JP2007335428A - Substrate treating equipment - Google Patents
Substrate treating equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007335428A JP2007335428A JP2006161789A JP2006161789A JP2007335428A JP 2007335428 A JP2007335428 A JP 2007335428A JP 2006161789 A JP2006161789 A JP 2006161789A JP 2006161789 A JP2006161789 A JP 2006161789A JP 2007335428 A JP2007335428 A JP 2007335428A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recipe
- error
- check
- screen
- status
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
Description
本発明は基板処理装置に関するものであり、特に、基板処理のシーケンスの内容を操作画面に表示させるようにした基板処理装置に関するものである。 The present invention relates to a substrate processing apparatus, and more particularly to a substrate processing apparatus that displays the contents of a substrate processing sequence on an operation screen.
一般に、縦型基板処理装置には、モニタを備えたプロセス制御モジュールが搭載されている。
従来のプロセス制御モジュールは、基板処理を実施する際に、外部からのインターロック(H2リーク、O2濃度検知異常、H2濃度検知異常等)やガス流量の上限値、下限値、及びガス流量比率のチェックを、基板処理のステップ毎に、ハードウエアとソフトウエアで二重にチェックし、チェック内容やチェック項目を画面に表示させるようになっている。
そして、異常と判定されたときに、チェック内容の表示やチェック項目の表示を赤色に変更することで装置作業者に警告し、その後に、予め設定されていたエラー処理を実施する。
また、エラー処理では、次回の正常な使用を可能とするためリカバリー処理を実施する。このリカバリー処理は、マニュアル操作でN2バルブを開(OPEN)として炉内の危険なガスをN2ガスにより排気管に押し出すといった処理である。
しかし、チェック項目等がテキスト形式で、しかもステップ毎の情報のみがモニタに表示されるので、ハードウエア、ソフトウエアでチェックしている期間が明確でないという問題があり(図11、A参照)、チェックの実施中かどうかも分からない。また、H2バルブの開閉を示す表示(図11、B参照)があってもどこに何のバルブがあるのか分からない。
また、チェック異常が発生した場合、リカバリー処理として、装置作業者がマニュアル操作でN2バルブを開(OPEN)として炉内の危険なガスをN2ガスで押し出した後、基板処理装置の復旧作業が実施される。ところが、前記プロセス制御モジュールは、ステップ毎の情報のみをモニタに表示させるシステムとなっていて、事前のステップの画面情報を現在のステップで書き換えてしまい、チェック異常時のモニタの表示情報だけでは情報が足らず、復旧作業の終了までに多くの時間が掛かってしまうという問題がある(図11)。
In general, a vertical substrate processing apparatus is equipped with a process control module having a monitor.
When a conventional process control module performs substrate processing, an external interlock (H 2 leak, O 2 concentration detection abnormality, H 2 concentration detection abnormality, etc.), an upper limit value, a lower limit value, and a gas flow rate are detected. The flow rate ratio is checked twice for each step of the substrate processing by hardware and software, and the check contents and check items are displayed on the screen.
When it is determined that there is an abnormality, the display of the check contents and the display of the check items are changed to red to warn the operator of the apparatus, and thereafter, a preset error process is performed.
In error processing, recovery processing is performed to enable normal use next time. This recovery process is a process of manually opening the N2 valve (OPEN) to push dangerous gas in the furnace to the exhaust pipe with N2 gas.
However, since the check items and the like are in text format and only the information for each step is displayed on the monitor, there is a problem that the period of checking with hardware and software is not clear (see FIG. 11, A). I don't know if the check is in progress. Further, even if there is a display indicating opening / closing of the H2 valve (see FIG. 11, B), it is not known where the valve is.
Also, if a check error occurs, the recovery of the substrate processing equipment is performed after the operator manually opens the N2 valve (OPEN) and pushes out dangerous gas in the furnace with N2 gas. Is done. However, the process control module is a system that displays only the information for each step on the monitor, and the screen information of the previous step is rewritten at the current step. There is a problem that it takes a long time to complete the recovery work (FIG. 11).
このように、従来は、プロセス制御モジュールで基板処理装置の運転状態を、レシピのステップ毎に管理しており、チェック項目やチェック項目の内容等をテキスト形式でモニタに表示するシステムとしていたため、上記問題点が発生していた。
本発明の目的は、操作画面に基板処理のシーケンス(レシピ)をステップ順に並べて表示するとともに、各ステップで行なわれる内容を把握できるように表示させることで、レシピの全ステップの内容を把握できるようにすることにある。
Thus, conventionally, the process control module manages the operation state of the substrate processing apparatus for each step of the recipe, and the check item and the content of the check item were displayed on the monitor in a text format. The above problem occurred.
An object of the present invention is to display a sequence of substrate processing (recipe) in order of steps on an operation screen, and display the contents performed in each step so that the contents of all steps of the recipe can be grasped. Is to make it.
第1の発明は、複数のステップから構成されるレシピの作成を行うための操作画面と、この操作画面を有する表示手段と、前記レシピを制御する制御手段とを有し、前記レシピを実行させることにより基板の処理を行う基板処理装置において、前記操作画面に、前記レシピの各ステップ名を表示させると共に、前記ステップ内で行なわれる基板処理の内容を示すアイコンを前記レシピの各ステップ名に対応させて表示させる表示制御手段を備えたものである。
ここで、「アイコン」とは、ステップ内で行なわれる基板処理の内容を一目で把握する図柄が施されたアイコンのことである。操作画面に、各ステップ名とともにステップ名に対応したアイコンが表示されると、一連のステップからなるレシピ(基板処理のシーケンス)が一目で把握できる。
1st invention has the operation screen for creating the recipe comprised from several steps, the display means which has this operation screen, and the control means which controls the said recipe, and makes the said recipe run In the substrate processing apparatus for processing a substrate by this, each step name of the recipe is displayed on the operation screen, and an icon indicating the content of the substrate processing performed in the step corresponds to each step name of the recipe Display control means for displaying them.
Here, the “icon” is an icon provided with a pattern for grasping at a glance the contents of the substrate processing performed in the step. When an icon corresponding to a step name is displayed together with each step name on the operation screen, a recipe (substrate processing sequence) including a series of steps can be grasped at a glance.
第2の手段は、前記操作画面に、各ステップに対応する情報として、アイコンと共にガス配管図を表示させるものである。
ガス配管図(ガスフロー図)が表示されると、各ステップでのガス供給用または排気用のバルブ開閉状態やポンプのON/OFFだけでなくOリングのリール状態やH2ガスに対するインターロックが生じているかを一目で把握できるので、作業効率が向上する。
A 2nd means displays a gas piping figure with an icon on the said operation screen as information corresponding to each step.
When the gas piping diagram (gas flow diagram) is displayed, not only the valve open / close state of the gas supply or exhaust for each step, the ON / OFF state of the pump but also the reel state of the O-ring and the interlock for H2 gas occur. Work efficiency can be improved.
第3の手段は、前記操作画面に、各ステップに対応する情報として、アイコンと共にステップ毎のエラーチェック項目を表示させるようにしたものである。
エラーチェック項目が表示されると、各ステップで生じているエラーの状態が一目で把握できるのでエラーが発生しても迅速な対応が可能となる。また、エラーチェック項目内のアイコン(エラーアイコン)が表示されるので、エラーの種類を容易に把握することが可能となる。
ここで、エラーアイコンとは、エラーチェック項目の内容を示すアイコンのことである。
The third means displays an error check item for each step together with an icon as information corresponding to each step on the operation screen.
When the error check item is displayed, the state of the error occurring at each step can be grasped at a glance, so that even if an error occurs, a quick response can be made. Further, since an icon (error icon) in the error check item is displayed, it is possible to easily grasp the type of error.
Here, the error icon is an icon indicating the contents of the error check item.
第4の手段は、前記操作画面に、各ステップに対応する情報として、ステップ名を横軸に、バルブやセンサの情報エラーチェック項目を縦軸に表示させるようにしたものである。
このようにすると、ステップ毎に、バルブやセンサの情報等が得られるので装置の状態を一目で把握できる。また、各ステップでエラーが発生してもどのバルブやセンサが原因でどのようなエラーが発生しているか一目で把握でき、復旧作業がしやすくなる。
The fourth means displays the step name on the horizontal axis and the information error check items of valves and sensors on the vertical axis as information corresponding to each step on the operation screen.
In this way, information on valves and sensors can be obtained for each step, so that the state of the apparatus can be grasped at a glance. In addition, even if an error occurs in each step, it is possible to grasp at a glance what kind of error has occurred due to which valve or sensor, and it is easy to perform the restoration work.
第5の手段は、第2〜第4の画面を、前記操作画面上で切り替え可能としたものである。
このようにすると、必要な情報を必要な画面で得ることができるので、が使い勝手が大幅に向上する。
The fifth means allows the second to fourth screens to be switched on the operation screen.
In this way, since necessary information can be obtained on a necessary screen, usability is greatly improved.
