JP2008044047A - Method for setting reference position of device carrying height, and handler device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、デバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置に関し、詳しくは、ICハンドラにおける吸着ノズルがデバイスを吸着するためのデバイス搬送高さ基準位置を設定する手段を備えたデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置に関する。 The present invention relates to a device transport height reference position setting method and a handler apparatus, and more particularly, to a device transport height reference provided with means for setting a device transport height reference position for a suction nozzle in an IC handler to suck a device. The present invention relates to a position setting method and a handler device.
従来技術におけるICハンドラ装置における吸着ノズル位置設定は、図6に示すように、ベース基板11に設けられたICデバイスが配置される凹状のポケット12と、このポケット12に載置されているICデバイス17と、ポケット12に載置されているICデバイス17の上面を吸着して所定位置に移動させるための図示しないデバイス搬送ユニットに取り付けられた吸着ノズル14と、から構成されている。
As shown in FIG. 6, the suction nozzle position in the IC handler device according to the prior art is set to the concave pocket 12 in which the IC device provided on the base substrate 11 is arranged, and the IC device placed in the pocket 12. 17 and a
ポケット12に載置されているICデバイス17を吸着ノズル14で真空吸着させるためには、吸着ノズル14をICデバイス17の上面に軽く接触する位置まで下降させる必要がある。この位置を高さ基準と呼ぶ。この高さ基準位置を決定するためには、図に示すように、吸着ノズル14のノズル先端面がICデバイス17の表面に接触する位置を吸着ノズル14に対して直交する方向から人の目で見ることにより、肉眼で高さ基準を決めていた。
しかし、従来技術で説明したICハンドラにおいては、吸着ノズルをICデバイスの上面に軽く接触する位置まで下降させて、高さ基準を決定するのに肉眼で決めていたため、決定する人によって微妙な差が出て、その誤差が大きいという問題があった。
このように、個人差が大きくなると、一定の調整範囲に入れるためには熟練が必要とされた。
更に、肉眼での調整を決定すると、自動的に基準高さを測定することが難しいという問題もある。
この誤差は、高さが高すぎると吸着ミスを生じ、逆に低過ぎるとデバイスを破壊する不都合が生じてしまう。
However, in the IC handler described in the prior art, since the suction nozzle is lowered to a position where the suction nozzle is lightly contacted with the upper surface of the IC device and the height reference is determined with the naked eye, there are subtle differences depending on the person to be determined. There was a problem that the error was large.
Thus, as individual differences increase, skill is required to enter a certain adjustment range.
Furthermore, there is a problem that it is difficult to automatically measure the reference height when the adjustment with the naked eye is determined.
If this error is too high, an adsorption error will occur. Conversely, if the error is too low, the device will be destroyed.
肉眼の換わりにカメラで接触状態を拡大観察することも行われているが、高価な高分解能カメラが必要な上、照明の影響で調整結果が異なる場合があるという欠点があった。 While the contact state is enlarged and observed with a camera instead of the naked eye, an expensive high-resolution camera is required, and the adjustment result may be different due to the influence of illumination.
従って、吸着ノズルがICデバイスの上面において高い精度で、安価で、熟練を要さないで吸着ノズルの高さ基準を決める手法及び自動的な高さ基準校正が可能な高さ基準設定手法に解決しなければならない課題を有する。 Therefore, the suction nozzle is highly accurate on the top surface of the IC device, is inexpensive, resolves to a method for determining the height reference of the suction nozzle without requiring skill, and a height reference setting method capable of automatic height reference calibration Has a problem that must be done.
上記課題を解決するために、本願発明のデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置は、次に示す構成にしたことである。 In order to solve the above-described problems, the device transport height reference position setting method and the handler apparatus according to the present invention are configured as follows.
(1)デバイス搬送高さ基準位置設定方法は、ベース基板に設けられた凹状のポケットに、導電性材料からなるダミーデバイスを載置し、前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルを前記ダミーデバイスに接触する位置まで下降させ、前記吸着ノズルのノズル先端面が前記ダミーデバイスの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすることである。 (1) A device transport height reference position setting method is for placing a dummy device made of a conductive material in a concave pocket provided in a base substrate, and for adsorbing the device placed in the pocket. The suction nozzle is lowered to a position where it comes into contact with the dummy device, and a state where the nozzle tip surface of the suction nozzle is in contact with the upper surface of the dummy device is electrically detected, and the height of the suction nozzle at that time is detected. The position is set as a height reference position for the suction nozzle to suck the device.
(2)デバイス搬送高さ基準位置設定方法は、ベース基板に設けられた凹状のポケットに、デバイスを載置し、前記デバイスの上に導電性のプレートを載置し、前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルを前記プレートに接触する位置まで下降させ、前記吸着ノズルのノズル先端面が前記プレートの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすることである。 (2) In the device transport height reference position setting method, the device is placed in a concave pocket provided on the base substrate, a conductive plate is placed on the device, and the device is placed in the pocket. The suction nozzle for sucking the device is lowered to a position in contact with the plate, and the state where the nozzle tip surface of the suction nozzle is in contact with the upper surface of the plate is electrically detected. The height position of the suction nozzle is set as a height reference position for the suction nozzle to suck the device.
