JP2007281123A - Test equipment of tab - Google Patents

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JP2007281123A JP2006103948A JP2006103948A JP2007281123A JP 2007281123 A JP2007281123 A JP 2007281123A JP 2006103948 A JP2006103948 A JP 2006103948A JP 2006103948 A JP2006103948 A JP 2006103948A JP 2007281123 A JP2007281123 A JP 2007281123A
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tab
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Koji Kawakami
孝司 川上
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Navitas Co Ltd
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Navitas Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enable TAB test equipment which judges pieces by their images and punches a hole, in an NG piece to punch a hole efficiently in each of NG pieces which are continuous due to flaws, printing failures, etc. <P>SOLUTION: The TAB test equipment is equipped with a transfer means of transferring TAB, an image acquisition means for acquiring each piece of TAB as an image, a judging means for judging whether the piece is good or not on the basis for its image, and a punching means for punching a hole in an NG piece. A viewing station visually judges whether a piece following the NG piece is an NG piece or not when the NG piece that has been judged NG by the judging means is transferred, an NG range input means is provided which inputs information as to a range in which NG pieces continue, and the transfer means transfers the NG piece judged by the judging means to the viewing station. After the information as to an NG range is inputted, the NG pieces present within the inputted range are successively and continuously transferred to a punching position, and the punching means punches a hole continuously in each of the NG pieces which are successively transferred. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、TABの欠陥等を検査するTABの検査装置に関し、物品検査の技術分野に属する。   The present invention relates to a TAB inspection apparatus that inspects TAB defects and the like, and belongs to the technical field of article inspection.

近年、ICチップの小型・薄型のパッケージとして、帯状のフィルムに銅箔等を張り合わせ、フォトエッチング等で回路パターンを形成したTABが開発されている。TABには、多数の回路パターンが一定のピッチで繰り返して形成されており、1チップに対応する回路パターンの領域(以下、パターンの単位を「ピース」という)の断線などの欠陥を検査する装置として、各種のものが提案されている。   In recent years, as a small and thin package of an IC chip, TAB has been developed in which a copper foil or the like is bonded to a belt-like film and a circuit pattern is formed by photoetching or the like. In TAB, a large number of circuit patterns are repeatedly formed at a constant pitch, and an apparatus for inspecting defects such as disconnection in a circuit pattern region corresponding to one chip (hereinafter, the unit of the pattern is referred to as “piece”) Various types have been proposed.

例えば特許文献1に開示された検査装置は、TABを移送する移送手段が備えられ、該移送手段による移送経路上に、TABを照明する光源と、該光源により照明されたTABの画像を取得するCCDカメラとが備えられたものである。この装置において、前記CCDカメラはTABの1ピース毎の画像を取得すると共に、該カメラにより取得された1ピースの画像と予め記憶された基準画像とが対比されることにより当該ピースがOKピース又はNGピースであることが判定され、NGピースであればパンチ装置によりパンチ穴を形成する(以下、単に「パンチする」という)ようになっている。   For example, the inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 includes a transfer unit that transfers TAB, and acquires a light source that illuminates TAB on the transfer path by the transfer unit, and an image of the TAB that is illuminated by the light source. And a CCD camera. In this apparatus, the CCD camera acquires an image for each piece of TAB, and the one piece image acquired by the camera is compared with a reference image stored in advance, so that the piece is an OK piece or It is determined to be an NG piece, and if it is an NG piece, a punch hole is formed by a punching device (hereinafter simply referred to as “punching”).

ところで、前記特許文献1に記載の装置において、NGピースにパンチするときには、NGピースが検出される毎にNGピースをパンチ装置の対応位置(以下、「パンチ位置」という)に移送し、パンチされた後、このNGピースの次のピースが撮像位置に戻されるように移送手段が制御される。このような構成においては、NGピースが連続する場合に、逐一NGピースをパンチ位置と撮像位置とを往復させることになって検査効率が悪い。   By the way, in the apparatus described in Patent Document 1, when punching an NG piece, the NG piece is transferred to a corresponding position of the punching device (hereinafter referred to as “punch position”) and punched each time an NG piece is detected. Thereafter, the transfer means is controlled so that the next piece of the NG piece is returned to the imaging position. In such a configuration, when the NG pieces are continuous, the inspection efficiency is poor because the NG pieces are reciprocated between the punch position and the imaging position one by one.

このような問題に対処するものとして、本出願人による先の出願(特願2005−195824号明細書)に開示された検査装置がある。   In order to deal with such a problem, there is an inspection apparatus disclosed in a previous application (Japanese Patent Application No. 2005-195824) by the present applicant.

この検査装置では、連続してNGピースが検出されたときは検査を継続し、NGピースに後続するOKピースが検出されたときに、1または複数のNGピースをパンチ位置に移送し、これらのNGピースを連続的にパンチするようになっている。このようにOKピースの検出がNGピースをパンチするトリガーとされている場合には、装置の異常等によりOKピースであってもNGピースであると判定される不具合が生じた場合に、NG判定が延々と続いて異常を検知することができない。そのため、このような異常を早期に察知するために、所定回数(例えば5回)NG判定が連続すると装置を一旦停止して作業者に異常を知らせるようになっている。   In this inspection apparatus, when NG pieces are continuously detected, the inspection is continued, and when an OK piece following the NG piece is detected, one or a plurality of NG pieces are transferred to the punch position, and these NG pieces are continuously punched. When the detection of the OK piece is used as a trigger for punching the NG piece as described above, the NG determination is made when there is a problem that the OK piece is determined to be an NG piece due to an abnormality of the apparatus or the like. However, it is impossible to detect anomalies. Therefore, in order to detect such an abnormality early, when the NG determination is continued a predetermined number of times (for example, 5 times), the apparatus is temporarily stopped to notify the operator of the abnormality.

そして、このように停止された状態の装置において、作業者により装置の異常が発見されたときは装置の修理等が行われるのであるが、装置に異常がなく、欠陥等を有するNGピースが所定回数連続していると確認されたときは、これらのNGピースがパンチ位置に移送されて連続的にパンチされた上で、これらのNGピースの後続のピースが撮像位置に位置決めされ、検査が再開されることになる。   And in the apparatus stopped in this way, when an abnormality of the apparatus is discovered by the operator, the apparatus is repaired. However, there is no abnormality in the apparatus, and an NG piece having a defect or the like is predetermined. When it is confirmed that the NG pieces are continuous, the NG pieces are transferred to the punch position and continuously punched, and the subsequent pieces of these NG pieces are positioned at the imaging position, and the inspection is resumed. Will be.

特開2000−182061号公報JP 2000-182061 A

ところで、TABが製造される前工程などにおいて、何らかのトラブルにより複数の連続するピースに亘って傷や印刷不良等が形成される場合がある(例えば長さ80mのTABに対して10mの傷など)。このような場合には、前記所定回数よりも多数のNGピースが連続するため、前記のように所定回数NGピースが連続すると装置が一旦停止するように構成されているものにおいては、所定回数NGピースが検出される毎に装置が一旦停止すると共に、作業者が逐一対応しなければならず、作業効率が悪い。   By the way, in a pre-process for manufacturing a TAB, a scratch or a printing defect may be formed over a plurality of continuous pieces due to some trouble (for example, a scratch of 10 m for a TAB having a length of 80 m). . In such a case, since a larger number of NG pieces continue than the predetermined number of times, the apparatus is configured to stop once when the predetermined number of NG pieces continue as described above. Each time a piece is detected, the apparatus is temporarily stopped, and an operator must deal with it one by one, resulting in poor work efficiency.

そこで、本発明は、TABの各ピースを画像処理により良否判定し、NGピースにパンチ穴を形成するTABの検査装置において、TAB表面の傷や印刷不良等により連続的してNGピースが存在するときに、これらのNGピースに効率良くパンチ穴を形成することを課題とする。   Therefore, the present invention determines whether each piece of TAB is good or bad by image processing, and in a TAB inspection apparatus that forms punch holes in the NG piece, there are NG pieces continuously due to scratches on the TAB surface, printing defects, etc. Sometimes, it is an object to efficiently form punch holes in these NG pieces.

前記課題を解決するため、本発明は次のように構成したことを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention is configured as follows.

まず、本願の請求項1に記載の発明は、多数のピースを一定ピッチで設けてなる帯状のTABをリールから繰り出して所定の移送経路上を移送する移送手段と、該移送手段で移送されているTABの各ピースを画像として取得する画像取得手段と、該取得手段で取得した画像を処理し、予め登録された基準画像と対比することによってピースの良否判定を行う判定手段と、前記移送経路上に設けられてNGピースにパンチ穴を形成するパンチ手段とを有するTABの検査装置であって、前記移送経路上に、前記判定手段により判定されたNGピースが移送され、該NGピースに続くピースがNGピースか否かを作業者の目視により判定する目視ステーションが設けられていると共に、該目視ステーションでの目視判定によりNGピースが連続すると判定されたときに、その連続する範囲の情報を入力するNG範囲入力手段と、前記移送手段を制御する移送制御手段とが備えられ、該移送制御手段は、前記判定手段により判定されたNGピースを目視ステーションに移送し、前記NG範囲入力手段によりNGピースが連続する範囲の情報が入力された後に、入力された範囲のNGピースを前記パンチ手段の対応位置に順次連続的に移送するように前記移送手段を制御すると共に、前記パンチ手段は、前記移送手段により順次移送されてくるNGピースに対して連続的にパンチ穴を形成することを特徴とする。   First, the invention described in claim 1 of the present application is a transfer means that feeds a strip-shaped TAB formed of a large number of pieces at a constant pitch from a reel and transfers it on a predetermined transfer path, and is transferred by the transfer means. An image acquisition means for acquiring each piece of the TAB as an image, a determination means for processing the image acquired by the acquisition means and comparing it with a reference image registered in advance, and the transfer path A TAB inspection apparatus having a punching means provided on the NG piece to form a punch hole in the NG piece, wherein the NG piece determined by the determination means is transferred onto the transfer path and continues to the NG piece A visual station is provided to determine whether or not the piece is an NG piece by visual inspection of the operator, and the NG pieces are continuous by visual judgment at the visual station. NG range input means for inputting information of the continuous range and a transfer control means for controlling the transfer means when it is determined that the transfer control means is determined by the determination means. The NG pieces are transferred to the viewing station, and after the information on the range in which the NG pieces are continuous is input by the NG range input means, the NG pieces in the input range are sequentially and sequentially transferred to the corresponding positions of the punch means. The punching means continuously forms punch holes in the NG pieces sequentially transferred by the transferring means.

