JP2007227532A - Electromagnetic wave shielding sheet - Google Patents

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Yukihiro Kyoda
享博 京田
Hironori Kamiyama
弘徳 上山
Kazuhito Fujii
和仁 藤井
Hiroyuki Tomita
宏幸 冨田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electromagnetic wave shielding sheet that is controlled in reflectivity of external light and has improved close contact with the other laminated film. <P>SOLUTION: In the electromagnetic wave shielding sheet wherein at least a mesh-type conductor layer 12 is provided to a surface of a transparent base material 11, the relevant conductor layer 12 includes a metal plated layer 14. In the relevant metal plated layer 14, a crystal grain diameter at the front surface in the opposite side of the transparent base material 11 is increased in comparison with a crystal grain diameter at the front surface in the side of the transparent base material 11 facing to the thickness direction x. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、CRT、PDPなどのディスプレイから発生する電磁波を遮蔽(シールド)する電磁波遮蔽シートに関する。   The present invention relates to an electromagnetic wave shielding sheet that shields (shields) electromagnetic waves generated from a display such as a CRT or PDP.

近年、電気電子機器の機能高度化と増加利用に伴い、電磁気的なノイズ妨害(Electro Magnetic Interference;EMI)が増え、陰極線管(CRTという)、プラズマディスプレイパネル(PDPという)などのディスプレイでも電磁波が発生する。プラズマディスプレイパネルは、データ電極と蛍光層を有するガラスと透明電極を有するガラスとの組合体であり、作動すると電磁波、近赤外線、及び熱が大量に発生する。通常、電磁波を遮蔽するためにプラズマディスプレイパネルの前面に、電磁波遮蔽シートを含む前面板を設ける。ディスプレイ前面から発生する電磁波の遮蔽性は、30MHz〜1GHzにおいて30dB以上の機能が必要である。尚、本明細書中に於いて、単に電磁波と言った場合は、周波数が上記範囲を中心とするkHz〜GHz帯の電磁波のことを言い、赤外線、可視光線、紫外線、X線等は含まないものとする(例えば、赤外線帯域の周波数の電磁波は赤外線と呼称する)。   In recent years, with the advancement of functions and increased use of electrical and electronic equipment, electromagnetic noise interference (EMI) has increased, and electromagnetic waves are also generated in displays such as cathode ray tubes (referred to as CRT) and plasma display panels (referred to as PDP). appear. A plasma display panel is a combination of a glass having a data electrode, a fluorescent layer, and a glass having a transparent electrode, and generates a large amount of electromagnetic waves, near infrared rays, and heat when operated. Usually, a front plate including an electromagnetic wave shielding sheet is provided on the front surface of the plasma display panel in order to shield electromagnetic waves. The shielding property of electromagnetic waves generated from the front surface of the display requires a function of 30 dB or more at 30 MHz to 1 GHz. In the present specification, the term “electromagnetic wave” simply means an electromagnetic wave having a frequency in the kHz to GHz band centered on the above range, and does not include infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, X-rays, and the like. (For example, electromagnetic waves having a frequency in the infrared band are referred to as infrared rays).

この様な用途に用いる電磁波遮蔽シートは、電磁波シールド性能と共に光透過性も要求される。従って、電磁波遮蔽シートとしては、透明基材の全面に透明導電性のITO(酸化スズインジウム)膜を設けたもの(特許文献1等)や、樹脂フィルムからなる透明基材に接着剤で貼り合わせた銅箔等の金属箔をエッチングしてメッシュ状としたもの等が知られている(特許文献2等)。
但し、ITOの透明導電性膜を用いたものは、高い光透過性と高い電磁波遮蔽性との両立が難しいという問題があった。また、透明基材上に金属箔を接着してメッシュ状にエッチングしたものは、開口部に露出した接着剤表面に金属箔から転写された粗面を生じ、透過画像が白濁するという問題、及びメッシュ面に接着剤層を介して赤外線吸収フィルタ等他の基材を積層する場合、開口部内に接着剤が充填しきらず、気泡残留を生じ、これが更に白濁を生じるという問題があった。
The electromagnetic wave shielding sheet used for such applications is required to have optical transparency as well as electromagnetic shielding performance. Therefore, as an electromagnetic wave shielding sheet, a transparent conductive ITO (Indium Tin Oxide) film provided on the entire surface of a transparent substrate (Patent Document 1, etc.) or a transparent substrate made of a resin film is bonded with an adhesive. A metal foil such as copper foil is etched to form a mesh (Patent Document 2 etc.).
However, those using a transparent conductive film of ITO have a problem that it is difficult to achieve both high light transmittance and high electromagnetic shielding properties. In addition, when the metal foil is bonded to a transparent base material and etched into a mesh shape, a rough surface transferred from the metal foil is formed on the adhesive surface exposed in the opening, and the transmission image becomes cloudy, and When another substrate such as an infrared absorption filter is laminated on the mesh surface via an adhesive layer, there is a problem in that the adhesive is not completely filled in the opening, and bubbles remain, which further causes white turbidity.

これを解決すべく、透明基材上に、接着剤層を介することなく直接、導電層となる金属層を、メッキ法により形成することも試みられている。例えば、(1)透明基材の上に導電インキをパターン状に印刷し、該パターン状導電インキ層の上へ金属メッキする方法(特許文献3等)、(2)透明基材の上に導電インキ又は化学メッキ触媒含有感光性塗布液を全面に塗布し、該塗布層をフォトリソグラフィー法でメッシュ状とした後に、該メッシュの上へ金属メッキする方法(非特許文献1等)、(3)透明基材の上に導電処理層を施し、その上に電解メッキにより金属メッキ層を形成した後、金属メッキ層及び導電処理層をフォトリソグラフィー法でメッシュ状とする方法(特許文献4)などが知られている。導電層となる金属層をメッキ法により形成する場合には、接着剤で貼り合わせた金属箔を導電層とする場合に比べて、反りが発生し難く、メッシュ開口部の接着剤表面に転写された金属箔の粗さに起因する透明性の悪化がなく、薄膜とすることが可能で、後述のように光学フィルタとメッシュ部分の接着時にメッシュ開口部内に気泡が混入し難くなるというメリットがある。   In order to solve this problem, it has been attempted to form a metal layer, which becomes a conductive layer, directly on the transparent substrate without using an adhesive layer by a plating method. For example, (1) a method in which conductive ink is printed in a pattern on a transparent substrate, and metal plating is performed on the patterned conductive ink layer (Patent Document 3, etc.); A method in which a photosensitive coating solution containing ink or a chemical plating catalyst is applied to the entire surface, the coating layer is made into a mesh by photolithography, and then metal plating is performed on the mesh (Non-Patent Document 1, etc.), (3) A method in which a conductive treatment layer is applied on a transparent substrate, a metal plating layer is formed thereon by electrolytic plating, and then the metal plating layer and the conductive treatment layer are meshed by a photolithography method (Patent Document 4). Are known. When the metal layer to be the conductive layer is formed by plating, it is less likely to warp than when the metal foil bonded with an adhesive is used as the conductive layer, and is transferred to the adhesive surface of the mesh opening. There is no deterioration in transparency due to the roughness of the metal foil, and it is possible to form a thin film, and there is an advantage that bubbles are less likely to be mixed into the mesh opening when the optical filter and the mesh are bonded as described later. .

また、ディスプレイの前面に配置する前面板には、電磁波遮蔽機能以外に、ディスプレイから放射する不要な光(例えばPDPではネオン発光による波長590nm付近の光)を遮断し画像の色相調整を行い色再現性を向上させる機能、外光の不要な反射を抑える機能、ディスプレイからの不要な赤外線放射を抑え赤外線利用機器の誤動作を防ぐ機能等が求められることがある。そこで実際の前面板としては、電磁波遮蔽シートに、他のフィルタ機能を有する光学フィルタ、例えば、色補正フィルタ、反射防止フィルタ、近赤外線吸収フィルタ等と積層一体化して複合フィルタとしたものが使用されることが多い(例えば、特許文献5)。   In addition to the electromagnetic wave shielding function, the front plate placed on the front of the display blocks unnecessary light emitted from the display (for example, light with a wavelength of about 590 nm due to neon light emission in PDP), and adjusts the hue of the image to reproduce the color. There are cases where a function to improve the performance, a function to suppress unnecessary reflection of external light, a function to suppress unnecessary infrared radiation from the display and to prevent malfunction of an infrared using device may be required. Therefore, as the actual front plate, an electromagnetic wave shielding sheet and an optical filter having other filter functions, for example, a color filter, an antireflection filter, a near-infrared absorption filter, etc., laminated and integrated into a composite filter are used. (For example, Patent Document 5).

特開平1−278800号公報JP-A-1-278800 特開平10−41682号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-41682 特開2000−13088号公報JP 2000-13088 A 特開2004−241761号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2004-241761 特開2003−86991号公報JP 2003-86991 A 住友大阪セメント株式会社新材料事業部新規材料研究所新材料研究グループ、“光解像性化学メッキ触媒”、[online]、掲載年月日記載なし、住友大阪セメント株式会社、[平成15年1月7日検索]、インターネット〈URL:http://www.socnb.com/product/hproduct/display.html〉Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. New Materials Division, New Materials Research Institute, New Materials Research Group, “Photoresolvable Chemical Plating Catalyst”, [online], date not listed, Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Month 7 Search], Internet <URL: http: // www. socnb. com / product / hproduct / display. html>

導電体層を、上記のようにメッキ法により形成する場合には上述のようなメリットを有するが、一方で通常、金属メッキ層表面の光沢が高くなり、外光を鏡面反射し、反射する金属光沢が透視画像の明室コントラストを低下させるという問題があった。またこの場合、通常、表面の平滑性が高く、金属メッキ層表面に接着剤層を介して他の層を積層する場合の接着力が不充分な場合があった。これらは、金属メッキ層の結晶粒径が小さいことによるものであると考えられた。
しかしながら、金属メッキ層表面の結晶粒径を所望以上に大きくしようと、例えば電解メッキの場合、大電流密度を必要とするため、透明基材や、メッキするための薄膜の下地層、或いは析出し始めた薄膜メッキ層等がジュール熱で発熱して、溶解又は変質するという問題があった。
When the conductor layer is formed by the plating method as described above, it has the above-mentioned merits, but on the other hand, the gloss of the surface of the metal plating layer is usually high, and the metal that reflects and reflects external light as a mirror. There is a problem that the gloss reduces the bright room contrast of the fluoroscopic image. Further, in this case, the surface smoothness is usually high, and there are cases in which the adhesive force is insufficient when another layer is laminated on the surface of the metal plating layer via an adhesive layer. These were thought to be due to the small crystal grain size of the metal plating layer.
However, in order to increase the crystal grain size on the surface of the metal plating layer more than desired, for example, in the case of electrolytic plating, a large current density is required. Therefore, a transparent substrate, an underlayer of a thin film for plating, or precipitation There has been a problem that the thin film plating layer or the like that is started generates heat due to Joule heat and is dissolved or altered.

本発明は以上のような問題点を考慮してなされたものであり、外光の反射率が抑制され、且つ、他の積層フィルムとの密着性が向上された電磁波遮蔽シートを提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of the above problems, and provides an electromagnetic wave shielding sheet in which the reflectance of external light is suppressed and the adhesion to other laminated films is improved. Objective.

本発明により提供される電磁波遮蔽シートは、透明基材の一方の面に、少なくともメッシュ状の導電体層を設けてなる電磁波遮蔽シートであって、当該導電体層は金属メッキ層を含み、当該金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径が、厚み方向に対峙する透明基材側表面の結晶粒径に比べて増大していることを特徴とするものである。
本発明に係る電磁波遮蔽シートは、当該金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径が、厚み方向に対峙する透明基材側表面の結晶粒径に比べて増大していることによって、透明基材と導電体層の界面形成時には結晶粒径を小さくすることにより界面を溶解・変質させることなく、導電体層表面側においては、結晶粒径の大きな金属メッキ層とすることができるため、導電体層表面の粗さや凹凸が大きくなり、外光の反射率が抑制され、且つ、投錨効果により他の積層フィルムとの密着性が向上したものである。
The electromagnetic wave shielding sheet provided by the present invention is an electromagnetic wave shielding sheet in which at least a mesh-like electric conductor layer is provided on one surface of a transparent substrate, and the electric conductor layer includes a metal plating layer, In the metal plating layer, the crystal grain size on the surface opposite to the transparent base material is increased as compared with the crystal grain size on the surface of the transparent base material facing the thickness direction.
In the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention, in the metal plating layer, the crystal grain size of the surface opposite to the transparent substrate is increased compared to the crystal grain size of the surface of the transparent substrate facing the thickness direction. Therefore, when forming the interface between the transparent substrate and the conductor layer, it is possible to form a metal plating layer with a large crystal grain size on the conductor layer surface side without dissolving or altering the interface by reducing the crystal grain size. Therefore, the roughness and unevenness of the surface of the conductor layer are increased, the reflectance of external light is suppressed, and the adhesion with other laminated films is improved by the anchoring effect.

