JP2007180401A - Surface-mounting type electronic component - Google Patents

Surface-mounting type electronic component Download PDF

Info

Publication number
JP2007180401A
JP2007180401A JP2005379181A JP2005379181A JP2007180401A JP 2007180401 A JP2007180401 A JP 2007180401A JP 2005379181 A JP2005379181 A JP 2005379181A JP 2005379181 A JP2005379181 A JP 2005379181A JP 2007180401 A JP2007180401 A JP 2007180401A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
core
flange
exterior resin
end electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005379181A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4812428B2 (en
Inventor
Yuki Narisawa
勇喜 成澤
Toshiaki Yamashita
俊朗 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP2005379181A priority Critical patent/JP4812428B2/en
Publication of JP2007180401A publication Critical patent/JP2007180401A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4812428B2 publication Critical patent/JP4812428B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface-mounting type electronic component that prevents nonconformities, such as "tombstones" from being generated easily, when mounting the electronic component, prevents making inherent performance that the electronic component has from deteriorating, and is manufactured easily, even if the surface-mounting type electronic component is very compact and light. <P>SOLUTION: A surface-mounting type coil chip component 2 comprises an element body 5, having a core section 4 and a packaging resin section 30; and a pair of edge electrodes 40 formed on both the edge of the element body 5. The external dimensions of the packaging resin section 30 are larger than the maximum external dimensions of flanges 4b, 4c at the core section 4. The edge electrodes 40 are formed each, while covering the outer periphery 30a of both the edges of the packaging resin section 30, and on the outer-periphery surface of each edge electrode 40, a continuous step-like recess 50 is formed in the circumferential direction. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、表面実装型電子部品に係り、さらに詳しくは、特に小型で軽量の表面実装型電子部品であっても、実装時にツームストーンなどの不都合が生じにくい表面実装型電子部品に関する。   The present invention relates to a surface-mount type electronic component, and more particularly to a surface-mount type electronic component that is less likely to cause inconveniences such as a tombstone even when it is a small and lightweight surface-mount type electronic component.

表面実装型電子部品の一例として、たとえば下記の特許文献1に示す巻線型電子部品が知られている。   As an example of a surface mount electronic component, for example, a wound electronic component disclosed in Patent Document 1 below is known.

この巻線型電子部品では、フェライトコアの巻芯部の外周に形成してある外装樹脂部の外周面を、端部電極の外周からはみ出さないように研磨している。特許文献1の段落番号0011には、外装樹脂部の外周面を研磨することにより、電子部品の吸着を良好に行えると共に基板上の安定性も向上する旨が記載されている。   In this wound electronic component, the outer peripheral surface of the exterior resin portion formed on the outer periphery of the core portion of the ferrite core is polished so as not to protrude from the outer periphery of the end electrode. In paragraph No. 0011 of Patent Document 1, it is described that the outer peripheral surface of the exterior resin portion can be polished to satisfactorily adsorb electronic components and improve the stability on the substrate.

しかしながら、特許文献1に示す巻線型電子部品を初めとして、従来の表面実装型電子部品では、そのサイズの小型化および軽量化と共に、基板への部品実装時のツームストーン現象が問題になっている。ツームストーン現象とは、表面実装型電子部品を基板へ実装する時に、電子部品の両端部に形成してある端部電極のハンダペースト面で発生するモーメントのアンバランスにより、電子部品が立ち上がってしまい、接合不良となる現象である。また、シフティングと呼ばれる横方向に部品のずれが発生し、ランドから浮いてしまう現象もある。   However, in the conventional surface mount electronic components such as the wound electronic component shown in Patent Document 1, the tombstone phenomenon at the time of mounting the components on the board has become a problem along with the reduction in size and weight. . The tombstone phenomenon means that when mounting a surface-mounted electronic component on a substrate, the electronic component starts up due to an imbalance of moments generated on the solder paste surfaces of the end electrodes formed at both ends of the electronic component. This is a phenomenon that results in poor bonding. There is also a phenomenon called shifting, in which a component shift occurs in the lateral direction and floats from the land.

なお、特許文献1の図3、図4および段落番号0015には、端部電極に溝を形成することで、ハンダの接合強度が向上する旨が開示してある。しかしながら、特許文献1の図3および図4に示す溝は、フェライトコアの軸方向に形成してある溝であり、ツームストーン現象を防止することは困難であった。   3 and 4 and paragraph number 0015 of Patent Document 1 disclose that the bonding strength of the solder is improved by forming a groove in the end electrode. However, the grooves shown in FIGS. 3 and 4 of Patent Document 1 are grooves formed in the axial direction of the ferrite core, and it was difficult to prevent the tombstone phenomenon.

