JP2007122796A - Nonvolatile memory - Google Patents

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JP2007122796A
JP2007122796A JP2005312305A JP2005312305A JP2007122796A JP 2007122796 A JP2007122796 A JP 2007122796A JP 2005312305 A JP2005312305 A JP 2005312305A JP 2005312305 A JP2005312305 A JP 2005312305A JP 2007122796 A JP2007122796 A JP 2007122796A
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storage area
initial data
input
nonvolatile memory
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Hiroyuki Kasai
浩行 河西
Masaya Ninomiya
正也 二ノ宮
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Seiko Epson Corp
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Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a nonvolatile memory capable of achieving cost reduction by enhancing simplification of a circuit constitution and miniaturization of a circuit scale and also capable of attaining stabilization of the operation, when an OTP function, etc., are obtained for a part of memory areas of the nonvolatile memory. <P>SOLUTION: A memory cell array 1, assigns nonvolatile memory cells in a part thereof to an initial data storage area 12. A writing data control circuit 3 checks whether an input address coincides with an address of the initial data storage area 12 in the memory cell array 1, and when both of them are not coincident, input data D0-D7 are output, while preset optional fixed data are output when they are coincident. A data input circuit 4 writes the data into the nonvolatile memory cell of the memory cell array 1 to be selected by an address decoder 2, and at this time, the input data D0-D7 from the writing data control circuit 3 or the aforementioned fixed data are written into the nonvolatile memory cell. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM)などの不揮発性
メモリにおいて、そのメモリ領域の一部についてデータの自由な書き換えを制限し、一度
だけデータの書き込みが可能な、OTP(One Time PROM)化などを実現するようにした不
揮発性メモリに関するものである。
The present invention is a non-volatile memory such as an EEPROM (Electrically Erasable Programmable ROM), which restricts free rewriting of data in a part of the memory area, and can be written only once OTP (One Time PROM) The present invention relates to a nonvolatile memory that realizes the above.

従来、EEPROMなどの不揮発性メモリにOTP機能を持たせる場合には、以下のよ
うな手法を採用していた。
(1)EEPROMなどの不揮発性メモリにおいて、不揮発性メモリの他にOTP機能を
搭載するようにしていた(以下、第1の従来技術という)。
(2)EEPROMなどの不揮発性メモリにおいて、例えばOTP機能を実現するための
外部端子を設けておき、その外部端子にジャンパ線などの外付け部品を接続してOTP機
能を実現していた(以下、第2の従来技術という)。
(3)特許文献1に記載の技術を使用することにより、以下のようにしてOTP機能を実
現していた(以下、第3の従来技術という)。
Conventionally, when an OTP function is given to a nonvolatile memory such as an EEPROM, the following method has been adopted.
(1) In a non-volatile memory such as an EEPROM, an OTP function is mounted in addition to the non-volatile memory (hereinafter referred to as the first prior art).
(2) In a nonvolatile memory such as an EEPROM, for example, an external terminal for realizing the OTP function is provided, and an external component such as a jumper line is connected to the external terminal to realize the OTP function (hereinafter referred to as the OTP function). The second prior art).
(3) By using the technique described in Patent Document 1, the OTP function has been realized as follows (hereinafter referred to as the third conventional technique).

a)この第3の従来技術では、メモリの一部をOTP領域に割り当て、その領域内に「
書き換え可否識別フラグ」を設定する。
b)電源投入時などのメモリへの書き込みを行う前段階で、「書き換え可否識別フラグ
」の設定内容をOTP領域からロードしてレジスタに蓄える。メモリへの書き込みを行う
際には、そのレジスタに蓄えられたデータの値(内容)によって、メモリ上のOTP領域
への書き換えの可否を決定する。
a) In the third prior art, a part of the memory is allocated to the OTP area, and “
“Rewriteability identification flag” is set.
b) At the stage before writing to the memory such as when the power is turned on, the setting contents of the “rewriteability identification flag” are loaded from the OTP area and stored in the register. When writing to the memory, whether or not to rewrite the OTP area on the memory is determined based on the value (content) of the data stored in the register.

c)「書き換え可否識別フラグ」はOTP領域に存在する。また、「書き換え可否識別
フラグ」に書き込み不許可のデータを書き込んだ場合は、上記のようにOTP領域の書き
換えができなくなるため、「書き換え可否識別フラグ」自体の書き換えの不可能となり、
結果としてOTP機能が実現される。
特開平10−106275号公報
c) The “rewriteability identification flag” is present in the OTP area. In addition, when writing non-permitted data is written to the “rewritability identification flag”, it becomes impossible to rewrite the OTP area as described above, so the “rewritability identification flag” itself cannot be rewritten,
As a result, the OTP function is realized.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-106275

