JP2008009224A - Imaging system and method - Google Patents

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Masashi Kawakado
政司 川角
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging system and an imaging method that detect a contact object on a lens. <P>SOLUTION: The imaging system 10 includes at least two or more transparent conductive films 14 and 16 on a lens 12 for an optical system 216. A voltage is applied by a voltage apply part 18 in between the conductive films, simultaneously, the voltage at the conductive films is detected by a voltage detection part 20, and a change in the detection voltage related to the apply voltage is judged by a judging part 22, then, the contact object on the lens 12, for example, such a state that an operator's finger touches the lens 12 or the surface of the lens 12 is soiled with dust or oil can be detected. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、撮像システムおよび撮像方法、ならびにこれらに用いられるレンズユニットに関するものである。   The present invention relates to an imaging system, an imaging method, and a lens unit used for them.

従来から、撮像システムでは、レンズにゴミや油などの汚れが付着し、または操作者の指がかかって、レンズ上に接触物があると、撮影結果の画像にボケが発生して鮮明な画像を得ることができない。したがって、ユーザは、目視によりレンズ上の汚れの有無を確認する必要がある。   Conventionally, in an imaging system, if dirt such as dust or oil adheres to the lens, or if an operator's finger hits and there is a contact object on the lens, the image taken is blurred and a clear image is obtained. Can't get. Therefore, the user needs to confirm the presence or absence of dirt on the lens by visual inspection.

また、撮像システムでは、たとえばレンズが端に配置されている構成のものがあるが、この場合、ユーザの指がレンズにかかりやすく、また汚れも付着しやすい。
特開2002−277928号公報 特開2001−119614号公報
In addition, some imaging systems have a configuration in which, for example, a lens is disposed at an end. In this case, a user's finger is likely to be placed on the lens, and dirt is also likely to adhere.
JP 2002-277928 A JP 2001-119614

本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、撮像システムのレンズ上の接触物を検知する撮像システムおよび撮像方法、ならびにこれらに用いられるレンズユニットを提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an imaging system and an imaging method for detecting a contact object on a lens of an imaging system, and a lens unit used for the same, which eliminates the disadvantages of the prior art.

本発明は上述の課題を解決するために、レンズを含む光学系を介して入射する所望の被写界像を撮像する撮像システムは、この光学系において最も外側に配置したこのレンズの表面に、この光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜をあらかじめ形成し、これらの透明導電膜に所定の電圧を印加する電圧印加手段と、これらの透明導電膜における電圧を検出する電圧検出手段と、この電圧検出手段で検出した電圧情報を判定して、このレンズ上の接触物の有無を検知する判定手段とを含むことを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention provides an imaging system that captures a desired object scene image incident through an optical system including a lens, on the surface of the lens disposed on the outermost side of the optical system. At least two or more transparent conductive films that do not affect the optical system are formed in advance, voltage applying means for applying a predetermined voltage to these transparent conductive films, and voltage detection for detecting the voltage in these transparent conductive films And a determination means for determining the voltage information detected by the voltage detection means and detecting the presence or absence of a contact object on the lens.

また、レンズを含む光学系を介して入射する所望の被写界像を撮像する撮像システムにおける撮像方法は、この光学系において最も外側に配置したこのレンズの表面に、この光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜をあらかじめ形成して、これらの透明導電膜に所定の電圧を印加する電圧印加工程と、これらの透明導電膜における電圧を検出する電圧検出工程と、この電圧検出工程で検出した電圧情報を判定して、このレンズ上の接触物の有無を検知する判定工程とを含むことを特徴とする。   In addition, an imaging method in an imaging system that captures a desired object scene image incident through an optical system including a lens affects the optical system on the surface of the lens arranged on the outermost side in the optical system. At least two or more transparent conductive films that are not formed in advance, a voltage application step for applying a predetermined voltage to these transparent conductive films, a voltage detection step for detecting voltages in these transparent conductive films, and this voltage detection And determining the voltage information detected in the process to detect the presence or absence of a contact object on the lens.

