JP2008082950A - Microspectroscopic system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、FPD(Flat Panel Display)やPDP(Plasma
Display Panel)に使用されるカラーフィルタ等における微小なセルの分光透過率および分光反射率を測定するために使用される顕微分光装置に関するものである。
The present invention is based on FPD (Flat Panel Display) and PDP (Plasma).
The present invention relates to a microspectroscopic device used for measuring spectral transmittance and spectral reflectance of a minute cell in a color filter or the like used in a display panel.
従来、測定誤差要因である測定領域外からのノイズ光を除去するために、測定領域を正確に決定する自動決定手段を備えた顕微分光装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
この顕微分光装置は、サンプルの拡大像が表示されたディスプレイ上において、オペレータが測定領域を仮選択し、その情報から画像処理を用いて、標本面および像面と共役な位置にあるアパーチャの開口を正確に決定し、アパーチャを自動的に開閉調整するものである。この顕微分光装置においては、アパーチャの形状は矩形あるいは円形に設定されている。
In this microspectroscopic device, an operator temporarily selects a measurement region on a display on which a magnified image of a sample is displayed, and uses an image processing based on the information to open an aperture at a position conjugate with the sample surface and the image surface. Is accurately determined, and the aperture is automatically adjusted for opening and closing. In this microspectroscope, the shape of the aperture is set to a rectangle or a circle.
しかしながら、特許文献1の顕微分光装置を、多品種少量生産の工場の生産ラインで使用する場合、測定時間を短縮するために、被測定対象に応じて測定領域の決定動作を高速に行う必要があるが、オペレータが介在するために、時間短縮を図れないという問題がある。
また、近年のセルの小型、複雑化により、測定に必要のない部分を測定領域に設定しないように回避しながら極微小の測定領域を設定していく必要があるが、矩形あるいは円形に一意に規定されたアパーチャ形状では、十分な測定光量を確保可能なアパーチャを決定できないという不都合がある。
However, when the microspectroscope of
In addition, due to the recent miniaturization and complexity of cells, it is necessary to set a very small measurement region while avoiding setting a portion that is not necessary for measurement as a measurement region. With the prescribed aperture shape, there is an inconvenience that an aperture capable of securing a sufficient amount of measurement light cannot be determined.
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、測定に必要のない部分を回避しながら、測定に十分な光量を確保しつつ、被測定対象に含まれる測定領域を高速に決定することができる顕微分光装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and avoids portions that are not necessary for measurement, while ensuring a sufficient amount of light for measurement and determining a measurement region included in the measurement target at high speed. It is an object of the present invention to provide a microspectroscopic device that can be used.
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、被測定対象あるいはその像位置と共役な位置に配置された空間変調デバイスと、該空間変調デバイスを制御するドライバと、前記被測定対象の測定領域を設定する測定領域設定部と、該測定領域設定部により設定された測定領域に応じて前記空間変調デバイスを制御する制御部とを備える顕微分光装置を提供する。
In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.
The present invention provides a spatial modulation device arranged at a position conjugate with a measurement target or an image position thereof, a driver for controlling the spatial modulation device, a measurement area setting unit for setting a measurement area of the measurement target, A microspectroscopic device is provided that includes a control unit that controls the spatial modulation device in accordance with the measurement region set by the measurement region setting unit.
上記発明においては、前記空間変調デバイスが透過あるいは反射特性を空間的に変調可能であることとしてもよい。
また、上記発明においては、前記空間変調デバイスが、デジタルマイクロミラーデバイスであることとしてもよい。
また、上記発明においては、前記空間変調デバイスが、液晶格子であることとしてもよい。
In the above invention, the spatial modulation device may spatially modulate transmission or reflection characteristics.
In the above invention, the spatial modulation device may be a digital micromirror device.
In the above invention, the spatial modulation device may be a liquid crystal lattice.
