JP2007299811A - Stem for light-emitting element, semiconductor light-emitting device, and manufacturing method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、発光素子用ステム、半導体発光装置およびその製造方法の製造方法に関し、特に、防護壁に挟まれた実装面を有するヒートシンクを備えた発光素子用ステム、半導体発光装置およびその製造方法の製造方法に関する。 The present invention relates to a light emitting element stem, a semiconductor light emitting device, and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a light emitting element stem including a heat sink having a mounting surface sandwiched between protective walls, a semiconductor light emitting device, and a method for manufacturing the same. It relates to a manufacturing method.
半導体レーザやLED等の半導体発光装置は、例えば光ディスク光源のように一般家庭で用いられるいわゆる家電製品用途として用いられている。このような家電製品用途ではその低価格化が求められている。半導体発光装置は半導体レーザ等のチップである半導体発光素子をステムに実装して用いられる。低価格化のため、例えばキャップレス、つまり気密封止を行わない半導体発光装置も用いられている。キャップレスの半導体発光装置においては、ステムに実装された半導体発光素子および半導体素子とステムを接続するワイヤが外気に暴露されている。そのため、半導体発光装置の搬送や家電製品等への組立の際、外力により半導体発光素子またはワイヤが損傷を受けることがある。 Semiconductor light emitting devices such as semiconductor lasers and LEDs are used for so-called home appliances used in general households such as optical disk light sources. Such home appliances are required to be reduced in price. A semiconductor light emitting device is used by mounting a semiconductor light emitting element, which is a chip such as a semiconductor laser, on a stem. In order to reduce the price, for example, a semiconductor light emitting device that is capless, that is, does not perform hermetic sealing is also used. In a capless semiconductor light emitting device, a semiconductor light emitting element mounted on a stem and a wire connecting the semiconductor element and the stem are exposed to the outside air. For this reason, when the semiconductor light emitting device is transported or assembled into a home appliance, the semiconductor light emitting element or the wire may be damaged by an external force.
特許文献1の図3には、ヒートシンク4に溝を設け溝の底面にサブキャリア3および半導体発光素子1を実装した半導体発光装置が開示されている。つまり、ヒートシンク4は2つの防護壁を有しており、防護壁に挟まれた実装面上にサブキャリア3、サブキャリア3上に半導体発光素1子が実装されている。このような構造によれば、ヒートシンク4の防護壁が半導体発光素子またはワイヤを保護するため、半導体発光素子またはワイヤが損傷を抑制することができる。 FIG. 3 of Patent Document 1 discloses a semiconductor light emitting device in which a groove is formed in the heat sink 4 and the subcarrier 3 and the semiconductor light emitting element 1 are mounted on the bottom surface of the groove. That is, the heat sink 4 has two protective walls, and the subcarrier 3 is mounted on the mounting surface sandwiched between the protective walls, and the semiconductor light emitting element 1 is mounted on the subcarrier 3. According to such a structure, since the protective wall of the heat sink 4 protects the semiconductor light emitting element or the wire, the semiconductor light emitting element or the wire can be prevented from being damaged.
一般に半導体発光素子はN型導電性半導体基板上に半導体層が形成される。半導体層のうち最上層のP型半導体層とN型導電性半導体基板との間に電圧を印加することにより、半導体層内の活性層付近より光(例えばレーザ光)が出力される。電圧の印加は、N型半導体基板側を基準電位として接地され、P型半導体層に正電圧を印加することにより行われる。特許文献1においては、半導体発光素子への上記電圧の印加は、一方は、端子7aからワイヤ6を介し半導体発光素子の上面に電圧が印加される。他方は、端子7bからステム5、ヒートシンク4、サブキャリア3を介し半導体素子1の下面かに電圧が印加される。 In general, in a semiconductor light emitting device, a semiconductor layer is formed on an N-type conductive semiconductor substrate. By applying a voltage between the uppermost P-type semiconductor layer and the N-type conductive semiconductor substrate among the semiconductor layers, light (for example, laser light) is output from the vicinity of the active layer in the semiconductor layer. The voltage is applied by grounding the N-type semiconductor substrate side as a reference potential and applying a positive voltage to the P-type semiconductor layer. In Patent Document 1, the voltage is applied to the upper surface of the semiconductor light emitting element from the terminal 7a through the wire 6 on the one hand. On the other hand, a voltage is applied from the terminal 7 b to the lower surface of the semiconductor element 1 through the stem 5, the heat sink 4 and the subcarrier 3.
