JP2008004219A - Optical pickup device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such a problem that in an optical pickup device mounting a frame laser, in spite of that dustproof for a semiconductor laser device is especially important, dustproof of a whole optical system is very hard, also when dustproof is performed for only the semiconductor laser device part, it becomes expensive, therefore, an appropriate dustproof method is not obtained. <P>SOLUTION: A laser mounting member 11 is constituted so as to seal the semiconductor laser device 10 for dustproof. Also, an outgoing opening 47 of a laser beam generated by the semiconductor laser device 10 is constituted so as to seal by a grating 21 being an optical element. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、フレームタイプの半導体レーザ装置を備えた光ピックアップ装置に関するものである。   The present invention relates to an optical pickup device including a frame type semiconductor laser device.

CDあるいはDVD等の円盤状の光記録媒体の記録再生に用いられる光ピックアップ装置では、その光源に半導体レーザ装置が用いられている。   A semiconductor laser device is used as a light source in an optical pickup device used for recording and reproduction of a disk-shaped optical recording medium such as a CD or a DVD.

半導体レーザ装置にはいくつかの形状があるが、従来、CANタイプまたはステムタイプと呼ばれるものが多く使用されてきた。これは半導体レーザチップを金属製のステム上に搭載し、出射面にガラス窓を備えた円筒形の金属キャップで封止したものである。   There are several shapes of semiconductor laser devices, but conventionally, a so-called CAN type or stem type has been often used. This is a semiconductor laser chip mounted on a metal stem and sealed with a cylindrical metal cap having a glass window on the exit surface.

一方、近年これらの機器に対するコストダウンの目的から、フレームタイプと呼ばれる半導体レーザ装置もよく用いられる。これは半導体レーザチップを板状の金属フレームの上面に搭載し、かつ、この金属フレームの上の半導体レーザチップを囲むように樹脂がアウトサート成形されたものであり、ガラス窓や密封構造をもたないため価格が安いという特徴をもつ。   On the other hand, in recent years, a semiconductor laser device called a frame type is often used for the purpose of cost reduction for these devices. This is a semiconductor laser chip mounted on the upper surface of a plate-shaped metal frame, and resin is outsert-molded to surround the semiconductor laser chip on the metal frame, and has a glass window and a sealing structure. It has the feature that the price is low because it is not.

CANタイプの半導体レーザ装置では、半導体レーザチップは完全に密閉された容器に入れられている。このため、CANタイプの半導体レーザ装置では、半導体レーザチップそのものに埃が付着することは無い。もちろん出射面のガラス窓には埃が付着するが、ガラス窓の位置では出射光は数百μmの直径となるため多少の埃は問題にならない。また、光ピックアップ中のレーザ光も、ある半径を持っているため、多少の埃はそれ程問題にはならない。   In a CAN type semiconductor laser device, the semiconductor laser chip is placed in a completely sealed container. For this reason, in the CAN type semiconductor laser device, dust does not adhere to the semiconductor laser chip itself. Of course, dust adheres to the glass window on the exit surface, but since the exit light has a diameter of several hundred μm at the position of the glass window, some dust is not a problem. Further, since the laser light in the optical pickup also has a certain radius, some dust does not matter so much.

一方、フレームタイプの半導体レーザ装置の場合、半導体レーザチップはほとんど剥き出しの状態であるため、半導体レーザチップに容易に埃が付着する。半導体レーザチップの端面では出射光は非常に微小な点であるため、僅かな埃の付着でも出射光に大きな影響を与える可能性がある。このように、フレームタイプの半導体レーザ装置の場合、半導体レーザ装置の防塵は非常に重要である。   On the other hand, in the case of a frame type semiconductor laser device, since the semiconductor laser chip is almost bare, dust easily adheres to the semiconductor laser chip. Since the emitted light is a very small point on the end face of the semiconductor laser chip, even a slight amount of dust may greatly affect the emitted light. Thus, in the case of a frame type semiconductor laser device, the dust prevention of the semiconductor laser device is very important.

このような問題点に対し、たとえば、特許文献1では、半導体レーザ装置は半導体レーザチップのある側が下側になるように取り付けられている。この方法では半導体レーザチップ部分は光ピックアップ装置のレーザ搭載部に大部分覆われ、防塵の点で有利である。   With respect to such problems, for example, in Patent Document 1, the semiconductor laser device is attached so that the side on which the semiconductor laser chip is located is on the lower side. In this method, the semiconductor laser chip portion is mostly covered by the laser mounting portion of the optical pickup device, which is advantageous in terms of dust prevention.

しかしながら、この方法では十分とはいえない。これは以下の理由による。   However, this method is not sufficient. This is due to the following reason.

特許文献1では大部分はレーザ搭載部に覆われているが、レーザ光が出射する部分は光ピックアップの内部に対して開いている。これは出射されるレーザ光をさえぎったり影響を与えたりしないためである。光ピックアップの内部にはプリズム、レンズ、回折格子等の光学素子が配置されているため、防塵に配慮した構成になってはいる。しかし、このような光学系は、大抵の場合、複数の、調整のための可動部が存在する。この可動部は外部から調整されるため、調整のための治具類が入るための開口部を持つか、または可動部が外部に設けられ、可動量確保のため、光学系を被う筐体との間にすきまがある構造とするかのどちらかにならざるを得ない。このため光学系全体を完全に密閉することは非常に困難であり、半導体レーザ装置のレーザ光が出射する部分が光ピックアップの内部に対して開いている構造では防塵は不十分である。   In Patent Document 1, the majority is covered by the laser mounting portion, but the portion from which the laser beam is emitted is open to the inside of the optical pickup. This is because the emitted laser beam is not blocked or affected. Since optical elements such as prisms, lenses, and diffraction gratings are arranged inside the optical pickup, the structure is designed in consideration of dust prevention. However, such an optical system usually has a plurality of movable parts for adjustment. Since this movable part is adjusted from the outside, it has an opening for receiving jigs for adjustment, or the movable part is provided outside and covers the optical system to secure the movable amount It must be either a structure with a gap between them. For this reason, it is very difficult to completely seal the entire optical system, and dust prevention is insufficient in a structure in which the laser light emitting portion of the semiconductor laser device is open to the inside of the optical pickup.

このように、従来の方法は、防塵に関しては不十分で、これに対する解決策についても何ら記述がない。   Thus, the conventional method is insufficient with respect to dust prevention, and there is no description about a solution to this.

