JP2007293160A - Photosensitive cage-like silsesquioxane compound - Google Patents

Photosensitive cage-like silsesquioxane compound Download PDF

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Kenju Shimizu
建樹 清水
Yoichiro Ide
陽一郎 井出
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive cage-like silsesquioxane compound which exhibits photosensitivity with satisfactory contrast without using an acid of a photoacid generator or the like, and with which a film having high heat resistance is easily obtained by baking after film formation. <P>SOLUTION: The cage-like silsesquioxane compound has a quinonediazide structure, whereby the cage-like silsesquioxane compound exhibits photosensitivity with satisfactory contrast without using an acid of a photoacid generator or the like, and a film having high heat resistance is easily obtained by baking after film formation. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、感光性かご状シルセスキオキサン化合物に関する。   The present invention relates to a photosensitive cage silsesquioxane compound.

従来から、シルセスキオキサン構造を有する化合物は、無機材料の特徴である高耐熱性及び低誘電率を有することから、樹脂へ分散させることにより、難燃性材料や絶縁材料などの用途に使用されている。特に、該シルセスキオキサン構造に有機基を導入した化合物は、無機材料の特徴に加えて、有機材料の特徴である成形性、有機溶媒可溶性などを有していることから、各種皮膜材料や電気絶縁材料として有用である。   Conventionally, compounds with a silsesquioxane structure have high heat resistance and low dielectric constant, which are characteristic of inorganic materials, so they can be used in applications such as flame retardant materials and insulating materials by dispersing them in resins. Has been. In particular, a compound in which an organic group is introduced into the silsesquioxane structure has various film materials such as moldability and organic solvent solubility, which are characteristics of organic materials, in addition to characteristics of inorganic materials. Useful as an electrical insulating material.

特許文献1には、オクタキス(シルセスキオキサン)とジイン化合物を重合した化合物が高い耐熱性を示すことが記載されている。この重合体を硬化して得られる硬化物は、高い耐熱性を有しているものの、感光性がないため、パターニングするためにフォトレジストが必要である、という問題があった。   Patent Document 1 describes that a compound obtained by polymerizing octakis (silsesquioxane) and a diyne compound exhibits high heat resistance. Although a cured product obtained by curing this polymer has high heat resistance, there is a problem that a photoresist is necessary for patterning because it has no photosensitivity.

また、特許文献2,3には、光酸発生剤によりアルカリ現像液への溶解度が増大するかご状シルセスキオキサン重合体を含有する組成物が記載されている。しかしながら、これらの化合物は、感光性を発現させるために光酸発生剤を使用するため、アミンかぶりや酸の管理が困難であるという工程上の問題や、ポストエクスポージャベークが必要であるという問題があった。   Patent Documents 2 and 3 describe compositions containing a cage silsesquioxane polymer whose solubility in an alkaline developer is increased by a photoacid generator. However, since these compounds use a photoacid generator to develop photosensitivity, it is difficult to manage amine fog and acid, and there is a problem that post-exposure baking is necessary. was there.

また、特許文献4には、光二量化性官能基が結合されたかご状シルセスキオキサン化合物に光照射して得られる重合体について記載されている。該重合体は、感光性発現のために光酸発生剤は使用していないが、該重合体及びその前駆体であるモノマーには、溶剤に対する溶解度にそれほど差がないため、感光性コントラストが不足しているという問題点があった。
特許第2884073号公報 特開2005−42085号公報 特開2004−264767号公報 特開2003−268107号公報
Patent Document 4 describes a polymer obtained by irradiating a cage silsesquioxane compound to which a photodimerizable functional group is bonded. This polymer does not use a photoacid generator for the development of photosensitivity, but the polymer and its precursor monomer do not have so much difference in solubility in solvents, so the photosensitivity contrast is insufficient. There was a problem of doing.
Japanese Patent No. 2884073 JP-A-2005-42085 JP 2004-264767 A JP 2003-268107 A

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、光酸発生剤などの酸を使用することなく、十分なコントラストで感光性を発現し、かつ成膜後に焼成することにより容易に耐熱性が高い膜が得られる感光性かご状シルセスキオキサン化合物を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such a point, and without using an acid such as a photoacid generator, it exhibits photosensitivity with sufficient contrast, and is easily heat resistant by baking after film formation. It is an object of the present invention to provide a photosensitive cage silsesquioxane compound capable of obtaining a high film.

本発明のかご状シルセスキオキサン化合物は、キノンジアジド構造を有することを特徴とする。   The cage silsesquioxane compound of the present invention has a quinonediazide structure.

本発明のかご状シルセスキオキサン化合物においては、前記キノンジアジド構造が、1,2−ベンゾキノンジアジド構造又は1,2−ナフトキノンジアジド構造であることが好ましい。   In the cage silsesquioxane compound of the present invention, the quinonediazide structure is preferably a 1,2-benzoquinonediazide structure or a 1,2-naphthoquinonediazide structure.

本発明の感光性樹脂組成物は、上記かご状シルセスキオキサン化合物を含有することを特徴とする。   The photosensitive resin composition of the present invention is characterized by containing the above cage silsesquioxane compound.

本発明の硬化物は、上記感光性樹脂組成物を硬化してなることを特徴とする。   The cured product of the present invention is obtained by curing the photosensitive resin composition.

本発明の厚膜誘電体は、上記硬化物により構成されたことを特徴とする。   The thick film dielectric of the present invention is constituted by the above cured product.

本発明のかご状シルセスキオキサン化合物は、キノンジアジド構造を有するので、光酸発生剤などの酸を使用することなく、十分なコントラストで感光性を発現し、かつ成膜後に焼成することにより容易に耐熱性が高い膜を得ることができる。   Since the cage silsesquioxane compound of the present invention has a quinonediazide structure, it exhibits photosensitivity with sufficient contrast without using an acid such as a photoacid generator, and can be easily baked after film formation. In addition, a film having high heat resistance can be obtained.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
本発明におけるかご状シルセスキオキサン化合物とは、かご状シルセスキオキサン構造とキノンジアジド構造とを有する化合物である。該化合物は、1個のかご状シルセスキオキサン構造が他のかご状シルセスキオキサン構造と結合する個数及び様式によって、下記のように分類される。
(a):結合個数が0個のもの
(b):結合個数が1個のもの
(c):結合個数が2個以上であり、他のかご状シルセスキオキサンへの結合手の数がかご状シルセスキオキサン構造1個あたり平均1個以下のもの
(d):結合個数が2個以上であり、他のかご状シルセスキオキサンへの結合手の数がかご状シルセスキオキサン構造1個あたり平均1個を超えるもの
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
The cage silsesquioxane compound in the present invention is a compound having a cage silsesquioxane structure and a quinonediazide structure. The compounds are classified as follows according to the number and manner in which one cage silsesquioxane structure is bonded to another cage silsesquioxane structure.
(A): The number of bonds is 0 (b): The number of bonds is 1 (c): The number of bonds is 2 or more, and the number of bonds to other cage silsesquioxanes is One or less cage silsesquioxane structures on average (d): The number of bonds is 2 or more, and the number of bonds to other cage silsesquioxanes is cage silsesquioxane More than one on average per structure

結合個数が0個のものとしては、かご状シルセスキオキサン化合物単量体が挙げられる。また、結合個数が1個のものとしては、かご状シルセスキオキサン二量体が挙げられる。さらに、結合個数が2個以上であり、他のかご状シルセスキオキサンへの結合手の数がかご状シルセスキオキサン構造1個あたり平均1個以下のものとしては、該かご状シルセスキオキサン構造にビニル基などが結合したモノマーを繰り返し単位とする重合体又は該モノマーと他のモノマーとの共重合体などが挙げられる。結合個数が2個以上であり、他のかご状シルセスキオキサンへの結合手の数がかご状シルセスキオキサン構造1個あたり平均1個を超えるものとしては、三次元ネットワーク型やデンドリマー型、スターポリマー型などが挙げられる。   Examples of those having 0 bonds include cage silsesquioxane compound monomers. Moreover, a cage-like silsesquioxane dimer is mentioned as a thing with one bond number. Furthermore, when the number of bonds is 2 or more and the average number of bonds to other cage silsesquioxanes is 1 or less per cage silsesquioxane structure, the cage silsesquioxane Examples thereof include a polymer having a monomer in which a vinyl group or the like is bonded to an oxane structure as a repeating unit, or a copolymer of the monomer and another monomer. 3D network type or dendrimer type as the number of bonds is 2 or more and the average number of bonds to other cage silsesquioxanes exceeds 1 per cage silsesquioxane structure. And a star polymer type.