また、撮像システムにおける光学系に設けられるレンズを含むレンズユニットは、この光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜をこのレンズの表面に形成し、これらの透明導電膜は、それぞれ端子と接続して、これらの端子は、これらの2つ以上の透明導電膜の間に所定の電圧を印加し、およびこれらの2つ以上の透明導電膜の間の電圧を検出するために用いられ、また、これらの透明導電膜は、この所定の電圧が印加されるときに、このレンズ上に接触物があると、電圧を変化させて検出させることを特徴とする。   Moreover, the lens unit including the lens provided in the optical system in the imaging system forms at least two or more transparent conductive films that do not affect the optical system on the surface of the lens. In connection with the terminals, these terminals are used to apply a predetermined voltage between these two or more transparent conductive films and to detect the voltage between these two or more transparent conductive films In addition, these transparent conductive films are characterized in that, when a predetermined voltage is applied, if there is a contact on the lens, the voltage is changed and detected.

本発明の撮像システムによれば、光学系のレンズに少なくとも2つ以上の透明導電膜を備えて、電圧印加部がこれらの導電膜に電圧を印加する一方で電圧検出部が導電膜における電圧を検出し、この電圧の変化を判定部が判定することにより、レンズ上の接触物、たとえばレンズに操作者の指が触れたこと、またはレンズ上にゴミや油などの汚れがあることを検知することができる。   According to the imaging system of the present invention, the lens of the optical system includes at least two or more transparent conductive films, and the voltage application unit applies a voltage to these conductive films, while the voltage detection unit applies the voltage in the conductive film. By detecting the voltage change, the determination unit determines that the contact object on the lens, for example, the finger of the operator touches the lens, or that the lens has dirt such as dust or oil. be able to.

また、本発明によれば、撮像システムは、判定部による接触物の有無を示す判定結果に応じて、レンズ上に汚れなどの接触物があることを操作者に対して警告することができる。   According to the present invention, the imaging system can warn the operator that there is a contact object such as dirt on the lens according to the determination result indicating the presence or absence of the contact object by the determination unit.

さらに、本発明によれば、撮像システムのレンズカバーの裏側にカバー導電体を形成して、カバー導電体とレンズ上の透明導電体とから成るコンデンサの静電容量の変化を判定することにより、レンズ上の接触物を検知することができる。   Furthermore, according to the present invention, by forming a cover conductor on the back side of the lens cover of the imaging system, by determining a change in the capacitance of the capacitor composed of the cover conductor and the transparent conductor on the lens, A contact on the lens can be detected.

次に添付図面を参照して、本発明による撮像システムの実施例を詳細に説明する。本実施例における撮像システム10は、図1に示すように、光学系に設けられたレンズ12に少なくとも2つ以上の透明導電膜14および16を備えて、電圧印加部18がこれらの導電膜に電圧を印加する一方で電圧検出部20が導電膜の電圧を検出し、その検出した電圧情報を判定部22が判定することにより、レンズ12上の接触物を検知するものである。なお、本発明の理解に直接関係のない部分は、図示を省略し、冗長な説明を避ける。   Next, an embodiment of an imaging system according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. As shown in FIG. 1, the imaging system 10 in the present embodiment includes at least two transparent conductive films 14 and 16 in a lens 12 provided in an optical system, and a voltage application unit 18 is connected to these conductive films. While the voltage is applied, the voltage detection unit 20 detects the voltage of the conductive film, and the determination unit 22 determines the detected voltage information, thereby detecting the contact object on the lens 12. Note that portions not directly related to understanding the present invention are not shown and redundant description is avoided.

本実施例の撮像システム10は、図2に示すように、シャッタボタン202、モードスイッチ204、電源206、システム制御部208、タイミング発生器210、AE(Automatic Exposure:自動露出)駆動部212およびAF(Automatic Focus:自動焦点)駆動部214により作動して、レンズ12、絞り218およびAF部220を含む光学系216、撮像素子222、前処理部224、アナログ・ディジタル変換部226、バス228、AF検出部230、AE検出部232、画像処理部234、メモリ236、圧縮処理部238、記録部240および画像表示部242を含んで構成されるが、本システム10は、この構成に限らないさまざまな撮像システムが用いられてよい。   As shown in FIG. 2, the imaging system 10 of this embodiment includes a shutter button 202, a mode switch 204, a power source 206, a system control unit 208, a timing generator 210, an AE (Automatic Exposure) driving unit 212, and an AF. (Automatic Focus) The optical system 216 including the lens 12, aperture 218 and AF unit 220, image sensor 222, pre-processing unit 224, analog / digital conversion unit 226, bus 228, AF The system 10 includes a detection unit 230, an AE detection unit 232, an image processing unit 234, a memory 236, a compression processing unit 238, a recording unit 240, and an image display unit 242, but the system 10 is not limited to this configuration. An imaging system may be used.

