JP2007036186A - Light emitting diode structure - Google Patents

Light emitting diode structure Download PDF

Info

Publication number
JP2007036186A
JP2007036186A JP2006063733A JP2006063733A JP2007036186A JP 2007036186 A JP2007036186 A JP 2007036186A JP 2006063733 A JP2006063733 A JP 2006063733A JP 2006063733 A JP2006063733 A JP 2006063733A JP 2007036186 A JP2007036186 A JP 2007036186A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor layer
doping semiconductor
led structure
type doping
photonic crystals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006063733A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Liang-Wen Wu
武良文
Ya-Ping Tsai
蔡亞萍
Honin Kan
簡奉任
Fu-Yu Chang
張福裕
Cheng-Tsang Yu
游正璋
▲温▼子稷
Tzu-Chi Wen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Formosa Epitaxy Inc
Original Assignee
Formosa Epitaxy Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Formosa Epitaxy Inc filed Critical Formosa Epitaxy Inc
Publication of JP2007036186A publication Critical patent/JP2007036186A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve quality of epitaxial of a photonic crystal substrate and to increase luminous efficiency of an LED structure. <P>SOLUTION: This LED structure includes a substrate having a surface and a cylindrical photonic crystal, a first doping semiconductor layer, a first electrode, a light emitting layer, a second doping semiconductor layer and a second electrode. The first doping semiconductor layer is arranged on the substrate to cover the photonic crystal. The light emitting layer, the second doping semiconductor layer and the second electrode are formed on a part of the first doping semiconductor layer in this order. The first electrode is arranged on the other part of the first doping semiconductor not covered with the light emitting layer. Since the substrate having the photonic crystal improves quality of epitaxial of the first doping semiconductor layer, and further the energy of the light toward the front of the LED is increased, the luminous efficiency of the LED is effectively improved. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、発光装置に関し、特に発光ダイオードの構造に関するものである。   The present invention relates to a light emitting device, and more particularly to a structure of a light emitting diode.

従来の電球と比べ、発光ダイオード(LED)は、小型、長寿命、低電圧/電流駆動、
非破壊性、低発熱性、水銀(Hg)などの有害物質を含まず環境に優しい、消費電力が少
ない発光効率をもつ等の優れた長所を有する。また、近年、LEDの発光効率は増大をし続け、高い応答速度の走査ランプ、液晶ディスプレイ用のバック・ライト、自動車の制御パネル照明灯、信号機、又は一般の照明器具等の応用分野において、LEDが電球や蛍光灯に代って用いられつつある。
Compared to conventional light bulbs, light-emitting diodes (LEDs) are small, long-life, low voltage / current driven,
It has excellent advantages such as non-destructiveness, low heat generation, no harmful substances such as mercury (Hg), environmental friendliness, and light emission efficiency with low power consumption. In recent years, the luminous efficiency of LEDs has continued to increase. In applications such as scanning lamps with high response speed, backlights for liquid crystal displays, automobile control panel lighting, traffic lights, or general lighting equipment, Are being used instead of light bulbs and fluorescent lamps.

また、III−V族窒化物(III-V nitridE compound)は広いバンドギャップを備える材
料であるため、放出された波長範囲が紫外線から赤外線をカバーすることができる。即ち、この素材は、可視光の全領域をカバーする。従って、GaN、GaA1N、又はGaInNのようなIII−V族窒化物半導体を用いる発光装置は、種々の照明モジュールに広く応用されている
。ここで、バンドギャップとは、半導体の結晶中には、マイナスの電荷を有する電子とプラスの電荷を有するホールが含まれている。これらの電子と正孔は熱や光のエネルギーによってペアとして生成される。そしてその電子―正孔ペアの生成され易さを表す指標がバンドギャップである。電子と正孔のペアが生成されにくいほどバンドギャップは広いバンドギャップといえる。 半導体中で容易に電子―ホールペアが生成されると、半導体の性質が金属に変化してしまうので、広いバンドギャップの半導体であるほど、半導体デバイスとしては高温で使用できることを意味する。
Further, since III-V nitride (III-V nitridE compound) is a material having a wide band gap, the emitted wavelength range can cover ultraviolet rays to infrared rays. That is, this material covers the entire visible light area. Therefore, a light-emitting device using a group III-V nitride semiconductor such as GaN, GaA1N, or GaInN is widely applied to various illumination modules. Here, the band gap includes an electron having a negative charge and a hole having a positive charge in a semiconductor crystal. These electrons and holes are generated as a pair by heat and light energy. An index indicating the ease with which the electron-hole pair is generated is the band gap. It can be said that the band gap is so wide that an electron-hole pair is not easily generated. If an electron-hole pair is easily generated in a semiconductor, the property of the semiconductor changes to a metal. Thus, a wider band gap semiconductor means that it can be used at a higher temperature as a semiconductor device.

図1は従来のLED構造を概略的に示す断面図である。図1において、LED構造は、
基本的に基板110と、n型ドーピング半導体層120と、電極122と、発光層130
と、p型ドーピング半導体層140と、オームコンタクト層150と他の電極142とを
備えている。n型ドーピング半導体層120、発光層130、p型ドーピング半導体層140、オームコンタクト層150及び電極14は、基板110の上に順次形成され、発光層130はn型ドーピング半導体層120の一部分をカバーする。電極122は、発光層1
30によりカバーされていないn型ドーピング半導体層120の部分に配置されている。
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional LED structure. In FIG. 1, the LED structure is
Basically, the substrate 110, the n-type doped semiconductor layer 120, the electrode 122, and the light emitting layer 130.
A p-type doping semiconductor layer 140, an ohmic contact layer 150, and another electrode 142. The n-type doping semiconductor layer 120, the light emitting layer 130, the p-type doping semiconductor layer 140, the ohmic contact layer 150, and the electrode 14 are sequentially formed on the substrate 110, and the light emitting layer 130 covers a part of the n-type doping semiconductor layer 120. To do. The electrode 122 is the light emitting layer 1
The n-type doped semiconductor layer 120 is not covered by 30.