本発明に係る電磁波遮蔽シートは、当該金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径が、厚み方向に対峙する透明基材側表面の結晶粒径に比べて増大していることによって、透明基材と導電体層の界面形成時には結晶粒径を小さくすることにより界面を溶解・変質させることなく、導電体層表面側においては、結晶粒径の大きな金属メッキ層とすることができるため、導電体層表面の粗さや凹凸が大きくなり、外光の反射率が抑制され、且つ、他の積層フィルムとの密着性が向上したものである。   In the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention, in the metal plating layer, the crystal grain size of the surface opposite to the transparent substrate is increased compared to the crystal grain size of the surface of the transparent substrate facing the thickness direction. Therefore, when forming the interface between the transparent substrate and the conductor layer, it is possible to form a metal plating layer with a large crystal grain size on the conductor layer surface side without dissolving or altering the interface by reducing the crystal grain size. Therefore, the roughness and unevenness of the surface of the conductor layer are increased, the reflectance of external light is suppressed, and the adhesion with other laminated films is improved.

以下、本発明を詳しく説明する。
本発明により提供される電磁波遮蔽シートは、透明基材の一方の面に、少なくともメッシュ状の導電体層を設けてなる電磁波遮蔽シートであって、当該導電体層は金属メッキ層を含み、当該金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径が、厚み方向に対峙する透明基材側表面の結晶粒径に比べて増大していることを特徴とするものである。
ここで、本発明において結晶粒径とは、平均結晶粒径であり、例えば、金属メッキ層の特定の表面上の、或いは金属メッキ層の厚み方向の特定位置の透明基材に平行な面上の結晶粒を顕微鏡下で観察して計測した個々の結晶粒径を平均することによって、測定したものである。(厚み方向のある位置xの透明基材に平行な平面上に存在する結晶粒径D(x)を該平面内において平均した平均値{D(x)})従って、本発明においては、金属メッキ層における透明基材と反対側表面の平均結晶粒径が、当該箇所の厚み方向に対峙する透明基材側表面の箇所における平均結晶粒径に比べて増大している。厚み方向xの関数{D(x)}としては、透明基材表面をx=0、金属メッキ層成長方向をx>0とした場合、増加関数となる。当該増加関数としては、狭義又は広義の単調増加関数、傾きが0の領域を含む1段または多段の階段関数を含む。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
The electromagnetic wave shielding sheet provided by the present invention is an electromagnetic wave shielding sheet in which at least a mesh-like electric conductor layer is provided on one surface of a transparent substrate, and the electric conductor layer includes a metal plating layer, In the metal plating layer, the crystal grain size on the surface opposite to the transparent base material is increased as compared with the crystal grain size on the surface of the transparent base material facing the thickness direction.
Here, in the present invention, the crystal grain size is an average crystal grain size, for example, on a specific surface of the metal plating layer or on a plane parallel to the transparent substrate at a specific position in the thickness direction of the metal plating layer. These crystal grains were measured by observing the crystal grains under a microscope and averaging the individual crystal grain sizes. (Average value {D (x)} in which crystal grain diameter D (x) existing on a plane parallel to the transparent substrate at a position x in the thickness direction is averaged in the plane) In the present invention, therefore, metal The average crystal grain size of the surface opposite to the transparent substrate in the plating layer is increased as compared with the average crystal grain size of the portion on the surface of the transparent substrate facing the thickness direction of the portion. The function {D (x)} in the thickness direction x is an increasing function when the transparent substrate surface is x = 0 and the growth direction of the metal plating layer is x> 0. The increasing function includes a monotonically increasing function in a narrow sense or a broad sense, and a one-step or multi-step step function including a region having a slope of zero.

本発明に係る電磁波遮蔽シートの一例を図1に示す。図1(A)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の平面図であり、図1(B)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の断面図である。
図1(A)に示すように、本発明の電磁波遮蔽用シート1は、平面方向においては、適用されるディスプレイの画像表示領域を全て覆うことが可能なメッシュ状領域101と、当該メッシュ状領域の周囲の少なくとも一部に接地用領域102を有する導電体層12が形成されている。
メッシュ状領域101は、適用されるディスプレイの画像表示領域を全て覆うことが可能な寸法及び形状を有し、適用されるディスプレイの画像表示領域に対峙する部分30が必ず含まれる。当該ディスプレイの画像表示領域に対峙する部分30の外の領域となる外縁部は、メッシュ状領域101が含まれても良いし、接地用領域102のみからなっても良い。接地用領域102は、通常、メッシュ状領域101と同じ層構成を有しながら開口部を形成しないものであり、ディスプレイへ設置した場合にアースをとり易いために設けられる。なお、接地用領域102は、開口部が形成されたメッシュ状であっても良い。接地用領域102は、通常四角形のディスプレイの画像表示領域に対峙する部分30の外の領域となる外縁部である画像表示に影響しない部分に、四辺周囲の額縁状に設けられることが多いが、メッシュ状領域101の全周囲でなくても、周囲の一部に設ける形態でもよく、三辺、二辺、或いは一辺のみに設ける形態でも良い。
An example of the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention is shown in FIG. FIG. 1A is a plan view of an example of an electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view of an example of an electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention.
As shown in FIG. 1A, the electromagnetic wave shielding sheet 1 of the present invention includes a mesh region 101 that can cover all image display regions of a display to be applied in the plane direction, and the mesh region. A conductor layer 12 having a grounding region 102 is formed on at least a part of the periphery of the substrate.
The mesh area 101 has a size and a shape that can cover the entire image display area of the applied display, and always includes a portion 30 that faces the image display area of the applied display. The outer edge portion that is an area outside the portion 30 facing the image display area of the display may include the mesh-shaped area 101 or may include only the grounding area 102. The grounding region 102 normally has the same layer configuration as the mesh region 101 but does not form an opening, and is provided to facilitate grounding when installed on a display. The grounding region 102 may have a mesh shape in which an opening is formed. The grounding region 102 is often provided in a frame shape around the four sides in a portion that does not affect image display, which is an outer edge portion that is an outer region of the portion 30 facing the image display region of a rectangular display, The form may be provided not only on the entire periphery of the mesh region 101 but on a part of the periphery, or may be provided on only three sides, two sides, or one side.

また、図1(B)に示すように、本発明の電磁波遮蔽用シート1は、厚み方向においては、透明基材11の一方の面に、メッシュ状領域101と接地用領域102を有する導電体層12が少なくとも積層されて形成されている。図1(B)の例においては、導電体層12は、金属メッキ層14に加えて、下地層となる導電処理層13を含んでいる。この例での導電体層12は、下地層である導電処理層13と、導電体層の主たる部位である金属メッキ層14とを有する。導電体層12は、メッシュ状金属メッキ層のみからなるものであってもよいし、導電処理層13以外の他の層を含んでいても良い。本発明の電磁波遮蔽用シートは、導電体層の表裏面上に、導電性を有しない層が更に積層されて形成されていても良い。当該導電性を有しない層としては、例えば、導電性を有しない防錆層や黒化層等が挙げられる。防錆層や黒化層等であっても、導電性を有する限り、本発明において導電体層に含まれる。導電体層の表裏面上に更に積層された導電性を有しない層は、導電体層と一体となって、メッシュ状領域や接地用領域を形成する。
なお、図示している電磁波遮蔽シートは、いずれも枚葉化されたものであるが、本発明において電磁波遮蔽シートは、枚葉シート2枚分以上の区画を含む連続帯状シートの状態であってもよい。
As shown in FIG. 1B, the electromagnetic wave shielding sheet 1 of the present invention is a conductor having a mesh region 101 and a grounding region 102 on one surface of a transparent substrate 11 in the thickness direction. The layer 12 is formed by stacking at least. In the example of FIG. 1B, the conductor layer 12 includes a conductive treatment layer 13 that is a base layer in addition to the metal plating layer 14. The conductor layer 12 in this example includes a conductive treatment layer 13 that is a base layer and a metal plating layer 14 that is a main part of the conductor layer. The conductor layer 12 may be composed of only a mesh-like metal plating layer, or may include other layers other than the conductive treatment layer 13. The electromagnetic wave shielding sheet of the present invention may be formed by further laminating a non-conductive layer on the front and back surfaces of the conductor layer. Examples of the non-conductive layer include a rust preventive layer and a blackened layer that do not have conductivity. Even if it is a rust prevention layer, a blackening layer, etc., as long as it has electroconductivity, it is contained in a conductor layer in this invention. The non-conductive layer further laminated on the front and back surfaces of the conductor layer is integrated with the conductor layer to form a mesh region and a grounding region.
The electromagnetic wave shielding sheets shown in the figure are all formed into single sheets. However, in the present invention, the electromagnetic wave shielding sheets are in a state of a continuous belt-like sheet including sections of two or more single sheets. Also good.

以下、本発明の電磁波遮蔽シートについて、透明基材11から順に説明する。
[透明基材]
透明基材11は、機械的強度が弱いメッシュ層を補強するための層である。従って、機械的強度と共に光透過性を有すれば、その他、耐熱性、絶縁性等も適宜勘案した上で、用途に応じたものを選択使用すれば良い。透明基材の具体例としては、例えば、樹脂、ガラス等の透明な材料から成る板、シート、又はフィルムが用いられる。
樹脂としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、テレフタル酸−イソフタル酸−エチレングリコール共重合体、テレフタル酸−シクロヘキサンジメタノール−エチレングリコール共重合体などのポリエステル系樹脂、ナイロン6などのポリアミド系樹脂、ポリプロピレン、ポリメチルペンテンなどのポリオレフィン系樹脂、ポリメチルメタクリレートなどのアクリル系樹脂、ポリスチレン、スチレン−アクリロニトリル共重合体などのスチレン系樹脂、トリアセチルセルロースなどのセルロース系樹脂、イミド系樹脂、ポリカーボネート樹脂等が挙げられる。
なお、これら樹脂は、樹脂材料的には、単独、又は複数種類の混合樹脂(ポリマーアロイを含む)として用いられ、また層的には、単層、又は2層以上の積層体として用いられる。また、樹脂シートの場合、1軸延伸や2軸延伸した延伸シートが機械的強度の点でより好ましい。
また、これら樹脂中には、必要に応じて適宜、紫外線吸収剤、充填剤、可塑剤、帯電防止剤などの添加剤を加えても良い。
Hereinafter, the electromagnetic wave shielding sheet of the present invention will be described in order from the transparent substrate 11.
[Transparent substrate]
The transparent substrate 11 is a layer for reinforcing a mesh layer having a low mechanical strength. Therefore, as long as it has light transmittance as well as mechanical strength, it may be selected and used depending on the application, taking into account heat resistance, insulation, etc. as appropriate. As a specific example of the transparent substrate, for example, a plate, sheet, or film made of a transparent material such as resin or glass is used.
Examples of the resin include polyester resins such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, terephthalic acid-isophthalic acid-ethylene glycol copolymer, terephthalic acid-cyclohexanedimethanol-ethylene glycol copolymer, nylon 6, and the like. Polyamide resins, polyolefin resins such as polypropylene and polymethylpentene, acrylic resins such as polymethyl methacrylate, styrene resins such as polystyrene and styrene-acrylonitrile copolymers, cellulose resins such as triacetyl cellulose, and imides Examples thereof include resins and polycarbonate resins.
In addition, these resins are used as a single or a plurality of types of mixed resins (including polymer alloys) as a resin material, and as a layer, they are used as a single layer or a laminate of two or more layers. In the case of a resin sheet, a uniaxially stretched or biaxially stretched sheet is more preferable in terms of mechanical strength.
Moreover, you may add additives, such as a ultraviolet absorber, a filler, a plasticizer, an antistatic agent, in these resins suitably as needed.