また、請求項2に記載の発明は、前記請求項1に記載のTABの検査装置において、前記移送制御手段は、前記判定手段により判定されたNGピースとその後続のピースを目視ステーションに移送するように移送手段を制御すると共に、該目視ステーションに移送されてくるNGピースが連続するときに、そのNGピースの前端及び後端のピースを指示する指示手段が備えられ、前記NG範囲入力手段は、該指示手段により前端及び後端が指示されたNGピースが連続する範囲を取り込むことを特徴とする。   Further, in the invention described in claim 2, in the TAB inspection apparatus according to claim 1, the transfer control means transfers the NG piece determined by the determination means and the subsequent piece to a viewing station. The NG range input means is provided with control means for controlling the transfer means and indicating the front and rear pieces of the NG piece when the NG pieces transferred to the viewing station are continuous. A range in which NG pieces whose front ends and rear ends are instructed by the instruction means is taken in is taken.

そして、請求項3に記載の発明は、前記請求項1に記載のTABの検査装置において、前記NG範囲入力手段は、NGピースが連続するTABの長さ又はピース個数の情報を入力することを特徴とする。   The invention according to claim 3 is the TAB inspection apparatus according to claim 1, wherein the NG range input means inputs information on the length or number of pieces of TAB in which NG pieces are continuous. Features.

まず、請求項1に記載の発明によれば、移送手段により多数のピースを一定のピッチで設けてなる帯状のTABがリールから繰り出されて所定の移送経路上を移送されると共に、画像取得手段により移送中のTABの各ピースの画像が取得され、判定手段によりこの画像と予め登録された基準画像とを対比することにより当該ピースがOKピース又はNGピースであることが判定される。   First, according to the first aspect of the present invention, a strip-shaped TAB comprising a large number of pieces provided at a constant pitch is fed out from a reel and transferred on a predetermined transfer path by the transfer means, and the image acquisition means. Thus, an image of each piece of the TAB being transferred is acquired, and it is determined that the piece is an OK piece or an NG piece by comparing this image with a pre-registered reference image.

前記判定手段によりOKピースと判定されたときは、移送手段によるTABの移送が継続されて後続のピースについて同様の判定が行われるのであるが、NGピースと判定されたときは、NGピースが目視ステーションに移送されるように移送手段が制御され、該目視ステーションにおいて該NGピースに続くピースがNGピースか否かを作業者の目視により判定するようになっている。そして、作業者による目視判定の結果として、NGピースが連続すると判定されたときに、その連続する範囲の情報がNG範囲入力手段により入力され、この後、入力された範囲のNGピースがパンチ手段の対応位置に順次連続的に移送され、移送されてくるNGピースに対してパンチ手段により連続してパンチ穴が形成される。例えば前記目視判定の結果、判定手段により判定されたNGピースから後続のピースに亘って形成された傷や印刷不良等が確認された場合は、これらの傷等に応じたTABの範囲の情報が入力されているので、この範囲内のNGピースに連続的にパンチ穴が形成される。   When it is determined that the OK piece is determined by the determination means, the transfer of the TAB is continued by the transfer means, and the same determination is performed for the subsequent pieces. However, when it is determined as the NG piece, the NG piece is visually checked. The transfer means is controlled so as to be transferred to the station, and whether or not the piece following the NG piece is an NG piece at the viewing station is determined by visual observation of the operator. And as a result of the visual determination by the operator, when it is determined that the NG pieces are continuous, information on the continuous range is input by the NG range input means, and thereafter, the NG pieces in the input range are punched means The punched holes are continuously formed by the punching means for the transferred NG pieces. For example, as a result of the visual determination, if a scratch or a printing defect formed from the NG piece determined by the determination unit to the subsequent piece is confirmed, information on the range of the TAB corresponding to these scratches is obtained. Since it is input, punch holes are continuously formed in the NG pieces within this range.

このように、本発明によれば、画像処理によりNGピースの判定がなされたときに、目視によりNGピースが連続するか否かが確認され、連続的にNGピースが続く場合に、ピースを基準位置とパンチ位置との間を往復させることなく連続的にパンチ手段によりパンチ穴が形成されるので、検査の効率化が実現される。   As described above, according to the present invention, when an NG piece is determined by image processing, whether or not the NG piece continues is confirmed by visual observation. Since punch holes are continuously formed by the punch means without reciprocating between the position and the punch position, the efficiency of inspection is realized.

また、請求項2に記載の発明によれば、前記移送制御手段は、前記判定手段により判定されたNGピース及びその後続のピースを目視ステーションに移送すると共に、該目視ステーションに移送されてくるNGピースが連続するときに、指示手段によりそのNGピースの前端及び後端のピースが指示される。そして、NG範囲入力手段は該指示手段により前端及び後端が指示されたNGピースが連続する範囲を取り込むようになっている。   According to a second aspect of the present invention, the transfer control means transfers the NG piece determined by the determination means and the subsequent piece to the viewing station and NG transferred to the viewing station. When the pieces are continuous, the front and rear pieces of the NG piece are indicated by the indicating means. The NG range input means takes in a range in which NG pieces whose front end and rear end are instructed by the instruction means are continuous.

例えば複数のピースに亘って傷や印刷不良等が形成されている場合には、指示手段によりNGピースの前端が指示された後、作業者は目視ステーションで移送されるTAB表面の定点観察を行い、傷等が確認されなくなれば指示手段によりNGピースの後端が指示される。この結果、傷等の存在する範囲内にあるNGピースが特定され、これらのNGピースがパンチ手段の対応位置に順次連続的に移送されると共に、順次移送されてくるNGピースにパンチ手段により連続的にパンチ穴が形成されるので、検査の効率化が図られる。   For example, when scratches, printing defects, etc. are formed across multiple pieces, after the front end of the NG piece is instructed by the instruction means, the operator performs fixed point observation of the TAB surface transferred by the visual station. If the scratch or the like is not confirmed, the rear end of the NG piece is instructed by the instruction means. As a result, NG pieces within a range where scratches and the like exist are specified, and these NG pieces are successively transferred to the corresponding positions of the punch means in succession, and are successively transferred to the sequentially transferred NG pieces by the punch means. Since punch holes are formed, inspection efficiency can be improved.

そして、請求項3に記載の発明によれば、前記NG範囲入力手段は、NGピースが連続するTABの長さ又はピース個数の情報を入力するようになっている。例えば複数のピースに亘って傷等が形成されている場合には、判定手段により判定されたNGピースが目視ステーションに移送された後に、作業者がNGピース及びその後続のピースについて目視判定を行い、傷等に応じたTABの長さ又はピース個数を入力するようになっている。   According to a third aspect of the present invention, the NG range input means inputs information on the length or number of pieces of TABs in which NG pieces are continuous. For example, when scratches or the like are formed over a plurality of pieces, the operator performs a visual determination on the NG piece and its subsequent pieces after the NG piece determined by the determination means is transferred to the visual station. The length of the TAB or the number of pieces corresponding to the scratch or the like is input.

そして、このTABの長さ又はピース個数の範囲に含まれるNGピースがパンチ手段の対応位置に順次連続的に移送されると共に、移送されてくるNGピースにパンチ手段により連続的にパンチ穴が形成されるので、検査の効率化が図られる。   Then, the NG pieces included in the range of the TAB length or the number of pieces are successively transferred sequentially to the corresponding positions of the punch means, and punch holes are continuously formed in the transferred NG pieces by the punch means. As a result, the inspection efficiency is improved.

以下、本発明の第1の実施の形態について説明する。   Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described.

図1に示す本実施の形態に係るTABの検査装置1は、図2に示すような帯状のTABの各ピースX…Xの良否判定を行うものである。TABは、幅方向両端に沿って一定のピッチでパーフォレーションP…Pが設けられた帯状のフィルムテープTに、1チップごとに回路パターン(以下、パターンの単位を「ピースX」という)が一定のピッチで繰り返して設けられたものである。   A TAB inspection apparatus 1 according to the present embodiment shown in FIG. 1 performs pass / fail judgment of each piece X... X of a strip-shaped TAB as shown in FIG. TAB has a constant circuit pattern (hereinafter referred to as “piece X”) for each chip on a strip-shaped film tape T provided with perforations P... P at a constant pitch along both ends in the width direction. It is provided repeatedly at a pitch.

図1に示すように、前記検査装置1は、機枠2と、該機枠2に設けられて前記TABを巻き出す巻出リール10と、該巻出リール10から繰り出されたTABを案内するガイドローラ11,11と、TABの蛇行防止のために備えられてTABのパーフォレーションP…Pに係合する複数のスプロケットホイール12a〜12eと、回転駆動してTABを移送させる第1〜第3駆動ローラ13a〜13cと、TABを巻き取る巻取リール14とを有している。   As shown in FIG. 1, the inspection apparatus 1 guides a machine casing 2, an unwinding reel 10 provided on the machine casing 2 for unwinding the TAB, and a TAB fed out from the unwinding reel 10. Guide rollers 11, 11, a plurality of sprocket wheels 12 a to 12 e that are provided to prevent meandering of the TAB and engage with the perforations P... P of the TAB, and first to third drives that rotate and transfer the TAB. It has rollers 13a to 13c and a take-up reel 14 for winding TAB.

