JP2007273601A - Ceramic sheet laminate cutting method, ceramic electronic component manufacturing method using the same and cutting device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a ceramic sheet laminate cutting method high in cutting accuracy and cutting efficiency, a cutting device, and a ceramic electronic component manufacturing method using the cutting method. <P>SOLUTION: A ceramic sheet laminated body 100 is composed so that a plurality of cutting marks are formed on the end face at regular intervals, and internal electrodes are exposed on the four side faces. An inspection part 10 images the cutting marks and the internal electrodes so as to calculate a distance between a cutting position passing through a middle point between the internal electrodes adjacent to each other and each cutting mark as a relative cutting position. A cutting part 50 calculates a gravity center of each cutting mark by imaging each cutting mark so as to cut the ceramic sheet laminated body 100 at the cutting position corresponding to the relative cutting position calculated by the inspection part 10 and the calculated gravity center. It is possible to execute parallel processing of inspection and cutting while improving the cutting accuracy, since it is required to image only the cutting marks during cutting. Consequently, it achieves high work efficiency. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明はセラミックシート積層体の切断方法、その切断方法を行う切断装置およびその切断方法を用いたセラミック電子部品の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for cutting a ceramic sheet laminate, a cutting apparatus for performing the cutting method, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the cutting method.

セラミック電子部品は、セラミックシートと内部電極とを交互に積層させたセラミックシート積層体を切断し、外部電極を形成する工程を経て製造される。このようなセラミック電子部品を製造する際、まずセラミックシート積層体の積層方向と直交し、互いに対向する両側面に内部電極を露出させておき、その内部電極の位置をカメラで監視しながら、積層方向に上下する切断刃で所定の位置を切断する。このような監視のためのカメラは、上記側面と離間して対向する位置に備えられている(例えば、特許文献1参照)。
特開2002−184646号公報(第3頁、第1図)
A ceramic electronic component is manufactured through a process of cutting a ceramic sheet laminate in which ceramic sheets and internal electrodes are alternately laminated to form external electrodes. When manufacturing such a ceramic electronic component, first, the internal electrodes are exposed on both side surfaces that are orthogonal to the lamination direction of the ceramic sheet laminate and are opposed to each other, and the position of the internal electrodes is monitored with a camera. A predetermined position is cut with a cutting blade that moves up and down in the direction. Such a camera for monitoring is provided at a position facing and spaced apart from the side surface (see, for example, Patent Document 1).
JP 2002-184646 A (page 3, FIG. 1)

しかしながら、監視カメラが側面と対向する位置に備えられている場合、切断時に切りくず等が監視カメラの視野内に入り、画像検出に障害が生じ、切断位置検出の精度が低下したり、誤切断が行われたりするという問題がある。   However, if the surveillance camera is provided at a position facing the side surface, chips and the like enter the visual field of the surveillance camera at the time of cutting, resulting in an obstacle to image detection, and the accuracy of cutting position detection is reduced, or erroneous cutting There is a problem that is performed.

そこで本発明は、切断位置検出の精度を向上させて、安定した品質のセラミック電子部品を効率よく製造することが可能なセラミックシート積層体の切断方法、切断装置および該切断方法を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a method for cutting a ceramic sheet laminate, a cutting apparatus, and a ceramic electronic using the cutting method, capable of improving the accuracy of detecting the cutting position and efficiently producing a stable quality ceramic electronic component. It aims at providing the manufacturing method of components.

上記目的を解決するために本発明は、内部電極とセラミックシートとが交互に積層され、積層方向の互いに対向する端面と、端面と略直交し互いに対向する第1側面および第2側面とを有し、少なくとも第1側面には内部電極の一部が露出する電極露出部を有する積層体を準備する積層体準備工程と、少なくとも一方の端面に複数の位置決めマークを形成するマーク形成工程と、位置決めマークと電極露出部との相対位置を検出し、検出した相対位置に応じて、位置決めマークを基準とした相対切断位置を算出する切断位置算出工程と、位置決めマークの位置と算出された相対切断位置とに応じた切断位置で積層体を切断する切断工程とを有するセラミックシート積層体の切断方法を提供している。   In order to solve the above-mentioned object, the present invention has internal electrodes and ceramic sheets alternately laminated, and has end faces facing each other in the stacking direction, and first and second side faces that are substantially orthogonal to the end faces and face each other. And a laminate preparation step of preparing a laminate having an electrode exposed portion at which at least a part of the internal electrode is exposed on the first side surface, a mark formation step of forming a plurality of positioning marks on at least one end surface, and positioning A cutting position calculating step for detecting a relative position between the mark and the electrode exposed portion, and calculating a relative cutting position based on the positioning mark according to the detected relative position, and a position of the positioning mark and the calculated relative cutting position The cutting method of the ceramic sheet laminated body which has the cutting process which cut | disconnects a laminated body in the cutting position according to these is provided.

上記方法によれば、まず位置決めマークと切断位置との相対位置を算出し、積層体切断時には位置決めマークを基準にして相対位置に応じた切断位置で切断するため、精度よく切断を行うことができる。また、相対位置算出と切断とを並行して行うことが可能であるため、製造時間の短縮が可能になり、生産性を向上させることができる。   According to the above method, first, the relative position between the positioning mark and the cutting position is calculated, and when cutting the laminated body, the cutting is performed at the cutting position corresponding to the relative position with reference to the positioning mark, so that the cutting can be performed with high accuracy. . Moreover, since the relative position calculation and the cutting can be performed in parallel, the manufacturing time can be shortened, and the productivity can be improved.

ここで、位置決めマークは、端面と第1側面との境界をなす第1辺に沿って等間隔に設けられるとともに、端面と第2側面との境界をなす第2辺に沿って等間隔に設けることが好ましい。   Here, the positioning marks are provided at equal intervals along the first side that forms the boundary between the end surface and the first side surface, and at equal intervals along the second side that forms the boundary between the end surface and the second side surface. It is preferable.

このような構成によれば、切断時に端面の互いに対向する二辺の両側で位置決めマークを基に切断位置を関連づけて決定することができるので、より精度よく切断を行うことが可能になる。   According to such a configuration, it is possible to determine the cutting positions in association with each other based on the positioning marks on both sides of the two opposite sides of the end face at the time of cutting, so that the cutting can be performed with higher accuracy.

また、電極露出部は、第1辺及び第2辺に沿って略等間隔に第1側面及び第2側面において露出していることが好ましい。このような構成によれば、位置決めマークを基準として容易に切断位置を決定することができる。   Moreover, it is preferable that the electrode exposure part is exposed in the 1st side surface and the 2nd side surface at substantially equal intervals along the 1st side and the 2nd side. According to such a configuration, the cutting position can be easily determined based on the positioning mark.

また、切断工程は、位置決めマークの表示位置を検出する表示位置検出工程と、検出した表示位置を基準とし、相対切断位置に応じた切断位置で積層体を切断する切断実行工程とを有することが好ましい。   Further, the cutting step may include a display position detecting step for detecting the display position of the positioning mark, and a cutting execution step for cutting the laminate at a cutting position corresponding to the relative cutting position with the detected display position as a reference. preferable.

このような方法によれば、切断時には位置決めマークのみが検出できればよく、位置決めマークの検出は電極露出部の検出に比べて容易であるため、切断位置の決定および切断を短時間で容易に行うことができるとともに、予め切断位置を決定するので、切断の精度を向上させることが可能になる。   According to such a method, it is sufficient that only the positioning mark can be detected at the time of cutting. Since the detection of the positioning mark is easier than the detection of the electrode exposed portion, the cutting position can be easily determined and cut in a short time. In addition, since the cutting position is determined in advance, the cutting accuracy can be improved.