なぜなら、特許文献1に示す軸方向溝では、端部電極の下面へのハンダの回り込み量が少ないからである。この軸方向溝を相対的に大きくしたり、数を増やすことで、ツームストーン現象を解消することができるかもしれないが、そうすると、フェライトコアの体積が減り、コイル部品としての性能が低下する。また、フェライトコアに対して、溝などの加工を行うことは、製造工程が煩雑になる。
特開平10−163033号公報
This is because the axial groove shown in Patent Document 1 has a small amount of solder that wraps around the lower surface of the end electrode. Although it may be possible to eliminate the tombstone phenomenon by making the axial grooves relatively large or increasing the number, the volume of the ferrite core is reduced and the performance as a coil component is reduced. Moreover, manufacturing a groove or the like on the ferrite core complicates the manufacturing process.
JP 10-163033 A

本発明は、このような実状に鑑みてなされ、その目的は、特に小型で軽量の表面実装型電子部品であっても、実装時にツームストーンなどの不都合が生じにくく、しかも、電子部品が持つ本来の性能を低下させることがなく、製造が容易な表面実装型電子部品を提供することである。   The present invention has been made in view of such a situation, and the object of the present invention is to prevent inconvenience such as a tombstone at the time of mounting even if it is a small and lightweight surface-mount type electronic component. It is an object of the present invention to provide a surface-mount type electronic component that is easy to manufacture without degrading the performance.

上記目的を達成するために、本発明に係る表面実装型電子部品は、
コア部および外装樹脂部を有する素子本体と、
前記素子本体の両端部に形成してある一対の端部電極と、を有する表面実装型電子部品であって、
前記外装樹脂部の外形寸法がコア部の最大外形寸法よりも大きく、
前記外装樹脂部の両端部外周を覆うように、前記端部電極がそれぞれ形成してあり、
各端部電極の外周面には、周方向に連続する段差状凹部が形成してあることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a surface mount electronic component according to the present invention is
An element body having a core portion and an exterior resin portion;
A surface mount electronic component having a pair of end electrodes formed at both ends of the element body,
The outer dimension of the outer resin part is larger than the maximum outer dimension of the core part,
The end electrodes are formed so as to cover the outer periphery of both ends of the exterior resin part,
A stepped recess that is continuous in the circumferential direction is formed on the outer peripheral surface of each end electrode.

本発明に係る表面実装型電子部品では、特に小型で軽量の表面実装型電子部品であっても、実装に際してのハンダのリフロー時に、その電子部品の両端に形成してある端部電極の底面に形成してある段差状凹部にハンダが入り込む。その段差状凹部は、端部電極の周方向に連続して形成してあるために、ハンダの回り込み量も十分に確保することができる。その結果、いわゆるツームストーン現象を効果的に防止することができ、実装不良を防止することができる。   In the surface-mount type electronic component according to the present invention, even when the surface-mount type electronic component is particularly small and light, when the solder is reflowed at the time of mounting, it is applied to the bottom surface of the end electrode formed at both ends of the electronic component. Solder enters the formed step-shaped recess. Since the step-like recesses are formed continuously in the circumferential direction of the end electrodes, a sufficient amount of solder can be secured. As a result, the so-called tombstone phenomenon can be effectively prevented and mounting defects can be prevented.

また、本発明では、コア部の最大外形寸法よりも大きな外形寸法を有する外装樹脂部の両端部外周を覆うように、端部電極を形成することで、段差状凹部を形成してある。このために、コア部自体に加工する必要はなく、コア部の体積が減少することはなく、電子部品としての性能には全く影響しない。しかも、樹脂成形により段差状凹部を形成することができるので、製造工程が煩雑になることもない。   Moreover, in this invention, the step-shaped recessed part is formed by forming an edge part electrode so that the outer periphery of both ends of the exterior resin part which has an outer dimension larger than the largest outer dimension of a core part may be covered. For this reason, it is not necessary to process the core part itself, the volume of the core part is not reduced, and the performance as an electronic component is not affected at all. In addition, since the stepped recess can be formed by resin molding, the manufacturing process is not complicated.

好ましくは、前記段差状凹部は、各端部電極の端面から内側へ所定幅(W1)で形成してあり、各端部電極の全幅(W0)に対しての比率(W1/W0)が0.1〜0.8である。この比率が小さすぎると、本発明の効果が小さい。また、この比率が大きすぎると、電子部品を基板上に実装した場合に、基板上に直接に接触する端部電極の面積が小さくなる。   Preferably, the stepped recess is formed with a predetermined width (W1) inward from the end face of each end electrode, and the ratio (W1 / W0) to the total width (W0) of each end electrode is 0. .1 to 0.8. When this ratio is too small, the effect of the present invention is small. On the other hand, if the ratio is too large, the area of the end electrode that directly contacts the substrate is reduced when the electronic component is mounted on the substrate.

