JP2008076193A - Position detector, optical system with position detector, and imaging device - Google Patents

Position detector, optical system with position detector, and imaging device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a position detector suited for miniaturization and thinning with the distance between a magnetic flux detection means and a magnet, shorter than that in the past while maintaining a position detecting function of high accuracy equal to that in the past. <P>SOLUTION: The position detector detecting a change in position correspondingly to a change in magnetic flux comprises the magnet and a plurality of magnetic flux detection means. The magnet is made to include a line connecting at least two of the detection means on a magnetic wall surface of the magnet and the moving direction of the magnet is made to exist on the wall surface. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、磁石と磁気センサを用いた位置検出装置、位置検出装置を有する光学系と撮像装置に関する。   The present invention relates to a position detection device using a magnet and a magnetic sensor, an optical system having the position detection device, and an imaging device.

近年、様々なセンサがあらゆるところで用いられるようになっている。   In recent years, various sensors have been used everywhere.

例えば、特許文献1や特許文献2に記載されている様にデジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラの手ぶれが起きたときにレンズの位置を検出して補正する手ぶれ補正装置や自動焦点調整を行う光学系のレンズの位置検出装置では、瞬時に高精度な位置検出を行う機能を有するセンサが必要となると同時に、位置検出装置全体の小型化が強く求められている。また、携帯電話等の市場においては、CCD等の固体撮像素子を有するモバイルカメラを搭載する端末が多数存在するようになり、モバイルカメラに適用される光学系においてはさらに位置検出装置全体の小型化が求められている。   For example, as described in Patent Document 1 and Patent Document 2, when a camera shake occurs in a digital video camera or a digital still camera, a camera shake correction device that detects and corrects a lens position or an optical system that performs automatic focus adjustment In the lens position detection apparatus, a sensor having a function of instantaneously performing highly accurate position detection is required, and at the same time, downsizing of the entire position detection apparatus is strongly demanded. In the mobile phone market and the like, there are many terminals equipped with a mobile camera having a solid-state image sensor such as a CCD. In the optical system applied to the mobile camera, the position detection device is further downsized. Is required.

上記のような要求を満たすため、特許文献2に記載されている様に光学レンズ等の位置検出装置にセンサを用いずに、ステッピングモーターの駆動ステップパルスをカウントすることにより光学レンズ等の位置検出を行うものや、特許文献3のようにホールセンサ(磁気センサ対)を用いて光学レンズ等の位置検出を行うことで位置検出装置の小型化への対応が行われているものがある。図1にこのようなホールセンサを用いた位置検出装置の例を示した。図1では、ビデオカメラ100の内部において、磁石101が取付けられた変倍レンズ103の位置をホールセンサ102a、102bにより検出し、ホールセンサから変倍レンズの位置の情報を含む信号が、アンプ109およびA/D変換器110を経由して処理回路107に送信される。そして、処理回路107から駆動回路108へ信号が送られ、駆動回路108がモーター106を制御することにより、固定レンズ104と固定レンズ105との間で、変倍レンズの位置が制御される。   In order to satisfy the above requirements, the position detection of the optical lens or the like is performed by counting the driving step pulses of the stepping motor without using a sensor in the position detection device such as the optical lens as described in Patent Document 2. In some cases, the position detection device is made smaller by detecting the position of an optical lens or the like using a Hall sensor (magnetic sensor pair) as in Patent Document 3. FIG. 1 shows an example of a position detection device using such a hall sensor. In FIG. 1, the position of the variable power lens 103 to which the magnet 101 is attached is detected by the Hall sensors 102 a and 102 b inside the video camera 100, and a signal including information on the position of the variable power lens from the Hall sensor is received by the amplifier 109. And transmitted to the processing circuit 107 via the A / D converter 110. Then, a signal is sent from the processing circuit 107 to the driving circuit 108, and the driving circuit 108 controls the motor 106, whereby the position of the variable magnification lens is controlled between the fixed lens 104 and the fixed lens 105.

特開2002−229090号JP 2002-229090 A 特開平06−014231号Japanese Patent Laid-Open No. 06-014231 特開2005−331399号JP-A-2005-331399 特開2004−348173号JP 2004-348173 A 特願2005−364090号Japanese Patent Application No. 2005-364090

しかしながら、特許文献2に記載されているようなステッピングモーターの駆動ステップパルスをカウントする位置検出装置では、ステッピングモーターの脱調などにより高精度な位置検出ができない問題がある。さらにデジタルビデオカメラ等ではステッピングモーターの駆動音が音声ノイズとして記録されてしまうということも問題視されている。また、ステッピングモーターは他の駆動源と比較して大きいので、機器全体の小型化を阻害するという問題もある。   However, the position detection device that counts the stepping motor driving step pulses as described in Patent Document 2 has a problem in that it cannot detect the position with high accuracy due to the stepping motor stepping out. Furthermore, in digital video cameras and the like, it is also regarded as a problem that the driving sound of the stepping motor is recorded as audio noise. In addition, since the stepping motor is larger than other driving sources, there is a problem in that downsizing of the entire device is hindered.

また、特許文献3の図1に記載されているような構成で光学レンズの位置を検出する方式では、高精度でレンズの位置を検出できるものの、磁束検出手段から所望の信号を得るためには、磁石と磁束検出手段の間に一定の距離を保たなければならず、さらなる小型化、薄型化の妨げになることが問題視されている。   In addition, in the method of detecting the position of the optical lens with the configuration described in FIG. 1 of Patent Document 3, the position of the lens can be detected with high accuracy, but in order to obtain a desired signal from the magnetic flux detection means. Therefore, a certain distance must be maintained between the magnet and the magnetic flux detection means, which has been regarded as a problem that hinders further downsizing and thinning.

本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、従来と同等の高精度の位置検出機能を維持しつつ、従来よりも磁束検出手段と磁石との間の距離を縮めることが可能で、小型化、薄型化に適した位置検出装置を提供する事にある。   The present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to maintain a highly accurate position detection function equivalent to that of the prior art, and between the magnetic flux detection means and the magnet as compared with the prior art. It is an object of the present invention to provide a position detection device that can reduce the distance and is suitable for downsizing and thinning.

上記課題を解決するために、請求項1は、位置を検出する物体に取り付けられた磁石と、磁石の相対的移動による磁束の変化を検出する2つの磁束検出手段とからなる位置検出装置であって、磁石の磁壁面に2つの磁束検出手段を結ぶ直線が含まれ、磁石の磁束検出手段に対する相対的移動方向が磁壁面に平行であることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problems, claim 1 is a position detection device comprising a magnet attached to an object whose position is to be detected and two magnetic flux detection means for detecting a change in magnetic flux due to relative movement of the magnet. The magnetic wall surface of the magnet includes a straight line connecting the two magnetic flux detection means, and the relative movement direction of the magnet with respect to the magnetic flux detection means is parallel to the magnetic wall surface.

請求項2は、請求項1の発明において、磁束検出手段が磁石の着磁方向に平行な磁束成分を検出する事が可能であることを特徴とする。   A second aspect of the present invention is characterized in that, in the first aspect of the invention, the magnetic flux detecting means can detect a magnetic flux component parallel to the magnetizing direction of the magnet.

請求項3は、請求項1又は請求項2のいずれかの発明において、磁束検出手段がホールセンサであることを特徴とする。   A third aspect of the present invention is characterized in that, in the invention of any one of the first and second aspects, the magnetic flux detecting means is a Hall sensor.

