JP2007072244A - Inspection method and manufacturing method for electro-optical device - Google Patents

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Kazunari Sato
一成 佐藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection method and a manufacturing method for an electro-optical device that make it possible to discriminate the type of display panel of the electro-optical device. <P>SOLUTION: The inspection method for the electro-optical device 1 includes a detection stage of detecting whether a plurality of dummy wires 11 differing in interconnection relation and provided on a substrate 2b and a plurality of wires 12 on a flexible printed board 3 connected to the substrate 2b are electrically continuous with each other, according to the kind of the display panel 2 of the electro-optical device 1, and a discrimination stage of discriminating the kind of the display panel 2, based on the detection result of the detection stage about whether the plurality of wires 12 are electrically continuous with each other and the connection relation among the plurality of dummy wires 11. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置の検査方法及び製造方法に関し、特に、表示パネルの種類を判別する電気光学装置の検査方法及び製造方法に関する。   The present invention relates to an inspection method and a manufacturing method for an electro-optical device, and more particularly, to an inspection method and a manufacturing method for an electro-optical device that determine the type of a display panel.

従来より、液晶表示装置等の電気光学装置が、液晶プロジェクタ、携帯電話等の電子機器に広く用いられている。液晶表示装置は、表示パネルと、表示パネルに接続される基板とが電気的に接続されて構成されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, electro-optical devices such as liquid crystal display devices have been widely used in electronic devices such as liquid crystal projectors and mobile phones. The liquid crystal display device is configured by electrically connecting a display panel and a substrate connected to the display panel.

液晶表示装置が所定の機能を果たすためには、表示パネルと基板とが良好に接続されていなければならないので、表示パネルと基板との接続が良好に行われているか否かを、表示パネルと基板とに検査用のダミー電極を設ける方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。その提案によれば、ダミー電極同士の導通と非導通を調べることによって、表示パネルと基板との接続状態が判断される。   In order for the liquid crystal display device to perform a predetermined function, the display panel and the substrate must be well connected. Therefore, whether or not the display panel and the substrate are well connected is determined with the display panel. A method of providing a dummy electrode for inspection on a substrate has been proposed (see, for example, Patent Document 1). According to the proposal, the connection state between the display panel and the substrate is determined by examining the conduction and non-conduction between the dummy electrodes.

また、表示パネルと基板とが所定の接続位置からずれて接続されていないかを、そのズレの方向も併せて検出する方法も提案されている(例えば、特許文献2参照)。その提案では、表示パネルと基板のそれぞれに、3つのダミー電極を表示パネル上に設ける。そして、表示パネル上の3つのダミー電極のうち両端の電極は導通し、中央の電極は非導通状態となるように形成される。そして、基板上の3つのダミー電極は、それぞれ独立しており、互いに非導通状態に形成される。表示パネルと基板とがずれて接続されたときの導通状態を判定することによって、ズレの方向を検出することができるようにしたものである。
従って、これらの提案に係る方法は、表示パネルと基板との接続状態及び位置ズレの方向を検出することができるようにする方法である。
特開平7−146482号公報 特開2004−184839号公報
In addition, a method has also been proposed in which whether the display panel and the substrate are connected with a shift from a predetermined connection position is also detected (for example, see Patent Document 2). In the proposal, three dummy electrodes are provided on the display panel on each of the display panel and the substrate. The electrodes at both ends of the three dummy electrodes on the display panel are made conductive and the center electrode is formed in a non-conductive state. The three dummy electrodes on the substrate are independent of each other and are formed in a non-conductive state. By determining the conduction state when the display panel and the substrate are connected in a shifted state, the direction of misalignment can be detected.
Therefore, the methods according to these proposals are methods for detecting the connection state between the display panel and the substrate and the direction of displacement.
JP 7-146482 A JP 2004-184839 A

しかし、液晶表示装置の表示パネルには、種々の種類がある。例えば顧客からの要求に応じて、表示パネルの外観は同一あるいは類似していても、表示される画像の色調が異なる、視野角が異なる等、外観だけでは、表示パネルの特性を認識できない場合がある。   However, there are various types of display panels of liquid crystal display devices. For example, according to the request from the customer, even if the appearance of the display panel is the same or similar, the display panel characteristics may not be recognized only by the appearance, such as the color tone of the displayed image is different or the viewing angle is different. is there.

上述した提案に係る方法では、複数のダミー電極間の導通状態を判定することによって、表示パネルと基板との接続状態及び位置ズレの方向を検出することができるが、表示パネルの種類の識別はできなかった。   In the method according to the above-described proposal, the connection state between the display panel and the substrate and the direction of displacement can be detected by determining the conduction state between the plurality of dummy electrodes. could not.

そのため、表示パネルの種類だけが違うような外観が似たような製品を製造する場合に、表示パネルの種類の違いに応じた液晶表示装置の製造が適切に行えない虞があった。   Therefore, when manufacturing a product with a similar appearance such that only the type of the display panel is different, there is a possibility that the liquid crystal display device according to the difference in the type of the display panel cannot be appropriately manufactured.