また、上記発明においては、前記測定領域設定部が、前記被測定対象を撮影するカメラと、該カメラにより取得した被測定対象の画像を処理して前記測定領域を決定する画像処理部とを備えることとしてもよい。
また、上記発明においては、前記測定領域設定部が、前記被測定対象の測定領域に関するレシピ情報に基づいて前記測定領域を抽出する測定領域抽出部とを備えることとしてもよい。
Moreover, in the said invention, the said measurement area setting part is equipped with the camera which image | photographs the said to-be-measured object, and the image process part which processes the image of the to-be-measured object acquired by this camera, and determines the said measurement area | region. It is good as well.
Moreover, in the said invention, the said measurement area setting part is good also as providing the measurement area extraction part which extracts the said measurement area based on the recipe information regarding the measurement area of the said to-be-measured object.
本発明によれば、測定に必要のない部分を回避しながら、測定に十分な光量を確保しつつ、被測定対象に含まれる測定領域を高速に決定することができるという効果を奏する。 According to the present invention, there is an effect that a measurement region included in a measurement target can be determined at high speed while avoiding a portion that is not necessary for measurement and ensuring a sufficient amount of light for measurement.
本発明の第1の実施形態に係る顕微分光装置1について、図1〜図6を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る顕微分光装置1は、図1に示されるように、被測定対象Aを搭載するステージ2と、該ステージ2を透過して該ステージ2の下方から照明光を照射する透過照明光源3と、該透過照明光源3から発せられ、被測定対象Aを透過した光を集光する対物レンズ4と、該対物レンズ4により集光された光を分岐するハーフミラー5と、該ハーフミラー5により分岐された光をそれぞれ入射させる画像取得処理部6と、分光測定部7とを備えている。
A
As shown in FIG. 1, the
前記画像取得処理部6は、ハーフミラー5により分岐された一方の光を集光するチューブレンズ8と、該チューブレンズ8により集光された光を撮影してカラー画像を取得するカメラ9と、該カメラ9により取得されたカラー画像を処理する画像処理部10とを備えている。
The image acquisition processing unit 6 includes a
前記分光測定部7は、ハーフミラー5により分岐された他方の光を集光する集光レンズ11と、該集光レンズ11の集光位置に配置されたデジタルマイクロミラーデバイス(空間変調デバイス)12と、該デジタルマイクロミラーデバイス12により反射された光をリレーするリレーレンズ13と、該リレーレンズ13によりリレーされた光を集光する集光レンズ14と、該集光レンズ14により集光された光を分光する分光器15とを備えている。
前記デジタルマイクロミラーデバイス12面および前記カメラ9は、被測定対象Aに対して光学的に共役な位置関係に配置されている。
The
The surface of the
前記デジタルマイクロミラーデバイス12は、個別に揺動するマイクロミラー(図示略)を2次元的に配列したものであり、数μm〜数10μmオーダの矩形状に半導体製造技術を用いて形成されている。デジタルマイクロミラーデバイス12は、ドライバ16に接続され、ドライバ16からの制御信号によって、各マイクロミラーを個別にオンオフされるようになっている。これにより、各マイクロミラーは、例えば、+12°と−12°のいずれかの傾斜角度に揺動させられるようになっている。ここで、マイクロミラーのオン状態は、マイクロミラーを図1の時計回りに+12°揺動させた状態であり、マイクロミラーのオフ状態は、マイクロミラーを時計回りに−12°揺動させた状態である。
The
集光レンズ11からマイクロミラーデバイス12に入射された光は、オン状態となったマイクロミラーによって、入射光軸に対して出射角θiで出射され、リレーレンズ13によりリレーされる一方、オフ状態となったマイクロミラーによって、入射光軸に対して出射角θoで出射され、遮光板17により遮光されるようになっている。図中、符号18はコンデンサレンズ、符号19はミラーである。
The light that has entered the
また、ミラー19と集光レンズ14との間には、光路に挿脱可能なハーフミラー20と、該ハーフミラー20が光路に挿入されたときに、該ハーフミラー20によりデジタルマイクロミラーデバイス12に向かう光路に確認用の光を入射させる測定領域確認用光源21とが設けられている。
また、前記ステージ2にはサンプル搬送制御部22が接続され、被測定対象Aが対物レンズ4の視野内に含まれるようにステージ2に被測定対象Aを載置するようになっている。
Further, between the
The
前記画像処理部10には、測定領域制御部23が接続されている。
前記画像処理部10は、カメラ9により取得された被測定対象Aのカラー画像から特徴量を抽出し、抽出された特徴量に基づいて測定領域を算出するようになっている。前記測定領域制御部23は、前記画像処理部10により算出された測定領域に基づいて、デジタルマイクロミラーデバイス12のマイクロミラーの内、オン状態にする必要のあるマイクロミラーの位置をドライバ16に出力するようになっている。