請求項4は、請求項1乃至3のいずれかの発明を用いた光学系であることを特徴とする。   A fourth aspect of the present invention is an optical system using the invention according to any one of the first to third aspects.

請求項5に記載の撮像装置は、請求項4の光学系を用いたことを特徴とする。   An image pickup apparatus according to a fifth aspect uses the optical system according to the fourth aspect.

以上の手段について図2を用いて詳しく説明する。図2には、本発明の位置検出装置の基本的な構成が示されている。すなわち、本発明の位置検出装置は、磁石202と磁石202の磁束検出手段210a、210b、磁束検出手段210a、210bからの信号を処理回路208に送信するためのアンプ206およびA/D変換器207、および処理回路208から送信された信号に従って、磁石202を有する移動部品を矢印212の方向に駆動する駆動回路209から構成されている。磁石202は、重心201と磁壁203をもち、磁壁203を含む面を磁壁面204といい、磁壁面204に垂直な方向を着磁方向211という。以下、これらの構成要素について説明する。   The above means will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 shows a basic configuration of the position detection apparatus of the present invention. That is, the position detection device of the present invention includes the magnet 202, the magnetic flux detection means 210a and 210b of the magnet 202, and the amplifier 206 and the A / D converter 207 for transmitting signals from the magnetic flux detection means 210a and 210b to the processing circuit 208. , And a drive circuit 209 that drives the moving part having the magnet 202 in the direction of the arrow 212 in accordance with the signal transmitted from the processing circuit 208. The magnet 202 has a center of gravity 201 and a domain wall 203, a surface including the domain wall 203 is referred to as a magnetic wall surface 204, and a direction perpendicular to the magnetic wall surface 204 is referred to as a magnetization direction 211. Hereinafter, these components will be described.

磁石とは、エネルギーを静磁エネルギーの形で蓄えている物質であり、一度磁化したら残留磁化を保つ磁性材料であり、フェライト、アルニコ、希土類などが使われる。これら磁石は、N極S極をそれぞれ単極着磁した幾何学的に対称面を有するものであれば良い。具体的な形状の例は、図2の磁石202である。磁石は、幾何学的な対称面を有していれば良く、図2の磁石202の形状に制限されるものではない。   A magnet is a substance that stores energy in the form of magnetostatic energy, and is a magnetic material that retains residual magnetization once magnetized. Ferrite, alnico, rare earth, etc. are used. These magnets only need to have geometrically symmetrical planes in which N poles and S poles are respectively single poled. An example of a specific shape is the magnet 202 in FIG. The magnet only needs to have a geometric symmetry plane, and is not limited to the shape of the magnet 202 in FIG.

磁壁とは、本発明の様に単極着磁した場合、S極とN極の境目に存在する。また、着磁方向と磁壁を含む平面は直交する。   The domain wall exists at the boundary between the S pole and the N pole when unipolar magnetization is performed as in the present invention. The magnetization direction and the plane including the domain wall are orthogonal to each other.

磁壁面とは、磁壁を無限遠まで広げた平面で磁壁を含んでいる。磁石が移動する場合、磁壁面は、その位置毎に存在することになるが、本発明において、図2に示されているように磁石202は磁気検出手段210a、210bを結ぶ直線205の上を直線205と平行な方向に移動するので、磁壁面204は一意に決まる。   The domain wall includes a domain wall in a plane that extends the domain wall to infinity. When the magnet moves, the magnetic wall surface exists at each position. In the present invention, as shown in FIG. 2, the magnet 202 moves on the straight line 205 connecting the magnetic detection means 210a and 210b. Since it moves in a direction parallel to the straight line 205, the magnetic wall surface 204 is uniquely determined.

磁石の磁束検出手段に対する相対的移動とは、磁束検出手段に対する磁石の重心の相対的移動を言う。相対的な移動であるので磁石が動いても、磁束検出手段が動いても良い。   The relative movement of the magnet with respect to the magnetic flux detection means refers to the relative movement of the center of gravity of the magnet with respect to the magnetic flux detection means. Since the movement is relative, the magnet may move or the magnetic flux detection means may move.

磁束検出手段とは、ホールセンサ、磁気抵抗効果素子や、磁気インピーダンス素子、その他様々な磁気センサ及びそれらの組合せであり、これらの駆動、処理回路等の周辺回路を含めたものでもよい。   The magnetic flux detection means is a Hall sensor, a magnetoresistive effect element, a magneto-impedance element, various other magnetic sensors, and combinations thereof, and may include peripheral circuits such as drive and processing circuits.

ホールセンサとしては、磁気増幅を行うための磁性体チップなどを用いていないGaAs、InAs、InSbなどの化合物半導体からなるホールセンサ、又は、Si、GeなどのIV族半導体からなるホールセンサを用いることができる。当然、上記材料を複数個組み合わせたものでも構わない。磁性体チップなどの磁気増幅を行うための部材は、磁気ヒステリシスを持ち、磁石相対位置の検出精度を落とす要因になりうるが、検出精度がそれほど求められない用途においては、磁性体チップなどを用いたホールセンサを用いても問題にならない。   As a Hall sensor, a Hall sensor made of a compound semiconductor such as GaAs, InAs, or InSb that does not use a magnetic chip for performing magnetic amplification, or a Hall sensor made of an IV group semiconductor such as Si or Ge is used. Can do. Of course, a combination of a plurality of the above materials may be used. A member for performing magnetic amplification such as a magnetic chip has a magnetic hysteresis and may cause a decrease in detection accuracy of the relative position of the magnet. However, in applications where detection accuracy is not so required, a magnetic chip is used. There is no problem with using the hall sensor.

磁束検出手段を結ぶ直線とは、各磁束検出手段の磁束を検出する感磁面中央間を結ぶ直線である。   The straight line connecting the magnetic flux detection means is a straight line connecting the centers of the magnetic sensitive surfaces that detect the magnetic flux of each magnetic flux detection means.

位置検出装置とは、磁束発生源である磁石と、複数の磁束検出手段と、これらの駆動、処理回路等の周辺回路を含めたものよりなる装置である。図2には、アンプ206やA/D変換器207を記載しているが、磁束検出手段の出力が充分に大きい場合、これらの部品が必要なくなることもありうる。   The position detection device is a device including a magnet that is a magnetic flux generation source, a plurality of magnetic flux detection means, and peripheral circuits such as drive and processing circuits. Although FIG. 2 shows the amplifier 206 and the A / D converter 207, these components may not be necessary if the output of the magnetic flux detection means is sufficiently large.

光学系とは、デジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラ等の撮像装置や、プロジェクター等の投影装置や、ODD等に用いられる光ピックアップに用いられる、レンズ群、アクチュエータ、CCD等の部品からなるものである。上記で記載したものは、あくまで一例であり、当然これらに限定されるものではない。   The optical system includes components such as a lens group, an actuator, and a CCD that are used in an imaging device such as a digital video camera and a digital still camera, a projection device such as a projector, and an optical pickup used in ODD and the like. . What has been described above is merely an example, and the present invention is not limited thereto.

撮像装置とは、デジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラなど映像を記録または保存できる機器のことである。上記で記載したものは、あくまで一例であり、当然これらに限定されるものではない。   An imaging device is a device that can record or save video such as a digital video camera or a digital still camera. What has been described above is merely an example, and the present invention is not limited thereto.

