JP2007505295A - 電気回路の試験方法 - Google Patents
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Abstract
本発明の目的は、完全な電気回路シミュレーションを用いずに、いかなる回路エラーがあったとしても当該回路エラーを確実に認識することができる電気回路の検査方法を提示することにある。本発明の目的を、電気回路のどの素子に所定の回路状態が生じうるかを示す、マーキング信号の生成方法により解決する。この方法では、少なくとも1つの所定の素子グループの全ての電気素子が、それぞれ1つの接続端子対において、短絡したとすることにより、および、短絡したとされる素子の1つまたは複数を介して接続された全てのネットワークノードが、結合されて等価クラスが形成されることにより、回路を記述している元のネットワークリストから、変換されたネットワークリストを形成する。ここで、各等価クラスに、ネットワークノードの全ての状態が割り当てられている。これらの等価クラスを考慮することにより、どの素子で、または、どの回路領域で、所定の回路状態が生じうるかを確定する。このマーキング信号として、識別される元のネットワークリスト中の素子をマーキングする信号が生成される。
Description
電気回路、特に集積半導体回路または半導体チップは、エラーを含んだ回路またはチップを製造しないように製造前に機能について試験される。
回路を検査するために、通常、回路の電気特性がシミュレートされる回路シミュレーションが行われる。回路シミュレーションは、電気回路設計の弱点の認識に有益であるが、入力電圧および/またはその他のパラメータ(例えば、温度、電流など)の1つの所定の刺激ベクトルまたは1つの所定の刺激のセットに関してのみ回路特性を調べるという不都合がある。したがって、用いられるパラメータの刺激ベクトルまたは刺激のセットが、回路に、電気回路に生じた設計エラーを認識するように要求する場合にのみ、電気回路のエラーを発見することができる。
完全な回路シミュレーションの他の不都合な点は、演算時間が比較的長いことにある。
本発明の目的は、完全な電気回路シミュレーションを用いずに、いかなる回路エラーがあったとしても当該回路エラーを確実に認識する、電気回路の検査方法を提示することにある。
本発明では、この目的を、請求項1の特徴を有する方法によって解決する。本発明の有効な実施形態については、従属請求項に提示する。
本発明では、電気回路のどの素子に、または、電気回路のどの回路領域に少なくともある電位またはある論理状態によって規定された所定の回路状態が生じうるかを示す、マーキング信号の生成方法を示す。この方法では、電気回路の回路構造を記述している元のネットワークリストから、変換されたネットワークリストを形成する。少なくとも1つの所定の素子グループまたは少なくとも1つの所定の素子種類の電気回路の全ての電気素子が、それぞれ1つの接続端子対において、短絡したとする。短絡したとされる素子の1つまたは複数を介して接続された全てのネットワークノード(以下では短く「ネットワーク」と呼ぶ)は、結合されて等価クラスを形成する。等価クラスとは、さらにシミュレーションを行う間に全てのネットワークを置き換える「仮の等価回路網」のことである。ここで、各等価クラスに、ネットワークノードが生じうる全ての電位または論理状態が割り当てられている。このようにして形成された等価クラスを考慮することにより、次に、電気回路のどの素子で、または、どの回路領域で、所定の回路状態が生じうるかを確定する。このマーキング信号として、変換されるネットワークリストに基づいて識別される元のネットワークリスト中の素子または回路領域をマーキングすることにより識別可能になる、信号を生成する。
本発明の方法の基本的な利点は、この方法を非常に簡単に行うことができる点にある。なぜなら、電気回路の試験が「変換された」または簡略化されたネットワークリストに基づいて実行されるからである。変換されたネットワークリストは、ここでは、ネットワークリストの単一または複数のネットワークノードが結合されて等価クラスが形成されることによって形成される。具体的には、等価クラスは、元のネットワークリストの「結合された」ネットワークノードまたはネットワークを示す、新しいネットワークまたは新しいネットワークノードである。等価クラスへのネットワークの結合により、元のネットワークリストを簡略化できる。なぜなら、さらに試験する際に、全体としてより少ないネットワークまたはネットワークノードを考慮すればよいからである。つまり、試験も、簡略化された「等価回路」において実行される。本発明の核心部分は、電気回路の試験を、元のネットワークリストよりも簡略化されている変換されたネットワークリストに基づいて実行することでもある。
また、本発明の他の基本的な利点は、本発明では所定の「規則」のみを単に元のネットワークリストに用いるので、変換されたネットワークを手間をかけずに形成できるという点にある。このような規則は、少なくとも1つの所定の素子グループまたは少なくとも1つの所定の素子種類の、全ての電気的素子を短絡したとする、ということを含んでいる。これにより、適切に規定された素子を介して接続されている全てのネットワークノードが、少なくとも、結合されて等価クラスが形成される。
マーキング信号が特に高い確率で実際に1つのエラーを特定し、「誤った警告」を発しないようにするために、本発明の方法の他の形態は、元のネットワークリストに基づいてマーキング信号を形成した後で、所定の(例えば臨界の)回路状態が、マーキング信号によってマーキングされた素子、または、マーキング信号によってマーキングされた回路領域において実際に生じうるのかどうかの検査すなわちベリファイを行うという利点を有している。このようなベリファイは、電気回路のマーキングされた部分領域を個々に詳細にシミュレーションすることにより、例えば電気回路の部分領域を完全にシミュレーションすることにより行われる。
ベリファイにおいて、所定の回路状態がマーキング信号によってマーキングされた素子または回路領域では生じないことが確定すると、マーキング信号は、修正されたマーキング信号を生成することにより修正されることが好ましい。
マーキング信号の生成時のエラーを回避するために、いわゆる「停止ネットワーク」を個々に考慮することが有効である。「停止ネットワーク」とは、ここでは、ある電位、ある電流、または、ある論理状態が常に割り当てられる電気回路のネットワークノードまたは端子ピンのことである。このような停止ネットワークを、等価クラスへの受け入れから除外する必要がある。なぜなら、他の電位または他の状態の割り当ては、このような「停止ネットワーク」において常に割り当てられた電位または常に割り当てられた状態として認められないからである。「停止ネットワーク」を、例えば、固定電位(例えばグラウンド電位または電源電位)が供給される電気回路の外部端子または外部ピンによって形成できる。さらに、「停止ネットワーク」を、例えば、所定のネットワークにおいて回路内の固定電位または電流を設定する、電気回路に存在している電圧源または電流源によって形成してもよい。停止ネットワークに固定電位または固定状態が常に割り当てられているので、これらの停止ネットワークを等価クラスに受け入れる必要がない。
等価クラスの形成中に「停止ネットワーク」が存在しているということが確認されると、各「停止ネットワーク」の電位、電流、または、論理状態を、「停止ネットワーク」に接続された各等価クラスに複写する。「停止ネットワーク」の電位または状態の複写をある方向にのみ(つまり、等価クラスの方向に)行う。等価クラスの「停止ネットワーク」への逆複写は起らないようになっている。
