JP2007058586A - Verification simulator and verification simulation method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a verification simulator and a verification simulation method with high simulation accuracy. <P>SOLUTION: The verification simulator includes a storing part which stores information of a model in which operation of a device is described, and a simulation processing part which performs simulation processing of a verifying object device based on the model and test input information. The model includes a display driver model 10, a display panel model 90, and a socket model 110. The display driver model 10 includes a gradation voltage generating circuit model 60 and a data driver model 20. The simulation processing part inputs the serial gradation voltage data generated by the socket model 110 to the data driver model 20 through the gradation voltage generating circuit model 60, inputs serial data from the data driver model 20 to the socket model 110 and converts it to parallel data, and inputs parallel data obtained by the conversion to the display panel model 90. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、検証シミュレータ及び検証シミュレーション方法に関する。   The present invention relates to a verification simulator and a verification simulation method.

液晶パネルなどの表示パネルを駆動するデバイスとして表示ドライバ(LCDドライバ)がある。この表示ドライバでは、実際にその製造を開始する前に、動作確認のための検証シミュレーションが必要になる。   A display driver (LCD driver) is a device for driving a display panel such as a liquid crystal panel. This display driver requires a verification simulation for confirming the operation before actually manufacturing the display driver.

そして表示ドライバの検証シミュレーション手法として、表示ドライバのアナログブロックについてはアナログシミュレータにより検証し、デジタルブロックについてはデジタルシミュレータにより検証するというように、各ブロックを個別に検証する手法がある。   As a display driver verification simulation method, there is a method of verifying each block individually, such as verifying an analog block of a display driver by an analog simulator and verifying a digital block by a digital simulator.

しかしながら、このようなアナログブロック、デジタルブロックの単体検証では、表示ドライバのチップ全体の動作検証ができず、ブロック間の制御などについて不具合が生じるおそれがある。
特開平11−25140号公報
However, in such single verification of analog blocks and digital blocks, the operation verification of the entire display driver chip cannot be performed, and there is a risk that problems such as control between blocks may occur.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-25140

本発明は、以上のような技術的課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、検証精度の高い検証シミュレータ及び検証シミュレーション方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above technical problems, and an object of the present invention is to provide a verification simulator and a verification simulation method with high verification accuracy.

本発明に係る検証シミュレータは、デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、前記モデルは、表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルと、前記表示ドライバモデルと前記表示パネルモデルとの間に仮想的に設けられたソケットモデルとを含み、前記表示ドライバモデルは、階調電圧を生成する階調電圧生成回路の動作が記述された階調電圧生成回路モデルと、生成された階調電圧に基づいてデータ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルとを含み、前記シミュレーション処理部は、前記ソケットモデルにより生成されたシリアルの階調電圧データを前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記データドライバモデルからのシリアルのデータをソケットモデルに入力してパラレルのデータに変換し、変換により得られたパラレルのデータを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行う検証シミュレータに関係する。   The verification simulator according to the present invention includes a storage unit that stores information of a model in which the operation of the device is described, and a simulation processing unit that performs a simulation process of the verification target device based on the model and the test input information, The model includes a display driver model in which an operation of a display driver is described, a display panel model in which an operation of a display panel driven by the display driver is described, and the display driver model and the display panel model. The display driver model includes a gradation voltage generation circuit model in which an operation of a gradation voltage generation circuit for generating a gradation voltage is described, and the generated gradation voltage. A data driver model describing the operation of a data driver that outputs a data signal based on the The serial processing unit inputs serial grayscale voltage data generated by the socket model to the data driver model via the grayscale voltage generation circuit model, and converts serial data from the data driver model to the socket model. The present invention relates to a verification simulator that performs a simulation process of inputting and converting into parallel data and inputting the parallel data obtained by the conversion into the display panel model as data signal data.

本発明によれば、表示ドライバモデルと表示パネルモデルの間にソケットモデルが設けられる。そしてソケットモデルにより生成されたシリアルの階調電圧データが、階調電圧生成回路モデルを介してデータドライバモデルに入力され、データドライバモデルからソケットモデルに入力される。そしてソケットモデルにおいてパラレルのデータに変換されて、表示パネルモデルに入力される。このようにすれば、アナログの動作モデルの不具合を原因とするシミュレーションの誤動作を効果的に防止でき、検証精度を向上できる。   According to the present invention, the socket model is provided between the display driver model and the display panel model. The serial gradation voltage data generated by the socket model is input to the data driver model via the gradation voltage generation circuit model, and is input from the data driver model to the socket model. Then, it is converted into parallel data in the socket model and input to the display panel model. By doing so, it is possible to effectively prevent a simulation malfunction caused by a defect in the analog operation model, and to improve verification accuracy.

また本発明では、前記表示ドライバモデルは、画像データである階調データを記憶する表示メモリの動作が記述された表示メモリモデルを含み、前記シミュレーション処理部は、前記階調電圧生成回路モデルからのシリアルの前記階調電圧データの中から、前記表示メモリモデルからの階調データにより選択された階調電圧データを、前記ソケットモデルに入力するシミュレーション処理を行うようにしてもよい。   In the present invention, the display driver model includes a display memory model in which an operation of a display memory that stores gradation data that is image data is described, and the simulation processing unit receives the gradation voltage generation circuit model from the gradation voltage generation circuit model. You may make it perform the simulation process which inputs the gradation voltage data selected by the gradation data from the said display memory model from the serial said gradation voltage data to the said socket model.

このようにすれば、データドライバでの階調データに基づくD/A変換等を、実回路レベルで正確に検証することが可能になる。   In this way, it is possible to accurately verify D / A conversion and the like based on the gradation data in the data driver at the actual circuit level.

また本発明では、前記シミュレーション処理部は、前記データドライバのうち、階調データをラッチするデータラッチ回路、制御信号を生成する制御回路、階調データのD/A変換を行うD/A変換回路、オペアンプ部とデータ線の間に設けられる出力回路については、ネットリストを使用してシミュレーション処理を行うようにしてもよい。   In the present invention, the simulation processing unit includes, among the data drivers, a data latch circuit that latches gradation data, a control circuit that generates a control signal, and a D / A conversion circuit that performs D / A conversion of gradation data. The output circuit provided between the operational amplifier unit and the data line may be simulated using a netlist.

このようにすれば、データラッチ回路、制御回路、D/A変換回路、出力回路を実回路レベルで検証することが可能になり、検証精度を向上できる。   This makes it possible to verify the data latch circuit, the control circuit, the D / A conversion circuit, and the output circuit at the actual circuit level, thereby improving the verification accuracy.

また本発明では、前記シミュレーション処理部は、前記ソケットモデルにおいてシリアルの前記階調電圧データに付加データを付加し、前記ソケットモデルからのシリアルの前記階調電圧データと前記付加データを、前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記ソケットモデルにおいて前記付加データを分離するシミュレーション処理を行うようにしてもよい。   In the present invention, the simulation processing unit adds additional data to the serial gradation voltage data in the socket model, and the serial gradation voltage data and the additional data from the socket model are converted into the gradation data. A simulation process for separating the additional data in the socket model may be performed by inputting the data driver model via a voltage generation circuit model.

このようにすれば、付加データに基づく処理を階調電圧データに対して施すことが可能になり、シミュレーション効率を向上できる。   In this way, it is possible to perform processing based on the additional data on the gradation voltage data, and the simulation efficiency can be improved.

また本発明では、前記付加データは、RGB識別データ及び極性反転識別データの少なくとも1つを含むようにしてもよい。   In the present invention, the additional data may include at least one of RGB identification data and polarity inversion identification data.

但し付加データはRGB識別データや極性反転識別データだけに限定されるものではない。   However, the additional data is not limited to RGB identification data or polarity inversion identification data.

また本発明では、前記ソケットモデルは、R用の内部レジスタと、G用の内部レジスタと、B用の内部レジスタを含み、前記シミュレーション処理部は、付加データである前記RGB識別データがRデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記R用の内部レジスタに格納し、前記RGB識別データがGデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記G用の内部レジスタに格納し、前記RGB識別データがBデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記B用の内部レジスタに格納するようにしてもよい。   In the present invention, the socket model includes an internal register for R, an internal register for G, and an internal register for B. The simulation processing unit is configured such that the RGB identification data as additional data includes R data. If the RGB identification data indicates G data, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the R internal register. When the voltage regulation data is stored in the G internal register and the RGB identification data indicates B data, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the B internal register. It may be.

このようにすれば、付加データのRGB識別データを利用して、R、G、Bの階調電圧データを、各々、R用、G用、B用の内部レジスタに格納できるようになる。従って、R、G、Bデータがデータ線に多重化されて入力されるようなタイプの表示パネルにおいて、効率的なシミュレーション処理が可能になる。   In this way, using the RGB identification data of the additional data, the R, G, and B gradation voltage data can be stored in the R, G, and B internal registers, respectively. Therefore, an efficient simulation process can be performed in a display panel of a type in which R, G, and B data are multiplexed and input to the data line.

また本発明に係る検証シミュレータは、デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、前記モデルは、表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、前記表示ドライバモデルは、データ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルを含み、前記シミュレーション処理部は、各データ線毎にNビット(N>2)のデータ信号のデータを、前記データドライバモデルから前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行う検証シミュレータに関係する。   The verification simulator according to the present invention includes a storage unit that stores information on a model in which device operation is described, and a simulation processing unit that performs a simulation process on the verification target device based on the model and the test input information. The model includes a display driver model in which an operation of a display driver is described, and a display panel model in which an operation of a display panel driven by the display driver is described. The display driver model outputs a data signal. A data driver model in which an operation of the data driver is described, and the simulation processing unit transfers data of N-bit (N> 2) data signals for each data line from the data driver model to the display panel model. It relates to a verification simulator that performs input simulation processing.

本発明によれば、データドライバモデルからは、各データ線毎にNビットのデータ信号のデータが出力されて、表示パネルモデルに入力されるようになる。従って、表示ドライバがアナログ回路を含む場合にも、デジタル論理シミュレーションにより表示ドライバの動作を検証できるようになり、検証効率を向上できる。   According to the present invention, N-bit data signal data is output from the data driver model for each data line and input to the display panel model. Therefore, even when the display driver includes an analog circuit, the operation of the display driver can be verified by digital logic simulation, and verification efficiency can be improved.

また本発明では、前記表示ドライバモデルは、画像データである階調データを記憶する表示メモリの動作が記述された表示メモリモデルを含み、前記シミュレーション処理部は、前記表示メモリモデルからのNビットの階調データを、各データ線毎に設けられた前記データドライバモデルの各内部レジスタに格納し、前記各内部レジスタに格納されたNビットの階調データを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うようにしてもよい。   In the present invention, the display driver model includes a display memory model in which an operation of a display memory for storing gradation data as image data is described, and the simulation processing unit includes an N-bit from the display memory model. Gray scale data is stored in each internal register of the data driver model provided for each data line, and the N-bit gray scale data stored in each internal register is used as data signal data in the display panel model. You may make it perform the simulation process input into this.

このようにすれば、仮想的な内部レジスタを設けるだけで、データドライバのアナログ動作を擬似的にシミュレーションできるようになる。従って、簡素なモデルを使用しながらも、アナログ制御動作などをデジタル論理シミュレーションで検証でき、検証効率を向上できる。   In this way, the analog operation of the data driver can be simulated in a pseudo manner simply by providing a virtual internal register. Therefore, while using a simple model, analog control operations and the like can be verified by digital logic simulation, and verification efficiency can be improved.

また本発明では、前記シミュレーション処理部は、前記内部レジスタに格納されたNビットの階調データに対して変換処理を行い、変換処理が行われた後の階調データを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うようにしてもよい。   In the present invention, the simulation processing unit performs conversion processing on the N-bit gradation data stored in the internal register, and uses the gradation data after the conversion processing as data signal data. You may make it perform the simulation process input into the said display panel model.

このようにすれば、データドライバでの変換処理についても擬似的にシミュレーションできるようになる。   In this way, it becomes possible to simulate the conversion process in the data driver in a pseudo manner.