本発明によれば、従来と同等の高精度の位置検出機能を維持しつつ、従来よりも磁束検出手段と磁石の間の距離を縮めることが可能で、小型化、薄型化に適した位置検出装置を提供する事が可能となる。   According to the present invention, it is possible to reduce the distance between the magnetic flux detecting means and the magnet as compared with the conventional position detection while maintaining a highly accurate position detection function equivalent to the conventional position detection, which is suitable for downsizing and thinning. A device can be provided.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
<実施形態1>
図3、図4を用いて、位置検出装置の概略構成を説明する。図3に示されている位置検出装置は、移動する物体に取り付けられている磁石301(磁石の幅W、磁石の長さL、磁石の高さH)の、装置本体などの固定されている物体に取り付けられているホールセンサS1、S2に対する相対位置を検出する。ここで、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2を結ぶ線分の距離は、符号SLで示される。そして、ホールセンサS1、S2の感磁面の中心と磁石下面との距離は、符号SMDで示される。また、磁石の中心の移動範囲は、符号STで示される。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
<Embodiment 1>
A schematic configuration of the position detection device will be described with reference to FIGS. 3 and 4. In the position detection device shown in FIG. 3, a magnet 301 (magnet width W, magnet length L, magnet height H) attached to a moving object is fixed, such as the device main body. A relative position with respect to the Hall sensors S1 and S2 attached to the object is detected. Here, the distance between the line segment connecting the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 is indicated by reference sign SL. The distance between the center of the magnetic sensitive surfaces of the hall sensors S1 and S2 and the magnet lower surface is indicated by reference numeral SMD. Further, the moving range of the center of the magnet is indicated by the symbol ST.

磁石301は、幅W[mm]、高さH[mm]、長さL[mm]の直方体で、Y軸方向に単極着磁されているものである。図3において、X軸、Z軸は、磁壁面に平行な方向であり、Y軸は、磁壁面に垂直な方向である。ここで、Z軸は磁石から基板面に向かう基板面に垂直な方向である。また、磁石301の磁壁はY軸方向に直交し、磁石301の幅Wの中点に磁壁は位置する。X軸は、磁石301の移動方向303に平行な方向であり、Y軸は、磁石301の移動方向303に垂直な方向である。下記の実施形態1、実施形態2では、磁石はすべてネオジム焼結磁石で、残留磁束密度は1200mT(一般的なネオジウム焼結磁石の値)である。以下に示すのは本発明に係る位置検出装置の1例であり、これに限定されるものではない。   The magnet 301 is a rectangular parallelepiped having a width W [mm], a height H [mm], and a length L [mm], and is monopolarly magnetized in the Y-axis direction. In FIG. 3, the X axis and the Z axis are directions parallel to the magnetic wall surface, and the Y axis is a direction perpendicular to the magnetic wall surface. Here, the Z-axis is a direction perpendicular to the substrate surface from the magnet toward the substrate surface. The domain wall of the magnet 301 is orthogonal to the Y-axis direction, and the domain wall is located at the midpoint of the width W of the magnet 301. The X axis is a direction parallel to the moving direction 303 of the magnet 301, and the Y axis is a direction perpendicular to the moving direction 303 of the magnet 301. In the following Embodiment 1 and Embodiment 2, the magnets are all neodymium sintered magnets, and the residual magnetic flux density is 1200 mT (value of a general neodymium sintered magnet). The following is an example of the position detection device according to the present invention, and the present invention is not limited to this.

以下で説明する実施形態1と実施形態2において、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2は、規定の距離SLを隔てて基板304上に実装され、磁石301はホールセンサS1、S2に対向するように配置される。この際、磁石301は、磁石301の磁壁面(磁石301の磁壁302を含む面)に第1、第2のホールセンサを結ぶ直線が含まれるように配置される。第1と第2のホールセンサS1、S2の検出可能な磁束の方向は、磁石の着磁方向に平行な方向(Y軸方向)である。また、磁石301の運動方向303は、磁壁面に平行な方向(X軸方向)である。   In the first and second embodiments described below, the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 are mounted on the substrate 304 with a predetermined distance SL, and the magnet 301 is mounted on the hall sensors S1, S2. It arrange | positions so that it may oppose. At this time, the magnet 301 is disposed so that the magnetic wall surface of the magnet 301 (the surface including the magnetic wall 302 of the magnet 301) includes a straight line connecting the first and second Hall sensors. The direction of the magnetic flux detectable by the first and second Hall sensors S1 and S2 is a direction parallel to the magnetizing direction of the magnet (Y-axis direction). The movement direction 303 of the magnet 301 is a direction parallel to the magnetic wall surface (X-axis direction).

また、ホールセンサS1、S2からの信号は、アンプ305およびA/D変換器306を経由して、処理回路307に送信され、処理回路307から送信された信号に従って、磁石301を有する移動部品を図3の矢印303の方向に、処理回路307と接続された駆動回路308が駆動する。   The signals from the hall sensors S1 and S2 are transmitted to the processing circuit 307 via the amplifier 305 and the A / D converter 306, and the moving part having the magnet 301 is moved according to the signal transmitted from the processing circuit 307. The drive circuit 308 connected to the processing circuit 307 is driven in the direction of the arrow 303 in FIG.

図3には、アンプ305やA/D変換器306を記載しているが、磁束検出手段の出力が充分に大きい場合、これらの部品が必要なくなることもありうる。   Although FIG. 3 shows the amplifier 305 and the A / D converter 306, when the output of the magnetic flux detection means is sufficiently large, these components may not be necessary.

また、図4には、磁石301の中心の移動範囲ST、磁石301が移動する左端402、磁石301が移動する右端403、磁石301がホールセンサS1、S2に対して中心に位置しているときの磁石301の中心位置401、ホールセンサS1、S2の感磁面の中央404a、404b、感磁面の中心404a、404bと磁石301の下面との距離SMDが示されている。   In addition, FIG. 4 shows the movement range ST of the center of the magnet 301, the left end 402 where the magnet 301 moves, the right end 403 where the magnet 301 moves, and the magnet 301 located at the center with respect to the Hall sensors S1 and S2. The center position 401 of the magnet 301, the centers 404a and 404b of the magnetic sensitive surfaces of the hall sensors S1 and S2, and the distance SMD between the centers 404a and 404b of the magnetic sensitive surfaces and the lower surface of the magnet 301 are shown.

次に、ホールセンサS1、S2の出力から磁石301の位置を求める手順を、図5を用いて説明する。図5には、磁石301の中心の移動範囲501、磁石301が移動する左端503、磁石301が移動する右端504、磁石301がホールセンサS1、S2に対して中心に位置しているときの磁石301の中心位置502が示されている。本構成ではホールセンサを2個用いている。磁石が可動範囲を端から端に動く際の各ホールセンサS1、S2の出力は、センサ位置により異なる。磁石301に対して最適な位置にホールセンサS1、S2を配置した場合、ホールセンサS1からの出力信号を出力信号A、ホールセンサS2からの出力信号を出力信号Bとする。このとき、出力信号A、Bを、図3に記載の処理回路307によって(出力信号A−出力信号B)/(出力信号A+出力信号B)の演算を行うと、磁石の移動に対し線形に近い信号を得る事ができる。この際、磁石301とホールセンサS1、S2の配置によっては、(出力信号A−出力信号B)の演算で磁石の移動に対し線形に近い信号を得ることができる。したがって、配置関係によっては、磁石の位置を算出する時に(出力信号A−出力信号B)を用いることができる。   Next, a procedure for obtaining the position of the magnet 301 from the outputs of the hall sensors S1 and S2 will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows the movement range 501 of the center of the magnet 301, the left end 503 to which the magnet 301 moves, the right end 504 to which the magnet 301 moves, and the magnet when the magnet 301 is located at the center with respect to the Hall sensors S1 and S2. A center position 502 of 301 is shown. In this configuration, two hall sensors are used. The output of each Hall sensor S1, S2 when the magnet moves from end to end in the movable range differs depending on the sensor position. When the hall sensors S1 and S2 are arranged at optimal positions with respect to the magnet 301, an output signal from the hall sensor S1 is an output signal A, and an output signal from the hall sensor S2 is an output signal B. At this time, when the output signals A and B are calculated as (output signal A−output signal B) / (output signal A + output signal B) by the processing circuit 307 shown in FIG. A close signal can be obtained. At this time, depending on the arrangement of the magnet 301 and the hall sensors S1 and S2, a signal close to linear with respect to the movement of the magnet can be obtained by calculating (output signal A−output signal B). Therefore, depending on the arrangement relationship, (output signal A-output signal B) can be used when calculating the position of the magnet.