(3)デバイス搬送高さ基準位置設定方法は、ベース基板に設けられた凹状のポケットに、導電性材料からなるダミーデバイスを載置し、前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で生成されている場合に、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンが前記ダミーデバイスに接触する位置まで下降させ、前記導電性ピンの先端が前記ダミーデバイスの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすることである。 (3) A device transport height reference position setting method is for placing a dummy device made of a conductive material in a concave pocket provided in a base substrate, and for sucking the device placed in the pocket. When the suction pad attached to the tip of the suction nozzle is made of a non-conductive member, the conductive pin arranged in the same direction as the suction nozzle and at least protruding from the suction pad is provided. Lowering to a position in contact with the dummy device, electrically detecting a short-circuited state by the tip of the conductive pin contacting the upper surface of the dummy device, the height position of the suction nozzle at that time, The suction nozzle is set to a height reference position for sucking the device.
(4)デバイス搬送高さ基準位置設定方法は、ベース基板に設けられた凹状のポケットに、デバイスを載置し、前記デバイスの上に導電性のプレートを載置し、前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で生成されている場合に、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンが前記プレートに接触する位置まで下降させ、前記導電性ピンの先端が前記プレートの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすることである。 (4) In the device transport height reference position setting method, a device is placed in a concave pocket provided on a base substrate, a conductive plate is placed on the device, and the device is placed in the pocket. When the suction pad attached to the tip of the suction nozzle for sucking the device is made of a non-conductive member, it is arranged in the same direction as the suction nozzle and at least protrudes from the suction pad. The disposed conductive pin is lowered to a position in contact with the plate, and the state where the tip of the conductive pin is in contact with the upper surface of the plate is electrically detected, and the suction nozzle at that time Is the height reference position for the suction nozzle to suck the device.
(5)ハンドラ装置は、ベース基板に設けられ、デバイスが配置される凹状のポケットと、前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、を備えてなるハンドラ装置であって、前記吸着ノズルを導電性材料で形成して、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、前記ポケットに載置するデバイスを導電性材料からなるダミーデバイスで形成し、該ダミーデバイスに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、前記吸着ノズルが前記ダミーデバイス方向に下降して前記吸着ノズルのノズル先端面が該ダミーデバイスの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、を備えたことである。
(6)前記第1の電位は所定のプラス或はマイナスの電位であり、前記第2の電位が接地電位であることを特徴とする(5)に記載のハンドラ装置。
(5) The handler device includes a concave pocket provided in the base substrate, in which the device is disposed, and a suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position. A handler device comprising: a first potential detecting means for forming the suction nozzle from a conductive material, applying a constant first potential, and outputting the first potential as an output signal; A device placed in the pocket is formed by a dummy device made of a conductive material, a second potential applying means for applying a constant second potential to the dummy device, and the suction nozzle descends in the direction of the dummy device. Then, the first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained when the nozzle tip surface of the suction nozzle contacts the upper surface of the dummy device, and Outputs of the potential as an output signal, the height position of the suction nozzle at that time, the suction nozzle is that and a reference position setting means for setting the height reference position to adsorb device.
(6) The handler apparatus according to (5), wherein the first potential is a predetermined plus or minus potential, and the second potential is a ground potential.
(7)ハンドラ装置は、ベース基板に設けられ、デバイスが配置される凹状のポケットと、前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、を備えてなるハンドラ装置であって、前記吸着ノズルを導電性材料で形成して、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、前記ポケットに載置されているデバイスの上に導電性のプレートを載置し、該プレートに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、前記吸着ノズルが前記デバイス方向に下降して前記吸着ノズルのノズル先端面が前記プレートの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、を備えたことである。 (7) The handler device includes a concave pocket provided on the base substrate, in which the device is disposed, and a suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position. A handler device comprising: a first potential detecting means for forming the suction nozzle from a conductive material, applying a constant first potential, and outputting the first potential as an output signal; A conductive plate is placed on the device placed in the pocket, a second potential applying means for applying a constant second potential to the plate, and the suction nozzle descends in the device direction. Then, the first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained when the nozzle tip surface of the suction nozzle comes into contact with the upper surface of the plate, and the second potential is used as an output signal. Output, the height position of the suction nozzle at that time, the suction nozzle is that it comprises a reference position setting means for setting the height reference position to adsorb device, the.
(8)ハンドラ装置は、ベース基板に設けられ、デバイスが配置される凹状のポケットと、前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、を備えてなるハンドラ装置であって、前記吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で形成され、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンに、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、前記ポケットに載置するデバイスを導電性材料からなるダミーデバイスで形成し、該ダミーデバイスに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、前記吸着ノズルが前記ダミーデバイス方向に下降して前記導電性ピンの先端が該ダミーデバイスの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、を備えたことである。 (8) The handler device includes a concave pocket provided on the base substrate, in which the device is disposed, and a suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position. A handler device is provided, wherein a suction pad attached to the tip of the suction nozzle is formed of a non-conductive member, is disposed in the same direction as the suction nozzle, and is disposed at a position protruding at least from the suction pad. A first potential detecting means for applying a constant first potential to the conductive pin and outputting the first potential as an output signal; and a dummy mounted on the pocket by a device made of a conductive material. And a second potential applying means for applying a constant second potential to the dummy device, and the suction nozzle is lowered toward the dummy device before The first potential detection means electrically detects a short-circuited state obtained by contacting the tip of the conductive pin with the upper surface of the dummy device, and outputs the second potential as an output signal. And a reference position setting means for setting the height position of the suction nozzle at that time and a height reference position at which the suction nozzle sucks the device.