本発明におけるかご状シルセスキオキサン構造には、下記一般式(1)で表されるかご状シルセスキオキサン及び下記一般式(2)で表されるかご状シルセスキオキサンの部分開裂構造体などが挙げられる。
(RSiO3/2 (1)
(RSiO3/2(RXSiO3/2 (2)
ここで、nは6以上14以下の整数であり、lは2以上12以下の整数であり、kは2又は3である。例えば、n=6の場合は、下記一般式(3)で表される構造となり、n=8の場合は、下記一般式(4)で表される構造となり、n=10の場合は、下記一般式(5)で表される構造となり、n=12の場合は、下記一般式(6)で表される構造となり、n=14の場合は、下記一般式(7)で表される構造となる。

Figure 2007293160
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The cage silsesquioxane structure in the present invention includes a cage silsesquioxane represented by the following general formula (1) and a partial cleavage structure of a cage silsesquioxane represented by the following general formula (2). Examples include the body.
(RSiO 3/2 ) n (1)
(RSiO 3/2 ) l (RXSiO 3/2 ) k (2)
Here, n is an integer from 6 to 14, l is an integer from 2 to 12, and k is 2 or 3. For example, when n = 6, the structure is represented by the following general formula (3). When n = 8, the structure is represented by the following general formula (4). When n = 10, The structure is represented by the general formula (5). When n = 12, the structure is represented by the following general formula (6). When n = 14, the structure is represented by the following general formula (7). It becomes.
Figure 2007293160
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また、例えば、l=4かつk=3の場合は、下記一般式(8)で表される構造となり、l=6かつk=2の場合は、下記一般式(9)あるいは(10)で表される構造となり、l=4かつk=4の場合は、下記一般式(11)で表される構造となる。

Figure 2007293160
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Figure 2007293160
Figure 2007293160
For example, when l = 4 and k = 3, the structure is represented by the following general formula (8). When l = 6 and k = 2, the following general formula (9) or (10) is satisfied. When l = 4 and k = 4, the structure is represented by the following general formula (11).
Figure 2007293160
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Figure 2007293160
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一般式(1)及び一般式(2)におけるRは、炭素数1以上30以下の官能基、水素原子、ハロゲン原子又は他のシルセスキオキサン構造への結合手であり、同じであっても、異なっていても良い。   R in the general formula (1) and the general formula (2) is a bond to a functional group having 1 to 30 carbon atoms, a hydrogen atom, a halogen atom, or another silsesquioxane structure. May be different.

該炭素数1以上30以下の官能基(R)は、ハロゲン原子、ヘテロ原子及び金属原子を含んでも良い。ここで、ハロゲン原子としては、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げられる。また、ここでのヘテロ原子としては、酸素、硫黄、窒素、リンが挙げられる。また、金属原子としては、ケイ素及びチタンが挙げられる。   The functional group (R) having 1 to 30 carbon atoms may contain a halogen atom, a hetero atom and a metal atom. Here, examples of the halogen atom include fluorine, chlorine, bromine, and iodine. Moreover, oxygen, sulfur, nitrogen, and phosphorus are mentioned as a hetero atom here. Examples of the metal atom include silicon and titanium.

また、本発明において炭素数1以上30以下の官能基(R)は、Rが結合するケイ素原子に直接結合していても良く、ヘテロ原子を介して結合していても良い。   In the present invention, the functional group (R) having 1 to 30 carbon atoms may be directly bonded to the silicon atom to which R is bonded, or may be bonded via a hetero atom.

一般式(2)におけるXは、OR(Rは炭素数1以上、30以下の官能基及び第四級アンモニウムラジカル)構造、炭素数1以上30以下の官能基又はハロゲンで定義された基の中から選ばれる基であり、複数のXは同じでも異なっていても良い。また、(RXSiO3/2中の複数のXが互いに連結して連結構造を形成しても良い。 X in the general formula (2) is an OR 5 (R 5 is a functional group having 1 to 30 carbon atoms and a quaternary ammonium radical) structure, a functional group having 1 to 30 carbon atoms or a group defined by halogen. And a plurality of Xs may be the same or different. A plurality of Xs in (RXSiO 3/2 ) k may be connected to each other to form a connection structure.

本発明における炭素数1以上30以下の官能基(R)には、脂肪族飽和炭化水素基、脂肪族不飽和炭化水素基、環状構造を含む官能基、オルガノシロキサン基、及びそれらを組み合わせた基などが挙げられる。本発明において、該炭化水素基にハロゲン原子及び/又はヒドロキシル基などのヘテロ原子及び/又はシラノール基等の金属原子を含む官能基を有していても良い。   The functional group (R) having 1 to 30 carbon atoms in the present invention includes an aliphatic saturated hydrocarbon group, an aliphatic unsaturated hydrocarbon group, a functional group containing a cyclic structure, an organosiloxane group, and a group obtained by combining them. Etc. In the present invention, the hydrocarbon group may have a functional group containing a hetero atom such as a halogen atom and / or a hydroxyl group and / or a metal atom such as a silanol group.

上記脂肪族飽和炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基などの第一級炭化水素基、イソブチル基、イソペンチル基などの第二級炭化水素基、t−ブチル基などの第三級炭化水素基などが挙げられる。   Examples of the aliphatic saturated hydrocarbon group include primary hydrocarbon groups such as methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, and hexyl group, secondary hydrocarbon groups such as isobutyl group and isopentyl group, and tertiary hydrocarbon groups such as t-butyl group.

上記脂肪族不飽和炭化水素基としては、ビニル基、アリル基などの二重結合を含む炭化水素基、エチニル基などの三重結合を含む炭化水素基などが挙げられる。   Examples of the aliphatic unsaturated hydrocarbon group include a hydrocarbon group containing a double bond such as a vinyl group and an allyl group, and a hydrocarbon group containing a triple bond such as an ethynyl group.

上記環状構造を含む官能基としては、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロデシル基、シクロオクチル基などの単環式官能基;ノルボルニル基、アダマンチル基などの多環式官能基;ピロール、フラン、チオフェン、イミダゾール、オキサゾール、チアゾール、テトラヒドロフラン、ジオキサン構造を有する複素環式官能基;ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、フェナントレン環構造を含む芳香族炭化水素基などが挙げられる。   Examples of the functional group containing a cyclic structure include a monocyclic functional group such as a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cyclodecyl group, and a cyclooctyl group; a polycyclic functional group such as a norbornyl group and an adamantyl group; pyrrole, furan, A heterocyclic functional group having a thiophene, imidazole, oxazole, thiazole, tetrahydrofuran, dioxane structure; an aromatic hydrocarbon group containing a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring, or a phenanthrene ring structure.

本発明において、一般式(1)及び一般式(2)のRの炭素数は、該かご状シルセスキオキサンへの官能基導入反応を容易にするという観点から、30以下が好ましい。Rの炭素数は1以上20以下であることが好ましく、1以上10以下が特に好ましい。   In the present invention, the carbon number of R in the general formulas (1) and (2) is preferably 30 or less from the viewpoint of facilitating the functional group introduction reaction into the cage silsesquioxane. R preferably has 1 to 20 carbon atoms, and more preferably 1 to 10 carbon atoms.

本発明におけるキノンジアジド構造としては、1,2−ベンゾキノンジアジド、1,2−ナフトキノンジアジド、2,1−ベンゾキノンジアジド、2,1−ナフトキノンジアジド構造などが挙げられる。その中で取扱いの良さなどから、1,2−ベンゾキノンジアジド、1,2−ナフトキノンジアジド構造が特に好ましい。   Examples of the quinonediazide structure in the present invention include 1,2-benzoquinonediazide, 1,2-naphthoquinonediazide, 2,1-benzoquinonediazide, 2,1-naphthoquinonediazide structure, and the like. Among them, the 1,2-benzoquinonediazide and 1,2-naphthoquinonediazide structures are particularly preferable from the viewpoint of easy handling.

該キノンジアジド構造を有する官能基は、シルセスキオキサン構造に結合していても良く、前述の他のモノマー等のシルセスキオキサン構造を有しない繰り返し単位に結合していても良い。その中で、反応制御の観点から、シルセスキオキサン構造に結合している場合が好ましい。本発明においては、キノンジアジドをポリマーに単に混合させるのではなく、かご状シルセスキオキサン化合物がキノンジアジド構造を有する、すなわちかご状シルセスキオキサン構造にキノンジアジド構造を導入しているので、耐熱性、感光性及び感光コントラストを満足する特性を得ることができる。   The functional group having a quinonediazide structure may be bonded to a silsesquioxane structure, or may be bonded to a repeating unit having no silsesquioxane structure such as the above-mentioned other monomers. Among these, the case where it couple | bonds with the silsesquioxane structure from a viewpoint of reaction control is preferable. In the present invention, the quinonediazide is not simply mixed with the polymer, but the cage silsesquioxane compound has a quinonediazide structure, that is, the quinonediazide structure is introduced into the cage silsesquioxane structure. Characteristics satisfying photosensitivity and photosensitivity contrast can be obtained.

該キノンジアジド構造は、シルセスキオキサン構造のケイ素原子と直接結合していても良く、任意の原子または官能基を介して結合していても良い。例えば、酸素原子や有機基を介して結合していても良い。その中で、露光前の溶解抑止の観点から、有機基を介して結合している場合が好ましい。   The quinonediazide structure may be directly bonded to the silicon atom of the silsesquioxane structure, or may be bonded via any atom or functional group. For example, they may be bonded via an oxygen atom or an organic group. Among these, the case where it couple | bonds through an organic group from a viewpoint of melt | dissolution suppression before exposure is preferable.

