JP2007506097A - 低温バックグラウンドターゲットに対するテラヘルツ波の受動的エミッションによる化学的物質及び生物学的物質の検出及び分析 - Google Patents

低温バックグラウンドターゲットに対するテラヘルツ波の受動的エミッションによる化学的物質及び生物学的物質の検出及び分析 Download PDF

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Abstract

サンプル(12)中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析する装置(38)。装置(38)は、サンプル中の物質を検出するために、テラヘルツ周波数帯の、サンプル(12)からのエミッションを受動的に受け取る分光計(42)を含む。テレスコープ(46)又は他のデバイスは、分光計(42)の視野を制限するのに使用される。低温表面(16)は、サンプル(12)に対して分光計(42)とは反対側で、分光計(42)の視野を埋めるように配置される。低温表面(16)は、サンプル(12)に対して低温バックグラウンドをもたらして、バックグラウンドエミッションを低減し、サンプル(12)からのエミッションの検出を向上させる。

Description

2.関連技術の考察
公衆衛生のために、薬剤、感冒、花粉、ウィルス、細菌、及び毒素(トキシン)などの生物学的物質の迅速な検出及び分析の必要性が当技術分野に存在する。さらに、封筒、布、プラスチックボトル、又はガラス容器などの容器内に隠匿される化学的物質及び生物学的物質の無侵入(侵襲)検出の必要性が当技術分野に存在する。
サンプル中の分子の分光分析によって空気中の化学的又は生物学的雲状物(クラウド:cloud)などのサンプル中の特定の成分を検出することは、当技術分野で知られている。この種の検出には、地下のパイプからの天然ガス漏れ、化学物質流出物由来の化学的クラウド、化学プロセス由来の揮発性有機物質の蒸気、煙突からの汚染、軍事用化学兵器、細菌などの生物学的物質、爆発物、違法薬物、及び対象となる他の化学的又は生物学的物質を検出することを含む、多くの用途がある。これらの用途の中には、ppb(10億分の1)以下のレベルの検出感度が必要なものもある。
サンプルのこの種の分光分析は、サンプル中の成分が毒性である場合があり、そのため健康への危険があるため、数kmまで離れるなど、遠隔で実施されるか、又は、サンプルを直接検出することが可能でない場合がある。遠隔の受動検知のためにサンプルから検出機器を離しておかなければならない距離は、特定の用途によって決まり、用途毎にシステムは異なる。
この種の検出及び分析を実施するために、フーリエ変換赤外(FTIR)分光計などの分光計が、対象物質を含むサンプルの方に向けられ、分光計はサンプルからのエミッションを受動的に受け取る。一般に、分光計は、赤外波長(5〜25μm)のエミッションを検出する。サンプルが、分光計の視野に沿って空、山又は他の地形などのバックグラウンドよりも温かいと、サンプル中のターゲット分子は、バックグラウンドのエミッションよりも高いエネルギーをもつエミッションを示すことになる。サンプルがバックグラウンドよりも冷たい場合、サンプル中のターゲット分子は、バックグラウンドのエミッションよりも低いエネルギーの吸収を示すことになる。サンプルがバックグラウンドと同じ温度である場合、サンプル中のターゲット分子は光子を放出するのと同じ速度で光子を吸収するので、サンプルから識別可能な正味のエミッションはない。サンプルとバックグラウンドの間の熱のコントラストが強くなるほど、分光計によって受け取ることが可能な正味のエミッションが強くなる。
エミッションから分光計によって生成したスペクトル表示は、サンプル中の分子を示す特定の波長においてエミッション帯を生じる。物質毎にその分子に典型的なスペクトルの「指紋(フィンガープリント)」を持つので、検出されたスペクトルの表示は、対象となる特定の化学的物質又は生物学的物質の既知のスペクトル指紋と比較することができそれによって、その物質がサンプル中に存在しているかを判定し、存在する場合にはどれぐらいのレベルであるかを決定する。
或る化学的物質及び生物学的物質が、テラヘルツ周波数帯のエミッションから、より独特なスペクトル特徴部を示すことが当技術分野で提示されている。そのため、物質は、この周波数帯におけるエミッションから識別することがより容易である。しかしながら、これらの低い周波数の信号を検出する現在知られている分光法のほとんどは、吸収技法又は透過技法に基づく。これらの技法は、通常、微量の化学的物質及び生物学的物質を検出し且つ分析するのに十分な感度に欠ける。
既知の吸収技法では、サンプル中の特定の成分を検出する感度は、その成分の周波数指紋での入射放射と透過放射との差を分解する装置能力によって制限されている。言い換えれば、検出感度は、大きな入射放射信号から小さな吸収信号を分解する装置能力によって決まる。
隠匿された化学的物質及び生物学的物質の無侵襲検出のためのこれらの用途では、金属物体を識別するための、当技術分野で現在利用可能なX線検査法を使用することができない。当技術分野では、吸収法又は透過法によるテラヘルツ周波数帯における分光分析を使用して、外部放射源を使用することによって、隠匿された生物学的及び化学的物質を検出することができることが提案されている。しかしながら、このための吸収法又は透過法は、必要な感度に欠ける可能性がある。さらに、能動放射源は、利用可能でないか、又は、比較的高価である場合がある。さらに、戸外でのこうした放射の使用は、人間にとって有害である可能性がある。