本実施例のレンズ12は、光学系216に設けられた多数のレンズのうちで最も外側に配置されているもので、本システム10は、操作者によるレンズ12の表面への接触や、この表面に付着したごみや油などの汚れを検知する。たとえば、図3に示すように、レンズ12が端に配置されている撮像システム10では、レンズカバー252が開いているときは、操作者の指がレンズ12にかかりやすく、また汚れやすい。   The lens 12 of the present embodiment is arranged on the outermost side among a number of lenses provided in the optical system 216. The system 10 can be used to contact the surface of the lens 12 by the operator, Detects dirt, oil, and other dirt attached to the surface. For example, as illustrated in FIG. 3, in the imaging system 10 in which the lens 12 is disposed at the end, when the lens cover 252 is open, the operator's finger is likely to be applied to the lens 12 and easily contaminated.

本実施例の透明導電膜14および16は、たとえば酸化チタン(TiO)膜などの光学系に影響を与えない透明導電膜材料で形成されるものでよい。また、透明導電膜14および16は、塗布、蒸着およびスパッタリングなどの成膜方法により、レンズ12の表面に少なくとも2つ以上成膜される。透明導電膜14および16は、これらの材料に限らず、さまざまな透明導電膜材料で形成されてよく、またこれらの方法に限らず、さまざまな成膜方法で形成されてよい。   The transparent conductive films 14 and 16 of the present embodiment may be formed of a transparent conductive film material that does not affect the optical system, such as a titanium oxide (TiO) film. Further, at least two transparent conductive films 14 and 16 are formed on the surface of the lens 12 by a film forming method such as coating, vapor deposition, and sputtering. The transparent conductive films 14 and 16 are not limited to these materials, and may be formed of various transparent conductive film materials, and are not limited to these methods, and may be formed by various film forming methods.

透明導電膜14および16は、レンズ12上のいずれの位置に接触物がある場合でも検知できるように配置され、たとえば少なくとも一方の膜14をレンズ12の外周近辺に、また他方の膜16をレンズ12の中心付近に形成する。   The transparent conductive films 14 and 16 are arranged so as to be able to detect when there is a contact object at any position on the lens 12, for example, at least one of the films 14 is near the outer periphery of the lens 12 and the other film 16 is the lens. Formed near the center of 12.

また、電圧印加部18は、透明導電膜14および16の間に所定の交流電圧102を印加するもので、判定部22と接続して印加電圧値104を知らせることもできる。電圧印加部18は、本システム10の電源206からの供給電圧に応じて印加電圧102を発生させるものでよい。   The voltage application unit 18 applies a predetermined AC voltage 102 between the transparent conductive films 14 and 16, and can be connected to the determination unit 22 to notify the applied voltage value 104. The voltage application unit 18 may generate the applied voltage 102 in accordance with the supply voltage from the power source 206 of the system 10.

電圧検出部20は、透明導電膜16および電圧印加部18の間に配置された抵抗24における電圧値106を測定して、導電膜14および16の間のインピーダンスの変化による電圧変化を示す電圧情報108を検出するもので、その電圧情報108を判定部22に供給する。この検出部20は、電圧値106をアナログ・ディジタル変換してから電圧情報108を生成するとよい。   The voltage detector 20 measures the voltage value 106 in the resistor 24 disposed between the transparent conductive film 16 and the voltage application unit 18, and indicates voltage information indicating a voltage change due to a change in impedance between the conductive films 14 and 16. The voltage information 108 is supplied to the determination unit 22. The detection unit 20 may generate the voltage information 108 after analog / digital conversion of the voltage value 106.

判定部22は、電圧検出部20からの電圧情報108が示す電圧の変化を判定し、たとえば電圧印加部18からの印加電圧値104に対する電圧情報108の変化率を判定することにより、レンズ12上の接触物の有無を検知する。また、判定部22は、本システム10のシステム制御部208に含まれるものでよく、この制御部208が有する中央演算処理装置(Central Processing Unit:CPU)により動作するとよい。   The determination unit 22 determines a change in voltage indicated by the voltage information 108 from the voltage detection unit 20, for example, by determining a change rate of the voltage information 108 with respect to the applied voltage value 104 from the voltage application unit 18, thereby Detect the presence or absence of contact objects. The determination unit 22 may be included in the system control unit 208 of the system 10, and may be operated by a central processing unit (CPU) included in the control unit 208.

