JP2007301695A - Method and device for chamfering of spectacle lens - Google Patents

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Shuichi Sato
修一 佐藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and device for chamfering of a spectacle lens capable of carrying out a desired chamfering machining even it is any kind of spectacle lens. <P>SOLUTION: A chamfering tool 26 and a gauge head 28 are mounted on a Z-axis plate 65. A first chamfering locus data which shows a machining locus of the chamfering tool 26 during machining edge parts 18A, 18B with the chamfering tool 26 is calculated by a first chamfering data calculation means 5 based on the position data of the edge part having a spectacle frame shape calculated in machining the peripheral surface of the spectacle lens L. An edge part measuring means 29 measures a deviation amount ΔZ from the first chamfering locus data of the edge parts 18A, 18B with the gauge head 28. A second chamfering locus data calculation means 7 calculates the second chamfering locus data by correcting the first chamfering locus data using the deviation amount ΔZ. The chamfering tool 26 chamfers the edge parts 18A, 18B based on the second chamfering locus data. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、眼鏡レンズのエッジ部に面取り加工を施す面取り方法および面取り装置に関し、さらにはこれら方法および装置によってエッジ部に面取り加工が施された眼鏡レンズに関するものである。   The present invention relates to a chamfering method and a chamfering apparatus for chamfering an edge portion of a spectacle lens, and further relates to a spectacle lens having a chamfering process applied to the edge portion by these method and apparatus.

従来から、眼鏡レンズの製造に用いられる装置としては、周面とこの周面に隣接するレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す面取り方法および面取り装置が提案されている。例えば、特開2001−87922号公報に記載されているレンズの面取り方法およびレンズ加工装置には、レンズ周面のエッジ部を面取り加工する研削ツールとしてボールエンドミルを使用することが提案されている。また、引用文献1に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置には、レンズ周面を眼鏡枠の玉型形状に研削する方法において、仕上げ加工の直前段階の荒加工済みレンズを測定して仕上げレンズの形状情報を得、その測定結果に基づいて仕上げ加工を施して仕上げレンズを得、続いて必要に応じて溝掘り加工、面取り加工を行う方法が提案されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, chamfering methods and chamfering apparatuses that chamfer an edge portion where a peripheral surface and a lens surface adjacent to the peripheral surface intersect have been proposed as devices used for manufacturing spectacle lenses. For example, in the lens chamfering method and the lens processing apparatus described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-87922, it is proposed to use a ball end mill as a grinding tool for chamfering the edge portion of the lens peripheral surface. In addition, the lens processing method and the lens processing apparatus described in the cited document 1 measure the rough processed lens immediately before the finishing process in the method of grinding the lens peripheral surface into the lens shape of the spectacle frame. A method has been proposed in which shape information of a finished lens is obtained, finished processing is performed on the basis of the measurement result to obtain a finished lens, and subsequently, grooving and chamfering are performed as necessary.

眼鏡レンズのエッジ部の面取り作業においては、例えば0.2mm〜1.0mmの範囲で所望の面取り量(幅)を適宜選択し、レンズの全周に対して均一に面取りを行うことが要求される。このため、例えば前記引用文献1に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置では、先ず一対のレンズ保持軸によって周面加工された面取り加工前の仕上げレンズを、その凸側レンズ面と凹側レンズ面の両側から挟み込んで固定する。しかる後、そのレンズをレンズ保持軸とともに回転させながら、周面のエッジ部にダイヤモンドホイール等の研削ツール(面取り加工ツール)を押し当てて面取り加工を行っている。この加工ツールの制御データとして用いられる加工ツールの面取り軌跡データは、周面仕上げ加工前の荒加工済みレンズを測定して周面仕上げ加工後のレンズの周面におけるエッジ部の位置データを算出し、このエッジ部の位置データに基づいて算出されたものである。   In the chamfering operation of the edge portion of the spectacle lens, for example, a desired chamfering amount (width) in a range of 0.2 mm to 1.0 mm is appropriately selected, and it is required to perform chamfering uniformly on the entire circumference of the lens. The For this reason, for example, in the lens processing method and the lens processing apparatus described in the cited document 1, first, a finished lens before chamfering processed by a pair of lens holding shafts is processed with its convex lens surface and concave side. Insert and fix from both sides of the lens surface. Thereafter, the lens is rotated with the lens holding shaft, and a chamfering process is performed by pressing a grinding tool (chamfering tool) such as a diamond wheel against the edge of the peripheral surface. The chamfering trajectory data of the machining tool used as control data for this machining tool calculates the position data of the edge part on the peripheral surface of the lens after the peripheral surface finishing processing by measuring the rough processed lens before the peripheral surface finishing processing. , Calculated based on the position data of the edge portion.

特開2003−300138号公報JP 2003-300138 A

しかしながら、前記引用文献1に記載されているレンズ加工方法およびレンズ加工装置においては、周面仕上げ加工前の荒加工済みレンズを測定して周面仕上げ加工後のレンズの周面におけるエッジ部の位置データを算出し、このエッジ部の位置データに基づいて面取り加工しているので、面取り精度が低いという問題があった。すなわち、周面仕上げ加工前のレンズの周面におけるエッジ部の位置データと、実際に周面が仕上げ加工された後のレンズの周面におけるエッジ部の位置とは、周面加工するための加工ツールの磨耗や周面加工によるレンズ面形状の変化や動作機構部のがたつき等により、異なることがある。このため、周面加工前の面取り軌跡データを制御データとして加工ツールにより面取り加工を行うと、面取り量が不均一になったり、面取り部分が全く無くなるという不具合が発生し、必要とされる面取り精度を十分に確保できない。特に、レンズ面が装用者の顔の側面に沿うように後方に大きく湾曲した眼鏡レンズの場合は、面取り加工することができない部分が生じる。   However, in the lens processing method and the lens processing apparatus described in the cited document 1, the position of the edge portion on the peripheral surface of the lens after measuring the rough processed lens before the peripheral surface finishing process is measured. Since the data is calculated and the chamfering is performed based on the position data of the edge portion, there is a problem that the chamfering accuracy is low. That is, the position data of the edge part on the peripheral surface of the lens before the peripheral surface finishing process and the position of the edge part on the peripheral surface of the lens after the peripheral surface is actually finished are the processes for processing the peripheral surface. There may be differences due to changes in the lens surface shape due to tool wear or peripheral surface processing, shakiness of the operating mechanism, and the like. For this reason, when chamfering is performed with a machining tool using the chamfering trajectory data before the peripheral surface processing as control data, the chamfering amount becomes non-uniform or the chamfered portion is completely eliminated, resulting in the required chamfering accuracy. Cannot be secured sufficiently. In particular, in the case of a spectacle lens whose lens surface is largely curved backward along the side surface of the wearer's face, a portion that cannot be chamfered is generated.

縁摺り加工されたレンズのコバ位置は、測定子またはレンズをレンズの軸線方向(この方向をここではX方向とする)に相対的に移動させ、このX方向の移動量と、測定子の前記軸線と直交する方向(Z方向)の変化を測定することにより求めることができる。このような作業をレンズの全周(レンズを軸線回りに回転させる:θ方向)にわたって行えばレンズ全体のコバ位置を知ることができる。しかしながら、このような測定方法においては、X方向とZ方向の2方向の変位を測定してコバ位置を算出する必要があるため、コバ位置を算出するための演算時間が長くかかるという問題があった。なお、レーザー変位計等の非接触型の測定装置を用いた場合も同様である。   The edge position of the lens subjected to the edging process is such that the measuring element or the lens is moved relatively in the axial direction of the lens (this direction is referred to as the X direction here), the amount of movement in the X direction, It can be determined by measuring the change in the direction orthogonal to the axis (Z direction). If such an operation is performed over the entire circumference of the lens (the lens is rotated about its axis: θ direction), the edge position of the entire lens can be known. However, in such a measuring method, since it is necessary to calculate the edge position by measuring the displacement in the X direction and the Z direction, there is a problem that it takes a long calculation time to calculate the edge position. It was. The same applies when a non-contact type measuring device such as a laser displacement meter is used.

本発明はこのような従来の問題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、如何なる眼鏡レンズであっても、対応して面取り量を自由に制御することができ、また複雑な測定機構や複雑な演算が不要で短時間に面取り軌跡データを補正することができ、所望の面取り加工を実施できる眼鏡レンズの面取り方法を提供することにある。   The present invention has been made to solve such conventional problems, and the object of the present invention is to freely control the chamfering amount corresponding to any spectacle lens. It is an object of the present invention to provide a chamfering method for a spectacle lens that can correct chamfering trajectory data in a short time without requiring a complicated measurement mechanism or complicated calculation, and can perform a desired chamfering process.

また、本発明の他の目的は、如何なる眼鏡レンズであっても、対応して面取り量を自由に制御することができ、また複雑な測定機構や複雑な演算が不要で短時間に面取り軌跡データを補正することができ、所望の面取り加工できる眼鏡レンズの面取り装置を提供することにある。   Further, another object of the present invention is to freely control the chamfering amount corresponding to any spectacle lens, and to eliminate chamfering trajectory data in a short time without requiring a complicated measuring mechanism or complicated calculation. It is an object of the present invention to provide a chamfering device for a spectacle lens that can correct the chamfering and can perform a desired chamfering process.

さらに、本発明の他の目的は、上記方法または装置によって所望の面取りがなされた眼鏡レンズを提供することにある。   Furthermore, the other object of this invention is to provide the spectacle lens by which the desired chamfer was made | formed by the said method or apparatus.

上記目的を達成するために第1の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、所定の眼鏡枠形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工ツールを用いて面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り方法において、前記面取り加工ツールと測定子とを搭載し、眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートを有し、前記面取り加工ツールで前記エッジ部を加工する際の面取り加工ツールの加工軌跡を示す第1の面取り軌跡データを、眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づき計算によって求める第1の面取り軌跡データ算出工程と、前記測定子を前記眼鏡レンズの周面仕上げ加工後のエッジ部に自重により接触させた状態で前記プレートを前記第1の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第1の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定工程と、前記第1の面取り軌跡データを前記エッジ部測定工程で得られた前記ずれ量を用いて補正することにより実際に面取り加工を行うための第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出工程と、前記第2の面取り軌跡データ算出工程によって算出された前記第2の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記面取り加工ツールと前記眼鏡レンズを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工工程とを備えているものである。   In order to achieve the above object, a method for chamfering a spectacle lens according to a first aspect of the present invention is a method of chamfering a chamfering tool at an edge portion where a peripheral surface of a spectacle lens that has been processed into a predetermined spectacle frame shape intersects with the lens surface. In the method of chamfering a spectacle lens that is used for chamfering, the chamfering tool and a measuring element are mounted, and a plate that is relatively movable in a direction perpendicular to the axis of the spectacle lens is used. First chamfering locus data indicating a machining locus of a chamfering tool when machining the edge portion is calculated based on position data of the edge portion of the spectacle frame shape calculated at the time of processing the peripheral surface of the spectacle lens. Chamfering locus data calculating step, and the first chamfering of the plate in a state where the measuring element is brought into contact with the edge portion of the spectacle lens after finishing the peripheral surface by its own weight. An edge measurement step of measuring the amount of deviation of the edge from the first chamfering trajectory data by moving based on trace data and relatively moving and rotating the spectacle lens and the probe; Second chamfering trajectory data for calculating second chamfering trajectory data for actually performing chamfering processing by correcting the first chamfering trajectory data using the deviation amount obtained in the edge portion measurement step. The plate is moved based on the calculation step and the second chamfering locus data calculated in the second chamfering locus data calculation step, and the chamfering tool and the spectacle lens are relatively moved and rotated. And a chamfering step of chamfering the edge portion by the chamfering tool.

第2の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、上記第1の発明において、前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面が、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されているものである。   The eyeglass lens chamfering method according to a second invention is the above-described first invention, wherein the contact surface of the measuring element used in the edge portion measuring step is a cone corresponding to the shape of the grinding surface when the chamfering tool is rotated. Is formed.

第3の発明に係る眼鏡レンズの面取り方法は、上記第1の発明において、前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面が、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されているものである。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a spectacle lens chamfering method in which the contact surface of the measuring element used in the edge measurement step is a spherical surface corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated. Is formed.

第4の発明に係る眼鏡レンズは、上記第1の発明にによって面取りされているものである。   A spectacle lens according to a fourth invention is chamfered according to the first invention.

