JP2007085917A - 赤外線アレイセンサ - Google Patents

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嘉昭 中田
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【課題】 赤外線測定用センサ素子の感度のばらつきを極力小さくすることができるとともに、センサ素子受光面等の破損や傷付きをなくして製品歩留まりを向上することができる赤外線アレイセンサを提供する。
【解決手段】 シリコン基板4の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子5が縦横マトリックス状に設けられているとともに、これら赤外線測定用センサ素子5の受光部に対応する位置に赤外線集光孔7を有する集光用ミラー3がシリコン基板4上に対向状態に固定されている赤外線アレイセンサにおいて、シリコン基板4と集光用ミラー3との互いに対向する面間に、径の等しい真球状のガラスビース9を介在させて各センサ素子5と集光用ミラー3との間の間隔tを全域に亘って一様に規定している。
【選択図】 図2

Description

本発明は、例えば人体や配電盤、空調機器など各種物体の表面温度分布の計測、あるいは、ビルや高架橋などの建築物の老朽化点検、断熱材の劣化診断、さらには食品の温度検査や衣類の保温効果測定等々に使用される赤外線アレイセンサに関する。詳しくは、半導体基板の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子が縦横マトリックス状に設けられてなり、被測定物から放射される赤外線を各センサ素子に入射させることにより、その被測定物表面の複数点の温度を測定して赤外線画像が得られるように構成されている赤外線アレイセンサに関する。
この種の赤外線アレイセンサにおいては、被測定物から放射される赤外線を各センサ素子の受光部に効率よく入射させて感度の増大が図れるようにするために、各センサ素子の受光部に対応する位置にそれぞれ赤外線集光孔を有する集光用ミラーが半導体基板に対向状態に設けられている。この集光用ミラーを半導体基板に重なるように固定するにあたって、従来では、両者の対向面(集光用ミラーの裏面及び半導体基板の表面)間に接着剤を挟在させて両面が密着するように接着して積層固定する手段が採用されていた(例えば、特許文献1参照)。
また、この種の赤外線アレイセンサにおいて、周囲環境温度の変化などによる外乱ノイズを軽減して正確かつ安定よい温度測定が行えるようにするために、複数個の赤外線測定用センサ素子と同一平面上の半導体基板部分に温度補償用素子を設け、この温度補償用素子への赤外線の入射を阻止するための遮光部分を集光用ミラーに形成し、この集光用ミラーと半導体基板とを、両者の対向面(集光用ミラーの裏面及び半導体基板の表面)間に接着剤を挟在させて両面が密着するように接着して積層固定してなる構造の赤外線アレイセンサを本出願人は先に特許出願している(特願2004−081480号、以下、先願発明という)。
特開2003−4527号公報
しかし、上記したように接着剤を用いて集光用ミラーを半導体基板に積層固定する従来及び先願発明の赤外線アレイセンサでは、接着剤の厚みにより両者の対向面間に数十μm程度の隙間が生じ、その隙間が接着剤の塗布量の不均一性などによってばらつきやすい。このような隙間のばらつきに起因して複数個のセンサ素子と集光用ミラーとの間隔が全域に亘り一様でなく、場所によって異なるために、各センサ素子個々及びセンサ素子間において感度にばらつきを生じるという問題がある。また、熱型の赤外線アレイセンサは薄膜構造であって機械的強度が弱いのが一般的であり、組立時に集光用ミラーが各センサ素子の受光面などに接触あるいは擦れることで、薄膜部が破損したり、傷付けたりしやすく、それだけ製品歩留まりが悪化しやすいという問題があった。
また、温度補償用素子を設けた先願発明の赤外線アレイセンサにおいては、集光用ミラーと半導体基板との互いに対向する面間の隙間のばらつきに起因して各センサ素子及び温度補償用素子からの熱の逃げ具合が変化し各素子の熱収支のバランスが崩れて温度分布を生じ、その結果、環境温度の変化などによる外乱ノイズを正確に補償することができないという問題もあった。
本発明は上記のような実情に鑑みてなされたもので、その主たる目的は、各センサ素子の感度のばらつきを極力小さくすることができるとともに、センサ素子受光面等の破損や傷付きをなくして製品歩留まりを向上することができる赤外線アレイセンサを提供することある。
また、本発明の他の目的は、上記目的に加えて、環境温度変化などによる外乱ノイズを正確に補償することができる赤外線アレイセンサを提供することにある。
