JP2008057991A - Device test system, setting state display device and setting state display method - Google Patents

Device test system, setting state display device and setting state display method Download PDF

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敦子 野上
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously. <P>SOLUTION: The setting state display device 200 of this invention connected with the device test equipment 100 for carrying out electrical test to a device 140 to be tested and displaying the setting state of the device test system comprises: a monitor 202; an attribute information acquisition part 350 for acquiring the attribute information of the test terminal from the device program dealt with the test parameter of the under test device to each test terminal 300 of the device test equipment; and an attribute display part 352 for displaying on the monitor correlating to the test terminal with the attribute information of the test terminal. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、被試験デバイスの設定状態を表示するデバイス試験システム、設定状態表示装置および設定状態表示方法に関する。   The present invention relates to a device test system, a setting state display device, and a setting state display method for displaying a setting state of a device under test.

近年、集積回路（ＩＣ：Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）の大容量化、高速化、小型化（高密度化）が進んでいる。かかる集積回路を有するデバイスでは、集積回路の高密度化に伴って、電気的機能試験も高速かつ複雑な工程が要求されている。   In recent years, an integrated circuit (IC: Integrated Circuit) has been increased in capacity, speed, and size (high density). In a device having such an integrated circuit, a high-speed and complicated process is required for electrical function testing as the density of the integrated circuit increases.

このような電気的機能試験を遂行するデバイス試験装置では、被試験デバイス（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ：以下「ＤＵＴ」という。）、例えば、各種メモリデバイスに対して、動作マージン試験（電源電圧マージン、アクセスタイム等）が行われている。このデバイス試験において、各デバイスのフェイル数、例えば不良ビット数が計数され、その計数結果でメモリデバイスの良否が判定される。その後、かかるメモリデバイスのフェイル数が所定数より多ければ、そのメモリデバイスは不良品と判断されて試験は終了し、所定値より少なければ救済のリペア処理が行われる。   In a device test apparatus that performs such an electrical function test, an operation margin test (power supply voltage margin, access time) is performed on a device under test (Device Under Test: hereinafter referred to as “DUT”), for example, various memory devices. Etc.). In this device test, the number of failures of each device, for example, the number of defective bits, is counted, and the quality of the memory device is determined based on the counting result. Thereafter, if the number of failures of the memory device is greater than a predetermined number, the memory device is determined to be defective, and the test is terminated. If the number is less than the predetermined value, repair repair processing is performed.

このような電気的機能試験は、メモリデバイスのリフレッシュ、フェイルビット抽出、フェイル数の計数といった手順が踏まれるが、このリフレッシュとフェイル数の計数を並列処理して試験時間を短縮可能な技術が開示されている（例えば、特許文献１）。   Such an electrical function test involves steps such as memory device refresh, fail bit extraction, and fail count counting. A technology that can reduce the test time by parallel processing of refresh and fail count counting is disclosed. (For example, Patent Document 1).

かかるデバイス試験装置は、複数のテスト端子（ＡＴＥ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｓｔ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）端子ともいう。）を備え、そのテスト端子をＤＵＴのデバイス端子に接続してＤＵＴを試験する。かかるテスト端子とデバイス端子との対応関係は、デバイス試験装置におけるデバイス定義ファイルに定義され、そのデバイス端子に割り当てる試験パラメータ（例えば、５Ｖ印加等）は、テストプログラムに記述される。このテストプログラムがコンパイルされると、テスト端子にＤＵＴの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムが生成される。   Such a device test apparatus includes a plurality of test terminals (also referred to as ATE (Automatic Test Equipment) terminals), and tests the DUT by connecting the test terminals to the device terminals of the DUT. The correspondence between the test terminal and the device terminal is defined in a device definition file in the device test apparatus, and a test parameter (for example, 5 V application) assigned to the device terminal is described in the test program. When this test program is compiled, a device program in which DUT test parameters are associated with test terminals is generated.

また、デバイス試験装置の設定状態を表示する設定状態表示装置においては、デバイス試験装置のテスト端子番号とそのテスト端子名とを並置して表示し、ユーザが目視でテスト端子番号を確認することができる。ユーザは、かかるテスト端子の一覧から自動または手動で１または２以上のテスト端子を選択し、他のツールで利用する。
特開２００４−３４８８９２号公報 In the setting state display device that displays the setting state of the device test apparatus, the test terminal number of the device test apparatus and the test terminal name are displayed side by side, and the user can visually confirm the test terminal number. it can. The user automatically or manually selects one or more test terminals from the list of test terminals and uses them with other tools.
JP 2004-348892 A