該有機基は、キノンジアジド構造とシルセスキオキサン構造を結合し得る構造であれば限定されない。これらの構造には、炭素数1以上30以下のアルキレン基などの2価のアルキル基を含む構造、芳香族基を含む構造、シロキサン、ジシロキサンなどのケイ素原子を含む構造などが挙げられる。また、これらの構造は必要に応じてエステル、スルホン酸エステル、アミド、スルホン酸アミドなどのヘテロ原子を含んでも良い。ここで、ヘテロ原子としては、酸素、硫黄、窒素、リンが挙げられる。   The organic group is not limited as long as it is a structure capable of binding a quinonediazide structure and a silsesquioxane structure. Examples of these structures include a structure containing a divalent alkyl group such as an alkylene group having 1 to 30 carbon atoms, a structure containing an aromatic group, and a structure containing a silicon atom such as siloxane and disiloxane. These structures may contain heteroatoms such as esters, sulfonic acid esters, amides and sulfonic acid amides as necessary. Here, examples of the hetero atom include oxygen, sulfur, nitrogen, and phosphorus.

以上、キノンジアジド構造および該構造のかご状シルセスキオキサン構造との結合様式について例示した。その中で、露光前の溶解抑止及び反応制御の観点から、キノンジアジド構造がスルホン酸エステルを介して芳香族基と結合し、該芳香族基からアルキレン基を介してかご状シルセスキオキサン構造を結合している構造が特に好ましい。   In the above, the quinonediazide structure and the binding mode of the structure with the cage silsesquioxane structure are exemplified. Among them, from the viewpoint of dissolution inhibition before exposure and reaction control, a quinonediazide structure is bonded to an aromatic group via a sulfonic acid ester, and a cage silsesquioxane structure is formed from the aromatic group via an alkylene group. A bonded structure is particularly preferred.

本発明における他のシルセスキオキサン構造への結合手の構造は、1個のかご状シルセスキオキサン構造が、他のかご状シルセスキオキサン構造と結合し得る構造であれば、限定されない。このような様式として、炭素数1以上30以下のアルキレン基、オキシアルキレン基などの2価のアルキル基を含む構造、炭素数1以上、30以下のエステル基を含む構造、シロキサン、ジシロキサンなどのケイ素原子を含む構造、及び酸素原子、窒素原子などのヘテロ原子などが挙げられる。また、これらは1種であっても、2種以上であっても良い。その中で特に、化合物の耐熱性の観点から下記一般式(12)で表される構造が好ましい。

Figure 2007293160
The structure of the bond to another silsesquioxane structure in the present invention is not limited as long as one cage silsesquioxane structure can be combined with another cage silsesquioxane structure. . As such a mode, a structure containing a divalent alkyl group such as an alkylene group having 1 to 30 carbon atoms, an oxyalkylene group, a structure containing an ester group having 1 to 30 carbon atoms, siloxane, disiloxane, etc. Examples include a structure containing a silicon atom, and heteroatoms such as an oxygen atom and a nitrogen atom. These may be one kind or two kinds or more. Among them, the structure represented by the following general formula (12) is particularly preferable from the viewpoint of the heat resistance of the compound.
Figure 2007293160

一般式(12)におけるR、R、R’、R’は、それぞれ水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜30の官能基から選ばれる少なくとも1種類であり、同じであっても異なっていても良い。R及びRは炭素数1〜30のアルキレン基を表す。aは1以上10以下の自然数であり、bは0又は1である。また、反応性の良さ、取扱いの良さから1≦a≦20、b=1の場合が好ましい。R及びRはエチレン基、プロピレン基が好ましい。 R 1 , R 2 , R 1 ′ and R 2 ′ in the general formula (12) are at least one kind selected from a hydrogen atom, a halogen atom and a functional group having 1 to 30 carbon atoms, and may be the same. It may be different. R 3 and R 4 represent an alkylene group having 1 to 30 carbon atoms. a is a natural number of 1 or more and 10 or less, and b is 0 or 1. In addition, the case of 1 ≦ a ≦ 20 and b = 1 is preferable in view of good reactivity and good handling. R 3 and R 4 are an ethylene group, a propylene group are preferable.

本発明における該かご状シルセスキオキサン構造に結合するキノンジアジド構造の個数(M)は、感光性を発現し得る数であれば限定されない。その中で、露光前の溶解抑止や感度を考慮すると、かご状シルセスキオキサン構造1個あたり平均0.1個以上18個未満が好ましい。感光性コントラストの観点から平均0.3個以上10個未満が好ましく、平均0.5個以上9個未満が特に好ましい。   The number (M) of the quinonediazide structure bonded to the cage silsesquioxane structure in the present invention is not limited as long as it is a number that can express photosensitivity. Among them, in consideration of dissolution inhibition and sensitivity before exposure, an average of 0.1 or more and less than 18 per cage silsesquioxane structure is preferable. From the viewpoint of photosensitive contrast, an average of 0.3 or more and less than 10 is preferable, and an average of 0.5 or more and less than 9 is particularly preferable.

本発明における数平均分子量とは、既知の数平均分子量のポリスチレンを標準として、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによって測定される。   The number average molecular weight in the present invention is measured by gel permeation chromatography using polystyrene having a known number average molecular weight as a standard.

本発明に係る化合物の数平均分子量は、該化合物から得られた硬化物の耐熱性や、該化合物を含む感光性樹脂組成物の粘度及び成型性を考慮して、300以上500000以下である。本発明において、該分子量は1000以上250000以下が好ましく、特に3000以上100000以下が好ましい。   The number average molecular weight of the compound according to the present invention is 300 to 500,000 in consideration of the heat resistance of the cured product obtained from the compound and the viscosity and moldability of the photosensitive resin composition containing the compound. In the present invention, the molecular weight is preferably from 1,000 to 250,000, particularly preferably from 3,000 to 100,000.

本発明における該かご状シルセスキオキサン構造に結合するキノンジアジド構造の個数(M)は、核磁気共鳴スペクトル(以下NMRと略称する)によって算出することができる。   The number (M) of quinonediazide structures bonded to the cage silsesquioxane structure in the present invention can be calculated from a nuclear magnetic resonance spectrum (hereinafter abbreviated as NMR).

次に、本発明に用いる化合物の製造方法について説明する。
本発明の化合物は、1)キノンジアジド構造および分子内に少なくとも1個の不飽和結合を有する官能基を含む化合物とかご状シルセスキオキサンを直接反応させることによって、又は、2)かご状シルセスキオキサンと分子内に少なくとも1個の不飽和結合を含む化合物を反応させた後に、キノンジアジド構造を有する化合物と反応させることによっても、得ることができる。反応制御の観点から、2)かご状シルセスキオキサンと分子内に少なくとも1個の不飽和結合を含む化合物を反応させた後に、キノンジアジド構造を有する化合物と反応させる方法が好ましい。
Next, the manufacturing method of the compound used for this invention is demonstrated.
The compound of the present invention can be obtained by 1) directly reacting a cage silsesquioxane with a compound containing a quinonediazide structure and a functional group having at least one unsaturated bond in the molecule, or 2) a cage silsesquioxane. It can also be obtained by reacting oxane with a compound having at least one unsaturated bond in the molecule and then reacting with a compound having a quinonediazide structure. From the viewpoint of reaction control, 2) a method in which a cage silsesquioxane is reacted with a compound having at least one unsaturated bond in the molecule and then reacted with a compound having a quinonediazide structure.

本発明で用いられる合成法としては、特に制限はないが、通常のケイ素−炭素結合形成反応に用いられる、触媒を用いたヒドロシリル化反応が好適に用いられる。また、本発明における化合物の製造方法は、前述の(a)、(b)、(c)、(d)の化合物の構造に応じて、適宜任意の合成方法が選択される。その中で、反応の容易さ、所望のキノンジアジド構造の導入量の制御の容易さ、得られる化合物の耐熱性の観点から(d)の三次元ネットワーク型について、前述のかご状シルセスキオキサンと分子内に少なくとも1個の不飽和結合を含む化合物を反応させた後に、キノンジアジド構造を有する化合物と反応させる方法が好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular as a synthesis method used by this invention, The hydrosilylation reaction using a catalyst used for normal silicon-carbon bond formation reaction is used suitably. In addition, as a method for producing the compound in the present invention, an arbitrary synthesis method is appropriately selected according to the structures of the compounds (a), (b), (c), and (d) described above. Among them, from the viewpoint of the ease of reaction, the ease of controlling the amount of the desired quinonediazide structure introduced, and the heat resistance of the resulting compound, the above-mentioned cage silsesquioxane and A method of reacting a compound having at least one unsaturated bond in the molecule with a compound having a quinonediazide structure is preferable.