この判定部22は、たとえば、印加電圧値104および電圧情報108の電圧または電流の位相を比較して、その位相差が所定の比較値よりも小さい場合に接触物なしと判定し、それ以外の場合に接触物ありと判定する。   For example, the determination unit 22 compares the phase of the voltage or current of the applied voltage value 104 and the voltage information 108 and determines that there is no contact object when the phase difference is smaller than a predetermined comparison value. In the case, it is determined that there is a contact object.

また、本システム10は、警告機能を有して、判定部22による判定結果に応じて、レンズ12の表面に接触物があることを操作者に警告することができる。本システム10は、警告機能として、ブザーなどの警告音を発し、または画面表示部242へ警告表示するとよい。   Further, the system 10 has a warning function, and can warn the operator that there is a contact object on the surface of the lens 12 according to the determination result by the determination unit 22. The system 10 may emit a warning sound such as a buzzer or display a warning on the screen display unit 242 as a warning function.

さらに、本システム10は、判定部22による判定結果が接触物ありの場合に、自動的にレンズを洗浄する機能、またはシャッタを作動不可にして撮像を開始させない機能を有してもよい。   Further, the system 10 may have a function of automatically cleaning the lens or a function of not starting imaging by disabling the shutter when the determination result by the determination unit 22 is a contact object.

また、本実施例では、レンズ12ならびに透明導電膜14および16からなるレンズユニットが、電圧印加部18、電圧検出部20、判定部22および抵抗24からなる回路部分から独立して構成されてよい。たとえば、このレンズユニットは、導電膜14および16とそれぞれ接続する端子を有して、これらの端子は、回路部分に備わるコネクタ26と接続して電圧印加および電圧検出を可能とするように構成される。   In the present embodiment, the lens unit including the lens 12 and the transparent conductive films 14 and 16 may be configured independently of the circuit portion including the voltage application unit 18, the voltage detection unit 20, the determination unit 22, and the resistor 24. . For example, this lens unit has terminals connected to the conductive films 14 and 16, respectively, and these terminals are configured to be connected to a connector 26 provided in the circuit portion to enable voltage application and voltage detection. The

次に、本実施例の撮像システム10においてレンズ上の接触物を検知する動作を、図5のフローチャートを参照しながら説明する。   Next, the operation of detecting a contact object on the lens in the imaging system 10 of the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.

本システム10では、まず、電圧印加部18により、所定の交流電圧102が透明導電膜14および16の間に印加される(ステップS122)。この印加電圧値104は、判定部22にも通知される。   In the present system 10, first, a predetermined AC voltage 102 is applied between the transparent conductive films 14 and 16 by the voltage application unit 18 (step S122). The applied voltage value 104 is also notified to the determination unit 22.

その一方で、本システム10では、電圧検出部20において、透明導電膜14および16の間の電圧値が検出される(ステップS124)。このとき、本実施例では、抵抗24における電圧値106が測定され、アナログ・ディジタル変換などの処理が施されて電圧情報108が検出される。この電圧情報108は、判定部22に供給される。   On the other hand, in the present system 10, the voltage detection unit 20 detects the voltage value between the transparent conductive films 14 and 16 (step S124). At this time, in this embodiment, the voltage value 106 at the resistor 24 is measured, and processing such as analog / digital conversion is performed to detect the voltage information 108. This voltage information 108 is supplied to the determination unit 22.

次に、ステップS126に進み、判定部22において、印加電圧値104および電圧情報108の電圧または電流の位相が比較されて判定される。ここで、その位相差が所定の比較値よりも小さい場合には、レンズ12上の接触物なしと判定されて、たとえばステップS124に戻ってレンズ接触物検知が繰り返され、それ以外の場合にはレンズ12上の接触物ありと判定される(ステップS128)。   Next, the process proceeds to step S126, where the determination unit 22 compares the applied voltage value 104 and the phase of the voltage or current of the voltage information 108 to determine. Here, when the phase difference is smaller than a predetermined comparison value, it is determined that there is no contact object on the lens 12, and for example, the lens contact object detection is repeated by returning to step S124. It is determined that there is a contact on the lens 12 (step S128).