本発明によれば、ハードウエア、ソフトウエアにて実施するインターロックチェック期間、ガス流量の上限値、下限値、ガス流量比率、チェック期間、エラーが発生したステップ、エラーの詳細等、レシピの各ステップの情報を画面に明確に表示させることが可能なので、基板処理のシーケンス全体が画面上で把握でき、現在のステップ(ステータス)の状態及び実行済みのステップに対する視認性が向上する。また、ガス配管図を同一画面上に表示することにより、現在のステータスとガス状態とを対比してのモニタリングが容易になる。また、障害の発生時には、どのステータス実行中に障害が発生したのかが画面で判断できるため、復旧作業に取り掛かる時間を短縮できる。 According to the present invention, hardware, software implemented interlock check period, gas flow upper limit value, lower limit value, gas flow rate ratio, check period, error occurred step, error details, etc. Since the step information can be clearly displayed on the screen, the entire substrate processing sequence can be grasped on the screen, and the visibility of the current step (status) state and the executed step is improved. Further, by displaying the gas piping diagram on the same screen, it becomes easy to compare the current status with the gas state. In addition, when a failure occurs, it is possible to determine on which screen the failure has occurred during execution of the status, so that the time required for recovery work can be reduced.
本発明を実施するための最良の形態において、基板処理装置は、一例として、半導体装置(IC)の製造方法における処理工程を実施する半導体製造装置として構成されている。なお、以下の説明では、基板処理装置として基板に酸化、拡散処理やCVD処理などを行なう縦型の装置(以下、単に処理装置という)を適用した場合について述べる。 In the best mode for carrying out the present invention, as an example, the substrate processing apparatus is configured as a semiconductor manufacturing apparatus that performs processing steps in a method of manufacturing a semiconductor device (IC). In the following description, a case where a vertical apparatus (hereinafter simply referred to as a processing apparatus) that performs oxidation, diffusion processing, CVD processing, or the like is applied to the substrate as the substrate processing apparatus will be described.
図9は、本実施の形態に係る処理装置の斜透視図として示されている。また、図10は図9に示す処理装置の側面透視図である。 FIG. 9 is an oblique perspective view of the processing apparatus according to the present embodiment. FIG. 10 is a side perspective view of the processing apparatus shown in FIG.
図9および図10に示されているように、シリコン等からなるウエハ(基板)200を収納したウエハキャリアとしてフープ(基板収容器。以下ポッドという。)110が使用されている本実施形態に係る処理装置100は、筐体111を備えている。筐体111の正面壁111aの正面前方部にはメンテナンス可能なように設けられた開口部としての正面メンテナンス口103が開設され、この正面メンテナンス口103を開閉する正面メンテナンス扉104,104がそれぞれ建て付けられている。
筐体111の正面壁111aにはポッド搬入搬出口(基板収容器搬入搬出口)112が筐体111の内外を連通するように開設されており、ポッド搬入搬出口112はフロントシャッタ(基板収容器搬入搬出口開閉機構)113によって開閉されるようになっている。
ポッド搬入搬出口112の正面前方側にはロードポート(基板収容器受渡し台)114が設置されており、ロードポート114はポッド110を載置されて位置合わせするように構成されている。ポッド110はロードポート114上に工程内搬送装置(図示せず)によって搬入され、かつまた、ロードポート114上から搬出されるようになっている。
As shown in FIGS. 9 and 10, a hoop (substrate container; hereinafter referred to as a pod) 110 is used as a wafer carrier that stores a wafer (substrate) 200 made of silicon or the like. The
A pod loading / unloading port (substrate container loading / unloading port) 112 is opened on the
A load port (substrate container delivery table) 114 is installed in front of the front side of the pod loading /
筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式ポッド棚(基板収容器載置棚)105が設置されており、回転式ポッド棚105は複数個のポッド110を保管するように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚105は垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収容器載置台)117とを備えており、複数枚の棚板117はポッド110を複数個宛それぞれ載置した状態で保持するように構成されている。
A rotary pod shelf (substrate container mounting shelf) 105 is installed at an upper portion of the
筐体111内におけるロードポート114と回転式ポッド棚105との間には、ポッド搬送装置(基板収容器搬送装置)118が設置されており、ポッド搬送装置118は、ポッド110を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ(基板収容器昇降機構)118aと搬送機構としてのポッド搬送機構(基板収容器搬送機構)118bとで構成されており、ポッド搬送装置118はポッドエレベータ118aとポッド搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式ポッド棚105、ポッドオープナ(基板収容器蓋体開閉機構)121との間で、ポッド110を搬送するように構成されている。
A pod transfer device (substrate container transfer device) 118 is installed between the
筐体111内の前後方向の略中央部における下部には、サブ筐体119が後端にわたって構築されている。サブ筐体119の正面壁119aにはウエハ200をサブ筐体119内に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)120が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウエハ搬入搬出口120、120には一対のポッドオープナ121、121がそれぞれ設置されている。
ポッドオープナ121はポッド110を載置する載置台122、122と、ポッド110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123、123とを備えている。ポッドオープナ121は載置台122に載置されたポッド110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、ポッド110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。
A
The
サブ筐体119はポッド搬送装置118や回転式ポッド棚105の設置空間から流体的に隔絶された移載室124を構成している。移載室124の前側領域にはウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されており、ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転ないし直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125aおよびウエハ移載装置125aを昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bとで構成されている。
図9に模式的に示されているようにウエハ移載装置エレベータ125bは、耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の移載室124前方領域右端部との間に設置されている。これら、ウエハ移載装置エレベータ125bおよびウエハ移載装置125aの連続動作により、ウエハ移載装置125aのツイーザ(基板保持体)125cをウエハ200の載置部として、ボート(基板保持具)217に対してウエハ200を装填(チャージング)および脱装(ディスチャージング)するように構成されている。
The
As schematically shown in FIG. 9, the wafer
移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させる待機部126が構成されている。待機部126の上方には、処理室202が設けられている。処理室202の下端部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成されている。
In the rear region of the
図9に模式的に示されているように、耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の待機部126右端部との間にはボート217を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が設置されている。ボートエレベータ115の昇降台に連結された連結具としてのアーム128には蓋体としてのシールキャップ219が水平に据え付けられており、シールキャップ219はボート217を垂直に支持し、処理室202の下端部を閉塞可能なように構成されている。
ボート217は複数本の保持部材を備えており、複数枚(例えば、50枚〜125枚程度)のウエハ200をその中心を揃えて垂直方向に整列させた状態で、それぞれ水平に保持するように構成されている。
As schematically shown in FIG. 9, a boat elevator (substrate holder lifting / lowering) for raising and lowering the
The
図9に模式的に示されているように移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側およびボートエレベータ115側と反対側である左側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給するよう供給フアンおよび防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されており、ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、図示はしないが、ウエハの円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置135が設置されている。
As schematically shown in FIG. 9, the left end of the
クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、ノッチ合わせ装置135およびウエハ移載装置125a、待機部126にあるボート217に流通された後に、図示しないダクトにより吸い込まれて、筐体111の外部に排気がなされるか、もしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット134によって、移載室124内に吹き出されるように構成されている。
The
次に、本発明の基板処理装置の動作について説明する。
図9および図10に示されているように、ポッド110がロードポート114に供給されると、ポッド搬入搬出口112がフロントシャッタ113によって開放され、ロードポート114の上のポッド110はポッド搬送装置118によって筐体111の内部へポッド搬入搬出口112から搬入される。
搬入されたポッド110は回転式ポッド棚105の指定された棚板117に、ポッド搬送装置118によって自動的に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載されるか、もしくは直接、ポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載される。この際、ポッドオープナ121のウエハ搬入搬出口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124にはクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20ppm以下と、筐体111の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。
Next, the operation of the substrate processing apparatus of the present invention will be described.