また、埃の影響を受けやすいのは前述のように半導体レーザ装置であるので、この部分だけに対して十分な防塵を設けようとすると、必然的にレーザ光が出射する部分を透明な部材でカバーしなければならない。光ピックアップ装置におけるレーザ光は、ディスク記録面上で非常に微小な点に集光する等の必要から、その波面は精度よく揃っていなければならない。このため、この透明な部材は単なる防塵カバーであるにもかかわらず波面収差が非常に小さなものが必要で、高価なものになってしまう。
特開2005−190520号公報
In addition, as described above, the semiconductor laser device is easily affected by dust. Therefore, if sufficient dust prevention is provided for only this portion, the portion where the laser beam is emitted is inevitably made of a transparent member. Must be covered. Since the laser beam in the optical pickup device needs to be focused on a very small point on the disk recording surface, the wavefronts must be accurately aligned. For this reason, this transparent member is a simple dust-proof cover, but requires a very small wavefront aberration, and becomes expensive.
JP 2005-190520 A

本発明が解決しようとする問題点は、フレームレーザを搭載した光ピックアップ装置では半導体レーザ装置に対する防塵が特に重要であるにもかかわらず、光学系全体の防塵は非常に困難で、また、半導体レーザ装置部分だけを十分に防塵しようとすると高価になり、適切な防塵方法が無いという点である。   The problem to be solved by the present invention is that, in an optical pickup device equipped with a frame laser, it is very difficult to protect the entire optical system even though dust protection is particularly important for the semiconductor laser device. It is expensive to attempt to sufficiently protect only the device portion, and there is no appropriate dust prevention method.

本発明の光ピックアップ装置は、上記課題を解決するために、レーザ搭載部材は防塵のため、半導体レーザ装置を密閉するように構成され、また、半導体レーザ装置が発生するレーザ光の出射口は光学素子によって密閉されるように構成したことを最も主要な特徴とする。   In order to solve the above problems, the optical pickup device of the present invention is configured so that the laser mounting member is sealed to prevent dust, and the semiconductor laser device is hermetically sealed. The main feature is that it is configured to be sealed by the element.

本発明の光ピックアップ装置は、レーザ搭載部材は防塵のため、半導体レーザ装置を密閉するように構成され、また、半導体レーザ装置が発生するレーザ光の出射口は光学素子によって密閉されるように構成されているため、半導体レーザ装置は完全に密閉することができ、十分な防塵効果を持つ、フレームレーザを搭載した光ピックアップ装置を得ることができ、コストも安価である、という利点を有する。   The optical pickup device of the present invention is configured so that the laser mounting member is sealed to prevent dust, and the semiconductor laser device is hermetically sealed, and the laser light emission port generated by the semiconductor laser device is sealed by an optical element. Therefore, the semiconductor laser device can be completely sealed, and an optical pickup device equipped with a frame laser having a sufficient dust-proofing effect can be obtained, and the cost is low.

本発明は、上面側に半導体レーザチップが搭載された金属フレームと、前記金属フレームの上面の、前記半導体レーザチップが搭載された素子搭載部分を囲むように当該金属フレームの上面から下面に跨って成形された樹脂部とを有する半導体レーザ装置と、円盤状記録媒体に対して情報を記録、または再生するために前記半導体レーザ装置が発生するレーザ光が透過する光学素子と、前記半導体レーザ装置が搭載されるレーザ搭載部材とを備え、前記レーザ搭載部材は、防塵のため、前記半導体レーザ装置を密閉するように構成され、前記半導体レーザ装置が発生する前記レーザ光の出射口は、前記光学素子によって密閉されていることを特徴とする。   The present invention extends from the upper surface of the metal frame to the lower surface so as to surround a metal frame having a semiconductor laser chip mounted on the upper surface side and an element mounting portion of the upper surface of the metal frame on which the semiconductor laser chip is mounted. A semiconductor laser device having a molded resin portion, an optical element through which a laser beam generated by the semiconductor laser device passes to record or reproduce information on a disk-shaped recording medium, and the semiconductor laser device A laser mounting member to be mounted, wherein the laser mounting member is configured to hermetically seal the semiconductor laser device for dust prevention, and the laser light emitting port generated by the semiconductor laser device includes the optical element. It is sealed by.

また、前記レーザ搭載部材は、独立した部材として設けられていてもよい。   The laser mounting member may be provided as an independent member.

また、前記レーザ光の前記出射口を密閉する前記光学素子は、前記レーザ搭載部材に対し、移動可能に構成されていてもよい。   In addition, the optical element that seals the laser light emission port may be configured to be movable with respect to the laser mounting member.

また、前記半導体レーザ装置に対する電気的な接続を行うための電気接続部材を更に備え、前記電気接続部材は前記半導体レーザ装置を密閉するための部材の一部として構成されていてもよい。   Further, an electrical connection member for performing electrical connection to the semiconductor laser device may be further provided, and the electrical connection member may be configured as a part of a member for sealing the semiconductor laser device.

半導体レーザ装置の発生する熱を前記レーザ搭載部材に伝達するように構成されていてもよい。   The heat generated by the semiconductor laser device may be transmitted to the laser mounting member.

これらにより、十分な防塵効果を持つ、フレームレーザを搭載した光ピックアップ装置を安価なコストで実現した。   As a result, an optical pickup device equipped with a frame laser having a sufficient dustproof effect was realized at low cost.

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
本実施の形態による光ピックアップ装置は、DVD、CDの各ディスクの再生が可能であると共に、DVD−R,DVD−RW,DVD−RAM、CD−R、CD−RW等、各ディスクへの記録が可能なものである。尚、本発明の応用はこれに限られるものではないことは言うまでもない。
(Embodiment 1)
The optical pickup device according to the present embodiment can reproduce each disk of DVD and CD, and can record on each disk such as DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, CD-R, and CD-RW. Is possible. Needless to say, the application of the present invention is not limited to this.

図1は、本発明の実施の形態による光ピックアップ装置の構成を示す斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of an optical pickup device according to an embodiment of the present invention.

図1において、1は光学台、2は放熱板、3は主軸軸受、4は副軸軸受、5は基板、6は対物レンズ、7はレンズアクチュエータである。   In FIG. 1, 1 is an optical stand, 2 is a heat sink, 3 is a main shaft bearing, 4 is a countershaft bearing, 5 is a substrate, 6 is an objective lens, and 7 is a lens actuator.

