JP2007119839A - Method for forming deposition film - Google Patents

Method for forming deposition film Download PDF

Info

Publication number
JP2007119839A
JP2007119839A JP2005313089A JP2005313089A JP2007119839A JP 2007119839 A JP2007119839 A JP 2007119839A JP 2005313089 A JP2005313089 A JP 2005313089A JP 2005313089 A JP2005313089 A JP 2005313089A JP 2007119839 A JP2007119839 A JP 2007119839A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cylindrical
deposited film
deposition rate
film forming
discharge electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005313089A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junichiro Hashizume
淳一郎 橋爪
Tatsuji Okamura
竜次 岡村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2005313089A priority Critical patent/JP2007119839A/en
Publication of JP2007119839A publication Critical patent/JP2007119839A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a deposition film, which reduces a production cost without sacrificing electrical characteristics and can stably produce the film in a high yield. <P>SOLUTION: An apparatus for forming the deposition film has a plurality of cylindrical substrates 107 arranged on the same circumference in a reaction vessel 100 and a discharge electrode 101 installed so as to surround a plurality of the cylindrical substrates 107. The method for forming the deposition film on a plurality of the cylindrical substrates 107 by using the film-forming apparatus and applying a high-frequency power includes setting a deposition rate on the surface of the cylindrical substrate 107 so that a deposition rate on a plane (position A) which faces to the center of a central space 111 surrounded by a plurality of the cylindrical substrates 107 has a ratio of 5% to 30% (both inclusive) with respect to a deposition rate on the plane (position B) which faces to the discharge electrode. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、グロー放電プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって基体上に堆積膜を形成する装置および方法と、電子写真感光体に関する。とりわけ、本発明は機能性膜、特に半導体デバイス、電子写真用感光体、画像入力用ラインセンサー、撮影デバイス、光起電力デバイス等に用いられる堆積膜の形成方法に関する。   The present invention relates to an apparatus and method for forming a deposited film on a substrate by glow discharge plasma CVD (Chemical Vapor Deposition), and an electrophotographic photosensitive member. In particular, the present invention relates to a method for forming a functional film, particularly a deposited film used for a semiconductor device, an electrophotographic photoreceptor, an image input line sensor, a photographing device, a photovoltaic device, and the like.

従来、電子写真感光体に用いられる素子部材を、セレン、硫化カドミニウム、酸化亜鉛、フタロシアニン、アモルファスシリコン(以下「a−Si」と記す)等の各種材料から構成する技術が提案されている。中でもa−Siに代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶質堆積膜、例えば水素および/またはハロゲン(例えばフッ素や塩素等)で補償されたa−Si等のアモルファス堆積膜が提案されている。このようなアモルファス堆積膜は、高性能、高耐久、無公害な感光体であり、実用化されているものもある。このような堆積膜の形成法として、従来、スパッタリング法、熱により原料ガスを分解する熱CVD法、光により原料ガスを分解する光CVD法、プラズマにより原料ガスを分解するプラズマCVD法等、多数の方法が知られている。プラズマCVD法では、原料ガスを直流または高周波(RFやVHF)やマイクロ波などのグロー放電等によって分解し、ガラス、石英、耐熱性合成樹脂フィルム、ステンレス、アルミニウム等の導電性基体上に薄膜状堆積膜を形成する。このプラズマCVD法は、電子写真用a−Si堆積膜の形成方法等において、現在実用化が非常に進んでおり、そのための装置も多数提案されている。   Conventionally, there has been proposed a technique in which an element member used for an electrophotographic photosensitive member is composed of various materials such as selenium, cadmium sulfide, zinc oxide, phthalocyanine, and amorphous silicon (hereinafter referred to as “a-Si”). In particular, non-single crystalline deposited films containing silicon atoms as a main component typified by a-Si, for example, amorphous deposited films such as a-Si compensated with hydrogen and / or halogen (such as fluorine and chlorine) have been proposed. ing. Such an amorphous deposited film is a high-performance, high-durability, non-polluting photoconductor, and some have been put into practical use. As a method for forming such a deposited film, there are a number of conventional methods such as sputtering, thermal CVD for decomposing source gas by heat, photo-CVD for decomposing source gas by light, and plasma CVD for decomposing source gas by plasma. The method is known. In the plasma CVD method, a raw material gas is decomposed by glow discharge such as direct current or high frequency (RF or VHF) or microwave, and is formed into a thin film on a conductive substrate such as glass, quartz, heat-resistant synthetic resin film, stainless steel or aluminum. A deposited film is formed. This plasma CVD method is currently in practical use in a method for forming an a-Si deposited film for electrophotography, and many apparatuses have been proposed.

例えば、以下に記載する光導電層の上に表面保護層が設けられた光導電部材が知られている。この光導電部材の光導電層は、シリコン原子を主体とし、水素原子またはハロゲン原子の少なくともいずれか一方を含むアモルファス材料で構成されている。そして、表面保護層は、シリコン原子および炭素原子を母体とし、水素原子を含む非光導電性のアモルファス材料で構成されている。   For example, a photoconductive member in which a surface protective layer is provided on a photoconductive layer described below is known. The photoconductive layer of the photoconductive member is made of an amorphous material mainly containing silicon atoms and containing at least one of hydrogen atoms and halogen atoms. The surface protective layer is made of a non-photoconductive amorphous material containing silicon atoms and carbon atoms as a base and containing hydrogen atoms.

これらの従来の技術によりa−Si等からなる堆積膜を形成する方法は、例えば次のように行われる。   A method of forming a deposited film made of a-Si or the like by these conventional techniques is performed as follows, for example.

図5は、電子写真感光体を作成するために供される、13.56MHzの高周波電源を用いたRFプラズマCVD法を行う堆積膜形成装置の一例(特許文献1参照)を模式的に示している。   FIG. 5 schematically shows an example of a deposited film forming apparatus (see Patent Document 1) that performs an RF plasma CVD method using a 13.56 MHz high-frequency power source, which is provided for producing an electrophotographic photosensitive member. Yes.

この堆積膜形成装置は、反応容器401と、反応容器401内を減圧するための排気装置408から構成されている。反応容器401内には、アースに接続された導電性受け台407の上に円筒状基体402が設置され、さらに円筒状基体402のための基体加熱ヒーター403と、原料ガス導入管405が設置されている。また、導電性材料からなる放電電極406が設置され、絶縁碍子413によって絶縁されている。放電電極406にはマッチングボックス411を介して13.56MHzの高周波電源412が接続されている。   This deposited film forming apparatus includes a reaction vessel 401 and an exhaust device 408 for depressurizing the inside of the reaction vessel 401. In the reaction vessel 401, a cylindrical substrate 402 is installed on a conductive pedestal 407 connected to ground, and further, a substrate heater 403 for the cylindrical substrate 402 and a source gas introduction pipe 405 are installed. ing. In addition, a discharge electrode 406 made of a conductive material is provided and insulated by an insulator 413. A high frequency power supply 412 of 13.56 MHz is connected to the discharge electrode 406 via a matching box 411.

不図示の原料ガス供給手段を構成する各ボンベは、原料ガス導入バルブ409を介して反応容器401内のガス導入管405に接続されている。   Each cylinder constituting source gas supply means (not shown) is connected to a gas introduction pipe 405 in the reaction vessel 401 via a source gas introduction valve 409.

以下、図5の装置を用いた、従来の電子写真感光体の形成方法の一例について説明する。   Hereinafter, an example of a conventional method for forming an electrophotographic photoreceptor using the apparatus of FIG. 5 will be described.

例えば旋盤を用いて表面に鏡面加工を施した円筒状基体402を、反応容器401内の基体加熱ヒーター403を取り囲むように導電性受け台407に取り付ける。   For example, a cylindrical substrate 402 whose surface is mirror-finished using a lathe is attached to the conductive cradle 407 so as to surround the substrate heater 403 in the reaction vessel 401.

次に、メインバルブ415を開いて反応容器401および原料ガス導入管405内を排気する。真空計410の読みが0.67Pa以下になった時点で原料ガス導入バルブ409を開き、加熱用の不活性ガス、一例としてアルゴンを原料ガス導入管405より反応容器401に導入する。そして、反応容器401内が所望の圧力になるように加熱用の不活性ガスの流量と、メインバルブ415の開口あるいは排気装置408の排気速度を調整する。その後、不図示の温度コントローラーを作動させて基体加熱ヒーター403により円筒状基体402を加熱し、円筒状基体402の温度を20℃〜500℃の所望の温度に制御する。円筒状基体402が所望の温度に加熱されたところで、不活性ガスを徐々に止めると同時に、成膜用の所定の原料ガスを反応容器401内に徐々に導入する。原料ガスは、例えば、SiH4,Si26,CH4,C26などの材料ガスや、B26,PH3などのドーピングガスであり、不図示のガス供給手段により混合された後に、反応容器401内に導入される。次に、不図示のマスフローコントローラーによって、原料ガスが所定の流量になるように調整する。その際に、反応容器401内を0.1Paから数百Paの圧力に維持するように、真空計410を見ながらメインバルブ415の開口あるいは排気装置408の排気速度を調整する。 Next, the main valve 415 is opened to evacuate the reaction vessel 401 and the source gas introduction pipe 405. When the reading of the vacuum gauge 410 becomes 0.67 Pa or less, the source gas introduction valve 409 is opened, and an inert gas for heating, for example, argon is introduced into the reaction vessel 401 from the source gas introduction tube 405. Then, the flow rate of the inert gas for heating and the opening of the main valve 415 or the exhaust speed of the exhaust device 408 are adjusted so that the inside of the reaction vessel 401 has a desired pressure. Thereafter, a temperature controller (not shown) is operated to heat the cylindrical substrate 402 by the substrate heater 403, and the temperature of the cylindrical substrate 402 is controlled to a desired temperature of 20 ° C to 500 ° C. When the cylindrical substrate 402 is heated to a desired temperature, the inert gas is gradually stopped, and at the same time, a predetermined source gas for film formation is gradually introduced into the reaction vessel 401. Raw material gas is, for example, the material gas or the like SiH 4, Si 2 H 6, CH 4, C 2 H 6, a doping gas such as B 2 H 6, PH 3, is mixed by the gas supply means (not shown) After that, it is introduced into the reaction vessel 401. Next, the raw material gas is adjusted to a predetermined flow rate by a mass flow controller (not shown). At that time, the opening of the main valve 415 or the exhaust speed of the exhaust device 408 is adjusted while looking at the vacuum gauge 410 so that the pressure in the reaction vessel 401 is maintained at 0.1 Pa to several hundreds Pa.

以上の手順によって成膜準備を完了した後、円筒状基体402上に光導電層の形成を行なう。内圧が安定したのを確認した後に、高周波電源412を所望の電力に設定して高周波電力を放電電極406に供給し高周波グロー放電を生起させる。このときマッチングボックス411を調整して、反射波が最小となるようにし、高周波の入射電力から反射電力を差し引いた実効値を所望の値にする。この放電エネルギーによって、反応容器401内に導入した原料ガスが分解され、円筒状基体402上に所定の堆積膜が形成される。なお、膜形成を行っている間は円筒状基体402を駆動装置(不図示)によって所定の速度で回転させてもよい。所望の膜厚の堆積膜の形成が行われた後に、高周波電力の供給を止め、反応容器401への原料ガスの流入を止めて反応容器401内を一旦高真空に引き上げてから堆積膜形成工程を終える。前記した操作を繰り返し行うことによって、光導電層を形成する。   After completing the film formation preparation by the above procedure, a photoconductive layer is formed on the cylindrical substrate 402. After confirming that the internal pressure is stable, the high-frequency power source 412 is set to a desired power and high-frequency power is supplied to the discharge electrode 406 to cause a high-frequency glow discharge. At this time, the matching box 411 is adjusted so that the reflected wave is minimized, and the effective value obtained by subtracting the reflected power from the high frequency incident power is set to a desired value. With this discharge energy, the source gas introduced into the reaction vessel 401 is decomposed, and a predetermined deposited film is formed on the cylindrical substrate 402. During film formation, the cylindrical substrate 402 may be rotated at a predetermined speed by a driving device (not shown). After the deposition film having a desired thickness is formed, the supply of the high frequency power is stopped, the flow of the raw material gas into the reaction vessel 401 is stopped, the inside of the reaction vessel 401 is once raised to a high vacuum, and then the deposition film forming step Finish. The photoconductive layer is formed by repeating the above operation.