また本発明は、デバイスの動作が記述されたモデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法であって、前記モデルは、表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルと、前記表示ドライバモデルと前記表示パネルモデルとの間に仮想的に設けられたソケットモデルとを含み、前記表示ドライバモデルは、階調電圧を生成する階調電圧生成回路の動作が記述された階調電圧生成回路モデルと、生成された階調電圧に基づいてデータ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルとを含み、前記ソケットモデルにより生成されたシリアルの階調電圧データを前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記データドライバモデルからのシリアルのデータをソケットモデルに入力してパラレルのデータに変換し、変換により得られたパラレルのデータを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法に関係する。   The present invention also relates to a verification simulation method for performing a simulation process of a verification target device based on a model in which device operation is described and test input information, wherein the model is a display driver in which operation of a display driver is described A display panel model describing the operation of the display panel driven by the display driver, and a socket model virtually provided between the display driver model and the display panel model, The driver model describes a gradation voltage generation circuit model that describes the operation of a gradation voltage generation circuit that generates a gradation voltage, and an operation of a data driver that outputs a data signal based on the generated gradation voltage. Serial grayscale voltage data generated by the socket model. The grayscale voltage generation circuit model is input to the data driver model, serial data from the data driver model is input to the socket model and converted to parallel data, and the parallel data obtained by the conversion is converted to parallel data. The present invention relates to a verification simulation method for performing a simulation process for inputting data as data signal to the display panel model.

また本発明は、デバイスの動作が記述されたモデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法であって、前記モデルは、表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、前記表示ドライバモデルは、データ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルを含み、各データ線毎にNビット(N>2)のデータ信号のデータを、前記データドライバモデルから前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法に関係する。   The present invention also relates to a verification simulation method for performing a simulation process of a verification target device based on a model in which device operation is described and test input information, wherein the model is a display driver in which operation of a display driver is described A display panel model describing an operation of a display panel driven by the display driver, and the display driver model includes a data driver model describing an operation of a data driver that outputs a data signal, The present invention relates to a verification simulation method for performing a simulation process in which data of an N-bit (N> 2) data signal is input from the data driver model to the display panel model for each data line.

以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail. The present embodiment described below does not unduly limit the contents of the present invention described in the claims, and all the configurations described in the present embodiment are indispensable as means for solving the present invention. Not necessarily.

1.表示ドライバ
図1に、本実施形態の検証シミュレータの検証対象デバイスである表示ドライバ510の構成例を示す。なお表示ドライバ510の構成は図1に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。
1. Display Driver FIG. 1 shows a configuration example of a display driver 510 that is a verification target device of the verification simulator of the present embodiment. The configuration of the display driver 510 is not limited to that shown in FIG. 1, and various modifications can be made.

表示パネル512は、複数のデータ線(ソース線)と、複数の走査線(ゲート線)と、データ線及び走査線により特定される複数の画素を有する。そして各画素領域における電気光学素子(狭義には、液晶素子)の光学特性を変化させることで、表示動作を実現する。この表示パネル512は、TFT、TFDなどのスイッチング素子を用いたアクティブマトリクス方式のパネルにより構成できる。なお表示パネル512は、アクティブマトリクス方式以外のパネルであってもよいし、液晶パネル以外のパネル(有機ELパネル等)であってもよい。   The display panel 512 includes a plurality of data lines (source lines), a plurality of scanning lines (gate lines), and a plurality of pixels specified by the data lines and the scanning lines. A display operation is realized by changing the optical characteristics of the electro-optical element (in a narrow sense, a liquid crystal element) in each pixel region. This display panel 512 can be constituted by an active matrix type panel using switching elements such as TFT and TFD. Note that the display panel 512 may be a panel other than the active matrix method, or may be a panel other than the liquid crystal panel (such as an organic EL panel).

表示メモリ520(RAM)は画像データを記憶する。メモリセルアレイ522は複数のメモリセルを含み、少なくとも1フレーム(1画面)分の画像データ(表示データ)を記憶する。ローアドレスデコーダ524(MPU/LCDローアドレスデコーダ)はローアドレスについてのデコード処理を行い、メモリセルアレイ522のワード線の選択処理を行う。カラムアドレスデコーダ526(MPUカラムアドレスデコーダ)はカラムアドレスについてのデコード処理を行い、メモリセルアレイ522のビット線の選択処理を行う。ライト/リード回路528(MPUライト/リード回路)はメモリセルアレイ522への画像データのライト処理や、メモリセルアレイ522からの画像データのリード処理を行う。   The display memory 520 (RAM) stores image data. The memory cell array 522 includes a plurality of memory cells and stores image data (display data) for at least one frame (one screen). A row address decoder 524 (MPU / LCD row address decoder) performs a decoding process on the row address and performs a word line selection process of the memory cell array 522. A column address decoder 526 (MPU column address decoder) performs a decoding process on the column address and performs a selection process of a bit line of the memory cell array 522. The write / read circuit 528 (MPU write / read circuit) performs image data write processing to the memory cell array 522 and image data read processing from the memory cell array 522.

ロジック回路540(例えば自動配置配線回路)は、表示タイミングやデータ処理タイミングを制御するための表示制御信号を生成する。このロジック回路540は例えばゲートアレイ(G/A)などの自動配置配線により形成できる。制御回路542は各種制御信号を生成したり、装置全体の制御を行う。表示タイミング制御回路544は表示タイミングの制御信号を生成し、表示メモリ520から表示パネル512側への画像データの読み出しを制御する。   The logic circuit 540 (for example, automatic placement and routing circuit) generates a display control signal for controlling display timing and data processing timing. The logic circuit 540 can be formed by automatic placement and routing such as a gate array (G / A). The control circuit 542 generates various control signals and controls the entire apparatus. A display timing control circuit 544 generates a display timing control signal and controls reading of image data from the display memory 520 to the display panel 512 side.

内部インターフェース回路545(ドライバ側インターフェース回路)は、外部デバイス(ホストデバイス等)とのインターフェース処理を行う回路であり、ホストインターフェース回路546、RGBインターフェース回路548を含む。ホスト(MPU)インターフェース回路546は、ホストからのアクセス毎に内部パルスを発生して表示メモリ520にアクセスするホストインターフェースを実現する。RGBインターフェース回路548は、ドットクロックにより動画のRGBデータを表示メモリ520に書き込むRGBインターフェースを実現する。なおホストインターフェース回路546、RGBインターフェース回路548のいずれか一方のみを設ける構成としてもよい。或いは、カメラデバイス等とのインターフェースを実現するYUVインターフェース回路を設けてもよい。或いは、シリアルバスを介した高速シリアル転送を実現する高速シリアルインターフェース回路を設けてもよい。この高速シリアル転送では、シリアルバスの差動信号線を電流駆動又は電圧駆動することにより、外部デバイス(ホストデバイス等)との間での高速シリアル転送が実現される。   The internal interface circuit 545 (driver-side interface circuit) is a circuit that performs interface processing with an external device (such as a host device), and includes a host interface circuit 546 and an RGB interface circuit 548. A host (MPU) interface circuit 546 implements a host interface that generates an internal pulse and accesses the display memory 520 for each access from the host. The RGB interface circuit 548 realizes an RGB interface that writes moving image RGB data to the display memory 520 using a dot clock. Note that only one of the host interface circuit 546 and the RGB interface circuit 548 may be provided. Alternatively, a YUV interface circuit that realizes an interface with a camera device or the like may be provided. Alternatively, a high-speed serial interface circuit that realizes high-speed serial transfer via a serial bus may be provided. In this high-speed serial transfer, high-speed serial transfer with an external device (such as a host device) is realized by current driving or voltage driving the differential signal line of the serial bus.

データドライバ550は、表示パネル512のデータ線を駆動するためのデータ信号を生成する回路である。具体的にはデータドライバ550は、表示メモリ520から画像データである階調データを受け、階調電圧生成回路610から複数(例えば64段階)の階調電圧(基準電圧)を受ける。そして、これらの複数の階調電圧の中から、階調データに対応する電圧を選択して、データ信号(データ電圧)として表示パネル512の各データ線に出力する。   The data driver 550 is a circuit that generates a data signal for driving the data lines of the display panel 512. Specifically, the data driver 550 receives gradation data as image data from the display memory 520 and receives a plurality of (for example, 64 levels) gradation voltages (reference voltages) from the gradation voltage generation circuit 610. Then, a voltage corresponding to the gradation data is selected from the plurality of gradation voltages and is output to each data line of the display panel 512 as a data signal (data voltage).

走査ドライバ570は表示パネルの走査線を駆動するための走査信号を生成する回路である。具体的には、内蔵するシフトレジスタにおいて信号(イネーブル入出力信号)を順次シフトし、このシフトされた信号をレベル変換した信号を、走査信号(走査電圧)として表示パネル512の各走査線に出力する。なお走査ドライバ570に、走査アドレス生成回路やアドレスデコーダを含ませ、走査アドレス生成回路が走査アドレスを生成して出力し、アドレスデコーダが走査アドレスのデコード処理を行うことで、走査信号を生成してもよい。   The scan driver 570 is a circuit that generates a scan signal for driving the scan lines of the display panel. Specifically, a signal (enable input / output signal) is sequentially shifted in a built-in shift register, and a signal obtained by converting the level of the shifted signal is output to each scanning line of the display panel 512 as a scanning signal (scanning voltage). To do. The scan driver 570 includes a scan address generation circuit and an address decoder. The scan address generation circuit generates and outputs a scan address, and the address decoder performs a scan address decoding process to generate a scan signal. Also good.

電源回路590は各種の電源電圧を生成する回路である。具体的には、入力電源電圧や内部電源電圧を、内蔵する昇圧回路が含む昇圧用キャパシタや昇圧用トランジスタを用いてチャージポンプ方式で昇圧する。そして昇圧により得られた電圧を電源電圧として、データドライバ550、走査ドライバ570、階調電圧生成回路610に供給する。   The power supply circuit 590 is a circuit that generates various power supply voltages. Specifically, the input power supply voltage and the internal power supply voltage are boosted by a charge pump method using a boosting capacitor and a boosting transistor included in a built-in boosting circuit. The voltage obtained by the boosting is supplied to the data driver 550, the scan driver 570, and the gradation voltage generation circuit 610 as a power supply voltage.

階調電圧生成回路610(γ補正回路)は階調電圧を生成する回路である。具体的には、内蔵する電圧分割回路(選択用電圧生成回路)が分割電圧を生成し、内蔵する階調電圧生成回路が、生成された分割電圧の中から例えば64個(64階調)の階調電圧を選択して、データドライバ550に出力する。   The gradation voltage generation circuit 610 (γ correction circuit) is a circuit that generates gradation voltages. Specifically, the built-in voltage dividing circuit (selection voltage generating circuit) generates a divided voltage, and the built-in gradation voltage generating circuit has, for example, 64 (64 gradations) among the generated divided voltages. A gradation voltage is selected and output to the data driver 550.

2.検証シミュレータ
図2に本実施形態の検証シミュレータの構成例を示し、図3、図4に検証シミュレータのシミュレーション環境の例を示す。
2. Verification Simulator FIG. 2 shows a configuration example of the verification simulator of this embodiment, and FIGS. 3 and 4 show examples of the simulation environment of the verification simulator.

図2において、記憶部200は、表示ドライバ、表示パネル、外部デバイス(ホストデバイス)などのデバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する。この記憶部200の機能は、検証用のワークステーション(広義にはコンピュータシステム)に組み込まれるメモリ(RAM)やハードディスクなどのハードウェアにより実現される。また記憶部200にその情報が記憶されるモデルとしては、Verilogのビヘイビア(Behavior)モデルなどの抽象度が高いビヘイビアレベルのモデルや、ビヘイビアレベルより抽象度が低いRTL(Register Transfer Level)のモデルや、RTLよりも抽象度が低いネットリストなどの論理レベルのモデルを用いることができる。   In FIG. 2, the storage unit 200 stores model information describing the operation of devices such as a display driver, a display panel, and an external device (host device). The function of the storage unit 200 is realized by hardware such as a memory (RAM) or a hard disk incorporated in a verification workstation (computer system in a broad sense). Further, as models for storing the information in the storage unit 200, a behavior level model having a high abstraction level such as a Verilog behavior model, an RTL (Register Transfer Level) model having a lower abstraction level than the behavior level, and the like. A logic level model such as a netlist having a lower abstraction level than RTL can be used.