As shown in FIGS. 9 and 10, when the
The loaded
載置台122に載置されたポッド110はその開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬入搬出口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ウエハ出し入れ口を開放される。
ポッド110がポッドオープナ121によって開放されると、ウエハ200はポッド110からウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされ、ノッチ合わせ装置135にてウエハを整合した後、移載室124の後方にある待機部126へ搬入され、ボート217に装填(チャージング)される。ボート217にウエハ200を受け渡したウエハ移載装置125aはポッド110に戻り、次のウエハ200をボート217に装填する。
The
When the
この一方(上段または下段)のポッドオープナ121におけるウエハ移載機構125によるウエハ200のボート217への装填作業中に、他方(下段または上段)のポッドオープナ121には回転式ポッド棚105から別のポッド110がポッド搬送装置118によって搬送されて移載され、ポッドオープナ121によるポッド110の開放作業が同時進行される。
During the loading operation of the
予め指定された枚数のウエハ200がボート217に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた処理室202の下端部が、炉口シャッタ147によって、開放される。続いて、ウエハ200群を保持したボート217はシールキャップ219がボートエレベータ115によって上昇されることにより、処理室202内へ搬入(ローディング)されて行く。
When a predetermined number of
ローディング後は、処理室202にてウエハ200に任意の処理が実施される。
処理後は、ノッチ合わせ装置135でのウエハの整合工程を除き、上述の逆の手順で、ウエハ200およびポッド110は筐体111の外部へ払出される。
After loading, arbitrary processing is performed on the
After the processing, the
図1は前記処理装置を管理し、処理装置に基板処理を実施させる装置コントローラとしてのプロセス制御モジュール1のブロック図である。プロセス制御モジュール1は、操作部2と制御部3とで構成されている。操作部2と制御部3には、それぞれ送受信モジュール4、5が組み込まれており、LAN6を介して通信可能となっている。また、操作部2には、ユーザインタフェイスとしてモニタ7とキー入力装置8とが接続されている。操作部2には、固定記憶装置としてハードディスク9が備えられており、ハードディスク9には、プロセスレシピ20、アラーム条件テーブル21、ABORTレシピ22、PMCコンフィグファイル23(プロセスモジュールコンフィグファイル)の他、画面ファイル、アイコンファイルや基板処理や画面表示のためのプログラム、基板処理に必要なテーブル類やファイル類(いずれも図示せず)が格納されている。
FIG. 1 is a block diagram of a
プロセスレシピ(基板処理のシーケンス)20には、ステップ毎に、温度コントローラ、圧力コントローラ、弁コントローラ(後述する)等の処理装置の各サブコントローラに送信する設定値(制御値)が設定され、ABORTレシピ22には、ステップ毎のエラーチェックによりエラーが発生した場合のリカバリー処理の手順がエラーの状態毎に格納されている。また、PMCコンフィグファイル23(プロセス制御モジュールコンフィグファイル23)やアラーム条件テーブル21には、ABORTレシピ22をステップ名で検索するためのテーブル番号の他、基板処理装置の制御に用いられる各種のパラメータが格納されている。
従って、ABORTレシピ22のテーブル番号が検索され、テーブル番号で検索されると、テーブル番号で検索したABORTレシピ22が実行され、このABORTレシピ22に定められた手順、内容でリカバリー処理を実施することが可能となる。なお、前記プロセスレシピ20にはエラーチェックを実行するシーケンスが含まれている。
In the process recipe (substrate processing sequence) 20, a set value (control value) to be transmitted to each sub-controller of the processing apparatus such as a temperature controller, a pressure controller, and a valve controller (described later) is set for each step. The
Accordingly, the table number of the
一方、制御部3には、前記サブコントローラとして、外燃装置の燃焼を制御する外燃コントローラ10、ウエハ移載機11の位置を制御する位置コントローラ(図示せず)、処理室202を加熱するヒータ12の温度を制御することで処理室202の温度を調節する温度コントローラ(図示せず)、処理室202から排気するための減圧排気装置としての真空ポンプ(後述する)のポンプ・圧力バルブ13を開閉する圧力コントローラ(図示せず)、処理室202に連通するガス配管14の単一又は複数の原料ガス供給管の開閉と、その下流に配置されたマスフローコントローラMFCの流量を制御する弁コントローラ等が接続されている。
On the other hand, the
操作部2と制御部3には、少なくとも、プロセスレシピ20、アラーム条件テーブル21、ABORTレシピ22、PMCコンフィグファイル23等を格納するためのメモリ19が設けられ、制御部3には、前記プロセスレシピ20から各サブコントローラに対する設定値を取得してそれぞれ対応するサブコントローラに送信するための手段として、設定値送信モジュール15が設けられると共に、テーブル番号により前記ABORTレシピ22を取得するための手段としてABORTレシピ取得モジュール16が設けられ、さらに、エラー発生時にリカバリー処理を自動で行わせるために前記ABORTレシピ22を選択するためのPMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール17が設けられ、PMCコンフィグファイル23と同様にテーブル番号により前記ABORTレシピ22を選択するためのアラーム条件テーブル21を取得するアラーム条件テーブル設定値取得モジュール18が設けられる。
The
なお、前記操作部2及び制御部3は、それぞれ、CPU、I/O、メモリ等からなる周知のコンピュータで構成されており、各モジュールは、コンピュータのハードウエア資源を前記各手段として機能させるプログラムによって構成されている。
The
前記プロセス制御モジュール1を起動し、操作部2と制御部3とを起動すると、操作部2がハードディスク9に予め格納されていた画面ファイルから初期画面(起動画面)を取得してモニタ7に表示させる。初期画面にはダウンロードボタン(図示せず)が表示されていて、装置作業者又はオペレータが前記キー入力装置8(初期画面上にタッチキーが表示させる場合は指)で初期画面上のダウンロードボタンを押下すると、制御に使用されるプロセスレシピ20やABORTレシピ22等がメモリに格納される。なお、このようなダウンロードは起動時に自動的に行われるようにしてもよい。
When the
この場合、操作部2、具体的には、CPUにより、ハードディスク9のプロセスレシピ20、アラーム条件テーブル21、ABORTレシピ22及びPMCコンフィグファイル23等が、操作部2のメモリ30に格納され、操作部2のメモリ30に格納したプロセスレシピ20、アラーム条件テーブル21、ABORTレシピ22及びPMCコンフィグファイル23等が、操作部2の送受信モジュール4、LAN6、制御部3の送受信モジュール5を介して制御部3のメモリ19に転送される。
In this case, the
制御部3では、各モジュール15〜18が起動しており、起動後、制御部3のメモリ19を参照している。操作部2のメモリ30から制御部3のメモリ19への転送が終了すると、レシピ設定値送信モジュール16が、制御部3のメモリ19に格納されたプロセスレシピ20から各サブコントローラに送信するための設定値を取得し、操作部2が、前記ハードディスク9の画面ファイルを検索してレシピ実行やレシピ作成等のための操作画面(図示せず)をモニタ7に表示させる。
In the
この後、レシピ実行ボタンが押下されると、操作部2は、モニタ7に基板処理の制御状態やインターロックに関する操作画面をモニタ7に表示させる。なお、以下の説明において、画面上のボタンやボックス等には、それぞれ対応するプログラムが関連付けられたプログラム上のボタンを意味し、ボタンやボックス、又はキーが押されたことを検知したときに操作部2のCPU又は制御部3のCPUが対応するプログラムを起動し、制御を実行するものとするものとする。なお、以下、操作部2又は制御部3が実行する制御は、これらのCPUがコンピュータのハードウエア資源を、対応する手段として制御するものとする。
Thereafter, when the recipe execution button is pressed, the
図2乃至図6は基板処理の際,モニタ7に表示される操作画面の一例である。
図2に示す操作画面を機能上、アウトライン表示画面と呼び、図4に示す操作画面を機能上、エラー表示画面と呼び、図5及び図6に示す操作画面をそれぞれ機能上、シーケンス表示(モニタ)画面と呼ぶ。
2 to 6 are examples of operation screens displayed on the
The operation screen shown in FIG. 2 is functionally called an outline display screen, the operation screen shown in FIG. 4 is called a functional error display screen, and the operation screens shown in FIGS. ) Called screen.
