JP2008015493A - 液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置及び測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は測定試料の偏光方向を簡単に測定することができる液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置及び測定方法を提供する
【解決手段】本発明による偏光方向測定装置は基準軸からの偏光方向が任意に配置される第１偏光板と、偏光方向を測定するための測定試料と、前記測定試料を第１方向及び前記第１方向に鏡対称である第２方向にそれぞれ据え置きして、前記基準軸に付いて前記測定試料を方位角方向に回転させる測定試料ホルダー、前記第１偏光板及び前記測定試料をパスする光を提供する光源及び前記第１偏光板及び前記測定試料を経由する前記光源の光を検出するための光検出器を含む。
【選択図】図２

Description

本発明はディスプレイ装置に関し、さらに詳しくは液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置及び測定方法関する。

一般的に、液晶表示装置は液晶分子の光学的異方性と複屈折特性を利用して画像を表現する装置である。

液晶表示装置は電界生成電極がそれぞれ形成されている二つの基板を二つの電極が形成されている面を対向するように配置して、二つの基板の間に液晶物質を入れ込む。

以後、二つの電極に電圧を印加して生成される電場によって前記液晶分子配列を変更させて、これを通じて透明絶縁基板に透過される光の量を調節することで、所望の画像を表現するようになる。

このような液晶表示装置では薄膜トランジスタ（Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ： ＴＦＴ）をスイチング素子に利用する薄膜トランジスタ液晶表示装置（ＴＦＴ ＬＣＤ）が主に使われている。

ＴＦＴ ＬＣＤは白色光であるバックライトが液晶画素をパスしながら光透過率が調節された後、各液晶画素上に１：１に配置された赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）及び青色（Ｂ）のカラーフィルタ層を透過して出る光の加法混色を通じてＴＦＴ−ＬＣＤのカラー画面が作られる。

一方、ＴＦＴ−ＬＣＤは光スイッチング素子として、電場の強さにしたがって透過または反射する光の量を調節することで表示レベルが決まる。

この時、クロスニコル（ｃｒｏｓｓ−ｎｉｃｏｌ）方式に配置された第１偏光板及び第２偏光板の偏光条件によって液晶表示装置の特性が大きく変わるので、これに対する最適な設計が必要であり、また偏光板の正確な偏光方向が分かっていなければならない。

しかし、第１偏光板及び第２偏光板の偏光方向が正確に制御されない場合、液晶表示装置内の液晶層を正確に制御することができなくなるので、液晶表示装置の画質に深刻な影響を及ぼすようになる。

図１は従来の技術による液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置の構成図である。

図１を参照すれば、従来の技術による液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置は光源７１、第１偏光板７２、測定試料ホルダー７３、測定試料７４及び光検出器７５で構成されて、光源７１から光が提供されて、第１偏光板７２及び測定試料７４をパスした光量を光検出器７５が検出する構造を持つ。

図１を参照すれば、従来の技術による偏光方向決定方法は、偏光方向を正確に分かっている第１偏光板７２と基準軸があって試料を正確に据え置きすることができる測定試料ホルダー７３が必要である。

すなわち、測定試料ホルダー７３の基準面にしたがって測定試料７４を据え置きした後、測定試料７４を方位角方向に回転させながら光検出器７５で検出される光量が最小になる回転角を捜すことで、前記測定試料７４が基準面から偏光方向がどの位傾いているのか捜すことができる。

しかし、従来技術による偏光方向測定方法は測定試料の正確な偏光方向が分かるが、基準になる第１偏光板の偏光方向を正確に分かっていなければならない。

また、測定試料を据え置きする時、測定試料の切り目を一致させなければならない測定試料ホルダーの基準面も正確に分かっていなければならない。すなわち、基準になる第１偏光板の正確な偏光方向と、測定試料を正確に据え置きさせることができる測定試料ホルダーの基準面である基準軸を皆分かっていないと測定試料の偏光方向を正確に測定することができないのに、これは測定試料の正確な偏光方向を簡単に測定しにくいということを意味する。

