JP2007188823A - Treatment gas discharging device and surface treatment device equipped with the same - Google Patents

Treatment gas discharging device and surface treatment device equipped with the same Download PDF

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JP2007188823A JP2006007597A JP2006007597A JP2007188823A JP 2007188823 A JP2007188823 A JP 2007188823A JP 2006007597 A JP2006007597 A JP 2006007597A JP 2006007597 A JP2006007597 A JP 2006007597A JP 2007188823 A JP2007188823 A JP 2007188823A
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Nobuhide Katayama
信英 片山
Tatsuo Kikuchi
辰男 菊池
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a treatment gas discharging device capable of preventing waste of power and heightening cooling efficiency of an inner dielectric through elimination of gaps generated between the inner dielectric and an inner electrode. <P>SOLUTION: The treatment gas discharging device is provided with a tubular outer dielectric 22 having a supply hole 23 and a discharge hole 24, an outer electrode 26 fitted at an outer periphery face of the outer dielectric 22 and grounded, a tubular inner dielectric 35 fitted inside the tube of the outer dielectric 22, an inner electrode 36 comprising a tubular core material 37 fitted inside the tube of the inner dielectric 35 and metal foil 38 wound around its outer periphery face, a high-frequency power source 39 impressing high-frequency voltage between the core material 37 and the outer electrode 26, a gas supply mechanism supplying treatment gas from the supply hole 23 into a space between the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35, and a cooling liquid circulation mechanism circulating cooling liquid inside the core material 37. The inner electrode 36 comes in contact with an inner periphery face of the inner dielectric 35 without a gap due to springback of the metal foil 38. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、処理ガスをプラズマ化して吐出する処理ガス吐出装置、及びこの処理ガス吐出装置を備え、当該処理ガス吐出装置から吐出された処理ガスによって処理対象物の表面を処理する表面処理装置に関する。   The present invention relates to a processing gas discharge device that converts a processing gas into plasma and discharges it, and a surface processing device that includes the processing gas discharge device and processes the surface of a processing object with the processing gas discharged from the processing gas discharge device. .

前記表面処理装置として、従来、例えば、特開2003−109799号公報に開示されたものが知られており、この表面処理装置は、適宜支持された、処理対象物たる基板の上方に配設され、当該基板に向け、処理ガスをプラズマ化して吐出する吐出機構と、この吐出機構に処理ガスを供給するガス供給機構とからなる処理ガス吐出装置などを備える。   As the surface treatment apparatus, conventionally, for example, one disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-109799 is known, and this surface treatment apparatus is disposed above a substrate, which is an object to be treated, appropriately supported. And a processing gas discharge device including a discharge mechanism that discharges the processing gas into plasma toward the substrate and a gas supply mechanism that supplies the processing gas to the discharge mechanism.

前記吐出機構は、管状に形成され、基板の上方に配置される外部誘電体と、外部誘電体の外周面に設けられ、接地された外部電極と、管状に形成され、外部誘電体の管内に、当該外部誘電体と一定間隔を隔てるように且つ当該外部誘電体と同軸に設けられる内部誘電体と、内部誘電体の管内に設けられる棒状の内部電極と、内部電極と外部電極との間に高周波電圧を印加する高周波電源とを備える。   The discharge mechanism is formed in a tubular shape, and is provided on the outer peripheral surface of the external dielectric disposed above the substrate. The external electrode is grounded. The discharge mechanism is formed in a tubular shape in the tube of the external dielectric. An internal dielectric provided to be spaced apart from the external dielectric and coaxially with the external dielectric, a rod-shaped internal electrode provided in a tube of the internal dielectric, and between the internal electrode and the external electrode A high frequency power supply for applying a high frequency voltage.

前記外部誘電体は、上部外周面に開口し、処理ガスが供給される供給穴と、下部外周面に開口し、前記供給された処理ガスを基板に向けて吐出する吐出穴とを備え、この供給穴及び吐出穴は、外部誘電体の軸線方向にそれぞれ所定間隔で複数形成される。   The external dielectric includes a supply hole that is opened in the upper outer peripheral surface and supplied with a processing gas, and a discharge hole that is opened in the lower outer peripheral surface and discharges the supplied processing gas toward the substrate. A plurality of supply holes and discharge holes are formed at predetermined intervals in the axial direction of the external dielectric.

前記ガス供給機構は、外部誘電体の供給穴に接続した供給管を備え、当該供給管を介してこの供給穴から外部誘電体と内部誘電体との間に処理ガスを供給する。   The gas supply mechanism includes a supply pipe connected to a supply hole of the external dielectric, and supplies a processing gas from the supply hole to the external dielectric and the internal dielectric via the supply pipe.

この表面処理装置によれば、ガス供給機構により供給管を介して供給穴から外部誘電体と内部誘電体との間に処理ガスが供給されるとともに、高周波電源により内部電極と外部電極との間に高周波電圧が印加され、当該内部電極と外部電極とによって高周波電界が形成される。   According to this surface treatment apparatus, a processing gas is supplied between the external dielectric and the internal dielectric from the supply hole through the supply pipe by the gas supply mechanism, and between the internal electrode and the external electrode by the high frequency power source. A high frequency voltage is applied to the first electrode, and a high frequency electric field is formed by the internal electrode and the external electrode.

外部誘電体と内部誘電体との間に供給された処理ガスは、当該外部誘電体と内部誘電体との間を吐出穴側に向けて流動するとともに、前記高周波電界によって内部電極(内部誘電体)と外部電極(外部誘電体)との間に生じる放電により、ラジカル原子やイオンなどを含んだプラズマとされ、吐出穴からその下方の基板に向けて吐出される。そして、基板は、このようにして吐出された、プラズマ化された処理ガスにより処理される。   The processing gas supplied between the external dielectric and the internal dielectric flows between the external dielectric and the internal dielectric toward the discharge hole side, and the internal electrode (internal dielectric) by the high-frequency electric field. ) And an external electrode (external dielectric) to generate plasma containing radical atoms, ions, etc., and are discharged from the discharge hole toward the substrate below the discharge hole. Then, the substrate is processed by the plasmatized processing gas discharged in this manner.

特開2003−109799号公報JP 2003-109799 A

しかしながら、上記従来の表面処理装置では、内部誘電体の内周面と内部電極の外周面との間に隙間を生じさせずに、即ち、内部誘電体の内周面に内部電極の外周面を完全に当接させた状態で内部誘電体の管内に内部電極を配置することが難しく、内部誘電体と内部電極との間に隙間を生じるため、内部誘電体と内部電極との間にも放電を生じて電力を無駄に消費するという問題があった。   However, in the above conventional surface treatment apparatus, a gap is not generated between the inner peripheral surface of the internal dielectric and the outer peripheral surface of the internal electrode, that is, the outer peripheral surface of the internal electrode is formed on the inner peripheral surface of the internal dielectric. It is difficult to place the internal electrode in the internal dielectric tube in the state of complete contact, and a gap is created between the internal dielectric and the internal electrode, so a discharge is also generated between the internal dielectric and the internal electrode. There was a problem of wasting power and wasting power.

また、特開2001−35835号公報に開示されているように、内部電極は管体から構成されて、この管内部に冷却液が流通するようになったものも提案されているが、このような内部電極を上記表面処理装置に適用し、内部誘電体を冷却して当該内部誘電体の破損を防止しようとしても、上述のように、内部誘電体と内部電極との間に隙間を生じることから、内部誘電体を効率的に冷却することができない。また、内部誘電体の温度が上昇すると、温度の上昇した部分に放電が集中するため、当該部分が更に温度上昇するという問題もある。   In addition, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-35835, it has been proposed that the internal electrode is composed of a tube body, and the coolant flows through the tube. Even if an internal electrode is applied to the surface treatment apparatus and the internal dielectric is cooled to prevent the internal dielectric from being damaged, a gap is generated between the internal dielectric and the internal electrode as described above. Therefore, the internal dielectric cannot be cooled efficiently. Further, when the temperature of the internal dielectric rises, the discharge concentrates on the portion where the temperature has risen, so that there is a problem that the temperature further increases.

本発明は、以上の実情に鑑みなされたものであって、内部誘電体と内部電極との間に生じる隙間を無くして、無駄な電力を消費するのを防止したり、内部誘電体の冷却効率を高めることができる処理ガス吐出装置、及び当該処理ガス吐出装置を備えた表面処理装置の提供をその目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and eliminates a gap generated between the internal dielectric and the internal electrode to prevent wasteful power consumption and cooling efficiency of the internal dielectric. It is an object of the present invention to provide a processing gas discharge device capable of improving the process and a surface treatment apparatus including the processing gas discharge device.