また、ガラスとしては、石英ガラス、ホウケイ酸ガラス、ソーダライムガラスなどがあり、より好ましくは熱膨脹率が小さく寸法安定性および高温加熱処理における作業性に優れ、また、ガラス中にアルカリ成分を含まない無アルカリガラス等が挙げられ、ディスプレイの前面基板等とする電極基板と兼用することもできる。
なお、透明基材の厚さは、用途に応じたものとすれば良く特に制限は無く、透明樹脂から成る場合は、通常12〜1000μm程度であるが、好ましくは50〜500μmである。一方、透明基材がガラス板である場合には、通常1〜5mm程度が好適である。いずれの材料に於いても、上記未満の厚さとなると機械的強度が不足して反りや弛み、破断などが起こり、上記を超える厚さとなると過剰性能でコスト高となる上、薄型化が難しくなる。
Examples of the glass include quartz glass, borosilicate glass, and soda lime glass. More preferably, the glass has a low coefficient of thermal expansion, excellent dimensional stability and workability in high-temperature heat treatment, and does not contain an alkali component in the glass. Examples include alkali-free glass and the like, which can also be used as an electrode substrate used as a front substrate of a display.
The thickness of the transparent substrate is not particularly limited as long as it depends on the application. When the transparent substrate is made of a transparent resin, it is usually about 12 to 1000 μm, preferably 50 to 500 μm. On the other hand, when a transparent base material is a glass plate, about 1-5 mm is usually suitable. In any material, if the thickness is less than the above, the mechanical strength is insufficient, causing warping, sagging, breakage, etc. If the thickness exceeds the above, it becomes excessive performance and high cost, and thinning is difficult. .

なお、透明基材は、ディスプレイ本体の一構成要素である前面基板と兼用しても良いが、前面基板の前に配置する前面フィルタとして、電磁波シールド以外の機能を付加した電磁波シールドフィルタを用いる形態では、薄さ、軽さの点で、板よりもシートが優れており、また割れない等の点でも、ガラス板よりも樹脂シートが優れている。
また、電磁波シールドフィルタを連続的に製造し生産性を向上できる点では、透明基材は、メッシュ層形成等の少なくとも製造初期の段階に於いては、連続帯状のシートの形態で取り扱うのが好ましい。
この様な点で、透明基材としては樹脂シートが好ましい材料である。なお、ガラス板等の剛直な透明基材を用いる場合と比べて、可撓性の樹脂シートを透明基材として用いる場合には、中間製品を加工する際に金属メッキ層の破損する危険性が大きい。従って、本発明は、透明基材としては樹脂シートを用いる電磁波遮蔽シートに対して特に好適に適用される。
The transparent substrate may also be used as a front substrate which is a component of the display main body, but as a front filter disposed in front of the front substrate, an electromagnetic shield filter to which a function other than the electromagnetic shield is added is used. Then, the sheet is superior to the plate in terms of thinness and lightness, and the resin sheet is superior to the glass plate in that it does not break.
In addition, the transparent base material is preferably handled in the form of a continuous belt-like sheet at least at the initial stage of production, such as mesh layer formation, in that the electromagnetic shielding filter can be continuously produced and productivity can be improved. .
In this respect, a resin sheet is a preferable material for the transparent substrate. In addition, when using a flexible resin sheet as a transparent base material compared to the case of using a rigid transparent base material such as a glass plate, there is a risk that the metal plating layer may be damaged when the intermediate product is processed. large. Therefore, the present invention is particularly preferably applied to an electromagnetic wave shielding sheet using a resin sheet as the transparent substrate.

樹脂シートのなかでも、特に、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂シートが、透明性、耐熱性、コスト等の点で好ましく、より好ましくは2軸延伸ポリエチレンテレフタレートシートが最適である。なお、透明基材の透明性は高いほどよいが、好ましくは可視光線透過率で80%以上となる光透過性が良い。
なお、樹脂シート等の透明基材は、適宜その表面に、コロナ放電処理、プラズマ処理、オゾン処理、フレーム処理、プライマー処理、予熱処理、除塵埃処理、蒸着処理、アルカリ処理、などの公知の易接着処理を行ってもよい。
Among the resin sheets, polyester resin sheets such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are particularly preferable in terms of transparency, heat resistance, cost, and the like, and more preferably a biaxially stretched polyethylene terephthalate sheet. In addition, although the transparency of a transparent base material is so good that it is high, Preferably the light transmittance which becomes 80% or more by visible light transmittance | permeability is good.
In addition, a transparent substrate such as a resin sheet is appropriately coated on the surface thereof with known easy processes such as corona discharge treatment, plasma treatment, ozone treatment, flame treatment, primer treatment, pre-heat treatment, dust removal treatment, vapor deposition treatment, and alkali treatment. An adhesion treatment may be performed.

[導電体層]
導電体層12は、導電性を有する層であって、電磁波遮蔽機能を担う層であり、またそれ自体は不透明性であっても、メッシュ状の形状で開口部が存在することにより、電磁波シールド性能と光透過性を両立させている。メッシュ状領域101を形成している導電体層12の一例を図2に示す。メッシュ状領域101を形成している導電体層12は、開口部103が密に配列したメッシュ状であり、該メッシュ状領域は開口部103と各開口部間を区割する枠をなしているライン部104から構成されている。
[Conductor layer]
The conductor layer 12 is a layer having conductivity, and is a layer responsible for an electromagnetic wave shielding function. Even if the conductive layer 12 itself is opaque, the presence of an opening in a mesh shape causes an electromagnetic wave shield. It balances performance and light transmission. An example of the conductor layer 12 forming the mesh region 101 is shown in FIG. The conductor layer 12 forming the mesh-like region 101 has a mesh shape in which the openings 103 are densely arranged, and the mesh-like region forms a frame that divides the opening 103 from each opening. The line unit 104 is configured.

本発明において導電体層12は、主たる層として金属メッキ層14を含み、金属メッキ層14のみからなるものであってもよいが、通常は金属メッキ層14に加えて、メッキをするための下地層となる導電処理層13を含み、場合により、後述するような導電性を有する黒化層や防錆層をさらに含むものである。
メッシュの形状は、任意で特に限定されないが、開口部の形状としては正方形が代表的である。開口部の形状は、例えば、正三角形等の三角形、正方形、長方形、菱形、台形等の四角形、六角形、等の多角形、或いは、円形、楕円形などが挙げられる。
In the present invention, the conductor layer 12 includes a metal plating layer 14 as a main layer and may consist of only the metal plating layer 14. It includes a conductive treatment layer 13 to be a ground layer, and optionally further includes a blackening layer and a rust prevention layer having conductivity as described later.
The shape of the mesh is arbitrary and not particularly limited, but the shape of the opening is typically a square. Examples of the shape of the opening include a triangle such as a regular triangle, a square such as a square, a rectangle, a rhombus, and a trapezoid, a polygon such as a hexagon, a circle, and an ellipse.

メッシュはこれら形状からなる複数の開口部を有し、開口部間は通常、幅均一のライン状のライン部となり、通常は、開口部及びライン部は全面で同一形状同一サイズである。具体的サイズを例示すれば、開口率及びメッシュの非視認性の点で、開口部間のライン部104の幅は、図2に示すようにライン幅Wと称し、25μm以下、好ましくは20μm以下であることが好ましい。但し、電磁波遮蔽効果の発現、破断防止のためには、少なくとも5μm以上のライン幅Wを確保することが好ましい。また、開口部の間口幅は(ラインピッチP)−(ライン幅W)で表され、本発明においては150μm以上、好ましくは200μm以上とするのが、光透過性、及び後述する光学フィルタとの積層時に開口部内に気泡が残留し難い点から好ましい。但し、MHz〜GHz帯の電磁波遮蔽性発現のためには、最大3000μm以下とする。   The mesh has a plurality of openings having these shapes, and the gaps between the openings are usually line portions having a uniform width. Usually, the openings and the line portions have the same shape and the same size on the entire surface. As an example of a specific size, the width of the line portion 104 between the openings is referred to as a line width W as shown in FIG. 2 in terms of the aperture ratio and the mesh invisibility, and is 25 μm or less, preferably 20 μm or less. It is preferable that However, it is preferable to secure a line width W of at least 5 μm or more in order to exhibit the electromagnetic wave shielding effect and prevent breakage. The opening width of the opening is represented by (line pitch P) − (line width W). In the present invention, the width is 150 μm or more, preferably 200 μm or more. It is preferable from the point that air bubbles hardly remain in the opening during lamination. However, in order to exhibit electromagnetic wave shielding properties in the MHz to GHz band, the maximum is 3000 μm or less.

また、本発明においては、最終的に得られるメッシュ状領域におけるライン部の総厚み、すなわち、開口部間のライン部104の高さHを、20μm以下、又電磁波遮蔽性の点からは1μm以上とすることが好ましく、2μm以上10μm以下とすることがさらに好ましく、メッシュ状領域上の接着剤層塗工時の開口部内への気泡残留防止の点から3μm程度とすることが特に好ましい。
なお、メッシュ状領域のライン部の高さHは、ライン部104を形成する層の厚みを全て含む総厚みをいう。例えば、ライン部104が導電体層のみから成る場合は、ライン部の高さは導電体層の厚さに等しいが、例えば、ライン部が導電体層、非導電性黒化層、及び非導電性防錆層とから成る場合は、ライン部の高さは導電体層、非導電性黒化層、及び非導電性防錆層の厚みの合計値となる。
ライン部の総厚みが大きすぎると、メッシュに加工した際にライン部と開口部の段差が大きくなり、接着剤層を積層する際に気泡が残留し易くなる。また、ライン部の厚みが更に厚くなるとエッチング加工時のサイドエッチング等により所望する高精細なメッシュの形状が得られ難くなる。
これに対して、金属メッキ層を含むライン部の総厚みを20μm以下とすることで、銅使用量の節約及びメッシュ面の平坦化が可能となる。特に、ライン部の総厚みを3μm程度とする場合には、平坦化の効果が大きい。このような場合には、光学フィルタとの積層前に予めメッシュ面への平坦化工程を省略した場合であっても、電磁波遮蔽シートと光学フィルタの積層及び接着時に金属メッシュの開口部内に接着剤層が均一に入り易く、開口部内に気泡が残留し難いからである。この場合には、該気泡の光散乱による複合フィルタの曇価(ヘイズ)が上昇するという不都合を回避でき、透明性の高い複合フィルタを生産効率良く得ることができる。
一方、ライン部の総厚みHが小さ過ぎると、導電体層の厚みも小さくなりすぎる為、金属の電気抵抗値が増え電磁波遮蔽効果が損なわれやすくなる。電磁波遮蔽機能の点を考慮すると、金属メッキ層を含む導電体層の厚みは前記のライン幅及びラインピッチの場合に於いて、1μm以上であることが好ましく、更に2μm以上であることが好ましい。故に、メッシュ状領域のライン部の高さは、1μm以上とすることが好ましく、2μm以上となるようにすることが更に好ましい。
また、メッシュ状領域のバイアス角度(メッシュのライン部と電磁波遮蔽シートの外周辺とのなす角度)は、ディスプレイの画素ピッチや発光特性を考慮して、モアレが出難い角度に適宜設定すれば良い。
In the present invention, the total thickness of the line portions in the finally obtained mesh region, that is, the height H of the line portions 104 between the openings is 20 μm or less, and 1 μm or more from the viewpoint of electromagnetic shielding properties. The thickness is preferably 2 μm or more and 10 μm or less, and particularly preferably about 3 μm from the viewpoint of preventing bubbles from remaining in the openings when the adhesive layer is applied on the mesh region.
In addition, the height H of the line part of a mesh-shaped area | region says the total thickness including all the thickness of the layer which forms the line part 104. FIG. For example, when the line part 104 is composed of only a conductor layer, the height of the line part is equal to the thickness of the conductor layer. For example, the line part has a conductor layer, a non-conductive blackening layer, and a non-conductive layer. In the case of the conductive rust preventive layer, the height of the line portion is the total thickness of the conductor layer, the nonconductive blackened layer, and the nonconductive rust preventive layer.
If the total thickness of the line portion is too large, the level difference between the line portion and the opening becomes large when processed into a mesh, and bubbles tend to remain when the adhesive layer is laminated. Further, if the thickness of the line portion is further increased, it becomes difficult to obtain a desired high-definition mesh shape by side etching or the like during etching.
In contrast, when the total thickness of the line portion including the metal plating layer is 20 μm or less, it is possible to save the amount of copper used and flatten the mesh surface. In particular, when the total thickness of the line portion is about 3 μm, the flattening effect is great. In such a case, even when the step of flattening the mesh surface is omitted in advance before the lamination with the optical filter, the adhesive is placed in the opening of the metal mesh when the electromagnetic wave shielding sheet and the optical filter are laminated and bonded. This is because the layer easily enters uniformly, and bubbles do not easily remain in the opening. In this case, the disadvantage that the haze of the composite filter due to the light scattering of the bubbles can be avoided, and a composite filter with high transparency can be obtained with high production efficiency.
On the other hand, if the total thickness H of the line portion is too small, the thickness of the conductor layer is too small, so that the electric resistance value of the metal is increased and the electromagnetic wave shielding effect is easily impaired. Considering the electromagnetic shielding function, the thickness of the conductor layer including the metal plating layer is preferably 1 μm or more, and more preferably 2 μm or more in the case of the line width and line pitch. Therefore, the height of the line part of the mesh region is preferably 1 μm or more, and more preferably 2 μm or more.
In addition, the bias angle of the mesh region (angle formed between the mesh line portion and the outer periphery of the electromagnetic wave shielding sheet) may be appropriately set to an angle at which moire is difficult to occur in consideration of the pixel pitch of the display and the light emission characteristics. .

