JP2007163188A - 試料導入装置及び試料導入方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 ダブルT型マイクロチップのオフセットの長さに制約されずに、任意の量の試料を導入することができる試料導入装置および試料導入方法を提供すること
【解決手段】 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料50の少なくともいずれか一方を、試料50の分析を行う分析部側に流す主流路11と、試料供給部の試料50を主流路11に供給する試料供給流路12と、主流路11から試料50を排出する試料排出流路13と、を有するダブルT型マイクロチップ1を用いて、所定量の試料50を試料供給部から分析部に導入する試料導入方法であって、主流路11、試料供給流路12、試料排出流路13に所定の電界を所定時間印加し、試料排出流路13内の試料50を主流路11の分析部側へ移動させる。
【選択図】 図5
【解決手段】 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料50の少なくともいずれか一方を、試料50の分析を行う分析部側に流す主流路11と、試料供給部の試料50を主流路11に供給する試料供給流路12と、主流路11から試料50を排出する試料排出流路13と、を有するダブルT型マイクロチップ1を用いて、所定量の試料50を試料供給部から分析部に導入する試料導入方法であって、主流路11、試料供給流路12、試料排出流路13に所定の電界を所定時間印加し、試料排出流路13内の試料50を主流路11の分析部側へ移動させる。
【選択図】 図5
Description
この発明は、マイクロチップを用いた試料導入装置および試料導入方法に関するものである。
従来、DNAやRNA、タンパク質等の試料を分離する方法として、電気泳動法がある。これは、板状部材の内部に所定の流路を有するマイクロチップを使用し、この流路に電界を印加して前記試料を電気泳動させて分離し分析する方法である。
この方法に使用されるマイクロチップとしては、例えば図1に示すように、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路91と、試料供給部の試料を主流路91に供給する試料供給流路92と、を有するシングルT型マイクロチップ9がある。
電気泳動法をシングルT型マイクロチップ9に用いる場合には、各流路に所定の電界を印加して、試料供給部の試料を試料供給流路92を介して主流路91に移動させる。この際、印加する電界の時間を調節することにより、主流路91内に移動する試料の量が決まる。その後、各流路に印加する電界の大きさを所定値に変えることにより、主流路91内の所定量の試料を分析部へ導入することができる。
しかしながら、シングルT型マイクロチップ9を用いる場合、試料中に重さの異なる複数の分子があると、各分子の移動速度に違いが生じ、分析部に導入する前に分子の偏りが生じるという問題があった。
これを解決するために、例えば図2、図3に示すように、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路11と、試料供給部の試料を主流路11に供給する試料供給流路12と、主流路11から試料排出部側へ試料を排出する試料排出流路13と、を有するダブルT型マイクロチップ1又はクロス型マイクロチップ2がある。
電気泳動法をダブルT型マイクロチップ1に用いる場合には、各流路に電界を印加して、試料供給部の試料を試料供給流路12を介して、主流路11および試料排出流路13に連続的に移動させる。次に、各流路に印加する電界の大きさを所定値に変え、供給流路内の試料を試料供給部側へ移動させると共に、試料排出流路13内の試料を試料排出部側へ移動させる。その後、各流路に印加する電界の大きさを所定値に変えることにより、主流路11内の試料を分析部へ導入することができる。
これにより、主流路11内の試料の量は、主流路11内の試料供給流路12と接続する部分から試料排出流路13に接続される部分まで(以下、オフセットという)の長さに応じた所定量に決まる。また、試料を一旦、試料供給流路12から主流路11および試料排出流路13に連続的に移動させるので、各分子の移動速度に違いが生じ、試料の前方部分や後方部分に分子の偏りが生じても、その真ん中付近、すなわち、オフセット内に限れば、試料の分子を均一にすることができる(例えば、特許文献1)。
しかしながら、ダブルT型マイクロチップ1は、導入する試料の量がオフセットの長さに制約されるため、試料の導入量を変えるには、オフセットの長さの異なる複数のマイクロチップを用意しなければならないという問題があった。