そこで、本発明は、電気光学装置の表示パネルの種類を識別できるようにした電気光学装置の検査方法及び製造方法を提供することを目的とする。
本発明の電気光学装置の検査方法は、前記電気光学装置の表示パネルの種類に応じて互いの接続関係が異なり基板上に設けられた複数のダミー配線と前記基板と接続されたフレキシブルプリント基板上における複数の配線との電気的導通の有無を検出する検出工程と、前記検出工程により検出した前記複数の配線間の電気的導通の有無と、前記複数のダミー配線間の前記接続関係とに基づいて前記表示パネルの種類を判別する判別工程とを有する。
このような構成によれば、表示パネルの種類だけが違うような外観が似たような製品を製造する場合に、表示パネルの種類の違いに応じた液晶表示装置の製造が適切に行うことができる。
SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides an inspection method and a manufacturing method for an electro-optical device that can identify the type of display panel of the electro-optical device.
According to the inspection method of the electro-optical device of the present invention, the connection relationship differs depending on the type of the display panel of the electro-optical device, and the plurality of dummy wirings provided on the substrate and the flexible printed circuit board connected to the substrate Based on the detection step of detecting the presence or absence of electrical continuity with a plurality of wirings in the circuit, the presence or absence of electrical continuity between the plurality of wirings detected by the detection step, and the connection relationship between the plurality of dummy wirings And a discrimination step for discriminating the type of the display panel.
According to such a configuration, when manufacturing a product with a similar appearance such that only the type of the display panel is different, the liquid crystal display device according to the difference in the type of the display panel can be appropriately manufactured. it can.

また、本発明の電気光学装置の検査方法において、前記検出工程は、前記複数の配線に対応して設けられた複数の検査端子に、複数のプローブを各々接触させて、前記複数の検査端子と前記複数のプローブとの各組合せによる電気的導通の有無を検出することが望ましい。
このような構成によれば、プローブを用いて容易に複数の配線間の電気的導通の有無を検出することができる。
In the inspection method of the electro-optical device according to the aspect of the invention, the detection step may include a plurality of probes that are in contact with a plurality of inspection terminals provided corresponding to the plurality of wirings, and the plurality of inspection terminals. It is desirable to detect the presence or absence of electrical continuity due to each combination with the plurality of probes.
According to such a configuration, it is possible to easily detect the presence or absence of electrical continuity between a plurality of wirings using a probe.

また、本発明の電気光学装置の検査方法において、前記複数のダミー配線間の接続関係の情報を、前記表示パネルの種類と対応して、記憶手段に予め記憶しておく記憶工程を有し、前記判別工程は、前記記憶手段に記憶された前記接続関係の情報と、前記検出工程により検出した前記複数配線間の電気的導通の有無とを比較することによって前記表示パネルの種類を判別することが望ましい。
このような構成によれば、パターン比較できるので容易に判別処理が可能となる。
Further, in the inspection method of the electro-optical device of the present invention, the method includes a storage step of storing information on the connection relationship between the plurality of dummy wirings in advance in a storage unit corresponding to the type of the display panel, The determining step determines the type of the display panel by comparing the information on the connection relationship stored in the storage means with the presence or absence of electrical continuity between the plurality of wirings detected by the detecting step. Is desirable.
According to such a configuration, since the patterns can be compared, discrimination processing can be easily performed.

また、本発明の電気光学装置の検査方法において、前記基板は、前記表示パネルへ画像信号を供給するための配線パターンを含むことが望ましい。
このような構成によれば、表示パネルに接続される基板を用いて、表示パネルの種類の判別をすることができる。
In the inspection method for an electro-optical device according to the aspect of the invention, it is preferable that the substrate includes a wiring pattern for supplying an image signal to the display panel.
According to such a configuration, the type of the display panel can be determined using the substrate connected to the display panel.

本発明の電気光学装置の製造方法は、本発明の電気光学装置の検査方法を用いる。
このような構成によれば、表示パネルの種類だけが違うような外観が似たような製品を製造する場合に、表示パネルの種類の違いに応じた液晶表示装置の製造が適切に行うことができる。
The electro-optical device manufacturing method of the present invention uses the electro-optical device inspection method of the present invention.
According to such a configuration, when manufacturing a product with a similar appearance such that only the type of the display panel is different, the liquid crystal display device according to the difference in the type of the display panel can be appropriately manufactured. it can.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
まず図1に基づき、本実施の形態に係わる電気光学装置の構成を説明する。図1は、本実施の形態に係わる電気光学装置の構成を示す外観図である。図1に示すように、電気光学装置としての液晶表示装置1は、液晶装置を含む表示パネル2と、その表示パネル2に接続されたフレキシブルプリント基板(以下、FPCという)3とから構成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, the configuration of the electro-optical device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is an external view showing a configuration of an electro-optical device according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, a liquid crystal display device 1 as an electro-optical device includes a display panel 2 including a liquid crystal device and a flexible printed circuit board (hereinafter referred to as FPC) 3 connected to the display panel 2. .