図2に示すように、アウトライン表示画面G1には、基板処理のシーケンス(レシピ)のステップ順にステータス名(レシピ名)が表示されると共に、各ステップで行なわれる基板処理の内容を説明するアイコンが表示されており、さらに、配管の状態と弁等の開閉状態を示すためのガス配管図が表示されている。図示例では、アウトライン表示画面G1にアニールのステップ順で「idle」→「BoatLoad」→「PreEVAC」→「LeekCheck」→「H2Aneal」→「N2AfterPuge」→「AfterEVAC」→「Leak」→「ORingLeak」→「BoatUnload」のステータス名が表示され、各ステップで行なわれる基板処理の内容を図柄で示すアイコンI1〜I11が、ステータス名の列と並列に表示される。アイコンI1〜I11は、それぞれ内容を説明すべきステップのステータス名の上方に配置される。各ステータス名は、操作部2による前記プロセスレシピ20とPMCコンフィグファイル23の少なくともいずれか一方の検索によって取得され、アイコンI1〜I11は前記アイコンファイルを「各ステップ名」と、「基板処理前」で検索することによって取得される。以下、処理前の表示として用いられるアイコンの背景を「消灯色」とする。基板処理中のエラーによりH2ガスを流すためのバルブが強制的に閉じられていることを示すアイコン(H2チェックアイコン)I12は、基板処理中にエラーが発生すると赤色に点灯するようになっている。そして、アイコンI1〜I11とH2チェックアイコンにより、どのステップでエラーが発生したか容易に把握できるようになっている。H2チェックアイコン12も前記アイコンファイルを検索して取得できる。
As shown in FIG. 2, on the outline display screen G1, status names (recipe names) are displayed in order of steps of a substrate processing sequence (recipe), and icons for explaining the contents of the substrate processing performed in each step are displayed. Further, a gas piping diagram for indicating the state of piping and the open / closed state of valves and the like is displayed. In the illustrated example, “idle” → “BoatLoad” → “PreEVAC” → “LeekCheck” → “H2Anal” → “N2AfterPuge” → “AfterEVAC” → “Leak” → “ORingLeak” → The status name “BoatUnload” is displayed, and icons I1 to I11 indicating the contents of the substrate processing performed in each step are displayed in parallel with the status name column. The icons I1 to I11 are respectively arranged above the status names of the steps whose contents are to be explained. Each status name is acquired by searching at least one of the
基板処理が開始されると、操作部2は、前記プロセスレシピ20のステップに基づいて、処理実行中のステップのアイコンを点滅させ、他のステップのアイコンと区別する(図3、ステータス3参照)。アイコンの点滅は、例えば、点滅直前の消灯色のアイコンと同じ図柄で背景色が別の二種類のアイコンを所定時間おきに交互に表示させることにより行う。これらのアイコンは、前記アイコンファイルを、点滅前と同じ「ステップ名」と「実行中又は点滅」で、検索することによって取得される。
When the substrate processing is started, the
実行中のステップが終了すると、操作部2は、点滅したステップのアイコンを別の背景色のアイコンに替えて、このステップが終了したことを表示する。この場合、操作部2は、点滅のためのアイコンの検索に用いたステップ名と同じ「ステップ名」、「実行後又は点灯」でアイコンファイルを検索し、背景色が明るく、消灯色と区別可能な背景色のアイコンを検索し、このアイコンを点滅処理に用いた二種類のアイコンに代えてアウトライン表示画面G1に表示する(図3、ステータス2,ステータス2参照)。以下、この明るい背景色を「点灯色」という。
When the step being executed is completed, the
また、操作部2は、図3に示すように、操作部2のメモリ30に又はハードディスク9にステータス実行履歴保持エリア25を作成し、シーケンスのステップの進行に伴って、点滅、点灯、消灯を、それぞれ、◎、○、×の記号で記録し、次のステップに移る前に、このステータス実行履歴保持エリア25の記録を参照することで現在の状態を保持させ、次のステップでステータス実行履歴保持エリア25の記録を更新する。
Further, as shown in FIG. 3, the
なお、処理後を表すアイコンの背景には点灯をイメージする色、例えば、緑系の明るい背景を用い、処理前、すなわち、未処理のステータス名に対応するアイコンの背景には消灯をイメージする背景色を用い、点滅表示には、点滅の表示に有効な色の組み合わせを用いるものとする。また、ステータス実行履歴保持エリア25の記録には、◎、○、×に限らず、他のコードを用いるようにしてもよい。
Note that the background of the icon representing the post-processing uses a color that lights up, for example, a light green background, and the background of the icon that corresponds to the status name before processing, that is, an unprocessed status name It is assumed that a combination of colors effective for blinking display is used for blinking display using colors. Further, the recording of the status execution
このように、各アイコンの図柄が、アニール処理のシーケンスの内容を分かりやすく表示するので、装置作業者はアイコンの図柄のみでステップの内容を把握することが可能となり、また、基板処理のシーケンス全体のステップ数と、各ステップの内容を把握することが可能となる。また、操作部2が、基板処理のシーケンスの全てのステータス名をステップ順にモニタ7に表示させ、各ステータスの処理状態をアイコンの背景色の相違や点滅により区別するので、装置作業者が基板処理の状態を一目で把握することが可能となる。
なお、アウトライン表示画面G1上に表示するシーケンスのステータス名は、プロセスレシピ20のステップ毎の検索により取得される。
In this way, the design of each icon displays the details of the annealing process sequence in an easy-to-understand manner, so that the equipment operator can grasp the contents of the steps using only the design of the icon, and the entire substrate processing sequence. It is possible to grasp the number of steps and the contents of each step. Further, since the
The status name of the sequence displayed on the outline display screen G1 is acquired by searching for each step of the
アウトライン表示画面G1にはアニールの際のガス配管図が表示される。ガス配管図は、処理室202と、配管系と、弁系、センサ系で構成されている。
配管系としては、処理室202にアニールガス、例えば、H2ガスを供給するアニールガス供給管66と、処理室202にN2パージガスを供給するパージガス配管51と、処理室202にロードするボートと処理室202の間をシールするシール部としての二重Oリングシール部52のOリングシール用配管53と、二重Oリングシール部52のリークをチェックするためのリークチェック配管54と、処理室202から処理室内雰囲気を排気する排気管65と減圧排気装置としての真空ポンプ64とが表示される。
On the outline display screen G1, a gas piping diagram at the time of annealing is displayed. The gas piping diagram includes a
The piping system includes an annealing
弁系としては、アニールガス供給管50を開閉するH2バルブH2−1〜H2−3と、パージガス配管51を開閉するパージ弁N2−1〜N2−3と、Oリングシール用配管53を開閉するOリング排気バルブ55と、リークチェック配管54を開閉するOリングリークバルブ56と、メイン排気管65を開閉するメイン排気バルブ57と、アニールガス供給管66の流量を調節するマスフローコントローラ(図1で説明したMFCに対応する)50と、パージガス配管51の流量を調節するマスフローコントローラ(図2で説明したMFCに対応する)59とが表示され、センサ系としては、Oリングシール用配管53のOリング排気バルブ55の上流側で且つシール部52の下流側に配置する真空センサ(ORingVAC)60と大気圧センサ(ORingATM)61と、処理室202の下流側で配管のメイン排気バルブ57の上流側に配置する真空センサ(MainVAC)62と大気センサ(MainATM)63とが表示される。
As the valve system, H2 valves H2-1 to H2-3 for opening and closing the annealing
各弁N2−1〜N2−3,55〜57等は、前記操作部2による前記アイコンファイルの検索により取得され、アウトライン表示画面G1に表示される。この場合、操作部2は、プロセスレシピ20のステップに基づいて、弁N2−1〜N2−3,55〜57のうち実際に開いている弁の背景色と、閉じている弁の背景色を異ならせることで配管図に対する弁N2−1〜N2−3,55〜57等の開閉状態を装置作業者に把握させる。なお、この場合に、操作部2は、プロセスレシピ20のステップに基づいてステップ毎の弁N2−1〜N2−3,55〜57の開閉設定を取得するものとする。また、これら弁の検索については、前記アイコンファイルを対応する「ステップ名」と、対応する「弁名」及び「弁開」又は「弁閉」で検索するものとし、これらの検索子にリンク付けしておいた各弁等を、予めアイコンファイルに格納しておくものとする。
また、前記アウトライン表示画面G1には、前記したように、操作画面を切り替えるため「アウトライン」、「詳細」、「シーケンス」のボックスが表示され、操作部2が、これらのボックスが選択されると、それぞれアウトライン表示画面G1、エラー表示画面G2、シーケンスモニタ画面G3を表示させるようになっている。なお、各画面で現在表示しているボックスをオンとした場合、操作部2はオン操作を無効として表示していた画面の表示を継続するようになっている。
The valves N2-1 to N2-3, 55 to 57, and the like are acquired by searching the icon file by the
As described above, the outline display screen G1 displays the “outline”, “detail”, and “sequence” boxes for switching the operation screen, and the
図4はアウトライン表示画面G1で「詳細」のボックスが選択されたとき、操作画面として前記モニタ7に表示されるエラー表示画面G2である。なお、このエラー表示画面G2には、図2で図示した前記アウトライン表示画面G1と同様に、シーケンスのステップ順にステータス名が表示されると共に、各ステップで行なわれる基板処理の内容を説明するアイコンI1〜I11と、H2チェックアイコンI12や前記した画面切り替えのための「アウトライン」、「詳細」、「シーケンス」のボックスが表示されるが、この図4では、簡便のため省略している。
FIG. 4 shows an error display screen G2 displayed on the
このアウトライン表示画面G1には、ソフトインターロックに対するエラーチェック項目として、「アニール温度」、「Oリングシール」、「Oリング排気」、「OリングVAC」、「反応室VAC」、「OリングATM」、「反応室ATM」、「シール(排気系)、排気温度」、「ガス濃度(大気及びアニールガス)」のチェック項目がプロセスレシピ20のステップに基づいて表示されている。エラー表示画面G2の各チェック項目の欄に、それぞれチェック欄のチェック項目に対応する内容を示すエラーアイコンI13〜I29が表示される。チェック項目は、操作部2のプロセスレシピ20の検索によりステップ毎に表示される。エラーアイコンI13〜I29は、操作部2による前記アイコンファイルの検索により取得されるものである。
On the outline display screen G1, error check items for soft interlock include “annealing temperature”, “O-ring seal”, “O-ring exhaust”, “O-ring VAC”, “reaction chamber VAC”, “O-ring ATM”. "Reaction chamber ATM", "Seal (exhaust system), exhaust temperature", and "Gas concentration (atmosphere and annealing gas)" are displayed based on the
操作部2は、この画面において、エラーチェック中のチェック項目については、チェック項目の内容を説明するためのエラーアイコンの背景色を、正常の場合のエラーアイコンの背景色と異なる背景色、例えば緑色から赤色に代えてチェック中を表示する。なお、この場合、操作部2は、前記アイコンファイルを「エラーチェック項目」、「アイコン名」、「エラーチェック中」で検索し、アイコンファイルには、これらの検索子と予めリンク付けされた異常時のエラーアイコンが格納されているものとし、チェック中のチェック項目は、プロセスレシピ20のステップから取得する。従って、このエラー表示画面G2によれば、エラーアイコンI13〜I29の背景色により、エラーチェックの結果を一目で把握することが可能となる。なお、この画面の詳細は後述するシーケンスの説明で詳述する。
On this screen, the
図5及び図6は画面のスクロールバーにより画面上に表示したシーケンス表示画面G3のスクロール画面である。
このシーケンス画面G3では、各ステップ(ステータス)におけるバルブ開閉状態、エラーチェック項目、H2バルブOPEN許可条件、ボートアンロード許可条件が表示されている。
図5には、各ステータスにおけるバルブ開閉状況とエラーチェック状況が表示されている。
このバルブ開閉状態は図2で示されるガス配管図とリンクされている。また、エラーチェック状況は図4で示されるエラーチェック項目とリンクされている。この図5では、エラーチェックとともにどのバルブがそのエラーに関与しているか一目で把握できるようになっている。
このシーケンス表示画面G3では、アニール(H2アニール)処理のシーケンスの実行中に実施されたソフトインターロックの項目(種類)と、チェック範囲とが明確に表示される。ソフトインターロックのチェック項目には、「Oリング排気」、「OリングVAC」、「OリングATM」、「メインVAC」、「メインATM」、「O2濃度」、「N2濃度」、「N2積算流量」、「排気温度」、「アニール温度」、「H2リークマスク」等の種類があり、図中、枠内に点模様を施した領域がチェック範囲を示している。例えば、図示例では、Oリング排気が、前記シール部52(図2参照)に対してORingSealのときに実施され、排気温度のチェックはPreEVAC、H2アニール、AfterEVACの際に実施される。操作部2は、各チェック項目について、チェックが開始されたときから終了するまで表示する。エラーが発生したときには、枠内に点模様を施したエラーチェックの範囲を例えば、チェック前の緑色の状態から赤色に変化させる。このため、エラーチェック項目とそのチェック範囲を一目で把握することが可能となる。
5 and 6 are scroll screens of the sequence display screen G3 displayed on the screen by the scroll bar of the screen.