また、本発明は、上記セラミックシート積層体の切断方法を有するセラミック電子部品の製造方法を提供している。上述のセラミックシート積層体の切断方法を有するセラミック電子部品の製造方法によれば、上記作用を奏する好適なセラミック電子部品を製造することができる。   Moreover, this invention provides the manufacturing method of the ceramic electronic component which has the cutting method of the said ceramic sheet laminated body. According to the method for manufacturing a ceramic electronic component having the above-described method for cutting the ceramic sheet laminate, a suitable ceramic electronic component having the above-described effects can be manufactured.

また、本発明は、内部電極とセラミックシートとが交互に積層され、積層方向の互いに対向する端面と、端面と略直交し互いに対向する第1側面および第2側面とを有し、少なくとも第1側面には内部電極の一部が露出する電極露出部を有し、端面の少なくとも一方には、複数の位置決めマークが形成されている積層体の、位置決めマークの位置を第1位置として検出する第1検出部と、電極露出部の位置を第2位置として検出する電極検出部と、第1位置および第2位置とに基づき相対切断位置を決定する切断位置決定部と、切断時の位置決めマークの位置を第3位置として検出する第2検出部と、第3位置を基準として相対切断位置に応じた切断位置で該積層体を切断する切断部とを有するセラミックシート積層体の切断装置を提供している。   The present invention also includes internal electrodes and ceramic sheets that are alternately stacked, and have end faces facing each other in the stacking direction, and first and second side faces that are substantially orthogonal to the end faces and face each other. The side surface has an electrode exposure part from which a part of the internal electrode is exposed, and at least one of the end surfaces is a first position where the position of the positioning mark is detected as a first position of the laminate in which a plurality of positioning marks are formed. 1 detection unit, an electrode detection unit that detects the position of the electrode exposure unit as the second position, a cutting position determination unit that determines a relative cutting position based on the first position and the second position, and a positioning mark at the time of cutting Provided is a ceramic sheet laminate cutting apparatus having a second detection unit that detects a position as a third position, and a cutting unit that cuts the laminate at a cutting position corresponding to a relative cutting position with reference to the third position. The That.

このような構成によれば、予め第1検出部と電極検出部との検出位置に基づいて相対位置を算出し、積層体切断時には第2検出部が検出した位置決めマークの位置を基準にして相対位置に応じた切断位置で切断するため、精度よく切断を行うことができる。   According to such a configuration, the relative position is calculated in advance based on the detection positions of the first detection unit and the electrode detection unit, and relative to the position of the positioning mark detected by the second detection unit when the stacked body is cut. Since cutting is performed at a cutting position corresponding to the position, cutting can be performed with high accuracy.

ここで、上記切断装置は、第1検出部および該電極検出部を備えた第1ステージと、第2検出部および該切断部を備え該第1ステージと分離した第2ステージとを有することが好ましい。   Here, the cutting apparatus includes a first stage having a first detection unit and the electrode detection unit, and a second stage having a second detection unit and the cutting unit and separated from the first stage. preferable.

このような構成によれば、相対位置の検出と切断とを並行して行うことが可能になり、製造時間を短縮することができ、生産性の向上を図ることができる。   According to such a configuration, it becomes possible to perform the detection and cutting of the relative position in parallel, the manufacturing time can be shortened, and the productivity can be improved.

本発明によれば、切断精度が良好で、製造効率のよいセラミックシート積層体の切断方法、切断装置および該切断方法を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a method for cutting a ceramic sheet laminate with good cutting accuracy and high manufacturing efficiency, a cutting apparatus, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the cutting method.

以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照して説明する。図1〜図10は本発明の一実施の形態によるセラミックシート積層体の切断方法および切断装置を示す図である。図中、実質的に同一の部分には同一符号を付し、重複説明を省略する。なお、以下の説明において「上」、「下」等の語を、図面に示す状態に基づいて便宜的に用いることとする。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIGS. 1-10 is a figure which shows the cutting method and cutting apparatus of the ceramic sheet laminated body by one embodiment of this invention. In the figure, substantially the same parts are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. In the following description, terms such as “upper” and “lower” are used for convenience based on the state shown in the drawings.

図1(b)に示すように、本実施の形態によるセラミックシート積層体100は、セラミックシート120と後述の内部電極とを交互に複数積層した略直方体形状をなしている。このセラミックシート積層体100を、互いに略直交する複数の切断位置123および切断位置125で切断し、複数の直方体形状のチップ状素子130とする。   As shown in FIG. 1B, the ceramic sheet laminate 100 according to the present embodiment has a substantially rectangular parallelepiped shape in which a plurality of ceramic sheets 120 and internal electrodes described later are alternately laminated. The ceramic sheet laminate 100 is cut at a plurality of cutting positions 123 and cutting positions 125 that are substantially orthogonal to each other to form a plurality of rectangular parallelepiped chip elements 130.

図2に示すように、例えばコンデンサとなるチップ状素子130は、セラミックシート121と、内部電極142が交互に積層して形成されている。セラミックシート121は、セラミックシート120(図1(b))を切断位置123、125で切断した略矩形のシートである。内部電極142は導電体で形成され、セラミックシート121よりも4辺がそれぞれ短い略矩形で、一辺がセラミックシート121の一辺と重なるように積層されている。このようなチップ状素子130(図1(c))の互いに対向する一対の側面近傍に外部電極133(図1(d))をそれぞれ形成したものが、セラミック電子部品135である。   As shown in FIG. 2, for example, a chip-like element 130 serving as a capacitor is formed by alternately stacking ceramic sheets 121 and internal electrodes 142. The ceramic sheet 121 is a substantially rectangular sheet obtained by cutting the ceramic sheet 120 (FIG. 1B) at cutting positions 123 and 125. The internal electrode 142 is formed of a conductor, and is laminated so that four sides are shorter than the ceramic sheet 121, respectively, and one side overlaps one side of the ceramic sheet 121. A ceramic electronic component 135 is formed by forming external electrodes 133 (FIG. 1D) in the vicinity of a pair of opposite side surfaces of such a chip-like element 130 (FIG. 1C).

ここで、図1を参照しながら本実施の形態によるセラミックシート積層体100の切断方法を含む工程により製造されるセラミック電子部品135の製造方法について概略を説明する。初めに、セラミックシート120を用意し(ステップ101)、1枚おきに内部電極(図示せず)を挟むようにして複数枚積層する(ステップ102)。この積層したものをプレスすることで(ステップ103)、セラミックシート積層体100が形成される。セラミックシート120は、例えば、PET(ポリエチレンテレフタレート)シートにセラミック誘電体粉末を混合した塗料を塗布したシートを用いることができる。内部電極は、例えば予めセラミックシート120上にスクリーン印刷で電極ペーストを塗布して形成しておくことができる。   Here, an outline of a manufacturing method of the ceramic electronic component 135 manufactured by the process including the cutting method of the ceramic sheet laminate 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. First, a ceramic sheet 120 is prepared (Step 101), and a plurality of sheets are laminated so as to sandwich an internal electrode (not shown) every other sheet (Step 102). By pressing the laminated material (step 103), the ceramic sheet laminated body 100 is formed. As the ceramic sheet 120, for example, a sheet obtained by applying a paint obtained by mixing a ceramic dielectric powder to a PET (polyethylene terephthalate) sheet can be used. The internal electrode can be formed by, for example, applying an electrode paste on the ceramic sheet 120 by screen printing in advance.

このセラミックシート積層体100を、側面に内部電極が露出する状態にして、例えば複数の切断位置123、125にて切断および分離し(ステップ104)、分離されたチップ状素子130に、水バレルにより端面を研磨して丸味を付与する(ステップ105)。続いて、研磨したチップ状素子130を焼成する(ステップ106)。焼成すると、焼成収縮率の大きい内部電極は誘電体層より内部に入り込むため、引き出しバレルにより再び研磨剤とともに研磨を行い、内部電極を露出させる(ステップ107)。乾燥後、所定部分に外部電極を塗布し(ステップ108)、焼付する(ステップ109)。最後に、実装時に確実に電気的接合がなされるように、メッキ工程を行い(ステップ110)、セラミック電子部品135が製造される。   The ceramic sheet laminate 100 is cut and separated at a plurality of cutting positions 123 and 125, for example, with the internal electrodes exposed on the side surfaces (step 104). The end surface is polished to give roundness (step 105). Subsequently, the polished chip-like element 130 is fired (step 106). When fired, since the internal electrode having a large firing shrinkage rate enters the inside of the dielectric layer, the internal electrode is exposed by polishing again with the abrasive by the pulling barrel (step 107). After drying, external electrodes are applied to predetermined portions (step 108) and baked (step 109). Finally, a plating process is performed (step 110) so as to ensure electrical connection at the time of mounting, and the ceramic electronic component 135 is manufactured.