表示パネル2は、本実施の形態においてその種類を判別するための検査対象である。表示パネル2は、2枚のガラス基板2a,2bを貼り合わせ、2枚のガラス基板2aと2b間に液晶が封入されて構成されている。液晶は、画素毎に印加される電圧レベルに応じて分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調する。液晶のそのような特性を利用して、表示パネル2は、FPC3から供給される画像信号に基づいて、液晶が封入された表示領域2cに画像を表示することができる。そのために、2枚のガラス基板2a,2bには、画像表示のためのスイッチング素子、信号線等の各種回路素子が形成されている。   The display panel 2 is an inspection object for determining the type in the present embodiment. The display panel 2 is configured by bonding two glass substrates 2a and 2b and sealing liquid crystal between the two glass substrates 2a and 2b. The liquid crystal modulates light by changing the orientation and order of the molecular assembly according to the voltage level applied to each pixel. Using such characteristics of the liquid crystal, the display panel 2 can display an image on the display region 2c in which the liquid crystal is sealed, based on the image signal supplied from the FPC 3. For this purpose, various circuit elements such as switching elements and signal lines for image display are formed on the two glass substrates 2a and 2b.

2枚のガラス基板の一方のガラス基板2bには、外部からの画像信号と駆動信号を入力するための複数の入力端子が設けられている。ガラス基板2bの複数の入力端子に、FPC3の表面に設けられた複数の配線の端子が接触するように、ガラス基板2bの一辺にFPC3の一部が接続される。なお、ガラス基板2b上のFPC3が接続される側の一辺に沿って、ガラス基板2aとFPC3の間に、ドライバ回路である半導体チップ4が設けられている。次に、ガラス基板2bとFPC3との接続について詳しく説明する。   One glass substrate 2b of the two glass substrates is provided with a plurality of input terminals for inputting image signals and drive signals from the outside. A part of the FPC 3 is connected to one side of the glass substrate 2b so that the terminals of the plurality of wirings provided on the surface of the FPC 3 are in contact with the plurality of input terminals of the glass substrate 2b. A semiconductor chip 4 that is a driver circuit is provided between the glass substrate 2a and the FPC 3 along one side to which the FPC 3 on the glass substrate 2b is connected. Next, the connection between the glass substrate 2b and the FPC 3 will be described in detail.

図2は、液晶表示装置1の部分拡大平面図である。表示パネル2のガラス基板2b上には、複数の配線パターンが設けられている。図2には、その複数の配線パターンの一部として、配線パターン6と配線パターン7とが示されている。配線パターン6は、半導体チップ4と2枚のガラス基板2a,2b上に設けられた各種回路素子との電気的接続のための複数の配線からなる配線パターンである。配線パターン7は、その一部が、FPC3からの信号が入力される複数の入力端子を構成する。配線パターン7は、半導体チップ4とその複数の端子との電気的接続のための複数の配線からなる配線パターンである。さらに、FPC3にも、複数の配線からなる配線パターン8が設けられている。配線パターン8は、表示パネル2へ画像信号を供給するための配線パターンである。   FIG. 2 is a partially enlarged plan view of the liquid crystal display device 1. On the glass substrate 2b of the display panel 2, a plurality of wiring patterns are provided. FIG. 2 shows a wiring pattern 6 and a wiring pattern 7 as a part of the plurality of wiring patterns. The wiring pattern 6 is a wiring pattern composed of a plurality of wirings for electrical connection between the semiconductor chip 4 and various circuit elements provided on the two glass substrates 2a and 2b. A part of the wiring pattern 7 constitutes a plurality of input terminals to which signals from the FPC 3 are input. The wiring pattern 7 is a wiring pattern including a plurality of wirings for electrical connection between the semiconductor chip 4 and a plurality of terminals thereof. Further, the FPC 3 is also provided with a wiring pattern 8 composed of a plurality of wirings. The wiring pattern 8 is a wiring pattern for supplying an image signal to the display panel 2.

配線パターン6の複数の配線6aが、半導体チップ4の第1の複数の端子4aに、それぞれ接続される。配線パターン7の複数の配線7aの入力端子とは反対側の複数の端部が、半導体チップ4の第2の複数の端子4bに、それぞれ接続される。   The plurality of wirings 6 a of the wiring pattern 6 are connected to the first plurality of terminals 4 a of the semiconductor chip 4, respectively. A plurality of ends of the wiring pattern 7 opposite to the input terminals of the plurality of wirings 7 a are respectively connected to the second plurality of terminals 4 b of the semiconductor chip 4.

そして、図2に示すように、貼り合わされた2枚のガラス基板2a,2bの基板表面に直交する方向から見たときに、配線パターン7の複数の配線7aの端部と、配線パターン8の複数の配線8aの端部とが重なるようにして、端部同士を接触させて接続することによって、配線パターン7の各配線7aと配線パターン8の各配線8aとが電気的に接続される。具体的には、配線パターン8の、配線パターン7と電気的に接続される部分は、FPC3の表面の絶縁性フィルムから露出しており、その露出した部分が配線パターン7と接触することによって、配線パターン7と8の各配線7aと8aは電気的に導通する。   Then, as shown in FIG. 2, when viewed from the direction orthogonal to the substrate surfaces of the two glass substrates 2 a and 2 b bonded together, the ends of the plurality of wirings 7 a of the wiring pattern 7 and the wiring pattern 8 By connecting the end portions in contact with each other so that the end portions of the plurality of wirings 8a overlap each other, the respective wirings 7a of the wiring pattern 7 and the respective wirings 8a of the wiring pattern 8 are electrically connected. Specifically, the portion of the wiring pattern 8 that is electrically connected to the wiring pattern 7 is exposed from the insulating film on the surface of the FPC 3, and the exposed portion is in contact with the wiring pattern 7. The wirings 7a and 8a of the wiring patterns 7 and 8 are electrically connected.