また、図2は本発明の実施の形態による光ピックアップ装置の基板5、レンズアクチュエータ7、放熱板2、及び後述するレーザFPCを省いた状態を示す斜視図であり、図2(a)は斜め上方から見た斜視図で、図2(b)は斜め下方から見た図である。なお、図1と図2(a)の斜視方向は180度反転している。   2 is a perspective view showing a state in which the substrate 5, the lens actuator 7, the heat radiating plate 2, and a laser FPC (to be described later) of the optical pickup device according to the embodiment of the present invention are omitted, and FIG. FIG. 2B is a perspective view seen from above, and FIG. 2B is a view seen obliquely from below. In addition, the perspective direction of FIG. 1 and FIG. 2 (a) is reversed 180 degree | times.

図2において、10は半導体レーザ装置、11はレーザ搭載部材、14はPBS、15はコリメートレンズ、16は立ち上げミラー、17はFPBS、18はデテクタ、19は検出レンズ、20は前光モニタ、21はグレーティングである。   In FIG. 2, 10 is a semiconductor laser device, 11 is a laser mounting member, 14 is PBS, 15 is a collimating lens, 16 is a rising mirror, 17 is FPBS, 18 is a detector, 19 is a detection lens, 20 is a front light monitor, 21 is a grating.

半導体レーザ装置10はいわゆるフレームタイプで、この外形的特徴については後述する。これは光ピックアップ装置の光源でありDVD及びCDそれぞれの記録再生に適した波長のレーザ光を発振することができる。   The semiconductor laser device 10 is a so-called frame type, and its external features will be described later. This is a light source of an optical pickup device and can oscillate laser light having a wavelength suitable for recording and reproduction of DVD and CD.

半導体レーザ装置10はその取り付け位置、角度を精度よく調整する必要がある。このため、半導体レーザ装置10は、この調整のための機能を持つレーザ搭載部材11に直接接着固定され、レーザ搭載部材11の位置、角度を調整することにより半導体レーザ装置10の位置、角度を調整する。この調整後、レーザ搭載部材11は光学台1に接着固定される。   It is necessary to adjust the mounting position and angle of the semiconductor laser device 10 with high accuracy. Therefore, the semiconductor laser device 10 is directly bonded and fixed to the laser mounting member 11 having a function for this adjustment, and the position and angle of the semiconductor laser device 10 are adjusted by adjusting the position and angle of the laser mounting member 11. To do. After this adjustment, the laser mounting member 11 is bonded and fixed to the optical bench 1.

この調整のため、レーザ搭載部材11は光学台1に対し相対位置が変化し、この変化を許容するため、レーザ搭載部材11と光学台1の間には、すきまがある。また、調整は外部から操作して行われるので、レーザ搭載部材11は図2(b)に示すように光学台1の外部に取り付けられている。また、レーザ搭載部材11から出射するレーザ光は光学台1内部に入射されなければならないので、光学台1にはこのための開口部があり、前述のすきまと、この開口部を通じて光学台1内部には埃が比較的容易に侵入する。   Because of this adjustment, the relative position of the laser mounting member 11 with respect to the optical bench 1 changes, and there is a gap between the laser mounting member 11 and the optical bench 1 to allow this change. Further, since the adjustment is performed from the outside, the laser mounting member 11 is attached to the outside of the optical bench 1 as shown in FIG. Further, since the laser beam emitted from the laser mounting member 11 must be incident on the inside of the optical bench 1, the optical bench 1 has an opening for this purpose, and the inside of the optical bench 1 through the aforementioned gap and this opening. Dust penetrates relatively easily.

また、レーザ搭載部材11には図示しないグレーティングホルダA、グレーティングホルダBが、相互に位置、角度を調整可能な状態で取り付けられている。グレーティングホルダBにはグレーティング21が接着固定され、これによりグレーティング21の位置、角度を調整することができる。この調整後、グレーティングホルダA、グレーティングホルダB、レーザ搭載部材11は相互に接着固定される。   Further, a grating holder A and a grating holder B (not shown) are attached to the laser mounting member 11 in a state where the position and angle can be adjusted with respect to each other. A grating 21 is bonded and fixed to the grating holder B, whereby the position and angle of the grating 21 can be adjusted. After this adjustment, the grating holder A, the grating holder B, and the laser mounting member 11 are bonded and fixed to each other.

半導体レーザ装置10、レーザ搭載部材11、グレーティングホルダA、グレーティングホルダB、グレーティング21等の部品で、レーザユニットを構成する。このレーザユニットの詳細については後述する。   Components such as the semiconductor laser device 10, the laser mounting member 11, the grating holder A, the grating holder B, and the grating 21 constitute a laser unit. Details of the laser unit will be described later.

光学台1は、レーザ搭載部材11の他、全ての部品が取り付けられている。このため、寸法精度、温度変化、経時変化に対する寸法の安定性、各部品からの発熱の良好な放熱が必要である。このため亜鉛ダイキャストで構成されている。   In addition to the laser mounting member 11, all components are attached to the optical bench 1. For this reason, dimensional accuracy, temperature changes, dimensional stability against changes with time, and good heat dissipation from each component are required. For this reason, it is constituted by zinc die casting.

放熱板2は、主に半導体レーザ装置10からの熱を放熱する。このため、アルミニウム板で構成され、レーザ搭載部材11との間には図示しない、熱伝導率の良好な液状のシリコンゴムが充填され、これが固化した状態になっている。これにより半導体レーザ装置10からの熱を、レーザ搭載部材11を通じて外部に放熱することができる。   The heat radiating plate 2 mainly radiates heat from the semiconductor laser device 10. For this reason, it is composed of an aluminum plate and is filled with liquid silicon rubber having a good thermal conductivity (not shown) between the laser mounting member 11 and solidified. Thereby, heat from the semiconductor laser device 10 can be radiated to the outside through the laser mounting member 11.

半導体レーザ装置10から出射されたレーザ光はグレーティング21、PBS14、コリメートレンズ15、立ち上げミラー16、図示しないλ/4板(4分の1波長板)、対物レンズ6を経て、記録再生に適した形態となり、情報の記録、または再生を行うため、図示しないディスクのトラックに照射される。   Laser light emitted from the semiconductor laser device 10 is suitable for recording and reproduction through a grating 21, PBS 14, a collimating lens 15, a rising mirror 16, a λ / 4 plate (quarter wavelength plate) (not shown), and an objective lens 6. In order to record or reproduce information, a track on a disc (not shown) is irradiated.