図1を参照すると、n型ドーピング半導体層120からの電子がp型ドーピング半導体層
140からの電子正孔と発光層130において再結合するとき、光102を発生させるこができる。この光102の一部はオームコンタクト層150と基板110とを透過してLED構造100の上部と下部から夫々出射される。また、光102の他の部分は基板110の表面または電極142と基板110との間の複数の界面により反射される。例えば、基板110と発光層130との間に配置されるn型ドーピング半導体層120内に光が横
方向に伝搬(trAnsvErsEly propAgAtEs)される。この場合、光102の光エネル
ギーの一部分がn型ドーピング半導体層120、p型ドーピング半導体層140、電極122及び電極142により吸収され、LED100の外部量子効率の低下を生じさせる。
Referring to FIG. 1, light 102 can be generated when electrons from the n-type doping semiconductor layer 120 recombine with electron holes from the p-type doping semiconductor layer 140 in the light emitting layer 130. Part of this light 102 passes through the ohmic contact layer 150 and the substrate 110 and is emitted from the upper part and the lower part of the LED structure 100, respectively. In addition, other portions of the light 102 are reflected by the surface of the substrate 110 or a plurality of interfaces between the electrode 142 and the substrate 110. For example, light propagates laterally (trAnsvErsElypropAgAtEs) in the n-type doped semiconductor layer 120 disposed between the substrate 110 and the light emitting layer 130. In this case, a part of the light energy of the light 102 is absorbed by the n-type doping semiconductor layer 120, the p-type doping semiconductor layer 140, the electrode 122, and the electrode 142, causing a decrease in the external quantum efficiency of the LED 100.

上記の問題を解決するために、特許文献1には、基板上の入射光を散乱させて、LED構造の外部量子効率を増加させるため、化学機械的研磨処理及びエッチング処理を用いて、LED構造の基板表面をランダムに粗くすることが開示されている。   In order to solve the above-mentioned problem, Patent Document 1 discloses that an LED structure is formed by using chemical mechanical polishing treatment and etching treatment to scatter incident light on a substrate and increase the external quantum efficiency of the LED structure. It is disclosed to randomly roughen the surface of the substrate.

しかし、この基板表面をランダムに粗く(粗化処理)する方法は、このLED表面の外部量子効率を有効に増加させるものではない。一方では先ず、基板表面上の凹状パターン
または凸状パターンが大きすぎると、基板の表面から成長するn型ドーピング半導体層1
20の結晶品質が低下する。その結果、LED構造の内部量子効率が減少する。それにより、外部量子効率が増加しない。他方、ランダムに粗くされた基板表面は、横方向伝播における光エネルギーが粗面により容易に吸収されてしまう。この方法は、LED構造から発光された光を減少させ、外部量子効率が充分に得られない。
特開平11―274568号
However, this method of roughing the substrate surface randomly (roughening treatment) does not effectively increase the external quantum efficiency of the LED surface. On the other hand, first, when the concave pattern or the convex pattern on the substrate surface is too large, the n-type doped semiconductor layer 1 grows from the surface of the substrate.
The crystal quality of 20 is reduced. As a result, the internal quantum efficiency of the LED structure is reduced. Thereby, the external quantum efficiency does not increase. On the other hand, light energy in lateral propagation is easily absorbed by the roughened surface of the substrate surface that is randomly roughened. This method reduces the light emitted from the LED structure and does not provide sufficient external quantum efficiency.
JP-A-11-274568

本発明は、フォトニック結晶基板を有するLED構造を提供する。フォトニック結晶を有する基板はエピタキシャルの質を改良することができる。基板表面に沿って伝搬する光が減少され、これによってLED構造の発光効率が増加され得る。   The present invention provides an LED structure having a photonic crystal substrate. A substrate with a photonic crystal can improve the quality of the epitaxial. Light propagating along the substrate surface can be reduced, thereby increasing the luminous efficiency of the LED structure.

本発明は基板と、第1型ドーピング半導体層と、第1電極と、発光層と、第2型ドーピ
ング半導体層と第2電極とを有するLED構造を提供する。前記基板は、表面と該表面上に形成された複数の円筒形フォトニック結晶とを有する。該第1型ドーピング半導体層は、基板に形成され該フォトニック結晶をカバーする。前記発光層は、第1型ドーピング半導体層の一部分に形成されている。前記第2型ドーピング半導体層及び第2電極は、順次、この発光層に形成されている。この第1電極は、発光層にカバーされていない第1型ドーピング半導体の一部分に配置されている。
The present invention provides an LED structure having a substrate, a first type doping semiconductor layer, a first electrode, a light emitting layer, a second type doping semiconductor layer, and a second electrode. The substrate has a surface and a plurality of cylindrical photonic crystals formed on the surface. The first-type doping semiconductor layer is formed on the substrate and covers the photonic crystal. The light emitting layer is formed in a part of the first type doping semiconductor layer. The second type doping semiconductor layer and the second electrode are sequentially formed in the light emitting layer. The first electrode is disposed on a portion of the first-type doping semiconductor that is not covered by the light emitting layer.

本発明の実施態様において、上記のLED構造は、例えば第2型ドーピング半導体層と第2電極との間に配置されるオームコンタクト層を有する。   In an embodiment of the present invention, the above LED structure has an ohmic contact layer disposed, for example, between the second type doping semiconductor layer and the second electrode.

本発明の実施態様において、フォトニック結晶は異なるまたは同一の直径であっても良い。更に、フォトニック結晶は例えば少なくとも凸状パターンと凹状パターンとの一方を有する。   In embodiments of the present invention, the photonic crystals may be different or the same diameter. Furthermore, the photonic crystal has, for example, at least one of a convex pattern and a concave pattern.

本発明の実施態様において、上記のフォトニック結晶は、例えばm×nの配列によって基板表面に配置され、ここで、mとnは正の整数である。   In an embodiment of the present invention, the above-mentioned photonic crystals are arranged on the substrate surface by, for example, an m × n arrangement, where m and n are positive integers.

本発明の実施態様において、上記のフォトニック結晶は、例えば複数の奇数行と複数の偶数行とに配列されている。前記各偶数行のフォトニック結晶は、奇数行における隣接する二つのフォトニック結晶の間に形成された間隔に相応する。更に、実施態様において、奇数行での各隣接する二つのフォトニック結晶の間の間隔は、例えば偶数行の隣接する二つのフォトニック結晶との間の間隔と異なる。更に、フォトニック結晶のアレイパターンは、奇数行におけるフォトニック結晶が互いに整列され、偶数行におけるK番目列のフォトニック結晶が奇数行にある隣接するフォトニック結晶の間の間隔に対応するとともに、偶数行でK+1番目列の隣接するフォトニック結晶間の間隔にも相応することができる。
ここで、Kは正の整数であり、フォトニック結晶とは、光の波長と同程度の周期的な屈折率分布をもった結晶体のことを意味する。
In the embodiment of the present invention, the photonic crystals are arranged in, for example, a plurality of odd rows and a plurality of even rows. Each even-numbered photonic crystal corresponds to a distance formed between two adjacent photonic crystals in the odd-numbered row. Further, in an embodiment, the spacing between each adjacent two photonic crystals in odd rows is different from, for example, the spacing between two adjacent photonic crystals in even rows. Furthermore, the array pattern of the photonic crystals corresponds to the spacing between adjacent photonic crystals in the odd rows where the photonic crystals in the odd rows are aligned with each other and the Kth column photonic crystals in the even rows are in the odd rows. The spacing between adjacent photonic crystals in even rows and K + 1st column can also be accommodated.
Here, K is a positive integer, and the photonic crystal means a crystal body having a periodic refractive index distribution comparable to the wavelength of light.