本発明のa−Si系の表面保護層を形成する場合にも、必要となる原料ガスが変わるだけで、前記したのと同様の手順で行うことができる。   Even when the a-Si-based surface protective layer of the present invention is formed, the same procedure as described above can be performed only by changing the necessary source gas.

これらの技術により、電気的、光学的、および光導電率的特性が向上し、さらに、画像品位の向上も可能になっている。
特開平10−63024号公報 特開昭60−168156号公報 特開昭60−178457号公報 特開昭60−225854号公報 特開昭61−231561号公報
These techniques improve electrical, optical, and photoconductivity characteristics, and further improve image quality.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-63024 JP 60-168156 A JP-A-60-178457 JP-A-60-225854 JP-A-61-231561

このような従来の堆積膜形成方法および装置により、ある程度実用的な特性と均一性を持つ堆積膜を得ることが可能になった。特に、プラズマCVD法による成膜方法の中でも、高周波電力としてRF帯を用いるRFプラズマCVD法は、良好な特性の膜を容易に得られるという特徴があるため、a−Siを用いた電子写真感光体の製造などに広く用いられている。   With such a conventional deposited film forming method and apparatus, a deposited film having practical characteristics and uniformity to some extent can be obtained. In particular, the RF plasma CVD method using the RF band as the high frequency power among the film formation methods by the plasma CVD method has a feature that a film having good characteristics can be easily obtained. Therefore, the electrophotographic photosensitive film using a-Si is used. Widely used in body production.

しかし、近年、電子写真装置において、市場からの要求スペックが年々厳しくなり、さらなる高画質化、高速化、高耐久性、高機能化が求められるのみならず、本体価格やランニングコストの低減を図る価格競争も激化している。これに伴って、a−Siを用いた電子写真感光体にも従来のような電気特性の向上や画像品質の向上にとどまらず、よりコストの低い、安価な部材が要求されるようになってきた。   However, in recent years, demands from the market for electrophotographic apparatuses have become stricter year by year, and not only higher image quality, higher speed, higher durability, and higher functionality are required, but also the cost of the main body and running cost are reduced. Price competition is also intensifying. As a result, electrophotographic photoreceptors using a-Si are required not only to improve electrical characteristics and image quality as in the past, but also to lower-cost and inexpensive members. It was.

ところが、a−Siを用いた電子写真感光体は、a−Siの誘電率の高さゆえに、充分な帯電能を得るためには厚膜にせざるを得ず、場合によっては10μm〜100μmもの厚さを有する堆積膜を形成しなければならない。しかし、RFプラズマCVD法を用いた製造方法では、堆積速度を速くすることが難しいため、成膜工程に長時間を要し、生産コストが上昇しがちであった。   However, an electrophotographic photosensitive member using a-Si has to have a thick film in order to obtain sufficient charging ability because of the high dielectric constant of a-Si, and in some cases, the thickness is 10 μm to 100 μm. A deposited film having a thickness must be formed. However, in the manufacturing method using the RF plasma CVD method, since it is difficult to increase the deposition rate, the film forming process requires a long time, and the production cost tends to increase.

また、従来のプラズマCVD装置は、図5に示したとおり、同軸型の成膜装置が多く、この場合、円筒状基体402の周囲のプラズマ状態が対称であり、均一な膜厚および膜質が得られるというメリットがある。しかし、このプラズマCVD装置は、成膜炉1炉当たり1本の電子写真感光体しか得ることができず、成膜炉1台当たりの生産量がどうしても低くならざるを得ないというデメリットもある。   In addition, as shown in FIG. 5, the conventional plasma CVD apparatus has many coaxial film forming apparatuses. In this case, the plasma state around the cylindrical substrate 402 is symmetrical, and a uniform film thickness and film quality can be obtained. There is a merit that However, this plasma CVD apparatus can obtain only one electrophotographic photosensitive member per one film-forming furnace, and there is a demerit that the production amount per one film-forming furnace inevitably becomes low.

従来、成膜炉1台当たりの生産量を増やす一つの試みとして、堆積速度の向上が検討されてきた。しかし、堆積速度を速めるとどうしても堆積膜の膜質が低下してしまい、電子写真感光体としての特性が劣化するという、生産能力と特性のトレードオフが発生し、充分に満足する結果が得られていないのが現状であった。   Conventionally, improvement of the deposition rate has been studied as one attempt to increase the production amount per film forming furnace. However, if the deposition rate is increased, the film quality of the deposited film will inevitably deteriorate, and the characteristics as an electrophotographic photosensitive member will deteriorate, resulting in a tradeoff between production capacity and characteristics, and satisfactory results have been obtained. There was no current situation.

そこで本発明の目的は、前記した従来の電子写真感光体における諸問題を解決し、具体的には電気的特性を犠牲にすることなく製造コストを下げ、かつ歩留まりよく安定して製造し得る堆積膜形成方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the problems in the conventional electrophotographic photosensitive member described above, and specifically to reduce the manufacturing cost without sacrificing the electrical characteristics, and to achieve a stable production with a high yield. It is to provide a film forming method.

本発明の特徴は、減圧可能な反応容器と、反応容器内部にて同一円周上に配置された複数の円筒状基体と、原料ガス導入手段と、複数の円筒状基体を取り囲むように設置された放電電極とを用い、放電電極に高周波電力を印加し、反応容器内にグロー放電を発生させることにより、反応容器内に導入された原料ガスを分解し、複数の円筒状基体上に堆積膜を形成する堆積膜形成方法において、円筒状基体の表面での堆積速度を、放電電極と対向する面での堆積速度に対する、複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積速度の比が5%以上かつ30%以下となるように設定するところにある。   A feature of the present invention is that a reaction vessel capable of depressurization, a plurality of cylindrical substrates disposed on the same circumference inside the reaction vessel, a raw material gas introducing means, and a plurality of cylindrical substrates are disposed so as to surround the plurality of cylindrical substrates. The discharge gas is applied to the discharge electrode, high-frequency power is applied to the discharge electrode, and glow discharge is generated in the reaction vessel, so that the raw material gas introduced into the reaction vessel is decomposed and deposited on a plurality of cylindrical substrates. The deposition rate on the surface of the cylindrical substrate is set to a surface facing the center of the central space surrounded by the plurality of cylindrical substrates with respect to the deposition rate on the surface facing the discharge electrode. The deposition rate ratio is set to be 5% or more and 30% or less.

本発明によると、電気的特性を犠牲にすることなく製造コストを下げ、歩留まりよく安定して製造し得る、堆積膜形成方法を提供することが可能である。   According to the present invention, it is possible to provide a method for forming a deposited film that can be manufactured stably with a high yield without reducing the manufacturing cost without sacrificing the electrical characteristics.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

まず、本発明に至った経緯について説明する。本発明者らは前記した目的を達成すべく鋭意検討を行った結果、従来の同軸型の堆積膜形成装置の考え方を捨て、複数の円筒状基体を同一円周上に等間隔に配置し、その円筒状基体を取り囲む放電電極を設置した構成の堆積膜形成装置を考えた。この堆積膜形成装置では、放電電極に高周波電力を印加して、円筒状基体と放電電極の間にグロー放電を発生させることにより、一回の成膜で多数の電子写真感光体を製造できる。この場合、成膜装置1台当たりの感光体の製造数量が大幅に増加するため、結果的に大幅なコストダウンが見込める。   First, the background to the present invention will be described. As a result of diligent studies to achieve the above-mentioned object, the present inventors abandoned the idea of the conventional coaxial-type deposited film forming apparatus, and arranged a plurality of cylindrical substrates at equal intervals on the same circumference, A deposited film forming apparatus having a configuration in which a discharge electrode surrounding the cylindrical substrate is installed was considered. In this deposited film forming apparatus, a large number of electrophotographic photosensitive members can be produced by a single film formation by applying a high frequency power to the discharge electrode to generate a glow discharge between the cylindrical substrate and the discharge electrode. In this case, since the number of photoconductors manufactured per film forming apparatus is greatly increased, a significant cost reduction can be expected as a result.

ところが、実際に実験を行ってみると、得られた電子写真感光体の電気特性は、何れも同軸型の堆積膜形成装置(1本取り炉)で得られた感光体より劣っており、それと同等の特性を得るのは難しいことが判明した。この原因を探るために、円筒状基体を静止した状態で成膜を行い、周方向の特性のムラを調べた。その結果、反応容器の外側に向いた面、すなわち放電電極と対向する面での堆積膜の特性は、同軸型の1本取り炉の場合と同等かそれ以上の良好な結果が得られた。しかし、反応容器の内側に向いた面、すなわち円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積膜の特性は、同軸型の1本取り炉の場合に比べてかなり劣っていることが判明した。この堆積膜形成装置では、放電電極に高周波電力を印加しており、その放電電極の対向電極として機能しているのは内部に設置された複数の円筒状基体である。つまり、円筒状基体の、放電電極と対向する表面には十分な高周波電界が働いており、良好な膜質の堆積膜が形成される。しかし、その反対側の表面、すなわち円筒状基体に囲まれた中央空間に面する領域には、放電電極からの高周波電力が充分に働いておらず、弱電界になる。そのため、原料ガスの分解および励起が不充分になり、堆積膜の膜特性が悪化したものと想像される。   However, when an experiment is actually performed, the electrical characteristics of the obtained electrophotographic photosensitive member are inferior to those of the photosensitive member obtained by the coaxial deposited film forming apparatus (single-removal furnace). It turned out to be difficult to obtain equivalent characteristics. In order to investigate the cause, film formation was performed with the cylindrical substrate stationary, and the unevenness in the characteristics in the circumferential direction was examined. As a result, the characteristics of the deposited film on the surface facing the outer side of the reaction vessel, that is, the surface facing the discharge electrode, were the same as or better than those of the coaxial single furnace. However, the characteristics of the deposited film on the surface facing the inner side of the reaction vessel, that is, the surface facing the center of the central space surrounded by the cylindrical substrate, are considerably inferior to those of the coaxial single furnace. Turned out to be. In this deposited film forming apparatus, high-frequency power is applied to the discharge electrode, and a plurality of cylindrical substrates installed inside function as counter electrodes of the discharge electrode. That is, a sufficient high-frequency electric field acts on the surface of the cylindrical substrate facing the discharge electrode, and a deposited film having a good film quality is formed. However, the high-frequency power from the discharge electrode does not work sufficiently on the opposite surface, that is, the region facing the central space surrounded by the cylindrical base body, resulting in a weak electric field. Therefore, it is assumed that the decomposition and excitation of the source gas are insufficient and the film characteristics of the deposited film are deteriorated.

本発明者らは、この問題を解決する方法として、円筒状基体に囲まれた空間に面する領域で堆積する堆積膜の付着量をできるだけ減らせばよいのではないかと考えた。すなわち、同一円周上に等間隔に設置された複数の円筒状基体同士の間隔を接近させ、プラズマが内側(中央空間側)に回り込まないようにすることを考えた。その結果、放電電極に対向する面での堆積速度に比べて、円筒状基体に囲まれた中央空間に面した領域での堆積速度をかなり低くすることができた。   As a method for solving this problem, the present inventors have thought that the adhesion amount of the deposited film deposited in the region facing the space surrounded by the cylindrical substrate may be reduced as much as possible. That is, the inventors considered that the intervals between a plurality of cylindrical base bodies installed at equal intervals on the same circumference are made close to each other so that the plasma does not enter the inside (center space side). As a result, compared with the deposition rate on the surface facing the discharge electrode, the deposition rate in the region facing the central space surrounded by the cylindrical substrate could be considerably reduced.