従って、配線パターン8の複数の配線8aを介して入力される画像信号は、半導体チップ4を介して、画像表示のためのスイッチング素子、信号線等の各種回路素子に供給されることによって、表示領域に所望の画像が表示される。   Accordingly, an image signal input via the plurality of wirings 8a of the wiring pattern 8 is supplied to various circuit elements such as switching elements and signal lines for image display via the semiconductor chip 4, thereby displaying A desired image is displayed in the area.

ガラス基板2b上には、さらに、本実施の形態に係る表示パネル1の種類を識別するための配線パターン11が設けられている。その配線パターン11は、ダミー配線として、複数の、ここでは3つの、配線11a、11b、11cを含む。ガラス基板2b上に形成される配線パターン11は、表示パネル2の種類に応じて、複数の配線11a、11b、11c間の電気的な接続関係が異なるように形成される。   A wiring pattern 11 for identifying the type of the display panel 1 according to the present embodiment is further provided on the glass substrate 2b. The wiring pattern 11 includes a plurality of, here three, wirings 11a, 11b, and 11c as dummy wirings. The wiring pattern 11 formed on the glass substrate 2b is formed so that the electrical connection relationship between the plurality of wirings 11a, 11b, and 11c differs depending on the type of the display panel 2.

また一方で、FPC3には、複数のダミー配線を含む配線パターン11に対応した配線パターン12が設けられている。配線パターン12は、複数の、ここでは、配線パターン11に対応した3つの、配線12a、12b、12cを含む。配線パターン12の一端部に検査用の端子部(以下、検査端子部という)13が設けられている。FPC13上に形成された検査端子部13は、各配線12a、12b、12cに対応して、検査用の端子(以下、検査端子という)13a,13b,13cを含む。このように、FPC3に配線パターン8と一緒に配線パターン12が設けられているので、後述するように、表示パネル2に接続されるFPC3を用いて、表示パネル2の種類の判別をすることができる。   On the other hand, the FPC 3 is provided with a wiring pattern 12 corresponding to the wiring pattern 11 including a plurality of dummy wirings. The wiring pattern 12 includes a plurality of wirings 12 a, 12 b, and 12 c that correspond to the wiring pattern 11 here. An inspection terminal portion (hereinafter referred to as an inspection terminal portion) 13 is provided at one end of the wiring pattern 12. The inspection terminal portion 13 formed on the FPC 13 includes inspection terminals (hereinafter referred to as inspection terminals) 13a, 13b, and 13c corresponding to the wirings 12a, 12b, and 12c. Thus, since the FPC 3 is provided with the wiring pattern 12 together with the wiring pattern 8, the type of the display panel 2 can be determined using the FPC 3 connected to the display panel 2, as will be described later. it can.

そして、図2に示すように、貼り合わされた2枚のガラス基板2a,2bの基板表面に直交する方向から見たときに、配線パターン11の配線11a、11b、11cの端部と、配線パターン12の配線12a、12b、12cの端部とが重なるようにして接触させることによって、配線パターン11の各配線と配線パターン12の各配線とが電気的に接続される。具体的には、配線パターン12の、配線パターン11と電気的に接続される部分は、FPC3の表面の絶縁性フィルムから露出しており、その露出した部分が配線パターン11と接触することによって、配線パターン11と12の各配線11a,11b,11cと12a,12b,12cはそれぞれ電気的に導通する。   And as shown in FIG. 2, when it sees from the direction orthogonal to the board | substrate surface of the two glass substrates 2a and 2b bonded together, the edge part of wiring 11a, 11b, 11c of the wiring pattern 11, and a wiring pattern By making the ends of the 12 wirings 12a, 12b, and 12c overlap each other, the wirings of the wiring pattern 11 and the wirings of the wiring pattern 12 are electrically connected. Specifically, the portion of the wiring pattern 12 that is electrically connected to the wiring pattern 11 is exposed from the insulating film on the surface of the FPC 3, and the exposed portion comes into contact with the wiring pattern 11. The wirings 11a, 11b, 11c and 12a, 12b, 12c of the wiring patterns 11 and 12 are electrically connected.

そして、配線パターン12の、配線パターン11と電気的に接続される部分のある一端とは反対側の端部には、3つの検査端子13a,13b,13cからなる検査端子部13が、FPC3の表面の絶縁性フィルムから露出して設けられている。具体的には、3つの検査端子13a,13b,13cは、FPC3の、基板2bと貼り合わされる面と同じ側の面に形成されており、表示パネル2の種類の判別時に、後述する検査用のプローブ群22が接触する部分である。プローブ群22は、3つの検査端子13a,13b,13cに対応する3つのプローブ22a、22b、22cを含む。   An inspection terminal portion 13 including three inspection terminals 13a, 13b, and 13c is provided on the end portion of the wiring pattern 12 opposite to one end where the wiring pattern 11 is electrically connected. It is exposed from the insulating film on the surface. Specifically, the three inspection terminals 13a, 13b, and 13c are formed on the surface of the FPC 3 on the same side as the surface to be bonded to the substrate 2b, and are used for inspection described later when determining the type of the display panel 2. This is a portion where the probe group 22 contacts. The probe group 22 includes three probes 22a, 22b, and 22c corresponding to the three inspection terminals 13a, 13b, and 13c.

