている。
クロックロス検出回路400は、入力されるクロックが供給されなくなってしばらくすると有意になり、クロックが供給されている間は無意になるクロックロス信号O400を常に出力している。
またリセット信号500は、FPGA200内のリセット生成回路211及びFPGA200自体に入力されている。リセット信号500の発生要因は、電源降下によるリセットや、システムが備えているリセットボタンの人為の押下などである。
リセット生成回路211は、内部にさらにカウンタ212とリセット検出回路214とOR論理要素等の論理要素216とを内蔵している。
カウンタ212は、カウント満了を示す信号213を出力している。
リセット検出回路214は、入力されたリセット信号500が無意から有意へと変わったことを検出する回路であり、これを検出するとリセット検出信号215は有意になってカウンタ212へと出力される。
カウンタ212は、クロックロス信号O400が無意になるか、リセット検出信号215が有意になるとリセットされ、入力されるクロック数をカウントし始め、そのカウントがカウント満了値に達した時点でカウント満了信号213を出力する。
リセット生成回路211は、論理要素216によるリセット信号500とカウント満了信号213との論理和を、リセット出力O216として、FPGA200から外部へ出力している。
In FIG. 5, the clock C100 generated from the
The clock
The
The
The
The
The
The
次に実施の形態4の動作について説明する。
リセット生成回路211は、クロックロス信号O400が無意になると同時に動作を開始する。ここで、カウンタ212のカウント満了値は、カウンタ212が動作をする期間が最初のクロック不確定期間を含むため、実際に必要となるカウント値よりも多めに設定しておく。リセット生成回路211はそのカウント満了信号213とリセット信号500との和をリセット出力O216とすることにより、電源投入時やその他のリセット要因に関してもシステムに必要な長さのリセット信号を確実に生成できる。
Next, the operation of the fourth embodiment will be described.
The
実施の形態5.
以下、この発明の実施の形態5を、FPGAにおける複数のPLL回路と当該PLL回路の出力に依存して作動するリセット生成回路との接続回路構成の事例を示すブロック図である図6に基づいて説明する。
Embodiment 5 FIG.
Hereinafter, Embodiment 5 of the present invention will be described with reference to FIG. 6, which is a block diagram showing an example of a connection circuit configuration of a plurality of PLL circuits in an FPGA and a reset generation circuit that operates depending on the output of the PLL circuit. explain.
図6において、水晶発振器100にて生成されるクロックC100は、FPGA200とクロックロス検出回路400とに入力されている。
クロックロス検出回路400は、入力されるクロックが供給されなくなってしばらくすると有意になり、クロックが供給されている間は無意になるクロックロス信号O400を常に出力している。
FPGA200は、第1段のPLL回路A201と第2段のPLL回路B202とフリップフロップ回路203とバッファ204とリセット生成回路211とを備えている。
バッファ204から出力されるクロックC204とフリップフロップ回路203から出力されるその他の信号(アドレス信号/データ信号/制御信号等)O203が、例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されている。
FPGA200は、デバイス300にアクセスするが、デバイス300にアクセスするためのタイミング仕様をFPGA200を通常に使用した場合では満足できない場合、クロックの位相をずらす必要がある。
第1段のPLL回路A201は第1段のPLL回路A201のPLLロック外れを示すPLLロック外れ信号205を出力し、第2段のPLL回路B202は第2段のPLL回路B202のPLLロック外れを示すPLLロック外れ信号206を出力する。
PLLロック外れ信号205とPLLロック外れ信号206とをOR論理要素等の論理要素207で論理和した信号がO207であり、さらにリセット信号500とO207とが論理要素217で論理和されて信号O217が生成されている。
信号O217はリセット信号としてFPGA200に入力されている。
ここで、リセット信号500の発生要因は、電源降下によるリセットや、システムが備えているリセットボタンの人為の押下などである。
リセット生成回路211は、内部にさらにカウンタ212とリセット検出回路214とを内蔵している。
カウンタ212はカウント満了を示す信号213を出力している。
リセット検出回路214は入力されたリセット信号O217が無意から有意へと変わったことを検出する回路であり、これを検出するとリセット検出信号215は有意になってカウンタ212へと出力される。
カウンタ212は、クロックロス信号O400が無意になるか、リセット検出信号215が有意になるとリセットされ、入力されるクロック数をカウントし始め、そのカウントがカウント満了値に達した時点でカウント満了信号213を出力する。
リセット生成回路211は、リセット信号O217とカウント満了信号213との論理和を、論理要素216から、リセット出力O216としてFPGA200からシステム全体へ出力している。
In FIG. 6, a clock C100 generated by the
The clock
The
A clock C204 output from the
The
The first-stage PLL circuit A201 outputs a
A signal obtained by logically summing the
The signal O217 is input to the
Here, the cause of the generation of the
The
The
The
The
The
次に実施の形態5の動作について、クロックの位相をずらす必要がある場合について説明する。
