JP2007010597A - 表面検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 ファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供する。
【解決手段】 R,G,B信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換し、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する。前記画像変換手段は、R,G,B信号を色相に変換する仮定で、色相の値が負となった場合に、その値に360°を加算することなく、そのまま用いる。
【選択図】 なし
【解決手段】 R,G,B信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換し、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する。前記画像変換手段は、R,G,B信号を色相に変換する仮定で、色相の値が負となった場合に、その値に360°を加算することなく、そのまま用いる。
【選択図】 なし
Description
本発明は、リファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する表面欠陥検出装置に関するものである。
従来、半導体ウェハや液晶基板の検査においては、被検物体面に照明光を照射して得られる被検物体像の像強度を測定して、その像強度変化を検出し、その結果に基づいて欠陥の検出を行っていた。
ところが、光強度が同じであるが色が異なっているような欠陥がある場合、人間の目には見えているが、検査装置で検出することは難しい。そこで、正常な被検物体の画像(リファレンス画像)と検査する被検物体の画像(検査画像)を撮像し、得られたR、G、B値を、色相H、彩度S、強度Vの情報に変換してから、色相Hの比較をして、その結果に基づいて欠陥を検出する方法が考えられ、特開2000−162150号公報に記載されている。
(R,G、B)空間から(H,S,V)空間への変換式は既知であり、いろいろなものが提案されているが、その一例は下記の通りである。但し、これらの式において、(R,G、B)空間の赤R、緑G、青Bは0〜1の実数値で表される。又、(H,S,V)空間の色相Hは色相角度で0〜360°の実数値、彩度Sと強度Vは0〜1の実数値で表される。
すなわち、R,B,G値のうち最大のものをmaxとし、最小のものをminとすると、
V=max …(1)
S=(max-min)/max …(2)
(但し、max=0のときはS=0とする。)
H=60*{(G-B)/(max-min)} (R=maxのとき)
H=60*{2+(B-R)/(max-min)} (G=maxのとき)
H=60*{4+(R-G)/(max-min)} (B=maxのとき) …(3)
(但し、H<0のときはHに360を加える。又、S=0のときはH=0とする。)
しかしながら、このようにして、リファレンス画像と検査画像の色相Hの差が閾値を超えた場合に欠陥があると判別する方法には、以下のような問題点がある。例えば、リファレンス画像のR,G,B値を、(R,G,B)=(20,15,10)とするとき、対応する色相Hの値は21°となる。これに対してケース1として、検査画像のR,G,B値が、(R,G,B)=(20,8,6)である場合と、ケース2として、検査画像のR,G,B値が、(R,G,B)=(20,6,8)である場合を考える。
V=max …(1)
S=(max-min)/max …(2)
(但し、max=0のときはS=0とする。)
H=60*{(G-B)/(max-min)} (R=maxのとき)
H=60*{2+(B-R)/(max-min)} (G=maxのとき)
H=60*{4+(R-G)/(max-min)} (B=maxのとき) …(3)
(但し、H<0のときはHに360を加える。又、S=0のときはH=0とする。)
しかしながら、このようにして、リファレンス画像と検査画像の色相Hの差が閾値を超えた場合に欠陥があると判別する方法には、以下のような問題点がある。例えば、リファレンス画像のR,G,B値を、(R,G,B)=(20,15,10)とするとき、対応する色相Hの値は21°となる。これに対してケース1として、検査画像のR,G,B値が、(R,G,B)=(20,8,6)である場合と、ケース2として、検査画像のR,G,B値が、(R,G,B)=(20,6,8)である場合を考える。
この場合、ケース1とケース2では、実際の色にはほとんど差がない。しかしながら、ケース1に対応する色相Hは6°であるのに対し、ケース2の場合は、352°となってしまう。そのため、リファレンス画像の色相Hとの差は、ケース1では15°と小さいのに、ケース2では331°という非常に大きな値となり、実際の色の差がほとんど無いにもかかわらず、ケース1の場合には色相の差は小さいものとして検出されるのに、ケース2の場合には色相の差は非常に大きなものとして検出されるという不自然な結果となってしまう。よって、ケース1の場合に欠陥として検出してはならない場合であっても、それとほとんど差のないケース2の場合には欠陥として検出されるという不自然な結果となる。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、リファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供することを課題とする。
前記課題は、R,G,B信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換する画像変換手段と、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する手段とを有し、前記画像変換手段は、画像変換式の途中で、色相値を0〜360°とするためのバイアス補正を行わず、そのまま用いるものであることを特徴とする表面検査装置により解決される。