上記目的を達成するための本発明は、
処理ガスをプラズマ化して吐出する吐出手段と、該吐出手段に前記処理ガスを供給するガス供給手段とから構成される処理ガス吐出装置であって、
前記吐出手段は、
管状の部材からなり、前記処理ガスが供給される供給穴と、前記供給された処理ガスを吐出する吐出穴とが外周面に開口した外部誘電体と、
前記外部誘電体の外周面の、前記供給穴及び吐出穴を塞がない位置に設けられ、接地された外部電極と、
管状の部材からなり、前記外部誘電体の管内に、該外部誘電体の内周面と一定間隔を隔てるように且つ該外部誘電体と同軸に設けられる内部誘電体と、
前記内部誘電体の管内に設けられる内部電極と、
前記内部電極と外部電極との間に電圧を印加する電圧印加手段とを備え、
前記ガス供給手段は、前記供給穴から前記外部誘電体と内部誘電体との間に前記処理ガスを供給するように構成され、
前記外部誘電体と内部誘電体との間に供給された処理ガスは、前記電圧印加手段により前記内部電極と外部電極との間に電圧が印加されることによってプラズマ化された後、前記吐出穴から外部へ吐出されるように構成された処理ガス吐出装置において、
前記内部電極は、中心軸線が前記内部誘電体の軸線と平行となるように筒状に巻かれたシート状の金属箔からなり、該金属箔は、外力が加えられることで変形し、該外力が取り除かれることで形状が原形に回復するように構成されるとともに、形状回復作用によって該金属箔の表面が前記内部誘電体の内周面に当接するように構成されてなることを特徴とする処理ガス吐出装置に係る。
To achieve the above object, the present invention provides:
A processing gas discharge device comprising discharge means for converting a processing gas into plasma and discharging, and gas supply means for supplying the processing gas to the discharge means;
The discharge means is
An external dielectric made of a tubular member and having a supply hole to which the processing gas is supplied and a discharge hole for discharging the supplied processing gas opened on an outer peripheral surface;
An outer electrode provided on the outer peripheral surface of the external dielectric at a position that does not block the supply hole and the discharge hole, and is grounded;
An inner dielectric formed of a tubular member and provided in the outer dielectric tube so as to be spaced apart from the inner peripheral surface of the outer dielectric and coaxially with the outer dielectric;
An internal electrode provided in the internal dielectric tube;
Voltage application means for applying a voltage between the internal electrode and the external electrode,
The gas supply means is configured to supply the processing gas between the external dielectric and the internal dielectric from the supply hole,
The processing gas supplied between the external dielectric and the internal dielectric is turned into plasma by applying a voltage between the internal electrode and the external electrode by the voltage applying means, and then the discharge hole. In the processing gas discharge device configured to be discharged from the outside,
The internal electrode is composed of a sheet-like metal foil wound in a cylindrical shape so that a central axis is parallel to the axis of the internal dielectric, and the metal foil is deformed by applying an external force, and the external force The shape of the metal foil is restored to the original shape by removing the surface of the metal foil, and the shape of the metal foil is configured to abut against the inner peripheral surface of the internal dielectric by a shape restoration action. The present invention relates to a processing gas discharge device.

この処理ガス吐出装置によれば、ガス供給手段によって供給穴から外部誘電体と内部誘電体との間に処理ガスが供給されると、供給された処理ガスは、当該外部誘電体と内部誘電体との間を吐出穴側に向けて流動する。   According to the processing gas discharge device, when the processing gas is supplied from the supply hole between the external dielectric and the internal dielectric by the gas supply means, the supplied processing gas is supplied to the external dielectric and the internal dielectric. Flows toward the discharge hole.

内部電極(金属箔)と外部電極との間には、電圧印加手段によって電圧が印加され、当該内部電極と外部電極とによって電界が形成されており、前記処理ガスは、この電界によって当該内部電極(内部誘電体)と外部電極(外部誘電体)との間に生じる放電により、ラジカル原子やイオンなどを含んだプラズマとされる。そして、プラズマ化された処理ガスは、吐出穴から外部に向けて吐出される。   A voltage is applied between the internal electrode (metal foil) and the external electrode by a voltage applying means, and an electric field is formed by the internal electrode and the external electrode, and the processing gas passes through the internal electrode by the electric field. Plasma including radical atoms and ions is generated by discharge generated between the (internal dielectric) and the external electrode (external dielectric). The plasma-ized processing gas is discharged from the discharge hole toward the outside.

本発明では、内部電極を、中心軸線が内部誘電体の軸線と平行となるように筒状に巻かれたシート状の金属箔から構成し、当該金属箔を、外力が加えられることで変形し、当該外力が取り除かれることで形状が原形に回復する(即ち、スプリングバック特性を備える)ように構成するとともに、形状回復作用によって金属箔の表面が内部誘電体の内周面に当接するように構成したので、即ち、巻かれた金属箔の外径を外力によって内部誘電体の内径よりも小さくして内部誘電体の管内に配置した後、当該外力を取り除くと、当該巻かれた金属箔の外径がスプリングバックによって大きくなるので、内部電極(金属箔)を内部誘電体の内周面に、隙間を生じさせることなく完全に当接させることができる。これにより、内部誘電体と内部電極との間で放電が生じるのを防止して無駄な電力を消費するのを防止することができる。   In the present invention, the internal electrode is composed of a sheet-like metal foil wound in a cylindrical shape so that the center axis is parallel to the axis of the internal dielectric, and the metal foil is deformed by applying an external force. The shape is restored to the original shape by removing the external force (that is, provided with a springback characteristic), and the surface of the metal foil is brought into contact with the inner peripheral surface of the internal dielectric by the shape restoration action. Since the outer diameter of the wound metal foil is made smaller than the inner diameter of the inner dielectric by an external force and placed in the inner dielectric tube, the outer force is removed. Since the outer diameter is increased by the springback, the internal electrode (metal foil) can be completely brought into contact with the inner peripheral surface of the internal dielectric without generating a gap. As a result, it is possible to prevent discharge from occurring between the internal dielectric and the internal electrode, thereby preventing wasteful power consumption.

尚、前記吐出手段は、前記内部電極の内部に冷却流体を循環させる冷却流体循環手段を更に備え、前記内部電極は、前記金属箔と、前記内部誘電体の管内に配置され、外周面に前記金属箔が巻かれる管状の心材とから構成され、前記冷却流体循環手段は、前記心材の両端部にそれぞれ接続した第1接続管及び第2接続管を有し、該第1接続管から冷却流体を供給するとともに、供給した冷却流体を該第2接続管から還流させるように構成され、前記電圧印加手段は、前記心材と外部電極との間に電圧を印加するように構成されていても良い。   The discharge means further includes a cooling fluid circulation means for circulating a cooling fluid inside the internal electrode, and the internal electrode is disposed in the metal foil and the pipe of the internal dielectric, and is disposed on the outer peripheral surface. The cooling fluid circulating means has a first connecting pipe and a second connecting pipe respectively connected to both ends of the core material, and the cooling fluid is supplied from the first connecting pipe. And the supplied cooling fluid may be recirculated from the second connecting pipe, and the voltage applying means may be configured to apply a voltage between the core material and the external electrode. .

このようにすれば、電圧印加手段により内部電極の心材と外部電極との間に電圧が印加されて金属箔と外部電極とにより電界が形成され、また、冷却流体循環手段から供給されて心材の管内を流通する冷却流体により内部誘電体が冷却される。上述のように、内部誘電体の内周面に金属箔を隙間を生じさせることなく完全に当接させることができるので、心材の管内を流通する冷却流体によって内部誘電体を効率的且つ均一に冷却することができ、内部誘電体の温度上昇を防止して当該内部誘電体が破損するのを防止することができる。   In this way, a voltage is applied between the core material of the internal electrode and the external electrode by the voltage application means, and an electric field is formed by the metal foil and the external electrode, and also supplied from the cooling fluid circulation means to the core material. The internal dielectric is cooled by the cooling fluid flowing through the pipe. As described above, since the metal foil can be completely brought into contact with the inner peripheral surface of the inner dielectric without causing a gap, the inner dielectric is efficiently and uniformly made by the cooling fluid flowing through the core tube. The cooling can be performed, and the temperature rise of the internal dielectric can be prevented to prevent the internal dielectric from being damaged.

また、前記吐出手段は、前記内部電極の内部に冷却流体を循環させる冷却流体循環手段を更に備え、前記内部電極は、前記金属箔と、一端が封止された状態で前記内部誘電体の管内に配置され、外周面に前記金属箔が巻かれる心材とから構成され、前記冷却流体循環手段は、一端及び外周面が前記心材の内面と間隔を隔てて設けられる冷却管と、前記冷却管の他端側に接続した第1接続管と、前記心材の他端側で該心材と冷却管との間に接続した第2接続管とを有し、該接続管の一方から冷却流体を供給するとともに、供給した冷却流体を該接続管の他方から還流させるように構成され、前記電圧印加手段は、前記心材と外部電極との間に電圧を印加するように構成されていても良い。   The discharge means further includes a cooling fluid circulation means for circulating a cooling fluid inside the internal electrode, and the internal electrode is sealed in the pipe of the internal dielectric with the metal foil being sealed at one end. The cooling fluid circulating means includes a cooling pipe in which one end and an outer peripheral face are provided at a distance from the inner face of the core, and a cooling pipe of the cooling pipe. A first connecting pipe connected to the other end; and a second connecting pipe connected between the core and the cooling pipe on the other end of the core, and supplying a cooling fluid from one of the connecting pipes At the same time, the supplied cooling fluid may be recirculated from the other of the connection pipes, and the voltage applying means may be configured to apply a voltage between the core material and the external electrode.