しかし、第1の従来技術では、不揮発性メモリの他にOTP機能を搭載するので、チッ
プ面積が増大して余計な製作費用がかかるという不具合がある。
また、第2の従来技術では、OTP機能を実現するために専用の外部端子を設ける必要
がある上に、外付け部品を付加する必要があるので、同様に余計な製作費用がかかるとい
う不具合がある。
However, since the first conventional technique is equipped with the OTP function in addition to the nonvolatile memory, there is a problem in that the chip area increases and extra manufacturing costs are required.
In addition, in the second prior art, it is necessary to provide a dedicated external terminal in order to realize the OTP function, and it is necessary to add an external component. is there.

さらに、第3の従来技術では、上記のOTP機能を実現するための論理回路などは、そ
の構成が複雑である上にその回路規模も大きくなる。また、電源投入時などの動作の不安
定な期間に、メモリのロードを行うので、誤動作の発生が懸念されるというような、不具
合が考えられる。
そこで、本発明の目的は、上記の点に鑑み、不揮発性メモリのメモリ領域の一部につい
てOTP機能などを実現する場合に、回路構成の簡易化および回路規模の小型化を図って
コストの低減化を実現でき、かつ、動作の安定化を実現できる不揮発性メモリを提供する
ことにある。
Furthermore, in the third prior art, the logic circuit or the like for realizing the above OTP function has a complicated configuration and a large circuit scale. Further, since the memory is loaded during an unstable operation period such as when the power is turned on, there is a problem that a malfunction may occur.
Accordingly, in view of the above points, an object of the present invention is to reduce the cost by simplifying the circuit configuration and reducing the circuit scale when realizing the OTP function or the like for a part of the memory area of the nonvolatile memory. It is an object of the present invention to provide a non-volatile memory that can realize the stabilization and can stabilize the operation.

上記の課題を解決し本発明の目的を達成するために、各発明は、以下のような構成から
なる。
すなわち、第1の発明は、電気的にデータを書き換え可能な複数の不揮発性メモリセル
が配列されたメモリセルアレイを有する不揮発性メモリにおいて、前記メモリセルアレイ
は、その一部の不揮発性メモリセルを任意の初期データを予め書き込んでおく初期データ
記憶領域に割り当てるようにし、データを書き込むために入力される書き込み領域が前記
初期データ記憶領域と一致するか否かを判定し、両者が一致しない場合には前記書き込み
領域に対して入力データを書き込み、一方、両者が一致する場合には前記初期データ記憶
領域に対して予め設定されている固定データを書き込むデータ書き込み手段を備えている
In order to solve the above problems and achieve the object of the present invention, each invention has the following configuration.
In other words, according to a first aspect of the present invention, there is provided a nonvolatile memory having a memory cell array in which a plurality of electrically rewritable nonvolatile memory cells are arranged. The initial data is assigned to the initial data storage area to which data is written in advance, and it is determined whether or not the writing area input for writing data matches the initial data storage area. Data writing means is provided for writing input data to the writing area, and writing fixed data set in advance to the initial data storage area when they match.

第2の発明は、第1の発明において、前記データ書き込み手段は、入力アドレスが前記
初期データ記憶領域のアドレスと一致するか否かを判定し、両者が一致する場合には一致
信号を出力し、両者が一致しない場合には不一致信号を出力するアドレス比較回路と、前
記アドレス比較回路から不一致信号が出力される場合には外部からの入力データを、他方
、前記アドレス比較回路から一致信号が出力される場合には予め設定されている固定デー
タを、選択的に出力するデータ選択出力回路と、前記データ選択出力回路から前記入力デ
ータが出力される場合には、その入力データを入力アドレスで特定される不揮発性メモリ
セルに書き込み、前記データ選択出力回路から前記固定データが出力される場合には、そ
の固定データを前記初期データ記憶領域の不揮発性メモリセルに書き込むデータ入力回路
と、を有する。
In a second aspect based on the first aspect, the data writing means determines whether or not the input address matches the address of the initial data storage area, and outputs a match signal if they match. An address comparison circuit that outputs a mismatch signal when the two do not match, and an external input data when a mismatch signal is output from the address comparison circuit, and a match signal from the address comparison circuit A data selection output circuit for selectively outputting fixed data set in advance, and when the input data is output from the data selection output circuit, the input data is specified by an input address. When the fixed data is output from the data selection output circuit, the fixed data is written to the initial data. Having a data input circuit for writing in the nonvolatile memory cell of 憶領 zone, the.