この際、半導体レーザ装置10から出射されたレーザ光の一部はPBS14で分割され、FPBS17を経て前光モニタ20に入射する。前光モニタ20はこの入射光の光量に比例した電気的出力を出力する。半導体レーザ装置10の光出力はこれに基づき制御される。   At this time, a part of the laser light emitted from the semiconductor laser device 10 is divided by the PBS 14 and enters the front light monitor 20 through the FPBS 17. The front light monitor 20 outputs an electrical output proportional to the amount of incident light. The light output of the semiconductor laser device 10 is controlled based on this.

図示しないディスクのトラックからの反射光は逆の経路、即ち、対物レンズ6、図示しないλ/4板、立ち上げミラー16、コリメートレンズ15、を経て、PBS14で反射され、検出レンズ19を経てデテクタ18に入射する。   Reflected light from a disk track (not shown) passes through the reverse path, that is, the objective lens 6, a λ / 4 plate (not shown), the rising mirror 16, and the collimating lens 15, reflected by the PBS 14, and passed through the detection lens 19. 18 is incident.

デテクタ18は、再生時において、図示しないディスクのトラックからの反射光に含まれる、記録された情報を電気信号として取り出し、また一方、図示しないディスクのトラックに対して、対物レンズ6から出射されるレーザ光が図示しないディスクのトラックに対して、正確に焦点を結び、かつこれから逸脱することなくトレースするために必要なサーボ信号を、入射光に基づき電気的に出力する。   At the time of reproduction, the detector 18 takes out recorded information contained in reflected light from a track of a disc (not shown) as an electric signal, and emits it from the objective lens 6 to a track of the disc (not shown). Servo signals necessary for the laser beam to accurately focus on a track of a disk (not shown) and trace without departing from the track are electrically output based on the incident light.

レンズアクチュエータ7は、このサーボ信号に基づき、対物レンズ6を駆動し、対物レンズ6から出射されるレーザ光が図示しないディスクのトラックに対して、正確に焦点を結び、かつこれから逸脱することなくトレースするように対物レンズ6を駆動する。   The lens actuator 7 drives the objective lens 6 based on this servo signal, and the laser beam emitted from the objective lens 6 accurately focuses on the track of the disk (not shown) and traces without departing from this. The objective lens 6 is driven as described above.

このデテクタ18、及びレンズアクチュエータ7もレーザ搭載部材11と同様に、その位置、取付角度を調整する必要がある。このため、レーザ搭載部材11の場合と全く同様の理由により、この部分からも比較的容易に光学台1内部に埃が侵入する。   Similarly to the laser mounting member 11, the position and mounting angle of the detector 18 and the lens actuator 7 need to be adjusted. For this reason, for the same reason as in the case of the laser mounting member 11, dust enters the optical bench 1 relatively easily from this portion.

このように光学台1内部には埃が比較的侵入しやすい。   In this way, dust is relatively likely to enter the optical bench 1.

基板5には、半導体レーザ装置10を駆動するための回路が搭載されている。また、デテクタ18、前光モニタ20、レンズアクチュエータ7に対する結線がまとめられている。   A circuit for driving the semiconductor laser device 10 is mounted on the substrate 5. Further, the connections for the detector 18, the front light monitor 20, and the lens actuator 7 are collected.

光ピックアップ装置は、主軸軸受3、副軸軸受4で、図示しない主軸、副軸により、図示しないディスクの半径方向に移動可能な状態に支持されている。   The optical pickup device is supported by a main shaft bearing 3 and a sub shaft bearing 4 so as to be movable in a radial direction of a disk (not shown) by a main shaft and a sub shaft (not shown).

図3は、半導体レーザ装置10の詳細斜視図で、図3(a)は半導体レーザチップが搭載されている側からの図、図3(b)は裏側からの図である。図3において、31は半導体レーザチップ、32は金属フレーム、33は樹脂部、34は端子、35は金属フレームのフィン部分である。   3 is a detailed perspective view of the semiconductor laser device 10. FIG. 3A is a view from the side where the semiconductor laser chip is mounted, and FIG. 3B is a view from the back side. In FIG. 3, 31 is a semiconductor laser chip, 32 is a metal frame, 33 is a resin portion, 34 is a terminal, and 35 is a fin portion of the metal frame.

半導体レーザチップ31は、ガリウム,砒素、インジウム等の結晶から成る、レーザ光の発振部である。これは金属フレーム32に、熱伝導率の良好な接着剤で接着されている。レーザ光は、半導体レーザチップ31の前側(図3では上側)の端面から出射される。半導体レーザ装置から出射されるレーザ光は平行光ではなく、ある広がり角を持つ。このため、この端面部分では出射されるレーザ光は非常に微小な点である。このため、この端面への埃の付着は、たとえ僅かでも出射されるレーザ光に大きな影響を与える場合がある。   The semiconductor laser chip 31 is a laser beam oscillation unit made of a crystal such as gallium, arsenic, or indium. This is adhered to the metal frame 32 with an adhesive having good thermal conductivity. The laser light is emitted from the end surface on the front side (upper side in FIG. 3) of the semiconductor laser chip 31. Laser light emitted from the semiconductor laser device is not parallel light but has a certain spread angle. For this reason, the laser beam emitted from this end face is a very small point. For this reason, even if dust adheres to this end face, even a slight amount of laser light may have a large effect.

金属フレーム32は、厚さ0.6mmの板状で、熱伝導率の良好な銅合金で構成されている。金属フレーム32の両側には、金属フレームのフィン部分35が設けられ、半導体レーザ装置10のレーザ搭載部材11への取り付けはこの部分を接着することにより行われている。   The metal frame 32 is a plate having a thickness of 0.6 mm and is made of a copper alloy having a good thermal conductivity. On both sides of the metal frame 32, fin portions 35 of the metal frame are provided, and the semiconductor laser device 10 is attached to the laser mounting member 11 by bonding these portions.

樹脂部33は、樹脂により構成され、金属フレーム32にアウトサート成形で構成されている。これは図3(a)に示すように半導体レーザチップ31の周囲を囲うように成形され、半導体レーザチップ31に、作業者の指が容易に直接触れることの無いよう保護する機能と、端子34を保持する機能を併せ持つ。しかしながら、これは半導体レーザチップ31の周囲を囲っているだけで上面、及び、レーザ光が出射される全面は完全にオープンになっており、埃の進入を防ぐことはできない。   The resin portion 33 is made of resin and is formed on the metal frame 32 by outsert molding. As shown in FIG. 3A, this is formed so as to surround the semiconductor laser chip 31, and protects the semiconductor laser chip 31 from being easily touched by an operator's finger, and a terminal 34. It also has a function to hold However, this only surrounds the periphery of the semiconductor laser chip 31, and the upper surface and the entire surface from which the laser light is emitted are completely open, and it is not possible to prevent dust from entering.