(9)ハンドラ装置は、ベース基板に設けられ、デバイスが配置される凹状のポケットと、前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、を備えてなるハンドラ装置であって、前記吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で形成され、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンに、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、前記ポケットに載置されているデバイスの上に導電性のプレートを載置し、該プレートに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、前記吸着ノズルが前記デバイス方向に下降して前記導電性ピンの先端が前記プレートの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、を備えたことである。 (9) The handler device includes a concave pocket provided on the base substrate, in which the device is disposed, and a suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position. A handler device is provided, wherein a suction pad attached to the tip of the suction nozzle is formed of a non-conductive member, is disposed in the same direction as the suction nozzle, and is disposed at a position protruding at least from the suction pad. A first potential detecting means for applying a constant first potential to the conductive pin and outputting the first potential as an output signal; and a conductive material on the device placed in the pocket. A second potential applying means for applying a constant second potential to the plate, and the suction nozzle descends in the device direction so that the tip of the conductive pin The short-circuited state obtained by contacting the upper surface of the plate is electrically detected by the first potential detection means and the second potential is output as an output signal. And a reference position setting means for setting the height position and a height reference position at which the suction nozzle sucks the device.
本提案のデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置は、吸着ノズルに対して一定の第1の電位を持たせ、且つこの第1の電位を出力信号として捉えておき、デバイス側にも一定の第2の電位を持たせ、吸着ノズルが降下してデバイスに接触したときに短絡状態になることで出力信号を第2の電位にさせること吸着ノズルの先端部がデバイスに接触したことを電気的に検出させるようにしたことで、熟練者でなくとも、再現性良く、正確に、高価な高分解能カメラを必要とせず、吸着ノズルの高さ基準を決定することができるという効果がある。 The proposed device transport height reference position setting method and handler apparatus has a constant first potential for the suction nozzle, and this first potential is regarded as an output signal, and is also constant on the device side. When the suction nozzle descends and comes into contact with the device, the output signal is set to the second potential when the suction nozzle is lowered and contacts the device. Thus, it is possible to determine the height reference of the suction nozzle without requiring an expensive high-resolution camera with good reproducibility and accuracy, even if it is not an expert.
また、吸着ノズルが経時変化により変化しても、人間の作業を介さずに自動校正動作が可能になり、定期的な自動校正動作も可能になる。 Further, even if the suction nozzle changes with time, an automatic calibration operation can be performed without human work, and a periodic automatic calibration operation can also be performed.
次に、本願発明に係るデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置の種々の実施例について図面を参照して説明する。 Next, various embodiments of the device transport height reference position setting method and the handler apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
本願発明の第1実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法を具現化することができるハンドラ装置は、ダミーデバイスを用いて吸着ノズルとの接触を電気的に検出して吸着ノズルの高さ基準位置を設定するというものであり、それは、図1に示すように、ベース基板11に設けられたICデバイスが配置される凹状のポケット12と、このポケット12に載置されているICデバイス(実施例においてはダミーデバイス13)と、ポケット12に載置されているICデバイス(実施例においてはダミーデバイス13)の上面を吸着して所定位置に移動させるための図示しないデバイス搬送ユニットに取り付けられた吸着ノズル14とから構成されている。
The handler apparatus that can embody the device transport height reference position setting method of the first embodiment of the present invention is configured to electrically detect contact with the suction nozzle using a dummy device and to detect the height of the suction nozzle. As shown in FIG. 1, the position is set, and as shown in FIG. 1, a concave pocket 12 in which an IC device provided on the base substrate 11 is arranged, and an IC device placed in the pocket 12 (implementation) In the example, the dummy device 13) and the IC device (dummy device 13 in the embodiment) placed in the pocket 12 are attached to a device transport unit (not shown) for sucking the upper surface and moving it to a predetermined position. The
吸着ノズル14は導電性材料で形成され、その吸着ノズル14の一部は第1の電位を生成する電源Vのプラス側に接続されて電源Vの電圧が印加され、その接続された位置からの電位を出力信号として検出する構成になっている。この導電性材料で形成した吸着ノズル14に、一定の第1の電位(電源V)を印加させると共にこの第1の電位を出力信号として出力するのが第1の電位検出手段15である。
The
ここで吸着ノズル14に印加する電位は電源Vからのプラスの電位であるがこれに限定されることなく、第2の電位と異なる電位であればよく、第2の電位が接地電位であれば、これ以外のプラスの電位或はマイナスの電位でもよい。
Here, the potential applied to the
ポケット12に載置するデバイスを導電性材料からなるダミーデバイス13で形成し、このダミーデバイス13に一定の第2の電位(接地電位E)を印加させるのが第2の電位印加手段16である。
このダミーデバイス13に印加される第2の電位は実施例においては接地電位Eであるが、これに限定されることなく、吸着ノズル14に印加される第1の電位と異なる電位であればよい。
A device to be placed in the pocket 12 is formed by a dummy device 13 made of a conductive material, and a second potential applying means 16 applies a constant second potential (ground potential E) to the dummy device 13. .