しかし、かかるテスト端子番号とそのテスト端子名のみの表示では、そのテスト端子の詳細な属性を把握することはできず、本来選択すべきではないテスト端子を選択してしまい、後の工程で不具合が生じる可能性がある。また、ユーザは、正確なテスト端子の属性を特定するため、デバイス試験装置に接続された別体の装置でＴｅｓｔｅｒ Ｅｄｉｔｏｒ等を利用して、デバイス定義ファイルおよびテストプログラム、またはデバイスプログラムを参照しなければならないといった煩雑な処理を要していた。   However, if only the test terminal number and the test terminal name are displayed, the detailed attributes of the test terminal cannot be grasped, and a test terminal that should not be selected is selected. May occur. In addition, the user must refer to the device definition file and the test program or the device program using a tester editor or the like on a separate device connected to the device test apparatus in order to specify the exact attribute of the test terminal. The complicated process of having to do was required.

本発明は、従来の設定状態表示装置が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能な、新規かつ改良されたデバイス試験システム、設定状態表示装置および設定状態表示方法を提供することである。   The present invention has been made in view of the above problems of the conventional setting state display device, and the object of the present invention is to allow the user to display the attribute information of the test terminal at the same time as the test terminal number and the test terminal name. To provide a new and improved device test system, a setting state display device, and a setting state display method capable of grasping visually and sensibly and improving work efficiency.

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置と、該デバイス試験装置の設定状態を表示する設定状態表示装置とからなるデバイス試験システムであって、デバイス試験装置は、被試験デバイスのデバイス端子に電気的に接続される複数のテスト端子と、テスト端子それぞれに被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムを生成する対応生成部と、デバイスプログラムに基づいて被試験デバイスの試験を遂行する試験遂行部と、を備え、設定状態表示装置は、モニタと、デバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得する属性取得部と、テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけてモニタに表示する属性表示部と、を備えることを特徴とする、デバイス試験システムが提供される。   In order to solve the above problems, according to one aspect of the present invention, a device test comprising a device test apparatus that performs an electrical test of a device under test and a setting state display device that displays a setting state of the device test apparatus. The device test apparatus generates a device program in which a plurality of test terminals electrically connected to the device terminals of the device under test and a device program in which the test parameters of the device under test are associated with each test terminal And a test execution unit that performs a test of the device under test based on the device program, the setting state display device includes a monitor, an attribute acquisition unit that acquires attribute information of the test terminal from the device program, and a test An attribute display unit for displaying terminal attribute information on the monitor in association with the test terminal. Device testing system is provided.

テスト端子そのものの情報（テスト端子番号とそのテスト端子名）に加えてテスト端子の属性情報をモニタに一度に表示する上記の構成により、ユーザは、デバイスプログラム等を別体の装置で参照することなく、その充実したテスト端子の情報を視覚的、感覚的に把握することができ、また、テスト端子を容易かつ確実に選択することが可能となり、総合的な作業効率の向上を図ることができる。   With the above configuration in which the test terminal attribute information is displayed on the monitor at once in addition to the information on the test terminal itself (the test terminal number and the test terminal name), the user can refer to the device program etc. with a separate device. The test terminal information can be grasped visually and sensuously, and the test terminals can be selected easily and reliably, improving the overall work efficiency. .

上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置に接続され、該デバイス試験装置の設定状態を表示する設定状態表示装置であって、モニタと、デバイス試験装置で生成され、デバイス試験装置のテスト端子それぞれに被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得する属性取得部と、テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけてモニタに表示する属性表示部と、を備えることを特徴とする、設定状態表示装置が提供される。   In order to solve the above problems, according to another aspect of the present invention, there is provided a setting state display device connected to a device testing apparatus for performing an electrical test of a device under test and displaying a setting state of the device testing apparatus. An attribute acquisition unit for acquiring test terminal attribute information from a device program generated by the monitor and the device test apparatus and corresponding to each test terminal of the device test apparatus and the test parameter of the device under test; and an attribute of the test terminal An attribute display unit that displays information on the monitor in association with the test terminal is provided.

属性表示部は、テスト端子番号とそのテスト端子名のほか、属性情報として、コモン設定情報、試験パラメータ相異情報、使用可否情報、端子数情報の群から選択される１また２以上の情報を表示するとしてもよい。   In addition to the test terminal number and the test terminal name, the attribute display unit includes one or more pieces of information selected from the group of common setting information, test parameter difference information, availability information, and terminal number information as attribute information. It may be displayed.

かかる構成により、ユーザは、より具体的なテスト端子の情報を得ることができ、煩わしい他の装置による参照作業を伴うことなく、設定状態表示装置のみでテスト端子の選択作業を行うことが可能となる。   With this configuration, the user can obtain more specific test terminal information, and can perform test terminal selection work only with the setting state display device without accompanying troublesome reference work by other devices. Become.