本発明の目的は、測定試料の偏光方向を簡単に測定することができる液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置及び測定方法を提供することにある。

本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置は基準軸からの偏光方向が任意に配置される第１偏光板、偏光方向を測定するための測定試料、前記測定試料を第１方向及び前記第１方向に鏡対称である第２方向にそれぞれ据え置きして、前記基準軸に付いて前記測定試料を方位角方向に回転させる測定試料ホルダー、前記第１偏光板及び前記測定試料をパスする光を提供する光源及び前記第１偏光板及び前記測定試料を経由する前記光源の光を検出するための光検出器を含む。

前記測定試料は前記第１偏光板に対応する第２偏光板であることができる。

前記測定試料の偏光方向は、前記第１方向に据え置きされた測定試料を回転させながら検出した光量が最小である第１角度（Ｘ１）と前記第２方向に据え置きされた測定試料を回転させながら検出した光量が最小である第２角度（Ｘ２）の差値（Ｘ２−Ｘ１）の１／２で求められることができる。

前記基準軸は前記測定試料ホルダーの基地の基準面であることができる。

前記測定試料ホルダーは、前記測定試料が据え置きされるハウジング、前記ハウジングの一側面に形成されて、前記第１方向に挿入された前記測定試料を固定させる第１挿入部及び前記ハウジングを貫く開口部形象に形成されて、前記第１偏光板を経由して提供される光を透過させる光透過部を含むことができる。

前記第１挿入部に対称である形象として、前記第２方向に挿入された前記測定試料を固定させる第２挿入部をさらに含むことができる。

前記ハウジングの他側面に形成されて、前記ハウジングを回転させるための取手をさらに含むことができる。

前記光源はレーザー光源であることができる。

前記光検出器は、フォト−ディテクター（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｃｔｏｒ）及び輝度係装置の内の何れか一つであることがある。

本発明の他の一つの実施形態に係る偏光方向測定方法は光源、第１偏光板及び光検出器を整列する段階、測定試料を基準軸に付いて第１方向に測定試料ホルダーに据え置きする段階、前記測定試料ホルダーを方位方向に回転させながら、光量が最小になる第１角度（Ｘ１）を測定する段階及び前記測定試料を前記第１方向に鏡対称である第２方向に前記測定試料ホルダーに再据え置きする段階、前記測定試料ホルダーを方位方向に回転させながら、 光量が最小になる第２角度（Ｘ２）を測定する段階及び（Ｘ２−Ｘ１）／２を求めて、前記測定試料の偏光方向を決める段階を含む。

前記測定試料は前記第１偏光板に対応する第２偏光板であることができる。

前記測定試料が前記第１方向及び前記第２方向にそれぞれ前記測定試料ホルダーの挿入部に固定されることができる。

前記測定試料ホルダーは前記第１偏光板及び光検出器の間に整列されることができる。

前記第１偏光板の偏光方向は任意に配置されることができる。

前記基準軸は前記測定試料ホルダーの基地の基準面であることができる。

前記光源はレーザー光源であることができる。

前記光量は前記光検出器を通じて検出されることができる。

前記光検出器は、フォト−ディテクター（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｃｔｏｒ）及び輝度係装置の内の何れか一つであることができる。

本発明は基準になる偏光子の偏光方向が分からないとしても測定試料ホルダーの基準軸さえ分かれば測定試料の偏光方向を決めることができるので、偏光板の正確な偏光方向を簡単な方法で測定することができる。

以下では本発明の一つの実施形態に係る具体的な実施形態を添付された図面を参照して説明する。

図２は本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置の斜視図である。

図２を参照すれば、液晶表示装置内に備えた液晶パネルは、一定空間を持って合着された第１基板１０、第２基板２０、及び前記第１基板１０と第２基板２０の間に注入された液晶層３０で構成される。この時、第１基板１０はスイチング領域であるＴＦＴ領域（ＴＦＴ）、画素領域（Ｐｉｘｅｌ）及びストレージ領域（ＣＳＴ）に定義される。