シミュレーション処理部210(シミュレーション実行部)は、記憶部200に記憶されたモデルと、テスト入力情報150とに基づいて、検証対象デバイスのシミュレーション処理を行う。このシミュレーション処理部210の機能は、検証用ワークシステムに組み込まれるCPUなどのハードウェアと、検証用ソフトウェアにより実現できる。そして検証用ソフトウェアとしては、Verilogなどの論理シミュレーションのソフトウェアを使用してもよいし、SPICEなどのアナログシミュレーションのソフトウェアを使用したり、論理シミュレーションのソフトウェアとアナログシミュレーションのソフトウェアを混在させたものを使用してもよい。   The simulation processing unit 210 (simulation execution unit) performs a simulation process for the verification target device based on the model stored in the storage unit 200 and the test input information 150. The function of the simulation processing unit 210 can be realized by hardware such as a CPU incorporated in the verification work system and verification software. As the verification software, logic simulation software such as Verilog may be used, analog simulation software such as SPICE, or a mixture of logic simulation software and analog simulation software is used. May be.

テスト入力情報150(テストベンチ、テストデータ)は、コマンドファイル152を含むことができる。このコマンドファイル152には、表示ドライバ(広義には検証対象デバイス)を動作させるためのコマンドとレジスタ(コマンドレジスタ)に設定されるべきパラメータが記述されている。即ちコマンドファイル152には、これらのコマンドが羅列されて記述される。またテスト入力情報150は、RGBデータなどの画像データ154を含むことができる。この画像データ154は、テスト入力用の画像データファイル156から抽出できる。   The test input information 150 (test bench, test data) can include a command file 152. The command file 152 describes a command for operating the display driver (device to be verified in a broad sense) and parameters to be set in the register (command register). That is, these commands are listed and described in the command file 152. The test input information 150 can include image data 154 such as RGB data. The image data 154 can be extracted from the image data file 156 for test input.

シミュレーション処理部210が出力する画像データファイル160は、テスト入力情報150が含む画像データ154により表示パネルに表示されるべき画像を、検証用ワークステーションの表示装置(CRT、モニタ)に表示するためのものである。この画像データファイル160としては、ASCII形式で最も簡単なPPM(Portable Pix Map)の画像形式などを用いることができる。PPMを用いればUNIX(登録商標)のユーティリティソフトなどにより、ワークステーションの表示装置に画像データを容易に表示できる。   The image data file 160 output by the simulation processing unit 210 displays an image to be displayed on the display panel by the image data 154 included in the test input information 150 on the display device (CRT, monitor) of the verification workstation. Is. As the image data file 160, the simplest PPM (Portable Pix Map) image format in the ASCII format can be used. If PPM is used, image data can be easily displayed on a display device of a workstation by using utility software of UNIX (registered trademark).

図3に示すようにシミュレーション環境を構成するモデルとしては、表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデル10や、表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデル90がある。また表示ドライバの外部デバイスが含む外部インターフェース回路(ホスト側インターフェース回路)の動作が記述された外部インターフェース回路モデル130がある。   As shown in FIG. 3, as a model constituting the simulation environment, there are a display driver model 10 in which the operation of the display driver is described, and a display panel model 90 in which the operation of the display panel driven by the display driver is described. There is also an external interface circuit model 130 in which the operation of an external interface circuit (host side interface circuit) included in an external device of the display driver is described.

また図4では、表示ドライバモデル10と表示パネルモデル90との間に仮想的なソケットモデル110(仮想インターフェースモデル)が設けられている。   In FIG. 4, a virtual socket model 110 (virtual interface model) is provided between the display driver model 10 and the display panel model 90.

なお表示ドライバの初期状態を設定するための不揮発性メモリ(EEPROM)の動作が記述された不揮発性メモリモデルを用いてもよい。また外部インターフェース回路を含む外部デバイスとしては、MPU(Micro Processor Unit)、ベースバンドエンジン、アプリケーションプロセッサ、画像処理コントローラ(表示コントローラ)などのデバイス(ホストデバイス)がある。   Note that a nonvolatile memory model in which the operation of the nonvolatile memory (EEPROM) for setting the initial state of the display driver is described may be used. Examples of external devices including an external interface circuit include devices (host devices) such as an MPU (Micro Processor Unit), a baseband engine, an application processor, and an image processing controller (display controller).

図3、図4では表示ドライバモデル10は、データ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデル20を含む。また走査信号を出力する走査ドライバの動作が記述された走査ドライバモデル30や、画像データである階調データを記憶する表示メモリの動作が記述された表示メモリモデル40を含む。また表示ドライバモデル10は、電源回路の動作が記述された電源回路モデル50や、階調電圧を生成する階調電圧生成回路の動作が記述された階調電圧生成回路モデル60や、表示制御信号を少なくとも生成するロジック回路の動作が記述されたロジック回路モデル70を含む。またMPUインターフェース回路やRGBインターフェース回路やYUVインターフェース回路や高速シリアルインターフェース回路などの内部インターフェース回路の動作が記述された内部インターフェース回路モデル80を含む。   3 and 4, the display driver model 10 includes a data driver model 20 in which an operation of a data driver that outputs a data signal is described. Also included are a scan driver model 30 in which the operation of a scan driver that outputs a scan signal is described, and a display memory model 40 in which the operation of a display memory that stores gradation data that is image data is described. The display driver model 10 includes a power supply circuit model 50 in which the operation of the power supply circuit is described, a gradation voltage generation circuit model 60 in which the operation of the gradation voltage generation circuit that generates the gradation voltage is described, and a display control signal. Includes a logic circuit model 70 in which the operation of the logic circuit that generates at least is described. Also included is an internal interface circuit model 80 in which operations of internal interface circuits such as an MPU interface circuit, RGB interface circuit, YUV interface circuit, and high-speed serial interface circuit are described.

そして本実施形態では図2のシミュレーション処理部210が、テスト入力情報150と表示ドライバモデル10と表示パネルモデル90とソケットモデル110に基づいてシミュレーション処理を行う。具体的には、ソケットモデル110により生成されたシリアルの階調電圧データを、階調電圧生成回路モデル60を介してデータドライバモデル20に入力し、データドライバモデル20からのシリアルのデータ(階調電圧データ)をソケットモデル110に入力する。そしてソケットモデル110においてシリアルのデータをパラレルのデータに変換する。そして変換により得られたパラレルのデータを、表示パネルモデル90に入力するシミュレーション処理を行う。更に具体的には、階調電圧生成回路モデル60からのシリアルの階調電圧データ(階調数分の階調電圧データ)の中から、表示メモリモデル40からの階調データにより選択された階調電圧データ(D/A変換により選択された階調電圧データ)を、ソケットモデル110に入力する。この場合にシミュレーション処理部210は、データドライバ(データドライバモデル)のうち、階調データをラッチするデータラッチ回路、制御信号を生成する制御回路、階調データのD/A変換を行うD/A変換回路、オペアンプ部とデータ線の間に設けられる出力回路については、ネットリストを使用してシミュレーション処理を実行するようにする。またソケットモデル110においてシリアルの階調電圧データに対して付加データを付加し、ソケットモデル110からのシリアルの階調電圧データと付加データを、階調電圧生成回路モデル60を介してデータドライバモデル20に入力する。そしてソケットモデル110において解析を行い、付加データを分離する。   In this embodiment, the simulation processing unit 210 in FIG. 2 performs a simulation process based on the test input information 150, the display driver model 10, the display panel model 90, and the socket model 110. Specifically, serial gradation voltage data generated by the socket model 110 is input to the data driver model 20 via the gradation voltage generation circuit model 60, and serial data (gradation data) from the data driver model 20 is input. Voltage data) is input to the socket model 110. In the socket model 110, serial data is converted into parallel data. Then, a simulation process for inputting the parallel data obtained by the conversion to the display panel model 90 is performed. More specifically, the gradation selected from the gradation data from the display memory model 40 out of the serial gradation voltage data (gradation voltage data corresponding to the number of gradations) from the gradation voltage generation circuit model 60. Control voltage data (gradation voltage data selected by D / A conversion) is input to the socket model 110. In this case, the simulation processing unit 210 includes, among data drivers (data driver models), a data latch circuit that latches gradation data, a control circuit that generates control signals, and a D / A that performs D / A conversion of gradation data. For the output circuit provided between the conversion circuit, the operational amplifier unit and the data line, simulation processing is executed using a netlist. In the socket model 110, additional data is added to the serial gradation voltage data, and the serial gradation voltage data and the additional data from the socket model 110 are converted into the data driver model 20 via the gradation voltage generation circuit model 60. To enter. Then, analysis is performed in the socket model 110 to separate the additional data.

またシミュレーション処理部210は、各データ線毎にNビット(N>2)のデータ信号のデータを、データドライバモデル20から表示パネルモデル90に入力するシミュレーション処理を行うようにしてもよい。この場合には表示メモリモデル40からのNビットの階調データを、データ線毎に設けられた仮想的な内部レジスタに格納し、格納されたNビットの階調データを、データ信号のデータとして表示パネルモデル90に入力する。またデータドライバモデル20に設けられた内部レジスタに格納されたNビットの階調データに対して変換処理を行い、変換処理後の階調データを表示パネルモデル90に入力する。   Further, the simulation processing unit 210 may perform a simulation process in which data of an N-bit (N> 2) data signal is input from the data driver model 20 to the display panel model 90 for each data line. In this case, N-bit gradation data from the display memory model 40 is stored in a virtual internal register provided for each data line, and the stored N-bit gradation data is used as data signal data. Input to the display panel model 90. The N-bit gradation data stored in the internal register provided in the data driver model 20 is converted, and the converted gradation data is input to the display panel model 90.

図3、図4に示すように本実施形態によれば、表示パネルモデル90、外部インターフェース回路モデル130などの周辺デバイスのモデルを加えた実装イメージでのシステムシミュレーションを実現できる。また表示ドライバ内部のアナログブロックを、Verilogのビヘイビアモデルなどでモデル化している。またシミュレーション結果の変換を行い、表示イメージでの視覚検証を可能にしている。   As shown in FIGS. 3 and 4, according to the present embodiment, it is possible to realize a system simulation with a mounting image in which peripheral device models such as the display panel model 90 and the external interface circuit model 130 are added. The analog block inside the display driver is modeled by Verilog's behavior model. In addition, simulation results are converted to enable visual verification of the displayed image.

具体的には外部インターフェース回路モデル130(MPUモデル)に、テストベンチとして記述されたコマンドファイル152(MPUコマンド)を入力し、外部インターフェース回路モデル130の変換処理により、MPUインターフェース信号やRGBインターフェース信号などのインターフェース信号のデータを生成する。そして、表示ドライバモデル10の端子に、インターフェース信号のバイナリデータを入力する。同様に、画面に表示させる画像データ154も、外部インターフェース回路モデル130を介して表示ドライバモデル10に入力する。この画像データ154としては例えばRGBフォーマットのデータを使用する。なおYUVフォーマットのデータを使用してもよい。   Specifically, a command file 152 (MPU command) described as a test bench is input to the external interface circuit model 130 (MPU model), and MPU interface signals, RGB interface signals, etc. are converted by the external interface circuit model 130 conversion processing. The interface signal data is generated. Then, binary data of the interface signal is input to the terminal of the display driver model 10. Similarly, image data 154 to be displayed on the screen is also input to the display driver model 10 via the external interface circuit model 130. For example, RGB format data is used as the image data 154. YUV format data may be used.