属性表示部は、属性情報を文字色または背景色として表現するとしてもよい。   The attribute display unit may represent the attribute information as a character color or a background color.

かかる構成により、ユーザは、テスト端子の属性を感覚的に把握することができ、また、テスト端子全体に占める特定の属性のテスト端子数や割合、もしくはその偏り等も感覚的に把握することが可能となる。   With such a configuration, the user can sensuously grasp the attributes of the test terminals, and can also sensuously grasp the number and ratio of specific test terminals occupying the entire test terminals, or their bias. It becomes possible.

上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置の設定状態をモニタに表示する設定状態表示方法であって、デバイス試験装置で生成され、デバイス試験装置のテスト端子それぞれに被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得し、テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけてモニタに表示することを特徴とする、設定状態表示方法が提供される。   In order to solve the above problems, according to another aspect of the present invention, there is provided a setting state display method for displaying on a monitor a setting state of a device test apparatus that performs an electrical test of a device under test. Acquire test terminal attribute information from a device program that is generated and associates test parameters of the device under test with each test terminal of the device test apparatus, and displays the test terminal attribute information in association with the test terminal on the monitor A setting state display method is provided.

上述した設定状態表示装置同様、テスト端子そのものに加えてテスト端子の属性情報をモニタに一度に表示する上記の構成により、ユーザは、デバイスプログラム等を別体の装置で参照することなく、その充実したテスト端子の情報を視覚的、感覚的に把握することができ、また、テスト端子を容易かつ確実に選択することが可能となり、総合的な作業効率の向上を図ることができる。   Like the setting status display device described above, the above configuration that displays the attribute information of the test terminal on the monitor in addition to the test terminal itself allows the user to enhance the device program without referring to a separate device. It is possible to grasp the information of the test terminals visually and sensuously, and it is possible to easily and surely select the test terminals, so that the overall work efficiency can be improved.

上述した設定状態表示装置における従属項に対応する構成要素やその説明は、当該設定状態表示方法にも適用可能である。   The components corresponding to the dependent claims in the setting state display device described above and the description thereof are also applicable to the setting state display method.

以上説明したように本発明の設定状態表示装置は、テスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的にユーザに伝えることができ、総合的な作業効率の向上を図ることが可能となる。   As described above, the setting state display device of the present invention can visually and sensibly convey the test terminal attribute information to the user, and can improve the overall work efficiency.

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。   Exemplary embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in this specification and drawing, about the component which has the substantially same function structure, duplication description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

（デバイス試験システム）
図１は、本実施形態におけるデバイス試験システム全体の概略的な構成を示した機能ブロック図である。本実施形態におけるデバイス試験システムは、自己のテスト端子を通じてテスト信号を送信しＤＵＴを試験するデバイス試験装置１００と、このデバイス試験装置の設定状態、特にテスト端子に関する情報を表示する設定状態表示装置２００とを含んで構成される。 (Device test system)
FIG. 1 is a functional block diagram showing a schematic configuration of the entire device test system in the present embodiment. The device test system according to the present embodiment includes a device test apparatus 100 that transmits a test signal through its own test terminal to test the DUT, and a setting state display apparatus 200 that displays information regarding the setting state of the device testing apparatus, particularly the test terminal. It is comprised including.

デバイス試験装置１００は、本体１１０と、テストヘッド１２０とを含んで構成される。当該テストヘッド１２０には、パフォーマンスボード１３０が載設され、パフォーマンスボード１３０上に被試験デバイスとしてのＤＵＴ１４０が配される。   The device test apparatus 100 includes a main body 110 and a test head 120. A performance board 130 is mounted on the test head 120, and a DUT 140 as a device under test is disposed on the performance board 130.

上記本体１１０には、ユーザインターフェース１１２を介して設定された試験工程を遂行する試験遂行部が設けられている。   The main body 110 is provided with a test execution unit that performs a test process set through the user interface 112.

上記テストヘッド１２０には、試験機能を遂行するピンモジュールを１６個や３２個といった単位で備える中継カード（ＰＥ（Ｐｉｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）カードともいう。）１２２が設けられ、その端部にはピンモジュール毎にテスト端子が設けられる。   The test head 120 is provided with a relay card (also referred to as a PE (Pin Electronics) card) 122 having 16 or 32 pin modules for performing a test function, and each end of the pin module has a pin card. Are provided with test terminals.

上記パフォーマンスボード１３０は、テストヘッド１２０に嵌合可能、かつ、ＤＵＴ１４０を載設可能な構成となっており、複数のテスト端子とＤＵＴ１４０のデバイス端子とを電気的に接続する。   The performance board 130 can be fitted to the test head 120 and can be mounted with the DUT 140, and electrically connects a plurality of test terminals and device terminals of the DUT 140.