好ましくは、前記段差状凹部は、各端部電極の最大外周面からの深さ(H1)が10〜40μmとなるように形成してある。この深さが小さすぎると、本発明の作用効果が小さい。また、この深さが深すぎると、限られたチップサイズでは、相対的に、コア部の最大外形寸法が小さくなり、電気的な性能が低下してしまう傾向にある。   Preferably, the stepped recess is formed such that the depth (H1) from the maximum outer peripheral surface of each end electrode is 10 to 40 μm. When this depth is too small, the effect of this invention is small. On the other hand, if the depth is too deep, the maximum outer dimension of the core portion is relatively small with a limited chip size, and the electrical performance tends to deteriorate.

好ましくは、前記端部電極の最大外周面の全高さ(H0)に対して前記段差状凹部の深さ(H1)の比率(H1/H0)が0.011〜0.045の範囲にある。この比率が小さすぎると、本発明の作用効果が小さい。また、この比率が大きすぎると、限られたチップサイズでは、相対的に、コア部の最大外形寸法が小さくなり、電気的な性能が低下してしまう傾向にある。   Preferably, the ratio (H1 / H0) of the depth (H1) of the stepped recess to the total height (H0) of the maximum outer peripheral surface of the end electrode is in the range of 0.011 to 0.045. When this ratio is too small, the effect of the present invention is small. On the other hand, if this ratio is too large, the maximum outer dimension of the core portion becomes relatively small with a limited chip size, and the electrical performance tends to deteriorate.

好ましくは、前記コア部が、巻芯部の両端部にフランジを有するフェライトコアであり、
前記フェライトコアの巻芯部にはコイルが巻回してあり、
前記外装樹脂部が、前記コイルが巻回してある巻芯部の周囲を被覆している。
Preferably, the core part is a ferrite core having flanges at both ends of the core part,
A coil is wound around the core portion of the ferrite core,
The exterior resin portion covers the periphery of the core portion around which the coil is wound.

好ましくは、前記外装樹脂部が、前記フェライトコアのフランジの一部を覆うフランジ被覆部を有し、
前記端部電極が、前記フランジの端面から当該フランジの外周面を直接に覆うと共に、前記外装樹脂部のフランジ被覆部を覆うように形成してある。
Preferably, the exterior resin portion has a flange covering portion that covers a part of the flange of the ferrite core,
The end electrode is formed so as to directly cover the outer peripheral surface of the flange from the end surface of the flange and to cover the flange covering portion of the exterior resin portion.

表面実装型電子部品がコイルチップ部品である場合には、コイルの周囲に外装樹脂部が形成されることが多く、その外装樹脂部の製造時に、外装樹脂部の形状を工夫することで、端部電極の外周に、周方向に連続する段差状凹部を容易に形成することができる。   When the surface mount type electronic component is a coil chip component, an exterior resin part is often formed around the coil, and when the exterior resin part is manufactured, the shape of the exterior resin part is devised. A step-like recess that is continuous in the circumferential direction can be easily formed on the outer periphery of the partial electrode.

ただし、本発明では、コイルチップ部品のみでなく、たとえばコア部が、内部電極層と絶縁層との積層構造を有する表面実装型電子部品にも適用することが可能である。   However, the present invention can be applied not only to the coil chip component but also to a surface mount electronic component in which, for example, the core portion has a laminated structure of an internal electrode layer and an insulating layer.

以下、本発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。
図1は本発明の一実施形態に係る表面実装型電子部品としてのコイルチップ部品の縦断面図、
図2は図1に示すコイルチップ部品の製造工程の一例を示す金型の要部断面図、
図3は図1に示すコイルチップ部品の要部断面図である。
Hereinafter, the present invention will be described based on embodiments shown in the drawings.
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a coil chip component as a surface mount electronic component according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of a main part of a mold showing an example of a manufacturing process of the coil chip component shown in FIG.
3 is a cross-sectional view of the main part of the coil chip component shown in FIG.

図1に示すように、本発明の一実施形態に係る表面実装型電子部品としてのコイルチップ部品2は、コア部(芯材)としてのドラムコア4を有する。ドラムコア4は、フェライト材料で構成してある。ドラムコア4は、コイル部10を構成するワイヤ10aが、コア4の軸方向に沿って巻回してある巻芯部4aを有する。   As shown in FIG. 1, a coil chip component 2 as a surface mount electronic component according to an embodiment of the present invention has a drum core 4 as a core portion (core material). The drum core 4 is made of a ferrite material. The drum core 4 has a core part 4 a in which a wire 10 a constituting the coil part 10 is wound along the axial direction of the core 4.