また表示ドライバの内部ブロックは、ロジック回路(ゲートアレイ)以外は、アナログ回路を含むアナログブロックが大半を占める。そしてアナログブロックは、ネットリスト出力によるVerilogの論理シミュレーションでは正しい動作を検証できないため、例えばブロックレベルの動作を記述したVerilogのビヘイビアモデルを使用する。このアナログブロックのビヘイビアモデルの作り方により、アナログ動作の検証レベルが変わってくるが、本実施形態では、例えばパワーオンシーケンスなどのアナログ制御動作を、論理シミュレーションで検証可能にしている。   Further, the internal blocks of the display driver are mostly analog blocks including analog circuits except for the logic circuit (gate array). Since the analog block cannot verify the correct operation in the Verilog logic simulation based on the netlist output, for example, the Verilog behavior model describing the block level operation is used. Although the verification level of the analog operation varies depending on how to create the behavior model of the analog block, in this embodiment, an analog control operation such as a power-on sequence can be verified by a logic simulation.

具体的にはアナログブロックのビヘイビアモデルの特殊表現としては以下のものがある。例えばデータドライバでは表示メモリからの階調データをD/A変換して、階調電圧であるデータ電圧を発生させている。しかしながら、階調電圧値はアナログ値であり、論理シミュレーターでは表現できない。そこで図3では、表示メモリモデル40からの画像データである例えば6ビット(広義にはNビット)の各階調データを、データドライバモデル20に設けられた仮想的な各内部レジスタに格納する。そして各内部レジスタに格納された階調データに対して変換処理(極性反転処理、RGB反転処理或いは減色モード処理等)を行い、変換処理が行われた後の階調データを、データ信号のデータとして表示パネルモデル90に入力する。   Specifically, there are the following special expressions of the behavior model of the analog block. For example, a data driver D / A converts grayscale data from a display memory to generate a data voltage that is a grayscale voltage. However, the gradation voltage value is an analog value and cannot be expressed by a logic simulator. Therefore, in FIG. 3, for example, 6-bit (N-bit in a broad sense) gradation data that is image data from the display memory model 40 is stored in virtual internal registers provided in the data driver model 20. Then, conversion processing (polarity inversion processing, RGB inversion processing, color reduction mode processing, etc.) is performed on the gradation data stored in each internal register, and the gradation data after the conversion processing is converted into data signal data To the display panel model 90.

或いはこのような内部レジスタを設ける代わりに、図4に示すように表示ドライバモデル10と表示パネルモデル90との間にソケットモデル110を設ける。そしてソケットモデル110で生成されたシリアルの階調電圧データを、表示ドライバモデル10の階調電圧生成回路モデル60を介してデータドライバモデル20に入力し、データドライバモデル20からソケットモデル110に戻す。そしてソケットモデル110内においてシリアルデータをパラレルデータに変換して、表示ドライバモデル90に入力する。   Alternatively, instead of providing such an internal register, a socket model 110 is provided between the display driver model 10 and the display panel model 90 as shown in FIG. The serial grayscale voltage data generated by the socket model 110 is input to the data driver model 20 via the grayscale voltage generation circuit model 60 of the display driver model 10, and the data driver model 20 returns to the socket model 110. Then, the serial data is converted into parallel data in the socket model 110 and input to the display driver model 90.

また表示パネルの走査信号に出力される走査電圧値はアナログ値であり、論理シミュレーションでは表現できない。そこで走査ドライバモデル30では、走査電圧(選択電圧)の発生を論理「1」で表現している。   The scanning voltage value output to the scanning signal of the display panel is an analog value and cannot be expressed by logic simulation. Therefore, in the scan driver model 30, the generation of the scan voltage (selection voltage) is expressed by logic “1”.

また昇圧動作による発生電圧の電位差はアナログ値であり、論理シミュレーションでは表現できない。そこで電源回路モデル50では、昇圧条件を判定し、昇圧電圧の発生を論理「1」で表現している。即ち昇圧条件が満たされると、論理「1」を出力するようにしている。同様に抵抗分割により得られる階調電圧値はアナログ値であり、論理シミュレーションでは表現できない。そこで階調電圧生成回路モデル60では、動作条件を判定し、階調電圧の発生を論理「1」で表現している。即ち動作条件が満たされると、論理「1」を出力するようにしている。そして電源回路や階調電圧生成回路が正常に動作していないと、これらの回路から信号を受けて動作するデータドライバや走査ドライバが動作しないように、データドライバや走査ドライバのビヘイビアモデルを作成する。即ち電源回路モデル50や階調電圧生成回路モデル60から論理「1」が出力されていないと動作を開始しないようなモデルに、データドライバモデル20や走査ドライバモデル30を作成する。こうすることで、パワーオンシーケンスなどのアナログ制御動作が、論理シミュレーションで検証可能になる。   Further, the potential difference of the voltage generated by the boosting operation is an analog value and cannot be expressed by logic simulation. Therefore, in the power supply circuit model 50, the boosting condition is determined, and the generation of the boosted voltage is expressed by logic “1”. That is, when the boost condition is satisfied, a logic “1” is output. Similarly, the gradation voltage value obtained by resistance division is an analog value and cannot be expressed by logic simulation. Therefore, in the gradation voltage generation circuit model 60, the operating condition is determined, and the generation of the gradation voltage is expressed by logic “1”. That is, when the operating condition is satisfied, a logic “1” is output. Then, if the power supply circuit and the gradation voltage generation circuit are not operating normally, create a behavior model for the data driver and scan driver so that the data driver and scan driver that operate by receiving signals from these circuits do not operate. . That is, the data driver model 20 and the scan driver model 30 are created so that the operation is not started unless the logic “1” is output from the power supply circuit model 50 or the gradation voltage generation circuit model 60. By doing so, analog control operations such as a power-on sequence can be verified by logic simulation.

なお図3、図4では、ロジック回路モデル70として、ロジック回路(ゲートアレイ)のネットリストを使用している。即ちロジック回路(図1の540)は、アナログ要素を含まず、ネットリストをそのままVerilog等の論理シミュレータに入力できる。またロジック回路の構成、動作は、仕様により随時変更される。従って、ロジック回路モデル70については、ロジック回路のネットリストをそのまま使用してVerilog等の論理シミュレーションを行うようにする。こうすることでシミュレーション精度を向上できると共に、様々な仕様の表示ドライバに対して本実施形態の検証シミュレーション手法を容易に適用できるようになる。なお内部インターフェース回路モデル80についても、少なくともその一部に内部インターフェース回路のネットリストを使用するようにしてもよい。   3 and 4, a logic circuit (gate array) netlist is used as the logic circuit model 70. That is, the logic circuit (540 in FIG. 1) does not include an analog element and can directly input the net list to a logic simulator such as Verilog. The configuration and operation of the logic circuit are changed as needed according to the specifications. Therefore, for the logic circuit model 70, a logic simulation such as Verilog is performed using the net list of the logic circuit as it is. By doing so, the simulation accuracy can be improved, and the verification simulation method of the present embodiment can be easily applied to display drivers of various specifications. Note that the internal interface circuit model 80 may also use a net list of the internal interface circuit for at least a part thereof.

3.内部レジスタを利用したシミュレーション
図5にデータドライバ550、階調電圧生成回路610の詳細な構成例を示す。データドライバ550は、各データ線(SS1、SS2・・・)毎に設けられたドライバセル552を含む。そしてこのドライバセル552は、データラッチ&変換回路554、制御回路556、D/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562を含む。
3. Simulation Using Internal Register FIG. 5 shows a detailed configuration example of the data driver 550 and the gradation voltage generation circuit 610. The data driver 550 includes a driver cell 552 provided for each data line (SS1, SS2,...). The driver cell 552 includes a data latch & conversion circuit 554, a control circuit 556, a D / A conversion circuit 558, an operational amplifier unit 560, and an output circuit 562.

データラッチ&変換回路554(広義にはデータラッチ回路)は、表示メモリ520からの階調データGD1[5:0]をラッチする。またデータラッチ&変換回路554はRGB反転処理を行う。即ちRGBデータの並びを、R、G、Bの順の並びからB、G、Rの順の並びに変更する処理などを行う。これにより、実装形態が異なる様々なタイプの表示パネルに対応できるようになる。   The data latch & conversion circuit 554 (data latch circuit in a broad sense) latches the gradation data GD1 [5: 0] from the display memory 520. The data latch & conversion circuit 554 performs RGB inversion processing. That is, processing for changing the arrangement of RGB data from the arrangement in the order of R, G, B to the order of B, G, R is performed. Thereby, it becomes possible to cope with various types of display panels having different mounting forms.

制御回路556は、D/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562に対する各種の制御信号を生成したり、階調データに対するデータ変換処理を行う。具体的には、D/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562への制御信号を用いて、パワーセーブ処理を行ったり、階調データに対する極性反転処理、減色モード処理を行う。例えば極性反転処理では、正極性期間で「63」、「62」、「61」の階調データを、負極性期間では例えば「0」、「1」、「2」に設定する。また減色モードでは、階調データにより表現される表示色数を例えば8色に切り替える処理を行う。   The control circuit 556 generates various control signals for the D / A conversion circuit 558, the operational amplifier unit 560, and the output circuit 562, and performs data conversion processing on the gradation data. Specifically, power saving processing is performed using the control signals to the D / A conversion circuit 558, the operational amplifier unit 560, and the output circuit 562, and polarity inversion processing and color reduction mode processing are performed on gradation data. For example, in the polarity inversion process, gradation data of “63”, “62”, “61” is set to “0”, “1”, “2”, for example, in the negative polarity period. In the color reduction mode, a process of switching the number of display colors expressed by the gradation data to, for example, 8 colors is performed.

D/A変換回路558はデジタルの階調データをアナログのデータ電圧にD/A変換する回路である。具体的には階調電圧生成回路610からの階調電圧の中から、デジタルの階調データに対応する電圧を選択することで、D/A変換を実現する。   The D / A conversion circuit 558 is a circuit that D / A converts digital gradation data into an analog data voltage. Specifically, D / A conversion is realized by selecting a voltage corresponding to digital gradation data from the gradation voltages from the gradation voltage generation circuit 610.

オペアンプ部560は、データ信号(データ電圧)のインピーダンス変換処理を行う。このオペアンプ部560は、例えばオペアンプOP(演算増幅器)、スイッチング素子SWを含む。例えばスイッチング素子SWがオンになると、D/A変換回路558によりデータ線SS1が直接駆動されるDAC駆動が行われる。これにより、DAC駆動や、オペアンプ+DAC駆動が実現される。   The operational amplifier unit 560 performs an impedance conversion process on the data signal (data voltage). The operational amplifier unit 560 includes, for example, an operational amplifier OP (operational amplifier) and a switching element SW. For example, when the switching element SW is turned on, DAC driving in which the data line SS1 is directly driven by the D / A conversion circuit 558 is performed. Thereby, DAC driving and operational amplifier + DAC driving are realized.

出力回路562はデータ線SS1の電圧設定などを行う。例えば表示パネルの表示オフコマンドが入力された場合に、D/A変換回路558やオペアンプ部560を用いてデータ線SS1の電圧を設定すると、電荷の充放電に時間がかかるため、データ線SS1の電圧がローレベル又はハイレベルに設定されるのに長時間を要してしまう。そこで、このような場合には、出力回路562が直接にデータ線SS1の電圧をローレベル又はハイレベルに設定する。このようにすれば、表示パネルの表示オフコマンドが入力された場合に、表示パネルを直ぐに白表示(ノーマリーホワイト液晶の場合)等にすることが可能になる。   The output circuit 562 performs voltage setting for the data line SS1. For example, when the display panel display off command is input, if the voltage of the data line SS1 is set by using the D / A conversion circuit 558 or the operational amplifier unit 560, it takes time to charge and discharge the charge. It takes a long time for the voltage to be set to a low level or a high level. In such a case, the output circuit 562 directly sets the voltage of the data line SS1 to a low level or a high level. In this way, when the display off command for the display panel is input, the display panel can be immediately displayed in white (in the case of normally white liquid crystal) or the like.