一方、図2に示すように、配線11aは、配線12aと接触する一端と反対側の端部は、他の配線11bと11cのいずれとも接続されていない。配線11bと11cは、配線12bと12cと接触するそれぞれの一端と反対側のそれぞれの端部は、導通パターン部14によって電気的に導通状態にある。   On the other hand, as shown in FIG. 2, the end of the wiring 11a opposite to one end in contact with the wiring 12a is not connected to any of the other wirings 11b and 11c. The wirings 11b and 11c are electrically conductive by the conductive pattern part 14 at the ends opposite to the respective ends that are in contact with the wirings 12b and 12c.

図2では、配線11bと11cが電気的に導通状態にある配線パターン11の例が示されているが、後述するように、表示パネル1の種類に応じて、この3つの配線間の接続関係が異なる。   In FIG. 2, an example of the wiring pattern 11 in which the wirings 11b and 11c are in an electrically conductive state is shown. As will be described later, the connection relationship between the three wirings depends on the type of the display panel 1. Is different.

図3は、表示パネル2の種類を判別するための検査装置を説明するための模式的説明図である。図3では、液晶表示装置1の一部が斜視図で示されている。表示パネル検査装置21は、検査用のプローブ群22と、プローブ群22からの信号を受信して、表示パネル2の種類を判別する判別装置23とを含む。判別装置23は、CPU(図示せず)と記憶装置(図示せず)を含み、その記憶装置に予め記憶された所定のプログラムを実行することによって、表示パネル2の種類の判別処理を実行する。   FIG. 3 is a schematic explanatory view for explaining an inspection apparatus for determining the type of the display panel 2. In FIG. 3, a part of the liquid crystal display device 1 is shown in a perspective view. The display panel inspection device 21 includes a probe group 22 for inspection and a determination device 23 that receives a signal from the probe group 22 and determines the type of the display panel 2. The discriminating device 23 includes a CPU (not shown) and a storage device (not shown), and executes a discriminating process of the type of the display panel 2 by executing a predetermined program stored in the storage device in advance. .

具体的には、液晶表示装置1の製造工程において、表示パネル2の種類を検査する場合に、表示パネル検査装置21が利用される。上述したように、表示パネル2は、外観は同一あるいは類似していても、表示される画像の色調が異なる、視野角が異なる等、種々の種類があるので、外観だけでは、表示パネル2の種類を認識できない場合がある。   Specifically, when inspecting the type of the display panel 2 in the manufacturing process of the liquid crystal display device 1, the display panel inspection device 21 is used. As described above, the display panel 2 has various types such as different color tone and different viewing angles even if the appearance is the same or similar. The type may not be recognized.

そのような表示パネル2を間違った工程に搬送してしまう等の虞があるので、本実施の形態の表示パネル検査装置21は、製造工程において、プローブ群22をFPC3の検査端子部13に接触させて、配線パターン11の複数の配線間の電気的導通の有無を検査することによって表示パネル2の種類を判別する。このようなプローブ群22を用いることによって、容易に複数の検査端子間の電気的導通の有無を検出することができる。   Since there is a possibility that such a display panel 2 is transported to the wrong process, the display panel inspection apparatus 21 of the present embodiment contacts the probe group 22 with the inspection terminal portion 13 of the FPC 3 in the manufacturing process. The type of the display panel 2 is determined by inspecting the presence or absence of electrical continuity between the plurality of wirings of the wiring pattern 11. By using such a probe group 22, it is possible to easily detect the presence or absence of electrical continuity between a plurality of inspection terminals.

図4は、配線パターン11における複数の配線間の接続関係のパターン例を説明するための図である。図4(a)は、配線11aと11bは導通パターン部14aによって電気的に導通状態にあり、配線11cは、他の配線11aと11bのいずれとも接続されていないパターン1を示す。図4(b)は、配線11aと11cは導通パターン部14bによって電気的に導通状態にあり、配線11bは、他の配線11aと11cのいずれとも接続されていないパターン2を示す。図4(c)は、配線11aは、他の配線11bと11cのいずれとも接続されておらず、配線11bと11cは導通パターン部14cによって電気的に導通状態にあるパターン3を示す。図4(d)は、配線11a、配線11b及び11cの全てが共通に接続されて、導通パターン部14dによって互いに電気的に導通状態にあるパターン4を示す。図4(e)は、配線11a、配線11b及び11cは、互いにいずれとも接続されておらず、配線11a、配線11b及び11cは、互いに電気的に導通状態にないパターン5を示す。   FIG. 4 is a diagram for explaining a pattern example of a connection relationship between a plurality of wirings in the wiring pattern 11. FIG. 4A shows the pattern 1 in which the wirings 11a and 11b are electrically connected by the conductive pattern portion 14a, and the wiring 11c is not connected to any of the other wirings 11a and 11b. FIG. 4B shows the pattern 2 in which the wirings 11a and 11c are electrically connected by the conductive pattern portion 14b, and the wiring 11b is not connected to any of the other wirings 11a and 11c. FIG. 4C shows the pattern 3 in which the wiring 11a is not connected to any of the other wirings 11b and 11c, and the wirings 11b and 11c are electrically conductive by the conductive pattern portion 14c. FIG. 4D shows a pattern 4 in which all of the wiring 11a, the wirings 11b and 11c are connected in common, and are electrically connected to each other by the conductive pattern portion 14d. FIG. 4E shows a pattern 5 in which the wiring 11a, the wirings 11b and 11c are not connected to each other, and the wiring 11a, the wirings 11b and 11c are not electrically connected to each other.