本願の譲受人に譲渡され、参照により本明細書に援用される「Remote Trace Gas Detection and Analysis」なる表題の米国特許第6,531,701号は、化学的クラウドなどのサンプルを照射するための、放射ビームを使用して、バックグラウンドに対してその温度を上昇させる装置を開示する。放射ビームの波長は、そのクラウド中の特定のターゲット分子と共鳴するように、又は空気中に通常存在する水蒸気又は酸素原子と共鳴するように選択する。この共鳴によって、ターゲット分子、水蒸気又は酸素分子が回転又は振動し、それによって、そのエネルギーが増加する。衝突エネルギーの移動で分子間緩和が生じるため、放射エネルギーが熱化される。これらの因子が周囲のバックグラウンドに対してクラウドの温度を上昇させて、クラウド中の分子のエミッション強度を高めて、検出が改善される。赤外波長のエミッションは、分光計によって収集され、分析される。
本願の譲受人に譲渡され、参照により本明細書に援用される「Detection and Analysis of Chemical and Biological Materials」なる表題の2003年6月6日に出願された米国特許出願第10/456,098号は、物質を含むサンプルからの赤外エミッションの分光分析によって化学的物質及び生物学的物質を検出し且つ分析する装置及び方法を開示する。‘098号出願は、分光計の視野内で、サンプルに対して分光計とは反対に配置される低温表面又はデバイスを使用して、低温バックグラウンド、したがって、バックグラウンドとサンプルの間の温度差を提供する。
現在、空気中のその位置(インサイチュー:in-situ)で粒状エーロゾル、バイオエーロゾル(bio-aerosol)又は液体エーロゾルの分光分析用に適した技法は存在しない。エーロゾルにより散乱される光による干渉が圧倒的であるため、赤外吸収法は一般的に有効でない。‘098号出願で開示される分光分析技法を、テラヘルツ周波数を検出する装置に対して拡張することが望ましい場合がある。
発明の概要
本発明の教示によれば、サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出し且つ分析する装置が開示される。装置は、サンプル中の物質を検出するために、サンプルから、約0.1〜10THzの範囲のTHz周波数帯のエミッションを受動的に受け取るための、フーリエ変換分光計(FTS)などの分光計を含む。液体ヘリウムデューワ(dewar)又は低温クーラによって提供される低温表面は、サンプルに対して分光計とは反対側で、分光計の視野内に配置される。低温表面の物質は、好ましくは、対象となるテラヘルツ周波数帯において高い放射率を有する。低温表面は、サンプルの温度に対して低温バックグラウンドを提供して、両者の間の熱コントラストを増加させ、それによって、サンプルからのエミッションの検出が向上する。さらに、分光計によって受け取られるバックグラウンドエミッションは、低温表面が存在するために非常に小さい。したがって、サンプル中の成分からのエミッションを、バックグラウンドエミッションが低いか、又は、ほぼ無い状態で、分光計によって精密に分解することができる。
サンプルは、透過ウィンドウ上に分配される、クラウド、液体、又は粉末で空気によって運ばれるサンプル、若しくは容器内に隠匿されたサンプルの形態である可能性がある。さらに、分光計は、受け取ったエミッションをいくつかの周波数帯にわたる中間周波数(IF)にダウンコンバートする多周波放射計と置き換えることができ、それぞれの周波数帯は、別個のダイオード検出器によって検出される。
本発明のさらなる利点及び特徴は、添付図面を参照して、以下の説明及び特許請求の範囲から明らかになるであろう。
発明の詳細な説明
低温バックグラウンドに対するTHz周波数帯の受動的エミッション(放出)による、サンプル中の物質を検出する装置を対象とする本発明の実施形態の以下の説明は、本来、例示に過ぎず、本発明又はその用途又は使用をいずれの点でも制限することを意図していない。
以下で詳細に説明するように、本発明の検出及び分析装置は、テラヘルツ(THz)周波数帯の受動的エミッションを検出する。この周波数帯は、マイクロ波、MMW、及びサブMMW周波数帯を含み、1.0×1010〜1.0×1013サイクル/秒の範囲を含む。本発明は、低温バックグラウンドを使用して、検出されるサンプルに対して熱コントラストをもたらす‘098出願の拡張である。しかしながら、THz周波数帯のエミッションの場合、通常、エミッションを適切な速度で分析することができるように、熱コントラストは、非常に高い必要がある。
図1は、横軸を波数、縦軸を放射輝度(ラジアンス)とし、296K(グラフ線150)、78K(液体窒素の沸点)(グラフ線152)、4K(液体ヘリウムの沸点)(グラフ線154)、及び10K(低温クーラ)(グラフ線156)の周囲温度における、プランク関数に基づく理論的な黒体曲線を示すグラフである。これら曲線が示すところでは、対象となる周波数帯についてバックグラウンドエミッションを十分に低いレベルまで下げるのに、10K以下などの低温が好ましい。