このようにすれば、心材及び冷却管を2重管構造に構成し、心材及び冷却管の他端側に各接続管を接続しているので、内部誘電体の片側から効率的にメンテナンスすることができる。また、心材の両端部にそれぞれ接続管を接続したときのように、接続管の配置スペースなどを内部誘電体の両側に設ける必要は無く、片側だけで良いので、装置構成のコンパクト化を図ることもできる。   In this way, the core material and the cooling pipe are configured in a double pipe structure, and each connection pipe is connected to the other end side of the core material and the cooling pipe, so that maintenance can be efficiently performed from one side of the internal dielectric. Can do. In addition, it is not necessary to provide the space for arranging the connecting pipes on both sides of the inner dielectric as in the case where the connecting pipes are connected to both ends of the core material. You can also.

また、前記金属箔の厚みは、20μm〜50μmであることが好ましい。これは、厚みが20μmよりも薄いと、薄過ぎて製造上の問題や取り扱い上の問題を生じ、厚みが50μmよりも厚いと、強度が高くなって筒状に巻き難くなるからである。したがって、上記範囲内であれば、製造の容易化や取り扱いの容易化を図ったり、筒状に巻き易くすることができる。   Moreover, it is preferable that the thickness of the said metal foil is 20 micrometers-50 micrometers. This is because if the thickness is less than 20 μm, it is too thin to cause manufacturing problems and handling problems, and if the thickness is more than 50 μm, the strength is increased and it is difficult to wind the tube. Therefore, if it is in the said range, manufacture can be facilitated and handling can be facilitated, or it can be easily wound in a cylindrical shape.

尚、前記金属箔の材料としては、例えば、ステンレス、ニッケルメッキされた銅、鉄などを挙げることができるが、これらに限定されるものではない。   Examples of the material of the metal foil include stainless steel, nickel-plated copper, and iron, but are not limited thereto.

また、本発明は、
処理対象物を支持する支持手段と、
上述した処理ガス吐出装置とを備え、
前記処理ガス吐出装置は、前記吐出穴が前記支持手段によって支持された処理対象物と対峙するように配置され、
前記処理ガス吐出装置から吐出された処理ガスによって前記処理対象物の表面を処理するように構成されてなることを特徴とする表面処理装置に係る。
The present invention also provides:
Support means for supporting the object to be treated;
Including the processing gas discharge device described above,
The processing gas discharge device is disposed so that the discharge hole faces the processing object supported by the support means,
According to the surface treatment apparatus, the surface of the object to be treated is treated with the treatment gas discharged from the treatment gas discharge apparatus.

この表面処理装置によれば、処理ガス吐出装置が、上述のように、内部誘電体と内部電極との間で放電が生じるのを防止して無駄な電力を消費するのを防止したり、内部誘電体を効率的且つ均一に冷却して内部誘電体の破損を防止することができることから、プラズマ表面処理(例えば、表面改質処理や洗浄処理、成膜処理など)にかかるコストを低減することができ、また、メンテナンス回数を減らすなどプラズマ表面処理を効率的に実施することができる。   According to this surface treatment apparatus, as described above, the process gas discharge device prevents discharge from occurring between the internal dielectric and the internal electrode, thereby preventing wasteful power consumption, Since the dielectric can be efficiently and uniformly cooled to prevent damage to the internal dielectric, the cost for plasma surface treatment (for example, surface modification treatment, cleaning treatment, film formation treatment, etc.) can be reduced. In addition, the plasma surface treatment can be performed efficiently such as by reducing the number of maintenance.

以上のように、本発明に係る処理ガス吐出装置によれば、電力を無駄に消費するのを防止したり、内部誘電体を効率的且つ均一に冷却してこれらが破損するのを防止することができ、また、本発明に係る表面処理装置によれば、低コストでプラズマ表面処理を実施することができるとともに、メンテナンス回数を減らすなどプラズマ表面処理を効率的に実施することができる。   As described above, according to the processing gas discharge apparatus according to the present invention, it is possible to prevent wasteful consumption of electric power or to cool the internal dielectric material efficiently and uniformly to prevent them from being damaged. In addition, according to the surface treatment apparatus of the present invention, plasma surface treatment can be performed at low cost, and plasma surface treatment can be efficiently performed such as reducing the number of maintenance.

以下、本発明の具体的な実施形態について、添付図面に基づき説明する。尚、図1は、本発明の一実施形態に係る表面処理装置の概略構成を示した正断面図であり、図2は、図1における矢示A−A方向の断面図であり、図3は、図1における矢示B−B方向の断面図である。また、図4は、本実施形態に係る外部誘電体の概略構成を示した平面図であり、図5は、図4に示した外部誘電体の底面図であり、図6は、本実施形態に係る内部電極の概略構成を示した説明図であり、図7は、本実施形態に係る内部電極及び冷却管などの概略構成を示した断面図であり、図8は、本実施形態に係る接続部材及び整流板の概略構成を示した底面図である。   Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. 1 is a front sectional view showing a schematic configuration of a surface treatment apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view in the direction of arrows AA in FIG. These are sectional drawings of the arrow BB direction in FIG. 4 is a plan view showing the schematic configuration of the external dielectric according to the present embodiment, FIG. 5 is a bottom view of the external dielectric shown in FIG. 4, and FIG. 6 is the present embodiment. FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of the internal electrode and the cooling pipe according to the present embodiment, and FIG. 8 illustrates the schematic configuration of the internal electrode according to the present embodiment. It is the bottom view which showed schematic structure of the connection member and the baffle plate.

図1乃至図3に示すように、本例の表面処理装置1は、処理対象物たる基板Kを水平に支持して所定の方向(図2及び図3の矢示方向)に搬送する搬送ローラ10と、この搬送ローラ10によって搬送される基板Kの上方に配設され、当該基板Kに向け処理ガスをプラズマ化して吐出する吐出機構21、及びこの吐出機構21に前記処理ガスを供給するガス供給機構50からなる処理ガス吐出装置20などを備えて構成される。   As shown in FIGS. 1 to 3, the surface treatment apparatus 1 of the present example horizontally supports a substrate K as a processing object and conveys the substrate K in a predetermined direction (the direction indicated by the arrows in FIGS. 2 and 3). 10 and a discharge mechanism 21 that is disposed above the substrate K that is transported by the transport roller 10 and that discharges the processing gas into plasma toward the substrate K, and a gas that supplies the processing gas to the discharge mechanism 21 A processing gas discharge device 20 including a supply mechanism 50 is provided.

前記搬送ローラ10は、その複数が基板搬送方向に沿って所定間隔で配設され、その回転軸10aの両端部が支持部材(図示せず)によって回転自在に支持されている。また、搬送ローラ10は、その回転軸10aの一方端が駆動機構(図示せず)に接続されており、この駆動機構(図示せず)によって回転軸10aが軸中心に回転せしめられることで、基板Kを前記基板搬送方向に搬送する。   A plurality of the transport rollers 10 are arranged at predetermined intervals along the substrate transport direction, and both end portions of the rotation shaft 10a are rotatably supported by support members (not shown). Further, the conveyance roller 10 has one end of a rotary shaft 10a connected to a drive mechanism (not shown), and the drive shaft (not shown) causes the rotary shaft 10a to rotate about the axis, The substrate K is transported in the substrate transport direction.

前記吐出機構21は、石英ガラス管などからなる外部誘電体22と、外部誘電体22の外周面に設けられた外部電極26と、アルミニウムなどの金属からなり、外部電極26を介して外部誘電体22を保持する保持部材27と、ステンレスなどの金属からなり、外部誘電体22の軸線方向における保持部材27の両端部にそれぞれ設けられたラッパ状の導電部材29と、石英ガラス管などからなり、外部誘電体22の管内に、当該外部誘電体22の内周面と一定間隔を隔てるように且つ当該外部誘電体22と同軸に設けられる内部誘電体35と、内部誘電体35の管内に設けられる内部電極36と、内部電極36と外部電極26との間に高周波電圧を印加する高周波電源39と、内部電極36及び保持部材27の内部に冷却液を流通,循環させる冷却液循環機構40とを備える。   The discharge mechanism 21 includes an external dielectric 22 made of a quartz glass tube, an external electrode 26 provided on the outer peripheral surface of the external dielectric 22, and a metal such as aluminum. A holding member 27 for holding 22, a metal such as stainless steel, a trumpet-shaped conductive member 29 provided at both ends of the holding member 27 in the axial direction of the external dielectric 22, a quartz glass tube, and the like, In the tube of the external dielectric 22, an internal dielectric 35 is provided so as to be spaced apart from the inner peripheral surface of the external dielectric 22 and coaxially with the external dielectric 22, and provided in the tube of the internal dielectric 35. The coolant is circulated and circulated through the internal electrode 36, the high-frequency power source 39 that applies a high-frequency voltage between the internal electrode 36 and the external electrode 26, and the internal electrode 36 and the holding member 27. That includes a coolant circulation system 40.