巻芯部4aの軸方向の両端である第1端部および第2端部には、それぞれ第1フランジ4bおよび第2フランジ4cが一体に形成してある。第1フランジ4bおよび第2フランジ4cの外形寸法は、巻芯部4aの外径寸法よりも大きくなっている。   A first flange 4b and a second flange 4c are integrally formed at the first end and the second end, which are both ends in the axial direction of the core 4a. The outer dimensions of the first flange 4b and the second flange 4c are larger than the outer diameter of the core 4a.

巻芯部4aの横断面は、特に限定されず、長方形断面、円形断面、あるいは、その他の断面形状であっても良い。第1フランジ4bおよび第2フランジ4cの横断面形状も特に限定されず、長方形断面、円形断面、あるいは、その他の断面形状であっても良い。第1フランジ4bおよび第2フランジ4cは、同じサイズであり、たとえば長方形断面の場合には、縦が0.82mm、横が0.3mm程度である。また、巻芯部4aの外径は、0.42mm程度であり、ドラムコア4の軸方向全長は、1.61mm程度である。   The cross section of the core part 4a is not particularly limited, and may be a rectangular cross section, a circular cross section, or other cross sectional shapes. The cross-sectional shapes of the first flange 4b and the second flange 4c are not particularly limited, and may be a rectangular cross-section, a circular cross-section, or other cross-sectional shapes. The first flange 4b and the second flange 4c have the same size. For example, in the case of a rectangular cross section, the length is about 0.82 mm and the width is about 0.3 mm. Moreover, the outer diameter of the core part 4a is about 0.42 mm, and the axial direction full length of the drum core 4 is about 1.61 mm.

図1に示すように、コイル部10を構成するワイヤ10aの両端に形成してある継線部10bおよび10cは、各フランジ4bおよび4cの外周位置において、下地電極層20と接続される。ワイヤ10aの継線部10bおよび10cは、下地電極層20が形成された後に、各フランジ4bおよび4cの外周に熱圧着などの手段で固定され、これらの継線接続が確保される。あるいは、ワイヤ10aの継線部10bおよび10cは、下地電極層20が各フランジ4bおよび4cの外周および端面に形成される前に熱圧着され、その後に、下地電極層20が形成されて、これらと接続されても良い。   As shown in FIG. 1, the connecting portions 10b and 10c formed at both ends of the wire 10a constituting the coil portion 10 are connected to the base electrode layer 20 at the outer peripheral positions of the flanges 4b and 4c. The connecting portions 10b and 10c of the wire 10a are fixed to the outer circumferences of the flanges 4b and 4c by means such as thermocompression bonding after the base electrode layer 20 is formed, and these connecting connections are ensured. Alternatively, the connecting portions 10b and 10c of the wire 10a are subjected to thermocompression bonding before the base electrode layer 20 is formed on the outer circumferences and end faces of the flanges 4b and 4c, and then the base electrode layer 20 is formed. May be connected.

下地電極層20は、1層目が1.0〜2.0μmの無電解Niメッキ、2層目が1.0〜2.0μmのNi電解メッキである。   The base electrode layer 20 is an electroless Ni plating with a first layer of 1.0 to 2.0 μm and a second layer of Ni electroplating with a thickness of 1.0 to 2.0 μm.

下地電極層20と継線部10bおよび10cが接続された後、コイル部10が形成してある巻芯部4aの外周凹部に、樹脂をモールド成形して外装樹脂部30が形成される。外装樹脂部30を構成する樹脂としては、特に限定されず、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ポリエステル樹脂などが例示される。   After the base electrode layer 20 and the connecting portions 10b and 10c are connected, the outer resin portion 30 is formed by molding a resin in the outer circumferential concave portion of the core portion 4a where the coil portion 10 is formed. It does not specifically limit as resin which comprises the exterior resin part 30, An epoxy resin, a phenol resin, a diallyl phthalate resin, a polyester resin etc. are illustrated.

外装樹脂部30は、たとえば図2に示す金型80および82を用いて成型される。図2に示すように、金型80および82が閉じることにより形成される複数のキャビティ84の内部に、コイル部10が形成してある継線済のドラムコア4を、隣接するドラムコア4の第1フランジ4bが、隣のドラムコア4の第2フランジの端面に接触するように、軸方向に並んで配置する。   The exterior resin part 30 is molded using, for example, molds 80 and 82 shown in FIG. As shown in FIG. 2, the connected drum core 4 in which the coil portion 10 is formed inside the plurality of cavities 84 formed by closing the molds 80 and 82 is connected to the first drum core 4 of the adjacent drum core 4. The flange 4b is arranged side by side in the axial direction so as to contact the end face of the second flange of the adjacent drum core 4.