本発明の実施態様において、上記のフォトニック結晶は、例えばハニカム形状で基板表面に配置されている。   In an embodiment of the present invention, the photonic crystal is arranged on the substrate surface in a honeycomb shape, for example.

本発明の実施態様において、前記のフォトニック結晶の一部分は、例えばハニカム形状で基板表面に配置され、フォトニック結晶の他の部分を囲むように配置されている。一つの実施態様において、前記ハニカム形状のフォトニック結晶の直径は、例えば他の部分のフォトニック結晶の直径よりも大きい。   In an embodiment of the present invention, a part of the photonic crystal is arranged on the substrate surface in a honeycomb shape, for example, and is arranged so as to surround the other part of the photonic crystal. In one embodiment, the diameter of the honeycomb-shaped photonic crystal is, for example, larger than the diameter of the other portion of the photonic crystal.

本発明の実施態様において、この基板は、例えばサファイア、シリコン炭化ケイ素、スピネル、又はシリコン基板である。   In an embodiment of the invention, the substrate is, for example, sapphire, silicon silicon carbide, spinel, or a silicon substrate.

本発明の実施態様において、上記のフォトニック結晶は、基板表面に対して垂直方向に沿って例えば0.2〜3ミクロンの寸法を有する。フォトニック結晶の水平方向直径は、
例えば0.25ミクロンと5ミクロンの範囲内にある。また、隣接の二つのフォトニック結晶間の間隔が、例えば0.5〜10ミクロンの範囲にある。
In an embodiment of the present invention, the photonic crystal has a dimension of, for example, 0.2 to 3 microns along a direction perpendicular to the substrate surface. The horizontal diameter of the photonic crystal is
For example, it is in the range of 0.25 microns and 5 microns. The interval between two adjacent photonic crystals is in the range of 0.5 to 10 microns, for example.

本発明の実施態様において、第1型ドーピング半導体層、発光層、第2ドーピング半導体層の材料は、例えば、III-V族化合物半導体である。例えば、III-V族化合物半導体は、GaN, GaP, またはGaAsPである。   In the embodiment of the present invention, the material of the first type doping semiconductor layer, the light emitting layer, and the second doping semiconductor layer is, for example, a group III-V compound semiconductor. For example, the group III-V compound semiconductor is GaN, GaP, or GaAsP.

本発明の実施態様において、第1型ドーピング半導体層は、n型ドーピング半導体層で
ある。第2ドーピング半導体層は、p型ドーピング半導体層である。本発明の実施態様で
は、前記第1型ドーピング半導体層は、p型ドーピング半導体層である。前記第2型ドー
ピング半導体は、n型ドーピング半導体層である。
In an embodiment of the present invention, the first type doping semiconductor layer is an n-type doping semiconductor layer. The second doping semiconductor layer is a p-type doping semiconductor layer. In an embodiment of the present invention, the first type doping semiconductor layer is a p-type doping semiconductor layer. The second type doping semiconductor is an n-type doping semiconductor layer.

本発明では、第1型ドーピング半導体層のエピタキシャル質を改良し、LEDの内部量子効率を高めるために、このフォトニック結晶は、LED構造の基板表面に形成されている。また、本発明のフォトニック結晶はLED構造の外部量子効率を高めるように、LED構造の前進方向で放射する光エネルギーを更に高めることができる。その結果、本発明のLED構造により、発光効率を充分に改良した。ここでは、エピタキシャルとは、単結晶基板上に薄膜を作成する場合に膜自体も何らかの特定の方位をもって成長する構造を意味する。   In the present invention, this photonic crystal is formed on the substrate surface of the LED structure in order to improve the epitaxial quality of the first type doping semiconductor layer and increase the internal quantum efficiency of the LED. In addition, the photonic crystal of the present invention can further increase the light energy emitted in the forward direction of the LED structure so as to increase the external quantum efficiency of the LED structure. As a result, the luminous efficiency was sufficiently improved by the LED structure of the present invention. Here, “epitaxial” means a structure in which a thin film is formed on a single crystal substrate, and the film itself grows in some specific orientation.

発明の実施態様Embodiment of the Invention

以下、図2〜3に示した本発明の実施態様を詳細に説明する。   Hereinafter, the embodiment of the present invention shown in FIGS. 2 to 3 will be described in detail.

図2は、本発明の一実施例に係るLED構造を概略的に示す断面図である。図2におい
て、このLED構造200は、基板210と、第1型ドーピング半導体層220と、電極
222と、発光層230と、第2型ドーピング半導体層240と電極242とを有する。基板210の材料は、例えばサファイア、シリコン炭化ケイ素、スピネル、又はシリコン基板を含む。基板210は、表面202とこの表面202上の円筒形フォトニック結晶204とを有する。
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating an LED structure according to an embodiment of the present invention. In FIG. 2, the LED structure 200 includes a substrate 210, a first type doping semiconductor layer 220, an electrode 222, a light emitting layer 230, a second type doping semiconductor layer 240 and an electrode 242. The material of the substrate 210 includes, for example, sapphire, silicon silicon carbide, spinel, or a silicon substrate. The substrate 210 has a surface 202 and a cylindrical photonic crystal 204 on the surface 202.

上述において、このフォトニック結晶204は例えば凸状パターン、又は凹状パターンである。フォトニック結晶204は、表面202に円筒形凸状パターン又は円筒形凹状パターンを形成するために、例えばフォトグラフィとエッチング処理により形成される。具体的に、このフォトニック結晶204は、基板210の表面202に周期的に配列されている。隣接する二つのフォトニック結晶の間の間隔は、例えば0.5〜10ミクロンの範囲に
ある。
In the above description, the photonic crystal 204 is, for example, a convex pattern or a concave pattern. The photonic crystal 204 is formed by, for example, photolithography and etching processing in order to form a cylindrical convex pattern or a cylindrical concave pattern on the surface 202. Specifically, the photonic crystals 204 are periodically arranged on the surface 202 of the substrate 210. The distance between two adjacent photonic crystals is, for example, in the range of 0.5 to 10 microns.