また、設定状態表示装置２００は、モニタ２０２を有する演算処理可能な装置であって、デバイス試験装置１００のテスト端子に関する情報がモニタ２０２に一覧表示され、ユーザは、目視でそのテスト端子のテスト端子番号を確認しつつ、そのテスト端子の一覧から自動または手動で１または２以上のテスト端子を選択する。ユーザは、他のツールを開いてこの選択されたテスト端子の出力信号推移や入力信号推移を観測したりすることができる。   In addition, the setting state display device 200 is a device that has a monitor 202 and can perform arithmetic processing. Information regarding the test terminals of the device test apparatus 100 is displayed in a list on the monitor 202, and the user can visually check the test terminals of the test terminals. While confirming the number, one or more test terminals are selected automatically or manually from the list of the test terminals. The user can open another tool and observe the output signal transition and input signal transition of the selected test terminal.

図２は、本実施形態によるデバイス試験システムの概略的な機能を示すための機能ブロック図である。ここでは、デバイス試験装置１００で設定されたテスト端子の属性情報が設定状態表示装置２００に一覧表示される。   FIG. 2 is a functional block diagram for illustrating schematic functions of the device test system according to the present embodiment. Here, the attribute information of the test terminals set in the device test apparatus 100 is displayed in a list on the setting state display apparatus 200.

デバイス試験装置１００のテスト端子３００は、パフォーマンスボード１３０を介してＤＵＴ１４０のデバイス端子に電気的に接続される。   The test terminal 300 of the device test apparatus 100 is electrically connected to the device terminal of the DUT 140 via the performance board 130.

また、対応生成部３０２は、ＤＵＴ１４０のデバイス端子とテスト端子３００との対応を定義したデバイス定義ファイルと、デバイス端子の試験パラメータを定義したテストプログラムとを参照し、デバイス端子の試験パラメータをテスト端子３００に対応付けたデバイスプログラムを生成する。   Further, the correspondence generation unit 302 refers to the device definition file that defines the correspondence between the device terminal of the DUT 140 and the test terminal 300 and the test program that defines the test parameter of the device terminal, and sets the test parameter of the device terminal to the test terminal. A device program associated with 300 is generated.

上記デバイスプログラムによって、テスト端子３００に対する様々な情報が付加される。テスト端子３００の情報としては、例えば、テスト端子３００を特定するテスト端子番号とそのテスト端子名のほか、属性情報としての、コモン設定情報、試験パラメータ相異情報、使用可否情報、端子数情報等が挙げられる。また、属性情報は、上記に限定されず、テスト端子３００に対応付けられる様々な情報を属性情報とすることができる。   Various information for the test terminal 300 is added by the device program. As information of the test terminal 300, for example, a test terminal number for identifying the test terminal 300 and its test terminal name, as well as common setting information, test parameter difference information, availability information, terminal number information, etc. as attribute information Is mentioned. The attribute information is not limited to the above, and various information associated with the test terminal 300 can be used as the attribute information.

テスト端子番号は、テスト端子３００の物理的または論理的な番号を示し、１本のテスト端子３００に１本のテスト端子番号が割り当てられる。テスト端子名は、電圧、電流、タイミング値といった試験パラメータを表し、通常、同じ設定でグループ化されたテスト端子には同じテスト端子名が付与される。コモン設定情報は、コモン設定されているか（コモン）、通常の設定か（ノーマル）が表され、コモン設定されている場合には、さらにそのコモン設定に関するＤＵＴ１４０の数が幾つであるかを知ることができる。試験パラメータ相異情報は、グループ化されたテスト端子のうち特定のテスト端子に違う試験パラメータを設定した場合、試験パラメータが相違するテスト端子を含むことを表す。使用可否情報は、ユーザがそのテスト端子を選択することが可能かどうかを表す。端子数情報は、グループ化されたテスト端子内のテスト端子数を示し、複数のテスト端子を有するものには「複数端子」、一つのテスト端子のみ有するものには「単端子」が付与される。   The test terminal number indicates a physical or logical number of the test terminal 300, and one test terminal number is assigned to one test terminal 300. The test terminal name represents a test parameter such as voltage, current, and timing value. Usually, the same test terminal name is given to test terminals grouped with the same setting. The common setting information indicates whether the common setting is set (common) or the normal setting (normal). When the common setting is set, the number of DUTs 140 related to the common setting is further known. Can do. The test parameter difference information indicates that when different test parameters are set for a specific test terminal among the grouped test terminals, the test parameter includes different test terminals. The availability information indicates whether or not the user can select the test terminal. The number-of-terminals information indicates the number of test terminals in the grouped test terminals, and “multiple terminals” are given to those having a plurality of test terminals, and “single terminals” are given to those having only one test terminal. .