FPGA200は水晶発振器100から入力されたクロックC100をクロックC100の位相をずらすために第1段のPLL回路A201にクロックを入力する。
第1段のPLL回路A201は、入力されたクロックC100を、第1段のPLL回路A201内部の多少の遅延を伴って出力C201する。出力されたクロックC201は、フリップフロップ回路203に入力されてアドレス信号/データ信号等をFPGA200から出力する一方で、第2段のPLL回路B202に入力される。
第2段のPLL回路B202は、入力されたクロックC201を、第2段のPLL回路B202内部の多少の遅延を伴って出力C202する。第2段のPLL回路B202から出力されたクロックC202は、バッファ204に入力されるとともに、フィードバックされて第1段のPLL回路A201にも入力される。
バッファ204から出力されたクロックC204は、FPGA200から出力されて例えばクロック同期メモリなどのデバイス300に入力されるとともに、フィードバックされて第2段のPLL回路Bに入力される。
第1段のPLL回路A201は、水晶発振器100から入力されたクロックC100と、第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202とを比較する。当然、クロックC202が入力され始めた直後は水晶発振器100から入力されたクロックC100とPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202との位相はずれているが、第1段のPLL回路A201は水晶発振器100から入力されたクロックC100と第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されたクロックC202との位相のずれをなくすよう、第1段のPLL回路A201の出力クロックC201を調整して第2段のPLL回路B202からフィードバックされて入力されているクロックC202と水晶発振器100から入力されたクロックC100とを同じ位相にする。
第2段のPLL回路B202は、第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201と、バッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204とを比較する。当然、クロックC204が入力され始めた直後は第1段のPLL回路201から入力されたクロックC201とバッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204との位相はずれているが、第2段のPLL回路B202は第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201とバッファ204からフィードバックされて入力されたクロックC204との位相のずれをなくすよう、第2段のPLL回路B202の出力クロックC202を調整してバッファ204からフィードバックされて入力されているクロックC204と第1段のPLL回路A201から入力されたクロックC201とを同じ位相にする。
この方式では、最初に一度ロックしてしまえばロック外れが発生しにくいという利点がある反面、最初のロックがしにくくなっている。
最初にロックするまでの間は正常な動作が期待できないため、リセットをかけてFPGA200がデバイス300にアクセスしないようにする。ロック外れ信号205、206の論理和を取った信号0207と外部からのリセット信号500との論理和信号O217を生成し、リセット信号としてFPGA200をリセットする。
これにより、ロックの状態になる前にFPGA200がデバイス300にアクセスしてしまい、FPGA200及びシステム全体が誤動作することを防げる。
一方で、このリセット信号O217は、システムが必要としているリセット期間に満たない長さのリセットである可能性が十分にある。そこでリセット信号O217は、リセット生成回路211へと入力する。
リセット生成回路211は、クロックロス信号O400が無意になると同時に動作を開始する。ここで、カウンタ212のカウント満了値は、カウンタ212が動作をする期間が最初のクロック不確定期間を含むため、実際に必要となるカウント値よりも多めに設定しておく。リセット生成回路211は、カウンタ212の出力であるカウント満了信号213と前記論理要素217の出力O217との和をリセット出力O216とすることにより、電源投入時やその他のリセット要因に関してもシステムに必要な長さのリセット信号を確実に生成できる。
Next, the operation of the fifth embodiment will be described when the clock phase needs to be shifted.
The
The first-stage PLL circuit A201 outputs an input clock C100 with some delay inside the first-stage PLL circuit A201. The output clock C201 is input to the flip-
The second-stage PLL circuit B202 outputs the input clock C201 as an output C202 with some delay inside the second-stage PLL circuit B202. The clock C202 output from the second-stage PLL circuit B202 is input to the
The clock C204 output from the
The first-stage PLL circuit A201 compares the clock C100 input from the
The second-stage PLL circuit B202 compares the clock C201 input from the first-stage PLL circuit A201 with the clock C204 input by feedback from the
Although this method has an advantage that it is difficult to cause unlocking once it is first locked, it is difficult to perform the initial locking.