このような、メッシュ状領域を有する導電体層が少なくとも積層されてなり、当該導電体層に、厚み方向に結晶粒径が異なる金属メッキ層が含まれる電磁波遮蔽用シートを準備する方法としては、特に制限されず、例えば、次の3つの方法が挙げられる。
(1)透明基材へ導電インキをパターン状に印刷し、該導電インキ層の上へ金属メッキする方法(例えば、特開2000−13088号公報)。
(2)透明基材へ、導電インキ又は化学メッキ触媒含有感光性塗布液を全面に塗布し、該塗布層をフォトリソグラフィー法でメッシュ状とした後に、該メッシュの上へ金属メッキする方法(例えば、住友大阪セメント株式会社新材料事業部新規材料研究所新材料研究グループ、“光解像性化学メッキ触媒”、[online]、掲載年月日記載なし、住友大阪セメント株式会社、[平成15年1月7日検索]、インターネット〈URL:http://www.socnb.com/product/hproduct/display.html〉)。
(3)透明基材の一方の面へ、金属薄膜をスパッタ等により形成して導電処理層を形成し、その上に電解メッキにより金属メッキ層を形成した透明基材を準備し、該透明基材上の金属メッキ層及び導電処理層を、フォトリソグラフィー法でメッシュ状とする(例えば、特許第3502979号公報、特開2004−241761号公報)。
As a method for preparing an electromagnetic wave shielding sheet including at least a conductor layer having a mesh-like region and including a metal plating layer having a different crystal grain size in the thickness direction in the conductor layer, It does not restrict | limit in particular, For example, the following three methods are mentioned.
(1) A method in which a conductive ink is printed in a pattern on a transparent substrate, and metal plating is performed on the conductive ink layer (for example, JP 2000-13088 A).
(2) A method in which a conductive ink or a chemical plating catalyst-containing photosensitive coating solution is applied to the entire surface of a transparent substrate, and the coating layer is made into a mesh by photolithography, followed by metal plating on the mesh (for example, , Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. New Materials Division, New Materials Research Institute, New Materials Research Group, “Photoresolvable Chemical Plating Catalyst”, [online], date not listed, Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. [2003 Search on January 7], Internet <URL: http://www.socnb.com/product/hproduct/display.html>).
(3) A conductive film is formed by forming a metal thin film on one surface of the transparent substrate by sputtering or the like, and a transparent substrate having a metal plating layer formed thereon by electrolytic plating is prepared. The metal plating layer and the conductive treatment layer on the material are formed into a mesh shape by a photolithography method (for example, Japanese Patent No. 3502979, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-241761).

中でも、本発明においては特に、透明性及びメッシュ精度に優れるのでディスプレイ画像を良好に視認性でき、さらに、製造工程において、短い工程で歩留りがよく安価に製造できる点から、上記(3)の方法を用いることが特に好ましい。そこで、上記(3)の方法によりメッシュ状導電体層を形成する方法を、詳細に説明する。
上記(3)の方法により形成された、透明基材の一方の面に、メッシュ状領域を形成している導電体層が少なくとも積層されてなる電磁波遮蔽シートについて、その一例を図3に示す。図3は、図2のAA断面図、及びBB断面図である。なお、いずれの図においても、平面方向(図でいうと左右方向)の縮尺に比べて厚み方向(図でいうと上下方向)の縮尺を現実寸法より大幅に拡大して図示してある。且つ、導電層12の縮尺を透明基材11の縮尺に比べて現実よりも大幅に拡大して誇張図示してある。図3(A)は開口部を横断するAA断面を示し、開口部103とライン104が交互に構成され、図3(B)はライン104を縦断するBB断面を示し、導電体層12からなるライン104が連続して形成されている。図3において、導電体層12は、透明基材11に近い側から、導電処理層13、第一の黒化層15A、金属メッキ層14、第二の黒化層15B、及び防錆層16が、この順に積層した構造を有する。尚、これらの層のうち、最低限必須のものは金属メッキ層14である。其の他の層は必要に応じ適宜設ける。
Among these, in the present invention, the method of (3) above is particularly advantageous because the display image can be seen well because it is excellent in transparency and mesh accuracy, and can be manufactured in a short process with good yield and low cost. It is particularly preferable to use Therefore, a method for forming a mesh-like conductor layer by the method (3) will be described in detail.
An example of an electromagnetic wave shielding sheet formed by the method (3) above, in which a conductive layer forming a mesh-like region is laminated on one surface of a transparent substrate, is shown in FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA and BB in FIG. In each figure, the scale in the thickness direction (vertical direction in the figure) is greatly enlarged from the actual size as compared with the scale in the plane direction (horizontal direction in the figure). In addition, the scale of the conductive layer 12 is exaggerated and greatly enlarged as compared with the scale of the transparent substrate 11. 3A shows an AA cross section that crosses the opening, and the openings 103 and the lines 104 are alternately formed. FIG. 3B shows a BB cross section that runs through the line 104 and is formed of the conductor layer 12. Lines 104 are formed continuously. In FIG. 3, the conductor layer 12 has a conductive treatment layer 13, a first blackening layer 15 </ b> A, a metal plating layer 14, a second blackening layer 15 </ b> B, and a rust prevention layer 16 from the side close to the transparent substrate 11. However, it has the structure laminated | stacked in this order. Of these layers, the minimum required one is the metal plating layer 14. Other layers are provided as necessary.

(導電処理層の形成)
上記のような透明基材11に、上記(3)の方法においては、後述する金属電解メッキに先立ち導電処理を行い、導電処理層を形成する。該導電処理の方法としては、公知の導電性を持つ材料の薄膜を形成すればよい。該導電性を持つ材料としては、例えば金、銀、銅、ニッケル、クロムなどの金属、或いはこれらの金属の合金(例えば、ニッケル−クロッム合金)から成る。また、酸化スズ、ITO、ATOなどの透明な金属酸化物でもよい。該導電処理は単層あるいは多層(例えば、ニッケル−クロッム合金と銅層との積層)であってもよく、これらの材料を公知の真空蒸着法、スパッタリング法、無電解メッキ法などの方法で形成し導電処理層13とする。該導電処理層13の厚さは、メッキ時に必要な導電性が得られればよいので、0.001〜1μm程度の極薄い層であることが好ましい。
(Formation of conductive treatment layer)
In the above method (3), a conductive treatment layer is formed on the transparent substrate 11 as described above prior to metal electroplating described later. As a method for the conductive treatment, a thin film of a known conductive material may be formed. Examples of the conductive material include metals such as gold, silver, copper, nickel, and chromium, or alloys of these metals (for example, nickel-chromium alloy). Moreover, transparent metal oxides, such as a tin oxide, ITO, and ATO, may be sufficient. The conductive treatment may be a single layer or multiple layers (for example, a laminate of a nickel-chromium alloy and a copper layer), and these materials are formed by a known vacuum deposition method, sputtering method, electroless plating method, or the like. The conductive treatment layer 13 is used. The thickness of the conductive treatment layer 13 is preferably an extremely thin layer of about 0.001 to 1 μm, as long as necessary conductivity can be obtained at the time of plating.

(金属メッキ層)
金属メッキ層は本発明に係る電磁波遮蔽シートの導電体層において必須の層であり、電解メッキ法によって形成される金属層をいう。上記(3)の方法で形成される否かに関わらず、以下のような特徴を有するものである。
図4に、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の一部拡大断面模式図を示す。本発明の導電体層12は、金属メッキ層14を含み、当該金属メッキ層14において、透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、厚み方向xに対峙する透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大している。透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、厚み方向xに対峙する透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大していれば、前述のように結晶粒径の増大の仕方は特に限定されないが、透明基材11側から厚み方向に遠ざかる方向23に従って、増大していることが、好ましい。このような場合には、表示装置の観察者側に対峙する導電体層12の外側表面(透明基材と反対側表面21)においては結晶粒径が大きいため外来光の鏡面反射を低減して、画像の白化を防止し、コントラストを向上できる。その一方で、透明基材側表面の結晶粒径は小さくすることができるため電解メッキの際の電流密度を抑えることができ、金属メッキ層の製造時の溶解又は変質を防止できる。
(Metal plating layer)
The metal plating layer is an essential layer in the conductor layer of the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention, and refers to a metal layer formed by an electrolytic plating method. Regardless of whether it is formed by the above method (3), it has the following characteristics.
In FIG. 4, the partial expanded cross-section schematic diagram of an example of the electromagnetic wave shielding sheet used for this invention is shown. The conductor layer 12 of the present invention includes a metal plating layer 14, and in the metal plating layer 14, the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate is the transparent substrate side surface 22 facing the thickness direction x. It is increased compared to the crystal grain size. If the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate is larger than the crystal grain size of the transparent substrate side surface 22 facing the thickness direction x, as described above, how to increase the crystal grain size Is not particularly limited, but preferably increases in the direction 23 away from the transparent substrate 11 side in the thickness direction. In such a case, since the crystal grain size is large on the outer surface (surface 21 opposite to the transparent substrate) of the conductor layer 12 facing the viewer side of the display device, the specular reflection of extraneous light is reduced. , Preventing whitening of the image and improving the contrast. On the other hand, since the crystal grain size on the surface of the transparent substrate can be reduced, the current density at the time of electrolytic plating can be suppressed, and dissolution or alteration during the production of the metal plating layer can be prevented.

結晶粒径が透明基材11から厚み方向に遠ざかるに従って増大する仕方は、連続的に漸次増大しても良いし、不連続で段階的に漸次増大しても良い。連続的に漸次増大する場合には、結晶粒径が不連続的に変化する界面において金属メッキ層に加わる応力が集中することがないため、電磁波遮蔽シートに反りや界面での剥離が生じ難くなる点から好ましい。なお、本発明においては、透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大していれば、厚み方向での結晶粒径は、必ずしも単調増加していなくても、結晶粒径が厚み方向で一部減少する箇所が含まれていても良い。
また、厚み方向x=Xの位置における面内方向の平均結晶粒径{D(X)}を求める方法としては、金属メッキ層を表面からx>Xの部分を研磨したり腐食したりして、x=X面を露出させ、必要に応じて軽く露出面を腐食したり染色したり等して結晶粒境界を強調した上で顕微鏡写真を撮影し、粒径を計測する方法が一般的である。その他、金属メッキ層の製造過程において、金属メッキ層がx=Xまで成長した時点でメッキを停止し、x=X面を上記と同様の方法で計測する方法でも良い。
The manner in which the crystal grain size increases as the distance from the transparent substrate 11 increases in the thickness direction may be continuously increased gradually or may be increased discontinuously and gradually. When continuously increasing gradually, stress applied to the metal plating layer does not concentrate at the interface where the crystal grain size changes discontinuously, so that the electromagnetic shielding sheet is less likely to warp or peel off at the interface. It is preferable from the point. In the present invention, if the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate is larger than the crystal grain size of the transparent substrate side surface 22, the crystal grain size in the thickness direction is not necessarily Even if it does not increase monotonously, a portion where the crystal grain size partially decreases in the thickness direction may be included.
In addition, as a method of obtaining the average crystal grain size {D (X)} in the in-plane direction at the position of the thickness direction x = X, a portion of x> X is polished or corroded from the surface of the metal plating layer. , X = X surface is exposed, and the exposed surface is lightly corroded or dyed as necessary to emphasize the grain boundary and then take a micrograph to measure the particle size. is there. In addition, in the manufacturing process of the metal plating layer, the plating may be stopped when the metal plating layer has grown to x = X, and the x = X plane may be measured by the same method as described above.