また、フォトニック結晶204の直径は、例えば0.25〜5ミクロンの範囲にある。更に、基板表面に対して垂直方向に沿うフォトニック結晶204の寸法は、例えば0.2〜3ミクロンの範囲にある。換言すると、凸状パターンのフォトニック結晶204は例えば0.2〜3ミクロン範囲の高さを有し、又は凹状パターンのフォトニック結晶204が例えば0.2〜3ミクロン範囲の深さを有する。   The diameter of the photonic crystal 204 is, for example, in the range of 0.25 to 5 microns. Furthermore, the dimension of the photonic crystal 204 along the direction perpendicular to the substrate surface is, for example, in the range of 0.2 to 3 microns. In other words, the convex pattern photonic crystal 204 has a height in the range of, for example, 0.2 to 3 microns, or the concave pattern photonic crystal 204 has a depth in the range of, for example, 0.2 to 3 microns.

さらに、図2を参照すると、この第1型ドーピング半導体層220は、フォトニック結
晶204をカバーするように、基板210上に配置されている。特に、第1型ドーピング半
導体層220は、凹状パターンに埋め込められず、凸部で基板210の表面202に形成されている。注目すべきことは、第1型半導体層220を形成する処理において、フォトニック結晶204は基板210の表面202に、周期的に配置され、第1ドーピング半導体層220上の局所的な結晶欠陥を抑えることができる。これは、転位を減少しエピタキシャル結晶の質を高めるとともに、更にLED構造200の内部量子効率を高めることができる。
Further, referring to FIG. 2, the first-type doping semiconductor layer 220 is disposed on the substrate 210 so as to cover the photonic crystal 204. In particular, the first-type doping semiconductor layer 220 is not embedded in the concave pattern, and is formed on the surface 202 of the substrate 210 with a convex portion. It should be noted that in the process of forming the first type semiconductor layer 220, the photonic crystal 204 is periodically disposed on the surface 202 of the substrate 210, and local crystal defects on the first doping semiconductor layer 220 are removed. Can be suppressed. This can reduce dislocations and improve the quality of the epitaxial crystal, and can further increase the internal quantum efficiency of the LED structure 200.

また、図2を参照すると、発光層230と、第2型ドーピング半導体層240と電極242とは、順次、第1型ドーピング半導体層220の一部の上に配置されている。電極222は、発光層230によりカバーされていない部分で第1型ドーピング半導体層220上に配置されている。この実施例において、第1型ドーピング半導体層220は、例えば、n型ドーピング半導体層220であり、第2型ドーピング半導体層240は、例えば、p型ドーピング半導体層240である。他の実施例において、第1型ドーピング半導体層220は、例えばP型ドーピング半導体層220であり、第2型ドーピング半導体層240
は、例えばn型ドーピング半導体層240である。また、発光層230は、例えば多重量
子井戸(MQW:Multi-QuAntum WEll)層である。
Referring to FIG. 2, the light emitting layer 230, the second type doping semiconductor layer 240, and the electrode 242 are sequentially disposed on a part of the first type doping semiconductor layer 220. The electrode 222 is disposed on the first type doping semiconductor layer 220 at a portion not covered by the light emitting layer 230. In this embodiment, the first type doping semiconductor layer 220 is, for example, an n-type doping semiconductor layer 220, and the second type doping semiconductor layer 240 is, for example, a p-type doping semiconductor layer 240. In another embodiment, the first type doping semiconductor layer 220 is, for example, a P type doping semiconductor layer 220 and the second type doping semiconductor layer 240.
Is an n-type doped semiconductor layer 240, for example. Further, the light emitting layer 230 is, for example, a multi-quantum well (MQW) layer.

また、第1型ドーピング半導体層220、発光層230と第2型ドーピング半導体層240は、例えば、III−V族化合物の半導体材料により形成されている。この実施例では、第1型ドーピング半導体層220、発光層230、第2型ドーピング半導体層240は、例えば、窒化ガリウム(GaN)、ガリウム燐(GaP)、またはガリウムヒ素燐(GaAsP)に
より形成されている。
The first-type doping semiconductor layer 220, the light emitting layer 230, and the second-type doping semiconductor layer 240 are made of, for example, a semiconductor material of a III-V group compound. In this embodiment, the first type doping semiconductor layer 220, the light emitting layer 230, and the second type doping semiconductor layer 240 are formed of, for example, gallium nitride (GaN), gallium phosphide (GaP), or gallium arsenide phosphorus (GaAsP). ing.

更に、本発明において、第1型ドーピング半導体層220、発光層230及び第2型ドーピング半導体層240の導電均一性を高めるために、オームコンタクト層250が、電極242と第2型ドーピング半導体層240との間に形成されている。この実施例では、
オームコンタクト層250は、例えばp型オームコンタクト層である。
Further, in the present invention, the ohmic contact layer 250 includes the electrode 242 and the second type doping semiconductor layer 240 in order to improve the conductivity uniformity of the first type doping semiconductor layer 220, the light emitting layer 230, and the second type doping semiconductor layer 240. Is formed between. In this example,
The ohmic contact layer 250 is a p-type ohmic contact layer, for example.

基板210の表面202に周期的に配列されるフォトニック結晶204は、第1型ドーピング半導体層220のエピタキシャル質を向上し、第1型ドーピング半導体層220と第2型ドーピング半導体層240との間の横方向に伝搬する光を前方に導光可能であり、
この結果、前方の光がLED構造200から放出され、外部量子効率が効率的に向上される。特に、本発明のフォトニック結晶204は、複数の周期的な配列を有する。下記において、例示として、フォトニック結晶204の種々の配列を述べる。
The photonic crystals 204 periodically arranged on the surface 202 of the substrate 210 improve the epitaxial quality of the first type doping semiconductor layer 220, and between the first type doping semiconductor layer 220 and the second type doping semiconductor layer 240. The light propagating in the horizontal direction can be guided forward,
As a result, forward light is emitted from the LED structure 200, and the external quantum efficiency is efficiently improved. In particular, the photonic crystal 204 of the present invention has a plurality of periodic arrays. In the following, various arrangements of the photonic crystal 204 will be described as examples.