かかる構成により、ユーザは、より具体的なテスト端子の情報を得ることができ、煩わしい他の装置による参照作業を伴うことなく、設定状態表示装置のみでテスト端子の選択作業を行うことが可能となる。   With this configuration, the user can obtain more specific test terminal information, and can perform test terminal selection work only with the setting state display device without accompanying troublesome reference work by other devices. Become.

試験遂行部３０４は、このように対応付けられたテスト端子３００に、設定された試験パラメータ、例えば、定電圧を印加し、ＤＵＴ１４０の試験を遂行する。   The test execution unit 304 applies a set test parameter, for example, a constant voltage, to the test terminal 300 thus associated, and performs the test of the DUT 140.

設定状態表示装置２００の属性取得部３５０は、例えば、表示ツール制御プログラム（ＴＤＡ：Ｔｅｓｔｅｒ Ｄａｔａ Ａｃｃｅｓｓ）で構成され、対応生成部３０２で生成されたデバイスプログラムからテスト端子番号とそのテスト端子名のほかテスト端子３００の属性情報を取得する。かかる属性情報は、コモン設定情報、試験パラメータ相異情報、使用可否情報、端子数情報等が含まれる。   The attribute acquisition unit 350 of the setting state display device 200 is configured by, for example, a display tool control program (TDA: Tester Data Access), and in addition to the test terminal number and the test terminal name from the device program generated by the correspondence generation unit 302 The attribute information of the test terminal 300 is acquired. Such attribute information includes common setting information, test parameter difference information, usability information, terminal number information, and the like.

属性表示部３５２は、テスト端子３００の属性情報をテスト端子３００の識別情報に関連づけてモニタ２０２に表示する。属性表示部３５２は、テスト端子番号とそのテスト端子名のほか、上述した属性情報としての、コモン設定情報、試験パラメータ相異情報、使用可否情報、端子数情報の群から選択される１また２以上の情報を表示するとしてもよい。また、モニタ２０２の代わりにプリンタ等の画像出力装置に上記の情報を表示するとしてもよい。   The attribute display unit 352 displays the attribute information of the test terminal 300 on the monitor 202 in association with the identification information of the test terminal 300. The attribute display unit 352 is one or two selected from the group of the common setting information, the test parameter difference information, the availability information, and the terminal number information as the above-described attribute information in addition to the test terminal number and the test terminal name. The above information may be displayed. Further, the above information may be displayed on an image output apparatus such as a printer instead of the monitor 202.

かかる構成により、ユーザは、より具体的なテスト端子の情報を得ることができ、煩わしい他の装置による参照作業を伴うことなく、設定状態表示装置２００のみでテスト端子３００の選択作業を行うことが可能となる。   With this configuration, the user can obtain more specific test terminal information, and can select the test terminal 300 using only the setting state display device 200 without annoying reference operations by other devices. It becomes possible.

図３は、設定状態表示装置２００におけるテスト端子の表示例を示したＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）である。かかるＧＵＩでは、画面左にデバイス試験装置１００で定義されるテスト端子の一覧が表示され、その中から、他のツールで利用するテスト端子をユーザが使用目的に応じて自動もしくは手動で選択し、選択されたテスト端子は、画面右に移動する。また、ユーザは、かかるテスト端子の一覧表示以外にも新たにテスト端子を設定することも可能である。   FIG. 3 is a GUI (Graphical User Interface) showing a display example of a test terminal in the setting state display device 200. In such a GUI, a list of test terminals defined by the device test apparatus 100 is displayed on the left side of the screen, and a user selects a test terminal to be used by another tool automatically or manually according to the purpose of use. The selected test terminal moves to the right side of the screen. Further, the user can set a new test terminal other than the list display of the test terminals.

ユーザは、画面左に示されたテスト端子一覧におけるテスト端子３００毎のテスト端子番号４００とそのテスト端子名４０２を参照し、さらにそのテスト端子に関する属性情報、ここでは、コモン設定情報４０４を参照してテスト端子３００の抽出を試みる。ここで「ＣＯＭＭＯＮ１」、「ＣＯＭＭＯＮ２」には、デバイス試験装置１００において複数のＤＵＴ１４０が試験される場合のＤＵＴ１４０の数が関連付けられている。例えば、２つのＤＵＴ１４０におけるコモン設定を「ＣＯＭＭＯＮ１」とし、４つのＤＵＴ１４０におけるコモン設定を「ＣＯＭＭＯＮ２」とすることができる。その他、例えば、８つのＤＵＴや１６個のＤＵＴを設定対象とすることもできる。   The user refers to the test terminal number 400 and the test terminal name 402 for each test terminal 300 in the test terminal list shown on the left side of the screen, and further refers to attribute information about the test terminal, here, common setting information 404. The test terminal 300 is tried to be extracted. Here, “COMMON 1” and “COMMON 2” are associated with the number of DUTs 140 when the device test apparatus 100 tests a plurality of DUTs 140. For example, the common setting in the two DUTs 140 can be “COMMON1”, and the common setting in the four DUTs 140 can be “COMMON2”. In addition, for example, eight DUTs or 16 DUTs can be set as setting targets.