A measurement
The
また、本実施形態においては、被測定対象Aの種類毎に、測定領域の位置、寸法あるいはデジタルマイクロミラーデバイス12のオン状態にすべきマイクロミラーを特定するデータを含むレシピ情報を、入力された基板情報から検索するレシピ情報検索部24と、検索されたレシピ情報に基づいて測定領域情報を抽出する測定領域情報抽出部25とが備えられている。レシピ情報検索部24には、図示しない管理サーバから被測定対象Aの種類を示すデータを含む基板情報が入力されるようになっている。
レシピ情報に含まれる測定領域情報としては、座標データ、CAD等のベクトルデータ等データ形式は問われない。
Further, in this embodiment, for each type of measurement target A, recipe information including data specifying the position and size of the measurement region or the micromirror to be turned on of the
The measurement area information included in the recipe information may be in any data format such as coordinate data, vector data such as CAD.
また、レシピ情報には、画像処理により測定領域を算出する際に使用するパラメータである色情報を記憶する色情報ファイルが含まれている。色情報には、色度、彩度、明度のうち、少なくとも1つがしきい値として含まれている。なお、色情報ファイルは、測定した色毎に存在してもよい。また、red、green、blueの3種類のカラーフィルタを測定したい場合、3種類の色情報ファイルが備えられていてもよく、3種類のカラーフィルタに対して1つの色情報ファイルを備えていてもよい。 The recipe information includes a color information file that stores color information that is a parameter used when calculating a measurement region by image processing. The color information includes at least one of chromaticity, saturation, and lightness as a threshold value. A color information file may exist for each measured color. Further, when it is desired to measure three types of color filters, red, green, and blue, three types of color information files may be provided, or one color information file may be provided for the three types of color filters. Good.
前記画像処理部10は、図2に示されるように、色情報ファイルからの色情報とカメラ9により取得されたカラー画像が入力されて、測定色領域を決定する測定色領域抽出部26と、決定された測定色領域に基づいて、測定基本領域および測定不要領域を分別する測定色領域特徴抽出部27と、測定基本領域を収縮処理するとともに測定不要領域を膨張処理する膨張収縮処理部28と、測定基本領域を収縮処理した収縮処理画像と、測定不要領域を膨張処理した膨張処理画像との重なり合う領域を収縮処理画像から減算する測定領域決定部29とを備えている。
As shown in FIG. 2, the
このように構成された本実施形態に係る顕微分光装置1の作用について、図3〜図5のフローチャートを参照して以下に説明する。
本実施形態に係る顕微分光装置1を用いて被測定対象Aの分光透過率を測定するには、まず、図示しない検査管理サーバなどから被測定対象Aの基板情報が入力され(S1)、該基板情報内のレシピ情報がレシピ情報検索部24において検索される(S2)。
The operation of the
In order to measure the spectral transmittance of the measurement target A using the
次に、基板情報内にレシピ情報が存在するか否かが判定され(S3)、レシピ情報が存在する場合(S3におけるYES)には、レシピ情報が測定領域情報抽出部25に読み込まれる(S4)。その後、測定領域情報抽出部25において、レシピ情報内に測定領域情報が存在するか否かが判定される(S5)。
Next, it is determined whether or not recipe information exists in the board information (S3). If the recipe information exists (YES in S3), the recipe information is read into the measurement region information extraction unit 25 (S4). ). Thereafter, the measurement area
ここで、基板情報内にレシピ情報が存在しない場合(S3におけるNO)と、レシピ情報は存在するがレシピ情報内に測定領域情報が記載されていない場合(S5におけるNO)の両方について説明する。
始めに、サンプル搬送制御部22が、被測定対象Aを対物レンズ4の視野内に配置されるようにステージ2に載置する(S6)。
Here, both the case where the recipe information does not exist in the substrate information (NO in S3) and the case where the recipe information exists but the measurement area information is not described in the recipe information (NO in S5) will be described.