端子34は、電気的な接続を行うための端子で、金属フレーム32と同じ板材から、金属フレーム32と同時にプレス加工で作られている。   The terminal 34 is a terminal for making an electrical connection, and is made from the same plate material as the metal frame 32 by pressing at the same time as the metal frame 32.

図4は、レーザユニット51の詳細な説明図である。図4(a)はレーザユニット51の組立を斜め前方から見た斜視図、図4(b)レーザユニット51を構成する各部品を分解した状態の斜視図である。   FIG. 4 is a detailed explanatory diagram of the laser unit 51. FIG. 4A is a perspective view of the assembly of the laser unit 51 as viewed obliquely from the front, and FIG. 4B is a perspective view of the components constituting the laser unit 51 in an exploded state.

図4において、51はレーザユニット、12はグレーティングホルダA、13はグレーティングホルダB、40はグレーティングホルダ押圧ばね、41はレーザFPC、42はグレーティング取付部、43は回動ボス部、44は回動ボス受け部、45はX軸調整部、46はX軸調整ガイド部、47はレーザ光出射口、48は取付穴、49はグレーティングホルダ押圧部、50は取付穴係合部である。   In FIG. 4, 51 is a laser unit, 12 is a grating holder A, 13 is a grating holder B, 40 is a grating holder pressing spring, 41 is a laser FPC, 42 is a grating mounting portion, 43 is a rotating boss portion, and 44 is rotating. A boss receiving portion, 45 is an X-axis adjusting portion, 46 is an X-axis adjusting guide portion, 47 is a laser beam emission port, 48 is a mounting hole, 49 is a grating holder pressing portion, and 50 is a mounting hole engaging portion.

グレーティングホルダB13には、グレーティング取付部42が設けられ、グレーティング21はグレーティングホルダB13のグレーティング取付部42に接着固定されている。グレーティングホルダB13には更に回動ボス部43が設けられ、これがグレーティングホルダA12に設けられた回動ボス受け部44に、回動可能な状態で嵌め込まれている。グレーティングホルダA12にはX軸調整部45が更に設けられ、これがレーザ搭載部材11に設けられたX軸調整ガイド部46に、図4(b)中のX方向と記された矢印の方向に移動可能な状態で嵌合している。   The grating holder B13 is provided with a grating mounting portion 42, and the grating 21 is bonded and fixed to the grating mounting portion 42 of the grating holder B13. The grating holder B13 is further provided with a rotating boss portion 43, which is fitted in a rotating boss receiving portion 44 provided on the grating holder A12 in a rotatable state. The grating holder A12 is further provided with an X-axis adjusting portion 45, which moves to the X-axis adjusting guide portion 46 provided on the laser mounting member 11 in the direction of the arrow indicated as the X direction in FIG. The mating is possible.

グレーティングホルダ押圧ばね40には、取付穴48が設けられ、これがレーザ搭載部材11に設けられた取付穴係合部50に係合することによりレーザ搭載部材11に取り付けられている。尚、取付穴係合部50は、反対側に、もう1個ある。グレーティングホルダ押圧ばね40にはグレーティングホルダ押圧部49が設けられ、この部分がグレーティングホルダB13に当接することにより、グレーティングホルダA12及び、グレーティングホルダB13をレーザ搭載部材11に押圧する。   The grating holder pressing spring 40 is provided with an attachment hole 48, which is attached to the laser mounting member 11 by engaging with an attachment hole engaging portion 50 provided in the laser mounting member 11. There is another mounting hole engaging portion 50 on the opposite side. The grating holder pressing spring 40 is provided with a grating holder pressing portion 49, and this portion abuts on the grating holder B13, thereby pressing the grating holder A12 and the grating holder B13 against the laser mounting member 11.

これらの構成により、グレーティング21はレーザ搭載部材11に対して、角度、位置の調整が可能である。グレーティング21の、レーザ搭載部材11に対する角度、位置の調整がなされた後、グレーティングホルダA12、グレーティングホルダB13、レーザ搭載部材11は相互に接着固定される。   With these configurations, the grating 21 can be adjusted in angle and position with respect to the laser mounting member 11. After the angle and position of the grating 21 with respect to the laser mounting member 11 are adjusted, the grating holder A12, the grating holder B13, and the laser mounting member 11 are bonded and fixed to each other.

レーザ搭載部材11の前面には、半導体レーザ装置10が発振するレーザ光が出射される開口部、レーザ光出射口47が設けられている。   On the front surface of the laser mounting member 11, an opening for emitting laser light oscillated by the semiconductor laser device 10 and a laser light emitting port 47 are provided.

半導体レーザ装置10は、レーザ搭載部材11の後方よりレーザ搭載部材11に挿入されレーザ搭載部材11に接着固定される。半導体レーザ装置10と基板5の電気的な接続のため、レーザFPC41が、半導体レーザ装置10の端子34に取り付けられている。   The semiconductor laser device 10 is inserted into the laser mounting member 11 from behind the laser mounting member 11 and bonded and fixed to the laser mounting member 11. A laser FPC 41 is attached to a terminal 34 of the semiconductor laser device 10 for electrical connection between the semiconductor laser device 10 and the substrate 5.

図5はレーザユニット51を斜め後方から見た斜視図及び組立状態の説明図である。図5(a)はレーザユニット51を斜め後方から見た斜視図、図5(b)はレーザユニット51を斜め後方から見た組立状態の説明図である。   FIG. 5 is a perspective view of the laser unit 51 as viewed obliquely from the rear and an explanatory view of the assembled state. FIG. 5A is a perspective view of the laser unit 51 as viewed obliquely from the rear, and FIG. 5B is an explanatory view of an assembled state of the laser unit 51 as viewed from the oblique rear.