Since normal operation cannot be expected until the lock is made for the first time, a reset is performed so that the
As a result, it is possible to prevent the
On the other hand, there is a possibility that the reset signal O217 is a reset having a length shorter than the reset period required by the system. Therefore, the reset signal O217 is input to the
The
この発明の実施の形態1〜5は、前述のように構成されており、以下の特徴点を有する。
特徴点1:クロックの位相をずらすために使用するPLL回路を通常1個のみ使用するところを2個使用とし、また従来の方式とは異なり1つのループに2個のPLL回路を組み込むことにより、調整可能な箇所が1つのループに2箇所としたことでPLLロック外れの発生しやすさを従来の2分の1にし、PLLロック外れが発生しにくくなった。
特徴点2:ロックが完了するまではシステムが動作しないようにシステム全体に必要な期間だけリセット信号を出力させるリセット回路を組み込むが、このリセット回路はクロックが不安定である場合についてもリセットを出力できるリセット回路とすることで、ロックが完了するまでの間やクロックが不安定な場合でも安定して一定期間のリセット信号が出力でき、装置がより安定した動作ができるようにした。
特徴点3:PLL回路を2個使用し、クロックのフィードバックは2個のPLL回路をまたがるようにすることでPLLロック外れを発生しにくくした。また、リセット生成回路をFPGA内に設け、リセット生成回路のリセットをクロックロス信号にて実施することによって、PLLロック外れ時のみならず電源投入時等のリセットを確実に生成できるようにした。
特徴点1A:ある装置において、装置内の水晶発振器にて生成されるクロックに対し、クロックの位相をずらすための回路である、FPGA(Field Programmable Gate Array)内のPLL(Phase Locked Loop)回路を、通常1個使用するところをPLLロック外れが発生しにくくなるように2個使用するものである(実施の形態1〜5)。
特徴点2A:特徴点1Aの方式は、従来のPLL回路を1個使用する方式に較べてPLLロック外れが発生しにくい反面、PLLロックもしにくいため、特徴点1Aに加えて、PLLロック外れによる自動リセット回路をFPGAに備えたものである(実施の形態2)。
特徴点3A:電源とリセット信号が供給されている装置において、電源投入時におけるリセット解除がされる前に、供給される電源によって装置内で水晶発振器から生成されるクロックが停止を検知したことを通知する信号であるクロックロス信号をリセット信号の代用とすることによって装置内のFPGAを初期化し、装置内で有意な信号を作り出すものである(実施の形態3)。
特徴点4A:特徴点3Aにおいて、電源投入時に供給されるリセット信号を装置内で保持し、必要なだけリセット期間を延ばすことができるものである(実施の形態4)。
特徴点5A:特徴点4Aにおいて、電源降下やシステムが備えているリセットボタンの人為の押下、また請求項2の自動リセット回路による期間の短いリセット信号を装置内で保持し、リセット期間を延ばすことができるものである(実施の形態5)。
特徴点1B1:水晶発振器の出力クロックを入力する第1段のPLL回路、およびこの第1段のPLL回路の出力クロックを入力する第2段のPLL回路を備え、前記第2段のPLL回路の出力クロックが前記第1段のPLL回路に前記水晶発振器の出力クロックと比較する入力クロックとして入力され、前記第2段のPLL回路の出力クロックが外部への出力クロックとして取り出されるものである。
特徴点1B2:特徴点1B1において、前記第1段のPLL回路および前記第2段のPLL回路がFPGA内に設けられ、前記バッファの出力が前記第2段のPLL回路に前記第1段のPLL回路の出力クロックと比較する入力クロックとして入力され、前記第2段のPLL回路の出力クロックが、前記FPGA内のバッファを介して外部への出力クロックとして取り出されるものである。
特徴点2B:特徴点1B1または特徴点1B2において、前記第1段のPLL回路の出力クロックおよび前記第2段のPLL回路の出力クロックの少なくとも一方により前記FPGAがリセットされるものである。
特徴点3B:特徴点1B1または特徴点1B2において、前記水晶発振器の出力クロックの停止を検知するクロックロス信号に基づいて前記FPGA内に有意な信号が作り出されるものである。
特徴点4B:特徴点3Bにおいて、クロックロス信号に依存して作動するカウンタの出力に基づいてリセット信号が生成されるものである。
特徴点5B:特徴点1B1または特徴点1B2において、前記第1段のPLL回路の出力クロックおよび前記第2段のPLL回路の出力クロックの少なくとも一方と、前記水晶発振器の出力クロックの停止を検知するクロックロス信号に依存して作動するカウンタの出力とに基づいてリセット信号が生成されるものである。
Embodiments 1 to 5 of the present invention are configured as described above and have the following characteristic points.