In this sequence screen G3, the valve open / close state, error check items, H2 valve OPEN permission condition, and boat unload permission condition in each step (status) are displayed.
FIG. 5 shows the valve open / close status and error check status for each status.
This valve open / closed state is linked to the gas piping diagram shown in FIG. The error check status is linked to the error check items shown in FIG. In FIG. 5, it is possible to grasp at a glance which valve is involved in the error together with the error check.
On this sequence display screen G3, the items (types) of soft interlock executed during the execution of the annealing (H2 annealing) sequence and the check range are clearly displayed. Soft interlock check items include “O-ring exhaust”, “O-ring VAC”, “O-ring ATM”, “main VAC”, “main ATM”, “O2 concentration”, “N2 concentration”, “N2 integration” There are types such as “flow rate”, “exhaust temperature”, “annealing temperature”, “H2 leak mask”, etc., and in the figure, a region with a dotted pattern in the frame indicates the check range. For example, in the illustrated example, the O-ring exhaust is performed when ORingSeal is performed on the seal portion 52 (see FIG. 2), and the exhaust temperature is checked during PreEVAC, H2 annealing, and AfterEVAC. The
この図6ではH2バルブ(図2のH2−1〜H2−3に対応する)のオープン条件(H2パージ)と、ボートアンロード条件を示すものである。H2バルブオープン条件は複数存在しており、条件がOKとなるたびに、H2パージが許可され、操作部2が、許可された各々のバーを、例えば、許可前の色と異なった色、例えば、水色に変化させる。また、ボートアンロード条件も複数存在しており、条件がOKとなるたびにアンロード許可のバーが、許可前の色と異なった色、例えば、水色に変化する。
FIG. 6 shows an open condition (H 2 purge) of the H2 valve (corresponding to H2-1 to H2-3 in FIG. 2) and a boat unload condition. H2 valve open condition has plurality of, whenever a condition is OK, allowed H 2 purge, the
図7はエラーチェック、リカバリー処理を含むアニールのシーケンスの概略的な流れを示すフローチャートである。なお、アニールは組み合わせによって色々なタイプが存在するが、ここでは、H2アニール中に真空引きによる処理室202内の減圧を実施するタイプが用いられている。
FIG. 7 is a flowchart showing a schematic flow of an annealing sequence including error check and recovery processing. Note that there are various types of annealing depending on the combination, but here, a type is used in which the pressure in the
図7に示すように、このフローチャートでは、まず、H2アニールシーケンス実行処理S1がなされ、次に、ステップS2に進んでソフトインターロック、ハードインターロックが発生したかどうかを判定する。そして、ステップS2でソフトインターロック又はハードインターロックが発生したときは、ステップS3に進んでエラー処理を実行し、PMCコンフィグファイルパラメータ又はアラーム条件テーブル21に設定されているエラー状態に該当するエラー処理が選択される。次に、ステップS4に進んでH2アニールのステータスをH2 CLOSEとして、アニールガス供給管50のH2バルブ(後述する)の弁コントローラに閉信号を送信してアニールガス(H2ガス)の供給を停止し、次に、ABORTレシピ22が選択されていれば 、ステップS5に進んで、装置を安全に使用するため、前記PMCコンフィグファイル23のパラメータに予め登録されていたABORTレシピ22のテーブルを自動で実行してリカバリー処理を行い、ステップS6に進んでH2アニールのステータスをIDELとして終了する。
As shown in FIG. 7, in this flowchart, first, an H2 annealing sequence execution process S1 is performed, and then the process proceeds to step S2 to determine whether a soft interlock or a hard interlock has occurred. If a soft interlock or a hard interlock occurs in step S2, the process proceeds to step S3 to execute an error process, and an error process corresponding to an error state set in the PMC configuration file parameter or alarm condition table 21. Is selected. Next, the status of the H2 annealing proceeds to step S4 as H2 CLOSE, stopping the supply of the annealing gas (H 2 gas) by sending a close signal to the valve controller of H2 valve annealing gas supply pipe 50 (to be described later) Then, if the
以下、エラーチェック、リカバリー処理を含むアニールシーケンスと前記した各操作画面G1〜G3の詳細について説明する。
アニールのシーケンスが開始されると、図2で説明したように、「idle」→「BoatLoad」→「PreEVAC」→「LeekCheck」→「H2Aneal」→「N2AfterPuge」→「AfterEVAC」→「Leak」→「ORingLeak」→「BoatUnload」のステップ順にアニール処理のシーケンスが実施される。
Hereinafter, the annealing sequence including error check and recovery processing and the details of each of the operation screens G1 to G3 will be described.
When the annealing sequence is started, as described in FIG. 2, “idle” → “BoatLoad” → “PreEVAC” → “LeekCheck” → “H2Anal” → “N2AfterPuge” → “AfterEVAC” → “Leak” → “Leak” An annealing process sequence is performed in the order of “ORingLeak” → “BoatUnload”.