ステップS128において、レンズ12上の接触物ありと判定された場合には、たとえばステップS130に進み、判定部22による判定結果に応じて、本システム10の警告機能が実行され、操作者に対してレンズ上に接触物がある旨の警告が行われる。   If it is determined in step S128 that there is a contact object on the lens 12, for example, the process proceeds to step S130, and the warning function of the present system 10 is executed according to the determination result by the determination unit 22 to the operator. A warning is made that there is a contact on the lens.

他の実施例として、本システム10における透明導電膜14および16は、図6に示すように、レンズ12の表面において互いに重ならない放射状に形成されて、レンズ12の外周近辺の導電膜14がレンズ12の中心に向かい、レンズ12の中心付近の導電膜16がレンズ12の外周に向かうように形成されてもよい。   As another example, the transparent conductive films 14 and 16 in the present system 10 are formed in a radial pattern so as not to overlap each other on the surface of the lens 12 as shown in FIG. The conductive film 16 near the center of the lens 12 may be formed toward the center of the lens 12 and toward the outer periphery of the lens 12.

また、他の実施例として、本システム10における透明導電膜14および16は、図7に示すように、レンズ12の表面において互いに重ならない螺旋状に形成されて、レンズ12の外周近辺の導電膜14がレンズ12の中心に向かい、レンズ12の中心付近の導電膜16がレンズ12の外周に向かうように形成されてもよい。図7では、導電膜14および16は、実質的に複数の円状の曲線で構成され、それぞれの円が半径を異にしているが、徐々に半径を変える渦巻状に形成されてもよい。   As another embodiment, the transparent conductive films 14 and 16 in the present system 10 are formed in a spiral shape so as not to overlap each other on the surface of the lens 12 as shown in FIG. The conductive film 16 near the center of the lens 12 may be formed toward the outer periphery of the lens 12. In FIG. 7, the conductive films 14 and 16 are substantially composed of a plurality of circular curves, and each circle has a different radius. However, the conductive films 14 and 16 may be formed in a spiral shape that gradually changes the radius.

さらに、他の実施例として、本システム10は、透明導電膜14および16をレンズ12の表面に形成するだけでなく、図3および図4に示すように本システム10のレンズカバー252の裏側に導電体256を形成して、カバー導電体256は、レンズカバー252が閉じたときに、図8に示すように、レンズ上透明導電膜14および16の表面と所定の距離を置いて対向するように形成される。   Furthermore, as another example, the present system 10 not only forms the transparent conductive films 14 and 16 on the surface of the lens 12, but also on the back side of the lens cover 252 of the present system 10 as shown in FIGS. The conductor 256 is formed so that when the lens cover 252 is closed, the cover conductor 256 faces the surfaces of the on-lens transparent conductive films 14 and 16 with a predetermined distance, as shown in FIG. Formed.

カバー導電体256は、少なくともレンズ上透明導電膜14および16の表面の範囲を包含する形状のもので、レンズ12の外側表面と同じ形状のものでよい。カバー導電体256は、透明導電膜で形成されてもよいが、透明でない他のいずれの導電体が用いられてもよい。   The cover conductor 256 has a shape that includes at least the range of the surfaces of the on-lens transparent conductive films 14 and 16, and may have the same shape as the outer surface of the lens 12. The cover conductor 256 may be formed of a transparent conductive film, but any other non-transparent conductor may be used.

カバー導電体256と、レンズ上透明導電膜14および16とは、所定の距離に応じた静電容量を有するコンデンサを形成するが、レンズ12上に接触物があるとこの静電容量が変化するので、判定部22にてこの静電容量の変化を判定してレンズ12の接触物の有無を検知する。   The cover conductor 256 and the on-lens transparent conductive films 14 and 16 form a capacitor having a capacitance according to a predetermined distance. However, if there is a contact on the lens 12, the capacitance changes. Therefore, the determination unit 22 determines the change in the capacitance and detects the presence or absence of the contact object of the lens 12.