半導体発光装置としてジャンクションダウンタイプとジャンンクションアップタイプがある。ジャンクションアップタイプは半導体発光素子の半導体基板側をサブキャリアに実装するタイプであり、ジャンクションダウンタイプは半導体発光素子の半導体層側をサブキャリアに実装するタイプである。半導体発光素子は半導体層内の活性層付近で光を出力するため、活性層付近が最も発熱する。そこで、半導体層側をサブキャリアに実装するジャンクションダウンタイプは活性層付近で発熱した熱を効率よくサブキャリアから放熱させることができる。
しかしながら、特許文献1と同様の実装方法を例えばジャンクションダウンタイプで実装された半導体発光装置に適用するには以下のような課題がある。特許文献1の図3では、半導体発光素子の下面は導電性のサブキャリア3を介し端子7bに電気的に接続されている。そのため、ジャンクションダウンタイプで実装すると正電圧が印加される半導体層側がサブキャリア3に実装される。よって、サブキャリア3と電気的に接続されたヒートシンク4およびステム5も正電位となってしまう。 However, applying the same mounting method as in Patent Document 1 to a semiconductor light emitting device mounted in, for example, a junction down type has the following problems. In FIG. 3 of Patent Document 1, the lower surface of the semiconductor light emitting element is electrically connected to the terminal 7 b through the conductive subcarrier 3. Therefore, when the junction down type is mounted, the semiconductor layer side to which a positive voltage is applied is mounted on the subcarrier 3. Therefore, the heat sink 4 and the stem 5 electrically connected to the subcarrier 3 also have a positive potential.
これを避けるために図1のような構造がある。図1を参照に、ヒートシンク10は防護壁12を有し、防護壁12に挟まれた実装面14上に絶縁性のサブキャリア20、サブキャリア20の金属膜21上に半導体発光素子22が実装されている。半導体発光素子22の上面(すなわち半導体発光素子の半導体基板側)から実装面14に接続するワイヤ24が設けられている。サブキャリア20の上面の金属膜21からベース30とは絶縁部33で絶縁されたリード32に接続されたワイヤ26が設けられている。このように、サブキャリア20を絶縁性とし、半導体発光素子22の上面(半導体基板側、すなわち基準電位とすべき側)を実装面14に接続する。これにより、ヒートシンク10およびベース30は接地される。一方、半導体発光素子22の下面(すなわち、半導体発光素子の半導体層側)はサブキャリア20の上面の金属膜21とワイヤとを介しリード32に接続する。
In order to avoid this, there is a structure as shown in FIG. Referring to FIG. 1, the
図1の構造の半導体発光装置を実装する際、半導体発光素子22の上面と実装面14とをワイヤボンディングする必要がある。ワーヤボンディングのためのボンディング装置には、ワイヤボンディングする面を変更できるものもあるが、このようなボンディング装置は高価なため、安価な半導体発光装置を製造するためには、ワイヤボンディングする面を変更できないボンディング装置を用いる。このため、ワイヤボンディングのボンディングツールは半導体発光素子22の上面と実装面14との間を移動しワイヤボンディングする。移動距離の長いワイヤボンディングを自動で長時間行うと、ボンディングツールの駆動部が位置ずれを起こし、ボンディングすべき領域以外にボンディングが行われチップを損傷する。これにより、工程内不良による歩留まりの低下および出荷後の信頼性低下の原因となる可能性がある。また、ボンディングツールがジャムを起こすことがある。これを防止するため、頻繁にメンテナンスを行うとボンディング装置の稼動率が低下し、製造コストの増大を招く。さらに、特に金からなるワイヤは垂れ下がりやすく、ワイヤ24が金属膜21に接触し、ショートを起こす可能性もある。
When mounting the semiconductor light emitting device having the structure of FIG. 1, it is necessary to wire bond the upper surface of the semiconductor
上記は、ジャンクションダウンタイプの半導体発光装置を例に従来技術の課題について説明した。ジャンクションアップタイプの半導体発光装置も、サブキャリアを絶縁性にする要請等によりサブキャリアの上面から実装面にワイヤボンディングする場合がある。この場合はジャンクションダウンタイプを例に説明したのと同様の課題がある。 The above has described the problems of the prior art by taking a junction down type semiconductor light emitting device as an example. The junction-up type semiconductor light emitting device may be wire-bonded from the upper surface of the subcarrier to the mounting surface in response to a request to make the subcarrier insulative. In this case, there is the same problem as described with the junction down type as an example.