なお、「放電電極と対向する面での堆積速度」とは、複数の円筒状基体が周上に位置する円の中心点と円筒状基体の中心軸とを結んだ直線と、円筒状基体の、放電電極側の表面とが交わる点における堆積速度である。一方、「複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積速度」とは、前記した円の中心点と円筒状基体の中心軸とを結んだ直線と、円筒状基体の、放電電極と反対側の表面とが交わる点における堆積速度である。これは、「複数の円筒状基体に囲まれた中央空間に面した領域での堆積速度」と同じ意味であると言える。   The “deposition rate on the surface facing the discharge electrode” means that a straight line connecting the center point of a circle where a plurality of cylindrical substrates are located on the circumference and the central axis of the cylindrical substrate, and the cylindrical substrate The deposition rate at the point where the surface on the discharge electrode side intersects. On the other hand, “the deposition rate on the surface facing the center of the central space surrounded by a plurality of cylindrical substrates” means that the straight line connecting the center point of the circle and the central axis of the cylindrical substrate, and the cylindrical shape It is the deposition rate at the point where the surface of the substrate intersects with the surface opposite to the discharge electrode. This can be said to have the same meaning as “deposition rate in a region facing a central space surrounded by a plurality of cylindrical substrates”.

本発明では、円筒状基体の、放電電極と対向する面での堆積速度に対する、円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積速度の比と、電子写真感光体としての特性の関係を詳細に調べた。その結果、堆積速度の比を5%以上かつ30%以下とした場合に、同軸型の1本取り炉で得られた電子写真感光体と遜色のない特性の感光体が得られることが判明した。複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積速度の堆積速度を、放電電極と対向する面での堆積速度の30%以下とすることで、特性の劣った堆積膜の膜厚を薄くして、その実質的な影響をなくすことができる。しかし、それらの堆積速度の比を5%未満にすると、回転しながら成膜される円筒状基体のうち、複数の円筒状基体に囲まれた中央空間側に向いた部分にはほとんど堆積膜が付着せず、そこに明確な界面が形成されてしまう。このことは、特に膜厚方向にキャリアを走行させる電子写真感光体の場合に、走行特性に悪影響を与え、電子写真特性を悪化させるおそれがある。よって、本発明においては、堆積速度の比率を5%以上かつ30%以下、より好ましくは8%以上かつ20%以下にすることにより、良好な結果が得られる。   In the present invention, the ratio of the deposition rate on the surface facing the center of the central space surrounded by the cylindrical substrate to the deposition rate on the surface facing the discharge electrode of the cylindrical substrate, and the electrophotographic photosensitive member The relationship of characteristics was investigated in detail. As a result, it has been found that when the deposition rate ratio is 5% or more and 30% or less, a photoconductor having characteristics comparable to that of an electrophotographic photoconductor obtained in a coaxial single take-off furnace can be obtained. . Deposition with poor characteristics by setting the deposition rate of the deposition rate on the surface facing the center of the central space surrounded by a plurality of cylindrical substrates to 30% or less of the deposition rate on the surface facing the discharge electrode The film thickness can be reduced to eliminate its substantial effect. However, when the ratio of the deposition rates is less than 5%, the deposited film is almost entirely deposited on the portion of the cylindrical substrate formed while rotating and facing the central space surrounded by the plurality of cylindrical substrates. It does not adhere and a clear interface is formed there. This has an adverse effect on the running characteristics and may deteriorate the electrophotographic characteristics, particularly in the case of an electrophotographic photoreceptor in which carriers run in the film thickness direction. Therefore, in the present invention, good results can be obtained by setting the deposition rate ratio to 5% to 30%, more preferably 8% to 20%.

さらに、本発明者らは前記した構成とは逆に、複数の円筒状基体が周上に位置する円の中心に放電電極を設置した構成についても検討を行った。この場合、複数の円筒状基体によって取り囲まれた中央空間に放電を生起させることになる。この場合に得られた電子写真感光体の電気特性は、やはり同軸型の1本取り炉で得られた感光体よりも劣っていることが判明した。また、静止状態で成膜した堆積膜の周方向の特性むらは、円筒状基体の、中央空間に設置された放電電極と向き合っている部分の特性は良好であるものの、中央空間の外側に堆積した膜の膜質が劣っていることが判明した。そこで、前記したのと同様の考え方で、円筒状基体同士の間隔を狭めて外側に放電が漏れないようにして、膜質の劣っている膜が堆積しないようにした。しかしその場合にも、電子写真特性は完全には改善しなかった。   Furthermore, the present inventors also examined a configuration in which a discharge electrode is installed at the center of a circle in which a plurality of cylindrical substrates are located on the circumference, contrary to the configuration described above. In this case, a discharge is caused in the central space surrounded by the plurality of cylindrical substrates. The electrical characteristics of the electrophotographic photoreceptor obtained in this case were found to be inferior to those of the photoreceptor obtained in a coaxial single-removal furnace. Moreover, the unevenness in the circumferential direction of the deposited film formed in a stationary state is deposited on the outside of the central space, although the characteristics of the cylindrical substrate facing the discharge electrode installed in the central space are good. It was found that the quality of the obtained film was inferior. Therefore, in the same way as described above, the gap between the cylindrical substrates is narrowed so that the discharge does not leak to the outside so that a film with poor film quality is not deposited. However, even in that case, the electrophotographic characteristics were not completely improved.

この原因として、放電電極を、複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の内部に設けた場合に、複数の円筒状基体の外側に設置した場合よりも、円筒状基体の周方向において良好な特性の膜が堆積される割合が小さいことが考えられる。それによって、円筒状基体の回転時の平均の電子写真特性の低下が起きたものと考えられる。従って、良好な特性を有する電子写真感光体を低コストで生産するという本発明の目的には、複数の円筒状基体の外側に放電電極を設置する構成を取ることが望ましいことが分かった。   As a cause of this, when the discharge electrode is provided inside a central space surrounded by a plurality of cylindrical substrates, it is better in the circumferential direction of the cylindrical substrate than when it is installed outside the plurality of cylindrical substrates. It is conceivable that the rate at which the film having the characteristic is deposited is small. This is considered to have caused a decrease in average electrophotographic characteristics during rotation of the cylindrical substrate. Accordingly, it has been found that for the purpose of the present invention to produce an electrophotographic photosensitive member having good characteristics at a low cost, it is desirable to adopt a configuration in which discharge electrodes are provided outside a plurality of cylindrical substrates.

また、本発明は、マイクロ波プラズマCVD法やVHFプラズマCVD法といった、RF帯以外を用いたプラズマCVD法を用いた場合に比べて、RFプラズマCVD法を用いた場合に特に大きな効果が得られる。その詳細な理由は現在不明である。ただし、成膜中の内圧がRFプラズマCVD法では数十Pa〜数百Paであるのに対して、マイクロ波プラズマCVD法やVHFプラズマCVD法では数Paであり、この内圧の大きな相違が関係している可能性が考えられる。   In addition, the present invention has a particularly great effect when the RF plasma CVD method is used, compared to the case where the plasma CVD method using other than the RF band such as the microwave plasma CVD method and the VHF plasma CVD method is used. . The detailed reason is currently unknown. However, the internal pressure during film formation is several tens to several hundreds of Pa in the RF plasma CVD method, whereas it is several Pa in the microwave plasma CVD method and the VHF plasma CVD method. It is possible that

RFプラズマCVD法は、良好な特性の膜を容易に得られやすいという特徴がある反面、唯一の欠点が堆積速度が低く生産コストが高い点であった。しかし、本発明によって一度に多数の電子写真感光体を成膜できるようになることで、この欠点が解消され、製造方法としての完成度が非常に高まる。   The RF plasma CVD method is characterized in that a film having good characteristics can be easily obtained, but the only drawback is that the deposition rate is low and the production cost is high. However, since the present invention makes it possible to form a large number of electrophotographic photosensitive members at once, this drawback is eliminated and the completeness as a manufacturing method is greatly increased.

本発明は、以上の経緯によって完成されたものである。以下、本発明の堆積膜形成方法および堆積膜形成装置について図面を参照して詳細に説明する。図1は、複数の電子写真用感光体を同時に形成できる、生産性の極めて高い本発明の堆積膜形成装置の一例を模式的に示したものである。図1(a)はその概略縦断面図、図1(b)は図1(a)のX−X線に沿って切断した概略横断面図である。   The present invention has been completed by the above process. Hereinafter, a deposited film forming method and a deposited film forming apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 schematically shows an example of a deposited film forming apparatus according to the present invention that can form a plurality of electrophotographic photoreceptors at the same time and has extremely high productivity. FIG. 1A is a schematic longitudinal sectional view, and FIG. 1B is a schematic transverse sectional view taken along line XX of FIG.

本発明の堆積膜形成装置は、反応容器100と、反応容器100内部にて同一円周上に配置された複数の円筒状基体107と、原料ガス導入手段であるガス導入管106と、複数の円筒状基体107を取り囲むように設置された放電電極101を有している。そして、放電電極101に高周波電力を印加し、反応容器100内にグロー放電を発生させることにより、反応容器100内に導入された原料ガスを分解し、複数の円筒状基体107上に堆積膜を形成するものである。さらに、円筒状基体107の、放電電極101と対向する面での堆積速度に対する、複数の円筒状基体107に囲まれた中央空間111の中心に向いた面での堆積速度の比が、5%以上かつ30%以下である。   The deposited film forming apparatus of the present invention includes a reaction vessel 100, a plurality of cylindrical substrates 107 arranged on the same circumference inside the reaction vessel 100, a gas introduction pipe 106 as a raw material gas introduction means, a plurality of A discharge electrode 101 is provided so as to surround the cylindrical substrate 107. Then, high-frequency power is applied to the discharge electrode 101 to generate glow discharge in the reaction vessel 100, thereby decomposing the raw material gas introduced into the reaction vessel 100, and depositing films on the plurality of cylindrical substrates 107. To form. Further, the ratio of the deposition rate on the surface facing the center of the central space 111 surrounded by the plurality of cylindrical substrates 107 to the deposition rate on the surface of the cylindrical substrate 107 facing the discharge electrode 101 is 5%. Above and below 30%.

この堆積膜形成装置の構成を、より詳細に説明する。反応容器100は、反応炉壁を兼ねる放電電極101とベースプレート102と上蓋103により構成され、減圧可能になっている。放電電極101とベースプレート102と上蓋103は碍子104で絶縁されている。反応容器100の内部にはガス導入管106が設置されている。ベースプレート102の下部には排気配管105が接続され、排気配管105の他端は不図示の排気装置(例えば真空ポンプ)に接続され、真空排気可能になっている。放電電極101には、整合器(マッチングボックス)110を介して高周波電源109が接続されている。   The configuration of this deposited film forming apparatus will be described in more detail. The reaction vessel 100 includes a discharge electrode 101 that also serves as a reaction furnace wall, a base plate 102, and an upper lid 103, and can be decompressed. The discharge electrode 101, the base plate 102, and the upper lid 103 are insulated by an insulator 104. A gas introduction pipe 106 is installed inside the reaction vessel 100. An exhaust pipe 105 is connected to the lower part of the base plate 102, and the other end of the exhaust pipe 105 is connected to an unillustrated exhaust device (for example, a vacuum pump) so that vacuum exhaust is possible. A high frequency power source 109 is connected to the discharge electrode 101 via a matching unit (matching box) 110.

