JP2007256295A - モジュール式試験システムにおけるデータログサポート - Google Patents
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- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
Abstract
【解決手段】モジュール式試験システムを提供することを含み、モジュール式試験システムは、少なくとも1つのサイトコントローラを制御するシステムコントローラを備え、少なくとも1つのサイトコントローラは少なくとも1つの試験モジュールを制御する。ユーザ定義データログフォーマットの拡張をサポートするデータログフレームワークを提供すること、ユーザ開始データログイベントをサポートするサポートクラスを提供すること、ソースから宛先に入力試験情報を通信するように要求するデータログイベントを受け取ること、宛先、データログフレームワーク及びサポートクラスに基づいて出力試験情報を構成すること、及び出力試験情報を宛先に転送することをさらに含む。
【選択図】図2
Description
一実施形態では、サイトコントローラベースのオブジェクトは、IDatalogSourceインタフェース208をインプリメントすることによりデータログイベントのソースとして作用してもよい。たとえば、テストプラン及びテストオブジェクトは、イベントのソースの例である。このようなオブジェクトの各インスタンスは、IDatalogSourceインタフェースをインプリメントする。さらに、このようなオブジェクトの各タイプ、たとえばFuntionalTestは、それに関連するIDatalogTypeインタフェース206のインプリメンテーションを有する。これは、データログソースの各タイプに対してクラス全体のスタティックオブジェクトによって達成される。図3は、本発明の一実施形態によるデータログソースのインプリメンテーションを示す。データログソースは、機能試験(functional test())クラス302、データログタイプインプリメンテーション(datalog type implementation())クラス304、データログタイプインタフェース306及びデータログソースインタフェース308を含む。
テストプランがロードされる時、データログイベントソースは、DatalogManagerオブジェクトに登録してもよい。この登録からの戻り値は識別子であり、それは後にイベントを生成するために使用される。
試験中、オブジェクトは、データストリームにロギングされるデータログイベントを生成してもよい。図5は、本発明の一実施形態によるデータをフォーマットしストリーミングする方法を示す。このタスクを実行する協働するオブジェクト及びインタフェースのグループには、TestPlanオブジェクト502と、DatalogValuesオブジェクト504と、DatalogManagerオブジェクト506と、データログフォーマットインタフェース(IDatalogFormat)508と、データログストリームインタフェース(IDatalogStream)510とが含まれる。TestPlan502は、DatalogValuesオブジェクトインスタンス504を生成し、setValue()メソッドを呼び出すことにより適当な値を設定し、このオブジェクトをDatalogManager506のdoDatalog()メソッドに渡す。そして、doDatalog()メソッドは、タイプ/イベントの組合せに対して適当なデータログフォーマットオブジェクト508を見つけ、このデータログフォーマットオブジェクト508に対してapply()メソッドを呼び出すことにより引換えにストリングオブジェクトを取得する。そして、このストリングオブジェクトは、writeMessage()メソッドを使用して、出力されるために関連するデータログストリームオブジェクト510に渡される。
Version 0.1.0;
# Enable the datalog system
Enabled;
# Step 1: Stream Creation
# Creates a stream of type FileStream, which logs the message to
# a file.
Stream FunctionalTestStream
{
DLL "FileStream";
FileName "FuncDatalogDut<DutID>.log";
Overwrite"1";
}
# Step 2: Format Creation
# Adds a format with a line that looks like:
# Signal Info: $SignalInfo
# where $SignalInfo is replaced by the string provided in the datalog
# source.
Format SignalInfoFormat
{
DLL "GeneralFormat";
Format "Signal Info: $SignalInfo";
} # Adds a format with a line that looks like:
# Test Result: $Result
# where $Result is replaced by the string provided in the datalog
# source.
Format TestResultFormat
{
DLL "GeneralFormat";
Format "Test Result: $Result";
}
# Step 3: FormatMap Creation
# Maps format SignalInfoFormat to event DumpSignal from sources
# of type com.Advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest.
FormatMap SignalFormatMap
{
Type com.advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest;
Event DumpSignal;
Format SignalInfoFormat;