本発明に係る撮像システムの一実施例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows one Example of the imaging system which concerns on this invention. 図1に示す実施例の撮像システムを詳細に示すブロック図である。It is a block diagram which shows the imaging system of the Example shown in FIG. 1 in detail. 図1に示す実施例の撮像システムの外観を示す図である。It is a figure which shows the external appearance of the imaging system of the Example shown in FIG. 図1に示す実施例の撮像システムの外観を示す図である。It is a figure which shows the external appearance of the imaging system of the Example shown in FIG. 図1に示す実施例の撮像システムの動作手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the operation | movement procedure of the imaging system of the Example shown in FIG. 本発明に係る撮像システムの透明導電膜の他の形成例を示す図である。It is a figure which shows the other example of formation of the transparent conductive film of the imaging system which concerns on this invention. 本発明に係る撮像システムの透明導電膜の他の形成例を示す図である。It is a figure which shows the other example of formation of the transparent conductive film of the imaging system which concerns on this invention. 本発明に係る撮像システムの透明導電膜の他の形成例を示す図である。It is a figure which shows the other example of formation of the transparent conductive film of the imaging system which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 撮像システム
12 レンズ
14、16 透明導電膜
18 電圧印加部
20 電圧検出部
22 判定部
24 抵抗
26 コネクタ
10 Imaging system
12 Lens
14, 16 Transparent conductive film
18 Voltage application section
20 Voltage detector
22 Judgment part
24 resistance
26 Connector

Claims (23)