電気回路の電気的なシミュレーションを防止するために、本発明の方法の他の発展形態では、電気回路の全ての電気的素子を、各接続端子対において、個々に短絡したとする、または、導通していないとすることが、有効である。本発明の方法のこの発展形態では、電気回路の静的な「シミュレーション」しか行われない。なぜなら、電気回路の素子を詳細にシミュレーションすることはなく、ただひとまとめに、短絡した、または、導通していないとするからである。2つの端子または端子ピンのみを備えた素子の場合に、該素子を単に、短絡したとするか、または、導通していないとする。多くの端子を備えた素子では、接続経路は、全ての可能な接続端子対間で以下のように規定される。例えば、3つの端子(例えばトランジスタ)A1、A2、A3を備えた素子では、端子A1‐A2間、端子A1−A3間、および、端子A2‐A3間を接続するために、接続経路を短絡したとする、または、導通していないとするべきかどうかを確定する必要がある。つまり、3つの端子には3つの確定が必要である。したがって、4つの端子(例えば、基板端子を備えたMOSトランジスタ、サイリスタ)A1、A2、A3、A4を備えた素子では、端子A1‐A2、A1‐A3、A1‐A4、A2‐A3、A2‐A4、および、A3‐A4間を接続するために、接続経路を短絡したとする、または、導通していないとするべきかどうかを確定する必要がある。つまり、端子が4つある場合は6つの確定が必要である。
少なくとも1つの所定のトランジスタ型をした全てのトランジスタのスイッチング接続経路を短絡したとすることが好ましい。「スイッチング接続経路」という用語は、ここでは、電界効果トランジスタの場合にはソース−ドレイン接続経路であり、バイポーラトランジスタではエミッタ−コレクタ接続経路である。本発明の方法のこの実施形態においては、トランジスタのスイッチング接続経路がスイッチングにより導通すると、通常、スイッチング接続経路の一方の端子に供給された電位または状態がスイッチング接続経路の他方の端子にも達すると見なすことができることを考慮している。スイッチング接続経路を「短絡した」とすることによる等価クラスの形成には、この状況が考慮されている。
抵抗については、所定の限界値を下回る抵抗値を有する全ての抵抗を短絡したとし、所定の限界値を上回る抵抗値を有する全ての抵抗を導通していないとする場合に、有効である。この手順において注目すべきは、抵抗のインピーダンスが低い場合には、抵抗の一方の端子に印加される電位が、抵抗の他方の端子にも、いわば「弱められずに」または変更されずに達するという点である。しかし、抵抗がハイインピーダンスである場合には、著しい電圧降下が生じることにより、抵抗の一方の端子に印加される電位は、他方の端子に簡単には達しない。このような場合には、抵抗を単純化して導通していないとすることができる。
同様に、電気回路の任意の素子について、すなわち、エキゾチックな「デバイス」についても、素子の接続端子対を短絡したとし、または、導通していないとするべきかどうか、および、どの環境において、素子の接続端子対を短絡したとし、または、導通していないとするか、を特定する同様の規則を立てることができる。
本発明のマーキング信号の生成方法を、特に臨界的で、回路エラーを示す回路状態に、用いることが好ましい。
回路設計におけるエラーが生じるのは、例えば、所定のネットワークノードにおいて所定の限界電位または所定の限界電流に達する、または、それを上回る/下回る、または、所定の論理状態に達する、という場合である。この場合には、マーキング信号が生成されるのは、所定のネットワークノードおよび所定の等価クラスがそれぞれ予め定められた限界電位に達する、または、それを上回る/下回る、または、それらのネットワークノードがそれぞれの所定の論理状態に達する、という場合であることが好ましい。
その他に、回路設計におけるエラーは、選択された素子に、素子それぞれに予め与えられた限界電圧に達する、または、それを上回る/下回る電圧を、印加する場合にも生じうる。この場合には、マーキング信号の生成は、所定の素子に臨界的であるとして予め与えられた状態に達する、または、該状態を上回る/下回る場合に、行われることが好ましい。
限界電圧および限界状態を、各素子に個々に予め定めることができる。あるいは、所定の素子種類または素子クラスの全ての素子に対して、それぞれに対応する限界電圧を予め定め、所定の素子種類または素子クラスの全ての素子のそれぞれに対して予め定められた限界値を下回る/上回る、該素子種類または該素子クラスの全ての素子に対して、マーキング信号を生成してもよい。
前記方法は、電気回路の回路構造が元のネットワークリストとして入力されている、データ処理装置によって、特に簡単に、それゆえに有効に実施することができる。
本発明の目的は、さらに、完全な回路シミュレーションを用いずに電気回路を検査することができるとともに、全ての回路エラーを確実に認識することのできる装置を提示することにある。
本発明の目的を、請求項14の特徴部分を有する装置によって達成する。本発明の装置の有効な実施形態については、従属請求項に記載する。
本発明の装置の利点については、本発明の方法に関する上記説明を参照されたい。
本発明として、さらに、プログラムのインストール後にデータ処理装置が請求項1〜13のうちのいずれか1項にかかる方法の工程を実行するプログラム、を有するデータ媒体についても取り上げる。
以下に、5つの電気回路を例として用いて、本発明を説明する。
図1〜図7は、「停止ネットワーク」を有していない電気回路用の実施形態を示す図である。
図8〜図14は、「停止ネットワーク」を有する電気回路用の実施形態を示す図である。
図15および図16は、「停止ネットワーク」を有する電気回路用の別の実施形態を示す図である。
図17は、「停止ネットワーク」を有していない電気回路用の別の実施形態を示す図である。
図18および図19は、「停止ネットワーク」を有する電気回路用の第3の実施形態を示す図である。
以下に示す本発明の実施形態では、電気回路について、ネットワークリストを用いて説明を行う。ネットワークリストは、この場合、基本的に任意のデータ構造を有することができる。本明細書中の実施形態の枠内で用いられるデータ構造は、以下の形式を有する。
このデータ構造では、各ネットワークまたは各ネットワークノードが、「equivalent」と呼ばれるポインタを有する。この「equivalent」ポインタは、等価である全てのネットワークすなわちある等価クラスに属する全ネットワークを、一時的にリングで連結するために用いられる。等価クラスが形成されれば、このクラスの中に、マスターと呼ばれるネットワークが選択される。セル中の等価クラスは、インスタンス生成毎に異なりうるので、そのネットワークが属する等価クラスの各マスターへのポインタは、セルの各インスタンス生成に対して、ネットワーク毎のequiMasterリスト中に保存される。「等価リング」という用語と「等価クラス」という用語とは、以下では同義語として用いる。
各等価リングのピンタイプは、変数「equiMasterPin」に保存される。等価リング中の各ネットワークは、このようなピンタイプ「equiMasterPin」を有する。
各ネットワークのピンタイプは、元のネットワークリスト中の変数「origPinTypeSet」に保存されている。変数「pinTypeSet」は、ネットワークリストのそれぞれの電流の状態に対して(すなわち、例えば、電気回路のどの素子が、短絡しているかまたは導通していないかに応じて)有効なネットワークのピンタイプを含む。
ネットワークリストのネットワークの上述のデータ構造に基づくと、インスタンスを通した2度の別々の再帰的なランが必要である。この2度の再帰的なランのうちの第1のランを、以下にステップIと称し、この2度の再帰的なランのうちの第2のランを、ステップIIと称する。2度の再帰的なランが必要なのは、ネットワーク階層を通してネットワークの特性が運ばれなければならないからである。
以下に、各ステップに関して一般的な概念で説明をする。続いて、図面に基づいて、どのようにこれらのステップが応用されるのかを詳細に説明する。
ステップIでは、まず、各ネットワークのピンタイプが「トップダウン」で上から下へと渡される。続いて、等価クラスが「ボトムアップ」で結合されて、ピンタイプが上に押し上げられる。
ステップIIでは、まず、ピンタイプが上から下へと「トップダウン」で渡されるが、この場合には、修正されたネットワークリストのピンタイプ、すなわち等価クラスまたは等価リングをすでに考慮している。続いて、修正されたネットワークリストによるテストを「ボトムアップ」で行う。
ステップIとステップIIは、以下のように実施される。
ステップI:
ステップIは、全インスタンスの等価を生成するための関数を再帰的に呼び出すことを含む。この際、以下の各ステップが行われる。
ステップI:
ステップIは、全インスタンスの等価を生成するための関数を再帰的に呼び出すことを含む。この際、以下の各ステップが行われる。
ステップI.1.