第3の発明は、第1または第2の発明において、前記初期データ記憶領域に予め書き込
む任意の初期データと、この初期データに対応して予め設定する前記固定データとは、そ
の内容が異なるようにした。
第4の発明は、第1または第2の発明において、前記初期データ記憶領域に予め書き込
む任意の初期データと、この初期データに対応して予め設定する前記固定データとは、そ
の内容が同じになるようにした。
According to a third invention, in the first or second invention, the contents of arbitrary initial data written in advance in the initial data storage area and the fixed data set in advance corresponding to the initial data are different. I made it.
According to a fourth aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, any initial data written in advance in the initial data storage area and the fixed data set in advance corresponding to the initial data have the same contents It was made to become.

第5の発明は、第1または第2の発明において、前記初期データ記憶領域は、第1の記
憶領域と第2の記憶領域とに分割し、前記第1の記憶領域に予め書き込む任意の初期デー
タと、この初期データに対応して予め設定する前記固定データとはその内容が異なるよう
にし、前記第2の記憶領域に予め書き込む任意の初期データと、この初期データに対応し
て予め設定する前記固定データとはその内容が同じになるようにした。
According to a fifth invention, in the first or second invention, the initial data storage area is divided into a first storage area and a second storage area, and an arbitrary initial written in the first storage area in advance The contents of the data and the fixed data set in advance corresponding to the initial data are made different from each other, and arbitrary initial data written in advance in the second storage area and set in advance corresponding to the initial data The contents are the same as the fixed data.

このような構成からなる本発明によれば、不揮発性メモリのメモリ領域の一部について
OTP機能やROM機能を実現する場合に、回路構成の簡易化および回路規模の小型化を
図ってコストの低減化を実現でき、かつ、動作の安定化を実現できる。
According to the present invention having such a configuration, when the OTP function and the ROM function are realized for a part of the memory area of the nonvolatile memory, the circuit configuration is simplified and the circuit scale is reduced to reduce the cost. Can be realized and the operation can be stabilized.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
本発明の実施形態に係る不揮発性メモリの構成について、図1を参照して説明する。
この実施形態に係る不揮発性メモリは、例えばEEPROMに適用した場合であり、図
1に示すように、メモリセルアレイ1と、アドレスデコーダ2と、書き込みデータ制御回
路3と、データ入力回路4と、データ出力回路5と、を少なくとも備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
A configuration of a nonvolatile memory according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The nonvolatile memory according to this embodiment is applied to, for example, an EEPROM. As shown in FIG. 1, the memory cell array 1, the address decoder 2, the write data control circuit 3, the data input circuit 4, the data And at least an output circuit 5.

メモリセルアレイ1は、電気的にデータを書き換え可能な複数の不揮発性メモリセル(
図示せず)がマトリクス状に配列されたものである。その各不揮発性メモリセルには、1
ビットのデータが記憶できるようになっている。
メモリセルアレイ1は、図2に示すように1番地〜n番地のアドレスを有し、各アドレ
スの不揮発性メモリセルには、例えば8ビット単位のデータD0〜D7が読み書きできる
ようになっている。従って、図2の1つのブロックは、メモリセルアレイ1の不揮発性メ
モリセルに対応する。
The memory cell array 1 includes a plurality of nonvolatile memory cells (electrically rewritable data)
(Not shown) are arranged in a matrix. Each nonvolatile memory cell has 1
Bit data can be stored.
The memory cell array 1 has addresses 1 to n as shown in FIG. 2, and for example, 8-bit data D0 to D7 can be read from and written to the nonvolatile memory cells at the respective addresses. Therefore, one block in FIG. 2 corresponds to a nonvolatile memory cell of the memory cell array 1.

そして、メモリセルアレイ1は、その記憶領域のうち1番地〜(n−1)番地を通常記
憶領域11に割り当てるとともに、残りのn番地を初期データ記憶領域12に割り当てる
ようにしている。
通常記憶領域11は、ユーザが任意のデータをいつでも書き込みできる領域である。初
期データ記憶領域12は、任意の初期データを予め書き込んでおく領域である。その初期
データは、例えば製造工程の途中であって、モールドルで封入する以前のウェハの状態の
ときに書き込む。
The memory cell array 1 assigns addresses 1 to (n−1) among the storage areas to the normal storage area 11 and assigns the remaining n addresses to the initial data storage area 12.
The normal storage area 11 is an area where the user can write arbitrary data at any time. The initial data storage area 12 is an area in which arbitrary initial data is written in advance. The initial data is written, for example, when the wafer is in the middle of the manufacturing process and before being encapsulated by the mould.