第5の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り装置において、前記眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートと、前記プレートに搭載され前記眼鏡レンズのエッジ部を面取り加工する面取り加工ツールおよび前記エッジ部を測定する測定子と、前記眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて第1の面取り軌跡データを算出する第1の面取り軌跡データ算出手段と、前記眼鏡レンズの前記エッジ部に測定子を自重により接触させた状態で前記プレートを前記第1の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第1の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定手段と、前記エッジ部測定手段によって測定された前記ずれ量を用いて前記第1の面取り軌跡データを補正することにより、実際に面取り加工を行うための第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出手段と、前記第2の面取り軌跡データ算出手段によって算出された前記第2の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記眼鏡レンズと前記面取り加工ツールを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工手段とを備えているものである。   A spectacle lens chamfering apparatus according to a fifth aspect of the present invention is a spectacle lens chamfering apparatus that chamfers an edge portion where a peripheral surface of a spectacle lens and a lens surface that have been peripherally processed into a predetermined peripheral surface shape intersect with each other. A plate relatively movable in a direction perpendicular to the axis of the spectacle lens, a chamfering tool mounted on the plate for chamfering an edge portion of the spectacle lens, a measuring element for measuring the edge portion, and the spectacles First chamfering locus data calculating means for calculating first chamfering locus data based on the position data of the edge portion of the spectacle frame shape calculated at the time of processing the peripheral surface of the lens, and a measuring element at the edge portion of the spectacle lens The plate is moved based on the first chamfering trajectory data while being in contact with its own weight, and the spectacle lens and the measuring element are relatively moved and rotated. The edge portion measuring means for measuring the deviation amount of the edge portion from the first chamfering locus data, and the first chamfering locus data using the deviation amount measured by the edge portion measuring means. By correcting, the second chamfering trajectory data calculating means for calculating the second chamfering trajectory data for actually performing the chamfering process, and the second chamfering trajectory data calculating means, the second chamfering trajectory data calculating means. Chamfering means for chamfering the edge portion by the chamfering tool by moving the plate based on locus data and relatively moving and rotating the spectacle lens and the chamfering tool. It is.

第6の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、前記エッジ部測定手段の測定子の接触面が、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されているものである。   In a spectacle lens chamfering apparatus according to a sixth aspect of the present invention, the contact surface of the measuring element of the edge portion measuring means is formed in a cone corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated.

第7の発明に係る眼鏡レンズの面取り装置は、前記エッジ部測定手段の測定子の接触面が、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されているものである。   In a spectacle lens chamfering apparatus according to a seventh aspect of the present invention, the contact surface of the measuring element of the edge portion measuring means is formed into a spherical surface corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated.

本発明に係る面取り方法によれば、エッジ部測定工程により眼鏡枠のエッジ部の位置データに基づいて算出した第1の面取り軌跡データを第2の面取り軌跡データ算出工程で補正して第2の面取り軌跡データを算出し、この補正したデータに基づいて面取り加工を実施するようにしたので、エッジ部に対する補正の仕方によって部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量を均一にすることができ、レンズカーブの小さいものから大きいものまで、各種の眼鏡レンズに対して所望の面取り加工を実施することができる。   According to the chamfering method of the present invention, the first chamfering trajectory data calculated based on the position data of the edge portion of the spectacle frame in the edge portion measuring step is corrected in the second chamfering trajectory data calculating step, and the second chamfering trajectory data is calculated. Since chamfering locus data is calculated and chamfering is performed based on the corrected data, the chamfering amount is partially changed or the chamfering amount is made uniform over the entire circumference, depending on how to correct the edge portion. Therefore, a desired chamfering process can be performed on various types of spectacle lenses from a small lens curve to a large lens curve.

また、本発明に係る眼鏡レンズによれば、部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量が均一な眼鏡レンズを得ることができる。   Moreover, according to the spectacle lens according to the present invention, it is possible to change the chamfering amount partially or obtain a spectacle lens having a uniform chamfering amount over the entire circumference.

さらに、本発明に係る眼鏡レンズの面取り装置によれば、第1の面取り軌跡データ算出手段と、エッジ部測定手段と、第2の面取り軌跡データ算出手段と、面取り加工手段とを備え、眼鏡レンズにおける周面のエッジ部が面取り加工ツールの周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データからずれるずれ量をエッジ部測定手段によって測定し、第2の面取り軌跡データ算出手段によりエッジ部のずれ量を用いて、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データを補正することにより第2の面取り軌跡データを算出し、このデータに基づいて面取り加工を行うようにしたので、エッジ部に対する補正の仕方によって部分的に面取り量を変化させたり、あるいは全周にわたって面取り量を均一にすることができ、レンズカーブの小さいものから大きいものまで、各種の眼鏡レンズに対して所望の面取り加工を行うことができる。   Further, according to the spectacle lens chamfering apparatus of the present invention, the spectacle lens includes first chamfering locus data calculating means, edge portion measuring means, second chamfering locus data calculating means, and chamfering processing means. A deviation amount of the edge portion of the peripheral surface deviated from the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining of the chamfering tool is measured by the edge portion measuring means, and the edge portion deviation is measured by the second chamfering trajectory data calculating means. Since the second chamfering trajectory data is calculated by correcting the first chamfering trajectory data calculated at the time of peripheral surface machining using the amount, and the chamfering processing is performed based on this data, Can the chamfering amount be changed partially depending on the correction method, or the chamfering amount can be made uniform over the entire circumference, and the lens curve should be small? Big up things, it is possible to perform desired chamfering for various spectacle lenses.

また、本発明による面取り方向および面取り装置によれば、眼鏡レンズにおける周面のエッジ部が面取り加工ツールの周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データからずれるずれ量は、プレートの移動方向(眼鏡レンズの軸線方向と直交する方向)のみで、回転方向と眼鏡レンズの軸線方向についてはずれが生じないので、データ補正が簡単で、エッジ部の3次元位置を測定するために必要な複雑な測定機構や複雑な演算が不要となり、高精度な面取りを簡単に実施できる。   Further, according to the chamfering direction and the chamfering device according to the present invention, the deviation amount of the edge portion of the peripheral surface of the spectacle lens from the first chamfering trajectory data calculated at the time of the peripheral surface processing of the chamfering processing tool is the movement direction of the plate. Since there is no deviation between the rotational direction and the axial direction of the spectacle lens only in the direction orthogonal to the axial direction of the spectacle lens, the data correction is simple and the complex necessary for measuring the three-dimensional position of the edge portion. A measuring mechanism and complicated calculations are not required, and high-precision chamfering can be performed easily.

以下、本発明を図面に示す実施の形態に基づいて説明する。
図1は、本発明に係る面取り方法および面取り装置の一実施形態が適用された眼鏡レンズ加工システムを示す全体構成図である。
同図において、全体を参照符号11で示す眼鏡レンズ加工システム11は、工場サーバ1と周縁加工システム3とを備え、これらを通信回線のLAN1を介して接続している。レンズメーカーの工場では、この工場サーバ1を中心にLAN1を介して周縁加工システム3の他に、図示しないレンズ設計システム、レンズ面研削システム、マーキングシステム、検査システム等が接続されることにより、ネットワークが構築されている。
Hereinafter, the present invention will be described based on embodiments shown in the drawings.
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing a spectacle lens processing system to which an embodiment of a chamfering method and a chamfering apparatus according to the present invention is applied.
In the figure, a spectacle lens processing system 11, generally indicated by reference numeral 11, includes a factory server 1 and a peripheral processing system 3, which are connected via a communication line LAN 1. In the lens manufacturer's factory, a network such as a lens design system, a lens surface grinding system, a marking system, and an inspection system (not shown) is connected to the factory server 1 through the LAN 1 in addition to the peripheral edge processing system 3. Has been built.

工場サーバ1は、眼鏡レンズの処方情報等を外部より取得して、当該処方に適合するように眼鏡レンズの設計を行うもので、記憶部、演算制御部、および通信部等を備えている。工場サーバ1の記憶部には、設計プログラムや加工データ生成プログラム等が格納されている。設計プログラムは、左右一対の眼鏡レンズの処方情報を取得する機能と、取得した処方情報に基づいて各眼鏡レンズの設計データを作成する機能とを有する。加工データ生成プログラムは、設計プログラムによって作成された設計データに基づいて、周縁加工システム3が実際にレンズを加工する際に必要となる加工データを生成する機能を有する。   The factory server 1 obtains prescription information and the like of spectacle lenses from the outside, and designs spectacle lenses so as to conform to the prescription, and includes a storage unit, a calculation control unit, a communication unit, and the like. The storage unit of the factory server 1 stores a design program, a machining data generation program, and the like. The design program has a function of acquiring prescription information for a pair of left and right spectacle lenses and a function of creating design data for each spectacle lens based on the acquired prescription information. The processing data generation program has a function of generating processing data necessary for the peripheral processing system 3 to actually process the lens based on the design data created by the design program.

工場サーバ1の演算制御部は、設計プログラム等を実行することにより、設計処理等を実行する。また、演算制御部は、加工データ生成プログラムを実行することにより、周縁加工システム3の制御情報としての加工データを生成するとともに、生成した加工データを周縁加工システム3へ送信する制御を行う。工場サーバ1の通信部は、演算制御部による制御の下で、周縁加工システムサーバ4との間でデータの送受信を行う。   The calculation control unit of the factory server 1 executes a design process and the like by executing a design program and the like. In addition, the arithmetic control unit executes the machining data generation program to generate machining data as control information for the peripheral machining system 3 and perform control to transmit the generated machining data to the peripheral machining system 3. The communication unit of the factory server 1 transmits / receives data to / from the peripheral processing system server 4 under the control of the arithmetic control unit.

周縁加工システム3は、周縁加工システムサーバ4、周面加工装置12、面取り装置13および周長測定装置14を有しており、LAN1を介して上位の工場サーバ1から取得する加工データに基づいて、実際に眼鏡レンズを周縁加工を行う。なお、図1では便宜上、周縁加工システム3を1つ示したが、工場サーバ1には同様な周縁加工システム3が複数接続されていてもよい。周縁加工システムサーバ4と各装置12,13,14とは、例えば通信回線のLAN2を介して接続されている。   The peripheral edge processing system 3 includes a peripheral edge processing system server 4, a peripheral surface processing device 12, a chamfering device 13, and a peripheral length measuring device 14, and based on processing data acquired from a higher-order factory server 1 via the LAN 1. Actually, peripheral processing of the spectacle lens is performed. In FIG. 1, one peripheral processing system 3 is shown for convenience, but a plurality of similar peripheral processing systems 3 may be connected to the factory server 1. The peripheral edge processing system server 4 and each of the devices 12, 13, and 14 are connected via a LAN 2 of a communication line, for example.

周縁加工システムサーバ4は、工場サーバ1より周縁加工情報であるジョブ番号、レンズ面形状データなどのレンズ情報、眼鏡枠の玉型形状情報、瞳孔間距離などの眼鏡装用者のレイアウト情報、ヤゲンの有無などの加工指示情報等を受け取る。そして、周縁加工システムサーバ4は、周縁加工システム3で扱われる周縁加工情報のすべてを一元管理しており、周縁加工情報管理、周縁加工工程管理、周縁加工履歴管理、制御命令の発令などの処理を行う。   The peripheral processing system server 4 receives from the factory server 1 a job number which is peripheral processing information, lens information such as lens surface shape data, lens shape information of spectacle frames, spectacle wearer layout information such as interpupillary distance, Receives processing instruction information such as presence / absence. The peripheral processing system server 4 centrally manages all peripheral processing information handled by the peripheral processing system 3 and processes such as peripheral processing information management, peripheral processing process management, peripheral processing history management, and control command issuance. I do.

周面加工装置12は、周面加工用端末5と周面加工部6とを有しており、周縁加工システムサーバ4より指令を受け取り、指令情報にしたがって眼鏡レンズの周面の加工を行うものである。   The peripheral surface processing device 12 includes a peripheral surface processing terminal 5 and a peripheral surface processing unit 6, receives a command from the peripheral surface processing system server 4, and processes the peripheral surface of the spectacle lens according to the command information. It is.

面取り装置13は、面取り加工用端末7と面取り加工部8とを有し、周面加工装置12により眼鏡枠に適合する玉型形状に加工された眼鏡レンズの周面のエッジ部に面取り加工を施すものである。この周面加工装置12および面取り装置13のそれぞれの端末と加工部とは、例えばRS232C通信回線で接続されている。   The chamfering device 13 has a chamfering terminal 7 and a chamfering processing portion 8, and chamfers the edge portion of the peripheral surface of the spectacle lens that has been processed into a target lens shape that fits the spectacle frame by the peripheral surface processing device 12. It is something to apply. The respective terminals of the peripheral surface machining device 12 and the chamfering device 13 and the machining unit are connected by, for example, an RS232C communication line.

周長測定装置14は、周長測定用端末9と周長測定部10とを有し、玉型形状に加工された眼鏡レンズの周長測定を行うものである。周長測定装置14の周長測定用端末9と周長測定部10も同様に、例えばRS232C通信回線で接続されている。   The circumference measuring device 14 includes a circumference measuring terminal 9 and a circumference measuring unit 10, and measures the circumference of a spectacle lens processed into a target lens shape. Similarly, the circumference measuring terminal 9 of the circumference measuring device 14 and the circumference measuring unit 10 are also connected by, for example, an RS232C communication line.

眼鏡レンズの周縁加工は、前工程である周面加工工程と、次工程である面取り加工工程とから構成され、周面加工工程が周面加工装置12により実施され、面取り加工工程が面取り装置13により実施される。   The peripheral processing of the spectacle lens is composed of a peripheral surface processing step that is a previous step and a chamfering step that is the next step. The peripheral surface processing step is performed by the peripheral surface processing device 12, and the chamfering processing step is performed by the chamfering device 13. Is implemented.