このステップでは、階層をトップダウン式に降りる前に、各インスタンスについて初期化がトップダウン順に行われる。ここで、ネットワークのピンタイプが、下方向に渡される。
このステップでは、階層をトップダウン式に降りる前に、各インスタンスについて初期化がトップダウン順に行われる。ここで、ネットワークのピンタイプが、下方向に渡される。
ステップI.2.
このステップでは、インスタンスに応じた等価クラスが、ボトムアップ順に作られる。ここで、等価リングすなわち等価クラスにおける電気回路の短絡している素子を連結することにより、ネットワークリストは補足される。これにより、元のネットワークリストは影響を受けない。元のネットワークリストから出発して、修正したネットワークリストにアクセスするためには、対応する変換または対応する「ウォーク」のみを等価リングに対して行うだけでよい。あるいは、相当の方法で、独自の修正ネットワークリストを生成し、保存することができる。
このステップでは、インスタンスに応じた等価クラスが、ボトムアップ順に作られる。ここで、等価リングすなわち等価クラスにおける電気回路の短絡している素子を連結することにより、ネットワークリストは補足される。これにより、元のネットワークリストは影響を受けない。元のネットワークリストから出発して、修正したネットワークリストにアクセスするためには、対応する変換または対応する「ウォーク」のみを等価リングに対して行うだけでよい。あるいは、相当の方法で、独自の修正ネットワークリストを生成し、保存することができる。
ステップI.2.1
電気回路の所定のルールファイル中に規定された全素子(1つまたは複数の対の接続が短絡したとされた素子)に対して、対応するネットワークまたはネットワークノードが等価にされ、連結される。ここで、1つのセルの素子のみではなく、セル自体が取り扱われ、関連するピンが等価にされる。「等価にする」とは、各ネットワークに、対応する等価クラスの残りのネットワークノードの全ての状態(電位、論理状態など)が、割り当てられることを意味する。
電気回路の所定のルールファイル中に規定された全素子(1つまたは複数の対の接続が短絡したとされた素子)に対して、対応するネットワークまたはネットワークノードが等価にされ、連結される。ここで、1つのセルの素子のみではなく、セル自体が取り扱われ、関連するピンが等価にされる。「等価にする」とは、各ネットワークに、対応する等価クラスの残りのネットワークノードの全ての状態(電位、論理状態など)が、割り当てられることを意味する。
短絡したとされる素子におけるネットワークが停止ネットワークである場合、このネットワークは、等価リングに含まれない。これに代えて、停止ネットワークのピンタイプは、等価リング中に複写される。これは、等価リング中のネットワークは各ネットワーク特性を受け入れることができるが、このネットワーク特性を制限なしに外へは運ばないからである。「停止ネットワーク」を考慮すれば、この方法はインスタンスに依存したものとなる。
続いて、例えば、電界効果トランジスタにおけるスイッチング接続経路(すなわち、ソースドレイン接続経路)、およびバイポーラトランジスタにおけるスイッチング接続経路(ベース−エミッタ接続経路)を短絡したとする。また、抵抗を、抵抗値の大きさにより短絡した、または、導通していないとする。
ステップI.2.2.
このステップでは、各等価クラスに対して、マスターとしてのノードが決められる。このマスターには、等価リングの全てのピンタイプが入る。マスターとして、例えば外部のネットワークまたはピンなどの、より高い階層のセルへの接続を行うようなネットワークが選ばれることが好ましい。
このステップでは、各等価クラスに対して、マスターとしてのノードが決められる。このマスターには、等価リングの全てのピンタイプが入る。マスターとして、例えば外部のネットワークまたはピンなどの、より高い階層のセルへの接続を行うようなネットワークが選ばれることが好ましい。
ステップI.2.3.