The second potential applied to the dummy device 13 is the ground potential E in the embodiment. However, the second potential is not limited to this and may be any potential different from the first potential applied to the
このような構成において、吸着ノズル14がダミーデバイス13方向に下降して吸着ノズル14のノズル先端面がこのダミーデバイス13の上面に接触することで得られる短絡した状態を、第1の電位検出手段15が電気的に検出する。即ち、吸着ノズル14の先端面がダミーデバイス13に接触することで第2の電位(接地電位E)が吸着ノズル14側に流れ、第2の電位(接地電位E)が出力信号となる。尚、図においては抵抗等を省略した回路構成が図示され、理解を得るための最小限の回路構成が開示されている。
In such a configuration, the first potential detecting means represents a short-circuited state obtained by the
そして、第1の電位検出手段15が第2の電位を出力信号として出力したときの吸着ノズル14の高さ位置を、吸着ノズル14がデバイスを吸着する高さ基準位置と設定するのが基準位置設定手段である。
The height position of the
この基準位置設定手段は、図示しない、出力信号を解析する制御部において、図2に示すように、出力信号が電位Vのときには、吸着ノズル14がダミーデバイス13に非接触の状態であることを確認し、その後吸着ノズル14を下降させ、ダミーデバイス13に吸着ノズル14の先端面が接触したときに、出力信号が電位Vから接地電位Eの電位0になったことを検出することで高さ基準位置を設定することができる。
As shown in FIG. 2, this reference position setting means is a control unit for analyzing an output signal (not shown). When the output signal is at a potential V, the
次に、本願発明の第2実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置について、図面を参照して説明する。 Next, a device transport height reference position setting method and handler apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
本願発明の第2実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法を具現化することができるハンドラ装置は、デバイスをポケットに載置した状態にしてその上に導電性のプレートを載置し、このプレートに吸着ノズルの先端面が接触したことを電気的に検出して吸着ノズルの高さ基準位置を設定するというものである。 The handler apparatus that can embody the device transport height reference position setting method according to the second embodiment of the present invention has a device placed in a pocket and a conductive plate placed thereon. The height reference position of the suction nozzle is set by electrically detecting that the tip surface of the suction nozzle is in contact with the plate.
それは、図3に示すように、ベース基板11に設けられたICデバイスが配置される凹状のポケット12と、このポケット12に載置されているICデバイス17と、このICデバイス17の上に載置した導電性のプレート18と、ポケット12に載置されているICデバイス17の上面を吸着して所定位置に移動させるための図示しないデバイス搬送ユニットに取り付けられた吸着ノズル14とから構成されている。
As shown in FIG. 3, the concave pocket 12 in which the IC device provided on the base substrate 11 is arranged, the IC device 17 placed in the pocket 12, and the IC device 17 are placed on the IC device 17. And a
吸着ノズル14は導電性材料で形成され、その吸着ノズル14の一部は第1の電位を生成する電源Vのプラス側に接続されて電源Vの電圧が印加され、その接続された位置からの電位を出力信号として検出する構成になっている。この導電性材料で形成した吸着ノズル14に、一定の第1の電位(電源V)を印加させると共にこの第1の電位を出力信号として出力するのが第1の電位検出手段15である。
The
ここで吸着ノズル14に印加する電位は電源Vからのプラスの電位であるがこれに限定されることなく、第2の電位と異なる電位であればよく、第2の電位が接地電位であれば、これ以外のプラスの電位或はマイナスの電位でもよい。
Here, the potential applied to the
ポケット12に載置されているICデバイス17の上に載置された導電性のプレート18に一定の第2の電位(接地電位E)を印加させるのが第2の電位印加手段16である。
このプレート18に印加される第2の電位は実施例においては接地電位Eであるが、これに限定されることなく、吸着ノズル14に印加される第1の電位と異なる電位であればよい。
The second
The second potential applied to the plate 18 is the ground potential E in the embodiment. However, the second potential is not limited to this and may be any potential different from the first potential applied to the
このような構成において、吸着ノズル14がプレート18方向に下降して吸着ノズル14のノズル先端面がこのプレート18の上面に接触することで得られる短絡した状態を、第1の電位検出手段15が電気的に検出する。即ち、吸着ノズル14の先端面がプレート18に接触することで第2の電位(接地電位E)が吸着ノズル14側に流れ、第2の電位(接地電位E)が出力信号となる。尚、図においては抵抗等を省略した回路構成が図示され、理解を得るための最小限の回路構成が開示されている。
In such a configuration, the first
そして、第1の電位検出手段15が第2の電位を出力信号として出力したときの吸着ノズル14の高さ位置を、吸着ノズル14がICデバイス17を吸着する高さ基準位置と設定するのが基準位置設定手段である。
The height position of the
この基準位置設定手段は、図示しない、出力信号を解析する制御部において、図2に示すように、出力信号が電位Vのときには、吸着ノズル14がプレート18に非接触の状態であることを確認し、その後吸着ノズル14を下降させ、プレート18に吸着ノズル14の先端面が接触したときに、出力信号が電位Vから接地電位Eの電位0になったことを検出することで高さ基準位置を設定することができる。
As shown in FIG. 2, the reference position setting means confirms that the
ここで、吸着ノズル14の先端面がプレート18に接触することを検出するのであるが、予めプレート18の厚み分だけ実際のICデバイス17に接触する位置よりも早く接触することになる。そこで、プレート18の厚みは予め解かっているために、電気的に検出したときの高さ基準位置はこのプレート18の厚み分を差し引いたものが実際の吸着ノズル14の高さ基準位置となる。
Here, it is detected that the tip surface of the
次に、本願発明の第3実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置について、図面を参照して説明する。 Next, a device transport height reference position setting method and handler apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
本願発明の第3実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法を具現化することができるハンドラ装置は、吸着ノズルの先端に設けた吸着パッドが非導電性部材であるときに、ダミーデバイスを利用して吸着ノズルに一体に形成された導電性ピンがダミーデバイスに接触したことを電気的に検出して吸着ノズルの高さ基準位置を設定するというものである。 The handler device that can embody the device transport height reference position setting method of the third embodiment of the present invention uses a dummy device when the suction pad provided at the tip of the suction nozzle is a non-conductive member. Then, the height reference position of the suction nozzle is set by electrically detecting that the conductive pin integrally formed with the suction nozzle is in contact with the dummy device.