(1)IDLEステップ
「IDLE」は、装置のアイドル(待機)状態であり、このステップでは、前記ボートエレベータ115は下降しており、処理室202内は大気状態でボート217は移載室124に存在している。
(1) IDLE Step “IDLE” is an idle (standby) state of the apparatus. In this step, the
(2)Boat Loadステップ
このステータスでは、移載室124からボート217を搬送し、処理室202内へ挿入(Load)している状態であり、ボート217の挿入が正常に完了したかどうかのチェックを実施する。ボート217のロードが正常に完了しなかった場合は、レシピ条件待ちHOLDとする。ボート217のロードが正常に完了すると次のステータスに遷移する。
(2) Boat Load Step In this status, the
(3)ORing Sealステップ;Oリングシールステップ
Oリングシールでは、2本のOリング(図示せず)による二重Oリングシール部52、すなわち、同心状に配置された2本のOリング間の雰囲気を排気し真空度を上げることよってシールする。二重Oリングシール部52と前記真空ポンプ64とを接続するOリングシール用配管53の排気バルブ55を開閉する弁コントローラに対して開信号を出力することによって開(OPEN)とし、真空ポンプ64による二重Oリングシール部52の雰囲気を真空引き(排気)する。
真空ポンプ64による真空引き開始後は、二重Oリングシール部52のシールが正常となるまで圧力をチェックし、正常となった段階で次のステータスに移行する。
(3) ORing Seal step; O-ring seal step In the O-ring seal, a double O-
After evacuation by the
二重Oリングシール部52の真空度のチェックは、二重Oリングシール部52の真空センサ60がONになったとき(図2、ORing VAC ON)となったとき、開始される。真空度のチェックでは、真空状態が一定時間ON状態かどうかをチェックする。この場合、図4に示すように、エラー表示画面G2では、OリングVAC 検出待ち時間がカウントUPし、図5に示すように、エラー表示画面G3のチェック/タイマ OリングVACの帯の色が、チェック中を示す緑色に切り替えられる。その後、途中で二重Oリングシール部52の真空センサ60がOFFになった場合には、最初からカウントUPし直しとなる。図4に示すOリングVAC検出待ち時間がPMCコンフィグパラメータファイル23で設定された時間に到達した場合は、次に、二重Oリングシール部52の大気圧センサ61がON状態かどうかチェックし、ON状態の場合には、二重Oリングシール部52にリークが発生している異常状態と判定してアラームを発生させ、エラー処理を実施する。この時、図4に示されるように、OリングVACのエラーアイコンは、異常を示す赤色表示とされ、図5に示されるように、シーケンス表示画面G3のチェック/タイマ OリングVACの帯が、エラー中を示す赤色状態とされる。PMCコンフィグファイル23で予め設定されているエラー処理(BUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのいずれか)のうち、ABORT RECIPEが選択され実施後、H2アニールのステータスがH2 CLOSEとされる。
二重Oリングシール部52の大気圧センサ61がOFFの場合には、図5に示すように、シーケンス表示画面G3ではチェック・タイマ OリングVACの帯が黄色状態(チェック完了または、未実施状態)と変更され、次のステータスであるPreEVAC:H2アニール前の炉内真空引き処理へ遷移される。
The check of the degree of vacuum of the double O-
When the
(4)PreEVACステップ:H2アニール前の炉内真空引きステップ
このステップでは、メイン排気バルブ57がOPENとされ、処理室202内を前記真空ポンプ64で引き所望の真空状態になるかどうかチェックする。チェックは、処理室202内の真空センサ(MainVAC)62がON状態になるまでチェックを実施しない。処理室202内の真空センサ62がONになると、図4の反応室VAC検出待ち時間がカウントUPする。また、図5に示すチェック/タイマ メインVACの帯が緑色(チェック中)状態となる。その後、途中で処理室202内の真空センサ62がOFFになった場合には最初からカウントUPし直しとなる。検出待ち時間がPMCコンフィグファイル23で設定された時間に到達した場合、処理室202内の大気圧センサ63がON状態かどうかチェックし、ON状態の場合にはアラームを発生させエラー処理を実施する。
このとき、図4に示す反応室(処理室)VACのアイコンは赤色表示となり、図5のチェック/タイマ メインVACの帯が赤色(エラー中)状態となる。エラー処理はPMCコンフィグパラメータ23で設定されているエラー処理(BUZZER/RESET/END/ABORT RECIPE)のうちABORT RECIPEが実施され、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。
処理室202炉内の大気圧センサ63がOFFの場合には、図5に示すチェック・タイマ メインVACの帯が黄色状態(チェック完了または、未実施状態)とされ、次のステータスへ遷移する。
(4) PreEVAC step: In-furnace evacuation step before H2 annealing In this step, the
At this time, the reaction chamber (processing chamber) VAC icon shown in FIG. 4 is displayed in red, and the check / timer main VAC band in FIG. 5 is in red (in error) state. In the error processing, ABORT RECIPE is executed in the error processing (BUZZER / RESET / END / ABORT RECIPE) set by the
When the atmospheric pressure sensor 63 in the furnace of the
(5)Leak Checkステップ:処理室202内のリークチェックステップ
弁(メイン排気バルブ)57がCLOSE状態で、処理室202炉内のリークチェックを実施する(図2のリークチェックのステップのアイコンかつ図4のリークチェックエリアの状態が実施中を表示)リークチェックでNG(図2のリークチェックステップのアイコンかつ図4のリークチェックステップのアイコンエリアの状態がエラー表示)になった場合には、アラームを発生させ、リークチェックテーブルの設定に従ってエラー処理を実施する。H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。リークチェックOKの場合には次のステータスへ遷移する。
(5) Leak Check step: Leak check step in the
(6)H2 Annealステップ:炉内へH2ガスを導入するステップ
H2バルブH2−1、H2−2、H2−3がOPEN状態で以下に示すチェックを実施する。
〔1〕アニール温度チェックステップ
アニールが実施される前(タイミング的には、アニール用のメインH2バルブの開設定時)かつアニ―ル中(開状態時)に、処理室202内の温度をチェックする。4ゾーンまたは5ゾーン,ヒータ制御またはカスケード制御中のいずれにおいても処理室202内のゾーン温度のいずれかがPMCコンフィグファイル23に設定されたアニール温度を超えているかのチェックを実施し、超えている場合にはアラームを発生させエラー処理としてRESETモードへ移行する。H2バルブH2−1,H2−2,H2−3は強制CLOSEとされる。このとき、図4のアニール温度の項目を示すエラーチェックアイコンI20や図5のアニール温度の部分は赤色(帯)に変化し、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとされる。
〔2〕H2リークステップ
PMCコンフィグファイル23にて設定したH2 LEAKのH/W インターロックが発生した場合はアラームを発生させ、エラー処理としてアラーム条件テーブル21に設定されているエラー処理を実施し、H2バルブH2−1、H2−2、H2−3は強制CLOSEとなり、このとき、図4に示すH2リークを示すアイコンI24は赤色に変化し、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。
〔3〕排気温度チェックステップ
メイン排気バルブ57を開く前(タイミング的には、メイン排気用のメイン排気バルブの開設定時)かつ排気中(開状態時)に炉内の温度をチェック実施する。
処理室202内のゾーン温度((4ゾーンまたは5ゾーン),(カスケード制御中))のいずれかがPMCコンフィグファイル23で設定した排気温度を超えているかのチェックを実施し、超えている場合にはアラームを発生させエラー処理としてRESETモードへ移行し、H2バルブH2−1、H2−2、H2−3は強制CLOSEとなる。この場合、図4のアニール温度の項目を示すエラーアイコンI20や図5に示す排気温度の部分(帯)は赤色に変化し、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。
(6) H2 Anneal step: Step H2 valve H2-1 introducing the H 2 gas into the furnace, H2-2, H2-3 to implement the checks described below in the OPEN state.
[1] Annealing temperature check step The temperature in the
[2] H2 leak step When an H2 LEAK H / W interlock set in the
[3] Exhaust temperature check step The temperature in the furnace is checked before opening the main exhaust valve 57 (when the main exhaust valve for main exhaust is opened) and during exhausting (when the main exhaust valve is open).
If any of the zone temperatures in the processing chamber 202 ((4 zone or 5 zone), (during cascade control)) exceeds the exhaust temperature set in the
(7)After Purgeステップ:H2バルブH2−1、H2−2、H2−3をCLOSEして炉内をN2ガスでパージするステップ
H2バルブCLOSE状態でパージ弁N2−1、N2−2、N2−3のいずれかをOPENにして処理室202内のN2パージを実施する。
〔1〕N2積算流量チェックステップ
処理室202内に流れ込むパージ弁N−1,N−2,N−3の総和を累積し、PMCコンフィグファイル23に設定されているN2パージ積算流量に到達するかどうかを毎秒チェックする。チェックが開始されたと同時にPMCコンフィグファイル23に設定されている積算流量監視時間もカウントダウンする。積算流量監視時間が0になり、かつ積算流量もOKになった時点で次のステータスに以降できる条件が成立したことになる。NGになった場合にはアラームを発生させ、レシピはOK条件となるまで条件待ちHOLDとなる。このとき、図5に示すN2積算流量の帯は赤色となる。
(7) After Purge Step: H2 valve H2-1, H2-2, Step H 2 valve CLOSE state purge valve N2-1 to purge and CLOSE furnace the H2-3 with N 2 gas, N2-2, N2 purge in the
[1] N2 integrated flow rate check step The total sum of purge valves N-1, N-2, and N-3 flowing into the
(8)After EVACステップ;排気バルブをOPENにして炉内を真空状態とするステップ
メイン排気バルブ57をOPENとし、この状態で、処理室202内を真空ポンプ64で引き真空状態になるまでチェックする。チェックは、炉内の真空センサ62がON状態になるまでチェックを実施しない。
処理室202内の真空センサ62がONになると図4に示す反応室VAC検出待ち時間がカウントUPする。また、図5に示すチェック/タイマ メインVACの帯が緑色(チェック中)状態とされる。その後、途中で処理室202内の真空センサ62がOFFになった場合は最初からカウントUPし直しとなる。検出待ち時間がPMCコンフィグファイル23で設定された時間に到達した場合、処理室202内の大気圧センサ63がON状態かどうかをチェックし、ON状態の場合にはアラームを発生させエラー処理を実施する。このとき、図4に示す反応室VACのエラーアイコンI14は赤色表示となり、図5に示すチェック/タイマ メインVACの帯が赤色(エラー中)状態)となり、エラー処理はPMCコンフィグファイル23で設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのうちABORT RECIPEを実施し、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとされる。処理室202炉内の大気圧センサ63がOFFの場合には、図5に示すチェック・タイマ メインVACの帯は黄色状態(チェック完了または、未実施状態)とされ、次のステータスへ遷移する。
(8) After EVAC step: Step for setting the exhaust valve to OPEN and setting the inside of the furnace in a vacuum state The
When the vacuum sensor 62 in the
(9)Leakステップ(炉内を大気圧に戻すステップ)