半導体レーザ装置10は、レーザ搭載部材11に設けられたレーザ挿入孔52に挿入され、金属フレームのフィン部分35をレーザ搭載部材11の、半導体レーザ装置取付部53に接着することによりレーザ搭載部材11に直接固定される。この接着には熱伝導率の良好な接着剤が使用されている。   The semiconductor laser device 10 is inserted into a laser insertion hole 52 provided in the laser mounting member 11, and the fin portion 35 of the metal frame is bonded to the semiconductor laser device mounting portion 53 of the laser mounting member 11, thereby the laser mounting member 11. Fixed directly to. For this adhesion, an adhesive having a good thermal conductivity is used.

レーザ搭載部材11は寸法精度、温度変化、経時変化に対する寸法の安定性、半導体レーザ装置10からの発熱の良好な放熱のため亜鉛ダイキャストで構成されている。   The laser mounting member 11 is composed of zinc die cast for dimensional accuracy, temperature stability, dimensional stability against changes with time, and good heat dissipation from the semiconductor laser device 10.

また、半導体レーザ装置10と基板5の電気的な接続のため、レーザFPC41が半導体レーザ装置10の端子34に取り付けられている。このレーザFPC41は半導体レーザ装置10に取り付けられた状態ではレーザ搭載部材11に設けられたレーザ挿入孔52をちょうど塞ぐように構成されている。   A laser FPC 41 is attached to a terminal 34 of the semiconductor laser device 10 for electrical connection between the semiconductor laser device 10 and the substrate 5. The laser FPC 41 is configured to just block the laser insertion hole 52 provided in the laser mounting member 11 when attached to the semiconductor laser device 10.

以上のように構成された光ピックアップ装置の動作を説明する。   The operation of the optical pickup device configured as described above will be described.

グレーティング21は、半導体レーザ装置10に対して、その取付角、及び位置を調整する必要がある。また、半導体レーザ装置10も前述のように、位置、角度を調整する必要がある。   It is necessary to adjust the mounting angle and position of the grating 21 with respect to the semiconductor laser device 10. The semiconductor laser device 10 also needs to be adjusted in position and angle as described above.

本発明の実施の形態による光ピックアップ装置ではグレーティング21はグレーティングホルダB13に接着固定されている。図4(a)に示すように、グレーティングホルダB13はグレーティングホルダA12に対して、回動ボス部43を回動ボス受け部44に回動可能にはめ込んで取り付けられているので、グレーティングホルダB13はグレーティングホルダA12に対して回転が可能である。   In the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, the grating 21 is bonded and fixed to the grating holder B13. As shown in FIG. 4A, the grating holder B13 is attached to the grating holder A12 so that the rotating boss portion 43 is rotatably fitted to the rotating boss receiving portion 44. It can rotate with respect to the grating holder A12.

また、図4(a)に示すように、グレーティングホルダA12はレーザ搭載部材11に対して、X軸調整部45をX軸調整ガイド部46に、図4(a)中のX方向に横動可能にはめ込まれているので、グレーティングホルダA12はレーザ搭載部材11に対してX方向の移動が可能である。   Further, as shown in FIG. 4A, the grating holder A12 moves laterally in the X direction in FIG. 4A with respect to the laser mounting member 11 by moving the X-axis adjusting portion 45 to the X-axis adjusting guide portion 46. The grating holder A12 can be moved in the X direction with respect to the laser mounting member 11 because it is fitted.

また、図4(a)に示すようにグレーティングホルダ押圧ばね40は、グレーティングホルダA12、及びグレーティングホルダB13、を押圧することにより、これらが前述の、回転、及びX方向以外の移動が起こらないように配置されている。   As shown in FIG. 4A, the grating holder pressing spring 40 presses the grating holder A12 and the grating holder B13 so that they do not rotate and move in directions other than the X direction described above. Is arranged.

結果的に、グレーティング21はレーザ搭載部材11に対して回転、及びX方向の移動のみができ、この方向の調整を精度よく行うことができる。   As a result, the grating 21 can only rotate and move in the X direction with respect to the laser mounting member 11, and the adjustment in this direction can be performed with high accuracy.

レーザ搭載部材11は光学台1に対して位置、角度を調整した後、光学台1に対して接着固定される。この後、前述のグレーティング21の調整を行う。   The laser mounting member 11 is bonded and fixed to the optical bench 1 after adjusting the position and angle with respect to the optical bench 1. Thereafter, the above-described grating 21 is adjusted.

半導体レーザ装置10は金属フレームのフィン部分35をレーザ搭載部材11の、半導体レーザ装置取付部53に接着することによりレーザ搭載部材11に直接固定される。この接着部分はレーザ搭載部材11に、熱伝導率の良好な接着剤で直接接着されているので、半導体レーザ装置10の発生する熱はここからレーザ搭載部材11に伝達される。   The semiconductor laser device 10 is directly fixed to the laser mounting member 11 by bonding the fin portion 35 of the metal frame to the semiconductor laser device mounting portion 53 of the laser mounting member 11. Since this bonded portion is directly bonded to the laser mounting member 11 with an adhesive having good thermal conductivity, the heat generated by the semiconductor laser device 10 is transmitted from here to the laser mounting member 11.

放熱板2とレーザ搭載部材11との間には図示しない、熱伝導率の良好な液状のシリコンゴムが充填され、これが固化した状態になっている。このため半導体レーザ装置10からの熱はレーザ搭載部材11を通じて外部に放熱される。   Between the heat radiating plate 2 and the laser mounting member 11, liquid silicon rubber having a good thermal conductivity (not shown) is filled and solidified. For this reason, the heat from the semiconductor laser device 10 is radiated to the outside through the laser mounting member 11.

レンズアクチュエータ7及びデテクタ18もそれぞれ調整された後、光学台1に接着固定される。   After the lens actuator 7 and the detector 18 are also adjusted, they are bonded and fixed to the optical bench 1.

前述のように光学台1の内部には、レーザ搭載部材11、デテクタ18、レンズアクチュエータ7の、調整のための隙間から比較的容易に埃が侵入する。一方半導体レーザ装置10は半導体レーザチップ31の周囲は樹脂部33がこれを囲うように成形されているだけで、埃の侵入に対しては全く無防備である。レーザ光は半導体レーザチップ31の前側(図3では上側)の端面から出射される。半導体レーザ装置から出射されるレーザ光は平行光ではなく、ある広がり角を持つ。このため、この端面部分では出射されるレーザ光は非常に微小な点である。このため、この端面への埃の付着は、たとえ僅かでも出射されるレーザ光に大きな影響を与える場合がある。   As described above, dust enters the optical bench 1 relatively easily from the gap for adjustment of the laser mounting member 11, the detector 18, and the lens actuator 7. On the other hand, in the semiconductor laser device 10, the periphery of the semiconductor laser chip 31 is formed so that the resin portion 33 surrounds the semiconductor laser chip 31, and is completely defenseless against dust intrusion. The laser light is emitted from the end face on the front side (upper side in FIG. 3) of the semiconductor laser chip 31. Laser light emitted from the semiconductor laser device is not parallel light but has a certain spread angle. For this reason, the laser beam emitted from this end face is a very small point. For this reason, even if dust adheres to this end face, even a slight amount of laser light may have a large effect.