図2は、本発明の実施形態による、空気中のクラウド12の中の対象となる化学的物質及び/又は生物学的物質を検出するための、スタンドオフ(隔離)式検出及び分析装置38の平面図である。クラウド12中の化学的物質又は生物学的物質は、蒸気、液滴、及びエーロゾルの形態であってもよい。デッシュ(凹面)アンテナ40は、クラウド12からエミッション18を収集する。アンテナ40は、THz周波数帯で動作するフーリエ変換分光計(FTS)42の入射アパーチャ上にエミッション18を収束させる。当技術分野で知られているように、FTSは、通常、マイラ(Mylar)素子などの特別なビームスプリッタ及び対象のスペクトル範囲を検出するための、シリコンボロメータなどの低温検出器を使用する。こうしたFTSの1つの例は、当業者に知られているBruker Optics IFS66V/S真空FTIR分光計である。FTS42からの分光分析の結果は、コンピュータ44上で分析され、表示される。エミッションスペクトルは、対象となるスペクトル範囲内での特徴的な分子振動帯及び回転帯に基づいてクラウド12中の化学的物質及び/又は生物学的物質の識別を可能にする。
本発明によれば、液体ヘリウムデューワ又は極低温クーラ(図示せず)によって冷却された低温表面16は、図示するようにクラウド12に対してFTS42とは反対側に配置される。表面16の材料は、対象となるTHz周波数帯において高い放射率を有することが好ましいテラヘルツ吸収体材料にすることができる。こうした材料の例は、Cuming Microwave Corporationから入手できる鉄充填エポキシ(iron-loaded epoxy)である。低温表面16は、クラウド12の温度に対して低温バックグラウンドをもたらして、両者間の熱コントラストを増加させ、それによって、クラウド12からのエミッション18の検出が向上する。さらに、FTS42によって受け取られるバックグラウンドエミッションは、低温表面16があるために、非常に低い。クラウド12のサイズに対して小さい低温表面を使用することができるように、アンテナ40の視野を小さなエリアに収束させるために、低温表面16とクラウド12の間にカセグレン型コリメータ46が配置される。黒体較正器36は、コリメータ46と低温表面16の間に選択的に配置されて、スペクトル信号と比較するための室温較正を行う。
図3は、本発明の別の実施形態による、基板54上に載せられた液体又は粉末サンプル52中の化学的物質及び/又は生物学的物質を検出するための検出及び分析装置50の平面図である。この実施形態では、装置38と類似する装置50の要素は、同じ参照数字で特定される。装置50はまた、THz周波数帯のエミッション56を検出する。
一実施形態では、基板54は、透過ウィンドウである。ウィンドウは、テラヘルツ周波数帯で高い透過率と低い反射率を有するプラスチック又は反射防止(AR)シリコンウィンドウで作ることができる。固体サンプルが微細な粉末の形態でない場合、サンプル52は、ウィンドウ54の上に載せる前に微細な粉末に粉砕することができる。サンプル52の粒子のサイズは、散乱のいかなる悪影響も最小にするために、対象となる波長より小さくなければならない。
別の実施形態では、基板54はフィルタである。バイオエーロゾルなどの空気が運ぶ粒子は、真空ポンプを使用して空気を吸い込むか、又は、ファンを使用して空気を吹き付けることによって、フィルタ上に収集することができる。フィルタ材料は、対象となる周波数帯で比較的良好な透過特性を有する紙、プラスチック、又は繊維で作ることができる。サンプル52からのエミッションスペクトルは、低温表面16に対してフィルタを通して観察することによって取得することができる。
図4は、本発明の別の実施形態による、検出及び分析装置50と類似する検出及び分析装置62の平面図(同じ参照数字は、同じ要素を特定する)である。この実施形態では、基板54は、検出される化学的サンプル又は生物学的サンプル66がその中に隠匿されている書簡封筒、厚紙容器、プラスチック又はガラスボトルなどの容器64と置き換えられる。装置62は、容器64内に隠匿された化学的物質及び生物学的物質の無侵襲検出を可能にする。これらのタイプの容器材料は、テラヘルツ周波数帯で比較的高い透過率を有することが知られている。隠匿された材料からのエミッションスペクトルは、低温表面16に対して容器64を通して観察することによって取得される。1つの可能性のある用途は、郵便配達センターにおける書簡中の炭素菌粉末のスクリーニングである。別の例は、プラスチックバッグ中の爆発物の検出、並びに、厚紙、プラスチック、又はガラス容器中の違法薬物又は化学的及び生物学的に作用を起こす物質の検出である。
図5は、本発明の別の実施形態による、サンプル区画74内に閉じ込められた化学的サンプル及び/又は生物学的サンプル72を検出するための検出及び分析装置70の平面図である。この実施形態では、サンプル72は、透過ウィンドウ上に載せられるか、又は、サンプルホルダ内に閉じ込められる。あるいは、サンプル72は、区画74内で分散した蒸気又はエーロゾルの形態である可能性がある。区画74は、窒素ガスで浄化するか、又は、開口76及び78を通して真空ポンプで排気することができる。これは、空気中の水蒸気及び/又は酸素によって引き起こされる干渉を最小にする。一実施形態では、区画74は、ガラスチャンバであるが、本明細書で説明する目的に適した任意のチャンバにすることができる。