}
# Maps format TestResultFormat to event TestResult from sources
# of type com.Advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest.
FormatMap ResultFormatMap
{
Type com.advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest;
Event TestResult;
Format TestResultFormat;
}
# Step 4: FormatGroup Creation
# Creates a group which directs messages from format map
# SignalFormatMap and ResultFormatMap to destination FunctionalTestStream
# and ConsoleStream.
FormatGroup FunctionalTestGroup
{
FormatMap SignalFormatMap;
FormatMap ResultFormatMap;
Stream FunctionalTestStream;
Stream ConsoleStream;
}
さらに別の実施形態では、データログセットアップファイルは、4つの異なるタイプのブロック、すなわちデータログフォーマットブロック、データログストリームブロック、データログフォーマットマップブロック及びデータログフォーマットグループブロックを含む。これらのブロックを使用して、データログフォーマット、データログストリーム、データログフォーマットマップ及びデータログフォーマットグループがそれぞれ定義される。これらの4つのブロックのうちの任意のものを、同じセットアップファイルにおいて複数回使用してもよく、複数の別々のデータログセットアップファイルを用いてデータログシステムをセットアップしてもよい。このように、データログシステムセットアップは、モジュール式であり且つ柔軟である。たとえば、Cal/Diagsデータロギングをセットアップするための第1のデータログセットアップファイルと、機能試験のためのデータロギングをセットアップするための第2のデータログセットアップファイルと、パラメータ試験のためのデータロギングをセットアップするための第3のデータログセットアップファイルとがあってもよい。
一実施形態では、データログフォーマットブロックを使用してデータログフォーマットが定義される。フォーマットの定義には、フォーマット名、フォーマットDLL名、メッセージフォーマットストリング及び任意のユーザ定義フォーマットパラメータが含まれてもよい。フォーマットDLL名がGeneralFormatである場合、事前定義されたGeneralFormatが使用され、そうでない場合、ユーザ定義データログフォーマットが使用される。後者の場合、ユーザは、システム試験ディレクトリにデータログフォーマットDLLを提供する。以下のデータログAPIが呼び出されることにより、データログフォーマットブロックが定義される。
const OFCString &typeName,
const OFCString &format,
const DatalogProperties_t properties);
and
FormatSignalInfoFormat
{
DLL "GeneralFormat";
Format"$SignalInfo";
}
は、事前定義されたGeneralFormatを利用するフォーマットSignalInfoFormatを定義する。そのフォーマットストリングは$SignalInfoであり、ここでは、$SignalInfoは、ランタイム中に、引き渡されたデータログレコード(DatalogValues)においてデータログ変数SignalInfoによって置き換えられてもよいトークンである。データログフォーマットブロックを使用して、データログシステムから既存のデータログフォーマットを除去することができる。このシナリオでは、以下のデータログAPIが呼び出される。
void DatalogManager::removeFormat(const OFCString &formatName);
and
Format AnExistingFormat Disabled;
は、データログシステムからデータログフォーマットAnExistingFormatを除去する。
別の実施形態では、データログストリームブロックを使用してデータログストリームが定義される。データログストリームの定義には、ストリーム名、ストリームDLL名及び任意のユーザ定義ストリームパラメータが含まれる。ストリームDLL名がFileStream又はConsoleStreamである場合、組込みデータログストリームFileStream又はConsoleStreamが使用され、そうでない場合、ユーザ定義データログストリームが使用される。後者の場合、ユーザは、システム試験ディレクトリにデータログストリームDLLを提供する。以下のデータログAPIが呼び出されることにより、データログストリームブロックが定義される。
void DatalogManager::addStream(const OFCString &streamName,
const OFCString &typeName,
const DatalogProperties_t properties);
and
Stream FunctionalTestStream
{
DLL "FileStream";
FileName "datalog<DutID>.log";
Overwrite "0";
}
は、任意のパラメータFileName及びOverwriteとともに組込みストリームFileStreamを利用するストリームFunctionalTestStreamを定義する。なお、FileStreamは、自動変数<DutID>及び<TimeStamp(タイムスタンプ)>を用いてファイル名をサポートすることに留意する。<DutID>は、ランタイム中に現DUT IDに置き換えられ、<TimeStamp>は、Thu_Nov_13_06_40_28_2003等のフォーマットで現日時に置き換えられる。
