JP2006349576A - Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light - Google Patents
Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006349576A JP2006349576A JP2005178290A JP2005178290A JP2006349576A JP 2006349576 A JP2006349576 A JP 2006349576A JP 2005178290 A JP2005178290 A JP 2005178290A JP 2005178290 A JP2005178290 A JP 2005178290A JP 2006349576 A JP2006349576 A JP 2006349576A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- inspection
- visual inspection
- mirror
- reflected light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/29—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
- G02F1/33—Acousto-optical deflection devices
- G02F1/335—Acousto-optical deflection devices having an optical waveguide structure
Abstract
Description
本発明は,例えば偏光フィルムや液晶基板等の他,各種の検査対象物の欠陥を目視にて検査するための照明装置,特に反射光と透過光の両方を用いて目視検査を行うことができる目視検査用照明装置に関するものである。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can perform visual inspection using, for example, both a reflected light and a transmitted light, in addition to a polarizing film, a liquid crystal substrate, and the like, and an illumination device for visually inspecting defects of various inspection objects. The present invention relates to a visual inspection lighting device.
従来,偏光フィルム等の検査対象物の欠陥を検査する場合,多くは,3波長蛍光灯に乳白色のアクリル散乱板を備えた透過照明装置を利用し,蛍光灯からアクリル散乱板を介して検査対象物を透過した散乱光により目視検査を行っていた。 Conventionally, when inspecting a defect of an inspection object such as a polarizing film, in many cases, a transmission illumination device including a milky white acrylic scattering plate is used for a three-wavelength fluorescent lamp, and the inspection target is passed from the fluorescent lamp through the acrylic scattering plate. Visual inspection was performed with scattered light transmitted through the object.
一方,特許文献1には,偏光反射板を積層した光学シートを検査対象物とし,この光学シートに対して斜めに当たるように光を照射して,光学シートからの反射光により欠陥を検査する方法が記載されている。
しかしながら蛍光灯を用いた透過照明装置による従来の検査においては,以下に示すような課題があった。 However, the conventional inspection using the transmission illumination device using the fluorescent lamp has the following problems.
1) 3波長蛍光灯に乳白色のアクリル散乱板を用いた照明装置は、透過光による検査にしか利用できなかった。
2) 蛍光灯による照明であるから、欠陥の種類によって波長の異なった色に変更して検査を行うことはできない。一方,蛍光灯の光は散乱光であって,欠陥観察に有効な散乱光以外の収束光等を照射することができず,また拡散するため、検査対象物を,照明から遠くに離すことにより、照度が距離の2乗に反比例して下降してしまい,十分な照度における検査が行えない。
3) 蛍光灯による照明は色温度が3000〜5000°Kであり,検査に適する太陽光線に近い6000°Kの光を得ることができなかった。
4) 蛍光灯による照明では、光源の演色性の程度、つまり色の見え方の良い悪いを表わす指数(Ra)が88程度であるため,欠陥観察する際の欠陥の見え方、色が低くなり、欠陥を見逃す率が高い。
5) 透過光による検査では検査対象の欠陥の種類によって,欠陥の高さ方向(凹凸)の区別ができず,また散乱光しか使用できないため,微小な欠陥を見逃しやすい。
本発明は以上の課題を解決することを目的とするものである。
1) An illumination device using a milky white acrylic scattering plate for a three-wavelength fluorescent lamp can only be used for inspection with transmitted light.
2) Since it is illumination by a fluorescent lamp, it cannot be inspected by changing to a color having a different wavelength depending on the type of defect. On the other hand, the fluorescent lamp light is scattered light and cannot irradiate convergent light other than scattered light that is effective for defect observation, and also diffuses. The illuminance falls in inverse proportion to the square of the distance, and inspection with sufficient illuminance cannot be performed.
3) The illumination by the fluorescent lamp had a color temperature of 3000 to 5000 ° K, and it was not possible to obtain light of 6000 ° K that was close to sunlight suitable for inspection.
4) In the case of illumination with a fluorescent lamp, the degree of color rendering of the light source, that is, the index (Ra) indicating good or bad color appearance is about 88. High rate of missing defects.