First, the sample
次に、測定領域の設定動作が行われる(S7)。測定領域の設定動作は、図3に示されるように、まず、透過照明光源3が被測定対象Aを照明し(S71)、その像をカメラ9で撮影する(S72)。そして、色情報ファイルが検索され(S73)、カメラ9により取得されたカラー画像から色度、彩度、明度のうち、少なくとも1つのしきい値を用いて、所望の色領域を2値化およびラベリング等の処理により抽出する。
Next, a measurement region setting operation is performed (S7). In the measurement region setting operation, as shown in FIG. 3, first, the transmitted
その上で、取得されたカラー画像の中心に最も近い色領域の重心を算出し、サンプル搬送制御部22に所定の位置補正量を与えて被測定対象Aを微動させる(S74)。これにより、画像中心に最も近い色領域の位置を画像の中心に引き込むことができる。そして、カメラ9が再度、被測定対象Aの像を撮影し(S75)、取得されたカラー画像が画像処理部10に転送されて、画像処理部10がカラー画像から特徴量を抽出し、測定領域を算出する(S76)。
Then, the center of gravity of the color region closest to the center of the acquired color image is calculated, and a predetermined position correction amount is given to the sample
画像処理部10による測定領域の決定動作は以下の通りである。
図2および図6に示されるように、まず、画像および測定領域決定に使用する色情報を色情報ファイルから測定色領域抽出部26に入力し、測定色領域を決定する。測定色領域は測定色領域特徴抽出部27により測定基本領域と測定不要領域とに識別され、各々は膨張収縮処理部28に入力される。膨張収縮処理部28は、測定基本領域を収縮処理し、測定不要領域を膨張処理する。
The measurement region determination operation by the
As shown in FIGS. 2 and 6, first, color information used for determining an image and a measurement region is input from the color information file to the measurement color
そして、各々の処理画像が測定領域決定部29に入力され、収縮処理画像と膨張処理画像の重なり合う領域が収縮処理画像から減算される。その結果、測定領域が算出される。測定領域は、測定領域制御部23に入力され、測定領域制御部23が画像と被測定対象Aとの倍率関係およびデジタルマイクロミラーデバイス12と被測定対象Aとの倍率関係から、測定領域に対応するマイクロミラーの位置および領域を算出する。
Then, each processed image is input to the measurement
例えば、被測定対象Aに対するカメラ9の画像の倍率が5倍で、被測定対象Aに対するデジタルマイクロミラーデバイス12の像の倍率が10倍の場合には、カメラ9の画像に対するデジタルマイクロミラーデバイス12の像の倍率は2倍になる。この場合、マイクロミラーの角度を切り替える領域は、測定領域の2倍になる。この計算は測定領域制御部23により行われる。
その後、レシピ情報に測定領域情報を記載し(S8)、保存する(S9)。その上で、サンプル搬送制御部22が被測定対象Aをステージ2から一旦外す(S10)。
For example, when the magnification of the image of the
Thereafter, the measurement area information is described in the recipe information (S8) and stored (S9). Then, the sample
一方、ステップS5において、レシピ情報に測定領域情報が記載されている場合(S5におけるYES)には、図5に示されるように、測定領域情報抽出部25においてレシピ情報から測定領域情報が抽出され(S111)、抽出された測定領域情報が、測定領域制御部23に入力される。そして、測定領域制御部23が、画像と被測定対象Aとの倍率関係およびデジタルマイクロミラーデバイス12と被測定対象Aとの倍率関係から、測定領域に対応するデジタルマイクロミラーデバイス12のマイクロミラーの位置および領域を算出する(S112)。
On the other hand, if the measurement area information is described in the recipe information in step S5 (YES in S5), the measurement area information is extracted from the recipe information in the measurement area
例えば、被測定対象Aに対するカメラ9の画像の倍率が5倍で、被測定対象Aに対するデジタルマイクロミラーデバイス12の像の倍率が10倍の場合、カメラ9の画像に対するデジタルマイクロミラーデバイス12面の像の倍率は2倍になる。この場合、マイクロミラーをオン状態に切り替える領域は測定領域の2倍になる。測定領域制御部23は、以上の計算を行い、ドライバ16に対して対応するマイクロミラーをオン状態にするように指令する。