階調電圧生成回路610(γ補正回路)は、電圧分割回路612(選択用電圧生成回路)、階調電圧選択回路614を含む。電圧分割回路612は、電源回路590(図1参照)で生成された高電圧の電源電圧VDDH、VSSHに基づいて、分割電圧VS0〜VS255(選択用電圧)を出力する。具体的には電圧回路612は、直列に接続された複数の抵抗素子を有するラダー抵抗回路を含む。そしてVDDH、VSSHを、このラダー抵抗回路により分割した電圧を、分割電圧VS0〜VS255として出力する。階調電圧選択回路614は、ロジック回路540(図1参照)により調整レジスタ616に設定された階調特性の調整データに基づいて、分割電圧VS0〜VS255の中から、例えば64階調の場合には64個の電圧を選択して、階調電圧V0〜V63として出力する。このようにすれば表示パネルに応じた最適な階調特性(γ補正特性)の階調電圧を生成できる。   The gradation voltage generation circuit 610 (γ correction circuit) includes a voltage dividing circuit 612 (selection voltage generation circuit) and a gradation voltage selection circuit 614. The voltage dividing circuit 612 outputs divided voltages VS0 to VS255 (selection voltages) based on the high-voltage power supply voltages VDDH and VSSH generated by the power supply circuit 590 (see FIG. 1). Specifically, the voltage circuit 612 includes a ladder resistor circuit having a plurality of resistor elements connected in series. A voltage obtained by dividing VDDH and VSSH by the ladder resistor circuit is output as divided voltages VS0 to VS255. The gradation voltage selection circuit 614 is based on the gradation characteristic adjustment data set in the adjustment register 616 by the logic circuit 540 (see FIG. 1), for example, in the case of 64 gradations from among the divided voltages VS0 to VS255. Selects 64 voltages and outputs them as gradation voltages V0 to V63. In this way, it is possible to generate a gradation voltage having an optimum gradation characteristic (γ correction characteristic) according to the display panel.

さて図5のデータドライバ550や階調電圧生成回路610はアナログ回路を含む。また階調電圧生成回路610により生成される階調電圧やデータ線SS1に出力されるデータ電圧は、アナログ値であり、デジタル論理シミュレーションでは表現できない。   Now, the data driver 550 and the gradation voltage generation circuit 610 in FIG. 5 include analog circuits. The gradation voltage generated by the gradation voltage generation circuit 610 and the data voltage output to the data line SS1 are analog values and cannot be expressed by digital logic simulation.

そこで本実施形態では、データドライバ550や階調電圧生成回路610を、Verilogのビヘイビアモデルなどによりモデル化して、シミュレーション処理を行うようにしている。   Therefore, in this embodiment, the data driver 550 and the gradation voltage generation circuit 610 are modeled by a Verilog behavior model or the like, and simulation processing is performed.

具体的には図6に示すように、各データ線毎に6ビット(広義にはNビット。N>2)のデータ信号のデータ(バイナリデータ)を、データドライバモデル20から表示パネルモデル90に入力するシミュレーション処理を行う。即ち実回路レベルのデータ線を介さずに、各データ線毎に6ビットのデータ信号のデータを表示パネルモデル90に入力するようにする。このようにすれば、Verilogのようなデジタル論理シミュレーションを用いて、表示ドライバの検証を行うことが可能になり、表示ドライバの実動作に近い動作検証が可能になる。   Specifically, as shown in FIG. 6, data (binary data) of 6 bits (N bits in a broad sense, N> 2) for each data line is transferred from the data driver model 20 to the display panel model 90. Perform the input simulation process. That is, data of a 6-bit data signal is input to the display panel model 90 for each data line without going through the data line at the actual circuit level. In this way, it becomes possible to verify the display driver using a digital logic simulation such as Verilog, and it is possible to verify the operation close to the actual operation of the display driver.

更に具体的には図6に示すように、データドライバモデル20に仮想的な内部レジスタ22を設ける。この内部レジスタ22は、各データ線毎に設けられる6ビット(Nビット)のレジスタである。   More specifically, a virtual internal register 22 is provided in the data driver model 20 as shown in FIG. The internal register 22 is a 6-bit (N-bit) register provided for each data line.

そして表示メモリモデル40からの6ビット(Nビット)の階調データを、各データ線毎に設けられた各内部レジスタ22に格納し、格納された6ビットの階調データをデータ信号のデータとして、表示パネルモデル90に入力するシミュレーション処理を行う。具体的には表示パネルモデル90が、データドライバモデル20の内部レジスタ22のデータを参照する形態で、各データ線毎に6ビットのパラレルデータをデータドライバモデル20から表示パネルモデル90に転送する。このようなデータの参照による転送は、Verilog記述を利用して容易に実現できる。   Then, 6-bit (N-bit) gradation data from the display memory model 40 is stored in each internal register 22 provided for each data line, and the stored 6-bit gradation data is used as data signal data. Then, a simulation process for inputting to the display panel model 90 is performed. Specifically, the display panel model 90 refers to the data in the internal register 22 of the data driver model 20 and transfers 6-bit parallel data from the data driver model 20 to the display panel model 90 for each data line. Such data transfer by reference can be easily realized using Verilog description.

図6において表示パネルモデル90は、データキャプチャ部92、極性反転部94、画像データファイル作成部96を含む。   In FIG. 6, the display panel model 90 includes a data capture unit 92, a polarity inversion unit 94, and an image data file creation unit 96.

ここでデータキャプチャ部92は、表示パネルの全ての画素分の内部レジスタ(全ての画素に対応する内部レジスタ)を有している。そして表示ドライバモデル10からの走査信号GS1のデータが「1」から「0」に変化すると、データキャプチャ部92に設けられた全画素分の内部レジスタのうち、GS1に対応する内部レジスタに対して、データドライバモデル20の内部レジスタ22からのデータ(パラレルの階調データ)を格納してキャプチャする。同様に、表示ドライバモデル10からの走査信号GS2のデータが「1」から「0」に変化すると、データキャプチャ部92に設けられた全画素分の内部レジスタのうち、GS2に対応する内部レジスタに対して、データドライバモデル20の内部レジスタ22からのデータを格納してキャプチャする。   Here, the data capture unit 92 has internal registers for all pixels of the display panel (internal registers corresponding to all pixels). When the data of the scanning signal GS1 from the display driver model 10 changes from “1” to “0”, among the internal registers for all the pixels provided in the data capture unit 92, the internal register corresponding to GS1 is selected. The data (parallel gradation data) from the internal register 22 of the data driver model 20 is stored and captured. Similarly, when the data of the scanning signal GS2 from the display driver model 10 changes from “1” to “0”, among the internal registers for all the pixels provided in the data capture unit 92, the internal register corresponding to GS2 is stored. On the other hand, the data from the internal register 22 of the data driver model 20 is stored and captured.

極性反転部94は、表示ドライバモデル10からの信号FR(極性反転信号)に基づいて、データキャプチャ部92の内部レジスタに格納されたデータに対して極性反転処理を行う。即ち信号FRの極性を判定してデータ(画像データ)の正転/反転処理を行う。そして画像データファイル作成部96は、表示ドライバモデル10からの信号VSYNC(垂直同期信号)をトリガとして、画像データファイル160を生成して出力する。   The polarity inversion unit 94 performs polarity inversion processing on the data stored in the internal register of the data capture unit 92 based on the signal FR (polarity inversion signal) from the display driver model 10. That is, the polarity of the signal FR is determined, and normal rotation / inversion processing of data (image data) is performed. Then, the image data file creation unit 96 generates and outputs an image data file 160 using the signal VSYNC (vertical synchronization signal) from the display driver model 10 as a trigger.

図7に、図6のシミュレーション処理のフローチャートを示す。まず表示メモリモデル40が階調データを出力する(ステップS1)。すると、D/A変換回路やオペアンプ部用の制御信号をトリガとして、階調データを、データドライバモデル20の内部レジスタ22に格納する(ステップS2)。   FIG. 7 shows a flowchart of the simulation process of FIG. First, the display memory model 40 outputs gradation data (step S1). Then, the gradation data is stored in the internal register 22 of the data driver model 20 using a control signal for the D / A conversion circuit and the operational amplifier as a trigger (step S2).

次に内部レジスタ22に格納された階調データに対してRGB反転処理、極性反転処理、減色モード処理などの変換処理を実行する(ステップS3)。即ち図5のデータラッチ&変換回路554で行われるRGB反転処理(RGBからBGRに変換する処理)や、制御回路556で行われる極性反転処理、減色モード(8色モード)処理を実行する。そして変換処理後の階調データを、データ線出力端子に出力せずに内部レジスタ22に格納する(ステップS4)。そして内部レジスタ22を介して階調データを表示パネルモデル90に渡す。   Next, conversion processing such as RGB inversion processing, polarity inversion processing, and color reduction mode processing is executed on the gradation data stored in the internal register 22 (step S3). That is, RGB inversion processing (processing for converting RGB to BGR) performed by the data latch & conversion circuit 554 of FIG. 5, polarity inversion processing, and color reduction mode (8-color mode) processing performed by the control circuit 556 are executed. Then, the gradation data after the conversion process is stored in the internal register 22 without being output to the data line output terminal (step S4). Then, the gradation data is passed to the display panel model 90 via the internal register 22.

図6、図7の手法によれば、仮想的な内部レジスタ22を設けるだけで、データドライバのアナログ動作を擬似的にシミュレーションできる。従って図3、図4に示すような実装イメージでのシステムシミュレーションを、Verilogなどのデジタル論理シミュレーションを用いて実現できる。従って、簡素なモデルを使用しながらも、アナログ制御動作などをデジタル論理シミュレーションで検証できるようになり、検証効率を向上できる。   6 and 7, the analog operation of the data driver can be simulated in a pseudo manner simply by providing the virtual internal register 22. Therefore, the system simulation with the mounting image as shown in FIGS. 3 and 4 can be realized by using digital logic simulation such as Verilog. Therefore, it becomes possible to verify an analog control operation or the like by digital logic simulation while using a simple model, and the verification efficiency can be improved.

4.ソケットモデルを利用したシミュレーション
図6、図7の手法では、データドライバモデル20として内部レジスタ22を用いた簡素なモデルを使用できるという利点がある。しかしながら、データドライバの実回路のネットリストを使用していないため、検証精度の点で劣るという不利点がある。即ち、ビヘイビアモデル自身が疑似モデルである以上、設計者が表示ドライバの動作仕様を誤認したり、誤った動作モデルを作成してしまう可能性があり、検証の正当性を十分に保証できないという不利点がある。
4). Simulation Using Socket Model The method shown in FIGS. 6 and 7 has an advantage that a simple model using the internal register 22 can be used as the data driver model 20. However, since the net list of the actual circuit of the data driver is not used, there is a disadvantage that the verification accuracy is inferior. In other words, since the behavior model itself is a pseudo model, the designer may misunderstand the operation specifications of the display driver or create an incorrect operation model, and the validity of verification cannot be sufficiently guaranteed. There are advantages.

一方、データドライバなどのアナログブロックの動作モデルを、アナログ記述言語AHDLにより作成する手法も考えられる。この手法では、アナログブロックがアナログ的な振る舞いをするようになるため、アナログ動作の作り込みについては問題はなくなるが、モデルである以上、仕様の誤認という問題は残ってしまう。また図3、図4に示すようなシステムシミュレーションを実現しようとした場合に、検証シミュレーションの形態を、デジタル論理シミュレーションからミックス・シグナルシミュレーションに切り替えなければならなくなる。そしてミックス・シグナルシミュレーションは、シミュレーション時間が膨大になるため、表示ドライバの全てのファンクションを検証するのには不向きである。   On the other hand, a method of creating an operation model of an analog block such as a data driver using the analog description language AHDL is also conceivable. In this method, the analog block behaves like an analog, so there is no problem with the creation of the analog operation. However, as long as it is a model, the problem of misidentification of specifications remains. Also, when trying to realize a system simulation as shown in FIGS. 3 and 4, the verification simulation must be switched from a digital logic simulation to a mixed signal simulation. The mixed signal simulation is not suitable for verifying all functions of the display driver because the simulation time is enormous.