第１基板１０には透明なガラス基板１１上に一定な間隔を持って一方向に複数個のゲートライン１２が配列されて、またゲートライン１２に垂直した方向に一定な間隔を持って複数個のデータライン１６が配列されることで、画素領域を定義するようになる。

そして各画素領域には画素電極１８が形成されて、それぞれのゲートライン１２とデータライン１６が交差する部分に薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が形成されて、薄膜トランジスタが前記ゲートライン１２を通じて印加されるスキャン信号によってデータライン１６のデータ信号をそれぞれの画素電極１８に印加する。

そして第２基板２０には透明なガラス基板２１上に画素領域を除いた部分の光を遮断するためのブラックマトリックス層２２が形成されて、それぞれの画素領域に対応される部分には色相を表現するためのＲ、Ｇ、Ｂカラーフィルタ層２３が形成されて、カラーフィルタ層２３上には共通電極２４が形成される。

ストレージ領域内に、画素電極１８と並列で繋がれた充電キャパシターがゲートライン１２の上部に構成されて、充電キャパシターの第１電極ではゲートライン１２の一部を使って、第２電極ではソース及びドレイン電極と同一層に形成、かつ同一物質で形成された島（ｉｓｌａｎｄ）形状の金属パターンを適用する。

このような液晶表示装置は前記画素電極１８と共通電極２４の間の電界によって前記第１基板１０及び第２基板２０の間に形成された液晶層３０が配向されて、液晶層３０の配向程度によって液晶層３０を透過する光の量を調節することで所望の画像を表現することができる。

図３は本発明の一つの実施形態に係る液晶パネルの構成を概略的に示す図である。

図３を参照すれば、液晶パネルは第１基板１０、第２基板２０、液晶層３０、第１偏光板５０、第２偏光板６０及びバックライトユニット４０を備えて、第１配向膜１５及び第２配向膜２５がそれぞれ第１基板１０と第２基板２０上にラビング方式に形成される。

図３の構造はアンチ-パラレル（ａｎｔｉ−ｐａｒａｌｌｅｌ）配向されている液晶セル構造として、ＩＰＳ（Ｉｎ−Ｐｌａｎｅ Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ） モードの液晶セルまたはＥＣＢ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｃｏｎｔｒｏｌｌａｂｌｅ Ｂｉｒｅｆｒｉｎｇｅｎｃｅ）液晶セルなどがこのような構造を持っている。この時、第１偏光板５０及び第２偏光板６０がクロスニコル（ｃｒｏｓｓ−ｎｉｃｏｌ）方式に配置される。

図２では実際にそれぞれの媒質が皆接触されているが、図３では便宜上分離させて図示しており、この時、ＬＣＤの電気、光学特性を決めることは配向層（１５、２５）の配向方向と偏光板（５０、６０）の偏光方向である。これらの組合せによって光学特性が決まるので、正確な配向方向と正確な偏光方向、すなわち、配向軸と偏光軸を把握する必要がある。

図４Ａ及び図４Ｂは本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光モードを示す図である。

図４Ａ及び図４Ｂを参照すれば、偏光板はそのモードによってｅ−ｍｏｄｅとｏ−ｍｏｄｅに仕分けされて、すなわち、前記液晶はｅ−モードとｏ−モードの特性を同時に持つ。

ｅモード（ｅｘｔｒｏｒｄｉｎａｒｙ ｍｏｄｅ）は偏光板５０の透過軸と液晶の長軸が平凡な状態を言って、ｏモード（ｏｒｄｉｎａｒｙ ｍｏｄｅ）は偏光板５０の透過軸と液晶の長軸が共に垂直した状態を言う。

この時、第１及び第２偏光板（５０、６０）は液晶層３０を間に置いて上下にそれぞれ配置され、前記第１偏光板５０は変更子（Ｐｏｌａｒｉｚｅｒ）と呼び、第２偏光板６０は検光子（ａｎａｌｙｚｅｒ）と呼ぶ。