本発明に係る電磁波遮蔽シートにおいては、前記金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径は、金属メッキ層の層厚みによって好適な値が異なり、金属メッキ層の層厚みの40%〜67%程度が好ましい。一方、透明基材側表面の結晶粒径は1.5μm以下であることが好ましい。このような場合には、金属メッキ層を電解メッキにより製造した場合においても、透明基材との界面において溶解又は変質するという問題が起こることなく、外光の反射率が抑制され、他の積層フィルムとの密着性が向上された電磁波遮蔽シートを好適に得ることができる。前記金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径は、更に好ましくは金属メッキ層の層厚みの50%〜60%である。また、透明基材と反対側表面の結晶粒径は、エッチング加工適性の点から、通常は20μm以下である。一方、透明基材側表面の結晶粒径は、更に好ましくは1.0μm以下である。また、透明基材側表面の結晶粒径は、エッチング加工適性及びメッキ加工時間の効率の点から、通常は0.5μm以上である。
また、本発明に係る電磁波遮蔽シートにおいては、前記金属メッキ層の、透明基材側表面の結晶粒径と、透明基材と反対側表面の結晶粒径との差が、金属メッキ層の層厚みの30〜60%程度、更に40〜60%程度であることが、製造上溶解又は変質するという問題を防止しつつ、金属メッキ層表面の大きな結晶粒径により外光の反射率が抑制され、他の積層フィルムとの密着性が向上される点から好ましい。
In the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention, in the metal plating layer, the crystal grain size on the surface opposite to the transparent substrate has a suitable value depending on the layer thickness of the metal plating layer. % To about 67% is preferable. On the other hand, the crystal grain size on the transparent substrate side surface is preferably 1.5 μm or less. In such a case, even when the metal plating layer is manufactured by electrolytic plating, the reflectance of outside light is suppressed without causing the problem of dissolution or alteration at the interface with the transparent substrate, and other laminated layers An electromagnetic wave shielding sheet having improved adhesion to the film can be suitably obtained. In the metal plating layer, the crystal grain size on the surface opposite to the transparent substrate is more preferably 50% to 60% of the layer thickness of the metal plating layer. The crystal grain size on the surface opposite to the transparent substrate is usually 20 μm or less from the viewpoint of suitability for etching. On the other hand, the crystal grain size on the transparent substrate side surface is more preferably 1.0 μm or less. The crystal grain size on the transparent substrate side surface is usually 0.5 μm or more from the viewpoint of the suitability for etching and the efficiency of plating time.
Further, in the electromagnetic wave shielding sheet according to the present invention, the difference between the crystal particle size of the surface of the metal plating layer on the transparent substrate side and the crystal particle size of the surface opposite to the transparent substrate is a layer of the metal plating layer. The reflectance of external light is suppressed by the large crystal grain size on the surface of the metal plating layer while preventing the problem of dissolution or alteration in manufacturing that the thickness is about 30 to 60%, and further about 40 to 60%. From the point that the adhesion with other laminated films is improved.

前記金属メッキ層14において、透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、厚み方向xに対峙する透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大していれば、透明基材に平行な面内における結晶粒径の分布は特に限定されないが、透明基材に平行な面内における結晶粒径は、金属メッキ層の光反射率や機械的強度など物性の均一性の点から、実質的に同じであることが好ましい。上述のように、金属メッキ層は、下地面から上方に向かって金属結晶が成長することによって堆積するので、透明基材に平行な面内における結晶は通常ほぼ同時に成長していると考えられ、透明基材に平行な面内における結晶粒径は、通常は、平均値に近い値に揃った(統計学上の分散が小さい)ものである。   In the metal plating layer 14, if the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate is larger than the crystal grain size of the transparent substrate side surface 22 facing the thickness direction x, the transparent substrate becomes a transparent substrate. The distribution of the crystal grain size in the parallel plane is not particularly limited, but the crystal grain size in the plane parallel to the transparent substrate is from the point of uniformity of physical properties such as light reflectivity and mechanical strength of the metal plating layer. Preferably they are substantially the same. As described above, since the metal plating layer is deposited by growing metal crystals upward from the base surface, it is considered that the crystals in the plane parallel to the transparent substrate are usually grown almost simultaneously. The crystal grain size in the plane parallel to the transparent substrate is usually aligned to a value close to the average value (statistical dispersion is small).

該導電処理層13の面へ金属メッキ層14を形成する方法としては電解メッキ法が挙げられる。本発明においては、メッキ法によって金属層を形成することにより、銅箔などの金属箔を貼り合わせる工程を必要とせずに効率よく金属層を形成できる。特に、極薄い金属層(例えば5μm以下)を形成したい場合には、金属箔を貼合わせる工程での金属箔の取り扱いが非常に困難であり、破損を生じやすいが、メッキ法による場合には極薄い金属層を容易に形成することができる。
金属メッキ層14の材料としては、例えば金、銀、銅、鉄、ニッケル、クロム、コバルトなど充分に電磁波をシールドできる程度の導電性を持つ金属を1種又は2種以上混合して、或いはこれら金属を含む合金が適用できる。金属メッキ層14は単体でなくても、多層であってもよく、電解メッキのしやすさと導電性から銅又は銅合金が好ましい。銅合金としては、銅を主体として、金、銀、銅、鉄、ニッケル、クロム、コバルトのような他の金属を含むものが挙げられる。金属メッキ層が、銅と他の金属との混合物または銅合金である場合には、銅の含有量が全金属成分の90重量%以上であることが好ましく、95重量%以上であることがさらに好ましい。
An example of a method for forming the metal plating layer 14 on the surface of the conductive treatment layer 13 is an electrolytic plating method. In the present invention, by forming a metal layer by a plating method, the metal layer can be formed efficiently without requiring a step of bonding a metal foil such as a copper foil. In particular, when it is desired to form an extremely thin metal layer (for example, 5 μm or less), it is very difficult to handle the metal foil in the step of laminating the metal foil, and damage is likely to occur. A thin metal layer can be easily formed.
As a material of the metal plating layer 14, for example, gold, silver, copper, iron, nickel, chromium, cobalt, or the like having a conductivity sufficient to shield electromagnetic waves, or a mixture of two or more of these metals may be used. An alloy containing a metal is applicable. The metal plating layer 14 may not be a simple substance, but may be a multilayer, and copper or a copper alloy is preferable from the viewpoint of ease of electrolytic plating and conductivity. Examples of the copper alloy include those mainly containing copper and containing other metals such as gold, silver, copper, iron, nickel, chromium, and cobalt. When the metal plating layer is a mixture of copper and another metal or a copper alloy, the copper content is preferably 90% by weight or more of the total metal components, and more preferably 95% by weight or more. preferable.

金属メッキ層は、下地面から上方に向かって金属結晶が成長することによって堆積して形成されると考えられる。従って、当該金属メッキ層において透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、厚み方向xに対峙する透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大するようにする方法としては、例えば、電解メッキ法を用い、厚み方向に金属が結晶成長していくに従って、電流密度を順次増加させる方法が挙げられる。この場合、例えば、メッキ開始時は電流密度を0.1〜0.5A/dm2とし、以後連続的に漸次増加、又は段階的に漸次増加させ、メッキ終了時は電流密度を5〜10A/dm2とすることができる。電流密度の増加の仕方を連続的に漸次増加することにより、結晶粒径を厚み方向に連続的に漸次増加することが可能である。また、電流密度を段階的に増加することにより、結晶粒径を厚み方向に段階的に増加することが可能である。透明基材と反対側表面21の結晶粒径が、厚み方向xに対峙する透明基材側表面22の結晶粒径に比べて増大するようにする別の方法としては、厚み方向に金属が結晶成長していくに従って、順次、メッキ浴組成を変える方法が挙げられる。この場合のメッキ浴組成の変更としては、例えば、硫酸銅濃度等の析出すべき金属イオンを供給する化合物の濃度、添加剤の種類と量などを変更すること等が挙げられる。 The metal plating layer is considered to be deposited and formed by growing metal crystals upward from the base surface. Therefore, as a method for increasing the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate in the metal plating layer as compared with the crystal grain size of the transparent substrate side surface 22 facing the thickness direction x, for example, There is a method of increasing the current density sequentially as the metal grows in the thickness direction using the electrolytic plating method. In this case, for example, the current density is set to 0.1 to 0.5 A / dm 2 at the start of plating, and thereafter gradually increased or gradually increased stepwise, and at the end of plating, the current density is set to 5 to 10 A / dm 2. it can be a dm 2. By continuously increasing the current density increasing method, the crystal grain size can be increased continuously in the thickness direction. Further, by increasing the current density stepwise, the crystal grain size can be increased stepwise in the thickness direction. Another method for increasing the crystal grain size of the surface 21 opposite to the transparent substrate relative to the crystal grain size of the transparent substrate side surface 22 opposite to the thickness direction x is to crystallize the metal in the thickness direction. A method of sequentially changing the plating bath composition as it grows can be mentioned. Examples of the change in the plating bath composition in this case include changing the concentration of the compound that supplies metal ions to be deposited, such as the copper sulfate concentration, and the type and amount of the additive.

電解メッキ法を用いる場合の金属メッキ液としては、硫酸銅浴、青化銅浴、硼弗化銅浴、ピロ燐酸銅浴等、公知のメッキ浴が使用できるが、代表的なメッキ浴としては硫酸銅浴が用いられる。硫酸銅浴の組成としては、例えば、硫酸銅、及び硫酸を含む水溶液をベースとして、結晶を調節するためのメッキ添加剤を加えたものを用いる。硫酸濃度は、150〜220g/L(リットル)程度、硫酸銅濃度は、5水和物で50〜85g/L程度が挙げられる。
メッキ添加剤に含まれる結晶調節成分としては、例えば炭化水素系高分子化合物、含硫黄炭化水素化合物、蛋白質、膠、アミン、アルカロイド、メルカプタン、スルフィド、或いは各種染料系化合物等公知のものが挙げられる。このような結晶調節成分を1種又は2種以上、適宜選択して用いても良い。結晶調節成分の添加量は1〜100g/L程度である。この種の添加剤は、一般に、添加量を増やすに従って結晶粒径を小さくする。又、必要に応じて、金属メッキ層表面を粗面化する為に、塩酸を塩素濃度40〜80mg/L程度添加しても良い。
As the metal plating solution in the case of using the electrolytic plating method, a known plating bath such as a copper sulfate bath, a copper bromide bath, a copper borofluoride bath, a copper pyrophosphate bath, etc. can be used. A copper sulfate bath is used. As the composition of the copper sulfate bath, for example, a copper sulfate and an aqueous solution containing sulfuric acid and a plating additive for adjusting crystals are added. The sulfuric acid concentration is about 150 to 220 g / L (liter), and the copper sulfate concentration is about 50 to 85 g / L for pentahydrate.
Examples of the crystal controlling component contained in the plating additive include known compounds such as hydrocarbon polymer compounds, sulfur-containing hydrocarbon compounds, proteins, glues, amines, alkaloids, mercaptans, sulfides, and various dye compounds. . One or two or more such crystal controlling components may be appropriately selected and used. The addition amount of the crystal adjusting component is about 1 to 100 g / L. This type of additive generally reduces the crystal grain size as the amount added is increased. Further, if necessary, hydrochloric acid may be added at a chlorine concentration of about 40 to 80 mg / L in order to roughen the surface of the metal plating layer.

メッキ条件としては、具体的には例えば、浴温を20〜30℃、電流密度を0.1〜10A/dm、メッキ時間を30分から2時間とし、メッキ浴を攪拌することが挙げられる。メッキ層の堆積後、結晶配向を安定化するために必要に応じてアニール処理を行うことが好ましい。アニール処理の条件としては、例えば、100〜200℃、30分から2時間とする。 Specific examples of plating conditions include a bath temperature of 20 to 30 ° C., a current density of 0.1 to 10 A / dm 2 , a plating time of 30 minutes to 2 hours, and stirring of the plating bath. After the plating layer is deposited, it is preferable to perform an annealing treatment as necessary in order to stabilize the crystal orientation. The annealing conditions are, for example, 100 to 200 ° C., 30 minutes to 2 hours.