反応容器100の内部には、堆積膜が形成される複数の円筒状基体107が、互いに平行に、かつ互いに近接するように、同一円周上に配置される。複数の円筒状基体107は、不図示の基体加熱用ヒーターを内蔵した回転軸108によってそれぞれ保持されている。回転軸108は不図示の駆動装置により回転可能になっている。複数の円筒状基体107は互いに近接して配置されているため、放電電極101との間で生起したグロー放電が、円筒状基体107に取り囲まれた中央空間111に回り込むことが防げる。円筒状基体107同士を接近させるほど、中央空間111側に回り込む放電は減少し、円筒状基体107の中央空間側の表面への、特性の劣った堆積膜の付着を防ぐことができる。なお、円筒状基体107同士の間隔は、堆積膜形成装置の形状や円筒状基体107のサイズおよび本数等により異なるが、概ね10mm以下で、かつ互いに接触しない距離(機械的な精度を考慮すると実用的には1mm以上)である。   Inside the reaction vessel 100, a plurality of cylindrical substrates 107 on which deposited films are formed are arranged on the same circumference so as to be parallel to each other and close to each other. The plurality of cylindrical base bodies 107 are respectively held by rotating shafts 108 including a base heater for heating (not shown). The rotating shaft 108 can be rotated by a driving device (not shown). Since the plurality of cylindrical substrates 107 are arranged close to each other, it is possible to prevent glow discharge generated between the discharge electrodes 101 from entering the central space 111 surrounded by the cylindrical substrate 107. As the cylindrical substrates 107 are brought closer to each other, the discharge that goes around to the central space 111 decreases, and adhesion of a deposited film having inferior characteristics to the surface of the cylindrical substrate 107 on the central space side can be prevented. The interval between the cylindrical substrates 107 differs depending on the shape of the deposited film forming apparatus and the size and number of the cylindrical substrates 107, but is approximately 10 mm or less and is a distance that does not contact each other (practical considering mechanical accuracy). 1 mm or more).

それによって、本発明では、放電電極101に対向する面(B位置)での堆積速度に対して、複数の円筒状基体107に囲まれた中央空間111の中心に向いた面(A位置)での堆積速度を5%以上かつ30%以下にしている。さらに、より好ましくは、この堆積速度比を8%以上かつ20%以下にする。堆積速度比がこの範囲に入るように成膜を行うことにより、同軸型の1本取り炉で得られた電子写真感光体と同等レベルの特性の感光体が得られる。   Accordingly, in the present invention, the surface (A position) facing the center of the central space 111 surrounded by the plurality of cylindrical substrates 107 with respect to the deposition rate on the surface (position B) facing the discharge electrode 101. The deposition rate is 5% or more and 30% or less. More preferably, the deposition rate ratio is 8% or more and 20% or less. By forming the film so that the deposition rate ratio falls within this range, a photoconductor having characteristics equivalent to those of the electrophotographic photoconductor obtained in the coaxial single-removal furnace can be obtained.

この堆積膜形成装置の放電電極101、ベースプレート102、および上蓋103は導電性材料から成る。導電性材料なら何でも使用できるが、アルミニウム、鉄、ステンレス、金、銀、銅、ニッケル、クロム、チタンなどの金属材料から構成する場合、加工が容易で耐久性が高く、また再利用の利便性などの点でも好ましい。また、これらの材料中の2種以上からなる複合材料なども好適に用いられる。   The discharge electrode 101, the base plate 102, and the upper lid 103 of this deposited film forming apparatus are made of a conductive material. Any conductive material can be used, but if it is made of a metal material such as aluminum, iron, stainless steel, gold, silver, copper, nickel, chromium, titanium, etc., it is easy to process and highly durable, and is convenient for reuse. This is also preferable. In addition, composite materials composed of two or more of these materials are also preferably used.

本発明において用いられる高周波電力は、いかなる周波数帯でもよいが、良好な電子写真特性が得られやすいのは1MHz以上かつ20MHz以下のRF帯、代表的には13.56MHzであった。これは、分解種として良好な膜質を得やすいSiH3が安定的に得られることや、プラズマ均一性や安定性と関係しているのであろうと推測される。また、高周波電源109は、堆積膜形成装置に適した高周波電力を発生することができればいかなるものでも好適に使用できる。さらに、高周波電源109の出力変動率には特に制限は無い。 The high-frequency power used in the present invention may be in any frequency band, but good electrophotographic characteristics are easily obtained in the RF band of 1 MHz or more and 20 MHz or less, typically 13.56 MHz. This is presumed to be related to the fact that SiH 3, which is easy to obtain good film quality as a decomposition species, can be stably obtained, and plasma uniformity and stability. Any high frequency power supply 109 can be used as long as it can generate high frequency power suitable for the deposited film forming apparatus. Further, the output fluctuation rate of the high frequency power supply 109 is not particularly limited.

本発明で使用されるマッチングボックス110は、高周波電源109と負荷の整合を取ることができるものであればいかなる構成のものでも好適に使用できる。また、負荷の整合を取る方法としては、自動的に調整されるものが製造時の煩雑さを避けるために好適であるが、手動で調整されるものであっても本発明の効果に全く影響は無い。また、マッチングボックス110が配置される位置に関しては、負荷の整合が取れる範囲においてどこに設置してもなんら問題はない。ただし、マッチングボックス110から放電電極101までの配線のインダクタンスをできるだけ小さくするような配置とした方が、広い負荷条件で整合を取ることが可能になるため望ましい。   The matching box 110 used in the present invention can be suitably used in any configuration as long as the high frequency power supply 109 and the load can be matched. In addition, as a method for matching the load, an automatically adjusted method is preferable in order to avoid the complexity at the time of manufacturing, but even the manually adjusted method completely affects the effect of the present invention. There is no. Further, regarding the position where the matching box 110 is disposed, there is no problem regardless of where the matching box 110 is installed within a range where the load can be matched. However, it is desirable to arrange the wiring from the matching box 110 to the discharge electrode 101 so that the inductance of the wiring is as small as possible because matching can be achieved under a wide load condition.

円筒状基体107は、互いに近接して配置するために3本以上設置されるが、良好な特性の電子写真感光体を得る上では、あまり本数を多くし過ぎないことが大切である。これは、円筒状基体107の本数が増えるほど円筒状基体107に囲まれた中央空間111の体積が増加し、円筒状基体107同士の僅かな隙間からプラズマが回り込み、中央空間111の内部で放電が発生し易くなるからである。従って、本発明における円筒状基体107の設置本数は、実用的には6本以下、最適には4本以下とすることが望ましい。なお、ここで言う「設置本数」とは、言い換えれば円筒状基体107を取り付ける回転軸108の本数を意味している。例えば、円筒状基体107を2段重ねで成膜する構成の堆積膜形成装置においては、設置本数が3本の場合は、一度に2倍の6本の円筒状基体107に成膜できることになる。   Three or more cylindrical substrates 107 are installed so as to be arranged close to each other. However, in order to obtain an electrophotographic photosensitive member having good characteristics, it is important that the number of the cylindrical substrates 107 is not excessively increased. This is because as the number of cylindrical bases 107 increases, the volume of the central space 111 surrounded by the cylindrical bases 107 increases, so that plasma flows from a slight gap between the cylindrical bases 107 and discharges inside the central space 111. It is because it becomes easy to generate | occur | produce. Therefore, it is desirable that the number of cylindrical substrates 107 in the present invention is practically 6 or less, and optimally 4 or less. In addition, the “number of installations” referred to here means the number of rotating shafts 108 to which the cylindrical base body 107 is attached. For example, in the deposited film forming apparatus configured to form the cylindrical substrates 107 in a two-layered manner, when the number of installations is three, it is possible to form a film on the six cylindrical substrates 107 twice as much at a time. .

本発明において使用される円筒状基体107は、導電性でも電気絶縁性であってもよい。導電性の基体としては、Al,Cr,Mo,Au,In,Nb,Te,V,Ti,Pt,Pd,Fe等の金属、およびこれらの合金、例えばステンレス等が挙げられる。また、合成樹脂のフィルムまたはシートや、ガラス、セラミック等の電気絶縁性基体の、少なくとも堆積膜形成側の表面を導電処理した基体も用いることができる。合成樹脂の例としては、例えば、ポリエステル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セルロースアセテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリアミド等が挙げられる。   The cylindrical substrate 107 used in the present invention may be conductive or electrically insulating. Examples of the conductive substrate include metals such as Al, Cr, Mo, Au, In, Nb, Te, V, Ti, Pt, Pd, and Fe, and alloys thereof such as stainless steel. Further, it is also possible to use a synthetic resin film or sheet, or a substrate obtained by conducting a conductive treatment on at least the surface on the deposition film forming side of an electrically insulating substrate such as glass or ceramic. Examples of the synthetic resin include polyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride, polystyrene, polyamide, and the like.

本発明において使用される円筒状基体107の形状は、平滑表面あるいは凹凸表面の円筒状、または板状無端ベルトからなる円筒状であってもよく、その厚さは、所望の電子写真感光体を形成し得るように適宜決定される。電子写真感光体としての可撓性が要求される場合には、円筒状基体107としての機能が充分発揮できる範囲内で可能な限り薄くすることができる。しかしながら一般には、製造時および取り扱い時の機械的強度等の点から、円筒状基体107の厚さは、通常は10μm以上とする。   The shape of the cylindrical substrate 107 used in the present invention may be a smooth surface or an uneven surface cylindrical shape, or a cylindrical shape composed of a plate-like endless belt. It is determined appropriately so that it can be formed. When flexibility as an electrophotographic photosensitive member is required, the thickness can be made as thin as possible within a range where the function as the cylindrical substrate 107 can be sufficiently exhibited. In general, however, the thickness of the cylindrical substrate 107 is usually 10 μm or more from the viewpoint of mechanical strength during manufacture and handling.

特にレーザー光などの可干渉性光を用いて画像記録を行う場合に、可視画像において現われる、いわゆる干渉縞模様による画像不良をより効果的に解消するために、円筒状基体107の表面に凹凸を設けてもよい。円筒状基体107の表面に設けられる凹凸は、特許文献2〜4に記載された公知の方法により作成してもよい。また、レーザー光などの可干渉光を用いて画像記録を行う場合の干渉縞模様による画像不良をより効果的に解消する別の方法として、円筒状基体107の表面に複数の球状痕跡窪みによる凹凸形状を設けてもよい。即ち、円筒状基体107の表面が、電子写真用光受容部材に要求される解像力よりも微少な凹凸を有し、その凹凸は複数の球状痕跡窪みによるものであってもよい。基体の表面に設けられる複数の球状痕跡窪みによる凹凸は、特許文献5に記載された公知の方法により作成してもよい。   In particular, when performing image recording using coherent light such as laser light, in order to more effectively eliminate image defects due to so-called interference fringe patterns that appear in a visible image, the surface of the cylindrical substrate 107 is uneven. It may be provided. The unevenness provided on the surface of the cylindrical substrate 107 may be created by a known method described in Patent Documents 2 to 4. Further, as another method for more effectively eliminating the image defect due to the interference fringe pattern when image recording is performed using coherent light such as laser light, unevenness due to a plurality of spherical trace depressions on the surface of the cylindrical substrate 107 A shape may be provided. In other words, the surface of the cylindrical substrate 107 may have unevenness that is slightly smaller than the resolution required for the electrophotographic light receiving member, and the unevenness may be due to a plurality of spherical trace depressions. The unevenness due to the plurality of spherical trace depressions provided on the surface of the substrate may be created by a known method described in Patent Document 5.

以上説明した図1の堆積膜形成装置を用いた堆積膜の形成は、例えば概略以下のようにして行われる。   Formation of the deposited film using the deposited film forming apparatus of FIG. 1 described above is performed, for example, as follows.