図４Ａはｅｍｏｄｅを示して、偏光子５０の偏光方向が平面に対して水平で検光子６０の偏光方向が平面に対して垂直の場合を示す。

図４Ｂはｏｍｏｄｅを示して、偏光子５０の偏光方向が平面に対して垂直で検光子６０の偏光方向が平面に対して水平の場合を示す。

前記ｅｍｏｄｅ及びｏｍｏｄｅはそれぞれ選択的な方向に振動する光を吸収するとか、選択的な方向に振動する光だけ透過させる偏光モードである。

図５は本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置の構成図である。

図５を参照すれば、本発明の実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置は、光源１００、第１偏光板２００、測定試料ホルダー３１０、測定試料３２０及び光検出器４００手順に配置される。

光源１００は前記第１偏光板２００及び測定試料３２０をパスする光を提供するのに、一般的にレーザー光源が使われる。

第１偏光板２００は基準軸からの偏光方向が任意に配置される。

測定試料３２０は偏光方向を測定するための偏光板として、前記第１偏光板２００に対応するようになる。この時、前記測定試料３２０の偏光方向は、前記第１方向に据え置きされた測定試料３２０を回転させながら検出した光量が最小である第１角度（Ｘ１）と前記第２方向に据え置きされた測定試料３２０を回転させながら検出した光量が最小である第２角度（Ｘ２）の差値（Ｘ２−Ｘ１）の１／２で求められるようになる。

測定試料ホルダー３１０は前記測定試料３２０を第１方向及び前記第１方向に鏡対称である第２方向にそれぞれ据え置きして、前記基準軸に付いて前記測定試料３２０を方位角方向に回転させるようになる。

光検出器４００は前記第１偏光板２００及び測定試料３２０を経由する前記光源１００の光を検出するためのことで、一般的に、フォト−ディテクター（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｃｔｏｒ）及び輝度係の内で何れか一つが使われる。

したがって、前記基準軸は前記測定試料ホルダーの基地の基準面になって、前記第１偏光板２００の偏光方向は分からなくても前記測定試料３２０の正確な偏光方向を簡単に決めることができるようになる。

図６は本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置の内で測定試料ホルダーを例示する図面であり、図７Ａ及び図７Ｂはそれぞれ図６の測定試料ホルダーの側面図である。

図６を参照すれば、測定試料ホルダー３１０は、前記測定試料３２０が据え置きされるハウジング、前記ハウジングの一方向に形成されて、前記第１方向に挿入された前記測定試料を固定させる第１挿入部３３０、及び前記ハウジングを貫く開口部形象に形成されて、前記第１偏光板を経由して提供される光を透過させる光透過部３４０を含む。

図７Ａ及び図７Ｂを参照すれば、測定試料ホルダー３１０は前記第１挿入部３３０に対称である形象として、前記第２方向に挿入された前記測定試料３２０を固定させる第２挿入部３３１を追加で含むことができる。

すなわち、図７Ａの測定試料ホルダー３１０は第１挿入部３３０のみを備えているが、万が一、挿入部の形態が異なる場合、図７Ｂに示されたように、測定試料ホルダー３１１が二つの挿入部３３１からなり、お互いに対称である形状を有することができる。

また、前記測定試料ホルダー３１０は前記ハウジングの一側面に形成されて、前記ハウジングを回転させるための取手３５０を追加で含むことができる。

本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置は偏光子の偏光方向が分かる必要がなく、代りに測定試料３２０を据え置きすることができる測定試料ホルダー３１０の挿入部を反対方向でも据え置きすることができるようにしてくれれば良い。この時、測定試料３２０の偏光方向を決める過程は次のようである。