本発明によれば、リファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態の例を説明する。まず、正常なウェハがXYステージに載置され、検査したい位置が対物レンズの下に来るように位置決めされた後、カメラによってリファレンス画像が撮影される。そして、画素毎のR、B、G信号が色相Hに変換される。
検査時においては、非検査ウェハがXYステージに載置され、検査したい位置が対物レンズの下に来るように位置決めされた後、カメラによって検査画像が撮影される。そして、画素毎のR、B、G信号が色相Hに変換される。その後、リファレンス画像の色相画像と検査画像の色相画像が比較され、色相Hの違いにより欠陥が検出される。
(R,G、B)空間から(H,S,V)空間への変換式は、前記(1)式、(2)式、(3)式によるが、本実施の形態においては、(3)式において、H<0となってもHに360を加えることなくそのまま使用するところが異なっている。
これによれば、前記ケース2の場合、色相Hの値は、352°でなく、−8°となり、リファレンス画像の色相値との差は29°となって、ケース1の場合と余り変わらなくなる。よって、ケース2の場合に欠陥として検出されることを防止することができる。
図1は、R=250とし、Gを100から0まで減少させ、それと共にBを0から100まで増加させた場合の画像、図2は、図1に示す画像について、従来法で計算した色相Hの値をグレースケール(グレースケール値0〜255)で表したものである。図から分かるように、本来連続的な変化を示すはずの色相Hの値がステップ状に変化しているのが分かる。
図3は、同様の変化をさせ、色相Hの値が負となっても、360°を加えることなくそのままとし、そのときの最小値をグレースケールレベル0、最大値をグレースケールレベル255として、グレースケールで表したものである。図2のような、ステップ状の変化が無く、色相Hが連続的に変化しているのが分かる。
以上の例は、(R,G、B)空間から(H,S,V)空間への変換式が、前記(1)式、(2)式、(3)式である場合について述べたが、他の変換式を使用する場合でも、本来の変換式において、色相Hの値を0〜360°とするためのバイアス補正演算を行っている場合、この補正演算をやめることにより、上記の実施の形態と同じように、擬似欠陥の発生を防止することができる。
例えば、色相値Hを求めるのに、R、G、Bの値から、H(色相)、S(彩度),I(強度)成分を
として求め、B>Gのとき、この求められたHの値を360°より差し引くことにより、色相Hの値を0〜360°の範囲に収める方法があるが、この場合でも、求められたHの値を360°より差し引く操作を行わないようにすることにより、擬似欠陥の発生を防止することができる。
Claims (1)
- R,G,B信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換する画像変換手段と、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する手段とを有し、前記画像変換手段は、画像変換式の途中で、色相値を0〜360°とするためのバイアス補正を行わず、そのまま用いるものであることを特徴とする表面検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005194530A JP2007010597A (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2005194530A JP2007010597A (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 表面検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2007010597A true JP2007010597A (ja) | 2007-01-18 |
Family
ID=37749296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005194530A Pending JP2007010597A (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 表面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2007010597A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009206836A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | ▲ぎょく▼瀚科技股▲ふん▼有限公司 | カラー画質を調整するためのシステムおよび方法 |
TWI381743B (ja) * | 2007-11-27 | 2013-01-01 | ||
CN113066736A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-07-02 | 广东工业大学 | 一种高精度、大幅面和高通量六维度晶圆检测系统 |
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2005
- 2005-07-04 JP JP2005194530A patent/JP2007010597A/ja active Pending
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