図5は、その複数の配線間の接続関係のパターンを表に示した図である。判別装置23が、プローブ群22からの電気信号に基づいて、配線パターン11の配線11a、11b、11c間の電気的導通の有無を検出し、その検出した電気的導通の有無が、上述した5つのパターンの内のいずれの接続関係に該当するかを判定する。図5のパターン1が図4(a)のパターンに、パターン2が図4(b)のパターンに、パターン3が図4(c)のパターンに、パターン4が図4(d)のパターンに、パターン5が図4(e)のパターンに相当する。図2の配線パターンは、図4の(c)に相当する。よって、配線パターン11が所定の接続関係を有する3つの配線11a、配線11b及び11cを有することによって、配線パターン11は、5つの種類の表示パネル2のいずれか表すことができる。   FIG. 5 is a table showing a connection relation pattern between the plurality of wirings. The discrimination device 23 detects the presence / absence of electrical continuity between the wirings 11a, 11b, and 11c of the wiring pattern 11 based on the electrical signal from the probe group 22, and the presence / absence of the detected electrical continuity is described above. It is determined which of the two patterns is connected. Pattern 1 in FIG. 5 is the pattern in FIG. 4 (a), pattern 2 is in the pattern in FIG. 4 (b), pattern 3 is in the pattern in FIG. 4 (c), and pattern 4 is in the pattern in FIG. 4 (d). The pattern 5 corresponds to the pattern of FIG. The wiring pattern in FIG. 2 corresponds to (c) in FIG. Therefore, the wiring pattern 11 can represent any of the five types of display panels 2 by including the three wirings 11a, the wirings 11b and 11c having a predetermined connection relation.

なお、本実施の形態では、説明を簡単にするために配線パターン11は3つの配線の例を説明するが、より多くの種類を表現し判別するために、配線パターン11は4つ以上の配線を有していてもよい。   In the present embodiment, for the sake of simplicity, an example in which the wiring pattern 11 has three wirings will be described. However, in order to express and distinguish more types, the wiring pattern 11 has four or more wirings. You may have.

判別装置23は、図5の表データを図示しない記憶装置に予め記憶しておく。すなわち、図5の表データにおける、配線パターン11の配線間の接続関係の情報は、表示パネル2の種類に対応している。表示パネル2の種類の判別処理時には、プローブ群22からの電気信号を検出し、検出した電気信号に基づいて、3つの検査端子13a,13b,13c間の電気的導通の有無をチェックする。そして、判別装置23は、電気的導通の有無と、記憶されている配線パターン11の3つの配線間の接続関係とに基づいて、被検査対象である表示パネル2の種類を判別する。このように、判別装置23は、パターン比較により容易に判別処理が可能となる。   The discrimination device 23 stores the table data of FIG. 5 in a storage device (not shown) in advance. That is, the information on the connection relationship between the wirings of the wiring pattern 11 in the table data of FIG. 5 corresponds to the type of the display panel 2. During the process of discriminating the type of the display panel 2, an electrical signal from the probe group 22 is detected, and the presence or absence of electrical continuity between the three inspection terminals 13a, 13b, 13c is checked based on the detected electrical signal. Then, the determination device 23 determines the type of the display panel 2 to be inspected based on the presence / absence of electrical continuity and the stored connection relationship between the three wirings of the wiring pattern 11. As described above, the determination device 23 can easily perform the determination process by pattern comparison.

次に、液晶表示装置1の製造工程において、表示パネル2にFPC3が接続された後の工程において実施される、表示パネル2の種類を判別する判別処理について説明する。図6は、表示パネル2の種類を判別する判別処理の流れの例を示すフローチャートである。図6の処理は、判別装置23内のCPU(図示せず)によって所定のプログラムが実行されることによって行われる。   Next, a discrimination process for discriminating the type of the display panel 2 performed in the process after the FPC 3 is connected to the display panel 2 in the manufacturing process of the liquid crystal display device 1 will be described. FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of the flow of determination processing for determining the type of the display panel 2. The processing in FIG. 6 is performed by a predetermined program being executed by a CPU (not shown) in the determination device 23.