先ず、測定試料３２０を測定試料ホルダー３１０に据え置きさせた後、基準軸にしたがって挿入部３３０に固定させる。

次に、測定試料ホルダー３１０を回転させながら、光検出器４００が検出する光の量が最小になる角（Ｘ１）を求める。

再び、測定試料３２０を反対方向に測定試料ホルダー３１０に据え置きさせた後、光検出器４００が検出する光の量が最小になる角（Ｘ２）を求める。

この時、前記測定試料３２０の基準軸からの偏光方向をθ１と言えば、θ１＝（Ｘ２−Ｘ１）／２になる。

一方、図８は本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定原理を説明するための図である。

図８のａ）は測定試料ホルダー３１０の基準軸が０゜の場合を示して、図８のｂ）は測定試料ホルダー３１０の基準軸がｘ゜位傾いた場合を示す。

図８のａ）及びｂ）の右側は先ず測定試料３２０を測定試料ホルダー３１０に挿入して光量が最小であるＸ１を測定するようになって、また鏡対称である反対方向に前記測定試料３２０を測定試料ホルダー３１０に挿入して光量が最小であるＸ２を求めるようになる。

この時、測定試料の偏光方向がθ１であり、Ｘ１及びＸ２は光量が最小である測定値だと言えば、Ｘ１＝−θ１＋ｘ、Ｘ２＝＋θ１＋ｘがなり、Ｘ２−Ｘ１＝２θ１になって、結局求めようとする測定試料の偏光方向（θ１）は基準軸に対してｘ゜位傾いた場合と無関係に求められるようになる。

言い換えれば、測定試料３２０を測定試料ホルダー３１０に鏡対称で挿入して測定するようになれば、第１偏光板の偏光方向が分からなくても、測定試料ホルダー３１０の基準面である基準軸だけ分かっていても、前述の測定方法によって測定試料３２０の偏光方向を求めることができるようになる。

一方、図９は本発明の実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定方法の動作流れ図である。

図５及び図９を参照すれば、本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定方法は、先ず、光源１００、第１偏光板２００及び光検出器４００を整列した後、測定試料３２０を基準軸に付いて第１方向に測定試料ホルダーに据え置きする（Ｓ１１０）。

次に、測定試料ホルダー３１０を前記第１偏光板２００及び光検出器４００の間に整列する。ここで、前記測定試料３２０は前記第１偏光板２００に対応する第２偏光板であり、前記測定試料３２０は前記第１方向及び前記第２方向にそれぞれ前記測定試料ホルダー３１０の挿入部に固定される。この時、前記第１偏光板２００の偏光方向は任意に配置されて、前記基準軸は前記測定試料ホルダー３１０の基地の基準面になる。

次に、前記測定試料ホルダー３１０を方位方向に回転させながら、光量が最小になる第１角度（Ｘ１）を測定する（Ｓ１２０）。この時、前記光量はフォト−ディテクター及び輝度係装置の何れか一つの光検出器４００を使って測定する。

次に、前記測定試料３２０を前記第１方向に鏡対称である第２方向に前記測定試料ホルダー３１０に再据え置きして（Ｓ１３０）、前記測定試料ホルダー３１０を前記第１偏光板２００及び光検出器４００ の間にまた整列する。

次に、前記測定試料ホルダー３１０を方位方向に回転させながら、光量が最小になる第２角度（Ｘ２）を測定する（Ｓ１４０）。

最後に、（Ｘ２−Ｘ１）／２を求めて、前記測定試料３２０の偏光方向を決めるようになる（Ｓ１５０）。

したがって、本発明の一つの実施形態によれば、基準になる偏光子の偏光方向が分からないとしても測定試料ホルダーの基準軸さえ分かれば測定試料の偏光方向を決めることができるようになる。

従来の技術による液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定装置の構成図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置の斜視図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶パネルの構成を概略的に示す図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光モードを示す図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光モードを示す図。 本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置の構成図。 本発明の一つの実施形態に係る偏光方向測定装置の内で測定試料ホルダーを例示する図。 それぞれ図６の測定試料ホルダーの側面図。 それぞれ図６の測定試料ホルダーの側面図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定原理を説明するための図。 本発明の一つの実施形態に係る液晶表示装置用偏光板の偏光方向測定方法の動作流れ図。

Claims (18)