For example, when the magnification of the image of the
次に、サンプル搬送制御部22が、図示しない素ガラスをステージ2上に載置する(S12)。この状態で、透過照明光源3により素ガラスを照明する。このとき、測光領域確認用光源21を点灯することにより、カメラ9の画像で測定領域を確認することができる。ここで、素ガラスを用いて上記測定領域における分光透過率を測定する(S13)。これが被測定対象Aの分光透過率を測定する基準となる。この測定をここではリファレンス測定と呼ぶ。
Next, the sample
リファレンス測定が完了すると、サンプル搬送制御部22が素ガラスをステージ2から外す(S14)とともに、被測定対象Aをステージ2に載置する(S15)。次いで、透過照明光源3により被測定対象Aを照明し、その像がカメラ9により撮影される。
次いで、色情報ファイルが検索され、カメラ9の画像から、色度、彩度、明度のうち少なくとも1つのしきい値を用いて、所望の色領域を2値化およびラベリング等の処理により抽出する
When the reference measurement is completed, the sample
Next, the color information file is searched, and a desired color region is extracted from the image of the
その上で、画面中心に最も近い色領域の重心を算出し、サンプル搬送制御部22に位置補正量を与えて被測定対象Aを微動させる。これにより、画面中心に最も近い色領域の位置を画面の中心に引き込む(S16)。このとき、測光領域確認用光源21を点灯すると、カメラ9の画像で測定領域を確認することができる。
Then, the center of gravity of the color region closest to the center of the screen is calculated, and a position correction amount is given to the sample
ここで、測定領域における分光透過率を測定する(S17)。この測定のことをここでは本測定と呼ぶ。本測定が完了すると、サンプル搬送制御部22は被測定対象Aをステージ2から外す(S18)。以上で測定動作が完了する。リファレンス測定により測定された分光透過率と、本測定により測定された分光透過率との割合を求めると、被測定対象Aの測定領域内の分光透過率を求めることができる。
Here, the spectral transmittance in the measurement region is measured (S17). This measurement is referred to herein as the main measurement. When the main measurement is completed, the sample
以上説明したように、本実施形態に係る顕微分光装置1によれば、測定領域を自動的に決定することができ、被測定対象Aを透過した透過照明光源3からの照明光の内、測定領域を透過した光のみが選択的に分光器15に導かれる。これにより、オペレータに依存することなく精度よく分光透過率を測定することができる。
As described above, according to the
また、本実施形態に係る顕微分光装置1を工場における生産ラインに使用する場合には、オペレータを介在させることなく被測定領域のカラー画像から自動的に測定領域を決定し測定することができ、測定にかかる時間を大幅に短縮することができる。さらに、被測定対象Aのセル形状が小型化し、かつ複雑化している場合においても、被測定対象Aの中に含まれる測定に不必要な領域を回避し、かつ、測定に十分な光量の光を確保可能な測定領域を設定することができる。また、空間変調デバイスにデジタルマイクロミラーデバイス12を用いることにより、測定領域の切替動作を高速に行うことができる。
In addition, when using the
なお、本実施形態においては、デジタルマイクロミラーデバイス12において出射角θiで反射した光をミラー19により反射して分光器15に入射させることとしたが、これに代えて、ミラー19をなくして直接分光器15に入射させてもよい。
また、画像処理部10は、図2の構成に限定されるものではなく、例えば、マスキングや2値化等の処理によって測定領域を決定することにしてもよい。
In the present embodiment, the light reflected at the emission angle θi in the
Further, the
また、被測定対象Aの所望の測定色領域を画像中心に引き込む際および測定領域を決定する際に、異なる色情報ファイルを使用することにしてもよい。また、被測定対象Aの所望の色領域を画面中心に引き込む際に、重心算出を行ったが、他の方法でもよい。 Further, different color information files may be used when a desired measurement color area of the measurement target A is drawn into the center of the image and when the measurement area is determined. Further, the center of gravity is calculated when the desired color area of the measurement target A is drawn into the center of the screen, but other methods may be used.