前記外部誘電体22は、その軸線が基板搬送方向と直交するとともに、基板Kの全幅に渡り当該基板Kと一定間隔を隔てて対峙するように当該基板Kの上方に設けられており、上部外周面に形成された凸部22aと、両端部に形成された鍔部22bと、凸部22aの上面から内周面に貫通し、ガス供給機構50から処理ガスが供給される供給穴23と、下部外周面から内周面に貫通し、前記供給された処理ガスを基板Kに向けて吐出する吐出穴24とを備える。   The external dielectric 22 is provided above the substrate K so that its axis is orthogonal to the substrate transport direction and faces the substrate K at a predetermined interval over the entire width of the substrate K. A convex portion 22a formed on the surface, a flange portion 22b formed on both ends, a supply hole 23 penetrating from the upper surface of the convex portion 22a to the inner peripheral surface and supplied with a processing gas from the gas supply mechanism 50, A discharge hole 24 that penetrates from the lower outer peripheral surface to the inner peripheral surface and discharges the supplied processing gas toward the substrate K is provided.

前記供給穴23及び吐出穴24は、図4及び図5に示すように、外部誘電体22の軸線方向に一列に形成された複数のスリット穴からそれぞれ構成されており、当該各スリット穴は、所定長さL1,L4のスリット部23a,24aと、このスリット部23a,24aの両端に形成され、当該スリット部23a,24aのスリット幅L2,L5よりも直径D1,D2の大きい丸穴23b,24b(直径D1はスリット幅L2より大きく、直径D2はスリット幅L5より大きい)とから構成されるとともに、長手方向が外部誘電体22の軸線に沿うように且つ隣り合う端部間の距離が所定間隔L3,L6となるように形成されている。   The supply hole 23 and the discharge hole 24 are each composed of a plurality of slit holes formed in a line in the axial direction of the external dielectric 22, as shown in FIGS. Slit portions 23a and 24a having predetermined lengths L1 and L4, and round holes 23b formed at both ends of the slit portions 23a and 24a and having diameters D1 and D2 larger than the slit widths L2 and L5 of the slit portions 23a and 24a, 24b (the diameter D1 is larger than the slit width L2 and the diameter D2 is larger than the slit width L5), and the distance between adjacent ends is predetermined so that the longitudinal direction is along the axis of the external dielectric 22 They are formed so as to be spaced L3 and L6.

尚、前記スリット部23a,24aの長手方向の長さL1,L4は、300mm〜1200mmに設定され、前記スリット部23aのスリット幅L2は、0.2mm〜2.0mmに設定され、前記スリット穴の隣り合う端部間の距離L3,L6は、0.5mm〜2.0mmに設定され、前記丸穴23bの直径D1は、スリット幅L2の2倍〜6倍に設定され、前記丸穴24bの直径D2は、スリット幅L5の2倍〜6倍に設定される。   The longitudinal lengths L1 and L4 of the slit portions 23a and 24a are set to 300 mm to 1200 mm, the slit width L2 of the slit portion 23a is set to 0.2 mm to 2.0 mm, and the slit holes The distances L3 and L6 between adjacent end portions are set to 0.5 mm to 2.0 mm, the diameter D1 of the round hole 23b is set to 2 to 6 times the slit width L2, and the round hole 24b. The diameter D2 is set to 2 to 6 times the slit width L5.

また、前記スリット部24aのスリット幅L5は、加工上の問題から0.2mmよりも小さくすることは難しいが、できるだけ小さいことが好ましい。これは、スリット幅L5を細くすることで、吐出穴24から吐出される処理ガスの流速を速くし、励起状態にある処理ガスを、通常の状態に戻る前に基板Kの表面に到達させることができるからである。   The slit width L5 of the slit portion 24a is difficult to be smaller than 0.2 mm due to processing problems, but is preferably as small as possible. This is because the flow width of the processing gas discharged from the discharge hole 24 is increased by narrowing the slit width L5, and the processing gas in the excited state reaches the surface of the substrate K before returning to the normal state. Because you can.

前記外部電極26は、アルミニウムなどの金属膜から構成され、外部誘電体22の左右両側の、凸部22aと吐出穴24の近傍との間の外周面に当接して設けられており、保持部材27を介して接地されている。   The external electrode 26 is made of a metal film such as aluminum, and is provided in contact with the outer peripheral surface between the convex portion 22 a and the vicinity of the discharge hole 24 on both the left and right sides of the external dielectric 22. 27 is grounded.

前記保持部材27は、冷却液を流通させるための冷却流路27aを備えた左右対称な2部材を一組として構成されており、外部電極26の外周面に当接して外部誘電体22を左右両側から挟持するとともに、外部誘電体22をその両端部が当該保持部材27及び導電部材29から突出した状態で保持する。また、左右の各保持部材27は、その上面に取り付けられた連結部材28によって連結,固定されている。   The holding member 27 is composed of a pair of two symmetrical members each having a cooling flow path 27a for allowing the coolant to flow. The holding member 27 is in contact with the outer peripheral surface of the external electrode 26 so that the external dielectric 22 is left and right. While sandwiching from both sides, the external dielectric 22 is held in a state where both ends protrude from the holding member 27 and the conductive member 29. The left and right holding members 27 are connected and fixed by a connecting member 28 attached to the upper surface thereof.

前記導電部材29は、外部誘電体22の軸線方向における保持部材27の両端部に取り付けられ(即ち、外部誘電体22の軸線方向における外部電極26の両端部に配置され)、外部誘電体22と同軸の貫通穴30aを備える平板状の取付部30と、取付部30の表面に固設され、外部誘電体22の外周面と間隔を隔てて円弧状に形成されるとともに、取付部30側から外部誘電体22の軸線方向に離れるに従って内径が大きくなるように外部誘電体22の軸線に対して傾斜角度θで傾斜し且つ外部誘電体22と同軸に形成された傾斜部31とを備える。斯くして、この導電部材29(傾斜部31)により、外部誘電体22の外周面は、その下部側部分を除いて囲まれた状態となっている。尚、導電部材29は、左右対称な2部材を一組として構成され、また、前記傾斜角度θは、2°〜30°の範囲に設定される。   The conductive member 29 is attached to both ends of the holding member 27 in the axial direction of the external dielectric 22 (that is, disposed at both ends of the external electrode 26 in the axial direction of the external dielectric 22). A flat mounting portion 30 having a coaxial through hole 30a, and fixed to the surface of the mounting portion 30, are formed in an arc shape with a distance from the outer peripheral surface of the external dielectric 22, and from the mounting portion 30 side. An inclined portion 31 that is inclined at an inclination angle θ with respect to the axis of the external dielectric 22 and is formed coaxially with the external dielectric 22 is provided so that the inner diameter increases as the distance from the axis of the external dielectric 22 increases. Thus, the outer peripheral surface of the external dielectric 22 is surrounded by the conductive member 29 (inclined portion 31) except for the lower portion thereof. The conductive member 29 is configured as a pair of two symmetrical members, and the inclination angle θ is set in a range of 2 ° to 30 °.

前記内部誘電体35は、その両端部が外部誘電体22の両端部から突出した状態で当該外部誘電体22の内部に配置されており、一端部が封止部材35aによって封止されている。また、内部誘電体35は、外部誘電体22の内周面に当該外部誘電体22の軸線方向に一定間隔で設けられる図示しないスペーサによって、外部誘電体22の内周面との間に一定の隙間を確実に形成して配置される。尚、内部誘電体35と外部誘電体22との間の隙間は、当該外部誘電体22の各鍔部22bの端面に一端側が当接して設けられる筒状の封止部材32,33によって封止されている。   The internal dielectric 35 is disposed inside the external dielectric 22 with its both ends protruding from both ends of the external dielectric 22, and one end is sealed by a sealing member 35a. The inner dielectric 35 is fixed between the inner peripheral surface of the outer dielectric 22 by a spacer (not shown) provided on the inner peripheral surface of the outer dielectric 22 at regular intervals in the axial direction of the outer dielectric 22. The gap is reliably formed and arranged. The gap between the inner dielectric 35 and the outer dielectric 22 is sealed by cylindrical sealing members 32 and 33 provided with one end abutting against the end surface of each flange 22b of the outer dielectric 22. Has been.

前記内部電極36は、図1乃至図3、図6及び図7に示すように、一端部が封止部材37aによって封止されたステンレス管などからなり、内部誘電体35の管内に当該内部誘電体35と同軸に配置される心材37と、ステンレスなどからなる、厚みが20μm〜50μmのシート状の部材から構成され、心材37の外周面に筒状に巻かれる金属箔38とを備えており、当該金属箔38は、外力が加えられることで変形し、当該外力が取り除かれることで形状が原形に回復するように構成される(即ち、スプリングバック特性を備える)とともに、形状回復作用によって金属箔38の表面が内部誘電体35の内周面に当接するように構成される。   As shown in FIGS. 1 to 3, 6, and 7, the internal electrode 36 is formed of a stainless steel tube or the like having one end sealed with a sealing member 37 a, and the internal dielectric 35 is disposed within the internal dielectric 35. A core material 37 disposed coaxially with the body 35, and a sheet-like member made of stainless steel and having a thickness of 20 μm to 50 μm, and a metal foil 38 wound around the outer peripheral surface of the core material 37 in a cylindrical shape. The metal foil 38 is configured to be deformed when an external force is applied, and to be restored to its original shape when the external force is removed (that is, to have a springback characteristic), and to recover the metal by a shape recovery action. The surface of the foil 38 is configured to contact the inner peripheral surface of the internal dielectric 35.