図3(A)〜(K)は、フォトニック結晶の配列の概略を示す平面図である。図3(A)を参照すると、本発明においてフォトニック結晶204は、例えば、m×nマトリックスの列に配置されている(ここで、mとnは正の整数である)。特に、フォトニック結晶204の直径は、同一であるか、または異なっていても良い。フォトニック結晶204のm×nマトリックスについては、図3(B)に示すように、奇数行のフォトニック結晶204の
直径が偶数行のフォトニックス結晶204の直径と異なっていても良い。更に、図3(C
)に示すように、位置(p, q)に配置されたフォトニック結晶204の直径が、位置(p+1, q)と(p, q+1)に配置されたフォトニック結晶204の直径と、異なっていても
良い(ここで、pとqは正の整数、
3A to 3K are plan views showing an outline of the arrangement of photonic crystals. Referring to FIG. 3A, in the present invention, the photonic crystals 204 are arranged, for example, in columns of an m × n matrix (where m and n are positive integers). In particular, the diameter of the photonic crystal 204 may be the same or different. As for the m × n matrix of the photonic crystal 204, as shown in FIG. 3B, the diameter of the odd-numbered photonic crystals 204 may be different from the diameter of the even-numbered photonic crystals 204. Furthermore, FIG.
), The diameter of the photonic crystal 204 arranged at the position (p, q) is equal to the diameter of the photonic crystal 204 arranged at the positions (p + 1, q) and (p, q + 1). And may be different (where p and q are positive integers,

及び
as well as

である)。 Is).

マトリックス配列に加えて、フォトニック結晶204は、奇数行と偶数行とが列方向において整列しない態様で配列されていても良い。例えば、図3(D)に示すように、列方向におけるそれぞれの奇数行のフォトニック結晶204は、整列されている。それぞれの偶数行のフォトニック結晶204は、奇数行における隣接する二つのフォトニック結晶204の間の間隔に相応している。勿論、偶数行のフォトニック結晶204の直径は、奇数行のフォトニック結晶204の直径と異なっていても良い。   In addition to the matrix arrangement, the photonic crystals 204 may be arranged in such a manner that the odd and even rows are not aligned in the column direction. For example, as shown in FIG. 3D, the odd-numbered rows of photonic crystals 204 in the column direction are aligned. Each even row photonic crystal 204 corresponds to the spacing between two adjacent photonic crystals 204 in the odd row. Of course, the diameter of the even-numbered photonic crystals 204 may be different from the diameter of the odd-numbered photonic crystals 204.

図3(A)〜(E)において、偶数行のフォトニック結晶204の間隔は、奇数行のフォトニック結晶204の間隔と等しい。他の実施例においては、偶数行のフォトニック結晶204の間隔が、奇数行のフォトニック結晶204の間隔と異なっている。図3(F)及び(G)に示すように、偶数行のフォトニック結晶204の間隔が、例えば、奇数行におけるフォトニック結晶204の間隔の2倍である。偶数行のフォトニックス結晶204は、例えば、奇数行の隣接する二フォトニック結晶204間のスペースに相応する。ここで、用語「間隔」は、中心点から計算した隣接する2つのフォトニック結晶204間の距離を意味する。用語「スペース」は、縁から計算した隣接する2つのフォトニック結晶204の間隔を意味する。   3A to 3E, the intervals between the even-numbered photonic crystals 204 are equal to the intervals between the odd-numbered photonic crystals 204. In another embodiment, the spacing between even-numbered photonic crystals 204 is different from the spacing between odd-numbered photonic crystals 204. As shown in FIGS. 3F and 3G, the interval between the photonic crystals 204 in even rows is, for example, twice the interval between the photonic crystals 204 in odd rows. The even-numbered photonic crystals 204 correspond to, for example, the spaces between adjacent two-photonic crystals 204 in the odd-numbered rows. Here, the term “interval” means the distance between two adjacent photonic crystals 204 calculated from the center point. The term “space” means the distance between two adjacent photonic crystals 204 calculated from the edge.

詳細には、図3(F)に示すように、奇数行のフォトニック結晶204は、列方向において整列され、偶数行のフォトニック結晶204も列方向において整列されている。更に、図3(G)に示すように、奇数行のフォトニック結晶204は列方向に整列されている。一方、偶数行のK番目列のフォトニック結晶が、奇数行における隣接の二つのフォトニック結晶間の間隔に相応するとともに、偶数行でのK+1番目列の隣接する二つのフォトニック結晶間の間隔にも相応する。特に図3(H)及び(I)に示すように、本発明における他の実施例において、いくつかの小さい直径のフォトニック結晶204Aを、図3(F)及び(G)における偶数行のフォトニック結晶204の間に配置することができる。   Specifically, as shown in FIG. 3F, the odd-numbered photonic crystals 204 are aligned in the column direction, and the even-numbered photonic crystals 204 are also aligned in the column direction. Furthermore, as shown in FIG. 3G, the odd-numbered rows of photonic crystals 204 are aligned in the column direction. On the other hand, the K-th photonic crystal in the even-numbered row corresponds to the interval between the two adjacent photonic crystals in the odd-numbered row, and between the two adjacent photonic crystals in the K + 1-th column in the even-numbered row. It corresponds to the interval. In particular, as shown in FIGS. 3 (H) and (I), in other embodiments of the present invention, several small diameter photonic crystals 204A can be used to convert even-numbered photons in FIGS. 3 (F) and 3 (G). It can be placed between the nick crystals 204.

更に、図3(J)に示すように、本発明のフォトニック結晶204はハニカム形状で基板表面に配列されても良い。他の実施例では、図3(K)に示すように、フォトニック結晶204bの一部は、ハニカム形状に配列されたフォトニック結晶204Aの他の部分により、囲まれている。フォトニック結晶204Aの直径が、例えばフォトニック結晶204bの直径よりも大きい。   Further, as shown in FIG. 3J, the photonic crystals 204 of the present invention may be arranged on the substrate surface in a honeycomb shape. In another embodiment, as shown in FIG. 3K, a part of the photonic crystal 204b is surrounded by another part of the photonic crystal 204A arranged in a honeycomb shape. The diameter of the photonic crystal 204A is larger than the diameter of the photonic crystal 204b, for example.