このため、半導体レーザ装置10が、光学台1の内部に対してオープンな構造だと、この端面に容易に埃が付着し、出射されるレーザ光に大きな影響を与える可能性がある。   For this reason, if the semiconductor laser device 10 has an open structure with respect to the inside of the optical bench 1, dust easily adheres to the end face, which may greatly affect the emitted laser light.

このため半導体レーザ装置10自体に対する防塵構造が必要であるが、レーザ光の出射部分は、安易に透明な部材でカバーすると出射光の特性に影響を与えるため、この部分の防塵はむつかしい。   For this reason, a dust-proof structure for the semiconductor laser device 10 itself is necessary. However, if the laser beam emission part is easily covered with a transparent member, the characteristics of the emission light will be affected.

本発明の実施の形態による光ピックアップ装置では半導体レーザ装置10をレーザ搭載部材11内に取り付け、グレーティング21をレーザ搭載部材11に対して調整のための移動が可能なように取り付け、図4(a)に示すようにレーザ光の出射部分をグレーティング21で被うようにしている。グレーティング21は本来必要な光学素子であるため出射光の特性に影響を与えることがなく、また、コストアップもない。出射されるレーザ光はグレーティング21の表面では直径が数百μm程度になっているため、この部分に埃が付着しても埃の影響をそれ程受けない。   In the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, the semiconductor laser device 10 is mounted in the laser mounting member 11, and the grating 21 is mounted so as to be movable for adjustment with respect to the laser mounting member 11. FIG. The grating 21 covers the laser beam emission part as shown in FIG. Since the grating 21 is an originally necessary optical element, it does not affect the characteristics of the emitted light and does not increase the cost. Since the emitted laser light has a diameter of about several hundreds μm on the surface of the grating 21, even if dust adheres to this portion, it is not so much affected by the dust.

また、本発明の実施の形態による光ピックアップ装置では、レーザ挿入孔52はレーザFPC41で塞ぐよう構成されている。レーザFPC41も本来必要な構成部材であるためこれによるコストアップもない。   In the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, the laser insertion hole 52 is configured to be closed by the laser FPC 41. Since the laser FPC 41 is also an essential component, there is no cost increase due to this.

これらの構成により半導体レーザ装置10に対する十分な防塵効果を得ることができる。   With these configurations, a sufficient dustproof effect for the semiconductor laser device 10 can be obtained.

また、本発明の実施の形態による光ピックアップ装置ではこの防塵効果はこのレーザユニット51単品で得ることができる。このため、製造の際、このレーザユニット51のみを特別な防塵室で組み立てれば、他の工程は通常の環境で行うことができ、光ピックアップの製造工程、設備を非常に簡略化することができる。   Further, in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, this dustproof effect can be obtained with the laser unit 51 alone. For this reason, if only this laser unit 51 is assembled in a special dustproof chamber at the time of manufacture, the other processes can be performed in a normal environment, and the optical pickup manufacturing process and equipment can be greatly simplified. .

結果的に本実施の形態では、レーザ搭載部材は防塵のため、半導体レーザ装置を密閉するように構成され、また、半導体レーザ装置が発生するレーザ光の出射口は光学素子によって密閉されるように構成したことにより、フレームレーザを搭載した光ピックアップ装置では半導体レーザ装置に対する防塵が特に重要であるにもかかわらず、光学系全体の防塵は非常に困難で、また、半導体レーザ装置部分だけを十分に防塵しようとすると高価になり、適切な防塵方法が無いという課題を解決し、製造工程、設備を非常に簡略化することのできる光ピックアップ装置をコストアップ無しで得ることができる。   As a result, in this embodiment, the laser mounting member is configured to seal the semiconductor laser device in order to prevent dust, and the laser light emission port generated by the semiconductor laser device is sealed by the optical element. Due to the construction, in the optical pickup device equipped with the frame laser, it is very difficult to prevent the entire optical system from being dusted even though dustproofing the semiconductor laser device is particularly important. It is possible to obtain an optical pickup apparatus that solves the problem that the dust prevention is expensive and there is no appropriate dust prevention method and the manufacturing process and equipment can be greatly simplified without increasing the cost.

尚、本実施の形態では、グレーティング21を使用して半導体レーザ装置10の防塵を行ったが、他の光学部品を使用してもよい。また、防塵に使用する光学部品は可動な構成としたが、この種類、光学系の構成によっては、可動な構成としなくてもよい。   In the present embodiment, the grating 21 is used to protect the semiconductor laser device 10 from dust, but other optical components may be used. In addition, although the optical component used for dust prevention is configured to be movable, depending on the type and configuration of the optical system, it may not be configured to be movable.

また、レーザFPC41を防塵のための部材として使用したが、別の部材、たとえば放熱板の一部を利用してもよい。   Further, although the laser FPC 41 is used as a member for dust prevention, another member, for example, a part of a heat sink may be used.

また、レーザ搭載部材11は独立した部品としたが、光学台1、等と一体に構成するようにしてもよい。   Further, although the laser mounting member 11 is an independent component, it may be configured integrally with the optical bench 1 or the like.

また、放熱板2は独立した部品として設けたが、他の部品にその機能を持たせるようにしてもよい。   Moreover, although the heat sink 2 was provided as an independent component, you may make it give the function to another component.

また、半導体レーザ装置10をレーザ搭載部材11に固定するため、熱伝導率の高い接着剤を使用したが、使用条件によっては普通の接着剤でもよい。また、更に高い放熱効率が必要な別の使用条件の場合、銀やグラファイトの粉末を含有する接着剤を使用してもよい。また、はんだ付けでもよい。   Further, in order to fix the semiconductor laser device 10 to the laser mounting member 11, an adhesive having a high thermal conductivity is used, but an ordinary adhesive may be used depending on use conditions. In the case of another use condition that requires higher heat dissipation efficiency, an adhesive containing silver or graphite powder may be used. Soldering may also be used.