尚、心材37は、図6に示すように、金属箔38が、その外径が内部誘電体35の内径よりも小さくなるように巻き付けられた後、内部誘電体35の管内に挿入されるようになっており、内部誘電体35の管内に挿入されて、金属箔38に作用する外力が取り除かれると、金属箔38のスプリングバックによって外径が大きくなることから、内部誘電体35の内周面の全面にこの金属箔38を介して当接することとなる。また、金属箔38は、ステンレスではなく、ニッケルメッキされた銅や鉄などから構成されていても良い。また、心材37の一端部は、外部電極26や保持部材27、導電部材29よりも外部誘電体22の端部側に位置している。   As shown in FIG. 6, the core material 37 is inserted into the tube of the inner dielectric 35 after the metal foil 38 is wound so that the outer diameter thereof is smaller than the inner diameter of the inner dielectric 35. When the external force acting on the metal foil 38 is removed by being inserted into the tube of the internal dielectric 35, the outer diameter is increased by the spring back of the metal foil 38. The entire surface is brought into contact with the metal foil 38. Further, the metal foil 38 may be made of nickel-plated copper or iron instead of stainless steel. One end of the core material 37 is located closer to the end of the external dielectric 22 than the external electrode 26, the holding member 27, and the conductive member 29.

前記高周波電源39は、内部電極36の心材37と外部電極26との間に高周波電圧を印加するように構成される。   The high frequency power supply 39 is configured to apply a high frequency voltage between the core material 37 of the internal electrode 36 and the external electrode 26.

前記冷却液循環機構40は、図1乃至図3、図6及び図7に示すように、心材37の管内に配置され、一端及び外周面が当該心材37の内面と間隔を隔てて設けられる冷却管41と、ステンレスワイヤなどからなり、冷却管41の外周面に螺旋状に巻かれて心材37の内周面と冷却管41の外周面との間に一定間隔を確保するための金属ワイヤ42と、心材37の他端が接続し、冷却管41の他端側が貫通して設けられる継手43と、冷却管41の他端に接続した第1接続管44と、継手43を介して心材37と冷却管41との間に接続した第2接続管45と、保持部材27の冷却流路27aの一端側に接続した第3接続管(図示せず)と、冷却流路27aの他端側に接続した第4接続管(図示せず)と、第1接続管44及び第3接続管(図示せず)から冷却液を供給するとともに、供給した冷却液を第2接続管45及び第4接続管(図示せず)から還流させる循環装置46とを備える。   As shown in FIGS. 1 to 3, 6, and 7, the coolant circulation mechanism 40 is disposed in the pipe of the core material 37, and one end and an outer peripheral surface of the coolant circulation mechanism 40 are provided at a distance from the inner surface of the core material 37. A metal wire 42 made of a pipe 41 and a stainless steel wire and spirally wound around the outer peripheral surface of the cooling tube 41 to ensure a constant interval between the inner peripheral surface of the core material 37 and the outer peripheral surface of the cooling tube 41. The other end of the core material 37 is connected, and the other end side of the cooling pipe 41 is provided therethrough, the first connection pipe 44 connected to the other end of the cooling pipe 41, and the core material 37 via the joint 43. A second connecting pipe 45 connected between the cooling pipe 41, a third connecting pipe (not shown) connected to one end side of the cooling flow path 27a of the holding member 27, and the other end side of the cooling flow path 27a. A fourth connecting pipe (not shown) connected to the first connecting pipe 44 and the third connecting pipe (see FIG. It supplies a coolant from without), and a circulating device 46 for returning the supplied cooling liquid second connecting pipe 45 and the fourth connecting pipe (not shown).

前記ガス供給機構50は、図1乃至図3及び図8に示すように、一端が封止され、当該一端部が外部誘電体22の上方に外部誘電体22の軸線と平行に配置された導入管51と、導入管51の他端が接続され、圧力スイング吸着(PSA)式窒素ガス生成装置などから構成されて窒素ガスを主成分とする処理ガスを生成する処理ガス生成装置52と、上下に開口した中空状の部材からなり、上端部が導入管51の一端側下部の外周面からその管内に接続し、下端部が外部誘電体22の凸部22aの上面に接続した接続部材53と、接続部材53の上端側内部に重ねられて設けられる平板状且つ細長の部材からなり、上下に貫通し且つ長手方向に一列に形成された複数の貫通穴54aを備える複数の整流板54とを備えており、処理ガス生成装置52から導入管51,接続部材53(整流板54),供給穴23を順次介して外部誘電体22と内部誘電体35との間に前記処理ガスを供給する。尚、接続部材53の下面には供給穴23の周囲を囲むように凹溝53aが形成されて、この凹溝53a内にシール部材55が配置されており、このシール部材55によって接続部材53と凸部22aとの接続部が気密に保たれている。   As shown in FIG. 1 to FIG. 3 and FIG. 8, the gas supply mechanism 50 is introduced such that one end is sealed and the one end is disposed above the external dielectric 22 and parallel to the axis of the external dielectric 22. A pipe 51 and a processing gas generation device 52 that is connected to the other end of the introduction pipe 51 and includes a pressure swing adsorption (PSA) type nitrogen gas generation device or the like and generates a processing gas mainly containing nitrogen gas; A connecting member 53 having a top end connected to the inside of the pipe from the outer peripheral surface of the lower end on one end side of the introduction pipe 51, and a lower end connected to the upper surface of the protrusion 22 a of the external dielectric 22. A plurality of rectifying plates 54 each including a plurality of through-holes 54a formed of a flat plate-like and elongated member provided to be overlapped with the inside of the upper end side of the connection member 53 and vertically formed and arranged in a line in the longitudinal direction. Equipped with a process gas generator Introducing tube 51 from 52, the connecting member 53 (rectifying plate 54), supplying the process gas between the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 sequentially through the supply holes 23. A concave groove 53a is formed on the lower surface of the connection member 53 so as to surround the periphery of the supply hole 23, and a seal member 55 is disposed in the concave groove 53a. The connection part with the convex part 22a is kept airtight.

以上のように構成された本例の表面処理装置1によれば、ガス供給機構50の処理ガス生成装置52によって生成された処理ガスが導入管51,接続部材53及び整流板54を介して供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給されると、供給された処理ガスは、当該外部誘電体22と内部誘電体35との間を吐出穴24側に向けて流動する。   According to the surface treatment apparatus 1 of the present example configured as described above, the process gas generated by the process gas generation device 52 of the gas supply mechanism 50 is supplied via the introduction pipe 51, the connection member 53, and the rectifying plate 54. When supplied between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 from the hole 23, the supplied processing gas flows between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 toward the discharge hole 24 side. To do.

内部電極36の心材37と外部電極26との間には、高周波電源39により高周波電圧が印加され、金属箔38(内部電極36)と外部電極26とによって高周波電界が形成されており、前記処理ガスは、この高周波電界によって当該金属箔38(内部誘電体35)と外部電極26(外部誘電体22)との間に生じる放電により、ラジカル原子やイオンなどを含んだプラズマとされる。   A high-frequency voltage is applied between the core material 37 of the internal electrode 36 and the external electrode 26 by a high-frequency power supply 39, and a high-frequency electric field is formed by the metal foil 38 (internal electrode 36) and the external electrode 26. The gas is turned into plasma containing radical atoms, ions, and the like by discharge generated between the metal foil 38 (internal dielectric 35) and the external electrode 26 (external dielectric 22) by the high-frequency electric field.

そして、プラズマ化された処理ガスは、吐出穴24から外部へ吐出され、吐出された処理ガス中のラジカル原子やイオンによって、搬送ローラ10により搬送される基板Kの表面が処理される(例えば、表面改質処理や洗浄処理、成膜処理などが行われる)。   Then, the plasma-ized processing gas is discharged to the outside from the discharge hole 24, and the surface of the substrate K transferred by the transfer roller 10 is processed by radical atoms and ions in the discharged processing gas (for example, Surface modification treatment, cleaning treatment, film formation treatment, etc. are performed).

尚、保持部材27及び外部電極26や、内部電極36の心材37及び金属箔38は、冷却液循環機構40の循環装置46から供給され、冷却流路27a内や、心材37と冷却管41との間を流通する冷却液によって冷却されており、これによって、外部誘電体22及び内部誘電体35たる石英ガラス管が破損するのが防止されている。   The holding member 27, the external electrode 26, the core material 37 of the internal electrode 36, and the metal foil 38 are supplied from the circulation device 46 of the coolant circulation mechanism 40, and the inside of the cooling channel 27 a, the core material 37, the cooling pipe 41, and the like. The quartz glass tube which is the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 is prevented from being broken by this.

また、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給される処理ガスの流量は、ガス供給機構50の接続部材53内に設けられた複数の整流板54によって均一となるように調整されており、これによって、外部誘電体22と内部誘電体35と間のプラズマ状態が均一とされたり、吐出穴24から吐出される処理ガスの吐出流量が均一とされている。   Further, the flow rate of the processing gas supplied from the supply hole 23 between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 is made uniform by the plurality of rectifying plates 54 provided in the connection member 53 of the gas supply mechanism 50. Thus, the plasma state between the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 is made uniform, and the discharge flow rate of the processing gas discharged from the discharge holes 24 is made uniform.