本発明において使用される反応溶媒としては、ジメチルエーテル、ジエチルエーテル、メチルエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテルのような炭素数2以上6以下のエーテル化合物;アセトン、メチルエチルケトンのような炭素数2以上6以下のケトン化合物;ノルマルペンタン、シクロペンタン、ノルマルヘキサン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、デカリンのような炭素数5以上10以下の飽和炭化水素化合物;ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、テトラリンのような炭素数6以上10以下の芳香族炭化水素化合物;酢酸メチル、酢酸エチルのような炭素数3以上6以下のエステル化合物;蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸などの炭素数1以上6以下のカルボン酸;クロロホルム、塩化メチレン、1,2−ジクロロエタンのような炭素数1以上10以下の含ハロゲン化合物;アセトニトリル、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドンのような炭素数2以上10以下の含窒素化合物;ジメチルスルホキシドのような含硫黄化合物及び水が挙げられる。また、無溶媒中でも実施される。これらは工業的な生産性、次反応への影響などを考慮して任意に選択可能であり、必要に応じて1種、あるいは2種以上の混合物であっても良い。特に好ましい溶媒としては、炭素数2以上6以下エーテル化合物、炭素数6以上10以下の芳香族炭化水素化合物及びアセトン、メチルエチルケトンのような炭素数2以上6以下のケトン化合物が挙げられる。   Examples of the reaction solvent used in the present invention include ether compounds having 2 to 6 carbon atoms such as dimethyl ether, diethyl ether, methyl ethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane and ethylene glycol dimethyl ether; 2 or more carbon atoms such as acetone and methyl ethyl ketone. 6 or less ketone compounds; saturated hydrocarbon compounds having 5 to 10 carbon atoms such as normal pentane, cyclopentane, normal hexane, cyclohexane, methylcyclohexane and decalin; carbon numbers such as benzene, toluene, xylene, mesitylene and tetralin An aromatic hydrocarbon compound having 6 to 10 carbon atoms; an ester compound having 3 to 6 carbon atoms such as methyl acetate and ethyl acetate; a carboxylic acid having 1 to 6 carbon atoms such as formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid; Halogen-containing compounds having 1 to 10 carbon atoms such as roloform, methylene chloride and 1,2-dichloroethane; such as acetonitrile, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide and N-methyl-2-pyrrolidone Examples thereof include nitrogen-containing compounds having 2 to 10 carbon atoms; sulfur-containing compounds such as dimethyl sulfoxide and water. Moreover, it implements also in the absence of solvent. These can be arbitrarily selected in consideration of industrial productivity, influence on the next reaction, etc., and may be one kind or a mixture of two or more kinds as necessary. Particularly preferred solvents include ether compounds having 2 to 6 carbon atoms, aromatic hydrocarbon compounds having 6 to 10 carbon atoms, and ketone compounds having 2 to 6 carbon atoms such as acetone and methyl ethyl ketone.

本発明におけるヒドロシリル化反応触媒は特に制限されないが、ラジカル開始剤や遷移金属触媒などの公知の化合物から適宜選択できる。具体的なこれらの化合物には、アゾビスイソブチロニトリル、過酸化ベンゾイル、過酸化ジ−t−ブチルなどのラジカル開始剤;活性白金、Pt(0)−1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、塩化白金酸、Pt(COD)(式中、CODは1,5−シクロオクタジエニル基を表す。)、H(C)PtClなどの白金触媒;RhCl(PPh(式中、PPhはトリフェニルホスフィン基を表す。)、RhCl(CO)(PPh、RhCl(CO)(PEt(式中、PEtはトリエチルホスフィン基を表す。)、HRh(CO)(PPh、[Rh(CO)Cl]、Rh(acac)(CO)(式中、acacはアセチルアセトナート基を表す。)などのロジウム触媒;[Ni(CO)(Cp)](式中、Cpはシクロペンタジエニル基を表す。)、Ni(acac)などのニッケル触媒;HCo(PPh、HCo[Si(OEt)](PPh(式中、Etはエチル基を表す。)、コバルトカーボンなどのコバルト触媒;RuCl、RuCl(PPh、RuHCl(PPhなどのルテニウム触媒;PdCl、パラジウムカーボンなどのパラジウム触媒などが挙げられる。また、必要に応じて1種、あるいは2種以上の混合物であっても良い。この中でも特に、反応性の高さの観点から白金触媒が好ましく、特に活性白金、Pt(0)ジビニルテトラメチルジシロキサン、塩化白金酸が好ましい。 The hydrosilylation reaction catalyst in the present invention is not particularly limited, but can be appropriately selected from known compounds such as a radical initiator and a transition metal catalyst. Specific examples of these compounds include radical initiators such as azobisisobutyronitrile, benzoyl peroxide, and di-t-butyl peroxide; active platinum, Pt (0) -1,3-divinyl-1,1 , 3,3-tetramethyldisiloxane, chloroplatinic acid, Pt (COD) 2 (wherein COD represents a 1,5-cyclooctadienyl group), H (C 3 H 6 ) PtCl 3, etc. Platinum catalyst; RhCl (PPh 3 ) 3 (wherein PPh 3 represents a triphenylphosphine group), RhCl (CO) (PPh 3 ) 2 , RhCl (CO) (PEt 3 ) 2 (wherein PEt 3 Represents a triethylphosphine group), HRh (CO) (PPh 3 ) 3 , [Rh (CO) 2 Cl] 2 , Rh (acac) (CO) 2 (wherein acac represents an acetylacetonate group). ) Rhodium catalysts; [Ni (CO) (Cp )] 2 ( wherein, Cp represents a cyclopentadienyl group.), A nickel catalyst such as Ni (acac); H 3 Co (PPh 3) 3, H 2 Co [Si (OEt) 3 ] (PPh 3 ) 3 (where Et represents an ethyl group), cobalt catalysts such as cobalt carbon; RuCl 3 , RuCl 2 (PPh 3 ) 3 , RuHCl (PPh 3 ) 3 Ruthenium catalysts such as PdCl 2 and palladium catalysts such as palladium carbon. Moreover, 1 type or 2 or more types of mixtures may be sufficient as needed. Among these, a platinum catalyst is particularly preferable from the viewpoint of high reactivity, and active platinum, Pt (0) divinyltetramethyldisiloxane, and chloroplatinic acid are particularly preferable.

本発明における脱保護反応試薬は、選択した保護基によって、適宜公知の方法を選択可能である。このような脱保護反応試薬として、塩酸、蟻酸、トリフルオロ酢酸、臭化水素酸などの酸や三臭化ホウ素、ヨウ化トリメチルシランなどのルイス酸などが挙げられる。   As the deprotection reaction reagent in the present invention, a known method can be appropriately selected depending on the selected protecting group. Examples of such a deprotection reagent include acids such as hydrochloric acid, formic acid, trifluoroacetic acid, and hydrobromic acid, and Lewis acids such as boron tribromide and trimethylsilane iodide.

本発明におけるキノンジアジド構造を有する化合物との反応の際に用いられる触媒は、第三級アミンなど公知の化合物の中から適宜選択できる。このような化合物として、トリメチルアミン、トリエチルアミンなどの脂肪族第三級アミン、ピリジン、ピリミジンのような含窒素複素環化合物、1,4−ジアザビシクロ[2.2.2]オクタンのような含窒素多環式化合物などが挙げられる。この中で、取扱いの良さなどから、トリエチルアミン、ピリジンが好ましい。   The catalyst used in the reaction with the compound having a quinonediazide structure in the present invention can be appropriately selected from known compounds such as tertiary amines. Such compounds include aliphatic tertiary amines such as trimethylamine and triethylamine, nitrogen-containing heterocyclic compounds such as pyridine and pyrimidine, and nitrogen-containing polycycles such as 1,4-diazabicyclo [2.2.2] octane. And formula compounds. Among these, triethylamine and pyridine are preferable from the viewpoint of easy handling.

本発明における反応温度は、反応開始や触媒の活性などを考慮して、15℃以上120℃以下であることが好ましい。好ましくは20℃以上100℃以下、さらに好ましくは30℃以上90℃以下である。   The reaction temperature in the present invention is preferably 15 ° C. or higher and 120 ° C. or lower in consideration of reaction initiation and catalyst activity. Preferably they are 20 degreeC or more and 100 degrees C or less, More preferably, they are 30 degreeC or more and 90 degrees C or less.

反応に要する時間は、目的あるいは反応条件によって異なるが、通常は96時間以内であり、特に好適には30分から30時間の範囲で実施される。   The time required for the reaction varies depending on the purpose or reaction conditions, but is usually within 96 hours, particularly preferably in the range of 30 minutes to 30 hours.

合成終了後における、本発明の化合物の回収は、反応溶液中の溶媒を減圧留去することに行うことができる。   After completion of the synthesis, the compound of the present invention can be recovered by distilling off the solvent in the reaction solution under reduced pressure.

本発明の化合物の精製方法としては、反応溶液中の不溶解な触媒を減圧濾過、加圧濾過などで除去する方法が挙げられる。また、反応溶液を貧溶媒に加え析出させる、いわゆる再沈精製法を実施することができる。さらに、特別に高純度な共重合体が必要な場合は二酸化炭素超臨界法による抽出法も可能である。   Examples of the method for purifying the compound of the present invention include a method in which an insoluble catalyst in the reaction solution is removed by vacuum filtration, pressure filtration or the like. In addition, a so-called reprecipitation purification method in which the reaction solution is precipitated by adding it to a poor solvent can be carried out. Furthermore, when a highly pure copolymer is required, an extraction method by a carbon dioxide supercritical method is also possible.

本発明の化合物を用いて、該化合物が均一に溶解及び/又は分散し得る溶媒を含む感光性樹脂組成物を得ることができる。   By using the compound of the present invention, a photosensitive resin composition containing a solvent in which the compound can be uniformly dissolved and / or dispersed can be obtained.