また、記録再生の可能な構成としたが、再生専用の構成としてもよい。また、再生専用の光ピックアップ等、大出力のレーザ装置を必要としない場合、放熱のための構成は省略してもよい。   In addition, although the recording / reproducing configuration is possible, a configuration dedicated to reproduction may be used. Further, when a high-power laser device such as a read-only optical pickup is not required, the configuration for heat dissipation may be omitted.

本発明にかかる光ピックアップ装置は、レーザ搭載部材は防塵のため、半導体レーザ装置を密閉するように構成され、また、半導体レーザ装置が発生する前記レーザ光の出射口は光学素子によって密閉されるように構成したことにより、フレームレーザを搭載した光ピックアップ装置に適用可能であり、光ピックアップ装置を利用可能な光ディスクドライブ装置、再生装置、記録装置等の機器に有用である。   The optical pickup device according to the present invention is configured so that the laser mounting member is sealed to prevent dust, and the semiconductor laser device is hermetically sealed, and the laser light emission port generated by the semiconductor laser device is hermetically sealed by an optical element. With this configuration, it can be applied to an optical pickup device equipped with a frame laser, and is useful for devices such as an optical disk drive device, a reproducing device, and a recording device that can use the optical pickup device.

本発明の実施の形態による光ピックアップ装置の構成を示す斜視図The perspective view which shows the structure of the optical pick-up apparatus by embodiment of this invention 同光ピックアップ装置の基板、レンズアクチュエータ、放熱板及びレーザFPCを省いた状態を示す斜視図The perspective view which shows the state which excluded the board | substrate of the optical pick-up apparatus, the lens actuator, the heat sink, and the laser FPC 同光ピックアップ装置の半導体レーザ装置の詳細構成を示す斜視図The perspective view which shows the detailed structure of the semiconductor laser apparatus of the same optical pick-up apparatus 同光ピックアップ装置のレーザユニットの詳細構成を示す説明図Explanatory drawing which shows the detailed structure of the laser unit of the optical pickup device 同光ピックアップ装置のレーザユニットを斜め後方から見た斜視図及び組立状態の説明図The perspective view which looked at the laser unit of the optical pick-up apparatus from diagonally back, and explanatory drawing of an assembly state

符号の説明Explanation of symbols

1 光学台
2 放熱板
3 主軸軸受
4 副軸軸受
5 基板
6 対物レンズ
7 レンズアクチュエータ
10 半導体レーザ装置
11 レーザ搭載部材
12 グレーティングホルダA
13 グレーティングホルダB
14 PBS
15 コリメートレンズ
16 立ち上げミラー
17 FPBS
18 デテクタ
19 検出レンズ
20 前光モニタ
21 グレーティング
31 半導体レーザチップ
32 金属フレーム
33 樹脂部
34 端子
35 金属フレームのフィン部分
40 グレーティングホルダ押圧ばね
41 レーザFPC
42 グレーティング取付部
43 回動ボス部
44 回動ボス受け部
45 X軸調整部
46 X軸調整ガイド部
47 レーザ光出射口
48 取付穴
49 グレーティングホルダ押圧部
50 取付穴係合部
51 レーザユニット
52 レーザ挿入孔
53 半導体レーザ装置取付部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical stand 2 Heat sink 3 Main shaft bearing 4 Sub shaft bearing 5 Substrate 6 Objective lens 7 Lens actuator 10 Semiconductor laser device 11 Laser mounting member 12 Grating holder A
13 Grating holder B
14 PBS
15 Collimating lens 16 Rising mirror 17 FPBS
18 detector 19 detection lens 20 front light monitor 21 grating 31 semiconductor laser chip 32 metal frame 33 resin portion 34 terminal 35 fin portion of metal frame 40 grating holder pressing spring 41 laser FPC
42 Grating attachment portion 43 Rotating boss portion 44 Rotating boss receiving portion 45 X-axis adjusting portion 46 X-axis adjusting guide portion 47 Laser beam emitting port 48 Mounting hole 49 Grating holder pressing portion 50 Mounting hole engaging portion 51 Laser unit 52 Laser Insertion hole 53 Semiconductor laser device mounting part

Claims (5)

上面側に半導体レーザチップが搭載された金属フレームと、前記金属フレームの上面の、前記半導体レーザチップが搭載された素子搭載部分を囲むように当該金属フレームの上面から下面に跨って成形された樹脂部とを有する半導体レーザ装置と、円盤状記録媒体に対して情報を記録、または再生するために前記半導体レーザ装置が発生するレーザ光が透過する光学素子と、前記半導体レーザ装置が搭載されるレーザ搭載部材とを備え、
前記レーザ搭載部材は、防塵のため、前記半導体レーザ装置を密閉するように構成され、前記半導体レーザ装置が発生する前記レーザ光の出射口は、前記光学素子によって密閉されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
A metal frame having a semiconductor laser chip mounted on the upper surface side, and a resin formed from the upper surface to the lower surface of the metal frame so as to surround the element mounting portion on which the semiconductor laser chip is mounted on the upper surface of the metal frame A semiconductor laser device having an optical element, an optical element through which laser light generated by the semiconductor laser device passes to record or reproduce information on a disk-shaped recording medium, and a laser on which the semiconductor laser device is mounted A mounting member,
The laser mounting member is configured to seal the semiconductor laser device in order to prevent dust, and an emission port of the laser light generated by the semiconductor laser device is sealed by the optical element. Optical pickup device.
前記レーザ搭載部材は、独立した部材として設けられていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 The optical pickup device according to claim 1, wherein the laser mounting member is provided as an independent member. 前記レーザ光の前記出射口を密閉する前記光学素子は、前記レーザ搭載部材に対し、移動可能に構成されていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 The optical pickup device according to claim 1, wherein the optical element that seals the emission port of the laser light is configured to be movable with respect to the laser mounting member. 前記半導体レーザ装置に対する電気的な接続を行うための電気接続部材を更に備え、前記電気接続部材は前記半導体レーザ装置を密閉するための部材の一部として構成されていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 The electrical connection member for making electrical connection with the semiconductor laser device is further provided, and the electrical connection member is configured as a part of a member for sealing the semiconductor laser device. 1. The optical pickup device according to 1. 半導体レーザ装置の発生する熱を前記レーザ搭載部材に伝達するように構成されたことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。 2. The optical pickup device according to claim 1, wherein heat generated by the semiconductor laser device is transmitted to the laser mounting member.
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