図5において、磁石の左端が可動範囲の左端503に位置したとき、ホールセンサS1、S2はそれぞれ中段のグラフの△で示した値を出力する。その出力を処理回路307で演算を行い、下段に示す線形化信号△を出力する。次に、磁石301の右端が可動範囲の右端504に位置した時も同様の処理を行う。磁石が右端に位置した時の出力信号A、Bと線形化信号は、それぞれ中段と下段のグラフにおいて□で示される。線形化信号△と線形化信号□の2点を直線補間したものを線形式として定義し、実際に磁石が動いた時は、この線形式に当てはめて磁石の位置を算出する。   In FIG. 5, when the left end of the magnet is positioned at the left end 503 of the movable range, the hall sensors S1 and S2 each output a value indicated by Δ in the middle graph. The output is calculated by the processing circuit 307, and the linearized signal Δ shown in the lower stage is output. Next, the same processing is performed when the right end of the magnet 301 is positioned at the right end 504 of the movable range. The output signals A and B and the linearized signal when the magnet is positioned at the right end are indicated by □ in the middle and lower graphs, respectively. A linear form is defined by linearly interpolating the two points of the linearization signal Δ and the linearization signal □. When the magnet actually moves, the position of the magnet is calculated by applying this linear form.

出力信号Aと出力信号Bは磁束密度に比例する事から、静磁場解析のコンピュータによる磁気シミュレーションを行い、その磁束密度を図5におけるホールセンサの信号に対応させ、位置検出装置の検出分解能の計算を行った。   Since the output signal A and the output signal B are proportional to the magnetic flux density, a magnetic simulation by a computer for static magnetic field analysis is performed, and the magnetic flux density is made to correspond to the Hall sensor signal in FIG. 5 to calculate the detection resolution of the position detection device. Went.

静磁場解析のコンピュータシミュレーションは磁場H[A/m]を求める事が可能であれば微分方程式法(有限要素法、差分法など)、積分方程式法(境界要素法、磁気モーメント法など)何れを用いても構わない。   Computer simulations of static magnetic field analysis can use either differential equation methods (finite element method, difference method, etc.) or integral equation methods (boundary element method, magnetic moment method, etc.) as long as the magnetic field H [A / m] can be obtained. You may use.

まず、広い温度範囲において、分解能5μmで2mm(±1mm)の範囲を位置検出する場合について示す。図3、4における各構成部品のパラメータの最適値の設計例を説明する。   First, a case where a position of 2 mm (± 1 mm) is detected with a resolution of 5 μm in a wide temperature range will be described. A design example of the optimum value of the parameter of each component in FIGS.

直方体磁石の長さL=2.5mm、直方体磁石の幅W=2.9mm、直方体磁石の高さH=0.9mmとする。   The length L of the cuboid magnet is 2.5 mm, the width W of the cuboid magnet is 2.9 mm, and the height of the cuboid magnet is H = 0.9 mm.

また、直方体磁石のホールセンサS1、S2に対向する平面(磁石下面)からホールセンサS1、S2の感磁面の中心までの距離SMD=1.2mm、第1のホールセンサS1の感磁面の中心と第2のホールセンサS2の感磁面の中心との距離SL=0.8mm とする。ホールセンサS1、S2の感磁面の中心から磁石の上面までの距離(H+SMD)は2.1mmとなる。   Further, the distance SMD = 1.2 mm from the plane (the bottom surface of the magnet) facing the Hall sensors S1, S2 of the rectangular parallelepiped magnet to the center of the magnetic sensitive surface of the Hall sensors S1, S2, the magnetic sensitive surface of the first Hall sensor S1. The distance SL between the center and the center of the magnetic sensitive surface of the second Hall sensor S2 is set to 0.8 mm. The distance (H + SMD) from the center of the magnetosensitive surface of the Hall sensors S1, S2 to the upper surface of the magnet is 2.1 mm.

上記設計の際、図16に示すように、ホールセンサS1、S2をばらばらに実装基板に搭載するよりも、全てのホールセンサS1、S2を、電極1601を設置した1つのモールドパッケージ1602内に搭載しても良い。この場合、ホールセンサS1、S2の配置誤差が小さくなり、位置検出装置の高精度化に貢献できる。また、例えば、Si基板上に全てのホールセンサS1、S2を設けることも可能である。従って、ホールセンサS1とホールセンサS2とを、1つのパッケージ内に封入しても良い。   At the time of the above design, as shown in FIG. 16, rather than mounting the Hall sensors S1 and S2 separately on the mounting board, all the Hall sensors S1 and S2 are mounted in one mold package 1602 in which the electrodes 1601 are installed. You may do it. In this case, the arrangement errors of the hall sensors S1 and S2 are reduced, which can contribute to the high accuracy of the position detection device. Further, for example, it is possible to provide all the hall sensors S1 and S2 on the Si substrate. Therefore, the hall sensor S1 and the hall sensor S2 may be enclosed in one package.

図11〜13は、直方体磁石の移動距離に対する磁束密度の変化を示す。   FIGS. 11-13 shows the change of the magnetic flux density with respect to the moving distance of a rectangular parallelepiped magnet.

図11は磁石の移動距離に対する第1のホールセンサS1の位置での磁束密度変化11を、図12は磁石の移動距離に対する第2のホールセンサS2の位置での磁束密度変化12を、図13は磁石の移動距離に対する、第2のホールセンサS2の位置での磁束密度から第1のホールセンサS1の位置での磁束密度を引いた磁束密度の変化の差13を、表している。   11 shows the magnetic flux density change 11 at the position of the first Hall sensor S1 with respect to the moving distance of the magnet. FIG. 12 shows the magnetic flux density change 12 at the position of the second Hall sensor S2 with respect to the moving distance of the magnet. Represents a difference 13 in magnetic flux density change obtained by subtracting the magnetic flux density at the position of the first Hall sensor S1 from the magnetic flux density at the position of the second Hall sensor S2 with respect to the moving distance of the magnet.

これにより、磁石の移動に対して第2のホールセンサS2の位置での磁束密度から第1のホールセンサS1の位置での磁束密度を引いた差磁束密度が線形に近い曲線で変化することが分かる。   Thereby, the difference magnetic flux density obtained by subtracting the magnetic flux density at the position of the first Hall sensor S1 from the magnetic flux density at the position of the second Hall sensor S2 with respect to the movement of the magnet may change in a curve close to linear. I understand.

ホールセンサの出力電圧は磁束密度の大きさに比例するので、第1のホールセンサS1の出力電圧Vaと、第2のホールセンサS2の出力電圧Vbとの差分値は、磁石の移動距離に対して線形に近い出力特性を持つことになる。   Since the output voltage of the hall sensor is proportional to the magnitude of the magnetic flux density, the difference value between the output voltage Va of the first hall sensor S1 and the output voltage Vb of the second hall sensor S2 is relative to the moving distance of the magnet. The output characteristics are almost linear.

