JP2007295310A - Baw共振器 - Google Patents

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四輩 熊
Yoshiki Hayazaki
嘉城 早崎
Norihiro Yamauchi
規裕 山内
Takeo Shirai
健雄 白井
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Abstract

【課題】機械的品質係数および電気機械結合係数を高めることができるBAW共振器を提供する。
【解決手段】ベース基板10と、ベース基板10の一表面上に形成された下部電極20と、下部電極20上に形成された圧電膜からなる圧電変換部30と、圧電変換部30における下部電極20側とは反対側に形成された上部電極40とを備える。ベース基板10は、シリコン基板11と音響多層膜12とで構成してある。圧電変換部30は、下部電極20の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部30aを有する。ここで、圧電変換部30の圧電変換要素部30aは、長手方向が下部電極20の厚み方向に一致する円柱状に形成されており、下部電極20上で2次元アレイ状に配置されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、圧電膜の厚み方向の縦振動モードを利用するBAW(Bulk Acoustic Wave)共振器に関するものである。
従来から、携帯電話機などの移動体通信機器の分野において、1GHz以上の高周波帯で利用する高周波フィルタとして、小型で励振効率の高いBAW共振器が利用されている(例えば、特許文献1参照)。
BAW共振器は、図5や図6に示すように、ベース基板10と、ベース基板10の一表面側に形成された金属層からなる下部電極20と、下部電極20上に形成された圧電膜からなる圧電変換部30’と、圧電変換部30’上に形成された金属層からなる上部電極40とを備えている。ここにおいて、図5に示したBAW共振器は、圧電変換部30’にて発生したバルク弾性波がベース基板10側へ伝搬されるのを抑制するために、ベース基板10に空洞13が形成されており、FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)と呼ばれ、図6に示したBAW共振器は、ベース基板10の上記一表面側に、圧電変換部30’で発生したバルク弾性波を反射させる音響多層膜12が形成されており、SMR(Solidly Mounted Resonator)と呼ばれている。ここで、音響多層膜12は、低音響インピーダンス層12aと高音響インピーダンス層12bとが交互に積層されている。なお、BAW共振器では、共振周波数が圧電変換部30’を構成する圧電膜の膜厚に反比例し、圧電膜の膜厚を薄くするほど共振周波数を高くすることができる。
ところで、BAW共振器の性能は、機械的品質係数(mechanical quality factor)や電気機械結合係数(electromechanical coupling coefficient)などによって評価される。
特開2002−140075号公報
しかしながら、従来のBAW共振器では、下部電極20、圧電変換部30’、上部電極40それぞれが平板状に形成されており、圧電変換部30’が下部電極20および上部電極40の厚み方向に直交する面内で連続した連続膜となり、当該連続膜が下部電極20および上部電極40に拘束されているので、特に下部電極20と圧電変換部30’との界面に沿って作用する横方向の拘束力により圧電変換部30’の厚み方向への機械振動が制限されて機械振動の損失が生じ、機械的品質係数および電気機械結合係数が低くなってしまうという問題があった。
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、機械的品質係数および電気機械結合係数を高めることができるBAW共振器を提供することにある。
請求項1の発明は、ベース基板と、ベース基板の一表面側に形成された下部電極と、下部電極におけるベース基板側とは反対側に形成された圧電膜からなる圧電変換部と、圧電変換部における下部電極側とは反対側に形成された上部電極とを備えたBAW共振器であって、圧電変換部は、下部電極の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部を有することを特徴とする。
この発明によれば、圧電変換部が、下部電極の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部を有しているので、従来のように圧電変換部全体が連続膜により構成されている場合に比べて、下部電極と圧電変換部との界面に沿って作用する横方向の拘束力を低減できて、圧電変換部が厚み方向へ振動しやすくなり、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。
請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記ベース基板は、前記圧電変換部で発生したバルク弾性波を反射させる音響多層膜が前記一表面側に形成されてなり、前記下部電極は、音響多層膜上に形成されてなることを特徴とする。