上述のように、本例の表面処理装置1における処理ガス吐出装置20では、内部電極36を、心材37と、その外周面に巻き付けられる金属箔38とから構成し、当該金属箔38を、スプリングバック特性を備えるように構成するとともに、スプリングバックによって金属箔38の表面が内部誘電体35の内周面に当接するように構成したので、内部電極36(金属箔38)を内部誘電体35の内周面に、隙間を生じさせることなく完全に当接させることができる。   As described above, in the processing gas discharge device 20 in the surface processing apparatus 1 of the present example, the internal electrode 36 includes the core material 37 and the metal foil 38 wound around the outer peripheral surface thereof, and the metal foil 38 is formed by the spring. Since it is configured to have a back characteristic and the surface of the metal foil 38 is in contact with the inner peripheral surface of the internal dielectric 35 by spring back, the internal electrode 36 (metal foil 38) is connected to the internal dielectric 35. The inner peripheral surface can be completely brought into contact without causing a gap.

これにより、内部誘電体35と内部電極36との間で放電が生じるのを防止して無駄な電力を消費するのを防止することができ、また、心材37の管内を流通する冷却液によって内部誘電体35を効率的且つ均一に冷却し、内部誘電体35の温度上昇を防止して当該内部誘電体35が破損するのを防止することができる。   As a result, it is possible to prevent discharge from occurring between the internal dielectric 35 and the internal electrode 36 and to prevent wasteful power consumption. The dielectric 35 can be cooled efficiently and uniformly, and the temperature rise of the internal dielectric 35 can be prevented to prevent the internal dielectric 35 from being damaged.

尚、金属箔38の厚みは20μm〜50μmの範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、製造の容易化や取り扱いの容易化を図ったり、筒状に巻き易くすることができる。これは、厚みが20μmよりも薄いと、薄過ぎて製造上の問題や取り扱い上の問題を生じ、厚みが50μmよりも厚いと、強度が高くなって筒状に巻き難くなるからである。   The thickness of the metal foil 38 is preferably set in the range of 20 μm to 50 μm. In this way, it is possible to facilitate manufacturing and handling and to make it easy to wind in a cylindrical shape. This is because if the thickness is less than 20 μm, it is too thin to cause manufacturing problems and handling problems, and if the thickness is more than 50 μm, the strength is increased and it is difficult to wind the tube.

また、心材37及び冷却管41を2重管構造に構成し、心材37及び冷却管41の他端側に第1接続管44及び第2接続管45を接続しているので、内部誘電体35の片側から効率的にメンテナンスすることができる。また、心材37の両端部にそれぞれ接続管44,45を接続したときのように、接続管の配置スペースなどを内部誘電体35の両側に設ける必要は無く、片側だけで良いので、装置構成のコンパクト化を図ることもできる。   Further, since the core material 37 and the cooling pipe 41 are configured in a double pipe structure, and the first connection pipe 44 and the second connection pipe 45 are connected to the other end side of the core material 37 and the cooling pipe 41, the internal dielectric 35 Maintenance can be efficiently performed from one side. In addition, unlike the case where the connecting pipes 44 and 45 are connected to both ends of the core member 37, it is not necessary to provide the space for arranging the connecting pipes on both sides of the internal dielectric 35, and only one side is required. It can also be made compact.

また、供給穴23を、長手方向が外部誘電体22の軸線に沿うように一列に形成された複数のスリット穴から構成したので、供給穴を一つのスリット穴から構成する場合に比べて、スリット穴一つ当たりの長手方向における長さを短くし、スリット幅L2を一定に加工し易くしたり、スリット穴(スリット部23a)の長手方向を外部誘電体22の軸線と平行に加工し易くすることができるなど、スリット穴の加工精度を向上させることができる。   In addition, since the supply hole 23 is composed of a plurality of slit holes formed in a line so that the longitudinal direction is along the axis of the external dielectric 22, the supply hole is slit compared to the case where the supply hole is composed of one slit hole. The length in the longitudinal direction per hole is shortened, the slit width L2 is easily processed to be constant, and the longitudinal direction of the slit hole (slit portion 23a) is easily processed in parallel with the axis of the external dielectric 22. The processing accuracy of the slit hole can be improved.

これにより、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給される、外部誘電体22の軸線方向における処理ガスの流量を略均一にして、吐出穴24から吐出される処理ガスの流量を略均一にすることができる。   As a result, the process gas supplied from the supply hole 23 between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 is made to be substantially uniform in the axial direction of the external dielectric 22 and discharged from the discharge hole 24. The gas flow rate can be made substantially uniform.

また、吐出穴24についても、供給穴23と同様、長手方向が外部誘電体22の軸線に沿うように一列に形成された複数のスリット穴から構成したので、スリット穴の加工容易化を図って加工精度を高めることができ、当該吐出穴24から外部に吐出される、外部誘電体22の軸線方向における処理ガスの流量を略均一にすることができる。   Moreover, since the discharge hole 24 is composed of a plurality of slit holes formed in a row so that the longitudinal direction thereof is along the axis of the external dielectric 22, as in the case of the supply hole 23, the slit hole can be easily processed. The processing accuracy can be improved, and the flow rate of the processing gas in the axial direction of the external dielectric 22 discharged from the discharge hole 24 to the outside can be made substantially uniform.

尚、スリット部23a,24aの長手方向の長さL1,L4は300mm〜1200mmの範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、当該スリット部23a,24aの長さを好適なものとして、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給されたり、吐出穴24から外部に吐出される処理ガスの流量を略均一にすることができる。これは、スリット部23a,24aの長手方向の長さL1,L4が300mmよりも短いと、スリット穴一つ当たりの長さを短くして複数のスリット穴を設ける必要がなく、スリット部23a,24aの長手方向の長さL1,L4が1200mmよりも長くなると、スリット穴を精度良く加工することができないからである。   The lengths L1 and L4 in the longitudinal direction of the slit portions 23a and 24a are preferably set in the range of 300 mm to 1200 mm. In this way, the lengths of the slit portions 23a and 24a are preferable. The flow rate of the processing gas supplied from the supply hole 23 between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 or discharged to the outside from the discharge hole 24 can be made substantially uniform. This is because when the lengths L1 and L4 in the longitudinal direction of the slit portions 23a and 24a are shorter than 300 mm, it is not necessary to shorten the length per slit hole and provide a plurality of slit holes. This is because if the lengths L1 and L4 in the longitudinal direction of 24a are longer than 1200 mm, the slit holes cannot be processed with high accuracy.

また、スリット部23aのスリット幅L2は0.2mm〜2.0mmの範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、加工の容易化を図ったり、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給される処理ガスの流量や流速を調整し易くすることができる。これは、スリット幅L2が0.2mmよりも小さくなると、加工が困難になるという問題を生じ、スリット幅L2が2.0mmよりも大きくなると、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給される処理ガスの流量や流速を調整し難くなるからである。   In addition, the slit width L2 of the slit portion 23a is preferably set in a range of 0.2 mm to 2.0 mm. In this way, it is possible to facilitate processing, or from the supply hole 23 to the external dielectric 22 and the inside. It is possible to easily adjust the flow rate and flow rate of the processing gas supplied to the dielectric 35. This causes a problem that processing becomes difficult when the slit width L2 is smaller than 0.2 mm, and when the slit width L2 is larger than 2.0 mm, the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 are supplied from the supply hole 23. This is because it becomes difficult to adjust the flow rate and flow rate of the processing gas supplied between the two.

また、スリット穴の隣り合う端部間の距離L3,L6は0.5mm〜2.0mmの範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、外部誘電体22の強度低下を招くのを防止したり、処理ガスが供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給されない部分や、処理ガスが吐出穴24から外部に吐出されない部分を狭くして処理ガス流量のムラを少なくすることができる。これは、端部間の距離L3,L6が0.5mmよりも小さいと、当該端部間の強度が低下して亀裂や割れなどを生じる恐れが高くなるからであり、端部間の距離L3,L6が2.0mmよりも大きいと、処理ガスが供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給されない部分や、処理ガスが吐出穴24から外部に吐出されない部分が広くなって、処理ガス流量のムラが大きくなるからである。   Further, the distances L3 and L6 between the adjacent end portions of the slit holes are preferably set in the range of 0.5 mm to 2.0 mm, and this prevents the strength of the external dielectric 22 from being reduced. Or a portion where the processing gas is not supplied between the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 from the supply hole 23 or a portion where the processing gas is not discharged to the outside from the discharge hole 24 is narrowed, thereby causing unevenness in the flow rate of the processing gas. Can be reduced. This is because if the distances L3 and L6 between the end portions are smaller than 0.5 mm, the strength between the end portions is lowered and the risk of causing cracks and cracks increases. , L6 is larger than 2.0 mm, there are wide portions where the processing gas is not supplied from the supply hole 23 between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 and where the processing gas is not discharged outside from the discharge hole 24. This is because the unevenness of the processing gas flow rate becomes large.