このステップで、全てのマスターネットワークに対して、変数「equiMasterPin」が作られ、この変数は、マスターの一時的に作られた変数「equiPinTypeSet」で占められる。
このステップで、全てのマスターネットワークに対して、変数「equiMasterPin」が作られ、この変数は、マスターの一時的に作られた変数「equiPinTypeSet」で占められる。
ステップI.2.4
ローカルな等価リングを介して現在のセルに接続される親セルの全てのネットワークは、等価リング中で連結される。サブネットワークの変数「equiPinTypeSet」は、親セル中で各接続されたネットワークに伝達される。
ローカルな等価リングを介して現在のセルに接続される親セルの全てのネットワークは、等価リング中で連結される。サブネットワークの変数「equiPinTypeSet」は、親セル中で各接続されたネットワークに伝達される。
ステップII
ステップIIでは、階層を通した再帰的なランと、全インスタンスのチェック関数の呼び出しとが行われる。この場合、インスタンス毎に以下の個々のステップが、連続して処理される。
ステップIIでは、階層を通した再帰的なランと、全インスタンスのチェック関数の呼び出しとが行われる。この場合、インスタンス毎に以下の個々のステップが、連続して処理される。
ステップII.1
等価クラスのピンタイプは、トップダウンでインスタンスに渡される。
等価クラスのピンタイプは、トップダウンでインスタンスに渡される。
ステップII.2.1
続いて、リストequiMasterから各インスタンス用のデータをロードすることにより、等価クラスの更新が行われる。
続いて、リストequiMasterから各インスタンス用のデータをロードすることにより、等価クラスの更新が行われる。
ステップII.2.2
全ての試験が、インスタンス中でのボトムアップで活性化される。
全ての試験が、インスタンス中でのボトムアップで活性化される。
ステップI・IIについて、概念的で一般的な形態で説明を行ったが、以下に、図面に示す回路の例に基づいて詳しい説明をする。
図1に、直列接続されたトランジスタから各々形成されている2つのセルAを示す。図1の左側のセルAは、インスタンス1(Inst1)を形成し、図1の右側のセルAは、インスタンス2(Inst2)を形成している。
図1よりわかるように、2つのインスタンス1・2の各々すなわちセルAの各々は、3つのネットワークNet1・Net2・Net3を有している。これらのネットワークNet1・Net2・Net3の各々は、特性E1・E2・E3と称する特性を有している。このような特性は、例えば、「VDD」(直流電源電圧)や例えば2.8Vなどの他の電圧のピンタイプである。
セルAは、セルB中にインスタンスInst1・Inst2として2度組み入れられている。セルBは、さらに、トランジスタ10を有し、このトランジスタ10は、ネットワークNet11・Net13に接続されている。4つのネットワークNet11・Net12・Net13・Net14は、さらに、それぞれセルAとセルCとの間の接続ネットワークを形成している。セルCは、ネットワークNet21・Net22・Net23・Net24を有し、これらが、セルCに組み入れられたセルBをセルCに接続されている。
図2から、インスタンスInst1のセルAに対して行われるステップIがわかる。このステップは、ボトムアップ順で行われる。このステップでは、インスタンスInst1のセルAの2つのトランジスタにある全てのネットワークは、セルAの2つのトランジスタは短絡したとされるので、結合されて等価リングとなる。(ステップI.2.I)ネットワークNet1・Net2・Net3の特性は、等価リング中の全てのネットワークに分け与えられる。これは、3つのネットワークNet1・Net2・Net3の各々が、それぞれ、3つの特性、すなわち特性E1・E2・E3を有することを意味する。
図3より、ステップI.2.2がどのように行われるかが詳細にわかる。2つのネットワークネットワークNet11・Net12が、セルB中で、インスタンスInst1のセルAの等価リングと接続される。これゆえに、2つのネットワークNet11・Net12は、セルBの等価リング中に入る。インスタンスInst1のセルAについてこれ以前に形成された等価リングのネットワーク特性は、ネットワークNet1からネットワークNet11に渡される。これは、ネットワークNet1が、これ以前にステップI.2.2.において、マスターとして選択されていたからである。この結果、ネットワークNet11は、特性E1・E2・E3を有する。
図4に、同様のステップが、インスタンスInst2のセルAに対して行われることを示す。このセルでも、処理は、ボトムアップ順で行われる。
図5に、セルBに対して行われるステップIに関して説明する。既に、ステップI.2.1に関連して述べたように、ネットワークNet11・Net12・Net13・Net14が結合されて等価リングとなっていることがわかる。ここで、これらのネットワークのネットワーク特性は、セルBのリング中で全てのネットワークに伝えられる。
結果として、ネットワークNet1・Net2・Net3およびネットワークNet11・Net12・Net13・Net14が、それぞれ、3つの特性E1・E2・E3を有することができる。
図6に、セルBに対するステップI.2.4を示す。ネットワークNet21・Net22・Net23・Net24は、等価リングにより、セルBに接続される。セルB中の等価リングのネットワーク特性は、ステップ1.2.2においてマスターとして選択されたネットワークNet11から、ネットワークNet21に渡される。この時点で、ネットワークNet21は、特性E1・E2・E3を有する。
図7に、ネットワーク特性の伝達により等価クラスが形成された結果を示す。この時点で、セルC内の全てのネットワークは、特性E1・E2・E3を有する。この等価クラスすなわち等価リングにより形成され変換されたネットワークリストを、ここで、試験ステップIIにより試験する。元のネットワークリストは、ここでもさらに利用可能である。
結果として、図1〜図7により示されたような、ネットワークへのネットワーク特性の割り当てにより、変換されたネットワークリストが形成され、この変換されたネットワークリストが、試験目的と、所定の回路状態が現れたことを示すマーキング信号を生成する目的とで、用いられる。
図1〜7の実施形態では、セルCのネットワークのそれぞれに、各特性が割り当てられるが、これは、このネットワークのいずれにもいわゆる「停止ネットワーク」が形成されていないからである。ここで、図8〜図14を参照して、例えばネットワークリストの電気回路で、いわゆる「停止ネットワーク」を考慮されている場合に、マーキング信号を生成する方法を説明する。
図8での初期の回路は、図1に示した初期の回路と同じである。図8の回路が図1に示した初期の回路と異なる点は、ネットワークNet23がこの場合「停止ネットワーク」であるという点である。これにより、ネットワークNet23には、例えば電気的な電圧電位、電流または論理状態などのネットワーク特性が常に割り当てられる。ネットワークNet23は、所定の特性以外の特性を持つことはできない。ネットNet23のネットワーク特性は、以下で、「EX」と称する。ステップIでは、ネットワーク特性EXは、階層を介して「停止ネットワーク」Net23に接続されたネットワークにコピーされる。図8は、これを示している。図8では、ネットワーク特性EXが、ネットワークNet23に接続された、セルBのネットワークNet13と、インスタンスInst2のセルA中のネットワークNet1とに、複写される。
図9および図10に、図2・3に関連して第1実施形態で説明したステップが、同等または同じように行われる。停止ネットワークNet13は、この時点では、いずれの役割も果たしていない。インスタンスInst1のセルAのネットワークNet1・Net2・Net3に、それぞれ、ネットワーク特性E1・E2・E3が割り当てられることがわかる。さらに、ネットワークNet1がマスターとして選択される。