この発明によれば、前記ベース基板に音響多層膜が形成されていない場合に比べて、電気機械結合係数を高めることができる。
請求項3の発明は、請求項1の発明において、前記ベース基板は、前記下部電極における前記圧電変換部側とは反対側に空洞が形成されてなることを特徴とする。
この発明によれば、前記ベース基板に空洞が形成されていない場合に比べて電気機械結合係数を高めることができる。
請求項4の発明は、請求項1ないし請求項3の発明において、前記圧電変換要素部は、前記下部電極の厚み方向に長手方向が一致する柱状に形成されてなることを特徴とする。
この発明によれば、前記圧電変換部が厚み方向へ振動しやすくなり、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。
請求項5の発明は、請求項4の発明において、前記圧電変換要素部は、アスペクト比が2を下回らないことを特徴とする。
この発明によれば、前記圧電変換要素部が柱の長手方向に振動する縦振動モードで振動することとなり、アスペクト比が2よりも小さくて薄膜の厚み方向に振動する縦振動モードで振動する場合に比べて、前記下部電極と前記圧電変換部との界面に沿って作用する横方向の拘束力を低減できて、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。
請求項6の発明は、請求項4または請求項5の発明において、前記圧電変換部は、前記下部電極の厚み方向に直交する面内における単位格子が四角形もしくは三角形の2次元格子の各格子点それぞれに前記圧電変換要素部が配置されてなることを特徴とする。
この発明によれば、隣り合う前記圧電変換要素部どうしが干渉するのを防止することができる。
請求項7の発明は、請求項4ないし請求項6の発明において、前記圧電変換部は、隣り合う前記圧電変換要素部間の距離が5nm〜500nmの範囲内で設定されてなることを特徴とする。
この発明によれば、隣り合う前記圧電変換要素部どうしが干渉するのを防止することができ、且つ、前記上部電極と前記下部電極とが短絡するのを防止することができる。
請求項8の発明は、請求項1ないし請求項7の発明において、前記圧電変換部は、前記下部電極の厚み方向に直交する面内で前記圧電変換要素部の群を囲む枠部を有することを特徴とする。
この発明によれば、機械的強度を高めることができ、また、製造時のハンドリングが容易になるとともに製造歩留まりが高くなる。
請求項9の発明は、請求項1ないし請求項8の発明において、前記圧電変換部と前記上部電極との間に絶縁薄膜を介在させてなることを特徴とする。
この発明によれば、前記上部電極と前記下部電極とが短絡するのを防止でき、製造歩留まりの向上を図れるとともに信頼性を高めることができる。
請求項1の発明では、機械的品質係数および電気機械結合係数を高めることができるという効果がある。
(実施形態1)
本実施形態のBAW共振器は、図1に示すように、ベース基板10と、ベース基板10の一表面側に形成された下部電極20と、下部電極20におけるベース基板10側とは反対側に形成された圧電膜からなる圧電変換部30と、圧電変換部30における下部電極20側とは反対側に形成された上部電極40とを備えている。
ここにおいて、本実施形態のBAW共振器は、ベース基板10を、主表面が(100)面の単結晶のシリコン基板11と、シリコン基板11の主表面上に形成され圧電変換部30で発生したバルク弾性波を反射させる音響多層膜12とで構成してある。要するに、本実施形態のBAW共振器は、ベース基板10の一表面側の音響多層膜12上に下部電極20が形成されたSMRを構成している。
音響多層膜12は、相対的に音響インピーダンスの低い材料からなる低音響インピーダンス層12aと相対的に音響インピーダンスの高い材料からなる高音響インピーダンス層12bとが交互に積層されており、上述の下部電極20は、最上層の低音響インピーダンス層12a上に形成されている。ここにおいて、低音響インピーダンス層12aの材料としては、例えばSiOを採用すればよく、高音響インピーダンス層12bの材料としては、例えば、ZnO,W,Ta,Irなどを採用すればよい。なお、低音響インピーダンス層12aおよび高音響インピーダンス層12bの膜厚は、圧電変換部30の共振周波数の弾性波(バルク弾性波)の波長の4分の1の値に設定すればよい。
また、下部電極20の材料としては、例えばPt、Irなどの導電性材料を採用し、圧電変換部30の材料としては、例えば、PZT,ZnO,AlN,LiNbOなどを採用し、上部電極40の材料としては、例えば、Alを採用すればよいが、これらの材料は特に限定するものではない。