本発明の化合物と溶媒とを含む感光性樹脂組成物における化合物の濃度は、硬化物が製造される濃度であれば、特に制限されない。その中でも、厚膜の硬化物を製造するという観点から、化合物の濃度が1重量%以上、厚膜硬化物の均一性の観点から90重量%以下が好ましい。得られる硬化物の膜厚の観点から、2重量%以上80重量%以下がより好ましい。   The density | concentration of the compound in the photosensitive resin composition containing the compound of this invention and a solvent will not be restrict | limited especially if a hardened | cured material is manufactured. Among them, the concentration of the compound is preferably 1% by weight or more from the viewpoint of producing a thick film cured product, and 90% by weight or less from the viewpoint of uniformity of the thick film cured product. From the viewpoint of the film thickness of the resulting cured product, it is more preferably 2% by weight or more and 80% by weight or less.

本発明における感光性樹脂組成物を構成する溶媒は、本発明の化合物を均一に溶解及び/又は分散させ得るものであれば限定されない。このような溶媒として、ジメチルエーテル、ジエチルエーテル、メチルエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルアセテートのような炭素数2以上6以下のエーテル化合物;アセトン、メチルエチルケトンのような炭素数2以上6以下のケトン化合物;ノルマルペンタン、シクロペンタン、ノルマルヘキサン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、デカリンのような炭素数5以上10以下の飽和炭化水素化合物;ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、テトラリンのような炭素数6以上10以下の芳香族炭化水素化合物;酢酸メチル、酢酸エチルのような炭素数3以上6以下のエステル化合物;蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸などの炭素数1以上6以下のカルボン酸、クロロホルム、塩化メチレン、1,2−ジクロロエタンのような炭素数1以上10以下の含塩素化合物;アセトニトリル、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドンのような炭素数2以上10以下の含窒素化合物;ジメチルスルホキシドのような含硫黄化合物;γ−ブチロラクトンのような環状エステル、及び水が挙げられる。化合物の溶解性の観点から、プロピレングリコールモノメチルアセテート、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、テトラヒドロフランが特に好ましい。   The solvent which comprises the photosensitive resin composition in this invention will not be limited if it can melt | dissolve and / or disperse | distribute the compound of this invention uniformly. Examples of such solvents include ether compounds having 2 to 6 carbon atoms such as dimethyl ether, diethyl ether, methyl ethyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, ethylene glycol dimethyl ether, and propylene glycol monomethyl acetate; 2 or more carbon atoms such as acetone and methyl ethyl ketone. 6 or less ketone compounds; saturated hydrocarbon compounds having 5 to 10 carbon atoms such as normal pentane, cyclopentane, normal hexane, cyclohexane, methylcyclohexane and decalin; carbon numbers such as benzene, toluene, xylene, mesitylene and tetralin Aromatic hydrocarbon compound having 6 to 10 carbon atoms; ester compound having 3 to 6 carbon atoms such as methyl acetate and ethyl acetate; 1 carbon atom or more such as formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid 6 or less carboxylic acids, chloroform, methylene chloride, chlorine-containing compounds having 1 to 10 carbon atoms such as acetonitrile, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl- Examples thereof include nitrogen-containing compounds having 2 to 10 carbon atoms such as 2-pyrrolidone; sulfur-containing compounds such as dimethyl sulfoxide; cyclic esters such as γ-butyrolactone, and water. From the viewpoint of the solubility of the compound, propylene glycol monomethyl acetate, N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, and tetrahydrofuran are particularly preferable.

また、本発明における感光性樹脂組成物には、該組成物に悪影響を与えない範囲で界面活性剤のようなその他の成分を含んでも良い。該その他の成分の割合は、本発明の感光性樹脂組成物の割合を100%とした場合、通常10%以下である。   Further, the photosensitive resin composition in the present invention may contain other components such as a surfactant as long as the composition is not adversely affected. The proportion of the other components is usually 10% or less when the proportion of the photosensitive resin composition of the present invention is 100%.

次に、本発明に係る化合物を用いて得られる硬化物の製造方法について記載する。
まず、本発明の化合物を含む感光性樹脂組成物を基材にコートして感光層を形成する。該基材としては、硬化物形成の際に損傷しない基材であれば、限定されない。このような基材として、シリコンウエハ、金属、ガラス、セラミック、耐熱性樹脂などが挙げられる。取扱いの良さから、シリコンウエハ及びガラスが好適に用いられる。被覆方法としてはバーコート、ローラーコート、ダイコート、ブレードコート、ディップコート、ドクターナイフ、スプレーコート、フローコート、スピンコート、スリットコート、はけ塗り、などが例示できる。被覆した後に必要に応じてホットプレートなどによりプリベークと呼ばれる加熱処理を行っても良い。
Next, it describes about the manufacturing method of the hardened | cured material obtained using the compound concerning this invention.
First, a photosensitive resin composition containing the compound of the present invention is coated on a substrate to form a photosensitive layer. The substrate is not limited as long as it is a substrate that is not damaged during the formation of the cured product. Examples of such a substrate include a silicon wafer, metal, glass, ceramic, and heat resistant resin. A silicon wafer and glass are preferably used because of good handling. Examples of the coating method include bar coating, roller coating, die coating, blade coating, dip coating, doctor knife, spray coating, flow coating, spin coating, slit coating, and brush coating. After coating, if necessary, heat treatment called pre-baking may be performed by a hot plate or the like.

次いで、該感光層をマスクなどを介して光照射することによりパターニングする。光照射の光源としては、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、固体レーザ、気体レーザ、半導体レーザ、エキシマレーザ、キセノンランプ、メタルハライドランプなどが例示できる。光照射の方法としては、コンタクト露光法、プロキシミティ露光法、スキャニング露光法などが例示できる。   Next, the photosensitive layer is patterned by light irradiation through a mask or the like. Examples of the light source for light irradiation include a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a solid-state laser, a gas laser, a semiconductor laser, an excimer laser, a xenon lamp, and a metal halide lamp. Examples of the light irradiation method include a contact exposure method, a proximity exposure method, and a scanning exposure method.

次いで、該光照射した感光層を現像する。現像液としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液が好適に用いられる。現像後には必要に応じて水洗、乾燥などを実施しても良い。   Next, the photosensitive layer irradiated with light is developed. As the developer, a tetramethylammonium hydroxide aqueous solution is preferably used. After development, washing and drying may be performed as necessary.

最後に該パターニングした膜を焼成することにより硬化させる。焼成温度は、十分な硬化、副反応や分解などを考慮して、30℃以上500℃以下とすることが好ましい。好ましくは、100℃以上400℃以下である。該シルセスキオキサン化合物に反応性基がある場合には、その反応性基が反応する温度より高温で焼成するのが好ましい。   Finally, the patterned film is cured by baking. The firing temperature is preferably 30 ° C. or more and 500 ° C. or less in consideration of sufficient curing, side reaction, decomposition, and the like. Preferably, it is 100 degreeC or more and 400 degrees C or less. When the silsesquioxane compound has a reactive group, it is preferably fired at a temperature higher than the temperature at which the reactive group reacts.

該製造方法における反応雰囲気は、空気雰囲気下でも不活性ガス雰囲気下でも実施可能である。重合体の熱分解の観点から、不活性ガス雰囲気下が好ましい。   The reaction atmosphere in the production method can be carried out in an air atmosphere or an inert gas atmosphere. From the viewpoint of thermal decomposition of the polymer, an inert gas atmosphere is preferred.

該硬化体の製造に要する時間は、反応条件によって異なるが、通常は24時間以内であり、特に好適には1時間から8時間の範囲である。   The time required for producing the cured product varies depending on the reaction conditions, but is usually within 24 hours, and particularly preferably in the range of 1 to 8 hours.

本発明に係る化合物を用いて製造される硬化物は、無機化合物の特徴である高耐熱性と有機化合物の特徴である良好な成膜性を有しており、かつ感光性、低誘電率性などの特徴を有することから、誘電体膜、半導体層間絶縁膜、薄膜トランジスタ用層間絶縁膜、回路基板フォトレジスト膜、セラミックセンサー用耐熱膜、耐熱塗料、難燃・耐火塗料、建材類コート剤、プラズマディスプレイパネル用誘電体膜などに使用することができる。   The cured product produced using the compound according to the present invention has high heat resistance, which is a characteristic of inorganic compounds, and good film formability, which is a characteristic of organic compounds, and also has photosensitivity and low dielectric constant. Because of its features, dielectric films, semiconductor interlayer insulating films, interlayer insulating films for thin film transistors, circuit board photoresist films, heat resistant films for ceramic sensors, heat resistant paints, flame retardant and fire resistant paints, building materials coating agents, plasma It can be used for a dielectric film for a display panel.

以下、本発明の効果を明確に行うための実施例について説明する。
(試薬)
実施例及び比較例において、用いた試薬であるPSS−オクタキス(ジメチルシリロキシ)置換(Aldrich社製)、p−t−ブトキシスチレン(和光純薬工業社製)、Pt(0)−1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン3%キシレン溶液(Aldrich社製)、ビニル終端ポリジメチルシロキサン(DMS−V05)(GELEST社製)、トルエン(和光純薬工業社製、有機合成用)、塩酸、4.0M 1,4−ジオキサン溶液(Aldrich社製)、メタノール(和光純薬工業社製、特級)、テトラヒドロフラン(和光純薬工業社製、安定剤不含、特級)、アセトン(和光純薬工業社製、有機合成用)、トリエチルアミン(和光純薬工業社製、特級)、1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリド(東京化成工業社製)、塩酸(和光純薬工業社製、特級)は、特別な精製を実施せずに、反応に用いた。
Examples for clearly performing the effects of the present invention will be described below.
(reagent)
In Examples and Comparative Examples, PSS-octakis (dimethylsilyloxy) substitution (made by Aldrich), pt-butoxystyrene (made by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.), Pt (0) -1,3 which are the reagents used. -Divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane 3% xylene solution (manufactured by Aldrich), vinyl-terminated polydimethylsiloxane (DMS-V05) (manufactured by GELEST), toluene (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., For organic synthesis), hydrochloric acid, 4.0M 1,4-dioxane solution (manufactured by Aldrich), methanol (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, special grade), tetrahydrofuran (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., stabilizer-free, special grade) Acetone (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, for organic synthesis), triethylamine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, special grade), 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfur Honyl chloride (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) and hydrochloric acid (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., special grade) were used for the reaction without carrying out any special purification.