それは、図4に示すように、ベース基板11に設けられたICデバイスが配置される凹状のポケット12と、このポケット12に載置されているICデバイス(実施例においてはダミーデバイス13)と、ポケット12に載置されているICデバイス(実施例においてはダミーデバイス13)の上面を吸着して所定位置に移動させるための図示しないデバイス搬送ユニットに取り付けられた吸着ノズル14と、吸着ノズル14と同一方向に向いて配置され少なくとも吸着パッド19よりも突出した位置に配置されている導電性ピン21と、から大略構成されている。
As shown in FIG. 4, a concave pocket 12 in which an IC device provided on the base substrate 11 is disposed, and an IC device (a dummy device 13 in the embodiment) placed in the pocket 12, A
吸着ノズル14は導電性材料で形成され、この吸着ノズル14に電気的に導通しているバネ22で下方に押し下がるように付勢された導電性ピン21を備えた構造となっている。
この吸着ノズル14の一部は第1の電位を生成する電源Vのプラス側に接続されて電源Vの電圧が印加され、その接続された位置からの電位を出力信号として検出する構成になっている。この導電性材料で形成した吸着ノズル14に、一定の第1の電位(電源V)を印加させると導通状態の導電性ピン21に第1の電位が印加されると共にこの第1の電位を出力信号として出力するのが第1の電位検出手段15である。
The
A part of the
ここで吸着ノズル14に印加する電位は電源Vからのプラスの電位であるがこれに限定されることなく、第2の電位と異なる電位であればよく、第2の電位が接地電位であれば、これ以外のプラスの電位或はマイナスの電位でもよい。
Here, the potential applied to the
ポケット12に載置するICデバイスを導電性材料からなるダミーデバイス13で形成し、このダミーデバイス13に一定の第2の電位(接地電位E)を印加させるのが第2の電位印加手段16である。
このダミーデバイス13に印加される第2の電位は実施例においては接地電位Eであるが、これに限定されることなく、吸着ノズル14に印加される第1の電位と異なる電位であればよい。
An IC device to be placed in the pocket 12 is formed by a dummy device 13 made of a conductive material, and the second
The second potential applied to the dummy device 13 is the ground potential E in the embodiment. However, the second potential is not limited to this and may be any potential different from the first potential applied to the
このような構成において、吸着ノズル14がダミーデバイス13方向に下降して導電性ピン21の先端がこのダミーデバイス13の上面に接触することで得られる短絡した状態を、第1の電位検出手段15が電気的に検出する。即ち、吸着ノズル14に導通状態の導電性ピン21の先端面がダミーデバイス13に接触することで第2の電位(接地電位E)が吸着ノズル14側に流れ、第2の電位(接地電位E)が出力信号となる。尚、図においては抵抗等を省略した回路構成が図示され、理解を得るための最小限の回路構成が開示されている。
In such a configuration, the first
そして、第1の電位検出手段15が第2の電位を出力信号として出力したときの吸着ノズル14の高さ位置を、吸着ノズル14がICデバイスを吸着する高さ基準位置と設定するのが基準位置設定手段である。
The height position of the
この基準位置設定手段は、図示しない、出力信号を解析する制御部において、図2に示すように、出力信号が電位Vのときには、吸着ノズル14に導電状態の導電性ピン21がダミーデバイス13と非接触の状態であることを確認し、その後吸着ノズル14を下降させ、ダミーデバイス13に導電性ピン21の先端面が接触したときに、出力信号が電位Vから接地電位Eの電位0になったことを検出することで高さ基準位置を設定することができる。
As shown in FIG. 2, the reference position setting means is a control unit that analyzes an output signal (not shown). When the output signal is at the potential V, the conductive pin 21 in a conductive state is connected to the
ここで、吸着ノズル14の先端に設けた吸着パッド19と導電性ピン21の先端との高さの差は既知の固定値Dであるので、導電性ピン21の先端がダミーデバイス13の表面に接触したときの高さ位置からこの固定値Dを差し引いた値が高さ基準位置となる。
Here, since the difference in height between the suction pad 19 provided at the tip of the
次に、本願発明の第4実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法及びハンドラ装置について、図面を参照して説明する。 Next, a device transport height reference position setting method and handler apparatus according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
本願発明の第4実施例のデバイス搬送高さ基準位置設定方法を具現化することができるハンドラ装置は、吸着ノズルの先端に設けた吸着パッドが非導電性部材であるときに、デバイスをポケットに載置した状態にしてその上に導電性のプレートを載置し、吸着ノズルと一体に形成された導電性ピンの先端面がプレートに接触したことを電気的に検出して吸着ノズルの高さ基準位置を設定するというものである。 The handler device that can embody the device transport height reference position setting method of the fourth embodiment of the present invention is configured such that when the suction pad provided at the tip of the suction nozzle is a non-conductive member, the device is placed in the pocket. The conductive plate is placed on the mounted plate, and the height of the suction nozzle is detected by electrically detecting that the tip surface of the conductive pin formed integrally with the suction nozzle is in contact with the plate. The reference position is set.