周面加工装置12の周面加工部6は、図示しないが、眼鏡レンズをレンズ中心部で保持し、保持した眼鏡レンズを回転させるレンズ保持回転ユニットと、このレンズ保持回転ユニットに保持された眼鏡レンズに使われる眼鏡枠の玉型形状に沿ったレンズ面位置を測定するレンズ面測定ユニットと、このレンズ面測定ユニットによって得られた測定データに基づいて眼鏡レンズを所定の周面形状に周面加工を行う周面加工ユニットとを有し、周縁加工システムサーバ4および周面加工用端末5が図2に示す周面加工工程を実施させる。   Although not shown, the peripheral surface processing unit 6 of the peripheral surface processing device 12 holds a spectacle lens at the center of the lens, rotates a spectacle lens held therein, and spectacles held by the lens holding and rotating unit. A lens surface measurement unit that measures the lens surface position along the target lens shape of the spectacle frame used for the lens, and the spectacle lens according to the measurement data obtained by the lens surface measurement unit. The peripheral surface processing unit 4 that performs processing, and the peripheral surface processing system server 4 and the peripheral surface processing terminal 5 cause the peripheral surface processing step shown in FIG. 2 to be performed.

以下、周面加工工程を図1および図2に基づいて説明する。
図2は、図1の周面加工装置による眼鏡レンズの周面加工工程を示すフローチャートである。
まず、周縁加工システムサーバ4は、眼鏡レンズを収納しているレンズトレーのバーコードを取得して、このバーコードに対応する眼鏡レンズに関するレンズ情報、玉型形状情報、レイアウト情報、加工指示情報等を工場サーバ1からLAN1を通して取得し認識する(S1)。
Hereinafter, the peripheral surface machining step will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
FIG. 2 is a flowchart showing a peripheral surface processing step of the spectacle lens by the peripheral surface processing apparatus of FIG.
First, the peripheral edge processing system server 4 obtains a barcode of a lens tray in which a spectacle lens is stored, and lens information, lens shape information, layout information, processing instruction information, etc. relating to the spectacle lens corresponding to the barcode. Is acquired from the factory server 1 through the LAN 1 and recognized (S1).

次に、周面加工装置12の周面加工用端末5は、周縁加工システムサーバ4より眼鏡枠の玉型形状データを読み込む(S2)。作業者は、所定位置にレンズホルダが取り付けられた眼鏡レンズを、周面加工部6のレンズ保持回転ユニットに装着する(S3)。レンズ保持回転ユニットは、同軸に配置され眼鏡レンズの両レンズ面の中心部を挟持するレンズ回転軸およびチャック軸を備えている。   Next, the peripheral surface processing terminal 5 of the peripheral surface processing apparatus 12 reads the lens shape data of the spectacle frame from the peripheral surface processing system server 4 (S2). The operator attaches the spectacle lens with the lens holder attached at a predetermined position to the lens holding and rotating unit of the peripheral surface processing unit 6 (S3). The lens holding and rotating unit includes a lens rotating shaft and a chuck shaft that are arranged coaxially and sandwich the center of both lens surfaces of the spectacle lens.

周面加工装置12の周面加工用端末5は、レンズ面測定ユニットを用いて、眼鏡枠の玉型形状の軌跡に沿って眼鏡レンズの凹側レンズ面および凸側レンズ面の位置データを測定する(S4)。さらに、この得られた位置データより、ヤゲン位置やヤゲンカーブ等の周面研削軌跡データを計算する(S5)。また、周面加工用端末5は、周面研削軌跡データに基づいて周面加工部6の周面加工ユニットを動作させる。これにより周面加工部6がレンズ周面荒加工(S6)およびレンズ周面仕上げ加工(S7)を行う。   The peripheral surface processing terminal 5 of the peripheral surface processing device 12 uses the lens surface measurement unit to measure the position data of the concave lens surface and the convex lens surface of the spectacle lens along the trajectory of the lens shape of the spectacle frame. (S4). Further, circumferential grinding trajectory data such as a bevel position or a bevel curve is calculated from the obtained position data (S5). Further, the peripheral surface processing terminal 5 operates the peripheral surface processing unit of the peripheral surface processing unit 6 based on the peripheral surface grinding locus data. Thereby, the peripheral surface processing unit 6 performs the lens peripheral surface roughing process (S6) and the lens peripheral surface finishing process (S7).

その後、周面加工用端末5は、ステップS4で測定された凹側レンズ面と凸側レンズ面のそれぞれの位置データに基づき、面取り装置13に必要な第1の面取り軌跡データを算出する(S8)。周面加工用端末5は、この第1の面取り軌跡データを周縁加工システムサーバ4へ送信して、周面加工の終了を通知する(S9)。   Thereafter, the peripheral surface processing terminal 5 calculates first chamfering locus data necessary for the chamfering device 13 based on the respective position data of the concave lens surface and the convex lens surface measured in step S4 (S8). ). The peripheral surface processing terminal 5 transmits the first chamfering trajectory data to the peripheral surface processing system server 4 to notify the end of the peripheral surface processing (S9).

周面加工の終了が通知されると、作業者は眼鏡レンズを、レンズホルダが装着された状態で周面加工装置12から取り外して周面切削工程を終了し、周面仕上げ加工済みレンズを得る(S10)。そして、この周面仕上げ加工済みレンズをレンズトレーに戻す。   When the end of the peripheral surface processing is notified, the operator removes the spectacle lens from the peripheral surface processing device 12 with the lens holder mounted, and ends the peripheral surface cutting process to obtain a peripheral surface finished lens. (S10). Then, this lens having the peripheral surface finished is returned to the lens tray.

上述のステップS4において、レンズ面の位置データを測定するレンズ面測定ユニットは、図3に示すように、スタイラス(測定子)15,16によって眼鏡枠の玉型形状に沿って眼鏡レンズLの凹側レンズ面17A、凸側レンズ面17Bをそれぞれトレースさせ、その軌跡の各点においてスタイラス15,16の各位置を検出する。この検出により、周面仕上げ加工後の状態における周面20の両端のエッジ部18A(周面20と凹側レンズ面17Aとが交叉する部分)とエッジ部18B(周面20と凸側レンズ面17Bとが交叉する部分)との位置をそれぞれ測定する。20’は周面加工仕上げ前の周面である。   In the above-described step S4, the lens surface measurement unit for measuring the lens surface position data has a concave shape of the spectacle lens L along the lens shape of the spectacle frame by the styluses 15 and 16, as shown in FIG. The side lens surface 17A and the convex lens surface 17B are traced, and the positions of the stylus 15 and 16 are detected at each point of the locus. By this detection, the edge portion 18A (the portion where the circumferential surface 20 and the concave lens surface 17A intersect) and the edge portion 18B (the circumferential surface 20 and the convex lens surface) at both ends of the circumferential surface 20 in the state after the circumferential surface finishing process. The position of the crossing point with 17B is measured. Reference numeral 20 'denotes a peripheral surface before peripheral surface finishing.

エッジ部18A,18Bの位置データは、眼鏡レンズLのレンズ軸19回りの回転方向θ、レンズ軸19からの半径方向r、および厚さ方向tの3次元データとして規定される値である。したがって、このエッジ部18A,18Bの位置データ(θ,r,t)から算出される周面研削軌跡データおよび第1の面取り軌跡データも3次元データとなっている。   The position data of the edge portions 18A and 18B are values defined as three-dimensional data in the rotation direction θ around the lens axis 19 of the spectacle lens L, the radial direction r from the lens axis 19, and the thickness direction t. Therefore, the peripheral surface grinding locus data and the first chamfering locus data calculated from the position data (θ, r, t) of the edge portions 18A and 18B are also three-dimensional data.

なお、スタイラス15,16が、周面仕上げ加工後にエッジ部18A,18Bとなるレンズ面位置よりも外側の位置100A,100Bに接触して、眼鏡レンズLの凹側レンズ面17A、凸側レンズ面17Bをそれぞれトレースし、この位置100A,100Bにおいてスタイラス15,16により測定された位置データと、凹側レンズ面17A、凸側レンズ面17Bのレンズ面形状データ等とから、周面仕上げ加工後における眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bの位置を演算によって求めるようにしてもよい。このようにすれば、スタイラス15,16により、周面仕上げ加工後の有効な凹側レンズ面17Aおよび凸側レンズ面17Bに傷をつけることを未然に防止できる。   The styluses 15 and 16 come into contact with the positions 100A and 100B outside the lens surface positions that become the edge portions 18A and 18B after the peripheral surface finishing process, so that the concave lens surface 17A and the convex lens surface of the spectacle lens L are obtained. 17B is traced, and from the position data measured by the stylus 15 and 16 at the positions 100A and 100B, the lens surface shape data of the concave lens surface 17A and the convex lens surface 17B, and the like after the peripheral surface finishing processing. You may make it obtain | require the position of edge part 18A, 18B of the spectacle lens L by a calculation. In this way, the stylus 15 or 16 can prevent the effective concave lens surface 17A and convex lens surface 17B after the peripheral surface finishing from being damaged.

次に、面取り装置の構成等を図4〜図9に基づいて詳述する。
図4は図1の面取り装置における面取り加工部を示す正面図、図5は図4の面取り加工部を示す平面図、図6は図4の面取り加工部を示す左側面図、図7は図4の面取り加工部を示す右側面図、図8は図4の面取り加工部における面取り加工状況を示す部分側断面図、図9は図6の一部を拡大して示す側面図である。
Next, the configuration and the like of the chamfering device will be described in detail with reference to FIGS.
4 is a front view showing a chamfering portion in the chamfering apparatus of FIG. 1, FIG. 5 is a plan view showing the chamfering portion of FIG. 4, FIG. 6 is a left side view showing the chamfering portion of FIG. 4 is a right side view showing the chamfered portion of FIG. 4, FIG. 8 is a partial side sectional view showing a chamfered state in the chamfered portion of FIG. 4, and FIG. 9 is an enlarged side view showing a part of FIG.

これらの図において、面取り装置13は、前述のように、所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズLの周面20が、隣接する凹側レンズ面17A、凸側レンズ面17Bと交差するエッジ部18A,18Bに面取り加工を施す装置である。この面取り装置13は、眼鏡レンズLの軸線方向(X軸方向)に移動自在なX軸テーブル21を備えた水平方向移動ユニット22と、レンズ回転軸23およびチャック軸24を備えたレンズ保持回転ユニット25と、面取り加工ツール26を備えた面取り加工ユニット27と、測定子28を備えたエッジ部測定手段としてのエッジ部測定ユニット29と、第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出ユニット(手段)としても機能する面取り加工用端末7(図1)とを有している。水平方向移動ユニット22、レンズ保持回転ユニット25および面取り加工ユニット27は、面取り加工手段として機能する。また、周面加工装置12の周面加工用端末5は、面取り装置13における第1の面取り軌跡データ算出手段として用いられる。   In these drawings, as described above, the chamfering device 13 is such that the peripheral surface 20 of the spectacle lens L that has been processed into a predetermined peripheral surface shape intersects the adjacent concave lens surface 17A and convex lens surface 17B. This is a device for chamfering the edge portions 18A and 18B. The chamfering device 13 includes a horizontal movement unit 22 including an X-axis table 21 that is movable in the axial direction (X-axis direction) of the spectacle lens L, and a lens holding and rotation unit including a lens rotation shaft 23 and a chuck shaft 24. 25, a chamfering unit 27 having a chamfering tool 26, an edge portion measuring unit 29 as an edge portion measuring means having a measuring element 28, and second chamfering locus data for calculating second chamfering locus data. It has a chamfering terminal 7 (FIG. 1) that also functions as a calculation unit (means). The horizontal movement unit 22, the lens holding and rotating unit 25, and the chamfering processing unit 27 function as a chamfering processing unit. Further, the peripheral surface processing terminal 5 of the peripheral surface processing device 12 is used as a first chamfering locus data calculation unit in the chamfering device 13.

水平方向移動ユニット22は、面取り装置13の本体30における基台31上に、水平方向に平行に並設された複数本(例えば2本)のX軸ガイドレール32を備え、これらのX軸ガイドレール32にX軸テーブル21に固定されたスライドブロック33が摺動自在に支持されている。また、基台31には、X軸ガイドレール32と平行なX軸ボールねじ34が回転自在に設けられており、このX軸ボールねじ34にはX軸テーブル21の下面に固定されたナットブロック35が螺合している。X軸ボールねじ34は、基台31に設置されたX軸モータ36により、プーリ37およびタイミングベルト38を介して回転する。なお、X軸モータ36としては、例えばステッピングモータが用いられる。   The horizontal movement unit 22 includes a plurality of (for example, two) X-axis guide rails 32 arranged in parallel in the horizontal direction on a base 31 in the main body 30 of the chamfering device 13, and these X-axis guides A slide block 33 fixed to the X-axis table 21 is slidably supported on the rail 32. Further, an X-axis ball screw 34 parallel to the X-axis guide rail 32 is rotatably provided on the base 31, and a nut block fixed to the lower surface of the X-axis table 21 is provided on the X-axis ball screw 34. 35 is screwed together. The X-axis ball screw 34 is rotated via a pulley 37 and a timing belt 38 by an X-axis motor 36 installed on the base 31. For example, a stepping motor is used as the X-axis motor 36.

X軸モータ36の駆動により、プーリ37およびタイミングベルト38を介してX軸ボールねじ34が回転すると、このX軸ボールねじ34に螺合しているナットブロック35を介して、X軸テーブル21がX軸ガイドレール32に沿って水平方向(X軸方向)に移動する。この水平方向は、レンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23およびチャック軸24によって保持されている眼鏡レンズLの厚さ方向t(図3)と一致している。   When the X-axis motor 36 is driven to rotate the X-axis ball screw 34 via the pulley 37 and the timing belt 38, the X-axis table 21 is moved via the nut block 35 screwed to the X-axis ball screw 34. It moves along the X-axis guide rail 32 in the horizontal direction (X-axis direction). This horizontal direction coincides with the thickness direction t (FIG. 3) of the spectacle lens L held by the lens rotating shaft 23 and the chuck shaft 24 of the lens holding and rotating unit 25.