図11から、インスタンスInst2のセルAに対してステップIが実施されているのがわかる。インスタンスInst2の下のトランジスタにあるネットワークNet2・Net3は、結合されて等価リングとなる(ステップI.2.1を参照)。ネットワークNet2・Net3の特性は、等価リング中で、2つのネットワークNet2・Net3に分配される。これは、この時点では、ネットワークNet2・Net3が特性E1・E2・E3・EXを有することを意味する。ネットワークNet1は停止ネットワークであるので、等価リング中には包含されない。しかし、ネットワークNet1のネットワーク特性(すなわち、特性E1・EX)は、等価リング中に複写され、該特性は、2つのネットワークNet2・Net3にも存在することになる。
図12中、インスタンスInst2のセルAに対するステップI.2.4について示す。インスタンスInst2のセルAの等価リングのネットワーク特性は、ステップI.2.2でマスターとして選択されたネットワークNet3から、ネットワークNet14に渡される。この時点で、ネットワークNet14は、特性E1・E2・E3・EXを有する。同様に、マスターネットワークNet1のネットワーク特性は、ネットワークNet13に渡される。ネットワークNet13が「停止ネットワーク」であるので、このネットワークNet13は、等価リング中には包含されない。ネットワークNet13のネットワーク特性のみが、ネットワークNet11に伝達される。
図13に、等価の形成とネットワーク特性の伝達との結果を示す。セルCのネットワークNet21・Net22・Net23・Net24は、この時点で、特性E1・E2・E3・EXを有する。一方、停止ネットワークNet23は、特性E1・EXのみを有する。
図14に、等価の形成の最終結果を示す。停止ネットワークがない第1実施形態(特に図7を参照)とは異なり、ここでは、3つのマスターネットワークが存在する。すなわち、3つの互いに接続されていない、新しい等価クラスまたは3つの「新しい」ネットワークが存在する。停止ネットワークNet23と停止ネットワークNet23に接続されたネットワークNet13・Net1とが有するネットワーク特性は、元のネットワーク特性から変わっていない。しかし、ネットワークNet23は、自身のネットワーク特性EXを、他のネットワークに伝達している。
図1〜図14に関連した方法についてまとめると、元のリストを変換されたネットリストに変換しているが、元のネットワークリストはそのままで残っている。このように、元のネットワークリストがそのままで残っていることは重要である。これは、エラー出力時に、「参照」または「相互参照」は残さねばならないからである。元のネットワークリストは、例えば、グラフィカルな「プロービング」または「テスト」に必要である。さらに、重要な回路状態が生じうる素子およびネットワークでは、元のネットワークリストのみが実際の回路設計に直接参照しているので、常に、元のネットワークリストに報告することが好ましい。
新たに形成された、修正または変換されたネットワークリストでは、従来のネットワークのネットワーク特性が受け継がれる。複数の「古い」ネットワークが「新しい」ネットワークに移行されるので、新しいネットワークは複数の異なるネットワーク特性(例えば、複数の電圧、複数の論理状態など)を仮定できる。上記した等価クラスの形成により、ネットワーク特性を、電気回路の様々な素子を介して移送または複写することができる。
上記方法の特徴は、短絡したとされる電気回路の素子を介して接続されている全てのネットワークが結合されて等価クラスが形成されるという点にある。各等価クラスは、新しい論理ネットワークまたは電気ネットワークを示している。等価クラスの形成は、各回路階層を介して行われる。ここで、等価クラスには包含されない「停止ネットワーク」を考慮する。その代わりに、停止ネットワークのピンタイプのみが、各等価クラスに複写される。これにより、等価クラスに全ての供給された「停止ネットワーク」のピンタイプが知られる。さらに、サブネットワークの等価クラスが考慮される。これにより、この方法は、インスタンスに依存するようになり、セルに依存しなくなる。つまり、例えば、全く同一のセルを様々なインスタンスによって異なるように接続することができる。ここで、等価クラスに包含することができない停止ネットワークが問題になる。このことは、ネットワークの特性を伝送する間、考慮される。
上記方法の利点は、別々の「規則ファイル」の要求にしたがうネットワークリストを、他のネットワークリストに迅速に変換することができ、また、変換されたこのネットワークリストを電気特性の静的検査に用いることができる点にある。
図1および図14の例について記載したように、上記方法を実施している間、全ての素子を短絡した、または、導通していないとして、変換ネットワークリストを用いて電気回路の電気特性の完全な静的検査を実行することができる。このような電気回路の静的検査の速度およびテスト網羅度は、電気回路の動的で詳細な電気シミュレーションで得られるであろうものよりも、著しく速く、著しく改善される。
図15〜図19を用いて、変換または修正されたネットワークリストに基づいてマーキング信号をどのように生成することができるかということを説明する。
図15に、5つのMOSトランジスタNMOS1、NMOS2、NMOS3、NMOS4、NMOS5を示す。ここで、トランジスタNMOS5の一方のスイッチング接続経路端子(つまり、ソース端子またはドレイン端子)は、P2で示したネットワークノードまたはネットワークに接続されている。トランジスタNMOS5の他方のスイッチング接続経路端子は、ネットワークBに接続されている。該ネットワークには、トランジスタNMOS4の一方のスイッチング接続経路端子も接続されている。トランジスタNMOS4の他方のスイッチング接続経路端子は、トランジスタNMOS2の一方のスイッチング接続経路端子およびネットワークAに接続されている。トランジスタNMOS2の他方のスイッチング接続経路端子は、トランジスタNMOS1の一方のスイッチング接続経路端子およびネットワークP1に接続されている。トランジスタNMOS1の他方のスイッチング接続経路端子は、トランジスタNMOS3の一方のスイッチング接続経路端子およびネットワークCに電気的に接続されている。トランジスタNMOS3の他方のスイッチング接続経路端子は、ネットワークDを構成している。
これら2つのネットワークまたはネットワークノードP1およびP2に、電気的状態変数が常に割り当てられる。つまり、ネットワークP1に電源電圧VDDが割り当てられ、ネットワークP2に接地電位VSSが割り当てられる。
さらに、5つのトランジスタNMOS1〜NMOS5を短絡したとする。2つのネットワークP1およびP2に電気的状態変数を常に割り当てること、および、トランジスタNMOS1〜NMOS5を短絡したとすることは、例えば、次のプログラム命令によって得られる。
ercDefines(
defPins(
pin“VSS”=“P2”
pin“VDD”=“P1”
)
shortDevices(
short“MOS”
excludingPinTypes“VSS”“VDD”
)
)
5つのトランジスタNMOS1〜NMOS5を短絡したとすることにより、2つのネットワークP1の電位VDDおよびP2の電位VSSを、これらのトランジスタを介してネットワークP1およびP2に接続されている全てのネットワークに割り当てることができる。
ercDefines(
defPins(
pin“VSS”=“P2”
pin“VDD”=“P1”
)
shortDevices(
short“MOS”
excludingPinTypes“VSS”“VDD”
)
)
5つのトランジスタNMOS1〜NMOS5を短絡したとすることにより、2つのネットワークP1の電位VDDおよびP2の電位VSSを、これらのトランジスタを介してネットワークP1およびP2に接続されている全てのネットワークに割り当てることができる。
しかしここで留意すべきは、2つのネットワークP1およびP2は常に割り当てられている電位(つまり、電位VDDおよびVSS)を有していることにより、これら2つのネットワークP1およびP2をいわゆる「停止ネットワーク」と解する必要があるということである。