例えば旋盤を用いて表面に鏡面加工が施された複数の円筒状基体107を反応容器100内に設置し、不図示の排気装置により排気配管105を通して反応容器100内を排気する。充分に排気ができた段階で、不図示のガス供給装置からガス導入管(ガス導入手段)106を介して、加熱用の不活性ガス、例えばアルゴンを反応容器100内に導入する。そして、反応容器100内が所望の圧力になるように、加熱用ガスの流量あるいは不図示の排気装置の排気速度を調整する。続いて、不図示の基体加熱用ヒーターにより円筒状基体107を加熱し、50℃〜500℃の所望の温度に制御する。   For example, a plurality of cylindrical substrates 107 whose surfaces are mirror-finished using a lathe are installed in the reaction vessel 100, and the inside of the reaction vessel 100 is exhausted through an exhaust pipe 105 by an exhaust device (not shown). At a stage where exhaust is sufficiently performed, an inert gas for heating, for example, argon, is introduced into the reaction vessel 100 from a gas supply device (not shown) through a gas introduction pipe (gas introduction means) 106. Then, the flow rate of the heating gas or the exhaust speed of an exhaust device (not shown) is adjusted so that the inside of the reaction vessel 100 has a desired pressure. Subsequently, the cylindrical substrate 107 is heated by a substrate heating heater (not shown) and controlled to a desired temperature of 50 ° C. to 500 ° C.

円筒状基体107が所望の温度に加熱されたところで、不活性ガスを徐々に止めると同時に、成膜用の所定の原料ガスを反応容器100内に徐々に導入する。原料ガスは、例えばSiH4,Si26,CH4,C26などの材料ガスや、B26,PH3などのドーピングガスであり、不図示のガス供給手段により混合された後に、反応容器100内に導入される。次に、原料ガスの流量を設定流量に調節し、不図示の排気装置の排気速度を調整して反応容器100内の圧力を0.1Paから数百Paの所望の圧力にする。こうして所望の流量および圧力になったことを確認した後に、高周波電源109からマッチングボックス110を介して放電電極101へ所定の高周波電力を供給する。このときマッチングボックス110を調整し、反射波が最小となるようにし、高周波の入射電力から反射電力を差し引いた実効値を所望の値にする。この高周波電力によって、反応容器100内にグロー放電が生起する。このとき、回転軸108に取り付けられた不図示の回転手段により円筒状基体107を回転させる。 When the cylindrical substrate 107 is heated to a desired temperature, the inert gas is gradually stopped, and at the same time, a predetermined source gas for film formation is gradually introduced into the reaction vessel 100. Raw material gas, for example SiH 4, and the material gas such as Si 2 H 6, CH 4, C 2 H 6, a doping gas such as B 2 H 6, PH 3, were mixed by the gas supply means (not shown) Later, it is introduced into the reaction vessel 100. Next, the flow rate of the raw material gas is adjusted to the set flow rate, and the exhaust speed of an exhaust device (not shown) is adjusted so that the pressure in the reaction vessel 100 becomes a desired pressure of 0.1 Pa to several hundred Pa. After confirming that the desired flow rate and pressure are obtained in this way, predetermined high frequency power is supplied from the high frequency power supply 109 to the discharge electrode 101 via the matching box 110. At this time, the matching box 110 is adjusted so that the reflected wave is minimized, and the effective value obtained by subtracting the reflected power from the high frequency incident power is set to a desired value. This high frequency power causes glow discharge in the reaction vessel 100. At this time, the cylindrical base 107 is rotated by a rotating means (not shown) attached to the rotating shaft 108.

放電は、円筒状基体107と放電電極101の間で生起するが、複数の円筒状基体107に囲まれた中央空間111の内部には放電は発生しないか、あるいは放電が非常に弱くなっている。これは、円筒状基体107が接近して設置されているために、放電が中央空間111の内部まで回り込みにくいからである。こうして励起して解離した分解種は円筒状基体107の外周面に堆積するが、前記したように円筒状基体107を回転させているので、円筒状基体107の全周に亘って均一な堆積膜が形成される。   The discharge occurs between the cylindrical base body 107 and the discharge electrode 101, but no discharge occurs in the central space 111 surrounded by the plurality of cylindrical base bodies 107, or the discharge is very weak. . This is because since the cylindrical base body 107 is installed close to the discharge, it is difficult for the discharge to go into the central space 111. The decomposed species thus excited and dissociated are deposited on the outer peripheral surface of the cylindrical substrate 107. Since the cylindrical substrate 107 is rotated as described above, a uniform deposited film is formed over the entire circumference of the cylindrical substrate 107. Is formed.

所望の膜厚の堆積膜形成が行なわれた後に、高周波電力の供給を止め、続いて原料ガスの供給を停止して堆積膜の形成を終える。多層構造の堆積膜を形成する場合には、同様の操作を複数回繰り返す。この場合、各層間においては、上述したように1つの層の形成が終了した時点で一旦放電を完全に停止し、次層のためのガス流量および圧力に設定が変更された後に、再度放電を生起して次層の形成を行ってもよい。あるいは、1つの層の形成を終了した後に一定時間かけて、ガス流量と圧力と高周波電力を次層のための設定値に徐々に変化させ、連続的に複数層を形成してもよい。また、各層の形成工程の間に、一旦、反応容器101内の残留ガスを充分真空引きすることで、層毎に異なるガス種を使う場合の汚染を最小限に抑えることができる。   After the deposition film having a desired thickness is formed, the supply of the high frequency power is stopped, and then the supply of the source gas is stopped to finish the formation of the deposition film. When forming a multi-layered deposited film, the same operation is repeated a plurality of times. In this case, in each layer, as described above, once the formation of one layer is completed, the discharge is temporarily stopped, and after the setting is changed to the gas flow rate and pressure for the next layer, the discharge is performed again. It may occur to form the next layer. Alternatively, a plurality of layers may be continuously formed by gradually changing the gas flow rate, pressure, and high-frequency power to set values for the next layer over a certain time after the formation of one layer is completed. Further, once the residual gas in the reaction vessel 101 is sufficiently evacuated between the steps of forming each layer, contamination in the case of using different gas types for each layer can be minimized.

本発明を用いることにより、例えば図2(a)〜(d)に示す様々なa−Si系電子写真用光受容部材が形成可能である。   By using the present invention, various a-Si electrophotographic light receiving members shown in FIGS. 2A to 2D, for example, can be formed.

図2(a)に示す電子写真用感光体300は、支持体301の上に、水素原子またはハロゲン原子を構成要素として含むアモルファスシリコン(a−Si:(H,X))を有し光導電性を有する光導電層302が設けられた構成である。   An electrophotographic photoreceptor 300 shown in FIG. 2A has amorphous silicon (a-Si: (H, X)) containing a hydrogen atom or a halogen atom as a constituent element on a support 301 and is photoconductive. The photoconductive layer 302 having a property is provided.

図2(b)に示す電子写真用感光体300は、支持体301の上に、a−Si:(H,X)からなり光導電性を有する光導電層302と、アモルファスシリコン系またはアモルファス炭素系の表面層303が設けられた構成である。   An electrophotographic photoreceptor 300 shown in FIG. 2B includes a photoconductive layer 302 made of a-Si: (H, X) and having photoconductivity on a support 301, and amorphous silicon or amorphous carbon. A system surface layer 303 is provided.

図2(c)に示す電子写真用感光体300は、支持体301の上に、アモルファスシリコン系の下部阻止層304と、光導電層302と、表面層303が設けられた構成である。前記したのと同様に、光導電層302はa−Si:(H,X)からなり光導電性を有し、表面層303はアモルファスシリコン系またはアモルファス炭素系の層である。   An electrophotographic photoreceptor 300 shown in FIG. 2C has a configuration in which an amorphous silicon-based lower blocking layer 304, a photoconductive layer 302, and a surface layer 303 are provided on a support 301. As described above, the photoconductive layer 302 is made of a-Si: (H, X) and has photoconductivity, and the surface layer 303 is an amorphous silicon-based or amorphous carbon-based layer.

図2(d)に示す電子写真用感光体300も、支持体301の上に、光導電層302と表面層303が設けられた構成である。この光導電層302は、a−Si:(H,X)からなる電荷発生層305および電荷輸送層306とからなり、表面層303はアモルファスシリコン系またはアモルファス炭素系の層である。   An electrophotographic photoreceptor 300 shown in FIG. 2D also has a structure in which a photoconductive layer 302 and a surface layer 303 are provided on a support 301. The photoconductive layer 302 includes a charge generation layer 305 and a charge transport layer 306 made of a-Si: (H, X), and the surface layer 303 is an amorphous silicon type or amorphous carbon type layer.

以下、本発明のより具体的な実施例についてさらに詳しく説明する。しかし、本発明はこれらの実施例により何ら制限されるものではない。   Hereinafter, more specific examples of the present invention will be described in more detail. However, the present invention is not limited by these examples.

(実施例1)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に円筒状基体107(図2の支持体301に相当)として、直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを4本設置した。具体的には、まず、軸方向中央部に幅1cmの耐熱テープを周方向に貼り付けることにより一部分をマスクした円筒状基体107を、ベースプレート102上に4本設置した。そして、静止状態で、表1に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。
Example 1
In this example, four cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107 (corresponding to the support 301 in FIG. 2) in the deposited film forming apparatus shown in FIG. Specifically, first, four cylindrical substrates 107 masked in part by attaching a heat-resistant tape having a width of 1 cm in the circumferential direction to the central portion in the axial direction were installed on the base plate 102. Then, in a stationary state, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

成膜終了後、耐熱テープを剥がすことによって、堆積膜の付着しない部分(円筒状基体107の地肌が露出した部分)と、膜が堆積した部分の間に段差を形成した。この段差を利用し、後述する方法で、外側(図1(b)のB位置)での堆積速度と内側(図1(b)のA位置)での堆積速度を求め、外側の堆積速度に対する内側の堆積速度の比を調べた。このような手順に従い、円筒状基体107同士の間隔をさまざまに変化させながら、内側と外側の堆積速度比が5%以上かつ30%以下となる6条件を選び出した。   After the film formation was completed, the heat-resistant tape was peeled off to form a step between the portion where the deposited film did not adhere (the portion where the background of the cylindrical substrate 107 was exposed) and the portion where the film was deposited. Using this step, the deposition rate on the outside (position B in FIG. 1 (b)) and the deposition rate on the inside (position A in FIG. 1 (b)) are determined by the method described later, The ratio of inner deposition rate was investigated. In accordance with such a procedure, six conditions were selected in which the inner and outer deposition rate ratios were 5% or more and 30% or less while changing the interval between the cylindrical substrates 107 in various ways.

以上の準備が整った後に、上記で求めた6条件それぞれについて、円筒状部材107を5rpmで回転させながら表1に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。こうして、内側と外側の堆積速度比が5%以上かつ30%以下となるようにして成膜した、6種類の電子写真感光体を作製した。   After the above preparation is completed, the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 are subjected to each of the six conditions obtained above under the conditions shown in Table 1 while rotating the cylindrical member 107 at 5 rpm. An electrophotographic photosensitive member was formed. In this way, six types of electrophotographic photoreceptors were produced in which the inner and outer deposition rate ratios were 5% or more and 30% or less.

(比較例1)
図1に示す堆積膜形成装置を用い、実施例1と同様の手順で電子写真感光体の形成を行った。本比較例では、円筒状基体107の内側と外側の堆積速度比が3%と40%になる条件で2種類の電子写真感光体を作成した。
(Comparative Example 1)
Using the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1, an electrophotographic photosensitive member was formed in the same procedure as in Example 1. In this comparative example, two types of electrophotographic photoreceptors were prepared under the condition that the deposition rate ratio between the inside and outside of the cylindrical substrate 107 was 3% and 40%.

(実施例1と比較例1の評価)
実施例1と比較例1で作製したa−Si電子写真感光体について、下記の方法で評価を行った。
(Evaluation of Example 1 and Comparative Example 1)
The a-Si electrophotographic photosensitive member produced in Example 1 and Comparative Example 1 was evaluated by the following method.