そこで図8で説明する手法では、アナログブロックをデジタル論理シミュレーション用のネットリストで構成し、本来はアナログ値として扱われるべき階調電圧をシリアルデータとして扱うことで、表示ドライバの全体的なシステムシミュレーションをデジタル論理シミュレーションで実現している。   Therefore, in the method described with reference to FIG. 8, an analog block is configured by a netlist for digital logic simulation, and gradation voltages that should be handled as analog values are handled as serial data. Is realized by digital logic simulation.

具体的にはデータドライバなどのアナログブロック全体をモデル化するのではなく、必要最小限のアナログ回路だけをモデル化する手法(部分モデル化)を採用する。アナログブロックといえども、内部の制御回路等はロジック回路で構成されているため、その部分はスケマチックより出力されたVerilogのネットリストを使用し、必要最小限のアナログ回路についてだけ擬似的な動作モデルを作成する。こうすれば、アナログモデルの単位が小さくなるため、仕様を誤認してモデル動作記述を行ってしまう確率も低くなり、検証精度を向上できる。   Specifically, instead of modeling the entire analog block such as a data driver, a method (partial modeling) of modeling only the minimum necessary analog circuit is employed. Even though it is an analog block, the internal control circuit is composed of logic circuits, so that part uses a Verilog netlist output from the schematic, and a pseudo operation model for only the minimum necessary analog circuit Create By doing so, the unit of the analog model becomes smaller, so the probability of misrecognizing the specification and describing the model behavior is reduced, and the verification accuracy can be improved.

例えば図5のデータドライバ550において、オペアンプ部560のオペアンプOPだけをVerilogのビヘイビアモデルで記述してシミュレーションを実行し、その他の回路(データラッチ&変換回路、制御回路、D/A変換回路、出力回路等)については、スケマチックより出力したVerilogのネットリストとVerilogのライブラリを使用してシミュレーションを実行する。この手法によれば、データドライバ550の内部の制御回路については、設計者が意図した動作を確実に行うようになるため、モデルに起因する異常動作はほとんど生じなくなり、検証精度を向上できる。   For example, in the data driver 550 of FIG. 5, only the operational amplifier OP of the operational amplifier unit 560 is described by a Verilog behavior model and simulation is performed, and other circuits (data latch & conversion circuit, control circuit, D / A conversion circuit, output) For the circuit, etc., the simulation is executed using the Verilog netlist and Verilog library output from the schematic. According to this method, the control circuit inside the data driver 550 reliably performs the operation intended by the designer, so that the abnormal operation caused by the model hardly occurs and the verification accuracy can be improved.

また、前述のように、階調電圧生成回路610からの階調電圧は、Verilogのデジタル論理シミュレーションでは表現できない。そこで階調電圧のデータとしてシリアルデータのフォーマットを使用して、データドライバモデル20から出力できるようにするために、ソケットモデル110というモデルを導入する。そしてシリアルの階調電圧データをソケットモデル110内において階調電圧数分だけ生成し、そのシリアルの階調電圧データをラダー抵抗モデルを介して階調電圧生成回路モデル60(γモデル)に供給する(仮想接続)。階調電圧生成回路モデル60はデータドライバモデル20に対して階調電圧を供給しているため、データドライバモデル20は、階調電圧生成回路モデル60からのシリアルの階調電圧データをハンドリングできる。そこで、階調電圧生成回路モデル60から供給されたシリアル階調電圧データを、階調データに基づいてデータドライバモデル20内において選択し、ソケットモデル110内でシリアル/パラレル変換を行い、表示パネルモデル90に供給する。   Further, as described above, the gradation voltage from the gradation voltage generation circuit 610 cannot be expressed by Verilog digital logic simulation. Therefore, a model called a socket model 110 is introduced to enable output from the data driver model 20 by using a serial data format as gradation voltage data. Serial gradation voltage data is generated in the socket model 110 by the number of gradation voltages, and the serial gradation voltage data is supplied to the gradation voltage generation circuit model 60 (γ model) via the ladder resistance model. (Virtual connection). Since the gradation voltage generation circuit model 60 supplies gradation voltages to the data driver model 20, the data driver model 20 can handle serial gradation voltage data from the gradation voltage generation circuit model 60. Therefore, the serial gradation voltage data supplied from the gradation voltage generation circuit model 60 is selected in the data driver model 20 based on the gradation data, serial / parallel conversion is performed in the socket model 110, and a display panel model is selected. 90.

具体的には図8に示すように、表示ドライバモデル10と表示パネルモデル90との間に仮想的に設けられたソケットモデル110が用意される。このソケットモデル110(仮想接続モデル)は、表示ドライバモデル10と表示パネルモデル90を仮想的に接続するモデルである。   Specifically, as shown in FIG. 8, a socket model 110 that is virtually provided between the display driver model 10 and the display panel model 90 is prepared. The socket model 110 (virtual connection model) is a model for virtually connecting the display driver model 10 and the display panel model 90.

そしてソケットモデル110により生成されたシリアルの階調電圧データを階調電圧生成回路モデル60を介してデータドライバモデル20に入力する。そしてデータドライバモデル20からのシリアルのデータをソケットモデル110に入力してパラレルのデータに変換し、変換により得られたパラレルのデータをデータ信号のデータとして表示パネルモデル90に入力するシミュレーション処理を行う。   The serial gradation voltage data generated by the socket model 110 is input to the data driver model 20 via the gradation voltage generation circuit model 60. Then, serial data from the data driver model 20 is input to the socket model 110 and converted into parallel data, and a simulation process is performed in which the parallel data obtained by the conversion is input to the display panel model 90 as data signal data. .

例えば図8においてソケットモデル110は、シフト用クロック生成部112、クロック数カウント部114、シリアル階調電圧データ生成部116、シリアル/パラレル変換部118、内部レジスタ120を含む。シフト用クロック生成部112はシフト用クロックを生成し、クロック数カウント部114は、シフト用クロックのクロック数をカウントする。シリアル階調データ生成部116は、クロック数カウント部114からのカウント値に基づいて動作し、シリアルの階調電圧データを生成する。即ち階調電圧V0〜V63の各々に対応するバイナリのシリアル階調電圧データを生成する。例えば階調電圧V0、V1、V2、V3に対応するシリアル階調電圧として、各々、(000000)、(000001)、(000010)、(0000011)などを生成する。そして生成されたシリアル階調電圧データの各々を、V0〜V63のノードの各々に供給する。これはVerilogを利用した仮想接続により実現できる。   For example, in FIG. 8, the socket model 110 includes a shift clock generation unit 112, a clock number counting unit 114, a serial gradation voltage data generation unit 116, a serial / parallel conversion unit 118, and an internal register 120. The shift clock generator 112 generates a shift clock, and the clock number counter 114 counts the number of shift clocks. The serial grayscale data generation unit 116 operates based on the count value from the clock number counting unit 114 and generates serial grayscale voltage data. That is, binary serial gradation voltage data corresponding to each of the gradation voltages V0 to V63 is generated. For example, (000000), (000001), (0000010), (0000011), and the like are generated as serial gradation voltages corresponding to the gradation voltages V0, V1, V2, and V3, respectively. Then, each of the generated serial gradation voltage data is supplied to each of the nodes V0 to V63. This can be achieved by virtual connection using Verilog.

ネットリストで構成されるD/A変換回路558は、表示メモリモデル40からの階調データに基づいて、V0〜V63のノードのうち階調データに対応するノードを選択する。例えば正極性期間では、階調データが「63」である場合にはV63のノードが選択され、階調データが「62」である場合にはV62のノードが選択される。一方、極性反転の負極性期間では、階調データが「63」である場合にはV0のノードが選択され、階調データが「62」である場合にはV1のノードが選択される。そして、選択されたノードに供給されているシリアル階調電圧データが、D/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562を介してデータ線に出力され、ソケットモデル110に再入力される。   The D / A conversion circuit 558 configured by the net list selects a node corresponding to the gradation data from the nodes V0 to V63 based on the gradation data from the display memory model 40. For example, in the positive polarity period, when the gradation data is “63”, the node of V63 is selected, and when the gradation data is “62”, the node of V62 is selected. On the other hand, in the negative polarity inversion period, when the gradation data is “63”, the node of V0 is selected, and when the gradation data is “62”, the node of V1 is selected. Then, the serial gradation voltage data supplied to the selected node is output to the data line via the D / A conversion circuit 558, the operational amplifier unit 560, and the output circuit 562, and is input again to the socket model 110.

ソケットモデル110のシリアル/パラレル変換回路118は、クロック数カウント部114からのカウント値に基づいて動作し、データ線に出力されたシリアル階調電圧データのシリアル/パラレル変換を行い、64階調のパラレルデータに復元する。そして得られたパラレルデータは内部レジスタ120に格納される。そして内部レジスタ120に格納されたパラレルデータは、図6、図7で説明した手法と同様の手法で、ソケットモデル110から表示パネルモデル90に転送される。即ち表示パネルモデル90が内部レジスタ120を参照することで、内部レジスタ120のパラレルデータが、表示パネルモデル90のデータキャプチャ部92に設けられた内部レジスタに格納される。   The serial / parallel conversion circuit 118 of the socket model 110 operates based on the count value from the clock number counting unit 114, performs serial / parallel conversion of serial gradation voltage data output to the data line, and provides 64 gradations. Restore to parallel data. The obtained parallel data is stored in the internal register 120. The parallel data stored in the internal register 120 is transferred from the socket model 110 to the display panel model 90 by a method similar to the method described with reference to FIGS. That is, when the display panel model 90 refers to the internal register 120, the parallel data in the internal register 120 is stored in the internal register provided in the data capture unit 92 of the display panel model 90.

なお、図8では、クロック数カウント部114からのカウント値に基づいて、シリアル階調電圧データ生成部116とシリアル/パラレル変換部118が動作する。このようにすれば、シリアル階調電圧データ生成部116とシリアル/パラレル変換部118が同期して動作するようになり、適正なシリアル/パラレル変換を実現できる。即ちシリアル/パラレル変換部118は、データドライバモデル20からのシリアルデータの区切り(シリアル階調電圧データと次のシリアル階調電圧データとの区切り)を適正に判断して、シリアル/パラレル変換を行えるようになる。   In FIG. 8, the serial gradation voltage data generation unit 116 and the serial / parallel conversion unit 118 operate based on the count value from the clock number counting unit 114. In this way, the serial gradation voltage data generation unit 116 and the serial / parallel conversion unit 118 operate in synchronism, and appropriate serial / parallel conversion can be realized. That is, the serial / parallel converter 118 can determine serial data parallel from the data driver model 20 (separation between serial grayscale voltage data and the next serial grayscale voltage data) and perform serial / parallel conversion. It becomes like this.

図8の手法によれば、データドライバモデル20の回路は、オペアンプなどの一部の回路を除いて、ネットリストにより構成される。従って、アナログ動作モデルの不具合を原因とするシミュレーションの誤動作を効果的に防止できる。また階調電圧データの信号を、階調電圧生成回路からデータドライバの回路を通った信号として観測できるため、階調電圧生成回路やデータドライバを実回路レベルで正確に検証できるようになる。   According to the method of FIG. 8, the circuit of the data driver model 20 is configured by a netlist except for some circuits such as an operational amplifier. Therefore, it is possible to effectively prevent a simulation malfunction caused by a failure of the analog operation model. Further, since the signal of the gradation voltage data can be observed as a signal passing through the data driver circuit from the gradation voltage generation circuit, the gradation voltage generation circuit and the data driver can be accurately verified at the actual circuit level.

例えば表示パネルの表示オフコマンドが入力されると、出力回路562は、データ線SS1の電圧を直接にローレベル又はハイレベルに設定する動作を行う。この出力回路562の動作については、図6、図7の手法により検証することは難しい。   For example, when a display off command of the display panel is input, the output circuit 562 performs an operation of directly setting the voltage of the data line SS1 to a low level or a high level. It is difficult to verify the operation of the output circuit 562 by the method shown in FIGS.