レンズ保持回転ユニット25は、X軸テーブル21の上方に複数本の支持柱39を介して設置されたレンズブロック40を備え、このレンズブロック40内にレンズ回転軸23およびチャック軸24が回転自在に支承されている。これらのレンズ回転軸23およびチャック軸24は、X軸テーブル21の移動方向(X軸方向)に平行で且つ同軸に配設されている。チャック軸24は、レンズブロック40に装着されたチャックシリンダ41のシリンダロッド42にカップリング43を介して連結されている。レンズ回転軸23の先端には、眼鏡レンズLの凸側レンズ面17Bに取り付けられたレンズホルダ44が装着されており、チャックシリンダ41により押し出されたチャック軸24の先端が眼鏡レンズLの凹側レンズ面17Aを押圧することで、このチャック軸24と協働して眼鏡レンズLを挟持する。なお、カップリング43は、シリンダロッド42に固定されており、チャック軸24にベアリング等を介して結合されることにより、シリンダロッド42に対するチャック軸24の回転を許容している。   The lens holding and rotating unit 25 includes a lens block 40 installed above the X-axis table 21 via a plurality of support columns 39, and the lens rotating shaft 23 and the chuck shaft 24 are rotatable in the lens block 40. It is supported. The lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 are arranged in parallel and coaxial with the moving direction (X-axis direction) of the X-axis table 21. The chuck shaft 24 is connected to a cylinder rod 42 of a chuck cylinder 41 attached to the lens block 40 via a coupling 43. A lens holder 44 attached to the convex lens surface 17B of the spectacle lens L is attached to the tip of the lens rotation shaft 23, and the tip of the chuck shaft 24 pushed out by the chuck cylinder 41 is the concave side of the spectacle lens L. By pressing the lens surface 17A, the spectacle lens L is clamped in cooperation with the chuck shaft 24. The coupling 43 is fixed to the cylinder rod 42 and is coupled to the chuck shaft 24 via a bearing or the like, thereby allowing the chuck shaft 24 to rotate relative to the cylinder rod 42.

さらに、レンズ回転軸23およびチャック軸24は、レンズブロック40に設置されたレンズ回転軸モータ45により回転駆動する。このレンズ回転軸モータ45は、例えばステッピングモータからなり、図5および図6に示すように、レンズブロック40の背面側下方に設置され、図示を省略したモータシャフトに取付けられた小径プーリ46を有している。レンズブロック40の背面でレンズ回転軸モータ45の上方には、回転自在な連動軸47が当該モータのモータシャフトと平行に設けられており、この連動軸47の一端に取り付けられた大径プーリ48とモータシャフトの小径プーリ46との間に張設したタイミングベルト49により、レンズ回転軸モータ45の回転駆動力を連動軸47に減速して伝達するようにしている。   Further, the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 are rotationally driven by a lens rotation shaft motor 45 installed in the lens block 40. The lens rotation shaft motor 45 is formed of, for example, a stepping motor, and has a small-diameter pulley 46 installed on the lower side of the lens block 40 and attached to a motor shaft (not shown) as shown in FIGS. is doing. A rotatable interlocking shaft 47 is provided in parallel with the motor shaft of the motor on the rear surface of the lens block 40 and above the lens rotation shaft motor 45, and a large-diameter pulley 48 attached to one end of the interlocking shaft 47. The rotation driving force of the lens rotation shaft motor 45 is decelerated and transmitted to the interlocking shaft 47 by a timing belt 49 stretched between the motor and the small-diameter pulley 46 of the motor shaft.

大径プーリ48には小径プーリ50が一体に設けられている。この小径プーリ50の回転は、レンズ回転軸23に取り付けられたプーリ51にタイミングベルト52を介して伝達される。また、連動軸47の他端には、小径プーリ50と同径のプーリ53が取付けられており、このプーリ53の回転はチャック軸24に取り付けられたスプライン54にタイミングベルト55を介して伝達される。これにより、レンズ回転軸モータ45の回転駆動力が大径プーリ48により減速されて連動軸47に伝達されると、レンズ回転軸23とチャック軸24は同一の回転速度で回転し、眼鏡レンズLをレンズ軸19の回りに回転させる。   A small-diameter pulley 50 is provided integrally with the large-diameter pulley 48. The rotation of the small-diameter pulley 50 is transmitted to the pulley 51 attached to the lens rotation shaft 23 via the timing belt 52. A pulley 53 having the same diameter as the small-diameter pulley 50 is attached to the other end of the interlocking shaft 47, and the rotation of the pulley 53 is transmitted to a spline 54 attached to the chuck shaft 24 via a timing belt 55. The Thereby, when the rotational driving force of the lens rotation shaft motor 45 is decelerated by the large-diameter pulley 48 and transmitted to the interlocking shaft 47, the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 rotate at the same rotation speed, and the spectacle lens L Is rotated around the lens axis 19.

面取り加工ユニット27は、図4〜図7に示すように、本体30の天板56に設けた支持プレート57の裏面側に並設されたZ軸モータ(例えば、ステッピングモータ)58およびZ軸ボールねじ59を備えている。一方、支持プレート57の表面側には、鉛直方向(X軸方向に直交するZ軸方向)に延在する複数本(例えば2本)のガイドレール60が並設されており、これらのガイドレール60にZ軸テーブル62に設けたスライドブロック61が摺動自在に嵌合している。また、支持プレート57は略中央に形成された開口63(図7)を有し、この開口63にZ軸テーブル62に突設したナットブロック64が貫通している。ナットブロック64は、Z軸ボールねじ59に螺合している。そして、Z軸テーブル62はさらに一体的に設けられたZ軸プレート65を有し、このZ軸プレート65に面取り加工ツール26を先端に備えたスピンドル機構部66が取り付けられている。   As shown in FIGS. 4 to 7, the chamfering unit 27 includes a Z-axis motor (for example, a stepping motor) 58 and a Z-axis ball arranged in parallel on the back surface side of a support plate 57 provided on the top plate 56 of the main body 30. A screw 59 is provided. On the other hand, on the surface side of the support plate 57, a plurality of (for example, two) guide rails 60 extending in the vertical direction (Z-axis direction orthogonal to the X-axis direction) are arranged in parallel. A slide block 61 provided on the Z-axis table 62 is slidably fitted to 60. The support plate 57 has an opening 63 (FIG. 7) formed substantially at the center, and a nut block 64 protruding from the Z-axis table 62 passes through the opening 63. The nut block 64 is screwed into the Z-axis ball screw 59. The Z-axis table 62 further has a Z-axis plate 65 provided integrally therewith, and a spindle mechanism 66 having a chamfering tool 26 at the tip is attached to the Z-axis plate 65.

Z軸モータ58の回転駆動力は、そのモータシャフトに取り付けられたプーリ67と、Z軸ボールねじ59に取り付けられたプーリ68と、これらプーリ間に張設されたタイミングベルト69を介してZ軸ボールねじ59に伝達され、これによりスライドクロック64をZ軸ボールねじ59に沿って上下動させる。このため、Z軸テーブル62はガイドレール60に沿って鉛直方向(Z軸方向)に移動し、スピンドル機構部66を同方向に移動させる。この鉛直方向は、レンズ保持回転ユニット25に保持されている眼鏡レンズLの半径方向r(図3)と一致している。   The rotational driving force of the Z-axis motor 58 is transmitted through a pulley 67 attached to the motor shaft, a pulley 68 attached to the Z-axis ball screw 59, and a timing belt 69 stretched between these pulleys. This is transmitted to the ball screw 59, whereby the slide clock 64 is moved up and down along the Z-axis ball screw 59. For this reason, the Z-axis table 62 moves in the vertical direction (Z-axis direction) along the guide rail 60, and moves the spindle mechanism 66 in the same direction. This vertical direction coincides with the radial direction r (FIG. 3) of the spectacle lens L held by the lens holding and rotating unit 25.

スピンドル機構部66は、図8に示すように、スピンドルケース70と、このスピンドルケース70内に回転自在に組み込まれたスピンドル71と、このスピンドル71の下端に取付けられた面取り加工ツール26とを有する。スピンドル71の上端には、図4に示すプーリ72を有し、スピンドルモータ73はモータシャフトに固定されたプーリ74を有し、これらのプーリ72,74間にはタイミングベルト75が張設されている。したがって、スピンドルモータ73を駆動すると、その回転駆動力はプーリ74、タイミングベルト75およびプーリ72を介してスピンドル71へ伝達され、面取り加工ツール26を所定の回転速度で回転させることができる。この面取り加工ツール26としては、回転時の研削形状が例えば略半球形状になるボールエンドミルが用いられる。なお、スピンドルモータ73は、Z軸テーブル62またはZ軸プレート65に下向きに取り付けられている。   As shown in FIG. 8, the spindle mechanism section 66 includes a spindle case 70, a spindle 71 rotatably incorporated in the spindle case 70, and a chamfering tool 26 attached to the lower end of the spindle 71. . 4 is provided at the upper end of the spindle 71. The spindle motor 73 has a pulley 74 fixed to the motor shaft. A timing belt 75 is stretched between the pulleys 72 and 74. Yes. Therefore, when the spindle motor 73 is driven, the rotational driving force is transmitted to the spindle 71 via the pulley 74, the timing belt 75, and the pulley 72, and the chamfering tool 26 can be rotated at a predetermined rotational speed. As the chamfering tool 26, a ball end mill is used in which the grinding shape at the time of rotation is, for example, a substantially hemispherical shape. The spindle motor 73 is attached downward to the Z-axis table 62 or the Z-axis plate 65.

面取り加工ツール26と眼鏡レンズLとの相対位置は、レンズ回転軸23およびチャック軸24による眼鏡レンズLの回転と、X軸テーブル21による眼鏡レンズLの水平方向(X軸方向)の移動と、Z軸テーブル62による面取り加工ツール26の鉛直方向(Z軸方向)の移動とによって決定される。面取り装置13の面取り加工用端末7は、面取り加工時に、レンズ回転軸23およびチャック軸24を回転駆動するレンズ回転軸モータ45、X軸テーブル21を水平方向に移動させるX軸モータ36、Z軸テーブル62を鉛直方向に移動させるZ軸モータ58をそれぞれ数値制御し、また面取り加工ツール26を回転させるスピンドルモータ73の回転速度、方向、回転開始、停止等を制御することにより、面取り加工ツール26が所定の回転数で回転しながらZ方向およびX方向に移動し、眼鏡レンズLのエッジ部18Aおよび18B(図3)を面取り加工する。また、面取り加工用端末7は、レンズ回転軸23とチャック軸24とにより眼鏡レンズLをチャッキングするためのチャックシリンダ41を制御するとともに、眼鏡レンズLおよび面取り加工ツール26に切削水を供給する給水ポンプ(不図示)の起動、停止を制御する。   The relative position between the chamfering tool 26 and the spectacle lens L is determined by the rotation of the spectacle lens L by the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 and the movement of the spectacle lens L by the X-axis table 21 in the horizontal direction (X-axis direction). It is determined by the movement of the chamfering tool 26 in the vertical direction (Z-axis direction) by the Z-axis table 62. The chamfering terminal 7 of the chamfering device 13 includes a lens rotating shaft motor 45 that rotationally drives the lens rotating shaft 23 and the chuck shaft 24, an X axis motor 36 that moves the X axis table 21 in the horizontal direction, and a Z axis. The chamfering tool 26 is controlled by numerically controlling the Z-axis motor 58 that moves the table 62 in the vertical direction, and by controlling the rotational speed, direction, rotation start, stop, and the like of the spindle motor 73 that rotates the chamfering tool 26. Moves in the Z direction and the X direction while rotating at a predetermined number of revolutions, and the edge portions 18A and 18B (FIG. 3) of the spectacle lens L are chamfered. The chamfering terminal 7 controls the chuck cylinder 41 for chucking the spectacle lens L by the lens rotating shaft 23 and the chuck shaft 24 and supplies cutting water to the spectacle lens L and the chamfering tool 26. Controls starting and stopping of a water supply pump (not shown).

図4および図9において、面取り装置13のエッジ部測定ユニット29は、面取り加工ユニット27のZ軸プレート65に固定された測定子ケース76と、この測定子ケース76内にブッシュ(不図示)などを介して回転自在に配設された測定子ロッド77を有している。測定子ロッド77は、上下端が測定ケース76の外部に突出し、下端側突出端に測定子28が取付けられている。   4 and 9, the edge measurement unit 29 of the chamfering device 13 includes a probe case 76 fixed to the Z-axis plate 65 of the chamfering processing unit 27, a bush (not shown), etc. in the probe case 76. The probe rod 77 is rotatably arranged via the. The measuring element rod 77 has upper and lower ends projecting outside the measuring case 76, and a measuring element 28 is attached to the projecting end on the lower end side.