上記主たる目的を達成するために、請求項1の発明(以下、第1発明という)に係る赤外線アレイセンサは、半導体基板の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子が縦横マトリックス状に設けられているとともに、これら複数個の赤外線測定用センサ素子の受光部に対応する位置にそれぞれ赤外線集光孔を有する集光用ミラーが前記半導体基板に対向状態に設けられている赤外線アレイセンサにおいて、前記半導体基板と前記集光用ミラーとの互いに対向する面間に、等しい厚みを有する複数個のスペーサ部材を介在させて前記複数個の赤外線測定用センサ素子と前記集光用ミラーとの間の間隔を全域に亘って一様に規定していることを特徴としている。
また、上記他の目的を達成するために、請求項2の発明(以下、第2発明という)に係る赤外線アレイセンサは、半導体基板の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子が縦横マトリックス状に設けられているとともに、これら複数個の赤外線測定用センサ素子と同一平面上の半導体基板部分に温度補償用素子が設けられ、前記複数個の赤外線測定用センサ素子の受光部に対応する位置にそれぞれ赤外線集光孔を有し、かつ、前記温度補償用素子に対応する位置に該温度補償用素子への赤外線の入射を阻止する遮光部分を有する集光用ミラーが前記半導体基板に対向状態に設けられている赤外線アレイセンサにおいて、前記半導体基板と前記集光用ミラーとの互いに対向する面間に、等しい厚みを有する複数個のスペーサ部材を介在させて前記複数個の赤外線測定用センサ素子及び温度補償用素子と前記集光用ミラーとの間の間隔を全域に亘って一様に規定していることを特徴としている。
上記のような特徴構成を有する第1発明に係る赤外線アレイセンサによれば、半導体基板と前記集光用ミラーとの間の間隔が複数個のスペーサ部材により全域に亘って一様に規定されているので、各センサ素子個々及びセンサ素子間における感度のばらつきを極力小さくすることができる。しかも、集光用ミラーを半導体基板に固定する組立時に、集光用ミラーが薄膜で機械的強度の弱い各センサ素子の受光面などに接触あるいは擦れることを避けることができので、受光面が傷付けたり、薄膜部が破損したりすることをなくして製品歩留まりを大幅に向上することができるという効果を奏する。
また、上記のような特徴構成を有する第2発明に係る赤外線アレイセンサによれば、上述したように、各センサ素子個々及びセンサ素子間における感度のばらつきを極力小さくでき、かつ、製品歩留まりを向上できる効果に加えて、温度補償用素子と集光用ミラーとの間の間隔も複数個の赤外線測定用センサ素子と集光用ミラーとの間の間隔と同様に規定して全ての素子の熱収支のバランスを均等化し温度分布の発生をなくすることができるので、温度補償用素子による効果、すなわち、環境温度の変化などによる外乱ノイズの補償を正確に行うことができ、どのような環境下での使用時にも常に安定よい出力を得ることができるという効果を奏する。
そして、上記第1発明及び第2発明に係る赤外線アレイセンサにおいて、半導体基板と集光用ミラーとの間の間隔を規定する複数個のスペーサ部材としては、金バンプや銀バンプを用い、超音波圧着により半導体基板と集光用ミラーとを固定してもよく、また、真球状、ローラ状、角駒状など種々形態のピース状スペーサ部材を用い、そのピース状スペーサ部材を半導体基板と集光用ミラーとの互いに対向する面のそれぞれに接着剤が食み出ないように接着することで両者を固定してもよい。
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係る赤外線アレイセンサ1全体の概略平面図、図2は図1のA−A’線に沿った要部の拡大断面図であり、この赤外線アレイセンサ1は、受光チップ2とこれの一方の面に対向するように配置される集光用ミラー3とからなる。
前記受光チップ2を構成する平面視矩形状のシリコン基板(半導体基板の一例)4の一方の面4a上には、図3の(a)に示すように、縦横方向でm個×n個、例えば8個×7個の赤外線測定用センサ素子5が一定間隔を隔ててドットマトリックス状に作製されており、これによって、m列、例えば8列のセンサアレイ6が形成されている。
一方、前記シリコン基板4と相似形で該シリコン基板4よりも少し小さい平面視矩形状の集光ミラー3には、図3の(b)に示すように、受光チップ2におけるm個×n個の赤外線測定用センサ素子5の各受光部5aに対応する位置それぞれにm個×n個の赤外線集光孔7が形成されている。これら各赤外線集光孔7の周面には、例えば金スパッタリングなどにより高反射率の薄膜8が形成されており、集光孔7に入射する赤外線IRが孔周面で吸収されることを少なくして、測定用センサ素子5の受光部5aに集光されるように構成されている。