ところで、圧電変換部30は、下部電極20の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部30aを有している。ここにおいて、各圧電変換要素部30aは、下部電極20の厚み方向に長手方向が一致する柱状(本実施形態では、円柱状)に形成されている。また、圧電変換部30は、下部電極20の厚み方向に直交する面内における単位格子が四角形(ここでは、正方形)の仮想の2次元格子の各格子点それぞれに圧電変換要素部30aが配置されている。要するに、圧電変換部30は、圧電変換要素部30aが下部電極20上で2次元アレイ状に配置されている。なお、本実施形態では、圧電変換部30の各圧電変換要素部30aが円柱状に形成されており、圧電変換要素部30aの長手方向に直交する断面が円形状となっているが、圧電変換要素部30aは柱状の形状であればよく、例えば、長手方向に直交する断面が矩形状や五角形状や六角形状となるような柱状の形状でもよい。また、圧電変換部30は、各圧電変換要素部30aの形状を下部電極20の厚み方向に幅方向が一致する帯板状の形状として、複数の圧電変換要素部30aが1次元アレイ状に配置されていてもよい。
以下、本実施形態のBAW共振器の製造方法について簡単に説明する。
まず、ベース基板10の基礎となる単結晶のシリコン基板11の主表面側に、低音響インピーダンス層12aと高音響インピーダンス層12bとを例えばスパッタ法やCVD法などにより交互に成膜することで音響多層膜12を形成する。その後、シリコン基板11と音響多層膜12とからなるベース基板10の上記一表面側に下部電極20を例えばスパッタ法や蒸着法などにより成膜し、次に、ベース基板10の上記一表面側の全面(ここでは、下部電極20の表面)に、圧電変換部30の基礎となる圧電膜を例えばスパッタ法やゾルゲル法やMOCVD法などによって成膜する。その後、リソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して上記圧電膜をパターニングすることによって上記圧電膜の一部からなる複数の圧電変換要素部30aを形成することで圧電変換部30を形成する。続いて、ベース基板10の上記一表面側に上部電極40をスパッタ法や蒸着法などによって成膜する。なお、上記圧電膜をパターニングするリソグラフィ工程では、例えば、フォトリソグラフィ技術を利用すればよく、エッチング工程では、例えば、ウェットエッチング技術やドライエッチング技術を利用すればよく、ドライエッチング技術を採用する場合には、例えば、誘導結合プラズマ型のドライエッチング装置などを用いればよい。また、BAW共振器の製造にあたっては、ウェハレベルで多数のBAW共振器を形成した後、ダイシング工程で個々のBAW共振器に分割すればよい。
以上説明した本実施形態のBAW共振器では、圧電変換部30が、下部電極20の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部30aを有しているので、従来のように圧電変換部30’(図5、図6参照)全体が連続膜により構成されている場合に比べて、下部電極20と圧電変換部30との界面に沿って作用する横方向の拘束力を低減できて、圧電変換部30が厚み方向へ振動しやすくなり、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。
また、本実施形態のBAW共振器では、圧電変換要素部30aが、下部電極20の厚み方向に長手方向が一致する円柱状に形成されているので、圧電変換部30が厚み方向へ振動しやすくなり、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。ここにおいて、圧電変換部30は、圧電変換要素部30aのアスペクト比(ここでは、アスペクト比=〔圧電変換要素部30aの長手方向の長さ〕/〔圧電変換要素部30aの長手方向に直交する断面の直径〕)を2に設定してあるが、アスペクト比は2以上に設定することが好ましい。このように圧電変換要素部30aのアスペクト比を2以上とすることで、圧電変換要素部30aが柱の長手方向に振動する縦振動モードで振動することとなり、アスペクト比が2よりも小さくて薄膜の厚み方向に振動する縦振動モードで振動する場合に比べて、下部電極20と圧電変換部30との界面に沿って作用する横方向の拘束力を低減できて、機械的品質係数および電気機械結合係数が高くなる。
また、本実施形態では、圧電変換部30は、上述のように下部電極20の厚み方向に直交する面内における単位格子が四角形の2次元格子の各格子点それぞれに圧電変換要素部30aが配置されている(つまり、圧電変換要素部30aが周期的に規則正しく配置されている)ので、隣り合う圧電変換要素部30aどうしが干渉するのを防止することができ、スプリアス応答によるノイズを低減できる。ここにおいて、圧電変換部30は、隣り合う圧電変換要素部30a間の距離を5nm〜500nmの範囲内で設定することが望ましく、5nm以上に設定することにより、隣り合う圧電変換要素部30aどうしが干渉するのを防止できるとともに製造が容易になり、500nm以下に設定することにより、上部電極40の成膜時に上部電極40の一部が隣り合う圧電変換要素部30a間の隙間を通して下部電極20と接する形で成膜されるのを防止することができ、上部電極40と下部電極20との短絡を防止することができるから、製造歩留まりが向上させるとともに信頼性を高めることが可能となる。
また、本実施形態のBAW共振器では、下部電極20が音響多層膜12上に形成されているので、圧電変換部30側からベース基板10側へ伝搬しようとする弾性波を音響多層膜12により圧電変換部30側へ反射することができ、弾性波のエネルギ損失(音響エネルギの損失)を低減できるから、音響多層膜12を備えていない場合に比べて電気機械結合係数を高めることができる。