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、製造コストを低減することが可能な発光素子用ステム、半導体発光装置およびその製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a stem for a light-emitting element, a semiconductor light-emitting device, and a method for manufacturing the same that can reduce manufacturing costs.
本発明は、ベースに接して設けられ、防護壁に挟まれたサブキャリアを実装するための実装面を有する導電性のヒートシンクと、前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたワイヤを接続するためのステップ面と、を具備することを特徴とする発光素子用ステムである。本発明の発光素子用ステムを用い、半導体発光装置を製造することにより、ステップ面と半導体発光素子とを接続するワイヤを形成する際の製造コストを削減することが可能となる。 The present invention is provided in contact with a base, and is provided between a conductive heat sink having a mounting surface for mounting a subcarrier sandwiched between protective walls, and between the mounting surface and the top of the protective wall. A stem for a light-emitting element, comprising a step surface for connecting wires. By manufacturing a semiconductor light emitting device using the light emitting element stem of the present invention, it is possible to reduce the manufacturing cost when forming a wire connecting the step surface and the semiconductor light emitting element.
上記構成において、前記実装面は前記ベースの中心より下に設けられている構成とすることができる。この構成によれば、例えば、半導体発光素子の発光領域をステムの中心とすることができる。 The said structure WHEREIN: The said mounting surface can be set as the structure provided below the center of the said base. According to this configuration, for example, the light emitting region of the semiconductor light emitting element can be set as the center of the stem.
上記構成において、前記実装面の前記防護壁間方向の幅は前記ステップ面より上の前記防護壁の間隔より狭い構成とすることができる。 The said structure WHEREIN: The width | variety of the direction between the said protective walls of the said mounting surface can be set as a structure narrower than the space | interval of the said protective walls above the said step surface.
上記構成において、前記ベースと前記ステップ面とは電気的に接続されている構成とすることができる。 The said structure WHEREIN: The said base and the said step surface can be set as the structure electrically connected.
本発明は、ベースに接して設けられ、防護壁に挟まれたサブキャリアを実装するための実装面を有する導電性のヒートシンクと、前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたステップ面と、前記実装面に実装されたサブキャリアと、前記サブキャリアに実装された半導体発光素子と、前記半導体発光素子と前記ステップ面とを電気的に接続するワイヤと、を具備する構成とすることができる。本発明によれば、ステップ面と半導体発光素子とを接続するワイヤを形成する際の製造コストを削減することができる。 The present invention is provided in contact with a base, and is provided between a conductive heat sink having a mounting surface for mounting a subcarrier sandwiched between protective walls, and between the mounting surface and the top of the protective wall. A step surface, a subcarrier mounted on the mounting surface, a semiconductor light emitting device mounted on the subcarrier, and a wire electrically connecting the semiconductor light emitting device and the step surface; can do. According to the present invention, it is possible to reduce the manufacturing cost when forming the wire connecting the step surface and the semiconductor light emitting element.