void DatalogManager::removeStream(const OFCString &streamName);
and
Stream AnExistingStream Disabled;
は、データログシステムからデータログストリームAnExistingStreamを除去する。
異なる一実施形態では、データログタイプブロックを使用してデータログタイプに対するユーザ特定特性が定義される。以下のデータログAPIが呼び出されることによりデータログタイプブロックが定義される。
const;
void IdatalogType::addProperty(const OFCString &propName,
const OFCString &propValue);
and
Type com.Advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest
{
Mode "Detailed";
}
は、データログタイプ「com.Advantest. oai.TestClasses. FunctionalTest」に対して値"Detailed"を用いて特性モードを定義する。
さらに別の実施形態では、データログフォーマットマップブロックを使用してデータログフォーマットマップが定義される。フォーマットマップの定義には、フォーマットマップ名、データログタイプ名及びマップされるそのイベント名、並びにマップされるフォーマット名が含まれる。以下のデータログAPIが呼び出されることにより、データログフォーマットマップブロックが定義される。
void DatalogManager::createFormatMap(const OFCString &mapName,
const OFCString &typeName,
const OFCString &eventName,
const OFCString &formatName);
and
FormatMap SignalFormatMap
{
Type com.Advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest;
Event DumpSignal;
Format SignalInfoFormat;
}
は、データログタイプcom.Advantest.oai.TestClasses.FunctionalTest及びそのイベントDumpSignalをフォーマットSignalInfoFormatにマップするフォーマットマップSignalFormatMapを定義する。
void DatalogManager::removeFormatMap(const OFCString &mapName);
が呼び出されることによりこのタスクが実行される。
一実施形態では、データフォーマットブロックを使用してデータログフォーマットグループが定義される。Format Groupの定義には、フォーマットグループ名、フォーマットグループが含むフォーマットマップの名前のリスト、及びフォーマットグループから生成されるメッセージがエクスポートされるストリームの名前のリストが含まれる。以下のデータログAPIが呼び出されることにより、データログフォーマットグループブロックが定義される。
voidDatalogManager::createFormatGroup(const OFCString &groupName,
const OFCStringVec_t &mapNames);
voidDatalogManager::setStream(const OFCString &groupName,
const OFCString &streamName);
第1のコールは、フォーマットのベクトルを含むフォーマットグループを生成し、第2のコールは、生成されたフォーマットグループにデータログストリームを追加する。たとえば、
FormatGroup FunctionalTestGroup
{
FormatMap SignalFormatMap;
FormatMap ResultFormatMap;
Stream FunctionalTestStream;
Stream ConsoleStream;
}
は、フォーマットマップSignalFormatMap及びResultFormatMapを含むフォーマットグループFunctionalTestGroupを定義する。フォーマットグループから生成されるメッセージは、データログストリームFunctionalTestStream及びConsoleStreamにエクスポートされる。
void DatalogManager::removeFormatGroup(const OFCString
&groupName);
が呼び出されることによりこの機能が実行される。
以下の例では、DatalogManagerProxy、DatalogHandelerProxy及びDatalogFilterProxy等のプロキシオブジェクトがシステムコントローラで実行しているアプリケーションによって使用されることにより、1つ又は複数のサイトコントローラにおけるデータログフレームワークの現状態及び動作がリモートに制御される。これらのオブジェクトは、サイトコントローラの現実のオブジェクトに対するリモートプロキシとして作用し、これらのオブジェクトに対し、システムコントローラのアプリケーションが通信プロトコルの複雑性ではなくローカルオブジェクトを扱うことができるようにする透過的な通信チャネルを提供する。
class IProperty
{
public:
OFCString &getProperty(const OFCString &name) const;
void setProperty(const OFCString &name, const OFCString
*value);
OFCStringVec_t getPropertyNames() const;
};
where FooArgument is one of the properties in the new test source.