以下、セラミックシート積層体の切断装置および切断方法について詳細に説明する。まず、切断装置について説明する。図3に示すように、セラミックシート積層体100の切断装置1は、検査部10と、検査部10と通信ライン30で接続された切断部50とで構成されている。検査部10は、セラミックシート積層体100の積層方向の一端面に形成された後述の位置決め用マークの位置と、セラミックシート積層体100の側面に露出された内部電極の位置とを検出して相対切断位置を決定する。切断部50は、検査部10で決定した相対切断位置と切断部50で検出された位置決め用マークの位置とからセラミックシート積層体100を切断する切断位置を決定し、切断を行う。   Hereinafter, the cutting apparatus and cutting method of the ceramic sheet laminate will be described in detail. First, the cutting device will be described. As shown in FIG. 3, the cutting device 1 for the ceramic sheet laminate 100 includes an inspection unit 10 and a cutting unit 50 connected to the inspection unit 10 through a communication line 30. The inspection unit 10 detects a position of a positioning mark (described later) formed on one end surface in the stacking direction of the ceramic sheet laminate 100 and a position of an internal electrode exposed on the side surface of the ceramic sheet laminate 100 to detect relative positions. Determine the cutting position. The cutting unit 50 determines a cutting position for cutting the ceramic sheet laminated body 100 from the relative cutting position determined by the inspection unit 10 and the position of the positioning mark detected by the cutting unit 50, and performs cutting.

検査部10には、セラミックシート積層体100を吸着などにより固定して載置する検査テーブル11が備えられている。検査テーブル11は、セラミックシート積層体100が載置される平面において回転および平行移動が可能である。検査テーブル11の近傍には、マーク認識カメラ15、17、側面認識カメラ19、21が配置されている。マーク認識カメラ15、17は、セラミックシート積層体100に形成された後述の位置決め用マークを撮像する。側面認識カメラ19、21は、セラミックシート積層体100の互いに対向する一対の側面における内部電極を撮像する。マーク認識カメラ15、17、側面認識カメラ19、21はそれぞれ検査部画像処理装置13に接続されており、撮像した画像情報を検査部画像処理装置13に送出する。   The inspection unit 10 includes an inspection table 11 on which the ceramic sheet laminate 100 is fixed and placed by suction or the like. The inspection table 11 can be rotated and translated on a plane on which the ceramic sheet laminate 100 is placed. In the vicinity of the inspection table 11, mark recognition cameras 15, 17 and side recognition cameras 19, 21 are arranged. The mark recognition cameras 15 and 17 image a positioning mark (described later) formed on the ceramic sheet laminate 100. The side recognition cameras 19 and 21 image internal electrodes on a pair of side surfaces facing each other of the ceramic sheet laminate 100. The mark recognition cameras 15 and 17 and the side recognition cameras 19 and 21 are respectively connected to the inspection unit image processing device 13 and send the captured image information to the inspection unit image processing device 13.

検査部画像処理装置13は、マーク認識カメラ15、17および側面認識カメラ19、21からの画像情報を取り込み、それらの画像情報から位置決め用マークの位置および内部電極の位置を解析して、位置決め用マークの位置を基準とした切断位置、すなわち相対切断位置を算出する。検査部画像処理装置13は、切断部50の切断部画像処理装置53と接続されており、算出した相対切断位置を切断部画像処理装置53に送出する。   The inspection unit image processing device 13 takes in image information from the mark recognition cameras 15 and 17 and the side recognition cameras 19 and 21, analyzes the position of the positioning mark and the position of the internal electrode from the image information, and performs positioning. A cutting position based on the mark position, that is, a relative cutting position is calculated. The inspection unit image processing device 13 is connected to the cutting unit image processing device 53 of the cutting unit 50, and sends the calculated relative cutting position to the cutting unit image processing device 53.

切断部50には、セラミックシート積層体100を吸着などにより固定して載置する切断テーブル51が備えられている。切断テーブル51は、セラミックシート積層体100の積層方向に略直交する平面において回転および平行移動が可能である。切断テーブル51の近傍に、マーク認識カメラ55、57が配置されている。マーク認識カメラ55、57は、セラミックシート積層体100の積層方向端面に形成された位置決め用マークを撮像する。このとき切断刃の動作の障害にならないよう、マーク認識カメラ55、57は、セラミックシート積層体100を斜め上方から撮像するように配置されている。マーク認識カメラ55、57は、切断部画像処理装置53に接続されており、撮像した画像情報を切断部画像処理装置53に送出する。   The cutting unit 50 is provided with a cutting table 51 on which the ceramic sheet laminate 100 is fixed and placed by suction or the like. The cutting table 51 can be rotated and translated on a plane substantially orthogonal to the stacking direction of the ceramic sheet laminate 100. In the vicinity of the cutting table 51, mark recognition cameras 55 and 57 are arranged. The mark recognition cameras 55 and 57 image the positioning marks formed on the end surface in the stacking direction of the ceramic sheet stack 100. At this time, the mark recognition cameras 55 and 57 are arranged so as to take an image of the ceramic sheet laminate 100 from obliquely upward so as not to obstruct the operation of the cutting blade. The mark recognition cameras 55 and 57 are connected to the cutting unit image processing device 53, and send captured image information to the cutting unit image processing device 53.

切断部画像処理装置53は、マーク認識カメラ55、57からの画像情報を取り込んで位置決め用マークの位置を解析し、解析した位置決め用マークの位置と検査部画像処理装置13から入力された相対切断位置とから切断位置を決定する。   The cutting unit image processing device 53 takes in the image information from the mark recognition cameras 55 and 57 and analyzes the position of the positioning mark, and the relative cutting position input from the inspection unit image processing device 13 and the analyzed position of the positioning mark. The cutting position is determined from the position.

次に、セラミックシート積層体の切断方法について説明する。検査工程では、図4に示すように、まず、検査テーブル11にセラミックシート積層体100を供給し(ステップ201)、検査を開始する(ステップ202)。セラミックシート積層体100において、内部電極が側面に露出していない場合には、露出させるべく4側面側を所定の厚さ分切り落とす4辺耳切り動作を行い、内部電極を露出させる(ステップ203)。   Next, a method for cutting the ceramic sheet laminate will be described. In the inspection process, as shown in FIG. 4, first, the ceramic sheet laminate 100 is supplied to the inspection table 11 (step 201), and the inspection is started (step 202). In the ceramic sheet laminate 100, when the internal electrode is not exposed on the side surface, a four-sided ear cutting operation is performed to cut off the four side surfaces by a predetermined thickness to expose the internal electrode (step 203). .

ここで図5に示すように、検査テーブル11上に載置されたセラミックシート積層体100の積層方向をz方向、z方向に直交する2方向をx方向およびy方向とする。セラミックシート積層体100のz方向における一端面151には、位置決め用マークであるターゲットマーク143および切断マーク145が設けられている。図5の例では、ターゲットマーク143は、端面151の4箇所のコーナ部に合計4個設けられている。切断マーク145は、端面151の4辺157、159、161、163に沿ってそれぞれ等間隔に8個、合計32個設けられている。   Here, as shown in FIG. 5, the stacking direction of the ceramic sheet laminate 100 placed on the inspection table 11 is defined as the z direction, and the two directions orthogonal to the z direction are defined as the x direction and the y direction. A target mark 143 and a cutting mark 145 that are positioning marks are provided on one end surface 151 in the z direction of the ceramic sheet laminate 100. In the example of FIG. 5, a total of four target marks 143 are provided at four corner portions of the end surface 151. A total of 32 cut marks 145 are provided along the four sides 157, 159, 161, and 163 of the end surface 151 at equal intervals.