そこで本発明は、ダブルT型マイクロチップのオフセットの長さに制約されずに、任意の量の試料を導入することができる試料導入装置および試料導入方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の試料導入装置は、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップに対し、前記主流路と前記試料供給流路と前記試料排出流路に任意の電界を印加する電界印加手段を用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入装置であって、前記電界印加手段を制御し、前記試料排出流路内の試料を前記主流路の分析部側へ移動するように電界を調節する制御手段を具備することを特徴とする。
また、本発明の試料導入装置は、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップに対し、前記主流路と前記試料供給流路と前記試料排出流路に任意の電界を印加する電界印加手段を用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入装置であって、前記電界印加手段を制御し、試料を前記試料供給流路から前記主流路および前記試料排出流路へ移動させた後、前記試料供給流路内の試料を前記試料供給部側に移動させ、前記試料排出流路内の試料を前記主流路内に移動させ、その後、前記主流路内の試料を前記分析部側へ移動させるように電界を調節する制御手段を具備することを特徴とする。
この場合、前記制御手段は、前記電界印加手段が印加する電界の大きさ及び電界を印加する時間の少なくともいずれか一方を調節する方が好ましい。
また、本発明の試料導入方法は、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップを用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入方法であって、前記主流路、前記試料供給流路、前記試料排出流路に所定の電界を印加し、前記試料排出流路内の試料を前記主流路の分析部側へ移動させることを特徴とする。
また、本発明の試料導入方法は、電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料のいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップを用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入方法であって、前記主流路、前記試料供給流路、前記試料排出流路に所定の電界を印加し、試料を前記試料供給流路から前記主流路および前記試料排出流路へ移動させた後、前記試料供給流路内の試料を前記試料供給部に移動させ、前記試料排出流路内の試料を前記主流路内に移動させ、その後、前記主流路内の試料を前記分析部側へ移動させることを特徴とする特徴とする。
この場合、前記電界の大きさ及び前記電界を印加する時間の少なくともいずれか一方を調節する方が好ましい。
請求項1,2,4,5記載の発明によれば、試料排出流路内の試料を主流路内に移動させるので、ダブルT型マイクロチップであっても、オフセットの長さによって制約されずに、試料の導入量を増やすことができる。また、試料中に重さの異なる複数の分子があっても、一旦、試料供給流路から主流路を介して試料排出流路まで連続して流すので、オフセット近辺の試料に関しては、試料の分子を均一にすることができる。
請求項3,6記載の発明によれば、電界の大きさ及び電界を印加する時間の少なくともいずれか一方を調節するので、分析部へ導入する試料の導入量を自由に調節することができる。
本発明の試料導入装置10は、図4に示すように、マイクロチップ1に対し任意の電界を印加する電界印加手段2を用いて、所定量の試料50を試料供給部3から分析部4に導入するもので、電界印加手段2を制御し、試料排出流路13内の試料を主流路11の分析部4側へ移動するように電界を調節する制御手段100を具備するものである。
マイクロチップ1は、板状部材の内部に、少なくとも電解質溶液供給部6から供給された電解質溶液及び試料供給部3から供給された電気泳動する試料50のいずれか一方を、試料50の分析を行う分析部4側に流す主流路11と、試料供給部3の試料50を主流路11に供給する試料供給流路12と、主流路11から試料排出部5側に試料50を排出する試料排出流路13と、を形成したものである。例えば、ダブルT型マイクロチップやクロス型マイクロチップ等がある(図2、図3参照)。マイクロチップ1の材質はどのようなものでも良いが、例えば、ガラスや半導体材料、樹脂等から製作される。