予め、表示パネル2の基板2b上に、表示パネル2の種類に応じて、互いの接続関係が異なる複数のダミー配線としての配線パターン11を設ける工程が実施される。そして、表示パネル2とFPC3とが接続されて、図1の液晶表示装置1が製造される。その後の工程において、図6の処理が実行される。   A step of previously providing a plurality of wiring patterns 11 as dummy wirings having different connection relations according to the type of the display panel 2 on the substrate 2b of the display panel 2 is performed. And the display panel 2 and FPC3 are connected, and the liquid crystal display device 1 of FIG. 1 is manufactured. In the subsequent process, the process of FIG. 6 is executed.

まず、判別装置23は、液晶表示装置1のFPC3の3つの端子13a,13b,13cに、3つのプローブ22a、22b、22cを、それぞれ接触させる(ステップS1)。FPC3の端子部13が設けられている面とは反対側の面から、FPC3を図示しない支持部材によって支えた状態で、3つのプローブ22a、22b、22cは、図示しない移動装置によって移動されて、それぞれ3つの端子13a,13b,13cに接触する。   First, the determination device 23 brings the three probes 22a, 22b, and 22c into contact with the three terminals 13a, 13b, and 13c of the FPC 3 of the liquid crystal display device 1 (step S1). In a state where the FPC 3 is supported by a support member (not shown) from the surface opposite to the surface on which the terminal portion 13 of the FPC 3 is provided, the three probes 22a, 22b, 22c are moved by a moving device (not shown), Each contacts with three terminals 13a, 13b, 13c.

次に、判別装置23は、3つのプローブ22a、22b、22c間の電気的な導通の有無をチェックする(ステップS2)。このチェックは、3つのプローブのうち2つのプローブを利用して、その2つのプローブ間に電気信号が流れるか否かを順番にチェックしていくことによって行われる。例えば、最初に、第1のペアとして端子13a,13b間に、すなわち配線11aと11bの間に電気信号が流れるかをチェックし、次に、第2のペアとして端子13a,13c間に、すなわち配線11aと11cの間に電気信号が流れるかをチェックし、最後に第3のペアとして端子13b,13c間に、すなわち配線11bと11cの間に電気信号が流れるかをチェックする。   Next, the determination device 23 checks the presence or absence of electrical continuity between the three probes 22a, 22b, and 22c (step S2). This check is performed by using two of the three probes and sequentially checking whether or not an electric signal flows between the two probes. For example, first, it is checked whether an electric signal flows between the terminals 13a and 13b as the first pair, that is, between the wirings 11a and 11b, and then, as the second pair, between the terminals 13a and 13c, that is, It is checked whether an electric signal flows between the wirings 11a and 11c. Finally, it is checked whether an electric signal flows between the terminals 13b and 13c, that is, between the wirings 11b and 11c, as a third pair.

順番にチェックして行き、全てのペアについて電気的導通の有無のチェックをしたか否かを判定し(ステップS3)、全てのペアについてチェックが終了しないと、ステップS3においてNOとなり、残りのペアについてチェックを行う。全てのペアについてチェックが終了すると、ステップS3においてYESとなり、次に、判別装置23は、チェックして得られた複数の端子間の電気的導通の有無と、図示しない記憶装置に予め記憶されている5つのパターンのどのパターンとを比較する(ステップS4)。そして、その比較結果から、チェックして得られた複数の端子間の電気的導通の有無と一致するパターンを特定することによって、判別装置23は、表示パネル2の種類を判別する(ステップS5)。言い換えると、検出して得られた3つの検査端子間の電気的導通の有無と、ダミー配線である複数の配線11a、11b及び11c間の接続関係とに基づいて表示パネル2の種類の判別が行われる。   Check in order and determine whether or not all pairs have been checked for electrical continuity (step S3). If the check is not completed for all pairs, NO is determined in step S3, and the remaining pairs Check about. When all the pairs have been checked, YES is obtained in step S3. Next, the discriminating device 23 is stored in advance in a storage device (not shown) and whether or not there is electrical continuity between the plurality of terminals obtained by checking. Which of the five patterns is compared (step S4). And the discrimination | determination apparatus 23 discriminate | determines the kind of the display panel 2 by specifying the pattern which corresponds with the presence or absence of the electrical continuity between the some terminals obtained by checking from the comparison result (step S5). . In other words, the type of the display panel 2 is determined based on the presence / absence of electrical continuity between the three inspection terminals obtained by detection and the connection relationship between the plurality of wirings 11a, 11b and 11c which are dummy wirings. Done.

図6の処理の結果として得られた種類の情報は、電気光学装置1の製造工程において、利用され、表示パネル2の種類の違いに応じた工程を適切に実施することができる。
以上のように、本実施の形態によれば、電気光学装置の表示パネルの種類を識別できるようにした電気光学装置の検査方法及び製造方法を実現することができる。
The type information obtained as a result of the processing of FIG. 6 is used in the manufacturing process of the electro-optical device 1, and the process corresponding to the difference in the type of the display panel 2 can be appropriately performed.
As described above, according to the present embodiment, it is possible to realize an inspection method and a manufacturing method of an electro-optical device that can identify the type of the display panel of the electro-optical device.