側面153と、側面153と対向する側面(図示せず)には、内部電極141がz方向に複数段、x方向には略等間隔に露出している。同様に、側面154と、側面154と対向する側面155には、図示はしていないが内部電極141がz方向に複数段、y方向には略等間隔に露出している。ここで、内部電極141は、例えばxy平面における平面形状が長方形であり、側面に露出する部分が、図2のチップ状素子130で示した内部電極142のx方向またはy方向の幅と略同一の幅を有している。この内部電極141は、セラミックシート積層体100の4辺157、159、161、163に沿って、内部電極142に相当する位置に略等間隔に設けられたダミー電極である。すなわち、セラミックシート積層体100には内部電極として、切断のためのダミー電極である内部電極141と、チップ状素子130内の内部電極142とが設けられていることになる。   On the side surface 153 and a side surface (not shown) opposite to the side surface 153, the internal electrodes 141 are exposed in a plurality of stages in the z direction and at substantially equal intervals in the x direction. Similarly, on the side surface 154 and the side surface 155 facing the side surface 154, although not shown, the internal electrodes 141 are exposed in a plurality of stages in the z direction and at substantially equal intervals in the y direction. Here, the internal electrode 141 has, for example, a rectangular shape in the xy plane, and the portion exposed to the side surface is substantially the same as the width in the x direction or y direction of the internal electrode 142 shown by the chip-like element 130 in FIG. Have a width of The internal electrodes 141 are dummy electrodes provided at substantially equal intervals along the four sides 157, 159, 161, and 163 of the ceramic sheet laminate 100 at positions corresponding to the internal electrodes 142. That is, the ceramic sheet laminate 100 is provided with an internal electrode 141 that is a dummy electrode for cutting and an internal electrode 142 in the chip-like element 130 as internal electrodes.

マーク認識カメラ15、17は、セラミックシート積層体100の端面151側上方に離間して備えられている。ここでは図5のx方向の切断位置を算出する場合について示しているので、マーク認識カメラ15は、辺163に沿ったマークを検出するように辺163側の略鉛直上方に配置され、マーク認識カメラ17は辺159に沿ったマークを検出するように辺159略鉛直上方に配置されている。側面認識カメラ19は、側面154の内部電極141を検出するように、側面154近傍に備えられている。側面認識カメラ21は、側面155の内部電極141を検出するように、側面155近傍に備えられている。   The mark recognition cameras 15 and 17 are spaced apart and provided above the end surface 151 side of the ceramic sheet laminate 100. Here, since the case of calculating the cutting position in the x direction in FIG. 5 is shown, the mark recognition camera 15 is arranged substantially vertically above the side 163 so as to detect the mark along the side 163, and the mark recognition camera 15 is recognized. The camera 17 is disposed substantially vertically above the side 159 so as to detect a mark along the side 159. The side recognition camera 19 is provided in the vicinity of the side surface 154 so as to detect the internal electrode 141 on the side surface 154. The side recognition camera 21 is provided in the vicinity of the side surface 155 so as to detect the internal electrode 141 on the side surface 155.

図4に戻って、ターゲットマーク143(図5)によるセラミックシート積層体100の位置決めを行う(ステップ204)。このときマーク認識カメラ15、17(図5)は、ターゲットマーク143を撮像して画像情報を検査部画像処理装置13に送出し、検査部画像処理装置13が画像情報を解析して、ターゲットマーク143の重心位置を検出し、検査テーブル11を回転あるいは平行移動させて、セラミックシート積層体100の位置を調整する。   Returning to FIG. 4, the ceramic sheet laminate 100 is positioned by the target mark 143 (FIG. 5) (step 204). At this time, the mark recognition cameras 15 and 17 (FIG. 5) capture the target mark 143 and send the image information to the inspection unit image processing device 13, and the inspection unit image processing device 13 analyzes the image information, and the target mark The barycentric position of 143 is detected, and the inspection table 11 is rotated or translated to adjust the position of the ceramic sheet laminate 100.

セラミックシート積層体100の位置調整が終わると、第1方向最初の検査位置にセラミックシート積層体100が配置されるように、検査テーブル11を移動する(ステップ205)。この第1方向最初の検査位置とは、例えばマーク認識カメラ15が、辺163に沿って配置された切断マーク145のうちのy方向一端側の切断マーク145c近傍を撮像し、マーク認識カメラ17が、辺159に沿って配置された切断マーク145のうちのy方向一端側の切断マーク145a近傍を撮像することができる位置である。   When the position adjustment of the ceramic sheet laminate 100 is completed, the inspection table 11 is moved so that the ceramic sheet laminate 100 is arranged at the first inspection position in the first direction (step 205). The first inspection position in the first direction refers to, for example, the mark recognition camera 15 taking an image of the vicinity of the cut mark 145c on one end side in the y direction of the cut marks 145 arranged along the side 163, and the mark recognition camera 17 , Of the cutting marks 145 arranged along the side 159, the vicinity of the cutting mark 145a near one end in the y direction can be imaged.

この位置で、マーク認識カメラ15、17によって切断マーク145近傍を撮像し、側面認識カメラ19で側面154の内部電極141を撮像し、側面認識カメラ21で側面155の内部電極141を撮像して、得られた画像情報を検査部画像処理装置13に送出する(ステップ206)。   At this position, the mark recognition cameras 15 and 17 image the vicinity of the cutting mark 145, the side recognition camera 19 images the internal electrode 141 of the side surface 154, the side recognition camera 21 images the internal electrode 141 of the side surface 155, The obtained image information is sent to the inspection unit image processing apparatus 13 (step 206).

例えば、図6において検査テーブル11(図3)に載置されたセラミックシート積層体100の一部分の斜視図として示すように、マーク認識カメラ17で切断マーク145a近傍を撮像し、側面認識カメラ21で、内部電極141b、141c近傍を撮像する。ここで、内部電極141aは、辺157に沿ってx方向にすべてダミー電極となっているので、ここでは切断を行わない。検査部画像処理装置13は、マーク認識カメラ17から入力された画像情報を解析して、切断マーク145aの重心147aを算出する。また、側面認識カメラ21から入力された画像情報を解析して、内部電極141bの最も内部電極141c寄りの一端L1および内部電極141cの最も内部電極141b寄りの一端L2との距離D3を算出し、L1−L2の中間点M1を特定する。   For example, as shown in a perspective view of a part of the ceramic sheet laminate 100 placed on the inspection table 11 (FIG. 3) in FIG. 6, the vicinity of the cutting mark 145a is imaged by the mark recognition camera 17, and the side recognition camera 21 is used. The vicinity of the internal electrodes 141b and 141c is imaged. Here, since all the internal electrodes 141a are dummy electrodes in the x direction along the side 157, no cutting is performed here. The inspection unit image processing device 13 analyzes the image information input from the mark recognition camera 17 and calculates the center of gravity 147a of the cut mark 145a. Further, by analyzing the image information input from the side recognition camera 21, the distance D3 between the one end L1 of the internal electrode 141b closest to the internal electrode 141c and the one end L2 of the internal electrode 141c closest to the internal electrode 141b is calculated. An intermediate point M1 between L1 and L2 is specified.