また、属性表示部３５２は、属性情報を文字色または背景色として表現するとしてもよい。かかる構成により、ユーザは、テスト端子の属性を感覚的に把握することができ、また、テスト端子全体に占める特定の属性のテスト端子数や割合、もしくはその偏り等も感覚的に把握することが可能となる。   The attribute display unit 352 may represent the attribute information as a character color or a background color. With such a configuration, the user can sensuously grasp the attributes of the test terminals, and can also sensuously grasp the number and ratio of specific test terminals occupying the entire test terminals, or their bias. It becomes possible.

図４は、設定状態表示装置２００におけるテスト端子の他の表示例を示したＧＵＩである。かかるＧＵＩでも、図３同様、画面左にテスト端子一覧が、画面右にユーザに選択されたテスト端子一覧が表示される。   FIG. 4 is a GUI showing another display example of the test terminal in the setting state display device 200. Even in such a GUI, a test terminal list is displayed on the left side of the screen and a test terminal list selected by the user is displayed on the right side of the screen, as in FIG.

ここでは、属性情報が文字色として示される。例えば、通常のテスト端子の文字色が黒色で示されている場合に、グループ化されたテスト端子のうち１または２以上のテスト端子に違う試験パラメータが設定されている場合、そのテスト端子５００は、文字色が赤色で表され、また、ユーザが利用できないテスト端子５０２は、灰色で表され、所謂「単端子」であるテスト端子５０４は黄色といった具合に、ユーザは、文字列を解読するまでもなく、文字色といった感覚的な表現でテスト端子の属性情報を把握することができる。ここでは、テスト端子の属性情報を数色で表しているが当然かかる場合に限られず、利用用途に応じて様々な文字色を属性情報に割り当てることができる。また、文字色ではなく、背景色に割り当ててもよく、文字色と背景色を併用して利用することも可能である。   Here, the attribute information is shown as a character color. For example, when the character color of a normal test terminal is shown in black, if different test parameters are set for one or more test terminals among the grouped test terminals, the test terminal 500 is The test terminal 502 that is displayed in red and not usable by the user is displayed in gray, the so-called “single terminal” test terminal 504 is yellow, and so on until the user decodes the character string. In addition, the attribute information of the test terminal can be grasped by a sensory expression such as a character color. Here, the attribute information of the test terminal is represented by several colors. However, the present invention is not limited to this, and various character colors can be assigned to the attribute information according to usage. Moreover, it may be assigned to the background color instead of the character color, and the character color and the background color can be used together.

上述したデバイス試験システムにおける、テスト端子そのものに加えてテスト端子の属性情報をモニタに一度に表示する上記の構成により、ユーザは、デバイスプログラム等を別体の装置で参照することなく、その充実したテスト端子の情報を視覚的、感覚的に把握することができ、また、テスト端子を容易かつ確実に選択することが可能となり、総合的な作業効率の向上を図ることができる。   In the above-described device test system, in addition to the test terminal itself, the above-described configuration that displays the attribute information of the test terminal on the monitor at once, the user can enhance the device program without referring to a separate device. The information on the test terminals can be grasped visually and sensibly, and the test terminals can be selected easily and reliably, so that the overall work efficiency can be improved.

（設定状態表示方法）
続いて、デバイス試験装置１００の設定状態をモニタに表示する設定状態表示方法を説明する。 (Setting status display method)
Next, a setting state display method for displaying the setting state of the device test apparatus 100 on a monitor will be described.

図５は、設定状態表示方法の流れを示したフローチャートである。まず、設定状態表示装置２００は、自己の属性取得部３５０に、デバイス試験装置１００のテスト端子３００の属性情報取得を要求する（Ｓ６００）。   FIG. 5 is a flowchart showing the flow of the setting state display method. First, the setting state display device 200 requests its attribute acquisition unit 350 to acquire attribute information of the test terminal 300 of the device test apparatus 100 (S600).