そして、図3の(b)に示すような構成の集光ミラー3の裏面3aとシリコン基板4aの表面との互いに対向する面3a,4a間で集光ミラー3およびシリコン基板4の四隅部にはそれぞれ等しい厚みを有するスペーサ部材の一例として、径dが一定の真球状のガラスビーズ9が介装され、これら真球状ガラスビーズ9によって、図2に示すように、前記シリコン基板4と前記集光用ミラー3とは両者間の間隔tが両者4,3の対向する面の全域に亘って一様に規定されるように固定されている。
このシリコン基板4と集光用ミラー3との互いに対向する面の固定手段を詳細に説明すると、まず、図4の(a)に示すように、シリコン基板4の表面上に液状接着剤10aを点滴状に塗布して、その上にガラスビーズ9を置くと、このガラスビーズ9が沈み込んで図4の(b)に示すように、接着剤10aがガラスビーズ9の両側部分に垂れ下がり付着されて硬化し該ガラスビーズ9がシリコン基板4に固定される。次に、図4の(c)に示すように、シリコン基板4に固定されたガラスビーズ9の露出頂部に再度、液状接着剤10bを塗布し、その接着剤10bが硬化する前にガラスビーズ9の上に集光用ミラー3を載置すると、この集光用ミラー3の重量により接着剤10bが図4の(d)に示すように、ガラスビーズ9の露出頂部の両側部分に押し下げられて該ガラスビーズ9が集光用ミラー3の裏面に固定される。これによって、シリコン基板4と集光用ミラー3とがガラスビーズ9の径dと等しい間隔tに規定されて接着剤10a,10bを介して固定される。
前記赤外線測定用センサ素子5としては、図5及び図6に示すように構成されたものを使用している。すなわち、シリコン基板4の上面にSiO2 薄膜11が形成され、このSiO2 薄膜11上に、サーモパイルセンサ12が形成されたメンブレン構造に構成されており、さらにサーモパイルセンサ12上に絶縁膜13を介して赤外線吸収膜14が形成されている。
なお、前記赤外線測定用センサ素子5に使用されているサーモパイルセンサ12は、アルミ12aとポリシリコン12bという異種金属からなり、ペルチェ効果により、その温接点12cを冷却し冷接点12dを熱する方向の熱起電力を発生する熱電対(サーモカップル)を直列に数十対つないで構成されたものである。
上記第1実施形態の赤外線アレイセンサ1によれば、シリコン基板4と集光用ミラー3との間の間隔tが、両者4,3の対向する面の全域に亘って、それらの四隅部に配置介装されたガラスビーズ9の径dと等しい間隔で一様に規定されているので、各センサ素子5個々及びセンサ素子5間における感度のばらつきを極力小さく抑えることができる。また、集光用ミラー3をシリコン基板4に両者3,4の面が対向するようにして固定する組立時に、集光用ミラー3が薄膜で機械的強度の弱い各センサ素子5の受光面などに接触あるいは擦れることを避けれるので、受光面が傷付けたり、薄膜部が破損したりすることをなくして製品歩留まりを大幅に向上することができる。
図7は、第2実施形態を示し、図7は赤外線アレイセンサ1´全体の概略平面図であり、図8は図7のB−B’線に沿った要部の拡大断面図であり、この赤外線アレイセンサ1´は、図1および図2に示した第1実施形態の赤外線アレイセンサ1と基本的に同様な構成を有しているとともに、各列のセンサアレイ6の端部に位置するm個の測定用センサ素子5に隣接するシリコン基板2の端部分に、前記各測定用センサ素子5と同一平面上に並べてm個、例えば8個の温度補償用素子15が列状に形成され、かつ、集光用ミラー3には、受光チップ2におけるm個の温度補償用素子15に対応する位置に無孔でそれら温度補償用素子15への赤外線IRの入射を防止する帯状の遮光部分16が形成されている。なお、図7において、17は信号出力部、18は出力選択回路である。
そして、図9の(b)に示すように、各測定用センサ素子5の受光部5aに対応する位置に赤外線集光孔7が、また、温度補償用素子15に対応する位置に帯状の遮光部分16が形成されている集光ミラー3の裏面とシリコン基板4の表面との対向面間で集光ミラー3およびシリコン基板4の四隅部にはそれぞれ等しい厚みを有するスペーサ部材の一例として、径dが一定の真球状のガラスビーズ9が介在され、これら真球状ガラスビーズ9によって、前記シリコン基板4と前記集光用ミラー3とを両者間の間隔tが両者4,3の対向する面の全域に亘って一様に規定されるように固定してなる。
なお、第2実施形態の赤外線アレイセンサ1´において、シリコン基板4と集光用ミラー3との対向面の固定手段の詳細は、図4の(a)〜(d)で示したものと同様であり、また、温度補償用素子15は、前記赤外線測定用センサ素子5と同一のメンブレン構造に構成されており、その他、各赤外線測定用センサ素子5の具体的な構造は図5および図6に示すものと同一であるため、その記載を省略する。