検出チャンバ86を含むFTS80は、サンプル区画74に隣接して配置される。サンプル72からの受動的エミッション82は、区画74内のウィンドウ84を透過してFTS80の検出チャンバ86の中に入る。ウィンドウ84は、対象とする周波数帯で受動的エミッション82について高い透過率と低い反射率を有する。本発明によれば、低温表面88は、サンプル72の反対側で区画74内のFTS80の視野を占める。先に説明したように、低温表面88は、液体ヘリウム又は極低温クーラによって冷却されて、THz周波数帯のエミッション82を検出するための必要な熱コントラストをもたらすことができる。
FTS80は、本明細書で述べる目的に適する任意のFTSにすることができる。一実施形態では、FTS80は、Bruker Opticsから入手可能なモデル番号IFS66V/S真空FTIR分光計装置である。この実施形態では、FTS80は、エミッション82を、可動ミラー92の方に送られる第1ビーム及び固定ミラー94の方に送られる第2ビームに分割するビームスプリッタ90を含む。ミラー92及び94によって反射したビームは、ビームスプリッタ90の方に送り返され、ビームスプリッタ90は、検出器96に入射するようにビームを合成する。検出器96は、液体ヘリウム冷却シリコンボロメータなどの、本明細書で述べる目的に適する任意の検出器であり得る。ミラー92を走査することによって、干渉パターンを検出器96上に生成して、対象とする周波数帯を検出することができる。チャンバ86内の空気が検出プロセスに干渉しないように、チャンバ86は、真空ポンプ(図示せず)によってポート98を通して排気することができる。
図6は、2つの別個のチャネル104及び106を有する受信機102を含む検出及び分析装置100の平面図である。図6は、装置100のサンプル及び低温表面を示さないが、これらの要素は、先の説明と一致するように、装置100に含まれる。エミッション108は、レンズ110によってフィードホーンアンテナ112上に収束され、エミッションを増幅する受信機114によって受け取られる。増幅された信号は、パワースプリッタ116によって分割され、分割信号は、2つのチャネル104及び106に指向される。各チャネル104及び106は、ミクサ122、IF増幅器124、及びダイオード検出器126を有する放射計120を含む。受信機114によって受け取られた信号は、放射計120によって処理されるのに適した中間周波数(IF)信号に信号をダウンコンバートするためにチャネル104及び106のそれぞれの中のミクサ122に印加される。ダウンコンバートされた信号は、IF増幅器124によって増幅され、増幅されたIF信号は、ダイオード検出器126に送出される。ダイオード検出器126は、エミッション108から受け取った周波数を示す信号の電圧表現を提供する。電圧信号は、次に、分析デバイス(図示せず)に送出されて、エミッション108のエミッションスペクトルを分析する。エミッションスペクトルは、対象となるスペクトル範囲の特徴的な分子振動帯及び回転帯に基づいて、検出されるサンプルの化学的物質及び/又は生物学的物質を識別する。
エミッション108を2つの信号経路に分割することによって、ミクサ122及びIF増幅器124は、異なる周波数帯に同調して、THz周波数帯内の狭い周波数帯についてさらなる感度を提供することができる。代替の実施形態では、パワースプリッタ116は、別個の信号を検出するために、信号を任意の適した数の信号チャネルに分割することができる。これらの別個の周波数帯は、選択された帯域における信号強度の検出によって、化学的又は生物学的作用剤の独特の識別が可能になるように選択することができる。
図7は、本発明の別の実施形態による検出及び分析装置130の平面図である。この実施形態では、検出装置130は、商業建物などの施設内への空気流を監視するのに使用される。空気は、適当なファン又は同様なもの(図示せず)によって通気口132を通して強制的に流されるため、空気がフィルタ134を通って流れる。空気流内の粒子及び他の物質は、それらを検出することができるフィルタ134上に集まることになる。レンズ136は、フィルタ134の一方の側に配置され、極低温クーラ138は、フィルタ134の反対側に配置される。フィルタ134からの受動的エミッション140は、レンズ136によって、エミッション140が分析されるFTS144の入射アパーチャ142上に収束される。コンピュータ146はスペクトルを表示する。
以上の説明は、本発明の例示的な実施形態のみを開示し、述べている。こうした説明及び添付図面及び特許請求の範囲から、特許請求の範囲に規定される本発明の精神及びその範囲から逸脱することなく、種々の変更、修正、及び変形を行うことができることを、当業者は容易に理解するであろう。