5) In the inspection using transmitted light, the height direction (unevenness) of the defect cannot be distinguished depending on the type of defect to be inspected, and only scattered light can be used, so it is easy to miss a minute defect.
The present invention aims to solve the above problems.
以上の課題を解決するために,本発明では,器体の上部に,照明光を照射する投光部と,投光部に対向して反射用ミラーを傾斜して配置し,器体の下部に検査対象物を載置する透過用ミラーを傾斜して配置すると共に,反射用ミラーと透過用ミラー間にフレネルレンズを配置した反射光及び透過光による目視検査用照明装置を提案する。 In order to solve the above-described problems, in the present invention, a light projecting unit that irradiates illumination light and an reflecting mirror that is inclined to be opposed to the light projecting unit are disposed on the upper part of the device. In addition, an illumination device for visual inspection using reflected light and transmitted light is proposed in which a transmission mirror for placing an inspection object is inclined and a Fresnel lens is disposed between the reflection mirror and the transmission mirror.
そして本発明では,上記の構成において,投光部と反射用ミラーを左右側に配置すると共に,透過用ミラーは目視側を前方に配置した構成を提案する。 The present invention proposes a configuration in which the light projecting unit and the reflection mirror are arranged on the left and right sides and the transmission mirror is arranged on the front side in the above configuration.
また本発明では,上記の構成において,フレネルレンズの上面に液晶散乱シートを付設することを提案する。 The present invention proposes that a liquid crystal scattering sheet is provided on the upper surface of the Fresnel lens in the above configuration.
また本発明では,上記の構成において,投光部は,器体の外部に設置した光源と光ファイバーにより接続し,光ビームを拡大する機能を有するレンズシステムとして構成することを提案する。 According to the present invention, in the above-described configuration, it is proposed that the light projecting unit is configured as a lens system having a function of expanding a light beam by being connected to a light source installed outside the container by an optical fiber.
そして本発明では,上記の構成において,投光部はズーム機能を有するものとすることを提案する。 In the present invention, it is proposed that in the above configuration, the light projecting unit has a zoom function.
更に本発明では,上記の構成において,投光部は,色変更フィルターを設置可能に構成することを提案する。 Furthermore, in the present invention, in the above configuration, it is proposed that the light projecting unit is configured to be able to install a color change filter.
更に本発明では,上記の構成において,光源は,アークショート方式のメタルハライドランプ光源とすることを提案する。 Furthermore, in the present invention, it is proposed that, in the above configuration, the light source is an arc short type metal halide lamp light source.
以上の構成において,投光部から照射された照明光は,反射用ミラーで反射されてフレネルレンズに照射され,フレネルレンズにより収束されて,収束光として透過用ミラー上の検査対象物に照射される。検査対象物に照射された照明光は反射して,器体の前方に位置する観察者の目視側の方向に進み,従って観察者は反射光により検査対象物を観察して,その欠陥を検査することができる。 In the above configuration, the illumination light emitted from the light projecting unit is reflected by the reflecting mirror and applied to the Fresnel lens, converged by the Fresnel lens, and applied to the inspection object on the transmission mirror as converged light. The The illumination light applied to the inspection object is reflected and travels in the direction of the viewer's viewing side located in front of the body. Therefore, the observer observes the inspection object with the reflected light and inspects the defect. can do.
このように反射光により目視検査を行うことにより,欠陥の種類によっては,その高さ方向(凹凸)の区別をすることができ,また散乱光ではないため,微小な欠陥も検出しやすい。 By performing visual inspection with reflected light in this way, depending on the type of defect, the height direction (unevenness) can be distinguished, and since it is not scattered light, it is easy to detect minute defects.
一方,検査対象物が,光透過性を有するものの場合には,フレネルレンズを経て検査対象物に照射された照明光は,検査対象物を透過して透過用ミラーにて反射され,再び検査対象物を透過して目視側に出射するので,反射式の検査と共に透過光による検査を行うことができる。 On the other hand, when the inspection object is light-transmitting, the illumination light irradiated to the inspection object through the Fresnel lens is transmitted through the inspection object and reflected by the transmission mirror, and is again inspected. Since the object is transmitted and emitted to the viewing side, the inspection by the transmitted light can be performed together with the reflection type inspection.
以上のように検査対象物に照射される照明光は,フレネルレンズで収束された収束光であるため,検査対象物において,照射距離とは無関係に一定した照度を得ることができ,目視観察による検査を良好に行うことができる。 As described above, since the illumination light irradiated on the inspection object is a convergent light converged by the Fresnel lens, a constant illuminance can be obtained on the inspection object regardless of the irradiation distance. Inspection can be performed satisfactorily.
また投光部と反射用ミラーを器体の上部に左右側に配置すると共に,透過用ミラーは器体の下部において,目視側を前方に配置しているので,照明光を直接に目視することがなく,目に対して悪影響を与えることがない。 In addition, the light projecting part and the reflecting mirror are arranged on the left and right sides of the upper part of the container, and the viewing mirror is arranged in front of the transmitting mirror at the lower part of the container. There is no adverse effect on the eyes.
フレネルレンズの上面に液晶散乱シートを付設した構成においては,必要に応じて液晶散乱シートを制御して光透過状態から光散乱状態へと変化させることにより,散乱光による目視検査を行うこともできる。この際,照明光は,液晶散乱シートにより散乱された後にフレネルレンズを透過するため,検査対象物に照射される照明光は,散乱光ではあってもフレネルレンズによる収束作用を受け,従って照射距離による照度低下を防ぐことができる。 In a configuration in which a liquid crystal scattering sheet is attached to the upper surface of the Fresnel lens, visual inspection using scattered light can be performed by controlling the liquid crystal scattering sheet to change from a light transmitting state to a light scattering state as necessary. . At this time, since the illumination light is scattered by the liquid crystal scattering sheet and then passes through the Fresnel lens, the illumination light applied to the inspection object is subjected to the convergence effect by the Fresnel lens even though it is scattered light, and therefore the irradiation distance. It is possible to prevent a decrease in illuminance.
投光部は,器体の外部に設置した光源と光ファイバーにより接続した構成とし,光ビームを拡大する機能を有するレンズシステムとして構成することにより,設置の自由度が高くなり,また光源を可視光から,紫外光,赤外光の光源等に変更することも容易となる。 The light projecting unit is connected to a light source installed outside the body by an optical fiber, and is configured as a lens system that has a function of expanding the light beam, so that the degree of freedom of installation is increased and the light source is made visible light. Therefore, it is easy to change to an ultraviolet light source or an infrared light source.
投光部にズーム機能を設けることにより,検査対象物の大きさに対応して照明光の照射範囲を適宜に調節することができる。 By providing a zoom function in the light projecting unit, it is possible to appropriately adjust the illumination light irradiation range corresponding to the size of the inspection object.
また,投光部に色変更フィルターを設置可能とすることにより,検査対象物及びその検査目的の欠陥に適合した光源色を選択して検査を行うことができる。 In addition, by making it possible to install a color change filter in the light projecting unit, it is possible to perform inspection by selecting a light source color suitable for the inspection object and the defect for the inspection purpose.
更に,照明光の光源として,平均演色性の高いアークショート方式のメタルハライドランプ光源を使用することにより,欠陥の見え方を向上させて,欠陥を見逃す率を低下させることができる。 Furthermore, by using an arc short type metal halide lamp light source having a high average color rendering property as a light source of illumination light, the appearance of defects can be improved and the rate of missing defects can be reduced.
次に本発明の実施の形態を添付図面を参照して説明する。
図1は本発明に係る目視検査用照明装置の実施の形態を正面側から見た模式的断面図,図2は図1のA−A線断面図,図3はミラーの調節動作を模式的に説明する図1のB−B線断面図,図4はミラーの調節動作を模式的に説明する図3のC−C線断面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
1 is a schematic cross-sectional view of an embodiment of a lighting device for visual inspection according to the present invention as viewed from the front side, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 1 and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line CC of FIG.
これらの図において,符号1は器体であり,この器体は前方が開口した箱状に形成されており,この器体1の上部には,図中左側に照明光を照射する投光部2を設置すると共に,投光部2に対向して図中右側に反射用ミラー3を傾斜させて配置している。図4に示すように,反射用ミラー3は,その枠部4を器体1に回転可能に取り付けて,傾斜角度を調節可能に構成しているが,この傾斜角度は投光部2との相対位置関係を適切に調節した後は,その状態を保持できるような構成とすれば良い。
In these drawings,
次に,器体1の下部には透過用ミラー5を,その目視側を前方として傾斜させて配置しており,また器体1には,上記反射用ミラー3と透過用ミラー5の間にフレネルレンズ6を配置している。図3に示すように透過用ミラー5は,その枠部7を回転,移動可能に構成する等により,傾斜角度を随時調節可能として,目視方向を適宜に調節することができる構成としている。この傾斜角度の調節機構は適宜である。
Next, a
符号8は光源であり,この光源8は器体1の外部に設置して,この光源8と器体1内の投光部2を光ファイバー9により接続しており,投光部2は光源8から光ファイバー9を伝搬した光ビームを拡大する機能を有するレンズシステムとして構成している。
以上の構成において,光源8から光ファイバー9を伝搬して投光部2に至った照明光は,ビームが拡大されて反射用ミラー3に照射される。投光部2から照射された照明光は,反射用ミラー3で反射され,次いでフレネルレンズ6に照射され,フレネルレンズ6により収束されて,収束光として透過用ミラー5上の検査対象物10に照射される。
In the above configuration, the illumination light that has propagated from the
こうして検査対象物10に照射された照明光は,この検査対象物10で反射されて,器体1の前方に位置する観察者の目視側の方向に進み,従って観察者は反射光により検査対象物10を観察して,その欠陥を検査することができる。
The illumination light irradiated onto the
一方,検査対象物10が,偏光フィルム等のように,光透過性を有するものの場合には,フレネルレンズ6を経て検査対象物10に照射された照明光は,検査対象物10を透過して透過用ミラー5に至り,そこで反射され,再び検査対象物10を透過して観察者の目視側の方向に出射するので,光透過性を有する検査対象物10の場合には,反射光による検査と共に透過光による検査を行うことができる。
On the other hand, when the
以上のように検査対象物10に照射される照明光は,フレネルレンズ6で収束された収束光であるため,検査対象物10において照射距離とは無関係に一定した照度を得ることができ,目視で観察しての検査を良好に行うことができる。
As described above, since the illumination light irradiated onto the
また投光部2と反射用ミラー3は器体1の上部に左右側に配置すると共に,透過用ミラー5は器体1の下部において,目視側を前方に配置しているので,照明光を直接に目視することがなく,目に対して悪影響を与えることがない。図2に示すように,器体1の上部の開口を遮光性の蓋体11で覆えば,更に効果的である。
In addition, the
上述したように本発明では,図5に模式的に示すように,フレネルレンズ6の上面に液晶散乱シート12を付設することができる。この実施の形態においては,必要に応じて制御電圧を印加する等により,液晶散乱シート12を光透過状態から光散乱状態へと変化させることにより,散乱光による目視検査を行うことができる。
As described above, in the present invention, the liquid
この際,照明光は,液晶散乱シート12により散乱された後にフレネルレンズ6を透過するため,検査対象物10に照射される照明光は,散乱光ではあってもフレネルレンズ6による収束作用を受け,従って照射距離による照度低下を防ぐことができる。
At this time, since the illumination light is scattered by the liquid
上述したように実施の形態では,投光部2は,器体1の外部に設置した光源8と光ファイバー9により接続した構成としているため,設置の自由度が高く,また光源を可視光から,紫外光,赤外光の光源等に変更することも容易である。
As described above, in the embodiment, the
また,光源8としては,平均演色性の高い光源,例えばアークショート方式のメタルハライドランプ光源を用いると,蛍光灯照明では、光源の演色性の程度、つまり色の見え方の良い悪いを表わす指数(Ra)が88程度であるのに対して,メタルハライドランプ光源ではRa=95程度と高くなるので,欠陥の見え方を向上させて,欠陥を見逃す率を低下させることができる。
When the
また,投光部2にズーム機能を設けることにより,検査対象物10の大きさに対応して照明光の照射範囲を適宜に調節することができる。
In addition, by providing the
また,投光部に色変更フィルターを設置可能とすることにより,検査対象物及びその検査目的の欠陥に適合した光源色を選択して検査を行うことができる。 In addition, by making it possible to install a color change filter in the light projecting unit, it is possible to perform inspection by selecting a light source color suitable for the inspection object and the defect for the inspection purpose.
尚,本発明では,以上に説明した要素の他,ユニバーサルルーペや、基準偏光板、低圧ナトリウムランプも取り付けることができるため、更に高度な目視検査を行うことができる照明装置を提供することができる。尚,ユニバーサルルーペや基準偏光板は装置前面,即ち,作業者の前面に設置する。また低圧ナトリウムランプは投光部2のすぐ上部に設置する。
In the present invention, in addition to the above-described elements, a universal loupe, a reference polarizing plate, and a low-pressure sodium lamp can be attached, so that it is possible to provide an illumination device that can perform a more advanced visual inspection. . The universal loupe and the reference polarizing plate are installed in front of the apparatus, that is, in front of the operator. The low-pressure sodium lamp is installed immediately above the
本発明は,以上の通りであるので,偏光フィルムや液晶基板等の目視検査の他,印刷物原版の目視検査、バイオニクスの目視検査等を,反射光と透過光を用いて行うことができる。また、光源を適宜に変更し,例えば可視光から、紫外線、赤外線ランプに交換することにより、農業分野の自然食品の発育、畜産物の発育、半導体関係の露光装置にも応用でき、安価で性能の優れた照明装置を提供することができる。 Since the present invention is as described above, in addition to visual inspection of a polarizing film, a liquid crystal substrate, etc., visual inspection of a printed material original plate, visual inspection of bionics, and the like can be performed using reflected light and transmitted light. In addition, by changing the light source as appropriate, for example, by changing from visible light to ultraviolet and infrared lamps, it can be applied to growth of natural foods in the agricultural field, growth of livestock products, and semiconductor-related exposure equipment, and it is inexpensive and has high performance. It is possible to provide an excellent lighting device.
1 器体
2 投光部
3 反射用ミラー
4 枠部
5 透過用ミラー
6 フレネルレンズ
7 枠部
8 光源
9 光ファイバー
10 検査対象物
11 蓋体
12 液晶散乱シート
DESCRIPTION OF
Claims (7)
The illumination device for visual inspection using reflected light and transmitted light according to claim 1, wherein the light source is an arc short type metal halide lamp light source.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005178290A JP2006349576A (en) | 2005-06-17 | 2005-06-17 | Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light |
TW095119425A TW200702658A (en) | 2005-06-17 | 2006-06-01 | Illumination device for visual inspection based on reflected light and transmitted light |
CNB2006100928468A CN100426021C (en) | 2005-06-17 | 2006-06-16 | Visual inspection lighting device based on reflective light and transmission light |
KR1020060054202A KR100873057B1 (en) | 2005-06-17 | 2006-06-16 | Illumination device for visual inspection based on reflected light and transmitted light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005178290A JP2006349576A (en) | 2005-06-17 | 2005-06-17 | Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006349576A true JP2006349576A (en) | 2006-12-28 |
Family
ID=37519246
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005178290A Pending JP2006349576A (en) | 2005-06-17 | 2005-06-17 | Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006349576A (en) |
KR (1) | KR100873057B1 (en) |
CN (1) | CN100426021C (en) |
TW (1) | TW200702658A (en) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101592812B (en) * | 2009-06-23 | 2012-05-23 | 友达光电(苏州)有限公司 | Display panel and pixel defect check method thereof |
CN103803125A (en) * | 2014-02-24 | 2014-05-21 | 江苏新美星包装机械股份有限公司 | LED lamp inspection device in beverage production line |
CN109459877B (en) * | 2018-08-15 | 2021-04-06 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | Display screen band frame attaching method, attaching device and display thereof |
CN110907474A (en) * | 2019-12-10 | 2020-03-24 | 江苏奥蓝工程玻璃有限公司 | Defect collecting device for glass coating visual inspection |
CN116359230B (en) * | 2023-05-26 | 2023-08-29 | 北京博兴远志科技有限公司 | Permanent magnet surface concave-convex defect detection system and method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07272679A (en) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Toshiba Lighting & Technol Corp | Short-arc metal halide lamp, discharge lamp lighting device, and liquid crystal projector |
JPH09222396A (en) * | 1996-02-19 | 1997-08-26 | Toray Ind Inc | Defect inspection method and device |
JP2000028537A (en) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Olympus Optical Co Ltd | Illumination device for macro-inspection |
WO2003102562A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-11 | Olympus Corporation | Macro illumination device |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3201922B2 (en) * | 1995-03-03 | 2001-08-27 | 東芝機械株式会社 | Electron beam drawing device and stage position measuring device |
JP3883153B2 (en) * | 1998-04-10 | 2007-02-21 | 松下電器産業株式会社 | X-ray board inspection equipment |
JP2001116925A (en) * | 1999-10-20 | 2001-04-27 | Sumitomo Chem Co Ltd | Method of inspecting optical sheet |
KR100400455B1 (en) * | 2001-04-26 | 2003-10-01 | 엘지전자 주식회사 | lighting apparatus for inspected board |
JP2004101403A (en) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | Visual inspection device |
JP2004163664A (en) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Dainippon Printing Co Ltd | Method of inspecting cholesteric liquid crystal layer, inspection apparatus therefor and method of manufacturing cholesteric liquid crystal layer |
KR100508190B1 (en) * | 2003-11-11 | 2005-08-17 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | A Flood Light for appearance inspection of LCD surface |
-
2005
- 2005-06-17 JP JP2005178290A patent/JP2006349576A/en active Pending
-
2006
- 2006-06-01 TW TW095119425A patent/TW200702658A/en unknown
- 2006-06-16 KR KR1020060054202A patent/KR100873057B1/en not_active IP Right Cessation
- 2006-06-16 CN CNB2006100928468A patent/CN100426021C/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07272679A (en) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Toshiba Lighting & Technol Corp | Short-arc metal halide lamp, discharge lamp lighting device, and liquid crystal projector |
JPH09222396A (en) * | 1996-02-19 | 1997-08-26 | Toray Ind Inc | Defect inspection method and device |
JP2000028537A (en) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Olympus Optical Co Ltd | Illumination device for macro-inspection |
WO2003102562A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-11 | Olympus Corporation | Macro illumination device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1880983A (en) | 2006-12-20 |
TW200702658A (en) | 2007-01-16 |
KR20060132476A (en) | 2006-12-21 |
CN100426021C (en) | 2008-10-15 |
KR100873057B1 (en) | 2008-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4863957B2 (en) | Optical axis inspection method and optical axis inspection apparatus | |
KR100958478B1 (en) | Projection display | |
KR20150100477A (en) | High brightness head-up display device | |
JP2006349576A (en) | Lighting system for visual inspection by reflected light and transmitted light | |
US6924912B2 (en) | Holographic screen | |
KR102082204B1 (en) | Apparatus for inspecting curved surface of cover glass | |
KR101121673B1 (en) | Projection display apparatus | |
JP2008268680A (en) | Display device | |
JP4383047B2 (en) | Light projection device for visual inspection and visual inspection device | |
JP3831744B1 (en) | Board inspection lighting system | |
JP2005241586A (en) | Inspection device and method for optical film | |
JP2000097864A (en) | Floodlight device for visual inspection | |
JP3095855B2 (en) | Light inspection device for visual inspection | |
KR20140087585A (en) | Apparatus for inspecting polarizing film | |
CN110007552B (en) | Transparent film for projection and projection system | |
JP2006275995A (en) | Scattered light occurrence light source device | |
JP2756765B2 (en) | Document imaging devices such as copying machines | |
JP2004109127A (en) | Defect detection device for fpd substrate | |
JP2006194896A (en) | Floodlight for visual inspection | |
JP2005249475A (en) | Lighting device | |
JP4102325B2 (en) | Inspection device | |
JP5437016B2 (en) | Lighting device for image processing | |
JP2009092481A (en) | Lighting device for visual inspection and visual inspection device | |
JP2006119112A (en) | Inspection device | |
JP2600360Y2 (en) | Lighting device for display device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080502 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100921 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101001 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110214 |