一方、マーク認識カメラ15(図5)は、切断マーク145c近傍を撮像し、側面認識カメラ19は、側面154の内部電極141部分(図示せず)を撮像し、検査部画像処理装置13(図3)に送出する。検査部画像処理装置13は、切断マーク145cの重心147cおよび、内部電極141b、141cと対向し互いに隣り合う内部電極141の中間点M2(図5)を上記と同様に算出する。この中間点M1、M2を通り、辺159に略垂直な平面が、切断位置123aとなる。さらに検査部画像処理装置13は、重心147aと切断位置123aとの距離を算出し、算出した値を相対切断位置D1とする。同様に重心147cと切断位置123aとの距離を算出し、相対切断位置D4とする。   On the other hand, the mark recognition camera 15 (FIG. 5) images the vicinity of the cut mark 145c, and the side recognition camera 19 images the internal electrode 141 portion (not shown) of the side surface 154, and the inspection unit image processing device 13 (FIG. 5). Send to 3). The inspection unit image processing apparatus 13 calculates the center of gravity 147c of the cutting mark 145c and the intermediate point M2 (FIG. 5) between the internal electrodes 141 that face the internal electrodes 141b and 141c and are adjacent to each other. A plane passing through the intermediate points M1 and M2 and substantially perpendicular to the side 159 is the cutting position 123a. Further, the inspection unit image processing apparatus 13 calculates the distance between the center of gravity 147a and the cutting position 123a, and sets the calculated value as the relative cutting position D1. Similarly, the distance between the center of gravity 147c and the cutting position 123a is calculated and set as a relative cutting position D4.

続いて、検査テーブル11(図3)を図5に示されるy方向に、例えばy方向において露出されている隣り合う内部電極141の間隔等の所定のピッチで移動させる(ステップ208)。検査個数分の内部電極に関する算出が終了していないときには(ステップ209:NO)、ステップ206に戻り、内部電極141c(図6)と内部電極141dについても、内部電極141cの最も内部電極141d寄りの一端と内部電極141dの最も内部電極141c寄りの一端との距離を算出してその中間点M3を特定する。側面154側についても同様に中間点M4(図示せず)を算出し、中間点M3、M4を通り辺159に略垂直な平面となる切断位置123bを算出する。さらに検査部画像処理装置13は、重心位置147aと切断位置123bとの距離を算出し、算出した値を相対切断位置D2とする。側面154側についても同様に相対切断位置算出の処理を行う。以下、辺159および辺163に沿う第1方向において順次、相対切断位置を算出する。   Subsequently, the inspection table 11 (FIG. 3) is moved in the y direction shown in FIG. 5 at a predetermined pitch such as the interval between adjacent internal electrodes 141 exposed in the y direction (step 208). When the calculation for the number of inspection internal electrodes has not been completed (step 209: NO), the process returns to step 206, and the internal electrode 141c (FIG. 6) and the internal electrode 141d are also closest to the internal electrode 141d of the internal electrode 141c. A distance between one end and one end of the internal electrode 141d closest to the internal electrode 141c is calculated to identify the intermediate point M3. Similarly, an intermediate point M4 (not shown) is calculated for the side surface 154 side, and a cutting position 123b that passes through the intermediate points M3 and M4 and is substantially perpendicular to the side 159 is calculated. Further, the inspection unit image processing apparatus 13 calculates the distance between the gravity center position 147a and the cutting position 123b, and sets the calculated value as the relative cutting position D2. The processing for calculating the relative cutting position is similarly performed on the side surface 154 side. Hereinafter, relative cutting positions are sequentially calculated in the first direction along the sides 159 and 163.

上記のように、側面154、155に露出した内部電極141についてすべて相対切断位置の算出が終了すると、検査テーブル11を90度回転させる(ステップ210)。回転後は、例えば側面認識カメラ19は、側面153を撮像し、側面認識カメラ21は、側面157と対向する側面(図示せず)を撮像することになる。このとき、第1方向における処理と同様に、第2方向最初の検査位置にセラミックシート積層体100が配置されるように、検査テーブル11を移動する(ステップ211)。第2方向最初の検査位置では、マーク認識カメラ17が切断マーク145d近傍を撮像し、側面認識カメラ21が内部電極141を撮像する。また、マーク認識カメラ15が、切断マーク145e近傍を撮像し、側面認識カメラ19が、内部電極141を撮像する(ステップ212)。   As described above, when the calculation of the relative cutting position is completed for all the internal electrodes 141 exposed on the side surfaces 154 and 155, the inspection table 11 is rotated by 90 degrees (step 210). After the rotation, for example, the side recognition camera 19 images the side surface 153, and the side recognition camera 21 images the side surface (not shown) facing the side surface 157. At this time, similarly to the process in the first direction, the inspection table 11 is moved so that the ceramic sheet laminate 100 is arranged at the first inspection position in the second direction (step 211). At the first inspection position in the second direction, the mark recognition camera 17 images the vicinity of the cut mark 145d, and the side recognition camera 21 images the internal electrode 141. Further, the mark recognition camera 15 images the vicinity of the cut mark 145e, and the side recognition camera 19 images the internal electrode 141 (step 212).

検査部画像処理装置13は、撮像された画像情報を解析して、隣接する内部電極141間の中点を通る切断位置125を算出し、切断マーク145dおよび切断マーク145eの重心と切断位置125とから相対切断位置を算出する(ステップ213)。続いて、検査テーブル11をy方向に、例えばy方向において露出されている隣り合う内部電極141の間隔等の所定のピッチで移動させる(ステップ214)。以下、第2方向のすべての内部電極141についてステップ212からステップ214の処理を行い、検査個数分の相対切断位置を算出する(ステップ215)。   The inspection unit image processing device 13 analyzes the captured image information, calculates a cutting position 125 passing through the midpoint between the adjacent internal electrodes 141, and determines the center of gravity of the cutting mark 145d and the cutting mark 145e and the cutting position 125. The relative cutting position is calculated from (step 213). Subsequently, the inspection table 11 is moved in the y direction at a predetermined pitch such as the interval between adjacent internal electrodes 141 exposed in the y direction (step 214). Thereafter, the processing from step 212 to step 214 is performed for all the internal electrodes 141 in the second direction, and the relative cutting positions for the number of inspections are calculated (step 215).

第1方向および第2方向について上記処理を行い、相対切断位置の算出が終了すると、算出した相対切断位置を切断データとして検査部50に送出する(ステップ216)。また、セラミックシート積層体100を、検査部10の検査テーブル11から、切断部50の切断テーブル51に搬送する(ステップ218)。   When the above processing is performed for the first direction and the second direction and the calculation of the relative cutting position is completed, the calculated relative cutting position is sent as cutting data to the inspection unit 50 (step 216). Moreover, the ceramic sheet laminated body 100 is conveyed from the inspection table 11 of the inspection unit 10 to the cutting table 51 of the cutting unit 50 (step 218).

次に、切断工程について説明する。図7に示すように、まず、検査部10(図3)から送出される切断データを取得する(ステップ231)。一方、検査部10から切断位置の算出を終えたセラミックシート積層体100が供給されると、切断テーブル51に吸着などにより固定して載置する(ステップ232)。この状態で切断を開始する(ステップ233)。   Next, the cutting process will be described. As shown in FIG. 7, first, cutting data sent from the inspection unit 10 (FIG. 3) is acquired (step 231). On the other hand, when the ceramic sheet laminate 100 for which the cutting position has been calculated is supplied from the inspection unit 10, it is fixedly placed on the cutting table 51 by suction or the like (step 232). Cutting is started in this state (step 233).