それは、図5に示すように、ベース基板11に設けられたICデバイスが配置される凹状のポケット12と、このポケット12に載置されているICデバイス17と、このICデバイス17の上に載置した導電性のプレート18と、ポケット12に載置されているICデバイス17の上面を吸着して所定位置に移動させるための図示しないデバイス搬送ユニットに取り付けられた吸着ノズル14と、吸着ノズル14の先端に取付けられている非導電性部材で形成された吸着パッド19と、吸着ノズル14と同一方向を向いて配置され少なくとも吸着パッド19よりも突出した位置に配置されている導電性ピン21と、一定の第1の電位(電源V)を印加させると共にこの第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段15と、ポケット12に載置されているICデバイス17の上に導電性のプレート18を載置し、このプレート18に一定の第2の電位(接地電位)を印加させる第2の電位印加手段16と、吸着ノズル14がデバイス方向に下降して導電性ピン21の先端がプレート18の上面に接触することで得られる短絡した状態を、第1の電位検出手段15が電気的に検出して第2の電位(接地電位)を出力信号として出力し、そのときの吸着ノズル14の高さ位置を、吸着ノズル14がICデバイス17を吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、から大略構成されている。
As shown in FIG. 5, the concave pocket 12 in which the IC device provided on the base substrate 11 is disposed, the IC device 17 placed in the pocket 12, and the IC device 17 are placed on the IC device 17. A conductive plate 18 placed thereon, a
吸着ノズル14は導電性材料で形成され、この吸着ノズル14に電気的に導通しているバネ22で下方に押し下がるように付勢された導電性ピン21を備えた構造となっている。
この吸着ノズル14の一部は第1の電位を生成する電源Vのプラス側に接続されて電源Vの電圧が印加され、その接続された位置からの電位を出力信号として検出する構成になっている。この導電性材料で形成した吸着ノズル14に、一定の第1の電位(電源V)を印加させると導通状態の導電性ピン21に第1の電位が印加されると共にこの第1の電位を出力信号として出力するのが第1の電位検出手段15である。
The
A part of the
ここで吸着ノズル14に印加する電位は電源Vからのプラスの電位であるがこれに限定されることなく、第2の電位と異なる電位であればよく、第2の電位が接地電位であれば、これ以外のプラスの電位或はマイナスの電位でもよい。
Here, the potential applied to the
ポケット12に載置されているICデバイス17の上部に一定厚さのプレート18を載置し、このプレート18に一定の第2の電位(接地電位E)を印加させるのが第2の電位印加手段16である。
このプレート18に印加される第2の電位は実施例においては接地電位Eであるが、これに限定されることなく、吸着ノズル14に印加される第1の電位と異なる電位であればよい。
A plate 18 having a constant thickness is placed on the IC device 17 placed in the pocket 12, and a constant second potential (ground potential E) is applied to the plate 18 to apply a second potential.