横軸を波数、縦軸を放射輝度とし、周囲温度4K、10K、78K、及び296Kにおける黒体放射曲線を示すグラフである。 本発明の実施形態による、サンプルクラウド中の化学的及び/又は生物学的物質を検出するための検出及び分析装置であって、THz周波数帯の受動的エミッションを受け取り、また、サンプルに対して低温バックグラウンドを提供する低温デバイスを含む装置の平面図である。 本発明の別の実施形態による、透過ウィンドウ上に載せられたサンプル中の化学的物質及び/又は生物学的物質を検出するための検出及び分析装置であって、THz周波数帯の受動的エミッションを受け取り、また、サンプルに対して低温バックグラウンドを提供する低温デバイスを含む装置の平面図である。 本発明の別の実施形態による、図3に示す装置と同じであるが、サンプルが隠匿されている、検出及び分析装置の平面図である。 本発明の別の実施形態による、試験区画内の化学的物質及び/又は生物学的物質を検出するための検出及び分析装置であって、THz周波数帯の受動的エミッションを受け取り、また、サンプルに対して低温バックグラウンドを提供する低温デバイスを含む装置の平面図である。 本発明の別の実施形態による、化学的物質及び生物学的物質を検出するための検出及び分析装置であって、受け取ったエミッションを2つのチャネルに分割して、THz周波数帯の2つの周波数帯を検出する装置の平面図である。 本発明の別の実施形態による、施設の吸気口内のフィルタ上に堆積した化学的物質及び生物学的物質を検出するための検出及び分析装置であって、THz周波数帯の受動的エミッションを受け取り、また、サンプルに対して低温バックグラウンドを提供する低温デバイスを含む装置の平面図である。

Claims (65)

  1. サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    前記サンプルからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションはテラヘルツ周波数帯にあり、前記検出デバイスは、視野を有し、前記サンプル中の物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記検出デバイスの前記視野内に配置され、前記サンプルの温度に対して低温のバックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  2. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体を含む請求項1に記載のシステム。
  3. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項1に記載のシステム。
  4. サンプル区画をさらに備え、前記サンプルは、該区画内に閉じ込められる請求項1に記載のシステム。
  5. 前記サンプルは、空気で運ばれるクラウド内にある請求項1に記載のシステム。
  6. 透過性基板をさらに備え、前記サンプルは、該透過性基板上に載せられる請求項1に記載のシステム。
  7. 前記透過性基板は、プラスチックウィンドウ又は反射防止コーティングされたシリコンウィンドウである請求項6に記載のシステム。
  8. フィルタをさらに備え、前記サンプルは該フィルタ内にある請求項1に記載のシステム。
  9. 前記フィルタは、施設の吸気口内に配置される請求項8に記載のシステム。
  10. 容器をさらに備え、前記サンプルは該容器に収容される請求項1に記載のシステム。
  11. 前記容器は、封筒、厚紙封入容器(cardboard enclosure)、プラスチック容器、及びガラス容器から成る群から選択される請求項10に記載のシステム。
  12. アンテナをさらに備え、該アンテナは、前記エミッションを収集し、該エミッションを前記検出デバイスに送る請求項1に記載のシステム。
  13. 前記アンテナは、フィードホーン及びカセグレン式望遠鏡から成る群から選択される請求項12に記載のシステム。
  14. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項1に記載のシステム。
  15. 前記コリメータはカセグレン式望遠鏡である請求項14に記載のシステム。
  16. 前記検出デバイスは、パワースプリッタ及び複数の検出チャネルを含み、該パワースプリッタは、複数の周波数帯を同時に検出することができるように、前記エミッションを受け取り、該エミッションを前記複数のチャネル内に指向させる請求項1に記載のシステム。
  17. 前記検出デバイスは、前記テラヘルツ周波数帯の信号を受け取り、増幅するテラヘルツ受信機を含む請求項1に記載のシステム。
  18. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項1に記載のシステム。
  19. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項1に記載のシステム。
  20. 空気中のサンプルクラウド中の物質を、隔離して検出及び分析するシステムであって、
    前記サンプルクラウドからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションは、テラヘルツ周波数帯にあり、該検出デバイスは、視野を持ち、前記サンプルクラウド中の前記物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記検出デバイスの前記視野内に配置され、前記サンプルクラウドの温度に対して低温バックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  21. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項20に記載のシステム。
  22. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項20に記載のシステム。