また、TABの移送経路に沿って、TAB表面の静電気を取り除く除電機15と、エア吸引作用によりTAB表面の塵埃を取り除く除塵装置16と、TAB表面の金属異物を取り除く磁性粉除去磁石17と、TAB表面に接触して異物を取り除く粘着ロール18と、TABの各ピースXの下流側のエッジを検出する光電センサ19と、TABの幅方向の直線画像を連続的に取得する第1、第2ラインセンサ20,21と、TABを斜め上方から照明する第1投光機22と、TABを裏面から照明する第2投光機23と、作業者がTAB表面の拡大画像を目視するための顕微鏡24と、TABにパンチ穴を形成するパンチ装置25と、TAB表面に接触して表面のごみを取り除くごみ取りロール26とが備えられている。また、機枠2の上部には、前記第1、第2ラインセンサ20,21により取得した画像等の表示を行う第1、第2検査用モニタ27,28が備えられている。   Further, along the TAB transfer path, a static eliminating machine 15 that removes static electricity on the TAB surface, a dust removing device 16 that removes dust on the TAB surface by air suction action, a magnetic powder removing magnet 17 that removes metallic foreign matter on the TAB surface, An adhesive roll 18 that contacts the surface of the TAB and removes foreign matter, a photoelectric sensor 19 that detects the downstream edge of each piece X of the TAB, and a first and second that continuously acquire a linear image in the width direction of the TAB. Line sensors 20, 21, a first projector 22 that illuminates the TAB obliquely from above, a second projector 23 that illuminates the TAB from the back surface, and a microscope for the operator to view an enlarged image of the TAB surface 24, a punching device 25 for forming punch holes in the TAB, and a dust removing roll 26 that contacts the TAB surface and removes dust on the surface. In addition, first and second inspection monitors 27 and 28 for displaying images and the like acquired by the first and second line sensors 20 and 21 are provided above the machine casing 2.

一方、巻出リール10には、TABと保護シートSとが重ねられた状態で巻き掛けられており、該巻出リール10からTABが繰り出されると同時に保護シートSが分離するようになっている。そして、分離した保護シートSを案内する複数のガイドローラ29a〜29dと、中央のガイドローラ29b,29cの間に設けられて自重により保護シートSのテンションを適正化するダンサローラ30とが設けられ、これらに案内された保護シートSは、巻取リール10によりTABが巻き取られる際に同時に巻き取られ、巻取リール14においてはTABと保護シートSとが重ねられた状態となる。   On the other hand, the TAB and the protective sheet S are wound around the unwinding reel 10, and the protective sheet S is separated at the same time when the TAB is unwound from the unwinding reel 10. . A plurality of guide rollers 29a to 29d for guiding the separated protective sheet S and a dancer roller 30 provided between the central guide rollers 29b and 29c for optimizing the tension of the protective sheet S by its own weight are provided. The protective sheet S guided by these is simultaneously wound when the TAB is taken up by the take-up reel 10, and the TAB and the protective sheet S are stacked on the take-up reel 14.

さらに、前記顕微鏡24とパンチ装置25との間に備えられたスプロケットホイール12dは、該ホイール12dの回転量の情報に基いて、TABの移送距離及び移送速度の情報を取得するエンコーダ12d′(図3参照)に連絡されている。そして、第1〜第3駆動ローラ13a〜13cのうちの上流側の第1駆動ローラ13aは、前記エンコーダ12d′で取得した移送速度の情報に基いて回転数のフィードバック制御を行うようになっている。また、第1駆動ローラ13aの下流側の第2、第3駆動ローラ13b,13cは、TABのテンションを適正化する回転数に設定されている。   Further, the sprocket wheel 12d provided between the microscope 24 and the punching device 25 is an encoder 12d ′ (see FIG. 5) that acquires information on the transfer distance and transfer speed of the TAB based on the information on the rotation amount of the wheel 12d. 3). The first driving roller 13a on the upstream side among the first to third driving rollers 13a to 13c performs feedback control of the rotational speed based on the information on the transfer speed acquired by the encoder 12d '. Yes. Further, the second and third drive rollers 13b and 13c on the downstream side of the first drive roller 13a are set to a rotation speed that optimizes the TAB tension.

そして、第1〜第3駆動ローラ13a〜13cの上方には、TABを上方から押圧する押付けローラ13a′〜13c′が備えられている。なお、押付けローラ13a′〜13c′は、TABのパーフォレーションP…Pが設けられた幅方向両端部を押圧するようになっており、TABのテンションを適正化するために作用する。   Pressing rollers 13a 'to 13c' for pressing the TAB from above are provided above the first to third driving rollers 13a to 13c. The pressing rollers 13a 'to 13c' are configured to press both ends in the width direction where the TAB perforations P ... P are provided, and act to optimize the TAB tension.

一方、図3に示すように、この検査装置1には、互いに信号の授受を行う搬送用コントローラ100と画像用コントローラ110とが備えられている。搬送用コントローラ100は、前記エンコーダ12d′、光電センサ19、及び作業者がデータ等を入力するキーボード101、タッチパネル102等からの信号を入力し、第1〜第3駆動ローラ13a〜13c、及びパンチ装置25などに制御信号を出力するようになっている。また、前記画像用コントローラ110は、前記エンコーダ12d′、第1、第2ラインセンサ20,21等からの信号を入力し、第1、第2検査用モニタ27,28などに制御信号を出力するようになっている。   On the other hand, as shown in FIG. 3, the inspection apparatus 1 includes a transport controller 100 and an image controller 110 that exchange signals with each other. The transport controller 100 inputs signals from the encoder 12d ′, the photoelectric sensor 19, and the keyboard 101, the touch panel 102, etc., on which an operator inputs data, the first to third drive rollers 13a to 13c, and the punch A control signal is output to the device 25 or the like. The image controller 110 receives signals from the encoder 12d ', the first and second line sensors 20, 21 and the like, and outputs control signals to the first and second inspection monitors 27 and 28, etc. It is like that.

前記第1投光機22は、移送中のTABの斜め上方から光の照射を行うように配置され、第1ラインセンサ20は、該第1投光機22の照明によるTABの反射光を連続的に検出するようになっている。また、前記第2投光機23は、移送中のTABの下方から光の照射を行うように配置され、第2ラインセンサ21は、該第2投光機23の照明によるTABの透過光を連続的に検出するようになっている。そして、前記画像用コントローラ110は、第1、第2ラインセンサ20,21から取得したTABの幅方向の直線画像を組み合わせて1ピースの画像を作成する。   The first projector 22 is arranged to irradiate light from obliquely above the TAB being transferred, and the first line sensor 20 continuously reflects the reflected light of the TAB by the illumination of the first projector 22. To detect automatically. The second projector 23 is arranged so as to irradiate light from below the TAB being transferred, and the second line sensor 21 transmits the transmitted light of the TAB by the illumination of the second projector 23. It is designed to detect continuously. The image controller 110 combines the TAB width direction linear images acquired from the first and second line sensors 20 and 21 to create a one-piece image.

さらに、前記画像用コントローラ110に内蔵されたメモリ100aには、ピースXの基準画像が格納されており、この基準画像と第1、第2ラインセンサ20,21により取得した1ピースの画像とを対比することにより、各ピースXの欠陥等の存在(以下、「NG」という)又は欠陥等の非存在(以下、「OK」という)が判定される。   Further, a reference image of piece X is stored in the memory 100a built in the image controller 110, and the reference image and the one piece image acquired by the first and second line sensors 20, 21 are stored. By comparison, the existence of defects (hereinafter referred to as “NG”) or non-existence (hereinafter referred to as “OK”) of each piece X is determined.

一方、判定結果は、移送用コントローラ100に入力され、これに応じてTABの移送制御が行われる。第1、第2ラインセンサ20,21で取得した1ピースの画像が、共にOK判定されたときは、当該ピースXについての検査は終了されて後続のピースXの検査が開始されるが、いずれか一方又は両方がNG判定されたピースXは、前記顕微鏡24の対応位置(以下、「顕微鏡位置」という)又は前記パンチ装置25の対応位置(以下、「パンチ位置」いう)に移送され、後続のピースXについての検査が一旦中断される。   On the other hand, the determination result is input to the transfer controller 100, and the transfer control of the TAB is performed accordingly. When both pieces of images acquired by the first and second line sensors 20 and 21 are determined to be OK, the inspection for the piece X is finished and the inspection of the subsequent piece X is started. The piece X for which one or both of them are determined to be NG is transferred to a corresponding position of the microscope 24 (hereinafter referred to as “microscope position”) or a corresponding position of the punch device 25 (hereinafter referred to as “punch position”). The inspection for the piece X is temporarily interrupted.