The second potential applied to the plate 18 is the ground potential E in the embodiment. However, the second potential is not limited to this and may be any potential different from the first potential applied to the
このような構成において、吸着ノズル14がICデバイス方向に下降して導電性ピン21の先端がプレート18の上面に接触することで得られる短絡した状態を、第1の電位検出手段15が電気的に検出する。即ち、吸着ノズル14に導通状態の導電性ピン21の先端面がプレート18に接触することで第2の電位(接地電位E)が吸着ノズル14側に流れ、第2の電位(接地電位E)が出力信号となる。尚、図においては抵抗等を省略した回路構成が図示され、理解を得るための最小限の回路構成が開示されている。
In such a configuration, the first potential detection means 15 is electrically short-circuited when the
そして、第1の電位検出手段15が第2の電位を出力信号として出力したときの吸着ノズル14の高さ位置を、吸着ノズル14がICデバイスを吸着する高さ基準位置と設定するのが基準位置設定手段である。
The height position of the
この基準位置設定手段は、図示しない、出力信号を解析する制御部において、図2に示すように、出力信号が電位Vのときには、吸着ノズル14に導電状態の導電性ピン21がプレート18に非接触の状態であることを確認し、その後吸着ノズル14を下降させ、プレート18に導電性ピン21の先端面が接触したときに、出力信号が電位Vから接地電位Eの電位0になったことを検出することで高さ基準位置を設定することができる。
As shown in FIG. 2, the reference position setting means is a non-illustrated control unit for analyzing the output signal. When the output signal is at the potential V, the conductive pin 21 in the conductive state in the
ここで、吸着ノズル14の先端に設けた吸着パッド19と導電性ピン21の先端との高さの差は既知の固定値Dであるので、導電性ピン21の先端がプレート18の表面に接触したときの高さ位置からこの固定値Dを差し引いた値が高さ基準位置となるが、更に、プレート18の厚さも既知の値であるため、このプレート18の厚さをも差し引いた値が高さ基準位置となる。
Here, since the difference in height between the suction pad 19 provided at the tip of the
吸着ノズルに対して一定の第1の電位を持たせ、且つこの第1の電位を出力信号として捉えておき、デバイス側にも一定の第2の電位を持たせ、吸着ノズルが降下してデバイスに接触したときに短絡状態になることで出力信号を第2の電位にさせること吸着ノズルの先端部がデバイスに接触したことを電気的に検出させるようにしたハンドラ装置を提供する。 A constant first potential is given to the suction nozzle, and this first potential is taken as an output signal, and a constant second potential is also given to the device side, so that the suction nozzle descends and the device There is provided a handler device in which an output signal is set to a second potential by being in a short-circuited state when touching the device, and it is electrically detected that the tip of the suction nozzle has touched the device.
11 ベース基板
12 ポケット
13 ダミーデバイス
14 吸着ノズル
15 第1の電位検出手段
16 第2の電位印加手段
17 ICデバイス
18 プレート
19 吸着パッド
21 導電性ピン
22 バネ。
11 Base substrate 12 Pocket 13
Claims (9)
前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルを前記ダミーデバイスに接触する位置まで下降させ、
前記吸着ノズルのノズル先端面が前記ダミーデバイスの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすること
を特徴とするデバイス搬送高さ基準位置設定方法。 A dummy device made of a conductive material is placed in a concave pocket provided in the base substrate,
Lowering the suction nozzle for sucking the device placed in the pocket to a position in contact with the dummy device,
A state in which the nozzle tip surface of the suction nozzle is short-circuited by contacting the upper surface of the dummy device is electrically detected, and the height position of the suction nozzle at that time is used for the suction nozzle to suck the device. A device transport height reference position setting method, characterized in that a height reference position is set.
前記デバイスの上に導電性のプレートを載置し、
前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルを前記プレートに接触する位置まで下降させ、
前記吸着ノズルのノズル先端面が前記プレートの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすること
を特徴とするデバイス搬送高さ基準位置設定方法。 Place the device in the concave pocket provided on the base substrate,
Placing a conductive plate on the device;
Lowering the suction nozzle for sucking the device placed in the pocket to a position in contact with the plate,
The state where the nozzle tip surface of the suction nozzle is short-circuited by contacting the upper surface of the plate is electrically detected, and the height position of the suction nozzle at that time is a height for the suction nozzle to suck the device. A device transport height reference position setting method, characterized in that the device transport height reference position is set.
前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で生成されている場合に、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンが前記ダミーデバイスに接触する位置まで下降させ、
前記導電性ピンの先端が前記ダミーデバイスの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすること
を特徴とするデバイス搬送高さ基準位置設定方法。 A dummy device made of a conductive material is placed in a concave pocket provided in the base substrate,
When the suction pad attached to the tip of the suction nozzle for sucking the device placed in the pocket is made of a non-conductive member, the suction pad is arranged in the same direction as the suction nozzle. The conductive pin arranged at a more protruding position is lowered to a position where it contacts the dummy device,
The state where the tip of the conductive pin is short-circuited by contacting the upper surface of the dummy device is electrically detected, and the height position of the suction nozzle at that time is a height for the suction nozzle to suck the device. A device transport height reference position setting method, characterized in that the device transport height reference position is set.
前記デバイスの上に導電性のプレートを載置し、
前記ポケットに載置しているデバイスを吸着するための吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で生成されている場合に、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンが前記プレートに接触する位置まで下降させ、
前記導電性ピンの先端が前記プレートの上面に接触することで短絡した状態を電気的に検出し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着するための高さ基準位置とすること
を特徴とするデバイス搬送高さ基準位置設定方法。 Place the device in the concave pocket provided on the base substrate,
Placing a conductive plate on the device;
When the suction pad attached to the tip of the suction nozzle for sucking the device placed in the pocket is made of a non-conductive member, the suction pad is arranged in the same direction as the suction nozzle. The conductive pin arranged at a more protruding position is lowered to a position where it contacts the plate,
The state where the tip of the conductive pin is short-circuited by contacting the upper surface of the plate is electrically detected, and the height position of the suction nozzle at that time is the height at which the suction nozzle sucks the device. A device transport height reference position setting method, characterized in that a reference position is set.