また、スリット部23a,24aの長手方向両端部に、スリット幅L2,L5よりも大きい直径D1,D2の丸穴23b,24bをそれぞれ形成し、スリット穴端部の応力集中を緩和するようにしたので、外部誘電体22に衝撃が加わっても当該端部に亀裂や割れを生じ難くして破損を防止することができ、取り扱いを容易にすることができる。また、丸穴23b,24b部分から供給されたり、吐出される処理ガスが、処理ガスの供給や処理ガスの吐出がない、スリット穴間の部分の処理ガス流量を補うので、供給穴23や吐出穴24から短い距離で処理ガス流量の均一化を図ることができる。   In addition, round holes 23b and 24b having diameters D1 and D2 larger than the slit widths L2 and L5 are formed at both ends in the longitudinal direction of the slit portions 23a and 24a, respectively, so as to alleviate stress concentration at the slit hole ends. Therefore, even if an impact is applied to the external dielectric 22, it is difficult to cause cracks or cracks at the end portions, and damage can be prevented, and handling can be facilitated. In addition, since the processing gas supplied or discharged from the round holes 23b and 24b does not supply processing gas or discharge processing gas, the processing gas flow in the portion between the slit holes is supplemented. The processing gas flow rate can be made uniform at a short distance from the hole 24.

尚、前記丸穴23b,24bの直径D1,D2はスリット幅L2,L5の2倍〜6倍の範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、応力集中を効果的に緩和して外部誘電体22の破損を防止したり、スリット部23a,24aと丸穴23b,24bの部分との間における処理ガスの流量差を小さくすることができる。これは、直径D1,D2がスリット幅L2,L5の2倍よりも小さくなると、応力集中の緩和が不十分となって外部誘電体22が破損し易く、直径D1,D2がスリット幅L2,L5の6倍よりも大きくなると、スリット部23a,24aから供給されたり、吐出される処理ガスと、丸穴23b,24bから供給されたり、吐出される処理ガスとの間における流量差が大きくなり過ぎるからである。   The diameters D1 and D2 of the round holes 23b and 24b are preferably set in the range of 2 to 6 times the slit widths L2 and L5. It is possible to prevent the dielectric 22 from being damaged, or to reduce the difference in flow rate of the processing gas between the slit portions 23a, 24a and the round holes 23b, 24b. This is because when the diameters D1 and D2 are smaller than twice the slit widths L2 and L5, the stress concentration is insufficiently relaxed and the external dielectric 22 is easily damaged, and the diameters D1 and D2 are the slit widths L2 and L5. Is larger than 6 times, the flow rate difference between the processing gas supplied or discharged from the slit portions 23a and 24a and the processing gas supplied or discharged from the round holes 23b and 24b becomes too large. Because.

また、外部誘電体22の軸線方向における保持部材27の両端部に、取付部30及び傾斜部31からなるラッパ状の導電部材29を設け、当該導電部材29により外部誘電体22をその外周面との間の間隔が徐々に広くなるように囲んでいるので、導電部材29の傾斜部31側に電気力線を向かわせて保持部材27の両端部(取付部30の表面)に電気力線が集中するのを緩和することができ、保持部材27(外部電極26)の両端部に電気力線が集中してこの両端部近傍の電界が強くなるのを防止することができる。   In addition, a trumpet-shaped conductive member 29 including an attachment portion 30 and an inclined portion 31 is provided at both ends of the holding member 27 in the axial direction of the external dielectric 22, and the external dielectric 22 is connected to the outer peripheral surface by the conductive member 29. Since the electric force lines are directed toward the inclined portion 31 side of the conductive member 29 so that the electric lines of force are applied to both ends of the holding member 27 (the surface of the mounting portion 30). Concentration can be mitigated, and it is possible to prevent electric field lines from concentrating at both ends of the holding member 27 (external electrode 26) and increasing the electric field in the vicinity of both ends.

これにより、当該両端部に放電が集中するのを抑制して、放電の集中による、当該両端近傍の外部誘電体22や内部誘電体35の局所的な温度上昇を防止し、当該外部誘電体22や内部誘電体35が破損するのを防止することができる。   Thereby, it is possible to suppress the concentration of the discharge at the both end portions, to prevent local temperature rise of the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 near the both ends due to the concentration of the discharge, and to the external dielectric 22. It is possible to prevent the internal dielectric 35 from being damaged.

尚、傾斜部31の、外部誘電体22の軸線に対する傾斜角度θは2°〜30°の範囲に設定することが好ましく、このようにすれば、電気力線の集中を効果的に緩和して放電の集中を抑制し、外部誘電体22や内部誘電体35の局所的な温度上昇を更に効果的に防止することができる。これは、傾斜角度θが2°よりも小さいと、傾斜部31の傾斜方向上側の端部に電気力線が集中して当該端部に放電が集中し、傾斜角度θが30°よりも大きいと、傾斜部31の傾斜方向下側の端部(傾斜部31の付根部)などに電気力線が集中して当該端部に放電が集中するため、外部誘電体22や内部誘電体35の局所的な温度上昇を防止することができないからである。   Note that the inclination angle θ of the inclined portion 31 with respect to the axis of the external dielectric 22 is preferably set in the range of 2 ° to 30 °. In this way, the concentration of electric lines of force can be effectively reduced. Concentration of discharge can be suppressed, and local temperature rise of the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 can be more effectively prevented. This is because, when the tilt angle θ is smaller than 2 °, the lines of electric force concentrate on the upper end of the tilted portion 31 in the tilt direction, and the electric discharge concentrates on the end, and the tilt angle θ is larger than 30 °. Since the lines of electric force concentrate on the lower end of the inclined portion 31 in the inclination direction (the root portion of the inclined portion 31) and the discharge concentrates on the end, the outer dielectric 22 and the inner dielectric 35 This is because a local temperature rise cannot be prevented.

したがって、本例の表面処理装置1によれば、上記処理ガス吐出装置20が、内部誘電体35と内部電極36との間で放電が生じるのを防止して無駄な電力を消費するのを防止したり、内部誘電体35を効率的且つ均一に冷却して内部誘電体35の破損を防止することができ、また、供給穴23から外部誘電体22と内部誘電体35との間に供給される処理ガスの流量や、吐出穴24から外部に吐出される処理ガスの流量を均一にしたり、外部誘電体22の強度を高めることができ、更に、放電の集中による外部誘電体22や内部誘電体35の局所的な温度上昇を防止してこれらが破損するのを防止することができるので、プラズマ表面処理を均一且つ効率的に実施したり、プラズマ表面処理にかかるコストを低減したり、取り扱いの容易化を図ることができる。   Therefore, according to the surface treatment apparatus 1 of this example, the process gas discharge apparatus 20 prevents discharge from occurring between the internal dielectric 35 and the internal electrode 36, thereby preventing wasteful power consumption. In addition, the internal dielectric 35 can be efficiently and uniformly cooled to prevent the internal dielectric 35 from being damaged, and is supplied between the external dielectric 22 and the internal dielectric 35 from the supply hole 23. The flow rate of the processing gas to be discharged and the flow rate of the processing gas discharged from the discharge hole 24 to the outside can be made uniform, and the strength of the external dielectric 22 can be increased. Since the local temperature rise of the body 35 can be prevented to prevent them from being damaged, the plasma surface treatment can be performed uniformly and efficiently, the cost for the plasma surface treatment can be reduced, Simplification It is possible to achieve.

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の採り得る具体的な態様は、何らこれに限定されるものではない。   As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, the specific aspect which this invention can take is not limited to this at all.

上例では、心材37の内部に冷却管41を設けて2重管構造としたが、冷却管41を省略するとともに、心材37の両端部が開口するように構成し、前記第1接続管44を心材37の一方端に、前記第2接続管45を心材37の他方端に接続するようにしても良い。この場合、心材37の管内を、心材37の一方端側から他方端側に向けて流通する冷却液によって内部誘電体35は冷却される。   In the above example, the cooling pipe 41 is provided inside the core material 37 to form a double pipe structure. However, the cooling pipe 41 is omitted, both ends of the core material 37 are opened, and the first connection pipe 44 is provided. May be connected to one end of the core material 37, and the second connection pipe 45 may be connected to the other end of the core material 37. In this case, the internal dielectric 35 is cooled by the coolant flowing through the core material 37 from the one end side to the other end side of the core material 37.

また、内部電極36は、心材37を省略して金属箔38のみから構成することもできる。この場合、高周波電源39は、金属箔38と外部電極26との間に高周波電圧を印加するように構成される。   Further, the internal electrode 36 can be configured only from the metal foil 38 without the core material 37. In this case, the high frequency power supply 39 is configured to apply a high frequency voltage between the metal foil 38 and the external electrode 26.

また、金属箔38を省略して、心材37の外周面と内部誘電体35の内周面との間に金属粉末を充填し、この金属粉末の充填によって当該心材37と内部誘電体35との間の隙間を埋めるようにしても良い。この場合、金属粉末には、例えば、銀など、導電性,熱伝導性及び耐食性に優れたものを採用することが好ましい。また、金属粉末の粒径は、約0.2μm〜1.0μm程度のものが好ましい。   Further, the metal foil 38 is omitted, and metal powder is filled between the outer peripheral surface of the core material 37 and the inner peripheral surface of the inner dielectric 35, and the core material 37 and the inner dielectric 35 are filled by filling the metal powder. You may make it fill the gap between them. In this case, it is preferable to employ a metal powder having excellent conductivity, thermal conductivity and corrosion resistance, such as silver. The particle size of the metal powder is preferably about 0.2 μm to 1.0 μm.