  23. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項20に記載のシステム。
  24. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項20に記載のシステム。
  25. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項20に記載のシステム。
  26. サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    前記サンプルを保持し、透過ウィンドウを含む区画と、
    前記透過ウィンドウを透過した前記サンプルからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションはテラヘルツ周波数帯にあり、該検出デバイスは、前記サンプル中の前記物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記検出デバイスから対向する側の前記区画に配置され、前記サンプルの温度に対して低温のバックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  27. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項26に記載のシステム。
  28. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項26に記載のシステム。
  29. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの視野を前記低温表面上に収束させる請求項26に記載のシステム。
  30. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項26に記載のシステム。
  31. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項26に記載のシステム。
  32. サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    透過ウィンドウであって、前記サンプルは、該透過ウィンドウの表面に配設される、透過ウィンドウと、
    前記サンプルからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションはテラヘルツ周波数帯にあり、該検出デバイスは、視野を有し、前記サンプル中の前記物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記検出デバイスの前記視野内に配置され、前記サンプルの温度に対して低温のバックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  33. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項32に記載のシステム。
  34. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項32に記載のシステム。
  35. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項32に記載のシステム。
  36. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項32に記載のシステム。
  37. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項32に記載のシステム。
  38. サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    容器であって、前記サンプルが収容される容器と、
    前記サンプルからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションはテラヘルツ周波数帯にあり、該検出デバイスは、視野を有し、前記サンプル中の前記物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記検出デバイスの前記視野内に配置され、前記サンプルの温度に対して低温バックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  39. 前記容器は、封筒、厚紙封入容器、プラスチック容器、及びガラス容器から成る群から選択される請求項38に記載のシステム。
  40. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項38に記載のシステム。
  41. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項38に記載のシステム。
  42. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項38に記載のシステム。
  43. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項38に記載のシステム。
