JP2007248320A - ガス流量計、及びガス流量制御装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材からなる層流素子30と、層流素子30の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段17、26と、下流側の圧力P2を検出する手段26と、差圧ΔPに基づいて体積流量Qを
Q=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、またBはガスの圧縮率に対する補正値を表す。)
なる関係により算出する手段32とにより構成されている。
【選択図】 図1
Description
Q=(P1−P2)*4πD /(128*L*μ)
ただし、Dは層流素子の流路径、Lは層流素子の流路長、μはガスの粘性率
P1:層流素子の上流側の圧力、P2は層流素子の下流側の圧力
をそれぞれ表す。
なる関係を利用して体積流量を測定するように構成されている。
キャピラリー管にはハーゲンポアゼイユの原理で生じた差圧に対応したガスの流れが生じるので、これと熱伝導関係にあるヒーターコイルの熱変化を測定することにより流量を知ることができ、さらにバイパス部とセンサ部の分流比により換算することによりセンサー部の流量を検出することが可能となる。
しかしながら、本来の流路にキャピラリー管を形成する必要上、流路構造が複雑化して小型化には限界がある。
Q=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、またBはガスの圧縮率に対する補正値を表す。)
なる関係により算出するように構成されている。
Q=[{A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)}-αQ*Q]/β
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とを備える。
Qm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とを備える。
αQm*Qm+βQm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とを備える。
Q=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、またBはガスの圧縮率に対する補正値を表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されている。
Q=[{A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)}-αQ*Q]/β
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されている。
Qm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されている。
αQm*Qm+βQm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されている。
図1は、本発明の層流流量計の一実施例を、流量制御装置に組み込んだ状態で示すものであって、この実施例では2つのブロック体を組み合わせて所要の流路が形成されている。
具体的には第1のブロック体10には流入口11と、流量制御弁室12と、第1の接続流路13と、第1の接続流路13に接続流路14により連通して圧力検出室を構成する凹部15と、後述する層流素子30を装填するための凹部16とが形成されている。
なお、このような多孔質体は、フィルターや濾過器に使用される汎用性が高い材料として容易に入手が可能である。
層流素子30を流れる流体の体積流量Qは、
Q=A*(P1−P2)*(P1+P2+B)/μ
として表すことができる。
Q=A*(ΔP)*(ΔP+2*P2+B)/μ
として表すこともできる。
Qm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度をそれぞれ表す。)
として求めることができる。
Q=A*(P1−P2)*(P1+P2+B)
により算出される流量が基準流量計の流量値に等しくなるBの値を求める操作を繰り返すとよい。
A*(P1−P2)*(P1+P2+B)
により算出した流量に対する補正値は、図5に示した関係となる。
αV×V+βV=Q=A×(P1−P2)×(P1+P2+B)
なる関係により表すと、窒素N2、アルゴンAr、ヘリウムHe、水素H2のそれぞれの分子量補正係数α、ガスの種類による粘性補正係数βは、図6、及び図7に示したような値となる。
よって、ガス種に対し、分子量補正係数α及び粘性補正係数βは予め算出できるので、ガス種が変わった場合でも、容易に本発明により検出されるQから流量を求めることができる。
さらに上述の実施例においては、流量制御器として構成する場合の便を考慮して同一形状のブロック体に流路や凹部を形成して構成したが、配管などで接続しても同様の作用を奏することは明らかである。
14 接続流路 15、25 圧力検出室を構成する凹部 16、21 層流素子を装填するための凹部 17、26 圧力検出手段17、26 22 流出口 23 第2の接続流路
Claims (12)
- 流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、前記差圧ΔPに基づいて体積流量Qを
Q=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、またBはガスの圧縮率に対する補正値を表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とからなるガス流量計。 - 流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、前記差圧ΔPに基づいて体積流量Qを
Q=[{A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)}-αQ*Q]/β
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とからなるガス流量計。 - 流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、流体温度Tmを測定する手段と、前記差圧ΔPに基づいて質量流量Qmを
Qm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とからなるガス流量計。 - 流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、流体温度Tmを測定する手段と、前記差圧ΔPに基づいて質量流量Qmを
αQm*Qm+βQm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段とからなるガス流量計。 - 請求項1から4のいずれかにおいて、前記多孔質部材の形状係数Aが、多孔質部材の孔径、前記多孔質部材のガス流通面積およびガス流通長さから求められるガス流量計。
- 請求項1から4のいずれかにおいて、差圧ΔPを検出する手段が差圧センサにより構成されている流量計。
- 流路に接続されて電気信号により弁開度の調整が可能な弁手段と、前記流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、前記差圧ΔPに基づいて体積流量Qを
Q=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、またBはガスの圧縮率に対する補正値を表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されたガス流量制御装置。 - 流路に接続されて電気信号により弁開度の調整が可能な弁手段と、前記流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、前記差圧ΔPに基づいて体積流量Qを
Q=[{A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)}-αQ*Q]/β
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されたガス流量制御装置。 - 流路に接続されて電気信号により弁開度の調整が可能な弁手段と、前記流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、流体温度Tmを測定する手段と、前記差圧ΔPに基づいて質量流量Qmを
Qm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されたガス流量制御装置。 - 流路に接続されて電気信号により弁開度の調整が可能な弁手段と、前記流路を上流側と下流側とに仕切る多孔質部材と、前記多孔質部材の上流側と下流側との差圧ΔPを検出する手段と、前記下流側の圧力P2を検出する手段と、流体温度Tmを測定する手段と、前記差圧ΔPに基づいて質量流量Qmを
αQm*Qm+βQm=A*ΔP*(ΔP+2*P2+B)*C/(C+TS−Tm)
(ただし、Aは多孔質部材の形状係数を、Bはガスの圧縮率に対する補正値、Cは温度に対する補正値、Tsは基準温度、Tmは流体温度、αは流体分子量に依存する係数、βは流体粘性率に依存する係数をそれぞれ表す。)
なる関係により算出する流量演算手段と、を備え、
前記流量演算手段からの電気信号により前記弁手段を制御するように構成されたガス流量制御装置。 - 請求項7から10のいずれかにおいて、前記多孔質部材の形状係数Aが、多孔質部材の孔径、前記多孔質部材のガス流通面積およびガス流通長さから求められるガス流量制御装置。
- 請求項7から10のいずれかにおいて、差圧ΔPを検出する手段が差圧センサにより構成されているガス流量制御装置。
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2006
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