初期データ記憶領域12は、OTP機能を実現するためのOTP領域12aと、ROM
機能を実現するためのROM領域12bとから構成、あるいは分割されている。
アドレスデコーダ2は、アドレス入力信号を受けて、そのアドレスに対応するメモリセ
ルアレイ1の中の不揮発性メモリセルを選択(特定)する。
書き込みデータ制御回路3は、入力アドレスがメモリセルアレイ1の初期データ記憶領
域12のアドレスと一致するか否かを比較し、その両者が一致しない場合には入力される
データD0〜D7を出力し、その両者が一致する場合には予め設定されている任意の固定
データを出力する。
The initial data storage area 12 includes an OTP area 12a for realizing the OTP function, a ROM
A ROM area 12b for realizing the function is configured or divided.
The address decoder 2 receives an address input signal and selects (specifies) a nonvolatile memory cell in the memory cell array 1 corresponding to the address.
The write data control circuit 3 compares whether or not the input address matches the address of the initial data storage area 12 of the memory cell array 1, and if the two do not match, outputs the input data D0 to D7, If the two match, arbitrary fixed data set in advance is output.

データ入力回路4は、アドレスデコーダ2で選択されるメモリセルアレイ1の不揮発性
メモリセルにデータを書き込むが、その際に書き込みデータ制御回路3から出力される外
部からの入力データD0〜D7、またはその内部で予め設定されている任意の固定データ
を書き込む。
データ出力回路5は、アドレスデコーダ2で選択されるメモリセルアレイ1の指定番地
の不揮発性メモリセルに書き込まれている8ビットのデータD0〜D7を読み出す(図2
参照)。
The data input circuit 4 writes data to the non-volatile memory cells of the memory cell array 1 selected by the address decoder 2, and at this time, external input data D0 to D7 output from the write data control circuit 3 or Write arbitrary fixed data set in advance internally.
The data output circuit 5 reads 8-bit data D0 to D7 written in the nonvolatile memory cell at the designated address of the memory cell array 1 selected by the address decoder 2 (FIG. 2).
reference).

ここで、この実施形態では、図2のOTP領域12aに予め書き込む任意の初期データ
と、この初期データに対応して書き込みデータ制御回路3において予め設定する固定デー
タとは、その内容が異なるようにしている。
また、図2のROM領域12bに予め書き込む任意の初期データと、この初期データに
対応して書き込みデータ制御回路3において予め設定する固定データとは、その内容が同
じになるようにしている。
Here, in this embodiment, arbitrary initial data written in advance in the OTP area 12a in FIG. 2 and fixed data preset in the write data control circuit 3 corresponding to this initial data are made to have different contents. ing.
Also, the arbitrary initial data written in advance in the ROM area 12b of FIG. 2 and the fixed data preset in the write data control circuit 3 corresponding to the initial data have the same contents.

次に、図1に示す書き込みデータ制御回路3の具体的な構成について、図3を参照して
説明する。
書き込みデータ制御回路3は、図3に示すように、アドレス比較回路31と、データ選
択出力回路32−0〜32−7とを備えている。
アドレス比較回路31は、入力アドレスがメモリセルアレイ1の初期データ記憶領域1
2のアドレスであるn番地と一致するか否かを判定し、両者が一致する場合には一致信号
を出力し、両者が一致しない場合には不一致信号を出力する。
Next, a specific configuration of the write data control circuit 3 shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 3, the write data control circuit 3 includes an address comparison circuit 31 and data selection output circuits 32-0 to 32-7.
The address comparison circuit 31 has an input address of the initial data storage area 1 of the memory cell array 1.
It is determined whether or not the address n, which is the address of 2, matches, and if both match, a match signal is output, and if both do not match, a mismatch signal is output.