つまり、ネットワークP2の電位VSSが、短絡したとされるトランジスタNMOS5を介してネットワークBに達し、短絡したとされるトランジスタNMOS4を介してネットワークAに達する(あるいは、該ネットワークAに“伝搬”される)。これにより、2つのネットワークAおよびBに、それぞれ電位VSSが割り当てられる。このように、電位VDDは、ネットワークP1から、短絡したとされるトランジスタNMOS2を介してネットワークAに達し、短絡したとされるトランジスタNMOS4を介してネットワークBに達する。したがって、これらのネットワークAおよびBにそれぞれ2つの電位VSSおよびVDDが割り当てられる。
しかし、図16から分かるように、ネットワークP2への電位VDDの割当ては行われず、同様に、電位P1への電位VSSの割当ては行われない。なぜなら、電気的状態変数が常に割り当てられている2つのネットワークP1およびP2が「停止ネットワーク」を構成するからである。図15および図16の例では、上記したように、ネットワークP1に電位VDDが常に割り当てられ、ネットワークP2に電位VSSが常に割り当てられている。
このように、電位VDDは、短絡したとされるトランジスタNMOS1を介してネットワークCに割り当てられる。したがって、電位VDDをネットワークDにも割り当てることができる。または、割り当てる必要がある。なぜなら、トランジスタNMOS3は短絡したとされるからである。
その結果、図16に示したように、電位の割当てが行われる。つまり、2つのネットワークAおよびBに、電位VSSおよびVDDが割り当てられ、2つのネットワークCおよびDに電位VDDが割り当てられる。これら2つのネットワークP1およびP2は、常に割り当てられた電位VDDおよびVSSを保存している。なぜなら、該ネットワークが停止ネットワークであるからである。したがって、以下のこともいえる。
P1:VDD
P2:VSS
A:VDD、VSS
B:VDD、VSS
C:VDD
D:VDD
したがって、ネットワークC・D、および、ネットワークA・Bは、それぞれ等価クラスを構成している。
P1:VDD
P2:VSS
A:VDD、VSS
B:VDD、VSS
C:VDD
D:VDD
したがって、ネットワークC・D、および、ネットワークA・Bは、それぞれ等価クラスを構成している。
図15および図16の電気回路を、少なくとも電気的状態変数によって規定された所定の回路状態に達するかどうかについて検査することができる。このことを、マーキング信号(または試験信号)が、電位VDDまたは電位VSSに接続されていない全てのノードに対して出力されるという例にしたがって明示する。プログラミング言語において、調査は以下のようにすることができる。
ercRules(
reportNet(
pinTypes
condition count “VSS”“VDD”<=1
title“No path to VDD or no path to VSS”
)
)
図16から分かるように、ネットワークP1、P2、CおよびDが報告される。ネットワークP1およびP2が停止ネットワークであり、他の電位を受け取ることができないので、該ネットワークが報告される。試験信号も生成される。
ercRules(
reportNet(
pinTypes
condition count “VSS”“VDD”<=1
title“No path to VDD or no path to VSS”
)
)
図16から分かるように、ネットワークP1、P2、CおよびDが報告される。ネットワークP1およびP2が停止ネットワークであり、他の電位を受け取ることができないので、該ネットワークが報告される。試験信号も生成される。
他の試験調査として、例えば、全てのネットワークまたはネットワークノードを電位VSSとなり得る出力とすることが挙げられる。この探索または試験調査は、プログラミング言語において、以下のようにすることができる。
ercRules(
reportNet(
pinTypes
condition
including “VSS”
title “path to VSS”
)
)
この試験調査の結果は、ネットワークA、B、および、P2が電位VSSを有し得るというものである。電位P1は、上記したように、停止ネットワークなので電位VSSを有することができない。それに応じて、2つのネットワークCおよびDも電位VSSを有することができない。なぜなら、該ネットワークには、停止ネットワークP1を介して電位VDDのみを供給するからである。
ercRules(
reportNet(
pinTypes
condition
including “VSS”
title “path to VSS”
)
)
この試験調査の結果は、ネットワークA、B、および、P2が電位VSSを有し得るというものである。電位P1は、上記したように、停止ネットワークなので電位VSSを有することができない。それに応じて、2つのネットワークCおよびDも電位VSSを有することができない。なぜなら、該ネットワークには、停止ネットワークP1を介して電位VDDのみを供給するからである。
図17に、図15および図16の実施形態の変形例を示す。図17の電気回路でも、ネットワークP1に電位VDDを割り当て、ネットワークP2に電位VSSを割り当てている。図15および図16の実施例との違いは、常には割り当てないことにある。これにより、2つのネットワークP1およびP2は停止ネットワークを構成しない。したがって、2つのネットワークP1およびP2に、以前に割り当てられた電位VDDまたはVSSに加えて、さらに他の電位も割り当てられる。ネットワークのピン割り当てまたはピンタイプの定義、および、短絡を、例えば、以下のプログラムラインによって定義することができる。
ercDefines(
defPINs(
pin“VSS”=“P2”
pin“VDD”=“P1”
)
shortDevices(
short“MOS”
)
)
図15および図16に関して述べた方法をここでは用いるので、ネットワークP2に割り当てられるVSSが、短絡したとされるトランジスタMNOS5を介してネットワークBに達し、そこから、短絡したとされるトランジスタNMOS4を介してネットワークAに達する。さらに、電位VSSが、短絡したとされるトランジスタNMOS2を介してネットワークP1に達することができる。なぜなら、ネットワークP1は、もはや停止ネットワークを構成しないからである。ネットワークP1から、電位VSSがトランジスタNMOS1を介してネットワークCに達し、そこからトランジスタNMOS3を介してネットワークDに達する。これにより、電位VSSを全てのネットワークP1、P2、A、B、CおよびDに印加することができる。
ercDefines(
defPINs(
pin“VSS”=“P2”
pin“VDD”=“P1”
)
shortDevices(
short“MOS”
)
)
図15および図16に関して述べた方法をここでは用いるので、ネットワークP2に割り当てられるVSSが、短絡したとされるトランジスタMNOS5を介してネットワークBに達し、そこから、短絡したとされるトランジスタNMOS4を介してネットワークAに達する。さらに、電位VSSが、短絡したとされるトランジスタNMOS2を介してネットワークP1に達することができる。なぜなら、ネットワークP1は、もはや停止ネットワークを構成しないからである。ネットワークP1から、電位VSSがトランジスタNMOS1を介してネットワークCに達し、そこからトランジスタNMOS3を介してネットワークDに達する。これにより、電位VSSを全てのネットワークP1、P2、A、B、CおよびDに印加することができる。
それに応じて、上記実施形態に示したように、電位VDDをネットワークA、B、CおよびDに割り当て、さらに、トランジスタNMOS5を介してネットワークP2に割り当てる。なぜなら、ネットワークP2は同様に停止ネットワークを構成しないからである。
結果として、全てのネットワークが両方の電位VSSおよびVDDを有することができる。つまり、以下のようになる。
P1:VDD、VSS
P2:VDD、VSS
A:VDD、VSS
B:VDD、VSS
C:VDD、VSS
D:VDD、VSS
したがって、ネットワークP1、P2、A、B、CおよびDは、等価クラスを形成する。
P1:VDD、VSS
P2:VDD、VSS
A:VDD、VSS
B:VDD、VSS
C:VDD、VSS
D:VDD、VSS
したがって、ネットワークP1、P2、A、B、CおよびDは、等価クラスを形成する。
図18および図19に第5の電気回路を示す。該回路に基づいて、以下に試験方法またはマーキング方法の実施について詳述する。