これに対して図8の手法では、シリアル階調電圧データが、V0〜V63のノードからD/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562を介してデータ線に出力される。従って、表示オフコマンドの入力時における出力回路562の動作についても正確に検証できるようになり、検証精度を向上できる。   On the other hand, in the method of FIG. 8, serial gradation voltage data is output to the data line from the node of V0 to V63 via the D / A conversion circuit 558, the operational amplifier unit 560, and the output circuit 562. Therefore, the operation of the output circuit 562 when the display off command is input can be accurately verified, and the verification accuracy can be improved.

なお図9(A)に示すように、シリアル階調電圧データの作成時において、シリアル階調電圧データに対して付加データを付加するようにしてもよい。即ちシリアルデータとして、シリアル階調電圧データの他に付加データを準備し、シリアル階調電圧データと付加データとを合わせたパケットデータをソケットモデル110内にて生成する。具体的にはシリアル階調電圧データ生成部116がパケットデータを生成する。この場合の付加データは、例えばRGB識別データや極性反転識別データの少なくとも1つを含むことができる。ここでRGB識別データは、シリアル階調電圧データがR、G、Bデータのいずれなのかを識別するためのデータである。また極性反転識別データは、極性反転の正極性と負極性を識別するためのデータである。   As shown in FIG. 9A, additional data may be added to the serial gradation voltage data when the serial gradation voltage data is created. That is, as serial data, additional data is prepared in addition to serial gradation voltage data, and packet data combining the serial gradation voltage data and additional data is generated in the socket model 110. Specifically, the serial gradation voltage data generation unit 116 generates packet data. The additional data in this case can include, for example, at least one of RGB identification data and polarity inversion identification data. Here, the RGB identification data is data for identifying whether the serial gradation voltage data is R, G, or B data. The polarity reversal identification data is data for identifying the positive polarity and the negative polarity of polarity reversal.

そしてソケットモデル110からのシリアルの階調電圧データと付加データを、階調電圧生成回路モデル60を介してデータドライバモデル20に入力し、ソケットモデル110において付加データを分離するシミュレーション処理を行う。即ち、生成されたシリアルデータ(シリアル階調電圧データ及び付加データ)は、V0〜V63のノードからD/A変換回路558、オペアンプ部560、出力回路562を介してデータ線に出力されて、ソケットモデル110に取り込まれる。そしてソケットモデル110内においてパケット解析が行われ、シリアルデータから階調電圧データと付加データが分離される。そして分離された付加データに基づいて、階調電圧データに対する種々の変換処理(RGB分離処理、極性反転処理)が行われる。   The serial grayscale voltage data and additional data from the socket model 110 are input to the data driver model 20 via the grayscale voltage generation circuit model 60, and the socket model 110 performs a simulation process for separating the additional data. That is, the generated serial data (serial gradation voltage data and additional data) is output from the nodes V0 to V63 to the data line via the D / A conversion circuit 558, the operational amplifier unit 560, and the output circuit 562, and is connected to the socket. It is captured in the model 110. Then, packet analysis is performed in the socket model 110, and the gradation voltage data and the additional data are separated from the serial data. Based on the separated additional data, various conversion processes (RGB separation process and polarity inversion process) are performed on the gradation voltage data.

例えば図9(B)に示すように、低温ポリシリコンパネル(以下、LTPSパネルと呼ぶ)では、表示ドライバ510側において、データ信号へのR、G、Bデータの多重化処理が行われ、表示パネル512側において、多重化されたR、G、Bデータが分離される。具体的には、スイッチング信号SM1R、SM1G、SM1Bによってオン、オフ制御されるスイッチング素子TM1R、TM1G、TM1B(トランジスタ)により、データ線SS1のデータ信号に対してR、G、Bデータが時分割に多重化される。そしてスイッチング信号SD1R、SD1G、SD1Bによってオン、オフ制御されるスイッチング素子TD1R、TD1G、TD1B(トランジスタ)により、多重化されたR、G、Bデータが分離されて、R、G、Bの各画素の供給される。   For example, as shown in FIG. 9B, in the low-temperature polysilicon panel (hereinafter referred to as LTPS panel), the display driver 510 side multiplexes the R, G, and B data into the data signal to display the data. On the panel 512 side, the multiplexed R, G, and B data are separated. Specifically, the switching elements TM1R, TM1G, and TM1B (transistors) that are controlled to be turned on and off by the switching signals SM1R, SM1G, and SM1B allow the R, G, and B data to be time-divided with respect to the data signal on the data line SS1. Multiplexed. The multiplexed R, G, and B data are separated by switching elements TD1R, TD1G, and TD1B (transistors) that are controlled to be turned on and off by switching signals SD1R, SD1G, and SD1B. Of supplied.

このようなLTPSパネルにおいては、付加データであるRGB識別データを用いることで、多重化処理や分離処理の動作についても検証が可能になる。具体的には図9(C)に示すように、ソケットモデル110内に、シリアル/パラレル変換部118の代わりにシリアル/パラレル変換&分離部119を設け、内部レジスタ120の代わりにR用、G用、B用の内部レジスタ120R、120G、120Bを設ける。そしてシリアル/パラレル変換&分離部119がシリアルデータから付加データを分離する。そして付加データのRGB識別データがRデータを示していた場合には、その付加データと対となる階調電圧データをR用の内部レジスタ120Rに格納する。同様に、付加データのRGB識別データがGデータ、Bデータを示していた場合には、その付加データと対となる階調電圧データをG用、B用の内部レジスタ120G、120Bに格納する。   In such an LTPS panel, it is possible to verify the operation of multiplexing processing and separation processing by using RGB identification data as additional data. Specifically, as shown in FIG. 9C, in the socket model 110, a serial / parallel conversion & separation unit 119 is provided instead of the serial / parallel conversion unit 118, and R and G are used instead of the internal register 120. And B internal registers 120R, 120G, and 120B are provided. Then, the serial / parallel conversion & separation unit 119 separates the additional data from the serial data. When the RGB identification data of the additional data indicates R data, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the R internal register 120R. Similarly, when the RGB identification data of the additional data indicates G data and B data, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the G and B internal registers 120G and 120B.

また表示パネルモデル90(データキャプチャ部)にもR用、G用、B用の内部レジスタ93R、93G、93Bを設ける。そしてソケットモデル110の内部レジスタ120R、120G、120Bに格納された階調電圧データ(パラレルデータ)は、各々、表示パネルモデル90の内部レジスタ93R、93G、93Bに転送されて格納される。この場合に、内部レジスタ93R、93G、93Bのいずれに階調電圧データを格納するかは、図9(B)のスイッチング信号SD1R、SD1G、SD1Bを用いることで実現できる。なお付加データである極性反転識別データは、例えば表示パネルモデル90が図6に示すような極性反転部94を有していない場合等に、有効利用できる。即ちこの場合には、付加データに含まれる極性反転識別データに基づいて、付加データと対となる階調電圧データの極性反転処理を行えばよい。   The display panel model 90 (data capture unit) is also provided with internal registers 93R, 93G, and 93B for R, G, and B. The gradation voltage data (parallel data) stored in the internal registers 120R, 120G, and 120B of the socket model 110 are transferred to and stored in the internal registers 93R, 93G, and 93B of the display panel model 90, respectively. In this case, which of the internal registers 93R, 93G, and 93B stores the gradation voltage data can be realized by using the switching signals SD1R, SD1G, and SD1B in FIG. 9B. Note that the polarity reversal identification data, which is additional data, can be used effectively when the display panel model 90 does not have the polarity reversing unit 94 as shown in FIG. That is, in this case, the polarity inversion processing of the gradation voltage data paired with the additional data may be performed based on the polarity inversion identification data included in the additional data.

5.表示パネルモデル
本実施形態の表示パネルモデル90では、表示ドライバモデル10から入力されたデータを表示画像データに変換する処理が行われる。例えば図10に示すように、表示パネルモデル90が、表示ドライバモデル10からのシミュレーション結果であるデータ信号SS1、SS2、SS3・・・のデータと走査信号GS1、GS2・・・のデータを受ける。そしてこれらのデータに基づいて、表示パネルの各画素(データ信号と走査信号で特定される画素)での画像データを求め、求められた各画素での画像データを含む画像データファイル160を作成する。即ち図10に示すように表示パネルイメージの画像ダンプファイルを作成する。
5. Display Panel Model In the display panel model 90 of the present embodiment, processing for converting data input from the display driver model 10 into display image data is performed. For example, as shown in FIG. 10, the display panel model 90 receives data signals SS1, SS2, SS3... And data of scanning signals GS1, GS2,. Based on these data, image data at each pixel (pixel specified by the data signal and the scanning signal) of the display panel is obtained, and an image data file 160 including the image data at each obtained pixel is created. . That is, an image dump file of a display panel image is created as shown in FIG.

より具体的には図10のA1、A2に示すように、走査ドライバモデル30からの走査信号の立ち下がりエッジをトリガとして、表示パネルモデル90の内部レジスタが、階調データである画像データR[5:0]、G[5:0]、B[5:0]を表示ドライバモデル10から取り込む。次に、コモン信号(信号FR)の極性(正極性、負極性)を判断して、内部レジスタに取り込まれた画像データの正転/反転処理を行う。次に、垂直同期信号(信号VSYNC)をトリガとして、画像データファイル160を作成して、出力する。   More specifically, as indicated by A1 and A2 in FIG. 10, the internal register of the display panel model 90 uses the image data R [ 5: 0], G [5: 0], and B [5: 0] are fetched from the display driver model 10. Next, the polarity (positive polarity, negative polarity) of the common signal (signal FR) is determined, and normal rotation / inversion processing of the image data captured in the internal register is performed. Next, an image data file 160 is created and output using a vertical synchronization signal (signal VSYNC) as a trigger.

図11に画像データファイル160の一例を示す。なお本実施形態の画像データファイル160は図11のフォーマットに限定されず、種々の変形実施が可能である。   FIG. 11 shows an example of the image data file 160. Note that the image data file 160 of the present embodiment is not limited to the format shown in FIG. 11, and various modifications can be made.

図11の画像データファイル160は、PPM(Portable Pix Map)と呼ばれるASCII形式で最も簡単な画像フォーマットのファイルである。具体的には画像データファイル160は、フォーマット識別子(P1:2値ASCII、P2:グレースケールASCII、P3:フルカラーASCII)、画像サイズ(横、縦)、階調数(最大色調値)、画像データ(10進の階調値で表されたRGBの画像データ)を含む。そしてシミュレーション終了後に、作成された画像データファイル160を、UNIX(登録商標)のユーティリティソフト等を用いてワークステーションの表示装置の画面に画像表示して、表示ドライバの動作検証を行う。このようにすれば、シミュレーション結果を、表示画像という形で視覚的に瞬時に捉えることが可能になる。また複雑な制御信号の全てを波形表示で目視確認しなくても済むため、設計効率を向上できる。また仕様を熟知した設計者でも発見が困難なバグについても、発見が可能になる。また細かな動作仕様を理解していない設計者でも検証作業に携わることが可能になり、作業の分業化が可能になる。   An image data file 160 in FIG. 11 is a file having the simplest image format in the ASCII format called PPM (Portable Pix Map). Specifically, the image data file 160 includes a format identifier (P1: binary ASCII, P2: grayscale ASCII, P3: full color ASCII), image size (horizontal, vertical), number of gradations (maximum tone value), image data. (RGB image data represented by decimal gradation values). After the simulation is completed, the created image data file 160 is displayed on the screen of the workstation display device using UNIX (registered trademark) utility software or the like, and the operation of the display driver is verified. In this way, the simulation result can be visually captured instantaneously in the form of a display image. In addition, since it is not necessary to visually check all the complicated control signals on the waveform display, the design efficiency can be improved. Also, bugs that are difficult to find even for designers who are familiar with the specifications can be found. In addition, even designers who do not understand detailed operation specifications can participate in verification work, and work can be divided.

なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語(検証対象デバイス、Nビット等)と共に記載された用語(表示ドライバ、6ビット等)は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。   Although the present embodiment has been described in detail as described above, it will be easily understood by those skilled in the art that many modifications can be made without departing from the novel matters and effects of the present invention. Accordingly, all such modifications are included in the scope of the present invention. For example, a term (display driver, 6-bit, etc.) described together with a different term (verified device, N-bit, etc.) in a broader sense or the same meaning at least once in the specification or drawing is used anywhere in the specification or drawing. Can also be replaced by their different terms.

また検証シミュレータの構成や検証シミュレーション手法も本実施形態で説明したものに限定されるものでない。例えばシミュレーション結果データを画像データファイルとして出力しない手法や、外部インターフェース回路モデルを利用しない手法を採用してもよい。またシミュレーション手法も、Verilogなどのデジタル論理シミュレーション手法に限定されるものではない。   Further, the configuration of the verification simulator and the verification simulation method are not limited to those described in the present embodiment. For example, a method that does not output simulation result data as an image data file or a method that does not use an external interface circuit model may be employed. The simulation method is not limited to a digital logic simulation method such as Verilog.

検証対象デバイスである表示ドライバの構成例。The structural example of the display driver which is a verification object device. 本実施形態の検証シミュレータの構成例。The structural example of the verification simulator of this embodiment. 本実施形態の検証シミュレータのシミュレーション環境。The simulation environment of the verification simulator of this embodiment. 本実施形態の検証シミュレータのシミュレーション環境。The simulation environment of the verification simulator of this embodiment. 表示ドライバの詳細な回路構成例。3 is a detailed circuit configuration example of a display driver. 内部レジスタを用いるシミュレーション手法の説明図。Explanatory drawing of the simulation method using an internal register. 内部レジスタを用いるシミュレーション手法のフローチャート。The flowchart of the simulation method using an internal register. ソケットモデルを用いるシミュレーション手法の説明図。Explanatory drawing of the simulation method using a socket model. 図9(A)(B)(C)は付加データを用いる手法の説明図。FIGS. 9A, 9B and 9C are explanatory diagrams of a method using additional data. 画像データファイルの生成手法の説明図。Explanatory drawing of the production | generation method of an image data file. 画像データファイルの例。An example of an image data file.

符号の説明Explanation of symbols

10 表示ドライバモデル、20 データドライバモデル、22 内部レジスタ、
30 走査ドライバモデル、40 表示メモリモデル、50 電源回路モデル、
60 階調電圧生成回路モデル、70 ロジック回路モデル、
80 内部インターフェース回路モデル、90 表示パネルモデル、
92 データキャプチャ部、93R、93G、93B 内部レジスタ、
94 極性反転部、96 画像データファイル作成部、110 ソケットモデル、
112 シフト用クロック生成部、114 クロック数カウント部、
116 シリアル階調電圧データ生成部、118 シリアル/パラレル変換部、
119 シリアル/パラレル変換&分離部、
120、120R、120G、120B 内部レジスタ、
130 外部インターフェース回路モデル、150 テスト入力情報、
152 コマンドファイル、154 画像データ、160 画像データファイル、
10 display driver model, 20 data driver model, 22 internal registers,
30 scan driver model, 40 display memory model, 50 power supply circuit model,
60 gradation voltage generation circuit model, 70 logic circuit model,
80 internal interface circuit model, 90 display panel model,
92 data capture unit, 93R, 93G, 93B internal registers,
94 polarity inversion unit, 96 image data file creation unit, 110 socket model,
112 shift clock generation unit, 114 clock number counting unit,
116 serial gradation voltage data generation unit, 118 serial / parallel conversion unit,
119 Serial / parallel conversion & separation unit,
120, 120R, 120G, 120B internal registers,
130 external interface circuit model, 150 test input information,
152 command file, 154 image data, 160 image data file,

Claims (11)

デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、
前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルと、前記表示ドライバモデルと前記表示パネルモデルとの間に仮想的に設けられたソケットモデルとを含み、
前記表示ドライバモデルは、
階調電圧を生成する階調電圧生成回路の動作が記述された階調電圧生成回路モデルと、生成された階調電圧に基づいてデータ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルとを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記ソケットモデルにより生成されたシリアルの階調電圧データを前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記データドライバモデルからのシリアルのデータをソケットモデルに入力してパラレルのデータに変換し、変換により得られたパラレルのデータを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
A storage unit for storing information of a model in which the operation of the device is described;
A simulation processing unit that performs a simulation process of the verification target device based on the model and the test input information,
The model is
A display driver model in which the operation of the display driver is described, a display panel model in which the operation of the display panel driven by the display driver is described, and virtually provided between the display driver model and the display panel model Socket model, and
The display driver model is
A gradation voltage generation circuit model that describes the operation of a gradation voltage generation circuit that generates gradation voltages, and a data driver model that describes the operation of a data driver that outputs a data signal based on the generated gradation voltages Including
The simulation processing unit
Serial grayscale voltage data generated by the socket model is input to the data driver model via the grayscale voltage generation circuit model, and serial data from the data driver model is input to the socket model to receive parallel data. A verification simulator which performs a simulation process of converting data into data and inputting parallel data obtained by the conversion as data signal data to the display panel model.
請求項1において、
前記表示ドライバモデルは、
画像データである階調データを記憶する表示メモリの動作が記述された表示メモリモデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記階調電圧生成回路モデルからのシリアルの前記階調電圧データの中から、前記表示メモリモデルからの階調データにより選択された階調電圧データを、前記ソケットモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 1,
The display driver model is
Including a display memory model describing the operation of a display memory for storing gradation data as image data;
The simulation processing unit
Performing a simulation process of inputting, to the socket model, gradation voltage data selected from gradation data from the display memory model among serial gradation voltage data from the gradation voltage generation circuit model; Verification simulator characterized by
請求項1又は2において、
前記シミュレーション処理部は、
前記データドライバのうち、階調データをラッチするデータラッチ回路、制御信号を生成する制御回路、階調データのD/A変換を行うD/A変換回路、オペアンプ部とデータ線の間に設けられる出力回路については、ネットリストを使用してシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 1 or 2,
The simulation processing unit
Among the data drivers, a data latch circuit that latches gradation data, a control circuit that generates control signals, a D / A conversion circuit that performs D / A conversion of gradation data, and an operational amplifier section and a data line are provided. A verification simulator characterized by performing a simulation process using a netlist for the output circuit.
請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記シミュレーション処理部は、
前記ソケットモデルにおいてシリアルの前記階調電圧データに付加データを付加し、前記ソケットモデルからのシリアルの前記階調電圧データと前記付加データを、前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記ソケットモデルにおいて前記付加データを分離するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
In any one of Claims 1 thru | or 3,
The simulation processing unit
In the socket model, additional data is added to the serial gradation voltage data, and the serial gradation voltage data and the additional data from the socket model are converted into the data driver model via the gradation voltage generation circuit model. And performing a simulation process for separating the additional data in the socket model.
請求項4において、
前記付加データは、RGB識別データ及び極性反転識別データの少なくとも1つを含むことを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 4,
The verification simulator, wherein the additional data includes at least one of RGB identification data and polarity inversion identification data.
請求項5において、
前記ソケットモデルは、R用の内部レジスタと、G用の内部レジスタと、B用の内部レジスタを含み、
前記シミュレーション処理部は、
付加データである前記RGB識別データがRデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記R用の内部レジスタに格納し、前記RGB識別データがGデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記G用の内部レジスタに格納し、前記RGB識別データがBデータを示していた場合には、付加データと対となる階調電圧データを前記B用の内部レジスタに格納することを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 5,
The socket model includes an internal register for R, an internal register for G, and an internal register for B,
The simulation processing unit
When the RGB identification data as additional data indicates R data, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the R internal register, and the RGB identification data indicates G data. In this case, the gradation voltage data paired with the additional data is stored in the G internal register, and when the RGB identification data indicates B data, the gradation voltage paired with the additional data A verification simulator, wherein data is stored in the B internal register.
デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、
前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、
前記表示ドライバモデルは、
データ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
各データ線毎にNビット(N>2)のデータ信号のデータを、前記データドライバモデルから前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
A storage unit for storing information of a model in which the operation of the device is described;
A simulation processing unit that performs a simulation process of the verification target device based on the model and the test input information,
The model is
A display driver model describing the operation of the display driver, and a display panel model describing the operation of the display panel driven by the display driver,
The display driver model is
Includes a data driver model that describes the operation of the data driver that outputs the data signal,
The simulation processing unit
A verification simulator for performing a simulation process for inputting data of an N-bit (N> 2) data signal for each data line from the data driver model to the display panel model.
請求項7において、
前記表示ドライバモデルは、
画像データである階調データを記憶する表示メモリの動作が記述された表示メモリモデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記表示メモリモデルからのNビットの階調データを、各データ線毎に設けられた前記データドライバモデルの各内部レジスタに格納し、前記各内部レジスタに格納されたNビットの階調データを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 7,
The display driver model is
Including a display memory model describing the operation of a display memory for storing gradation data as image data;
The simulation processing unit
N-bit gradation data from the display memory model is stored in each internal register of the data driver model provided for each data line, and the N-bit gradation data stored in each internal register is A verification simulator for performing a simulation process for inputting data to the display panel model as data signal data.
請求項8において、
前記シミュレーション処理部は、
前記内部レジスタに格納されたNビットの階調データに対して変換処理を行い、変換処理が行われた後の階調データを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。
In claim 8,
The simulation processing unit
A conversion process is performed on the N-bit gradation data stored in the internal register, and a simulation process is performed in which the gradation data after the conversion process is input to the display panel model as data signal data. A verification simulator characterized by that.
デバイスの動作が記述されたモデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法であって、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルと、前記表示ドライバモデルと前記表示パネルモデルとの間に仮想的に設けられたソケットモデルとを含み、
前記表示ドライバモデルは、
階調電圧を生成する階調電圧生成回路の動作が記述された階調電圧生成回路モデルと、生成された階調電圧に基づいてデータ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルとを含み、
前記ソケットモデルにより生成されたシリアルの階調電圧データを前記階調電圧生成回路モデルを介して前記データドライバモデルに入力し、前記データドライバモデルからのシリアルのデータをソケットモデルに入力してパラレルのデータに変換し、変換により得られたパラレルのデータを、データ信号のデータとして前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレーション方法。
A verification simulation method for performing simulation processing of a device to be verified based on a model in which device operation is described and test input information,
The model is
A display driver model in which the operation of the display driver is described, a display panel model in which the operation of the display panel driven by the display driver is described, and virtually provided between the display driver model and the display panel model Socket model, and
The display driver model is
A gradation voltage generation circuit model that describes the operation of a gradation voltage generation circuit that generates gradation voltages, and a data driver model that describes the operation of a data driver that outputs a data signal based on the generated gradation voltages Including
Serial grayscale voltage data generated by the socket model is input to the data driver model via the grayscale voltage generation circuit model, and serial data from the data driver model is input to the socket model to receive parallel data. A verification simulation method characterized by performing a simulation process of converting data into data and inputting parallel data obtained by the conversion as data signal data to the display panel model.
デバイスの動作が記述されたモデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行う検証シミュレーション方法であって、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、
前記表示ドライバモデルは、
データ信号を出力するデータドライバの動作が記述されたデータドライバモデルを含み、
各データ線毎にNビット(N>2)のデータ信号のデータを、前記データドライバモデルから前記表示パネルモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレーション方法。
A verification simulation method for performing simulation processing of a device to be verified based on a model in which device operation is described and test input information,
The model is
A display driver model describing the operation of the display driver, and a display panel model describing the operation of the display panel driven by the display driver,
The display driver model is
Includes a data driver model that describes the operation of the data driver that outputs the data signal,
A verification simulation method comprising performing a simulation process for inputting data of an N-bit (N> 2) data signal for each data line from the data driver model to the display panel model.
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