メイン排気バルブ57をCLOSEとし、この状態でパージ弁N2−1、N2−2、N2−3のいずれかをOPENにして処理室202内のN2パージを実施する。処理室202内の大気圧センサ(MainATM)63がON状態になるまでチェックを実施しない。処理室202内の大気圧センサ63がONになると図4の反応室ATM検出待ち時間がカウントUPする。また、チェック/タイマ メインATMの帯が緑色(チェック中)状態となる。その後、途中で処理室202内の大気圧センサ63がOFFになった場合には最初からカウントUPし直しとなる。検出待ち時間がPMCコンフィグファイル23で設定された時間に到達した場合に、処理室202内の真空センサ62がON状態かどうかチェックし、ON状態の場合にはアラームを発生させエラー処理を実施する。このとき、図4に示す反応室ATMのエラーアイコンI16は赤色表示となり、チェック/タイマ メインATMの帯が赤色(エラー中)状態)とされ、PMCコンフィグファイル23で設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのうちABORT RECIPEが実施され、H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。処理室202内の真空センサ62がOFFの場合には、チェック・タイマ メインATMの帯は黄色状態(チェック完了または、未実施状態)とされ、次のステータスへ遷移する。
(9) Leak step (step to return the furnace to atmospheric pressure)
The
(10)ORingLeakステップ;二重Oリング部を大気に戻すステップ
Oリング排気バルブ55がCLOSE状態で、二重Oリングシール部52をパージ弁N2−1、N2−2、N2−3のいずれかを開(OPEN)として二重Oリングシール部52が大気圧状態になるまでN2パージを実施する。チェックは、二重Oリングシール部52の大気圧センサ(ORing ATM)61がONになるまで開始しない。二重Oリングシール部52の大気圧センサ61がONになると図4に示すOリングATM 検出待ち時間がカウントUPする。また、チェック/タイマ OリングATMの帯が緑色(チェック中)状態)とされる。その後、途中で二重Oリングシール部52部の大気圧センサ61がOFFになった場合には最初からカウントUPし直しとなる。検出待ち時間がPMCコンフィグファイル23で設定された時間に到達した場合に、二重Oリングシール部52の真空センサ60がON状態かどうかチェックし、ON状態の場合にはアラームを発生させエラー処理を実施する。この時、図4のOリングATMのエラーアイコンI15は赤色表示になり、チェック/タイマ OリングATMの帯が赤色(エラー中)状態とされ、エラー処理はPMCコンフィグファイル23のパラメータで設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのうちABORT RECIPEを実施する。H2アニールのステータスはH2 CLOSEとなる。二重Oリングシール部52の真空センサ60がOFFの場合には、チェック・タイマ OリングATMの帯は黄色状態(チェック完了または、未実施状態)にして次のステータスへ遷移する。
(10) ORingLeak step; step of returning the double O-ring part to the atmosphere. The O-
(11)BoatUnloadステップ;炉内からBoatを移載室124へUNLoad中のステップ
Boat UNLoad(ボートアンロード)が正常完了したかどうかのチェックを実施する。正常に完了しなかった場合にはレシピ条件待ちHOLDとなる。正常に完了した場合にはH2アニールのシーケンスが完了したものとし、ステータスはIDLEとされる。
(11) BoatUnload step: Check whether or not the step “Boat UNLoad” (boat unloading) in the UNLoad from the furnace to the
(12)常時チェック
〔1〕Oリングシール監視中(H2アニールのステータス=ORing Seal〜Leak)にOリングシール部52の真空センサ60がOFFするかどうかをチェックする。実際に真空センサ60がOFFを検出した場合には、アラームを発生させPMCコンフィグファイル23に設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのいずれかのエラー処理を実施する。H2バルブH2−1、H2−2、H2−3がOPEN状態の場合にはH2バルブH2−1、H2−2、H2−3を強制的に閉じ(CLOSE)、H2アニールのステータスをH2 CLOSEとする。
〔2〕CAPセンサチェック
Oリングシール監視中(H2アニールのステータス=ORing Seal〜Leak)にCAPセンサ(図示せず)がOFFかどうかをチェックする。実際にCAPセンサがOFFを検出した場合にはアラームを発生させPMCコンフィグファイル23に設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのいずれかのエラー処理を実施する。H2バルブがOPEN状態の場合にはH2バルブH2−1、H2−2、H2−3を強制的に閉じ、H2アニールのステータスをH2 CLOSEとする。
〔3〕Oリング排気チェック
H2アニールステータスをORing Seal状態としてOリング排気バルブ55を開とし、PMCコンフィグファイル23のOリング排気チェック時間経過後、Oリング真空状態を検出するかどうかのチェック(図5に示すOリング排気)。実際にOリング真空状態を検出した場合にはアラームを発生させPMCコンフィグファイル23に設定されているBUZZER/RESET/END/ABORT RECIPEのいずれかのエラー処理を実施する。
H2バルブH2−1、H2−2、H2−3がOPEN状態の場合にはH2バルブH2−1、H2−2、H2−3を強制的に閉とし、H2アニールのステータスをH2 CLOSEとする。このようにいろいろなチェックを実施し、エラー状態になった場合には危険なバルブを強制CLOSEとし、H2アニールのステータスをH2 CLOSEとする。
エラーが発生した後に、装置を安全に使用する為にはリカバリー処理が必要となってくるがH2アニールのステータスがどこからH2 CLOSEへ遷移したかによってリカバリー処理が異なっている。この場合、前記PMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール18が、ABORTレシピ22をテーブル番号で検索し、リカバリー処理を実施する。
(12) Regular check [1] It is checked whether the vacuum sensor 60 of the O-
[2] CAP sensor check While the O-ring seal is being monitored (H2 annealing status = ORing Seal-Leak), it is checked whether the CAP sensor (not shown) is OFF. When the CAP sensor actually detects OFF, an alarm is generated and any one of BUZZER / RESET / END / ABORT RECIPE error processing set in the
[3] O-ring exhaust check Checking whether or not the O-ring vacuum state is detected after the O-ring exhaust check time in the
When the H2 valves H2-1, H2-2, and H2-3 are in the OPEN state, the H2 valves H2-1, H2-2, and H2-3 are forcibly closed, and the status of H2 annealing is set to H2 CLOSE. As described above, when various checks are performed and an error state occurs, the dangerous valve is set to forced CLOSE and the H2 anneal status is set to H2 CLOSE.
After an error has occurred, recovery processing is required to use the apparatus safely, but the recovery processing differs depending on where the status of H2 annealing has transitioned from H2CLOSE. In this case, the error
図8はエラーが発生したステップとリカバリー処理に用いられるABORTレシピ22が実施すべき内容を示している。この例では、ABORTレシピ22のテーブル番号は、「Boat Load」、「Oring Seal」,「Pre EVAC」,「LeakCheck」,「H2 Anneal」,「N2After Purge」,「After EVAC」,「Leak」,「ORing Leak」,「Boat Unload」のステータス名となり、PMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール18は、PMCコンフィグファイル23をこのテーブル番号で検索してリカバリー処理を実施する。
FIG. 8 shows the steps to be performed by the error and the contents to be executed by the
どのステータスでエラーが発生してH2クローズへ遷移するかによってリカバリー処理が異なるということを図8を参照して具体的に説明すると、PMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール18は、Boat Loadのステータス、Oring Sealのステータス、Pre EVACのステータス及びLeak Checkのステータスでエラーが発生した場合は、Leakステップ〜Boat Unloadステップまでの処理を実施してリカバリー処理とし、H2 Anneal及びN2AfterPurgeでエラー処理が発生した場合は、N2After Purge〜 Boat Unloadステップを実行してリカバリー処理とする。
Explaining in detail with reference to FIG. 8 that the recovery process differs depending on the status in which an error occurs and the transition to the H2 close state, the error
又、PMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール18は、After EVACのステータスでエラーが発生した場合は、After EVACステップ〜Boat Unloadステップまでの処理を実行してリカバリー処理とし、Leakのステータスでは、Leak〜Boat Unloadステップの処理を実行してリカバリー処理とし、ORing Leakでエラー処理が発生した場合は、ORing Leakステップ〜Boat Unloadステップまでの処理をしてリカバリー処理とする。また、PMCコンフィグファイル23内エラー処理取得モジュール18は、Boat Unloadのステータスでエラーが発生した場合は、Boat Unloadのエラー処理を実行し、リカバリー処理とする。
(実施形態の効果)
以上、説明したように、本実施形態においては、特殊なガスのシーケンスを必要とするアニール、すなわち、熱処理工程において、実行済みのステップ、実施前のステップ、実行中のステップをアイコン化し、表示することによって視認性を向上させ、シーケンスの状態を容易に把握すること、及び、障害発生時の復旧作業を迅速に開始させることができるという効果がある。また、実際にエラーが発生した場合には、リカバリー処理を実施するかどうかが判断され、実施すると場合にはステップ毎に、自動でABORTレシピ22がテーブル単位で実施されるので、エラーが発生したステータス(H2アニールのステータス)に応じてリカバリー処理が自動で実行され、リカバリー操作が自動で実施でき、労力と時間は減少される傾向になる。従って、オペレータの作業量の軽減・リカバリー時間の短縮を図れることで生産性の向上が実現される。
Also, if an error occurs in the After EVAC status, the error
(Effect of embodiment)
As described above, in the present embodiment, in the annealing that requires a special gas sequence, that is, in the heat treatment process, the executed step, the step before execution, and the step being executed are iconified and displayed. As a result, it is possible to improve the visibility, to easily grasp the state of the sequence, and to quickly start the recovery work when the failure occurs. In addition, when an error actually occurs, it is determined whether or not the recovery process is to be executed. If so, the
なお、本発明の実施の形態では、アニール処理を基板処理の一例に挙げて説明したが、本発明は、他の酸化、成膜等の各種の基板処理にも適用されるものである。この場合、操作画面に表示されるアイコンの種別、アイコンファイルの構成及びアイコンファイルの検索に用いる検索子もそれぞれ基板処理の種別に対応したものが用いられるものとする。
また、本発明は、基板処理装置として半導体製造装置だけでなく、LCD装置のようなガラス基板を処理する装置でも適用することができる。また、縦型装置だけでなく、枚葉装置や横型装置にも適用が可能である。
In the embodiment of the present invention, the annealing process is described as an example of the substrate process. However, the present invention is also applied to various substrate processes such as oxidation and film formation. In this case, the types of icons displayed on the operation screen, the configuration of icon files, and the searchers used for searching for icon files are those corresponding to the types of substrate processing.