(化合物の精製)
反応により得られた化合物含有反応溶液を、メタノールに注ぎ、室温で10分間撹拌し、固体が沈殿した後に、デカンテーションにより上澄み液を除去することにより精製を行った。固体が沈殿しない場合は、遠心分離器(久保田製作所社製)を用いて遠心分離を行い、固体を沈殿させた後に、同様の操作を行い、精製を行った。
(Purification of compounds)
The compound-containing reaction solution obtained by the reaction was poured into methanol, stirred for 10 minutes at room temperature, and after solids precipitated, purification was performed by removing the supernatant by decantation. When the solid did not precipitate, centrifugation was performed using a centrifuge (manufactured by Kubota Manufacturing Co., Ltd.) to precipitate the solid, and then the same operation was performed for purification.

(数平均分子量測定)
本発明において数平均分子量の測定は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)を用いて、下記の条件により行った。
カラム:Shodex KF−804L(昭和電工社製)
移動相:テトラヒドロフラン(和光純薬工業社製、安定剤不含)
流速:0.6mL/分
カラム温度:40℃
ポンプ:LC−10AT(島津製作所社製)
検出器:RID−6A(RI:示差屈折計、島津製作所社製)
SPD−10A(UV−VIS:紫外可視吸光計、島津製作所社製)
また、該分子量を算出するための検量線は、スタンダードポリスチレン(Aldrich社製)を用いて作成した。
(Number average molecular weight measurement)
In the present invention, the number average molecular weight was measured using gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.
Column: Shodex KF-804L (Showa Denko)
Mobile phase: Tetrahydrofuran (Wako Pure Chemical Industries, Ltd., without stabilizer)
Flow rate: 0.6 mL / min Column temperature: 40 ° C
Pump: LC-10AT (manufactured by Shimadzu Corporation)
Detector: RID-6A (RI: differential refractometer, manufactured by Shimadzu Corporation)
SPD-10A (UV-VIS: UV-Visible Absorber, manufactured by Shimadzu Corporation)
A calibration curve for calculating the molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Aldrich).

(NMR測定)
NMR測定は、JEOL社製、JNM−GSX400を用いた。測定に用いた溶媒は、重クロロホルム(和光純薬工業社製、純度99.8重量%)であり、共重合体5.0×10−3gに対して重クロロホルム5.0×10−4リットルの濃度で測定を行った。また、測定温度は30℃にて行った。なお、内部標準は、重クロロホルムの重水素化されていないピークである7.26ppmを基準とした。
(NMR measurement)
For NMR measurement, JNM-GSX400 manufactured by JEOL was used. The solvent used for the measurement was deuterated chloroform (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., purity 99.8% by weight), and deuterated chloroform 5.0 × 10 −4 to 5.0 × 10 −3 g of the copolymer. Measurements were taken at a concentration of liters. The measurement temperature was 30 ° C. The internal standard was 7.26 ppm, which is a non-deuterated peak of deuterated chloroform.

(かご状シルセスキオキサン構造に結合するキノンジアジド構造の結合数(M)の算出)
本発明における該かご状シルセスキオキサン構造に結合するキノンジアジド構造の結合数は、前述のNMR測定により求めた。前述の測定条件において、フェノール基に由来するピークは、δ6.6〜7.1に観測された。また、ヒドロシリル化反応後に生成するSi−CHCH−Siのピークは、δ0.5に観測された。そしてこれらの積分比から、かご状シルセスキオキサン構造に結合するフェノール基の結合数を求め、次いで1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリドと反応させた後の1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニル基のピークは、δ8.1に観測されたことから、フェノール基への1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニル基の導入個数を求めた。
(Calculation of the number of bonds (M) of the quinonediazide structure bonded to the cage silsesquioxane structure)
The number of bonds of the quinonediazide structure bonded to the cage silsesquioxane structure in the present invention was determined by the NMR measurement described above. Under the measurement conditions described above, a peak derived from a phenol group was observed at δ6.6 to 7.1. Moreover, the peak of Si—CH 2 CH 2 —Si produced after the hydrosilylation reaction was observed at δ0.5. Then, from these integral ratios, the number of phenol groups bonded to the cage silsesquioxane structure is determined, and then reacted with 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl chloride. Since the peak of the naphthoquinone-2-diazido-5-sulfonyl group was observed at δ8.1, the number of 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl groups introduced into the phenol group was determined.

(膜厚測定)
本発明に係る化合物を用いて得られた硬化物の膜厚測定は、反射分光膜厚計FE−3000(大塚電子社製)により行った。測定手法は絶対反射率とし、測定モードはマニュアルにて行った。また、リファレンスとしてアルミニウムを用い、標準反射板としてAl吸着ホルダを用いた。アルゴリズムにおいては、ピークバレイ+最小二乗法を用い、スムージングポイントを7点とし、最小二乗法演算波長範囲を240〜800nmとし、ピーク&バレイ法演算波長範囲を500〜800nmとして演算を行った。
(Film thickness measurement)
The film thickness of the cured product obtained using the compound according to the present invention was measured with a reflection spectral film thickness meter FE-3000 (manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). The measurement method was absolute reflectance, and the measurement mode was performed manually. Moreover, aluminum was used as a reference, and an Al adsorption holder was used as a standard reflector. In the algorithm, peak valley + least square method was used, the smoothing point was 7 points, the least square method calculation wavelength range was 240 to 800 nm, and the peak & valley method calculation wavelength range was 500 to 800 nm.

(被覆方法)
本発明における感光性樹脂組成物の被覆方法は、MIKASA COATER(MIKASA製、1H−D7)を用いるスピンコート法により行った。無アルカリガラス(コーニング社製、1737 AMLCD)に該感光性樹脂組成物を滴下し、1000rpmで30秒間コーティングを行った。
(Coating method)
The coating method of the photosensitive resin composition in the present invention was performed by a spin coating method using MIKASA COATER (manufactured by MIKASA, 1H-D7). The photosensitive resin composition was dropped onto alkali-free glass (Corning Corp., 1737 AMLCD), and coating was performed at 1000 rpm for 30 seconds.

(硬化物製造方法)
本発明における硬化物の製造方法は、前述の方法により該感光性樹脂組成物をスピンコートした無アルカリガラスを、縦型焼成炉(光洋リンドバーグ社製、VF−1000)を用いて焼成することにより行った。焼成は、窒素雰囲気下で行い、150℃で60分間、続いて350℃で60分間行った。このようにして硬化物を得た。
(Curing product manufacturing method)
The manufacturing method of the hardened | cured material in this invention is by baking the alkali free glass which spin-coated this photosensitive resin composition by the above-mentioned method using a vertical baking furnace (the Koyo Lindberg company make, VF-1000). went. Firing was performed in a nitrogen atmosphere, and was performed at 150 ° C. for 60 minutes, followed by 350 ° C. for 60 minutes. In this way, a cured product was obtained.

(耐熱性試験)
本発明における硬化物の耐熱性試験は、TGA2950(TAインスツルメント社製)を用いて、350℃で30分間保持した後の重量減少率を求めることにより行った。
(Heat resistance test)
The heat resistance test of the cured product in the present invention was performed by determining the weight loss rate after holding at 350 ° C. for 30 minutes using TGA2950 (TA Instruments).

(感光性試験)
本発明における感光性樹脂組成物の感光性試験は、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド溶液(25%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド溶液(和光純薬工業社製、精密分析用)を精製水(共栄製薬社製)で希釈したものを使用)を用いて行った。前述の方法により感光性樹脂組成物を無アルカリガラスに被覆して得られた膜を、2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド溶液に浸漬し、膜が溶解し始めるまでの時間を計測した。ここで、5分間浸漬しても溶解しないものを、不溶とした。また、該膜を露光(低圧水銀ランプ、フィリップスTL/10、2000mJ/cm)した後にも同様に計測した。
(Photosensitivity test)
In the photosensitivity test of the photosensitive resin composition in the present invention, 2.38% tetramethylammonium hydroxide solution (25% tetramethylammonium hydroxide solution (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for precision analysis) is purified water (Kyoei). Using a product diluted with a pharmaceutical company). The film obtained by coating the photosensitive resin composition with alkali-free glass by the above-described method was immersed in a 2.38% tetramethylammonium hydroxide solution, and the time until the film started to dissolve was measured. Here, those that did not dissolve even after being immersed for 5 minutes were regarded as insoluble. The same measurement was performed after the film was exposed (low pressure mercury lamp, Philips TL / 10, 2000 mJ / cm 2 ).