図18に、一方のスイッチング接続経路端子(ソース端子)がネットワークP5に接続された、「小さな」nチャネル型MOS電界効果トランジスタNMOS SMALLを示す。ネットワークP5に電位VSSを印加する。トランジスタNMOS SMALLのゲートは、電位VINTを有するP4に位置している。トランジスタNMOS SMALLの他方のスイッチング接続経路端子(ドレイン端子)は、「小さな」pチャネル型MOS電界効果トランジスタPMOS SMALLの一方のスイッチング接続経路端子(ドレイン端子)に接続されている。トランジスタPMOS SMALLの他方のスイッチング接続経路端子(ソース端子)は、電位VINTが印加されるネットワークP2に接続されている。
トランジスタPMOS SMALLのゲート端子は、抵抗Rを介して「大きな」pチャネル型MOS電界効果トランジスタPMOS BIGの一方のスイッチング接続経路端子に接続されている。pチャネル型MOS電界効果トランジスタPMOS BIGの他方のスイッチング接続経路端子は、ネットワークP1に接続されている。トランジスタPMOS BIGのゲート端子は、ネットワークP3に接続されている。該ネットワークには電位VSSが印加される。
ネットワークP1、P2、P3、P4およびP5は、割り当てられた電位のみを有することのできる停止ネットワークである。
抵抗値が500Ωよりも大きい電気回路の全ての抵抗を導通していないものとする。これに対して、抵抗値が500Ω以下の大きさである残り全ての抵抗が理想的であり、ロスなく導通するものとする。ここでは、抵抗Rを短絡したとする。
ネットワークP1、P2、P3、P4、および、P5に対する電位の割り当て、および、素子の電気的ふるまいの定義は、例えば以下のプログラミングの規則によって得られる。
/*ピンタイプおよび電圧の割当て*/
ercDefines(
defPins(
pin“VSS” voltage0 =“P5”“P3”
pin“VINT” voltage2.0=“P2”“P4”
pin“VPP” voltage3.0=“P1”
/*電圧が伝送される装置と、停止ネットワークとの定義*/
shortDevices(
short“MOS”BIG
short“MOS”SMALL
short“RES”value=<500
excludingPinTypes“VPP”“VINT”“VSS”
また、図18および図19に示した回路の小さなpチャネル型トランジスタPMOS SMALLにおいて、高すぎる電圧が生じてしまうかどうかについて検査する。pチャネル型トランジスタPMOS SMALLは、ゲート端子とソース端子またはドレイン端子との間においてVINTよりも大きな電圧が印加されないトランジスタである。上記した定義に基づいて、電圧VINT=2である。
/*ピンタイプおよび電圧の割当て*/
ercDefines(
defPins(
pin“VSS” voltage0 =“P5”“P3”
pin“VINT” voltage2.0=“P2”“P4”
pin“VPP” voltage3.0=“P1”
/*電圧が伝送される装置と、停止ネットワークとの定義*/
shortDevices(
short“MOS”BIG
short“MOS”SMALL
short“RES”value=<500
excludingPinTypes“VPP”“VINT”“VSS”
また、図18および図19に示した回路の小さなpチャネル型トランジスタPMOS SMALLにおいて、高すぎる電圧が生じてしまうかどうかについて検査する。pチャネル型トランジスタPMOS SMALLは、ゲート端子とソース端子またはドレイン端子との間においてVINTよりも大きな電圧が印加されないトランジスタである。上記した定義に基づいて、電圧VINT=2である。
試験を実行するために、初めに、電気回路の、どのネットワークノードまたはどのネットワークに、どの電位または状態が割り当てられる必要があるのかということを確定する必要がある。以下の手順を示す。
初めに、ネットワークP2が停止ネットワークであることが確定される。したがって、このネットワークP2は電位VINTのみを有することができる。しかしながら、この電位VINTは、スイッチング接続経路またはソース−ドレイン端子対に基づいて短絡したとされる必要があるトランジスタPMOS SMALLを介して、ネットワークAに達することができる。さらに、ネットワークAに、電位VSSが割り当てられる。なぜなら、トランジスタNMOS SMALLもスイッチング接続経路またはソースドレイン端子対に基づいて短絡したとされるからである。
ネットワークP1の電位VPPは、スイッチング接続経路またはソース−ドレイン端子対に基づいて短絡したとされるトランジスタPMOS BIGを介して、ネットワークBに達する。抵抗Rの抵抗値R=100Ωにすぎないので、上記規則に従ってこの抵抗を短絡したとする必要がある。したがって、電位VPPは、同様に、ネットワークCに割り当てられ、したがって、トランジスタPMOS SMALLのゲート端子に割り当てられる。
したがって、図19に示したように、電位の割当てがなされる。
したがって、ネットワークA、それゆえにトランジスタPMOS SMALLのドレイン端子にも、電位VSSおよびVINTを印加でき、ネットワークCそれゆえにトランジスタPMOS SMALLのゲート端子に、電位VPPを印加することができる。
電気回路は、2つの「小さな」pチャネル型トランジスタPMOS SMALLにゲート−ソース電圧またはゲートドレイン電圧を印加するかどうかについて検査される。上記ゲートドレイン電圧はVINTよりも大きい。このような試験調査を、例えば、以下のようにすることができる。
/*試験規則*/
reportDevice(
“MOS”
models SMALL
condition nodeVoltage(voltage“GATE”‐v oltege“SDRAIN”>“VINT”)
title“SMALL MOS、voltage difference Ga te‐Source/
Drain/Substrate>VINT”
)
この試験調査にしたがって、ゲート端子とソース端子またはドレイン端子との間で電圧限界VINT=2Vを越える電圧が印加される“小さな”MOS電界効果トランジスタが存在するかどうかが、試験される。
/*試験規則*/
reportDevice(
“MOS”
models SMALL
condition nodeVoltage(voltage“GATE”‐v oltege“SDRAIN”>“VINT”)
title“SMALL MOS、voltage difference Ga te‐Source/
Drain/Substrate>VINT”
)
この試験調査にしたがって、ゲート端子とソース端子またはドレイン端子との間で電圧限界VINT=2Vを越える電圧が印加される“小さな”MOS電界効果トランジスタが存在するかどうかが、試験される。
この試験調査のソリューションを、図19から直接見てとれる。というのも、図19は、小さなpチャネル型トランジスタPMOS SMALLのドレイン端子とゲート端子との間にゲート−ドレイン電圧Ugd(Ugd=VPP−VSS=3ボルトおよびUgd−VPP−VINT=1ボルト)を印加することができるからである。
ゲート端子に電位VPPを印加すると、ゲート端子とドレイン端子との間にUgd=3V>2Vの電位差を形成することができる。したがって、限界電圧または最大電位差(Ugd=VINT=2V)を著しく上回る。
したがって、いわゆる試験調査の結果として、小さなpチャネル型トランジスタPMOS SMALLが報告される。従って、図18および図19の電気回路は、十分な大きさではない。小さなp型チャネルトランジスタPMOS SMALLに代わって、「大きな」p型チャネルトランジスタPMOS BIGを用いるとよい。なぜなら、「大きな」タイプのMOSトランジスタの場合には、ゲート端子およびソース端子との間の、またはゲート端子とドレイン端子との間のVDDの電位差は問題ではないからである。
代わりに、例えば、抵抗Rの抵抗値を増加させることにより、図18および図19の電気回路を、さらに異なるように修正できる。つまり、抵抗Rの抵抗値が500Ωよりも大きいと、電位VPPを、この抵抗Rを介して、小さなp型チャネルトランジスタPMOS SMALLのゲート端子に「伝搬」できない。これにより、トランジスタに過電圧は生じず、トランジスタは報告されない。