(堆積速度比)
静止状態で成膜した円筒状基体107の表面上の、堆積膜が堆積した部分と付着しない部分(円筒状基体107の地肌が露出した部分)との段差を利用して、堆積膜の膜厚を測定した。測定は、ケーエルエー・テンコール株式会社製アルファステップ500(商品名)を用いて、以下に記す測定条件で行った。
測定条件
・測定環境:気温25℃、湿度60%、1気圧
・スタイラス先端径:5μm
・スタイラス押し当て圧:8mg
・スキャン長さ:400μm
・スキャンスピード:50μm/sec
・スキャン方法:連続移動
・データサンプリングレート:50Hz
・水平分解能:1μm
・垂直分解能:0.1nm
・短波長カットオフフィルタ:12.5μm
・長波長カットオフフィルタ:OFF
この測定条件で、予め、標準試験片で較正を行った。標準試験片として、VLSIスタンダード株式会社製 Step Height Standard モデルナンバー:SHS−9400QC(商品名)を用いた。アルファステップ500のキャリブレーションモードで、標準試験片の較正された段差を測定し、較正値を入力することでキャリブレーションファクターが決定される。キャリブレーションを行っておくことによって、容易に正しく膜厚を測定することが可能になる。その他の具体的な操作や測定作業は、すべてアルファステップ500付属の取扱説明書(Alpha Step 500 User's Manual 1994年10月、Software Version 1.7)の記載に従って行った。
(Deposition rate ratio)
The thickness of the deposited film on the surface of the cylindrical substrate 107 formed in a stationary state is determined using a step between a portion where the deposited film is deposited and a portion where the deposited film does not adhere (a portion where the background of the cylindrical substrate 107 is exposed). Was measured. The measurement was performed under the measurement conditions described below using Alpha Step 500 (trade name) manufactured by KLA-Tencor Corporation.
Measurement conditions and measurement environment: temperature 25 ° C., humidity 60%, 1 atmosphere, stylus tip diameter: 5 μm
-Stylus pressing pressure: 8mg
・ Scan length: 400μm
・ Scanning speed: 50μm / sec
・ Scanning method: Continuous movement ・ Data sampling rate: 50Hz
・ Horizontal resolution: 1μm
・ Vertical resolution: 0.1 nm
・ Short wavelength cut-off filter: 12.5μm
・ Long wavelength cut-off filter: OFF
Under this measurement condition, calibration was performed in advance with a standard test piece. As a standard test piece, Step Height Standard model number: SHS-9400QC (trade name) manufactured by VLSI Standard Co., Ltd. was used. In the calibration mode of the alpha step 500, the calibration step is determined by measuring the calibrated level difference of the standard test piece and inputting the calibration value. By performing calibration, the film thickness can be easily and correctly measured. All other specific operations and measurement operations were performed according to the description in the instruction manual (Alpha Step 500 User's Manual October 1994, Software Version 1.7) attached to Alpha Step 500.

次に、前記した測定条件下でアルファステップ500を用いて、円筒状基体107の中央部の膜が堆積している部分から、円筒状基体107が露出している部分へ触針をスキャンして膜厚を測定した。測定は5回行い、その平均値を求めた。こうして得られた膜厚を成膜時間で割ることで堆積速度を求めることができる。   Next, using the alpha step 500 under the measurement conditions described above, the stylus is scanned from the portion where the film at the central portion of the cylindrical substrate 107 is deposited to the portion where the cylindrical substrate 107 is exposed. The film thickness was measured. The measurement was performed 5 times, and the average value was obtained. The deposition rate can be obtained by dividing the film thickness thus obtained by the film formation time.

このようにして、円筒状基体107の軸方向中央部において、放電電極と対向する面(B位置)での堆積速度と、複数の円筒状基体107に囲まれた中央空間111の中心に対いた面(A位置)での堆積速度を求めた。そして、前者で後者を割ることによって堆積速度比を求めた。その結果、前記した通り、実施例1で作製した6つの電子写真感光体の堆積速度比は5%以上かつ30%以下の範囲であり、比較例1で作製した2つの電子写真感光体の堆積速度比はそれぞれ3%と40%であったことが確認された。   In this way, at the central portion in the axial direction of the cylindrical substrate 107, the deposition rate on the surface (position B) facing the discharge electrode and the center of the central space 111 surrounded by the plurality of cylindrical substrates 107 are matched. The deposition rate on the surface (position A) was determined. And the deposition rate ratio was calculated | required by dividing the latter with the former. As a result, as described above, the deposition rate ratio of the six electrophotographic photoreceptors produced in Example 1 is in the range of 5% or more and 30% or less, and the two electrophotographic photoreceptors produced in Comparative Example 1 are deposited. The speed ratio was confirmed to be 3% and 40%, respectively.

(帯電能)
実施例1および比較例1にて作製した電子写真感光体を電子写真装置にセットし、主帯電器に一定の電流(例えば800μA)を流し、現像器位置にセットした表面電位計の電位センサーにより暗部電位を測定した。したがって、暗部電位が大きいほど帯電能が良好である。本実施例では、電子写真装置として、キヤノン株式会社製複写機GP55(商品名)を実験用に改造したものを用い、表面電位計として、米国のトレック・インコーポレーテッド社製Model344(商品名)を用いた。なお、帯電能測定は感光体の母線方向中央部で行った。この帯電能の評価結果は、比較例1の堆積速度比40%の感光体の結果を基準として、表2に以下の記号にて示している。
◎…20%以上の良化
○〜◎…15%以上20%未満の良化
○…10%以上15%未満の良化
△〜○…5%以上10%未満の良化
△…5%未満の良化
×…悪化
(Chargeability)
The electrophotographic photosensitive member produced in Example 1 and Comparative Example 1 was set in an electrophotographic apparatus, a constant current (for example, 800 μA) was passed through the main charger, and the potential sensor of the surface electrometer set at the developing unit position. The dark potential was measured. Therefore, the larger the dark portion potential, the better the charging ability. In this embodiment, a Canon copier GP55 (trade name) modified for experiment is used as the electrophotographic apparatus, and Model 344 (trade name) manufactured by Trek Incorporated of the United States is used as the surface electrometer. Using. The chargeability measurement was performed at the central portion of the photoreceptor in the busbar direction. The evaluation results of the charging ability are shown by the following symbols in Table 2 on the basis of the result of the photoconductor of Comparative Example 1 having a deposition rate ratio of 40%.
◎… Better than 20% ○ ~ ◎… Better than 15% but less than 20% ○… Better than 10% but less than 15% Δ˜ ○… Better than 5% but less than 10% Δ… Less than 5% Improvement ... worsening

Figure 2007119839
Figure 2007119839

(感度)
前記した電子写真装置において、現像器位置での暗部電位が一定値(例えば450V)となるように主帯電器への電流を調整した後に、原稿として反射濃度0.1以下の所定の白紙を用いて感度を求めた。具体的には、現像器位置での明部電位が所定の値(例えば50V)となるように像露光(波長655nmの半導体レーザー)を調整した際の像露光量によって感度を評価した。したがって、像露光量が少ないほど感度が良好である。なお、感度測定は感光体の母線方向の中央部で行った。この感度の評価結果は、比較例1の堆積速度比40%の感光体の結果を基準として、前記した表2に以下の記号にて示している。
◎…20%以上の良化
○〜◎…15%以上20%未満の良化
○…10%以上15%未満の良化
△〜○…5%以上10%未満の良化
△…5%未満の良化
×…悪化
(残留電位)
電子写真感光体を一定の暗部表面電位(例えば450V)に帯電させ、直ちに一定光量の像露光(波長655nmの半導体レーザー)の比較的強い光(例えば1.5μJ)を照射した。この時、表面電位計により電子写真感光体の母線方向の中央部の明部表面電位を測定した。したがって、明部電位が小さいほど残留電位が良好である。この残留電位の評価結果は、比較例1の堆積速度比40%の感光体の結果を基準として、前記した表2に以下の記号にて示している。
◎…40%以上の良化
○〜◎…30%以上40%未満の良化
○…20%以上30%未満の良化
△〜○…10%以上20%未満の良化
△…10%未満の良化
×…悪化
(光メモリー)
現像器位置における暗部電位が所定の値(例えば450V)となるように主帯電器の電流値を調整した後、所定の白紙を原稿とした際の明部電位が所定の値(例えば50V)となるよう像露光光量を調整した。そして、縦297mm、幅80mmの白紙原稿に、反射濃度1.1、直径5mmの黒丸を貼り付けたゴーストチャートを原稿台の左端に置き、その上にA3の反射濃度0.3の中間調チャートを重ねて置いてコピーを行った。このコピー画像において、中間調コピー上に認められるゴーストチャートの直径5mmの黒丸の反射濃度と、中間調部分の反射濃度との差を測定することにより、光メモリーの評価を行った。したがって、数値が小さいほど光メモリーは良好である。なお、光メモリーの測定は、感光体の軸方向の中央部で行った。この光メモリーの評価結果は、この帯電能の評価結果は、比較例1の堆積速度比40%の感光体の結果を基準として、前記した表2に以下の記号にて示している。
◎…40%以上の良化
○〜◎…30%以上40%未満の良化
○…20%以上30%未満の良化
△〜○…10%以上20%未満の良化
△…10%未満の良化
×…悪化
表2から実施例1と比較例1の評価結果を見ると、堆積速度比を5%以上かつ30%以下とすることによって電子写真感光体の特性が改善することが判明した。また、堆積速度比を8%以上かつ20%以下とすることで、さらに良好な特性が得られることも判明した。
(sensitivity)
In the electrophotographic apparatus described above, after adjusting the current to the main charger so that the dark portion potential at the position of the developing device becomes a constant value (for example, 450 V), a predetermined white paper having a reflection density of 0.1 or less is used as a document. Sensitivity. Specifically, the sensitivity was evaluated based on the image exposure amount when the image exposure (semiconductor laser having a wavelength of 655 nm) was adjusted so that the bright portion potential at the developing unit position had a predetermined value (for example, 50 V). Therefore, the smaller the image exposure amount, the better the sensitivity. The sensitivity was measured at the center of the photoreceptor in the direction of the bus. The sensitivity evaluation results are indicated by the following symbols in Table 2 above based on the results of the photoconductor of Comparative Example 1 having a deposition rate ratio of 40%.
◎… Better than 20% ○ ~ ◎… Better than 15% but less than 20% ○… Better than 10% but less than 15% Δ˜ ○… Better than 5% but less than 10% Δ… Less than 5% Improvement x ... deterioration (residual potential)
The electrophotographic photosensitive member was charged to a constant dark portion surface potential (for example, 450 V) and immediately irradiated with a relatively strong light (for example, 1.5 μJ) of a fixed amount of image exposure (a semiconductor laser having a wavelength of 655 nm). At this time, the bright portion surface potential at the center of the electrophotographic photosensitive member in the direction of the generatrix was measured with a surface potential meter. Therefore, the smaller the bright part potential, the better the residual potential. The evaluation results of the residual potential are shown by the following symbols in Table 2 described above on the basis of the results of the photoconductor of Comparative Example 1 having a deposition rate ratio of 40%.
◎… Better than 40% ○ ˜ ◎… Better than 30% to less than 40% ○… Better than 20% to less than 30% Δ˜ ○… Better than 10% to less than 20% Δ ... less than 10% Improvement x ... deterioration (optical memory)
After adjusting the current value of the main charger so that the dark portion potential at the developing unit position becomes a predetermined value (for example, 450 V), the bright portion potential when the predetermined white paper is used as a document is set to a predetermined value (for example, 50 V). The amount of image exposure was adjusted so that A ghost chart in which a black circle having a reflection density of 1.1 and a diameter of 5 mm is pasted on a blank paper document having a length of 297 mm and a width of 80 mm is placed at the left end of the document table, and a halftone chart of A3 reflection density of 0.3 is placed on the ghost chart I made a copy of it. In this copy image, the optical memory was evaluated by measuring the difference between the reflection density of the black circle with a diameter of 5 mm in the ghost chart recognized on the halftone copy and the reflection density of the halftone portion. Therefore, the smaller the value, the better the optical memory. The optical memory was measured at the central portion in the axial direction of the photoreceptor. The evaluation result of this optical memory is indicated by the following symbols in the above-mentioned Table 2 based on the result of the photosensitive member of Comparative Example 1 having a deposition rate ratio of 40%.
◎… Better than 40% ○ ˜ ◎… Better than 30% to less than 40% ○… Better than 20% to less than 30% Δ˜ ○… Better than 10% to less than 20% Δ ... less than 10% Table 2 shows that the evaluation results of Example 1 and Comparative Example 1 show that the characteristics of the electrophotographic photosensitive member are improved by setting the deposition rate ratio to 5% or more and 30% or less. did. It was also found that even better characteristics can be obtained by setting the deposition rate ratio to 8% or more and 20% or less.