上記構成において、前記ワイヤは前記半導体発光素子の上面と接続する構成とすることができる。また、上記構成において、前記ワイヤは前記サブキャリアの上面と接続することにより前記半導体発光素子と接続される構成とすることができる。さらに、前記ステップ面と前記ベースとは電気的に接続されている構成とすることができる。 The said structure WHEREIN: The said wire can be set as the structure connected with the upper surface of the said semiconductor light-emitting device. Moreover, the said structure WHEREIN: The said wire can be set as the structure connected with the said semiconductor light-emitting element by connecting with the upper surface of the said subcarrier. Furthermore, the step surface and the base may be electrically connected.
本発明は、導電性のヒートシンクの防護壁に挟まれた実装面に、サブキャリアを実装する工程と、前記サブキャリアを実装する工程の前または後の工程において、前記サブキャリア上に半導体発光素子を実装する工程と、前記半導体発光素子と、前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたステップ面とを電気的に接続するワイヤを形成する工程と、を具備することを特徴とする半導体発光装置の製造方法である。本発明によれば、ステップ面と半導体発光素子とを接続するワイヤを形成する際の製造コストを削減することができる。 The present invention provides a semiconductor light emitting device on a subcarrier in a step of mounting a subcarrier on a mounting surface sandwiched between protective walls of a conductive heat sink and a step before or after the step of mounting the subcarrier. And a step of forming a wire for electrically connecting the semiconductor light emitting element and a step surface provided between the mounting surface and the top of the protective wall. A method for manufacturing a semiconductor light emitting device. According to the present invention, it is possible to reduce the manufacturing cost when forming the wire connecting the step surface and the semiconductor light emitting element.
上記構成において、前記ワイヤを形成する工程は、前記半導体発光素子と前記ステップ面とを電気的に接続するワイヤを形成する工程を含む構成とすることができる。また、上記構成において、前記ワイヤを形成する工程は、前記サブキャリアの上面と前記ステップ面とを電気的に接続するワイヤを形成する工程を含む構成とすることができる。 In the above configuration, the step of forming the wire may include a step of forming a wire that electrically connects the semiconductor light emitting element and the step surface. In the above configuration, the step of forming the wire may include a step of forming a wire that electrically connects the upper surface of the subcarrier and the step surface.
上記構成において、前記ワイヤを形成する工程の後、前記ステップ面より高い位置に設けられたリードと前記半導体発光素子とを電気的に接続するワイヤを形成する工程を有する構成とすることができる。この構成によれば、ワイヤの接触を防止することができる。 The said structure WHEREIN: It can be set as the structure which has the process of forming the wire which electrically connects the lead provided in the position higher than the said step surface, and the said semiconductor light-emitting element after the process of forming the said wire. According to this structure, the contact of a wire can be prevented.
本発明によれば、製造コストを低減することが可能な発光素子用ステム、半導体発光装置およびその製造方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the stem for light emitting elements which can reduce manufacturing cost, a semiconductor light-emitting device, and its manufacturing method can be provided.