(実施例1)
窒素雰囲気下、セプタム及び還流器を付けた三口フラスコに、PSS−オクタキス(ジメチルシリロキシ)置換(4.913mmol)、p−t−ブトキシスチレン(29.566mmol)、トルエン(40ml)、Pt(0)−1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン3%キシレン溶液(40μl)を入れ、60℃で2時間加熱撹拌した。次いで、ビニル終端ポリジメチルシロキサン(DMS−V05)(19.79mmol)を加え、90℃で5時間加熱撹拌した。室温まで冷却した後に、反応溶液をメタノール(400ml)に注ぎ、室温で10分間撹拌し、上澄み液をデカンテーションし、真空乾燥器中で乾燥することにより、t−ブチル保護体を得た。
Example 1
In a three-necked flask equipped with a septum and a reflux under a nitrogen atmosphere, PSS-octakis (dimethylsilyloxy) substitution (4.913 mmol), pt-butoxystyrene (29.566 mmol), toluene (40 ml), Pt (0 ) -1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane 3% xylene solution (40 μl) was added and stirred at 60 ° C. for 2 hours. Subsequently, vinyl termination | terminus polydimethylsiloxane (DMS-V05) (19.79 mmol) was added, and it heated and stirred at 90 degreeC for 5 hours. After cooling to room temperature, the reaction solution was poured into methanol (400 ml), stirred at room temperature for 10 minutes, the supernatant was decanted, and dried in a vacuum drier to obtain a t-butyl protector.

次いで、該t−ブチル保護体(5.03g)、塩酸、4.0Mの1,4−ジオキサン溶液(50mL)をナス型フラスコに入れ、80℃で4時間加熱撹拌した。室温まで冷却した後に、反応溶液を濃縮し、真空乾燥器中で乾燥することにより、フェノール基導入化合物を得た。   Next, the t-butyl protected product (5.03 g), hydrochloric acid, 4.0M 1,4-dioxane solution (50 mL) was placed in an eggplant-shaped flask, and heated and stirred at 80 ° C. for 4 hours. After cooling to room temperature, the reaction solution was concentrated and dried in a vacuum dryer to obtain a phenol group-introducing compound.

次いで、窒素雰囲気下、該フェノール基導入化合物(2.71g)と1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリド(0.601g、2.237mmol)とアセトン(20ml)を入れ、室温で溶解させた後に、トリエチルアミン(0.489g、4.83mmol)のアセトン(3ml)溶液を20分間かけて滴下した。滴下終了後、室温で1.5時間撹拌した後に、塩酸(0.101g)を入れ、析出した白色固体をろ別し、得られたろ液を0.5重量%塩酸水溶液(100ml)に注ぎ、析出した固体を吸引ろ過し、真空乾燥器中で乾燥することにより、目的の1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニル基含有化合物(実施例1)を得た。得られた重合体(実施例1)について、かご状シルセスキオキサン構造に結合する感光性基の結合数(キノンジアジド構造の個数)(M)、残存フェノール基の結合数及び数平均分子量を調べた。その結果を下記表1に示した。   Next, under a nitrogen atmosphere, the phenol group-introduced compound (2.71 g), 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl chloride (0.601 g, 2.237 mmol) and acetone (20 ml) were added, and at room temperature. After dissolution, a solution of triethylamine (0.489 g, 4.83 mmol) in acetone (3 ml) was added dropwise over 20 minutes. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 1.5 hours, and then hydrochloric acid (0.101 g) was added. The precipitated white solid was filtered off, and the obtained filtrate was poured into a 0.5 wt% aqueous hydrochloric acid solution (100 ml). The precipitated solid was subjected to suction filtration and dried in a vacuum drier to obtain the target 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl group-containing compound (Example 1). For the obtained polymer (Example 1), the number of photosensitive groups bonded to the cage silsesquioxane structure (number of quinonediazide structures) (M), the number of bonds of residual phenol groups and the number average molecular weight were examined. It was. The results are shown in Table 1 below.

次いで、得られた重合体(1.0g)をテトラヒドロフラン(4.0g)に溶解させ、室温で撹拌することにより、均一な感光性樹脂組成物(実施例1)を得た。この感光性樹脂組成物について感光性試験を行った。その結果を下記表2に示した。   Next, the obtained polymer (1.0 g) was dissolved in tetrahydrofuran (4.0 g) and stirred at room temperature to obtain a uniform photosensitive resin composition (Example 1). A photosensitivity test was performed on this photosensitive resin composition. The results are shown in Table 2 below.

次いで、得られた感光性樹脂組成物(2.0g)を、1000rpmで30秒間無アルカリガラスにスピンコートした後に、縦型焼成炉にて窒素雰囲気下、150℃で60分間、続いて350℃で60分間焼成することにより、目的の硬化物(実施例1)を得た。得られた、硬化物について、反射分光膜厚計FE−3000を用いて膜厚測定を行った。その結果を下記表3に示した。また、得られた硬化物をスパチュラで無アルカリガラスより剥がし、得られた固体について、TGA2950を用いて、350℃で30分間保持した前後の重量を求め、それらの重量から重量減少率を求めた。その結果を下記表3に結果を示した。   Next, the obtained photosensitive resin composition (2.0 g) was spin-coated on an alkali-free glass at 1000 rpm for 30 seconds, and then in a vertical baking furnace under a nitrogen atmosphere at 150 ° C. for 60 minutes, followed by 350 ° C. The target cured product (Example 1) was obtained by baking for 60 minutes. About the obtained hardened | cured material, the film thickness measurement was performed using the reflective spectral film thickness meter FE-3000. The results are shown in Table 3 below. Moreover, the obtained hardened | cured material was peeled off from the alkali free glass with the spatula, about the obtained solid, the weight before and behind hold | maintaining for 30 minutes at 350 degreeC was calculated | required using TGA2950, and the weight decreasing rate was calculated | required from those weights. . The results are shown in Table 3 below.

(実施例2)
窒素雰囲気下、セプタム及び還流器を付けた三口フラスコに、PSS−オクタキス(ジメチルシリロキシ)置換(4.912mmol)、p−t−ブトキシスチレン(39.374mmol)、トルエン(40ml)、Pt(0)−1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン3%キシレン溶液(40μl)を入れ、60℃で2時間加熱撹拌した。実施例1と同様の条件で回収、精製を行いt−ブチル保護体を得た。
(Example 2)
Under a nitrogen atmosphere, a three-necked flask equipped with a septum and a reflux condenser was substituted with PSS-octakis (dimethylsilyloxy) (4.912 mmol), pt-butoxystyrene (39.374 mmol), toluene (40 ml), Pt (0 ) -1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane 3% xylene solution (40 μl) was added and stirred at 60 ° C. for 2 hours. Recovery and purification were performed under the same conditions as in Example 1 to obtain a t-butyl protected product.

次いで、該t−ブチル保護体(3.12g)、塩酸、4.0Mの1,4−ジオキサン溶液(50mL)をナス型フラスコに入れ、80℃で4時間加熱撹拌した。実施例1と同様の条件で回収を行い、フェノール基導入化合物を得た。   Next, the t-butyl protected product (3.12 g), hydrochloric acid, 4.0M 1,4-dioxane solution (50 mL) was placed in an eggplant-shaped flask, and heated and stirred at 80 ° C. for 4 hours. Recovery was performed under the same conditions as in Example 1 to obtain a phenol group-introducing compound.

次いで、窒素雰囲気下、該フェノール基導入化合物(1.013g)と1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリド(1.074g、4.00mmol)とアセトン(20ml)を入れ、室温で溶解させた後に、トリエチルアミン(0.445g、4.40mmol)のアセトン(3ml)溶液を20分間かけて滴下した。滴下終了後、室温で1.5時間撹拌した後に、塩酸(0.105g)を入れ、析出した白色固体をろ別し、得られたろ液を0.5重量%塩酸水溶液(100ml)に注ぎ、析出した固体を吸引ろ過し、真空乾燥器中で乾燥することにより、目的の1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニル基含有化合物(実施例2)を得た。得られた重合体(実施例2)について、かご状シルセスキオキサン構造に結合する感光性基の結合数(キノンジアジド構造の個数)(M)、残存フェノール基の結合数及び数平均分子量を調べた。その結果を下記表1に併記した。   Next, under a nitrogen atmosphere, the phenol group-introduced compound (1.013 g), 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl chloride (1.074 g, 4.00 mmol) and acetone (20 ml) were added, and at room temperature. After dissolution, a solution of triethylamine (0.445 g, 4.40 mmol) in acetone (3 ml) was added dropwise over 20 minutes. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at room temperature for 1.5 hours, and then hydrochloric acid (0.105 g) was added. The precipitated white solid was filtered off, and the obtained filtrate was poured into a 0.5 wt% aqueous hydrochloric acid solution (100 ml). The precipitated solid was subjected to suction filtration and dried in a vacuum drier to obtain the target 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl group-containing compound (Example 2). For the obtained polymer (Example 2), the number of photosensitive groups bonded to the cage silsesquioxane structure (number of quinonediazide structures) (M), the number of bonds of residual phenol groups and the number average molecular weight were examined. It was. The results are also shown in Table 1 below.