金属メッキ層の厚さは、充分な遮蔽性能と加工プロセス中に破損しない物性を有し得る範囲内で可能な限り薄くすることが好ましいが、金属メッキ層を含む導電体層全体の厚さの範囲内で他の層の厚さを考慮のうえ決定される。かかる観点から、導電体層に含まれる金属メッキ層14の厚さは、20μm以下とすることが好ましく、5μm以下とすることがさらに好ましく、メッシュ状領域上の接着剤層塗工時の開口部内への気泡残留防止の点から3μm程度とすることが特に好ましい。また、該金属メッキ層14の厚さは、電磁波遮蔽性の点からは1μm以上であることが好ましく、2μm以上であることがさらに好ましい。   The thickness of the metal plating layer is preferably as thin as possible within a range where sufficient shielding performance and physical properties that do not break during the processing process can be obtained, but the thickness of the entire conductor layer including the metal plating layer is not limited. It is determined in consideration of the thickness of other layers within the range. From this viewpoint, the thickness of the metal plating layer 14 included in the conductor layer is preferably 20 μm or less, more preferably 5 μm or less, and the inside of the opening when the adhesive layer is applied on the mesh region. It is particularly preferable that the thickness be about 3 μm from the viewpoint of preventing residual bubbles. In addition, the thickness of the metal plating layer 14 is preferably 1 μm or more, and more preferably 2 μm or more from the viewpoint of electromagnetic shielding properties.

また、金属メッキ層表面のJIS Z8722に準拠して測定した全光線反射率(RSCI)は、40%以下、更に30%以下であることが、メッシュ状の導電体層表面のJIS Z8722に準拠して測定した全光線反射率(RSCI)を20%以下とすることが容易となり、透視画像の明室コントラストを向上させる点から好ましい。 Further, the total light reflectance was measured in accordance with JIS Z8722 of the metal plating layer surface (R SCI) is less than 40%, not more than an additional 30% conform to JIS Z8722 mesh-like conductor layer surface Therefore, it is easy to make the total light reflectance ( RSCI ) measured in this way 20% or less, which is preferable from the viewpoint of improving the bright room contrast of the fluoroscopic image.

(黒化層)
本発明は、導電体層の透明基材と反対側面の結晶粒径を大きくすることにより、明室コントラストの向上を図るものであるが、このようなコントラストの更なる向上を図るためには、メッシュ状領域を形成している導電体層12の観察側に黒化処理を行って、当該黒化処理面により電磁波遮蔽用シートに入射する外光を吸収させることが好ましい。また、黒化層はディスプレイ面側に設けられてもよく、この場合は、ディスプレイから発生する迷光を抑えられるので、さらに、画像の視認性が向上する。このために、図3(A)に示されるように、金属メッキ層14の少なくとも片面に、必要に応じて、黒化層15A及び/又は15Bを設ける。該黒化層は金属メッキ層14面を粗化するか、全可視光スペクトルに亘って光吸収性を付与する(黒化)か、或いは両者を併用するかの何れかにより行なう。また、透明基材11面に黒化層を設ける場合には、該透明基材へ透明な導電性薄膜による導電処理を行い、黒色メッキ層を設けた後に、金属メッキ層14を設ければよい。
(Blackening layer)
The present invention is intended to improve the bright room contrast by increasing the crystal grain size on the side opposite to the transparent base material of the conductor layer. In order to further improve such contrast, It is preferable that a blackening process is performed on the observation side of the conductor layer 12 forming the mesh-like region so that external light incident on the electromagnetic wave shielding sheet is absorbed by the blackened surface. Further, the blackening layer may be provided on the display surface side. In this case, since the stray light generated from the display can be suppressed, the visibility of the image is further improved. For this purpose, as shown in FIG. 3A, a blackening layer 15A and / or 15B is provided on at least one surface of the metal plating layer 14 as necessary. The blackening layer is carried out by either roughening the surface of the metal plating layer 14, providing light absorption over the entire visible light spectrum (blackening), or using both in combination. Further, when a blackened layer is provided on the surface of the transparent substrate 11, the metal plated layer 14 may be provided after conducting a conductive treatment with the transparent conductive thin film on the transparent substrate and providing the black plated layer. .

金属メッキ層が銅を含有する場合に好ましい黒化層形成法としては、銅を硫酸、硫酸銅及び硫酸コバルトなどからなる電解液中で、陰極電解処理を行って、カチオン性粒子を付着させるカソーディック電着が挙げられる。該カチオン性粒子を設けることでより粗化し、同時に黒色が得られる。記カチオン性粒子としては、銅粒子、銅と他の金属との合金粒子が適用できるが、好ましくは銅‐コバルト合金の粒子である。該カチオン性粒子の粒径は、黒濃度の点から、平均粒径0.1〜1μm程度が好ましい。
其の他、黒化層形成法として、ニッケル−亜鉛合金、硫化ニッケル、或いはこれらの複合体からなる黒化ニッケルメッキ、並びに酸化銅も好適に使用できる。
A preferable blackening layer forming method when the metal plating layer contains copper is a cathode in which copper is subjected to cathodic electrolysis in an electrolytic solution composed of sulfuric acid, copper sulfate, cobalt sulfate, and the like, to attach cationic particles. Dick electrodeposition is an example. By providing the cationic particles, the surface becomes more rough, and at the same time, black is obtained. As the cationic particles, copper particles and alloy particles of copper and other metals can be used, but copper-cobalt alloy particles are preferred. The average particle diameter of the cationic particles is preferably about 0.1 to 1 μm from the viewpoint of black density.
In addition, as the blackening layer forming method, nickel-zinc alloy, nickel sulfide, or blackening nickel plating composed of a composite thereof, and copper oxide can also be suitably used.

該黒化層の好ましい黒濃度は0.6以上である。なお、黒濃度の測定方法は、COLOR CONTROL SYSTEMのGRETAG SPM100−11(キモト社製、商品名)を用いて、観察視野角10度、観察光源D50、照明タイプとして濃度標準ANSITに設定し、白色キャリブレイション後に、試験片を測定する。また、該黒化層の光線反射率としては5%以下が好ましい。光線反射率は、JIS−K7105に準拠して、ヘイズメーターHM150(村上色彩社製、商品名)を用いて測定する。また、反射率の測定に換えて、色差計により反射のY値で表わしてもよく、この際にはY値として10以下が好ましい。   A preferable black density of the blackened layer is 0.6 or more. In addition, the measurement method of black density was set to the density standard ANSIT as an observation viewing angle of 10 degrees, an observation light source D50, and an illumination type using GRETAG SPM100-11 (trade name, manufactured by Kimoto Co., Ltd.) of COLOR CONTROL SYSTEM. The specimen is measured after calibration. Further, the light reflectance of the blackened layer is preferably 5% or less. The light reflectance is measured using a haze meter HM150 (trade name, manufactured by Murakami Color Co., Ltd.) in accordance with JIS-K7105. In addition, instead of measuring the reflectance, the Y value of reflection may be expressed by a color difference meter. In this case, the Y value is preferably 10 or less.

(防錆層)
さらに、金属メッキ層14の表面を覆うように、また、黒化層を設けた場合には、黒化層15Bの表面を覆うように、防錆層16を設けることが好ましい。
該防錆層16は、防錆機能と黒化層の脱落や変形を防止するために、少なくとも、黒化層上に設けることが好ましい。該防錆層16としては、ニッケル、亜鉛、及び/又は銅の酸化物、又はクロメート処理層が適用できる。ニッケル、亜鉛、及び/又は銅の酸化物の形成は、公知のメッキ法でよく、厚さとしては、0.001〜1μm程度、好ましくは0.001〜0.1μmである。
(Rust prevention layer)
Furthermore, it is preferable to provide the rust preventive layer 16 so as to cover the surface of the metal plating layer 14 and when the blackened layer is provided, so as to cover the surface of the blackened layer 15B.
The rust preventive layer 16 is preferably provided at least on the blackened layer in order to prevent the rust preventing function and the blackened layer from dropping or deforming. As the rust preventive layer 16, an oxide of nickel, zinc and / or copper, or a chromate treatment layer can be applied. The nickel, zinc, and / or copper oxide may be formed by a known plating method, and the thickness is about 0.001 to 1 μm, preferably 0.001 to 0.1 μm.

(メッシュ加工)
次に、上述のように設けられた透明基材上の導電体層を、フォトリソグラフィー法でメッシュ状とする工程について説明する。
まず、上記のように準備した透明基材上の導電体層12面へ、レジスト層を設け、メッシュパターン化し、レジスト層で覆われていない部分の導電体層12をエッチングにより除去した後に、レジスト層を除去する所謂フォトリソグラフィー法で、メッシュ状の金属層とする。さらに、既存の設備を使用でき、これらの製造工程の多くを連続的に行うことで、品質がよく、かつ、生産効率が高く歩留りがよく、安価に生産できる。
(Mesh processing)
Next, the process of making the conductor layer on the transparent substrate provided as described above into a mesh by a photolithography method will be described.
First, a resist layer is provided on the surface of the conductive layer 12 on the transparent substrate prepared as described above, meshed, and the portion of the conductive layer 12 not covered with the resist layer is removed by etching. A mesh-like metal layer is formed by a so-called photolithography method for removing the layer. Furthermore, existing equipment can be used, and by performing many of these manufacturing processes continuously, quality is high, production efficiency is high, yield is high, and production can be performed at low cost.

(マスキング工程)
まず、透明基材11と導電体層12の積層体の導電体層側の面をフォトリソグラフィー法でメッシュ状とし、メッシュ状領域101を形成する。この工程も、帯状で連続して巻き取られたロール状の積層体を加工して行く(巻取り加工、ロールツーロール加工という)ことが好ましい。該積層体を連続的又は間歇的に搬送しながら、緩みなく伸張した状態で、マスキング、エッチング、レジスト剥離する。透明基材11としてガラスを用いる場合には、1枚毎に加工する(枚葉加工、枚葉工程という)。
まず、マスキングは、例えば、メッシュ状領域を形成する導電体層12上へ感光性レジストを塗布し、乾燥した後に、所定のパターンを有するフォトマスクにて密着露光し、水現像し、硬膜処理などを施し、ベーキングする。尚、感光性レジストのネガ型、ポジ型の何れも使用可である。感光性レジストがネガ型の場合は、フォトマスクのメッシュパターンはライン部が透明なものとする。又感光性レジストがポジ型の場合は、フォトマスクのメッシュパターンは開口部が透明なものとする。又、露光パターンとしては、電磁波遮蔽用シートとして所望のパターンであり、最低限メッシュ状領域のパターンから構成される。更に必要に応じて、図1の如く、メッシュ状領域の外周に接地用領域のパターンを追加する。
レジストの塗布は、巻取り加工では、帯状の積層体(透明基材11と、導電体層12との積層体)を連続又は間歇で搬送させながら、メッシュ状領域を形成する導電体層12面へ、カゼイン、PVA、ゼラチンなどのレジストをディッピング(浸漬)、カーテンコート、掛け流しなどの方法で行う。また、レジストは塗布ではなく、ドライフィルムレジストを用いてもよく、作業性が向上できる。ベーキングはカゼインレジストの場合、200〜300℃で行うが、積層体の反りを防止するために、できるだけ低温度が好ましい。
(Masking process)
First, the surface on the conductor layer side of the laminate of the transparent base material 11 and the conductor layer 12 is made into a mesh shape by a photolithography method, and the mesh-like region 101 is formed. Also in this step, it is preferable to process a roll-shaped laminated body continuously wound in a band shape (referred to as a winding process or a roll-to-roll process). While the laminate is conveyed continuously or intermittently, masking, etching, and resist peeling are performed in a stretched state without looseness. When glass is used as the transparent substrate 11, it is processed one by one (referred to as single wafer processing or single wafer processing).
First, in the masking, for example, a photosensitive resist is applied onto the conductor layer 12 forming the mesh-like region, and after drying, contact exposure is performed with a photomask having a predetermined pattern, water development is performed, and film hardening is performed. Etc. and baking. Note that either a negative type or a positive type of photosensitive resist can be used. When the photosensitive resist is a negative type, it is assumed that the line portion of the mesh pattern of the photomask is transparent. When the photosensitive resist is a positive type, the mesh pattern of the photomask has a transparent opening. Further, the exposure pattern is a desired pattern as an electromagnetic wave shielding sheet, and is composed of a pattern of a mesh area at a minimum. Further, as necessary, a grounding area pattern is added to the outer periphery of the mesh area as shown in FIG.
In the winding process, the resist is applied by winding the belt-like laminated body (laminated body of the transparent base material 11 and the conductive layer 12) continuously or intermittently while forming the mesh-like region on the surface of the conductive layer 12 A resist such as casein, PVA, or gelatin is dipped (immersed), curtain coated, or poured. Moreover, a dry film resist may be used instead of application | coating, and workability | operativity can be improved. In the case of a casein resist, baking is performed at 200 to 300 ° C., but the lowest possible temperature is preferable in order to prevent warping of the laminate.