以下に、図面を参照に本発明の実施例について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
実施例1は発光素子用ステムの例である。図2(a)は実施例1に係る発光素子用ステムの正面図、図2(b)は側面図である。なお、実施例1から3においては、実装面14に対しヒートシンク10側を下方向、実装面14に対し空間方向を上方向という。つまり、半導体発光素子22を実装した場合、半導体発光素子22から実装面14の方向が下方向であり、実装面14から半導体発光素子22の方向が上方向である。発光素子用ステム34はベース30とベース30に接して設けられたヒートシンク10とリード32および36からなる。図2(a)を参照に、ヒートシンク10は両側に2つの防護壁12を有し、防護壁12に挟まれたサブキャリア20を実装するための実装面14を有している。言い換えれば、ヒートシンク10は溝を有し、溝の両側が防護壁12であり、溝の底面が実装面14である。防護壁12は、特許文献1の図3の構造と同様に、半導体発光素子またはワイヤを保護し半導体発光素子またはワイヤが損傷を抑制する機能を有する。
Example 1 is an example of a stem for a light emitting element. FIG. 2A is a front view of the stem for a light emitting element according to Example 1, and FIG. 2B is a side view. In the first to third embodiments, the
また、ヒートシンク10はワイヤを接続すべきステップ面16を有している。ステップ面16は実装面14より高く、防護壁12の頂部(上面)よりは低い。つまり、実装面14と防護壁12の頂部との間に設けられている。ステップ面16と実装面14とが階段状に形成されているため、実装面14の防護壁12方向の幅W1はステップ面16より上の防護壁12の間隔W2より狭く形成されている。さらに、実装面14はベース30の中心Cより下に設けることができる。
The
図2(b)を参照に、リード32は絶縁部33を介しベース30とは電気的に分離されており、ベース30の裏面側から表面側(図2(b)の右側から左側)に貫通している。リード36はベース30に接続されており、ステップ面16とベース30を介し電気的に接続されている。
Referring to FIG. 2B, the
ベース30とヒートシンク10の加工は、例えば銅からなる導電性の板より搾り出し加工しベース30とヒートシンク10とを一体に加工することができる。ベース30とヒートシンク10とは、切削加工またはMIM(粉黛成形法)を用い形成することもできる。また、ベース30とヒートシンク10とは銅以外にも鉄等の導電性材料、導電性膜を被覆した非導電性材料を用いることができる。製造コストを削減するためには安価な材料が好ましい、放熱性を重視する場合は放熱性に優れた材料が好ましい。また、ステップ面16が1つ設けられているが、ヒートシンク10の放熱性を高めるため2以上設けてもよい。さらに、ステップ面16はヒートシンク10の面でなくとも別の部材に形成された面であっても良い。さらに、ヒートシンク10とベース30とを別々に形成し、固着させても良い。さらに、ベース30は円筒状、ヒートシンク10は溝を有する円筒状の形状であるが、この形状に限られるものではない。
The
ヒートシンク10は直径(図2(a)のヒートシンク10の横方向の幅)が例えば約3.0mm、長さ(図2(a)の奥行き方向)が例えば2.8mmである。実装面14は幅(図2(a)の横方向の幅)が例えば0.2〜1.5mm、長さ(図2(a)の奥行き方法)が例えば約0.35mmである。ステップ面16の長さ(図2(a)の奥行き方向)は例えば0.05〜0.5mmである。これらの寸法は、それぞれの部材、面がその機能を発揮する範囲で適宜変更することができる。
The
実施例2はジャンクションダウンタイプで実装された半導体発光装置の例である。図3(a)から図3(c)を用い実施例2に係る半導体発光装置の製造方法について説明する。図3(a)を参照に、実施例1に係る発光素子用ステム34を用い、絶縁性のサブキャリア20上の金属膜21に半導体発光素子22を例えばAuSnを用い実装する。半導体発光素子22は半導体層側が金属膜21に実装されている。サブキャリア20を実装面14に例えばAuSnを用い実装する。このとき、ベース30の中心Cが半導体発光素子22の光出力領域となるように実装することが好ましい。サブキャリア20は、例えば、シリコン、窒化アルミニウム、シリコンカーバイド、ダイヤモンド等の半導体または絶縁体からなり、熱伝導率の高い材料が好ましい。サブキャリア20は、幅(図3(a)の横方向の幅)が例えば0.15〜1.451mmであり、長さ(図3(a)の奥行き方向)が例えば0.3〜3.3mmである。半導体発光素子22は、幅(図3(a)の横方向の幅)が例えば0.2mmであり、長さ(図3(a)の奥行き方向)が例えば2.2mmである。これらの寸法は、それぞれの部材がその機能を発揮する範囲で適宜変更することができる。また、サブキャリア20を実装面14に実装し、その後半導体発光素子22をサブキャリア20に実装しても良い。
Example 2 is an example of a semiconductor light emitting device mounted in a junction down type. A method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. Referring to FIG. 3A, the light emitting element stem 34 according to the first embodiment is used, and the semiconductor
図3(b)を参照に、半導体発光素子22の上面(つまり半導体基板側の基準電位となる面)とステップ面16とを電気的に接続するワイヤ24を形成する。図3(c)を参照に、ベース30には、ベース30と絶縁部33で電気的に分離されたリード32がステップ面16より高い位置に設けられている。半導体発光素子22が固着されたサブキャリア20の金属膜21とリード32とを電気的に接続するワイヤ26を形成する。これにより、ワイヤ26は半導体発光素子22の下面(つまり半導体層側の面)とリード32とを電気的に接続される。ワイヤ26ワイヤ24、26の径は例えば0.025mm、材料は金、アルミニウム等の金属を用いることができる。以上により、半導体発光装置が完成する。