上記のように構成された第2実施形態の赤外線アレイセンサ1´によれば、各赤外線測定用センサ素子5個々及びセンサ素子5間における感度のばらつきを極力小さくでき、かつ、製品歩留まりを向上できることに加えて、温度補償用素子15と集光用ミラー3との間の間隔も各赤外線測定用センサ素子5と集光用ミラー3との間の間隔tが同様に規定され、全ての素子15,5の熱収支のバランスが均等化され温度分布の発生がなくなるので、温度補償用素子15による効果、すなわち、環境温度の変化などによる外乱ノイズの補償を正確に行うことができ、どのような環境下での使用時にも常に安定よい出力を得ることができる。
また、温度補償用素子15への赤外線IRの入射防止のための遮光部分16が、集光用ミラー3の一部を利用して形成されているので、特別なカバー等を用いる必要がなくなり、シリコン基板4自体の構成及び製作加工が簡単であるだけでなく、そのシリコン基板4に対する各素子5,15の作り込みも容易である。
なお、上記各実施の形態では、赤外線測定用センサ素子5及び温度補償用素子15として、サールパイルセンサ12を使用したもので説明したが、ボロメータ型素子を使用したものであってもよい。
また、上記各実施の形態では、赤外線測定用センサ素子5及び温度補償用素子15を、縦横8個×8個のドットマトリックス状に配置したが、その縦横の配置数はそれ以外であってもよいこともちろんである。
さらに、上記各実施の形態では、シリコン基板4と集光用ミラー3との間の間隔を一様に規定するためのスペーサ部材として、真球状のガラスビーズ9を用いたもので説明したが、真球以外に、ローラ状、角駒状など種々形態のピース状スペーサ部材を用い、そのピース状スペーサ部材をシリコン基板4と集光用ミラー3との対向面のそれぞれに接着剤がはみ出ないように接着することで両者4,3を互いに固定してもよく、また、金バンプや銀バンプを用い、超音波圧着によりシリコン基板4と集光用ミラー3とを互いに固定してもよい。
第1実施形態に係る赤外線アレイセンサ全体の概略平面図である。 図1のA−A’線に沿った要部の拡大断面図である。 前記赤外線アレイセンサの組付前の状態を示し、(a)は受光チップの概略平面図、(b)は集光ミラーの概略平面図である。 (a)〜(d)はシリコン基板と集光用ミラーとの積層固定手段の詳細を説明する要部の拡大断面図である。 赤外線測定用センサ素子の一部切欠き斜視図である。 赤外線測定用センサ素子の縦断面図である。 第2実施形態に係る赤外線アレイセンサ全体の概略平面図である。 図1のB−B’線に沿った要部の拡大断面図である。 前記赤外線アレイセンサの組付前の状態を示し、(a)は受光チップの概略平面図、(b)は集光ミラーの概略平面図である。
符号の説明
1,1´ 赤外線アレイセンサ
3 集光用ミラー
3a 対向する面
4 シリコン基板(半導体基板)
4a 対向する面
5 赤外線測定用センサ素子
5a 受光部
6 センサアレイ
7 赤外線集光孔
9 ガラスビーズ(スペーサ部材の一例)
15 温度補償用素子
16 遮光部分
t シリコン基板と集光用ミラーとの間の間隔
IR 赤外線

Claims (2)

  1. 半導体基板の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子が縦横マトリックス状に設けられているとともに、これら複数個の赤外線測定用センサ素子の受光部に対応する位置にそれぞれ赤外線集光孔を有する集光用ミラーが前記半導体基板に対向状態に設けられている赤外線アレイセンサにおいて、
    前記半導体基板と前記集光用ミラーとの互いに対向する面間に、等しい厚みを有する複数個のスペーサ部材を介在させて前記複数個の赤外線測定用センサ素子と前記集光用ミラーとの間の間隔を全域に亘って一様に規定していることを特徴とする赤外線アレイセンサ。
  2. 半導体基板の同一平面上に複数個の赤外線測定用センサ素子が縦横マトリックス状に設けられているとともに、これら複数個の赤外線測定用センサ素子と同一平面上の半導体基板部分に温度補償用素子が設けられ、前記複数個の赤外線測定用センサ素子の受光部に対応する位置にそれぞれ赤外線集光孔を有し、かつ、前記温度補償用素子に対応する位置に該温度補償用素子への赤外線の入射を阻止する遮光部分を有する集光用ミラーが前記半導体基板に対向状態に設けられている赤外線アレイセンサにおいて、
    前記半導体基板と前記集光用ミラーとの互いに対向する面間に、等しい厚みを有する複数個のスペーサ部材を介在させて前記複数個の赤外線測定用センサ素子及び温度補償用素子と前記集光用ミラーとの間の間隔を全域に亘って一様に規定していることを特徴とする赤外線アレイセンサ。
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