Feature 1: By using two PLL circuits that normally use only one PLL circuit for shifting the phase of the clock, and by incorporating two PLL circuits in one loop, unlike the conventional method, Since the number of adjustable locations is two in one loop, the ease of occurrence of PLL lock release is halved compared to the prior art, and PLL lock release is less likely to occur.
Feature 2: Incorporates a reset circuit that outputs a reset signal only for the period required for the entire system so that the system does not operate until locking is completed. This reset circuit outputs a reset even when the clock is unstable. By using a reset circuit that can be used, a reset signal can be output stably for a certain period until the lock is completed or even when the clock is unstable, so that the device can operate more stably.
Feature 3: Two PLL circuits are used, and the clock feedback is made to straddle the two PLL circuits, so that the PLL lock is less likely to occur. In addition, by providing a reset generation circuit in the FPGA and resetting the reset generation circuit with a clock loss signal, it is possible to reliably generate a reset not only when the PLL lock is released but also when the power is turned on.
Feature 1A: In a certain device, a PLL (Phase Locked Loop) circuit in a FPGA (Field Programmable Gate Array), which is a circuit for shifting the phase of the clock with respect to a clock generated by a crystal oscillator in the device, is provided. The two normally used ones are used so that the PLL lock is less likely to occur (Embodiments 1 to 5).
Feature point 2A: The feature point 1A method is less likely to cause a PLL lock release than a conventional method using a single PLL circuit, but it is also less likely to cause a PLL lock. An automatic reset circuit is provided in the FPGA (second embodiment).
Feature 3A: In a device to which a power supply and a reset signal are supplied, it is detected that a clock generated from a crystal oscillator in the device by the supplied power supply detects a stop before the reset is released when the power is turned on. By substituting the clock loss signal, which is a signal to be notified, for the reset signal, the FPGA in the device is initialized and a significant signal is created in the device (Third Embodiment).
Feature point 4A: In the feature point 3A, the reset signal supplied when the power is turned on is held in the apparatus, and the reset period can be extended as necessary (Embodiment 4).
Feature point 5A: In feature point 4A, the power supply is lowered or the reset button provided by the system is manually pressed, or the reset signal with a short period by the automatic reset circuit according to claim 2 is held in the apparatus to extend the reset period. (Embodiment 5).
Feature 1B1: A first-stage PLL circuit that inputs an output clock of the crystal oscillator and a second-stage PLL circuit that inputs an output clock of the first-stage PLL circuit are provided, and the second-stage PLL circuit includes: An output clock is input to the first stage PLL circuit as an input clock to be compared with an output clock of the crystal oscillator, and an output clock of the second stage PLL circuit is taken out as an output clock to the outside.
Feature point 1B2: In the feature point 1B1, the first-stage PLL circuit and the second-stage PLL circuit are provided in the FPGA, and the output of the buffer is sent to the second-stage PLL circuit in the first-stage PLL circuit. It is input as an input clock to be compared with an output clock of the circuit, and an output clock of the second stage PLL circuit is taken out as an output clock to the outside through a buffer in the FPGA.
Feature point 2B: In the feature point 1B1 or feature point 1B2, the FPGA is reset by at least one of the output clock of the first-stage PLL circuit and the output clock of the second-stage PLL circuit.
Feature point 3B: In the feature point 1B1 or the feature point 1B2, a significant signal is generated in the FPGA based on the clock loss signal for detecting the stop of the output clock of the crystal oscillator.
Feature point 4B: At the feature point 3B, a reset signal is generated based on the output of a counter that operates depending on the clock loss signal.
Feature point 5B: At feature point 1B1 or feature point 1B2, stop of at least one of the output clock of the first stage PLL circuit and the output clock of the second stage PLL circuit and the output clock of the crystal oscillator is detected. The reset signal is generated based on the output of the counter that operates depending on the clock loss signal.
なお、図1〜10の各図において、同一符号は同一又は相当部分を示す。 In addition, in each figure of FIGS. 1-10, the same code | symbol shows the same or equivalent part.