図3は、説明のための例示に過ぎないことに留意すべきである。本発明におけるフォト
ニック結晶204を、基板210の表面202上の任意の周期で配列することができる。図面は、本発明のフォトニック結晶204の配列を限定するのに用いられるものではない。
It should be noted that FIG. 3 is merely an illustrative example. The photonic crystals 204 in the present invention can be arranged at any period on the surface 202 of the substrate 210. The drawings are not used to limit the arrangement of the photonic crystals 204 of the present invention.

表1及び表2は、従来のLEDの構造に比較して、本発明の新規LED構造の改良を当
業者が容易に認識できるように、図3における配列に従って、本発明のフォトニック結晶
を有するLED構造の発光効率の実験結果を示す。表1の実験には、465nmの発光ラインを有する本発明に係る裸のLEDチップが用いられた。表2は、LED構造がパッケー
ジされた後の試験結果である。入力電流は20mAである。また、表1及び表2に上げら
れた発光効率は、図1に示されるように、従来のLED構造との相対値である。
Tables 1 and 2 have the photonic crystals of the present invention according to the arrangement in FIG. 3 so that those skilled in the art can easily recognize improvements in the novel LED structure of the present invention compared to the structure of conventional LEDs. The experimental result of the luminous efficiency of LED structure is shown. In the experiment of Table 1, a bare LED chip according to the present invention having an emission line of 465 nm was used. Table 2 shows the test results after the LED structure is packaged. The input current is 20 mA. Moreover, the luminous efficiency raised to Table 1 and Table 2 is a relative value with the conventional LED structure, as FIG. 1 shows.

表1

table 1

表2

Table 2

表1及び表2から、従来のLED構造と比較して本発明のLED構造では、発光効率が向上している。   From Table 1 and Table 2, the luminous efficiency is improved in the LED structure of the present invention as compared with the conventional LED structure.

本発明のLED構造は、要約すると、基板表面に周期的な屈折率を有するように、周期的な配列で基板表面に円筒形のフォトニック結晶を形成する。その結果、発光層からの光が基板表面に到達したとき、この光は、フォトニック結晶により回折されるとともに、基板の上側面、または下側面から放出される。これは、第1型ドーピング半導体層と第2型ドーピング半導体層間の横方向伝達により光エネルギーの損失を減少させる。これによってLED構造の外部量子効率は向上される。   In summary, the LED structure of the present invention forms a cylindrical photonic crystal on the substrate surface in a periodic array so as to have a periodic refractive index on the substrate surface. As a result, when the light from the light emitting layer reaches the substrate surface, the light is diffracted by the photonic crystal and emitted from the upper side surface or the lower side surface of the substrate. This reduces the loss of light energy due to lateral transmission between the first-type doping semiconductor layer and the second-type doping semiconductor layer. This improves the external quantum efficiency of the LED structure.

さらに、基板表面上のフォトニック結晶は、第1型ドーピング半導体層に局部的結晶欠陥の形成を抑えることができる。従って、LED構造の内部量子効率を向上させるために、エピタキシャルの質量が向上するともに、転位(位置ずれ)が減少する。その結果、本発明のLED構造で、充分良好な発光効率が得られる。
以上、本発明の比較的な好ましい実施の形態について説明したが、これは、本発明を限定するものではない。本発明の範囲内、発明の精神から逸脱しない限り、当業者により上記の実施の形態の均等変化や、若干の変更は可能である。上記の記載を鑑み、ここで、本発明の権利範囲、均等変化内にあるものは、本発明にカバーされるものであることを主張する。
Furthermore, the photonic crystal on the substrate surface can suppress the formation of local crystal defects in the first type doping semiconductor layer. Therefore, in order to improve the internal quantum efficiency of the LED structure, the mass of the epitaxial is improved and the dislocation (position shift) is reduced. As a result, sufficiently good luminous efficiency can be obtained with the LED structure of the present invention.
As mentioned above, although comparatively preferable embodiment of this invention was described, this does not limit this invention. Within the scope of the present invention, the above-described embodiments can be equally changed or slightly changed by those skilled in the art without departing from the spirit of the invention. In view of the above description, it is claimed here that what is within the scope of rights of the present invention and equivalent changes is covered by the present invention.

添付図面は、本発明のさらなる理解を得るために用いられ、本明細書に組み込まれ且つ明細書の一部分を構成する。図面は、本発明の実施例を図解し、記載とともに本発明の原理を説明する役割を果たす。   The accompanying drawings are used to provide a further understanding of the invention, and are incorporated in and constitute a part of this specification. The drawings illustrate embodiments of the invention and, together with the description, serve to explain the principles of the invention.

従来のLED構造の概略を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the outline of the conventional LED structure. 本発明の一実施例に係るLED構造を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows roughly the LED structure which concerns on one Example of this invention. (A)から(K)は、フォトニック結晶の配列を概略に示す平面図である。(A) to (K) are plan views schematically showing the arrangement of photonic crystals.

符合の説明Explanation of sign

200 発光ダイオード(LED)構造
204 フォトニック結晶
210 基板
220 第1型ドーピング半導体層
222 電極
230 発光層
240 第2型ドーピング半導体層
242 電極
200 light emitting diode (LED) structure 204 photonic crystal 210 substrate 220 first type doping semiconductor layer 222 electrode 230 light emitting layer 240 second type doping semiconductor layer 242 electrode

Claims (20)