測定子28の眼鏡レンズLに接触する接触面は、面取り加工ツール26における回転時の研削面の形状と対応する球面に形成されている。また、測定子28は、自身が測定子ケース76の下面に当接する位置を上死点とし、カラー78が測定子ケース76の上面に当接する位置を下死点とする範囲内で、鉛直方向(Z軸方向)に自由に移動可能にかつ回転自在に設けられており、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bの非測定時においては眼鏡レンズLに接触しないように上死点位置に保持され、測定時に解放されると自重によって下降しエッジ部18Aまたは18Bに接触するように構成されている。   The contact surface that contacts the spectacle lens L of the probe 28 is formed into a spherical surface corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool 26 is rotated. In addition, the probe 28 has a vertical position within a range in which the position where the probe 28 contacts the lower surface of the probe case 76 is a top dead center and the position where the collar 78 contacts the upper surface of the probe case 76 is a bottom dead center. It is provided so as to be freely movable (in the Z-axis direction) and rotatable, and is held at the top dead center position so as not to contact the spectacle lens L when the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L are not measured. When released during measurement, it is configured to descend by its own weight and come into contact with the edge portion 18A or 18B.

一方、測定子ロッド77の上端は、測定子ケース76の上方に延在し、鍔78Aを有するカラー78とセンサーシャフト79が取付けられている。センサーシャフト79は、カラー78の上方に設けられており、磁気センサ80を非接触状態で貫通している。磁気センサ80は、Z軸プレート65に立設したステー81の先端に取り付けられており、センサーシャフト79の上下動、言い換えれば測定子28の上下動を間接的に検出する。Z軸プレート65は、面取り加工ツール26と測定子28を搭載し、Z軸モータ58の駆動によりZ軸テーブル62が上下動すると、これと一体に上下動する。   On the other hand, the upper end of the probe rod 77 extends above the probe case 76, and a collar 78 having a flange 78A and a sensor shaft 79 are attached. The sensor shaft 79 is provided above the collar 78 and penetrates the magnetic sensor 80 in a non-contact state. The magnetic sensor 80 is attached to the tip of a stay 81 erected on the Z-axis plate 65 and indirectly detects the vertical movement of the sensor shaft 79, in other words, the vertical movement of the probe 28. The Z-axis plate 65 mounts the chamfering tool 26 and the measuring element 28, and when the Z-axis table 62 moves up and down by driving the Z-axis motor 58, it moves up and down integrally therewith.

上述のように構成されたエッジ部測定ユニット29は、測定子28によって眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bを順次測定する。測定に際しては、X軸モータ36の駆動によってX軸テーブル21をX方向に移動させ、Z軸モータ58の駆動によってZ軸プレート65をZ軸方向に移動させ、測定子28をエッジ部18Aの上方に移動させる。測定子28が眼鏡レンズLの上方に移動すると、X軸モータ36およびZ軸モータ58の駆動を停止してX軸テーブル21およびZ軸プレート65を停止させ、測定子28を測定子ケース76に対して解放状態にする。測定子28は測定子ケース76から解放されると自重によって下降し、エッジ部18Aに接触する。この状態で眼鏡レンズLとZ軸プレート65を、周面加工時にステップS8(図2)で算出されたエッジ部18A用の第1の面取り軌跡データ(θ,X,Z)に基づいて相対的に移動、回転させる。すなわち、レンズ回転軸モータ45の駆動によりレンズ回転軸23およびチャック軸24に保持されている眼鏡レンズLをレンズ軸19回りに回転させ、X軸モータ36の駆動により、X軸テーブル21をX軸ガイドレール32に沿ってX軸方向に移動させる。また、Z軸モータ58の駆動によりZ軸プレート65をZ方向に移動させ、それぞれ最初の測定位置X1 +ΔX,Y1 ,Z1 に移動させる。X1 ,Y1 ,Z1 は、レンズ枠形状加工時に計算された最初の面取り軌跡、ΔXは面取り加工ツール26と測定子28の回転中心間距離(図10)である。測定子28は面取り加工ツール26が眼鏡レンズLに接触するようにレンズに当たり、この位置での測定子28の位置を測定する。このとき、面取り加工ツール26と全く同じレンズへの当たり方であれば、すれ量は0、違う当たり方をすればそれがずれ量として測定値に反映される。次に、モータの駆動によってX軸テーブル21をZ軸プレート65を2番目の測定位置X2 +ΔX,Y2 ,Z2 に移動させ、測定子28の位置を測定する。これをレンズ全周にわたって行う。   The edge measurement unit 29 configured as described above sequentially measures the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L by the measuring element 28. In measurement, the X-axis motor 36 is driven to move the X-axis table 21 in the X direction, the Z-axis motor 58 is driven to move the Z-axis plate 65 in the Z-axis direction, and the probe 28 is moved above the edge portion 18A. Move to. When the probe 28 moves above the spectacle lens L, the driving of the X-axis motor 36 and the Z-axis motor 58 is stopped, the X-axis table 21 and the Z-axis plate 65 are stopped, and the probe 28 is placed in the probe case 76. On the other hand, it is released. When the measuring element 28 is released from the measuring element case 76, the measuring element 28 descends by its own weight and contacts the edge portion 18A. In this state, the spectacle lens L and the Z-axis plate 65 are relative to each other on the basis of the first chamfering locus data (θ, X, Z) for the edge portion 18A calculated in step S8 (FIG. 2) at the time of processing the peripheral surface. Move to and rotate. That is, the spectacle lens L held on the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 is rotated around the lens shaft 19 by driving the lens rotation shaft motor 45, and the X-axis table 21 is driven by the X-axis motor 36. It is moved along the guide rail 32 in the X-axis direction. Further, the Z-axis motor 58 is driven to move the Z-axis plate 65 in the Z direction to move to the first measurement positions X1 + ΔX, Y1 and Z1, respectively. X1, Y1, and Z1 are initial chamfering trajectories calculated at the time of processing the lens frame shape, and ΔX is a distance between the rotation centers of the chamfering tool 26 and the probe 28 (FIG. 10). The probe 28 hits the lens so that the chamfering tool 26 contacts the spectacle lens L, and measures the position of the probe 28 at this position. At this time, if the lens hits exactly the same as the chamfering tool 26, the amount of blur is 0, and if it hits differently, it is reflected in the measured value as a shift amount. Next, the X-axis table 21 and the Z-axis plate 65 are moved to the second measurement positions X 2 + ΔX, Y 2, Z 2 by driving the motor, and the position of the probe 28 is measured. This is performed all around the lens.

眼鏡レンズLをその軸線回りに回転させると、エッジ部18Aに自重により接触している測定子28は、エッジ部18AのZ方向の変位にともない上下動し、この測定子28の上下動が磁気センサ80によってエッジ部18Aの位置データとして測定される。そして、このエッジ部18Aの位置データと、周面加工時にステップS8(図2)で算出されたエッジ部18A用の第1の面取り軌跡データのZ方向の位置データとを比較し、この第1の面取り軌跡データに対する位置データのZ軸方向におけるずれ量ΔZ(図10)を算出する。なお、本発明による面取り測定方法は、測定時にレンズ枠形状加工時に計算された面取り軌跡を用いることでZ方向の1軸の測定系で(θ,X)を含めたずれの補正ができることを特徴とするものである。   When the spectacle lens L is rotated about its axis, the probe 28 that is in contact with the edge 18A by its own weight moves up and down in accordance with the displacement of the edge 18A in the Z direction, and the vertical movement of the probe 28 is magnetic. The sensor 80 measures the position data of the edge portion 18A. Then, the position data of the edge portion 18A is compared with the position data in the Z direction of the first chamfering trajectory data for the edge portion 18A calculated in step S8 (FIG. 2) at the time of processing the peripheral surface. A displacement amount ΔZ (FIG. 10) in the Z-axis direction of the position data with respect to the chamfering locus data is calculated. The chamfer measurement method according to the present invention is characterized in that a deviation including (θ, X) can be corrected in a uniaxial measurement system in the Z direction by using a chamfer locus calculated at the time of lens frame shape processing at the time of measurement. It is what.

測定子28による一方のエッジ部18Aの測定が終了すると、他方のエッジ部18Bの測定を同様に行う。このエッジ部18Bの測定に際しては、X軸モータ36の駆動によって眼鏡レンズLをX軸方向に所定距離移動させて測定子28を他方のエッジ部18Bの上方に位置させ、測定子28を自重によってエッジ部18Bに接触させる。そして、この状態で眼鏡レンズLとZ軸プレート65を、上記と同様に周面加工時にステップS8(図2)で算出されたエッジ部18B用の第1の面取り軌跡データ(θ,X,Z)に基づいて相対的に移動、回転させ、測定子28の上下動を磁気センサ80によってエッジ部18Bの位置データとして測定する。そして、このエッジ部18Bの位置データと、周面加工時にステップS8(図2)で算出されたエッジ部18B用の第1の面取り軌跡データとを比較し、この第1の面取り軌跡データに対する位置データのZ軸方向におけるずれ量ΔZ(図10)を算出する。   When the measurement of the one edge portion 18A by the measuring element 28 is completed, the measurement of the other edge portion 18B is similarly performed. When measuring the edge portion 18B, the spectacle lens L is moved a predetermined distance in the X-axis direction by driving the X-axis motor 36 so that the probe 28 is positioned above the other edge 18B, and the probe 28 is moved by its own weight. It is made to contact edge part 18B. In this state, the eyeglass lens L and the Z-axis plate 65 are first chamfered locus data (θ, X, Z) for the edge portion 18B calculated in step S8 (FIG. 2) at the time of processing the peripheral surface in the same manner as described above. ) Is moved and rotated relatively, and the vertical movement of the probe 28 is measured by the magnetic sensor 80 as the position data of the edge portion 18B. Then, the position data of the edge portion 18B is compared with the first chamfering locus data for the edge portion 18B calculated in step S8 (FIG. 2) at the time of peripheral surface machining, and the position with respect to the first chamfering locus data is compared. A shift amount ΔZ (FIG. 10) in the Z-axis direction of data is calculated.

つまり、本発明においては、図10に示すように面取り加工用端末7(図1)のZ軸プレート65に面取り加工ツール26と測定子28とをX軸方向にΔXだけ離間させて搭載しておく。そして、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bの測定時に、図2のステップS8で算出された第1の面取り軌跡データを、測定子28と面取り加工ツール26との距離ΔXだけX軸方向にシフトさせ、測定子28をエッジ部18Aまたは18Bに接触させて測定し、各エッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZをそれぞれ測定するものである。   That is, in the present invention, as shown in FIG. 10, the chamfering tool 26 and the measuring element 28 are mounted on the Z-axis plate 65 of the chamfering terminal 7 (FIG. 1) while being spaced apart by ΔX in the X-axis direction. deep. Then, when measuring the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L, the first chamfering locus data calculated in step S8 in FIG. 2 is shifted in the X-axis direction by the distance ΔX between the measuring element 28 and the chamfering tool 26. The measuring element 28 is brought into contact with the edge portion 18A or 18B for measurement, and the deviation amount ΔZ from the first chamfering locus data of each edge portion 18A, 18B is measured.

眼鏡レンズLの周面20が周面加工装置12により理想的に周面加工され、かつ、この周面加工装置12と面取り装置13との間で眼鏡レンズLの保持(チャッキング)に関してずれが存在しない場合には、面取り装置13のレンズ回転軸23およびチャック軸24により保持された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bは、周面加工時にステップS8で算出された第1の面取り軌跡データと一致する。このため、エッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZは零となり、この零位置をエッジ部測定ユニット29が測定し、面取り加工用端末7が記憶する。   The peripheral surface 20 of the spectacle lens L is ideally processed by the peripheral surface processing device 12, and there is a deviation regarding the holding (chucking) of the spectacle lens L between the peripheral surface processing device 12 and the chamfering device 13. If not, the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L held by the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 of the chamfering device 13 are the first chamfering trajectory data calculated in step S8 at the time of peripheral surface processing. Match. For this reason, the shift amount ΔZ from the first chamfering trajectory data of the edge portions 18A and 18B becomes zero, and this zero position is measured by the edge portion measuring unit 29 and stored in the chamfering processing terminal 7.

また、眼鏡レンズLが周面加工装置12により周面加工されて小さいサイズ(小径)に加工された場合には、図11に示すように、レンズ回転軸23およびチャック軸24によって保持された眼鏡レンズLは、周面20のエッジ部18Aおよび18Bが、周面加工時にステップS8で算出された第1の面取り軌跡データに対して下方にずれてしまう。このため、測定子28は、サイズが小さくなった分だけ自重で下降して眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bに接触する。そして、この測定子28を備えたエッジ部測定ユニット29は、眼鏡レンズLの周面20におけるエッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量を、鉛直(Z軸)方向におけるずれ量ΔZ=ΔZ1として測定し、このずれ量ΔZ1が面取り加工用端末7に記憶される。ここで、ずれ量ΔZ1は、測定子28の下端高さと、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データに基づいて移動する面取り加工ツール26の下端高さとの差と一致する。   Further, when the spectacle lens L is processed into a small size (small diameter) by processing the peripheral surface by the peripheral surface processing device 12, the spectacles held by the lens rotating shaft 23 and the chuck shaft 24 as shown in FIG. In the lens L, the edge portions 18A and 18B of the peripheral surface 20 are shifted downward with respect to the first chamfering locus data calculated in step S8 during peripheral surface processing. For this reason, the measuring element 28 is lowered by its own weight as much as the size is reduced, and contacts the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L. Then, the edge measurement unit 29 provided with the measuring element 28 determines the amount of deviation from the first chamfering locus data of the edge portions 18A and 18B on the peripheral surface 20 of the spectacle lens L in the vertical (Z-axis) direction. The amount ΔZ = ΔZ1 is measured, and this deviation amount ΔZ1 is stored in the chamfering terminal 7. Here, the shift amount ΔZ1 coincides with the difference between the lower end height of the measuring element 28 and the lower end height of the chamfering tool 26 that moves based on the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining.