また、検査開始時には、前記光電センサ19はフィルムテープTに設けられた先頭のピースXの下流側のエッジを検出する。そして、このピースXが光電センサ19により検知された位置から所定距離上流側の基準位置に移送され、TABの初期位置の設定が完了する。また、作業者は、予めTABの各ピースXのピッチ等の情報を前記タッチパネル102により入力し、これらの情報に基いて、基準位置から前記第1、第2ラインセンサ20,21までの距離、基準位置から顕微鏡位置までの距離、基準位置からパンチ位置までの距離等が演算される。そして、前記エンコーダ12d′による移送距離の情報に基いて、第1、第2ラインセンサ20,21による画像取得開始のタイミング、画像取得終了のタイミング、パンチ装置25によるパンチのタイミングなどが計算される。   At the start of inspection, the photoelectric sensor 19 detects the downstream edge of the leading piece X provided on the film tape T. Then, the piece X is transferred from the position detected by the photoelectric sensor 19 to the reference position upstream by a predetermined distance, and the setting of the initial TAB position is completed. Also, the operator inputs information such as the pitch of each piece X of the TAB in advance through the touch panel 102, and based on these information, the distance from the reference position to the first and second line sensors 20, 21; A distance from the reference position to the microscope position, a distance from the reference position to the punch position, and the like are calculated. Based on the transfer distance information obtained by the encoder 12d ′, the image acquisition start timing by the first and second line sensors 20 and 21, the image acquisition end timing, the punch timing by the punch device 25, and the like are calculated. .

ところで、検査開始時には、NG判定されたピースXの扱いについて、図4に示すように、タッチパネル102のモード選択画面で「顕微鏡モード」と「パンチモード」とが選択可能となっている。   By the way, at the start of inspection, regarding the handling of the piece X determined to be NG, as shown in FIG. 4, “microscope mode” and “punch mode” can be selected on the mode selection screen of the touch panel 102.

ここで、作業者により顕微鏡モードが選択されたときの制御について図5のフローチャートを用いて説明する。   Here, the control when the microscope mode is selected by the operator will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、ステップS1でNをゼロに初期化し、ステップS2で、TABを所定速度で連続的に移送する。そして、ステップS3で、画像取得のタイミングか否かを判定し、画像取得のタイミングになればステップS4に進み、第1、第2ラインセンサ20,21によりそれぞれ1つのピースの画像を取得する
次に、ステップS5で、N≠0か否かを判定し、N=0のときは、ステップS6に進み、当該ピースについての良否判定を行う。このとき、前記ステップS4で取得した画像と基準画像とを対比し、これらの画像が略同様であってOK判定がなされた場合は、ステップS2に戻って次のピースについて同様に判定が行われる。また、ステップS6で、取得した画像と基準画像とに差異が認められてNG判定がなされた場合は、ステップS7に進み、NにN+1を代入してステップS2に戻る。
First, N is initialized to zero in step S1, and TAB is continuously transferred at a predetermined speed in step S2. In step S3, it is determined whether or not it is an image acquisition timing. If the image acquisition timing is reached, the process proceeds to step S4, and an image of one piece is acquired by each of the first and second line sensors 20 and 21. Next In step S5, it is determined whether N ≠ 0. If N = 0, the process proceeds to step S6 to determine whether the piece is good or bad. At this time, the image acquired in step S4 is compared with the reference image, and when these images are substantially the same and an OK determination is made, the process returns to step S2 and the determination is performed in the same manner for the next piece. . If a difference between the acquired image and the reference image is recognized in step S6 and an NG determination is made, the process proceeds to step S7, N + 1 is substituted for N, and the process returns to step S2.

一方、ステップS5でN≠0のとき、即ち既に一回以上NGピースが検出されている状態では、ステップS8に進み、前記ステップS6と同様のピースの良否判定を行う。ここでOK判定されたときは、後述の第1NG処理を実行し、NG判定されたときは、ステップS9に進み、NにN+1を代入してステップS10に進む。ステップS10では、N=5か否かの判定を行い、N≠5のとき、つまり1〜4回連続してNG判定された状態のときはステップS2に戻り、N=5のとき、つまり5回連続してNG判定されているときはステップS11に進み、後述の第2NG処理を実行する。   On the other hand, when N ≠ 0 in step S5, that is, in a state where an NG piece has already been detected once or more, the process proceeds to step S8, and the quality of the piece is determined as in step S6. If an OK determination is made here, a first NG process described later is executed. If an NG determination is made, the process proceeds to step S9, N + 1 is substituted for N, and the process proceeds to step S10. In step S10, it is determined whether or not N = 5. When N ≠ 5, that is, when the NG determination is continuously performed 1 to 4 times, the process returns to step S2, and when N = 5, that is, 5 When it is determined that the NG determination has been repeated twice, the process proceeds to step S11, and a second NG process described later is executed.

図6に示すように、前記第1NG処理は、ステップS21でTABの送りを一時停止させた後、ステップS22で、NGピースを顕微鏡位置に高速位置決めする。ここで、NGピースが複数あるときは、最下流のNGピースを顕微鏡位置に位置決めする。そして、ステップS23でiに1を代入する。   As shown in FIG. 6, in the first NG process, after the TAB feed is temporarily stopped in step S21, the NG piece is positioned at a microscope position at a high speed in step S22. Here, when there are a plurality of NG pieces, the most downstream NG piece is positioned at the microscope position. In step S23, 1 is substituted for i.

このとき、図7に示すようにタッチパネル102には「OK」、「NG」、「次ピース」、「停止」の選択が可能な顕微鏡チェック画面が表示されている。ステップS24で、顕微鏡位置にあるNGピースが作業者により目視判定されると共に、タッチパネル102のOK又はNGの押操作により検査結果が入力される。そして、ステップS25でi=Nか否かについて判定を行う。この判定でi≠Nと判定されたときは、ステップS26で、作業者により「次ピース」の押操作がなされると、1ピース分TABを送ると共に、ステップS27でiにi+1を代入した上で、ステップS24に戻り、後続のNGピースについて作業者の目視による同様の判定を行う。   At this time, as shown in FIG. 7, the touch panel 102 displays a microscope check screen on which “OK”, “NG”, “next piece”, and “stop” can be selected. In step S24, the operator visually determines the NG piece at the microscope position, and inputs an inspection result by pressing OK or NG on the touch panel 102. In step S25, it is determined whether i = N. If it is determined in this determination that i.noteq.N, when the operator presses the "next piece" in step S26, TAB is sent for one piece and i + 1 is substituted for i in step S27. Then, the process returns to step S24, and the same determination is made on the subsequent NG piece by visual observation of the operator.

また、ステップS25でi=Nと判定されたときは、ステップS28に進み、再開方法を選択する。このときタッチパネル102には、図8に示すような、3通りの再開方法が表示され、作業者が操作することにより選択可能となっている。   If it is determined in step S25 that i = N, the process proceeds to step S28 to select a restart method. At this time, the touch panel 102 displays three types of restart methods as shown in FIG. 8 and can be selected by the operator.

そして、ステップS28で、再検査即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースより検査再開(NGピースを再検査)」が選択されたときは、ステップS29でNGピースを基準位置に高速位置決めし、図5のフローチャートのステップS2に戻る。   In step S28, when “Resume inspection from NG piece (NG piece re-inspection)” is selected in the re-inspection, that is, the restart method selection screen of the touch panel 102, the NG piece is positioned at the reference position at a high speed in step S29. Returning to step S2 of the flowchart of FIG.

この再検査が選択されたときのTABの送り動作を図9を用いて説明する。ここでは、NGピースが2回連続で検出された後、OKピースが検出されたときを例に説明する。なお、この図において、未判定のピースには斜線を施している。   The TAB feed operation when this re-examination is selected will be described with reference to FIG. Here, a case where an OK piece is detected after an NG piece has been detected twice in succession will be described as an example. In this figure, undetermined pieces are shaded.

まず、図9(a)に示すように、各ピースX1〜X3がラインセンサ20,21を通過すると、図9(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図9(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1,X2の目視判定を順次行った結果、再度画像処理による良否判定を行いたいとのことで、作業者によりタッチパネル102で再検査が選択されると、図9(d)に示すように、ピースX1を基準位置に高速で移動させて、ピースX1〜X3の再検査を実行する。   First, as shown in FIG. 9A, when each piece X1 to X3 passes the line sensors 20 and 21, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at a high speed as shown in FIG. 9B. Let Then, as shown in FIG. 9C, as a result of sequentially performing the visual determination of the pieces X1 and X2 with the microscope 24, the operator wants to perform the pass / fail determination again by the image processing. When is selected, as shown in FIG. 9D, the piece X1 is moved to the reference position at a high speed, and the pieces X1 to X3 are re-inspected.

また、ステップS28で、パンチ実行即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースをパンチし、次のピースから検査再開」が選択された場合は、ステップS30でNGピースをパンチ位置に高速で位置決めする。そして、ステップS31でNGピースにパンチし、ステップS32でOKピースを基準位置に高速位置決めする。なお、複数のNGピースが検出されている場合は、下流側のNGピースをパンチ位置に位置決めし、このNGピースにパンチした後1ピース分TABを送って次のNGピースをパンチするように制御する。   In step S28, if “punch NG piece and resume inspection from next piece” is selected on the restart method selection screen on touch panel 102, the NG piece is positioned at the punch position at high speed in step S30. To do. In step S31, the NG piece is punched, and in step S32, the OK piece is positioned at the reference position at a high speed. When a plurality of NG pieces are detected, the NG piece on the downstream side is positioned at the punch position, and after punching on this NG piece, a TAB is sent for one piece and the next NG piece is punched. To do.

このパンチ実行が選択されたときのTABの送り動作を図10を用いて説明する。このときも、NGピースが2回連続で検出された後、OKピースが検出されたときを例に説明する。   The TAB feed operation when this punch execution is selected will be described with reference to FIG. In this case as well, a case where an OK piece is detected after two consecutive NG pieces are detected will be described as an example.