Claims (16)
- ソースから宛先に試験情報を通信する方法であって、
モジュール式試験システムを提供することであって、該モジュール式試験システムは、少なくとも1つのサイトコントローラを制御するシステムコントローラを備え、該少なくとも1つのサイトコントローラは少なくとも1つの試験モジュールを制御するためのものである、モジュール式試験システムを提供すること、
ユーザ定義データログフォーマットの拡張をサポートするデータログフレームワークを提供すること、
ユーザ開始データログイベントをサポートするサポートクラスを提供すること、
前記ソースから前記宛先に入力試験情報を通信するように要求するデータログイベントを受け取ること、
前記宛先、前記データログフレームワーク及び前記サポートクラスに基づいて出力試験情報を構成すること、及び
前記出力試験情報を前記宛先に転送すること
を含む、ソースから宛先に試験情報を通信する方法。 - 前記データログフレームワークは、
異なるベンダからの個々のソースの前記入力試験情報をサポートするソースインタフェースと、
データログソース及び宛先のクラスを表すタイプインタフェースと、
フォーマッティング機能を提供するフォーマットインタフェースと、
フォーマットされた試験情報を異なる宛先に転送するストリームインタフェースと、
対応するソース、ストリーム、フォーマット及び宛先に応じてデータログイベントを管理するデータログマネージャと、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記サポートクラスは、
ヘッダ、タイプ及びイベント情報を格納するデータログ値クラスと、
ユーザイベントのタイプ及び名前を結合するデータログフォーマットマップクラスと、
フォーマットマップのグループをバンドルするデータログフォーマットグループクラスと、
ユーザ定義フォーマットクラスをサポートするユーザフォーマットクラスと、
1組の事前定義されたフォーマットクラスをサポートする汎用フォーマットクラスと、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記データログフレームワークを提供するステップは、
1つ又は複数のデータログストリームを生成すること、
1つ又は複数のユーザフォーマットを生成すること、
1つ又は複数のデータログフォーマットマップを生成すること、
1つ又は複数のデータログフォーマットグループを生成すること、及び
前記1つ又は複数のデータログストリーム、前記1つ又は複数のユーザフォーマット、前記1つ又は複数のデータログフォーマットマップ及び前記1つ又は複数のデータログフォーマットグループを対応するデータログマネージャにリンクすること
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記データログフレームワークは、入力試験情報の前記ソース及び内容から独立している、請求項1に記載の方法。
- 前記データログフレームワークは、出力試験情報の前記宛先及び内容から独立している、請求項1に記載の方法。
- 前記出力試験情報のフォーマットは、ユーザによって構成可能である、請求項1に記載の方法。
- 前記構成するステップは、
データログ値オブジェクトを生成することであって、該データログ値オブジェクトはタイプ及びイベント情報を含む、データログ値オブジェクトを生成すること、
対応する宛先、データログフレームワーク及びサポートクラスに基づいてデータログフォーマットオブジェクトを確定すること、及び
該データログフォーマットオブジェクトを使用して前記出力試験情報をフォーマットすること
を含む、請求項1に記載の方法。 - モジュール式試験システムであって、
システムコントローラと、
該システムコントローラに結合される少なくとも1つのサイトコントローラと、
少なくとも1つの試験モジュール及びその対応する被試験デバイス(DUT)と、
ユーザ定義データログフォーマットの拡張をサポートするように構成されるデータログフレームワークと、
ユーザ開始データログイベントをサポートするように構成される1つ又は複数のサポートクラスと、
前記ソースから前記宛先に入力試験情報を通信するように要求するデータログイベントを受け取る手段と、
前記宛先、前記データログフレームワーク及び前記サポートクラスに基づいて出力試験情報を構成する手段と、
該出力試験情報を前記宛先に転送する手段と、
を具備する、モジュール式試験システム。 - 前記データログフレームワークは、
異なるベンダからの個々のソースの前記入力試験情報をサポートするソースインタフェースと、
データログソース及び宛先のクラスを表すタイプインタフェースと、
フォーマッティング機能を提供するフォーマットインタフェースと、
フォーマットされた試験情報を異なる宛先に転送するストリームインタフェースと、
対応するソース、ストリーム、フォーマット及び宛先に応じてデータログイベントを管理するデータログマネージャと、
を含む、請求項9に記載のシステム。 - 前記サポートクラスは、
ヘッダ、タイプ及びイベント情報を格納するデータログ値クラスと、
ユーザイベントのタイプ及び名前を結合するデータログフォーマットマップクラスと、
フォーマットマップのグループをバンドルするデータログフォーマットグループクラスと、
ユーザ定義フォーマットクラスをサポートするユーザフォーマットクラスと、
1組の事前定義されたフォーマットクラスをサポートする汎用フォーマットクラスと、
を含む、請求項9に記載のシステム。 - 前記データログフレームワークを提供することは、
1つ又は複数のデータログストリームを生成する手段と、
1つ又は複数のユーザフォーマットを生成する手段と、
1つ又は複数のデータログフォーマットマップを生成する手段と、
1つ又は複数のデータログフォーマットグループを生成する手段と、
前記1つ又は複数のデータログストリーム、前記1つ又は複数のユーザフォーマット、前記1つ又は複数のデータログフォーマットマップ及び前記1つ又は複数のデータログフォーマットグループを対応するデータログマネージャにリンクする手段と
をさらに具備する、請求項9に記載のシステム。 - 前記データログフレームワークは、入力試験情報の前記ソース及び内容から独立している、請求項9に記載のシステム。