まず、実際に切断を実行する前に、切断刃の校正を行う(ステップ234)。切断刃の校正は、切断刃の取り付けまたは取り外しの位置決め誤差や、切断テーブル51からの熱や気温変化による切断刃の不規則な変形による切断精度低下を防止するために行う。図8に示すように、切断テーブル51(図3)上に載置されたセラミックシート積層体100の表面151(図5)の任意の位置に、軽く切断痕179を付ける。この切断痕179に対して、マーク認識カメラ55、57によるカメラ視野171、175の中に画像処理範囲内ウインドウ173、177を設定する。このように、ウインドウは、誤検出を防止するために切断痕179に対して複数設定され、それぞれで画像処理を行う。好ましくは切断痕179の両端部より切断刃の位置を撮像し、切断部画像処理装置53が画像処理を行って、切断痕179のセラミックシート積層体100に対する傾き及び位置ずれを切断刃校正データとして算出する。   First, the cutting blade is calibrated before actually cutting (step 234). The calibration of the cutting blade is performed in order to prevent a positioning error in attaching or detaching the cutting blade, and a reduction in cutting accuracy due to irregular deformation of the cutting blade due to heat from the cutting table 51 or changes in air temperature. As shown in FIG. 8, the cutting trace 179 is lightly attached to an arbitrary position on the surface 151 (FIG. 5) of the ceramic sheet laminate 100 placed on the cutting table 51 (FIG. 3). Image processing range windows 173 and 177 are set in the camera visual fields 171 and 175 by the mark recognition cameras 55 and 57 with respect to the cut mark 179. As described above, a plurality of windows are set for the cut marks 179 in order to prevent erroneous detection, and image processing is performed on each of the windows. Preferably, the position of the cutting blade is imaged from both ends of the cutting trace 179, and the cutting unit image processing device 53 performs image processing, and the inclination and positional deviation of the cutting trace 179 with respect to the ceramic sheet laminate 100 are used as cutting blade calibration data. calculate.

続いて、ターゲットマーク143(図8)によるセラミックシート積層体100の位置決めを行う(ステップ235)。すなわちマーク認識カメラ55、57(図8)は、ターゲットマーク143を撮像して画像情報を切断部画像処理装置53に送出し、切断部画像処理装置53が画像情報を解析して、ターゲットマーク143の重心位置を検出する。切断部画像処理装置53は、検出した重心位置および上記切断刃校正データを用いて切断テーブル51を回転あるいは平行移動させることにより、検査テーブル11からの搬送中のずれおよび切断刃181の位置ずれを補正するようにセラミックシート積層体100の位置を調整する。   Subsequently, the ceramic sheet laminate 100 is positioned by the target mark 143 (FIG. 8) (step 235). That is, the mark recognition cameras 55 and 57 (FIG. 8) capture the target mark 143 and send the image information to the cutting unit image processing device 53. The cutting unit image processing device 53 analyzes the image information, and the target mark 143 is analyzed. The position of the center of gravity is detected. The cutting unit image processing device 53 rotates or translates the cutting table 51 using the detected center-of-gravity position and the above-described cutting blade calibration data, thereby detecting the deviation during conveyance from the inspection table 11 and the positional deviation of the cutting blade 181. The position of the ceramic sheet laminate 100 is adjusted to correct.

セラミックシート積層体100の位置調整が終わると、図9に示すように、切断刃181が第1方向の最初の切断位置である切断位置123a近傍に配置されるように切断テーブル51を移動する(ステップ236)。この位置で、マーク認識カメラ57により、切断マーク145a近傍を撮像し、マーク認識カメラ55により切断マーク145c近傍を撮像し(ステップ237)、画像情報を切断部画像処理装置53に送出する。切断部画像処理装置53は、画像情報を基に切断マーク145aの重心183a、および切断マーク145cの重心183cを算出する(ステップ238)。   When the position adjustment of the ceramic sheet laminate 100 is finished, the cutting table 51 is moved so that the cutting blade 181 is disposed in the vicinity of the cutting position 123a that is the first cutting position in the first direction, as shown in FIG. Step 236). At this position, the mark recognition camera 57 images the vicinity of the cutting mark 145a, the mark recognition camera 55 images the vicinity of the cutting mark 145c (step 237), and sends the image information to the cutting unit image processing device 53. The cutting unit image processing device 53 calculates the center of gravity 183a of the cutting mark 145a and the center of gravity 183c of the cutting mark 145c based on the image information (step 238).

切断部画像処理装置53(図3)は、検査部10から入力された相対切断位置D1、D4を示す切断データ、および切断部画像処理装置53で算出した切断マーク145a、145cの重心位置のデータを基にして、切断位置123aを算出する(ステップ239)。この切断位置123aに切断刃181が配置されるように切断テーブル51を平行移動および回転させて補正し(ステップ240)、切断を実行する(ステップ241)。検査個数分の内部電極に関する算出が終了していない場合には(ステップ242:NO)ステップ237に戻り、図10のように、次の切断位置123bに切断刃181が配置されるように切断テーブル51の位置を調整し、マーク認識カメラ55、57が撮像する画像および検査部10からの切断データに基づき切断位置123bを算出し、切断を実行する。同様の処理を第1方向のすべての切断個数が終了するまで繰り返す(ステップ242)。   The cutting unit image processing device 53 (FIG. 3) includes cutting data indicating the relative cutting positions D1 and D4 input from the inspection unit 10, and data on the gravity center positions of the cutting marks 145a and 145c calculated by the cutting unit image processing device 53. Based on this, the cutting position 123a is calculated (step 239). The cutting table 51 is translated and rotated so that the cutting blade 181 is disposed at the cutting position 123a for correction (step 240), and cutting is executed (step 241). When the calculation regarding the number of internal electrodes for the number of inspections has not been completed (step 242: NO), the process returns to step 237, and the cutting table is arranged so that the cutting blade 181 is arranged at the next cutting position 123b as shown in FIG. 51, the cutting position 123b is calculated based on the image captured by the mark recognition cameras 55 and 57 and the cutting data from the inspection unit 10, and the cutting is executed. Similar processing is repeated until the number of cuts in the first direction is completed (step 242).

切断個数分の処理が終了すると(ステップ242:YES)、切断テーブル51を90度回転させ(ステップ243)、第2方向の最初の切断位置となる撮像位置、例えば、マーク認識カメラ55、57がそれぞれ辺157、161に沿って配置された切断マーク145を撮像する位置にさらに切断テーブル51を移動する(ステップ244)。検査テーブル11における第2方向の処理と同様、例えばマーク認識カメラ55により切断マーク145eを撮像し、マーク認識カメラ57により切断マーク145dを撮像し、画像情報を切断部画像処理装置53に送出する(ステップ245)。切断部画像処理装置53は、画像情報を基に切断マーク145e、145dの重心を算出する(ステップ246)。切断部画像処理装置53は、検査部10から入力された相対切断位置を示す切断データ、および切断部画像処理装置53で算出した切断マーク145e、145dの重心位置のデータを基にして、切断位置125(図9)を算出する(ステップ247)。切断位置125に切断刃181が配置されるように切断テーブル151を平行移動および回転させて補正し(ステップ248)、切断を実行する(ステップ249)。切断個数が終了するまで、所定のピッチで切断テーブル51を第2方向に移動させ、ステップ245からステップ249までの処理を繰り返す。以上の処理により、セラミックシート積層体100がチップ状素子130に切断されることになる(ステップ250)。   When the processing for the number of cuts is completed (step 242: YES), the cutting table 51 is rotated 90 degrees (step 243), and the imaging position that is the first cutting position in the second direction, for example, the mark recognition cameras 55 and 57 are displayed. The cutting table 51 is further moved to a position where the cutting marks 145 arranged along the sides 157 and 161 are imaged (step 244). Similar to the processing in the second direction in the inspection table 11, for example, the cutting mark 145e is imaged by the mark recognition camera 55, the cutting mark 145d is imaged by the mark recognition camera 57, and the image information is sent to the cutting unit image processing device 53 ( Step 245). The cutting unit image processing device 53 calculates the center of gravity of the cutting marks 145e and 145d based on the image information (step 246). The cutting unit image processing device 53 uses the cutting data indicating the relative cutting position input from the inspection unit 10 and the data of the center of gravity positions of the cutting marks 145e and 145d calculated by the cutting unit image processing device 53. 125 (FIG. 9) is calculated (step 247). The cutting table 151 is translated and rotated so that the cutting blade 181 is disposed at the cutting position 125 for correction (step 248), and cutting is executed (step 249). Until the number of cuts is completed, the cutting table 51 is moved in the second direction at a predetermined pitch, and the processing from step 245 to step 249 is repeated. Through the above processing, the ceramic sheet laminate 100 is cut into the chip elements 130 (step 250).