  44. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項38に記載のシステム。
  45. サンプル中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    前記サンプルからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、該エミッションはテラヘルツ周波数帯にあり、該検出デバイスは、視野を有し、前記サンプル中の前記物質のエミッションスペクトルを生成し、且つ前記パワースプリッタ及び複数の検出チャネルを備え、複数の周波数帯を同時に検出することができるように、前記エミッションを受け取り、該エミッションを前記複数のチャネル内に指向させる、検出デバイスと、
    前記検出デバイスの前記視野内に配置され、前記サンプルの温度に対して低温のバックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  46. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項45に記載のシステム。
  47. 前記検出デバイスは各チャネル内に放射計を含む請求項45に記載のシステム。
  48. 各放射計は、前記エミッションをダウンコンバートするミクサと、該ダウンコンバートされたエミッションを増幅する中間周波数増幅器と、該増幅され、ダウンコンバートされたエミッションを検出するダイオード検出器とを含む請求項45に記載のシステム。
  49. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項45に記載のシステム。
  50. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項45に記載のシステム。
  51. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項45に記載のシステム。
  52. 建物の吸気口を通して流れる空気中の化学的物質及び生物学的物質を検出及び分析するシステムであって、
    フィルタであって、前記空気中の粒子が捕捉されるように前記空気が流れる前記吸気口に配置されるフィルタと、
    前記フィルタの一方の側に配置され、前記フィルタからの受動的エミッションに応答する検出デバイスであって、前記フィルタ中の物質のエミッションスペクトルを生成する、検出デバイスと、
    前記フィルタに対して前記検出デバイスとは反対側に配置され、前記フィルタの温度に対して低温のバックグラウンドをもたらす低温表面と、
    を備えたシステム。
  53. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項52に記載のシステム。
  54. 前記検出デバイスは、前記エミッションのスペクトル分析を実施するフーリエ変換分光計である請求項52に記載のシステム。
  55. コリメータをさらに備え、該コリメータは、前記検出デバイスの前記視野を前記低温表面上に収束させる請求項52に記載のシステム。
  56. 前記エミッションはテラヘルツ周波数帯にある請求項52に記載のシステム。
  57. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、液体エーロゾルサンプル、粒状エーロゾルサンプル、バイオエーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉、及び蒸気、粉末、液体又はエーロゾル状の爆発物から成る群から選択される請求項52に記載のシステム。
  58. サンプル中の化学的物質及び/又は生物学的物質を検出及び分析する方法であって、
    分光計の視野内で、前記サンプルからの、テラヘルツ周波数帯にあるエミッションを受け取り、
    前記分光計の前記視野内の前記サンプル中の前記物質のエミッションスペクトルを生成し、
    前記サンプルの温度に対して、前記分光計の前記視野内の前記サンプルのバックグラウンドを冷却する、
    ことを含む方法。
  59. 前記サンプルは、サンプル区画に閉じ込められる、容器内に隠匿される、空気で運ばれる、フィルタ内に捕捉される、又は、透過性基板上に載せられる請求項58に記載の方法。
  60. 前記検出デバイスは、フーリエ変換分光計又は放射計から成る群から選択される請求項58に記載の方法。
  61. 前記低温表面は、液体ヘリウムデューワ及び低温クーラから成る群によって冷却されるテラヘルツ吸収体で作られる請求項58に記載の方法。
  62. 前記分光計の前記視野を前記低温表面上に収束させることをさらに含む請求項58に記載の方法。
  63. 複数の周波数帯を検出するために、前記エミッションを複数の検出チャネルに分割することをさらに含む請求項58に記載の方法。
  64. 前記テラヘルツ周波数帯は、マイクロ波、ミリ波、及びサブミリ波の周波数帯を含む請求項58に記載の方法。
  65. 前記サンプルは、液体サンプル、粉末サンプル、エーロゾルサンプル、蒸気サンプル、ガスサンプル、化学剤、生物剤、工業用化学薬品、毒素、薬品、菌、花粉及び爆発物から成る群から選択される請求項58に記載の方法。
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