- 前記データログフレームワークは、出力試験情報の前記宛先及び内容から独立している、請求項9に記載のシステム。
- 前記出力試験情報のフォーマットは、ユーザによって設定できる、請求項9に記載のシステム。
- 前記出力試験情報を構成する手段は、
タイプ及びイベント情報を含むデータログ値オブジェクトを生成する手段と、
対応する宛先、データログフレームワーク及びサポートクラスに基づいてデータログフォーマットオブジェクトを確定する手段と、
該データログフォーマットオブジェクトを使用して前記出力試験情報をフォーマットする手段と
を具備する、請求項9に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US57357704P | 2004-05-22 | 2004-05-22 | |
US10/917,821 US7430486B2 (en) | 2004-05-22 | 2004-08-13 | Datalog support in a modular test system |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006519569A Division JP2007528992A (ja) | 2004-05-22 | 2005-05-23 | モジュール式試験システムにおけるデータログサポート |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007256295A true JP2007256295A (ja) | 2007-10-04 |
JP4608517B2 JP4608517B2 (ja) | 2011-01-12 |
Family
ID=34968847
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006519569A Withdrawn JP2007528992A (ja) | 2004-05-22 | 2005-05-23 | モジュール式試験システムにおけるデータログサポート |
JP2007120882A Expired - Fee Related JP4608517B2 (ja) | 2004-05-22 | 2007-05-01 | モジュール式試験システム |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006519569A Withdrawn JP2007528992A (ja) | 2004-05-22 | 2005-05-23 | モジュール式試験システムにおけるデータログサポート |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7430486B2 (ja) |
EP (1) | EP1756604B1 (ja) |
JP (2) | JP2007528992A (ja) |
AT (1) | ATE440292T1 (ja) |
DE (1) | DE602005016108D1 (ja) |
TW (1) | TW200608187A (ja) |
WO (1) | WO2005114238A1 (ja) |
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- 2004-08-13 US US10/917,821 patent/US7430486B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-05-18 TW TW094116147A patent/TW200608187A/zh unknown
- 2005-05-23 AT AT05743582T patent/ATE440292T1/de not_active IP Right Cessation
- 2005-05-23 JP JP2006519569A patent/JP2007528992A/ja not_active Withdrawn
- 2005-05-23 DE DE602005016108T patent/DE602005016108D1/de active Active
- 2005-05-23 EP EP05743582A patent/EP1756604B1/en not_active Not-in-force
- 2005-05-23 WO PCT/JP2005/009810 patent/WO2005114238A1/en not_active Application Discontinuation
-
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- 2007-05-01 JP JP2007120882A patent/JP4608517B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005114238A1 (en) | 2005-12-01 |
EP1756604B1 (en) | 2009-08-19 |
US20050262414A1 (en) | 2005-11-24 |
EP1756604A1 (en) | 2007-02-28 |
JP4608517B2 (ja) | 2011-01-12 |
ATE440292T1 (de) | 2009-09-15 |
DE602005016108D1 (de) | 2009-10-01 |
TW200608187A (en) | 2006-03-01 |
JP2007528992A (ja) | 2007-10-18 |
US7430486B2 (en) | 2008-09-30 |
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Date | Code | Title | Description |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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