電界印加手段2は、主流路11と試料供給流路12と試料排出流路13に任意の電界を印加するものである。電界印加手段2としては、電界を印加できるものであればどのようなものでも良いが、例えば、主流路11の電解質溶液供給部6側および分析部4側、試料供給流路12の試料供給部3側、試料排出流路13の試料排出流路13側にそれぞれ任意の電位を印加することができる電源および電極から構成すれば良い。これにより、電位の差と電極間の距離から導かれる種々の電界を流路に印加することができるので、流路内の試料50を自由に移動させることができる。
制御手段100は、電界印加手段2を制御し、電界印加手段2が印加する電界の大きさや印加する時間、印加するタイミングを制御するもので、例えば、コンピュータを用いることができる。この制御手段100は、例えば、試料50を試料供給流路12から主流路11および試料排出流路13へ連続的に移動させて充填させた後、試料供給流路12内の試料50を試料供給部3に移動させ、試料排出流路13内の試料50を主流路11内に移動させ、その後、主流路11内の試料50を分析部4側へ移動させるように電界を調節する。ここで、主流路11内の試料50を分析部4側へ移動させる際に、電界の大きさや電界を印加する時間を調節することにより、分析部4へ導入する試料50の量を任意の量に調節することができる。
試料50としてはどのようなものでも良いが、例えば、DNAやRNA、タンパク質、その他のイオン性物質が対象となる。また、イオン性の物質でなくとも、イオン性の物質とミセル状にして用いることも可能である。
電解質溶液は、電解質溶液供給部6から主流路11に供給されるもので、分析部4において試料50の検出の障害にならないものであればよく、例えばリン酸塩やホウ酸塩、有機溶媒等を用いることができる。
分析部4は、試料50を定性的、定量的に分析するものであればどのようなものでも良く、例えば、吸光光度計、蛍光法検出器、質量分析装置等を用いることができる。
なお、上記説明では、電界印加手段2、試料供給部3、分析部4、試料排出部5、電解質溶液供給部6をマイクロチップ1の外部に設ける場合について説明したが、これに限られるものではなく、それぞれをマイクロチップ1上に設けることも可能である。
次に、本発明の試料導入方法について、図5を用いて説明する。
まず、分析したい試料50を試料供給部3に用意し、マイクロチップの各流路に所定の電界を印加して試料50を試料供給流路12から主流路11および試料排出流路13へ移動させる{図5(a)}。
次に、マイクロチップの各流路に印加する電界の大きさを変えて、試料供給流路12内の試料50を試料供給部3側に移動させると共に、又はその後に、試料排出流路13内の試料50を主流路11内に移動させる。この際、各流路に電界を印加する時間を調節することにより、所定量の試料50を主流路11内に移動させることができる{図5(b)}。
その後、更にマイクロチップの各流路に印加する電界の大きさを変えて、主流路11内の試料50を分析部4側へ移動させると共に、試料排出流路内の試料50を試料排出部5側に移動させる{図5(c)}。
これにより、ダブルT型マイクロチップのオフセットの長さに制約されずに、所定量の試料50を分析部4に導入することができる。
次に、本発明の試料導入装置10を用いて、試料50をレーザー励起蛍光法検出器(分析部4)へ導入し、主流路11内の試料50を分析部4側へ移動させる際に電界を印加した時間と分析部4に導入された試料50の量との関係を調べた。試料導入量は、ピーク面積から算出した。
マイクロチップとしては、オフセットの大きさが500μmのポリジメチルシロキサン(PDMS)製ダブルT型マイクロチップ(流路幅:100μm、深さ30μm)を用いた。
試料50としては、5μg/mlのフルオレセインを用い、電解質溶液としては、0.02mol/lの硫酸ドデシルナトリウム(SDS)を含む0.15mol/lのホウ酸電解質溶液(pH9.5)を用いた。
まず、主流路11の電解質溶液供給部6側に250V、分析部4側に300V、試料供給流路12の試料供給部3側に300V、試料排出流路13側に0Vの電位を20秒印加して、試料50を試料供給流路12から主流路11および試料排出流路13へ移動させた。