1. 基準軸からの偏光方向が任意に配置される第１偏光板と、
   偏光方向を測定するための測定試料と、
   前記測定試料を第１方向及び前記第１方向に鏡対称である第２方向にそれぞれ据え置きして、前記基準軸に付いて前記測定試料を方位角方向に回転させる測定試料ホルダーと、
   前記第１偏光板及び前記測定試料をパスする光を提供する光源と、
   前記第１偏光板及び前記測定試料を経由する前記光源の光を検出するための光検出器と、
   を含む偏光方向測定装置。
2. 前記測定試料は前記第１偏光板に対応する第２偏光板であることを特徴とする、請求項１記載の偏光方向測定装置。
3. 前記測定試料の偏光方向は、前記第１方向に据え置きされた測定試料を回転させながら検出した光量が最小である第１角度（Ｘ１）と前記第２方向に据え置きされた測定試料を回転させながら検出した光量が最小である第２角度（Ｘ２）の差値（Ｘ２−Ｘ１）の１／２で求められることを特徴とする、請求項１記載の偏光方向測定装置。
4. 前記基準軸は前記測定試料ホルダーの基地の基準面であることを特徴とする、請求項１記載の偏光方向測定装置。
5. 前記測定試料ホルダーは、
   前記測定試料が据え置きされるハウジングと、
   前記ハウジングの一側面に形成されて、前記第１方向に挿入された前記測定試料を固定させる第１挿入部と、
   前記ハウジングを貫く開口部形象に形成されて、前記第１偏光板を経由して提供される光を透過させる光透過部と、
   を含む請求項１記載の偏光方向測定装置。
6. 前記第１挿入部に対称である形象として、前記第２方向に挿入された前記測定試料を固定させる第２挿入部をさらに含む請求項５記載の偏光方向測定装置。
7. 前記ハウジングの他側面に形成されて、前記ハウジングを回転させるための取手をさらに含む請求項５記載の偏光方向測定装置。
8. 前記光源はレーザー光源であることを特徴とする、請求項１記載の偏光方向測定装置。
9. 前記光検出器は、フォト−ディテクター（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｃｔｏｒ）及び輝度係装置の内の何れかひとつであることを特徴とする、請求項１記載の偏光方向測定装置。
10. ａ）光源、第１偏光板及び光検出器を整列する段階と、
    ｂ）測定試料を基準軸に付いて第１方向に測定試料ホルダーに据え置きする段階と、
    ｃ）前記測定試料ホルダーを方位方向に回転させながら、光量が最小になる第１角度（Ｘ１）を測定する段階と、
    ｄ）前記測定試料を前記第１方向に鏡対称である第２方向に前記測定試料ホルダーに再据え置きする段階と、
    ｅ）前記測定試料ホルダーを方位方向に回転させながら、光量が最小になる第２角度（Ｘ２）を測定する段階と、
    ｆ）（Ｘ２−Ｘ１）／２を求めて、前記測定試料の偏光方向を決める段階と、
    を含む偏光方向測定方法。
11. 前記測定試料は前記第１偏光板に対応する第２偏光板であることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
12. 前記ｂ）段階及びｄ）段階で前記測定試料が前記第１方向及び前記第２方向にそれぞれ前記測定試料ホルダーの挿入部に固定されることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
13. 前記ｂ）段階及びｄ）段階の測定試料ホルダーは前記第１偏光板及び光検出器の間に整列されることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
14. 前記ａ）段階の第１偏光板の偏光方向は任意に配置されることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
15. 前記ｂ）段階の基準軸は前記測定試料ホルダーの基地の基準面であることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
16. 前記光源はレーザー光源であることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
17. 前記ｂ）段階及びｄ）段階の光量は前記光検出器を通じて検出されることを特徴とする、請求項１０記載の偏光方向測定方法。
18. 前記光検出器は、フォト−ディテクター（Ｐｈｏｔｏ Ｄｅｃｔｏｒ）及び輝度係装置の内の何れかひとつであることを特徴とする、請求項１７記載の偏光方向測定方法。