なお、本発明の電気光学装置としては、パッシブマトリクス型の液晶表示装置だけでなく、アクティブマトリクス型の液晶表示装置(例えば、TFT(薄膜トランジスタ)やTFD(薄膜ダイオード)をスイッチング素子として備えた液晶表示パネル)にも同様に適用することが可能である。また、液晶表示パネルだけでなく、エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置、プラズマディスプレイ装置、電気泳動ディスプレイ装置、電気放出素子を用いた装置(Field Emission Display 及びSurface-Conduction Electron-Emission Display等)等の各種の電気光学装置においても本発明を同様に適用することが可能である。   The electro-optical device of the present invention includes not only a passive matrix liquid crystal display device but also an active matrix liquid crystal display device (for example, a liquid crystal display including a TFT (thin film transistor) or a TFD (thin film diode) as a switching element. The same applies to the panel). In addition to liquid crystal display panels, electroluminescence devices, organic electroluminescence devices, plasma display devices, electrophoretic display devices, devices using electroluminescent elements (Field Emission Display, Surface-Conduction Electron-Emission Display, etc.), etc. The present invention can be similarly applied to various electro-optical devices.

本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等が可能である。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

本発明の実施の形態に係わる電気光学装置の構成を示す外観図。1 is an external view illustrating a configuration of an electro-optical device according to an embodiment of the invention. 本発明の実施の形態に係わる液晶表示装置の部分拡大平面図。1 is a partially enlarged plan view of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態に係わる検査装置を説明するための模式的説明図。The typical explanatory view for explaining the inspection device concerning an embodiment of the invention. 本発明の実施の形態に係わる複数の配線間の接続状態のパターン例の説明図。Explanatory drawing of the example of a pattern of the connection state between the some wiring concerning embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係わる複数の配線間の接続関係のパターンを示す図。The figure which shows the pattern of the connection relation between the some wiring concerning embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係わる判別処理の流れの例を示すフローチャート。The flowchart which shows the example of the flow of the discrimination | determination process concerning embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 液晶表示装置、2 表示パネル、3 フレキシブルプリント基板、4 半導体チップ、6,7,8,11,12 配線パターン、13 端子部、14 導通パターン部、21 表示パネル検査装置、22 プローブ、23 判別装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Liquid crystal display device, 2 Display panel, 3 Flexible printed circuit board, 4 Semiconductor chip, 6, 7, 8, 11, 12 Wiring pattern, 13 Terminal part, 14 Conductive pattern part, 21 Display panel inspection apparatus, 22 Probe, 23 Discrimination apparatus

Claims (5)

電気光学装置の検査方法であって、
前記電気光学装置の表示パネルの種類に応じて互いの接続関係が異なり基板上に設けられた複数のダミー配線と前記基板と接続されたフレキシブルプリント基板上における複数の配線との電気的導通の有無を検出する検出工程と、
前記検出工程により検出した前記複数の配線間の電気的導通の有無と、前記複数のダミー配線間の前記接続関係とに基づいて前記表示パネルの種類を判別する判別工程と、
を有することを特徴とする電気光学装置の検査方法。
An inspection method for an electro-optical device,
The presence or absence of electrical continuity between the plurality of dummy wirings provided on the substrate and the plurality of wirings on the flexible printed circuit board connected to the substrate, the connection relationship of which differs depending on the type of the display panel of the electro-optical device A detection step for detecting
A determination step of determining the type of the display panel based on the presence or absence of electrical continuity between the plurality of wirings detected by the detection step, and the connection relationship between the plurality of dummy wirings;
An inspection method for an electro-optical device, comprising:
前記検出工程は、前記複数の配線に対応して設けられた複数の検査端子に、複数のプローブを各々接触させて、前記複数の検査端子と前記複数のプローブとの各組合せによる電気的導通の有無を検出することを特徴とする請求項1記載の電気光学装置の検査方法。   In the detecting step, a plurality of probes are brought into contact with a plurality of inspection terminals provided corresponding to the plurality of wirings, respectively, and electrical conduction by each combination of the plurality of inspection terminals and the plurality of probes is performed. The inspection method for an electro-optical device according to claim 1, wherein presence or absence is detected. 前記複数のダミー配線間の接続関係の情報を、前記表示パネルの種類と対応して、記憶手段に予め記憶しておく記憶工程を有し、
前記判別工程は、前記記憶手段に記憶された前記接続関係の情報と、前記検出工程により検出した前記複数配線間の電気的導通の有無とを比較することによって前記表示パネルの種類を判別することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の電気光学装置の検査方法。
A storage step of storing information on the connection relationship between the plurality of dummy wirings in advance in a storage unit corresponding to the type of the display panel;
The determining step determines the type of the display panel by comparing the information on the connection relationship stored in the storage means with the presence or absence of electrical continuity between the plurality of wirings detected by the detecting step. An inspection method for an electro-optical device according to claim 1 or 2.
前記基板は、前記表示パネルへ画像信号を供給するための配線パターンを含むことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の電気光学装置の検査方法。   4. The electro-optical device inspection method according to claim 1, wherein the substrate includes a wiring pattern for supplying an image signal to the display panel. 請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の電気光学装置の検査方法を用いた電気光学装置の製造方法。

An electro-optical device manufacturing method using the electro-optical device inspection method according to claim 1.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009282285A (en) * 2008-05-22 2009-12-03 Mitsubishi Electric Corp Image display device and mounting inspection method thereof

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