図14は、上記パラメータでの構成例において、直方体磁石の移動に対する、ホールセンサS1の出力電圧Vaと、ホールセンサS2の出力電圧Vbとの差分値(Va−Vb)を、出力電圧の和(Va+Vb)で割った値を、磁気シミュレーション値から求めた結果を示す。図14(b)は、図14(a)の領域22を拡大した図である。理想直線(線形式)は符号21で示される。   FIG. 14 shows a difference value (Va−Vb) between the output voltage Va of the hall sensor S1 and the output voltage Vb of the hall sensor S2 with respect to the movement of the rectangular parallelepiped magnet in the configuration example with the above parameters. The value obtained by dividing the value divided by (Va + Vb) from the magnetic simulation value is shown. FIG. 14B is an enlarged view of the region 22 in FIG. The ideal straight line (line format) is indicated by reference numeral 21.

磁気シミュレーションの前提として、2個のホールセンサS1、S2の感度を2.4mV/mT(一般的なホールセンサの感度)、直方体磁石の残留磁束密度Brを1200mT(一般的なネオジム焼結磁石の値)として行った。   As the premise of the magnetic simulation, the sensitivity of the two Hall sensors S1 and S2 is 2.4 mV / mT (sensitivity of a general Hall sensor), and the residual magnetic flux density Br of a rectangular parallelepiped magnet is 1200 mT (of a general neodymium sintered magnet). Value).

図11〜13と図14に示した磁気シミュレーション結果より、本発明の位置検出装置では、直方体磁石の移動に対する、ホールセンサS1の出力電圧Vaと、ホールセンサS2の出力電圧Vbとの差分値を、出力電圧の和で割った値が高い線形性を持ち、理想の直線(線形式)とよく一致することが分かる。   From the magnetic simulation results shown in FIGS. 11 to 13 and FIG. 14, in the position detection device of the present invention, the difference value between the output voltage Va of the hall sensor S1 and the output voltage Vb of the hall sensor S2 with respect to the movement of the rectangular parallelepiped magnet is obtained. It can be seen that the value divided by the sum of the output voltages has high linearity and matches well with the ideal straight line (linear form).

ここで、図14(a)に記載した理想直線21は、直方体磁石の移動距離が+1mmにおける2個のホールセンサS1、S2の出力電圧の差分値(Va−Vb)を、出力電圧の和(Va+Vb)で割った値と、直方体磁石の移動距離が−1mmにおける2個のホールセンサS1、S2の出力電圧の差分値(Va−Vb)を、出力電圧の和(Va+Vb)で割った値とを結んだ直線である。   Here, the ideal straight line 21 shown in FIG. 14A represents the difference value (Va−Vb) between the output voltages of the two Hall sensors S1 and S2 when the moving distance of the rectangular parallelepiped magnet is +1 mm. The value divided by Va + Vb) and the value obtained by dividing the difference value (Va−Vb) of the output voltages of the two Hall sensors S1 and S2 when the moving distance of the rectangular magnet is −1 mm by the sum of the output voltages (Va + Vb) It is a straight line connecting

図14(b)より、第1のホールセンサS1の出力電圧Vaと、第2のホールセンサS2の出力電圧Vbとの差分値(Va−Vb)を、出力電圧の和(Va+Vb)で割った値は、少しではあるが理想直線からずれているのが分かる。   From FIG. 14B, the difference value (Va−Vb) between the output voltage Va of the first hall sensor S1 and the output voltage Vb of the second hall sensor S2 is divided by the sum of the output voltages (Va + Vb). It can be seen that the value is slightly off the ideal line.

一般的には、この理想直線上の値を用いて位置検出を行うため、第1のホールセンサS1の出力電圧Vaと、第2のホールセンサS2の出力電圧Vbとの差分値(Va−Vb)を、出力電圧の和(Va+Vb)で割った値の理想直線21からのずれが大きければ、位置検出誤差が大きくなる。   Generally, since position detection is performed using a value on this ideal straight line, a difference value (Va−Vb) between the output voltage Va of the first hall sensor S1 and the output voltage Vb of the second hall sensor S2. ) Divided by the output voltage sum (Va + Vb) is large, the position detection error increases.

図15は、直方体磁石の移動距離が+1mmにおける2個のホールセンサS1、S2の出力電圧の差を和で割った値と、直方体磁石の移動距離が−1mmにおける2個のホールセンサS1、S2の出力電圧の差分値を和で割った値を結んだ直線を理想直線21として、理想直線21と図14に示した磁気シミュレーション結果のずれから換算した位置検出における誤差を示した図である。   FIG. 15 shows a value obtained by dividing the difference between the output voltages of the two Hall sensors S1 and S2 when the moving distance of the cuboid magnet is +1 mm, and two Hall sensors S1 and S2 when the moving distance of the cuboid magnet is −1 mm. FIG. 15 is a diagram showing an error in position detection converted from a deviation between the ideal straight line 21 and the magnetic simulation result shown in FIG. 14, with a straight line connecting values obtained by dividing the output voltage difference value by the sum as an ideal straight line 21.

図15に示す結果より、位置検出誤差は最大でも5μm以下であり、分解能は全ストローク2mmに対して0.25%と高精度な位置検出を達成していることが分かる。   From the results shown in FIG. 15, it can be seen that the position detection error is 5 μm or less at the maximum, and the resolution achieves highly accurate position detection of 0.25% with respect to the total stroke of 2 mm.

当然、図14で示した磁気シミュレーション結果から最小2乗法で求めた直線を理想直線21としてもかまわない。最小2乗法で求めた直線を理想直線21とすると、さらに位置検出誤差は小さくなり、分解能は高くなる。   Naturally, the straight line obtained by the least square method from the magnetic simulation result shown in FIG. If the straight line obtained by the least square method is the ideal straight line 21, the position detection error is further reduced and the resolution is increased.

このように、本発明の位置検出装置を用いることにより、以下の比較条件を用いた従来の位置検出装置と比較して、著しく薄型な位置検出装置を実現できる。   Thus, by using the position detection device of the present invention, a significantly thin position detection device can be realized as compared with the conventional position detection device using the following comparison conditions.

<比較条件>
図6に従来の位置検出装置の構成を示す。図6の位置検出装置は、移動する物体に取り付けられている磁石601(磁石の幅W、磁石の長さL、磁石の高さH)の、装置本体などの固定されている物体に取り付けられているホールセンサS1、S2に対する相対位置を検出する。ここで、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2を結ぶ線分の距離は、符号SLで示される。そして、ホールセンサS1、S2の感磁面の中心と磁石下面との距離は、符号SMDで示される。また、磁石の中心の移動の方向は、符号603で示される。
<Comparison conditions>
FIG. 6 shows the configuration of a conventional position detection device. The position detection device of FIG. 6 is attached to a fixed object such as a device main body of a magnet 601 (magnet width W, magnet length L, magnet height H) attached to a moving object. The relative position with respect to the hall sensors S1 and S2 is detected. Here, the distance between the line segment connecting the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 is indicated by reference sign SL. The distance between the center of the magnetic sensitive surfaces of the hall sensors S1 and S2 and the magnet lower surface is indicated by reference numeral SMD. The direction of movement of the center of the magnet is indicated by reference numeral 603.