切断個数が終了すると(ステップ250:YES)、セラミックシート積層体100を切断テーブル51から排出し(ステップ251)、ステップ105(図1(a))の水バレル処理に進む(ステップ252)。このとき、4辺157、159、161、163のいずれかを含むチップ状素子はダミー電極である内部電極141を含むため、内部電極142のみを含む他のチップ状素子に比べて、大きさが大きい場合がある。よって、所定の大きさのふるいにかけるなどの処理をして、素子の大きさを選別することが好ましい。   When the number of cuts is completed (step 250: YES), the ceramic sheet laminate 100 is discharged from the cutting table 51 (step 251), and the process proceeds to the water barrel process of step 105 (FIG. 1A) (step 252). At this time, since the chip-shaped element including any of the four sides 157, 159, 161, 163 includes the internal electrode 141 that is a dummy electrode, the size is smaller than that of other chip-shaped elements including only the internal electrode 142. May be big. Therefore, it is preferable to select the size of the element by performing a process such as passing through a sieve having a predetermined size.

以上詳細に説明したように、上記セラミックシート積層体100の切断方法および切断装置によれば、切断時に直接内部電極141を観察する必要がなく、切断マーク145のみを撮像しながら切断データに基づいて切断を行うことができる。よって、切断精度を向上させることができる。また、切断マーク145は内部電極141に比べて検出が容易であり、さらに確実に精度よく切断を行うことが可能になる。   As described above in detail, according to the cutting method and cutting apparatus for the ceramic sheet laminate 100, it is not necessary to directly observe the internal electrode 141 at the time of cutting, and based on the cutting data while imaging only the cutting mark 145. Cutting can be done. Therefore, cutting accuracy can be improved. Further, the cutting mark 145 is easier to detect than the internal electrode 141, and it is possible to perform cutting more reliably and accurately.

切断部50においては、内部電極141を撮像するカメラが必要なく、端面151のみを撮像できればよいので、セラミックシート積層体100の側面近傍にカメラを配置しなくてよい。よって、カメラに切りくずなどが付着して画像の鮮明度が低下して切断位置の決定に悪影響を及ぼす心配がない。さらにこのような構成により、側面からセラミックシート積層体100を固定することも可能になり、さらに精度よく切断を実行することができる。   The cutting unit 50 does not need a camera for imaging the internal electrode 141, and only needs to be able to image only the end surface 151. Therefore, the camera need not be arranged near the side surface of the ceramic sheet laminate 100. Therefore, there is no concern that chips or the like adhere to the camera and the sharpness of the image is lowered, which adversely affects the determination of the cutting position. Furthermore, with such a configuration, the ceramic sheet laminate 100 can be fixed from the side surface, and cutting can be performed with higher accuracy.

また、検査部10において切断データを算出し、切断部50において切断を行うので、切断データの算出と切断とを並行して実行することが可能になる。よって、生産効率を向上させることができる。   In addition, since the cutting data is calculated by the inspection unit 10 and the cutting is performed by the cutting unit 50, the calculation of the cutting data and the cutting can be performed in parallel. Therefore, production efficiency can be improved.

切断実行前には、切断部50において切断刃181の校正を行うので、切断テーブル51からの熱や気温の変化による切断刃181の不規則な変形により切断精度が悪化するのを防止することができる。   Before the cutting is performed, the cutting blade 181 is calibrated in the cutting unit 50, so that it is possible to prevent the cutting accuracy from being deteriorated due to irregular deformation of the cutting blade 181 due to heat from the cutting table 51 or changes in the air temperature. it can.

さらに、上記セラミックシート積層体の切断方法および切断装置により製造されたチップ状素子130に外部電極133を形成することで、上記作用および効果を奏するセラミック電子部品135を製造することが可能である。   Furthermore, by forming the external electrode 133 on the chip-like element 130 manufactured by the cutting method and cutting apparatus for the ceramic sheet laminate, it is possible to manufacture the ceramic electronic component 135 that exhibits the above-described functions and effects.

尚、本発明のセラミックシート積層体の切断方法および切断装置は、上述した実施の形態に限定されず、請求項に記載した範囲内で種々の変形や改良が可能である。   In addition, the cutting method and cutting apparatus of the ceramic sheet laminated body of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and various modifications and improvements can be made within the scope described in the claims.

例えば、図2に示したコンデンサに代えて、例えば、図11に示すように、コイル部品を形成することもできる。このチップ状コイル330は、切断したセラミックシート121と、セラミックシート121に電析メッキ膜315よりなるコイル巻きパターン313a、スルーホールパターン313b、引き出しパターン313c等を形成したシート317を適宜順次積層して形成されている。このほかにも、電極パターンを変更することで、インダクタ、バリスタ、サーミスタ、あるいはそれらの複合部品等を形成することもできる。   For example, instead of the capacitor shown in FIG. 2, for example, a coil component can be formed as shown in FIG. The chip-like coil 330 is formed by appropriately laminating a cut ceramic sheet 121 and a sheet 317 on which a coil winding pattern 313a made of an electrodeposition plating film 315, a through-hole pattern 313b, a lead pattern 313c, etc. are formed on the ceramic sheet 121. Is formed. In addition, inductors, varistors, thermistors, or composite parts thereof can be formed by changing the electrode pattern.

また、ターゲットマーク143、切断マーク145の形態、個数については上記実施の形態に限定されず、他の形態、個数でもよい。   Further, the form and number of the target mark 143 and the cutting mark 145 are not limited to the above-described embodiment, and other forms and numbers may be used.

切断位置123bの相対切断位置を算出する際、切断マーク145aからの距離として算出したが、切断マーク145bからの距離として算出するようにしてもよく、基準とする切断マークについては適宜選択することが可能である。   When calculating the relative cutting position of the cutting position 123b, it was calculated as the distance from the cutting mark 145a. However, it may be calculated as the distance from the cutting mark 145b, and the reference cutting mark may be appropriately selected. Is possible.

切断マーク145、内部電極141を撮像して切断位置を算出する方法については、上記方法では、切断箇所1箇所ずつについて切断マーク145に対する相対切断位置を算出しているが、例えば同一の工程により製造された多くのセラミックシート積層体100について切断データを算出し、算出された切断データを統計処理することで相対切断位置の標準値を求め、標準値にしたがって例えば一定ピッチ間隔で自動的に切断するなど、処理工程を変形することもできる。   As for the method of calculating the cutting position by imaging the cutting mark 145 and the internal electrode 141, in the above method, the relative cutting position with respect to the cutting mark 145 is calculated for each cutting point. Cutting data is calculated for many ceramic sheet laminates 100 obtained, and the calculated cutting data is statistically processed to obtain a standard value of the relative cutting position. For example, the cutting is automatically performed at regular pitch intervals according to the standard value. For example, the processing steps can be modified.

本発明のセラミックシート積層体の切断方法および切断装置は、セラミック電子部品などの製造に適用することができる。   The method and apparatus for cutting a ceramic sheet laminate of the present invention can be applied to the production of ceramic electronic components and the like.