表面と複数のフォトニック結晶とを有する基板と、
該基板に配置され該フォトニック結晶をカバーする第1型ドーピング半導体層と、
該第1型ドーピング半導体層の一部分に配置された発光層と、
該発光層に配置された第2型ドーピング半導体層と、
前記発光層によりカバーされない前記第1型ドーピング半導体の一部分に配置されている第1電極と、
前記第2型ドーピング半導体層に配置された第2電極と、を備えていることを特徴とする発光ダイオード(LED)構造。
A substrate having a surface and a plurality of photonic crystals;
A first type doping semiconductor layer disposed on the substrate and covering the photonic crystal;
A light emitting layer disposed in a portion of the first type doping semiconductor layer;
A second type doping semiconductor layer disposed in the light emitting layer;
A first electrode disposed on a portion of the first type doping semiconductor not covered by the light emitting layer;
A light emitting diode (LED) structure, comprising: a second electrode disposed on the second type doping semiconductor layer.
前記第2型ドーピング半導体層と前記第2電極との間に配置されるオームコンタクトを
更に有することを特徴とする請求項1に記載のLED構造。
The LED structure according to claim 1, further comprising an ohmic contact disposed between the second-type doping semiconductor layer and the second electrode.
前記フォトニック結晶は、異なる直径を有することを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure of claim 1, wherein the photonic crystals have different diameters. 前記フォトニック結晶は同一の直径を有することを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure of claim 1, wherein the photonic crystals have the same diameter. 前記フォトニック結晶は、凸状パターンと凹状パターンとの一方を有することを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure according to claim 1, wherein the photonic crystal has one of a convex pattern and a concave pattern. 前記フォトニック結晶は、m×nマトリックスの配列によって前記基板の表面に配置され、ここでmとnは正の整数であることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure of claim 1, wherein the photonic crystals are arranged on the surface of the substrate in an m × n matrix arrangement, where m and n are positive integers. 前記フォトニック結晶は、複数の奇数行と複数の偶数行に配列され、
前記各偶数行のフォトニック結晶が、前記奇数行における隣接する二つのフォトニック結晶の間に形成された複数の間隔に相応していることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。
The photonic crystals are arranged in a plurality of odd rows and a plurality of even rows,
2. The LED structure according to claim 1, wherein each of the even-numbered photonic crystals corresponds to a plurality of intervals formed between two adjacent photonic crystals in the odd-numbered rows.
前記奇数行の二つの隣接するフォトニック結晶の間の間隔は、前記偶数行の隣接する二つのフォトニック結晶間の間隔と異なることを特徴とする請求項7に記載のLED構造。   8. The LED structure according to claim 7, wherein an interval between two adjacent photonic crystals in the odd row is different from an interval between two adjacent photonic crystals in the even row. 前記奇数行の前記フォトニック結晶は、互いに整列して配列され、
前記偶数行のK番目の行の前記フォトニック結晶が、前記奇数行の隣接する二つの前記フォトニック結晶間の間隔に対応するとともに、前記偶数行でK+1番目行の隣接の二つ
のフォトニック結晶間の間隔にも対応し、ここでKは正の整数であることを特徴とする請求項8に記載のLED構造。
The odd rows of the photonic crystals are aligned with each other;
The photonic crystals in the even-numbered Kth row correspond to the spacing between two adjacent photonic crystals in the odd-numbered row, and the two adjacent photos in the K + 1st row in the even-numbered row. 9. The LED structure of claim 8, wherein the LED structure also corresponds to an interval between nick crystals, where K is a positive integer.
前記のフォトニック結晶は、ハニカム形状で前記基板表面に配置されていることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure according to claim 1, wherein the photonic crystal is arranged on the substrate surface in a honeycomb shape. 前記フォトニック結晶の一部分が、ハニカム形状で前記基板表面に配置され、前記一部分のフォトニック結晶の他の部分を取り囲むように配置されていることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   2. The LED structure according to claim 1, wherein a part of the photonic crystal is disposed on the substrate surface in a honeycomb shape so as to surround another part of the photonic crystal of the part. 前記ハニカム形状フォトニック結晶の直径は、前記他の部分の前記フォトニック結晶の直径よりも大きいことを特徴とする請求項11に記載のLED構造。   The LED structure according to claim 11, wherein a diameter of the honeycomb-shaped photonic crystal is larger than a diameter of the photonic crystal in the other portion. 前記基板の材料は、サファイア、シリコン炭化ケイ素、スピネル、又はシリコン基板であることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure according to claim 1, wherein the material of the substrate is sapphire, silicon silicon carbide, spinel, or a silicon substrate. 前記フォトニック結晶は、前記基板表面と垂直方向に沿って、0.2〜3ミクロンの寸法を有することを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure according to claim 1, wherein the photonic crystal has a size of 0.2 to 3 microns along a direction perpendicular to the substrate surface. 前記フォトニック結晶表面の直径は、0.25ミクロンと5ミクロンの範囲にあることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。   The LED structure of claim 1, wherein the photonic crystal surface has a diameter in the range of 0.25 microns and 5 microns. 前記隣接の二つのフォトニック結晶間の間隔は、0.5〜10ミクロンの範囲にあるこ
とを特徴とする請求項1に記載のLED構造。
The LED structure according to claim 1, wherein a distance between the two adjacent photonic crystals is in a range of 0.5 to 10 microns.
前記第1型ドーピング半導体層、前記発光層及び前記第2ドーピング半導体層の材料は
、III-V族化合物半導体であることを特徴とする請求項1に記載のLED構造。
2. The LED structure according to claim 1, wherein a material of the first-type doping semiconductor layer, the light emitting layer, and the second doping semiconductor layer is a III-V compound semiconductor.
前記III-V族化合物半導体は、GaN, GaP, またはGaAspを含むことを特徴とする請求項17に記載のLED構造。   The LED structure of claim 17, wherein the III-V compound semiconductor includes GaN, GaP, or GaAsp. 前記第1型ドーピング半導体層はn型ドーピング半導体層であり、且つ前記第2ドーピング半導体層はp型ドーピング半導体層であることを特徴とする請求項1に記載のLED構
造。
The LED structure according to claim 1, wherein the first-type doping semiconductor layer is an n-type doping semiconductor layer, and the second doping semiconductor layer is a p-type doping semiconductor layer.
前記第1型ドーピング半導体層はp型ドーピング半導体層であり、且つ前記第2型ドー
ピング半導体は、n型ドーピング半導体層であることを特徴とする請求項1に記載のLE
D構造。
2. The LE according to claim 1, wherein the first-type doping semiconductor layer is a p-type doping semiconductor layer, and the second-type doping semiconductor layer is an n-type doping semiconductor layer.
D structure.
JP2006063733A 2005-07-25 2006-03-09 Light emitting diode structure Pending JP2007036186A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW94125073A TWI253771B (en) 2005-07-25 2005-07-25 Light emitting diode structure

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007036186A true JP2007036186A (en) 2007-02-08

Family

ID=37586709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006063733A Pending JP2007036186A (en) 2005-07-25 2006-03-09 Light emitting diode structure