金型80および82には、隣接して配置されたドラムコア4の第1フランジ4bと第2フランジ4cとの接触部外周を保持する保持用凸部86が形成してあり、その両側に、図1に示す樹脂製フランジ被覆部30aを形成するための周方向隙間88が形成してある。周方向隙間88は、キャビティ84に連通してあり、キャビティ84に樹脂を射出して成形し、金型80,82を開くことで、図1に示すフランジ被覆部30aを有する外装樹脂部30が一体化された複数の素子本体5が得られる。   The molds 80 and 82 are formed with holding convex portions 86 for holding the outer periphery of the contact portion between the first flange 4b and the second flange 4c of the drum core 4 disposed adjacent to each other. A circumferential gap 88 for forming the resin flange covering portion 30a shown in FIG. The circumferential gap 88 communicates with the cavity 84, and resin is injected into the cavity 84 and molded, and the molds 80 and 82 are opened, so that the exterior resin part 30 having the flange covering part 30a shown in FIG. A plurality of integrated element bodies 5 are obtained.

各素子本体5の外装樹脂部30の外径寸法は、第1フランジ4bおよび第2フランジ4cの外形寸法(コア部の最大外形寸法)よりも大きくなり、第1フランジ4bおよび第2フランジ4cの外周には、所定厚みのフランジ被覆部30aが形成される。フランジ被覆部30aは、外装樹脂部30と一体に成型され、フランジ部4b,4cの外周を、内側から外側に向けて軸方向途中位置まで覆うように形成してある。   The outer diameter of the exterior resin portion 30 of each element body 5 is larger than the outer dimensions (the maximum outer dimensions of the core portion) of the first flange 4b and the second flange 4c, and the first flange 4b and the second flange 4c. A flange covering portion 30a having a predetermined thickness is formed on the outer periphery. The flange covering portion 30a is molded integrally with the exterior resin portion 30, and is formed so as to cover the outer periphery of the flange portions 4b and 4c from the inner side to the outer side to the middle position in the axial direction.

このフランジ被覆部30aの厚みは、後述する段差状凹部50の深さH1に対応する。また、このフランジ被覆部30aの軸方向の長さは、後述する段差状凹部50の軸方向幅(W1)を適切に調整するように決定される。   The thickness of the flange covering portion 30a corresponds to the depth H1 of the step-shaped recess 50 described later. Further, the axial length of the flange covering portion 30a is determined so as to appropriately adjust the axial width (W1) of the step-shaped recess 50 described later.

外装樹脂部30が形成された後に、素子本体5の軸方向両端部に、一対の端部電極40を形成することで、コイルチップ部品2が得られる。端部電極40は、外装樹脂部30を形成した後に形成されるために、電極ペースト膜の焼き付け処理により形成することはできない。   After the exterior resin portion 30 is formed, the coil chip component 2 is obtained by forming a pair of end electrodes 40 at both axial ends of the element body 5. Since the end electrode 40 is formed after the exterior resin portion 30 is formed, it cannot be formed by the electrode paste film baking process.

この実施形態では、各端部電極40は、1層目が1.0〜2.0μmの無電解Niメッキ、2層目が1.0〜2.0μmの電解Niメッキ、3層目が3.0〜4.0μmの電解Snメッキである。   In this embodiment, each end electrode 40 has electroless Ni plating of 1.0 to 2.0 μm for the first layer, electrolytic Ni plating of 1.0 to 2.0 μm for the second layer, and 3 for the third layer. Electrolytic Sn plating of 0.0 to 4.0 μm.

各端部電極40は、各フランジ4b,4cの端面から当該フランジ4b,4cの外周面を直接に覆うと共に、外装樹脂部30のフランジ被覆部30aを覆うように形成してある。各端部電極40は、各フランジ4b,4cの端面と、当該フランジ4b,4cの外周面の一部で、下地電極層20および継線部10bおよび10cに対して直接に接続してある。しかも、各端部電極40は、外装樹脂部30のフランジ被覆部30aを覆うように形成してあることから、各端部40の外周面には、周方向に連続する段差状凹部50が形成される。   Each end electrode 40 is formed so as to directly cover the outer peripheral surface of the flange 4b, 4c from the end face of each flange 4b, 4c, and to cover the flange covering portion 30a of the exterior resin portion 30. Each end electrode 40 is directly connected to the base electrode layer 20 and the connecting portions 10b and 10c at the end surfaces of the flanges 4b and 4c and a part of the outer peripheral surface of the flanges 4b and 4c. Moreover, since each end electrode 40 is formed so as to cover the flange covering portion 30a of the exterior resin portion 30, a step-like recess 50 that is continuous in the circumferential direction is formed on the outer peripheral surface of each end portion 40. Is done.