(実施例2)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に類似しているが6本の円筒状基体107を処理可能な堆積膜形成装置(図3(c)参照)を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、円筒状基体107および回転軸108の数のみが異なり、それ以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを6本設置した。
(Example 2)
In this embodiment, a deposited film forming apparatus (see FIG. 3C) similar to the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1 but capable of processing six cylindrical substrates 107 is used. This deposited film forming apparatus is different from that shown in FIG. 1 only in the number of cylindrical bases 107 and rotating shafts 108, and the other configurations are the same. To do. In this example, six cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107.

本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表3に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。   Also in this example, as in Example 1, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 3 in a stationary state on the cylindrical base body 107 with a part of the axial central portion masked. It was.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。このような手順に従い、円筒状基体107同士の間隔をさまざまに変化させながら、外側と内側の堆積速度比が20%となるような条件(円筒状基体107同士の間隔)を求めた。   Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1. According to such a procedure, while changing the interval between the cylindrical substrates 107 in various ways, the conditions (interval between the cylindrical substrates 107) were determined so that the deposition rate ratio between the outside and the inside was 20%.

以上の準備が整った後に、円筒状部材を1rpmで回転させながら表3に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。この時、前記した条件に従って、外側と内側の堆積速度比が20%となるようにした。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member comprising a lower blocking layer 304, a photoconductive layer 302, and a surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 3 while rotating the cylindrical member at 1 rpm. At this time, according to the above-described conditions, the deposition rate ratio between the outer side and the inner side was set to 20%.

(比較例2)
本比較例で用いた堆積膜形成装置は、図4に示すように、6本の円筒状基体507に囲まれた中央空間の中心に放電電極511を有し、6本の円筒状基体507の外側に、放電電極ではなく単なる円筒状の外壁501を有している。この外壁501の内部には排気配管505およびガス導入管506が設置され、外壁501の外側には、放電電極511に接続された高周波電源509およびマッチングボックス510が設置されている。
(Comparative Example 2)
As shown in FIG. 4, the deposited film forming apparatus used in this comparative example has a discharge electrode 511 in the center of a central space surrounded by six cylindrical substrates 507. On the outside, not a discharge electrode but a simple cylindrical outer wall 501 is provided. An exhaust pipe 505 and a gas introduction pipe 506 are installed inside the outer wall 501, and a high-frequency power source 509 and a matching box 510 connected to the discharge electrode 511 are installed outside the outer wall 501.

本比較例において、円筒状基体507としては、直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを用いた。この堆積膜形成装置では、プラズマ放電は円筒状基体507に囲まれた中央空間内で励起するため、円筒状基体507の、内側の表面の堆積速度が高く、外側の面の堆積速度は低くなっている。本比較例では、実施例2と同様にして、外側と内側の堆積速度比が20%である電子写真感光体を作製した。   In this comparative example, a cylindrical aluminum cylinder having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm was used as the cylindrical substrate 507. In this deposited film forming apparatus, since the plasma discharge is excited in the central space surrounded by the cylindrical substrate 507, the deposition rate of the inner surface of the cylindrical substrate 507 is high and the deposition rate of the outer surface is low. ing. In this comparative example, an electrophotographic photosensitive member having an outer / inner deposition rate ratio of 20% was produced in the same manner as in Example 2.

(実施例2と比較例2の評価)
実施例2と比較例2で作製した電子写真感光体について、実施例1および比較例1と同様の方法で特性(帯電能、感度、残留電位、光メモリー)の評価を行った。それらの結果を、表2と同様の表示方法で表4に示した。
(Evaluation of Example 2 and Comparative Example 2)
The characteristics (charging ability, sensitivity, residual potential, optical memory) of the electrophotographic photoreceptors produced in Example 2 and Comparative Example 2 were evaluated in the same manner as in Example 1 and Comparative Example 1. The results are shown in Table 4 in the same display method as in Table 2.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

表4によると、円筒状基体の外側に放電電極を設置した場合の方が、円筒状基体107の内側に放電電極を設置した場合よりも、特性が優れていることが分かる。   According to Table 4, it can be seen that the characteristics when the discharge electrode is installed outside the cylindrical substrate are superior to those when the discharge electrode is installed inside the cylindrical substrate 107.

(実施例3)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に類似しているが3本の円筒状基体107を処理可能な堆積膜形成装置(図3(a)参照)を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、円筒状基体107および回転軸108の数のみが異なり、それ以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを3本設置した。円筒状基体107同士の間隔は1mmに設定した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表5に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。
(Example 3)
In this example, a deposited film forming apparatus (see FIG. 3A) similar to the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1 but capable of processing three cylindrical substrates 107 was used. This deposited film forming apparatus is different from that shown in FIG. 1 only in the number of cylindrical bases 107 and rotating shafts 108, and the other configurations are the same. To do. In this example, three cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical base body 107. The interval between the cylindrical substrates 107 was set to 1 mm. Also in this example, as in Example 1, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 5 in a stationary state on the cylindrical substrate 107 masked with a part of the central portion in the axial direction. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を3rpmで回転させながら表5に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member including the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 5 while rotating the cylindrical member at 3 rpm.

(実施例4)
図1に示す堆積膜形成装置に、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを4本設置した。円筒状基体107同士の間隔は1mmに設定した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表6に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。
Example 4
In the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1, four cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. The interval between the cylindrical substrates 107 was set to 1 mm. Also in this example, as in Example 1, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 6 in a stationary state on the cylindrical substrate 107 masked with a part of the central portion in the axial direction. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を3rpmで回転させながら表6に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member including the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 6 while rotating the cylindrical member at 3 rpm.

(実施例5)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に類似しているが5本の円筒状基体107を処理可能な堆積膜形成装置(図3(b)参照)を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、円筒状基体107および回転軸108の数のみが異なり、それ以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを5本設置した。円筒状基体107同士の間隔は1mmに設定した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表7に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。
(Example 5)
In this embodiment, a deposited film forming apparatus (see FIG. 3B) that is similar to the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1 but can process five cylindrical substrates 107 is used. This deposited film forming apparatus is different from that shown in FIG. 1 only in the number of cylindrical bases 107 and rotating shafts 108, and the other configurations are the same. To do. In this example, five cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. The interval between the cylindrical substrates 107 was set to 1 mm. Also in this example, similarly to Example 1, film formation was performed for 15 minutes on the cylindrical substrate 107 masked with a part of the central portion in the axial direction under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 7 in a stationary state. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を3rpmで回転させながら表7に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member comprising the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 7 while rotating the cylindrical member at 3 rpm.

(実施例6)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に類似しているが6本の円筒状基体107を処理可能な堆積膜形成装置(図3(c)参照)を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、円筒状基体107および回転軸108の数のみが異なり、それ以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを6本設置した。円筒状基体107同士の間隔は1mmに設定した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表8に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。
(Example 6)
In this embodiment, a deposited film forming apparatus (see FIG. 3C) similar to the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1 but capable of processing six cylindrical substrates 107 is used. This deposited film forming apparatus is different from that shown in FIG. 1 only in the number of cylindrical bases 107 and rotating shafts 108, and the other configurations are the same. To do. In this example, six cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. The interval between the cylindrical substrates 107 was set to 1 mm. Also in this example, similarly to Example 1, film formation was performed for 15 minutes on the cylindrical substrate 107 masked with a part of the central portion in the axial direction under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 8 in a stationary state. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を3rpmで回転させながら表8に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member including the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 8 while rotating the cylindrical member at 3 rpm.

(実施例7)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置に類似しているが7本の円筒状基体107を処理可能な堆積膜形成装置(図3(d)参照)を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、円筒状基体107および回転軸108の数のみが異なり、それ以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを7本設置した。円筒状基体107同士の間隔は1mmに設定した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表9に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。
(Example 7)
In this example, a deposited film forming apparatus (see FIG. 3D) similar to the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1 but capable of processing seven cylindrical substrates 107 was used. This deposited film forming apparatus is different from that shown in FIG. 1 only in the number of cylindrical bases 107 and rotating shafts 108, and the other configurations are the same. To do. In this example, seven cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. The interval between the cylindrical substrates 107 was set to 1 mm. Also in this example, similarly to Example 1, film formation was performed for 15 minutes on the cylindrical substrate 107 masked with a part of the central portion in the axial direction under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 9 in a stationary state. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を3rpmで回転させながら表9に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member comprising the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 9 while rotating the cylindrical member at 3 rpm.

(実施例3〜7の評価)
実施例3〜7で作製した電子写真感光体について、実施例1と同様の方法で特性(堆積速度、帯電能、感度、残留電位、光メモリー)の評価を行い、その結果を表10に示している。
(Evaluation of Examples 3-7)
The characteristics (deposition rate, charging ability, sensitivity, residual potential, optical memory) of the electrophotographic photoreceptors prepared in Examples 3 to 7 were evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 10. ing.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

表10から明らかなように、堆積膜形成装置1つ当たりの円筒状基体の本数を3〜7本の範囲で変化させても、何れの場合にも良好な結果が得られたが、中でも4本以下にすることが特に効果的であった。   As can be seen from Table 10, good results were obtained in any case even when the number of cylindrical substrates per deposited film forming apparatus was changed in the range of 3 to 7. It was particularly effective to make it below this.

(実施例8)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置と実質的に同一であるが、高周波電源109として13.56MHzのRF電源を有する堆積膜形成装置を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、高周波電源109以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを4本設置した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表11に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。このような手順に従い、円筒状基体107同士の間隔をさまざまに変化させながら、外側と内側の堆積速度比が5%以上かつ30%以下となるような5条件(円筒状基体107同士の間隔)を求めた。
(Example 8)
In this example, a deposited film forming apparatus having an RF power source of 13.56 MHz was used as the high frequency power source 109 although it is substantially the same as the deposited film forming apparatus shown in FIG. Since this deposited film forming apparatus has the same configuration as that shown in FIG. 1 except for the high-frequency power supply 109, the same reference numerals are given and description thereof is omitted. In this example, four cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. Also in this example, as in Example 1, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 11 in a stationary state on the cylindrical substrate 107 with a portion of the axial central portion masked. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1. According to such a procedure, while changing the interval between the cylindrical substrates 107 in various ways, the five conditions in which the deposition rate ratio between the outside and the inside is 5% or more and 30% or less (the interval between the cylindrical substrates 107). Asked.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を10rpmで回転させながら表11に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。この時、前記した条件に従って、外側と内側の堆積速度比が5〜30%となるようにした、5種類の電子写真感光体を作製した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member including the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 11 while rotating the cylindrical member at 10 rpm. At this time, in accordance with the above-described conditions, five types of electrophotographic photoreceptors were prepared in which the ratio between the outer and inner deposition rates was 5 to 30%.