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2007036186A (en)
KR (1) KR100736426B1 (en)
TW (1) TWI253771B (en)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013008556A1 (en) * 2011-07-12 2013-01-17 丸文株式会社 Light emitting element and method for manufacturing same
JP2013517620A (en) * 2010-01-15 2013-05-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Semiconductor light emitting device including light extraction structure
JP2014130712A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Oji Holdings Corp Substrate for photoelectric conversion element and photoelectric conversion element
JP2014130713A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Oji Holdings Corp Light emitting device
JP2014529169A (en) * 2011-08-26 2014-10-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー OLED light extraction film having multi-period region of nanostructure
CN104425658A (en) * 2013-09-10 2015-03-18 银泰科技股份有限公司 Semiconductor light emitting component
JP2017069463A (en) * 2015-09-30 2017-04-06 旭化成株式会社 Semiconductor light-emitting element and manufacturing method thereof
US9806229B2 (en) 2014-03-06 2017-10-31 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US9929311B2 (en) 2013-07-17 2018-03-27 Marubun Corporation Semiconductor light emitting element and method for producing the same
US9929317B2 (en) 2015-01-16 2018-03-27 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US10056526B2 (en) 2016-03-30 2018-08-21 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US10680134B2 (en) 2015-09-03 2020-06-09 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
CN113488558A (en) * 2021-07-06 2021-10-08 中国科学院半导体研究所 Infrared detector and preparation method thereof
US11309454B2 (en) 2018-01-26 2022-04-19 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for producing the same

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070101421A (en) * 2006-04-10 2007-10-17 광주과학기술원 Light emitting diode
KR101459754B1 (en) * 2007-09-06 2014-11-13 엘지이노텍 주식회사 Semiconductor light emitting device and fabrication method thereof
TWI404238B (en) * 2009-01-07 2013-08-01 Resound Technology Inc Led die with mixed light radiating from its front
CN101859840A (en) * 2009-04-07 2010-10-13 璨扬投资有限公司 Light-emitting diode (LED) structure
US8476658B2 (en) * 2009-11-25 2013-07-02 Jing Jie Dai Semiconductor light-emitting devices
US8258531B2 (en) 2010-03-26 2012-09-04 Huga Optotech Inc. Semiconductor devices

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001308457A (en) * 2000-04-24 2001-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor face light emitting element
JP2005005679A (en) * 2003-04-15 2005-01-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor light emitting device and its manufacturing method
JP2006100518A (en) * 2004-09-29 2006-04-13 Toyoda Gosei Co Ltd Method for treating surface of substrate and method for manufacturing group iii nitride compound semiconductor light-emitting element

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100714639B1 (en) * 2003-10-21 2007-05-07 삼성전기주식회사 light emitting device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001308457A (en) * 2000-04-24 2001-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor face light emitting element
JP2005005679A (en) * 2003-04-15 2005-01-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor light emitting device and its manufacturing method
JP2006100518A (en) * 2004-09-29 2006-04-13 Toyoda Gosei Co Ltd Method for treating surface of substrate and method for manufacturing group iii nitride compound semiconductor light-emitting element

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013517620A (en) * 2010-01-15 2013-05-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Semiconductor light emitting device including light extraction structure
JP5315513B2 (en) * 2011-07-12 2013-10-16 丸文株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
US9349918B2 (en) 2011-07-12 2016-05-24 Marubun Corporation Light emitting element and method for manufacturing same
WO2013008556A1 (en) * 2011-07-12 2013-01-17 丸文株式会社 Light emitting element and method for manufacturing same
KR101436077B1 (en) 2011-07-12 2014-09-17 마루분 가부시키가이샤 Light emitting element and method for manufacturing same
JP2014529169A (en) * 2011-08-26 2014-10-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー OLED light extraction film having multi-period region of nanostructure
JP2014130713A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Oji Holdings Corp Light emitting device
JP2014130712A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Oji Holdings Corp Substrate for photoelectric conversion element and photoelectric conversion element
US9929311B2 (en) 2013-07-17 2018-03-27 Marubun Corporation Semiconductor light emitting element and method for producing the same
CN104425658A (en) * 2013-09-10 2015-03-18 银泰科技股份有限公司 Semiconductor light emitting component
US9806229B2 (en) 2014-03-06 2017-10-31 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US9929317B2 (en) 2015-01-16 2018-03-27 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US10680134B2 (en) 2015-09-03 2020-06-09 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US10950751B2 (en) 2015-09-03 2021-03-16 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
JP2017069463A (en) * 2015-09-30 2017-04-06 旭化成株式会社 Semiconductor light-emitting element and manufacturing method thereof
US10056526B2 (en) 2016-03-30 2018-08-21 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for manufacturing the same
US11309454B2 (en) 2018-01-26 2022-04-19 Marubun Corporation Deep ultraviolet LED and method for producing the same
CN113488558A (en) * 2021-07-06 2021-10-08 中国科学院半导体研究所 Infrared detector and preparation method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR100736426B1 (en) 2007-07-09
TWI253771B (en) 2006-04-21
TW200705706A (en) 2007-02-01
KR20070013191A (en) 2007-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007036186A (en) Light emitting diode structure
US7173289B1 (en) Light emitting diode structure having photonic crystals
US8895329B2 (en) Patterned substrate for light emitting diode and light emitting diode employing the same
US7462868B2 (en) Light emitting diode chip with double close-loop electrode design
CN102097424A (en) Light-emitting device
TW201214763A (en) Light emitting device, light emitting device package, and lighting device system
JP2007311784A (en) Semiconductor light-emitting device having multi-pattern structure
KR20120083084A (en) Nano lod light emitting device and method of manufacturing the same
KR20100095134A (en) Light emitting device and method for fabricating the same
CN101924116A (en) Extensible oversize light-emitting diode (LED) chip and manufacture method thereof
US20080157108A1 (en) Light-Emitting Diode and Method for Manufacturing the Same
JP2013247367A (en) Light-emitting element having patterned interface and manufacturing method thereof
KR101081169B1 (en) Light emitting device and method for fabricating the same, light emitting device package, lighting system
KR102305233B1 (en) Light emitting module and lighting apparatus including the module
JP5794963B2 (en) Light emitting diode
CN1905219A (en) LED structure
KR100809234B1 (en) Fabrication method of nitride semiconductor light emitting device
KR102373677B1 (en) Light emittng device
US20160111597A1 (en) Graphical microstructure of light emitting diode substrate
EP2450971A2 (en) Solid state light emitting device and method for making the same
KR100716648B1 (en) Light emitting diode having plurality of light emitting cells and method of fabricating the same
JP2009010060A (en) Light emitting diode and method of manufacturing the same
KR20150112237A (en) Manufacturing method of light emitting diode and light emitting diode made by the same
KR101462464B1 (en) Light emitting diode with donut-shaped hole array
CN103855257A (en) Sapphire patterned substrate, manufacturing method thereof and manufacturing method of light-emitting diode

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090812

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090817

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090910

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100817