磁石601は、幅W[mm]、高さH[mm]、長さL[mm]の直方体で、Z軸方向に単極着磁されているものである。図6において、X軸、Y軸は、磁壁面に平行な方向であり、Z軸は、磁壁面に垂直な方向である。ここで、Z軸は磁石から基板面に向かう基板面に垂直な方向である。磁石601の高さHの中点に磁壁は位置する。また、X軸は、磁石601の移動方向603に平行な方向であり、Y軸は、磁石601の移動方向603に垂直な方向である。下記の実施形態1、実施形態2では、磁石はすべてネオジム焼結磁石で、残留磁束密度は1200mT(一般的なネオジウム焼結磁石の値)である。   The magnet 601 is a rectangular parallelepiped having a width W [mm], a height H [mm], and a length L [mm], and is unipolarly magnetized in the Z-axis direction. In FIG. 6, the X axis and the Y axis are directions parallel to the magnetic wall surface, and the Z axis is a direction perpendicular to the magnetic wall surface. Here, the Z-axis is a direction perpendicular to the substrate surface from the magnet toward the substrate surface. The domain wall is located at the midpoint of the height H of the magnet 601. The X axis is a direction parallel to the moving direction 603 of the magnet 601, and the Y axis is a direction perpendicular to the moving direction 603 of the magnet 601. In the following Embodiment 1 and Embodiment 2, the magnets are all neodymium sintered magnets, and the residual magnetic flux density is 1200 mT (value of a general neodymium sintered magnet).

以下で説明する比較条件において、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2は、規定の距離SLを隔てて基板604上に実装され、磁石601はホールセンサS1、S2に対向するように配置される。この際、磁石601は、磁石601の幅Wを二等分する対称面に第1、第2のホールセンサを結ぶ直線が含まれるように配置される。   Under the comparison conditions described below, the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 are mounted on the substrate 604 with a specified distance SL therebetween, and the magnet 601 is opposed to the hall sensors S1 and S2. Be placed. At this time, the magnet 601 is arranged so that a straight line connecting the first and second Hall sensors is included in a symmetry plane that bisects the width W of the magnet 601.

また、ホールセンサS1、S2からの信号は、アンプ605およびA/D変換器606を経由して、処理回路607に送信され、処理回路607から送信された信号に従って、磁石601を有する移動部品を図6の矢印603の方向に、処理回路607と接続された駆動回路608が駆動する。   The signals from the hall sensors S1 and S2 are transmitted to the processing circuit 607 via the amplifier 605 and the A / D converter 606, and the moving part having the magnet 601 is moved according to the signal transmitted from the processing circuit 607. The drive circuit 608 connected to the processing circuit 607 is driven in the direction of the arrow 603 in FIG.

従来の位置検出装置の構成である比較条件の構成では、図6に示されているように、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2は、規定の距離SLを隔てて基板上に実装され、磁石はホールセンサS1、S2に対向するように配置される。この際、磁石は第1、第2のホールセンサを結ぶ直線が含まれる基板に垂直な平面と磁石の磁壁面とが垂直に交わるように配置され、磁石のホールセンサに対する相対運動方向が磁壁面に平行である。すなわち、比較条件では、実施形態1の構成と異なり、磁石601の磁壁面(磁石601の磁壁602を含む面)に第1、第2のホールセンサを結ぶ直線が含まれない。   In the configuration of the comparison condition that is the configuration of the conventional position detecting device, as shown in FIG. 6, the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 are separated from each other on the substrate by a predetermined distance SL. The magnet is mounted and arranged so as to face the hall sensors S1 and S2. At this time, the magnet is arranged so that the plane perpendicular to the substrate including the straight line connecting the first and second Hall sensors and the magnetic wall surface of the magnet intersect perpendicularly, and the relative motion direction of the magnet with respect to the Hall sensor is the magnetic wall surface. Parallel to That is, in the comparison condition, unlike the configuration of the first embodiment, the magnetic wall surface of the magnet 601 (the surface including the magnetic wall 602 of the magnet 601) does not include a straight line connecting the first and second Hall sensors.

比較条件においても上記の実施形態1の実施条件と同様に、広い温度範囲において分解能5μmで2mm(±1mm)の範囲を位置検出する。   Also in the comparison condition, as in the implementation condition of the first embodiment, the position of a range of 2 mm (± 1 mm) is detected with a resolution of 5 μm in a wide temperature range.

比較条件としては、従来、移動する物体に取り付けられている磁石(磁石の幅W、磁石の長さL、磁石の高さH)の装置本体などの固定されている物体に取り付けられているホールセンサS1、S2に対する相対位置を検出する位置検出装置に用いられている構成を示す。比較条件の概略を図6に示した。ここで、第1のホールセンサS1と第2のホールセンサS2を結ぶ線分の距離は符号SLで示される。そして、ホールセンサS1、S2の感磁面の中心と磁石下面との距離は符号SMDで示される。   As a comparison condition, conventionally, a hole attached to a fixed object such as an apparatus main body of a magnet (magnet width W, magnet length L, magnet height H) attached to a moving object. The structure used for the position detection apparatus which detects the relative position with respect to sensors S1 and S2 is shown. An outline of the comparison conditions is shown in FIG. Here, the distance between the line segments connecting the first hall sensor S1 and the second hall sensor S2 is indicated by reference sign SL. The distance between the center of the magnetic sensitive surface of the hall sensors S1 and S2 and the magnet lower surface is indicated by reference numeral SMD.

実施形態1とは異なり、着磁方向は基板に直行する方向(Z軸方向)であり、磁壁面は磁石下面(X−Y平面)および基板に平行であり、ホールセンサは磁壁面上に無い。第1と第2のホールセンサS1、S2の検出可能な磁束の方向は、磁石の着磁方向に平行な方向(Z軸方向)である。また、磁石の移動方向は、磁壁面に平行な方向(X軸方向)である。   Unlike Embodiment 1, the magnetization direction is a direction perpendicular to the substrate (Z-axis direction), the magnetic wall surface is parallel to the lower surface of the magnet (XY plane) and the substrate, and the Hall sensor is not on the magnetic wall surface. . The direction of the magnetic flux detectable by the first and second Hall sensors S1 and S2 is a direction parallel to the magnetizing direction of the magnet (Z-axis direction). The moving direction of the magnet is a direction parallel to the magnetic wall surface (X-axis direction).

以下、図6における各構成部品のパラメータの最適値の設計例を説明する。   Hereinafter, a design example of the optimum value of the parameter of each component in FIG. 6 will be described.

直方体磁石の長さL=2.6mm、直方体磁石の幅W=1.4mm、直方体磁石の高さH=0.8mmとする。   The length L of the cuboid magnet is 2.6 mm, the width W of the cuboid magnet is 1.4 mm, and the height of the cuboid magnet is H = 0.8 mm.

また、直方体磁石のホールセンサS1、S2に対向する平面(磁石下面)からホールセンサS1、S2の感磁面の中心までの距離SMD=1.8mm、第1のホールセンサS1の感磁面の中心と第2のホールセンサS2の感磁面の中心との距離SL=1.5mm とする。これより、比較条件ではホールセンサS1、S2の感磁面の中心から磁石の上面までの距離(H+SMD)は2.6mmとなることが分かる。   Further, the distance SMD = 1.8 mm from the plane (the bottom surface of the magnet) facing the Hall sensors S1 and S2 of the rectangular parallelepiped magnet to the center of the magnetic sensitive surface of the Hall sensors S1 and S2, the magnetic sensitive surface of the first Hall sensor S1. The distance SL between the center and the center of the magnetic sensitive surface of the second Hall sensor S2 is 1.5 mm. From this, it can be seen that the distance (H + SMD) from the center of the magnetosensitive surface of the Hall sensors S1 and S2 to the upper surface of the magnet is 2.6 mm under the comparison conditions.