Referring to FIG. 3B, a
実施例2に係る半導体発光装置は、ワイヤ24が接続されるステップ面16が実装面14と防護壁12の頂部との間に設けられている実施例1に係る半導体発光素子用ステム34を用いる。これにより、ボンディングツールの移動距離を短くすることができる。よって、製造コストを削減することができる。また、ワイヤ24と金属膜21との接触を防止することができる。ボンディングツールの移動距離を、より短くするためには、ステップ面16はワイヤ24が接続される半導体発光素子22の上面と同程度高さであることが好ましい。
The semiconductor light emitting device according to the second embodiment uses the semiconductor light emitting element stem 34 according to the first embodiment in which the
半導体発光装置は発光領域がベース30の中心にあることを要求される場合がある。この場合、実装面14がベース30の中心より下に設けることにより、半導体発光素子22の発光領域をベース30の中心とすることができる。
The semiconductor light emitting device may be required to have the light emitting region at the center of the
また、実施例1に係る半導体発光素子用ステム34は、図2(a)のように、実装面14の防護壁12間方向の幅W1はステップ面16より上の防護壁12の間隔W2より狭い。このようにして、ステップ面16が実装面14と防護壁12の頂部との間に設けることができる。
Further, in the semiconductor light emitting element stem 34 according to Example 1, the width W1 of the mounting
さらに、ステップ面16とベース30とは電気的に接続している。これにより、半導体発光素子22の基準電位となるべき半導体基板側がステップ面16に接続された場合、半導体基板側をベース30の電位とすることができる。すなわち接地することができる。
Further, the
さらに、半導体発光装置を製造する際に、図3(b)のように、半導体発光素子22の上面とステップ面16とを電気的に接続するワイヤ24を形成した後に、図3(c)のように、ステップ面16より高い位置に設けられたリード32と半導体発光素子22の下面とを電気的に接続するワイヤ26を形成することが好ましい。半導体発光素子22の下面(基準電位でない電位とする面)は、ステップ面16より高い位置にあるリードと接続されることが多い。そのため、半導体発光素子22とリード32とを電気的に接続するワイヤ26は半導体発光素子22とステップ面16とを接続するワイヤ24に比べワイヤループが大きい、複数のワイヤを形成する場合はワイヤループの小さいものからワイヤボンディングすることが、ワイヤの接触を防止することから好ましい。よって、図3(b)および図3(c)に示した順番でワイヤ24、26を形成することが好ましい。
Further, when the semiconductor light emitting device is manufactured, as shown in FIG. 3B, after forming the
なお、本実施例のリード32は、ステップ面16より高い位置に設けられているが、これに限ったものではない。例えば、ベース30の中心と同程度の高さに設けることも可能である。この場合、リード32および絶縁部33の配置の支障ととならないように、リード32および絶縁部33の下のヒートシンク10に溝を設けることもできる。
In addition, although the
実施例3はジュンクションアップタイプで実装した半導体発光装置の例である。図3(a)と反対に、半導体発光素子22の半導体基板側をサブキャリア20上の金属膜21上に実装する。図4(a)を参照に、実施例1の発光素子用ステム34を用い半導体発光素子22が固着されたサブキャリア20の金属膜21とステップ面16とを電気的に接続するワイヤ25を形成する。これにより、ワイヤ25は半導体発光素子22の下面(つまり、半導体基板側の基準電位となる面)とステップ面16とが電気的に接続される。図4(b)を参照に、半導体発光素子22の上面(つまり、半導体発光素子の半導体層側の面)とリード32とを電気的に接続するワイヤ27を形成する。以上により、実施例3に係る半導体発光装置が完成する。
Example 3 is an example of a semiconductor light emitting device mounted in a junction-up type. Contrary to FIG. 3A, the semiconductor substrate side of the semiconductor
実施例2においては、半導体発光素子22の上面とステップ面16とをワイヤボンディングし、サブキャリア20の上面とリード32とをワイヤボンディングすることができる。これにより、半導体発光素子22の上面はステップ面16を介しベース30と電気的に接続されたリード36と電気的に接続する。また、半導体発光素子22の下面はサブキャリア20の上面の金属膜21を介しベース30と電気的に分離されたリード32と電気的に接続する。
In the second embodiment, the upper surface of the semiconductor
一方、実施例3においては、サブキャリア20の上面とステップ面16とをワイヤボンディングし、半導体発光素子22の上面とリード32とをワイヤボンディングすることができる。これにより、半導体発光素子22の上面はベース30と電気的に分離されたリード32と電気的に接続する。また、半導体発光素子22の下面はステップ面16を介しベース30と電気的に接続されたリード36と電気的に接続する。以上のように、ジャンクションダウンタイプの実装であっても、ジャンクションダウンタイプで実装であっても、本発明を適用することができる。