まず、図10(a)に示すように、各ピースX1〜X3がラインセンサ20,21を通過すると、図10(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図10(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1,X2の目視判定を順次行った結果、ピースX1,X2が確かにNGであると判定されて作業者によりタッチパネル102でパンチ実行が選択されると、図10(d)に示すように、ピースX1をパンチ位置に高速で移動させ、ピースX1,X2にパンチした後、図10(e)に示すように、OKピースX3を基準位置に高速位置決めする。   First, as shown in FIG. 10 (a), when each piece X1 to X3 passes through the line sensors 20, 21, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at a high speed as shown in FIG. 10 (b). Let Then, as shown in FIG. 10 (c), the pieces X1 and X2 are sequentially visually determined by the microscope 24. As a result, it is determined that the pieces X1 and X2 are certainly NG, and the operator performs punching on the touch panel 102. 10 (d), the piece X1 is moved to the punch position at a high speed and punched into the pieces X1 and X2, and then the OK piece X3 is moved as shown in FIG. 10 (e). Position at high speed at the reference position.

さらに、ステップS28で、パンチせず即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースをパンチせず、OKピースから検査再開」が選択された場合は、ステップS33でOKピースを基準位置に高速位置決めする。   Furthermore, when “no punching and restart inspection from OK piece without punching NG piece” is selected on the restart method selection screen of touch panel 102 in step S28, the OK piece is quickly positioned at the reference position in step S33. To do.

このパンチせずが選択されたときのTABの送り動作を図11を用いて説明する。このときも、NGピースが2回連続で検出された後、OKピースが検出されたときを例に説明する。   The TAB feed operation when this punching is selected will be described with reference to FIG. In this case as well, a case where an OK piece is detected after two consecutive NG pieces are detected will be described as an example.

まず、図11(a)に示すように、各ピースX1〜X3がラインセンサ20,21を通過すると、図11(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図11(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1,X2の目視判定を順次行った結果、ピースX1,X2がOKであると判断されて作業者によりタッチパネル102でパンチせずが選択されると、図11(d)に示すように、これらのピースX1,X2にはパンチせずにOKピースX3を基準位置に高速位置決めする。   First, as shown in FIG. 11 (a), when each piece X1 to X3 passes the line sensors 20 and 21, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at a high speed as shown in FIG. 11 (b). Let Then, as shown in FIG. 11C, as a result of sequentially performing the visual determination of the pieces X1 and X2 with the microscope 24, it is determined that the pieces X1 and X2 are OK, and the operator does not punch on the touch panel 102. When selected, as shown in FIG. 11D, the OK piece X3 is positioned at a high speed at the reference position without punching these pieces X1 and X2.

次に、前記第2NG処理について説明すると、図12のフローチャートに示すように、ステップS41でTAB送りを一時停止させ、ステップS42でNGピースを顕微鏡位置に位置決めする。そして、ステップS32でこのNGピースについての目視判定の結果OK/NGを図7に示した表示画面のタッチパネル102の操作により入力し、「次ピース」の押操作によりステップS44で1ピース分TABを送る。このとき前記NGピースの次のピースが顕微鏡位置に位置決めされる。そして、ステップS45で、作業者によるタッチパネル102の「停止」の押操作に応じて停止信号が入力されたか否かについて判定が行われ、停止信号が入力されていないときはステップS43に戻って同様の検査を行い、停止信号が入力されたときは、ステップS46に進んで再開方法を選択する。   Next, the second NG process will be described. As shown in the flowchart of FIG. 12, the TAB feed is temporarily stopped in step S41, and the NG piece is positioned at the microscope position in step S42. Then, in step S32, OK / NG as a result of the visual determination for this NG piece is inputted by operating the touch panel 102 of the display screen shown in FIG. 7, and the TAB for one piece is obtained in step S44 by pressing the “next piece”. send. At this time, the next piece of the NG piece is positioned at the microscope position. In step S45, it is determined whether or not a stop signal has been input in response to the operator pressing the “stop” button on the touch panel 102. If no stop signal has been input, the process returns to step S43 and the same. When a stop signal is input, the process proceeds to step S46 to select a restart method.

そして、ステップS46で、再検査即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースより検査再開(NGピースを再検査)」が選択されたときは、ステップS47でNGピースを基準位置に高速位置決めし、図5のフローチャートのステップS2に戻る。   In step S46, when “Resume inspection from NG piece (NG piece re-inspection)” is selected on the re-inspection, that is, the restart method selection screen of touch panel 102, the NG piece is positioned at the reference position at a high speed in step S47. Returning to step S2 of the flowchart of FIG.

この再検査が選択されたときのTABの送り動作を図13を用いて説明する。まず、図13(a)に示すように、各ピースX1〜X5がラインセンサ20,21を通過すると、図13(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図13(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1〜X5の目視判定を順次行った結果、もう一度画像処理による良否判定を行いたいとのことで、顕微鏡チェック画面で「停止」が押操作されると共に、再開方法選択画面でで再検査が選択されると、図13(d)に示すように、ピースX1を基準位置に高速で移動させて、ピースX1〜X5の再検査を実行する。なお、この例ではピースX1〜X5の目視判定を行った時点で停止信号が入力されているが、4個以内、或いは6個以上のNGピースを目視判定した上で、ピースX1〜X5の再検査を行うようにしてもよい。   The TAB feed operation when this re-examination is selected will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 13A, when the pieces X1 to X5 pass through the line sensors 20 and 21, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at a high speed as shown in FIG. 13B. Let And as shown in FIG.13 (c), as a result of carrying out the visual determination of piece X1-X5 sequentially with the microscope 24, it is said that it would like to perform the quality determination by image processing again, and "stop" is displayed on a microscope check screen. When the re-examination is selected on the restart method selection screen as shown in FIG. 13 (d), the piece X1 is moved to the reference position at a high speed and the pieces X1 to X5 are re-inspected. Execute. In this example, the stop signal is input at the time when the pieces X1 to X5 are visually determined. However, the pieces X1 to X5 are re-established after visually determining four or six or more NG pieces. An inspection may be performed.

また、ステップS46で、パンチ実行即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースをパンチし、次のピースから検査再開」が選択された場合は、ステップS48でNGピースをパンチ位置に高速で位置決めする。そして、ステップS49でNGピースにパンチし、ステップS50でNGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。なお、複数のNGピースをパンチするときには、下流側のNGピースをパンチ位置に位置決めし、このNGピースにパンチした後1ピース分TABを送って次のNGピースをパンチするようにして、複数のNGピースを連続的にパンチする。   In step S46, if “punch NG piece and resume inspection from next piece” is selected on the restart method selection screen on touch panel 102, the NG piece is positioned at the punch position at high speed in step S48. To do. In step S49, the NG piece is punched, and in step S50, the piece subsequent to the NG piece is positioned at a high speed at the reference position. When punching a plurality of NG pieces, the NG piece on the downstream side is positioned at the punch position, and after punching into this NG piece, one piece of TAB is sent to punch the next NG piece. Punch NG pieces continuously.

このパンチ実行が選択されたときのTABの送り動作を図14を用いて説明する。まず、図14(a)に示すように、各ピースX1〜X5がラインセンサ20,21を通過すると、図14(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図14(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1〜X5の目視判定を順次行った結果、複数のピースに亘る傷dが発見され、ピースX5の上流側においてもNGピースが存在することが予想されたので、「次ピース」を押操作して目視判定を継続する。そして、ピースX6で傷dの終端が確認され、ピースX7では傷dは存在しないことが確認されたので「停止」が押操作される。そして、作業者によりタッチパネル102でパンチ実行が選択されると、図14(d)に示すように、ピースX1をパンチ位置に高速で移動させ、ピースX1〜X6にパンチした後、図14(e)に示すように、ピースX7を基準位置に高速位置決めする。   The TAB feed operation when this punch execution is selected will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 14A, when each piece X1 to X5 passes through the line sensors 20, 21, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at a high speed as shown in FIG. 14B. Let And as shown in FIG.14 (c), as a result of carrying out the visual determination of piece X1-X5 sequentially with the microscope 24, the crack d over several pieces was discovered and the NG piece exists also in the upstream of piece X5. Since it was predicted that the “next piece” is pressed, the visual determination is continued. Then, since the end of the scratch d is confirmed in the piece X6 and it is confirmed that the scratch d does not exist in the piece X7, “Stop” is pressed. Then, when punching is selected by the operator on the touch panel 102, as shown in FIG. 14D, the piece X1 is moved to the punch position at a high speed and punched into the pieces X1 to X6. ), The piece X7 is positioned at a high speed at the reference position.

さらに、ステップS46で、パンチせず即ちタッチパネル102の再開方法選択画面で「NGピースをパンチせず、OKピースから検査再開」が選択された場合は、ステップS33でOKピースを基準位置に高速位置決めする。   Furthermore, if “no punching and restart inspection from OK piece without punching NG piece” is selected on the restart method selection screen of touch panel 102 in step S46, the OK piece is quickly positioned at the reference position in step S33. To do.

このパンチせずが選択されたときのTABの送り動作を図15を用いて説明すると、まず、図15(a)に示すように、各ピースX1〜X5がラインセンサ20,21を通過すると、図15(b)に示すように、下流側のNGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図15(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1〜X5の目視判定を順次行った結果、ピースX1〜X5がOKであると判断されて作業者によりタッチパネル102の再開方法選択画面でパンチせずが選択されると、図15(d)に示すように、これらのピースX1〜X5にはパンチせずに、後続のピースX6を基準位置に高速位置決めする。   The TAB feeding operation when the punching is selected will be described with reference to FIG. 15. First, as shown in FIG. 15A, when each piece X1 to X5 passes through the line sensors 20, 21, As shown in FIG. 15B, the NG piece X1 on the downstream side is moved to the microscope position at high speed. And as shown in FIG.15 (c), as a result of carrying out the visual determination of piece X1-X5 sequentially with the microscope 24, it is judged that piece X1-X5 is OK and the restart method selection screen of the touch panel 102 by an operator is shown. When not punching is selected, as shown in FIG. 15D, these pieces X1 to X5 are not punched and the subsequent piece X6 is positioned at the reference position at a high speed.