The present invention can be applied not only to a semiconductor manufacturing apparatus as a substrate processing apparatus but also to an apparatus for processing a glass substrate such as an LCD apparatus. Further, it can be applied not only to a vertical apparatus but also to a single wafer apparatus or a horizontal apparatus.
1 プロセス制御モジュール(制御手段)
2 操作部(表示制御手段)
7 モニタ(表示手段)
20 プロセスレシピ
G1 アウトライン表示画面(操作画面)
G2 エラー表示画面(操作画面)
G3 シーケンス表示画面(操作画面)
I1〜I12 アイコン
1 Process control module (control means)
2 Operation part (display control means)
7 Monitor (display means)
20 Process recipe G1 Outline display screen (operation screen)
G2 Error display screen (operation screen)
G3 Sequence display screen (operation screen)
I1-I12 icons
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006161789A JP4616798B2 (en) | 2006-06-12 | 2006-06-12 | Substrate processing apparatus and display method of substrate processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006161789A JP4616798B2 (en) | 2006-06-12 | 2006-06-12 | Substrate processing apparatus and display method of substrate processing apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007335428A true JP2007335428A (en) | 2007-12-27 |
JP4616798B2 JP4616798B2 (en) | 2011-01-19 |
Family
ID=38934654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006161789A Active JP4616798B2 (en) | 2006-06-12 | 2006-06-12 | Substrate processing apparatus and display method of substrate processing apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4616798B2 (en) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094425A (en) * | 2007-10-12 | 2009-04-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate treating equipment |
JP2009194326A (en) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Disco Abrasive Syst Ltd | Processing device |
JP2010098298A (en) * | 2008-09-18 | 2010-04-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate treatment device |
WO2011115174A1 (en) * | 2010-03-16 | 2011-09-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Semiconductor manufacturing system |
JP2013074198A (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | Processing device |
JP2014131069A (en) * | 2014-02-26 | 2014-07-10 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processing apparatus, method for controlling substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device |
CN109710493A (en) * | 2017-10-26 | 2019-05-03 | 细美事有限公司 | For monitoring the device and method of processing substrate |
JP2019211809A (en) * | 2018-05-31 | 2019-12-12 | 富士ゼロックス株式会社 | Printing process management apparatus and printing process management program |
WO2020059343A1 (en) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 株式会社Screenホールディングス | Recipe display device, method for displaying recipe, and recipe display program |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63168703A (en) * | 1987-01-07 | 1988-07-12 | Yokogawa Electric Corp | Semiconductor diffusion furnace controller |
JP2000077288A (en) * | 1998-09-01 | 2000-03-14 | Kokusai Electric Co Ltd | Method and system for producing semiconductor |
JP2003037032A (en) * | 2001-07-25 | 2003-02-07 | Tokyo Electron Ltd | Processing apparatus and method of displaying processing status of processing apparatus |
JP2003068597A (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Processing system of article being processed |
JP2005522043A (en) * | 2002-03-29 | 2005-07-21 | 東京エレクトロン株式会社 | Graphical user interface (GUI) for semiconductor process systems |
JP2006093494A (en) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processor |
-
2006
- 2006-06-12 JP JP2006161789A patent/JP4616798B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63168703A (en) * | 1987-01-07 | 1988-07-12 | Yokogawa Electric Corp | Semiconductor diffusion furnace controller |
JP2000077288A (en) * | 1998-09-01 | 2000-03-14 | Kokusai Electric Co Ltd | Method and system for producing semiconductor |
JP2003037032A (en) * | 2001-07-25 | 2003-02-07 | Tokyo Electron Ltd | Processing apparatus and method of displaying processing status of processing apparatus |
JP2003068597A (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Processing system of article being processed |
JP2005522043A (en) * | 2002-03-29 | 2005-07-21 | 東京エレクトロン株式会社 | Graphical user interface (GUI) for semiconductor process systems |
JP2006093494A (en) * | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processor |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094425A (en) * | 2007-10-12 | 2009-04-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate treating equipment |
JP2009194326A (en) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Disco Abrasive Syst Ltd | Processing device |
JP2010098298A (en) * | 2008-09-18 | 2010-04-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate treatment device |
US9223305B2 (en) | 2010-03-16 | 2015-12-29 | Tokyo Electron Limited | Semiconductor manufacturing system |
WO2011115174A1 (en) * | 2010-03-16 | 2011-09-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Semiconductor manufacturing system |
CN102782805A (en) * | 2010-03-16 | 2012-11-14 | 东京毅力科创株式会社 | Semiconductor manufacturing system |
JP2013074198A (en) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | Processing device |
JP2014131069A (en) * | 2014-02-26 | 2014-07-10 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Substrate processing apparatus, method for controlling substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device |
CN109710493A (en) * | 2017-10-26 | 2019-05-03 | 细美事有限公司 | For monitoring the device and method of processing substrate |
JP2019211809A (en) * | 2018-05-31 | 2019-12-12 | 富士ゼロックス株式会社 | Printing process management apparatus and printing process management program |
JP7243044B2 (en) | 2018-05-31 | 2023-03-22 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | Printing process control device and printing process control program |
WO2020059343A1 (en) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 株式会社Screenホールディングス | Recipe display device, method for displaying recipe, and recipe display program |
JP2020047853A (en) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | 株式会社Screenホールディングス | Recipe display device, recipe display method, and recipe display program |
JP7174581B2 (en) | 2018-09-20 | 2022-11-17 | 株式会社Screenホールディングス | Recipe display device, recipe display method, and recipe display program |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4616798B2 (en) | 2011-01-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4616798B2 (en) | Substrate processing apparatus and display method of substrate processing apparatus | |
JP5829248B2 (en) | Substrate processing apparatus, recipe transition program, semiconductor device manufacturing method, and substrate processing apparatus recipe display method | |
US20080210162A1 (en) | Substrate Processing Apparatus and Substrate Processing System | |
TWI406191B (en) | Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device | |
JP4672073B2 (en) | Substrate processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and substrate processing apparatus operation method | |
JP2011100968A (en) | Substrate processing apparatus, control method of substrate processing apparatus, manufacturing method of semiconductor device and apparatus state shifting method | |
JP5275641B2 (en) | Substrate processing apparatus, display method for substrate processing apparatus, control method for substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device | |
JP5275606B2 (en) | Substrate processing apparatus, screen display program, and display method for substrate processing apparatus | |
JP2011071166A (en) | Substrate treatment system | |
JP5566032B2 (en) | Substrate processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and input prohibition program | |
JP2009246339A (en) | Substrate processing apparatus | |
JP5570915B2 (en) | Substrate processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and disconnection detection program | |
JP2008004737A (en) | Substrate treating apparatus | |
JP5295208B2 (en) | Substrate processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and substrate processing apparatus operation method | |
JP2010153602A (en) | Substrate processing apparatus | |
JP5531003B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing apparatus maintenance method, and semiconductor device manufacturing method | |
JP5478033B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing apparatus control method, condition setting program, and semiconductor device manufacturing method | |
KR101204411B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
JP2010166082A (en) | Substrate processing apparatus, display method of substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device | |
JP2012222099A (en) | Substrate processing device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090527 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100708 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100715 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100831 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101013 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101022 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4616798 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |