JP2006509176A - 家電機器用診断システム - Google Patents
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Abstract
負荷10およびインタフェース80に通電するコマンドモジュール50に結合された電子制御装置30によって命令されたスイッチ20によって、通電された複数の負荷10を呈する、冷蔵庫、冷凍庫などの家電機器用診断システム。システムは、電圧計60と制御ユニット70とを備える。電圧計60は、スイッチ20が開放されている負荷10の入力の第1の電圧Voffと、それぞれのスイッチ20が閉鎖されている各負荷10の入力の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompとを測定する。制御ユニット70は、第1の電圧Voffおよび各第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompの値を処理し、スイッチ20および該スイッチのそれぞれの電子制御装置30のコマンドモジュール50における故障の存在をインタフェース80に示し、任意の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompが第1の電圧Voffの値以上の値を示す場合に、テストのシーケンスを中断する。
Description
本発明は、異なる負荷の動作が冷却機器に搭載されているコマンドモジュールによって画定されている、冷蔵庫、冷凍庫、およびエアコンなどの家電機器の動作における故障原因を識別するための診断システムに関する。本発明は、特に、家電機器に内蔵されており、かつコマンドモジュールと動作可能に結合される診断システムに関する。
家電機器において、特に、解凍抵抗、ファン、ランプ、およびコンプレッサなどの様々な装置や負荷を備えている冷蔵庫および冷凍庫によって画定されている冷却機器において、その動作は、電子コマンドモジュールによって制御される。電子コマンドモジュールは、所望の動作状況に応じて、機器の様々な負荷を通電するスイッチ(通常リレー)を作動させまたは非作動にさせるようにプログラミングされている。これらの機器において、コマンドモジュールおよび様々な電子制御装置は、通常の直流電源によって通電され、これはまた、機器に通電する電源システムによって通電される。
ユーザの住居に既に設置されている上記機器の動作における、様々な故障の迅速かつ確実な識別は、常に製造業者の関心事であった。
機器の動作における故障がユーザに気付かれ、正規の技術アシスタンスに通知されると、問題を識別し、かつ損傷を受けた部品を修理または交換することによってその問題を解決することが、技術アシスタンスの責任である。操作者によって引き起こされても、または機器によって引き起こされても、故障の迅速かつ確実な識別がなされるべき診断段階時に通常生じる欠点は、コマンドモジュールの不適切な交換や、解凍抵抗、ファン、ランプ、およびコンプレッサなどの機器の回路の様々な負荷の不適切な交換に応じて、製造業者およびユーザに相当な損失をもたらす。
診断にかかる時間を削減し、かつ技術者によるエラーを削減するために現在使用されているあるシステムは、診断装置を備える。診断装置は、各機器モデルの負荷をシミュレーションするように開発されており、また機器のコマンドモジュールに診断装置を結びつける担当技術者によって持ち運ばれなければならない。そして診断装置は、関連する負荷の動作状況をシミュレーションし、コマンドモジュールを形成する手段の状況をチェックするような方法で、後続の手順の所定のシーケンスに従って技術者によって操作される。
この知られているタイプのシステムによって、診断する担当技術者は、診断装置に所定のシーケンスに従って各チェック工程を実行することを命令し、かつ診断装置に表示され、コマンドモジュールの部品(スイッチなど)の各々についてテストされた動作状況を示す通常光サインである表示を視覚的に観察し、前記部品のうちの1つに生じた故障と、それを交換する真の必要性を検証することが可能になる。
それにもかかわらず、このタイプの診断システムは、不要に多い割合の診断エラーを回避するために、確実な診断を提供するのに熟練した注意深い操作者を必要とする。
上記のシステムの別の欠点は、コマンドモジュールの動作状況を示すにすぎず、機器の電気回路の様々な負荷の動作条件をチェックするためには、他のテスト手順を必要とするという点によるものである。
診断装置を利用する解決策の更なる欠点は、担当技術者が、様々な機器モデルについて特定の診断装置を持ち運ぶ必要があるという点である。損傷を受けた機器のチェックが、適切な診断装置なしで不必要に高い頻度で実行されることによって、コマンドモジュールを交換するという不必要な命令を招くことになる。
また、一部の機器、装置、およびデバイスが備えているような、欠陥部品を正確に表示する自己診断の高性能の解決策が知られている。しかしながら、電圧値を直接検出するというこれらの解決策は、比較的高価であり、機器の最終コストを上げることになる。
上述したような知られている欠点ゆえに、本発明の包括的な目的は、コマンドモジュールだけではなくコマンドモジュールによって通電されている負荷においても、動作の故障の迅速、容易、かつ確実な識別を可能にするために、冷蔵庫、冷凍庫、またはエアコンなどの家電機器に内蔵される診断システムを提供し、担当技術者が、特殊な装置を持ち運ぶ必要がないようにすることであり、この特殊な装置は、コマンドモジュールに結合されなければならず、かつ観察および考慮される様々なテストパラメータの解釈の結論を出すための根拠にされる。
本発明のさらなる目的は、比較的安価な簡単な構成を呈する、上記のような機器に内蔵される診断システムを提案することである。
本診断システムは、コンプレッサ、解凍抵抗、ランプなどの負荷を備える冷蔵庫、冷凍庫、およびエアコンなどの冷却機器に向けられ、負荷は、コマンドモジュールに動作可能に結合されるそれぞれの電子制御装置によって命令されるスイッチによって通電され、コマンドモジュールは、スイッチおよびコマンドモジュールに結合されているインタフェースに通電する。
本発明の第1の態様によると、診断システムは、電圧計および制御ユニットを備え、電圧計は、スイッチが開放されている負荷の入力の第1の電圧と、それぞれのスイッチが閉鎖されている各負荷の入力の第2の電圧とを測定するために、負荷の各1つの入力に動作可能に結合され、制御ユニットは、コマンドモジュールおよび電圧計に動作可能に結合され、第1の電圧および各第2の電圧の値を電圧計から受け取り、これら電圧の値を処理するために選択的に作動されるテストのシーケンスに従って動作され、任意の第2の電圧が第1の電圧の値以上の値を示す場合に、コマンドモジュール、スイッチ、およびスイッチのそれぞれの電子制御装置によって画定された要素のうちの少なくとも1つにおける故障の存在を、インタフェースに示す。この場合、制御ユニットは、テストのシーケンスを任意に中断可能である。
本発明は、本発明を実行可能な方法に向けられる添付の図面を参照して以下に説明される。
図面に示されており、かつ上記の通り、本診断システムは、様々な負荷10を呈する冷凍庫などの家電機器に適用される。負荷10は、例えばコンプレッサ、ランプ、解凍電気抵抗などの形態を採ることができ、また交流電源システムによって通電されるその作動が、冷却機器の動作要件に応じて、スイッチ20に動作可能に結合されたそれぞれの電子制御装置30によって操作されるそれぞれのスイッチ20によって実行される。
電子制御装置は、並列に配置され、かつ前記交流電源システムに接続されている電源40によって、通常は直流を通電される。
電子制御装置30は、コマンドモジュール50に動作可能に結合され、かつ通常コマンドモジュール50に物理的に搭載される。コマンドモジュール50は、電源40によって通電され、またそれぞれのスイッチ20の電子制御装置30に通電することによって、様々な負荷10の作動を命令するように構成されている。コマンドモジュール50は、ユーザによって選択されかつ企画時に画定された動作パラメータに応じて、機器の様々な負荷10の自動作動を命令するために通常利用される、任意の知られている構成を呈することができる。
後述する図示された実施形態において、負荷10は、コンプレッサ、解凍抵抗、および冷却機器のキャビネットの内部ライト(ランプ)によって画定されている。もし強制換気(霜なし)タイプの冷却機器にあるならば、ファンは、本明細書で考慮されている同一の手順によっても診断される動作状況を有することが可能であり、前記ファンは、その正しい動作が、本診断システムによってチェックされることが望まれる負荷の画定に操作上含まれてもよい。
本発明の第1の態様によると、本診断システムは、電圧計60を備え、電圧計60は、電源40によって通電され、かつ上記のようにテストの所定の動作シーケンスに従って、制御ユニット70によって自動的に判断される電子スイッチ20の様々な動作状況における様々な負荷に供給される電圧を測定するために、負荷10の各々の入力に動作可能に接続される。
制御ユニット70は、コマンドモジュール50および電圧計60の両方と動作可能に関連付けられ、診断手順におけるスイッチ20の開閉の動作シーケンスを画定し、スイッチ20の様々な動作状況において電圧計によって通知される電圧値を記録および処理する。
図2に示されているように、電圧計60は、信号調整回路61を備え、信号調整回路61は、各スイッチ20の上流側で各負荷10の入力に接続され、負荷10の前記入力から制御ユニット70に接続されているADコンバータ62に電圧信号を供給する。
信号調整回路61は、図示されている例においては、ADコンバータ62に必要なレベルに、入力交流電圧を調整するために、診断する負荷の量に対応する「n」個の入力(この場合は3個の入力)を有する抵抗分割器によって、また信号整流ダイオードおよび信号フィルタリングコンデンサによって形成される。
信号調整回路は、さらに抵抗器63のアセンブリを備え、抵抗器63のアセンブリは、負荷10をその開放時に給電する回路に、所定の電圧を適切に維持するために負荷10とそれぞれ並列に接続される。
負荷10の入力から得られた電圧信号は、調整回路によって調整され、ADコンバータ62に、次いで制御ユニット70に送られる。
電子制御ユニット70およびコマンドモジュール50は、インタフェース80と動作可能に結合され、インタフェース80は、信号の取得または転送用のコネクタ、視覚または聴覚アラーム、または目に見える場所の冷却機器のキャビネットの構成にも搭載されているディスプレイなどの様々な形態を採ることができ、またキー、ボタンなど(図示せず)の作動手段をさらに備えることができ、これによってユーザは、機器と相互作用して、一部の動作パラメータを変更することができる。
電圧計60によって検出された電圧値は、診断を実行する担当技術者によって作動された自動動作シーケンスに従って、制御ユニット70によって処理される。
診断手順を開始するために、技術者は、後に続く一般的に1分未満の短期間に、技術アシスタンスによって独占的に使用される所定のパスワードによって電子制御ユニット70を作動させ、電圧計60およびコマンドモジュール50の両方を用いて、制御ユニット70によって自動的に実行されるテストの動作シーケンスを開始するために、冷却機器の電源を切り、次にそれを再接続する。
電子制御ユニット70は、電圧計60によって電圧値を取得する動作段階を開始する。電圧値を取得するこの段階は、所定のシーケンスに従って、それぞれのスイッチ20を開放することによって通電しない(off)状態で全負荷10を給電する電圧値Voffと、それぞれのスイッチ20を閉鎖することによって通電される(on)状態での負荷10の各々を給電する電圧値Vres、Vlamp、Vcomとを、電圧計60によって測定し、制御ユニット70に記録するためのものである。また電圧値を取得するこの段階において、図5に示されているように、それぞれのスイッチ20を閉鎖することによって同時に通電可能な、2個または3個の負荷10の供給電圧を共に、電圧計60を介してさらに任意に取得し、かつ制御ユニット70に記録することが可能である。
図4に示されているテストの例示的動作シーケンスにおいて、電圧値の取得は、以下の工程に従う。
・ 全スイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間の経過、例えば約5秒待機し、スイッチ20が開放されている全負荷10の入力の電圧値に対応する第1の電圧Voffを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、解凍抵抗の入力の電圧値Vresを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を開放すること、
・ ランプのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ20が閉鎖されているランプの入力の電圧値Vlampを測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を開放すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ20が閉鎖されているコンプレッサの入力の第2の電圧値Vcompを測定および記録すること、および、
・ コンプレッサのスイッチを閉鎖したままにすること。
・ 全スイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間の経過、例えば約5秒待機し、スイッチ20が開放されている全負荷10の入力の電圧値に対応する第1の電圧Voffを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、解凍抵抗の入力の電圧値Vresを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を開放すること、
・ ランプのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ20が閉鎖されているランプの入力の電圧値Vlampを測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を開放すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間の経過を待機し、スイッチ20が閉鎖されているコンプレッサの入力の第2の電圧値Vcompを測定および記録すること、および、
・ コンプレッサのスイッチを閉鎖したままにすること。
それぞれのスイッチ20が同時に閉鎖される、2個または3個の負荷10の入力の電圧値をともに得ることを所望する場合、それぞれの負荷10の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompの取得後にスイッチ20を開放する前に、別のスイッチ20を閉鎖し、スイッチが同時に閉鎖されていると判明した2個または3個の負荷10の入力の電圧値を測定および記録しさえすればよい。電圧の合同測定のために関連付けられる負荷10は、家電機器において同時に通電可能なものである点に注目すべきである。
図5に示されているテストの例示的動作シーケンスにおいて、電圧値の取得は以下の工程に従う。
・ 全スイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間の経過、例えば約5秒待機し、スイッチ20が開放されている全負荷10の入力の電圧値に対応する第1の電圧Voffを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、解凍抵抗の入力の電圧値を測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、解凍抵抗およびランプの入力の電圧値Vres_Vlampを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間待機し、ランプの入力の第2の電圧値Vlampを測定および記録すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、ランプおよびコンプレッサの入力の電圧値Vres_Vcompを測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間待機し、コンプレッサの入力の電圧値Vcompを測定および記録すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖したままにすること。
・ 全スイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間の経過、例えば約5秒待機し、スイッチ20が開放されている全負荷10の入力の電圧値に対応する第1の電圧Voffを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、解凍抵抗の入力の電圧値を測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、解凍抵抗およびランプの入力の電圧値Vres_Vlampを測定および記録すること、
・ 解凍抵抗のスイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間待機し、ランプの入力の第2の電圧値Vlampを測定および記録すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖すること、
・ 一定の最小時間待機し、ランプおよびコンプレッサの入力の電圧値Vres_Vcompを測定および記録すること、
・ ランプのスイッチ20を開放すること、
・ 一定の最小時間待機し、コンプレッサの入力の電圧値Vcompを測定および記録すること、
・ コンプレッサのスイッチ20を閉鎖したままにすること。
負荷10の入力の電圧値が、それぞれのスイッチ20が開放、閉鎖、および異なるグループにおいては任意に閉鎖されるという状況で一旦記録されると、制御ユニット70は、図6に概略的に示されており、またスイッチ20、電子制御装置30、ひいては電子制御装置30およびスイッチ20も担持するコマンドモジュール50のプレートの動作状況をチェックするための、第2の処理段階を開始する。
図6によると、コマンドモジュール50のプレートをチェックする段階は、開放状態のそれぞれのスイッチ20を呈する各負荷10の入力の第1の電圧Voffと、閉鎖状態のそれぞれのスイッチ20を示す前記負荷10の入力の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompとを順次比較し、第1の電圧Voffが、スイッチが閉鎖されているそれぞれの負荷10の入力の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompよりも高いか否かをインタフェース80に示す工程を備えている。この状況が全負荷10に生じる場合、処理システムは、スイッチ20またはその関連する電子制御装置30に故障が検出されなかったため、コマンドモジュール50の全てのそれぞれのスイッチ20および電子制御装置30は、良好な状態であると結論付ける。
第1の電圧Voffを、負荷10の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompとを比較する工程のうちのいずれかにおいて、異なる状況が、期待値に関して検出される場合、すなわち任意の第2の電圧が、第1の電圧の値以上の値を有する場合、制御ユニット70は、その異常をインタフェース80に示し、コマンドモジュール50のプレートの部品の1つにおける故障の存在を通知し、前記部品の交換に至る。この場合、診断手順は、欠陥のあるコマンドモジュール50によって負荷10のテストを継続することは安全ではないために、終了される。第1の電圧Voffが、第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompよりも低いという仮定において、制御ユニット70は、コマンドモジュール50にも、スイッチ20およびそれぞれの電子制御装置30によって画定されている部品にも問題がないことを、インタフェース80に示すことになる。
添付の図面の図7において、コマンドモジュール50をチェックする動作シーケンスに対する別の構成が示されている。この構成において、コマンドモジュール50のプレートのチェックは、第1の電圧Voffより低い制限電圧Vlimを安全値として画定する第1の工程を備えている。本発明を実行可能な方法において、制限値Vlimは、値Voffの87.5%にほぼ等しい。
制限電圧値Vlimが一旦画定されると、チェックは、閉鎖状態のそれぞれのスイッチ20を有する負荷10の入力の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompを、前記制限電圧Vlimと順次比較し、第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompのいずれかが、制限電圧Vlimより大きいか否かをインタフェース80に示す工程を含んでいる。
この状態が負荷10のうちのいずれかに生じると、処理システムは、負荷10に動作可能に結合し、かつその第2の電圧は、制限電圧Vlimよりも大きいコマンドモジュール50の部品に故障があると結論付ける。この場合、図6に示されている動作シーケンスに関して説明されている手順とは異なり、診断手順はまだ中断されていない。
任意の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompが、制限電圧Vlim以下であるという仮定において、制御ユニット70は、コマンドモジュール50にも、スイッチ20およびそれぞれの電子制御装置によって画定されているその部品にも問題がないことを、インタフェース80に示すことができる。
図7の例において、図の下半分に示されているように、コマンドモジュール50をチェックするための追加シーケンスが提供されている。前記動作シーケンスによると、第1の処理工程が提供され、第1の処理工程において、本例においてはランプの入力の第2の電圧Vlampによって示される、第1の負荷10の第2の電圧より低い第1の処理電圧Vproc1が画定される。本発明を実行する方法において、第1の処理電圧Vproc1は、第1の負荷、すなわちランプの入力の第2の電圧Vlampの値の約87.5%に相当している。続いて、以下の工程が、制御ユニット70によって処理される。
・ 第2の負荷10、例えばコンプレッサの第2の電圧Vcompが、第1の電圧Voffより低いか否か、ランプによって画定されている第1の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、コンプレッサで示される第2の負荷10およびランプで示される第1の負荷10の入力の第2の電圧Vlamp_Vcompが、第1の処理電圧Vproc1より低いか否かをチェックすること、
・ 上記3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定は、コンプレッサで示される第2の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと、
・ 解凍抵抗で示される第3の負荷10の第2の電圧Vresが、第1の電圧Voffより低いか否か、ランプで示される第1の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、解凍抵抗およびランプで示される第3および第1の負荷10の入力の第2の電圧Vres_Vlampが、第1の処理電圧Vproc1より低いか否かをチェックすること、
・ 上記の3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定が、解凍抵抗で示される第3の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと、
・ コンプレッサで示される第2の負荷10の第2の電圧Vcompより約12.5%低い第2の処理電圧Vproc2を、制御ユニット70に記録すること、
・ ランプで示される第1の負荷10の第2の電圧Vlampが、第1の電圧Voffより低いか否か、コンプレッサで示される第2の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、それぞれコンプレッサおよびランプで示される第2および第1の負荷10の入力の第2の電圧Vlamp_Vcompが、第2の処理電圧Vproc2より低いか否かをチェックすること、
・ 上記の3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定が、ランプで示される第1の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと。
・ 第2の負荷10、例えばコンプレッサの第2の電圧Vcompが、第1の電圧Voffより低いか否か、ランプによって画定されている第1の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、コンプレッサで示される第2の負荷10およびランプで示される第1の負荷10の入力の第2の電圧Vlamp_Vcompが、第1の処理電圧Vproc1より低いか否かをチェックすること、
・ 上記3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定は、コンプレッサで示される第2の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと、
・ 解凍抵抗で示される第3の負荷10の第2の電圧Vresが、第1の電圧Voffより低いか否か、ランプで示される第1の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、解凍抵抗およびランプで示される第3および第1の負荷10の入力の第2の電圧Vres_Vlampが、第1の処理電圧Vproc1より低いか否かをチェックすること、
・ 上記の3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定が、解凍抵抗で示される第3の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと、
・ コンプレッサで示される第2の負荷10の第2の電圧Vcompより約12.5%低い第2の処理電圧Vproc2を、制御ユニット70に記録すること、
・ ランプで示される第1の負荷10の第2の電圧Vlampが、第1の電圧Voffより低いか否か、コンプレッサで示される第2の負荷10のスイッチ20が、動作しているか否か、および、それぞれコンプレッサおよびランプで示される第2および第1の負荷10の入力の第2の電圧Vlamp_Vcompが、第2の処理電圧Vproc2より低いか否かをチェックすること、
・ 上記の3つの条件が満たされているか満たされていないかを、制御ユニット70によってインタフェース80に示し、最後の仮定が、ランプで示される第1の負荷10のスイッチ20に問題があるという表示をもたらすこと。
図7に示されているこの別の処理によって、コマンドモジュール50の動作をより安全にチェックでき、さらに電源システムによって供給された電圧の実質的変化を考慮することができる。
いかなる故障をも見つけることなく、スイッチ20および電子制御装置30と共にコマンドモジュール50の動作のチェックを完了すると、制御ユニット70は、2つの別個の動作シーケンスのうちの一方に従って、異なる負荷10のテストのシーケンスの処理を開始する。別個の動作シーケンスは、スイッチ20が閉鎖状態にある負荷10に関する第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompを比較する工程の結果に応じて、自動的に画定される。
異なる負荷10の第2の電圧が、等しいか、またはほぼ等しいという仮定において、制御ユニット70は、図3に示され、かつ図7により良く示されている第1の動作シーケンスによって負荷10のテストを開始する。この第1の動作シーケンスにおいて、制御ユニット70は、第1の電圧Voff(スイッチが開放されている)が、一定の基準電圧値Vref、例では1.3Vより高いか否かを検証する。これが生じると、負荷10が適切な動作状態である場合に、基準電圧Vrefは、それを越えると第1の電圧Voffが一定の安全性余裕をもって強制的に検出される電圧値を示すため、全負荷は良好な状態にあると考えられる。
従って、第1の電圧Voff(スイッチが開放されている)が、基準電圧Vrefより高いことが検出される場合、全負荷が実際に正しく閉鎖されている、すなわち適切な動作状態にあると結論付けられることが可能である。
他方、制御ユニット70が、前記基準値以下の第1の電圧Voffを検出すると、インタフェース80は、全負荷10が開放されていることを示すように命令される。ここで、本診断システムが、負荷10の短絡回路を検出しないことに注目すべきである。第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompが、値の差を示すという仮定において、制御ユニット70は、いずれの負荷が開放されているかを識別するために、図9に概略的に示されているような負荷テストの第2の動作シーケンスを開始し、その結果、欠陥を示す。
負荷テストのこの第2の動作シーケンスは、複数の工程を備え、各工程が、各負荷10(スイッチ20が閉鎖されている)の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompを、例えば電圧取得段階で記録された最低の第2電圧Vres、Vlamp、Vcompの値の約75%に相当することができる一定の最低電圧Vminと基本的に比較する。
従って、負荷10の入力で測定された任意の第2の電圧Vres、Vlamp、Vcompが、最低値Vminの電圧以下の値を示す場合、制御ユニットは、インタフェース80に、前記負荷の開放状態(故障)を識別する命令を送る。負荷10の動作状況をチェックする工程が、負荷の受容について結論付ける場合、制御ユニット70は、負荷が受容可能な状態であるか否かをインタフェース80に示す必要なく、別の負荷の状況をチェックする次の工程に進む。負荷10の各々の状況をチェックする工程の完了時に、制御ユニット70は、コマンドモジュール50に冷却機器を通常操作するように命令する。
新たな診断手順を実行するために、技術担当者は、機器のキーを押し、または電源システムから機器を分離し、コンプレッサが起動されるまで一定時間待機し、次いで機器を再接続して、制御ユニット70の命令によって診断段階を開始させるための特定のパスワードを、所定の時間、コマンドモジュール50に導入する。
Claims (13)
- 複数の負荷(10)を呈するタイプの冷蔵庫、冷凍庫などの家電機器用診断システムであって、前記複数の負荷(10)が、コマンドモジュール(50)に動作可能に結合された各電子制御装置(30)で命令されるスイッチ(20)によって通電され、コマンドモジュール(50)が、負荷(10)およびコマンドモジュールに結合されているインタフェース(80)を通電し、前記家電機器用診断システムが、電圧計(60)および制御ユニット(70)を備え、前記電圧計(60)は、スイッチ(20)が開放されている負荷(10)の入力の第1の電圧(Voff)と、それぞれのスイッチ(20)が閉鎖されている各負荷(10)の入力の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)とを測定するために、各負荷(10)の入力に動作可能に結合され、前記制御ユニット(70)は、コマンドモジュール(50)および電圧計(60)に動作可能に結合され、第1の電圧(Voff)および各第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)の値を電圧計(60)から受け取り、かつ該電圧の値を処理するように、選択的に作動されるテストのシーケンスに従って操作されて、任意の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が、第1の電圧(Voff)の値以上の値を示す場合に、コマンドモジュール(50)、スイッチ(20)、および該スイッチのそれぞれの電子制御装置(30)によって画定される要素の少なくとも1つにおける故障の存在をインタフェース(80)に示すことを特徴とする、診断システム。
- 制御ユニット(70)が、それぞれのスイッチ(20)が同時に閉鎖される、2個の負荷(10)の各対の第2の電圧(Vres_Vlamp、Vlamp_Vcomp)の値を、順次さらに処理するために操作され、各負荷(10)の任意の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が、第1の電圧(Voff)未満の制限電圧(Vlim)以上の値を示す場合、およびスイッチ(20)が同時に閉鎖されている2個の負荷(10)の各対の第2の電圧(Vres_Vlamp、Vlamp_Vcomp)が、コマンドモジュール(50)の作動手段がテスト中でない前記2個の負荷(10)のうちの一方の第2の電圧未満の処理電圧(Vproc1、Vproc2)以上の値を示す場合、コマンドモジュール(50)、スイッチ(20)、および該スイッチのそれぞれの電子制御装置(30)によって画定される要素の少なくとも1つにおける故障の存在をインタフェース(80)に示し、テストのシーケンスを中断することを特徴とする、請求項1に記載の診断システム。
- 制限電圧(Vlim)が、第1の電圧(Voff)の値の約87.5%に相当する値を有していることを特徴とする、請求項2に記載の診断システム。
- 処理電圧(Vproc1、Vproc2)が、2つの負荷(10)から選択された前記負荷(10)の第2の負荷の電圧値(Vres、Vlamp、Vcomp)の約87.5%に相当する値を有し、前記2つの負荷(10)は、スイッチ(20)が同時に閉鎖されており、また該2つの負荷のコマンドモジュール(50)の作動手段が、テスト中でないことを特徴とする、請求項2に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)が、コマンドモジュール(50)、スイッチ(20)、および電子制御装置(30)によって画定された要素のいずれかの動作における故障の存在を、インタフェース(80)に示した後に、冷却機器の通常動作にコマンドモジュール(50)を戻すことを特徴とする、請求項1または2に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)が、電圧計(60)で測定された第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が、第1の電圧(Voff)より低く、かつ第1の電圧が、基準電圧(Vref)より高い場合に、負荷(10)における故障の不在をインタフェース(80)に示し、前記基準電圧(Vref)は、その電圧値を越えると、第1の電圧(Voff)が、負荷(10)の正しいな動作状況に強制的に置かれる電圧値に相当することを特徴とする、請求項1または2に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)が、第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)を相互に比較し、第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が等しいかほぼ等しいことを検証した後にのみ、第1の電圧(Voff)を基準電圧(Vref)と比較することを特徴とする、請求項6に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)は、それぞれの第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が、それぞれのスイッチ(20)が閉鎖されている各負荷(10)の入力の最低の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)より低い最小電圧(Vmin)より高い場合に、負荷(10)のいずれかにおける故障の存在をインタフェース(80)に示すことを特徴とする、請求項6に記載の診断システム。
- 最小電圧(Vmin)が、最低の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)の値の約75%に相当する値を有していることを特徴とする、請求項8に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)が、前記第2の電圧を相互に比較し、前記第2の電圧が等しくないことを検証した後にのみ、各第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)を最小電圧(Vmin)と比較することを特徴とする、請求項8に記載の診断システム。
- 電圧計(60)が、信号調整回路(61)を備え、前記信号調整回路(61)が、それぞれのスイッチ(20)の上流側で各負荷(10)の入力に接続されて、各負荷(10)の前記入力から制御ユニット(70)に電圧信号を供給することを特徴とする、請求項1に記載の診断システム。
- 負荷(10)の入力の電圧信号が、制御ユニット(70)に接続されたADコンバータ(62)に送られることを特徴とする、請求項11に記載の診断システム。
- 制御ユニット(70)は、任意の第2の電圧(Vres、Vlamp、Vcomp)が、第1の電圧(Voff)の値以上の値を示す場合に、テストのシーケンスを中断することを特徴とする、請求項1に記載の診断システム。
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