(エッチング工程)
マスキング後にエッチングを行う。該エッチングに用いるエッチング液としては、エッチングを連続して行う本発明には循環使用が容易にできる塩化第二鉄、塩化第二銅の水溶液が好ましい。また、該エッチングは、帯状で連続する鋼材、特に厚さ20〜80μmの薄板をエッチングするカラーTVのブラウン管用のシャドウマスクを製造する設備と、基本的に同様の工程である。即ち、該シャドウマスクの既存の製造設備を流用でき、マスキングからエッチングまでが一貫して連続生産できて、極めて効率が良い。透明基材11としてガラスを用いる場合の枚葉加工もより古くから行われている。エッチング後は、水洗、アルカリ液によるレジスト剥離、洗浄を行ってから乾燥すればよい。このようにして形成された、メッシュ開口部の表面は透明基材が露出しているので、メッシュ開口部の透明性がよい。
以上のメッシュ加工により、メッシュ状導電体層が形成され、電磁波遮蔽シートが得られる。
(Etching process)
Etching is performed after masking. As the etching solution used for the etching, an aqueous solution of ferric chloride or cupric chloride that can be easily circulated is preferable in the present invention in which etching is continuously performed. The etching is basically the same as the equipment for manufacturing a shadow mask for a color TV cathode ray tube that etches a strip-like continuous steel material, particularly a thin plate having a thickness of 20 to 80 μm. In other words, the existing manufacturing equipment for the shadow mask can be diverted, and from masking to etching can be produced consistently and continuously, which is extremely efficient. Single-wafer processing in the case of using glass as the transparent substrate 11 has also been performed for a long time. After etching, the substrate may be dried after washing with water, stripping the resist with an alkaline solution, and washing. Since the transparent base material is exposed on the surface of the mesh opening thus formed, the transparency of the mesh opening is good.
By the above mesh processing, a mesh-like conductor layer is formed and an electromagnetic wave shielding sheet is obtained.

(物性値)
以上のようにして得られた導電体層表面の全光線反射率(RSCI)は非メッシュ部においてJIS Z8722に準拠して測定した値で評価して、20%以下であることが好ましい。このような場合には反射防止フィルムを貼着後における外光反射率も低くなり、光反射防止機能に優れたものとなる。上記全光線反射率(RSCI)は、更に3%以下であることが好ましい。
(Physical property value)
Above manner, the total light reflectance of the obtained electric conductor layer surface (R SCI) is evaluated by the value measured according to JIS Z8722 in the non-mesh portion is preferably 20% or less. In such a case, the external light reflectance after sticking the antireflection film is lowered, and the antireflection function is excellent. The total light reflectance ( RSCI ) is preferably 3% or less.

また、メッシュ状の導電体層表面には、通常、次工程(反射防止フィルムの積層等)開始までの間は、導電体層の表面には再剥離可能な保護フィルムを一時的に積層するが、導電体層表面の非メッシュ部における当該保護フィルムに対する剥離抵抗値は、0.1〜3.3N/25mmであることが好ましい。このような場合には、他の積層フィルムを積層する場合に密着性が十分に高く自然脱落せず、且つ再剥離必要時には容易に剥離除去可能なものとなる。メッシュ状の導電体層表面の保護フィルムに対する剥離抵抗値は、更に0.1〜0.5N/25mmであることが好ましい。ここで上記保護フィルムに対する剥離抵抗値は、以下のようにして測定することができる。例えば、市販の保護フィルム(例えば、サンエー化研製、C200)を、長さ150mm、幅25mmに切り抜いて、これをその接着剤層側がメッシュ状の導電体層表面側を向くようにして、表面を脱脂したメッシュ状の導電体層表面側に貼り、これを18〜25℃の室温にて引張り試験機を用いて、該メッシュ状の導電体層表面と該保護フィルムとを両者の角度が180°となる方向に引張速度300mm/分で、20〜25℃の雰囲気中で引張って、剥離時抗張力として測定することができる。   In addition, on the surface of the mesh-like conductor layer, a re-peelable protective film is usually temporarily laminated on the surface of the conductor layer until the next step (lamination of an antireflection film, etc.) starts. Moreover, it is preferable that the peeling resistance value with respect to the said protective film in the non-mesh part of the conductor layer surface is 0.1-3.3N / 25mm. In such a case, when another laminated film is laminated, the adhesiveness is sufficiently high so that it does not fall off spontaneously and can be easily peeled and removed when re-peeling is necessary. The peel resistance value for the protective film on the surface of the mesh-like conductor layer is preferably 0.1 to 0.5 N / 25 mm. Here, the peel resistance value for the protective film can be measured as follows. For example, a commercially available protective film (for example, C200 manufactured by Sanei Kaken Co., Ltd.) is cut out to a length of 150 mm and a width of 25 mm so that the adhesive layer side faces the mesh-like conductor layer surface side. Affixed to the degreased mesh-like conductor layer surface side, and using a tensile tester at a room temperature of 18-25 ° C., the mesh-like conductor layer surface and the protective film have an angle of 180 °. It can be measured as a tensile strength at the time of peeling by pulling in an atmosphere of 20 to 25 ° C. at a pulling speed of 300 mm / min.

(光学フィルタの付加)
本発明の電磁波遮蔽シートは、そのメッシュ状導電体層を有する側に、さらに光学フィルタを積層、接着してもよい。光学フィルタとしては、光学フィルタの透明基材上に、様々な機能発現層、例えば近赤外線吸収層(NIR層)、ネオン光吸収層、紫外線吸収層、反射防止層(AR層)、ハードコート層(HC層)、防眩層(AG層)、防汚層などのなかから1つまたは2つ以上を積層したものが用いられる。
本発明の電磁波遮蔽シート上に光学フィルタを積層する際、導電体層の厚みが比較的厚かったり、或いは接着剤の流動性が比較的低い場合には、メッシュ開口部内の接着剤に気泡が残留することがある。この場合には、メッシュ状導電体層の上に平坦化層を被覆し、該平坦化層の上に接着剤を用いて光学フィルタを貼り合せる。平坦化層は透明性が高く、メッシュの導電体層との接着性が良く、次工程の接着剤との接着性がよいものであればよい。該平坦化層に用いる樹脂としては、特に限定されず各種の天然又は合成樹脂が適用できるが、樹脂の耐久性、塗布性、平坦化しやすさ、平面性などから、アクリル系の紫外線硬化樹脂が好適である。
(Addition of optical filter)
In the electromagnetic wave shielding sheet of the present invention, an optical filter may be further laminated and bonded to the side having the mesh-like conductor layer. As an optical filter, on the transparent base material of the optical filter, various function expressing layers such as a near infrared absorption layer (NIR layer), a neon light absorption layer, an ultraviolet absorption layer, an antireflection layer (AR layer), a hard coat layer. (HC layer), antiglare layer (AG layer), antifouling layer, etc., one or two or more laminated are used.
When the optical filter is laminated on the electromagnetic wave shielding sheet of the present invention, if the thickness of the conductor layer is relatively thick or the fluidity of the adhesive is relatively low, bubbles remain in the adhesive in the mesh opening. There are things to do. In this case, a planarizing layer is coated on the mesh-like conductor layer, and an optical filter is bonded onto the planarizing layer using an adhesive. The flattening layer may be one having high transparency, good adhesion to the conductive layer of the mesh, and good adhesion to the adhesive in the next step. The resin used for the flattening layer is not particularly limited, and various natural or synthetic resins can be applied. From the viewpoint of durability, applicability, ease of flattening, flatness, and the like, acrylic ultraviolet curable resins are used. Is preferred.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.

<実施例1>
(1)電磁波遮蔽シートの製造
透明基材11として厚さ100μmで片面にポリエステル樹脂系プライマー層を形成した、連続帯状の無着色透明な2軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルムを用意した。
この透明基材のプライマー層上に、スパッタ法で、順次、厚さが0.1μmのニッケル−クロム合金層及び厚さが0.2μmの銅層(導電体層の一部)を設けて導電処理層13とした。
<Example 1>
(1) Production of Electromagnetic Wave Shielding Sheet A continuous belt-shaped non-colored transparent biaxially stretched polyethylene terephthalate film having a thickness of 100 μm and a polyester resin primer layer formed on one side was prepared as the transparent substrate 11.
On the primer layer of the transparent substrate, a nickel-chromium alloy layer having a thickness of 0.1 μm and a copper layer having a thickness of 0.2 μm (a part of the conductor layer) are sequentially provided by sputtering. Treatment layer 13 was obtained.

該導電処理層面に、硫酸銅浴を用いた電解メッキ法で厚さが18.0μmの銅の金属メッキ層14(導電体層の残りの部分)を設け、これら導電処理層13及び金属メッキ層14の両層を導電体層12として形成した。メッキ液としては、溶媒として水を用い、硫酸銅五水和物:75g/リットル、硫酸:180g/リットル、塩素(塩酸として添加):60mg/リットル、炭化水素系高分子系メッキ添加剤1:40ml/リットルを混合して用いた。メッキ条件は次の通りである。浴量:500ml、攪拌:エアー攪拌、浴温:25℃、メッキ時間:40min(狙い膜厚:18μm)。電流密度はメッキ開始時に0.5A/dmとし、以後漸次増加させ、メッキ終了時に10A/dmとした。
メッキ開始直後、すなわち導電処理層面直上(金属メッキ層の透明基材側表面付近)の結晶粒径を評価したところ、1μmであった。メッキ開始直後の走査型電子顕微鏡写真を図5に示す。また、メッキ終了時の結晶粒径を評価したところ、12μmであった。メッキ終了時の走査型電子顕微鏡写真を図6に示す。
なお、結晶粒径の評価は、金属メッキ層表面の走査型電子顕微鏡写真を基に、面内の結晶粒子の直径をランダムに10個抽出して計測し、その相加平均値(単位はμm)を算出して求めた。なお、粒子形状が非球形の場合は、写真上の粒子の外接円直径で近似して計算した。
A copper metal plating layer 14 (the remaining part of the conductor layer) having a thickness of 18.0 μm is provided on the surface of the conductive treatment layer by an electrolytic plating method using a copper sulfate bath, and the conductive treatment layer 13 and the metal plating layer are provided. Both layers 14 were formed as the conductor layer 12. As a plating solution, water is used as a solvent, copper sulfate pentahydrate: 75 g / liter, sulfuric acid: 180 g / liter, chlorine (added as hydrochloric acid): 60 mg / liter, hydrocarbon polymer plating additive 1: A mixture of 40 ml / liter was used. The plating conditions are as follows. Bath volume: 500 ml, stirring: air stirring, bath temperature: 25 ° C., plating time: 40 min (target film thickness: 18 μm). The current density was 0.5 A / dm 2 at the start of plating, and then gradually increased to 10 A / dm 2 at the end of plating.
The crystal grain size immediately after the start of plating, that is, immediately above the conductive treatment layer surface (near the transparent substrate side surface of the metal plating layer) was 1 μm. A scanning electron micrograph immediately after the start of plating is shown in FIG. The crystal grain size at the end of plating was evaluated to be 12 μm. A scanning electron micrograph at the end of plating is shown in FIG.
The evaluation of the crystal grain size is based on a scanning electron micrograph of the surface of the metal plating layer, which is obtained by randomly extracting and measuring 10 in-plane crystal particle diameters, and calculating the arithmetic average value (unit: μm). ) Was calculated. When the particle shape was non-spherical, the calculation was performed by approximating the circumscribed circle diameter of the particle on the photograph.