また、上例では、基板Kを処理するように構成したが、処理対象物は基板Kに限定されるものではなく、また、処理ガスも窒素ガスを主成分とするものに限定されるものではない。   In the above example, the substrate K is configured to be processed. However, the processing target is not limited to the substrate K, and the processing gas is not limited to the main component of nitrogen gas. Absent.

本発明の一実施形態に係る表面処理装置の概略構成を示した正断面図である。It is the front sectional view showing the schematic structure of the surface treatment apparatus concerning one embodiment of the present invention. 図1における矢示A−A方向の断面図である。It is sectional drawing of the arrow AA direction in FIG. 図1における矢示B−B方向の断面図である。It is sectional drawing of the arrow BB direction in FIG. 本実施形態に係る外部誘電体の概略構成を示した平面図である。It is the top view which showed schematic structure of the external dielectric material concerning this embodiment. 図4に示した外部誘電体の底面図である。FIG. 5 is a bottom view of the external dielectric shown in FIG. 4. 本実施形態に係る内部電極の概略構成を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed schematic structure of the internal electrode which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る内部電極及び冷却管などの概略構成を示した断面図である。It is sectional drawing which showed schematic structure, such as an internal electrode and a cooling pipe which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る接続部材及び整流板の概略構成を示した底面図である。It is the bottom view which showed schematic structure of the connection member which concerns on this embodiment, and a baffle plate.

符号の説明Explanation of symbols

1 表面処理装置
10 搬送ローラ
20 処理ガス吐出装置
21 吐出機構
22 外部誘電体
23 供給穴
24 吐出穴
26 外部電極
27 保持部材
29 導電部材
30 取付部
31 傾斜部
35 内部誘電体
36 内部電極
37 心材
38 金属箔
39 高周波電源
40 冷却液循環機構
41 冷却管
42 金属ワイヤ
50 ガス供給機構
51 導入管
52 処理ガス生成装置
53 接続部材
54 整流板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Surface treatment apparatus 10 Conveyance roller 20 Processing gas discharge apparatus 21 Discharge mechanism 22 External dielectric 23 Supply hole 24 Discharge hole 26 External electrode 27 Holding member 29 Conductive member 30 Mounting part 31 Inclination part 35 Internal dielectric 36 Internal electrode 37 Core material 38 Metal foil 39 High frequency power supply 40 Coolant circulation mechanism 41 Cooling pipe 42 Metal wire 50 Gas supply mechanism 51 Introducing pipe 52 Process gas generator 53 Connecting member 54 Rectifying plate

Claims (5)

処理ガスをプラズマ化して吐出する吐出手段と、該吐出手段に前記処理ガスを供給するガス供給手段とから構成される処理ガス吐出装置であって、
前記吐出手段は、
管状の部材からなり、前記処理ガスが供給される供給穴と、前記供給された処理ガスを吐出する吐出穴とが外周面に開口した外部誘電体と、
前記外部誘電体の外周面の、前記供給穴及び吐出穴を塞がない位置に設けられ、接地された外部電極と、
管状の部材からなり、前記外部誘電体の管内に、該外部誘電体の内周面と一定間隔を隔てるように且つ該外部誘電体と同軸に設けられる内部誘電体と、
前記内部誘電体の管内に設けられる内部電極と、
前記内部電極と外部電極との間に電圧を印加する電圧印加手段とを備え、
前記ガス供給手段は、前記供給穴から前記外部誘電体と内部誘電体との間に前記処理ガスを供給するように構成され、
前記外部誘電体と内部誘電体との間に供給された処理ガスは、前記電圧印加手段により前記内部電極と外部電極との間に電圧が印加されることによってプラズマ化された後、前記吐出穴から外部へ吐出されるように構成された処理ガス吐出装置において、
前記内部電極は、中心軸線が前記内部誘電体の軸線と平行となるように筒状に巻かれたシート状の金属箔からなり、該金属箔は、外力が加えられることで変形し、該外力が取り除かれることで形状が原形に回復するように構成されるとともに、形状回復作用によって該金属箔の表面が前記内部誘電体の内周面に当接するように構成されてなることを特徴とする処理ガス吐出装置。
A processing gas discharge device comprising discharge means for converting a processing gas into plasma and discharging, and gas supply means for supplying the processing gas to the discharge means;
The discharge means is
An external dielectric made of a tubular member and having a supply hole to which the processing gas is supplied and a discharge hole for discharging the supplied processing gas opened on an outer peripheral surface;
An outer electrode provided on the outer peripheral surface of the external dielectric at a position that does not block the supply hole and the discharge hole, and is grounded;
An inner dielectric formed of a tubular member and provided in the outer dielectric tube so as to be spaced apart from the inner peripheral surface of the outer dielectric and coaxially with the outer dielectric;
An internal electrode provided in the internal dielectric tube;
Voltage application means for applying a voltage between the internal electrode and the external electrode,
The gas supply means is configured to supply the processing gas between the external dielectric and the internal dielectric from the supply hole,
The processing gas supplied between the external dielectric and the internal dielectric is turned into plasma by applying a voltage between the internal electrode and the external electrode by the voltage applying means, and then the discharge hole. In the processing gas discharge device configured to be discharged from the outside,
The internal electrode is composed of a sheet-like metal foil wound in a cylindrical shape so that a central axis is parallel to the axis of the internal dielectric, and the metal foil is deformed by applying an external force, and the external force The shape of the metal foil is restored to the original shape by removing the surface of the metal foil, and the shape of the metal foil is configured to abut against the inner peripheral surface of the internal dielectric by a shape restoration action. Processing gas discharge device.
前記吐出手段は、前記内部電極の内部に冷却流体を循環させる冷却流体循環手段を更に備えてなり、
前記内部電極は、前記金属箔と、前記内部誘電体の管内に配置され、外周面に前記金属箔が巻かれる管状の心材とから構成され、
前記冷却流体循環手段は、前記心材の両端部にそれぞれ接続した第1接続管及び第2接続管を有し、該第1接続管から冷却流体を供給するとともに、供給した冷却流体を該第2接続管から還流させるように構成され、
前記電圧印加手段は、前記心材と外部電極との間に電圧を印加するように構成されてなることを特徴とする請求項1記載の処理ガス吐出装置。
The discharge means further comprises a cooling fluid circulation means for circulating a cooling fluid inside the internal electrode,
The internal electrode is composed of the metal foil and a tubular core material that is disposed in a tube of the internal dielectric, and the metal foil is wound around an outer peripheral surface,
The cooling fluid circulation means has a first connecting pipe and a second connecting pipe connected to both ends of the core material, and supplies the cooling fluid from the first connecting pipe and the supplied cooling fluid to the second connecting pipe. Configured to reflux from the connecting pipe,
The processing gas discharge apparatus according to claim 1, wherein the voltage applying unit is configured to apply a voltage between the core material and the external electrode.
前記吐出手段は、前記内部電極の内部に冷却流体を循環させる冷却流体循環手段を更に備えてなり、
前記内部電極は、前記金属箔と、一端が封止された状態で前記内部誘電体の管内に配置され、外周面に前記金属箔が巻かれる管状の心材とから構成され、
前記冷却流体循環手段は、一端及び外周面が前記心材の内面と間隔を隔てて設けられる冷却管と、前記冷却管の他端側に接続した第1接続管と、前記心材の他端側で該心材と冷却管との間に接続した第2接続管とを有し、該接続管の一方から冷却流体を供給するとともに、供給した冷却流体を該接続管の他方から還流させるように構成され、
前記電圧印加手段は、前記心材と外部電極との間に電圧を印加するように構成されてなることを特徴とする請求項1記載の処理ガス吐出装置。
The discharge means further comprises a cooling fluid circulation means for circulating a cooling fluid inside the internal electrode,
The internal electrode is composed of the metal foil and a tubular core material that is disposed in the internal dielectric tube in a state where one end is sealed, and the metal foil is wound around an outer peripheral surface,
The cooling fluid circulating means includes a cooling pipe having one end and an outer peripheral surface spaced from the inner surface of the core material, a first connection pipe connected to the other end side of the cooling pipe, and the other end side of the core material. A second connecting pipe connected between the core material and the cooling pipe, configured to supply a cooling fluid from one of the connecting pipes and to recirculate the supplied cooling fluid from the other of the connecting pipes. ,
The processing gas discharge apparatus according to claim 1, wherein the voltage applying unit is configured to apply a voltage between the core material and the external electrode.
前記金属箔の厚みは、20μm〜50μmであることを特徴とする請求項1乃至3記載のいずれかの処理ガス吐出装置。   The processing gas discharge apparatus according to claim 1, wherein the metal foil has a thickness of 20 μm to 50 μm. 処理対象物を支持する支持手段と、
前記請求項1乃至4記載のいずれかの処理ガス吐出装置とを備え、
前記処理ガス吐出装置は、前記吐出穴が前記支持手段によって支持された処理対象物と対峙するように配置され、
前記処理ガス吐出装置から吐出された処理ガスによって前記処理対象物の表面を処理するように構成されてなることを特徴とする表面処理装置。
Support means for supporting the object to be treated;
A processing gas discharge device according to any one of claims 1 to 4,
The processing gas discharge device is disposed so that the discharge hole faces the processing object supported by the support means,
A surface treatment apparatus configured to treat the surface of the object to be treated with a treatment gas discharged from the treatment gas discharge apparatus.
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