次に、作業者によりパンチモードが選択された場合の処理について図16のフローチャートを用いて説明する。なお、このフローチャートにおけるステップSS61〜S68、S70、S71は、図5のフローチャートのステップS1〜S8、S10、S11と同様であるため、説明を省略する。   Next, processing when the punch mode is selected by the operator will be described with reference to the flowchart of FIG. Note that steps SS61 to S68, S70, and S71 in this flowchart are the same as steps S1 to S8, S10, and S11 in the flowchart of FIG.

図16のフローチャートにおいて、ステップS68でOKピースであると判定されたときは、ステップS69に進み、図17のフローチャートに示すパンチ処理を行う。このパンチ処理は、ステップS81でTABの送りを一時停止させ、ステップS82でNGピースをパンチ位置に高速で位置決めする。そして、ステップS83でjに1を代入し、ステップS84でNGピースにパンチを実行する。次に、ステップS85でj=Nか否かの判定を行い、j=Nのときは、ステップS86で1ピース分TABを送り、ステップS87でjにj+1を代入して、ステップS84に戻り、次のNGピースをパンチする。   In the flowchart of FIG. 16, when it is determined in step S68 that the piece is an OK piece, the process proceeds to step S69, and the punching process shown in the flowchart of FIG. 17 is performed. In this punching process, the TAB feed is temporarily stopped in step S81, and the NG piece is positioned at the punch position at a high speed in step S82. In step S83, 1 is substituted for j, and in step S84, the NG piece is punched. Next, in step S85, it is determined whether j = N. If j = N, one piece of TAB is sent in step S86, j + 1 is substituted for j in step S87, and the process returns to step S84. Punch the next NG piece.

また、ステップS71でN=5であると判定されたときは、ステップS72に進み、第3NG処理を行う。この第3NG処理は、図18のフローチャートに従って行われるが、各ステップS91〜S101は、図12に示した第2NG処理の各ステップS41〜S51と同様の処理であるため、説明を省略する。なお、この第3NG処理においては、ステップS96で再検査が選択されて、ステップS97でNGピースを基準位置に高速で位置決めした後に、図16のフローチャートのステップS62に戻るようになっている。   If it is determined in step S71 that N = 5, the process proceeds to step S72 to perform the third NG process. The third NG process is performed according to the flowchart of FIG. 18, but steps S91 to S101 are the same processes as steps S41 to S51 of the second NG process shown in FIG. In the third NG process, re-inspection is selected in step S96, and after the NG piece is positioned at the reference position at a high speed in step S97, the process returns to step S62 in the flowchart of FIG.

このように、NGピースが5回連続して検出されたときは、顕微鏡モード、パンチモードに拘らず、同様の制御を行うようになっている。   Thus, when NG pieces are detected five times in succession, the same control is performed regardless of the microscope mode or the punch mode.

以上のように、多数のピースを一定のピッチで設けてなる帯状のTABが巻出リール10から繰り出されて移送されると共に、ラインセンサ20,21により移送中のTABの各ピースXの画像が取得され、画像用コントローラ110でこの画像と予め登録された基準画像とを比較することにより当該ピースXがOKピース又はNGピースであることが判定される。   As described above, a strip-shaped TAB having a large number of pieces arranged at a constant pitch is unwound from the unwinding reel 10 and transferred, and the line sensors 20 and 21 display an image of each piece X of the TAB being transferred. It is determined that the piece X is an OK piece or an NG piece by comparing this image with a reference image registered in advance by the image controller 110.

前記画像用コントローラ110によりOKピースと判定されたときは、TABの移送が継続されて後続のピースについて同様の判定が行われるのであるが、NGピースと判定されたときは、NGピースが顕微鏡位置に移送され、このNGピース及び後続のピースについて作業者の目視によりOK又はNGの判定が行われる。そして、作業者による目視判定の結果がタッチパネル102の操作により入力され、NGピースがパンチ位置に移送される。ここでの目視判定の結果、前記NGピースから後続のピースに亘って形成された傷や印刷不良等が確認された場合は、これらが確認されなくなるまで順次ピースの検査を継続し、ここで確認されたNGピースが連続的にパンチされる。   When the image controller 110 determines that it is an OK piece, the transfer of the TAB is continued and the same determination is performed for the subsequent pieces. However, when it is determined that the NG piece is the NG piece, the NG piece is positioned at the microscope position. The NG piece and the subsequent piece are judged to be OK or NG by visual inspection of the operator. And the result of the visual determination by an operator is input by operation of the touch panel 102, and an NG piece is transferred to a punch position. As a result of the visual determination here, if scratches or printing defects formed from the NG piece to the subsequent piece are confirmed, the pieces are continuously inspected until they are not confirmed, and confirmed here. The formed NG pieces are continuously punched.

このように、画像処理によりNGピースの判定がなされたときに、目視によりこのNGピース及び後続のピースに対して異常状態(傷、印刷不良等)の詳細が確認され、連続的にNGピースが続く場合に、ピースを基準位置とパンチ位置との間を往復させることなく連続的にパンチ装置25によりパンチ穴が形成されるので、検査の効率化が実現される。   As described above, when an NG piece is determined by image processing, details of the abnormal state (scratches, printing failure, etc.) are visually confirmed for this NG piece and subsequent pieces, and the NG piece is continuously detected. In the subsequent case, since the punch holes are continuously formed by the punching device 25 without reciprocating the piece between the reference position and the punch position, the efficiency of the inspection is realized.

次に、本発明の第2〜4の実施の形態について説明する。この実施の形態は、前記第1の実施の形態に対してNGピースの処理方法が異なるものであり、装置構成は同様であるから同一の構成要素については同一の符号を付す。   Next, second to fourth embodiments of the present invention will be described. In this embodiment, the NG piece processing method is different from that of the first embodiment, and the apparatus configuration is the same. Therefore, the same components are denoted by the same reference numerals.

まず、第2の実施の形態は、顕微鏡モードの処理が異なるものである。これにおいては、図19のフローチャートに示すように、ステップS111でTABを所定の速度で送り、ステップS112で画像取得タイミングか否かを判定する。そして、画像取得タイミングであれば、ステップS113に進み、1つのピースについてラインセンサ20,21により画像を取得すると共に、ステップS114で当該ピースについての良否判定を行う。この判定において、OKピースであると判定されたときは、ステップS111に戻って次のピースについて同様の画像判定を行う。また、前記ステップS114の判定において、NGピースであると判定されたときは、ステップS115に進み、第4NG処理を実行する。   First, the second embodiment is different in the microscope mode processing. In this case, as shown in the flowchart of FIG. 19, TAB is sent at a predetermined speed in step S111, and it is determined whether or not it is an image acquisition timing in step S112. If it is the image acquisition timing, the process proceeds to step S113, and an image is acquired by the line sensors 20 and 21 for one piece, and whether or not the piece is good is determined in step S114. In this determination, when it is determined that it is an OK piece, the process returns to step S111 and the same image determination is performed for the next piece. If it is determined in step S114 that the piece is an NG piece, the process proceeds to step S115, and the fourth NG process is executed.

この第4NG処理は、図20のフローチャートに従って行われる。まず、ステップS121でTABの送りを一時停止させ、ステップS122でNGピースを顕微鏡位置に高速位置決めする。そして、ステップS123で当該NGピースについての目視判定の結果OK/NGを図7に示したタッチパネル102の顕微鏡チェック画面上で入力し、ステップS124で「次ピース」が押操作されると1ピース分TABを送って次のピースを顕微鏡位置に位置決めする。そして、ステップS125で「停止」の押操作による停止信号が入力されたか否かについて判定を行い、停止信号が入力されていない場合は、ステップS123に戻って顕微鏡位置にあるピースについて目視判定を行う。   The fourth NG process is performed according to the flowchart of FIG. First, in step S121, the TAB feeding is temporarily stopped, and in step S122, the NG piece is positioned at the microscope position at high speed. Then, in step S123, OK / NG as a result of the visual determination for the NG piece is input on the microscope check screen of the touch panel 102 shown in FIG. 7, and when “next piece” is pressed in step S124, one piece worth is obtained. TAB is sent to position the next piece at the microscope position. In step S125, it is determined whether or not a stop signal is input by pressing the “stop” operation. If no stop signal is input, the process returns to step S123 to visually determine the piece at the microscope position. .

また、ステップS125で停止信号が入力されたことが判定されたときは、ステップS126で再開方法を選択する。ここで、再検査が選択されたときは、ステップS127に進んでNGピースを基準位置に高速位置決めする。また、パンチ実行が選択されたときは、ステップS128でNGピースをパンチ位置に高速位置決めし、ステップS129で、NGピースにパンチする。ここで複数のNGピースが存在する場合は、下流側のものから順次パンチすることになる。パンチが完了すると、ステップS130で、NGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。   If it is determined in step S125 that a stop signal has been input, a restart method is selected in step S126. Here, when the re-inspection is selected, the process proceeds to step S127 to position the NG piece at the reference position at high speed. When the execution of punching is selected, the NG piece is positioned at the punch position at a high speed in step S128, and the NG piece is punched in step S129. Here, when a plurality of NG pieces are present, punching is performed sequentially from the downstream side. When the punching is completed, in step S130, the piece subsequent to the NG piece is positioned at a high speed at the reference position.