次に、主流路11の電解質溶液供給部6側に500V、分析部4側に0V、試料供給流路12の試料供給部3側に200V、試料排出流路13側に350Vの電位を印加して、試料供給流路12内の試料50を試料供給部3側に移動させると共に、試料排出流路13内の試料50を主流路11内に移動させる。この際、各流路に電界を印加する時間(Loading Time)を1秒、2秒、3秒、4秒の4種類について検出することとした。
次に、主流路11の電解質溶液供給部6側に500V、分析部4側に0V、試料供給流路12の試料供給部3側に200V、試料排出流路13側に200Vの電位を印加して、主流路11内の試料50をレーザー励起蛍光法検出器(分析部4)側へ移動させた。
この実験結果を図6に示す。
図6より、電界を印加する時間(Loading Time)に比例してピーク面積が増加、すなわち試料50の導入量が増加している。したがって、試料排出流路13内の試料50を主流路11内に移動させる際に電界を印加する時間を調節することに分析部4へ試料50の導入量を調節することが可能であることが実験からも明らかとなった。
1 マイクロチップ
2 電界印加手段
3 試料供給部
4 分析部
5 試料排出部
6 電解質溶液供給部
10 試料導入装置
11 主流路
12 試料供給路
13 試料排出流路
50 試料
100 制御手段
2 電界印加手段
3 試料供給部
4 分析部
5 試料排出部
6 電解質溶液供給部
10 試料導入装置
11 主流路
12 試料供給路
13 試料排出流路
50 試料
100 制御手段
Claims (6)
- 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップに対し、前記主流路と前記試料供給流路と前記試料排出流路に任意の電界を印加する電界印加手段を用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入装置であって、
前記電界印加手段を制御し、前記試料排出流路内の試料を前記主流路の分析部側へ移動するように電界を調節する制御手段を具備することを特徴とする試料導入装置。 - 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップに対し、前記主流路と前記試料供給流路と前記試料排出流路に任意の電界を印加する電界印加手段を用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入装置であって、
前記電界印加手段を制御し、試料を前記試料供給流路から前記主流路および前記試料排出流路へ移動させた後、前記試料供給流路内の試料を前記試料供給部側に移動させ、前記試料排出流路内の試料を前記主流路内に移動させ、その後、前記主流路内の試料を前記分析部側へ移動させるように電界を調節する制御手段を具備することを特徴とする試料導入装置。 - 前記制御手段は、前記電界印加手段が印加する電界の大きさ及び電界を印加する時間の少なくともいずれか一方を調節することを特徴とする請求項1又は2記載の試料導入装置。
- 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料の少なくともいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップを用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入方法であって、
前記主流路、前記試料供給流路、前記試料排出流路に所定の電界を印加し、前記試料排出流路内の試料を前記主流路の分析部側へ移動させることを特徴とする試料導入方法。 - 電解質溶液供給部から供給された電解質溶液及び試料供給部から供給された電気泳動する試料のいずれか一方を、試料の分析を行う分析部側に流す主流路と、前記試料供給部の試料を前記主流路に供給する試料供給流路と、前記主流路から試料を排出する試料排出流路と、を有するマイクロチップを用いて、所定量の試料を前記試料供給部から前記分析部に導入する試料導入方法であって、
前記主流路、前記試料供給流路、前記試料排出流路に所定の電界を印加し、試料を前記試料供給流路から前記主流路および前記試料排出流路へ移動させた後、前記試料供給流路内の試料を前記試料供給部に移動させ、前記試料排出流路内の試料を前記主流路内に移動させ、その後、前記主流路内の試料を前記分析部側へ移動させることを特徴とする特徴とする試料導入方法。 - 前記電界の大きさ及び前記電界を印加する時間の少なくともいずれか一方を調節することを特徴とする請求項4又は5記載の試料導入方法。
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