レンズを含む光学系を介して入射する所望の被写界像を撮像する撮像システムにおいて、該システムは、
前記光学系において最も外側に配置した前記レンズの表面に、前記光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜をあらかじめ形成し、
前記透明導電膜に所定の電圧を印加する電圧印加手段と、
前記透明導電膜における電圧を検出する電圧検出手段と、
該電圧検出手段で検出した電圧情報を判定して、前記レンズ上の接触物の有無を検知する判定手段とを含むことを特徴とする撮像システム。
In an imaging system that captures a desired object scene image incident through an optical system including a lens, the system includes:
At least two or more transparent conductive films that do not affect the optical system are formed in advance on the surface of the lens arranged on the outermost side in the optical system,
Voltage applying means for applying a predetermined voltage to the transparent conductive film;
Voltage detecting means for detecting a voltage in the transparent conductive film;
An imaging system comprising: determination means for determining voltage information detected by the voltage detection means and detecting the presence or absence of a contact object on the lens.
請求項1に記載の撮像システムにおいて、前記透明導電膜は、酸化チタン膜であることを特徴とする撮像システム。   The imaging system according to claim 1, wherein the transparent conductive film is a titanium oxide film. 請求項1に記載の撮像システムにおいて、該システムは、前記2つ以上の透明導電膜のうち、第1の透明導電膜が前記レンズの外周近辺に形成され、第2の透明導電膜が前記レンズの中心付近に形成されることを特徴とする撮像システム。   2. The imaging system according to claim 1, wherein among the two or more transparent conductive films, the system includes a first transparent conductive film formed near an outer periphery of the lens, and a second transparent conductive film serving as the lens. An imaging system characterized by being formed in the vicinity of the center. 請求項3に記載の撮像システムにおいて、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない放射状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とする撮像システム。   4. The imaging system according to claim 3, wherein the two or more transparent conductive films are radially formed on the surface of the lens so as not to overlap each other, the first transparent conductive film faces the center of the lens, An imaging system, wherein a transparent conductive film is formed so as to face an outer periphery of the lens. 請求項3に記載の撮像システムにおいて、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない螺旋状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とする撮像システム。   4. The imaging system according to claim 3, wherein the two or more transparent conductive films are formed in a spiral shape so as not to overlap each other on the surface of the lens, the first transparent conductive film faces the center of the lens, and the second The transparent conductive film is formed so as to face the outer periphery of the lens. 請求項1に記載の撮像システムにおいて、前記電圧検出手段は、前記透明導電膜と前記電圧印加手段との間に配置した抵抗における電圧を測定して前記電圧情報を生成することを特徴とする撮像システム。   The imaging system according to claim 1, wherein the voltage detection unit generates the voltage information by measuring a voltage at a resistor arranged between the transparent conductive film and the voltage application unit. system. 請求項1に記載の撮像システムにおいて、前記判定手段は、前記所定の電圧および前記電圧情報の示す電圧または電流の位相を比較し、その位相差が所定の比較値よりも小さい場合には前記レンズ上に接触物がないと判定し、それ以外の場合に接触物があると判定することを特徴とする撮像システム。   2. The imaging system according to claim 1, wherein the determination unit compares the phase of the predetermined voltage and the voltage or current indicated by the voltage information, and if the phase difference is smaller than a predetermined comparison value, the lens. An imaging system characterized by determining that there is no contact object on the top and determining that there is a contact object in other cases. 請求項1に記載の撮像システムにおいて、該システムは、前記レンズを保護するレンズカバーを有し、
該レンズカバーは、その裏側に導電体を形成して、
該導電体は、前記レンズカバーが閉じたときに、前記透明導電膜の表面と所定の距離を置いて対向するように形成され、
前記判定手段は、前記導電体および前記透明導電膜の間の静電容量の変化を判定し、その変化に応じて前記レンズ上の接触物の有無を検知することを特徴とする撮像システム。
The imaging system according to claim 1, wherein the system includes a lens cover for protecting the lens,
The lens cover is formed with a conductor on the back side,
The conductor is formed to face the surface of the transparent conductive film at a predetermined distance when the lens cover is closed,
The determination unit determines a change in capacitance between the conductor and the transparent conductive film, and detects the presence or absence of a contact object on the lens according to the change.
請求項1に記載の撮像システムにおいて、該システムは、前記レンズ上に接触物がある旨の警告を発する警告手段を含み、
該警告手段は、前記判定手段による判定結果に応じて前記警告を発することを特徴とする撮像システム。
The imaging system according to claim 1, wherein the system includes warning means for issuing a warning that there is a contact object on the lens,
The imaging system according to claim 1, wherein the warning unit issues the warning according to a determination result by the determination unit.
レンズを含む光学系を介して入射する所望の被写界像を撮像する撮像システムにおける撮像方法において、該方法は、
前記光学系において最も外側に配置した前記レンズの表面に、前記光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜をあらかじめ形成して、
前記透明導電膜に所定の電圧を印加する電圧印加工程と、
前記透明導電膜における電圧を検出する電圧検出工程と、
該電圧検出工程で検出した電圧情報を判定して、前記レンズ上の接触物の有無を検知する判定工程とを含むことを特徴とする撮像方法。
In an imaging method in an imaging system for imaging a desired object scene image incident through an optical system including a lens, the method includes:
On the surface of the lens arranged on the outermost side in the optical system, at least two or more transparent conductive films that do not affect the optical system are formed in advance,
A voltage applying step of applying a predetermined voltage to the transparent conductive film;
A voltage detection step of detecting a voltage in the transparent conductive film;
And a determination step of determining presence or absence of a contact object on the lens by determining voltage information detected in the voltage detection step.