要求を受けた属性取得部３５０は、デバイス試験装置１００にテスト端子３００の属性情報取得を要求し（Ｓ６０２）、この要求に応じてデバイス試験装置１００は、自己のデバイスプログラムからテスト端子３００の属性情報を抽出し、設定状態表示装置２００に送信する（Ｓ６０４）。ここで、デバイス試験装置１００は、デバイスプログラムをそのまま設定状態表示装置２００に送信し、属性取得部３５０において属性情報が抽出されるとしてもよい。   Upon receiving the request, the attribute acquisition unit 350 requests the device test apparatus 100 to acquire the attribute information of the test terminal 300 (S602). In response to this request, the device test apparatus 100 receives the attribute of the test terminal 300 from its own device program. Information is extracted and transmitted to the setting state display device 200 (S604). Here, the device test apparatus 100 may transmit the device program as it is to the setting state display apparatus 200 and the attribute acquisition unit 350 may extract the attribute information.

そして、対象となる全テスト端子３００に対して順次属性情報を関連付け、モニタ２０２に表示する。詳細に述べると、テスト端子３００のテスト端子番号とそのテスト端子名をそのテスト端子３００の識別情報として、先ず、モニタ２０２に表示し（Ｓ６２０）、その横にコモン設定情報を並置する（Ｓ６２２）。そして、テスト端子３００の使用可否情報を参照してテスト端子３００が使用可能なのかどうか判断する（Ｓ６２４）。ここで使用不可と判断された場合、このテスト端子３００に関する表示欄の文字色を灰色で表す（Ｓ６２６）。このとき使用不可と判断されたテスト端子を選択できないようにグレーアウトしてもよい。   Then, attribute information is sequentially associated with all target test terminals 300 and displayed on the monitor 202. More specifically, the test terminal number and the test terminal name of the test terminal 300 are first displayed on the monitor 202 as identification information of the test terminal 300 (S620), and the common setting information is juxtaposed next to the test terminal 300 (S622). . Then, it is determined whether the test terminal 300 is usable with reference to the availability information of the test terminal 300 (S624). If it is determined that the test terminal 300 cannot be used, the character color of the display column relating to the test terminal 300 is displayed in gray (S626). At this time, the test terminal determined to be unusable may be grayed out so that it cannot be selected.

使用可能であれば、端子数情報が参照され、そのテスト端子３００が所謂「単端子」なのかどうか判断され（Ｓ６３０）、「単端子」であれば、前述したコモン設定情報が再度参照され（Ｓ６３２）、コモン設定されていれば、コモンに対応した色（例えば、緑色）で（Ｓ６３４）、そうでなければ、ノーマルに対応した色（例えば、水色）で（Ｓ６３６）表示される。   If it is usable, the terminal number information is referred to, and it is determined whether or not the test terminal 300 is a so-called “single terminal” (S630). If it is “single terminal”, the common setting information described above is referred again ( If the common setting is set (S632), the color corresponding to the common (for example, green) is displayed (S634). Otherwise, the color corresponding to the normal (for example, light blue) is displayed (S636).

単端子判断（Ｓ６３０）で単端子ではないと判断された場合、試験パラメータ相異情報を参照し、そのテスト端子３００のグループ内のテスト端子が全て同一設定になっているかどうか判断され（Ｓ６４０）、同一設定になっていなければテスト端子３００を赤色で表し、試験パラメータが一部相違することを示す（Ｓ６４２）。同一と判断された場合、単端子と判断された場合と同様、コモン設定情報が参照される（Ｓ６３２）。   When it is determined that the terminal is not a single terminal in the single terminal determination (S630), it is determined whether or not all the test terminals in the group of the test terminal 300 have the same setting by referring to the test parameter difference information (S640). If the same setting is not used, the test terminal 300 is displayed in red to indicate that the test parameters are partially different (S642). When it is determined that they are the same, the common setting information is referred to (S632), as in the case where they are determined as single terminals.

かかる方法により、設定状態表示装置２００同様、テスト端子そのものに加えてテスト端子の属性情報をモニタに一度に表示することができ、ユーザは、デバイスプログラム等を別体の装置で参照することなく、その充実したテスト端子の情報を視覚的、感覚的に把握することができ、また、テスト端子を容易かつ確実に選択することが可能となり、総合的な作業効率の向上を図ることができる。   By this method, like the setting state display device 200, the attribute information of the test terminal can be displayed on the monitor at the same time in addition to the test terminal itself, and the user can refer to the device program or the like without using a separate device. The information on the rich test terminals can be grasped visually and sensuously, and the test terminals can be selected easily and reliably, thereby improving the overall work efficiency.

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described referring an accompanying drawing, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to the example which concerns. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

なお，本明細書の設定状態表示方法における各ブロックは，必ずしもブロック図として記載された順序に沿って時系列に処理する必要はなく，並列的あるいは個別に実行される処理も含むとしても良い。   Each block in the setting state display method of the present specification does not necessarily have to be processed in time series in the order described in the block diagram, and may include processing executed in parallel or individually.