100 水晶発振器、
200 FPGA、
201 第1段のPLL回路、
202 第2段のPLL回路、
203 フリップフロップ回路、
204 バッファ、
212 カウンタ、
402 クロックロス検出回路。
100 crystal oscillator,
200 FPGA,
201 PLL circuit of the first stage,
202 second stage PLL circuit,
203 flip-flop circuit,
204 buffers,
212 counter,
402 Clock loss detection circuit.
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011147058A (en) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Fujitsu Ltd | Clock device |
JP2012503431A (en) * | 2008-09-19 | 2012-02-02 | アルテラ コーポレイション | Techniques for generating fractional clock signals |
JP2012133070A (en) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Sanyo Engineer & Construction Inc | Driving circuit of lcos element |
JP2016122890A (en) * | 2014-12-24 | 2016-07-07 | アイコム株式会社 | Local oscillation circuit and heterodyne receiver using the same |
WO2017002437A1 (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | オリンパス株式会社 | Processing device and processing system |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS515942A (en) * | 1974-07-04 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS5399858A (en) * | 1977-02-14 | 1978-08-31 | Tdk Corp | Phase lock circuit |
JPS58105630A (en) * | 1981-12-17 | 1983-06-23 | Nec Corp | Phase synchronizing circuit |
JPS62158937U (en) * | 1986-03-27 | 1987-10-08 | ||
JPS63258116A (en) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Nec Corp | Phase locked loop circuit |
JPH0329421A (en) * | 1989-06-26 | 1991-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | Phase locked loop |
JPH0588785A (en) * | 1991-09-30 | 1993-04-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | Reset circuit |
JPH0677823A (en) * | 1992-08-24 | 1994-03-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | Frequency synthesizer |
JPH06187063A (en) * | 1992-12-18 | 1994-07-08 | Kawasaki Steel Corp | Semiconductor device |
JPH09326696A (en) * | 1996-06-04 | 1997-12-16 | Pioneer Electron Corp | Pll circuit |
JPH1022819A (en) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
JPH1075175A (en) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Sony Corp | Pll circuit |
JPH118553A (en) * | 1997-06-16 | 1999-01-12 | Hitachi Ltd | Pll circuit and semiconductor integrated circuit |
JP2002540669A (en) * | 1999-03-23 | 2002-11-26 | インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト | Frequency synthesizer |
JP2004072680A (en) * | 2002-08-09 | 2004-03-04 | Renesas Technology Corp | Semiconductor integrated circuit |
JP2004221962A (en) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Seiko Epson Corp | Pll circuit |
JP2005130109A (en) * | 2003-10-22 | 2005-05-19 | Mitsubishi Electric Corp | Suspended oscillation detection circuit |
-
2006
- 2006-10-13 JP JP2006279988A patent/JP4686432B2/en active Active
Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS515942A (en) * | 1974-07-04 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS5399858A (en) * | 1977-02-14 | 1978-08-31 | Tdk Corp | Phase lock circuit |
JPS58105630A (en) * | 1981-12-17 | 1983-06-23 | Nec Corp | Phase synchronizing circuit |
JPS62158937U (en) * | 1986-03-27 | 1987-10-08 | ||
JPS63258116A (en) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Nec Corp | Phase locked loop circuit |
JPH0329421A (en) * | 1989-06-26 | 1991-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | Phase locked loop |
JPH0588785A (en) * | 1991-09-30 | 1993-04-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | Reset circuit |
JPH0677823A (en) * | 1992-08-24 | 1994-03-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | Frequency synthesizer |
JPH06187063A (en) * | 1992-12-18 | 1994-07-08 | Kawasaki Steel Corp | Semiconductor device |
JPH09326696A (en) * | 1996-06-04 | 1997-12-16 | Pioneer Electron Corp | Pll circuit |
JPH1022819A (en) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
JPH1075175A (en) * | 1996-08-30 | 1998-03-17 | Sony Corp | Pll circuit |
JPH118553A (en) * | 1997-06-16 | 1999-01-12 | Hitachi Ltd | Pll circuit and semiconductor integrated circuit |
JP2002540669A (en) * | 1999-03-23 | 2002-11-26 | インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト | Frequency synthesizer |
JP2004072680A (en) * | 2002-08-09 | 2004-03-04 | Renesas Technology Corp | Semiconductor integrated circuit |
JP2004221962A (en) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Seiko Epson Corp | Pll circuit |
JP2005130109A (en) * | 2003-10-22 | 2005-05-19 | Mitsubishi Electric Corp | Suspended oscillation detection circuit |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012503431A (en) * | 2008-09-19 | 2012-02-02 | アルテラ コーポレイション | Techniques for generating fractional clock signals |
JP2011147058A (en) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Fujitsu Ltd | Clock device |
JP2012133070A (en) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Sanyo Engineer & Construction Inc | Driving circuit of lcos element |
JP2016122890A (en) * | 2014-12-24 | 2016-07-07 | アイコム株式会社 | Local oscillation circuit and heterodyne receiver using the same |
WO2017002437A1 (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | オリンパス株式会社 | Processing device and processing system |
JP6116766B1 (en) * | 2015-06-30 | 2017-04-19 | オリンパス株式会社 | Processing device and processing system |
US9960775B2 (en) | 2015-06-30 | 2018-05-01 | Olympus Corporation | Processing apparatus and processing system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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