さらに、例えば面取り装置13におけるレンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23およびチャック軸24に眼鏡レンズLを保持させるためにチャッキング操作が複数回行われる場合がある。このようなときは、図12に示すように、レンズ回転軸23およびチャック軸24に保持された眼鏡レンズLは、周面20のエッジ部18A,18Bが、周面加工時に図2のステップS8で算出された第1の面取り軌跡データに対して水平方向(X軸方向)にずれてしまうことがある。この場合、眼鏡レンズLは、第1の面取り軌跡データでは図12の破線位置にあるものが実線位置となり、測定子28は、この眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bに接触するまで自重で下降する。したがって、この測定子28を備えたエッジ部測定ユニット29は、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量を、面取り加工ツール26の鉛直(Z軸)移動方向のずれ量ΔZ=ΔZ2として測定子28を用いて測定する。このずれ量ΔZ2は面取り加工用端末7に記憶される。ここでも、ずれ量ΔZ2は、測定子28の下端高さと、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データに基づいて移動する面取り加工ツール26の下端高さとの差と一致する。   Further, for example, the chucking operation may be performed a plurality of times in order to hold the spectacle lens L on the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 of the lens holding rotation unit 25 in the chamfering device 13. In such a case, as shown in FIG. 12, in the spectacle lens L held by the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24, the edge portions 18A and 18B of the peripheral surface 20 are processed at step S8 in FIG. May be displaced in the horizontal direction (X-axis direction) with respect to the first chamfering trajectory data calculated in (1). In this case, in the first chamfered trajectory data, the spectacle lens L at the position of the broken line in FIG. 12 becomes the solid line position, and the measuring element 28 is lowered by its own weight until it contacts the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L. To do. Therefore, the edge measurement unit 29 including the measuring element 28 uses the amount of deviation from the first chamfer locus data of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L as the vertical (Z-axis) movement direction of the chamfering tool 26. The amount of deviation ΔZ = ΔZ2 is measured using the probe 28. This deviation amount ΔZ2 is stored in the chamfering terminal 7. Here again, the shift amount ΔZ2 coincides with the difference between the lower end height of the measuring element 28 and the lower end height of the chamfering tool 26 that moves based on the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining.

図13は、レンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23およびチャック軸24に保持された1枚の眼鏡レンズLの周面20について、エッジ部18Aまたは18Bの全周にわたって求めたずれ量ΔZの変化を示す図である。このずれ量ΔZは、レンズ回転軸23とチャック軸24により保持された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bの各位置をつなぐ軌跡である面取り加工軌跡に対して、周面加工時に図2のステップS8で求めてある第1の面取り軌跡データによる面取り軌跡がずれている場合のずれ量である。つまり、このずれ量ΔZは、面取り加工ツール26の鉛直方向の位置が先に求めた第1の面取り軌跡データで示される対応位置からずれている場合のずれ量である。図13では、横軸は、レンズ回転軸23およびチャック軸24により保持された眼鏡レンズLの周面20におけるエッジ部18A,18Bの、レンズ軸19を中心とする回転角度位置である。また縦軸は、そのエッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZを示す。なお、この場合、ΔZはエッジ部18Aと、エッジ部18Bとでは、その変化の状態が異なる場合も多いが、図13では説明を簡単にするためにいずれもΔZとして示している。   FIG. 13 shows a change in the shift amount ΔZ obtained over the entire circumference of the edge portion 18A or 18B with respect to the peripheral surface 20 of one spectacle lens L held by the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 of the lens holding rotation unit 25. FIG. This deviation amount ΔZ is a step shown in FIG. 2 at the time of peripheral surface machining with respect to a chamfering locus that is a locus that connects the positions of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L held by the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24. This is the deviation amount when the chamfering locus based on the first chamfering locus data obtained in S8 is deviated. That is, this shift amount ΔZ is a shift amount when the vertical position of the chamfering tool 26 is shifted from the corresponding position indicated by the first chamfering trajectory data obtained previously. In FIG. 13, the horizontal axis is the rotational angle position around the lens axis 19 of the edge portions 18 </ b> A and 18 </ b> B on the peripheral surface 20 of the spectacle lens L held by the lens rotation axis 23 and the chuck axis 24. The vertical axis indicates the amount of deviation ΔZ from the first chamfering trajectory data of the edge portions 18A and 18B. In this case, ΔZ is often shown as ΔZ in FIG. 13 for ease of explanation, although there are many cases where the state of change is different between the edge portion 18A and the edge portion 18B.

図13において、ずれ量ΔZが零のときには、測定子28が面取り加工ツール26と同一高さであり、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bがその角度位置において、水平方向(X軸方向)にずれが存在しない場合には、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データと一致していることを表す。   In FIG. 13, when the deviation amount ΔZ is zero, the measuring element 28 is at the same height as the chamfering tool 26, and the edge portions 18A, 18B of the spectacle lens L are in the horizontal direction (X-axis direction) at the angular position. When there is no deviation, it indicates that it matches the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining.

また、ずれ量ΔZの値がプラスのときには、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bがその角度位置において、第1の面取り軌跡データよりもレンズ軸19から離れる方向の位置にあるか、または、水平方向(X軸方向)において眼鏡レンズLが面取り加工ツール26の反対側にずれが存在することを表す。   Further, when the value of the shift amount ΔZ is positive, the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L are at a position in a direction away from the lens axis 19 with respect to the first chamfered locus data at the angular position, or horizontal. This indicates that the eyeglass lens L is displaced on the opposite side of the chamfering processing tool 26 in the direction (X-axis direction).

さらに、ずれ量ΔZの値がマイナスのときには、眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bがその角度位置において、第1の面取り軌跡データよりもレンズ軸19に近い方向の位置にあるか、または、水平方向(X軸方向)において眼鏡レンズLが面取り加工ツール26の側にずれが存在することを表す。   Further, when the value of the shift amount ΔZ is negative, the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L are in the position closer to the lens axis 19 than the first chamfered locus data at the angular position, or horizontal. This indicates that the eyeglass lens L is displaced on the chamfering tool 26 side in the direction (X-axis direction).

なお、上述のように、眼鏡レンズLの周面20におけるエッジ部18A,18Bが周面加工時に算出された面取り加工ツール26の第1の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール26の鉛直(Z軸)移動方向においてずれ量ΔZとして正確に測定可能な条件は、周面加工時において加工された周面20が許容の公差範囲内にあることである。測定子28を用いたエッジ部測定ユニット29によるエッジ部18A,18Bの測定時に、このエッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZが許容の値(例えば±2mm)を外れた場合には、面取り加工用端末7(図1)は眼鏡レンズLの周面20が公差範囲から外れていると判断して、その後の測定を中止する。   Note that, as described above, the deviation amount of the edge portions 18A and 18B on the peripheral surface 20 of the spectacle lens L from the first chamfering trajectory data of the chamfering tool 26 calculated at the time of peripheral surface processing is calculated by the chamfering tool 26. The condition that can be accurately measured as the deviation amount ΔZ in the vertical (Z-axis) moving direction is that the peripheral surface 20 processed during peripheral surface processing is within an allowable tolerance range. When the edge portions 18A and 18B are measured by the edge portion measurement unit 29 using the measuring element 28, the deviation amount ΔZ from the first chamfered locus data of the edge portions 18A and 18B deviates from an allowable value (for example, ± 2 mm). If this is the case, the chamfering terminal 7 (FIG. 1) determines that the peripheral surface 20 of the spectacle lens L is out of the tolerance range, and stops the subsequent measurement.

面取り加工用端末7は、周面加工時に図2のステップS8で算出された面取り加工ツール26の第1の面取り軌跡データのうちのZ軸方向のデータを、エッジ部測定ユニット29によって測定された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bのずれ量ΔZ、すなわち、エッジ部18A,18Bが周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データからずれるずれ量のうち、測定子28により測定された面取り加工ツール26の鉛直(Z軸)移動方向におけるずれ量を用いて次のように補正し、第2の面取り軌跡データを演算する。   In the chamfering terminal 7, data in the Z-axis direction among the first chamfering locus data of the chamfering tool 26 calculated in step S <b> 8 in FIG. Of the deviation amount ΔZ of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L, that is, the deviation amount of the edge portions 18A and 18B deviated from the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining, the chamfering measured by the measuring element 28. Using the amount of deviation in the vertical (Z-axis) movement direction of the processing tool 26, correction is performed as follows, and second chamfering trajectory data is calculated.

例えば、エッジ部測定ユニット29により測定された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bのずれ量ΔZが図13に示すプラス側の場合には、面取り加工用端末7は、このプラスのずれ量ΔZを相殺するために、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データのZ軸方向データをマイナス側にシフトして補正する。また、エッジ部測定ユニット29により測定された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bのずれ量ΔZが図13に示すマイナス側の場合には、面取り加工用端末7は、このマイナスのずれ量ΔZを相殺するために、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データのZ軸方向データをプラス側にシフトして補正する。エッジ部測定ユニット29により測定された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bのずれ量ΔZが零の場合には、面取り加工用端末7は、周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データのZ軸方向データをそのまま使用する。
これらの関係を式に表すと下式のようになる。
Ai =Bi −ΔZi ・・・(1)
但し、Ai は所定の角度位置i における第2の面取り軌跡データ、Bi は所定の角度位置i における第1の面取り軌跡データ、ΔZi は所定の角度位置i における第1の面取り軌跡データからのずれ量を示す。
For example, when the deviation amount ΔZ of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L measured by the edge portion measurement unit 29 is on the plus side shown in FIG. 13, the chamfering processing terminal 7 uses the plus deviation amount ΔZ. In order to cancel, the Z-axis direction data of the first chamfering trajectory data calculated at the time of peripheral surface machining is shifted to the negative side and corrected. When the deviation amount ΔZ of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L measured by the edge portion measurement unit 29 is on the minus side shown in FIG. 13, the chamfering terminal 7 uses the minus deviation amount ΔZ. In order to cancel, the Z-axis direction data of the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface machining is shifted to the plus side and corrected. When the shift amount ΔZ of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L measured by the edge portion measurement unit 29 is zero, the chamfering terminal 7 uses the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface processing. The Z-axis direction data is used as it is.
These relationships are expressed in the following equations.
Ai = Bi-.DELTA.Zi (1)
However, Ai is the second chamfering trajectory data at the predetermined angular position i, Bi is the first chamfering trajectory data at the predetermined angular position i, and ΔZi is the amount of deviation from the first chamfering trajectory data at the predetermined angular position i. Indicates.

このように、エッジ部18A,18Bの全周にわたってずれ量ΔZが零となるように第1の面取り軌跡データを補正して第2の面取り軌跡データを算出すると、エッジ部18A,18Bの全周にわたって面取り量を均一にすることができる。ただし、本発明においては、エッジ部18A,18Bの全周にわたってずれ量ΔZを必ずしも零になるように補正する必要はなく、部分的に補正値を変えると面取り量を自由に変えることができ、眼鏡レンズに合った所望の面取り加工を行うようにしてもよい。   In this way, when the first chamfering trajectory data is calculated by correcting the first chamfering trajectory data so that the deviation amount ΔZ is zero over the entire circumference of the edge portions 18A and 18B, the entire circumference of the edge portions 18A and 18B is calculated. The chamfering amount can be made uniform over the entire area. However, in the present invention, it is not necessary to correct the deviation amount ΔZ over the entire circumference of the edge portions 18A and 18B so that it becomes zero. If the correction value is partially changed, the chamfering amount can be freely changed. A desired chamfering process suitable for the spectacle lens may be performed.

眼鏡レンズLの面取り加工に際しては、面取り加工ユニット27の面取り加工ツール26によって眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bに面取り加工を施す。つまり、面取り加工用端末7は、エッジ部測定ユニット29により測定された眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bのずれ量ΔZがエッジ部の全周にわたって零になるように第1の面取り軌跡データを補正することにより、第2の面取り軌跡データを算出する。そして、この第2の面取り軌跡データに基づいて、レンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23およびチャック軸24に保持された眼鏡レンズLを、レンズ回転軸モータ45の駆動によりレンズ軸19の回りに回転させるとともに、X軸モータ36の駆動により水平方向(X軸方向)に移動させる。さらに、スピンドルモータ73の駆動により面取り加工ユニット27の面取り加工ツール26を回転させつつ、Z軸モータ58の駆動によりZ軸プレート65を鉛直方向(Z軸方向)に移動させて面取り加工ツール26をエッジ部18Aまたは18Bに接触させ、エッジ部18A,18Bを順次面取りする。これにより、各エッジ部18A,18Bの全周にわたって面取り量が均一な眼鏡レンズLが得られる。   When chamfering the spectacle lens L, the chamfering tool 26 of the chamfering processing unit 27 chamfers the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L. That is, the chamfering terminal 7 obtains the first chamfering locus data so that the deviation amount ΔZ of the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L measured by the edge portion measuring unit 29 becomes zero over the entire circumference of the edge portion. By correcting, the second chamfering trajectory data is calculated. Then, based on the second chamfered locus data, the lens rotation shaft 23 of the lens holding rotation unit 25 and the eyeglass lens L held by the chuck shaft 24 are driven around the lens shaft 19 by driving the lens rotation shaft motor 45. While rotating, the X axis motor 36 is driven to move in the horizontal direction (X axis direction). Further, the chamfering processing tool 26 of the chamfering processing unit 27 is rotated by driving the spindle motor 73, and the Z-axis plate 65 is moved in the vertical direction (Z-axis direction) by driving the Z-axis motor 58. The edge portions 18A and 18B are sequentially chamfered by contacting the edge portions 18A or 18B. Thereby, the spectacle lens L with a uniform chamfering amount is obtained over the entire circumference of each edge 18A, 18B.