このパンチ実行が選択されたときのTABの送り動作を図21を用いて説明すると、まず、図21(a)に示すように、ピースX1がラインセンサ20,21を通過し、NG判定されると、図21(b)に示すように、NGピースX1を顕微鏡位置に高速で移動させる。そして、図21(c)に示すように、顕微鏡24でピースX1の目視判定を行った結果、後続のピースに亘る傷dが発見され、ピースX1の上流側にNGピースが存在することが予想されるので、「次ピース」を押操作して目視判定を継続する。そして、順次ピースを検査した結果、ピースX4に傷dの終端が確認されると共にピースX5に傷dは存在しないことが確認されたので「停止」が押操作される。次に、作業者によりタッチパネル102の再開方法選択画面ででパンチ実行が選択されると、図21(d)に示すように、ピースX1をパンチ位置に高速で移動させ、ピースX1〜X4にパンチした後、図21(e)に示すように、ピースX5を基準位置に高速位置決めする。   The TAB feed operation when the punch execution is selected will be described with reference to FIG. 21. First, as shown in FIG. 21A, the piece X1 passes through the line sensors 20 and 21, and is judged NG. Then, as shown in FIG. 21B, the NG piece X1 is moved to the microscope position at high speed. And as shown in FIG.21 (c), as a result of performing visual determination of the piece X1 with the microscope 24, the damage | wound d following a subsequent piece is discovered and it is estimated that the NG piece exists in the upstream of the piece X1. Therefore, the “next piece” is pushed and visual determination is continued. As a result of sequentially inspecting the pieces, it is confirmed that the end of the flaw d is present in the piece X4 and that the flaw d does not exist in the piece X5. Next, when punching is selected on the restart method selection screen of the touch panel 102 by the operator, as shown in FIG. 21 (d), the piece X1 is moved to the punch position at a high speed, and the pieces X1 to X4 are punched. After that, as shown in FIG. 21 (e), the piece X5 is positioned at the reference position at a high speed.

この実施の形態においては、画像処理により一つでもNGピースが判定されると、このNGピースについて作業者により目視判定が行われ、この目視の結果に応じてNGピースの後続のピースも目視判定される。従って、複数の連続するピースに亘って形成された傷や印刷不良等があるときに、連続するNGピースを効率良く検出することができ、また、これらのNGピースが連続的にパンチされるので、NGピースが基準位置と顕微鏡位置とを往復することなく、作業効率が向上する。   In this embodiment, when at least one NG piece is determined by image processing, the operator makes a visual determination on the NG piece, and the subsequent pieces of the NG piece are also visually determined according to the result of the visual inspection. Is done. Therefore, when there are scratches or printing defects formed over a plurality of continuous pieces, continuous NG pieces can be detected efficiently, and these NG pieces are continuously punched. The working efficiency is improved without the NG piece reciprocating between the reference position and the microscope position.

次に、第3の実施の形態について説明する。この実施の形態は、前記第1の実施の形態に対して、タッチパネル102の顕微鏡チェックの表示画面が異なり、この画面の操作に応じてNGピースの処理を行うものである。   Next, a third embodiment will be described. This embodiment is different from the first embodiment in the display screen of the microscope check on the touch panel 102, and performs NG piece processing according to the operation of this screen.

即ち、顕微鏡チェックの表示画面は、図22に示すように、「TAB送りスタート」及び「TAB送り停止」が選択可能になっており、「TAB送り停止」が選択されると、図8に示した再開方法選択画面が表示される。そして、この場合には、前記第2〜第4NG処理に代えて、以下に説明する第5NG処理が行われる。   That is, as shown in FIG. 22, the display screen of the microscope check can select “TAB feed start” and “TAB feed stop”, and when “TAB feed stop” is selected, it is shown in FIG. The restart method selection screen appears. In this case, instead of the second to fourth NG processes, a fifth NG process described below is performed.

第5NG処理は、図23のフローチャートに示すように、ステップS141でTAB送りを一時停止し、ステップS142でNGピースを顕微鏡位置に高速位置決めする。そして、ステップS143で作業者によりタッチパネル102の「TAB送りスタート」が押操作されたか否かについて判定を行い、押操作されれば、ステップS144でTABを所定速度で連続的に移送すると共に、TAB送り量を測定する。そして、ステップS145で、「TAB送り停止」が押操作されたか否かの判定を行い、押操作されていないときは、ステップS144に戻ってTAB送り量の測定を継続し、押操作されれば、ステップS146でNG範囲を設定する。ここでのNG範囲は、前記ステップS144で測定した送り量の範囲であって、この範囲に含まれるピースはNGピースとして判定される。   In the fifth NG process, as shown in the flowchart of FIG. 23, the TAB feed is temporarily stopped in step S141, and the NG piece is positioned at the microscope position at a high speed in step S142. In step S143, it is determined whether or not the “TAB feed start” on the touch panel 102 has been pressed by the operator. If the operator presses the TAB, the TAB is continuously transferred at a predetermined speed in step S144. Measure the feed amount. In step S145, it is determined whether or not “TAB feed stop” has been pushed. If not pushed, the process returns to step S144 to continue measuring the TAB feed amount. In step S146, an NG range is set. The NG range here is the range of the feed amount measured in step S144, and the pieces included in this range are determined as NG pieces.

そして、ステップS147に進み、図8の再開方法選択画面で、再検査が選択されたときは、ステップS148に進み、NGピースの内の最下流のNGピースを基準位置に高速位置決めする。なお、このフローチャートにおける、(III)は、第2NG処理の(I)、第3NG制御の(II)、第4NG制御の(エンド)に対応している。   Then, the process proceeds to step S147, and when re-examination is selected on the restart method selection screen in FIG. 8, the process proceeds to step S148, and the NG piece at the most downstream of the NG pieces is positioned at the reference position at high speed. In this flowchart, (III) corresponds to (I) of the second NG process, (II) of the third NG control, and (end) of the fourth NG control.

また、ステップS147で、パンチ実行が選択された場合は、ステップS149でNGピースをパンチ位置に高速位置決めし、ステップS150で前記範囲内に含まれるピースの全てに連続的にパンチする。そして、ステップS151で、NGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。さらに、ステップS147で、パンチせずが選択された場合は、ステップS152でNGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。   If punch execution is selected in step S147, the NG piece is positioned at the punch position at high speed in step S149, and all the pieces included in the range are continuously punched in step S150. In step S151, the piece following the NG piece is positioned at a high speed at the reference position. Furthermore, when not punching is selected in step S147, the piece following the NG piece is positioned at a high speed at the reference position in step S152.

この実施の形態においては、NGピースが顕微鏡位置に位置決めされた後、作業者は、タッチパネル102の顕微鏡チェック画面で「TAB送りスタート」を押操作し、連続的に移送されるTABの表面を観察しながら、後続のTABについての判定を行う。そして、複数のピースに亘る傷や印刷不良等が存在する場合は、傷等が確認されなくなったときに、「TAB送り停止」を押操作し、これによって傷等が存在する範囲が特定される。そして、この範囲内に含まれるピースをNGピースとしてパンチする。このような方法によっても、連続するNGピースが効率良く検出され、NGピースが連続的にパンチされることにより検査効率が向上する。   In this embodiment, after the NG piece is positioned at the microscope position, the operator presses “TAB feed start” on the microscope check screen of the touch panel 102 and observes the surface of the TAB continuously transferred. Meanwhile, the subsequent TAB is determined. And when there are scratches, printing defects, etc. across multiple pieces, when the scratches are no longer confirmed, the "TAB feed stop" is pressed, and this specifies the range where the scratches etc. exist . And the piece contained in this range is punched as an NG piece. Even with such a method, continuous NG pieces are efficiently detected, and the inspection efficiency is improved by continuously punching the NG pieces.

次に、第4の実施の形態について説明する。この実施の形態は、前記第3の実施の形態と同様にタッチパネル102の顕微鏡チェックの表示画面が異なるものである。   Next, a fourth embodiment will be described. This embodiment differs from the third embodiment in the display screen of the microscope check on the touch panel 102.

即ち、顕微鏡チェック表示画面は、図24に示すように、「数字1〜9の入力キー(テンキー)」、「TAB長さ」、「ピース個数」、「再入力」、「設定完了」が選択可能となっている。そして、「TAB長さ」又は「ピース個数」が押操作されたときに、隣接するブランクにテンキーにより数字を入力表示可能となっており、いずれかに数字が入力された状態で「設定完了」が押操作されると、再開方法選択画面が表示されるようになっている。そして、この場合には、前記第2〜第4NG処理に代えて、以下に説明する第6NG処理が行われる。   That is, as shown in FIG. 24, the “microscope check display screen” is selected from “numbers 1 to 9 (keypad)”, “TAB length”, “number of pieces”, “re-input”, and “setting complete”. It is possible. Then, when “TAB length” or “number of pieces” is pressed, a numeric value can be input and displayed on the adjacent blank using the numeric keypad, and “setting is completed” in a state where a number is input to one of them. When is pressed, a restart method selection screen is displayed. In this case, instead of the second to fourth NG processes, a sixth NG process described below is performed.

第6NG処理は、図25のフローチャートに示すように、ステップS161でTAB送りを一時停止し、ステップS162でNGピースを顕微鏡位置に高速位置決めする。そして、この状態で作業者は、顕微鏡24でNGピースを目視判定することにより欠陥の詳細や傾向を確認すると共に、後続のピースについて顕微鏡24を使用せずに目視判定する。そして、複数のピースに亘って形成された傷等が確認された場合には、これらのピースを含む範囲をタッチパネル102の顕微鏡チェック画面で入力する。ここでは、NGピースから上流側への長さ、又はNGピースを含む後続のピースの個数が入力されることになる。   In the sixth NG process, as shown in the flowchart of FIG. 25, the TAB feed is temporarily stopped in step S161, and the NG piece is positioned at the microscope position at a high speed in step S162. In this state, the operator confirms the details and tendency of the defect by visually determining the NG piece with the microscope 24 and visually determines the subsequent piece without using the microscope 24. When a scratch or the like formed over a plurality of pieces is confirmed, a range including these pieces is input on the microscope check screen of the touch panel 102. Here, the length from the NG piece to the upstream side, or the number of subsequent pieces including the NG piece is input.

