JP2007537502A - 真の乱数の不正操作に対して安全な発生 - Google Patents
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Abstract
Description
図2はメモリセルの可能な充放電過程を表す線図を示し、
図3はエンジン制御部のコンポーネントの概略的な簡略化されたブロック線図を示す。
12 EEPROM
14 チャージポンプ
16 カウンタ
18 エンジン制御部
20 インテリジェントコントローラ
22 メモリセルアレイ
Claims (14)
- 真の乱数の発生のための方法において、
真の乱数は電気的充放電過程の確率的に分布した持続時間(T)に基づいて発生されることを特徴とする、真の乱数の発生のための方法。 - 充放電過程は少なくとも1つのメモリセル(10)の充放電を含むことを特徴とする、請求項1記載の方法。
- 少なくとも1つのメモリセル(10)はEEPROM(12)のメモリセルであることを特徴とする、請求項2記載の方法。
- 少なくとも1つのメモリセル(10)はフラッシュメモリのメモリセルであることを特徴とする、請求項2又は3記載の方法。
- 充放電過程はチャージポンプ(14)を使って実施されることを特徴とする、請求項1〜4のうちの1項記載の方法。
- 充放電過程の確率的持続時間(T)はカウンタ(16)を使って検出されることを特徴とする、請求項1〜5のうちの1項記載の方法。
- 前記方法は、組込み型システム(18)、とりわけ自動車のエンジン制御部(18)によって実施されることを特徴とする、請求項1〜6のうちの1項記載の方法。
- 真の乱数の発生に適している装置において、
該装置は真の乱数を電気的充放電過程の確率的に分布した持続時間(T)に基づいて発生することを特徴とする、真の乱数の発生に適している装置。 - 前記装置は少なくとも1つのメモリセル(10)を有し、該少なくとも1つのメモリセル(10)は乱数の発生のために電気的に充放電されることを特徴とする、請求項8記載の装置。
- 少なくとも1つのメモリセル(10)はEEPROM(12)のメモリセルであることを特徴とする、請求項9記載の装置。
- 少なくとも1つのメモリセル(10)はフラッシュメモリのメモリセルであることを特徴とする、請求項9又は10記載の装置。
- 前記装置は充放電過程の実施のためにチャージポンプ(14)を有することを特徴とする、請求項8〜11のうちの1項記載の装置。
- 前記装置は充放電過程の確率的に分布した持続時間(T)の検出のためにカウンタ(16)を有することを特徴とする、請求項8〜12のうちの1項記載の装置。
- 前記装置は組込み型システム(18)であり、とりわけ自動車のエンジン制御部(18)であることを特徴とする、請求項8〜13のうちの1項記載の装置。
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