これらの結果より、実施形態1の実施条件の構成を用いた位置検出装置のH+SMDのほうが、従来の構成(比較条件)を用いた位置検出装置のH+SMDよりも0.5mmだけ短くすることができ、実施形態1により位置検出装置の薄型化が可能となることが分かる。この位置検出装置を用いることにより、本発明によれば携帯電話等のモバイルカメラに搭載される光学系レンズユニットの大きさから考慮すると、著しく位置検出装置を薄型化できるという効果を得ることがわかる。また、上記の位置検出装置を撮像装置に用いることもできる。
<実施形態2>
実施形態2の構成は、図3に示されている実施形態1の構成と同様である。
From these results, the H + SMD of the position detection device using the configuration of the implementation conditions of the first embodiment can be made shorter by 0.5 mm than the H + SMD of the position detection device using the conventional configuration (comparison conditions). Thus, it can be seen that the position detection device can be thinned according to the first embodiment. By using this position detection device, it can be seen that according to the present invention, the position detection device can be remarkably thinned in consideration of the size of the optical system lens unit mounted on a mobile camera such as a mobile phone. . Further, the position detection device described above can also be used for an imaging device.
<Embodiment 2>
The configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG.

実施形態2の位置検出装置と従来(比較条件を用いた位置検出装置)の位置検出装置の双方において、共に同じように位置検出装置の構成条件を変化させたときの分解能比と磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離SMDの関係を磁気シミュレーションによって求め、その結果を図7〜10に示した。ここで、比較条件の構成は、図6に示されている構成と同様である。   In both the position detection device of the second embodiment and the conventional position detection device (position detection device using comparison conditions), the resolution ratio, the magnet lower surface, and the hole when the configuration conditions of the position detection device are changed in the same way. The relationship of the distance SMD with the center of the magnetic sensitive surface of sensor S1, S2 was calculated | required by the magnetic simulation, and the result was shown to FIGS. Here, the configuration of the comparison condition is the same as the configuration shown in FIG.

ここで言う装置の構成条件とは、磁石の幅W、高さH、長さLと、二つのホールセンサS1、S2を結ぶ線の距離SLのことである。また、ここで言う分解能比とは、実際の磁石の移動距離と位置検出装置が検出した磁石の移動距離の差を誤差とし、その誤差の最大値を磁石の可動範囲で除した値とする。単位は[μm/mm]である。図7〜10では、縦軸を分解能比、横軸を磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)とした。   The structural conditions of the device referred to here are the width W, height H, length L of the magnet and the distance SL of the line connecting the two Hall sensors S1, S2. The resolution ratio referred to here is a value obtained by dividing the difference between the actual moving distance of the magnet and the moving distance of the magnet detected by the position detection device as an error, and dividing the maximum value of the error by the movable range of the magnet. The unit is [μm / mm]. 7 to 10, the vertical axis represents the resolution ratio, and the horizontal axis represents the distance (SMD) between the lower surface of the magnet and the center of the magnetic sensitive surface of the Hall sensors S1 and S2.

上記の位置検出装置の構成条件の違いは図7〜10の凡例で示す。具体的には、図7〜10において、実施条件123−1.5とは実施条件WHL−SLの事であって、磁石の幅W=1mm、高さH=2mm、長さL=3mm、ホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mmの本発明(実施形態1)の構成を用いた位置検出装置の事である。また、図7〜10において、比較条件123−1.5とは比較条件WHL−SLの事であって、磁石の幅W=1mm、高さH=2mm、長さL=3mm、ホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mmの従来(比較条件)の構成を用いた位置検出装置の事である。   Differences in the configuration conditions of the position detection device described above are shown in the legends of FIGS. Specifically, in FIGS. 7 to 10, the implementation condition 123-1.5 is the implementation condition WHL-SL, in which the magnet width W = 1 mm, height H = 2 mm, length L = 3 mm, This is a position detection device using the configuration of the present invention (Embodiment 1) in which the distance SL between the hall sensors S1 and S2 is 1.5 mm. 7 to 10, the comparison condition 123-1.5 is the comparison condition WHL-SL, in which the magnet width W = 1 mm, height H = 2 mm, length L = 3 mm, Hall sensor S1. , S2 is a position detection device using a conventional (comparison condition) configuration with a distance SL = 1.5 mm.

全ての実施条件及び比較条件において、磁石の寸法は磁石の幅Wを1mm、2mm、高さHを1mm、2mm、長さLを2、3mmとし、ホールセンサS1、S2の間の距離SLは0.8mm、1.5mmとして、これらの条件を網羅的に与え磁気シミュレーションを行った。磁石のストロークは、全ての実施条件及び比較条件において、2mmとした。   In all implementation conditions and comparison conditions, the magnet dimensions are such that the magnet width W is 1 mm, 2 mm, the height H is 1 mm, 2 mm, the length L is 2, 3 mm, and the distance SL between the Hall sensors S1, S2 is These conditions were comprehensively set to 0.8 mm and 1.5 mm, and a magnetic simulation was performed. The stroke of the magnet was 2 mm in all implementation conditions and comparison conditions.

これらの違いを図7〜10に磁石の長さL、ホールセンサS1、S2間の距離SLで分けて表した。   These differences are shown separately in FIGS. 7 to 10 by the magnet length L and the distance SL between the hall sensors S1 and S2.

図7はホールセンサS1、S2間の距離SL=0.8mm、磁石の長さL=2mmで、磁石の幅W、高さHはそれぞれ(W[mm]、H[mm])=(1mm、1mm)、(1mm、2mm)、(2mm、1mm)、(2mm、2mm)という条件下での磁気シミュレーション結果を示している。   In FIG. 7, the distance SL between the hall sensors S1 and S2 is 0.8 mm, the magnet length L is 2 mm, and the magnet width W and height H are (W [mm] and H [mm]) = (1 mm), respectively. (1 mm), (1 mm, 2 mm), (2 mm, 1 mm), and (2 mm, 2 mm).

図8はホールセンサS1、S2間の距離SL=0.8mm、磁石の長さL=3mmで、磁石の幅W、高さHは図7に示したものと同様であるという条件下での磁気シミュレーション結果を示している。   FIG. 8 shows that the distance SL between the hall sensors S1 and S2 is 0.8 mm, the magnet length L is 3 mm, and the magnet width W and height H are the same as those shown in FIG. The magnetic simulation result is shown.

図9はホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mm、磁石の長さL=2mmで、磁石の幅W、高さHは図7に示したものと同様であるという条件下の磁気シミュレーション結果を示している。   9 shows a magnetic field under the condition that the distance SL between the hall sensors S1 and S2 is 1.5 mm, the magnet length L is 2 mm, and the magnet width W and height H are the same as those shown in FIG. Simulation results are shown.

図10はホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mm、磁石の長さL=3mmで、磁石の幅W、高さHは図7に示したものと同様であるという条件下の磁気シミュレーション結果を示している。   FIG. 10 shows a magnetic field under the condition that the distance SL between the hall sensors S1 and S2 is 1.5 mm, the magnet length L is 3 mm, and the magnet width W and height H are the same as those shown in FIG. Simulation results are shown.