また、ずれ量ΔZの補正に際しては、エッジ部18A,18Bの全周にわたってずれ量を零にするのではなく、部分的にずれ量ΔZが零にならないようにすると、面取り量が均一にならず、面取り箇所を強調したり弱めたりすることができる。   Further, when correcting the displacement amount ΔZ, the amount of chamfering does not become uniform if the displacement amount ΔZ is not partially reduced to zero rather than being made zero over the entire circumference of the edge portions 18A and 18B. The chamfered part can be emphasized or weakened.

次に、上述のように構成された面取り装置13による面取り加工工程を図14に基づいて説明する。
まず、周縁加工システムサーバ4(図1)は、周面仕上げ加工済みレンズを収納しているレンズトレーのバーコードを取得して、このバーコードに対応する眼鏡レンズLに関するレンズ面形状データなどのレンズ情報、眼鏡枠の玉型形状情報、眼鏡装用者の瞳孔間距離などのレイアウト情報、ヤゲンの有無などの加工指示情報等を、工場サーバ1よりLAN1を通して取得し認識する(S11)。
Next, a chamfering process performed by the chamfering apparatus 13 configured as described above will be described with reference to FIG.
First, the peripheral edge processing system server 4 (FIG. 1) acquires a barcode of a lens tray that stores a lens that has been subjected to peripheral surface finishing processing, and stores lens surface shape data relating to the spectacle lens L corresponding to the barcode. The lens information, the lens shape information of the spectacle frame, the layout information such as the distance between the pupils of the spectacle wearer, the processing instruction information such as the presence or absence of the bevel is acquired and recognized through the LAN 1 from the factory server 1 (S11).

面取り加工用端末7は、周縁加工システムサーバ4から、周面加工時にステップS8(図2)で算出された第1の面取り軌跡データを読み込む(S12)。   The chamfering terminal 7 reads the first chamfering trajectory data calculated in step S8 (FIG. 2) during peripheral surface processing from the peripheral processing system server 4 (S12).

作業者は、周面加工工程で所定位置にレンズホルダ44(図4)が取り付けられた眼鏡レンズLを、面取り加工部8におけるレンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23およびチャック軸24にチャッキングして固定する(S13)。   The operator chucks the spectacle lens L having the lens holder 44 (FIG. 4) attached at a predetermined position in the peripheral surface processing step to the lens rotation shaft 23 and the chuck shaft 24 of the lens holding and rotating unit 25 in the chamfering processing unit 8. To fix (S13).

その後、周面20が仕上げ加工されて面取り装置13のレンズ保持回転ユニット25のレンズ回転軸23とチャック軸24に保持された眼鏡レンズLに対し、その周面20のエッジ部18A,18Bをエッジ部測定ユニット29を用いて測定するエッジ部測定工程を実施する(S14、S15)。次に、このエッジ部測定工程で得られた測定データを用いて、第1の面取り軌跡データを補正して第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出工程を実施する(S16)。   Thereafter, the peripheral surface 20 is finished and the edge portions 18A and 18B of the peripheral surface 20 are edged with respect to the lens rotation shaft 23 of the lens holding and rotating unit 25 of the chamfering device 13 and the spectacle lens L held on the chuck shaft 24. An edge measurement process for measuring using the measurement unit 29 is performed (S14, S15). Next, using the measurement data obtained in this edge portion measurement step, a second chamfering locus data calculation step is performed in which the first chamfering locus data is corrected to calculate second chamfering locus data (S16). ).

次に、この第2の面取り軌跡データ算出工程で得られた第2の面取り軌跡データに基づき、面取り加工ツール26を用いて眼鏡レンズLのエッジ部18A,18Bを面取り加工する面取り加工工程を実施する(S17〜S20)。   Next, based on the second chamfering trajectory data obtained in the second chamfering trajectory data calculation step, a chamfering process for chamfering the edge portions 18A and 18B of the spectacle lens L using the chamfering tool 26 is performed. (S17 to S20).

エッジ部測定工程では、作業者により面取り装置13がON操作されると、この面取り装置13の面取り加工用端末7は、面取り加工部8におけるエッジ部測定ユニット29を用いる。まず、レンズ保持回転ユニット25に保持されている眼鏡レンズLのエッジ部18Aが、当該エッジ部18Aを面取り加工するために周面加工時に算出された面取り加工ツール26の第1の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール26の鉛直(Z軸)移動方向においてずれ量ΔZとして測定する(S14)。   In the edge portion measurement process, when the chamfering device 13 is turned on by the operator, the chamfering terminal 7 of the chamfering device 13 uses the edge portion measuring unit 29 in the chamfering portion 8. First, the edge portion 18A of the spectacle lens L held by the lens holding and rotating unit 25 is obtained from the first chamfering trajectory data of the chamfering tool 26 calculated at the time of peripheral surface processing for chamfering the edge portion 18A. The amount of deviation is measured as the amount of deviation ΔZ in the vertical (Z-axis) movement direction of the chamfering tool 26 (S14).

次に、面取り加工用端末7は、同様にして、眼鏡レンズLのエッジ部18Bが、当該エッジ部18Bを面取り加工するために周面加工時に算出された第1の面取り軌跡データからずれるずれ量を、面取り加工ツール26の鉛直(Z軸)移動方向においてずれ量ΔZとして測定する(S15)。なお、これらステップS15とS16の順序は逆であってもよい。   Next, in the same way, the chamfering terminal 7 shifts the edge portion 18B of the spectacle lens L from the first chamfering trajectory data calculated during the peripheral surface processing for chamfering the edge portion 18B. Is measured as a shift amount ΔZ in the vertical (Z-axis) movement direction of the chamfering tool 26 (S15). Note that the order of these steps S15 and S16 may be reversed.

第2の面取り軌跡データ算出工程では、面取り加工用端末7は、周面加工時のステップS8で算出された面取り加工ツール26の、エッジ部18Aを面取り加工するための第1の面取り軌跡データを、ステップS14により得られた眼鏡レンズLのエッジ部18Aにおける第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZを用いて補正し、第2の面取り軌跡データを算出する。さらに、面取り加工用端末7は、周面加工工程のステップS8で算出された面取り加工ツール26の、エッジ部18Bを面取り加工するための第1の面取り軌跡データを、ステップS15で得られた眼鏡レンズLのエッジ部18Bにおける第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZを用いて補正し、第2の面取り軌跡データを算出する(S16)。   In the second chamfering trajectory data calculating step, the chamfering terminal 7 uses the first chamfering trajectory data for chamfering the edge portion 18A of the chamfering tool 26 calculated in step S8 during peripheral surface processing. Then, correction is performed using the amount of deviation ΔZ from the first chamfering locus data at the edge portion 18A of the spectacle lens L obtained in step S14, and second chamfering locus data is calculated. Further, the chamfering terminal 7 uses the chamfering tool 26 calculated in step S8 of the peripheral surface machining step to obtain first chamfering trajectory data for chamfering the edge portion 18B of the chamfering tool 26 obtained in step S15. Correction is performed by using the shift amount ΔZ from the first chamfering locus data at the edge portion 18B of the lens L, and second chamfering locus data is calculated (S16).

面取り加工工程では、面取り加工用端末7は、まず面取り加工ユニット27のスピンドルモータ73を駆動して面取り加工ツール26を回転させ、給水ポンプ(不図示)を起動させて面取り加工ツール26および眼鏡レンズLに切削水を供給する(S17)。次に、面取り加工用端末7は、ステップS16で得られた、眼鏡レンズLのエッジ部18Aを面取り加工するための補正された第2の面取り軌跡データに基づいて、X軸モータ36、レンズ回転軸モータ45およびZ軸モータ58を駆動し、面取り加工ツール26を用いて眼鏡レンズLのエッジ部18Aに面取り加工を実施する(S18)。   In the chamfering process, the chamfering terminal 7 first drives the spindle motor 73 of the chamfering unit 27 to rotate the chamfering tool 26 and starts a water supply pump (not shown) to start the chamfering tool 26 and the spectacle lens. Cutting water is supplied to L (S17). Next, based on the corrected second chamfering trajectory data for chamfering the edge portion 18A of the spectacle lens L obtained in step S16, the chamfering terminal 7 rotates the X-axis motor 36 and the lens. The shaft motor 45 and the Z-axis motor 58 are driven, and the chamfering processing is performed on the edge portion 18A of the spectacle lens L using the chamfering processing tool 26 (S18).

次に、面取り加工用端末7は、ステップS16で得られた眼鏡レンズLのエッジ部18Bを面取り加工するための補正された第2の面取り軌跡データに基づいて、X軸モータ36、レンズ回転軸モータ45およびZ軸モータ58を駆動し、面取り加工ツール26を用いて眼鏡レンズLのエッジ部18Bに面取り加工を実施する(S19)。眼鏡レンズLのエッジ部18Aとエッジ部18Bの全周にわたって面取り加工を実施した後、面取り加工用端末7は、スピンドルモータ73を停止して面取り加工ツール26を回転停止させ、給水ポンプを停止して切削水の供給を停止する(S20)。   Next, based on the corrected second chamfering trajectory data for chamfering the edge portion 18B of the spectacle lens L obtained in step S16, the chamfering terminal 7 uses the X-axis motor 36, the lens rotation axis, and the like. The motor 45 and the Z-axis motor 58 are driven, and the chamfering processing is performed on the edge portion 18B of the spectacle lens L using the chamfering processing tool 26 (S19). After chamfering is performed over the entire circumference of the edge portion 18A and the edge portion 18B of the spectacle lens L, the chamfering terminal 7 stops the spindle motor 73 to stop the chamfering processing tool 26 from rotating and stops the water supply pump. Then, the supply of cutting water is stopped (S20).

この面取り加工工程の終了後、面取り加工用端末7は、周縁加工システムサーバ4へ面取り加工の終了を通知する(S21)。面取り加工の終了が通知されると、作業者は、面取り装置13の面取り加工部8におけるレンズ保持回転ユニット25から眼鏡レンズLを取り外して面取り加工を終了し、面取り加工済みの眼鏡レンズLを得る(S22)。   After the end of the chamfering process, the chamfering terminal 7 notifies the peripheral edge processing system server 4 of the end of the chamfering process (S21). When the end of the chamfering process is notified, the operator removes the spectacle lens L from the lens holding and rotating unit 25 in the chamfering processing unit 8 of the chamfering apparatus 13 to finish the chamfering process, and obtains the spectacle lens L that has been chamfered. (S22).

上述のように、本発明に係る眼鏡レンズの面取り方法および面取り装置は、面取り加工ツール26と測定子28が搭載され、眼鏡レンズlの軸線と直交するZ軸方向に移動自在なZ軸プレート65を備えている。また、測定子28の接触面を、面取り加工時の面取り加工ツール26の回転時における研削面に対応する球面に形成し、エッジ部18A,18Bの測定時に自重によってエッジ部18A,18Bに接触させるようにしている。さらに、予め面取り加工ツール26でエッジ部18A,18Bを加工する際の面取り加工ツール26の加工軌跡を示す第1の面取り軌跡データを、眼鏡レンズLの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて計算によって算出しておく。そして、測定子28をエッジ部18A,18Bに自重によって接触させた状態でZ軸プレート65を第1の面取り軌跡データに基づいて移動させ、眼鏡レンズLと測定子28を相対的に移動および回転させる。これにより、エッジ部18A,18Bの第1の面取り軌跡データからのずれ量ΔZを測定し、このずれ量ΔZを用いて第1の面取り軌跡データを補正して第2の面取り軌跡データを算出するようにしている。そして、この算出された第2の面取り軌跡データに基づいて眼鏡レンズLと面取り加工ツール26を相対的に移動、回転させることにより、エッジ部18A,18Bを面取り加工するようにしたので、ずれ量の補正の仕方によってはエッジ部の全周にわたって面取り量を均一にしたり、部分的に変化させたりすることができ、所望の面取り加工を実施することができる。また、ずれ量の補正はZ軸方向のずれ量ΔZだけであるため、エッジ部18A,18Bの3次元位置を測定するために必要な複雑な測定機構や複雑な演算が不要で、高精度な面取り加工を簡単に実施することができる。   As described above, the spectacle lens chamfering method and chamfering apparatus according to the present invention includes the chamfering tool 26 and the measuring element 28 and is movable in the Z-axis direction perpendicular to the axis of the spectacle lens l. It has. Further, the contact surface of the probe 28 is formed into a spherical surface corresponding to the ground surface when the chamfering tool 26 is rotated during chamfering, and is brought into contact with the edge portions 18A and 18B by its own weight when measuring the edge portions 18A and 18B. I am doing so. Further, the edge of the spectacle frame shape calculated when the peripheral surface processing of the spectacle lens L is first chamfered trajectory data indicating the processing trajectory of the chamfering processing tool 26 when the edge portions 18A and 18B are processed by the chamfering processing tool 26 in advance. It is calculated by calculation based on the position data of the part. Then, the Z-axis plate 65 is moved based on the first chamfering locus data while the measuring element 28 is in contact with the edge portions 18A and 18B by its own weight, and the spectacle lens L and the measuring element 28 are relatively moved and rotated. Let As a result, the deviation amount ΔZ from the first chamfering locus data of the edge portions 18A and 18B is measured, and the first chamfering locus data is corrected using the deviation amount ΔZ to calculate the second chamfering locus data. I am doing so. Then, the edge portions 18A and 18B are chamfered by relatively moving and rotating the spectacle lens L and the chamfering processing tool 26 based on the calculated second chamfering locus data. Depending on the correction method, the chamfering amount can be made uniform or partially changed over the entire circumference of the edge portion, and a desired chamfering process can be performed. Further, since the correction of the shift amount is only the shift amount ΔZ in the Z-axis direction, a complicated measurement mechanism and a complicated calculation necessary for measuring the three-dimensional positions of the edge portions 18A and 18B are unnecessary, and high accuracy is achieved. Chamfering can be easily performed.