本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法を示す図であり、(a)は製造方法を示すフローチャート、(b)はチップ状素子の製造を示す概念斜視図、(c)はチップ状素子を示す概念図、(d)は外部電極が設けられたセラミック電子部品を示す概略図。It is a figure which shows the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention, (a) is a flowchart which shows a manufacturing method, (b) is a conceptual perspective view which shows manufacture of a chip-shaped element, (c) is a chip | tip. FIG. 4D is a schematic diagram showing a ceramic electronic component provided with external electrodes. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるチップ状素子の構成を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the structure of the chip-shaped element in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミックシート積層体の切断装置を示すブロック図。The block diagram which shows the cutting device of the ceramic sheet laminated body by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の検査工程を示すフローチャート。The flowchart which shows the test process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の検査工程を説明する概略図。Schematic explaining the inspection process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の検査工程を説明する概略部分斜視図。The schematic partial perspective view explaining the inspection process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の切断工程を示すフローチャート。The flowchart which shows the cutting process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法における切断刃の校正方法を示す概略図。Schematic which shows the calibration method of the cutting blade in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の切断工程を説明する概略部分斜視図。The schematic partial perspective view explaining the cutting process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるセラミック電子部品の製造方法におけるセラミックシート積層体の切断工程を説明する概略部分断面図。The schematic fragmentary sectional view explaining the cutting process of the ceramic sheet laminated body in the manufacturing method of the ceramic electronic component by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態の変形例によるセラミック電子部品の製造方法におけるチップ状素子の構成を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the structure of the chip-shaped element in the manufacturing method of the ceramic electronic component by the modification of one embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 セラミックシート積層体の切断装置
10 検査部
11 検査テーブル
13 検査部画像処理装置
15、17、55、57 マーク認識カメラ
19、21 側面認識カメラ
30 通信ライン
51 切断テーブル
53 切断部画像処理装置
100 セラミックシート積層体
120 セラミックシート
123、125 切断位置
145 切断マーク
147 重心
D1 相対切断位置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cutting apparatus of ceramic sheet laminated body 10 Inspection part 11 Inspection table 13 Inspection part Image processing apparatus 15, 17, 55, 57 Mark recognition camera 19, 21 Side recognition camera 30 Communication line 51 Cutting table 53 Cutting part image processing apparatus 100 Ceramic Sheet laminate 120 Ceramic sheet 123, 125 Cutting position 145 Cutting mark 147 Center of gravity D1 Relative cutting position

Claims (7)

内部電極とセラミックシートとが交互に積層され、積層方向の互いに対向する端面と、該端面と略直交し互いに対向する第1側面および第2側面とを有し、少なくとも該第1側面には該内部電極の一部が露出する電極露出部を有する積層体を準備する積層体準備工程と、
少なくとも一方の該端面に複数の位置決めマークを形成するマーク形成工程と、
該位置決めマークと該電極露出部との相対位置を検出し、検出した該相対位置に応じて、該位置決めマークを基準とした相対切断位置を算出する切断位置算出工程と、
該位置決めマークの位置と算出された該相対切断位置とに応じた切断位置で該積層体を切断する切断工程とを有することを特徴とするセラミックシート積層体の切断方法。
The internal electrodes and the ceramic sheets are alternately stacked, and have end faces facing each other in the stacking direction, and first and second side faces that are substantially orthogonal to the end faces and face each other, and at least the first side face includes the first side face and the second side face. A laminate preparation step of preparing a laminate having an electrode exposed portion where a part of the internal electrode is exposed,
A mark forming step of forming a plurality of positioning marks on at least one of the end faces;
A cutting position calculating step of detecting a relative position between the positioning mark and the electrode exposed portion, and calculating a relative cutting position based on the positioning mark according to the detected relative position;
A cutting method of a ceramic sheet laminate, comprising: a cutting step of cutting the laminate at a cutting position corresponding to the position of the positioning mark and the calculated relative cutting position.
該位置決めマークは、該端面と該第1側面との境界をなす第1辺に沿って等間隔に設けられ、且つ該端面と該第2側面との境界をなす第2辺に沿って等間隔に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のセラミックシート積層体の切断方法。   The positioning marks are provided at equal intervals along a first side that forms a boundary between the end surface and the first side surface, and are equally spaced along a second side that forms a boundary between the end surface and the second side surface. The method for cutting a ceramic sheet laminate according to claim 1, wherein the ceramic sheet laminate is cut. 該電極露出部は、該第1辺及び該第2辺に沿って略等間隔に第1側面及び第2側面において露出していることを特徴とする請求項2に記載のセラミックシート積層体の切断方法。   3. The ceramic sheet laminate according to claim 2, wherein the electrode exposed portions are exposed on the first side surface and the second side surface at substantially equal intervals along the first side and the second side. Cutting method. 該切断工程は、
該位置決めマークの表示位置を検出する表示位置検出工程と、
検出した該表示位置を基準とし、該相対切断位置に応じた切断位置で該積層体を切断する切断実行工程とを有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセラミックシート積層体の切断方法。
The cutting step includes
A display position detecting step for detecting the display position of the positioning mark;
The ceramic sheet laminate according to claim 1, further comprising a cutting execution step of cutting the laminate at a cutting position corresponding to the relative cutting position with the detected display position as a reference. Cutting method.
請求項1乃至請求項4のいずれか一記載のセラミックシート積層体の切断方法を有することを特徴とするセラミック電子部品の製造方法。   A method for producing a ceramic electronic component comprising the method for cutting a ceramic sheet laminate according to any one of claims 1 to 4. 内部電極とセラミックシートとが交互に積層され、積層方向の互いに対向する端面と、該端面と略直交し互いに対向する第1側面および第2側面とを有し、少なくとも該第1側面には該内部電極の一部が露出する電極露出部を有し、端面の少なくとも一方には、複数の位置決めマークが形成されている積層体の、該位置決めマークの位置を第1位置として検出する第1検出部と、
該電極露出部の位置を第2位置として検出する電極検出部と、
該第1位置および該第2位置に基づき相対切断位置を決定する切断位置決定部と、
切断時の該位置決めマークの位置を第3位置として検出する第2検出部と、
該第3位置を基準として該相対切断位置に応じた切断位置で該積層体を切断する切断部とを有することを特徴とするセラミックシート積層体の切断装置。
The internal electrodes and the ceramic sheets are alternately stacked, and have end faces facing each other in the stacking direction, and first and second side faces that are substantially orthogonal to the end faces and face each other, and at least the first side face includes the first side face and the second side face. First detection for detecting a position of a positioning mark of a stacked body having an electrode exposed portion where a part of the internal electrode is exposed and having a plurality of positioning marks formed on at least one of the end faces. And
An electrode detector that detects the position of the electrode exposed portion as a second position;
A cutting position determining unit that determines a relative cutting position based on the first position and the second position;
A second detector that detects the position of the positioning mark at the time of cutting as a third position;
A ceramic sheet laminate cutting apparatus comprising: a cutting section that cuts the laminate at a cutting position corresponding to the relative cutting position with respect to the third position.
該第1検出部および該電極検出部を備えた第1ステージと、
該第2検出部および該切断部を備え該第1ステージと分離した第2ステージとを有することを特徴とする請求項6に記載のセラミックシート積層体の切断装置。
A first stage comprising the first detector and the electrode detector;
The apparatus for cutting a ceramic sheet laminate according to claim 6, further comprising a second stage provided with the second detection unit and the cutting unit and separated from the first stage.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112838021A (en) * 2020-12-31 2021-05-25 杭州广立微电子股份有限公司 Method for judging relative position of device and cut-off layer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0878273A (en) * 1994-09-07 1996-03-22 Rohm Co Ltd Production of multilayer electronic device
JP2000021680A (en) * 1998-07-06 2000-01-21 Tdk Corp Manufacture of multilayer chip component and device
JP2002184646A (en) * 2000-12-12 2002-06-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method of manufacturing ceramic electronic component
JP2005034981A (en) * 2003-06-30 2005-02-10 Murata Mfg Co Ltd Cutting device and cutting method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0878273A (en) * 1994-09-07 1996-03-22 Rohm Co Ltd Production of multilayer electronic device
JP2000021680A (en) * 1998-07-06 2000-01-21 Tdk Corp Manufacture of multilayer chip component and device
JP2002184646A (en) * 2000-12-12 2002-06-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method of manufacturing ceramic electronic component
JP2005034981A (en) * 2003-06-30 2005-02-10 Murata Mfg Co Ltd Cutting device and cutting method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112838021A (en) * 2020-12-31 2021-05-25 杭州广立微电子股份有限公司 Method for judging relative position of device and cut-off layer
CN112838021B (en) * 2020-12-31 2023-07-18 杭州广立微电子股份有限公司 Method for judging relative position of device and cutting layer

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