データ選択出力回路32−0〜32−7は、アドレス比較回路31から不一致信号が出
力される場合には外部からの入力データD0〜D7を、他方、アドレス比較回路31から
一致信号が出力される場合には予め固定されている固定データを、選択的に出力する。
このため、データ選択出力回路32−0〜32−7は、入力端子Bに入力データD0〜
D7がそれぞれ入力されるとともに、入力端子Aに固定データがそれぞれ入力され、その
両入力データのうちの一方のデータを、選択端子Sに入力されるアドレス比較回路31か
らの出力信号(選択信号)に応じて選択的に出力するようになっている。
The data selection output circuits 32-0 to 32-7 output the input data D0 to D7 from the outside when the mismatch signal is output from the address comparison circuit 31, and the match signal is output from the address comparison circuit 31. In some cases, fixed data that is fixed in advance is selectively output.
For this reason, the data selection output circuits 32-0 to 32-7 receive the input data D0 to D at the input terminal B.
D7 is input, and fixed data is input to the input terminal A, and one of the two input data is used as an output signal (selection signal) from the address comparison circuit 31 input to the selection terminal S. It is designed to output selectively according to.

ここで、入力端子Aに入力される任意の書き込み固定データは、図2に示すように、例
えばその入力端子Aをプルアップまたプルダウンすることにより「1」または「0」のデ
ータが設定できるようになっている。
なお、図3において、書き込みデータ制御回路3を除くメモリセルアレイ1やアドレス
デコーダ2などの構成は、図1の構成と同様であるのでその説明は省略する。
Here, as shown in FIG. 2, arbitrary write fixed data input to the input terminal A can be set to data “1” or “0” by pulling up or pulling down the input terminal A, for example. It has become.
In FIG. 3, the configuration of the memory cell array 1 and the address decoder 2 excluding the write data control circuit 3 is the same as the configuration of FIG.

次に、このような構成からなる実施形態の動作例について、図面を参照しながら説明す
る。
この実施形態では、メモリセルアレイ1の初期データ記憶領域12のうち、図2に示す
ように、OTP領域12aには初期データD0〜D3として例えば「0100」を予め書
き込んでおく。また、これに対応して、図3に示すように、データ選択出力回路32−0
〜32−3に入力される固定データとして、その入力端子Aに「1」、「0」、「1」、
「1」を予めそれぞれ設定しておくものとする。従って、初期データと固定データとは、
異なる値である。
Next, an operation example of the embodiment having such a configuration will be described with reference to the drawings.
In this embodiment, as shown in FIG. 2 in the initial data storage area 12 of the memory cell array 1, for example, “0100” is written in advance as the initial data D0 to D3 in the OTP area 12a. Corresponding to this, as shown in FIG. 3, the data selection output circuit 32-0
To fixed data to be input to 32-3, "1", "0", "1",
It is assumed that “1” is set in advance. Therefore, initial data and fixed data are
It is a different value.

一方、図2のROM領域12bには、初期データD4〜D8として例えば「1010」
を予め書き込んでおくものとする。また、これに対応して、データ選択出力回路32−4
〜32−8に入力される固定データとして、その入力端子Aに「1」、「0」、「1」、
「0」を予め設定しておくものとする。従って、初期データと固定データとは、同じ値で
ある。
On the other hand, in the ROM area 12b of FIG. 2, for example, “1010” as the initial data D4 to D8.
Is written in advance. Correspondingly, the data selection output circuit 32-4
To 32-8 as fixed data, "1", "0", "1",
It is assumed that “0” is set in advance. Therefore, the initial data and the fixed data have the same value.

このような設定の下で、メモリセルアレイ1の所望のアドレスに対してデータを書き込
む場合について説明する。
まず、アドレス比較回路31は、入力アドレスがメモリセルアレイ1の初期データ記憶
領域12のアドレスであるn番地と一致するか否かを判定し、両者が一致する場合には一
致信号を出力し、両者が一致しない場合には不一致信号を出力する。
A case where data is written to a desired address in the memory cell array 1 under such settings will be described.
First, the address comparison circuit 31 determines whether or not the input address matches the address n which is the address of the initial data storage area 12 of the memory cell array 1, and outputs a match signal if both match, If they do not match, a mismatch signal is output.

データ選択出力回路32−0〜32−7は、アドレス比較回路31から不一致信号が出
力される場合には、外部からの入力データD0〜D7をデータ入力回路4に出力する。デ
ータ入力回路4は、アドレスデコーダ2で選択されるメモリセルアレイ1の不揮発性メモ
リセルに入力データD0〜D7を書き込む。
一方、データ選択出力回路32−0〜32−7は、アドレス比較回路31から一致信号
が出力される場合には、その入力端子Aにそれぞれ設定されている各固定データをデータ
入力回路4に出力する。データ入力回路4は、アドレスデコーダ2で選択される初期デー
タ記憶領域12に、その各固定データをデータD0〜D7としてを書き込む(図2参照)
The data selection output circuits 32-0 to 32-7 output external input data D0 to D7 to the data input circuit 4 when a mismatch signal is output from the address comparison circuit 31. The data input circuit 4 writes the input data D0 to D7 to the nonvolatile memory cells of the memory cell array 1 selected by the address decoder 2.
On the other hand, when the coincidence signal is output from the address comparison circuit 31, the data selection output circuits 32-0 to 32-7 output each fixed data set to the input terminal A to the data input circuit 4. To do. The data input circuit 4 writes the fixed data as data D0 to D7 in the initial data storage area 12 selected by the address decoder 2 (see FIG. 2).
.