図1に示すように、段差状凹部50は、素子本体5の軸方向端面から所定幅(W1)で形成してあり、各端部電極の全幅(W0)に対しての比率(W1/W0)が0.1〜0.8である。この比率が小さすぎると、ツームストーン現象を抑制させる効果が小さくなる傾向にある。また、この比率が大きすぎると、図1および図3に示すように、コイルチップ部品2を基板60上に実装した場合に、基板60上に直接に接触する端部電極40の面積が小さくなる。   As shown in FIG. 1, the step-shaped recess 50 is formed with a predetermined width (W1) from the axial end surface of the element body 5, and the ratio (W1 / W0) to the total width (W0) of each end electrode. ) Is 0.1 to 0.8. If this ratio is too small, the effect of suppressing the tombstone phenomenon tends to be small. If the ratio is too large, as shown in FIGS. 1 and 3, when the coil chip component 2 is mounted on the substrate 60, the area of the end electrode 40 that directly contacts the substrate 60 becomes small. .

また、段差状凹部50は、各端部電極40の最大外周面寸法からの深さ(H1)が10〜40μmとなるように形成してある。この深さH1が小さすぎると、ツームストーン現象を抑制させる効果が小さくなる傾向にある。また、この深さH1が深すぎると、限られたチップサイズでは、相対的に、ドラムコア4におけるフランジ部4b,4cの最大外形寸法が小さくなり、電気的な性能が低下してしまう傾向にある。   Further, the stepped recess 50 is formed such that the depth (H1) from the maximum outer peripheral surface dimension of each end electrode 40 is 10 to 40 μm. If the depth H1 is too small, the effect of suppressing the tombstone phenomenon tends to be small. On the other hand, if the depth H1 is too deep, the maximum outer dimensions of the flange portions 4b and 4c in the drum core 4 are relatively small with a limited chip size, and the electrical performance tends to deteriorate. .

各端部電極40の最大外周面の全高さ(H0)に対して段差状凹部50の深さ(H1)の比率(H1/H0)は、0.011〜0.045の範囲にある。この比率が小さすぎると、ツームストーン現象を抑制させる効果が小さくなる傾向にある。また、この比率が大きすぎると、限られたチップサイズでは、相対的に、ドラムコア4におけるフランジ部4b,4cの最大外形寸法が小さくなり、電気的な性能が低下してしまう傾向にある。   The ratio (H1 / H0) of the depth (H1) of the stepped recess 50 to the total height (H0) of the maximum outer peripheral surface of each end electrode 40 is in the range of 0.011 to 0.045. If this ratio is too small, the effect of suppressing the tombstone phenomenon tends to be small. On the other hand, if the ratio is too large, the maximum outer dimensions of the flange portions 4b and 4c in the drum core 4 are relatively small with a limited chip size, and the electrical performance tends to deteriorate.

本実施形態では、特に、チップの最大高さH0が、0.9mm以下の小型で、5mg以下の軽量なコイルチップ部品2であっても、実装に際してのハンダのリフロー時に、図3に示すように、端部電極40の底面に形成してある段差状凹部50にハンダ70が入り込む。その段差状凹部50は、端部電極40の周方向に連続して形成してあるために、ハンダ70の回り込み量も十分に確保することができる。その結果、いわゆるツームストーン現象を効果的に防止することができ、実装不良を防止することができる。たとえば従来のコイルチップ部品(段差状凹部50がない)では、10万個に10個程度の割合で、ツームストーン現象が生じていたのに対して、本発明の実施例(段差状凹部50がある)では、ツームストーン現象が生じたものは0個であった。   In the present embodiment, in particular, even when the chip maximum height H0 is 0.9 mm or less and the coil tip part 2 is 5 mg or less in light weight, during solder reflow during mounting, as shown in FIG. Further, the solder 70 enters the stepped recess 50 formed on the bottom surface of the end electrode 40. Since the step-shaped recess 50 is formed continuously in the circumferential direction of the end electrode 40, the amount of wraparound of the solder 70 can be sufficiently secured. As a result, the so-called tombstone phenomenon can be effectively prevented and mounting defects can be prevented. For example, in the conventional coil chip component (there is no stepped recess 50), the tombstone phenomenon occurred at a ratio of about 10 per 100,000, whereas the embodiment of the present invention (the stepped recess 50) In some cases, no tombstone phenomenon occurred.

また、本実施形態では、フランジ4b,4cの最大外形寸法よりも大きな外形寸法を有する外装樹脂部30の両端部外周を覆うように、端部電極40を形成することで、段差状凹部50を形成してある。このために、フランジ自体に加工する必要はなく、フランジの体積が減少することはなく、コイルチップとしての性能には全く影響しない。しかも、樹脂成形により段差状凹部50を形成することができるので、製造工程が煩雑になることもない。   In the present embodiment, the stepped recess 50 is formed by forming the end electrode 40 so as to cover the outer periphery of both ends of the exterior resin part 30 having an outer dimension larger than the maximum outer dimension of the flanges 4b and 4c. It is formed. For this reason, it is not necessary to process the flange itself, the volume of the flange does not decrease, and the performance as a coil chip is not affected at all. In addition, since the stepped recess 50 can be formed by resin molding, the manufacturing process is not complicated.

なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変することができる。
たとえば、本発明に係るコイルチップ部品の具体的な断面構造は、図1に示す実施形態に限定されず、種々の態様があり得る。また、本発明では、コイルチップ部品2のみでなく、たとえばコア部が、内部電極層と絶縁層との積層構造を有する表面実装型電子部品にも適用することが可能である。
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be variously modified within the scope of the present invention.
For example, the specific cross-sectional structure of the coil chip component according to the present invention is not limited to the embodiment shown in FIG. 1 and may have various aspects. In addition, the present invention can be applied not only to the coil chip component 2 but also to a surface mount type electronic component in which the core portion has a laminated structure of an internal electrode layer and an insulating layer, for example.

図1は本発明の一実施形態に係る表面実装型電子部品としてのコイルチップ部品の縦断面図である。FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a coil chip component as a surface mount electronic component according to an embodiment of the present invention. 図2は図1に示すコイルチップ部品の製造工程の一例を示す金型の要部断面図である。2 is a cross-sectional view of the main part of the mold showing an example of the manufacturing process of the coil chip component shown in FIG. 図3は図1に示すコイルチップ部品の要部断面図である。3 is a cross-sectional view of the main part of the coil chip component shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

2… コイルチップ部品
4… ドラムコア
4a… 巻芯部
4b… 第1フランジ
4c… 第2フランジ
5… 素子本体
10… コイル部
10a… ワイヤ
10b,10c… 継線部
20… 下地電極層
30… 外装樹脂部
30a… フランジ被覆部
40… 端部電極
50… 段差状凹部
60… 基板
70… ハンダ
80,82… 金型
84… キャビティ
86… 保持用凸部
88… 周方向隙間
DESCRIPTION OF SYMBOLS 2 ... Coil chip component 4 ... Drum core 4a ... Core part 4b ... 1st flange 4c ... 2nd flange 5 ... Element main body 10 ... Coil part 10a ... Wire 10b, 10c ... Connection part 20 ... Underlayer electrode layer 30 ... Exterior resin Part 30a ... Flange coating part 40 ... End electrode 50 ... Stepped concave part 60 ... Substrate 70 ... Solder 80, 82 ... Mold 84 ... Cavity 86 ... Holding convex part 88 ... Circumferential clearance

Claims (7)

コア部および外装樹脂部を有する素子本体と、
前記素子本体の両端部に形成してある一対の端部電極と、を有する表面実装型電子部品であって、
前記外装樹脂部の外形寸法がコア部の最大外形寸法よりも大きく、
前記外装樹脂部の両端部外周を覆うように、前記端部電極がそれぞれ形成してあり、
各端部電極の外周面には、周方向に連続する段差状凹部が形成してある表面実装型電子部品。
An element body having a core portion and an exterior resin portion;
A surface mount electronic component having a pair of end electrodes formed at both ends of the element body,
The outer dimension of the outer resin part is larger than the maximum outer dimension of the core part,
The end electrodes are formed so as to cover the outer periphery of both ends of the exterior resin part,
A surface-mount type electronic component in which a stepped concave portion continuous in the circumferential direction is formed on the outer peripheral surface of each end electrode.
前記段差状凹部は、各端部電極の端面から内側へ所定幅(W1)で形成してあり、各端部電極の全幅(W0)に対しての比率(W1/W0)が0.1〜0.8であることを特徴とする請求項1に記載の表面実装型電子部品。   The stepped recesses are formed with a predetermined width (W1) inward from the end face of each end electrode, and the ratio (W1 / W0) to the total width (W0) of each end electrode is 0.1 to 0.1. The surface mount electronic component according to claim 1, wherein the surface mount electronic component is 0.8. 前記段差状凹部は、各端部電極の最大外周面からの深さ(H1)が10〜40μmとなるように形成してある請求項1または2に記載の表面実装型電子部品。   3. The surface-mount type electronic component according to claim 1, wherein the stepped recess is formed such that a depth (H1) from the maximum outer peripheral surface of each end electrode is 10 to 40 μm. 前記端部電極の最大外周面の全高さ(H0)に対して前記段差状凹部の深さ(H1)の比率(H1/H0)が0.011〜0.045の範囲にある請求項3に記載の表面実装型電子部品。   The ratio (H1 / H0) of the depth (H1) of the stepped recess to the total height (H0) of the maximum outer peripheral surface of the end electrode is in the range of 0.011 to 0.045. The surface mount electronic component as described. 前記コア部が、巻芯部の両端部にフランジを有するフェライトコアであり、
前記フェライトコアの巻芯部にはコイルが巻回してあり、
前記外装樹脂部が、前記コイルが巻回してある巻芯部の周囲を被覆している請求項1〜4のいずれかに記載の表面実装型電子部品。
The core part is a ferrite core having flanges at both ends of the core part,
A coil is wound around the core portion of the ferrite core,
The surface-mount type electronic component according to any one of claims 1 to 4, wherein the exterior resin portion covers a periphery of a core portion around which the coil is wound.
前記外装樹脂部が、前記フェライトコアのフランジの一部を覆うフランジ被覆部を有し、
前記端部電極が、前記フランジの端面から当該フランジの外周面を直接に覆うと共に、前記外装樹脂部のフランジ被覆部を覆うように形成してある請求項1〜5のいずれかに記載の表面実装型電子部品。
The exterior resin portion has a flange covering portion that covers a part of the flange of the ferrite core,
The surface according to any one of claims 1 to 5, wherein the end electrode is formed so as to directly cover an outer peripheral surface of the flange from an end surface of the flange and to cover a flange covering portion of the exterior resin portion. Mounted electronic components.
前記コア部が、内部電極層と絶縁層との積層構造を有する請求項1〜4のいずれかに記載の表面実装型電子部品。   The surface-mount type electronic component according to claim 1, wherein the core portion has a laminated structure of an internal electrode layer and an insulating layer.
JP2005379181A 2005-12-28 2005-12-28 Surface mount electronic components Active JP4812428B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005379181A JP4812428B2 (en) 2005-12-28 2005-12-28 Surface mount electronic components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005379181A JP4812428B2 (en) 2005-12-28 2005-12-28 Surface mount electronic components