On the other hand, in Example 3, the upper surface of the
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to such specific embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. It can be changed.
10 ヒートシンク
12 防護壁
14 実装面
16 ステップ面
20 サブキャリア
21 金属膜
22 半導体発光素子
24、25、26、27 ワイヤ
30 ベース
32 リード
33 絶縁部
34 ステム
DESCRIPTION OF
Claims (12)
前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたワイヤを接続するためのステップ面と、を具備することを特徴とする発光素子用ステム。 A conductive heat sink having a mounting surface for mounting a subcarrier provided in contact with the base and sandwiched between protective walls;
A stem for a light emitting device, comprising: a step surface for connecting a wire provided between the mounting surface and the top of the protective wall.
前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたステップ面と、
前記実装面に実装されたサブキャリアと、
前記サブキャリアに実装された半導体発光素子と、
前記半導体発光素子と前記ステップ面とを電気的に接続するワイヤと、を具備することを特徴とする半導体発光装置。 A conductive heat sink having a mounting surface for mounting a subcarrier provided in contact with the base and sandwiched between protective walls;
A step surface provided between the mounting surface and the top of the protective wall;
A subcarrier mounted on the mounting surface;
A semiconductor light emitting device mounted on the subcarrier;
A semiconductor light emitting device comprising: a wire for electrically connecting the semiconductor light emitting element and the step surface.
前記サブキャリアを実装する工程の前または後の工程において、前記サブキャリア上に半導体発光素子を実装する工程と、
前記半導体発光素子と、前記実装面と前記防護壁の頂部との間に設けられたステップ面とを電気的に接続するワイヤを形成する工程と、を具備することを特徴とする半導体発光装置の製造方法。 Mounting the subcarrier on the mounting surface sandwiched between the protective walls of the conductive heat sink;
A step of mounting a semiconductor light emitting element on the subcarrier in a step before or after the step of mounting the subcarrier;
A step of forming a wire for electrically connecting the semiconductor light emitting element and a step surface provided between the mounting surface and a top portion of the protective wall. Production method.
10. The semiconductor according to claim 9, further comprising a step of forming a wire for electrically connecting a lead provided at a position higher than the step surface and the semiconductor light emitting element after the step of forming the wire. Manufacturing method of light-emitting device.
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JP2018195728A (en) * | 2017-05-18 | 2018-12-06 | 新光電気工業株式会社 | Stem for light-emitting element, and optical semiconductor device |
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2006
- 2006-04-27 JP JP2006124469A patent/JP2007299811A/en active Pending
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