(比較例3)
図1に示す堆積膜形成装置を用い、実施例8と同様の手順で電子写真感光体の形成を行った。本比較例では、円筒状基体107の内側と外側の堆積速度比が40%になる条件で電子写真感光体を作成した。
(Comparative Example 3)
An electrophotographic photosensitive member was formed in the same procedure as in Example 8 using the deposited film forming apparatus shown in FIG. In this comparative example, an electrophotographic photosensitive member was produced under the condition that the deposition rate ratio between the inner side and the outer side of the cylindrical substrate 107 was 40%.

(実施例9)
本実施例では、図1に示す堆積膜形成装置と実質的に同一であるが、高周波電源109として105MHzのVHF電源を有する堆積膜形成装置を用いた。この堆積膜形成装置は図1に示されているものと比べて、高周波電源109以外の構成は同じであるので、同じ符号を付与し説明を省略する。本実施例では、円筒状基体107として直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダーを4本設置した。本実施例においても、実施例1と同様に、軸方向中央部の一部分をマスクした円筒状基体107に対し、静止状態で、表12に示す光導電層302の条件で15分間成膜を行った。そして、実施例1と同様の手順により、円筒状基体107の外側での堆積速度に対する内側での堆積速度の比を調べた。このような手順に従い、円筒状基体107同士の間隔をさまざまに変化させながら、外側と内側の堆積速度比が5%以上かつ30%以下となるような5条件(円筒状基体107同士の間隔)を求めた。
Example 9
In this embodiment, a deposited film forming apparatus having a 105 MHz VHF power source is used as the high frequency power source 109 although it is substantially the same as the deposited film forming apparatus shown in FIG. Since this deposited film forming apparatus has the same configuration as that shown in FIG. 1 except for the high-frequency power supply 109, the same reference numerals are given and description thereof is omitted. In this example, four cylindrical aluminum cylinders having a diameter of 30 mm and a length of 358 mm were installed as the cylindrical substrate 107. Also in this example, similarly to Example 1, film formation was performed for 15 minutes under the conditions of the photoconductive layer 302 shown in Table 12 in a stationary state on the cylindrical base body 107 with a part of the axial central portion masked. It was. Then, the ratio of the deposition rate on the inner side to the deposition rate on the outer side of the cylindrical substrate 107 was examined by the same procedure as in Example 1. According to such a procedure, while changing the interval between the cylindrical substrates 107 in various ways, the five conditions in which the deposition rate ratio between the outside and the inside is 5% or more and 30% or less (the interval between the cylindrical substrates 107). Asked.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

以上の準備が整った後に、円筒状部材を10rpmで回転させながら表12に示す条件下で、下部阻止層304、光導電層302、および表面層303から成る電子写真感光体を形成した。この時、前記した条件に従って、外側と内側の堆積速度比が5%以上かつ30%以下となるようにした、5種類の電子写真感光体を作製した。   After the above preparation was completed, an electrophotographic photosensitive member including the lower blocking layer 304, the photoconductive layer 302, and the surface layer 303 was formed under the conditions shown in Table 12 while rotating the cylindrical member at 10 rpm. At this time, in accordance with the above-described conditions, five types of electrophotographic photoreceptors were prepared in which the ratio of the deposition rate between the outside and the inside was 5% or more and 30% or less.

(比較例4)
図1に示す堆積膜形成装置を用い、実施例9と同様の手順で電子写真感光体の形成を行った。本比較例では、円筒状基体107の内側と外側の堆積速度比が40%になる条件で電子写真感光体を作成した。
(Comparative Example 4)
Using the deposited film forming apparatus shown in FIG. 1, an electrophotographic photosensitive member was formed in the same procedure as in Example 9. In this comparative example, an electrophotographic photosensitive member was produced under the condition that the deposition rate ratio between the inner side and the outer side of the cylindrical substrate 107 was 40%.

(実施例8,9および比較例3、4の評価)
実施例8および比較例3で作製した電子写真感光体と、実施例9および比較例4で作製した電子写真感光体について、実施例1と同様の方法で特性(堆積速度、帯電能、感度、残留電位、光メモリー)の評価を行い、その結果を表13、14にそれぞれ示している。
(Evaluation of Examples 8 and 9 and Comparative Examples 3 and 4)
About the electrophotographic photosensitive member produced in Example 8 and Comparative Example 3, and the electrophotographic photosensitive member produced in Example 9 and Comparative Example 4, the characteristics (deposition rate, charging ability, sensitivity, Residual potential, optical memory) were evaluated, and the results are shown in Tables 13 and 14, respectively.

Figure 2007119839
Figure 2007119839

Figure 2007119839
Figure 2007119839

表13,14から明らかなように、本発明は、堆積膜形成装置においてRF帯の高周波電源109を用いた場合に特に著しい効果を得ることができる。   As is apparent from Tables 13 and 14, the present invention can obtain a particularly remarkable effect when the RF band high frequency power supply 109 is used in the deposited film forming apparatus.

(a)は本発明の堆積膜形成装置の一例を示す模式的な縦断面図、(b)はその模式的な横断面図である。(A) is a typical longitudinal cross-sectional view which shows an example of the deposited film formation apparatus of this invention, (b) is the typical cross-sectional view. (a)〜(d)は、本発明に基づいて形成される電子写真感光体の層構成の様々な例を示す模式的な拡大図である。(A)-(d) is typical enlarged drawing which shows the various examples of the layer structure of the electrophotographic photoreceptor formed based on this invention. (a)〜(d)は、本発明の堆積膜形成装置の様々な変形例を示す模式的な横断面図である。(A)-(d) is typical sectional drawing which shows the various modifications of the deposited film forming apparatus of this invention. 堆積膜形成装置の比較例を示す模式的な横断面図である。It is a typical cross-sectional view showing a comparative example of a deposited film forming apparatus. 堆積膜形成装置の従来例を示す模式的な縦断面図である。It is a typical longitudinal cross-sectional view which shows the prior art example of a deposited film formation apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

100 反応容器
101 放電電極
106 ガス導入管(原料ガス導入手段)
107 円筒状基体
111 中央空間
A 複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面を示す位置
B 放電電極に対向する面を示す位置
100 reaction vessel 101 discharge electrode 106 gas introduction tube (raw material gas introduction means)
107 Cylindrical substrate 111 Central space A Position indicating a surface facing the center of the central space surrounded by a plurality of cylindrical substrates B Position indicating a surface facing the discharge electrode

Claims (9)

減圧可能な反応容器と、該反応容器内部にて同一円周上に配置された複数の円筒状基体と、原料ガス導入手段と、前記複数の円筒状基体を取り囲むように設置された放電電極とを用い、該放電電極に高周波電力を印加し、前記反応容器内にグロー放電を発生させることにより、該反応容器内に導入された原料ガスを分解し、前記複数の円筒状基体上に堆積膜を形成する堆積膜形成方法において、
前記円筒状基体の表面での堆積速度を、前記放電電極と対向する面での堆積速度に対する、前記複数の円筒状基体に囲まれた中央空間の中心に向いた面での堆積速度の比が5%以上かつ30%以下となるように設定することを特徴とする堆積膜形成方法。
A reaction vessel capable of being depressurized, a plurality of cylindrical substrates disposed on the same circumference inside the reaction vessel, a raw material gas introducing means, and a discharge electrode disposed so as to surround the plurality of cylindrical substrates; And applying a high frequency power to the discharge electrode to generate glow discharge in the reaction vessel, thereby decomposing the raw material gas introduced into the reaction vessel, and depositing a film on the plurality of cylindrical substrates In the deposited film forming method for forming
The ratio of the deposition rate on the surface of the cylindrical substrate to the deposition rate on the surface facing the discharge electrode is the ratio of the deposition rate on the surface facing the center of the central space surrounded by the plurality of cylindrical substrates. A method for forming a deposited film, which is set to be 5% or more and 30% or less.
前記堆積速度の比が8%以上かつ20%以下となるように設定することを特徴とする、請求項1に記載の堆積膜形成方法。   2. The deposited film forming method according to claim 1, wherein the deposition rate ratio is set to be 8% or more and 20% or less. 前記複数の円筒状基体同士の間の最近接距離が1mm以上かつ10mm以下であることを特徴とする、請求項1または2に記載の堆積膜形成方法。   The method for forming a deposited film according to claim 1, wherein the closest distance between the plurality of cylindrical substrates is 1 mm or more and 10 mm or less. 前記放電電極に印加する高周波電力が1MHz以上かつ20MHz以下のRF帯であることを特徴とする、請求項1から3のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。   4. The deposited film forming method according to claim 1, wherein the high frequency power applied to the discharge electrode is an RF band of 1 MHz or more and 20 MHz or less. 5. 前記放電電極に印加する高周波電力が13.56MHzであることを特徴とする、請求項4に記載の堆積膜形成方法。   5. The deposited film forming method according to claim 4, wherein the high frequency power applied to the discharge electrode is 13.56 MHz. 前記堆積膜が、シリコンを母体とし少なくとも水素を含有する非単結晶材料により構成されることを特徴とする、請求項1から5のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。   6. The deposited film forming method according to claim 1, wherein the deposited film is made of a non-single crystal material containing silicon as a base material and containing at least hydrogen. 前記円筒状基体の本数が3本または4本であることを特徴とする、請求項1から6のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。   The deposited film forming method according to claim 1, wherein the number of the cylindrical substrates is three or four. 前記円筒状基体を回転させながら成膜を行うことを特徴とする、請求項1から7のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。   8. The deposited film forming method according to claim 1, wherein the film formation is performed while rotating the cylindrical substrate. 電子写真感光体の製造に用いられる、請求項1から8のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。   The deposited film forming method according to any one of claims 1 to 8, which is used for producing an electrophotographic photosensitive member.
JP2005313089A 2005-10-27 2005-10-27 Method for forming deposition film Pending JP2007119839A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005313089A JP2007119839A (en) 2005-10-27 2005-10-27 Method for forming deposition film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005313089A JP2007119839A (en) 2005-10-27 2005-10-27 Method for forming deposition film

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007119839A true JP2007119839A (en) 2007-05-17

Family

ID=38143984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005313089A Pending JP2007119839A (en) 2005-10-27 2005-10-27 Method for forming deposition film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007119839A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3897582B2 (en) Vacuum processing method, vacuum processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device
JP3155413B2 (en) Light receiving member forming method, light receiving member and deposited film forming apparatus by the method
JP3624113B2 (en) Plasma processing method
JP3745095B2 (en) Deposited film forming apparatus and deposited film forming method
JP2000073173A (en) Formation of deposited film and deposited film forming device
JP5058511B2 (en) Deposited film forming equipment
JP4109861B2 (en) Vacuum processing method
JP2007119840A (en) Method and device for forming deposited film and electrophotographic photoreceptor using the same
JP5058510B2 (en) Deposited film forming apparatus and deposited film forming method
JP2007119839A (en) Method for forming deposition film
JPH06317920A (en) Formation of electrophotographic light receiving member
JPH06273956A (en) Production of electrophotographic sensitive body of amorphous silicon system
JP3428865B2 (en) Apparatus and method for forming deposited film
JP3606399B2 (en) Deposited film forming equipment
JP3420385B2 (en) Deposited film forming apparatus and deposited film forming method
JP3710171B2 (en) Method for forming electrophotographic photosensitive member
US20040261716A1 (en) Deposition film forming apparatus and deposition film forming method
JP2006009042A (en) Film deposition apparatus and film deposition method
JP2009108370A (en) Deposited film forming apparatus
JP2005015877A (en) Apparatus and method for forming deposition film
JP2005163164A (en) Deposited film forming apparatus and deposited film forming method
JP2005068455A (en) Method and apparatus for forming deposition film
JP2002123023A (en) Device and method for manufacturing electrophotographic photoreceptor
JP2005163161A (en) Apparatus and method for forming deposition film
JP2005163166A (en) Deposition film forming system and deposition film forming method