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007180401A true JP2007180401A (en) 2007-07-12
JP4812428B2 JP4812428B2 (en) 2011-11-09

Family

ID=38305272

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005379181A Active JP4812428B2 (en) 2005-12-28 2005-12-28 Surface mount electronic components

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4812428B2 (en)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000030952A (en) * 1998-07-13 2000-01-28 Taiyo Yuden Co Ltd Chip inductor
JP2000306757A (en) * 1999-04-20 2000-11-02 Tdk Corp Coil part
JP2002093659A (en) * 2000-09-18 2002-03-29 Murata Mfg Co Ltd Chip-shaped lc composite component
JP2002237402A (en) * 2002-02-12 2002-08-23 Hokuriku Electric Ind Co Ltd Chip resistor
JP2004056112A (en) * 2002-05-30 2004-02-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit component, unit packaged with circuit component, module containing circuit component, and method of manufacturing the same
JP2005327876A (en) * 2004-05-13 2005-11-24 Tdk Corp Coil component and its manufacturing method

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000030952A (en) * 1998-07-13 2000-01-28 Taiyo Yuden Co Ltd Chip inductor
JP2000306757A (en) * 1999-04-20 2000-11-02 Tdk Corp Coil part
JP2002093659A (en) * 2000-09-18 2002-03-29 Murata Mfg Co Ltd Chip-shaped lc composite component
JP2002237402A (en) * 2002-02-12 2002-08-23 Hokuriku Electric Ind Co Ltd Chip resistor
JP2004056112A (en) * 2002-05-30 2004-02-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit component, unit packaged with circuit component, module containing circuit component, and method of manufacturing the same
JP2005327876A (en) * 2004-05-13 2005-11-24 Tdk Corp Coil component and its manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP4812428B2 (en) 2011-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100366925B1 (en) Inductor and method for manufacturing same
US7133276B2 (en) Solid electrolytic capacitor
JP6819632B2 (en) Surface mount inductor
US8885326B2 (en) Solid electrolytic capacitor and method for manufacturing the same
JP6520433B2 (en) Laminated coil parts
JP4394640B2 (en) Coil parts
US20180211765A1 (en) Thin inductor
JP4710824B2 (en) Method for manufacturing wire wound electronic component
JP4812428B2 (en) Surface mount electronic components
JP2007188957A (en) Surface-mounting electronic component
JP2010135691A (en) Reed type electronic component
JP2007311622A (en) Small surface mounting electronic component and its manufacturing method
JP2006294734A (en) Surface-mounting thin capacitor
JP2010050332A (en) Multilayer electronic component
JP2007123308A (en) Choke coil
JP2007266487A (en) Winding type electronic component, and method for manufacturing same
JP6357640B2 (en) Laminated parts
JP2007180400A (en) Surface-mounting type electronic component and manufacturing method therefor
JP4999087B2 (en) Surface mount thin capacitors
JP4662365B2 (en) Surface mount capacitor
TWI847484B (en) A magnetic device and the method to make the same
JP2009194279A (en) Laminated electronic component
US20230170129A1 (en) Coil component
JP4122019B2 (en) Solid electrolytic capacitor
JP2009026897A (en) Coil part

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080811

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080902

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081030

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090224

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090514

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090519

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20090612

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110823

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4812428

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140902

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250