請求項10に記載の撮像方法において、前記透明導電膜は、酸化チタン膜であることを特徴とする撮像方法。   The imaging method according to claim 10, wherein the transparent conductive film is a titanium oxide film. 請求項10に記載の撮像方法において、該方法は、前記2つ以上の透明導電膜のうち、第1の透明導電膜が前記レンズの外周近辺に形成され、第2の透明導電膜が前記レンズの中心付近に形成されることを特徴とする撮像方法。   11. The imaging method according to claim 10, wherein, of the two or more transparent conductive films, the first transparent conductive film is formed near an outer periphery of the lens, and the second transparent conductive film is the lens. An imaging method characterized by being formed near the center of the image. 請求項12に記載の撮像方法において、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない放射状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とする撮像方法。   13. The imaging method according to claim 12, wherein the two or more transparent conductive films are formed in a radial pattern so as not to overlap each other on the surface of the lens, and the first transparent conductive film faces the center of the lens, An imaging method, wherein the transparent conductive film is formed so as to face an outer periphery of the lens. 請求項12に記載の撮像方法において、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない螺旋状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とする撮像方法。   13. The imaging method according to claim 12, wherein the two or more transparent conductive films are formed in a spiral shape so as not to overlap each other on the surface of the lens, the first transparent conductive film faces the center of the lens, and the second The transparent conductive film is formed so as to face the outer periphery of the lens. 請求項10に記載の撮像方法において、前記電圧検出工程は、前記透明導電膜と接続して配置された抵抗における電圧を測定して前記電圧情報を生成することを特徴とする撮像方法。   The imaging method according to claim 10, wherein in the voltage detection step, the voltage information is generated by measuring a voltage at a resistor arranged in connection with the transparent conductive film. 請求項10に記載の撮像方法において、前記判定工程は、前記所定の電圧および前記電圧情報の示す電圧または電流の位相を比較し、その位相差が所定の比較値よりも小さい場合には前記レンズ上に接触物がないと判定し、それ以外の場合に接触物があると判定することを特徴とする撮像方法。   The imaging method according to claim 10, wherein the determination step compares the phase of the predetermined voltage and the voltage or current indicated by the voltage information, and the lens has a phase difference smaller than a predetermined comparison value. An imaging method characterized by determining that there is no contact object on the top and determining that there is a contact object in other cases. 請求項10に記載の撮像方法において、該方法は、
前記レンズを保護するレンズカバーの裏側に導電体をあらかじめ形成して、
該導電体は、前記レンズカバーが閉じたときに、前記透明導電膜の表面と所定の距離を置いて対向するように形成され、
前記判定工程は、前記導電体および前記透明導電膜の間の静電容量の変化を判定し、その変化に応じて前記レンズ上の接触物の有無を検知することを特徴とする撮像方法。
The imaging method according to claim 10, wherein the method comprises:
Forming a conductor in advance on the back side of the lens cover that protects the lens,
The conductor is formed to face the surface of the transparent conductive film at a predetermined distance when the lens cover is closed,
In the imaging method, the determination step determines a change in electrostatic capacitance between the conductor and the transparent conductive film, and detects presence or absence of a contact object on the lens according to the change.
請求項10に記載の撮像方法において、該方法は、前記レンズ上に接触物がある旨の警告を発する警告工程を含み、
該警告工程は、前記判定工程による判定結果に応じて前記警告を発することを特徴とする撮像方法。
The imaging method according to claim 10, further comprising a warning step of issuing a warning that there is a contact object on the lens,
The imaging method according to claim 1, wherein the warning step issues the warning according to a determination result of the determination step.
撮像システムにおける光学系に設けられるレンズを含むレンズユニットにおいて、該ユニットは、
前記光学系に影響を与えない少なくとも2つ以上の透明導電膜を前記レンズの表面に形成し、
該透明導電膜は、それぞれ端子と接続して、これらの端子は、前記2つ以上の透明導電膜の間に所定の電圧を印加し、および前記2つ以上の透明導電膜の間の電圧を検出するために用いられ、
また、前記透明導電膜は、前記所定の電圧が印加されるときに、前記レンズ上に接触物があると、電圧を変化させて検出させることを特徴とするレンズユニット。
In a lens unit including a lens provided in an optical system in an imaging system, the unit includes:
Forming at least two transparent conductive films that do not affect the optical system on the surface of the lens;
Each of the transparent conductive films is connected to a terminal, and these terminals apply a predetermined voltage between the two or more transparent conductive films, and a voltage between the two or more transparent conductive films. Used to detect,
The transparent conductive film may be detected by changing the voltage when there is a contact on the lens when the predetermined voltage is applied.
請求項19に記載のレンズユニットにおいて、前記透明導電膜は、酸化チタン膜であることを特徴とするレンズユニット。   The lens unit according to claim 19, wherein the transparent conductive film is a titanium oxide film. 請求項19に記載のレンズユニットにおいて、該ユニットは、前記2つ以上の透明導電膜のうち、第1の透明導電膜が前記レンズの外周近辺に形成され、第2の透明導電膜が前記レンズの中心付近に形成されることを特徴とするレンズユニット。   20. The lens unit according to claim 19, wherein among the two or more transparent conductive films, the unit has a first transparent conductive film formed in the vicinity of an outer periphery of the lens, and the second transparent conductive film is the lens. A lens unit formed near the center of the lens. 請求項21に記載のレンズユニットにおいて、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない放射状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とするレンズユニット。   The lens unit according to claim 21, wherein the two or more transparent conductive films are formed in a radial shape so as not to overlap each other on the surface of the lens, and the first transparent conductive film faces the center of the lens, A lens unit, wherein the transparent conductive film is formed so as to face the outer periphery of the lens. 請求項21に記載のレンズユニットにおいて、前記2つ以上の透明導電膜は、前記レンズの表面において互いに重ならない螺旋状に形成され、第1の透明導電膜が前記レンズの中心に向かい、第2の透明導電膜が前記レンズの外周に向かうように形成されることを特徴とするレンズユニット。

23. The lens unit according to claim 21, wherein the two or more transparent conductive films are formed in a spiral shape that does not overlap each other on the surface of the lens, the first transparent conductive film faces the center of the lens, and the second The transparent conductive film is formed so as to face the outer periphery of the lens.

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