ここで、上記のように、OTP領域12aには、初期データD0〜D3として例えば「
0100」が予め書き込まれ、これに対応して、選択出力回路32−0〜32−3に入力
される固定データとして、その初期データD0〜D3とは異なる「1」「0」「1」「1
」がそれぞれ予め設定されている。
一方、ROM領域12bには初期データD4〜D8として例えば「1010」が予め書
き込まれ、これに対応して、選択出力回路32−4〜32−8に入力される固定データと
して、その初期データD4〜D8と同じである「1」「0」「1」「0」がそれぞれ予め
設定されている。
Here, as described above, in the OTP area 12a, for example, "initial data D0 to D3"
"0100" is written in advance, and corresponding to this, as fixed data inputted to the selection output circuits 32-0 to 32-3, "1", "0", "1", "1", which are different from the initial data D0 to D3. 1
"Is set in advance.
On the other hand, for example, “1010” is written in advance as the initial data D4 to D8 in the ROM area 12b, and corresponding to this, the initial data D4 as fixed data input to the selection output circuits 32-4 to 32-8. “1”, “0”, “1”, and “0”, which are the same as those of .about.D8, are preset.

このため、OTP領域12aは、予め書き込んである初期データ「0100」を、それ
とは異なり、予め設定してある固定データ「1011」に1度だけ書き換えることができ
る。そして、以後、OTP領域12aは、外部の入力データに書き換えようとしても、そ
の固定データに書き換わり、OTP機能を有することになる。
一方、ROM領域12bは、書き換えの際に、予め書き込んである初期データ「101
0」が、それと同じであって、予め設定してある固定データ「1010」に書き換わる。
従って、ROM領域12bは、外部の入力データに書き換えようとしても、初期データの
内容と同じデータに書き換わり、ROM機能を有することになる。
For this reason, in the OTP area 12a, the initial data “0100” written in advance can be rewritten only once with the fixed data “1011” set differently. Thereafter, even if the OTP area 12a is rewritten to external input data, the OTP area 12a is rewritten to the fixed data and has an OTP function.
On the other hand, the ROM area 12b stores the initial data “101” written in advance at the time of rewriting.
“0” is the same as that and is rewritten to the preset fixed data “1010”.
Therefore, even if the ROM area 12b is rewritten to external input data, the ROM area 12b is rewritten with the same data as the contents of the initial data and has a ROM function.

次に、メモリセルアレイ1の所望のアドレスから、データを読み出す場合について説明
する。
この場合には、アドレスデコーダ2は、アドレス入力信号を受けて、メモリセルアレイ
1の中の不揮発性メモリセルを選択する。すると、データ出力回路5は、アドレスデコー
ダ2で選択されるメモリセルアレイ1の不揮発性メモリセルに書き込まれている8ビット
のデータD0〜D7を読み出す(図2参照)。
Next, a case where data is read from a desired address in the memory cell array 1 will be described.
In this case, the address decoder 2 receives the address input signal and selects a nonvolatile memory cell in the memory cell array 1. Then, the data output circuit 5 reads 8-bit data D0 to D7 written in the nonvolatile memory cell of the memory cell array 1 selected by the address decoder 2 (see FIG. 2).

以上説明したように、この実施形態によれば、不揮発性メモリのメモリセルアレイ(メ
モリ領域)の一部についてOTP機能やROM機能を実現する場合に、回路構成の簡易化
および回路規模の小型化を図ってコストの低減化を実現でき、かつ、動作の安定化を実現
できる。
次に、本発明に係る実施形態の応用例について説明する。
As described above, according to this embodiment, when the OTP function and the ROM function are realized for a part of the memory cell array (memory area) of the nonvolatile memory, the circuit configuration is simplified and the circuit scale is reduced. As a result, the cost can be reduced and the operation can be stabilized.
Next, application examples of the embodiment according to the present invention will be described.