次いで、上記積層シートに対して、その導電体層をフォトリソグラフィー法を利用したエッチングにより、開口部103及びライン部104とから成るメッシュ状領域、及びメッシュ状領域の4周を囲繞する外縁部に額縁状の接地用領域を形成した。
エッチングは、具体的には、カラーTVシャドウマスク用の製造ラインを利用して、連続帯状の上記積層シートに対してマスキングからエッチングまでを一貫して行った。すなわち、上記積層シートの導電体層面全面に感光性のエッチングレジストを塗布後、所望のメッシュパターンを密着露光し、現像、硬膜処理、ベーキングして、メッシュのライン部に相当する領域上にはレジスト層が残留し、開口部に相当する領域上にはレジスト層が無い様なパターンにレジスト層を加工した後、塩化第二鉄水溶液で、導電体層を、エッチング除去してメッシュ状の開口部を形成し、次いで、水洗、レジスト剥離、洗浄、乾燥を順次行った。
Next, the conductive layer of the laminated sheet is etched by using a photolithography method to form a mesh region composed of the opening 103 and the line portion 104 and an outer edge portion that surrounds the four circumferences of the mesh region. A frame-shaped grounding area was formed.
Specifically, using a production line for a color TV shadow mask, the etching was performed consistently from masking to etching on the continuous belt-like laminated sheet. That is, after applying a photosensitive etching resist to the entire surface of the conductor layer of the laminated sheet, a desired mesh pattern is closely exposed, developed, hardened, and baked on the area corresponding to the line portion of the mesh. After processing the resist layer into a pattern in which the resist layer remains and there is no resist layer on the area corresponding to the opening, the conductive layer is etched away with an aqueous ferric chloride solution to form a mesh-shaped opening. Then, washing with water, resist stripping, washing and drying were sequentially performed.

メッシュ状領域のメッシュの形状は、その開口部が正方形で非開口部となる線状部分のライン幅は10μm、そのライン間隔(ピッチ)は300μm、ライン部の高さは、18.3μm、長方形の枚葉シートに切断した場合に、該長方形の長辺に対する劣角として定義されるバイアス角度は49度であった。また、メッシュ状領域101は、完成された複合フィルタを画像表示装置(ディスプレイ)前面に装着した際に、該ディスプレイの画像表示領域に対峙する部分が存在し、また該メッシュ状領域の周縁部には、電磁波遮蔽シートを四角形の枚葉シートに切断した時に、その四辺外周に接地用領域として開口部が無い幅15mmの額縁部を残す様なパターンに設計した。このようにして、電磁波遮蔽シートを得た。   The shape of the mesh in the mesh area is as follows: the line width of the linear part whose opening is a square and non-opening is 10 μm, the line interval (pitch) is 300 μm, and the height of the line is 18.3 μm, rectangular When the sheet was cut into a single sheet, the bias angle defined as the subordinate angle with respect to the long side of the rectangle was 49 degrees. Further, when the completed composite filter is mounted on the front surface of the image display device (display), the mesh region 101 has a portion facing the image display region of the display, and the mesh region 101 is located at the periphery of the mesh region. Is designed in such a pattern that when the electromagnetic wave shielding sheet is cut into a rectangular sheet, a frame portion having a width of 15 mm without an opening is left as a grounding region on the outer periphery of the four sides. In this way, an electromagnetic wave shielding sheet was obtained.

<比較例1>
金属メッキ層14の形成時に電流密度をメッキ開始から終了時まで0.5A/dmとした以外は、実施例1と同様に、電磁波遮蔽シートを得た。メッキ開始直後、すなわち導電処理層面直上(金属メッキ層の透明基材側表面付近)の結晶粒径を、実施例1と同様に評価したところ、1μmであった。また、メッキ終了時の結晶粒径を、実施例1と同様に評価したところ、同じく1μmであった。
<Comparative Example 1>
An electromagnetic wave shielding sheet was obtained in the same manner as in Example 1 except that the current density was 0.5 A / dm 2 from the start to the end of plating when the metal plating layer 14 was formed. The crystal grain size immediately after the start of plating, that is, immediately above the conductive treatment layer surface (near the transparent substrate side surface of the metal plating layer) was evaluated in the same manner as in Example 1, and found to be 1 μm. Further, when the crystal grain size at the end of plating was evaluated in the same manner as in Example 1, it was 1 μm.

<評価>
上記実施例及び比較例で得られた電磁波遮蔽シートについて、反射特性(単体による外光反射率)、光反射防止性能(反射防止層を貼り付け後の外光反射率)、及び他の積層フィルムとの密着性を評価した。
なお、導電体層(上記実施例及び比較例においては金属メッキ層)の反射特性、光反射防止性能及び密着性は、メッシュ層のメッシュ部の外周に在る非メッシュ部のメッシュ層表面で評価した。また、光反射防止性能もメッシュ部の開口部の影響を削除できる点で、非メッシュ部の部分(但し、透明樹脂層を介して反射防止フィルムが積層され濡れ色となる内周部分)で行った。
<Evaluation>
About the electromagnetic wave shielding sheets obtained in the above examples and comparative examples, reflection characteristics (external light reflectance by a single substance), antireflection performance (external light reflectance after applying an antireflection layer), and other laminated films The adhesion with was evaluated.
In addition, the reflection characteristics, light reflection prevention performance and adhesion of the conductor layer (in the above examples and comparative examples) are evaluated on the mesh layer surface of the non-mesh part on the outer periphery of the mesh part of the mesh layer. did. In addition, the anti-reflection performance can be eliminated at the non-mesh part (however, the inner part where the anti-reflective film is laminated through the transparent resin layer and has a wet color) because the influence of the opening of the mesh part can be eliminated. It was.

(1)反射特性
導電体層のJIS Z8722に準拠して測定した全光線反射率(%)は、分光測色計(コニカミノルタセンシング株式会社製、CM−3600d)を反射モードに設定し、光源は標準の光D65、視野2°を用いて、検出器を、反射光のうち、拡散反射光と鏡面反射光の両方を総合した全反射光の(積分)強度を測定するようなSCI(Specular Component Included)モードに設定して、Y値(3刺激値XYZのY)を測定した。
(1) Reflection characteristics The total light reflectance (%) measured in accordance with JIS Z8722 of the conductor layer is set by the spectrocolorimeter (manufactured by Konica Minolta Sensing Co., Ltd., CM-3600d) in the reflection mode. Uses a standard light D65 and a field of view of 2 °, and the detector measures the (integral) intensity of the total reflection light, which is the total of both diffuse reflection light and specular reflection light. The Y value (Y of tristimulus values XYZ) was measured by setting the mode (Component Included).

(2)光反射防止性能
電磁波シールドフィルタの光反射防止性能の評価は、透明樹脂層及び光反射防止フィルムを積層した後の濡れ色となった状態で、導電体層の側の全光線反射率(%)を、反射防止フィルム側から測定した。全光線反射率の測定方法は、(1)における全光線反射率の測定方法と同様に行なった。濡れ色となった状態での全光線反射率(AR)は小さい方が好ましく、全光線反射率が5%未満である場合が、光反射防止性能として許容範囲である。
(2) Light reflection prevention performance The light reflection prevention performance of the electromagnetic wave shielding filter was evaluated by measuring the total light reflectance on the conductor layer side in a state of a wet color after laminating the transparent resin layer and the light reflection prevention film. (%) Was measured from the antireflection film side. The measuring method of the total light reflectance was the same as the measuring method of the total light reflectance in (1). The total light reflectivity (AR) in the wet color state is preferably small, and the case where the total light reflectivity is less than 5% is an allowable range for the light reflection preventing performance.

(3)密着性
粘着性保護フィルム(透明PETフィルム/アクリル系粘着剤層;サンエー化研製、C200)を貼着した際の剥離抵抗値で評価した。すなわち、上記粘着性保護フィルムを、長さ150mm、幅25mmに切り抜いて、これをその接着剤層側が導電体層表面側を向くようにして、表面を脱脂した導電体層表面側に貼り、これを引張り試験機を用いて、該導電体層表面と粘着性保護フィルムとを両者の角度が180°となる方向に引張速度300mm/分で、20〜25℃の雰囲気中で引張って、剥離時抗張力を測定した。
(3) Adhesiveness It evaluated by the peeling resistance value at the time of sticking an adhesive protective film (Transparent PET film / Acrylic adhesive layer; Sanei Kaken make, C200). That is, the adhesive protective film is cut out to a length of 150 mm and a width of 25 mm, and the adhesive layer side is directed to the conductor layer surface side so that the surface is degreased to the conductor layer surface side. Using a tensile tester, the conductor layer surface and the adhesive protective film are pulled in an atmosphere of 20 to 25 ° C. at a pulling speed of 300 mm / min in a direction where the angle between the two becomes 180 °, and at the time of peeling. Tensile strength was measured.

(評価結果)
各電磁波遮蔽シートについての試験結果を表1に示す。
(Evaluation results)
Table 1 shows the test results for each electromagnetic wave shielding sheet.

Figure 2007227532
Figure 2007227532

評価結果より、透明基材側表面の結晶粒径が1μmで、透明基材と反対側表面の結晶粒径も1μmである従来の金属メッキ層を有する電磁波遮蔽シートは、外光反射率が高く、光反射防止性能も許容範囲外となるもので、他の積層フィルムとの密着性も低いものであった。それに対し、透明基材側表面の結晶粒径が1μmだが、透明基材と反対側表面の結晶粒径は12μmである、本発明に係る金属メッキ層を有する実施例1の電磁波遮蔽シートは、外光反射率が低くなり、光反射防止性能も許容範囲内の優れたものとなり、更に、他の積層フィルムとの密着性も向上したものであった。   From the evaluation results, the electromagnetic wave shielding sheet having a conventional metal plating layer in which the crystal grain size on the transparent substrate side surface is 1 μm and the crystal grain size on the surface opposite to the transparent substrate is 1 μm has a high external light reflectance. Further, the light reflection preventing performance was also outside the allowable range, and the adhesion with other laminated films was also low. On the other hand, although the crystal grain size of the transparent substrate side surface is 1 μm, the crystal grain size of the surface opposite to the transparent substrate is 12 μm, the electromagnetic wave shielding sheet of Example 1 having the metal plating layer according to the present invention is The external light reflectance was lowered, the light reflection preventing performance was excellent within an allowable range, and the adhesion with other laminated films was also improved.

図1(A)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の平面図であり、図1(B)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の断面図である。FIG. 1A is a plan view of an example of an electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view of an example of an electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention. 本発明の導電体層のメッシュ状領域101の一例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an example of the mesh-like area | region 101 of the conductor layer of this invention. 図3(A)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例におけるライン部の横面図であり、図3(B)は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例におけるライン部の縦断面図である。FIG. 3A is a lateral view of a line portion in an example of the electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention, and FIG. 3B is a vertical cross section of the line portion in an example of the electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention. FIG. 図4は、本発明に用いられる電磁波遮蔽シートの一例の一部拡大断面模式図である。FIG. 4 is a partially enlarged schematic cross-sectional view of an example of the electromagnetic wave shielding sheet used in the present invention. 図5は、メッキ開始直後の金属メッキ層表面の走査型電子顕微鏡写真である。FIG. 5 is a scanning electron micrograph of the surface of the metal plating layer immediately after the start of plating. 図6は、メッキ終了直後の金属メッキ層表面の走査型電子顕微鏡写真である。FIG. 6 is a scanning electron micrograph of the surface of the metal plating layer immediately after the end of plating.

符号の説明Explanation of symbols

1 電磁波遮蔽シート
11 透明基材
12 導電体層
13 導電処理層
14 金属メッキ層
15 黒化層
16 防錆層
21 透明基材と反対側表面
22 透明基材側表面
101 メッシュ状領域
102 接地用領域
103 開口部
104 ライン部
x 厚み方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electromagnetic wave shielding sheet 11 Transparent base material 12 Conductor layer 13 Conductive treatment layer 14 Metal plating layer 15 Blackening layer 16 Antirust layer 21 Surface opposite to a transparent base material 22 Transparent base material side surface 101 Mesh area 102 Grounding area 103 Opening 104 Line part x Thickness direction

Claims (1)

透明基材の一方の面に、少なくともメッシュ状の導電体層を設けてなる電磁波遮蔽シートであって、当該導電体層は金属メッキ層を含み、当該金属メッキ層において、透明基材と反対側表面の結晶粒径が、厚み方向に対峙する透明基材側表面の結晶粒径に比べて増大していることを特徴とする電磁波遮蔽シート。   An electromagnetic wave shielding sheet comprising at least a mesh-like conductor layer on one surface of a transparent substrate, the conductor layer including a metal plating layer, and the metal plating layer on the side opposite to the transparent substrate An electromagnetic wave shielding sheet, wherein the crystal grain size of the surface is increased compared to the crystal grain size of the transparent substrate side surface facing the thickness direction.
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