JP2008078351A - Substrate processing system - Google Patents

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JP2008078351A JP2006255269A JP2006255269A JP2008078351A JP 2008078351 A JP2008078351 A JP 2008078351A JP 2006255269 A JP2006255269 A JP 2006255269A JP 2006255269 A JP2006255269 A JP 2006255269A JP 2008078351 A JP2008078351 A JP 2008078351A
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Hisao Kataoka
久生 片岡
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Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing system capable of preventing a mistake in setting a recipe and reducing a recipe set time. <P>SOLUTION: In a group management program 40 executed by a group managing device 20, a recipe storage part 408 stores a plurality of recipes in which procedures for treating a substrate are described. A matrix storage part 402 stores correspondence (recipe determination matrix) between lot information and the recipe. A lot information reception part 404 receives the lot information which has been sent. A recipe selection part 406 selects a recipe among a plurality of the recipes stored in the recipe storage part 408 based on the lot information received by the lot information reception part 404 and the recipe determination matrix stored in the matrix storage part 402. A recipe transmission part 410 sends the recipe selected by the recipe selection part 406 to a recipe processing device 10. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体基板やガラス基板等を処理する基板処理システムに関する。   The present invention relates to a substrate processing system for processing a semiconductor substrate, a glass substrate, or the like.

この種の基板処理システムにおいて、基板処理装置は、基板を処理するための詳細な手順が記述されたレシピに基づいて基板を処理する。一般に、レシピは、オペレータにより手動で基板処理装置に対して設定される。   In this type of substrate processing system, a substrate processing apparatus processes a substrate based on a recipe describing a detailed procedure for processing the substrate. In general, the recipe is manually set for the substrate processing apparatus by an operator.

しかしながら、オペレータはプロセス毎にレシピを指定するために制御パラメータ(温度、ガス流量、圧力等)に関して多くの設定値を手作業で入力する必要があるので、作業が煩雑であった。軽微な入力ミス等に起因した誤ったレシピ(所望としていないレシピ)がオペレータにより設定されたとしても、基板処理装置は誤った処理を実行してしまうおそれがある。ひいては、基板処理装置の稼働率の低下を招くことがあった。   However, since the operator needs to manually input many set values regarding control parameters (temperature, gas flow rate, pressure, etc.) in order to designate a recipe for each process, the operation is complicated. Even if an operator sets an incorrect recipe (an undesired recipe) due to a minor input mistake or the like, the substrate processing apparatus may execute an incorrect process. As a result, the operating rate of the substrate processing apparatus may be reduced.

本発明は、レシピ作成時の設定ミスの防止及びレシピの指定時間の短縮を実現することができる基板処理システムを提供することを目的とする。   An object of this invention is to provide the substrate processing system which can implement | achieve prevention of the setting mistake at the time of recipe preparation, and shortening of the designated time of a recipe.

上記目的を達成するために、本発明に係る基板処理システムは、レシピに基づいて基板を処理する複数の基板処理装置と前記基板処理装置に接続された群管理装置とを含む基板処理システムであって、前記群管理装置は、複数のレシピを記憶するレシピ記憶手段と、ロット情報とレシピとの対応関係を記憶する対応関係記憶手段と、ロット情報を受け付けるロット情報受付手段と、前記ロット情報受付手段により受け付けられたロット情報と前記対応関係記憶手段に記憶されている対応関係とに基づいて、前記レシピ記憶手段に記憶されている複数のレシピからレシピを選択するレシピ選択手段と、前記レシピ選択手段により選択されたレシピを前記基板処理装置に対して送信する送信手段とを有する。   In order to achieve the above object, a substrate processing system according to the present invention is a substrate processing system including a plurality of substrate processing apparatuses that process a substrate based on a recipe and a group management apparatus connected to the substrate processing apparatus. The group management device includes: a recipe storage unit that stores a plurality of recipes; a correspondence storage unit that stores a correspondence between lot information and a recipe; a lot information reception unit that receives lot information; and the lot information reception Recipe selection means for selecting a recipe from a plurality of recipes stored in the recipe storage means based on the lot information received by the means and the correspondence relation stored in the correspondence relation storage means, and the recipe selection Transmitting means for transmitting the recipe selected by the means to the substrate processing apparatus.

また、本発明に係る群管理装置は、レシピに基づいて基板を処理する複数の基板処理装置に接続された群管理装置であって、複数のレシピを記憶するレシピ記憶手段と、ロット情報とレシピとの対応関係を記憶する対応関係記憶手段と、ロット情報を受け付けるロット情報受付手段と、前記ロット情報受付手段により受け付けられたロット情報と前記対応関係記憶手段に記憶されている対応関係とに基づいて、前記レシピ記憶手段に記憶されている複数のレシピからレシピを選択するレシピ選択手段と、前記レシピ選択手段により選択されたレシピを前記基板処理装置に対して送信する送信手段とを有する。   The group management apparatus according to the present invention is a group management apparatus connected to a plurality of substrate processing apparatuses that process a substrate based on a recipe, a recipe storage unit that stores a plurality of recipes, lot information, and a recipe Based on the correspondence relationship storage means for storing the correspondence relationship, the lot information acceptance means for accepting the lot information, the lot information accepted by the lot information acceptance means, and the correspondence relation stored in the correspondence relationship storage means And a recipe selection means for selecting a recipe from a plurality of recipes stored in the recipe storage means, and a transmission means for transmitting the recipe selected by the recipe selection means to the substrate processing apparatus.

本発明に係る基板処理システムによれば、レシピ作成時の設定ミスの防止及びレシピの指定時間の短縮を実現することができる。   According to the substrate processing system of the present invention, it is possible to prevent setting mistakes during recipe creation and shorten the recipe designation time.