次いで、得られた重合体(1.0g)をテトラヒドロフラン(4.0g)に溶解させ、室温で撹拌することにより、均一な感光性樹脂組成物(実施例2)を得た。この感光性樹脂組成物について感光性試験を行った。その結果を下記表2に示した。   Next, the obtained polymer (1.0 g) was dissolved in tetrahydrofuran (4.0 g) and stirred at room temperature to obtain a uniform photosensitive resin composition (Example 2). A photosensitivity test was performed on this photosensitive resin composition. The results are shown in Table 2 below.

次いで、得られた感光性樹脂組成物(2.0g)を、1000rpmで30秒間無アルカリガラスにスピンコートした後に、縦型焼成炉にて窒素雰囲気下、150℃で60分間、続いて350℃で60分間焼成することにより、目的の硬化物(実施例2)を得た。得られた、硬化物について、実施例1と同様にして、膜厚測定を行うと共に重量減少率を求めた。その結果を下記表3に併記した。   Next, the obtained photosensitive resin composition (2.0 g) was spin-coated on an alkali-free glass at 1000 rpm for 30 seconds, and then in a vertical baking furnace under a nitrogen atmosphere at 150 ° C. for 60 minutes, followed by 350 ° C. For 60 minutes to obtain the desired cured product (Example 2). About the obtained hardened | cured material, it carried out similarly to Example 1, and measured the film thickness and calculated | required the weight reduction rate. The results are also shown in Table 3 below.

(比較例)
窒素雰囲気下、セプタム及び還流器を付けた三口フラスコに、PSS−オクタキス(ジメチルシリロキシ)置換(4.913mmol)、p−t−ブトキシスチレン(29.566mmol)、トルエン(40ml)、Pt(0)−1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン3%キシレン溶液(40μl)を入れ、60℃で2時間加熱撹拌した。次いで、ビニル終端ポリジメチルシロキサン(DMS−V05)(19.79mmol)を加え、90℃で5時間加熱撹拌した。実施例1と同様の条件で回収を行い、t−ブチル保護体を得た。
(Comparative example)
In a three-necked flask equipped with a septum and a reflux under a nitrogen atmosphere, PSS-octakis (dimethylsilyloxy) substitution (4.913 mmol), pt-butoxystyrene (29.566 mmol), toluene (40 ml), Pt (0 ) -1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisiloxane 3% xylene solution (40 μl) was added and stirred at 60 ° C. for 2 hours. Subsequently, vinyl termination | terminus polydimethylsiloxane (DMS-V05) (19.79 mmol) was added, and it heated and stirred at 90 degreeC for 5 hours. Recovery was performed under the same conditions as in Example 1 to obtain a t-butyl protector.

次いで、該t−ブチル保護体(5.03g)、塩酸、4.0Mの1,4−ジオキサン溶液(50mL)をナス型フラスコに入れ、80℃で4時間加熱撹拌した。実施例1と同様の条件で回収を行い、フェノール基導入化合物(比較例)を得た。得られた重合体について、かご状シルセスキオキサン構造に結合する感光性基の結合数(キノンジアジド構造の個数)(M)、残存フェノール基の結合数及び数平均分子量を調べた。その結果を下記表1に併記した。   Next, the t-butyl protected product (5.03 g), hydrochloric acid, 4.0M 1,4-dioxane solution (50 mL) was placed in an eggplant-shaped flask, and heated and stirred at 80 ° C. for 4 hours. Recovery was performed under the same conditions as in Example 1 to obtain a phenol group-introduced compound (Comparative Example). The obtained polymer was examined for the number of photosensitive groups bonded to the cage silsesquioxane structure (number of quinonediazide structures) (M), the number of bonds of residual phenol groups, and the number average molecular weight. The results are also shown in Table 1 below.

次いで、得られた重合体(1.0g)をテトラヒドロフラン(4.0g)に溶解させ、室温で撹拌することにより、均一な樹脂組成物(比較例)を得た。この樹脂組成物について感光性試験を行った。その結果を下記表2に示した。   Subsequently, the obtained polymer (1.0 g) was dissolved in tetrahydrofuran (4.0 g) and stirred at room temperature to obtain a uniform resin composition (Comparative Example). The photosensitivity test was done about this resin composition. The results are shown in Table 2 below.

次いで、得られた樹脂組成物(2.0g)を、1000rpmで30秒間無アルカリガラスにスピンコートした後に、縦型焼成炉にて窒素雰囲気下、150℃で60分間、続いて350℃で60分間焼成することにより、目的の硬化物(比較例)を得た。得られた、硬化物について、実施例1と同様にして、膜厚測定を行うと共に重量減少率を求めた。その結果を下記表3に併記した。   Next, the obtained resin composition (2.0 g) was spin-coated on an alkali-free glass at 1000 rpm for 30 seconds, and then in a vertical firing furnace under a nitrogen atmosphere at 150 ° C. for 60 minutes, and subsequently at 350 ° C. for 60 minutes. By baking for a minute, the target hardened | cured material (comparative example) was obtained. About the obtained hardened | cured material, it carried out similarly to Example 1, and measured the film thickness and calculated | required the weight reduction rate. The results are also shown in Table 3 below.

Figure 2007293160
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表2から分かるように、比較例の樹脂組成物では、露光前後ともに2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド溶液に溶解しないことから感光性を有しない。一方、実施例1,2の感光性樹脂組成物では、露光前には5分間以上溶解抑止を発現し、かつ露光後にいずれも60秒以内に溶解することから感光コントラストを発現している。また、表3から分かるように、実施例1,2の硬化物は、所望の膜厚の膜が得られ、かつ耐熱性試験後の重量減少率は3%未満と非常に良好であった。以上のことから、本発明に係る化合物を含む感光性樹脂組成物は、良好な感光性を示すことが分かった。また、本発明に係る化合物を用いて得られた硬化物は、良好な成膜性と良好な耐熱性を併せ持つことが分かった。   As can be seen from Table 2, the resin composition of the comparative example does not have photosensitivity because it does not dissolve in the 2.38% tetramethylammonium hydroxide solution before and after exposure. On the other hand, the photosensitive resin compositions of Examples 1 and 2 exhibited dissolution inhibition for 5 minutes or more before exposure, and also developed photosensitivity contrast because both dissolved within 60 seconds after exposure. Further, as can be seen from Table 3, the cured products of Examples 1 and 2 obtained a film having a desired film thickness, and the weight reduction rate after the heat resistance test was very good at less than 3%. From the above, it was found that the photosensitive resin composition containing the compound according to the present invention exhibits good photosensitivity. Moreover, it turned out that the hardened | cured material obtained using the compound based on this invention has favorable film forming property and favorable heat resistance.

本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態における数値や成分についてこれに限定されず、適宜変更して実施することが可能である。その他、本発明の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and can be implemented with various modifications. It is not limited to this about the numerical value and component in the said embodiment, It is possible to change suitably and to implement. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

本発明に係る化合物は、溶媒に可溶であり、かつ溶媒溶解時に十分な流動性を有していることから、成型性に優れた化合物として使用される。また、該化合物を含む感光性樹脂組成物は、良好な感光性を有することから、感光性材料として使用される。また、該感光性樹脂組成物を硬化することによって得られる硬化物は、耐熱性に優れていることから、誘電体材料分野で使用される。また、本発明に係る化合物を用いて得られた硬化物は、耐薬品性、低誘電率性も併せ持つことから、誘電体膜、半導体層間絶縁膜、回路基板フォトレジスト膜、セラミックセンサー用耐熱膜、耐熱塗料、難燃・耐火塗料、建材類コート剤、プラズマディスプレイパネル用誘電体膜などに使用される。   The compound according to the present invention is used as a compound excellent in moldability because it is soluble in a solvent and has sufficient fluidity when dissolved in a solvent. Moreover, since the photosensitive resin composition containing this compound has favorable photosensitivity, it is used as a photosensitive material. Further, a cured product obtained by curing the photosensitive resin composition is excellent in heat resistance, and thus is used in the dielectric material field. In addition, since the cured product obtained using the compound according to the present invention has both chemical resistance and low dielectric constant, it is a dielectric film, a semiconductor interlayer insulating film, a circuit board photoresist film, and a heat resistant film for ceramic sensors. Used in heat resistant paints, flame retardant and fire resistant paints, building materials coating agents, dielectric films for plasma display panels.

Claims (5)

キノンジアジド構造を有することを特徴とするかご状シルセスキオキサン化合物。   A cage silsesquioxane compound having a quinonediazide structure. 前記キノンジアジド構造が、1,2−ベンゾキノンジアジド構造又は1,2−ナフトキノンジアジド構造であることを特徴とする請求項1記載のかご状シルセスキオキサン化合物。   The cage silsesquioxane compound according to claim 1, wherein the quinonediazide structure is a 1,2-benzoquinonediazide structure or a 1,2-naphthoquinonediazide structure. 請求項1又は請求項2記載のかご状シルセスキオキサン化合物を含有することを特徴とする感光性樹脂組成物。   A photosensitive resin composition comprising the cage silsesquioxane compound according to claim 1. 請求項3記載の感光性樹脂組成物を硬化してなることを特徴とする硬化物。   A cured product obtained by curing the photosensitive resin composition according to claim 3. 請求項4記載の硬化物により構成されたことを特徴とする厚膜誘電体。   A thick film dielectric comprising the cured product according to claim 4.
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