そして、ステップS164に進み、図8の再開方法選択画面で、再検査が選択されたときは、ステップS165に進み、前記範囲内の最下流のNGピースを基準位置に位置決めする。なお、このフローチャートにおける、(III)は、第2NG処理の(I)、第3NG制御の(II)、第4NG制御の(エンド)に対応している。   Then, the process proceeds to step S164, and when re-inspection is selected on the restart method selection screen in FIG. 8, the process proceeds to step S165, and the most downstream NG piece within the range is positioned at the reference position. In this flowchart, (III) corresponds to (I) of the second NG process, (II) of the third NG control, and (end) of the fourth NG control.

また、ステップS164で、パンチ実行が選択された場合は、ステップSS166でNGピースをパンチ位置に高速位置決めし、ステップS167で前記ステップS164で入力された範囲内に含まれるピースの全てに連続的にパンチする。そして、ステップS168で、NGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。さらに、ステップS164で、パンチせずが選択された場合は、ステップS169でNGピースに後続するピースを基準位置に高速位置決めする。   If punch execution is selected in step S164, the NG piece is positioned at the punch position at high speed in step SS166, and continuously in all the pieces included in the range input in step S164 in step S167. Punch. In step S168, the piece subsequent to the NG piece is positioned at a high speed at the reference position. Furthermore, when not punching is selected in step S164, the piece subsequent to the NG piece is positioned at a high speed at the reference position in step S169.

この実施の形態においては、NGピースが顕微鏡位置に位置決めされた後、作業者は、NGピースの後続のピースについて観察を行い、複数のピースに亘る傷や印刷不良等が確認された場合は、この傷等の大体のTAB長さ、又は大体のピース個数をタッチパネル102の顕微鏡チェック画面で入力する。そして、このTAB長さ又はピース個数の範囲内に含まれるピースをNGピースとしてパンチする。このような方法によっても、連続するNGピースが効率良く検出されると共に、NGピースが連続的にパンチされることにより検査効率が向上する。   In this embodiment, after the NG piece is positioned at the microscope position, the operator observes the subsequent piece of the NG piece, and if scratches or printing defects over a plurality of pieces are confirmed, The approximate TAB length such as the scratch or the approximate number of pieces is input on the microscope check screen of the touch panel 102. Then, the pieces included in the range of the TAB length or the number of pieces are punched as NG pieces. Even by such a method, continuous NG pieces are efficiently detected, and the inspection efficiency is improved by continuously punching the NG pieces.

本発明は、TABの良否判定を行う検査装置に関し、連続するNGピースに効率良くパンチ穴を形成することができるので、半導体製造産業に広く好適である。   The present invention relates to an inspection apparatus for determining whether a TAB is good or not, and can efficiently form punch holes in continuous NG pieces, and is therefore widely suitable for the semiconductor manufacturing industry.

本発明の第1の実施の形態に係る検査装置の正面図である。It is a front view of the inspection apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention. TABの説明図である。It is explanatory drawing of TAB. 検査装置のシステム図である。It is a system diagram of an inspection device. タッチパネルのモード選択画面である。It is a mode selection screen of a touch panel. 顕微鏡モードにおける制御のフローチャートである。It is a flowchart of control in microscope mode. 第1NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of a 1st NG process. タッチパネルの顕微鏡チェック画面である。It is a microscope check screen of a touch panel. タッチパネルの再開方法選択画面である。It is a restart method selection screen of a touch panel. 第1NG処理の再検査選択時の動作図である。It is an operation figure at the time of reexamination selection of the 1st NG processing. 第1NG処理のパンチ実行選択時の動作図である。It is an operation | movement figure at the time of the punch execution selection of a 1st NG process. 第1NG処理のパンチせず選択時の動作図である。It is an operation | movement figure at the time of selection without punching of 1st NG processing. 第2NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of a 2nd NG process. 第2NG処理の再検査選択時の動作図である。It is an operation figure at the time of reexamination selection of the 2nd NG processing. 第2NG処理のパンチ実行選択時の動作図である。It is an operation | movement figure at the time of the punch execution selection of a 2nd NG process. 第2NG処理のパンチせず選択時の動作図である。It is an operation | movement figure at the time of selection without punching of a 2nd NG process. パンチモードにおける制御のフローチャートである。It is a flowchart of control in punch mode. パンチ処理のフローチャートである。It is a flowchart of a punch process. 第3NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of a 3rd NG process. 第2の実施の形態に係る顕微鏡モードにおける制御のフローチャートである。It is a flowchart of the control in the microscope mode which concerns on 2nd Embodiment. 第4NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of the 4th NG process. 第2NG処理のパンチ実行選択時の動作図である。It is an operation | movement figure at the time of the punch execution selection of a 2nd NG process. 第3の実施の形態に係るタッチパネルの顕微鏡チェック画面である。It is a microscope check screen of the touch panel which concerns on 3rd Embodiment. 第5NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of the 5th NG process. 第4の実施の形態に係るタッチパネルの顕微鏡チェック画面である。It is a microscope check screen of the touch panel which concerns on 4th Embodiment. 第6NG処理のフローチャートである。It is a flowchart of a 6th NG process.

符号の説明Explanation of symbols

1 検査装置
10 巻出リール
13a〜13c 駆動ローラ
20 第1ラインセンサ
21 第2ラインセンサ
24 顕微鏡
25 パンチ装置
100 移送用コントローラ
102 タッチパネル
110 画像用コントローラ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 10 Unwinding reel 13a-13c Drive roller 20 1st line sensor 21 2nd line sensor 24 Microscope 25 Punch apparatus 100 Transfer controller 102 Touch panel 110 Image controller

Claims (3)

多数のピースを一定ピッチで設けてなる帯状のTABをリールから繰り出して所定の移送経路上を移送する移送手段と、該移送手段で移送されているTABの各ピースを画像として取得する画像取得手段と、該取得手段で取得した画像を処理し、予め登録された基準画像と対比することによってピースの良否判定を行う判定手段と、前記移送経路上に設けられてNGピースにパンチ穴を形成するパンチ手段とを有するTABの検査装置であって、
前記移送経路上に、前記判定手段により判定されたNGピースが移送され、該NGピースに続くピースがNGピースか否かを作業者の目視により判定する目視ステーションが設けられていると共に、
該目視ステーションでの目視判定によりNGピースが連続すると判定されたときに、その連続する範囲の情報を入力するNG範囲入力手段と、
前記移送手段を制御する移送制御手段とが備えられ、
該移送制御手段は、前記判定手段により判定されたNGピースを目視ステーションに移送し、前記NG範囲入力手段によりNGピースが連続する範囲の情報が入力された後に、入力された範囲のNGピースを前記パンチ手段の対応位置に順次連続的に移送するように前記移送手段を制御すると共に、
前記パンチ手段は、前記移送手段により順次移送されてくるNGピースに対して連続的にパンチ穴を形成することを特徴とするTABの検査装置。
A transfer means for feeding a strip-shaped TAB formed of a large number of pieces at a constant pitch from a reel and transferring it on a predetermined transfer path, and an image acquisition means for acquiring each piece of TAB transferred by the transfer means as an image A determination unit that processes the image acquired by the acquisition unit and compares the image with a reference image registered in advance, and determines whether the piece is good or bad, and is provided on the transfer path to form a punch hole in the NG piece A TAB inspection apparatus having punch means,
On the transfer path, an NG piece determined by the determination means is transferred, and a visual station for determining whether or not the piece following the NG piece is an NG piece is provided by an operator,
NG range input means for inputting information of the continuous range when it is determined that the NG pieces are continuous by visual determination at the visual station;
A transfer control means for controlling the transfer means,
The transfer control means transfers the NG piece determined by the determination means to a viewing station, and after the information on the range where the NG piece continues is input by the NG range input means, the NG piece in the input range is input. Controlling the transfer means to sequentially and sequentially transfer to the corresponding position of the punch means;
The TAB inspection apparatus, wherein the punch means continuously forms punch holes in the NG pieces sequentially transferred by the transfer means.
前記請求項1に記載のTABの検査装置において、
前記移送制御手段は、前記判定手段により判定されたNGピースとその後続のピースを目視ステーションに移送するように移送手段を制御すると共に、
該目視ステーションに移送されてくるNGピースが連続するときに、そのNGピースの前端及び後端のピースを指示する指示手段が備えられ、
前記NG範囲入力手段は、該指示手段により前端及び後端が指示されたNGピースが連続する範囲を取り込むことを特徴とするTABの検査装置。
The TAB inspection apparatus according to claim 1,
The transfer control unit controls the transfer unit to transfer the NG piece determined by the determination unit and the subsequent piece to the viewing station, and
When the NG pieces transferred to the viewing station are continuous, there are provided indication means for indicating the front and rear end pieces of the NG piece,
The NG inspection apparatus according to claim 1, wherein the NG range input means takes in a range in which NG pieces whose front end and rear end are instructed by the instruction means are continuous.
前記請求項1に記載のTABの検査装置において、
前記NG範囲入力手段は、NGピースが連続するTABの長さ又はピース個数の情報を入力することを特徴とするTABの検査装置。
The TAB inspection apparatus according to claim 1,
The said NG range input means inputs the information of the length or number of pieces of TAB with which NG piece continues, The inspection apparatus of TAB characterized by the above-mentioned.
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