本実施形態におけるデバイス試験システム全体の概略的な構成を示した機能ブロック図である。It is the functional block diagram which showed the schematic structure of the whole device test system in this embodiment. 本実施形態によるデバイス試験システムの概略的な機能を示すための機能ブロック図である。It is a functional block diagram for showing a rough function of a device test system by this embodiment. 設定状態表示装置におけるテスト端子の表示例を示したＧＵＩである。It is GUI which showed the example of a display of the test terminal in a setting status display apparatus. 設定状態表示装置におけるテスト端子の他の表示例を示したＧＵＩである。It is GUI which showed the other example of a display of the test terminal in a setting status display apparatus. 設定状態表示方法の流れを示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the flow of the setting state display method.

符号の説明Explanation of symbols

１００ デバイス試験装置
２００ 設定状態表示装置
２０２ モニタ
３００ テスト端子
３０２ 対応生成部
３０４ 試験遂行部
３５０ 属性取得部
３５２ 属性表示部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Device test apparatus 200 Setting state display apparatus 202 Monitor 300 Test terminal 302 Correspondence production | generation part 304 Test execution part 350 Attribute acquisition part 352 Attribute display part

Claims (5)

被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置と、該デバイス試験装置の設定状態を表示する設定状態表示装置とからなるデバイス試験システムであって、
前記デバイス試験装置は、
前記被試験デバイスのデバイス端子に電気的に接続される複数のテスト端子と、
前記テスト端子それぞれに前記被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムを生成する対応生成部と、
前記デバイスプログラムに基づいて前記被試験デバイスの試験を遂行する試験遂行部と、
を備え、
前記設定状態表示装置は、
モニタと、
前記デバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得する属性取得部と、
前記テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけて前記モニタに表示する属性表示部と、
を備えることを特徴とする、デバイス試験システム。 A device test system comprising a device test apparatus that performs an electrical test of a device under test and a setting state display device that displays a setting state of the device test apparatus,
The device test apparatus includes:
A plurality of test terminals electrically connected to device terminals of the device under test;
A correspondence generating unit that generates a device program in which the test parameters of the device under test are associated with each of the test terminals;
A test execution unit for performing a test of the device under test based on the device program;
With
The setting state display device
A monitor,
An attribute acquisition unit for acquiring attribute information of the test terminal from the device program;
An attribute display unit displaying attribute information of the test terminal on the monitor in association with the test terminal;
A device test system comprising: 被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置に接続され、該デバイス試験装置の設定状態を表示する設定状態表示装置であって、
モニタと、
前記デバイス試験装置で生成され、デバイス試験装置のテスト端子それぞれに前記被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得する属性取得部と、
前記テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけて前記モニタに表示する属性表示部と、
を備えることを特徴とする、設定状態表示装置。 A setting state display device connected to a device testing apparatus for performing an electrical test of a device under test and displaying a setting state of the device testing apparatus,
A monitor,
An attribute acquisition unit that generates test terminal attribute information from a device program that is generated by the device test apparatus and associates test parameters of the device under test with each test terminal of the device test apparatus;
An attribute display unit for displaying the attribute information of the test terminal on the monitor in association with the test terminal;
A setting state display device comprising: 前記属性表示部は、テスト端子番号とそのテスト端子名のほか、属性情報として、コモン設定情報、試験パラメータ相異情報、使用可否情報、端子数情報の群から選択される１また２以上の情報を表示することを特徴とする、請求項２に記載の設定状態表示装置。   The attribute display unit includes one or more pieces of information selected from the group of common setting information, test parameter difference information, usability information, and terminal number information as attribute information in addition to the test terminal number and the test terminal name. The setting state display device according to claim 2, wherein: 前記属性表示部は、前記属性情報を文字色または背景色として表現することを特徴とする、請求項２に記載の設定状態表示装置。   The setting state display device according to claim 2, wherein the attribute display unit represents the attribute information as a character color or a background color. 被試験デバイスの電気的試験を行うデバイス試験装置の設定状態をモニタに表示する設定状態表示方法であって、
前記デバイス試験装置で生成され、該デバイス試験装置のテスト端子それぞれに前記被試験デバイスの試験パラメータを対応付けたデバイスプログラムからテスト端子の属性情報を取得し、
前記テスト端子の属性情報を該テスト端子に関連づけて前記モニタに表示することを特徴とする、設定状態表示方法。
A setting state display method for displaying on a monitor a setting state of a device test apparatus for performing an electrical test of a device under test,
Obtaining test terminal attribute information from a device program generated by the device test apparatus and associating the test parameters of the device under test with each test terminal of the device test apparatus,
A setting state display method, wherein attribute information of the test terminal is displayed on the monitor in association with the test terminal.
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