前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、
を備えてなるハンドラ装置であって、
前記吸着ノズルを導電性材料で形成して、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、
前記ポケットに載置するデバイスを導電性材料からなるダミーデバイスで形成し、該ダミーデバイスに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、
前記吸着ノズルが前記ダミーデバイス方向に下降して前記吸着ノズルのノズル先端面が該ダミーデバイスの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、
を備えたことを特徴とするハンドラ装置。 A concave pocket provided on the base substrate in which the device is placed;
A suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position;
A handler device comprising:
A first potential detecting means for forming the suction nozzle from a conductive material, applying a constant first potential, and outputting the first potential as an output signal;
Forming a device to be placed in the pocket with a dummy device made of a conductive material, and applying a constant second potential to the dummy device;
The first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained by the suction nozzle descending toward the dummy device and the nozzle tip surface of the suction nozzle contacting the upper surface of the dummy device. Output the second potential as an output signal, and a reference position setting means for setting the height position of the suction nozzle at that time as a height reference position at which the suction nozzle sucks the device;
A handler device comprising:
前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、
を備えてなるハンドラ装置であって、
前記吸着ノズルを導電性材料で形成して、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、
前記ポケットに載置されているデバイスの上に導電性のプレートを載置し、該プレートに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、
前記吸着ノズルが前記デバイス方向に下降して前記吸着ノズルのノズル先端面が前記プレートの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、
を備えたことを特徴とするハンドラ装置。 A concave pocket provided on the base substrate in which the device is placed;
A suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position;
A handler device comprising:
A first potential detecting means for forming the suction nozzle from a conductive material, applying a constant first potential, and outputting the first potential as an output signal;
A second potential applying means for placing a conductive plate on the device placed in the pocket, and applying a constant second potential to the plate;
The first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained by the suction nozzle descending in the device direction and the nozzle tip surface of the suction nozzle contacting the upper surface of the plate, A reference position setting means for outputting a second potential as an output signal and setting the height position of the suction nozzle at that time as a height reference position at which the suction nozzle sucks the device;
A handler device comprising:
前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、
を備えてなるハンドラ装置であって、
前記吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で形成され、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンに、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、
前記ポケットに載置するデバイスを導電性材料からなるダミーデバイスで形成し、該ダミーデバイスに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、
前記吸着ノズルが前記ダミーデバイス方向に下降して前記導電性ピンの先端が該ダミーデバイスの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、
を備えたことを特徴とするハンドラ装置。 A concave pocket provided on the base substrate in which the device is placed;
A suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position;
A handler device comprising:
A suction pad attached to the tip of the suction nozzle is formed of a non-conductive member, is disposed in the same direction as the suction nozzle, and is disposed at least at a position protruding from the suction pad. First potential detection means for applying the first potential and outputting the first potential as an output signal;
Forming a device to be placed in the pocket with a dummy device made of a conductive material, and applying a constant second potential to the dummy device;
The first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained by the suction nozzle descending toward the dummy device and the tip of the conductive pin contacting the upper surface of the dummy device. Reference position setting means for outputting the second potential as an output signal, and setting the height position of the suction nozzle at that time as a height reference position at which the suction nozzle sucks the device;
A handler device comprising:
前記ポケットに載置されているデバイスの上面を吸着して所定位置に移動させるための吸着ノズルと、
を備えてなるハンドラ装置であって、
前記吸着ノズルの先端に取付けた吸着パッドが非導電性部材で形成され、吸着ノズルと同一方向に向いて配置され少なくとも前記吸着パッドよりも突出した位置に配置されている導電性ピンに、一定の第1の電位を印加させると共に該第1の電位を出力信号として出力する第1の電位検出手段と、
前記ポケットに載置されているデバイスの上に導電性のプレートを載置し、該プレートに一定の第2の電位を印加させる第2の電位印加手段と、
前記吸着ノズルが前記デバイス方向に下降して前記導電性ピンの先端が前記プレートの上面に接触することで得られる短絡した状態を、前記第1の電位検出手段が電気的に検出して前記第2の電位を出力信号として出力し、そのときの前記吸着ノズルの高さ位置を、前記吸着ノズルがデバイスを吸着する高さ基準位置と設定する基準位置設定手段と、
を備えたことを特徴とするハンドラ装置。
A concave pocket provided on the base substrate in which the device is placed;
A suction nozzle for sucking and moving the upper surface of the device placed in the pocket to a predetermined position;
A handler device comprising:
A suction pad attached to the tip of the suction nozzle is formed of a non-conductive member, is disposed in the same direction as the suction nozzle, and is disposed at least at a position protruding from the suction pad. First potential detection means for applying the first potential and outputting the first potential as an output signal;
A second potential applying means for placing a conductive plate on the device placed in the pocket, and applying a constant second potential to the plate;
The first potential detecting means electrically detects a short-circuited state obtained by the suction nozzle descending in the device direction and the tip of the conductive pin coming into contact with the upper surface of the plate. A reference position setting means for setting the height position of the suction nozzle at that time as a height reference position at which the suction nozzle sucks the device;
A handler device comprising:
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