この実施形態は、上記のように、OTP領域12aには、初期データが予め書き込まれ
、これに対応して選択出力回路32−0〜32−3ではその初期データとは異なる固定デ
ータが予め設定できるようにした。
そこで、このような機能を有する実施形態を、高級な機能の第1回路と低級な機能の第
2回路とを有し、その両回路をスイッチの切り換えにより選択的に使用できる電子機器に
適用する場合について説明する。
In this embodiment, as described above, initial data is written in advance in the OTP area 12a, and corresponding fixed data different from the initial data is preset in the selection output circuits 32-0 to 32-3. I was able to do it.
Therefore, the embodiment having such a function is applied to an electronic apparatus that has a first circuit having a high-level function and a second circuit having a low-level function, and that both circuits can be selectively used by switching a switch. The case will be described.

この場合には、OTP領域12aには、初期データとして、高級な機能の第1回路を選
択するためのデータを予め書き込んでおく。これに対応して、データ選択出力回路32−
0〜32−3には、固定データとして低級な機能の第2回路を選択するためのデータを予
め設定しておく。
このようにデータを書き込み、設定すると、高級機能の第1回路を使用するように処理
された電子機器では、そのOTP領域12aに書き込んである初期データを使用して、そ
の第1回路を使用できる。
In this case, in the OTP area 12a, data for selecting the first circuit having a high-level function is written in advance as initial data. In response to this, the data selection output circuit 32-
In 0 to 32-3, data for selecting a second circuit having a lower function as fixed data is set in advance.
When data is written and set in this manner, an electronic device processed so as to use the first circuit of the high-level function can use the first circuit by using the initial data written in the OTP area 12a. .

一方、低級機能の第2回路を使用するように処理された電子機器では、そのOTP領域
12aに書き込んである初期データを設定してある固定データに書き換え、その書き換え
た固定データを使用してその第2回路を使用できる。
このため、電子機器のメーカは、出荷時に、その電子機器について高級機能の第1回路
と低級機能の第2回路との使用を選択的に設定できる。しかし、その電子機器のユーザは
、低級機能の第2回路を使用するように設定されている場合には、高級機能の第1回路を
不正に使用できない。
On the other hand, in the electronic device processed so as to use the second circuit having the lower function, the initial data written in the OTP area 12a is rewritten to the set fixed data, and the rewritten fixed data is used. A second circuit can be used.
For this reason, the manufacturer of the electronic device can selectively set the use of the first circuit having the high-level function and the second circuit having the low-level function for the electronic device at the time of shipment. However, if the user of the electronic device is set to use the second circuit having the lower function, the user cannot use the first circuit having the higher function illegally.

また、本発明に係る実施形態は、ROM領域12bには初期データを予め書き込み、こ
れに対応して、データ選択出力回路32−4〜32−8ではその初期データと同じである
固定データが予め設定できるようにした。
そこで、このような機能を有する実施形態は、ユーザが使用する場合にユーザIDを必
要とする電子機器に適用することができる。
In the embodiment according to the present invention, initial data is written in the ROM area 12b in advance, and in response to this, fixed data that is the same as the initial data is stored in advance in the data selection output circuits 32-4 to 32-8. Enabled to set.
Therefore, an embodiment having such a function can be applied to an electronic device that requires a user ID when used by a user.

この場合には、ROM領域12bには、初期データとしてユーザIDを予め書き込んで
おく。これに対応して、データ選択出力回路32−4〜32−7には、固定データとして
同じユーザIDを予め設定しておく。
このようにすれば、電子機器をユーザが使用する際に、その電子機器に入力されるユー
ザIDを、書き込んであるユーザIDと比較して使用することができる。
In this case, a user ID is written in advance in the ROM area 12b as initial data. Correspondingly, the same user ID is previously set as fixed data in the data selection output circuits 32-4 to 32-7.
In this way, when the user uses the electronic device, the user ID input to the electronic device can be used in comparison with the written user ID.