図7〜10に示した磁気シミュレーション結果より、実施形態2の構成を用いた位置検出装置では、磁石の大きさが同じでも従来の構成を用いた比較条件下の位置検出装置に比べ、磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)が近い領域において、従来の構成を用いた比較条件下の位置検出装置と同等以上の分解能を得られるという効果が得られることが分かる。   From the magnetic simulation results shown in FIGS. 7 to 10, the position detection device using the configuration of the second embodiment has a lower magnet surface than the position detection device using the conventional configuration even though the size of the magnet is the same. In the region where the distance (SMD) between the sensor and the center of the magnetosensitive surface of the Hall sensors S1 and S2 is short, an effect that a resolution equal to or higher than that of the position detecting device under the comparison condition using the conventional configuration can be obtained. I understand.

この位置検出装置を用いることにより、本発明によれば携帯電話等のモバイルカメラに搭載される光学系レンズユニットの大きさから考慮すると、著しく位置検出装置を薄型化できるという効果を得ることがわかる。また、上記の位置検出装置を撮像装置に用いることもできる。   By using this position detection device, it can be seen that according to the present invention, the position detection device can be remarkably thinned in consideration of the size of the optical system lens unit mounted on a mobile camera such as a mobile phone. . Further, the position detection device described above can also be used for an imaging device.

位置検出装置の例を示した図である。It is the figure which showed the example of the position detection apparatus. 本発明の磁石と磁気センサの配置図である。It is a layout view of the magnet and the magnetic sensor of the present invention. 本発明の位置検出装置に用いられる構成の斜視図である。It is a perspective view of the structure used for the position detection apparatus of this invention. 本発明の位置検出装置に用いられる構成のY方向からの側面図である。It is a side view from the Y direction of the structure used for the position detection apparatus of this invention. ホールセンサを用いて位置検出する際の信号処理方法の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the signal processing method at the time of detecting a position using a Hall sensor. 従来の位置検出装置に用いられる比較条件の構成の斜視図である。It is a perspective view of the structure of the comparison conditions used for the conventional position detection apparatus. ホールセンサS1、S2間の距離SL=0.8mm、磁石の長さL=2mmでの実施条件、比較条件下での分解能比と磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)の関係を示した図である。The working conditions with the distance SL between the hall sensors S1 and S2 of 0.8 mm and the magnet length L = 2 mm, the resolution ratio under the comparison conditions, the lower surface of the magnet, and the center of the magnetosensitive surface of the hall sensors S1 and S2. It is the figure which showed the relationship of distance (SMD). ホールセンサS1、S2間の距離SL=0.8mm、磁石の長さL=3mmでの実施条件、比較条件下での分解能比と磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)の関係を示した図である。The working conditions with the distance SL between the hall sensors S1 and S2 of 0.8 mm and the magnet length L of 3 mm, the resolution ratio under the comparison conditions, the bottom surface of the magnet, and the center of the magnetosensitive surface of the hall sensors S1 and S2. It is the figure which showed the relationship of distance (SMD). ホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mm、磁石の長さL=2mmでの実施条件、比較条件下での分解能比と磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)の関係を示した図である。The distance between the hall sensors S1 and S2 is SL = 1.5 mm, the length of the magnet is L = 2 mm, the resolution ratio under the comparison conditions, the lower surface of the magnet and the center of the magnetosensitive surface of the hall sensors S1 and S2. It is the figure which showed the relationship of distance (SMD). ホールセンサS1、S2間の距離SL=1.5mm、磁石の長さL=3mmでの実施条件、比較条件下での分解能比と磁石下面とホールセンサS1、S2の感磁面の中心との距離(SMD)の関係を示した図である。Implementation conditions under the distance SL = 1.5 mm between the hall sensors S1, S2 and the magnet length L = 3 mm, the resolution ratio under the comparison conditions, the bottom surface of the magnet, and the center of the magnetosensitive surface of the hall sensors S1, S2. It is the figure which showed the relationship of distance (SMD). 磁石の移動距離に対する第1のホールセンサS1の位置での磁束密度変化を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the magnetic flux density change in the position of 1st Hall sensor S1 with respect to the moving distance of a magnet. 磁石の移動距離に対する第2のホールセンサS2の位置での磁束密度変化を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the magnetic flux density change in the position of 2nd Hall sensor S2 with respect to the moving distance of a magnet. 磁石の移動距離に対する、第2のホールセンサS2の位置での磁束密度から第1のホールセンサS1の位置での磁束密度をひいた差磁束密度の変化を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the change of the difference magnetic flux density which pulled the magnetic flux density in the position of 1st Hall sensor S1 from the magnetic flux density in the position of 2nd Hall sensor S2 with respect to the moving distance of a magnet. (a)は図2の位置検出装置を用いてパラメータの最適値にした場合において、直方体磁石の移動距離に対する、ホールセンサ間の出力電圧の差分値を出力電圧の和で割った値を磁気シミュレーションから求めた結果を示す説明図であり、(b)は拡大図である。(A) is a magnetic simulation of a value obtained by dividing the difference value of the output voltage between the Hall sensors with respect to the moving distance of the rectangular magnet by the sum of the output voltages when the position detection device of FIG. It is explanatory drawing which shows the result calculated | required from (b), and is an enlarged view. 図13に示した、理想直線と磁気シミュレーション結果とのずれとから換算した、直方体磁石の移動距離に対する、位置検出誤差を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the position detection error with respect to the moving distance of a rectangular parallelepiped magnet converted from the shift | offset | difference of an ideal straight line shown in FIG. 13, and a magnetic simulation result. モールドパッケージの例を示した図である。It is the figure which showed the example of the mold package.

符号の説明Explanation of symbols

W 磁石の幅
L 磁石の長さ
H 磁石の高さ
S1 ホールセンサ
S2 ホールセンサ
SL 距離
SMD 距離
ST 磁石の中心の移動範囲
11 磁束密度変化
12 磁束密度変化
13 磁束密度の変化の差
21 理想直線
22 領域
W Magnet width L Magnet length H Magnet height S1 Hall sensor S2 Hall sensor SL Distance SMD Distance ST Movement range of magnet center 11 Magnetic flux density change 12 Magnetic flux density change 13 Difference of magnetic flux density change 21 Ideal straight line 22 region

Claims (5)

位置を検出する物体に取り付けられた磁石と、前記磁石の相対的移動による磁束の変化を検出する2つの磁束検出手段とからなる位置検出装置であって、前記磁石の磁壁面に2つの前記磁束検出手段を結ぶ直線が含まれ、前記磁石の前記磁束検出手段に対する相対的移動方向が前記磁壁面に平行であることを特徴とする位置検出装置。   A position detection device comprising a magnet attached to an object for detecting a position and two magnetic flux detection means for detecting a change in magnetic flux due to relative movement of the magnet, wherein two magnetic fluxes are provided on a magnetic wall surface of the magnet. A position detection apparatus comprising a straight line connecting detection means, wherein a relative movement direction of the magnet with respect to the magnetic flux detection means is parallel to the magnetic wall surface. 前記磁束検出手段が前記磁石の着磁方向に平行な磁束成分を検出する事が可能であることを特徴とする請求項1に記載の位置検出装置。   The position detecting device according to claim 1, wherein the magnetic flux detecting means is capable of detecting a magnetic flux component parallel to the magnetizing direction of the magnet. 前記磁束検出手段がホールセンサであることを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の位置検出装置。   The position detection device according to claim 1, wherein the magnetic flux detection means is a Hall sensor. 請求項1乃至3のいずれかに記載の位置検出装置を用いたことを特徴とする光学系。   An optical system using the position detection device according to claim 1. 請求項4に記載の光学系を用いたことを特徴とする撮像装置。   An image pickup apparatus using the optical system according to claim 4.
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