さらに、測定領域確認用光源21を備えている場合について説明したが、カメラ9の画像で測定領域を確認する必要がない場合には、測定領域確認用光源21を備えていなくてもよい。
また、カメラ9の画像を表示するモニタを有していてもよい。また、測定領域確認用光源21を用いることなくソフトウェアを用いてモニタ上に測定領域をスーパーインポーズさせてもよい。
Furthermore, although the case where the measurement region confirmation
Moreover, you may have a monitor which displays the image of the
また、ステージ2の下方から透過照明光源3により被測定対象Aに対し照明光を照射し、被測定対象Aの上方に透過した光を集光して分光器に導くこととしたが、これに代えて、ステージ2の上方から透過照明光源3により被測定対象Aに対して照明光を照射し、被測定対象Aの下方に透過した光を集光して分光器に導くことにしてもよい。
さらに、透過照明光源3に代えて、落射照明光源(図示略)を用いてもよい。このように構成することで、測定領域の分光反射率を測定することができる。
In addition, illumination light is irradiated onto the measurement target A from below the
Further, an epi-illumination light source (not shown) may be used in place of the transmitted
また、本実施形態においては、空間変調デバイスとしてデジタルマイクロミラーデバイス12を例示したが、これに代えて液晶格子30を採用してもよい。液晶格子30は、2次元的に配列された複数の微小空間セルを備え、該微小空間セルのオンオフにより、該微小空間セル毎に入射する光を透過あるいは遮蔽制御することができる空間変調デバイスである。
In the present embodiment, the
液晶格子30は、例えば、微小空間セルがオン状態のとき、該微小空間セルに入射する光を遮光し、オフ状態のとき、該微小空間セルに入射する光を透過するようになっている。被測定対象Aとカメラ9と液晶格子30とは、光学的に共役な位置関係に配置されている。図中、符号31はミラー、符号32は集光レンズである。
For example, the
このように構成することで、デジタルマイクロミラーデバイス12と同様に、測定領域の切替動作を高速で行うことができる。また、デジタルマイクロミラーデバイス12の場合には、リレーレンズ13、ミラー19および集光レンズ14を介して分光器15に入射させる光軸と被測定対象Aからの入射光軸とのなす角が出射角θiとなるように精度よく配置する必要があるが、液晶格子30の場合にはその必要がない。
By configuring in this way, similarly to the
また、複数の微小空間セルを2次元的に配列した液晶格子30に代えて、複数の微小シャッタを2次元的に配列した微小シャッタアレイを採用してもよい。
このようにすることで、微小シャッタを閉鎖したときの遮蔽率を液晶格子30の場合よりも向上し、測定誤差要因である測定領域外からのノイズ光の混入をより確実に防止することができる。
Further, instead of the
By doing so, the shielding rate when the micro shutter is closed is improved as compared with the case of the liquid crystal grating 30, and the mixing of noise light from outside the measurement region, which is a measurement error factor, can be more reliably prevented. .
A 被測定対象
1 顕微分光装置
9 カメラ(測定領域設定部)
10 画像処理部(測定領域設定部)
12 デジタルマイクロミラーデバイス(空間変調デバイス)
16 ドライバ
23 測定領域制御部(制御部)
25 測定領域抽出部
30 液晶格子(空間変調デバイス)
A Object to be measured 1
10 Image processing unit (measurement area setting unit)
12 Digital micromirror device (spatial modulation device)
16
25 Measurement
Claims (6)
該空間変調デバイスを制御するドライバと、
前記被測定対象の測定領域を設定する測定領域設定部と、
該測定領域設定部により設定された測定領域に応じて前記空間変調デバイスを制御する制御部とを備える顕微分光装置。 A spatial modulation device arranged at a position conjugate with the object to be measured or its image position;
A driver for controlling the spatial modulation device;
A measurement area setting unit for setting a measurement area of the measurement object;
A microspectroscopic device comprising: a control unit that controls the spatial modulation device in accordance with a measurement region set by the measurement region setting unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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