本発明の実施形態の概略な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the schematic structure of embodiment of this invention. メモリセルアレイの記憶領域を模式的に説明する図である。It is a figure which illustrates typically the storage area of a memory cell array. 本発明の実施形態の詳細な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the detailed structure of embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・メモリセルアレイ、2・・・アドレスデコーダ、3・・・書き込みデータ制御
回路、4・・・データ入力回路、5・・・データ出力回路、12・・・初期データ記憶領
域、12a・・・OTP領域、12b・・・ROM領域、31・・・アドレス比較回路、
32−0〜32−7・・・データ選択出力回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Memory cell array, 2 ... Address decoder, 3 ... Write data control circuit, 4 ... Data input circuit, 5 ... Data output circuit, 12 ... Initial data storage area, 12a ..OTP area, 12b ... ROM area, 31 ... address comparison circuit,
32-0 to 32-7 ... Data selection output circuit

Claims (5)

電気的にデータを書き換え可能な複数の不揮発性メモリセルが配列されたメモリセルア
レイを有する不揮発性メモリにおいて、
前記メモリセルアレイは、その一部の不揮発性メモリセルを任意の初期データを予め書
き込んでおく初期データ記憶領域に割り当てるようにし、
データを書き込むために入力される書き込み領域が前記初期データ記憶領域と一致する
か否かを判定し、両者が一致しない場合には前記書き込み領域に対して入力データを書き
込み、一方、両者が一致する場合には前記初期データ記憶領域に対して予め設定されてい
る固定データを書き込むデータ書き込み手段を備えていることを特徴とする不揮発性メモ
リ。
In a nonvolatile memory having a memory cell array in which a plurality of nonvolatile memory cells capable of electrically rewriting data are arranged,
The memory cell array allocates some nonvolatile memory cells to an initial data storage area in which arbitrary initial data is written in advance,
It is determined whether or not a write area that is input to write data matches the initial data storage area. If the two do not match, the input data is written to the write area, while both match. In some cases, the nonvolatile memory includes data writing means for writing fixed data set in advance in the initial data storage area.
前記データ書き込み手段は、
入力アドレスが前記初期データ記憶領域のアドレスと一致するか否かを判定し、両者が
一致する場合には一致信号を出力し、両者が一致しない場合には不一致信号を出力するア
ドレス比較回路と、
前記アドレス比較回路から不一致信号が出力される場合には外部からの入力データを、
他方、前記アドレス比較回路から一致信号が出力される場合には予め設定されている固定
データを、選択的に出力するデータ選択出力回路と、
前記データ選択出力回路から前記入力データが出力される場合には、その入力データを
入力アドレスで特定される不揮発性メモリセルに書き込み、前記データ選択出力回路から
前記固定データが出力される場合には、その固定データを前記初期データ記憶領域の不揮
発性メモリセルに書き込むデータ入力回路と、
を有することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリ。
The data writing means includes
An address comparison circuit that determines whether or not the input address matches the address of the initial data storage area, outputs a match signal if both match, and outputs a mismatch signal if both do not match,
When a mismatch signal is output from the address comparison circuit, input data from the outside,
On the other hand, when a coincidence signal is output from the address comparison circuit, a data selection output circuit that selectively outputs preset fixed data;
When the input data is output from the data selection output circuit, the input data is written to a nonvolatile memory cell specified by an input address, and when the fixed data is output from the data selection output circuit. A data input circuit for writing the fixed data into the nonvolatile memory cell of the initial data storage area;
The nonvolatile memory according to claim 1, further comprising:
前記初期データ記憶領域に予め書き込む任意の初期データと、この初期データに対応し
て予め設定する前記固定データとは、その内容が異なるようにしたことを特徴とする請求
項1または請求項2に記載の不揮発性メモリ。
3. The initial data written in the initial data storage area in advance and the fixed data set in advance corresponding to the initial data have different contents. Non-volatile memory as described.
前記初期データ記憶領域に予め書き込む任意の初期データと、この初期データに対応し
て予め設定する前記固定データとは、その内容が同じになるようにしたことを特徴とする
請求項1または請求項2に記載の不揮発性メモリ。
2. The arbitrary data written in advance in the initial data storage area and the fixed data set in advance corresponding to the initial data have the same contents. The non-volatile memory according to 2.
前記初期データ記憶領域は、第1の記憶領域と第2の記憶領域とに分割し、
前記第1の記憶領域に予め書き込む任意の初期データと、この初期データに対応して予
め設定する前記固定データとはその内容が異なるようにし、
前記第2の記憶領域に予め書き込む任意の初期データと、この初期データに対応して予
め設定する前記固定データとはその内容が同じになるようにしたことを特徴とする請求項
1または請求項2に記載の不揮発性メモリ。
The initial data storage area is divided into a first storage area and a second storage area;
Arbitrary initial data written in advance in the first storage area and the fixed data set in advance corresponding to the initial data have different contents,
2. The arbitrary initial data written in advance in the second storage area and the fixed data set in advance corresponding to the initial data have the same contents. The non-volatile memory according to 2.
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