以上、本発明を実施の形態に基づいて説明したが、本発明はこれに何ら限定されるものではない。
例えば、本実施の形態では、測定子28の接触面を面取り加工ツール26の回転時における研削面と同一の球面になるように形成した場合について述べたが、眼鏡レンズLの周面20にヤゲンが形成されない眼鏡レンズにあっては、面取り加工ツール26と測定子28を三角錐形状に形成してもよい。面取り加工ツール26と測定子28を同一の三角錐形状に形成した場合には、測定子28の接触面が円錐となるため、眼鏡レンズLの位置が鉛直(Z軸)方向または水平(X軸)移動方向のいずれかにずれていても、眼鏡レンズLと接触する際の鉛直(Z軸)方向の位置が異なっても面取りの角度は常に一定に保たれる。特に眼鏡レンズLが、水平(X軸)移動方向にずれている場合には、三角錐形状であることが好ましい。
While the present invention has been described based on the embodiments, the present invention is not limited to this.
For example, in the present embodiment, the case where the contact surface of the probe 28 is formed to be the same spherical surface as the ground surface when the chamfering tool 26 is rotated has been described. In the case of a spectacle lens that is not formed, the chamfering tool 26 and the measuring element 28 may be formed in a triangular pyramid shape. When the chamfering tool 26 and the probe 28 are formed in the same triangular pyramid shape, the contact surface of the probe 28 is a cone, so that the position of the spectacle lens L is in the vertical (Z axis) direction or horizontal (X axis). ) Even if it is deviated in any of the moving directions, the angle of the chamfering is always kept constant even if the position in the vertical (Z-axis) direction when contacting the spectacle lens L is different. In particular, when the spectacle lens L is displaced in the horizontal (X-axis) movement direction, it is preferably a triangular pyramid shape.

また、本実施の形態では、周面加工装置12と面取り装置13とを分離した装置の形態としたが、周面加工装置12に面取り装置13の機能を備えた装置を内蔵させた形態としてもよい。その場合は、眼鏡レンズLのチャッキングによるずれの発生を防止することができる。   In the present embodiment, the peripheral surface processing device 12 and the chamfering device 13 are separated from each other. However, the peripheral surface processing device 12 may have a built-in device having the function of the chamfering device 13. Good. In this case, it is possible to prevent the occurrence of deviation due to chucking of the spectacle lens L.

本発明に係る面取り方法および面取り装置の一実施形態が適用された眼鏡レンズ加工システムを示す全体構成図である。1 is an overall configuration diagram showing a spectacle lens processing system to which an embodiment of a chamfering method and a chamfering apparatus according to the present invention is applied. 図1の周面加工装置による眼鏡レンズの周面加工工程を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the peripheral surface manufacturing process of the spectacle lens by the peripheral surface processing apparatus of FIG. 図2における凹側レンズ面および凸側レンズ面の位置データの測定状況を示す側面図である。It is a side view which shows the measurement condition of the position data of the concave side lens surface in FIG. 2, and a convex side lens surface. 図1の面取り装置における面取り加工部を示す正面図である。It is a front view which shows the chamfering process part in the chamfering apparatus of FIG. 図4の面取り加工部を示す平面図である。It is a top view which shows the chamfering process part of FIG. 図4の面取り加工部を示す左側面図である。It is a left view which shows the chamfering process part of FIG. 図4の面取り加工部を示す右側面図である。It is a right view which shows the chamfering process part of FIG. 図4の面取り加工部における面取り加工状況を示す部分側断面図である。It is a partial sectional side view which shows the chamfering process state in the chamfering process part of FIG. 図6の一部を拡大して示す側面図である。It is a side view which expands and shows a part of FIG. 図4の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。It is a figure which shows the measurement condition of the edge part of the spectacle lens surrounding surface by the measuring element of FIG. 図4の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。It is a figure which shows the measurement condition of the edge part of the spectacle lens surrounding surface by the measuring element of FIG. 図4の測定子による眼鏡レンズ周面のエッジ部の測定状況を示す図である。It is a figure which shows the measurement condition of the edge part of the spectacle lens surrounding surface by the measuring element of FIG. 測定子により測定された、眼鏡レンズの周面エッジ部の第2の第1の面取り軌跡データからのずれ量の変化を示すグラフである。It is a graph which shows the change of the shift | offset | difference amount from the 2nd 1st chamfering locus data of the peripheral surface edge part of a spectacle lens measured by the probe. 図4の面取り装置により眼鏡レンズの周面のエッジ部を面取り加工する面取り加工工程を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the chamfering process process which chamfers the edge part of the surrounding surface of a spectacle lens with the chamfering apparatus of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

5…周面加工用端末(第1の面取り軌跡データ算出手段)、6…周面加工部、7…面取り加工用端末(第2の面取り軌跡データ算出手段)、8…面取り加工部、10…周長測定部、12…周面加工装置、13…面取り装置、15,16,28…測定子、18A,18B…エッジ部、19…レンズ軸、24…チャック軸、26…面取り加工ツール、27…面取り加工ユニット(面取り加工手段)、29…エッジ部測定ユニット(エッジ部測定手段)、65…Z軸プレート、L…眼鏡レンズ。   5 ... Terminal for peripheral surface machining (first chamfering trajectory data calculating means), 6 ... Peripheral surface machining unit, 7 ... Terminal for chamfering processing (second chamfering trajectory data calculating means), 8 ... Chamfering processing unit, 10 ... Peripheral length measurement unit, 12 ... peripheral surface processing device, 13 ... chamfering device, 15, 16, 28 ... measuring element, 18A, 18B ... edge portion, 19 ... lens shaft, 24 ... chuck shaft, 26 ... chamfering tool, 27 ... chamfering unit (chamfering means), 29 ... edge part measuring unit (edge part measuring means), 65 ... Z-axis plate, L ... spectacle lens.

Claims (7)

所定の眼鏡枠形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工ツールを用いて面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り方法において、
前記面取り加工ツールと測定子とを搭載し、眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートを有し、
前記面取り加工ツールで前記エッジ部を加工する際の面取り加工ツールの加工軌跡を示す第1の面取り軌跡データを、眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づき計算によって求める第1の面取り軌跡データ算出工程と、
前記測定子を前記眼鏡レンズの周面仕上げ加工後のエッジ部に自重により接触させた状態で前記プレートを前記第1の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子とを相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第1の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定工程と、
前記第1の面取り軌跡データを前記エッジ部測定工程で得られた前記ずれ量を用いて補正することにより実際に面取り加工を行うための第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出工程と、
前記第2の面取り軌跡データ算出工程によって算出された前記第2の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記面取り加工ツールと前記眼鏡レンズとを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工工程と、
を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの面取り方法。
In the chamfering method of a spectacle lens that performs chamfering using a chamfering processing tool at an edge portion where the peripheral surface and the lens surface of the spectacle lens that has been processed into a predetermined spectacle frame shape intersect,
The chamfering tool and the measuring element are mounted, and the plate is relatively movable in a direction orthogonal to the axis of the spectacle lens,
First chamfering locus data indicating a machining locus of the chamfering tool when the edge portion is machined by the chamfering tool is calculated based on the position data of the edge portion of the spectacle frame shape calculated at the time of processing the peripheral surface of the spectacle lens. A first chamfering trajectory data calculation step obtained by:
The plate is moved based on the first chamfering locus data in a state where the measuring element is brought into contact with the edge portion of the spectacle lens after the peripheral surface finishing by its own weight, and the spectacle lens and the measuring element are relatively moved. An edge portion measuring step for measuring a deviation amount of the edge portion from the first chamfering trajectory data by moving and rotating automatically,
Second chamfering trajectory data for calculating second chamfering trajectory data for actually performing chamfering processing by correcting the first chamfering trajectory data using the deviation amount obtained in the edge portion measurement step. A calculation process;
The chamfering is performed by moving the plate based on the second chamfering trajectory data calculated by the second chamfering trajectory data calculating step and relatively moving and rotating the chamfering tool and the spectacle lens. A chamfering process in which the edge portion is chamfered by a processing tool;
A method for chamfering a spectacle lens, comprising:
前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面は、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されていることを特徴とする請求項1記載の眼鏡レンズの面取り方法。   2. The method for chamfering a spectacle lens according to claim 1, wherein the contact surface of the measuring element used in the edge portion measuring step is formed in a cone corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated. 前記エッジ部測定工程で使用する測定子の接触面は、面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されていることを特徴とする請求項1記載の眼鏡レンズの面取り方法。   2. The method for chamfering a spectacle lens according to claim 1, wherein the contact surface of the measuring element used in the edge portion measurement step is formed into a spherical surface corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated. 請求項1に記載の面取り方法によって面取りされていることを特徴とする眼鏡レンズ。   2. A spectacle lens that is chamfered by the chamfering method according to claim 1. 所定の周面形状に周面加工された眼鏡レンズの周面とレンズ面とが交差するエッジ部に面取り加工を施す眼鏡レンズの面取り装置において、
前記眼鏡レンズの軸線と直交する方向に相対的に移動自在なプレートと、
前記プレートに搭載され前記眼鏡レンズのエッジ部を面取り加工する面取り加工ツールおよび前記エッジ部を測定する測定子と、
前記眼鏡レンズの周面加工時に算出した眼鏡枠形状のエッジ部の位置データに基づいて第1の面取り軌跡データを算出する第1の面取り軌跡データ算出手段と、
前記眼鏡レンズの前記エッジ部に測定子を自重により接触させた状態で前記プレートを前記第1の面取り軌跡データに基づいて移動させ、前記眼鏡レンズと前記測定子を相対的に移動、回転させることにより前記エッジ部の前記第1の面取り軌跡データからのずれ量を測定するエッジ部測定手段と、
前記エッジ部測定手段によって測定された前記ずれ量を用いて前記第1の面取り軌跡データを補正することにより、実際に面取り加工を行うための第2の面取り軌跡データを算出する第2の面取り軌跡データ算出手段と、
前記第2の面取り軌跡データ算出手段によって算出された前記第2の面取り軌跡データに基づいて前記プレートを移動させ、前記眼鏡レンズと前記面取り加工ツールとを相対的に移動、回転させることにより前記面取り加工ツールによって前記エッジ部を面取り加工する面取り加工手段と、
を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの面取り装置。
In the chamfering device for spectacle lenses that chamfers the edge portion where the peripheral surface of the spectacle lens and the lens surface that have been processed into a predetermined peripheral surface shape intersect,
A plate relatively movable in a direction perpendicular to the axis of the spectacle lens;
A chamfering tool for chamfering an edge portion of the spectacle lens mounted on the plate and a measuring element for measuring the edge portion;
First chamfering trajectory data calculating means for calculating first chamfering trajectory data based on position data of the edge portion of the spectacle frame shape calculated at the time of processing the peripheral surface of the spectacle lens;
The plate is moved based on the first chamfering trajectory data in a state where the measuring element is brought into contact with the edge portion of the spectacle lens by its own weight, and the spectacle lens and the measuring element are relatively moved and rotated. An edge portion measuring means for measuring a deviation amount of the edge portion from the first chamfering trajectory data,
A second chamfering locus for calculating second chamfering locus data for actually performing chamfering processing by correcting the first chamfering locus data by using the deviation amount measured by the edge portion measuring means. Data calculation means;
The chamfering is performed by moving the plate based on the second chamfering trajectory data calculated by the second chamfering trajectory data calculating unit and relatively moving and rotating the spectacle lens and the chamfering tool. Chamfering means for chamfering the edge portion with a processing tool;
A chamfering device for spectacle lenses, comprising:
前記エッジ部測定手段の測定子の接触面は、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する円錐に形成されていることを特徴とする請求項5記載の眼鏡レンズの面取り装置。   6. The eyeglass lens chamfering apparatus according to claim 5, wherein the contact surface of the measuring element of the edge portion measuring means is formed in a cone corresponding to the shape of the ground surface when the chamfering tool is rotated. 前記エッジ部測定手段の測定子の接触面は、前記面取り加工ツールの回転時の研削面形状と対応する球面に形成されていることを特徴とする請求項5記載の眼鏡レンズの面取り装置。   6. The eyeglass lens chamfering apparatus according to claim 5, wherein a contact surface of the measuring element of the edge portion measuring means is formed into a spherical surface corresponding to a grinding surface shape when the chamfering tool is rotated.
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