図1は、本発明の実施形態に係る基板処理システム1の構成を示す図である。
図1に示すように、基板処理システム1は、複数の基板処理装置10−1〜10−n、群管理装置20、及びロット情報送信装置50を有する。基板処理装置10−1〜10−n、群管理装置20、及びロット情報送信装置50は、例えばLANなどのネットワーク12を介して接続されている。したがって、データは、基板処理装置10−1〜10−n、群管理装置20、及びロット情報送信装置50の間で、ネットワーク12を介して送信及び受信される。なお、基板処理装置10−1〜10−nなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示すときには、単に基板処理装置10などと略記することがある。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a substrate processing system 1 according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, the substrate processing system 1 includes a plurality of substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n, a group management apparatus 20, and a lot information transmission apparatus 50. The substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n, the group management apparatus 20, and the lot information transmission apparatus 50 are connected via a network 12 such as a LAN. Therefore, the data is transmitted and received via the network 12 between the substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n, the group management apparatus 20, and the lot information transmission apparatus 50. In addition, when it shows, without specifying any of several component parts, such as the substrate processing apparatus 10-1 to 10-n, it may be abbreviated simply as the substrate processing apparatus 10 or the like.

基板処理装置10において、入出力装置16は、基板処理装置10と一体に、又はネットワーク12を介して接続して設けられており、操作画面18を有する。操作画面18には、オペレータにより所定のデータが入力される入力画面及び装置の状況等を示す表示画面が表示される。基板処理装置10内には、プロセスモジュールコントローラ(PMC:Process module controller)14が設けられ、基板処理装置10内の各装置は、PMC14により制御される。   In the substrate processing apparatus 10, the input / output device 16 is provided integrally with the substrate processing apparatus 10 or connected via the network 12 and has an operation screen 18. On the operation screen 18, an input screen for inputting predetermined data by the operator and a display screen showing the status of the apparatus and the like are displayed. A process module controller (PMC) 14 is provided in the substrate processing apparatus 10, and each apparatus in the substrate processing apparatus 10 is controlled by the PMC 14.

基板処理装置10は、群管理装置20から送信されたレシピを受信し、受信したレシピに基づいて基板の処理を実行する。具体的には、このようなレシピには、基板を処理するための手順が記載されており、PMC14が、複数のステップで構成されるレシピに基づいて基板処理装置10内の各装置を制御する。   The substrate processing apparatus 10 receives the recipe transmitted from the group management apparatus 20, and executes substrate processing based on the received recipe. Specifically, such a recipe describes a procedure for processing a substrate, and the PMC 14 controls each device in the substrate processing apparatus 10 based on a recipe configured by a plurality of steps. .

基板処理装置10は、一例として、半導体装置(IC)の製造方法における処理装置を実施する半導体製造装置として構成されている。なお、以下の説明では、基板処理装置として基板に酸化、拡散処理やCVD処理などを行なう縦型の装置を適用した実施例について述べる。   As an example, the substrate processing apparatus 10 is configured as a semiconductor manufacturing apparatus that implements a processing apparatus in a semiconductor device (IC) manufacturing method. In the following description, an embodiment will be described in which a vertical apparatus that performs oxidation, diffusion processing, CVD processing, or the like is applied to a substrate as the substrate processing apparatus.

群管理装置20は、複数のレシピを記憶し、ロット情報とレシピとの対応関係を記憶し、ロット情報送信装置50から送信されるロット情報を受け付け、前記受け付けられたロット情報と前記記憶されている対応関係とに基づいて前記記憶されている複数のレシピからレシピを選択し、前記選択されたレシピを前記基板処理装置10に対して送信する。なお、群管理装置20については、後で詳述する。   The group management device 20 stores a plurality of recipes, stores the correspondence between lot information and recipes, accepts lot information transmitted from the lot information transmission device 50, and stores the received lot information and the stored lot information. A recipe is selected from the plurality of stored recipes based on the corresponding relationship, and the selected recipe is transmitted to the substrate processing apparatus 10. The group management device 20 will be described in detail later.

ロット情報送信装置50は、ロット情報読込装置52有し、ロット情報読込装置52により読み込まれたロット情報を群管理装置20に対して送信する。ロット情報読込装置52は、基板収容器等に示されるロット情報を読み込む装置であり、例えば、バーコードリーダ、2次元コードリーダ、RFIDリーダ等により実現される。ロット情報には、生産される製品の品種等の情報が含まれる。なお、ロット情報送信装置50は、群管理装置20と同一の筐体に含まれてもよく、基板処理装置10−1〜10−nの少なくともいずれかに含まれてもよい。ここで、品種が異なる場合、レシピを変更するか又は制御パラメータの設定変更が必要となる。   The lot information transmission device 50 has a lot information reading device 52 and transmits the lot information read by the lot information reading device 52 to the group management device 20. The lot information reading device 52 is a device that reads lot information indicated on a substrate container or the like, and is realized by, for example, a bar code reader, a two-dimensional code reader, an RFID reader, or the like. The lot information includes information such as the type of product to be produced. The lot information transmitting device 50 may be included in the same housing as the group management device 20 or may be included in at least one of the substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n. Here, when the types are different, it is necessary to change the recipe or change the setting of the control parameter.

図2は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。また、図3は、図2に示す基板処理装置10の側面透視図を示す。
図2及び図3に示されているように、シリコン等からなるウエハ(基板)200を収納したウエハキャリアとしてフープ(基板収容器。以下ポッドという。)110が使用されている本発明の実施形態に係る基板処理装置10は、筐体111を備えている。筐体111の正面壁111aの正面前方部にはメンテナンス可能なように設けられた開口部としての正面メンテナンス口103が開設され、この正面メンテナンス口103を開閉する正面メンテナンス扉104、104がそれぞれ建て付けられている。
FIG. 2 is a perspective view of the substrate processing apparatus 10 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a side perspective view of the substrate processing apparatus 10 shown in FIG.
As shown in FIGS. 2 and 3, an embodiment of the present invention in which a hoop (substrate container; hereinafter referred to as a pod) 110 is used as a wafer carrier containing a wafer (substrate) 200 made of silicon or the like. The substrate processing apparatus 10 according to FIG. A front maintenance port 103 serving as an opening provided for maintenance is opened at the front front portion of the front wall 111a of the casing 111, and front maintenance doors 104 and 104 for opening and closing the front maintenance port 103 are respectively constructed. It is attached.

筐体111の正面壁111aにはポッド搬入搬出口(基板収容器搬入搬出口)112が筐体111の内外を連通するように開設されており、ポッド搬入搬出口112はフロントシャッタ(基板収容器搬入搬出口開閉機構)113によって開閉されるようになっている。ポッド搬入搬出口112の正面前方側にはロードポート(基板収容器受渡し台)114が設置されており、ロードポート114はポッド110を載置されて位置合わせするように構成されている。ポッド110はロードポート114上に工程内搬送装置(図示せず)によって搬入され、かつまた、ロードポート114上から搬出されるようになっている。   A pod loading / unloading port (substrate container loading / unloading port) 112 is opened on the front wall 111a of the casing 111 so as to communicate between the inside and the outside of the casing 111. The pod loading / unloading port 112 has a front shutter (substrate container loading / unloading port). The loading / unloading opening / closing mechanism 113 is opened and closed. A load port (substrate container delivery table) 114 is installed in front of the front side of the pod loading / unloading port 112, and the load port 114 is configured so that the pod 110 is placed and aligned. The pod 110 is carried onto the load port 114 by an in-process carrying device (not shown), and is also carried out from the load port 114.

筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式ポッド棚(基板収容器載置棚)105が設置されており、回転式ポッド棚105は複数個のポッド110を保管するように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚105は垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収容器載置台)117とを備えており、複数枚の棚板117はポッド110を複数個宛それぞれ載置した状態で保持するように構成されている。   A rotary pod shelf (substrate container mounting shelf) 105 is installed at an upper portion of the casing 111 in a substantially central portion in the front-rear direction. The rotary pod shelf 105 stores a plurality of pods 110. It is configured. In other words, the rotary pod shelf 105 is vertically arranged and intermittently rotated in a horizontal plane, and a plurality of shelf boards (supported by a substrate container) that are radially supported by the support 116 at each of the upper, middle, and lower positions. And a plurality of shelf plates 117 are configured to hold the pods 110 in a state where a plurality of pods 110 are respectively placed.

筐体111内におけるロードポート114と回転式ポッド棚105との間には、ポッド搬送装置(基板収容器搬送装置)118が設置されており、ポッド搬送装置118は、ポッド110を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ(基板収容器昇降機構)118aと搬送機構としてのポッド搬送機構(基板収容器搬送機構)118bとで構成されており、ポッド搬送装置118はポッドエレベータ118aとポッド搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式ポッド棚105、ポッドオープナ(基板収容器蓋体開閉機構)121との間で、ポッド110を搬送するように構成されている。   A pod transfer device (substrate container transfer device) 118 is installed between the load port 114 and the rotary pod shelf 105 in the housing 111, and the pod transfer device 118 moves up and down while holding the pod 110. A pod elevator (substrate container lifting mechanism) 118a and a pod transfer mechanism (substrate container transfer mechanism) 118b as a transfer mechanism are configured. The pod transfer device 118 includes a pod elevator 118a and a pod transfer mechanism 118b. The pod 110 is transported between the load port 114, the rotary pod shelf 105, and the pod opener (substrate container lid opening / closing mechanism) 121 by continuous operation.

筐体111内の前後方向の略中央部における下部には、サブ筐体119が後端にわたって構築されている。サブ筐体119の正面壁119aにはウエハ200をサブ筐体119内に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)120が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウエハ搬入搬出口120、120には一対のポッドオープナ121、121がそれぞれ設置されている。ポッドオープナ121はポッド110を載置する載置台122、122と、ポッド110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123、123とを備えている。ポッドオープナ121は載置台122に載置されたポッド110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、ポッド110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。   A sub-housing 119 is constructed across the rear end of the lower portion of the housing 111 at a substantially central portion in the front-rear direction. A pair of wafer loading / unloading ports (substrate loading / unloading ports) 120 for loading / unloading the wafer 200 into / from the sub-casing 119 are arranged on the front wall 119a of the sub-casing 119 in two vertical stages. A pair of pod openers 121 and 121 are installed at the wafer loading / unloading ports 120 and 120 at the upper and lower stages, respectively. The pod opener 121 includes mounting bases 122 and 122 on which the pod 110 is placed, and cap attaching / detaching mechanisms (lid attaching / detaching mechanisms) 123 and 123 for attaching and detaching caps (lids) of the pod 110. The pod opener 121 is configured to open and close the wafer loading / unloading port of the pod 110 by attaching / detaching the cap of the pod 110 placed on the placing table 122 by the cap attaching / detaching mechanism 123.

サブ筐体119はポッド搬送装置118や回転式ポッド棚105の設置空間から流体的に隔絶された移載室124を構成している。移載室124の前側領域にはウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されており、ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転ないし直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125a及びウエハ移載装置125aを昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bとで構成されている。図2に模式的に示されているようにウエハ移載装置エレベータ125bは耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の移載室124前方領域右端部との間に設置されている。これら、ウエハ移載装置エレベータ125b及びウエハ移載装置125aの連続動作により、ウエハ移載装置125aのツイーザ(基板保持体)125cをウエハ200の載置部として、ボート(基板保持具)217に対してウエハ200を装填(チャージング)及び脱装(ディスチャージング)するように構成されている。   The sub-housing 119 constitutes a transfer chamber 124 that is fluidly isolated from the installation space of the pod transfer device 118 and the rotary pod shelf 105. A wafer transfer mechanism (substrate transfer mechanism) 125 is installed in the front region of the transfer chamber 124, and the wafer transfer mechanism 125 rotates the wafer 200 in the horizontal direction or can move the wafer 200 in the horizontal direction. A substrate transfer device) 125a and a wafer transfer device elevator (substrate transfer device lifting mechanism) 125b for moving the wafer transfer device 125a up and down. As schematically shown in FIG. 2, the wafer transfer device elevator 125 b is installed between the right end of the pressure-resistant casing 111 and the right end of the front area of the transfer chamber 124 of the sub casing 119. By the continuous operation of the wafer transfer device elevator 125b and the wafer transfer device 125a, the tweezer (substrate holder) 125c of the wafer transfer device 125a is used as a placement portion for the wafer 200 with respect to the boat (substrate holder) 217. The wafer 200 is loaded (charged) and unloaded (discharged).

移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させる待機部126が構成されている。待機部126の上方には、処理炉202が設けられている。処理炉202の下端部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成されている。   In the rear region of the transfer chamber 124, a standby unit 126 that houses and waits for the boat 217 is configured. A processing furnace 202 is provided above the standby unit 126. The lower end portion of the processing furnace 202 is configured to be opened and closed by a furnace port shutter (furnace port opening / closing mechanism) 147.

図2に模式的に示されているように、耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の待機部126右端部との間にはボート217を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が設置されている。ボートエレベータ115の昇降台に連結された連結具としてのアーム128には蓋体としてのシールキャップ219が水平に据え付けられており、シールキャップ219はボート217を垂直に支持し、処理炉202の下端部を閉塞可能なように構成されている。ボート217は複数本の保持部材を備えており、複数枚(例えば、50〜125枚程度)のウエハ200をその中心を揃えて垂直方向に整列させた状態で、それぞれ水平に保持するように構成されている。   As schematically shown in FIG. 2, a boat elevator (substrate holder lifting / lowering) for raising and lowering the boat 217 is provided between the right end of the pressure-resistant casing 111 and the right end of the standby section 126 of the sub casing 119. Mechanism) 115 is installed. A seal cap 219 serving as a lid is horizontally installed on an arm 128 serving as a connecting tool connected to a lifting platform of the boat elevator 115, and the seal cap 219 supports the boat 217 vertically, and a lower end of the processing furnace 202. It is comprised so that a part can be obstruct | occluded. The boat 217 includes a plurality of holding members, and is configured to hold a plurality of (for example, about 50 to 125) wafers 200 horizontally in a state where the centers are aligned in the vertical direction. Has been.

図2に模式的に示されているように移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側及びボートエレベータ115側と反対側である左側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給するよう供給ファン及び防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されており、ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、図示はしないが、ウエハの円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置135が設置されている。   As schematically shown in FIG. 2, the left end of the transfer chamber 124 opposite to the wafer transfer device elevator 125b side and the boat elevator 115 side is a cleaned atmosphere or inert gas. A clean unit 134 composed of a supply fan and a dust-proof filter is installed so as to supply clean air 133. Between the wafer transfer device 125a and the clean unit 134, although not shown, the circumferential direction of the wafer A notch aligning device 135 is installed as a substrate aligning device for aligning the positions.

クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、ノッチ合わせ装置135及びウエハ移載装置125a、待機部126にあるボート217に流通された後に、図示しないダクトにより吸い込まれて、筐体111の外部に排気がなされるか、もしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット134によって、移載室124内に吹き出されるように構成されている。   The clean air 133 blown out from the clean unit 134 flows into the notch aligning device 135, the wafer transfer device 125a, and the boat 217 in the standby unit 126, and is then sucked in through a duct (not shown) to the outside of the housing 111. Exhaust is performed or it is circulated to the primary side (supply side) that is the suction side of the clean unit 134, and is again blown into the transfer chamber 124 by the clean unit 134.

次に、基板処理装置10の構成要素を制御するPMC14について説明する。
図4は、PMC14を中心としたハードウェア構成を示す。
PMC14は、CPU140、ROM(read-only memory)142、RAM(random-access memory)144、入出力装置16との間でのデータの送受信を行う入出力インタフェース(IF)146、温度制御部150、ガス制御部152、圧力制御部154及び温度制御部150等とのI/O制御を行うI/O制御部148、ネットワーク12を介して外部のコンピュータとの間でのデータの通信を制御する通信制御部156、及びデータを記憶するハードディスクドライブ(HDD)158を有する。これらの構成要素はバス160を介して相互に接続されており、データは構成要素の間でバス160を介して送受信される。
Next, the PMC 14 that controls the components of the substrate processing apparatus 10 will be described.
FIG. 4 shows a hardware configuration centered on the PMC 14.
The PMC 14 includes a CPU 140, a ROM (read-only memory) 142, a RAM (random-access memory) 144, an input / output interface (IF) 146 that transmits and receives data to and from the input / output device 16, a temperature control unit 150, Communication for controlling data communication with an external computer via the network 12, an I / O control unit 148 that performs I / O control with the gas control unit 152, the pressure control unit 154, the temperature control unit 150, and the like It has a control unit 156 and a hard disk drive (HDD) 158 for storing data. These components are connected to each other via a bus 160, and data is transmitted and received between the components via the bus 160.

PMC14において、CPU140は、群管理装置20により送信されたレシピに基づいて基板を処理する。具体的には、CPU140は、制御データ(制御指示)を、温度制御部150、ガス制御部152及び圧力制御部154に対して出力する。ROM142、RAM144、及びHDD158には、シーケンスプログラム、入出力装置16より入力されるデータ、通信制御部156を介して入力されるデータ等が格納される。   In the PMC 14, the CPU 140 processes the substrate based on the recipe transmitted by the group management device 20. Specifically, the CPU 140 outputs control data (control instruction) to the temperature control unit 150, the gas control unit 152, and the pressure control unit 154. The ROM 142, the RAM 144, and the HDD 158 store a sequence program, data input from the input / output device 16, data input via the communication control unit 156, and the like.

温度制御部150は、上述した処理炉202の外周部に設けられたヒータ338により該処理室202内の温度を制御する。ガス制御部152は、処理炉202のガス配管340に設けられたMFC(マスフローコントローラ)342からの出力値に基づいて処理炉202内に供給する反応ガスの供給量等を制御する。圧力制御部154は、処理炉202の排気配管344に設けられた圧力センサ346の出力値に基づいてバルブ348を開閉することにより処理室202内の圧力を制御する。このように、温度制御部150等は、CPU140からの制御指示に基づいて基板処理装置10の各部(ヒータ338、MFC342及びバルブ348等)の制御を行う。   The temperature control unit 150 controls the temperature in the processing chamber 202 by the heater 338 provided on the outer periphery of the processing furnace 202 described above. The gas control unit 152 controls the supply amount of the reaction gas supplied into the processing furnace 202 based on the output value from the MFC (mass flow controller) 342 provided in the gas pipe 340 of the processing furnace 202. The pressure control unit 154 controls the pressure in the processing chamber 202 by opening and closing the valve 348 based on the output value of the pressure sensor 346 provided in the exhaust pipe 344 of the processing furnace 202. As described above, the temperature control unit 150 and the like control each unit (the heater 338, the MFC 342, the valve 348, and the like) of the substrate processing apparatus 10 based on a control instruction from the CPU 140.

したがって、レシピのデータが群管理装置20から送信されると、通信制御部156を介してPMC14に入力される。CPU140は、シーケンスプログラムを起動し、該シーケンスプログラムに従って、送信されたレシピのコマンドを呼び込み実行することで、制御パラメータの目標値等が設定されているステップが逐次実行され、I/O制御部148を介して温度制御部150、ガス制御部152、圧力制御部154、及び図示しない搬送制御部に対して基板を処理するための制御指示が送信される。温度制御部150等は、制御指示に従って基板処理装置10内の各部(ヒータ338、MFC342及びバルブ348等)の制御を行う。これにより、上述したウエハ200の処理が行われる。   Therefore, when recipe data is transmitted from the group management apparatus 20, the recipe data is input to the PMC 14 via the communication control unit 156. The CPU 140 activates the sequence program, and calls and executes the transmitted recipe command according to the sequence program, thereby sequentially executing the steps in which the control parameter target values and the like are set, and the I / O control unit 148. A control instruction for processing the substrate is transmitted to the temperature control unit 150, the gas control unit 152, the pressure control unit 154, and the transfer control unit (not shown). The temperature control unit 150 and the like control each unit (the heater 338, the MFC 342, the valve 348, and the like) in the substrate processing apparatus 10 according to a control instruction. Thereby, the processing of the wafer 200 described above is performed.

図5は、群管理装置20の構成を、制御装置22を中心に示す図である。
図5に示すように、群管理装置20は、CPU24及びメモリ26などを含む制御装置22と、ネットワーク12を介して外部のコンピュータなどとデータの送信及び受信を行う通信装置28と、ハードディスクドライブなどの記憶装置32と、液晶ディスプレイなどの表示装置並びにキーボード及びマウス等のポインティングデバイスを含む表示・入力装置30とを有する。このように、群管理装置20は、例えば、後述する群管理プログラム40などがインストールされた汎用コンピュータである。
FIG. 5 is a diagram showing the configuration of the group management device 20 with the control device 22 as the center.
As shown in FIG. 5, the group management device 20 includes a control device 22 including a CPU 24 and a memory 26, a communication device 28 that transmits and receives data to and from an external computer via the network 12, a hard disk drive, and the like. And a display / input device 30 including a display device such as a liquid crystal display and a pointing device such as a keyboard and a mouse. Thus, the group management apparatus 20 is a general-purpose computer in which, for example, a group management program 40 described later is installed.

図6は、本発明の実施形態に係る基板処理システム1において群管理装置20により実行される群管理プログラム40の機能構成を示す図である。
図6に示すように、群管理プログラム40は、マトリクス登録部400、マトリクス記憶部402、ロット情報受付部404、レシピ選択部406、レシピ記憶部408及びレシピ送信部410を有する。群管理プログラム40は、例えば、FD、CD又はDVDなどの記録媒体34(図5)に格納されて群管理装置20に供給され、メモリ26にロードされて、制御装置22上で動作する図示しないOS上で、ハードウェアを利用して実行される。なお、群管理プログラム40は、ネットワーク12に接続された外部のコンピュータから通信装置28を介して制御装置22に供給されてもよい。
FIG. 6 is a diagram showing a functional configuration of the group management program 40 executed by the group management apparatus 20 in the substrate processing system 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 6, the group management program 40 includes a matrix registration unit 400, a matrix storage unit 402, a lot information reception unit 404, a recipe selection unit 406, a recipe storage unit 408, and a recipe transmission unit 410. The group management program 40 is stored in a recording medium 34 (FIG. 5) such as FD, CD, or DVD, supplied to the group management device 20, loaded into the memory 26, and operates on the control device 22 (not shown). It is executed using hardware on the OS. The group management program 40 may be supplied from the external computer connected to the network 12 to the control device 22 via the communication device 28.

群管理プログラム40において、レシピ記憶部408は、基板を処理する手順が記載された複数のレシピを記憶する。レシピ記憶部408は、メモリ26及び記憶装置32の少なくともいずれかにより実現される。   In the group management program 40, the recipe storage unit 408 stores a plurality of recipes describing a procedure for processing a substrate. The recipe storage unit 408 is realized by at least one of the memory 26 and the storage device 32.

マトリクス記憶部402は、ロット情報とレシピとの対応関係(レシピ決定マトリクス)を記憶する対応関係記憶手段を構成する。より具体的には、マトリクス記憶部402は、ロット情報に含まれる製品の品種と該品種に対して用いられるレシピとの関係を工程毎に記憶する。マトリクス記憶部402は、レシピ記憶部408と同様に、記憶装置32等により実現される。なお、マトリクス記憶部402に記憶されるレシピ決定マトリクスについては、後で詳述する。   The matrix storage unit 402 constitutes a correspondence storage unit that stores the correspondence between the lot information and the recipe (recipe determination matrix). More specifically, the matrix storage unit 402 stores the relationship between the product type included in the lot information and the recipe used for the type for each process. Similar to the recipe storage unit 408, the matrix storage unit 402 is realized by the storage device 32 and the like. The recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402 will be described in detail later.

マトリクス登録部400は、表示・入力装置30を介して入力されるレシピ決定マトリクスを受け付け、マトリクス記憶部402に格納する。また、マトリクス登録部400は、同様にして入力されるレシピ決定マトリクスの追加、変更、削除等の処理を受け付け、受け付けた内容に基づいて、マトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスの変更等を行う。なお、マトリクス登録部400は、外部のコンピュータにおいて入力され送信されたレシピ決定マトリクスの変更等に関するデータを通信装置28を介して受け付けてもよい。   The matrix registration unit 400 receives a recipe determination matrix input via the display / input device 30 and stores it in the matrix storage unit 402. In addition, the matrix registration unit 400 accepts processing such as addition, change, and deletion of a recipe determination matrix that is input in the same manner, and changes the recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402 based on the received contents. Etc. It should be noted that the matrix registration unit 400 may accept data related to a change in the recipe determination matrix input and transmitted from an external computer via the communication device 28.

ロット情報受付部404は、ロット情報送信装置50により送信されたロット情報を受け付けて、レシピ選択部406に対して出力する。例えば、ロット情報受付部404は、ネットワーク12を介して送信され、通信装置28により受信されたロット情報を受け付ける。   The lot information receiving unit 404 receives the lot information transmitted by the lot information transmitting device 50 and outputs it to the recipe selecting unit 406. For example, the lot information receiving unit 404 receives lot information transmitted via the network 12 and received by the communication device 28.

レシピ選択部406は、ロット情報受付部404により受け付けられたロット情報とマトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスとに基づいて、レシピ記憶部408に記憶されている複数のレシピからレシピを選択する。より具体的には、レシピ選択部406は、ロット情報受付部404からロット情報を入力すると、マトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスを参照し、受け付けられたロット情報に対応するレシピ情報を取得する。たとえば、レシピ選択部406は、ロット情報に含まれる製品の品種情報に基づいて、この品種に対応するレシピの名称を取得する。   The recipe selection unit 406 selects a recipe from a plurality of recipes stored in the recipe storage unit 408 based on the lot information received by the lot information reception unit 404 and the recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402. select. More specifically, when the recipe selection unit 406 inputs the lot information from the lot information reception unit 404, the recipe selection unit 406 refers to the recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402, and recipe information corresponding to the received lot information. To get. For example, the recipe selection unit 406 acquires the name of the recipe corresponding to this product type based on the product type information included in the lot information.

レシピ選択部406は、レシピ情報を取得すると、レシピ記憶部408に記憶されている複数のレシピから、該当するレシピを選択する。例えば、レシピ選択部406は、レシピの名称に基づいてレシピ記憶部408を検索する。レシピ選択部406は、選択したレシピをレシピ送信部410に対して出力する。   When the recipe selection unit 406 acquires recipe information, the recipe selection unit 406 selects a corresponding recipe from a plurality of recipes stored in the recipe storage unit 408. For example, the recipe selection unit 406 searches the recipe storage unit 408 based on the recipe name. The recipe selection unit 406 outputs the selected recipe to the recipe transmission unit 410.

レシピ送信部410は、基板処理装置10からレシピの送信依頼をネットワーク12を介して受け付け、レシピ選択部406により選択されたレシピを該基板処理装置10に対して送信する。例えば、レシピ送信部410は、基板処理装置10に基板収容器(図2及び図3に示されるポッド110)が投入された旨の通知を、レシピの送信依頼として受け付ける。この場合、レシピ送信部410は、ポッド110が投入された基板処理装置10に対してレシピを送信する。   The recipe transmission unit 410 receives a recipe transmission request from the substrate processing apparatus 10 via the network 12 and transmits the recipe selected by the recipe selection unit 406 to the substrate processing apparatus 10. For example, the recipe transmission unit 410 receives a notification that a substrate container (the pod 110 shown in FIGS. 2 and 3) has been inserted into the substrate processing apparatus 10 as a recipe transmission request. In this case, the recipe transmission unit 410 transmits the recipe to the substrate processing apparatus 10 in which the pod 110 is inserted.

図7は、群管理プログラム40のマトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスを例示する図である。
図7に例示するように、レシピは、ロット情報毎かつ工程毎に予め決定されている。例えば、レシピは、ロット情報としての各品種情報(品種1〜品種u)に対して、工程(工程1〜工程v)毎に決定されている。受け付けられたロット情報が品種1を示すものである場合、群管理プログラム40のレシピ選択部406は、品種1の工程1〜工程vに対応するレシピ、即ちレシピ1〜レシピvを選択してレシピ送信部410に対して出力する。なお、レシピ決定マトリクスにおいて、レシピは、レシピの名称で登録されてもよいし、レシピを一意に識別する識別子(例えば、英数字記号からなる文字列)で登録されてもよい。
FIG. 7 is a diagram illustrating a recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402 of the group management program 40.
As illustrated in FIG. 7, the recipe is determined in advance for each lot information and for each process. For example, the recipe is determined for each process (process 1 to process v) for each type information (type 1 to type u) as lot information. When the received lot information indicates the product type 1, the recipe selection unit 406 of the group management program 40 selects the recipe corresponding to the process 1 to the process v of the product type 1, that is, the recipe 1 to the recipe v and selects the recipe. Output to the transmission unit 410. In the recipe determination matrix, the recipe may be registered with the name of the recipe, or may be registered with an identifier (for example, a character string made up of alphanumeric symbols) that uniquely identifies the recipe.

次に、本発明の実施形態に係る基板処理システム1の制御処理を説明する。
図8は、群管理装置20上で動作する群管理プログラム40によるレシピ選択処理(S10)を示すフローチャートである。
図8に示すように、ステップ100(S100)において、群管理プログラム40のロット情報受付部404は、ロット情報送信装置50により読み込まれて送信されたロット情報を受け付ける。
Next, control processing of the substrate processing system 1 according to the embodiment of the present invention will be described.
FIG. 8 is a flowchart showing the recipe selection process (S10) by the group management program 40 operating on the group management apparatus 20.
As shown in FIG. 8, in step 100 (S100), the lot information receiving unit 404 of the group management program 40 receives the lot information read and transmitted by the lot information transmitting device 50.

ステップ102(S102)において、レシピ選択部406は、マトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスを参照し、ロット情報受付部404により受け付けられたロット情報に対応するレシピを工程毎に決定する。   In step 102 (S102), the recipe selecting unit 406 refers to the recipe determination matrix stored in the matrix storage unit 402, and determines a recipe corresponding to the lot information received by the lot information receiving unit 404 for each process. .

ステップ104(S104)において、レシピ選択部406は、レシピ記憶部408に記憶されている複数のレシピから、S102の処理で決定されたレシピを取得する。
このようにして、群管理装置20は、ロット情報送信装置50により送信されたロット情報に対応するレシピを選択する。
In step 104 (S104), the recipe selection unit 406 acquires the recipe determined in the process of S102 from the plurality of recipes stored in the recipe storage unit 408.
In this way, the group management apparatus 20 selects a recipe corresponding to the lot information transmitted by the lot information transmission apparatus 50.

図9は、本発明の実施形態に係る基板処理システム1の全体動作(S20)を示すフローチャートである。
図9に示すように、ステップ200(S200)において、オペレータは、ロット情報送信装置50のロット情報読込装置52を用いて、処理対象(例えば、基板処理装置10に投入されるポッド110)に付与されたロット情報を読み込む。なお、ロット情報は、例えば、バーコード、2次元コード等の形で処理対象に付与されてもよいし、処理対象に付与されたRFIDタグに含まれてもよい。
ステップ202(S202)において、ロット情報送信装置50は、読み込まれたロット情報をネットワーク12を介して群管理装置20に対して送信する。
FIG. 9 is a flowchart showing the overall operation (S20) of the substrate processing system 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 9, in step 200 (S200), the operator uses the lot information reading device 52 of the lot information transmitting device 50 to give to the processing target (for example, the pod 110 put into the substrate processing apparatus 10). Loaded lot information. The lot information may be assigned to the processing target in the form of a barcode, a two-dimensional code, or the like, or may be included in an RFID tag attached to the processing target.
In step 202 (S202), the lot information transmission device 50 transmits the read lot information to the group management device 20 via the network 12.

ステップ204(S204)において、ポッド110が基板処理装置10に投入されると、基板処理装置10は、ポッド110の投入通知を群管理装置20に対して送信する。群管理装置20では、群管理プログラム40のレシピ送信部410が該投入通知を受け付ける。群管理装置20は、基板処理装置10−1〜10−nのうち、レシピを送信する対象となる基板処理装置10を認識する。   In step 204 (S204), when the pod 110 is loaded into the substrate processing apparatus 10, the substrate processing apparatus 10 transmits a loading notification of the pod 110 to the group management apparatus 20. In the group management device 20, the recipe transmission unit 410 of the group management program 40 receives the input notification. The group management apparatus 20 recognizes the substrate processing apparatus 10 that is the target of transmitting the recipe among the substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n.

群管理装置20では、レシピ選択処理(図8;S10)が実行される。なお、レシピ選択処理は、ロット情報が受け付けられた後であれば実行可能であり、S204の処理より前に行われてもよい。   In the group management device 20, a recipe selection process (FIG. 8; S10) is executed. Note that the recipe selection process can be executed after lot information is received, and may be performed before the process of S204.

ステップ206(S206)において、群管理装置20は、ポッド110が投入された基板処理装置10に対して、S10の処理で選択されたレシピを送信する。基板処理装置10は、群管理装置20から送信されたレシピを受信する。
ステップ208(S208)において、基板処理装置10は、受信したレシピに基づいて基板を処理する。
In step 206 (S206), the group management apparatus 20 transmits the recipe selected in the process of S10 to the substrate processing apparatus 10 in which the pod 110 is inserted. The substrate processing apparatus 10 receives the recipe transmitted from the group management apparatus 20.
In step 208 (S208), the substrate processing apparatus 10 processes the substrate based on the received recipe.

次に、基板処理装置10による基板処理を詳細に説明する。
図2及び図3に示されているように、ポッド110がロードポット114に供給されると、ポッド搬入搬出口112がフロントシャッタ113によって開放され、ロードポート114の上のポッド110はポッド搬送装置118によって筐体111の内部へポッド搬入搬出口112から搬入される。
Next, the substrate processing by the substrate processing apparatus 10 will be described in detail.
As shown in FIGS. 2 and 3, when the pod 110 is supplied to the load pot 114, the pod loading / unloading port 112 is opened by the front shutter 113, and the pod 110 above the load port 114 serves as a pod transfer device. 118 is carried into the housing 111 from the pod loading / unloading port 112.

搬入されたポッド110は回転式ポッド棚105の指定された棚板117へポッド搬送装置118によって自動的に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載されるか、もしくは直接ポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載される。この際、ポッドオープナ121のウエハ搬入搬出口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124にはクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20ppm以下と、筐体111の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。   The loaded pod 110 is automatically transported and delivered by the pod transport device 118 to the designated shelf 117 of the rotary pod shelf 105, temporarily stored, and then one pod opener from the shelf 117. After being transferred to 121 and delivered and temporarily stored, it is transferred from the shelf 117 to one of the pod openers 121 and transferred to the mounting table 122 or directly transferred to the pod opener 121 and mounted. It is transferred to the mounting table 122. At this time, the wafer loading / unloading port 120 of the pod opener 121 is closed by the cap attaching / detaching mechanism 123, and the transfer chamber 124 is filled with clean air 133. For example, the transfer chamber 124 is filled with nitrogen gas as clean air 133, so that the oxygen concentration is set to 20 ppm or less, which is much lower than the oxygen concentration inside the casing 111 (atmosphere).

載置台122に載置されたポッド110はその開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬入搬出口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ウエハ出し入れ口を開放される。   The pod 110 mounted on the mounting table 122 has its opening-side end face pressed against the opening edge of the wafer loading / unloading port 120 on the front wall 119a of the sub-housing 119, and the cap is removed by the cap attaching / detaching mechanism 123. The wafer loading / unloading port is opened.

ポッド110がポッドオープナ121によって開放されると、ウエハ200はポッド110からウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされ、図示しないノッチ合わせ装置135にてウエハを整合した後、移載室124の後方にある待機部126へ搬入され、ボート217に装填(チャージング)される。ボート217にウエハ200を受け渡したウエハ移載装置125aはポッド110に戻り、次のウエハ110をボート217に装填する。   When the pod 110 is opened by the pod opener 121, the wafer 200 is picked up from the pod 110 by the tweezer 125c of the wafer transfer device 125a through the wafer loading / unloading port, aligned with the notch alignment device 135 (not shown), and then transferred. It is carried into the standby section 126 behind the chamber 124 and loaded (charged) into the boat 217. The wafer transfer device 125 a that has delivered the wafer 200 to the boat 217 returns to the pod 110 and loads the next wafer 110 into the boat 217.

この一方(上段又は下段)のポッドオープナ121におけるウエハ移載機構125によるウエハのボート217への装填作業中に、他方(下段又は上段)のポッドオープナ121には回転式ポッド棚105から別のポッド110がポッド搬送装置118によって搬送されて移載され、ポッドオープナ121によるポッド110の開放作業が同時進行される。   During the loading operation of the wafer into the boat 217 by the wafer transfer mechanism 125 in the one (upper or lower) pod opener 121, another pod from the rotary pod shelf 105 is loaded into the other (lower or upper) pod opener 121. 110 is transferred and transferred by the pod transfer device 118, and the opening operation of the pod 110 by the pod opener 121 is simultaneously performed.

予め指定された枚数のウエハ200がボート217に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた処理炉202の下端部が、炉口シャッタ147によって、開放される。続いて、ウエハ200群を保持したボート217はシールキャップ219がボートエレベータ115によって上昇されることにより、処理炉202内へ搬入(ローディング)されて行く。   When a predetermined number of wafers 200 are loaded into the boat 217, the lower end portion of the processing furnace 202 closed by the furnace port shutter 147 is opened by the furnace port shutter 147. Subsequently, the boat 217 holding the wafers 200 is loaded into the processing furnace 202 when the seal cap 219 is lifted by the boat elevator 115.

ローディング後、処理炉202にて、群管理装置20から送信されたレシピに基づいて、処理がウエハ200に対して実施される。処理後は、図示しないノッチ合わせ装置135でのウエハの整合工程を除き、概上述の逆の手順で、ウエハ200及びポッド110は筐体の外部へ払出される。   After loading, processing is performed on the wafer 200 in the processing furnace 202 based on the recipe transmitted from the group management apparatus 20. After the processing, the wafer 200 and the pod 110 are ejected to the outside of the casing by the reverse procedure described above except for the wafer alignment process in the notch alignment device 135 (not shown).

なお、本発明に係る基板処理装置は、半導体製造装置だけではなく、LCD装置などのガラス基板を処理する装置にも適用されうる。また、本発明に係る基板処理装置は、炉内の処理を限定せず、CVD、PVD、酸化膜、窒化散を形成する処理、及び金属を含む膜を形成する処理を含む成膜処理を行うことができる。また、本発明に係る基板処理装置は、縦型装置だけでなく、枚葉装置にも適用されうる。   The substrate processing apparatus according to the present invention can be applied not only to a semiconductor manufacturing apparatus but also to an apparatus for processing a glass substrate such as an LCD device. In addition, the substrate processing apparatus according to the present invention does not limit the processing in the furnace, but performs film forming processing including processing for forming CVD, PVD, oxide film, nitriding diffusion, and processing for forming a film containing metal. be able to. The substrate processing apparatus according to the present invention can be applied not only to a vertical apparatus but also to a single wafer apparatus.

本発明の実施形態に係る基板処理システム1の構成を示す図である。1 is a diagram showing a configuration of a substrate processing system 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。1 is a perspective view of a substrate processing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置10の側面透視図を示す。1 is a side perspective view of a substrate processing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. PMC14を中心としたハードウェア構成を示す。The hardware configuration centering on PMC14 is shown. 群管理装置20の構成を、制御装置22を中心に示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a group management device 20 with a control device 22 as a center. 群管理装置20により実行される群管理プログラム40の機能構成を示す図である。3 is a diagram illustrating a functional configuration of a group management program 40 executed by the group management apparatus 20. FIG. 群管理プログラム40のマトリクス記憶部402に記憶されているレシピ決定マトリクスを例示する図である。4 is a diagram illustrating a recipe determination matrix stored in a matrix storage unit 402 of the group management program 40. FIG. 群管理装置20上で動作する群管理プログラム40によるレシピ選択処理(S10)を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the recipe selection process (S10) by the group management program 40 which operate | moves on the group management apparatus 20. FIG. 本発明の実施形態に係る基板処理システム1の全体動作(S20)を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the whole operation | movement (S20) of the substrate processing system 1 which concerns on embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板処理システム
10 基板処理装置
12 ネットワーク
14 PMC
16 入出力装置
20 群管理装置
22 制御装置
28 通信装置
40 群管理プログラム
50 ロット情報送信装置
52 ロット情報読込装置
400 マトリクス登録部
402 マトリクス記憶部
404 ロット情報受付部
406 レシピ選択部
408 レシピ記憶部
410 レシピ送信部
1 substrate processing system 10 substrate processing apparatus 12 network 14 PMC
16 input / output device 20 group management device 22 control device 28 communication device 40 group management program 50 lot information transmission device 52 lot information reading device 400 matrix registration unit 402 matrix storage unit 404 lot information reception unit 406 recipe selection unit 408 recipe storage unit 410 Recipe transmitter

Claims (1)

レシピに基づいて基板を処理する複数の基板処理装置と前記基板処理装置に接続された群管理装置とを含む基板処理システムであって、
前記群管理装置は、
複数のレシピを記憶するレシピ記憶手段と、
ロット情報とレシピとの対応関係を記憶する対応関係記憶手段と、
ロット情報を受け付けるロット情報受付手段と、
前記ロット情報受付手段により受け付けられたロット情報と前記対応関係記憶手段に記憶されている対応関係とに基づいて、前記レシピ記憶手段に記憶されている複数のレシピからレシピを選択するレシピ選択手段と、
前記レシピ選択手段により選択されたレシピを前記基板処理装置に対して送信する送信手段と
を有する基板処理システム。
A substrate processing system including a plurality of substrate processing apparatuses for processing a substrate based on a recipe and a group management apparatus connected to the substrate processing apparatus,
The group management device includes:
Recipe storage means for storing a plurality of recipes;
Correspondence storage means for storing the correspondence between the lot information and the recipe;
Lot information receiving means for receiving lot information;
Recipe selection means for selecting a recipe from a plurality of recipes stored in the recipe storage means based on the lot information received by the lot information reception means and the correspondence relation stored in the correspondence relation storage means; ,
A substrate processing system comprising: a transmission unit configured to transmit a recipe selected by the recipe selection unit to the substrate processing apparatus.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008250144A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Fujifilm Corp Drawing method and drawing system

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