ところで、本実施形態では、図1(b)に示したように、圧電変換部30の各圧電変換要素部30aが、下部電極20の厚み方向に直交する面内における単位格子が四角形の仮想の2次元格子の各格子点に配置されているが、図2に示すように、単位格子が三角形の仮想の2次元格子の各格子点に配置されていてもよい。
(実施形態2)
本実施形態のBAW共振器の基本構成は実施形態1と略同じであり、図3に示すように、 圧電変換部30が、上記圧電膜の一部であって下部電極20の厚み方向に直交する面内で圧電変換要素部30aの群を囲む連続膜からなる枠部30bを有している点が相違する。ここにおいて、圧電変換部30は、上部電極40が重なる領域が共振用領域となっており、当該共振用領域を囲む形で枠部30bが形成されている。なお、実施形態1と同様の構成要素には同一の符合を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態のBAW共振器では、圧電変換部30が、下部電極20の厚み方向に直交する面内で圧電変換要素部30aの群を囲む枠部30bを有しているので、機械的強度を高めることができ、また、製造時のハンドリングが容易になるとともに製造歩留まりが高くなる。
(実施形態3)
本実施形態のBAW共振器の基本構成は実施形態2と略同じであり、図4に示すように、圧電変換部30と上部電極40との間に絶縁薄膜(例えば、SiO膜、SOG膜など)50を介在させてある点が相違する。ここにおいて、本実施形態のBAW共振器の製造にあたっては、実施形態1にて説明したBAW共振器の製造方法において、圧電変換部30を形成した後であって上部電極40を形成する前に、スパッタ法やCVD法や途布法などにより絶縁薄膜50を形成する工程を設ければよい。なお、実施形態1と同様の構成要素には同一の符合を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態のBAW共振器では、圧電変換部30と上部電極40との間に絶縁薄膜50を介在させてあるので、上部電極40と下部電極20とが短絡するのを防止でき、製造歩留まりの向上を図れるとともに信頼性を高めることができる。
ところで、上記各実施形態では、ベース基板10が音響多層膜12を備えたBAW共振器であるSMRについて例示したが、ベース基板10に音響多層膜12を設ける代わりに、ベース基板10に圧電変換部30からベース基板10へのバルク弾性波の伝搬を抑制するための空洞が形成されたFBARを構成してもよい。
実施形態1を示し、(a)は概略断面図、(b)は概略平面図である。 同上の他の構成例を示す概略平面図である。 実施形態2を示し、(a)は概略断面図、(b)は概略平面図である。 実施形態3を示す概略断面図である。 従来例を示す概略断面図である。 他の従来例を示す概略断面図である。
符号の説明
10 ベース基板
11 シリコン基板
12 音響多層膜
20 下部電極
30 圧電変換部
30a 圧電変換要素部
30b 枠部
40 上部電極
50 絶縁薄膜

Claims (9)

  1. ベース基板と、ベース基板の一表面側に形成された下部電極と、下部電極におけるベース基板側とは反対側に形成された圧電膜からなる圧電変換部と、圧電変換部における下部電極側とは反対側に形成された上部電極とを備えたBAW共振器であって、圧電変換部は、下部電極の厚み方向に直交する面内で分離された複数の圧電変換要素部を有することを特徴とするBAW共振器。
  2. 前記ベース基板は、前記圧電変換部で発生したバルク弾性波を反射させる音響多層膜が前記一表面側に形成されてなり、前記下部電極は、音響多層膜上に形成されてなることを特徴とする請求項1記載のBAW共振器。
  3. 前記ベース基板は、前記下部電極における前記圧電変換部側とは反対側に空洞が形成されてなることを特徴とする請求項1記載のBAW共振器。
  4. 前記圧電変換要素部は、前記下部電極の厚み方向に長手方向が一致する柱状に形成されてなることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載にBAW共振器。
  5. 前記圧電変換要素部は、アスペクト比が2を下回らないことを特徴とする請求項4記載のBAW共振器。
  6. 前記圧電変換部は、前記下部電極の厚み方向に直交する面内における単位格子が四角形もしくは三角形の2次元格子の各格子点それぞれに前記圧電変換要素部が配置されてなることを特徴とする請求項4または請求項5記載のBAW共振器。
  7. 前記圧電変換部は、隣り合う前記圧電変換要素部間の距離が5nm〜500nmの範囲内で設定されてなることを特徴とする請求項4ないし請求項6のいずれか1項に記載にBAW共振器。
  8. 前記圧電変換部は、前記下部電極の厚み方向に直交する面内で前記圧電変換要素部の群を囲む枠部を有することを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載のBAW共振器。
  9. 前記圧電変換部と前記上部電極との間に絶縁薄膜を介在させてなることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載のBAW共振器。
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