さらに、上記試験方法は、電気回路の他のパラメータをも考慮することができる。したがって、例えば、トランジスタの所定の限界電圧を上回るかどうかという調査を、さらに、トランジスタの形状パラメータと結びつけることができる。例えば、VINTよりも大きい電位差がソース端子とドレイン端子との間に印加される、ゲート長が280nmよりも小さい、全ての「小さな」p型チャネルトランジスタを、上記試験方法によって発見できる。その試験調査は、例えば、以下のようになる。
reportDevice(
“MOS”
models P_SMALL
condition length<280&&
nodeVoltage(voltage“SDRAIN”>“VINT”)&&
nodeVoltage(voltage“SOURCE”‐voltage“DRAIN”>“vint”)
title“Small PMOS、length<280、voltage SOURCE‐DRAIN>vint”
)
したがって、上記方法により、回路の完全な電気シミュレーションを用いずに、完全な電気回路の検査を非常に簡単に実現できる。
reportDevice(
“MOS”
models P_SMALL
condition length<280&&
nodeVoltage(voltage“SDRAIN”>“VINT”)&&
nodeVoltage(voltage“SOURCE”‐voltage“DRAIN”>“vint”)
title“Small PMOS、length<280、voltage SOURCE‐DRAIN>vint”
)
したがって、上記方法により、回路の完全な電気シミュレーションを用いずに、完全な電気回路の検査を非常に簡単に実現できる。
Claims (16)
- 電気回路のどの素子に、または、上記電気回路のどの回路領域に少なくともある電位またはある論理状態によって規定された所定の回路状態が生じうるかを示すマーキング信号を生成する方法であって、
少なくとも1つの所定の素子グループからなるまたは少なくとも1つの所定の素子種類からなる上記電気回路の全ての電気素子が、それぞれ1つの接続端子対において短絡したとすることにより、および、短絡したとされる素子の1つまたは複数を介して接続された全てのネットワークノードを結合して等価クラスを形成し、各等価クラスに、対応する上記ネットワークノードの全ての電位または論理状態を割り当てることにより、上記電気回路の回路構造を記述している元のネットワークリストから、変換されたネットワークリストを形成する工程と、
上記等価クラスを考慮することにより、上記電気回路のどの素子で、または、上記電気回路のどの回路領域で、上記所定の回路状態が生じうるかを確定する工程と、
上記マーキング信号として、上記変換されたネットワークリストに基づいて識別される上記元のネットワークリスト中の素子または回路領域をマーキングする信号を、生成する工程とを含む、方法。 - 次に、マーキングされた上記素子またはマーキングされた上記回路領域において上記所定の回路状態が実際に生じうるのかどうかのベリファイを、上記元のネットワークリストを用いて行うことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 上記ベリファイにより上記所定の回路状態が生じないことが示される素子および回路領域に関して、修正されたマーキング信号を生成することにより、マーキング信号を修正することを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- ある電位またはある論理状態が常に割り当てられている、上記電気回路の上記ネットワークノードまたは端子ピンを、等価クラスへの受け入れから除外することを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- 常に割り当てられている電位または論理状態を有する各ネットワークノードの電位または論理状態を、上記ネットワークノードに接続された各上記等価クラスに複写することを特徴とする、請求項4に記載の方法。
- 上記電気回路の全ての電気的素子を、上記素子の各接続端子対において、個々に短絡したとする、または、導通していないとすることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1つの所定のトランジスタ型をした全てのトランジスタのスイッチング接続経路を、短絡したとすることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 所定の限界値を下回る抵抗値を有する全ての抵抗を短絡したとし、上記所定の限界値を上回る抵抗値を有する全ての抵抗を導通していないとすることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
- 上記所定の回路状態として、回路にとって臨界となる回路状態を、特に複数の臨界のスイッチング状態に対して選択し、上記臨界となる回路状態、特に複数の臨界のスイッチング状態に対して実行することを特徴とする、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
- 所定の限界電位に達する、または、それを上回る/下回る、または、所定の論理状態に達する、ネットワークノードまたは等価クラスに対して、上記マーキング信号を生成することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 上記素子に対して個々に予め定められた限界電圧に達する電圧、または、それを上回る/下回る電圧が印加される素子に対してマーキング信号を生成することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 上記素子種類に対して予め定められた限界電圧に達する電圧、または、それを上回る/下回る電圧が印加される素子に対してマーキング信号を生成することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 上記電気回路の回路構造が元のネットワークリストとして入力されているデータ処理装置を用いて行うことを特徴とする、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 電気回路のどの素子に、または、上記電気回路のどの回路領域に少なくともある電位またはある論理状態によって規定された所定の回路状態が生じうるかを示すマーキング信号を生成する装置であって、
上記電気回路の回路構造を記載している元のネットワークリストが格納されているメモリと、
上記メモリに接続された演算装置とを備え、
上記演算装置が、
少なくとも1つの所定の素子グループからなるまたは少なくとも1つの所定の素子種類からなる上記電気回路の全ての電気素子を短絡したとすることにより、および、短絡したとされる素子の1つまたは複数を介して接続された全てのネットワークノードを結合して等価クラスを形成し、各等価クラスに、対応する上記ネットワークノードの全ての電位または論理状態を割り当てることにより、
上記元のネットワークリストから、変換されたネットワークリストを形成し、
上記等価クラスを考慮することにより、上記電気回路のどの素子で、または、どの回路領域で、所定の回路状態が生じうるかを確定し、
上記マーキング信号として、上記変換されたネットワークリストに基づいて識別される上記元のネットワークリスト中の素子または回路領域をマーキングする信号を生成する、ように形成されている、マーキング信号生成装置。 - 上記演算装置が、上記マーキング信号を生成する場合に、請求項2〜13のいずれか1項に記載の方法の工程のうちの少なくとも1つを実行するように形成されていることを特徴とする、請求項14に記載の装置。
- データ処理装置がプログラムのインストール後に請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法の工程を実行するように形成されている、プログラムを備えたデータ媒体。
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